JP2020521138A - プローブ装置 - Google Patents

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Abstract

ミリメートル又はサブミリメートル無線周波数帯域のプローブ装置は、プローブ装置の反対側の表面に最外層(110、116)を有する遷移層(104、106)を備える。内部伝送空洞(114)は、プローブ装置(100)内の電磁放射を誘導するために、遷移層(104、106)を通って延伸する。遷移層(104、106)間に配置されたプローブ層(108)は、内部伝送空洞(114)によって誘導される電磁放射と相互作用するために、横方向伝送線(118)を有する。

Description

本発明は、プローブ装置に関する。
導波路において伝播することができる無線周波数帯域の電磁放射の電力又はその他の特性の測定及び制御は、デバイス又はシステムを規制内で試験、保守、維持するために重要である。ここで、無線周波数帯域は、光放射に等しく又はそれより短い波長を除くミリメートル又はサブミリメートルの波長を参照してもよい。
既存の計量器は、システムが電力を測定するために再組立てされる必要があることを意味する終端ユニットである。この結果、測定は、無線周波数信号システムの本来の伝搬経路において(すなわち、例えば導波路において)接合部を開き、システムの通常の動作を切断する接合部にプローブを接続することによって、計量器を使用して行われる場合がある。測定後、プローブは取り外されることができ、無線周波数システムの通常の動作が復元される場合がある。
プローブのパワーセンサは、低障壁ショットキーダイオードを有するゼロバイアス検出器(ZBD)に基づく場合がある。計量器はまた、かさばって高価である終端ユニットである。このように、測定を改善する必要がある。
本発明は、電磁放射のミリメートル又はサブミリメートル波長の測定における改善を提供しようとするものである。本発明の一態様によれば、独立請求項において特定されるようなプローブ装置が提供される。
本発明には利点がある。プローブ装置は、サイズを小さくすることができる。プローブ装置は、接続中にシステムの通常の動作を可能にし、これは、リアルタイムでの測定を可能にする。プローブ装置はまた低コストである。
本発明の例示的な実施形態は、添付の図面を参照して、単なる例として以下で説明される。
プローブ装置の例を示す。 プローブ装置の例を示す。 プローブ装置の例を示す。
以下の実施形態は単なる例である。本明細書は幾つかの箇所において「一」実施形態を参照してもよいが、これは必ずしもそのような各参照が同じ実施形態に対するものであること、又は機構が単一の実施形態にのみ適用されることを意味しない。様々な実施形態の単一の特徴が組み合わされて、他の実施形態を提供されてもよい。更に、「備える」及び「含む」という用語は、言及された特徴のみからなるように説明された実施形態を限定するものではなく、そのような実施形態は具体的に言及されていない特徴/構造をまた含有してもよいと理解されるべきである。
図は様々な実施形態を示すが、それらは幾つかの構造及び/又は機能主体のみを示す簡略図であることに留意されるべきである。図に示される接続は、論理的又は物理的接続を参照してもよい。説明された装置が、図及び本文において説明されたもの以外の他の機能及び構造を備えてもよいことは、当業者には明らかである。幾つかの機能、構造、並びに測定及び/又は制御のために使用される信号の詳細は、実際の発明とは無関係であることが理解されるべきである。従って、それらは本明細書において詳細に議論される必要はない。
図1は、無線周波数帯域のプローブ装置100の例を示す。無線周波数帯域は、ミリメートル又はサブミリメートルの範囲にあってもよい。無線周波数帯域は、光放射より低い周波数を有し、真空又は空中において進むことができる電磁放射を含んでもよい。この結果、無線周波数帯域は、光放射に等しく又はそれより短い波長を除くミリメートル又はサブミリメートルの波長を参照してもよい。
プローブ装置100は、遷移層104、106と、それらの間の少なくとも1つのプローブ層108とを備える層状構造102を備える。遷移層104、106及びプローブ層108は、例えば、低温同時焼成セラミック(LTCC)、プリント回路基板(PCB)、等を備えてもよい。遷移層104、106、110(第1の外層)、116(第2の外層)及びプローブ層108は、共に接着又ははんだ付けされてもよい。第1の外層110及び第2の外層116はまた、最外層110、116とも呼ばれてもよく、それらは、プローブ装置100の反対側の表面にある。
代替的又は追加的に、層104、106、108、110、116は、例えば、少なくとも1つのねじ又はリベットを使用して互いに取り付けられてもよい。任意の層104、106、108、110、116は、一定の厚さを有する板状構造であってもよい。一実施形態においては、全ての層104、106、108、110、116は同じ厚さを有してもよい。一実施形態においては、遷移層104、106は、プローブ層108とは異なる厚さを有してもよい。
遷移層104、106の第1の外層110は、外側無線周波数源から電磁放射を受信するために、第1の外側導波路112と接続可能である(矢印線を参照。外側無線周波数源は図に示されない)。
遷移層104、106を通って延伸する内部伝送空洞114は、プローブ装置100内の電磁放射を誘導する。内部伝送空洞114は、第1の外側導波路112から層状構造102を通って電磁放射を誘導してもよい。内部伝送空洞114は、外側導波路112、132間の電磁放射を誘導してもよい。伝送空洞114は、遷移層104、106の材料を含有する導電性壁150を有する。内部伝送空洞114における第1の遷移は、第1の外側導波路112からプローブ層108に横方向伝送線118上で電磁放射を搬送する。導電性壁150は、例えば、金属で作られてもよい。
互いに取り付けられて向かい合う遷移層104、106の導電性壁150は、物質的に連続する伝送空洞を有するために、互いにガルバニ接触してもよい。壁150は、遷移層104、106を通るビアである。内部伝送空洞114は、真っ直ぐな管状構造であり、その中心線は、層104、106、108、110、116の法線に対して平行である。伝送空洞114の管の断面は任意であってもよい。管の断面は、例えば、円形、楕円形、多角形、長方形、又は正方形であってもよい。内部伝送空洞114は、導波路のように機能し、短い導波路して看做されてもよい。層状構造102内の電磁放射は、内部伝送空洞114によって誘導される。
プローブ層108は、遷移層104と106との間に配置される。言い換えると、プローブ層108は、遷移層104、106の第1の外層110と第2の外層116との間に位置する。プローブ層108は、層状構造102内の電磁放射と相互作用するために、横方向伝送線118を有する。横方向伝送線118は、例えば、ストリップ線を備えてもよい。伝送線118が横方向であることは、伝送線118の長手方向軸線が層104、106、108、110、116の長手方向軸線と少なくともほぼ平行であることを意味する。この結果、伝送線118の長手方向軸線は、内部伝送空洞114の中心軸線に対して垂直である。
図1に示す実施形態においては、プローブ層108の横方向伝送線118は、層状構造102における内部伝送空洞114からの電磁放射の少なくとも一部の出力を可能にしてもよい。横方向伝送線118に捕らえられた電磁放射の一部又はサンプルは、一部又はサンプルが既知の又は決定された方法で層状構造102内の電磁放射を表すように既知であってもよく、又は事前画定されてもよい。
図1に示される実施形態においては、横方向伝送線118は、伝送線118で受信された電磁放射の少なくとも一部をDC信号に整流する整流構成要素120に接続されてもよい。一実施形態においては、整流構成要素120は、層状構造102の内側にあり、整流構成要素120は、外側接続のために層状構造102の外に延伸する導体122を有する。外側接続は、計量器200との接続を参照してもよい(図2を参照)。一実施形態においては、整流構成要素120はプローブ層108の内側にあり、導体122は少なくとも部分的にプローブ層108の内側にある。一実施形態においては、導体122はプローブ層108に印刷されてもよく、遷移層104、106は、層状構造102の一部を開いた状態にして(空洞)、外部接続のための空間を提供するために、導体122の長手方向において異なる横方向長さを有してもよい。一実施形態においては、導体122は、部分的にプローブ層108の外側にあってもよい。
図2に示される実施形態においては、導体122は、層状構造102の完全に外側にあり、横方向伝送線118と直接接続されてもよい。図2に示される実施形態においては、整流構成要素120は、計量器200に関連付けられてもよい。一実施形態においては、整流構成要素120はダイオードを備えてもよい。一実施形態においては、ダイオードは、平面ドープ障壁ダイオードであってもよい。一実施形態においては、ダイオードは、ショットキーダイオードであってもよい。一実施形態においては、ダイオードは、低障壁ショットキーダイオードであってもよい。
図2は、プローブ装置が伝送線118との直接又は間接接続を有する計量器200を備える実施形態の例を示す。計量器200は、層状構造102内の電磁放射の電力を測定する電力計量器であってもよい。整流構成要素120が層状構造102の内側にあるか外側にあるかに関係なく、電力計量器200は、導体122を通って整流構成要素120によって整流されるDC信号を測定してもよい。代替的に又は追加的に、計量器200は、伝送線118によって搬送されるサンプル信号に基づいて電磁放射の位相、偏極、及び/又は周波数を測定してもよい。一実施形態においては、電力計量器は、包絡線検波器を備え、又はそれとして機能してもよい。
図1及び図2に示される実施形態においては、プローブ層108の横方向伝送線118は、層状構造102の内部伝送空洞114への信号入力を、それにおける電磁放射の特性の変化を生じさせるために可能にしてもよい。特性は、偏極、位相シフト、及び電力のうちの少なくとも1つであってもよい。図2は、横方向伝送線118への信号入力が外側信号源202を使用して行われる実施形態の例を示す。
層状構造102は、様々な方法によって使用されてもよい。例えば、少なくとも以下の3つの方法がある。
1.エネルギーの僅かな部分が導波路から捕らえられ、それを、例えばダイオードで測定してもよく、すなわち電力計量器モードである。
2.エネルギーの僅かな部分が導波路から捕らえられ、それを、何らかの用途における信号処理のために使用してもよく、すなわち信号処理モードである。
3.マイクロストライプラインが、例えば、調整可能な受動回路を搭載し、導波路の内側の信号に影響を与えてもよく、すなわち移相器モードである。
図1及び図2に示される実施形態においては、第1の外層110は、電磁放射を内部伝導空洞114に搬送するために、第1の外側導波路112と動作可能に接続可能である第1の遷移要素124を備えてもよい。第1の遷移要素124は、パッチであってもよく、その寸法は、第1の外側導波路112からそれに結合される電磁放射と共鳴する。第2の外層116は、内部伝送空洞114から電磁放射を更に搬送するために、内部伝送空洞114を通って誘導される電磁放射と相互作用する第2の遷移要素126を備えてもよい。第2の遷移要素126はまたパッチであってもよく、その寸法は、内部伝送空洞114においてそれに結合される電磁放射と共鳴する。内部伝送空洞114は真っ直ぐな管状構造であり、その中心線は層104、106、108、110、116の法線に対して平行であるので、第1の遷移要素124及び第2の遷移要素126は、互いに向かい合ってもよい。結果として、電磁放射は、結合孔134を介して、第1及び第2の共鳴遷移要素124、126の間の層状構造102を通って伝播してもよい。遷移要素124、126は、被駆動要素と看做されてもよい。第1及び第2の遷移要素124、126は、導電性材料で作られてもよい。第1及び第2の遷移要素124、126は、例えば、金属で作られてもよい。
図1及び図2に示される実施形態においては、層状構造102は、第1及び第2の外層110、116に関連付けられたコネクタ128、130を備える。最外層110、116は、外側導波路112、(132)に接続可能である。コネクタのうちの第1のコネクタ128は、第1の外側導波路112と、電磁放射を第1の導波路112から内部伝送空洞114に搬送するために接続可能であってもよい。コネクタのうちの第2のコネクタ130は、終端端子又は第2の外側導波路132と、電磁放射を内部伝送空洞114から受信するために接続可能であってもよい。実際、コネクタ128及び130は、導波路構造(112、132)に含まれる導波路フランジを有してもよい。コネクタ128を有する導波路112は、外部入力導波路と呼ばれてもよく、コネクタ130を有する導波路132は、外部出力導波路と呼ばれてもよい。
このように、内部伝送空洞114における別の遷移は、プローブ層108から第2の外側導波路又は終端端子132に向かって横方向伝送線118の下の電磁放射を反映する。コネクタ128、130は、(導波路の)フランジを備えてもよい。終端端子は、電磁放射に対する整合終端として機能してもよい。第2の外側導波路(132)は、内部伝送空洞114から所望の対象への電磁放射の伝播を可能にしてもよい(図1及び図2の破線矢印を参照)。
別の実施形態においては、終端端子(132)は、プローブ層108に対して第2の外層116のみを有することによって、層状構造102内に実装されてもよい。そして、プローブ層108と第2の外層116との間に結合孔134は必要ではない。そして、入力信号は、伝送線118を通って整合負荷のような何らかの終端に進んでもよい。
内部伝送空洞114は真っ直ぐな管状構造であり、その中心線は層104、106、108、110、116の法線に対して平行であるので、第1の導波路112及び第2の導波路は互いに向かい合ってもよい。同様に、第1の導波路112及び終端端子は互いに向かい合ってもよい。
図1及び図2に示される実施形態においては、第2の遷移要素126は、第2の外側導波路又は終端端子132と、電磁放射を内側伝送空洞114から第2の外側導波路又は終端端子の何れかにそれぞれ供給するために動作可能に接続可能である。
一実施形態においては、プローブ層110の両側において、内部伝送空洞114は、電磁放射のための結合孔134を有してもよい。結合孔134は、遷移と伝送線118との間のインピーダンス整合のために、及び遷移と伝送線との間の結合の量を制御するために使用される。
一実施形態においては、横方向伝送線118とプローブ層108内の電磁放射との間の相互作用の程度は、結合孔134の設計で調整可能であってもよい。このようにして、横方向伝送線118は、プローブ層108の内側にある電磁放射からのサンプルとして特定の割合を捕えてもよい。割合は、例えば、0.1%、1%、10%、又は15%であってもよい。電磁放射の1%が横方向伝送線118に捕らえられる場合には、計量器200はそれを測定し、プローブ装置100の内側の電磁放射の電力を示すために、計量器200のユーザ・インターフェース204を使用して画面において又は印刷された形式で測定された電力の約100倍高い値を提示してもよい。一般に、横方向伝送線118における信号は、プローブ層108における電磁放射に決定論的に比例する。そして、横方向伝送線118から検出される信号の値は、プローブ層108における電磁放射の測定される特性の値に比例する。
図1及び図2に示される実施形態においては、内部伝送空洞114は、層状構造102を通る電磁放射の遷移帯域幅を増加させるために、遷移層104、106に関連する少なくとも1つの寄生遷移要素136を備える。少なくとも1つの寄生遷移要素136は、層状構造102内で複数の共振を生成するために使用されてよい。少なくとも1つの寄生遷移要素136は、遷移要素124、126に類似してもよい。遷移層104に1つの寄生遷移要素136がある場合には、遷移要素136は、第1の外層110とプローブ層108との間の任意の層にあってもよい。遷移層106に1つの寄生遷移要素136がある場合には、遷移要素136は、プローブ層108と第2の外層116との間の任意の層にあってもよい。帯域幅をより広くすることが望ましい場合には、より多くの寄生要素があってもよい。
図1及び図2に示される実施形態においては、プローブ層108は、結合孔134を有する導電性層138、140の間にあってもよい。
図1及び図2に示される実施形態においては、導電性壁150は、ガルバニ方式で結合孔134と接続されてもよい。
図1及び図2に示される実施形態においては、導電性壁150は、ガルバニ方式で導電性層138、140と接続されてもよい。
図3は、層104、106、108と同じサイズであり、又はそれより大きいフランジ128、130を有する上からの層状構造102の例を示す。この例においては、整流構成要素120は、層状構造102の外側にあるが、それでもフランジ128、130の間にある。層状構造102の縁部はここでは描かれていない。基板が、計量器200との接続のために延伸する。この例においては、ねじ穴及び/又は位置合わせピンが、入力導波路と出力導波路との間に基板が組み立てられてもよいように層状構造102を貫通する。そして、ねじ及びピンが基板102を通って取り付けられることができる。
プローブ装置100及び層状構造102は、例えば、無線システムの無線周波数送信機及び基地局に適用されてもよい。層状構造102は、電力増幅器の後ろに、又は送信機におけるアンテナポートにおいて接続されてもよい。プローブ装置100及び層状構造102は、送信機が電力規制を満たすか否かを制御するために、測定値を試験する際に利用されてもよい。層状構造102は、継続モードにおける電力の測定を可能にするために無線周波数システムに統合されてもよい。当然、電力はまた、離散的に又は非連続的に測定されてもよい。一般に、層状構造102は、継続モードにおける電磁放射との相互作用を可能にするために無線周波数システムに統合されてもよい。当然、相互作用はまた、離散的に又は非連続的に行われてもよい。
技術が進歩するにつれて、本発明の概念が様々な方法で実装されることができることは、当業者には明らかであろう。本発明及びその実施形態は、上記で説明された例示的な実施形態に限定されず、特許請求の範囲の範囲内で変化してもよい。

Claims (10)

  1. ミリメートル又はサブミリメートル無線周波数帯域のプローブ装置であって、前記プローブ装置(100)は、層状構造(102)を有し、
    前記プローブ装置の反対側の表面において最外層(110、116)を有する遷移層(104、106)であって、前記最外層の少なくとも1つは外側導波路(112、132)に接続可能である、遷移層(104、106)と、
    前記プローブ装置(100)内に電磁放射を誘導するために、前記遷移層(104、106)を通って延伸する内部伝送空洞(114)と、
    前記遷移層(104、106)間に配置されたプローブ層(108)であって、前記内部伝送空洞(114)によって誘導される前記電磁放射と相互作用するために、横方向伝送線(118)を有するプローブ層(108)と
    を備える、プローブ装置。
  2. 前記プローブ層(108)の前記横方向伝送線(118)は、前記内部伝送空洞(114)からの前記電磁放射の少なくとも一部の出力、及び/又は前記電磁放射の特性の変化を生じさせるために前記内部伝送空洞(114)への信号入力を可能にするように構成されている、請求項1に記載の装置。
  3. 前記プローブ装置は、前記横方向伝送線(118)と接続し、前記電磁放射の電力を測定するように構成された電力計量器(200)を備える、請求項2に記載の装置。
  4. 前記横方向方伝送線(118)は、前記伝送線(118)で受信された前記電磁放射の前記少なくとも一部の出力を、DC信号に整流するように構成された整流構成要素(120)に接続され、前記電力計量器(200)は、前記DC信号を測定するように構成されている、請求項3に記載の装置。
  5. 前記最外層の第1の外層(110)は、前記電磁放射を前記内部伝送空洞(114)に搬送するために、外側導波路のうちの第1の外側導波路(112)と動作可能に接続可能である第1の遷移要素(124)を備え、前記最外層の第2の外層(116)は、前記内部伝送空洞(114)からの前記電磁放射の更なる搬送のために、前記内部伝送空洞(114)を通って誘導される前記電磁放射と相互作用するように構成された第2の遷移要素(126)を備える、請求項1〜4の何れか一項に記載の装置。
  6. 前記層状構造(102)は、前記最外層の前記第1及び第2の外層(110、116)に関連付けられたコネクタ(128、130)を備え、前記コネクタのうちの第1のコネクタ(128)は、前記外側導波路のうちの前記第1の外側導波路(112)と、前記電磁放射を前記第1の外側導波路(112)から前記内部伝送空洞(114)に搬送するために接続可能であり、前記コネクタのうちの第2のコネクタ(130)は、終端端子又は前記外側導波路のうちの第2の外側導波路(132)と、前記電磁放射を前記内部伝送空洞(114)から受信するために接続可能である、請求項5に記載の装置。
  7. 前記第2の遷移要素(126)は、前記第2の外側導波路又は前記終端端子(132)と、前記電磁放射をそれらのうちの何れかにそれぞれ供給するために動作可能に接続可能である、請求項6に記載の装置。
  8. 前記プローブ層(108)の両側において、前記内部伝送空洞(114)は、前記電磁放射のための結合孔(134)を有する、請求項1に記載の装置。
  9. 前記横方向伝送線(118)と前記プローブ層(108)内の前記電磁放射との間の相互作用の程度は、前記結合孔(134)の設計で調整可能であるように構成されている、請求項8に記載の装置。
  10. 前記内部伝送空洞(114)は、前記層状構造(102)を通る前記電磁放射の遷移帯域幅を増加させるために、前記遷移層(104、106)に関連付けられた少なくとも2つの寄生遷移要素(136)を備える、請求項1に記載の装置。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08101236A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Anritsu Corp ハイパーパワーセンサ
JP2013167600A (ja) * 2012-02-17 2013-08-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電力検出器付導波管
WO2016094129A1 (en) * 2014-12-03 2016-06-16 Nuvotronics, Inc. Systems and methods for manufacturing stacked circuits and transmission lines

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0209962B1 (en) 1985-05-28 1990-03-14 Marconi Instruments Limited Power sensors
US5204614A (en) * 1991-08-14 1993-04-20 Hewlett-Packard Company Broad-band microwave power sensor using diodes above their resonant frequency
US6870438B1 (en) 1999-11-10 2005-03-22 Kyocera Corporation Multi-layered wiring board for slot coupling a transmission line to a waveguide
US6956448B1 (en) * 2002-12-17 2005-10-18 Itt Manufacturing Enterprises, Inc. Electromagnetic energy probe with integral impedance matching
US7705582B2 (en) 2007-04-16 2010-04-27 Anritsu Company Broadband micro-machined thermal power sensor
US8390403B1 (en) 2009-01-26 2013-03-05 Hrl Laboratories, Llc Wideband ridged waveguide to diode detector transition
US9958485B2 (en) 2011-05-18 2018-05-01 Qualcomm Incorporated On-chip millimeter-wave power detection circuit
CN103280619B (zh) * 2013-04-28 2015-02-25 电子科技大学 一种用于高功率测量的毫米波小孔耦合器
EP3084453B1 (en) * 2013-12-17 2020-11-25 Keyssa, Inc. Waveguides for capturing close-proximity electromagnetic radiation transmitted by wireless chips during testing on automated test equipment (ate)
EP3026441A1 (en) * 2014-11-27 2016-06-01 Nxp B.V. Apparatus for measuring RF power and associated methods
CN104579176A (zh) * 2015-01-07 2015-04-29 电子科技大学 基于共面波导传输线的分谐波混频器
JP2016178571A (ja) 2015-03-23 2016-10-06 日本無線株式会社 導波管/伝送線路変換器

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08101236A (ja) * 1994-09-30 1996-04-16 Anritsu Corp ハイパーパワーセンサ
JP2013167600A (ja) * 2012-02-17 2013-08-29 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 電力検出器付導波管
WO2016094129A1 (en) * 2014-12-03 2016-06-16 Nuvotronics, Inc. Systems and methods for manufacturing stacked circuits and transmission lines

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