JP2020506390A - 電磁場の波頭の断層撮影分布を取得する方法及び光学システム - Google Patents
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Abstract
Description
・光路差を有する異なる光学平面における少なくとも2つの画像の光強度の分布関数(例えば、光強度の二次元分布関数)を測定するステップ。
・前記測定するステップは、各平面内の一連の異なる角度にわたり各平面内の光強度の複数の一次元累積分布関数を決定するステップを含む。
・異なる光学平面の決定された一次元累積分布関数を突き合わせて、前記異なる光学平面間にある平面(例えば、中間平面)内の二次元波頭勾配推定値を得るステップ。
・前記波頭勾配推定値を積分して、前記異なる光学平面間にある前記平面内内の波頭の二次元形状を再現するステップ。
・光路差を有する異なる光学平面における少なくとも2つの画像の少なくとも2つの異なる区分内の光強度の分布関数を測定するステップ。
・前記測定するステップは、各区分内の一連の異なる角度にわたる各区分内の光強度の複数の一次元累積分布関数を決定するステップを含みうる。
・異なる光学平面からの異なる区分の決定された一次元累積分布関数を突き合わせて、前記異なる光学平面間にある平面(例えば、中間平面)の区分内の二次元波頭勾配推定値を導出するステップ。
・前記波頭勾配推定値を積分して前記異なる光学平面間にある前記平面の区分内の波頭の二次元形状を再現するステップ。
x1 + x2 = a
x3 + x4 = b
x1 + x3 = c
x2 + x4 = d
・(δx,δy)配列をフーリエ(u,v)領域にフーリエ変換するステップ。
・δx勾配のフーリエ変換にuを乗算し、δy勾配のフーリエ変換にvを乗算するステップ。
・得られた配列を加え、結果を原点以外で(u2+v2)で除算する(及び/又は原点ではゼロを入れる)ステップ。
・逆フーリエ変換を計算して再現波頭の推定値を得るステップ。
101 (第1)光強度分布を有する(第1)光路位置における典型的な(第1)像平面又は(第1)光学平面
102 (第2)光強度分布を有する(第2)光路位置における典型的な(第2)像平面又は(第2)光学平面
103 前記第1及び第2の光学平面の間の、波頭が復元される典型的な光学平面、例えば、光学システムのアパーチャ平面
104 復元される典型的な波頭
104a (第1)局所的勾配を有する典型的な局所的波頭セグメント
104b (第2)局所的勾配を有する典型的な局所的波頭セグメント
104c (第3)局所的勾配を有する典型的な局所的波頭セグメント
105a 典型的光子伝搬軌跡/光子伝搬方向/局所的波頭伝搬ディレクトリ
105b 典型的光子伝搬軌跡/光子伝搬方向/局所的波頭伝搬ディレクトリ
105c 典型的光子伝搬軌跡/光子伝搬方向/局所的波頭伝搬ディレクトリ
106a 光学平面102内の局所的光強度を表す典型的光子
106b 光学平面101内の局所的光強度を表す典型的光子
107a 光学平面102内の局所的光強度を表す典型的光子
107b 光学平面101内の局所的光強度を表す典型的光子
108a 光学平面102内の局所的光強度を表す典型的光子
108b 光学平面101内の局所的光強度を表す典型的光子
109 z軸が光学システムの光学軸(図示せず)と同一又は平行な光学システムの典型的な向き
200 光線移行測定値の誤差の典型的プロット
201 典型的な誤差曲線
202 典型的な横軸、例えばy軸、例えば、画素で表した光線移行
203 典型的な縦軸、例えば、x軸、例えば、0から1の標準化スケールを有する光線移行測定値の誤差
300 典型的な光学システム
301 (第1)光路位置における典型的な(第1)画像
302 (第2)光路位置における典型的な(第2)画像
303 典型的な可能な焦点面
304 典型的な光学素子、例えば、光学システムのレンズ
305 典型的な(第1)位相スクリーン
306 典型的な(第2)位相スクリーン
307 観察される典型的な(第1)オブジェクト
308 観察される典型的な(第2)オブジェクト
309 (第1)オブジェクトから出る典型的な光線(光線バンドル)
310 (第2)オブジェクトから出る典型的な光線(光線バンドル)
311 (第1)画像301の典型的な(第1)区分又は領域
312 (第2)画像302の典型的な(第1)区分又は領域
313 (第2)画像302の典型的な(第2)区分又は領域
314 (第1)画像301の典型的な(第2)区分又は領域
315 典型的な光学軸
316 典型的な(第1)光学平面又は(第1)測定平面
317 典型的な(第2)光学平面又は(第2)測定平面
318 典型的な少なくとも部分的に透明な標的(媒体)体積
Claims (15)
- 光学システム(100)で使用される光の波頭(104)の二次元再現方法であって、
光路差を有する異なる光学平面(101,102)における少なくとも2つの画像内の光強度の分布関数を測定するステップを含む方法。 - 前記測定するステップが、各平面内の一連の異なる角度にわたる各平面(101,102)内の光強度の複数の一次元累積分布関数を決定するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記異なる光学平面の前記決定された一次元累積分布関数を突き合わせて、前記異なる光学平面間にある平面(103)(例えば、中間平面)内の二次元波頭勾配推定値を導出するステップを更に含む、請求項2に記載の方法。
- 前記波頭勾配推定値を積分して、前記異なる光学平面間にある前記平面(103)内の前記波頭(104)の二次元形状を再現するステップを更に含む、請求項3に記載の方法。
- 前記少なくとも2つの画像のうちの1つが、前記光学システムの瞳平面内で撮影された、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 1つの画像が焦点内で撮影され、1つの画像が焦点外で撮影された、請求項1〜5のいずれか1つに記載の方法。
- 複数の画像(即ち、3つ以上の画像)が、異なる光学平面内で撮影されて、複数の光学平面における複数の二次元波頭形状が再現される、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記画像が区分に分割され、前記波頭の二次元形状が区分ごとに再現された、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。
- 回復された前記波頭が、レイリー=ゾンマーフェルト回折により伝播される、請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法。
- 請求項1〜9のいずれか一項による波頭の二次元再現のための方法を実行するように構成された少なくとも1つのプロセッサユニットを含むコンピュータシステム。
- 前記少なくとも1つのプロセッサユニットが、グラフィックプロセッサユニット(GPU)である、請求項10に記載のコンピュータシステム。
- 1つ以上のプロセッサによって実行されたとき、前記1つ以上のプロセッサに指示して請求項1〜9のいずれか一項による方法を実行する命令が記憶された1つ以上のコンピュータ可読記憶媒体。
- 少なくとも1つの画像検出器(例えば、一般的な二次元デジタルカメラ)を含む光学システムであって、前記少なくとも1つの画像検出器からのデータに基づいて、請求項1〜9のうちの一項により波頭再現を実行するように構成され、かつ/又は前記少なくとも1つの画像検出器からのデータに基づいて波頭の三次元分布(即ち、体積分布)の断層撮影を実行するように構成された光学システム。
- 少なくとも1つの波頭センサをさらに含み、前記光学システムが、前記少なくとも1つの波頭センサからのデータに基づいて請求項1〜13のうちの一項により波頭再現を実行するように構成され、かつ/又は前記少なくとも1つの波頭センサからのデータに基づいて波頭の三次元分布(即ち、体積分布)の断層撮影を実行するように構成された、請求項13に記載の光学システム。
- 前記波頭センサが曲率センサであり、かつ/又は波頭センサが光学取得システムを含む、請求項13又は14に記載の光学システム。
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