JP2020201871A - 診断装置 - Google Patents
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Abstract
Description
そこで、特徴を示すデータのスケールを一様に取り扱うことが可能な学習及び推論の手法が望まれている。
図1は一実施形態による機械学習装置を備えた診断装置の要部を示す概略的なハードウェア構成図である。本実施形態の診断装置1は、例えば産業機械を制御する制御装置上に実装することができる。また、本実施形態の診断装置1は、産業機械を制御する制御装置と併設されたパソコンや、該制御装置と有線/無線のネットワークを介して接続されたエッジコンピュータ、セルコンピュータ、ホストコンピュータ、クラウドサーバ等のコンピュータとして実装することができる。本実施形態では、診断装置1を、産業機械を制御する制御装置と併設されたパソコンとして実装した場合の例を示す。
また、本実施形態による補正部36は、統計値を機械学習装置100が備える学習モデル記憶部130から取得する以外は、第1実施形態における補正部36と同様の機能を備える。
また、本実施形態による診断部120は、産業機械2の状態の診断結果に加えて診断に用いた状態データを逆補正部38へと出力する以外は、第2実施形態における診断部120と同様の機能を備える。
例えば、上記した実施形態では診断装置1と機械学習装置100が異なるCPU(プロセッサ)を有する装置として説明しているが、機械学習装置100は診断装置1が備えるCPU11と、ROM12に記憶されるシステム・プログラムにより実現するようにしても良い。
2 産業機械
11 CPU
12 ROM
13 RAM
14 不揮発性メモリ
16,17,18 インタフェース
20 バス
21 インタフェース
30 データ取得部
32 前処理部
34 統計量計算部
36 補正部
38 逆補正部
50 取得データ記憶部
70 表示装置
71 入力装置
100 機械学習装置
101 プロセッサ
102 ROM
103 RAM
104 不揮発性メモリ
110 学習部
120 診断部
130 学習モデル記憶部
Claims (6)
- 機械の状態を診断する診断装置であって、
前記機械の状態に係るデータを取得するデータ取得部と、
前記データ取得部が取得したデータに対して前処理を行う前処理部と、
前記機械の状態に係る統計量を用いて、前記前処理部が前処理したデータを補正する補正部と、
を備え、
前記補正部が補正したデータに基づいて自己符号化器による機械学習の処理を行い、前記機械の状態の学習乃至診断を行う、
診断装置。 - 前記前処理部が前処理したデータに係る統計量を計算する統計量計算部と、
前記補正部による補正後のデータを用いて前記機械の状態を自己符号化器による機械学習により学習し、学習モデルを生成する学習部と、
前記学習モデルと前記統計量とを関連付けて記憶する学習モデル記憶部と、
を更に備え、
前記補正部は、前記統計量計算部が計算した統計量を用いて、前記前処理部が前処理したデータを補正する、
請求項1に記載の診断装置。 - 前記機械の状態を自己符号化器で学習した学習モデルと前記学習に用いたデータの統計量とを関連付けて記憶している学習モデル記憶部と、
前記補正部による補正後のデータに基づいて、前記学習モデル記憶部に記憶された学習モデルを用いた前記機械の状態の診断を行う診断部と、
を更に備え、
前記補正部は、前記学習モデル記憶部に記憶されている統計量を用いて、前記前処理部が前処理したデータを補正する、
請求項1に記載の診断装置。 - 前記前処理部は、前記データ取得部が取得したデータの内の時系列データに対して周波数解析を前処理として行う、
請求項1〜3のいずれか1つに記載の診断装置。 - 前記診断部は、診断結果と共に診断に用いた補正後のデータを出力し、
前記診断部が出力した補正後のデータを前記補正部が行う補正の逆変換を行う逆補正部を更に備える、
請求項3に記載の診断装置。 - 前記補正部による補正は、時系列データの周波数成分毎に、該周波数成分の振幅値が取り得る値の範囲を拡大する補正である、
請求項1〜5のいずれか1つに記載の診断装置。
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---|---|---|---|---|
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