JP2020176996A - 電池寿命測定装置および測定方法 - Google Patents

電池寿命測定装置および測定方法 Download PDF

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Abstract

【課題】 電池寿命を高精度に自動で測定することができる電池寿命測定装置および測定方法を提供する。【解決手段】 本発明の電池寿命測定装置100は、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出する差動増幅器110と、差動増幅器110により検出されたアナログ信号をサンプリング周波数に従いサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換器140と、アナログデジタル変換器140から出力されるサンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定するサンプリング制御部150と、動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpとから電池寿命時間LFtを算出するプロセッサ170とを含む。【選択図】 図3

Description

本発明は、電池を機器に組込んだ場合の電池の寿命または1回の充電時間を測定する装置に関する。
親機と複数の子機とから構成される無線通信システムにおいて、子機の電源として電池を使用する場合、可能な限り消費電力を抑えて、電池寿命を長くすることが望まれる。例えば、特許文献1の電池駆動型無線通信システムでは、親機が複数の子機の各々をアクセスする時間と子機のスリープ時間を同期させ、必要な時間帯だけ子機のスリープ時間を解除し、子機のバッテリーの消費電力を節約している。
特許第6251363号公報
電池駆動の製品で、例えば電池寿命が1年と謳われて場合に、実際に使用してみると、電池の寿命が1年持たないと言うことがある。このような誤差が生じるのは、これは、電池を機器に組込んだ後で、自動で電池の寿命を測定ないし算出する計測器がなく、人間がおおよそ手計算で算出しているからである。
本発明は、上記した従来技術の課題を解決するものであり、電池寿命を高精度に自動で測定することができる電池寿命測定装置および測定方法を提供することを目的とする。
本発明に係る電池寿命測定装置は、電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定するものであって、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出する検出手段と、前記検出手段により検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ/デジタル変換手段と、アナログ/デジタル変換手段から出力されるサンプリングデータに基づき電池の寿命を測定する測定手段とを有し、前記測定手段は、サンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づき動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpとから電池寿命時間LFtを算出する算出手段とを含む。
ある実施態様では、前記算出手段は、動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpの合計の周期Tとから平均電流Iavを算出し、電池の容量を平均電流Iavで除することで電池寿命時間Lftを算出する。ある実施態様では、前記算出手段は、動作状態の消費電流の平均値mactと動作時間Tactから消費電流Iactを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値mslpとスリープ時間Tslpから消費電流Islpを算出する。ある実施態様では、前記算出手段は、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流mactおよびスリープ状態の平均消費電流mslpを算出することを含む。ある実施態様では、前記検出手段は、電池と電池駆動機器とを接続する電流経路に接続された電流検出用抵抗の一方の端部の電圧と他方の電圧との差電圧を増幅して前記アナログ信号を生成する差動増幅回路を含む。ある実施態様では、前記判定手段は、サンプリングデータと閾値とを比較するコンパレータとを含み、サンプリングデータが閾値以上であるとき動作状態と判定し、サンプリングデータが閾値未満であるときスリープ状態と判定する。
本発明に係る測定方法は、電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定するものであって、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出するステップと、アナログ/デジタル変換器を用いて、前記検出ステップにより検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するステップと、演算処理装置を用いて、前記変換するステップで変換されたサンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定するステップと、判定結果に基づき動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpとから電池寿命時間LFtを算出するステップとを含む。
ある実施態様では、前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpの合計の周期Tとから平均電流Iavを算出し、電池の容量を平均電流Iavで除することで電池寿命時間Lftを算出する。ある実施態様では、前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流の平均値mactと動作時間Tactから消費電流Iactを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値mslpとスリープ時間Tslpから消費電流Islpを算出する。ある実施態様では、前記算出するステップはさらに、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流mactおよびスリープ状態の平均消費電流mslpを算出することを含む。
本発明によれば、電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出し、当該アナログ信号をデジタル信号に変換し、デジタル変換されたサンプリングデータに基づき電池の寿命を測定するようにしたので、電池寿命を高精度に自動で測定することが可能になる。これにより、手作業による寿命測定と比較して工数を大幅に削減することが可能になる。
電池寿命算出の基本を説明するグラフである。 電池寿命の測定方法を説明する図である。 本発明の実施例に係る電池寿命測定装置の構成を示すブロック図である。 図4(A)は、動作状態またはスリープ状態を判定する方法を説明する図、図4(B)は、動作状態またはスリープ状態を表すUPフラグまたはLWフラグを説明する図である。 本発明の実施例によるサンプリング制御部150により生成されたサンプリングデータをSRAMに格納するときのデータ形式の一例を示す図である。 本発明の実施例によるサンプリング制御部およびプロセッサの処理を説明する図である。 本発明の実施例によるプロセッサおよびPCの処理を説明する図である。
次に、本発明のある実施態様では、電池駆動機器は、外部から要求される動作を実行し、その後スリープとなり、再び要求される動作を実行するような間欠的な動作を行うことができる。あるいは別の実施態様では、電池駆動機器は、外部装置と無線信号等を介して接続され、外部装置からの指示に応答して動作を実行することができる。この場合、電池駆動機器は、外部装置から指示がない期間、低消費電力のスリープ(待機状態)となる。低消費電力のスリープ時間は、電池駆動機器に内蔵されるタイマーによって管理されてもよいし、外部装置からのコマンド等によって管理されてもよい。また、スリープ状態は、特に限定されないが、例えば、一部の回路の動作を停止状態にしたり、一部のクロックを停止させたり、特定のコマンドにのみ応答する。電池駆動機器は、例えば、親機と無線通信を行う子機であり、子機は、遠隔地に配置される、温度センサ、湿度センサ、水位センサ、土壌水分センサ、雨量計、圧力センサ、気圧センサ等を含むことができる。
次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明する。電池駆動機器に搭載した電池の寿命を長くするには、電池駆動機器の動作時間を極力短くして、電池駆動機器を低消費電力状態すなわちスリープ状態にする必要がある。こうした間欠動作を行う電池駆動機器の電池寿命を測定する場合、電池駆動機器の動作時の消費電流と時間、スリープ時の消費電流と時間を計測し、それらの計測結果から電池の寿命を算出しなければならない。図1に、電池寿命算出の基本となる定義を示し、この定義に従う電池寿命の計算式を、式(1)、(2)に示す。なお、電池はフルに充電された状態にあるものとする。
Iav=(Iact×Tact+Islp×Tslp)/T …(1)
ここで、Iav:周期内の平均消費電流、Iact:動作時の消費電流値、
Tact:動作時間、Islp:スリープ時の消費電流値、Tslp:スリープ時間、
T:周期(T=Tact+Tslp)
LFt[時間]=BATT[mAh]/Iav …(2)
電池寿命:LFt、BATT:容量
式(1)、(2)を算出するためには、図2に示す測定方法を用いることが可能である。
A.図2(A)に示すように電池(例えば、リチウムイオン電池)Bと電池駆動機器10とを接続する電流経路に、例えば1オーム程度の電流検出用の抵抗Rを挿入する。
B.抵抗Rの電池側の一方の端子N1をオシロスコープ20の信号入力側Sinに接続し、他方の端子N2をオシロスコープ20のGND側に接続する。
C.電池駆動機器10を動作させる。
D.オシロスコープ20に図2(A)のような電圧波形が表示される。
E.オシロスコープ20の表示波形を、手作業により図2(B)に示すような矩形状波形に変換する。
F.動作時およびスリープ時の各電流値と時間を乗算する。つまり、Iact×Tact、Islp×Tslpを計算する。
G.式(1)、(2)の計算を行い、電池寿命時間LFtを求める。
上記の測定方法は、高精度の測定方法とは言えないし、幾つかのポイントでこの測定を行い、その平均値を求める必要もある。このため、非常に煩わしい作業を必要とし、そのための作業に多くの時間を要してしまう。また、手作業による測定には限界があり、電池寿命を高精度で測定することは困難である。
図3は、本発明の実施例に係る電池寿命測定装置の構成を示すブロック図である。同図に示すように、本実施例の電池寿命測定装置100は、差動増幅器110、バンド除去フィルタ120、ローパスフィルタ130、アナログデジタル変換器(ADC)140、サンプリング制御部150、SRAM160、プロセッサ170および不揮発性メモリ180、PC190とを含んで構成される。
差動増幅器110は、抵抗Rの電池側の一方の端子N1を非反転入力端子(+)に接続し、他方の端子N2を反転入力端子(−)に接続し、両者のアナログ信号の差電圧を増幅した信号を出力する。
バンド除去フィルタ120は、差動増幅器110からの出力信号を受け取り、そこからAC電源に由来するノイズ(50Hz/60Hz)を除去する。ローパスフィルタ130は、バンド除去フィルタ120からの出力信号を受け取り、そこから高周波ノイズを除去する。
ADC140は、ローパスフィルタ130からの出力信号を受け取り、これを一定のサンプリング周期でデジタル信号に変換する。ADC140は、例えば、100nsのサンプリング周期で、解像度が14ビットのデジタル信号を生成する。ADC140による動作は、従来のオシロスコープの表示波形を手作業により矩形状の波形に変換することと等価であり、同図に示すような矩形状のデジタル波形Wが生成される。
サンプリング制御部150は、例えば、FPGA(Field Programmable Gate Array)から構成され、ADC140によりサンプリングされたデータと閾値とを比較し、電池駆動機器が動作状態かスリープ状態かを判定する。例えば、図4(A)に示すようなアナログ電圧波形がサンプリングされたと仮定して、サンプリングされたデータと閾値Thとを比較し、サンプリングされたデータが閾値以下であればスリープ状態と判定し、閾値よりも大きければ動作状態と判定する。サンプリング制御部150は、例えば、図4(B)に示すように、コンパレータCMP_1、CMP_2を含み、CMP_1は、サンプリングされたデータの上位ビットと閾値とを比較し、サンプリングされたデータが閾値以上であるときUPフラグをHにセットし、CMP_2は、サンプリングされたデータの下位ビットと閾値とを比較し、サンプリングされたデータが閾値未満であるときLWフラグをHにセットする。
さらにサンプリング制御部150は、ADC140によりデジタル変換されたサンプリングしたデータを受け取り、式(3)の処理を行う。この処理は、動作状態およびスリープ状態のそれぞれで実行される。
Figure 2020176996
ここで、nは、サンプリング回数である。サンプリング制御部150は、式(3)により、現在のサンプリングしたデータXk+1をひとつ前のサンプリングしたデータXに加算したYiを作成する。サンプリング制御部150は、n−1まで上記の加算を行うが、n−1になる前にデータが途切れた場合、あるいはプロセッサ170等からストップの指示があった場合には、処理を停止する。こうして、サンプリング制御部150は、複数の加算結果Yiを作成し、この加算結果Yiとサンプリング回数とをSRAM160に格納する。サンプリング制御部150は、UPフラグがHであれば、SRAM_0に加算結果を格納し、LWフラグがHであれば、SRAM_1に加算結果を格納する。図5に、SRAM_0、SRAM_1のデータ形式をそれぞれ示す。SRAM_01、SRAM_02は、例えば、1M×16ビットの記憶容量を有する。
プロセッサ170は、例えば、予め用意されたプログラムまたはファームウエアに従い電池寿命を算出する。また、プロセッサ170は、SRAM_0、SRAM_1に格納されたサンプリングデータを読出し、これを不揮発性メモリ180に格納する。不揮発性メモリ180は、例えば、記憶容量の大きいSDカードである。
図6に示すプロセス1は、サンプリング制御部150による加算処理を示しており、つまり、現在のサンプリングデータXk+1とひとつ前のサンプリングデータXとの加算処理を示している。加算結果Yiの数は、サンプリング回数に等しく、もし、途中でサンプリングが停止または中断されなければ、加算結果Yiの数は、nー1である。
プロセス2は、プロセッサ170による加算結果Yiの平均値の算出を示している。すなわち、プロセッサ170は、式(4)に示すように、加算結果Yiの各々をサンプリング回数n−1で除して、それぞれの平均値mxを算出する。
mx=Yi/(n−1) …(4)
次に、プロセッサ170は、図7に示すプロセス3で示す式(5)を演算し、全ての平均値mxを加算し、加算した平均値を全てのサンプリング回数で除して平均値mを求める。
Figure 2020176996
mactは、電池駆動機器が動作状態にあるときの平均値、mslpは、スリープ状態にあるときの平均値である。
次に、プロセッサ170は、図7に示すプロセス4を実行する。プロセッサ170は、式(6)、(7)を実行し、UPフラグ、LWフラグとサンプリング回数から、周期Tを算出する。
Tact=(1/fs)×n …(6)
Tslp=(1/fs)×n …(7)
Tactは、UPフラグがHである動作時間、Tslpは、LWフラグがHであるスリープ時間、fsは、サンプリング周波数、周期T=Tact+Tslpである。
次に、プロセッサ170は、式(8)、(9)を実行し、消費電流を算出する。
Iact=mact×Tact …(8)
Islp=mslp×Tslp …(9)
次に、プロセッサ170は、式(10)を実行し、平均の電流値を算出する。
Iav=(Iact+Islp)/T …(10)
平均電流Iav、周期T、消費電流Iact、Islpの動作サイクルは、例えば、図1に示されている。プロセッサ170は、算出した平均電流等を不揮発性メモリ180に格納する。
次に、PC190は、プロセッサ170の処理結果に基づき電池寿命時間(Lft)を算出する。PC190は、不揮発性メモリ180から平均電流Iavを読出し、式(11)を実行する。
LFt[時間]=BATT[mAh]/Iav …(11)
このように本実施例によれば、高精度の電池寿命時間LFtを算出し、これを提示することができる。さらに本実施例によれば、電池寿命時間を自動で測定するため、従来の手法と比較して電池寿命時間算出工数を大幅に削減することができる。さらにサンプリング周期等を調整することでサンプリングデータ量の大幅な削減をすることが可能である。例えば、自動測定の場合、サンプリング周期を100nsとして、このサンプリングを1時間行った場合、サンプリングデータ(2バイト)は、合計で72Gバイトになるが、これらの大容量のデータは不揮発性メモリ180に保存することが可能になる。
上記実施例では、PC190が電池寿命時間を算出する例を示したが、これに限らず、プロセッサ170が電池寿命時間LFtを算出するようにしてもよい。また、例えば、ユーザーは、PC190からプロセッサ170に対して電池寿命の測定の指示を与え、それに応じてプロセッサ170が電池寿命を自動測定し、その結果をユーザーに提示することも可能である。これにより、ユーザーは、電池の寿命時間、つまり電池を充電しなければいけない時間を予測したり、充電にかかる時間を予測することができる。
以上、本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は、特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
10:電池駆動機器
20:オシロスコープ
100:電池寿命測定装置
110:差動増幅器
120バンド除去フィルタ
130:ローパスフィルタ
140:アナログデジタル変換器(ADC)
150:サンプリング制御部
160:SRAM_0、SRAM_1
170:プロセッサ
180:不揮発性メモリ
190:PC
R:電流検出用抵抗
B:電池

Claims (10)

  1. 電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定する電池寿命測定装置であって、
    電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出する検出手段と、
    前記検出手段により検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ/デジタル変換手段と、
    アナログ/デジタル変換手段から出力されるサンプリングデータに基づき電池の寿命を測定する測定手段とを有し、
    前記測定手段は、サンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づき動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpとから電池寿命時間LFtを算出する算出手段とを含む、電池寿命測定装置。
  2. 前記算出手段は、動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpの合計の周期Tとから平均電流Iavを算出し、電池の容量を平均電流Iavで除することで電池寿命時間Lftを算出する、請求項1に記載の電池寿命測定装置。
  3. 前記算出手段は、動作状態の消費電流の平均値mactと動作時間Tactから消費電流Iactを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値mslpとスリープ時間Tslpから消費電流Islpを算出する、請求項2に記載の電池寿命測定装置。
  4. 前記算出手段は、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流mactおよびスリープ状態の平均消費電流mslpを算出することを含む、請求項3に記載の電池寿命測定装置。
  5. 前記検出手段は、電池と電池駆動機器とを接続する電流経路に接続された電流検出用抵抗の一方の端部の電圧と他方の電圧との差電圧を増幅して前記アナログ信号を生成する差動増幅回路を含む、請求項1に記載の電池寿命測定装置。
  6. 前記判定手段は、サンプリングデータと閾値とを比較するコンパレータとを含み、サンプリングデータが閾値以上であるとき動作状態と判定し、サンプリングデータが閾値未満であるときスリープ状態と判定する、請求項1に記載の電池寿命測定装置。
  7. 電池で駆動される電池駆動機器の電池の寿命を測定する測定方法であって、
    電池から電池駆動機器に流れる電流を表すアナログ信号を検出するステップと、
    アナログ/デジタル変換器を用いて、前記検出ステップにより検出されたアナログ信号をサンプリングし、サンプリング結果に基づきアナログ信号をデジタル信号に変換するステップと、
    演算処理装置を用いて、前記変換するステップで変換されたサンプリングデータに基づき電池駆動機器が動作状態またはスリープ状態かを判定するステップと、
    判定結果に基づき動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpとから電池寿命時間LFtを算出するステップとを含む、測定方法。
  8. 前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流Iactおよびスリープ状態の消費電流Islpと、動作状態の動作時間Tactおよびスリープ状態のスリープ時間Tslpの合計の周期Tとから平均電流Iavを算出し、電池の容量を平均電流Iavで除することで電池寿命時間Lftを算出する、請求項7に記載の測定方法。
  9. 前記算出するステップはさらに、動作状態の消費電流の平均値mactと動作時間Tactから消費電流Iactを算出し、スリープ状態の消費電流の平均値mslpとスリープ時間Tslpから消費電流Islpを算出する、請求項8に記載の測定方法。
  10. 前記算出するステップはさらに、現在のサンプリングデータにひとつ前のサンプリングデータを加算し、加算した両者の平均値を算出し、算出された平均値の合計をサンプリング回数で除することで動作状態の平均消費電流mactおよびスリープ状態の平均消費電流mslpを算出することを含む、請求項9に記載の測定方法。

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