JP2020174088A - 解析用データの生成方法及び半導体基板の判定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
実施例では、過去の良品と不良品の検査結果の計2万枚を対象として座標情報を収集し、最大値を1及び10としてスケーリングを行った行列を作成した。ここで、最大値を1としてスケーリングを行った行列は、不良の有無を表す行列(各要素の値は0又は1である)であり、最大値を10としてスケーリングを行った行列は不良の個数を表す行列である。行列を重ね合わせ、3階テンソルの学習用データを生成した。これを入力データとし、学習を実施した。
比較例1では、実施例と同じ過去のデータを用い、最大値を1としてスケーリングを行った行列を生成した。つまり、行列の各要素の値は0もしくは1となる。これは単一の行列表現からなる学習用データであり、3階テンソルではない。
比較例2では、実施例と同じ過去のデータを用い、最大値を10としてスケーリングを行った行列を生成した。これは単一の行列表現からなる学習用データであり、3階テンソルではない。
Claims (5)
- 半導体基板上の不良のパターンを機械学習により判定する不良品識別装置に入力する解析用データの生成方法であって、
前記半導体基板の画像データを格子状に区切ったセルに分割するステップと、
前記画像データを各前記セル内に含まれる不良の個数を表す第1の行列情報に変換するステップと、
前記画像データを各前記セル内における不良の有無を表す第2の行列情報に変換するステップと、
前記第1の行列情報及び第2の行列情報をスタックして3階テンソルを生成し、前記解析用データとするステップと
を有することを特徴とする解析用データの生成方法。 - 前記不良をパーティクル及び欠陥とすることを特徴とする請求項1に記載の解析用データの生成方法。
- 各前記セル内に含まれる不良の個数をスケーリング又はオフセット処理することにより強度を調整することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の解析用データの生成方法。
- 各前記セル内における不良の有無を0又は1で表現することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の解析用データの生成方法。
- 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の解析用データの生成方法によって生成した解析用データを用いて、機械学習による分類器を構築し、
該分類器を用いて、半導体基板が良品であるか不良品であるかを判定することを特徴とする半導体基板の判定方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP7453931B2 (ja) | 2021-03-12 | 2024-03-21 | 株式会社豊田中央研究所 | 学習データ生成装置、異常検出装置、異常検出システム、及び異常検出プログラム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1111796A (ja) * | 1997-06-28 | 1999-01-19 | Nissan Tecsys Kk | 緯糸の給糸装置 |
JPH1145919A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-16 | Hitachi Ltd | 半導体基板の製造方法 |
JP2016109495A (ja) * | 2014-12-03 | 2016-06-20 | タカノ株式会社 | 分類器生成装置、外観検査装置、分類器生成方法、及びプログラム |
-
2019
- 2019-04-09 JP JP2019074258A patent/JP7095647B2/ja active Active
Patent Citations (3)
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JPH1111796A (ja) * | 1997-06-28 | 1999-01-19 | Nissan Tecsys Kk | 緯糸の給糸装置 |
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JP2016109495A (ja) * | 2014-12-03 | 2016-06-20 | タカノ株式会社 | 分類器生成装置、外観検査装置、分類器生成方法、及びプログラム |
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JP7453931B2 (ja) | 2021-03-12 | 2024-03-21 | 株式会社豊田中央研究所 | 学習データ生成装置、異常検出装置、異常検出システム、及び異常検出プログラム |
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JP7095647B2 (ja) | 2022-07-05 |
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