JP2020144287A - Information processing apparatus, control method, lithography apparatus, article manufacturing method, and program - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、情報処理装置、制御方法、リソグラフィ装置、物品の製造方法及びプログラムに関する。 The present invention relates to information processing devices, control methods, lithographic devices, article manufacturing methods and programs.
半導体デバイス、液晶表示素子、撮像素子、磁気ヘッドなどのデバイスの製造(フォトリソグラフィ)工程に用いられる露光装置には、高性能(高精度)で動作することが要求され、その性能を維持するために、装置のメンテナンスを定期的に実施している。 Exposure equipment used in the manufacturing (photolithography) process of devices such as semiconductor devices, liquid crystal display elements, image sensors, and magnetic heads is required to operate with high performance (high precision), and in order to maintain that performance. In addition, maintenance of the equipment is carried out regularly.
このような露光装置の運用は、生産時間と、非生産時間とに大別される。生産時間は、デバイスを生産する時間、具体的には、基板を露光する時間に相当する。非生産時間は、性能を維持するためのメンテナンス時間(スケジュールドダウンタイム)、異常が発生してデバイスを生産できない時間(アンスケージュールドダウンタイム)、及び、デバイスを生産していない時間(アイドルタイム)に相当する。従って、露光装置において、デバイスの生産性を向上させるためには、非生産時間を減らすことが必要となる。 The operation of such an exposure apparatus is roughly classified into production time and non-production time. The production time corresponds to the time for producing the device, specifically, the time for exposing the substrate. Non-production time is maintenance time to maintain performance (scheduled downtime), time when an abnormality occurs and device cannot be produced (unscheduled downtime), and time when device is not produced (idle). Time). Therefore, in the exposure apparatus, it is necessary to reduce the non-production time in order to improve the productivity of the device.
露光装置のメンテナンスに関する技術が従来から提案されている(特許文献1参照)。特許文献1には、製品ロット処理の実行に関する第1情報と、メンテナンスのための処理又は研究開発の基板の露光処理に関する第2情報とを用いて、露光装置の運用を制御する技術が開示されている。かかる技術では、第1情報に対応する処理を優先的に実行し、第1情報に対応する未処理の処理がなくなったら、第2情報に対応する処理を実行する。
Techniques related to maintenance of exposure apparatus have been conventionally proposed (see Patent Document 1).
特許文献1に開示された技術は、アイドルタイムに自動で装置をメンテナンスする技術である。しかしながら、一般的に、デバイスメーカーは、装置に異常が発生していなければ、生産量を増やすためにデバイスを生産し続けるため、生産調整などが発生しない限り、アイドルタイムは発生しない。一方、露光装置には、上述したように、高性能で動作することが要求される。従って、特許文献1に開示された技術では、生産時間の一部を、性能を維持するためのメンテナンス時間に充てなければならず、生産性を低下させてしまう。
The technique disclosed in
本発明は、このような従来技術の課題に鑑みてなされ、リソグラフィ装置の生産性を向上させるのに有利な情報処理装置を提供することを例示的目的とする。 The present invention has been made in view of such problems of the prior art, and an exemplary object is to provide an information processing apparatus which is advantageous for improving the productivity of a lithography apparatus.
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての情報処理装置は、基板にパターンを形成するリソグラフィ装置を制御する情報処理装置であって、前記リソグラフィ装置が有する複数のユニットのそれぞれについて、当該ユニットの状態が正常であるか異常であるかを示す状態情報を管理する第1管理部と、前記リソグラフィ装置で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれについて、前記複数のユニットのうち当該メンテナンスで必要となるユニットを示す第1情報を含むメンテナンス情報を管理する第2管理部と、前記リソグラフィ装置に異常が発生して前記基板に前記パターンを形成する処理が停止した場合に、前記状態情報と、前記メンテナンス情報とに基づいて、前記複数のメンテナンスから実行可能なメンテナンスを特定する特定部と、前記処理が停止している間に、前記特定部で特定された実行可能なメンテナンスを前記リソグラフィ装置に実行させる実行部と、を有することを特徴とする。 In order to achieve the above object, the information processing apparatus as one aspect of the present invention is an information processing apparatus that controls a lithography apparatus that forms a pattern on a substrate, and for each of a plurality of units of the lithography apparatus. Of the plurality of units, the first management unit that manages the status information indicating whether the status of the unit is normal or abnormal and the plurality of maintenance to be performed by the lithography apparatus are required for the maintenance. The second management unit that manages maintenance information including the first information indicating the unit to be the unit, and the state information and the state information when the process of forming the pattern on the substrate is stopped due to an abnormality in the lithography apparatus. Based on the maintenance information, the specific unit that identifies the maintenance that can be performed from the plurality of maintenance and the feasible maintenance that is specified by the specific unit while the processing is stopped are sent to the lithography apparatus. It is characterized by having an execution unit to be executed.
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される実施形態によって明らかにされるであろう。 Further objections or other aspects of the invention will be manifested in embodiments described below with reference to the accompanying drawings.
本発明によれば、例えば、リソグラフィ装置の生産性を向上させるのに有利な情報処理装置を提供することができる。 According to the present invention, for example, it is possible to provide an information processing apparatus that is advantageous for improving the productivity of a lithography apparatus.
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。なお、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものでない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。更に、添付図面においては、同一もしくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。 Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The following embodiments do not limit the invention according to the claims. Although a plurality of features are described in the embodiment, not all of the plurality of features are essential to the invention, and the plurality of features may be arbitrarily combined. Further, in the attached drawings, the same or similar configurations are designated by the same reference numbers, and duplicate description is omitted.
図1は、本発明の一側面としての露光装置100の構成を示す概略図である。露光装置100は、デバイスの製造工程であるフォトリソグラフィ工程に用いられ、基板5にパターンを形成するリソグラフィ装置である。露光装置100は、ステップ・アンド・スキャン方式やステップ・アンド・リピート方式で、レチクル1を介して基板5を露光し、レチクル1のパターンを基板5に転写する。
FIG. 1 is a schematic view showing a configuration of an
なお、本発明は、リソグラフィ装置を露光装置に限定するものではなく、インプリント装置や描画装置にも適用することができる。ここで、インプリント装置は、基板上に供給されたインプリント材とモールドとを接触させ、インプリント材に硬化用のエネルギーを与えることにより、モールドのパターンが転写された硬化物のパターンを形成する。また、描画装置は、荷電粒子線(電子線)やレーザビームで基板に描画を行うことにより基板上にパターン(潜像パターン)を形成する。 The present invention is not limited to the exposure apparatus, but can also be applied to an imprint apparatus and a drawing apparatus. Here, the imprinting apparatus contacts the imprint material supplied on the substrate with the mold and applies energy for curing to the imprint material to form a pattern of the cured product to which the pattern of the mold is transferred. To do. Further, the drawing apparatus forms a pattern (latent image pattern) on the substrate by drawing on the substrate with a charged particle beam (electron beam) or a laser beam.
露光装置100は、基板5にパターンを形成するための複数のユニットを有する。具体的には、露光装置100は、図1に示すように、照明光学系2と、レチクルステージ3と、投影光学系4と、基板チャック6と、基板ステージ7と、制御部10とを有する。
The
照明光学系2は、水銀ランプやエキシマレーザーなどの光源(不図示)から射出した光を用いて、レチクルステージ3に保持されたレチクル1を照明する。レチクルステージ3は、レチクル1を保持して移動するステージである。投影光学系4は、レチクル1のパターン(の像)を、基板チャック6を介して基板ステージ7に保持された基板5(基板上のレジスト)に投影する。基板ステージ7は、基板5を吸着する基板チャック6を支持して移動するステージである。
The illumination
制御部10は、例えば、CPUやメモリなどを含む情報処理装置(コンピュータ)で構成され、記憶部に記憶されたプログラムに従って露光装置100の各部(ユニット)を統括的に制御する。制御部10は、レチクル1のパターンを基板5に転写する、即ち、レチクル1を介して基板5を露光して基板5にパターンを形成する露光処理を制御する。また、制御部10は、本実施形態では、露光装置100で実行すべきメンテナンスを制御する。例えば、制御部10は、露光装置100に異常が発生して基板5にパターンを形成する露光処理が停止した場合に、メンテナンスを露光装置100に実行させる。
The
図2を参照して、露光装置100に異常が発生して露光処理が停止した場合におけるメンテナンスの実行処理の一例を説明する。図2は、メンテナンスの実行に関する制御部10のシステム構成を示すブロック図である。制御部10は、状態検知部101と、状態管理部(第1管理部)102と、メンテナンス管理部(第2管理部)103と、スケジューラ(特定部)104と、実行部105とを含む。
With reference to FIG. 2, an example of maintenance execution processing when an abnormality occurs in the
状態検知部101は、露光装置100が有する複数のユニットのそれぞれの状態が正常であるか異常であるかを検知する検知部である。状態検知部101は、露光装置100が有する複数のユニットのそれぞれの状態の変化を常に監視し、ユニットの状態に変化があった場合に、状態管理部102やスケジューラ104に通知する。
The
状態管理部102は、露光装置100が有する複数のユニットのそれぞれについて、ユニットの状態が正常であるか異常であるかを示す状態情報を管理する。状態管理部102は、状態検知部101から通知されるユニットの状態を管理し、ユニットの状態の変化があった場合は、状態検知部101の検知結果に基づいて、状態情報を更新する(状態情報を最新の状態にする)。また、状態管理部102は、必要に応じて、状態管理部102で管理している各ユニットの最新の状態情報をスケジューラ104に通知する。
The
メンテナンス管理部103は、露光装置100で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれについて、メンテナンスで必要となるユニットを示す第1情報を含むメンテナンス情報を管理する。換言すれば、第1情報とは、メンテナンス名と、そのメンテナンスを実行するために必要なユニットとの関係を示す情報である。また、メンテナンス管理部103は、メンテナンス情報として、複数のメンテナンスのそれぞれについて、露光装置100で実行すべき周期を示す第2情報と、露光装置100で実行された実行日を示す第3情報とを管理する。
The
図3は、メンテナンス管理部103で管理されるメンテナンス情報の一例を示す図である。図3を参照するに、メンテナンス情報は、メンテナンスごとに管理され、その項目として、「メンテナンス名」、「周期」、「実行日」及び「必要なユニット」を含む。「メンテナンス名」は、露光装置100で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれの名称を示す。「周期」は、露光装置100でメンテナンスを実行すべき周期を示す。「実行日」は、露光装置100でメンテナンスを実行した最後の日にちを示す。「必要なユニット」は、露光装置100でメンテナンスを実行するために必要となるユニットを示す。なお、「実行日」は、露光装置100でメンテナンスが実行された(メンテナンスが完了した)ときに更新される。
FIG. 3 is a diagram showing an example of maintenance information managed by the
スケジューラ104は、露光装置100に異常が発生して露光処理が停止した場合に、露光装置100が有する各ユニットの現在の状態において実行可能なメンテナンスを特定する。具体的には、スケジューラ104は、状態管理部102及びメンテナンス管理部103のそれぞれから状態情報及びメンテナンス情報を取得し、状態情報及びメンテナンス情報に基づいて、複数のメンテナンスから実行可能なメンテナンスを特定する。この際、スケジューラ104は、実行可能な複数のメンテナンスを特定するとともに、実行可能な複数のメンテナンスのそれぞれについて、メンテナンス情報に基づいて、露光装置100で実行すべき順番を示す優先度を設定する。具体的には、スケジューラ104は、メンテナンス情報のうち第2情報及び第3情報に基づいて、実行可能な複数のメンテナンスのそれぞれを露光装置100で実行すべき予定日を求め、予定日が早いメンテナンスほど優先して実行されるように優先度を設定する。これにより、次回の予定日が早い(例えば、古い)日付のメンテナンスから順に実行される。但し、次回の予定日が現在の日付よりも未来の日付となるメンテナンスは実行しないようにしてもよい。
The
実行部105は、露光装置100に異常が発生して露光処理が停止している間に、スケジューラ104で特定された実行可能なメンテナンスを露光装置100に実行させる。なお、スケジューラ104が実行可能な複数のメンテナンスを特定している場合には、実行部105は、実行可能な各メンテナンスに設定されている優先度に基づいて、実行可能な複数のメンテナンスを露光装置100に順次実行させる。また、実行部105は、露光装置100でメンテナンスが実行された(メンテナンスが完了した)ことを示す実行結果を、メンテナンス管理部103に通知する。
The
図4乃至図7を参照して、露光装置100に異常が発生して露光処理が停止した場合におけるメンテナンスの実行処理の流れを説明する。図4は、状態検知部101と状態管理部102との間における露光装置100が有する各ユニットの状態(状態情報)の管理の一例を示す図である。図4に示すように、露光装置100に異常が発生して、状態検知部101がユニットの状態の変化(正常から異常への変化)を検知する(S1)と、その検知結果を状態管理部102に通知する(S2)。状態管理部102は、状態検知部101から通知される検知結果に基づいて、図5に示すように、状態情報を更新する。図5は、状態管理部102で管理される状態情報の一例を示す図である。図5を参照するに、状態情報は、露光装置100が有するユニットごとに管理され、その項目として、「ユニット名」及び「状態」を含む。「ユニット名」は、露光装置100が有する複数のユニットのそれぞれの名称を示す。「状態」は、露光装置100が有する各ユニットの状態、即ち、各ユニットが正常であるか異常であるかを示す。
With reference to FIGS. 4 to 7, a flow of maintenance execution processing when an abnormality occurs in the
図6は、状態検知部101と、状態管理部102と、メンテナンス管理部103と、スケジューラ104との間における、実行可能なメンテナンスの特定処理の流れを示す図である。スケジューラ104は、状態検知部101から露光装置100に異常が発生して露光処理が停止した旨の通知を受ける(S3)と、状態管理部102から状態情報を取得し(S4)、メンテナンス管理部103からメンテナンス情報を取得する(S5)。そして、スケジューラ104は、状態情報及びメンテナンス情報に基づいて、露光装置100が有する各ユニットの現在の状態において実行可能なメンテナンスを特定する。
FIG. 6 is a diagram showing a flow of specific processing for executable maintenance between the
図7は、メンテナンス管理部103と、スケジューラ104と、実行部105との間におけるメンテナンスの実行処理の流れを示す図である。スケジューラ104は、状態情報及びメンテナンス情報に基づいて特定した、露光装置100が有する各ユニットの現在の状態において実行可能なメンテナンスを実行部105に通知する(S6)。実行部105は、スケジューラ104から実行可能なメンテナンスが通知されると、露光処理が停止している間に、かかるメンテナンスを露光装置100に実行させる。そして、実行部105は、メンテナンスの実行の完了後に、メンテナンスの実行結果をメンテナンス管理部103に通知する(S7)。メンテナンス管理部103は、実行部105からメンテナンスの実行結果が通知されると、メンテナンス情報を更新する(「実行日」をメンテナンスが実行された最新の日付にする)。
FIG. 7 is a diagram showing a flow of maintenance execution processing between the
露光装置100に異常が発生して露光処理が停止した場合におけるメンテナンスの実行処理について具体的に説明する。ここでは、レチクルステージ3に異常が発生し、露光処理が停止した場合を例に説明する。なお、図3に示す状態情報及び図5に示すメンテナンス情報では、レチクルステージ3を「RS」と表記する。同様に、基板チャック6を「CM」、基板ステージ7を「WS」、照明光学系2や投影光学系4のレンズ群を「Lens」、光源を「Laser」、基板搬送機構を「WF」と表記する。
The maintenance execution process when the exposure process is stopped due to an abnormality in the
まず、レチクルステージ3に異常が発生して露光処理が停止すると、状態検知部101は、レチクルステージ3の状態の変化(正常から異常への変化)を検知し、その検知結果を状態管理部102に通知する。状態管理部102は、状態検知部101の検知結果に基づいて、図5に示すように、レチクルステージ3の現在の状態が異常となるように、レチクルステージ3の状態情報を更新する。
First, when an abnormality occurs in the
次いで、スケジューラ104は、状態検知部101からレチクルステージ3に異常が発生して露光処理が停止した旨の通知を受けると、状態管理部102から図5に示す状態情報を取得し、メンテナンス管理部103から図3に示すメンテナンス情報を取得する。そして、スケジューラ104は、露光装置100の各ユニットの状態を示す状態情報と、各メンテナンスに必要なユニットを示すメンテナンス情報とを参照して、各ユニットの現在の状態において実行可能なメンテナンスを特定する。ここで、正常なユニットは、図5に示すように、基板ステージ7(「WS」)と、光源「Laser」と、基板チャック6(「CM」)と、基板搬送機構(「WF」)と、照明光学系2や投影光学系4のレンズ群(「Lens」)である。従って、スケジューラ104は、図3を参照して、各ユニットの現在の状態において実行可能なメンテナンスとして、「チャッククリーニング」と、「WSバーミラー計測」とを特定する。この際、現在の日付を2018年7月29日とすると、スケジューラ104は、メンテナンス情報の「周期」及び「実行日」から、「チャッククリーニング」の優先度が「WSバーミラー計測」の優先度よりも高くなるように、優先度を設定する。また、スケジューラ104は、実行部105に対して、各ユニットの現在の状態において実行可能なメンテナンスとして、「チャッククリーニング」及び「WSバーミラー計測」を、その優先度とともに通知する。
Next, when the
次に、実行部105は、露光処理が停止している間に、スケジューラ104から通知された「チャッククリーニング」及び「WSバーミラー計測」を、その順番で(優先度に従って)露光装置100に実行させる。また、実行部105は、露光装置100で「チャッククリーニング」及び「WSバーミラー計測」が実行されたことを示す実行結果を、メンテナンス管理部103に通知する。メンテナンス管理部103は、実行部105からの実行結果を受けて、「チャッククリーニング」及び「WSバーミラー計測」のそれぞれの「実行日」を更新する。
Next, the
このように、本実施形態によれば、露光装置100に異常が発生して露光処理が停止している間、即ち、異常が発生してデバイスを生産できない時間(アンスケージュールドダウンタイム)にメンテナンスを実行することができる。従って、露光装置100は、デバイスを生産する生産時間の一部をメンテナンスに充てる必要がなく、デバイスの生産性を向上させるのに有利となる。
As described above, according to the present embodiment, while the
なお、図8に示すように、制御部10のシステム構成を、露光処理が停止している間に実行しているメンテナンスを中断することが可能なようにしてもよい。図8は、メンテナンスの実行に関する制御部10のシステム構成を示すブロック図である。制御部10は、状態検知部101、状態管理部102、メンテナンス管理部103、スケジューラ104及び実行部105に加えて、操作部106と、判定部107とを含む。
As shown in FIG. 8, the system configuration of the
操作部106は、ユーザの指示(入力)を受け付け、かかるユーザの指示を判定部107に通知する。
The
判定部107は、操作部106で受け付けたユーザの指示がメンテナンスを中断する必要のある指示であるかどうか、即ち、メンテナンスを中断する中断指示を含んでいるかどうかを判定する。例えば、判定部107は、露光装置100の停止の直前に実行されていた処理を再度実行するための指示や露光装置100をリセットするための指示がユーザの指示に含まれている場合には、中断指示を含んでいると判定する。また、判定部107は、メンテナンスを実行しているユニットを用いた処理を実行するための指示がユーザの指示に含まれている場合には、中断指示を含んでいると判定する。そして、判定部107は、ユーザの指示が中断指示を含んでいる場合には、メンテナンスを中断するように、本実施形態では、スケジューラ104を介して、実行部105に通知する。但し、判定部107は、スケジューラ104を介さずに、メンテナンスを中断するように、実行部105に直接通知してもよい。
The
図9は、操作部106と、判定部107と、スケジューラ104と、実行部105との間におけるメンテナンスの中断処理の流れを示す図である。露光装置100に異常が発生して露光処理が停止している間、具体的には、メンテナンスを実行している間において、操作部106がユーザの指示を受け付ける(S10)と、かかるユーザの指示を判定部107に通知する(S11)。
FIG. 9 is a diagram showing a flow of maintenance interruption processing between the
判定部107は、操作部106から通知されたユーザの指示がメンテナンスの中断を指示する中断指示を含んでいるかどうかを判定し、ユーザの指示が中断指示を含んでいる場合には、その旨をスケジューラ104に通知する(S12)。なお、ユーザの指示が中断指示を含んでいない場合には、その旨をスケジューラ104に通知することなく、操作部106で受け付けたユーザの指示に対応する処理が実行される。
The
スケジューラ104は、判定部107からの通知に基づいて、メンテナンスを中断するように、実行部105に通知する(S13)。そして、実行部105は、スケジューラ104からの通知に従って、露光装置100で実行されているメンテナンスを中断させる。
The
このように、制御部10のシステム構成として操作部106及び判定部107を加えることで、メンテナンスを実行している間において、ユーザの指示(例えば、復旧作業)を優先して(即ち、メンテナンスを中断して)実行することが可能となる。
In this way, by adding the
また、露光装置100は、操作部106の一部として、或いは、操作部106とは別に、スケジューラ104で特定された実行可能なメンテナンスを表示するユーザインタフェースを有していてもよい。
Further, the
図10は、スケジューラ104で特定された実行可能なメンテナンスを表示するユーザインタフェース(Maintenance scheduler window)の一例を示す図である。かかるユーザインタフェースは、露光装置100に接続されたタッチパネル(表示装置)を介して提供される。
FIG. 10 is a diagram showing an example of a user interface (Maintenance scheduler window) that displays the feasible maintenance specified by the
図10を参照するに、ユーザインタフェースは、スケジューラ104で特定された実行可能な複数のメンテナンスのリストを表示するリスト表示領域(Maintenance List)151を含む。なお、リスト表示領域151に表示される複数のメンテナンスは、露光装置100で実行すべき順番、即ち、優先度が高いものから順に表示される。また、ユーザインタフェースは、各メンテナンスについて、メンテナンスが実行中であるか、メンテナンスが待機中であるか、メンテナンスが完了したか、又は、メンテナンスを中止するか、を示すステータス情報を表示する状態表示領域152を含む。
Referring to FIG. 10, the user interface includes a list display area (Maintenance List 151) that displays a list of a plurality of available maintenance identified by the
また、リスト表示領域151に表示されているメンテナンスの順番の入れ替えや削除、リスト表示領域151に表示されていないメンテナンスの追加などをユーザが指示できるようにユーザインタフェースを構成することも可能である。例えば、Stopボタン153及びRunボタン154は、リスト表示領域151に表示されている任意のメンテナンスのステータス情報を変更するためのボタンである。Stopボタン153は、メンテナンスのステータス情報を、「実行中」又は「待機中」から「中止」に変更するためのボタンである。Runボタン154は、メンテナンスのステータス情報を、「待機中」から「実行中」に、又は、「中止」から「待機中」に変更するためのボタンである。
It is also possible to configure the user interface so that the user can instruct the user to change or delete the maintenance order displayed in the
また、Deleteボタン155は、リスト表示領域151に表示されているメンテナンスを削除するためのボタンであり、Addボタン156は、リスト表示領域151に表示されていないメンテナンスを追加するためのボタンである。新たなメンテナンスをリスト表示領域151に追加する場合、例えば、各ユニットの現在の状態から実行可能なメンテナンス、且つ、現在の日付に対して予定日が近いメンテナンスを順に表示したリストから任意のメンテナンスを選択する。これにより、ユーザは、リスト表示領域151に表示されているメンテナンスの順番の入れ替えや削除、リスト表示領域151に表示されていないメンテナンスの追加を行うことができる。
Further, the
本発明の実施形態における物品の製造方法は、例えば、デバイス(半導体素子、磁気記憶媒体、液晶表示素子など)などの物品を製造するのに好適である。かかる製造方法は、露光装置100を用いて、基板にパターンを形成する工程と、パターンが形成された基板を処理する工程と、処理された基板から物品を製造する工程とを含む。また、かかる製造方法は、他の周知の工程(酸化、成膜、蒸着、ドーピング、平坦化、エッチング、レジスト剥離、ダイシング、ボンディング、パッケージングなど)を含みうる。本実施形態における物品の製造方法は、従来に比べて、物品の性能、品質、生産性及び生産コストの少なくとも1つにおいて有利である。
The method for manufacturing an article according to the embodiment of the present invention is suitable for producing an article such as a device (semiconductor element, magnetic storage medium, liquid crystal display element, etc.). Such a manufacturing method includes a step of forming a pattern on a substrate using an
本発明は、上述の実施形態の1つ以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1つ以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。 The present invention supplies a program that realizes one or more functions of the above-described embodiment to a system or device via a network or storage medium, and one or more processors in the computer of the system or device reads the program. It can also be realized by the processing to be executed. It can also be realized by a circuit (for example, an ASIC) that realizes one or more functions.
発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。 The invention is not limited to the above embodiments, and various modifications and modifications can be made without departing from the spirit and scope of the invention. Therefore, a claim is attached to make the scope of the invention public.
100:露光装置 10:制御部 101:状態検知部 102:状態管理部 103:メンテナンス管理部 104:スケジューラ 105:実行部 100: Exposure device 10: Control unit 101: State detection unit 102: State management unit 103: Maintenance management unit 104: Scheduler 105: Execution unit
Claims (14)
前記リソグラフィ装置が有する複数のユニットのそれぞれについて、当該ユニットの状態が正常であるか異常であるかを示す状態情報を管理する第1管理部と、
前記リソグラフィ装置で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれについて、前記複数のユニットのうち当該メンテナンスで必要となるユニットを示す第1情報を含むメンテナンス情報を管理する第2管理部と、
前記リソグラフィ装置に異常が発生して前記基板に前記パターンを形成する処理が停止した場合に、前記状態情報と、前記メンテナンス情報とに基づいて、前記複数のメンテナンスから実行可能なメンテナンスを特定する特定部と、
前記処理が停止している間に、前記特定部で特定された実行可能なメンテナンスを前記リソグラフィ装置に実行させる実行部と、
を有することを特徴とする情報処理装置。 An information processing device that controls a lithography device that forms a pattern on a substrate.
For each of the plurality of units of the lithography apparatus, a first management unit that manages state information indicating whether the state of the unit is normal or abnormal, and
For each of the plurality of maintenances to be performed by the lithography apparatus, a second management unit that manages maintenance information including the first information indicating the unit required for the maintenance among the plurality of units, and a second management unit.
When an abnormality occurs in the lithography apparatus and the process of forming the pattern on the substrate is stopped, the specific maintenance that can be performed from the plurality of maintenances is specified based on the state information and the maintenance information. Department and
An execution unit that causes the lithography apparatus to perform the performable maintenance specified by the specific unit while the processing is stopped.
An information processing device characterized by having.
前記第1管理部は、前記検知部の検知結果に基づいて、前記状態情報を更新することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。 It further has a detection unit that detects whether the state of each of the plurality of units is normal or abnormal.
The information processing device according to claim 1, wherein the first management unit updates the state information based on the detection result of the detection unit.
前記実行部は、前記優先度に基づいて、前記特定部で特定された実行可能な複数のメンテナンスを前記リソグラフィ装置に順次実行させることを特徴とする請求項1又は2に記載の情報処理装置。 The specific unit identifies a plurality of maintenance that can be performed from the plurality of maintenance, and sets a priority indicating the order in which the lithography apparatus should perform each of the plurality of performable maintenance.
The information processing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the execution unit sequentially causes the lithography apparatus to sequentially perform a plurality of executable maintenance specified by the specific unit based on the priority.
前記特定部は、前記第2情報と前記第3情報とに基づいて、前記実行可能な複数のメンテナンスのそれぞれに対して、前記優先度を設定することを特徴とする請求項3に記載の情報処理装置。 The maintenance information includes, for each of the plurality of maintenances, a second information indicating a cycle to be executed by the lithography apparatus, and a third information indicating an execution date executed by the lithography apparatus.
The information according to claim 3, wherein the specific unit sets the priority for each of the plurality of feasible maintenances based on the second information and the third information. Processing equipment.
前記操作部で受け付けた前記ユーザの指示が前記リソグラフィ装置で実行されているメンテナンスを中断する中断指示を含んでいるかを判定する判定部と、
を更に有し、
前記ユーザの指示が前記中断指示を含んでいると前記判定部が判定した場合、前記実行部は、前記リソグラフィ装置で実行されているメンテナンスを中断することを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の情報処理装置。 An operation unit that accepts user instructions and
A determination unit for determining whether the user's instruction received by the operation unit includes an interruption instruction for interrupting maintenance being executed by the lithography apparatus.
With more
Of claims 1 to 6, wherein when the determination unit determines that the user's instruction includes the interruption instruction, the execution unit interrupts the maintenance being executed by the lithography apparatus. The information processing device according to any one item.
前記リソグラフィ装置が有する複数のユニットのそれぞれについて、当該ユニットの状態が正常であるか異常であるかを示す状態情報を管理する第1工程と、
前記リソグラフィ装置で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれについて、前記複数のユニットのうち当該メンテナンスで必要となるユニットを示す第1情報を含むメンテナンス情報を管理する第2工程と、
前記リソグラフィ装置に異常が発生して前記基板に前記パターンを形成する処理が停止した場合に、前記状態情報と、前記メンテナンス情報とに基づいて、前記複数のメンテナンスから実行可能なメンテナンスを特定する第3工程と、
前記処理が停止している間に、前記第3工程で特定された実行可能なメンテナンスを前記リソグラフィ装置に実行させる第4工程と、
を有することを特徴とする制御方法。 A control method that controls a lithography device that forms a pattern on a substrate.
For each of the plurality of units included in the lithography apparatus, a first step of managing state information indicating whether the state of the unit is normal or abnormal, and
For each of the plurality of maintenances to be performed by the lithography apparatus, a second step of managing maintenance information including first information indicating a unit required for the maintenance among the plurality of units, and a second step of managing the maintenance information.
When an abnormality occurs in the lithography apparatus and the process of forming the pattern on the substrate is stopped, the maintenance that can be performed from the plurality of maintenances is specified based on the state information and the maintenance information. 3 steps and
A fourth step of causing the lithographic apparatus to perform the feasible maintenance identified in the third step while the process is stopped.
A control method characterized by having.
前記基板にパターンを形成するための複数のユニットと、
前記複数のユニットのそれぞれについて、当該ユニットの状態が正常であるか異常であるかを示す状態情報を管理する第1管理部と、
前記リソグラフィ装置で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれについて、前記複数のユニットのうち当該メンテナンスで必要となるユニットを示す第1情報を含むメンテナンス情報を管理する第2管理部と、
前記リソグラフィ装置に異常が発生して前記基板に前記パターンを形成する処理が停止した場合に、前記状態情報と、前記メンテナンス情報とに基づいて、前記複数のメンテナンスから実行可能なメンテナンスを特定する特定部と、
前記処理が停止している間に、前記特定部で特定された実行可能なメンテナンスを実行する実行部と、
を有することを特徴とするリソグラフィ装置。 A lithography device that forms a pattern on a substrate.
A plurality of units for forming a pattern on the substrate, and
For each of the plurality of units, a first management unit that manages state information indicating whether the state of the unit is normal or abnormal, and
For each of the plurality of maintenances to be performed by the lithography apparatus, a second management unit that manages maintenance information including the first information indicating the unit required for the maintenance among the plurality of units, and a second management unit.
When an abnormality occurs in the lithography apparatus and the process of forming the pattern on the substrate is stopped, the specific maintenance that can be performed from the plurality of maintenances is specified based on the state information and the maintenance information. Department and
An execution unit that executes the feasible maintenance specified by the specific unit while the processing is stopped.
A lithographic apparatus characterized by having.
前記工程で前記パターンが形成された前記基板を処理する工程と、
処理された前記基板から物品を製造する工程と、
を有することを特徴とする物品の製造方法。 A step of forming a pattern on a substrate using the lithography apparatus according to claim 12.
A step of processing the substrate on which the pattern is formed in the step and a step of processing the substrate.
The process of manufacturing an article from the processed substrate and
A method of manufacturing an article, which comprises having.
前記コンピュータに、
前記リソグラフィ装置が有する複数のユニットのそれぞれについて、当該ユニットの状態が正常であるか異常であるかを示す状態情報を管理する第1工程と、
前記リソグラフィ装置で実行すべき複数のメンテナンスのそれぞれについて、前記複数のユニットのうち当該メンテナンスで必要となるユニットを示す第1情報を含むメンテナンス情報を管理する第2工程と、
前記リソグラフィ装置に異常が発生して前記基板に前記パターンを形成する処理が停止した場合に、前記状態情報と、前記メンテナンス情報とに基づいて、前記複数のメンテナンスから実行可能なメンテナンスを特定する第3工程と、
前記処理が停止している間に、前記第3工程で特定された実行可能なメンテナンスを前記リソグラフィ装置に実行させる第4工程と、
を実行させることを特徴とするプログラム。 A program that causes a computer to execute a control method that controls a lithography device that forms a pattern on a substrate.
On the computer
For each of the plurality of units included in the lithography apparatus, a first step of managing state information indicating whether the state of the unit is normal or abnormal, and
For each of the plurality of maintenances to be performed by the lithography apparatus, a second step of managing maintenance information including first information indicating a unit required for the maintenance among the plurality of units, and a second step of managing the maintenance information.
When an abnormality occurs in the lithography apparatus and the process of forming the pattern on the substrate is stopped, the maintenance that can be performed from the plurality of maintenances is specified based on the state information and the maintenance information. 3 steps and
A fourth step of causing the lithographic apparatus to perform the feasible maintenance identified in the third step while the process is stopped.
A program characterized by executing.
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JP2019042002A JP2020144287A (en) | 2019-03-07 | 2019-03-07 | Information processing apparatus, control method, lithography apparatus, article manufacturing method, and program |
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