JP2020142067A - 自覚式検眼装置及び自覚式検眼プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 自覚式測定を容易に行うことができる自覚式検眼装置を提供する。【解決手段】 視標呈示部に視標を呈示する呈示領域と、呈示領域に視標を呈示するために視標呈示部から出射された視標光束を矯正光学系によって矯正する矯正量と、が対応付けられた第１設定情報と、第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報を記憶する記憶手段と、設定情報に基づいて、視標呈示部を制御して呈示領域に視標を呈示するとともに、矯正光学系を制御して視標光束を矯正量にて矯正する制御を実行する制御手段と、を備え、制御手段は、第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行する。【選択図】 図１

Description

本開示は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置、及び、自覚式検眼装置にて用いる自覚式検眼プログラムに関する。

自覚式検眼装置として、被検者の眼前に光学部材（例えば、球面レンズ、円柱レンズ、等）を配置し、この光学部材を介した視標を呈示することによって、被検眼の光学特性を測定するものが知られている（特許文献１参照）。

特開平５−１７６８９３号公報

ところで、自覚式測定では、被検眼の眼前に配置された前述の光学部材を変更することで、被検眼を様々な矯正度数で矯正し、視標の見え具合を確認しながら、光学特性の測定が進められる。一例としては、検者が、被検眼に呈示された特定の視標に対して複数の矯正状態を交互に変更し、被検者が見やすい矯正状態を答えることで、光学特性の測定が進められる。しかし、このように自覚式測定を行うと、被検者は各々の矯正状態を比較しづらく、見やすい矯正状態を答えにくい場合があった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、自覚式測定を容易に行うことができる自覚式検眼装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本開示は、以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１）本開示の第１態様に係る自覚式検眼装置は、被検眼に向けて視標呈示部から出射された視標光束を投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、を備え、前記投光光学系からの前記視標光束を、前記矯正光学系を介して前記被検眼に投影することで、前記被検眼に視標を呈示し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、前記視標呈示部の呈示領域において視標が呈示される呈示領域と、前記呈示領域に前記視標を呈示するために前記視標呈示部から出射された視標光束を前記矯正光学系によって矯正する矯正量と、を対応付けた設定情報を記憶する記憶手段と、前記設定情報に基づいて、前記視標呈示部を制御して前記呈示領域に前記視標を呈示するとともに、前記矯正光学系を制御して前記視標光束を前記矯正量にて矯正する制御を実行する制御手段と、を備え、前記記憶手段には、第１設定情報と、前記第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報が記憶され、前記制御手段は、前記第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、前記第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行し、前記第１呈示領域において前記第１矯正量で矯正された前記第１視標と、前記第２呈示領域において前記第２矯正量で矯正された前記第２視標と、を前記被検眼に対して実質的に同時に呈示させることを特徴とする。

（２）本開示の第２態様に係る自覚式検眼プログラムは、被検眼に向けて視標呈示部から出射された視標光束を投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、を備え、前記投光光学系からの前記視標光束を、前記矯正光学系を介して前記被検眼に投影することで、前記被検眼に視標を呈示し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置において用いる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサに実行されることで、前記視標呈示部の呈示領域において視標が呈示される呈示領域と、前記呈示領域に前記視標を呈示するために前記視標呈示部から出射された視標光束を前記矯正光学系によって矯正する矯正量と、を対応付けた設定情報を記憶する記憶ステップであって、第１設定情報と、前記第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報を記憶する記憶ステップと、前記設定情報に基づいて、前記視標呈示部を制御して前記呈示領域に前記視標を呈示するとともに、前記矯正光学系を制御して前記視標光束を前記矯正量にて矯正する制御を実行する制御ステップであって、前記第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、前記第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行し、前記第１呈示領域において前記第１矯正量で矯正された前記第１視標と、前記第２呈示領域において前記第２矯正量で矯正された前記第２視標と、を前記被検眼に対して実質的に同時に呈示させる制御ステップと、を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする。

（３）本開示の第３態様に係る自覚式検眼装置は、被検眼に向けて視標呈示部から出射された視標光束を投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、前記視標光束の矯正量を変更するための、前記矯正光学系が有する光学部材とは異なる光学部材であって、前記矯正光学系とは独立して制御される光学部材と、を備え、前記投光光学系からの前記視標光束を、前記矯正光学系を介して前記被検眼に投影することで、前記被検眼に視標を呈示し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、前記光学部材は、前記視標呈示部にて第１視標が呈示される第１呈示領域に対応する第１光学領域であって、前記第１呈示領域から出射する第１視標光束を第１矯正量に変更する第１光学領域と、前記視標呈示部にて第２視標が呈示される第２呈示領域に対応する第２光学領域であって、前記第２呈示領域から出射する第２視標光束を前記第１矯正量とは異なる第２矯正量に変更する第２光学領域と、を少なくとも有し、前記投光光学系の光路中に前記光学部材を配置させることによって、前記第１矯正量で矯正された前記第１視標と、前記第２矯正量で矯正された前記第２視標と、を前記被検眼に対して同時に呈示させる制御手段を備えることを特徴とする。

検眼装置の外観図である。 測定部を示す図である。 検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。 検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。 検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。 検眼装置の制御系を示す図である。 ディスプレイの呈示領域の一例である。 第１制御と第２制御の切り換えを説明する図である。 被検眼の両眼に第１検査視標と第２検査視標を実質的に同時に呈示する場合である。 クロスシリンダテストを実施する際の第１制御と第２制御の切り換えを説明する図である。 被検眼の両眼に輻輳角度が異なる第１検査視標と第２検査視標を実質的に同時に呈示する場合である。 平行平面ガラスを用いた光学系とディスプレイの呈示領域を模式的に示す図である。

＜概要＞
本開示の実施形態に係る自覚式検眼装置（以下、検眼装置と省略する）の概要について説明する。以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

本実施形態における検眼装置は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。より詳細には、投光光学系からの視標光束を、矯正光学系を介して被検眼に投影することで、被検眼に視標を呈示し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。被検眼の光学特性は、被検眼の眼屈折力であってもよい。例えば、被検眼の球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等の少なくともいずれかが測定される。

＜投光光学系＞
検眼装置は、投光光学系（例えば、投光光学系３０）を備える。投光光学系は、被検眼に向けて視標光束を出射する視標呈示手段からの視標光束を、被検眼に向けて投影してもよい。また、投光光学系は、視標呈示手段からの視標光束を、少なくとも１つの光学部材を介すことにより、被検眼に向けて投影してもよい。

なお、本実施形態では、視標呈示手段として、ディスプレイ（例えば、ディスプレイ３１）を用いてもよい。ディスプレイは、ＬＣＯＳ（Liquid crystal on silicon）、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、有機ＥＬ（Electro Luminescence）等であってもよい。

例えば、投光光学系は、左右一対に設けられた左眼用投光光学系と右眼用投光光学系を有してもよい。例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、が同一の部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、の少なくとも一部が異なる部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、の少なくとも一部の部材を兼用する構成であってもよい。また、例えば、左眼用投光光学系と右眼用投光光学系は、左眼用投光光学系を構成する部材と、右眼用投光光学系を構成する部材と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。

＜矯正光学系＞
検眼装置は、矯正光学系（例えば、投光光学系３０、矯正光学系６０）を備える。矯正光学系は、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる。視標光束の光学特性は、視標光束の球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等の少なくともいずれかであってもよい。

矯正光学系は、視標光束の光学特性を変更可能な構成であればよい。例えば、矯正光学系は、光学素子を制御することで、視標光束の光学特性を変更可能としてもよい。光学素子は、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム、波面変調素子、可変焦点レンズ、等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、これらの光学素子とは異なる光学素子であってもよい。

また、例えば、矯正光学系は、被検眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変えることで、被検眼の球面度数を矯正してもよい。この場合、視標の呈示位置を光学的に変更するために、視標呈示手段を光軸方向に移動させる構成としてもよい。また、この場合、視標の呈示位置を光学的に変更するために、光路中に配置された光学素子（例えば、球面レンズ等）を光軸方向に移動させる構成としてもよい。

なお、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と、視標呈示手段を光軸方向に移動させる構成と、光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と、を組み合わせた構成であってもよい。

本実施形態において、矯正光学系は、被検眼の眼前に光学素子を配置する眼屈折力測定ユニット（フォロプタ）であってもよい。例えば、眼屈折力測定ユニットは、可変焦点レンズを有し、可変焦点レンズの屈折力を変化させる構成であってもよい。また、例えば、眼屈折力測定ユニットは、複数の光学素子が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるための駆動手段（例えば、モータ）と、を有し、駆動手段の駆動によって、光学素子を電気的に切り換える構成であってもよい。もちろん、眼屈折力測定ユニットは、可変焦点レンズと、レンズディスク及び駆動手段と、を有する構成であってもよい。これらの構成を備える場合、被検眼に向けた視標光束は、眼屈折力測定ユニットを介して投影される。なお、矯正光学系として少なくとも可変焦点レンズを用い、可変焦点レンズを制御することで、視標光束の光学特性を異なる矯正度数で矯正した複数の矯正状態を、より高速に切り換えることができる。本実施形態では、可変焦点レンズが、複数の矯正状態にて各々呈示される視標が同時に視認できる速度で、高速に切り換えられる。

また、本実施形態において、矯正光学系は、投光光学系の視標呈示手段と、投光光学系から視標光束を被検眼に向けて導光するための光学部材と、の間に光学素子を配置して、光学素子を制御することで、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正光学系は、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合、例えば、矯正光学系によって矯正された視標光束が、光学部材を介して被検眼に導光される。

例えば、矯正光学系は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系を有するようにしてもよい。例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、が同一の部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、の少なくとも一部が異なる部材で構成されていてもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、の少なくとも一部が兼用される構成であってもよい。また、例えば、左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系は、左眼用矯正光学系を構成する部材と、右眼用矯正光学系を構成する部材と、が別途それぞれ設けられる構成であってもよい。

＜設定手段＞
検眼装置は、設定手段（例えば、制御部７０）を備える。設定手段は、少なくとも、視標呈示手段の呈示領域と、矯正光学系によって視標光束を矯正する矯正量と、の対応関係を設定する。なお、設定手段は、視標呈示手段の呈示領域と、視標光束を矯正する矯正量と、に加えて、視標呈示手段の呈示領域の数、視標呈示手段に呈示する視標、被検眼から視標呈示手段までの距離（すなわち、被検眼に対する視標の呈示距離）、被検眼の輻輳角度、等の対応関係を設定してもよい。例えば、設定手段は、検者により操作手段から入力される操作信号に基づいて、少なくとも、視標呈示手段の呈示領域と、視標光束を矯正する矯正量と、の対応関係を設定してもよい。設定手段を備えることによって、少なくとも呈示領域と矯正量における様々な対応関係を、容易に設定することができる。

一例として、検眼装置は、距離設定手段を備えてもよい。距離設定手段は、被検眼から視標呈示手段に呈示する視標までの呈示距離を設定する。例えば、距離設定手段は、距離情報取得手段（例えば、制御部７０）と、距離変更手段（例えば、投光光学系３０）と、距離制御手段（例えば、制御部７０）と、により構成されてもよい。

距離情報取得手段は、被検眼から視標呈示手段に呈示する視標までの呈示距離である呈示距離情報を取得する。距離情報取得手段は、検者により操作手段（例えば、モニタ４）から入力される操作信号に基づいて、被検眼から視標までの任意の呈示距離を取得してもよい。また、距離情報取得手段は、予め記憶された呈示距離を自動的に取得してもよい。例えば、遠方の呈示距離（例えば、５ｍ等）、近方の呈示距離（例えば、３０ｃｍ等）、等を取得してもよい。

距離変更手段は、被検眼から視標までの呈示距離を変更する。距離変更手段としては、視標呈示手段が用いられてもよい。また、距離変更手段は、投光光学系が備える光学部材（例えば、ミラー、レンズ、等）であってもよい。また、距離変更手段は、投光光学系の光路中に配置された光学部材（例えば、可変焦点レンズ等）であってもよい。

距離制御手段は、距離情報取得手段により取得された呈示距離情報に基づいて、距離変更手段の駆動を制御する。距離制御手段は、視標呈示手段を移動させてもよい。また、距離変更手段は、投光光学系が備える光学部材を移動させてもよい。また、距離変更手段は、投光光学系の光路中に光学部材を挿抜してもよい。また、距離変更手段は、投光光学系の光路中にて光学部材の屈折力を変化させてもよい。もちろん、距離制御手段は、視標呈示手段の移動、光学部材の移動、光学部材の挿抜、光学部材の屈折力の変化、等を組み合わせて制御してもよい。これによって、被検眼に対する視標の呈示距離が光学的に変更される。

本実施形態において、設定手段は、上記の距離設定手段により設定された呈示距離と、視標呈示手段の呈示領域と、矯正光学系によって視標光束を矯正する矯正量と、の対応関係を設定してもよい。例えば、距離設定手段により設定された呈示距離に応じて、視標呈示部の呈示領域において視標が呈示される呈示領域が決定され、呈示領域からの視標光束を矯正する矯正量が設定されるように、これらの対応関係を設定してもよい。一例として、視標の呈示距離が遠方の呈示距離である場合は、視標を呈示する呈示領域が、視標呈示手段の呈示領域における中央付近に決定され、呈示領域からの視標光束を矯正する矯正量が設定されるように、対応関係を設定してもよい。また、一例として、視標の呈示距離が近方の呈示距離である場合は、視標を呈示する呈示領域が、視標呈示部の呈示領域における内側付近に決定され、呈示領域からの視標光束を矯正する矯正量が設定されるように、対応関係を設定してもよい。

＜記憶手段＞
検眼装置は、記憶手段（例えば、メモリ７５）を備える。記憶手段は、視標呈示手段の呈示領域において視標が呈示される呈示領域と、呈示領域に視標を呈示するために視標呈示手段から出射された視標光束を矯正光学系によって矯正する矯正量と、を対応付けた設定情報を記憶する。記憶手段は、設定手段により設定された設定情報を記憶する構成としてもよい。また、記憶手段は、少なくとも、視標が呈示される呈示領域と、視標光束を矯正する矯正量と、が予め対応付けられた設定情報を記憶する構成としてもよい。すなわち、設定情報が予め蓄積されることで記憶されている構成としてもよい。

本実施形態において、記憶手段は、少なくとも２つの設定情報（つまり、複数の設定情報）を記憶してもよい。例えば、複数の設定情報のうちの第１設定情報は、視標呈示部の呈示領域において第１視標が呈示される第１呈示領域と、第１呈示領域に第１視標を呈示するために視標呈示部から出射された第１視標光束を矯正光学系によって矯正する第１矯正量と、を対応付けた設定情報であってもよい。また、例えば、複数の設定情報のうちの第２設定情報は、視標呈示部の呈示領域における第１呈示領域とは異なる第２呈示領域であって、第２視標が呈示される第２呈示領域と、第２呈示領域に第２視標を呈示するために視標呈示部から出射された第２視標光束を矯正光学系によって矯正する矯正量であって、１矯正量とは異なる矯正量である第２矯正量と、を対応付けた設定情報であってもよい。

なお、記憶手段は、第１設定情報と、第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報に限定されず、第３設定情報、第４設定情報、…、第ｎ設定情報を記憶してもよい。

＜制御手段＞
検眼装置は、制御手段（例えば、制御部７０）を備える。制御手段は、記憶手段に記憶された設定情報に基づいて、視標呈示手段を制御して呈示領域に視標を呈示するとともに、矯正光学系を制御して視標光束を矯正量にて矯正する制御を実行する。つまり、制御手段は、記憶手段に記憶された設定情報に基づいて、視標呈示手段を制御して呈示領域に視標を呈示することに連動させて、矯正光学系を制御して視標光束を矯正量にて矯正する。

本実施形態においては、矯正光学系が可変焦点レンズを少なくとも有し、制御手段が可変焦点レンズを制御して視標光束を矯正量にて矯正する制御を実行してもよい。この場合、制御手段は、可変焦点レンズに与える印加電圧の大きさを調節することで、可変焦点レンズの屈折力を変化させ、視標光束における球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度の少なくともいずれかを矯正してもよい。なお、矯正光学系においては、視標光束における球面度数を矯正するための可変焦点レンズを配置してもよいし、視標光束における円柱度数及び乱視軸角度を矯正するための可変焦点レンズを配置してもよい。もちろん、視標光束における球面度数を矯正するための可変焦点レンズと、視標光束における円柱度数及び乱視軸角度を矯正するための可変焦点レンズと、を組み合わせて配置してもよい。可変焦点レンズとしては、液体レンズ、液晶レンズ、等を用いることができる。制御手段が可変焦点レンズを制御することで、第１制御と第２制御の切り換えが高速に行われ、第１視標と第２視標のチラつきを抑制して、矯正状態の違いをより比較しやすい状態にすることができる。

例えば、制御手段は、第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行する。より詳細には、例えば、制御手段は、第１設定情報に基づいて、視標呈示部を制御して第１呈示領域に第１視標を呈示するとともに、矯正光学系を制御して第１視標光束を第１矯正量にて矯正する第１制御と、第２設定情報に基づいて、視標呈示部を制御して第２呈示領域に第２視標を呈示するとともに、矯正光学系を制御して第２視標光束を第２矯正量にて矯正する第２制御と、の切り換えを自動的に繰り返し実行する。例えば、制御手段は、第１制御と第２制御の切り換えを、被検眼に第１視標と第２視標を同時に呈示可能な速度で高速に繰り返し実行する。これによって、制御手段は、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標と、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標と、を被検眼に対して実質的に同時に呈示させる。例えば、被検者には、矯正状態が異なる複数の視標が１つのディスプレイに表示されてみえるようになり、矯正状態の違いによる見え具合が容易に確認される。

本実施形態において、実質的に同時とは、第１制御により呈示される第１視標と、第２制御により呈示される第２視標と、を被検眼がどちらも同時に視認可能な状態であればよい。より詳細には、第１制御と第２制御の切り換えを繰り返すことで、第１視標と第２視標は交互に点滅するが、第１視標と第２視標がどちらも点灯しているように被検眼が視認可能な状態であればよい。例えば、第１制御と第２制御の切り換えを繰り返す際の時間間隔を短く設定することで、第１視標と第２視標とを実質的に同時に呈示させることができる。

例えば、本実施形態においては、投光光学系が左右一対に設けられた左被検眼用の視標呈示手段と右被検眼用の視標呈示手段を備え、矯正光学系が左右一対に設けられた左被検眼用の矯正光学系と右被検眼用の矯正光学系を備えていてもよい。この場合、制御手段は、左被検眼用の視標呈示手段を制御して第１呈示領域または第２呈示領域に視標を呈示することに連動させて、左被検眼用の矯正光学系を制御して視標光束を左被検眼用の第１矯正量または第２矯正量にて矯正する。すなわち、左被検眼用の第１制御と第２制御の切り換えを実行する。また、右被検眼用の視標呈示手段を制御して第１呈示領域または第２呈示領域に視標を呈示することに連動させて、右被検眼用の矯正光学系を制御して視標光束を右被検眼用の第１矯正量または第２矯正量にて矯正する。すなわち、右被検眼用の第１制御と第２制御の切り換えを実行する。制御手段は、左被検眼に対する第１制御と右被検眼に対する第１制御とを連動させ、さらに、左被検眼に対する第２制御と右被検眼に対する第２制御とを連動させ、これらの第１制御と第２制御との制御の切り換えを自動的に繰り返し行うようにしてもよい。

＜モード設定手段＞
検眼装置は、測定モード設定手段（例えば、制御部７０）を備える。測定モード設定手段は、第１モードあるいは第２モードのいずれかを設定する。第１モードは、記憶手段に記憶された第１設定情報に基づく第１制御と、第２設定情報に基づく第２制御と、の制御の切り換えを繰り返さないモードである。言い換えると、第１モードは、視標呈示手段に特定の視標を呈示した状態で、特定の視標に対して複数の矯正状態を変更可能に設定するモードである。第２モードは、記憶手段に記憶された第１設定情報に基づく第１制御と、第２設定情報に基づく第２制御と、の制御の切り換えを繰り返すモードである。言い換えると、第２モードは、視標呈示手段への第１視標の呈示に連動して第１矯正量で矯正した状態と、視標呈示手段への第２視標の呈示に連動して第２矯正量で矯正した状態と、が自動的に切り換わるモードである。

測定モード設定手段は、検者により操作手段から入力される操作信号に基づいて、第１モードあるいは第２モードのいずれかを設定してもよい。また、測定モード設定手段は、第１測定モードと第２測定モードとを自動的に切り換えて設定してもよい。一例として、第１測定モードによる測定が終了した後、自動的に第２測定モードが設定されてもよい。また、一例として、第２測定モードによる測定が終了した後、自動的に第１測定モードが設定されてもよい。

検眼装置がこのような測定モード設定手段を備える場合、制御手段は、測定モード設定手段により第２モードが設定された状態において、第１設定情報に基づく、第１制御と、第２設定情報に基づく第２制御と、の制御の切り換えを繰り返し行ってもよい。これによって、被検者や状況に合わせた自覚式測定を容易に行うことができる。一例として、第１モードを適用した自覚式測定で被検眼を矯正するための矯正度数を大まかに決定した後、第２モードを適用した自覚式測定で矯正度数を細かく決定し、被検眼にとって最適な矯正度数（最終処方値）を取得することができる。

なお、本開示は、本実施形態に記載する装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

＜実施例＞
以下、典型的な実施形態の１つである実施例について説明する。

図１は、検眼装置１の外観図である。例えば、検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、モニタ４、顎台５、基台６、前眼部撮像光学系１００、等を備える。筐体２は、基台６に固定される。筐体２の内部には、後述する測定部７が備えられる。呈示窓３は、被検者の眼（被検眼Ｅ）に視標を呈示するために用いる。モニタ４は、被検眼Ｅの光学特性の測定結果等を表示する。モニタ４は、タッチパネル機能をもつディスプレイである。すなわち、モニタ４が操作部（コントローラ）として機能する。なお、モニタ４はタッチパネル式でなくてもよく、モニタ４と操作部とを別に設ける構成であってもよい。この場合には、マウス、ジョイスティック、キーボード、携帯端末、等の少なくともいずれかを操作部として用いてもよい。モニタ４から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部７０に出力される。顎台５は、基台６に固定される。顎台５は、被検眼Ｅと検眼装置１との距離を一定に保つために用いる。なお、顎台５に限定されず、額当て、顔当て、等を用いて、被検眼Ｅと検眼装置１との距離を一定に保つ構成としてもよい。

前眼部撮像光学系１００は、被検者の顔を撮像するために用いる。前眼部撮像光学系１００は、図示なき撮像素子とレンズで構成される。前眼部撮像光学系１００は、左右の被検眼Ｅの少なくとも一方を撮像し、その前眼部画像を取得する。前眼部撮像光学系１００が取得した前眼部画像は、後述する制御部７０に解析される。

＜測定部＞
測定部７からの視標光束は、呈示窓３を介して被検眼Ｅに導光される。測定部７は、左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒを備える。測定部７は、左右一対の後述する自覚式測定部と、左右一対の後述する他覚式測定部と、を有する。本実施例における左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒは、同一の部材で構成される。もちろん、左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒは、その少なくとも一部が異なる部材で構成されてもよい。

図２は、測定部７を示す図である。図２では、測定部７として、左眼用測定部７Ｌを例に挙げる。右眼用測定部７Ｒは、左眼用測定部７Ｌと同様の構成であるため省略する。例えば、左眼用測定部７Ｌは、自覚式測定光学系２５、他覚式測定光学系１０、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０、等を備える。

＜自覚式測定光学系＞
自覚式測定光学系２５は、被検眼Ｅの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定部の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。本実施例では、被検眼Ｅの光学特性として、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する自覚式測定部を例に挙げる。なお、被検眼Ｅの光学特性は、眼屈折力の他、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能、等）、等であってもよい。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系（視標投光系）３０、矯正光学系６０、及び、補正光学系９０、で構成される。

＜投光光学系＞
投光光学系３０は、被検眼Ｅに向けて視標光束を投影する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、等を備える。

ディスプレイ３１には、視標（固視標、検査視標、等）が表示される。ディスプレイ３１から出射した視標光束は、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、の順に光学部材を経由して、被検眼Ｅに投影される。

＜矯正光学系＞
矯正光学系６０は、投光光学系３０の光路中に配置される。また、矯正光学系６０は、ディスプレイ３１から出射した視標光束の光学特性を変化させる。例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３、可変焦点レンズ４０、駆動機構３９、等を備える。

乱視矯正光学系６３は、被検眼Ｅの円柱度数や乱視軸角度を矯正するために用いる。乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３３と投光レンズ３４の間に配置される。乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂで構成される。円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂは、回転機構６２ａと回転機構６２ｂの駆動によって、光軸Ｌ２を中心として、各々が独立に回転する。なお、本実施例では、乱視矯正光学系６３として、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、乱視軸角度、等を矯正できる構成であればよい。一例としては、投光光学系３０の光路に矯正レンズを出し入れしてもよい。

可変焦点レンズ４０は、被検眼Ｅの球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度、の少なくともいずれかを矯正するために用いる。可変焦点レンズ４０は、光軸Ｌ２に対して静止した状態で、制御部７０により設定される印加電圧の大きさに応じて屈折力を変化させることで、焦点位置を変更する。可変焦点レンズ４０は、液体レンズ、液晶レンズ、等であってもよい。

本実施例では、可変焦点レンズ４０として、球面度数を矯正するための可変焦点レンズ４０ａ（図８参照）と、円柱度数及び乱視軸角度を矯正するための可変焦点レンズ４０ｂ（図８参照）と、を配置する場合を例に挙げる。このため、本実施例では、可変焦点レンズ４０ｂの屈折力、及び、乱視矯正光学系６３が備える円柱レンズの回転角度、の少なくともいずれかを変更することで、被検眼Ｅの円柱度数及び乱視軸角度を矯正する乱視矯正光学系が構成されている。

駆動機構３９は、モータ及びスライド機構からなる。駆動機構３９は、後述する駆動ユニット９５を光軸Ｌ２方向に移動させることで、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向に移動させる。他覚式測定では、ディスプレイ３１を移動させることで、被検眼Ｅに雲霧をかけることができる。自覚式測定では、ディスプレイ３１を移動させることで、被検眼Ｅに対する視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更し、被検眼Ｅの球面度数を矯正することができる。すなわち、本実施例では、可変焦点レンズ４０ａの屈折力、及び、ディスプレイ３１の位置、の少なくともいずれかを変更することで、被検眼Ｅの球面度数を矯正する球面矯正光学系が構成されている。なお、球面矯正光学系の構成は、本実施例とは異なっていてもよい。例えば、多数の光学素子を光路中に配置することで、球面度数を矯正してもよい。また、例えば、レンズを光路中に配置し、レンズを光軸方向に移動させることで、球面度数を矯正してもよい。

なお、本実施例では、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度を矯正する矯正光学系が例示されている。しかし、矯正光学系は、他の光学特性（例えば、プリズム値、等）を矯正してもよい。プリズム値が矯正されることで、被検眼が斜位眼であっても、被検眼に視標光束が適切に投影される。

また、本実施例では、円柱度数及び乱視軸角度を矯正する乱視矯正光学系６３と、球面度数を矯正する駆動機構３９が別で設けられている。しかし、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度が同一の構成によって矯正されてもよい。例えば、波面を変調させる光学系によって、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度が矯正されてもよい。また、複数の光学素子（例えば、球面レンズ、円柱レンズ、および分散プリズム等の少なくともいずれか）が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるアクチュエータが、矯正光学系として用いられてもよい。この場合、レンズディスクが回転されて、光軸Ｌ２上に位置する光学素子が切り替えられることで、種々の光学特性が矯正される。また、光軸Ｌ２上に配置された光学素子（例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、およびロータリプリズム等の少なくともいずれか）が、アクチュエータによって回転されてもよい。

＜補正光学系＞
補正光学系９０は、対物レンズ１４と偏向ミラー８１（後述）の間に配置される。補正光学系９０は、自覚式測定で生じる光学収差（例えば、非点収差、等）を補正するために用いる。補正光学系９０は、円柱度数と乱視軸角度を調整することで、非点収差を補正する。補正光学系９０は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂで構成される。円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂは、回転機構９２ａと回転機構９２ｂの駆動によって、光軸Ｌ３を中心として、各々が独立に回転する。なお、本実施例では、補正光学系９０として、２枚の正の円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系９０は、非点収差を矯正できる構成であればよい。例えば、この場合には、光軸Ｌ３に補正レンズを出し入れしてもよい。

＜他覚式測定光学系＞
他覚式測定光学系１０は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定部の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。本実施例では、被検眼Ｅの光学特性として、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する他覚式測定部を例に挙げて説明する。なお、被検眼Ｅの光学特性は、眼屈折力の他、眼軸長、角膜形状、等であってもよい。例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａ、受光光学系１０ｂ、及び、補正光学系９０、で構成される。

投影光学系（投光光学系）１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して、被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、投影光学系１０ａは、光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、等を備える。

光源１１は、測定光束を出射する。光源１１は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。ホールミラー１３のホール部は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な関係となっている。プリズム１５は、光束偏向部材である。プリズム１５は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置され、プリズム１５を通過する測定光束を光軸Ｌ１に対して偏心させる。プリズム１５は、光軸Ｌ１を中心として、駆動部（モータ）２３により回転駆動される。ダイクロイックミラー３５は、他覚式測定光学系１０の光路と、後述する自覚式測定光学系２５の光路と、を共通にする。すなわち、ダイクロイックミラー３５は、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、を同軸にする。ダイクロイックミラー２９は、光路分岐部材である。ダイクロイックミラー２９は、投影光学系１０ａによる測定光束と、自覚式測定光学系２５による測定光束と、を反射して被検眼Ｅに導く。

受光光学系１０ｂは、被検眼Ｅの眼底で反射された眼底反射光束を、被検眼Ｅの瞳孔周辺部を介してリング状に取り出す。例えば、受光光学系１０ｂは、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７、受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２、等を備える。リングレンズ２０は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用のコーティングを施した遮光部と、から構成される。リングレンズ２０は、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。受光絞り１８と撮像素子２２は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。撮像素子２２からの出力は、制御部７０に入力される。

本実施例において、投影光学系１０ａが備える光源１１と、受光光学系１０ｂが備える受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、及び撮像素子２２と、投光光学系３０が備えるディスプレイ３１と、は駆動機構３９により光軸方向に一体的に移動可能となっている。つまり、光源１１、受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２、及び、ディスプレイ３１、が駆動ユニット９５として同期し、駆動機構３９がこれらを一体的に移動させる。例えば、駆動機構３９が移動した移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。

駆動ユニット９５は、外側のリング光束が各経線方向に関して撮像素子２２上に入射するように、他覚式測定光学系１０の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系１０の一部を被検眼Ｅの球面屈折誤差（球面屈折力）に応じて光軸Ｌ１方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼Ｅの眼底に対して光源１１、受光絞り１８及び撮像素子２２が光学的に共役になるようにする。なお、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、駆動ユニット９５の移動量にかかわらず、被検眼Ｅの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。

上記の構成において、光源１１から出射された測定光束は、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、を経て被検眼Ｅの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３におけるホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。眼底に投影された点光源像は、反射・散乱されて被検眼Ｅから射出し、対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、高速回転するプリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７を介して受光絞り１８の位置に再び集光され、コリメータレンズ１９とリングレンズ２０とによって撮像素子２２にリング状の像が結像する。

例えば、プリズム１５は、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂの共通光路に配置されている。例えば、眼底からの反射光束は投影光学系１０ａと同じプリズム１５を通過するため、それ以降の光学系では、あたかも瞳孔上における投影光束・反射光束（受光光束）の偏心がなかったかのように逆走査される。

なお、本実施例において、他覚式測定部の構成は変更することが可能である。例えば、他覚式測定部は、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影し、瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、撮像素子２２にリング状の眼底反射像を受光させる構成を備えていてもよい。また、他覚式測定部はシャックハルトマンセンサを備えていてもよいし、スリットを投影する位相差方式の構成を備えていてもよい。

＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
例えば、本実施例においては、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、補正光学系９０と、偏向ミラー８１との間に配置される。もちろん、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の配置位置は、これに限定されない。例えば、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６は、筐体２のカバーに備えられていてもよい。例えば、この場合には、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、呈示窓３の周囲に配置される構成が挙げられる。

例えば、第１指標投影光学系４５は、光軸Ｌ３を中心に配置されたリング状の赤外光源を備える。例えば、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。例えば、第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置されたリング状の赤外光源を備える。なお、図２では、便宜上、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６におけるリング状の赤外光源の一部（断面部分）のみが図示されている。本実施例において、第１指標投影光学系４５は、被検者眼の角膜に無限遠のアライメント指標を投影する。また、第２指標投影光学系４６は、被検者眼の角膜に有限遠のアライメント指標を投影する。なお、第２指標投影光学系４６から出射されるアライメント光は、観察光学系５０によって被検眼の前眼部を撮影するための前眼部撮影光としても用いられる。また、第１指標投影光学系４５および第２指標投影光学系４６の光源は、リング状の光源に限定されず、複数の点状の光源、またはライン状の光源等であってもよい。

＜観察光学系＞
観察光学系（撮像光学系）５０は、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、撮像レンズ５１、撮像素子５２、等を備える。ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過する。撮像素子５２は、被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置された撮像面をもつ。撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これによって、被検眼Ｅの前眼部画像は撮像素子５２により撮像され、モニタ４上に表示される。なお、この観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によって、被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部７０によってアライメント指標像の位置が検出される。

＜検眼装置内部構成＞
以下、検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、本実施例に係る検眼装置１の内部を正面方向（図１のＡ方向）から見た概略構成図である。図４は、本実施例に係る検眼装置１の内部を側面方向（図１のＢ方向）から見た概略構成図である。図５は、本実施例に係る検眼装置１の内部を上面方向（図１のＣ方向）から見た概略構成図である。なお、図４及び図５では、説明の便宜上、左眼用測定部７Ｌの光軸のみを示している。

例えば、検眼装置１は、自覚式測定部と、他覚式測定部と、を備える。例えば、自覚式測定部及び他覚式測定部において、測定部７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌに一致する光路を通過して被検眼Ｅに導光されてもよい。また、例えば、自覚式測定部及び他覚式測定部において、測定部７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌから外れた光路を通過して被検眼Ｅに導光されてもよい。例えば、本実施例において、光軸Ｌは凹面ミラー８５の球中心に向かう軸である。なお、以下では、測定部７からの視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた経路を通過する構成を例に挙げる。すなわち、測定部７からの視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射され、その反射光束が被検眼Ｅに導光される。

例えば、自覚式測定部は、測定部７、偏向ミラー８１、駆動機構８２、駆動部８３、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、自覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく、凸レンズを配置した構成であってもよい。

例えば、他覚式測定部は、測定部７、偏向ミラー８１、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、他覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく凸レンズを配置した構成であってもよい。

例えば、検眼装置１は、左眼用駆動部９Ｌと右眼用駆動部９Ｒとを有し、左眼用測定部７Ｌ及び右眼用測定部７ＲをそれぞれＸ方向に移動することができる。例えば、左眼用測定部７Ｌ及び右眼用測定部７Ｒが移動されることによって、偏向ミラー８１と測定部７との間の距離が変更され、Ｚ方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系６０によって矯正された視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系６０によって矯正された視標光束の像が被検眼Ｅの眼底に形成されるように、測定部７をＺ方向に調整することができる。

例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた、右眼用の偏向ミラー８１Ｒと左眼用の偏向ミラー８１Ｌとを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と被検眼Ｅとの間に配置される。すなわち、本実施例における矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは左眼用矯正光学系と左被検眼ＥＬの間に配置され、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは右眼用矯正光学系と右被検眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳の共役位置に配置されることが好ましい。

例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定部７Ｌから投影される光束を反射し、左被検眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左被検眼ＥＬで反射された反射光を反射し、左眼用測定部７Ｌに導光する。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定部７Ｒから投影される光束を反射し、右被検眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右被検眼ＥＲで反射された反射光を反射し、右眼用測定部７Ｒに導光する。なお、本実施例においては、測定部７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。偏向部材は、測定部７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズムやレンズ等が挙げられる。

例えば、駆動機構８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動機構８２は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動機構８２Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動機構８２Ｒと、を有する。例えば、駆動機構８２の駆動によって、偏向ミラー８１は回転移動する。例えば、駆動機構８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動機構８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。

例えば、駆動部８３は、モータ等からなる。例えば、駆動部８３は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動部８３Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動部８３Ｒと、を有する。例えば、駆動部８３の駆動によって、偏向ミラー８１はＸ方向に移動する。例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒが移動されることによって、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒとの間の距離が変更され、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて、左眼用光路と右眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。

なお、例えば、偏向ミラー８１は、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設けられてもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて、２つの偏向ミラーが設けられる（例えば、左眼用光路で２つの偏向ミラー等）構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動されることによって、矯正光学系６０の像を被検眼の眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させることにより、像の形成位置を光学的に補正することができる。

例えば、凹面ミラー８５は、右眼用測定部７Ｒと左眼用測定部７Ｌとで共有される。例えば、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、右眼用光路と左眼用光路とで共有される構成でなくてもよい。すなわち、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼Ｅの眼前に形成する。なお、本実施例においては凹面ミラー８５を用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されず、種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズや平面ミラー等を用いることができる。

例えば、凹面ミラー８５は、自覚式測定部と、他覚式測定部と、で兼用される。例えば、自覚式測定光学系２５から投影された視標光束は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。例えば、他覚式測定光学系１０から投影された測定光は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。また、例えば、他覚式測定光学系１０から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚式測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される。なお、本実施例においては、他覚式測定光学系１０による測定光の反射光が、凹面ミラー８５を介して、他覚式測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、他覚式測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介さない構成であってもよい。

より詳細には、例えば、本実施例においては、自覚式測定部における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、他覚式測定部における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。例えば、本実施例においては、ダイクロイックミラー３５によって、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１とが合成され、同軸となっている。

＜自覚式測定部の光路＞
以下、自覚式測定部の光路について説明する。例えば、自覚測定部は、矯正光学系６０を通過した視標光束を、凹面ミラー８５によって被検眼方向に反射することで被検眼Ｅに視標光束を導光し、矯正光学系６０を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼Ｅの眼前に形成する。例えば、このとき、矯正光学系６０を通過した視標光束は、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過して凹面ミラー８５へ入射し、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過するように反射されて、被検眼Ｅに導光される。例えば、被検者から見た視標は、被検眼Ｅからディスプレイ３１までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー８５を用いることで被検眼Ｅに対する視標の呈示距離を延長し、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標を呈示することができる。

より詳細に説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定部において、左眼用測定部７Ｌのディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３を介して、乱視矯正光学系６３に入射する。乱視矯正光学系６３を通過した視標光束は、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４を経由して、補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した視標光束は、左眼用測定部７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて導光される。左眼用測定部７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された視標光束は、反射ミラー８４により凹面ミラー８５に向けて反射される。例えば、ディスプレイ３１から出射した視標光束は、このように光学部材を経由することで左被検眼ＥＬに到達する。

これによって、左被検眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、矯正光学系６０により矯正された視標が左被検眼ＥＬの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたことと、球面度数の矯正光学系（本実施例においては、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたことと、が等価になっており、被検者は凹面ミラー８５を介して自然な状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、左右一対の矯正光学系６０により矯正された視標が、両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、視標が適正に見えるまで矯正光学系６０による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。

＜他覚式測定部の光路＞
次いで、他覚式測定部の光路について説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定部において、他覚式測定光学系１０における投影光学系１０ａの光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２から対物レンズ１４までを介して補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した測定光は、左眼用測定部７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定部７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された測定光は、反射ミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、反射ミラー８４を透過して左被検眼ＥＬに到達し、左被検眼ＥＬの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。

左被検眼ＥＬの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Ｅを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ１４により集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７までを介する。ミラー１７までを介した反射光は、受光絞り１８の開口上で再び集光され、コリメータレンズ１９にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２０によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２２に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼Ｅの光学特性を測定することができる。

＜制御部＞
図６は、本実施例に係る検眼装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部７０には、モニタ４、不揮発性メモリ７５（以下、メモリ７５）、測定部７が備える光源１１、撮像素子２２、ディスプレイ３１、撮像素子５２等の各種部材が電気的に接続されている。また、例えば、制御部７０には、駆動部９、駆動機構３９、回転機構６２ａと６２ｂ、駆動部８３、回転機構９２ａと９２ｂがそれぞれ備える図示なき駆動部が電気的に接続されている。

例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等を備える。例えば、ＣＰＵは、検眼装置１における各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

例えば、メモリ７５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、メモリ７５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、ＵＳＢメモリ、等を使用することができる。例えば、メモリ７５には、自覚式測定部及び他覚式測定部を制御するための制御プログラムが記憶されている。

＜制御動作＞
検眼装置１の制御動作について説明する。

検者は、モニタ４（操作部）を操作し、ディスプレイ３１に固視標を表示させる。また、検者は、被検者に、顎を顎台５に載せて呈示窓３を観察するように指示する。これにより、被検眼Ｅには固視標が投影される。

＜被検眼と装置のアライメント（位置合わせ）＞
検者は、モニタ４からアライメントを開始するための操作信号を入力する。制御部７０は、操作信号に応じて、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６を制御し、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標像を投影する。また、制御部７０は、アライメント指標像を用いて、被検眼Ｅに対する測定部７のアライメントを実行する（詳細は、例えば、特開２０１７−８６６５２号公報を参照されたい）。

＜他覚式測定＞
検者は、被検眼Ｅに対する他覚式測定を実施する。検者は、モニタ４から他覚式測定を開始するための操作信号を入力する。制御部７０は、操作信号に応じて、他覚式測定光学系１０を制御する。制御部７０は、光源１１を点灯させ、被検眼Ｅの眼底に向けて測定光束を照射する。被検眼Ｅの眼底にて測定光束が反射した眼底反射光束は、撮像素子２２にリング像として撮像される。

制御部７０は、被検眼Ｅの他覚式測定における光学特性（すなわち、被検眼Ｅの他覚値）を、リング像に基づいて演算する。例えば、制御部７０は、リング像を解析処理して、リング像の各経線方向の眼屈折力を求める。また、例えば、制御部７０は、眼屈折力に対して所定の演算処理を行う。これによって、被検眼Ｅの他覚値を取得する。制御部７０は、被検眼Ｅの他覚値をモニタ４に表示させるとともに、メモリ７５に記憶させる。

＜自覚式測定＞
続いて、検者は、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施する。検者は、モニタ４から自覚式測定を開始するための操作信号を入力する。制御部７０は、操作信号に応じて、ディスプレイ３１に検査視標（例えば、ランドルト環視標）を表示させ、被検眼Ｅに検査視標を投影する。また、制御部７０は、操作信号に応じて、自覚式測定光学系２５を制御する。

ここで、本実施例における自覚式測定では、検者が測定モードを選択すると、制御部７０が操作信号に応じた測定モードを設定し、被検眼Ｅへの検査視標の呈示方法が変更される。例えば、制御部７０が第１モードを設定すると、後述する第１制御と第２制御の切り換えは繰り返し行われず、被検眼Ｅに対して特定の検査視標が呈示される。また、例えば、制御部７０が第２モードを設定すると、後述する第１制御と第２制御の切り換えが繰り返し行われ、被検眼Ｅに対して、第１制御にて呈示される第１検査視標と、第２制御にて呈示される第２検査視標が、実質的に同時に呈示される。なお、第１モードによる自覚式測定と、第２モードによる自覚式測定は、その少なくともいずれかが行われる構成であってもよい。

＜第１モード＞
以下、第１モードを説明する。第１モードは、被検眼Ｅに特定の検査視標を呈示するモードである。より詳細には、第１モードは、ディスプレイ３１に特定の検査視標を常に表示し、被検眼Ｅに特定の検査視標を呈示するモードである。

制御部７０は、被検眼Ｅの他覚値に基づいて、投光光学系３０と矯正光学系６０の少なくともいずれかを制御し、被検眼Ｅの眼屈折度を所定のディオプタ値（例えば、０Ｄ等）に矯正する。例えば、制御部７０は、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ移動させることで、被検眼Ｅの球面度数を矯正してもよい。また、例えば、制御部７０は、円柱レンズ６１ａと６１ｂを光軸Ｌ２周りに回転させることで、被検眼Ｅの円柱度数と乱視軸角度の少なくともいずれかを矯正してもよい。これによって、被検眼Ｅの眼屈折力は所定のディオプタ値に矯正されるとともに、被検眼Ｅの眼屈折度が所定のディオプタ値となる矯正度数が取得される。

検者は、被検者に検査視標の向き（ランドルト環視標のすき間の向き）を問い、被検者の回答を考慮しながら、被検眼Ｅを矯正する矯正度数が適切であるかを確認する。なお、矯正度数が不適切であった場合等には、被検眼Ｅの眼屈折度を所定のディオプタ値とは異なるディオプタ値で矯正し、再度、矯正度数が適切であるかを確認してもよい。制御部７０は、検者が適切と判断した矯正度数を、自覚式測定における被検眼Ｅの光学特性（自覚値）として取得する。また、制御部７０は、被検眼Ｅの自覚値をメモリ７５に記憶する。

＜第２モード＞
以下、第２モードを説明する。第２モードは、被検眼Ｅに第１検査視標と第２検査視標を実質的に同時に呈示するモードである。より詳細には、第２モードは、ディスプレイ３１に第１検査視標と第２検査視標を交互に高速で表示させることで、被検眼Ｅに第１検査視標と第２検査視標を実質的に同時に呈示するモードである。なお、ここでは、被検眼Ｅの他覚値が、球面度数−５Ｄ、円柱度数０Ｄ、乱視軸角度０度であった場合を例に挙げる。

＜呈示領域と矯正量の対応付け＞
図７は、ディスプレイ３１の呈示領域の一例である。検者は、モニタ４を操作して、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋにおいて検査視標を呈示する領域と、ディスプレイ３１から出射される視標光束を矯正する矯正量と、をそれぞれ対応付けるための操作信号を入力する。制御部７０は、操作信号に応じて、ディスプレイ３１の呈示領域と、視標光束を矯正する矯正量と、をそれぞれ対応付ける。

まず、本実施例では、ディスプレイ３１の呈示領域（表示領域）の分割数（領域数）が指定される。検者は、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋの分割数を入力する。一例として、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋを２分割するように入力してもよい。制御部７０は、入力された操作信号に応じて、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋを、第１呈示領域Ｋ１と、第１呈示領域Ｋ１とは異なる第２呈示領域Ｋ２と、に分割する。なお、この場合、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋは、１×２分割（左右方向に２分割）でもよいし、２×１分割（上下方向に２分割）でもよい。もちろん、これらとは異なるレイアウトで分割してもよいし、第１呈示領域Ｋ１と第２呈示領域Ｋ２の一部は重複してもよい。

続いて、本実施例では、呈示領域Ｋが分割された各々の領域に対して矯正量が設定される。検者は、第１呈示領域Ｋ１から出射される視標光束を矯正する第１矯正量と、第２呈示領域Ｋ２から出射される視標光束を矯正する第２矯正量と、を入力する。一例として、被検眼Ｅの他覚値に基づき、被検眼Ｅの眼屈折度が０Ｄとなるように視標光束を矯正するための第１矯正量（本実施例では、球面度数−５Ｄ、円柱度数０Ｄ、乱視軸角度０度）を入力してもよい。また、一例として、被検眼Ｅの他覚値に基づき、被検眼Ｅの眼屈折度が−０．５Ｄとなるように視標光束を矯正するための第１矯正量とは異なる第２矯正量（本実施例では、球面度数−４．５Ｄ、円柱度数０Ｄ、乱視軸角度０度）を入力してもよい。なお、上記では被検眼Ｅの他覚値に基づいた第１矯正量及び第２矯正量を入力しているが、被検眼Ｅの自覚値に基づいた第１矯正量及び第２矯正量を入力するようにしてもよい。制御部７０は、入力された操作信号に応じて、第１呈示領域Ｋ１に対して第１矯正量を対応付ける。また、制御部７０は、入力された操作信号に応じて、第２呈示領域Ｋ２に対して第２矯正量を対応付ける。

なお、本実施例では、検者が第１呈示領域Ｋ１及び第２呈示領域に対して第１矯正量及び第２矯正量を入力することで、制御部７０が各々の領域に対する矯正量を設定する場合を例に挙げたがこれに限定されない。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの他覚値に基づき、ディスプレイ３１の分割数に応じた矯正量を所定の間隔（例えば、０．２５Ｄステップ）で自動設定してもよい。一例として、第１呈示領域Ｋ１には、被検眼Ｅの眼屈折度が０Ｄとなるように視標光束を矯正するための矯正量、第２呈示領域Ｋ２には、被検眼Ｅの眼屈折度が−０．２５Ｄとなるように視標光束を矯正するための矯正量、を適宜設定してもよい。

＜呈示領域と視標の対応付け＞
続いて、本実施例では、ディスプレイ３１の呈示領域と視標光束を矯正するための矯正量に、検査視標が対応付けられる。検者は、第１呈示領域Ｋ１に表示する第１検査視標の種類、数、大きさ、等を入力する。例えば、所定の視力値をもつ検査視標を入力してもよいし、第１矯正量に基づく検査視標を入力してもよい。また、検者は、第２呈示領域Ｋ２に表示する第２検査視標の種類、数、大きさ、等を入力する。例えば、所定の視力値をもつ検査視標を入力してもよいし、第２矯正量に基づく検査視標を入力してもよい。第１検査視標と第２検査視標は、種類、数、大きさ、等の少なくともいずれかが異なる検査視標であってもよいし、同一の検査視標であってもよい。なお、詳細は後述するが、被検眼に矯正状態の異なる検査視標の見え方を比較させる場合は、同一の検査視標であるほうが好ましい。制御部７０は、入力された操作信号に応じて、第１呈示領域Ｋ１に対して第１検査視標を対応付ける。また、制御部７０は、入力された操作信号に応じて、第２呈示領域Ｋ２に対して第２検査視標を対応付ける。

なお、本実施例では、検者が第１呈示領域Ｋ１及び第２呈示領域に対して第１検査視標及び第２検査視標を入力することで、制御部７０が各々の領域に表示する検査視標を設定する場合を例に挙げたがこれに限定されない。例えば、制御部７０は、視標光束を矯正する矯正量等に基づき、ディスプレイ３１の呈示領域に表示する検査視標を自動設定してもよい。

＜設定情報の記憶＞
制御部７０は、上記のように、ディスプレイ３１の呈示領域、視標光束を矯正するための矯正量、及び呈示領域に表示する検査視標をそれぞれ対応付けると、これらの情報を対応付けた設定情報をメモリ７５に記憶させる。本実施例では、第１呈示領域Ｋ１、第１矯正量、及び第１検査視標が対応付けられた第１設定情報がメモリ７５に記憶される。また、本実施例では、第２呈示領域Ｋ２、第２矯正量、及び第２検査視標が対応付けられた第２設定情報がメモリ７５に記憶される。

＜初期状態の設定＞
制御部７０は、第１設定情報及び第２設定情報を取得すると、これらの情報に基づいて、投光光学系３０及び矯正光学系６０の少なくともいずれかを制御し、ディスプレイ３１からの視標光束を矯正するための初期状態を設定する。本実施例では、第１矯正量が球面度数−５Ｄ、第２矯正量が球面度数−４．５Ｄであるため、投光光学系３０と、矯正光学系６０が備える可変焦点レンズ４０ａが制御される。なお、本実施例では、第１矯正量と第２矯正量がともに、円柱度数０Ｄ、乱視軸角度０度であるため、矯正光学系６０が備える可変焦点レンズ４０ｂと乱視矯正光学系６３は必ずしも制御されなくてもよい。

例えば、初期状態とは、前述の他覚値に基づき、被検眼Ｅの眼屈折度が０Ｄとなるように視標光束を矯正した状態である。すなわち、本実施例では、ディスプレイ３１からの視標光束を第１矯正量で矯正した状態となる。制御部７０は、第１設定情報に基づいて、投光光学系３０及び可変焦点レンズ４０ａを制御し、ディスプレイ３１からの視標光束を第１矯正量で矯正した状態を、初期状態として設定する。制御部７０は、第１矯正量の整数部の値（例えば、−５）を投光光学系３０の制御によって矯正し、第１矯正量の小数部の値（例えば、０．０）を可変焦点レンズ４０ａの制御によって矯正することで、被検眼Ｅの球面度数が０Ｄとなるように視標光束を矯正する。例えば、制御部７０は、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ−５Ｄに対応する位置に移動させ、さらに、可変焦点レンズ４０ａに印加電圧を与えないことで、被検眼Ｅの球面度数が０Ｄとなるように視標光束を矯正してもよい。これによって、初期状態が設定される。

なお、上記では、ディスプレイ３１からの視標光束を第１矯正量で矯正した状態を初期状態として設定したが、ディスプレイ３１からの視標光束を第２矯正量で矯正した状態を初期状態として設定してもよい。この場合、制御部７０は、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ−５Ｄに対応する位置に移動させ、さらに、可変焦点レンズ４０の屈折力が＋０．５Ｄとなるように印加電圧を与えることで、被検眼Ｅの球面度数が−０．５Ｄとなるように視標光束を矯正してもよい。

＜第１制御と第２制御の切り換え＞
制御部７０は、初期状態を設定すると、第１設定情報に基づく第１制御と、第２設定情報に基づく第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し行う。例えば、第１制御は、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１において、第１矯正量（本実施例では球面度数−５Ｄ）で矯正された第１検査視標Ｍ１を呈示する制御である。例えば、第２制御は、ディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２において、第２矯正量（本実施例では球面度数−４．５Ｄ）で矯正された第２検査視標Ｍ２を呈示する制御である。例えば、本実施例では、ディスプレイ３１からの視標光束を第１矯正量で矯正した状態が初期状態として設定されているため、初期状態から、第２制御、第１制御、第２制御、…と制御の切り換えが自動的に繰り返し行われる。

図８は、第１制御と第２制御の切り換えを説明する図である。図８（ａ）は、第１制御時における測定部７の光学系とディスプレイ３１の呈示領域を模式的に示す図である。図８（ｂ）は、第２制御時における測定部７の光学系とディスプレイ３１の呈示領域を模式的に示す図である。なお、図８（ａ）及び図８（ｂ）では、光軸Ｌ２上のディスプレイ３１と可変焦点レンズ４０ａ及び４０ｂのみを図示し、その他の光学部材は省略している。また、本実施例では、被検眼Ｅの円柱度数と乱視軸角度を矯正しないため、図８（ａ）及び図８（ｂ）のどちらにおいても、可変焦点レンズ４０ｂの屈折力は０Ｄに設定される。図８（ｃ）は、被検眼Ｅに対して第１制御と第２制御の切り換えを繰り返した際に、被検眼Ｅに視認される検査視標を示す図である。

制御部７０は、第１制御を行うときには、ディスプレイ３１を制御するとともに、可変焦点レンズ４０ａを制御する。つまり、ディスプレイ３１の制御に連動させて、可変焦点レンズ４０を制御する。例えば、図８（ａ）のように、ディスプレイ３１を制御して第１呈示領域Ｋ１に第１検査視標Ｍ１を表示させるとともに、可変焦点レンズ４０ａに印加電圧を与えないことで（印加電圧を０にすることで）可変焦点レンズ４０ａの屈折力を０Ｄにする。なお、このとき、制御部７０は、ディスプレイ３１を制御し、第１呈示領域Ｋ１への第１検査視標Ｍ１の表示に連動させて、第２呈示領域Ｋ２を黒地の背景としてもよい。もちろん、黒地とは異なる背景としてもよい。これにより、ディスプレイ３１の第１呈示領域から出射された視標光束は、第１矯正量（すなわち、球面度数−５Ｄ）で矯正されて、被検眼Ｅに導光される。より詳細には、ディスプレイ３１が球面度数−５Ｄに対応する位置にあるため、ディスプレイ３１の第１呈示領域から出射された視標光束（球面度数−５Ｄ）は、可変焦点レンズ４０ｂと４０ａ（ともに球面度数０Ｄ）を通過して、被検眼Ｅに導光される。本実施例において、被検眼Ｅの眼屈折度は球面度数−５Ｄであるが、第１制御時は被検眼Ｅに視標光束が球面度数−５Ｄで入射するため、被検眼Ｅには球面度数０Ｄに矯正された状態で第１検査視標Ｍ１が視認される。

また、制御部７０は、第２制御を行うときには、ディスプレイ３１を制御するとともに、可変焦点レンズ４０を制御する。つまり、ディスプレイ３１の制御に連動させて、可変焦点レンズ４０ａを制御する。例えば、図８（ｂ）のように、ディスプレイ３１を制御して第２呈示領域Ｋ２に第２検査視標Ｍ２を表示させるとともに、可変焦点レンズ４０ａに印加電圧を与えることで可変焦点レンズ４０ａの屈折力を＋０．５Ｄにする。なお、このとき、制御部７０は、ディスプレイ３１を制御し、第２呈示領域Ｋ２への第２検査視標Ｍ２の表示に連動させて、第１呈示領域Ｋ１を黒地の背景としてもよい。もちろん、黒地とは異なる背景としてもよい。これにより、ディスプレイ３１の第２呈示領域から出射された視標光束は、第２矯正量（すなわち、球面度数−４．５Ｄ）で矯正されて、被検眼Ｅに導光される。より詳細には、ディスプレイ３１が球面度数−５Ｄに対応する位置にあるため、ディスプレイ３１の第１呈示領域から出射された視標光束（球面度数−５Ｄ）は、可変焦点レンズ４０ｂ（球面度数０Ｄ）と可変焦点レンズ４０ａ（球面度数＋０．５Ｄ）を通過して、被検眼Ｅに導光される。本実施例において、被検眼Ｅの眼屈折度は球面度数−５Ｄであるが、第２制御時は被検眼Ｅに視標光束が球面度数−５Ｄで入射するため、被検眼Ｅには球面度数０Ｄに矯正された状態で第１検査視標Ｍ１が視認される。本実施例において、被検眼Ｅの眼屈折度は球面度数−５Ｄであるため、第２制御時は被検眼Ｅに視標光束が球面度数−４．５Ｄで入射するため、被検眼Ｅには球面度数−０．５Ｄに矯正された状態で第２検査視標Ｍ２が視認される。

制御部７０は、このような第１制御と第２制御を繰り返し、被検眼に対して、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１において第１矯正量で矯正された第１検査視標Ｍ１と、ディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２において第２矯正量で矯正された第２検査視標Ｍ２と、を実質的に同時に呈示させる。例えば、制御部７０は、第１制御と第２制御の切り換えを所定の時間間隔で繰り返し高速に行うことで、第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示させる。この場合、第１制御と第２制御の切り換えを、被検眼Ｅに対して残像効果が生じる時間間隔で繰り返し高速に行ってもよい。一例として、第１制御と第２制御を１５ミリ秒間隔で繰り返し高速に行ってもよい。これによって、被検眼Ｅには、図８（ｃ）のように、異なる矯正量（第１矯正量及び第２矯正量）で矯正された複数の検査視標（第１検査視標Ｍ１及び第２検査視標Ｍ２）が、いずれもディスプレイ３１に表示されているように視認される。

検者は、被検者に、第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２のどちらか見やすいかを問い、被検者の回答を考慮しながら、被検眼Ｅを矯正する矯正度数を調整してもよい。例えば、被検者の回答に応じて、矯正量をより細かい間隔に設定し、再度、被検眼Ｅを矯正する矯正度数を調整してもよい。制御部７０は、検者により適切と判断された矯正度数を、自覚式測定における被検眼Ｅの光学特性（自覚値）として取得する。また、制御部７０は、被検眼Ｅの自覚値をメモリ７５に記憶する。

なお、上記の自覚式測定は、被検眼Ｅの両眼に対して実行されてもよい。被検眼の両眼に対して実行する際は、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲとで、視標光束を矯正するための第１矯正量と第２矯正量が、各々に設定される。つまり、左被検眼ＥＬ用の第１矯正量及び第２矯正量と、右被検眼ＥＲ用の第１矯正量及び第２矯正量と、が設定される。この場合、左被検眼ＥＬ用の第１矯正量と右被検眼ＥＲ用の第１矯正量は互いに異なってもよいが、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲが同一の矯正状態となるように設定される。同様に、左被検眼ＥＬ用の第２矯正量と右被検眼ＥＲ用の第２矯正量は互いに異なってもよいが、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲが同一の矯正状態となるように設定される。

これについて、左被検眼ＥＬの球面度数−５Ｄを、０Ｄあるいは−０．５Ｄに矯正した状態にするとともに、右被検眼ＥＲの球面度数−３Ｄを、０Ｄあるいは−０．５Ｄに矯正した状態にすることで、第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を視認させる場合を例に挙げて説明する。

なお、球面度数０Ｄと−０．５Ｄでは、被検眼Ｅの輻輳角度の変化がわずかであるため、必ずしも後述のようにディスプレイの呈示領域の位置を考慮しなくても、被検眼Ｅは左右の検査視標を融像させることができる。つまり、左被検眼ＥＬ用のディスプレイ３１Ｌに呈示した検査視標と、右被検眼ＥＲ用のディスプレイ３１Ｒに呈示した検査視標と、を１つのディスプレイに呈示されているように見せることができる。

図９は、被検眼Ｅの両眼に第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示する場合である。図９（ａ）は、第１設定情報に基づく第１制御を実行した状態のディスプレイ３１を示している。図９（ｂ）は、第２設定情報に基づく第２制御を実行した状態のディスプレイ３１を示している。図９（ｃ）は、被検眼Ｅに対して第１制御と第２制御の切り換えを繰り返した際に、被検眼Ｅに視認される検査視標（後述の融像視標）を示している。

被検眼Ｅの両眼に対して第２モードにより検査視標を呈示する場合、制御部７０は、左眼用測定部７Ｌ及び右眼用測定部７Ｒが備えるディスプレイ３１を制御し、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに対して各々に検査視標を投影する。例えば、制御部７０は、図９（ａ）のように、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１Ｌの第１呈示領域Ｋ１に、左被検眼ＥＬ用の第１検査視標Ｍ１Ｌを表示するとともに、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１Ｒの第１呈示領域Ｋ１に、右被検眼ＥＲ用の第１検査視標Ｍ１Ｒを表示する。なお、左被検眼ＥＬ用の第１検査視標Ｍ１Ｌと、右被検眼ＥＲ用の第１検査視標Ｍ１Ｒと、は同一形状であることが好ましい。また、例えば、制御部７０は、図９（ｂ）のように、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１Ｌの第２呈示領域Ｋ２に、左被検眼ＥＬ用の第２検査視標Ｍ２Ｌを表示するとともに、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１Ｒの第２呈示領域Ｋ２に、右被検眼ＥＲ用の第２検査視標Ｍ２Ｒを表示する。なお、左被検眼ＥＬ用の第２検査視標Ｍ２Ｌと、右被検眼ＥＲ用の第２検査視標Ｍ２Ｒと、は同一形状であることが好ましい。これによって、左被検眼ＥＬと右被検眼ＥＲのどちらにおいても検査視標が視認される。

本実施例では、左被検眼ＥＬの球面度数−５Ｄを０Ｄにするための第１矯正量が−５Ｄ、左被検眼ＥＬの球面度数−５Ｄを−０．５Ｄにするための第２矯正量が−４．５Ｄとなる。制御部７０は、第１設定情報に基づいて、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１Ｌを−５Ｄに対応する位置に移動させ、可変焦点レンズ４０ａの屈折力を０Ｄまたは＋０．５Ｄとなるように制御することで、ディスプレイ３１からの視標光束を第１矯正量または第２矯正量で矯正する。

制御部７０は、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１Ｌの表示を制御するとともに、左被検眼ＥＬ側の可変焦点レンズ４０ａに与える印加電圧を制御する。より詳細には、第１設定情報に基づいた第１制御を実行し、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１に、左被検眼ＥＬ用の第１検査視標Ｍ１Ｌを表示させるとともに、左被検眼ＥＬ側の可変焦点レンズ４０ａに印加電圧を与えることで、左被検眼ＥＬ用の第１矯正量を設定する。また、第２設定情報に基づいた第２制御を実行し、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２に、左被検眼ＥＬ用の第２検査視標Ｍ２Ｌを表示させるとともに、左被検眼ＥＬ側の可変焦点レンズ４０ａに印加電圧を与えることで、左被検眼ＥＬ用の第２矯正量を設定する。制御部７０は、このような左被検眼ＥＬに対する第１制御と第２制御を繰り返してもよい。

同様に、本実施例では、右被検眼ＥＲの球面度数−３Ｄを０Ｄにするための第１矯正量が−３Ｄ、右被検眼ＥＲの球面度数−３Ｄを−０．５Ｄにするための第２矯正量が−２．５Ｄとなる。制御部７０は、第２設定情報に基づいて、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１Ｒを−３Ｄに対応する位置に移動させ、可変焦点レンズ４０ａの屈折力を０Ｄまたは＋０．５Ｄとなるように制御することで、ディスプレイ３１からの視標光束を第１矯正量または第２矯正量で矯正する。

制御部７０は、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１Ｒの表示を制御するとともに、右被検眼ＥＲ側の可変焦点レンズ４０に与える印加電圧を制御する。より詳細には、第１設定情報に基づいた第１制御を実行し、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１に、右被検眼ＥＲ用の第１検査視標Ｍ１Ｒを表示させるとともに、右被検眼ＥＲ側の可変焦点レンズ４０ａに印加電圧を与えることで、右被検眼ＥＲ用の第１矯正量を設定する。また、第２設定情報に基づいた第２制御を実行し、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２に、右被検眼ＥＲ用の第２検査視標Ｍ２Ｒを表示させるとともに、右被検眼ＥＲ側の可変焦点レンズ４０に印加電圧を与えることで、右被検眼ＥＲ用の第２矯正量を設定する。制御部７０は、このような右被検眼ＥＲに対する第１制御と第２制御を繰り返してもよい。

本実施例では、左被検眼ＥＬに対する第１制御と右被検眼ＥＲに対する第１制御とが連動して同時に実行され、左被検眼ＥＬに対する第２制御と右被検眼ＥＲに対する第２制御とが連動して同時に実行される。これによって、被検眼Ｅには、図９（ｃ）のように、左被検眼用の第１矯正量で矯正された左被検眼用の第１検査視標Ｍ１Ｌと、右被検眼用の第１矯正量で矯正された右被検眼用の第１検査視標Ｍ１Ｒと、が融像された第１融像視標Ｐ１と、左検眼用の第２矯正量で矯正された左被検眼用の第２検査視標Ｍ２Ｌと、右被検眼用の第２矯正量で矯正された右被検眼用の第２検査視標Ｍ２Ｒと、が融像された第２融像視標Ｐ２と、が、いずれもディスプレイ３１に表示されているように視認される。

以上説明したように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、第１設定情報と、第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報を記憶し、第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行する。このような制御により、被検眼に対して、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標と、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標と、が実質的に同時に呈示される。例えば、被検者には、矯正状態が異なる複数の視標が１つのディスプレイに表示されてみえるため、矯正状態の違いによる見え具合を容易に確認できる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、視標呈示部の呈示領域と、矯正光学系によって視標光束を矯正する矯正量と、の対応関係を設定して記憶する。例えば、視標呈示部の第１呈示領域と、視標光束を矯正する第１矯正量と、の対応関係を設定した第１設定情報を記憶し、視標呈示部の第２呈示領域と、視標光束を矯正する第２矯正量と、の対応関係を設定した第２設定情報を記憶する。このように、呈示領域と矯正量の対応関係が設定可能であることによって、被検眼に呈示する呈示領域（視標）の数、及び、呈示領域からの視標光束を矯正するための矯正量を、様々な組み合わせに変更し、被検者に異なる矯正状態の視標を容易に呈示することができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、第１設定情報に基づく第１制御と、第２設定情報に基づく第２制御と、の制御の切り換えを繰り返さない第１モードと、第１制御と第２制御との制御の切り換えを繰り返す第２モードと、を設定可能であって、第１制御と第２制御との切り換えが、第２モードが設定された状態において自動的に繰り返し行われる。これによって、第１モードでは、従来のように、被検眼に複数の矯正状態を切り換えて順に視標を呈示することができる。第２モードでは、矯正状態が異なる複数の視標を同時に呈示することができる。このように測定モードが切り換えられることで、被検者や状況に合わせた自覚式測定を容易に行うことができる。

また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、矯正光学系が可変焦点レンズを少なくとも有し、第１矯正量及び第２矯正量に基づいて少なくとも可変焦点レンズを制御することで、第１制御と第２制御との制御の切り換えが自動的に繰り返し行われる。例えば、可変焦点レンズは、焦点距離を変更するために要する時間（すなわち、印加電圧の変化に応答する応答速度）が短く、可変焦点レンズを制御することで、第１制御と第２制御の切り換えを高速に行うことができる。このため、被検眼に第１視標と第２視標とを実質に同時に呈示した際、各々の視標のチラつきを抑制し、矯正状態の違いをより比較しやすい状態にすることができる。

＜変容例＞
なお、本実施例では、ディスプレイ３１の呈示領域を分割することで、被検眼Ｅに第１検査視標と第２検査視標を実質的に同時に表示する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第１検査視標を表示するディスプレイと、第２検査視標を表示するディスプレイと、の複数のディスプレイを設け、第１制御と第２制御を繰り返し実行することで、被検眼Ｅに第１検査視標と第２検査視標を実質的に同時に表示する構成としてもよい。

なお、本実施例では、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋを第１呈示領域Ｋ１と第２呈示領域Ｋ２の２つの領域に分割し、第１呈示領域Ｋ１に対して第１矯正量を対応付けた第１設定情報と、第２呈示領域Ｋ２に対して第２矯正量を対応付けた第２設定情報と、に基づく第１制御と第２制御を繰り返し実行する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。ディスプレイ３１の呈示領域Ｋは、２つ以上の任意の領域数に分割してもよく、これらの領域に対して矯正量を対応付けた各々の設定情報に基づく複数の制御を繰り返し実行する構成であればよい。一例として、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋを、第１呈示領域Ｋ１〜第４呈示領域Ｋ４の４つの領域に分割してもよい。この場合には、第１呈示領域Ｋ１に対して第１矯正量を対応付けた第１設定情報と、第２呈示領域Ｋ２に対して第２矯正量を対応付けた第２設定情報と、第３呈示領域Ｋ３に対して第３矯正量を対応付けた第３設定情報と、第４呈示領域Ｋ４に対して第４矯正量を対応付けた第４設定情報と、に基づく第１制御〜第４制御が繰り返し実行される。例えば、第１制御から、第２制御、第３制御、第４制御へと順に切り換わり、第４制御から再び第１制御に切り換わるまでの所要時間が短いほど、ディスプレイ３１の各々の領域で検査視標が点滅表示されることによるチラつきが抑えられる。

なお、本実施例では、第１制御と第２制御の繰り返しを所定の時間間隔（例えば、１５ミリ秒間隔）で実行する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。第１制御から第２制御への切り換えの時間間隔と、第２制御から第１制御への切り換えの時間間隔と、は異なっていてもよい。一例として、第１制御から第２制御への切り換えは３０ミリ秒間隔で、第２制御から第１制御への切り換えは１５ミリ秒間隔で、各々の制御を繰り返し切り換えてもよい。これによって、第１制御にてディスプレイ３１に表示される第１検査視標Ｍ１と、第２制御にてディスプレイ３１に表示される第２検査視標Ｍ２と、のコントラスト等が調整され、被検眼Ｅに検査視標をより見やすく呈示することができる。特に、ディスプレイ３１に表示する第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２とで呈示距離が異なる場合（詳細は後述）にも、被検眼Ｅに検査視標をより見やすく呈示することができる。

なお、本実施例では、検眼装置１が投光光学系３０と矯正光学系６０を備え、制御部７０がこれらの少なくともいずれかを制御することで、第１制御と第２制御との制御の切り換えを繰り返し実行する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。検眼装置１は、被検眼Ｅの眼前に配置され、矯正光学系を内部に有する眼屈折力測定ユニット（フォロプタ）を備え、制御部が眼屈折力測定ユニットを制御することで、第１制御と第２制御との制御の切り換えを繰り返し実行する構成としてもよい。例えば、眼屈折力測定ユニットは、被検眼Ｅの眼前に可変焦点レンズを配置する構成でもよい。また、例えば、眼屈折力測定ユニットは、被検眼Ｅの眼前に切り換え可能な光学素子を配置する構成でもよい。もちろん、眼屈折力測定ユニットは、被検眼Ｅの眼前に、可変焦点レンズと、切り換え可能な光学素子と、を組み合わせて配置する構成としてもよい。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの球面度数を矯正するために、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１と第２呈示領域Ｋ２に、被検眼Ｅの球面度数を調整するように視標光束を矯正する第１矯正量及び第２矯正量を設定することで、被検眼Ｅに球面度数が互いに異なる第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの円柱度数及び乱視軸角度の少なくともいずれかを矯正するために、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１と第２呈示領域Ｋ２に、被検眼Ｅの円柱度数及び乱視軸角度の少なくともいずれかを調整するように視標光束を矯正する第１矯正量及び第２矯正量を設定することで、被検眼Ｅに円柱度数が互いに異なる第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示することも可能である。

この場合、制御部７０は、円柱レンズ６１ａと６１ｂを所定の円柱度数及び乱視軸角度となるように光軸Ｌ２周りに回転させる。さらに、制御部７０は、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１に第１検査視標Ｍ１を表示させる制御と、可変焦点レンズ４０ｂに所定の印加電圧を与える制御と、を連動させた第１制御、及び、ディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２に第２検査視標Ｍ２を表示させる制御と、可変焦点レンズ４０ｂに所定の印加電圧とは異なる印加電圧を与える制御と、を連動させた第２制御、を繰り返す。これによって、被検眼Ｅに、円柱度数及び乱視軸角度の少なくともいずれかが互いに異なる第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示してもよい。

例えば、第１制御と第２制御の切り換えは、被検眼Ｅに対してクロスシリンダテストを実施する際に実行されてもよい。クロスシリンダテストでは、被検眼Ｅの乱視軸角度を矯正するために、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１と第２呈示領域Ｋ２に、被検眼Ｅの乱視軸角度を調整するように視標光束を矯正する第１矯正量及び第２矯正量を設定することで、被検眼Ｅに乱視軸角度が互いに異なる第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示することができる。

図１０は、クロスシリンダテストを実施する際の第１制御と第２制御の切り換えを説明する図である。図１０（ａ）は、第１制御時のディスプレイ３１を示している。図１０（ｂ）は、第２制御時のディスプレイ３１を示している。図１０（ｃ）は、被検眼Ｅに対して第１制御と第２制御の切り換えを繰り返した際に、被検眼Ｅに視認される検査視標を示している。

クロスシリンダテストを実施する際、制御部７０は、図１０（ａ）のように、ディスプレイ３１を制御して第１呈示領域Ｋ１に第１検査視標Ｍ１を表示させるとともに、可変焦点レンズ４０ｂに印加電圧を与えて可変焦点レンズ４０ｂの乱視軸角度を第１矯正量にする第１制御を実行する。また、制御部７０は、図１０（ｂ）のように、ディスプレイ３１を制御して第２呈示領域Ｋ２に第２検査視標Ｍ２を表示させるとともに、可変焦点レンズ４０ｂに印加電圧を与えて可変焦点レンズ４０ｂの乱視軸角度を第２矯正量にする第２制御を実行する。第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２は、同一の点群チャートであってもよい。

制御部７０は、第１制御と第２制御を繰り返すことで、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１において第１矯正量で矯正された第１検査視標Ｍ１と、ディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２において第２矯正量で矯正された第２検査視標Ｍ２と、を実質的に同時に呈示させることができる。なお、クロスシリンダテストでは、第１制御と第２制御で同一の検査視標を表示していても、被検眼Ｅの乱視軸角度によっては、検査視標が異なって視認される。例えば、図１０（ｃ）のように、はっきり見える第１検査視標Ｍ１と、ぼやけて見える第２検査視標Ｍ２と、が実質的に同時に視認される。

なお、本実施例では、被検眼Ｅの球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度の少なくともいずれかを調整するように視標光束を矯正する第１矯正量と第２矯正量が設定されればよい。例えば、被検眼Ｅの球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度のうち、複数が異なる第１矯正量と第２矯正量が設定されてもよい。一例として、被検眼Ｅの球面度数を０Ｄ、円柱度数を−１Ｄ、乱視軸角度を４５度に調整するように視標光束を矯正する第１矯正量と、被検眼Ｅの球面度数を−１Ｄ、円柱度数を−１．５Ｄ、乱視軸角度を４５度に調整するように視標光束を矯正する第２矯正量と、が設定されてもよい。

なお、本実施例の検眼装置１において、制御部７０は、被検眼Ｅからディスプレイ３１に表示される検査視標までの距離（呈示距離）を、ディスプレイ３１の呈示領域と矯正量に加えて対応付けてもよい。すなわち、制御部７０は、被検眼Ｅからディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１に表示された第１検査視標Ｍ１までの光学的な呈示距離を、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１と、第１呈示領域Ｋ１から出射された視標光束を矯正する第１矯正量と、に対応付けてもよい。同様に、制御部７０は、被検眼Ｅからディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２に表示された第２検査視標Ｍ２までの光学的な呈示距離を、ディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２と、第２呈示領域Ｋ２から出射された視標光束を矯正する第２矯正量と、に対応付けてもよい。例えば、本実施例では、被検眼Ｅに対する遠方の呈示距離（例えば、５ｍ）と、被検眼Ｅに対する近方の呈示距離（例えば、３０ｃｍ）と、が設定されてもよい。自覚式測定において、このような検査視標の呈示距離、呈示領域、及び矯正量の対応付けは、被検眼Ｅの片眼に対して実行されてもよいし、両眼に対して実行されてもよい。

また、本実施例の検眼装置１において、制御部７０は、被検眼Ｅの輻輳角度を、ディスプレイ３１の呈示領域と矯正量に加えて対応付けてもよい。すなわち、制御部７０は、被検眼Ｅの輻輳角度を、ディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１と、第１呈示領域Ｋ１から出射された視標光束を矯正する第１矯正量と、に対応付けてもよい。同様に、制御部７０は、被検眼Ｅの輻輳角度を、ディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２と、第２呈示領域Ｋ２から出射された視標光束を矯正する第２矯正量と、に対応付けてもよい。自覚式測定において、このような検査視標の呈示距離、呈示領域、及び矯正量の対応付けは、被検眼Ｅの片眼に対して実行されてもよいし、両眼に対して実行されてもよい。

以下、被検眼の両眼に対して、被検眼の輻輳角度、呈示領域、及び矯正量を対応付けた制御を実行する場合を例に挙げて、より詳細に説明する。図１１は、被検眼Ｅの両眼に輻輳角度が異なる第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２を実質的に同時に呈示する場合である。図１１（ａ）は、第１設定情報に基づく第１制御を実行した状態のディスプレイ３１を示している。図１１（ｂ）は、第２設定情報に基づく第２制御を実行した状態のディスプレイ３１を示している。図１１（ｃ）は、被検眼Ｅに対して第１制御と第２制御の切り換えを繰り返した際に、被検眼Ｅが視認する検査視標を模式的に示している。

まず、制御部７０は、第１設定情報及び第２設定情報に基づいて、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲに呈示する左被検眼用の第１検査視標Ｍ１Ｌと右被検眼用の第１検査視標Ｍ１Ｒの第１輻輳角度と、左被検眼用の第２検査視標Ｍ２Ｌと右被検眼用の第２検査視標Ｍ２Ｒの第２輻輳角度と、をそれぞれ設定する。例えば、輻輳角度は、検者によるモニタ４の操作により入力されてもよい。また、例えば、輻輳角度は、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲから検査視標までの呈示距離、被検眼Ｅの瞳孔間距離、等に基づいて設定されてもよい。

ここで、被検眼Ｅの輻輳角度は、被検眼Ｅから検査視標までの距離に応じて変化する。例えば、被検眼Ｅが遠方の呈示距離にある検査視標をみた状態の第１輻輳角度と、被検眼Ｅが近方の呈示距離にある検査視標をみた状態の第２輻輳角度と、では、第２輻輳角度のほうが大きくなる。言い換えると、被検眼Ｅが遠方の呈示距離にある検査視標をみた状態よりも、被検眼Ｅが近方の呈示距離にある検査視標をみた状態のほうが、被検眼Ｅの瞳孔が内寄りとなる。このため、被検眼Ｅの輻輳角度を考慮してディスプレイの呈示領域の位置を設定することで、被検眼Ｅは左右の検査視標を融像させやすくなる。

制御部７０は、第１設定情報及び第２設定情報に基づいて、左被検眼用のディスプレイ３１Ｌの第１呈示領域Ｋ１と、右被検眼用のディスプレイ３１Ｒの第１呈示領域Ｋ１と、を設定する。例えば、制御部７０は、第１輻輳角度に対応させて、ディスプレイ３１Ｌ及び３１Ｒの中央付近に第１呈示領域Ｋ１を設定してもよい。また、制御部７０は、第１設定情報及び第２設定情報に基づいて、左被検眼用のディスプレイ３１Ｌの第２呈示領域Ｋ２と、右被検眼用のディスプレイ３１Ｒの第２呈示領域Ｋ２と、を設定する。例えば、制御部７０は、第２輻輳角度に対応させて、ディスプレイ３１Ｌ及び３１Ｒの内側付近に第２呈示領域Ｋ２を設定してもよい。

制御部７０は、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１Ｌの表示を制御するとともに、左被検眼ＥＬ側の可変焦点レンズ４０に与える印加電圧を制御する。より詳細には、第１設定情報に基づいた第１制御を実行し、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１に、左被検眼ＥＬ用の第１検査視標Ｍ１Ｌを表示させるとともに、左被検眼ＥＬ側の可変焦点レンズ４０に印加電圧を与えることで、左被検眼ＥＬ用の第１矯正量を設定する。また、第２設定情報に基づいた第２制御を実行し、左被検眼ＥＬ側のディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２に、左被検眼ＥＬ用の第２検査視標Ｍ２Ｌを表示させるとともに、左被検眼ＥＬ側の可変焦点レンズ４０に印加電圧を与えることで、左被検眼ＥＬ用の第２矯正量を設定する。制御部７０は、このような左被検眼ＥＬに対する第１制御と第２制御を繰り返してもよい。

また、制御部７０は、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１Ｒの表示を制御するとともに、右被検眼ＥＲ側の可変焦点レンズ４０に与える印加電圧を制御する。より詳細には、第１設定情報に基づいた第１制御を実行し、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１の第１呈示領域Ｋ１に、右被検眼ＥＲ用の第１検査視標Ｍ１Ｒを表示させるとともに、右被検眼ＥＲ側の可変焦点レンズ４０に印加電圧を与えることで、右被検眼ＥＲ用の第１矯正量を設定する。また、第２設定情報に基づいた第２制御を実行し、右被検眼ＥＲ側のディスプレイ３１の第２呈示領域Ｋ２に、右被検眼ＥＲ用の第２検査視標Ｍ２Ｒを表示させるとともに、右被検眼ＥＲ側の可変焦点レンズ４０に印加電圧を与えることで、右被検眼ＥＲ用の第２矯正量を設定する。制御部７０は、このような右被検眼ＥＲに対する第１制御と第２制御を繰り返してもよい。

本実施例では、左被検眼ＥＬに対する第１制御と右被検眼ＥＲに対する第１制御とが連動して同時に実行され、左被検眼ＥＬに対する第２制御と右被検眼ＥＲに対する第２制御とが連動して同時に実行される。これによって、被検眼Ｅには、図１０（ｃ）のように、左被検眼用の第１検査視標Ｍ１Ｌと、右被検眼用の第１検査視標Ｍ１Ｒと、が融像された第１融像視標Ｐ１が、被検眼Ｅの遠方に呈示されているように視認される。また、左被検眼用の第２検査視標Ｍ２Ｌと、右被検眼用の第２検査視標Ｍ２Ｒと、が融像された第２融像視標Ｐ２が、被検眼Ｅの近方に呈示されているように視認される。

なお、上記では、被検眼Ｅの輻輳角度を考慮するために、ディスプレイ３１における呈示領域の位置を設定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、偏向ミラー８１（偏向ミラー８１Ｌ及び８１Ｒ）を回転移動させてその角度を調整するように、駆動機構８２の駆動を制御する構成としてもよい。この場合、制御部７０は、ディスプレイ３１の呈示領域と視標光束を矯正するための矯正量に加えて、偏向ミラー８１の回転角度を対応付けて記憶し、このような設定情報に基づく制御の切り換えを繰り返し実行する。例えば、ディスプレイ３１を制御して各々の呈示領域に検査視標を表示させるとともに、可変焦点レンズの屈折力を変化させ、さらに、偏向ミラー８１の回転角度を変更する。これによっても、被検眼Ｅには、異なる矯正量で矯正された複数の検査視標が、いずれもディスプレイ３１に表示されているように視認される。なお、ディスプレイ３１における第１呈示領域Ｋ１と第２呈示領域Ｋ２は、同一（略同一）の位置に設定されてもよい。

例えば、本実施例における検眼装置は、このように、視標呈示部に呈示する視標の呈示距離を設定し、呈示距離に基づいて、視標呈示部の呈示領域と、矯正光学系によって視標光束を矯正する矯正量と、の対応関係を設定する。これによって、例えば、被検眼が遠方距離を見たり近方距離を見たりする際の輻輳角度を考慮して、被検眼に呈示距離の異なる複数の視標を実質的に同時に呈示し、自覚式測定をより適切に行うことができる。

なお、本実施例における検眼装置は、視標呈示部（ディスプレイ３１）および矯正光学系（矯正光学系６０）を制御し、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行することによって、第１矯正量で矯正された第１視標と、第２矯正量で矯正された第２視標と、を被検眼に対して実質的に同時に呈示させる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されない。本実施例における検眼装置は、投光光学系の光路中に、視標光束の矯正量を変更するための、矯正光学系が有する光学部材とは異なる光学部材であって、矯正光学系とは独立して制御される光学部材を配置させることによって、第１矯正量で矯正された第１視標と、第２矯正量で矯正された第２視標と、を被検眼に対して同時に呈示させる構成としてもよい。

この場合、検眼装置は、被検眼に向けて視標呈示部（ディスプレイ３１）から出射された視標光束を投影する投光光学系（投光光学系３０）と、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系（矯正光学系６０）と、視標光束の矯正量を変更するための、矯正光学系が有する光学部材とは異なる光学部材であって、矯正光学系とは独立して制御される光学部材（例えば、後述の平行平面ガラス８０）と、を備え、投光光学系からの視標光束を、矯正光学系を介して被検眼に投影することで、被検眼に視標を呈示し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する検眼装置であって、光学部材は、視標呈示部にて第１視標が呈示される第１呈示領域に対応する第１光学領域であって、第１呈示領域から出射する第１視標光束を第１矯正量に変更する第１光学領域（例えば、後述の第１光学領域Ａ１）と、視標呈示部にて第２視標が呈示される第２呈示領域に対応する第２光学領域であって、第２呈示領域から出射する第２視標光束を第１矯正量とは異なる第２矯正量に変更する第２光学領域（例えば、後述の第１光学領域Ａ２）と、を少なくとも有し、投光光学系の光路中に光学部材を配置させることによって、第１矯正量で矯正された第１視標と、第２矯正量で矯正された第２視標と、を被検眼に対して同時に呈示させる制御手段と、を備えてもよい。

以下、より詳細に説明する。例えば、投光光学系３０の光路中には、視標光束の矯正量を変更するための光学部材が配置される。光学部材は、矯正光学系６０が有する乱視矯正光学系６３や可変焦点レンズ４０とは異なる光学部材であり、これらとは独立して制御される。また、光学部材は、視標光束が通過することで眼底に対する集光位置が変化するように設計される。また、光学部材としては、平行平面ガラス、球面レンズ、非球面レンズ、等が用いられる。なお、光学部材は、これらのいずれかの部材であってもよいし、これらが組み合わされた部材であってもよい。

光学部材は、ディスプレイ３１における第１呈示領域Ｋ１からの第１視標光束の矯正量と、第１呈示領域とは異なる第２呈示領域Ｋ２からの第２視標光束の矯正量と、を変化させる。この場合、光学部材は、第１呈示領域Ｋ１に対応し、第１呈示領域Ｋ１から出射する第１視標光束を第１矯正量に変更する第１光学領域（後述の第１光学領域Ａ１）と、第２呈示領域Ｋ２に対応し、第２呈示領域Ｋ２から出射する第２視標光束を第２矯正量に変更する第２光学領域（後述の第２光学領域Ａ２）と、を有してもよい。なお、第１光学領域と第２光学領域は、一体的に形成されてもよい。

第１光学領域と第２光学領域は、いずれも矯正量を変化させる部材で構成されてもよい。例えば、各々の領域は、同一の部材で構成されてもよい。一例として、各々の領域は、厚みの異なる屈折率が同一な平行平面ガラスでもよいし、厚みが同一な屈折率の異なる平行平面ガラスでもよい。また、第１光学領域と第２光学領域とは、異なる部材で構成されてもよい。一例としては、一方の領域を平行平面ガラスとし、他方の領域を非球面ガラスとしてもよい。なお、これらのような光学部材を用いて、第１矯正量あるいは第２矯正量のいずれかを０Ｄとする際には、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向に移動させてもよい。

また、第１光学領域と第２光学領域とは、いずれも矯正量を変化させるが、一方は矯正量をわずかに変化させる部材で構成されてもよい。例えば、このような部材は、被検眼Ｅの自覚式測定に影響を与えない程度（例えば、０．０５Ｄ等）で、矯正量を変化させる部材でもよい。一例としては、屈折率が小さな部材、等を用いてもよい。これによって、第１光学領域と第２光学領域との一方を通過した視標光束の矯正量を所定の値とし、他方を通過した視標光束の矯正量を０Ｄ（略０Ｄ）とすることができる。

このような光学部材による矯正量の異なる視標の呈示について、第１光学領域と第２光学領域を有し、各々の領域の厚みが異なる平行平面ガラスを用いる場合を例に挙げて説明する。

図１２は、部分的に厚みが異なる平行平面ガラス８０を用いた光学系とディスプレイ３１の呈示領域を模式的に示す図である。図１２（ａ）に示す投光光学系３０は、ディスプレイ３１の中間結像（視標の中間結像）を形成させない光学系である。図１２（ｂ）に示す投光光学系３０は、被検眼Ｅの眼底にディスプレイ３１の中間結像をリレーして結像させるリレー光学系である。例えば、ディスプレイ３１と、ディスプレイ３１の中間結像位置Ｐと、の間には、レンズ（ここでは、レンズＢ１及びレンズＢ２）が配置されてもよい。

なお、図１２では、便宜上、対物レンズ１４、投光レンズ３４、及び投光レンズ３３を１枚のレンズＭで表している。また、図１２に示す被検眼Ｅは、第１呈示領域Ｋ１または第２呈示領域Ｋ２に視線を向けることで、実際には旋回する。例えば、被検眼Ｅが第１呈示領域Ｋ１に表示された第１検査視標Ｍ１に視線を向けた場合は、第１呈示領域Ｋ１からの第１視標光束が眼底に導光される。また、被検眼Ｅが第２呈示領域Ｋ２に表示された第２検査視標Ｍ２に視線を向けた場合は、第２呈示領域Ｋ２からの第２視標光束が眼底に導光される。

第１視標光束および第２視標光束は、それぞれ、平行平面ガラス８０の厚みが異なる部分を通過する。例えば、第１視標光束は、平行平面ガラス８０が厚い第１光学領域Ａ１を通過し、さらにレンズＭを通過することで、集光位置ｆ１に集光する。また、例えば、第２視標光束は、平行平面ガラス８０が薄い第２光学領域Ａ２を通過し、さらにレンズＭを通過することで、集光位置ｆ２に集光する。このように、各々の視標光束は、平行平面ガラス８０の厚みが異なる部分を通過することで、被検眼Ｅの深さ方向に所定のずれ量Δｄだけ、集光位置が変化する。視標光束の集光位置が変化することによって、被検眼Ｅを矯正する矯正量が変更される。

例えば、図１２（ａ）のように、投光光学系３０をリレー光学系としない場合、投光レンズ３３（図２参照）とディスプレイ３１との間に、平行平面ガラス８０を配置してもよい。また、例えば、図１２（ｂ）のように、投光光学系３０をリレー光学系とする場合、投光レンズ３３（図２参照）とレンズＢ１との間に、平行平面ガラス８０を配置してもよい。なお、平行平面ガラス８０は、眼底共役位置Ｎから離れるほど、第１視標光束と第２視標光束とが重なりやすくなり、これによって、第１検査視標Ｍ１と第２検査視標Ｍ２とを表示可能な領域が狭くなる。このため、リレー光学系でなければ、眼底と共役（略共役）な関係であるディスプレイ３１の直前に、平行平面ガラス８０を配置することが好ましい。また、リレー光学系であれば、眼底と共役（略共役）な関係である中間結像位置Ｐに、平行平面ガラス８０を配置することが好ましい。

例えば、制御部７０は、図示なき駆動機構（例えば、モータおよびスライド機構）を制御して、平行平面ガラス８０を光路中の所定の位置（例えば、眼底共役位置Ｎ）に挿入する。平行平面ガラス８０は、１枚の平行平面ガラスにより構成されてもよい。また、平行平面ガラス８０は、複数枚の平行平面ガラスにより構成されてもよい。例えば、制御部７０は、第１視標光束を矯正する第１矯正量と、第２視標光束を矯正する第２矯正量と、に応じて、平行平面ガラスを挿入する枚数を変更してもよい。これによって、被検眼Ｅには、矯正量が異なる複数の検査視標を、同時に呈示することができる。

なお、本実施例では、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋを２分割しているが、ディスプレイ３１の呈示領域Ｋを分割する領域数に合わせて、平行平面ガラス８０の厚みを予め設定しておくことで、被検眼Ｅに矯正量が異なる複数の検査視標を同時に呈示することができる。また、平行平面ガラス８０は、必ずしもその厚みが四角形状に異なるように設計する必要はなく、ディスプレイ３１に表示する視標（例えば、検査視標、風景視標、図形、等）に応じて、適宜、設計してもよい。一例として、平行平面ガラス８０の厚みは、同心円状に異なるように設計してもよい。

１ 検眼装置
２ 筺体
４ モニタ
５ 顎台
７ 測定部
１０ 他覚式測定光学系
２５ 自覚式測定光学系
３０ 投光光学系
４５ 第１指標投影光学系
４６ 第２指標投影光学系
５０ 観察光学系
６０ 矯正光学系
７０ 制御部
７５ メモリ
９０ 補正光学系
１００ 前眼部撮像光学系

Claims (8)

1. 被検眼に向けて視標呈示部から出射された視標光束を投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、を備え、前記投光光学系からの前記視標光束を、前記矯正光学系を介して前記被検眼に投影することで、前記被検眼に視標を呈示し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、
   前記視標呈示部の呈示領域において視標が呈示される呈示領域と、前記呈示領域に前記視標を呈示するために前記視標呈示部から出射された視標光束を前記矯正光学系によって矯正する矯正量と、が対応付けられた設定情報を記憶する記憶手段と、
   前記設定情報に基づいて、前記視標呈示部を制御して前記呈示領域に前記視標を呈示するとともに、前記矯正光学系を制御して前記視標光束を前記矯正量にて矯正する制御を実行する制御手段と、
   を備え、
   前記記憶手段には、第１設定情報と、前記第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報が記憶され、
   前記制御手段は、前記第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、前記第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行し、前記第１呈示領域において前記第１矯正量で矯正された前記第１視標と、前記第２呈示領域において前記第２矯正量で矯正された前記第２視標と、を前記被検眼に対して実質的に同時に呈示させることを特徴とする自覚式検眼装置。
2. 請求項１の自覚式検眼装置において、
   前記視標呈示部の前記呈示領域と、前記矯正光学系によって前記視標光束を矯正する前記矯正量と、の対応関係を設定する設定手段を備え、
   前記記憶手段は、少なくとも、前記設定手段により設定された第１設定情報と、前記設定手段により設定された第２設定情報と、を記憶することを特徴とする自覚式検眼装置。
3. 請求項１または２の自覚式検眼装置において、
   前記第１制御と前記第２制御との制御の切り換えを繰り返さない第１モードと、前記第１制御と前記第２制御との制御の切り換えを繰り返す第２モードと、を設定する測定モード設定手段を備え、
   前記制御手段は、前記測定モード設定手段により前記第２モードが設定された状態において、前記第１制御と前記第２制御との制御の切り換えを自動的に繰り返し行うことを特徴とする自覚式検眼装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記矯正光学系は、可変焦点レンズを少なくとも有し、
   前記制御手段は、前記第１矯正量及び前記第２矯正量に基づいて少なくとも前記可変焦点レンズを制御することで、前記第１制御と前記第２制御との制御の切り換えを自動的に繰り返し行うことを特徴とする自覚式検眼装置。
5. 請求項１〜４のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記第１矯正量及び前記第２矯正量は、前記視標光束における球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度の少なくともいずれかを矯正するための矯正量であることを特徴とする自覚式検眼装置。
6. 請求項１〜５のいずれかの自覚式検眼装置において、
   前記被検眼の眼前に配置され、前記矯正光学系を内部に有する眼屈折力測定ユニットを備え、
   前記被検眼に向けた視標光束が、前記眼屈折力測定ユニットを介して投影されることを特徴とする自覚式検眼装置。
7. 被検眼に向けて視標呈示部から出射された視標光束を投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、を備え、前記投光光学系からの前記視標光束を、前記矯正光学系を介して前記被検眼に投影することで、前記被検眼に視標を呈示し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置において用いる自覚式検眼プログラムであって、
   前記自覚式検眼装置のプロセッサに実行されることで、
   前記視標呈示部の呈示領域において視標が呈示される呈示領域と、前記呈示領域に前記視標を呈示するために前記視標呈示部から出射された視標光束を前記矯正光学系によって矯正する矯正量と、を対応付けた設定情報を記憶する記憶ステップであって、第１設定情報と、前記第１設定情報とは呈示領域及び矯正量が異なる第２設定情報と、の少なくとも２つの設定情報を記憶する記憶ステップと、
   前記設定情報に基づいて、前記視標呈示部を制御して前記呈示領域に前記視標を呈示するとともに、前記矯正光学系を制御して前記視標光束を前記矯正量にて矯正する制御を実行する制御ステップであって、前記第１設定情報に基づく、第１呈示領域において第１矯正量で矯正された第１視標を呈示する第１制御と、前記第２設定情報に基づく、第２呈示領域において第２矯正量で矯正された第２視標を呈示する第２制御と、の制御の切り換えを自動的に繰り返し実行し、前記第１呈示領域において前記第１矯正量で矯正された前記第１視標と、前記第２呈示領域において前記第２矯正量で矯正された前記第２視標と、を前記被検眼に対して実質的に同時に呈示させる制御ステップと、
   を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする自覚式検眼プログラム。
8. 被検眼に向けて視標呈示部から出射された視標光束を投影する投光光学系と、前記投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系と、前記視標光束の矯正量を変更するための、前記矯正光学系が有する光学部材とは異なる光学部材であって、前記矯正光学系とは独立して制御される光学部材と、を備え、前記投光光学系からの前記視標光束を、前記矯正光学系を介して前記被検眼に投影することで、前記被検眼に視標を呈示し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、
   前記光学部材は、前記視標呈示部にて第１視標が呈示される第１呈示領域に対応する第１光学領域であって、前記第１呈示領域から出射する第１視標光束を第１矯正量に変更する第１光学領域と、前記視標呈示部にて第２視標が呈示される第２呈示領域に対応する第２光学領域であって、前記第２呈示領域から出射する第２視標光束を前記第１矯正量とは異なる第２矯正量に変更する第２光学領域と、を少なくとも有し、
   前記投光光学系の光路中に前記光学部材を配置させることによって、前記第１矯正量で矯正された前記第１視標と、前記第２矯正量で矯正された前記第２視標と、を前記被検眼に対して同時に呈示させる制御手段を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。