JP2020128575A - Terminal material for connector, terminal for connector, and method of producing terminal material for connector - Google Patents

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Yoshie Tarutani
圭栄 樽谷
中矢 清隆
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Abstract

To provide a terminal material for a connector, capable of improving abrasion resistance, heat resistance and crack resistance, a terminal for a connector, and a method of producing a terminal material for a connector.SOLUTION: The terminal material for a connector according to the present invention, comprises a substrate at least whose surface layer is constituted of copper or a coper alloy, a silver layer comprising silver as its main component and at least coated on a part of the surface of the substrate, a silver-platinum alloy layer constituted of a silver-platinum alloy and at least coated on a part of the silver layer, with at least a part of the silver-platinum alloy layer being formed of an intermetallic compound of AgPt, the concentration of Pt not constituting the compound of Ag being 10 mass% or lower, and the film thickness of the intermetallic compound of AgPt being not smaller than 0.04 μm and not larger than 1.9 μm.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、微摺動が発生する自動車や民生機器等の電気配線の接続に使用される有用な皮膜が設けられたコネクタ用端子材、コネクタ用端子及びコネクタ用端子材の製造方法に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to a connector terminal material provided with a coating useful for connecting electrical wiring of automobiles, consumer appliances, and the like in which slight sliding occurs, a connector terminal, and a method for manufacturing the connector terminal material.

従来、自動車等の電気配線の接続に用いられるコネクタが知られている。この車載用コネクタ(車載用端子)には、メス端子に設けられた接触片が、メス端子内に挿入されたオス端子に所定の接触圧を有して接触することで、電気的に接続されるように設計された端子対を備えるものが用いられている。このようなコネクタ(端子)として、一般的に銅または銅合金板上に錫めっきを施し、リフロー処理を行った錫めっき付き端子が多く用いられていた。しかし、近年、自動車の高電流・高電圧化に伴い、より電流を多く流すことができる耐熱・耐摩耗性に優れた貴金属めっきを施した端子の用途が増加している。 2. Description of the Related Art Conventionally, a connector used for connecting electric wiring of an automobile or the like is known. To this vehicle-mounted connector (vehicle-mounted terminal), the contact piece provided on the female terminal is electrically connected by contacting the male terminal inserted in the female terminal with a predetermined contact pressure. The one with a terminal pair designed to be used is used. As such a connector (terminal), in general, a tin-plated terminal in which tin or tin is plated on a copper or copper alloy plate and which is subjected to reflow treatment is often used. However, in recent years, with the increase in current and voltage of automobiles, the use of terminals plated with a precious metal, which is capable of passing a larger amount of current and is excellent in heat resistance and wear resistance, is increasing.

このような耐熱性及び耐摩耗性が求められる車載用端子のめっきとして、例えば、特許文献1に記載のコネクタ用銀めっき端子が知られている。この特許文献1に記載のコネクタ用銀めっき端子は、銅又は銅合金からなる母材の表面が銀めっき層により被覆され、この銀めっき層は、下層側(母材側)に位置する第1の銀めっき層と、第1の銀めっき層の上層側に位置する第2の銀めっき層を有し、第1の銀めっき層の結晶粒径が第2の銀めっき層の結晶粒径よりも大きく形成されている。すなわち、特許文献1の構成では、第1の銀めっき層の結晶粒径を第2の銀めっき層の結晶粒径よりも大きく形成することで、母材からのCu成分が第2の銀めっき層に拡散するのを抑制している。 As a plating for a vehicle-mounted terminal that is required to have such heat resistance and wear resistance, for example, a silver-plated terminal for a connector described in Patent Document 1 is known. In the silver-plated terminal for a connector described in Patent Document 1, the surface of a base material made of copper or a copper alloy is covered with a silver-plated layer, and the silver-plated layer is located on the lower layer side (base material side). And a second silver plating layer located on the upper side of the first silver plating layer, and the crystal grain size of the first silver plating layer is smaller than that of the second silver plating layer. Is also formed large. That is, in the configuration of Patent Document 1, by forming the crystal grain size of the first silver plating layer larger than the crystal grain size of the second silver plating layer, the Cu component from the base material becomes the second silver plating. It suppresses the diffusion into layers.

また、特許文献2には、母材としての銅又は銅合金部材の表面の少なくとも一部に、アンチモン濃度が0.1質量%以下の銀又は銀合金層が形成され、この銀又は銀合金層の上に最表層としてビッカース硬度HV140以上の銀合金層が形成された銅又は銅合金部材が開示されている。また、母材とアンチモン濃度が0.1質量%以下の銀又は銀合金層との間にはニッケル又はニッケル合金層が形成されている。すなわち、特許文献2の構成では、アンチモンを銀又は銀合金層に添加することで硬度を上昇させて、銅又は銅合金部材の耐摩耗性を向上させている。 Further, in Patent Document 2, a silver or silver alloy layer having an antimony concentration of 0.1% by mass or less is formed on at least a part of the surface of a copper or copper alloy member as a base material. Discloses a copper or copper alloy member on which a silver alloy layer having a Vickers hardness of HV140 or more is formed as the outermost layer. Further, a nickel or nickel alloy layer is formed between the base material and the silver or silver alloy layer having an antimony concentration of 0.1% by mass or less. That is, in the configuration of Patent Document 2, the hardness is increased by adding antimony to the silver or silver alloy layer, and the wear resistance of the copper or copper alloy member is improved.

さらに、特許文献3には、銅素材若しくは銅めっき膜上に直接、若しくは下地ニッケルめっき膜を介して銀錫合金めっき膜を有する電子部品が開示されている。この特許文献3に記載の電子部品の銀錫合金めっき膜は、その膜厚が0.1〜100μmであり、Sn品位が10〜30質量%であり、マイクロビッカース硬さHv150以下であり、熱処理(200℃×1hr.)による硬度低下が熱処理前の硬度の20%以下に設定されている。すなわち、特許文献3の構成では、銀錫合金めっき膜を上記構成とすることで、硬度を上昇させて耐摩耗性及び耐熱性を向上させている。 Further, Patent Document 3 discloses an electronic component having a silver-tin alloy plating film directly on a copper material or a copper plating film or via a nickel plating film as a base. The silver-tin alloy plating film of the electronic component described in Patent Document 3 has a film thickness of 0.1 to 100 μm, a Sn quality of 10 to 30 mass %, a micro Vickers hardness of Hv150 or less, and a heat treatment. The decrease in hardness due to (200° C.×1 hr.) is set to 20% or less of the hardness before heat treatment. That is, in the configuration of Patent Document 3, the silver-tin alloy plating film has the above-described configuration, thereby increasing hardness and improving wear resistance and heat resistance.

特開2008−169408号公報JP, 2008-169408, A 特開2009−79250公報JP, 2009-79250, A 特開2015−183216号公報JP, 2005-183216, A

しかしながら、特許文献1の構成では、母材の表面を銀めっき層により被覆しており、銀めっき層は、加熱によって銀の結晶粒径が大きくなって硬度が低下するので、高温環境下においては耐摩耗性が低下する。この硬度の低下を抑制するため、銀めっき膜厚を厚くすることが考えられるが、コスト面での問題がある。一方、特許文献2の構成では、加熱によってアンチモンがめっき層最表面に濃化後、酸化して接触抵抗が増大する。さらに、特許文献3の構成では、銀錫合金めっき膜が硬いため、この銀錫合金めっき層が形成された基材を曲げると、銀錫合金めっき層にクラック(割れ)が発生する可能性があることから、めっき後のプレス加工(後加工)に問題が生じる。また、ニッケルめっき層を下地として用いていた場合、加熱によってニッケルめっき層と銀めっき層との間にニッケル酸化物が生成され、このニッケル酸化物が原因となりめっき層が剥離する問題がある。 However, in the configuration of Patent Document 1, the surface of the base material is covered with a silver plating layer, and the silver plating layer has a large crystal grain size of silver and its hardness is lowered by heating, so that in a high temperature environment. Abrasion resistance decreases. In order to suppress this decrease in hardness, it is conceivable to increase the silver plating film thickness, but there is a cost problem. On the other hand, in the configuration of Patent Document 2, antimony is concentrated on the outermost surface of the plating layer by heating and then oxidized to increase the contact resistance. Further, in the configuration of Patent Document 3, since the silver-tin alloy plating film is hard, when the base material on which the silver-tin alloy plating layer is formed is bent, cracks may occur in the silver-tin alloy plating layer. Therefore, there is a problem in press working (post-processing) after plating. Further, when the nickel plating layer is used as a base, there is a problem that nickel oxide is generated between the nickel plating layer and the silver plating layer by heating and the nickel oxide causes the peeling of the plating layer.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、耐摩耗性、耐熱性及び耐割れ性を向上できるコネクタ用端子材、コネクタ用端子及びコネクタ用端子材の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a terminal material for a connector, a terminal for a connector, and a method for manufacturing the terminal material for a connector, which can improve wear resistance, heat resistance, and crack resistance. To aim.

本発明のコネクタ用端子材は、少なくとも表層が銅又は銅合金からなる基材と、該基材の表面の少なくとも一部に被覆された銀を主成分とする銀層と、該銀層の少なくとも一部に被覆された銀白金合金からなる銀白金合金層と、を備え、前記銀白金合金層は、少なくとも一部がAgPtの金属間化合物により形成され、Agとの化合物を形成していないPtの濃度が10質量%以下であり、かつ、AgPtの金属間化合物膜厚が0.04μm以上1.9μm以下である。 The connector terminal material of the present invention includes a base material having at least a surface layer made of copper or a copper alloy, a silver layer containing silver as a main component coated on at least a part of the surface of the base material, and at least the silver layer. And a silver-platinum alloy layer partially formed of a silver-platinum alloy, the silver-platinum alloy layer being formed at least partially by an intermetallic compound of Ag 3 Pt and forming a compound with Ag. The Pt concentration is 10% by mass or less, and the intermetallic compound film thickness of Ag 3 Pt is 0.04 μm or more and 1.9 μm or less.

本発明では、基材の最表面に形成された銀白金合金層の少なくとも一部がAgPtの金属間化合物により形成されているので、銀白金合金層の硬度を高め、耐摩耗性を向上できる。なお、AgPtの金属間化合物は、熱により柔らかくなる銀とは異なり耐熱性が高いので、加熱後の硬度の低下を抑制できる。また、銀白金合金層が銀めっき層のAgと同様に酸化物を生成しにくい貴なPtを含むAgPtの金属間化合物により形成されているので、銀白金合金層の酸化を抑制できることから、高温環境でも接触抵抗の増大が抑制され、耐熱性を向上できる。 In the present invention, since at least a part of the silver-platinum alloy layer formed on the outermost surface of the base material is formed of the intermetallic compound of Ag 3 Pt, the hardness of the silver-platinum alloy layer is increased and the wear resistance is improved. it can. Note that the intermetallic compound of Ag 3 Pt has high heat resistance unlike silver that softens due to heat, and thus can suppress the decrease in hardness after heating. In addition, since the silver-platinum alloy layer is formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt containing noble Pt that hardly forms an oxide like Ag of the silver-plated layer, oxidation of the silver-platinum alloy layer can be suppressed. Even in a high temperature environment, increase in contact resistance is suppressed, and heat resistance can be improved.

さらに、このコネクタ用端子材をコネクタ用端子として用いる際に、該端子の接点部分の表面を銀白金合金層とすることにより、凝着摩耗の発生を抑制でき、耐摩耗性を向上できる。また、基材の最表面にのみ銀白金合金層を形成し、AgPtの金属間化合物の膜厚を0.04μm以上1.9μm以下と薄くすることで耐割れ性を向上して、プレス加工等により割れることを抑制している。なお、AgPtの金属間化合物の膜厚が0.04μm未満であると、耐熱性及び耐摩耗性を向上できず、1.9μmを超えると、銀白金合金層が厚すぎてプレス加工等により割れが生じる。また、Agとの化合物を形成していないPtの銀白金合金層の濃度が10質量%を超えると、硬度が低下する。 Furthermore, when the terminal material for a connector is used as a terminal for a connector, the surface of the contact portion of the terminal is formed of a silver-platinum alloy layer, whereby the occurrence of adhesive wear can be suppressed and the wear resistance can be improved. Further, a silver-platinum alloy layer is formed only on the outermost surface of the base material, and the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt is reduced to 0.04 μm or more and 1.9 μm or less to improve crack resistance, It suppresses cracking due to processing. If the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt is less than 0.04 μm, heat resistance and wear resistance cannot be improved, and if it exceeds 1.9 μm, the silver-platinum alloy layer is too thick and press working, etc. Causes cracking. Further, if the concentration of the Pt silver-platinum alloy layer that does not form a compound with Ag exceeds 10 mass %, the hardness decreases.

本発明のコネクタ用端子材の好ましい態様としては、前記基材と前記銀層との間には、ニッケル又はニッケル合金からなるニッケル層が設けられ、該ニッケル層の膜厚は0.5μm以上5μm以下であるとよい。 In a preferred embodiment of the connector terminal material of the present invention, a nickel layer made of nickel or a nickel alloy is provided between the base material and the silver layer, and the thickness of the nickel layer is 0.5 μm or more and 5 μm or more. The following is preferable.

上記態様では、銀層がニッケル層上に形成されているので、銀層が基材から剥離することを抑制できる。なお、ニッケル層の膜厚が0.5μm未満であると、高温環境下では銅又は銅合金からなる基材からCu成分が銀めっき層内に拡散して銀めっき層の抵抗値が大きくなり、耐熱性が低下する可能性がある。一方、ニッケル層の膜厚が5μmを超えると、プレス加工時等に割れが発生する可能性がある。 In the above aspect, since the silver layer is formed on the nickel layer, peeling of the silver layer from the base material can be suppressed. If the thickness of the nickel layer is less than 0.5 μm, the Cu component diffuses from the base material made of copper or copper alloy into the silver plating layer in a high temperature environment, and the resistance value of the silver plating layer increases, The heat resistance may decrease. On the other hand, if the thickness of the nickel layer exceeds 5 μm, cracks may occur during press working or the like.

本発明のコネクタ用端子は、上記コネクタ用端子材からなるコネクタ用端子であって、接点部分の表面に前記銀白金合金層が位置している。 The connector terminal of the present invention is a connector terminal made of the above-mentioned connector terminal material, and the silver-platinum alloy layer is located on the surface of the contact portion.

本発明のコネクタ用端子材の製造方法は、上記コネクタ用端子材の製造方法であって、少なくとも表層が銅及び銅合金からなる基材の表面の少なくとも一部に銀めっきを施して膜厚1μm以上50μm以下の銀めっき層を形成した後、該銀めっき層の少なくとも一部に白金めっきを施して膜厚0.01μm以上0.5μm以下の白金めっき層を形成し、該白金めっき層の表面温度が30℃以上80℃以下の温度で1時間以上保持する。 The method for producing a terminal material for a connector of the present invention is the method for producing a terminal material for a connector as described above, wherein at least a part of the surface of a substrate having at least a surface layer made of copper and a copper alloy is silver-plated to have a thickness of 1 μm. After forming a silver plating layer having a thickness of 50 μm or less, at least a part of the silver plating layer is plated with platinum to form a platinum plating layer having a thickness of 0.01 μm or more and 0.5 μm or less, and the surface of the platinum plating layer. Hold at a temperature of 30° C. or higher and 80° C. or lower for 1 hour or longer.

本発明では、基材の表面に銀めっき層を形成した後、白金めっき層を形成し、所定の熱処理を行うことで、基材の最表面に耐摩耗性、耐熱性及び耐割れ性の高い銀白金合金層を形成したコネクタ用端子材を製造できる。なお、この製造過程において、白金めっき膜の膜厚が0.01μm未満である場合や、銀めっき層の膜厚が1μm未満である場合、AgPtの金属間化合物が充分に生成できないことから、適切に銀白金合金層を形成できず、コネクタ用端子材の耐熱性及び耐摩耗性が低下する可能性がある。一方、白金めっき層の膜厚が0.5μmを超えている場合、上記所定の熱処理においてAgPtの金属間化合物が生成されるものの、銀白金合金層中にPt成分が多く残り、AgPtの金属間化合物の層上にAgとPtが合金化していないPt未反応層が形成される(純Pt濃度が10質量%を超える)ため、銀白金合金層の硬度が低下して耐摩耗性が低下するとともに、銀白金合金層が厚くなることにより耐割れ性が低下して、プレス加工等により割れが生じる可能性がある。また、銀めっき層の膜厚が50μmを超えている場合、銀層が厚くなることからプレス加工等により銀層に割れが生じ、耐割れ性が低下する可能性がある。 In the present invention, after the silver plating layer is formed on the surface of the base material, the platinum plating layer is formed and a predetermined heat treatment is performed, so that the outermost surface of the base material has high wear resistance, heat resistance and crack resistance. A connector terminal material having a silver-platinum alloy layer can be manufactured. In this manufacturing process, when the thickness of the platinum plating film is less than 0.01 μm or when the thickness of the silver plating layer is less than 1 μm, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated. However, the silver-platinum alloy layer cannot be properly formed, and the heat resistance and wear resistance of the connector terminal material may be reduced. On the other hand, when the film thickness of the platinum plating layer exceeds 0.5 μm, the intermetallic compound of Ag 3 Pt is generated in the above predetermined heat treatment, but a large amount of Pt component remains in the silver platinum alloy layer, and Ag 3 Pt remains. Since a Pt unreacted layer in which Ag and Pt are not alloyed is formed on the intermetallic compound layer of Pt (the pure Pt concentration exceeds 10 mass %), the hardness of the silver-platinum alloy layer is reduced and the wear resistance is reduced. As the silver-platinum alloy layer becomes thicker, the crack resistance decreases, and cracking may occur due to press working or the like. Further, when the thickness of the silver plating layer is more than 50 μm, the silver layer becomes thick, so that cracking may occur in the silver layer due to press working or the like, and the crack resistance may decrease.

なお、上記所定の熱処理において、白金めっき層の表面温度が30℃未満であると、AgPtの金属間化合物を十分に生成できず、80℃を超えると銅又は銅合金からなる基材からのCu成分の拡散がより進みやすくなるため、適切でない。また、熱処理時間が1時間未満であるとAgPtの金属間化合物が充分に生成できないことから、適切に銀白金合金層を形成できない。なお、熱処理時間が、24時間を超えると基材からのCu成分の拡散量が多くなるため、24時間以内で熱処理を終わらせることが望ましい。 In the above predetermined heat treatment, when the surface temperature of the platinum plating layer is lower than 30°C, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated, and when it exceeds 80°C, the base material made of copper or copper alloy is used. This is not appropriate because the diffusion of the Cu component of 3 becomes easier to proceed. Further, if the heat treatment time is less than 1 hour, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated, and therefore the silver-platinum alloy layer cannot be properly formed. If the heat treatment time exceeds 24 hours, the diffusion amount of the Cu component from the base material increases, so it is desirable to finish the heat treatment within 24 hours.

本発明によれば、コネクタ用端子材及びコネクタ用端子の耐摩耗性、耐熱性及び耐割れ性を向上できる。 According to the present invention, the wear resistance, heat resistance and crack resistance of the connector terminal material and the connector terminal can be improved.

本発明の実施形態に係るコネクタ用端子材を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the terminal material for connectors which concerns on embodiment of this invention. 実施例における加熱前のコネクタ用端子材の断面のSIM(Scanning Ion Microscope)像である。It is a SIM (Scanning Ion Microscope) image of the cross section of the connector terminal material before heating in the example.

以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

[コネクタ用端子材の構成]
本実施形態のコネクタ用端子材1は、図1に断面を模式的に示したように、少なくとも表層が銅又は銅合金からなる板状の基材2と、該基材2の上面全域に被覆されたニッケル又はニッケル合金からなるニッケル層3と、ニッケル層3の上面全域に被覆された銀層4と、銀層4の一部に被覆された銀白金合金層5と、を備えている。なお、基材2の表層は、銅または銅合金からなるものであれば、特に、その組成が限定されるものではない。また、本実施形態では、図1に示すように、基材2は銅又は銅合金からなる板材により構成されているが、母材の表面に銅めっき又は銅合金めっきが施されためっき材により構成されてもよい。この場合、母材としては、無酸素銅(C10200)やCu−Mg系銅合金(C18665)等を適用できる。
[Construction of connector terminal material]
The connector terminal material 1 of the present embodiment has a plate-shaped base material 2 having at least a surface layer made of copper or a copper alloy, and a whole upper surface of the base material 2, as shown in the cross-sectional view of FIG. A nickel layer 3 made of nickel or a nickel alloy, a silver layer 4 covering the entire upper surface of the nickel layer 3, and a silver platinum alloy layer 5 covering a part of the silver layer 4. The composition of the surface layer of the base material 2 is not particularly limited as long as it is made of copper or a copper alloy. Further, in the present embodiment, as shown in FIG. 1, the base material 2 is made of a plate material made of copper or a copper alloy, but is made of a plated material in which the surface of the base material is plated with copper or copper alloy. It may be configured. In this case, oxygen-free copper (C10200), Cu-Mg-based copper alloy (C18665), or the like can be applied as the base material.

ニッケル層3は、基材2上にニッケル又はニッケル合金めっきを施すことにより被覆される。このニッケル層3は、ニッケル層3上に被覆される銀層4及び銀白金合金層5への基材2からの銅の拡散を抑制する機能を有する。このニッケル層3の厚さは、0.5μm以上5μm以下であることが好ましく、より好ましくは0.5μm以上2μm以下であるとよい。ニッケル層3の厚さが0.5μm未満であると、高温環境下では銅又は銅合金からなる基材2からCu成分が銀層4内に拡散して銀層4の抵抗値が大きくなり、耐熱性が低下する可能性がある。一方、ニッケル層3の厚さが5μmを超えると、曲げ加工時に割れが発生する可能性がある。なお、ニッケル層3は、ニッケル又はニッケル合金からなるものであれば、特に、その組成が限定されるものではない。また、このニッケル層3は必須の構成ではなく、例えば、銀ストライクめっきが施された基材2の表面に銀層4が形成されてもよい。 The nickel layer 3 is coated by plating the base material 2 with nickel or a nickel alloy. The nickel layer 3 has a function of suppressing diffusion of copper from the base material 2 into the silver layer 4 and the silver-platinum alloy layer 5 coated on the nickel layer 3. The thickness of the nickel layer 3 is preferably 0.5 μm or more and 5 μm or less, and more preferably 0.5 μm or more and 2 μm or less. When the thickness of the nickel layer 3 is less than 0.5 μm, the Cu component diffuses from the base material 2 made of copper or copper alloy into the silver layer 4 in a high temperature environment, and the resistance value of the silver layer 4 increases, The heat resistance may decrease. On the other hand, if the thickness of the nickel layer 3 exceeds 5 μm, cracks may occur during bending. The composition of the nickel layer 3 is not particularly limited as long as it is made of nickel or a nickel alloy. The nickel layer 3 is not an essential component, and the silver layer 4 may be formed on the surface of the base material 2 plated with silver strike, for example.

銀層4及び銀白金合金層5は、ニッケル層3上に銀ストライクめっきが施された後、その上面に銀めっき及び白金めっきを施して熱処理することにより形成される。これらのうち、銀層4は、ニッケル層3上に形成され、銀白金合金層5は、銀層4の上でコネクタ用端子材1の最表面に形成される。 The silver layer 4 and the silver-platinum alloy layer 5 are formed by performing silver strike plating on the nickel layer 3 and then performing silver plating and platinum plating on the upper surface of the nickel layer 3 and heat-treating them. Among these, the silver layer 4 is formed on the nickel layer 3, and the silver platinum alloy layer 5 is formed on the outermost surface of the connector terminal material 1 on the silver layer 4.

銀層4は、銀を主成分としており、例えば純銀を95質量%以上含んでいるとよい。このような銀層4の厚さは、例えば、0.5μm以上50μm以下に設定される。 The silver layer 4 contains silver as a main component, and preferably contains, for example, pure silver in an amount of 95% by mass or more. The thickness of such a silver layer 4 is set to, for example, 0.5 μm or more and 50 μm or less.

銀白金合金層5は、少なくとも一部がAgPtの金属間化合物により形成され、Agとの化合物を形成していないPtの濃度が10質量%以下である。このような金属間化合物は、銀白金合金層5の硬度を高め、耐摩耗性を向上させる。具体的には、銀白金合金層5のビッカース硬さは、110HV〜150HVの範囲内に設定されている。また、本実施形態では、銀白金合金層5が銀層4のAgよりも貴なPtを含むAgPtの金属間化合物により形成されているので、銀白金合金層5の酸化を抑制して耐熱性を向上させる。なお、純Ptは柔らかいため、銀白金合金層5におけるAgとの化合物を形成していないPtの濃度が高くなるほど、めっき膜表面の硬度が低下するため、10質量%を超えないことが望ましい。また、上記濃度は、10質量%より低いことが好ましく、さらに好ましくは、0質量%であるとよい。すなわち、銀白金合金層5は、AgPtの金属間化合物のみからなるとよい。 At least a part of the silver-platinum alloy layer 5 is formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt, and the concentration of Pt not forming a compound with Ag is 10 mass% or less. Such an intermetallic compound increases the hardness of the silver-platinum alloy layer 5 and improves wear resistance. Specifically, the Vickers hardness of the silver-platinum alloy layer 5 is set within the range of 110 HV to 150 HV. Further, in the present embodiment, since the silver-platinum alloy layer 5 is formed of the intermetallic compound of Ag 3 Pt containing Pt which is more noble than Ag of the silver layer 4, oxidation of the silver-platinum alloy layer 5 is suppressed. Improves heat resistance. Since pure Pt is soft, the hardness of the plating film surface decreases as the concentration of Pt that does not form a compound with Ag in the silver-platinum alloy layer 5 increases. Further, the above concentration is preferably lower than 10% by mass, and more preferably 0% by mass. That is, the silver-platinum alloy layer 5 may be made of only the intermetallic compound of Ag 3 Pt.

また、AgPtの金属間化合物の膜厚は、0.04μm以上1.9μm以下に設定され、より好ましくは、0.08μm以上1.1μm以下であるとよい。このようにAgPtの金属間化合物の膜厚を薄くすることで耐割れ性を向上させており、プレス加工等により割れることを抑制している。なお、AgPtの金属間化合物の膜厚が0.04μm未満であると、耐熱性及び耐摩耗性を向上できず、1.9μmを超えると、銀白金合金層5が厚すぎて、プレス加工等により割れが生じる。
なお、銀白金合金層5がAgPtの金属間化合物のみからなる場合には、銀白金合金層5の膜厚はAgPtの金属間化合物の膜厚と同一となるが、Agとの化合物を形成していないPt未反応層が形成されている場合には、銀白金合金5の膜厚はAgPtの金属間化合物の膜厚と一致しない。
Further, the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt is set to 0.04 μm or more and 1.9 μm or less, and more preferably 0.08 μm or more and 1.1 μm or less. By thus reducing the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt, the crack resistance is improved, and cracking due to press working or the like is suppressed. If the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt is less than 0.04 μm, the heat resistance and wear resistance cannot be improved, and if it exceeds 1.9 μm, the silver-platinum alloy layer 5 is too thick and the press Cracks occur due to processing etc.
In the case where a silver platinum alloy layer 5 is formed of only the intermetallic compound of Ag 3 Pt is the thickness of the silver platinum alloy layer 5 is the same as the thickness of the intermetallic compound Ag 3 Pt, and Ag When the Pt unreacted layer in which the compound is not formed is formed, the film thickness of the silver platinum alloy 5 does not match the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt.

次に、このコネクタ用端子材1の製造方法について説明する。このコネクタ用端子材1の製造方法は、基材2となる少なくとも表層が銅又は銅合金からなる板材を洗浄する前処理工程と、ニッケル層3を基材2に形成するニッケル層形成工程と、ニッケル層3上に、銀ストライクめっきを施す銀ストライクめっき工程と、銀ストライクめっき層の上に銀めっきを施して銀めっき層を形成する銀めっき層形成工程と、銀めっき層上に白金めっきを施して白金めっき層を形成する白金めっき層形成工程と、白金めっき層の表面温度が30℃以上80℃以下の温度で1時間以上保持する熱処理工程と、を備える。 Next, a method for manufacturing the connector terminal material 1 will be described. The method for manufacturing the terminal material 1 for a connector includes a pretreatment step of washing a plate material at least a surface layer of which is a base material 2 made of copper or a copper alloy, a nickel layer forming step of forming a nickel layer 3 on the base material 2, A silver strike plating step of performing silver strike plating on the nickel layer 3, a silver plating layer forming step of performing silver plating on the silver strike plating layer to form a silver plating layer, and a platinum plating on the silver plating layer. A platinum plating layer forming step of forming a platinum plating layer by applying the heat treatment step and a heat treatment step of holding the surface temperature of the platinum plating layer at a temperature of 30° C. or higher and 80° C. or lower for 1 hour or longer are provided.

[前処理工程]
まず、基材2として、少なくとも表層が銅又は銅合金からなる板材を用意し、この板材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄する前処理を行う。
[Pretreatment process]
First, as the base material 2, a plate material having at least a surface layer made of copper or a copper alloy is prepared, and a pretreatment for cleaning the surface by performing degreasing, pickling, etc. on the plate material is performed.

[ニッケル層形成工程]
この基材2の表面の少なくとも一部に対して、ニッケル又はニッケル合金からなるめっきを施してニッケル層3を基材2に形成する。例えば、スルファミン酸ニッケル300g/L、塩化ニッケル30g/L、ホウ酸30g/Lからなるニッケルめっき浴を用いて、浴温45℃、電流密度3A/dmの条件下でニッケルめっきを施して形成される。なお、ニッケル層3を形成するニッケルめっきは、緻密なニッケル主体の膜が得られるものであれば特に限定されず、公知のワット浴を用いて電気めっきにより形成してもよい。また、基材2の表面に直接銀層4を形成する場合には、ニッケル層形成工程は、実行しなくてよい。
[Nickel layer forming process]
At least a part of the surface of the base material 2 is plated with nickel or nickel alloy to form the nickel layer 3 on the base material 2. For example, using a nickel plating bath consisting of 300 g/L of nickel sulfamate, 30 g/L of nickel chloride, and 30 g/L of boric acid, nickel plating is performed under conditions of a bath temperature of 45° C. and a current density of 3 A/dm 2. To be done. The nickel plating for forming the nickel layer 3 is not particularly limited as long as a dense nickel-based film can be obtained, and may be formed by electroplating using a known Watts bath. Further, when the silver layer 4 is directly formed on the surface of the base material 2, the nickel layer forming step need not be performed.

[銀ストライクめっき工程]
ニッケル層3に対して5〜10質量%の水酸化カリウム水溶液を用いて活性化処理を行った後、ニッケル層3上に銀ストライクめっきを施し、銀ストライクめっき層を形成する。この銀ストライクめっきは、ニッケル層3上に形成される銀層4とニッケル層3との密着性を高めるために実行される。この銀ストライクめっきを施すためのめっき浴の組成は、特に限定されないが、例えば、シアン化銀(AgCN)1g/L〜5g/L、シアン化カリウム(KCN)80g/L〜120g/Lからなる。そして、この銀めっき浴に対してアノードとしてステンレス鋼板(SUS316)を用いて、浴温25℃、電流密度1A/dmの条件下で銀めっきを30秒程度施すことにより銀ストライクめっき層が形成される。
[Silver strike plating process]
After performing an activation treatment on the nickel layer 3 using a potassium hydroxide aqueous solution of 5 to 10 mass %, silver strike plating is performed on the nickel layer 3 to form a silver strike plating layer. This silver strike plating is performed in order to enhance the adhesion between the silver layer 4 formed on the nickel layer 3 and the nickel layer 3. The composition of the plating bath for performing this silver strike plating is not particularly limited, but is, for example, 1 g/L to 5 g/L of silver cyanide (AgCN) and 80 g/L to 120 g/L of potassium cyanide (KCN). Then, using a stainless steel plate (SUS316) as an anode for this silver plating bath, silver plating is applied for about 30 seconds under conditions of a bath temperature of 25° C. and a current density of 1 A/dm 2 to form a silver strike plating layer. To be done.

[銀めっき層形成工程]
銀ストライクめっき層上に銀めっきを施して銀めっき層を形成する。この銀めっき層は、純Ag濃度が95質量%以上であればよい。これは、銀めっき層の純Ag濃度が95質量%未満であると不純物が多く含まれることとなり、銀めっき層を加熱処理して銀層4とする際に、銀めっき層が合金化して、プレス加工等により曲げられた際に割れる可能性があるためである。この銀めっき層を形成するためのめっき浴の組成は、特に限定されないが、例えば、シアン化銀(AgCN)30g/L〜50g/L、シアン化カリウム(KCN)120g/L〜160g/L、炭酸カリウム(KCO)10g/L〜20g/L、銀めっき層を平滑に析出させるための添加剤からなる。なお、この添加剤は、アンチモンを含まないものであれば、一般的な添加剤で構わない。そして、この銀めっき浴に対してアノードとして純銀板を用いて、浴温25℃、電流密度2A/dmの条件下で銀めっきを50秒〜85分程度施すことにより銀めっき層が形成される。
[Silver plating layer forming process]
Silver plating is applied on the silver strike plating layer to form a silver plating layer. The silver plating layer may have a pure Ag concentration of 95% by mass or more. This means that if the pure Ag concentration of the silver plating layer is less than 95% by mass, a large amount of impurities will be contained, and when the silver plating layer is heat-treated to form the silver layer 4, the silver plating layer is alloyed, This is because there is a possibility of cracking when bent by press processing or the like. The composition of the plating bath for forming this silver plating layer is not particularly limited, but for example, silver cyanide (AgCN) 30 g/L to 50 g/L, potassium cyanide (KCN) 120 g/L to 160 g/L, potassium carbonate (K 2 CO 3 ) 10 g/L to 20 g/L, and an additive for smooth deposition of the silver plating layer. The additive may be a general additive as long as it does not contain antimony. Then, using a pure silver plate as an anode, the silver plating bath is subjected to silver plating for about 50 seconds to 85 minutes under conditions of a bath temperature of 25° C. and a current density of 2 A/dm 2 to form a silver plating layer. It

また、銀めっき層形成工程により形成される銀めっき層の膜厚は、0.5μm以上50μm以下に設定される。銀めっき層の膜厚が0.5μm未満であると、AgPtの金属間化合物が充分に生成できないことから、適切に銀白金合金層5を生成できず、耐熱性及び耐摩耗性が低下する可能性がある。また銀めっき層の膜厚が薄いため、銀めっき層に求められる接続信頼性を確保できない。一方、銀めっき層が50μmを超えると、銀層4の耐割れ性が低下して、プレス加工等により割れが生じる可能性がある。 The thickness of the silver plating layer formed in the silver plating layer forming step is set to 0.5 μm or more and 50 μm or less. If the thickness of the silver plating layer is less than 0.5 μm, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated, so that the silver-platinum alloy layer 5 cannot be appropriately generated, and heat resistance and wear resistance are deteriorated. there's a possibility that. Further, since the silver plating layer is thin, the connection reliability required for the silver plating layer cannot be secured. On the other hand, when the silver plating layer has a thickness of more than 50 μm, the crack resistance of the silver layer 4 is lowered, and cracks may occur due to press working or the like.

[白金めっき層形成工程]
そして、銀めっき層形成工程後、銀めっき層上に白金めっきを施して白金めっき層を形成する。この白金めっき層を形成するためのめっき浴の組成は、例えば、pHが1に調整されており、硫酸15g/L〜25g/L、ジアンミンジニトロ白金[Pt(NH(NO]5g/L〜15g/L、スルファミン酸(HNSOOH)、および有機添加剤からなる。そして、この白金めっき浴に対してアノードとして白金板を用いて、浴温60℃、電流密度1A/dmで白金めっきを30秒〜15分程度施すことにより、白金めっき層が形成される。なお、純度99%を超える白金めっきが施されるのであれば、白金めっき層を形成するためのめっき浴は、上記めっき浴に限らず、その組成は特に限定されない。
[Platinum plating layer forming process]
Then, after the silver plating layer forming step, platinum plating is performed on the silver plating layer to form a platinum plating layer. The composition of the plating bath for forming this platinum plating layer is, for example, pH adjusted to 1, sulfuric acid 15 g/L to 25 g/L, diamminedinitroplatinum [Pt(NH 3 ) 2 (NO 2 ) 2 ] 5 g/L to 15 g/L, consisting of sulfamic acid (H 2 NSO 2 OH), and organic additives. Then, a platinum plate is used as an anode for this platinum plating bath, and the platinum plating layer is formed by applying a platinum plating at a bath temperature of 60° C. and a current density of 1 A/dm 2 for about 30 seconds to 15 minutes. If platinum plating with a purity of more than 99% is applied, the plating bath for forming the platinum plating layer is not limited to the above plating bath, and its composition is not particularly limited.

この白金めっき層形成工程により形成される白金めっき層の膜厚は、0.01μm以上0.5μm以下に設定される。白金めっき層の膜厚が0.01μm未満である場合、AgPtの金属間化合物が充分に生成できないことから、適切に銀白金合金層5を形成できず、コネクタ用端子材1の耐熱性及び耐摩耗性が低下する可能性がある。一方、白金めっき膜の膜厚が0.5μmを超えている場合、上記熱処理工程においてAgPtの金属間化合物が生成されるものの、銀白金合金層5中にPt成分が多く残る(Agとの化合物を形成していないPtの銀白金合金層5中の濃度が10質量%を超える)ため、銀白金合金層5内にAgとPtが合金化していないPt未反応層が最表面に形成される。このため、銀白金合金層5の硬度が低下して耐摩耗性が低下するとともに、銀白金合金層5が厚くなることにより耐割れ性が低下して、プレス加工等により割れが生じる可能性がある。 The thickness of the platinum plating layer formed in this platinum plating layer forming step is set to 0.01 μm or more and 0.5 μm or less. When the film thickness of the platinum plating layer is less than 0.01 μm, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated, so that the silver-platinum alloy layer 5 cannot be properly formed, and the heat resistance of the connector terminal material 1 is not achieved. And the abrasion resistance may decrease. On the other hand, when the film thickness of the platinum plating film exceeds 0.5 μm, an intermetallic compound of Ag 3 Pt is generated in the heat treatment step, but a large amount of Pt component remains in the silver-platinum alloy layer 5 (with Ag and Ag). Since the concentration of Pt in the silver-platinum alloy layer 5 that does not form the compound of above exceeds 10% by mass), a Pt unreacted layer in which Ag and Pt are not alloyed is formed on the outermost surface in the silver-platinum alloy layer 5. To be done. For this reason, the hardness of the silver-platinum alloy layer 5 is reduced and the wear resistance is reduced, and the thickening of the silver-platinum alloy layer 5 reduces the crack resistance, which may cause cracks by press working or the like. is there.

[熱処理工程]
そして、銀めっき層及び白金めっき層が形成された基材2を白金めっき層の表面温度が30℃以上80℃以下、1時間以上保持する熱処理を実行する。なお、本実施形態の熱処理では、24時間以下で保持した。これにより、白金めっき層内に銀めっき層のAg成分が拡散して、AgPtの金属間化合物が生成される。この際、白金めっき層の略全てのPtがAgと結合するため、白金めっき層と銀めっき層の一部とが、AgPtの金属間化合物により形成され、Agとの化合物を形成していないPtの濃度が10質量%以下の銀白金合金層5となるとともに、銀めっき層の残りの部分が銀層4となる。
[Heat treatment process]
Then, a heat treatment is performed in which the surface temperature of the platinum plating layer of the base material 2 on which the silver plating layer and the platinum plating layer are formed is maintained at 30° C. or higher and 80° C. or lower for 1 hour or longer. In addition, in the heat treatment of the present embodiment, it was held for 24 hours or less. As a result, the Ag component of the silver plating layer diffuses into the platinum plating layer, and an intermetallic compound of Ag 3 Pt is generated. At this time, since almost all of Pt in the platinum plating layer is bonded to Ag, the platinum plating layer and a part of the silver plating layer are formed by an intermetallic compound of Ag 3 Pt and form a compound with Ag. The silver-platinum alloy layer 5 has a Pt concentration of 10% by mass or less, and the rest of the silver-plated layer becomes the silver layer 4.

なお、熱処理工程において、白金めっき層の表面温度が30℃未満であると、AgPtの金属間化合物を充分に生成できず、80℃を超えると銅又は銅合金からなる基材2からのCu成分の拡散がより進みやすくなるため、適切でない。また、熱処理時間が1時間未満であると、AgPtの金属間化合物が充分に生成できないことから、適切に銀白金合金層を形成できず、24時間を超えると基材2からのCu成分の拡散量が多くなるため、24時間以内で熱処理を終わらせることが望ましい。 In the heat treatment step, if the surface temperature of the platinum plating layer is lower than 30°C, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated, and if it exceeds 80°C, the base material 2 made of copper or copper alloy is This is not suitable because diffusion of the Cu component is more likely to proceed. Further, if the heat treatment time is less than 1 hour, the intermetallic compound of Ag 3 Pt cannot be sufficiently generated, so that the silver-platinum alloy layer cannot be properly formed, and if it exceeds 24 hours, the Cu component from the base material 2 is not formed. Therefore, it is desirable to complete the heat treatment within 24 hours because the amount of diffusion of H.

このようにして基材2の表面にニッケル層3、銀層4及び銀白金合金層5が形成されたコネクタ用端子材1が形成される。そして、コネクタ用端子材1に対してプレス加工等を施すことにより、接点部分に銀白金合金層5が位置するコネクタ用端子が形成される。 In this way, the connector terminal material 1 in which the nickel layer 3, the silver layer 4, and the silver-platinum alloy layer 5 are formed on the surface of the base material 2 is formed. Then, the connector terminal material 1 is subjected to press working or the like to form the connector terminal in which the silver-platinum alloy layer 5 is located at the contact portion.

本実施形態のコネクタ用端子材1は、基材2の最表面に形成された銀白金合金層5がAgPtの金属間化合物により形成されているので、銀白金合金層5の硬度を高め、耐摩耗性を向上できる。また、銀白金合金層5が銀めっき層のAgと同様に酸化物を生成しにくい貴なPtを含むAgPtの金属間化合物により形成されているので、銀白金合金層5の酸化を抑制することで、高温環境でも接触抵抗の増大が抑制され、耐熱性を向上できる。さらに、このコネクタ用端子材1をコネクタ用端子として用いる際に、該コネクタ用端子の接点部分の表面を銀白金合金層5とすることにより、凝着摩耗の発生を抑制でき、耐摩耗性を向上できる。また、基材の最表面にのみ銀白金合金層を形成し、AgPtの金属間化合物の膜厚を0.04μm以上1.9μm以下と薄くすることで耐割れ性を向上して、プレス加工等により割れることを抑制している。さらに、銀層4がニッケル層3上に形成されているので、銀層4が基材から剥離することを抑制できる。すなわち、コネクタ用端子材1及びこれを用いたコネクタ用端子の耐熱性を向上できる。また、銀層4の一部、すなわち、コネクタ用端子の接点部分にのみ銀白金合金層5が形成される構成であるため、銀層4の全面に銀白金合金層5が形成されている場合に比べて、コネクタ用端子の製造コストを低減できる。 In the connector terminal material 1 of the present embodiment, since the silver-platinum alloy layer 5 formed on the outermost surface of the base material 2 is formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt, the hardness of the silver-platinum alloy layer 5 is increased. The wear resistance can be improved. In addition, since the silver-platinum alloy layer 5 is formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt containing noble Pt which hardly forms an oxide like Ag of the silver-plated layer, it suppresses the oxidation of the silver-platinum alloy layer 5. By doing so, the increase in contact resistance is suppressed even in a high temperature environment, and heat resistance can be improved. Further, when the connector terminal material 1 is used as a connector terminal, the surface of the contact portion of the connector terminal is formed of the silver-platinum alloy layer 5, so that the occurrence of adhesive wear can be suppressed and the wear resistance can be improved. Can be improved. Further, a silver-platinum alloy layer is formed only on the outermost surface of the base material, and the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt is reduced to 0.04 μm or more and 1.9 μm or less to improve crack resistance, It suppresses cracking due to processing. Furthermore, since the silver layer 4 is formed on the nickel layer 3, it is possible to prevent the silver layer 4 from peeling from the base material. That is, the heat resistance of the connector terminal material 1 and the connector terminal using the same can be improved. When the silver-platinum alloy layer 5 is formed on the entire surface of the silver layer 4 because the silver-platinum alloy layer 5 is formed only on a part of the silver layer 4, that is, the contact portion of the connector terminal. Compared with, the manufacturing cost of the connector terminal can be reduced.

本実施形態のコネクタ用端子材1の製造方法では、基材2の表面に銀めっき層を形成した後、白金めっき層を形成し、所定の熱処理を行うことで、基材2の最表面に耐摩耗性、耐熱性及び耐割れ性の高い銀白金合金層5を形成したコネクタ用端子材1を製造できる。 In the method of manufacturing the connector terminal material 1 of the present embodiment, after the silver plating layer is formed on the surface of the base material 2, the platinum plating layer is formed and a predetermined heat treatment is performed, so that the outermost surface of the base material 2 is formed. It is possible to manufacture the connector terminal material 1 on which the silver-platinum alloy layer 5 having high wear resistance, heat resistance, and crack resistance is formed.

その他、細部構成は実施形態の構成のものに限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。例えば、上記実施形態では、基材2と銀層4との間にニッケル層3が設けられていることとしたが、これに限らず、ニッケル層3は含まれていなくてもよい。すなわち、基材2上に直接銀層4が形成されてもよく、この場合、ニッケル層形成工程及び銀ストライクめっき工程を行わなくてもよい。 Besides, the detailed configuration is not limited to the configuration of the embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, in the above embodiment, the nickel layer 3 is provided between the base material 2 and the silver layer 4, but the present invention is not limited to this, and the nickel layer 3 may not be included. That is, the silver layer 4 may be directly formed on the base material 2, and in this case, the nickel layer forming step and the silver strike plating step may not be performed.

また、上記実施形態では、銀層4の一部に銀白金合金層5が形成されていることとしたが、これに限らず、例えば、銀層4の上面の全域に銀白金合金層5が形成されていてもよい。また、ニッケル層3、銀層4及び銀白金合金層5からなる皮膜は、基材2の表面の一部のみに形成されていてもよい。 Further, in the above-described embodiment, the silver-platinum alloy layer 5 is formed on a part of the silver layer 4, but the present invention is not limited to this. For example, the silver-platinum alloy layer 5 is formed on the entire upper surface of the silver layer 4. It may be formed. Further, the coating film composed of the nickel layer 3, the silver layer 4, and the silver-platinum alloy layer 5 may be formed only on a part of the surface of the base material 2.

[第1実施例]
実施例1〜6及び比較例1〜5の各試料を以下の方法により製造した。実施例1〜6については、銅合金板からなる厚さ0.3mmの基材を用意し、この基材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄する前処理を行った後、基材の表面の一部に対して、ニッケルめっきを施して表1に示す膜厚のニッケルめっき層を基材に形成した。そして、5質量%の水酸化カリウム水溶液を用いてニッケルめっき表面を清浄化する活性化処理を行った。この活性化処理後に、ニッケルめっき層が被覆された基材に対して、銀ストライクめっきを施し、銀ストライクめっき層を形成した。
[First embodiment]
Each sample of Examples 1-6 and Comparative Examples 1-5 was manufactured by the following method. For Examples 1 to 6, a base material made of a copper alloy plate and having a thickness of 0.3 mm was prepared, and the base material was pretreated by degreasing, pickling, or the like to clean the surface. A part of the surface of the material was nickel-plated to form a nickel-plated layer having a film thickness shown in Table 1 on the substrate. Then, an activation treatment for cleaning the nickel plating surface was performed using a 5 mass% potassium hydroxide aqueous solution. After this activation treatment, the base material coated with the nickel plating layer was subjected to silver strike plating to form a silver strike plating layer.

そして、銀ストライクめっき層上に銀めっきを3分施すことにより膜厚3μmの銀めっき層を形成した。そして、表1のPtめっき厚予想値となるようにめっき時間を調整して、白金めっきを施し、白金めっき層を形成した。銀めっき層及び白金めっき層が形成された基板を白金めっき層の表面温度が40℃で2時間保持した。このようにして表1に示す膜厚のAgPtの金属間化合物により形成されている銀白金合金層を形成して、実施例1〜6の試料とした。 Then, a silver plating layer having a film thickness of 3 μm was formed by applying silver plating for 3 minutes on the silver strike plating layer. Then, the plating time was adjusted so that the Pt plating thickness expected value in Table 1 was obtained, and platinum plating was performed to form a platinum plating layer. The substrate on which the silver plating layer and the platinum plating layer were formed was held at the surface temperature of the platinum plating layer of 40° C. for 2 hours. In this way, a silver-platinum alloy layer formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt having a film thickness shown in Table 1 was formed to obtain samples of Examples 1 to 6.

なお、各めっきの条件は以下のとおりとした。
<ニッケルめっき条件>
・めっき浴組成
スルファミン酸ニッケル300g/L
塩化ニッケル30g/L
ホウ酸30g/L
・浴温45°
・電流密度3A/dm
The conditions of each plating were as follows.
<Nickel plating conditions>
・Plating bath composition Nickel sulfamate 300g/L
Nickel chloride 30g/L
Boric acid 30g/L
・Bath temperature 45°
・Current density 3A/dm 2

<銀ストライクめっき条件>
・めっき浴組成
シアン化銀2g/L、
シアン化カリウム100g/L
・アノード
ステンレス鋼板(SUS316)
・浴温25℃
・電流密度1A/dm
<Silver strike plating conditions>
・Plating bath composition Silver cyanide 2 g/L,
Potassium cyanide 100g/L
・Anode stainless steel plate (SUS316)
・Bath temperature 25℃
・Current density 1 A/dm 2

<銀めっき条件>
・めっき浴組成
シアン化銀40g/L
シアン化カリウム140g/L
炭酸カリウム15g/L
添加剤4ml/L
・アノード
純銀板
・浴温25℃
・電流密度2A/dm
<Silver plating conditions>
・Plating bath composition Silver cyanide 40g/L
Potassium cyanide 140g/L
Potassium carbonate 15g/L
Additive 4ml/L
・Anode pure silver plate・Bath temperature 25℃
・Current density 2A/dm 2

<白金めっき条件>
・めっき浴組成
白金濃度8g/L
硫酸20g/L
ジアンミンジニトロ白金10g/L
スルファミン酸
・pH1
・アノード
白金板
・浴温60℃
・電流密度1A/dm
<Platinum plating conditions>
・Plating bath composition Platinum concentration 8g/L
Sulfuric acid 20 g/L
Diammine dinitroplatinum 10g/L
Sulfamic acid, pH 1
・Anode platinum plate・Bath temperature 60℃
・Current density 1 A/dm 2

また、比較例1及び3については、上記実施例1〜6と同様の方法により、表1に示す膜厚のAgPtの金属間化合物により形成されている銀白金合金層を形成した。この比較例1については、Ptめっき厚予想値を1μmとした。また、比較例3の試料は、Ptめっき厚予想値を0.005μmと薄くしたため、AgPtの金属間化合物が生成されず、最表層が銀層となった。一方、比較例5の試料については、上記比較例1と同様の方法でPtめっき厚予想値を1μmとしたが、Ptめっき厚予想値が1μmと厚く、銀白金合金層内にPt成分が多く含まれていることから、この試料を150℃で240時間加熱することにより、銀白金合金層内のPt成分をAgPtの金属間化合物化させた。 Further, in Comparative Examples 1 and 3, the silver-platinum alloy layer formed of the intermetallic compound of Ag 3 Pt having the film thickness shown in Table 1 was formed by the same method as in Examples 1 to 6 above. In Comparative Example 1, the predicted Pt plating thickness was set to 1 μm. Further, in the sample of Comparative Example 3, the expected Pt plating thickness was thinned to 0.005 μm, so that no intermetallic compound of Ag 3 Pt was generated and the outermost layer was a silver layer. On the other hand, for the sample of Comparative Example 5, the Pt plating thickness expected value was set to 1 μm by the same method as in Comparative Example 1 above, but the Pt plating thickness expected value was as large as 1 μm, and the Pt component was large in the silver-platinum alloy layer. Since it is contained, the Pt component in the silver-platinum alloy layer was made into an intermetallic compound of Ag 3 Pt by heating this sample at 150° C. for 240 hours.

また、比較例2の試料は、実施例1〜6と同様に基材の表面にニッケルめっき及び銀ストライクめっきを実施後、日進化成株式会社製のアンチモンが添加されたニッシンブライトN浴を用いて、光沢銀めっきを実行した。めっき浴の組成は、標準組成を用い、浴温25℃、電流密度1A/dmとし、アノードとして純銀板を用い、銀合金層(AgSb層)を形成して、比較例2の試料とした。 In addition, the sample of Comparative Example 2 uses a Nisshin Bright N bath to which antimony made by Nikkosei Co., Ltd. was added after performing nickel plating and silver strike plating on the surface of the base material as in Examples 1 to 6. Then, bright silver plating was performed. The composition of the plating bath was the standard composition, the bath temperature was 25° C., the current density was 1 A/dm 2 , the pure silver plate was used as the anode, the silver alloy layer (AgSb layer) was formed, and the sample of Comparative Example 2 was obtained. ..

また、比較例4の試料については、実施例1〜6と同様に基材の表面にニッケルめっき及び銀ストライクめっきを実施後、実施例1〜6と同様の銀めっきを実施して膜厚3μmの銀層を形成し、白金めっきは施さなかった。すなわち、比較例4の試料は、最表面が銀層により形成されたものとした。
そして、これらの実施例1〜6及び比較例1〜5について、各種評価を行った。
Further, for the sample of Comparative Example 4, nickel plating and silver strike plating were performed on the surface of the base material in the same manner as in Examples 1 to 6 and then silver plating was performed in the same manner as in Examples 1 to 6 to obtain a film thickness of 3 μm. Of the silver layer was formed and no platinum plating was applied. That is, in the sample of Comparative Example 4, the outermost surface was formed of the silver layer.
And various evaluation was performed about these Examples 1-6 and Comparative Examples 1-5.

[Ptめっき厚予想値]
なお、Ptめっき厚予想値とは、銅合金板上に置換防止のためのストライク金めっきを行った後、上記実施例1〜6、比較例1及び3の製造方法と同様の方法で、白金めっきを所定時間行った。そのサンプルを蛍光X線膜厚計で分析して、白金めっき層の膜厚を得た。この得られた白金めっき層の膜厚とめっき時間から、下記式(1)を用いてめっきの析出速度を算出し、実施例1〜6及び比較例1及び3の各試料が表1に示すPtめっき厚予想値の値になるようにめっき時間を調整して白金めっきを行った。なお、表1におけるPtめっき厚予想値は、本発明における白金めっき層の膜厚に相当する。
式(1)…析出速度(μm/min)=白金めっき層の膜厚(μm)÷めっき時間(min)
[Estimated Pt plating thickness]
In addition, the Pt plating thickness expected value is a method similar to the manufacturing methods of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 3 described above after performing strike gold plating on a copper alloy plate to prevent displacement. The plating was performed for a predetermined time. The sample was analyzed with a fluorescent X-ray film thickness meter to obtain the film thickness of the platinum plating layer. From the obtained film thickness of the platinum plating layer and the plating time, the deposition rate of plating was calculated using the following formula (1), and the samples of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 3 are shown in Table 1. Platinum plating was performed by adjusting the plating time so that the Pt plating thickness would be the expected value. The predicted Pt plating thickness in Table 1 corresponds to the thickness of the platinum plating layer in the present invention.
Formula (1)... Deposition rate (μm/min)=platinum plating layer thickness (μm)÷plating time (min)

[AgPtの有無]
AgPtの金属間化合物については、X線回析装置(Malvern Panalytical社製のEmpyrean)を用いて、45kV、40mA、走査範囲は2θ:30〜100°でXRD測定を行い、得られたピークからAgPtが生成されているか否か、及び白金が残存しているか否かを確認した。これにより、AgPtが生成されているものについては、表1に「有」と示し、AgPtが生成されていないものについては、表1に「無」と示した。
[Presence or absence of Ag 3 Pt]
Regarding the intermetallic compound of Ag 3 Pt, XRD measurement was performed at 45 kV, 40 mA and a scanning range of 2θ:30 to 100° by using an X-ray diffractometer (Empyrean manufactured by Malvern Panoramic Co., Ltd.), and the obtained peak was obtained. From the results, it was confirmed whether Ag 3 Pt was produced and whether platinum remained. Thus, for those Ag 3 Pt is generated, in Table 1 indicated as "Yes", for those Ag 3 Pt is not generated, indicated by "none" in Table 1.

[Agとの化合物を形成していないPtの濃度]
Ptの濃度については、X線回析装置(Malvern Panalytical社製のEmpyrean)を用いて、45kV、40mA、走査範囲は2θ:30〜100°でXRD測定を行い、得られたピークからPtが残存しているか否かを確認した。これにより、Ptが残存していないものについては、表1に「0.0」と示し、Ptが残存しているものについては、以下に示す方法でその濃度を算出し、表1に示した。具体的には、セイコーインスツル株式会社製の集束イオンビーム装置:FIB(型番:SMI3050TB)を用いて断面加工を行い、傾斜角60°の断面SIM(Scanning Ion Microscopy)像からAgとPtが合金化していないPt未反応層の任意の3箇所の膜厚を測長し、その算術平均を求めた後、実際の長さに変換することにより、Pt未反応層の厚さとした。そして、下記式(2)を用いてAgとの化合物を形成していない銀白金合金層中のPtの濃度を算出した。
式(2)Ptの濃度=Pt未反応層の厚さ÷(白金めっき層の膜厚+銀めっき層の膜厚)
なお、上記式(2)における白金めっき層の膜厚及び銀めっき層の膜厚は、それぞれ熱処理前(熱処理反応前)の厚さである。
[Concentration of Pt not forming a compound with Ag]
Regarding the concentration of Pt, XRD measurement was performed using an X-ray diffractometer (Empyrean manufactured by Malvern Panoramic Co., Ltd.) at 45 kV, 40 mA, and a scanning range of 2θ:30 to 100°, and Pt remained from the obtained peak. I confirmed whether or not. As a result, in the case where Pt does not remain, it is shown as "0.0" in Table 1, and in the case where Pt remains, its concentration was calculated by the method shown below and shown in Table 1. .. Specifically, a focused ion beam device: FIB (model number: SMI3050TB) manufactured by Seiko Instruments Inc. is used to perform cross-section processing, and Ag and Pt are alloyed from a cross-section SIM (Scanning Ion Microscopy) image with an inclination angle of 60°. The thickness of the unreacted Pt unreacted layer was measured at three arbitrary positions, the arithmetic mean thereof was calculated, and then converted to the actual length to obtain the Pt unreacted layer thickness. Then, the concentration of Pt in the silver-platinum alloy layer that did not form a compound with Ag was calculated using the following formula (2).
Formula (2) Pt concentration=Pt unreacted layer thickness/(platinum plated layer thickness+silver plated layer thickness)
The film thickness of the platinum plating layer and the film thickness of the silver plating layer in the above formula (2) are the thicknesses before the heat treatment (before the heat treatment reaction).

[AgPt厚]
X線回析装置により白金のピークが見られなかった試料については、白金めっきが全てAgPtからなる銀白金合金層となっているものと見なした。そして、セイコーインスツル株式会社製の集束イオンビーム装置:FIB(型番:SMI3050TB)を用いて断面加工を行い、その断面SIM像からAgPt厚を測定し、表1に示した。一方、X線回析装置により白金のピークが見られた試料については、白金めっきがAgPt層の上に残存していた。そして、上記集束イオンビーム装置を用いて断面加工を行い、その断面をアルバック・ファイ社製のオージェ電子分光装置:AES(型番PHI700xi、PHI670)を用いて加速電圧10kV、照射電流5nAで組成マッピングを行い、AgとPtのat%割合が3:1になる層をAgPt層と見なしてAgPt厚の測定を行った。
[Ag 3 Pt thickness]
Regarding the sample in which the platinum peak was not observed by the X-ray diffraction apparatus, it was considered that the platinum plating was the silver-platinum alloy layer made of Ag 3 Pt. Then, cross-section processing was performed using a focused ion beam device: FIB (model number: SMI3050TB) manufactured by Seiko Instruments Inc., and Ag 3 Pt thickness was measured from the cross-section SIM image, and shown in Table 1. On the other hand, regarding the sample in which the peak of platinum was observed by the X-ray diffraction apparatus, the platinum plating remained on the Ag 3 Pt layer. Then, a cross section is processed using the focused ion beam device, and the cross section is subjected to composition mapping using an Auger electron spectroscope AES (model number PHI700xi, PHI670) manufactured by ULVAC-PHI at an acceleration voltage of 10 kV and an irradiation current of 5 nA. Then, the layer in which the at% ratio of Ag and Pt was 3:1 was regarded as the Ag 3 Pt layer, and the Ag 3 Pt thickness was measured.

[ビッカース硬さ]
加熱前(初期)の各試料及び150℃で96時間加熱後の各試料のそれぞれについて、マイクロビッカース硬さ試験機HMマイナス200(株式会社ミツトヨ製)を用いて、荷重0.005Nの条件下で10回ずつビッカース硬さを測定した。
[Vickers hardness]
Using a micro Vickers hardness tester HM-200 (manufactured by Mitutoyo Corporation) for each sample before heating (initial) and each sample after heating at 150° C. for 96 hours, under a load of 0.005 N The Vickers hardness was measured 10 times each.

[硬さ低下量]
硬さ低下量は、加熱前(初期)のビッカース硬さの値から150℃で96時間加熱後のビッカース硬さの値を引くことにより算出した。なお、比較例1では、ビッカース硬さが49Hv上昇したため、表1において「−49」と示した。
[Hardness reduction amount]
The hardness decrease amount was calculated by subtracting the value of Vickers hardness after heating at 150° C. for 96 hours from the value of Vickers hardness before (initial) heating. In Comparative Example 1, since the Vickers hardness increased by 49 Hv, it was shown as “−49” in Table 1.

[曲げ試験]
加熱前の各試料から試験片を幅10mmの短冊に銀白金合金層と銀層との面積が1:1になるように切り出し、銀白金合金層と銀層の境界が、曲げ部となるように、曲げ半径1.5mmの120°曲げを実施し後、曲げ戻しを行った。試料の曲げ外周部表面を光学顕微鏡(倍率50倍)で観察し、異常の有無を調べた。なお、基材の板厚は上述したように0.3mmとした。曲げ戻し部に剥離または亀裂または割れなど、平板状態と異なる状態が見られた場合を不良「B」、異常が見られなかった場合を良好「A」と評価した。
[Bending test]
A test piece was cut out from each sample before heating into a strip having a width of 10 mm so that the area between the silver-platinum alloy layer and the silver layer was 1:1 so that the boundary between the silver-platinum alloy layer and the silver layer became a bent portion. Then, after performing 120° bending with a bending radius of 1.5 mm, bending back was performed. The surface of the bent outer peripheral portion of the sample was observed with an optical microscope (magnification: 50 times) to examine whether there was any abnormality. The plate thickness of the base material was 0.3 mm as described above. The case where a state different from the flat plate state, such as peeling, cracking, or cracking, was observed in the bent back portion was evaluated as bad “B”, and the case where no abnormality was observed was evaluated as good “A”.

[接触抵抗]
加熱前の各試料及び150℃で240時間加熱後の各試料のそれぞれを60mm×10mmの試験片に切り出し、平板サンプルをオス端子の代用とし、この平板サンプルに曲率半径1.0mmの凸加工を行ったサンプルをメス端子の代用とした。摺動試験は、ブルカー・エイエックスエス株式会社の摩擦摩耗試験機(UMT−Tribolab)を用い、水平に設置したオス端子試験片にメス試験片の凸面を接触させ、オス端子試験片を荷重負荷速度1/15N/secで、0Nから2Nまで荷重をかけた時の接触抵抗値を測定した。なお、比較例5の試料については、比較例1の試料を150℃で240時間加熱したものであるため、初期の接触抵抗値のみを測定した。
[Contact resistance]
Each sample before heating and each sample after heating at 150° C. for 240 hours were cut into a test piece of 60 mm×10 mm, the flat plate sample was used as a substitute for the male terminal, and the flat plate sample was subjected to convex processing with a curvature radius of 1.0 mm. The sample obtained was used as a substitute for the female terminal. For the sliding test, a frictional wear tester (UMT-Tribolab) manufactured by Bruker AXS Co., Ltd. is used, and the convex surface of the female test piece is brought into contact with the horizontally mounted male terminal test piece, and the male terminal test piece is loaded. The contact resistance value when a load was applied from 0 N to 2 N at a speed of 1/15 N/sec was measured. Since the sample of Comparative Example 5 was obtained by heating the sample of Comparative Example 1 at 150° C. for 240 hours, only the initial contact resistance value was measured.

表1及び表2から明らかなように、実施例1〜6では、銀白金合金層は、AgPtの金属間化合物により形成され、Agとの化合物を形成していないPtの濃度が10質量%以下であるため、初期のビッカース硬さが125HV以上であり、96時間加熱後の低下量も15HV以下と小さく、96時間加熱後のビッカース硬さが120HV以上であったため、耐摩耗性が高いことが示された。また、実施例1〜6では、AgPtの金属間化合物の膜厚が0.04μm以上1.9μm以下と薄いことから、曲げ試験の結果も良好「A」であったため、耐割れ性が高いことが示された。さらに、実施例1〜6では、接触抵抗値が初期及び150℃で240時間加熱後のいずれの場合においても最大で0.4mΩ以下と小さく、耐熱性が高いことが示された。なお、図2は、150℃で240時間加熱前の実施例1のSIM像である。図2に示すように、銀層(Ag)上にAgPtの金属間化合物により形成されている銀白金合金層が形成されていることがわかる。 As is clear from Table 1 and Table 2, in Examples 1 to 6, the silver-platinum alloy layer was formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt, and the concentration of Pt not forming a compound with Ag was 10 mass. %, the initial Vickers hardness is 125 HV or more, the decrease amount after heating for 96 hours is as small as 15 HV or less, and the Vickers hardness after heating for 96 hours is 120 HV or more, so the wear resistance is high. Was shown. Further, in Examples 1 to 6, since the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt was as thin as 0.04 μm or more and 1.9 μm or less, the result of the bending test was also good “A”, and therefore the crack resistance was high. It was shown to be high. Furthermore, in Examples 1 to 6, the contact resistance value was as small as 0.4 mΩ or less at the maximum both in the initial case and after heating at 150° C. for 240 hours, and it was shown that the heat resistance was high. Note that FIG. 2 is a SIM image of Example 1 before heating at 150° C. for 240 hours. As shown in FIG. 2, it can be seen that the silver-platinum alloy layer formed of the intermetallic compound of Ag 3 Pt is formed on the silver layer (Ag).

一方、比較例1では、白金めっき層の膜厚(Ptめっき厚予想値)が1μmと大きいため、Agとの化合物を形成していないPtの銀白金合金層中の濃度が13質量%と高く(10質量%を超えている)、初期のビッカース硬さが106HVと低かった。これは150℃で96時間加熱後のビッカース硬さが155HVであることからも明らかである。また、比較例5の試料は、比較例1の試料を150℃で240時間加熱しているものであることから、初期のビッカース硬さが188HVと高いものの、銀白金合金層が3.9μmと厚すぎたため、曲げ試験の評価が不良「B」となった。さらに、比較例3では、白金めっき層の膜厚(Ptめっき膜予想値)が0.005μmと薄すぎたことから、銀めっき層と間でAgPtの金属間化合物が生成されなかったので、最表層が銀層となった。このため、ビッカース硬さの低下量が37HVと大きかった。これは、最表層が銀層からなる比較例4においても同様である。また、比較例2の試料は、最表層がアンチモンを添加した銀合金層(AgSb)により構成されているため、初期のビッカース硬さが195HVと高いものの、銀合金層が硬すぎたため、曲げ試験の評価が不良「B」となり、かつ、240時間加熱後の接触抵抗も20mΩを超えており、耐割れ性及び耐熱性が低い結果となった。 On the other hand, in Comparative Example 1, the thickness of the platinum plating layer (Pt plating thickness expected value) is as large as 1 μm, so the concentration of Pt not forming the compound with Ag is as high as 13% by mass. (Exceeding 10% by mass), the initial Vickers hardness was as low as 106 HV. This is also clear from the fact that the Vickers hardness after heating at 150° C. for 96 hours is 155 HV. Further, since the sample of Comparative Example 5 was obtained by heating the sample of Comparative Example 1 at 150° C. for 240 hours, the initial Vickers hardness was as high as 188 HV, but the silver-platinum alloy layer was 3.9 μm. Since it was too thick, the bending test was evaluated as "B". Furthermore, in Comparative Example 3, the film thickness of the platinum plating layer (the predicted value of the Pt plating film) was too thin as 0.005 μm, so that no intermetallic compound of Ag 3 Pt was formed between the platinum plating layer and the silver plating layer. , The outermost layer became a silver layer. Therefore, the decrease in Vickers hardness was as large as 37 HV. This also applies to Comparative Example 4 in which the outermost layer is a silver layer. Further, in the sample of Comparative Example 2, since the outermost surface layer was composed of the silver alloy layer (AgSb) to which antimony was added, the initial Vickers hardness was as high as 195 HV, but the silver alloy layer was too hard. Was evaluated as poor "B", and the contact resistance after heating for 240 hours exceeded 20 mΩ, resulting in low crack resistance and heat resistance.

[第2実施例]
実施例7〜9及び比較例6の各試料を以下の方法により製造した。実施例7〜9については、銅合金板からなる厚さ0.3mmの基材を用意し、この基材に脱脂、酸洗等をすることによって表面を清浄する前処理を行った後、銀ストライクめっきを施し、銀ストライクめっき層を形成した。
[Second Embodiment]
Each sample of Examples 7 to 9 and Comparative Example 6 was manufactured by the following method. For Examples 7 to 9, a base material made of a copper alloy plate and having a thickness of 0.3 mm was prepared, and the base material was subjected to degreasing, pickling, and the like for pretreatment to clean the surface, and then silver. Strike plating was applied to form a silver strike plating layer.

そして、銀ストライクめっき層上に銀めっきを3分施すことにより膜厚3μmの銀めっき層を形成した。そして、表3のPtめっき厚予想値となるようにめっき時間を調整して、白金めっきを施し、白金めっき層を形成した。銀めっき層及び白金めっき層が形成された基板を白金めっき層の表面温度が40℃で2時間保持した。このようにして表3に示す膜厚のAgPtの金属間化合物により形成されている銀白金合金層を形成して、実施例7〜9の試料とした。なお、各めっきの条件は、第1実施例と同じとした。 Then, a silver plating layer having a film thickness of 3 μm was formed by applying silver plating for 3 minutes on the silver strike plating layer. Then, the plating time was adjusted so as to reach the Pt plating thickness expected value in Table 3, and platinum plating was performed to form a platinum plating layer. The substrate on which the silver plating layer and the platinum plating layer were formed was held at the surface temperature of the platinum plating layer of 40° C. for 2 hours. In this way, a silver-platinum alloy layer formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt having a film thickness shown in Table 3 was formed to obtain samples of Examples 7 to 9. The conditions of each plating were the same as in the first embodiment.

また、比較例6については、実施例7〜9と同様に基材の表面に銀ストライクめっきを実施後、実施例6〜8と同様の銀めっきを実施して膜厚3μmの銀層を形成し、白金めっきは施さなかった。すなわち、比較例6の試料は、最表面が銀層により形成されたものとした。
そして、これらの実施例7〜9及び比較例6について各種評価を行った。
Further, in Comparative Example 6, silver strike plating was performed on the surface of the base material in the same manner as in Examples 7 to 9 and then silver plating was performed in the same manner as in Examples 6 to 8 to form a silver layer having a thickness of 3 μm. However, no platinum plating was applied. That is, in the sample of Comparative Example 6, the outermost surface was formed of the silver layer.
And various evaluation was performed about these Examples 7-9 and the comparative example 6.

表3及び表4から明らかなように、実施例7〜9では、銀白金合金層は、AgPtの金属間化合物により形成され、白金が存在していない(Agとの化合物を形成していないPtの濃度が10質量%以下)ため、初期のビッカース硬さが127HV以上であり、96時間加熱後の低下量も9HV以下と小さく、96時間加熱後のビッカース硬さが123HV以上であったため、耐摩耗性が高いことが示された。また、実施例7〜9では、AgPtの金属間化合物の膜厚が0.04μm以上1.9μm以下と薄いことから、曲げ試験の結果も良好「A」であったため、耐割れ性が高いことが示された。さらに、実施例7〜9では、接触抵抗値が初期及び150℃で240時間加熱後のいずれの場合においても最大で0.5mΩ以下と小さく、耐熱性が高いことが示された。すなわち、ニッケル層を備えず、基材に直接銀白金合金層が形成されている場合でも、耐摩耗性、耐熱性及び耐割れ性を向上できることがわかった。
一方、比較例6では、最表層が銀層により構成されていたため、ビッカース硬さの低下量が33HVと大きく、耐摩耗性が低い結果となった。
As is clear from Tables 3 and 4, in Examples 7 to 9, the silver-platinum alloy layer was formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt, and platinum was not present (a compound with Ag was formed). The initial Vickers hardness is 127 HV or higher, the decrease amount after heating for 96 hours is as low as 9 HV or less, and the Vickers hardness after heating for 96 hours is 123 HV or higher because the Pt concentration is not more than 10% by mass. It was shown that the wear resistance was high. Moreover, in Examples 7 to 9, since the film thickness of the intermetallic compound of Ag 3 Pt was as thin as 0.04 μm or more and 1.9 μm or less, the result of the bending test was also good “A”, and therefore the crack resistance was high. It was shown to be high. Further, in Examples 7 to 9, the contact resistance value was as small as 0.5 mΩ or less at the maximum both in the initial case and after heating at 150° C. for 240 hours, and it was shown that the heat resistance was high. That is, it was found that even when the silver-platinum alloy layer was formed directly on the substrate without the nickel layer, the wear resistance, heat resistance and crack resistance could be improved.
On the other hand, in Comparative Example 6, since the outermost layer was composed of the silver layer, the amount of decrease in Vickers hardness was as large as 33 HV, resulting in low wear resistance.

1 コネクタ用端子材
2 基材
3 ニッケル層
4 銀層
5 銀白金合金層
1 Connector Terminal Material 2 Base Material 3 Nickel Layer 4 Silver Layer 5 Silver Platinum Alloy Layer

Claims (4)

少なくとも表層が銅又は銅合金からなる基材と、該基材の表面の少なくとも一部に被覆された銀を主成分とする銀層と、該銀層の少なくとも一部に被覆された銀白金合金からなる銀白金合金層と、を備え、
前記銀白金合金層は、少なくとも一部がAgPtの金属間化合物により形成され、Agとの化合物を形成していないPtの濃度が10質量%以下であり、かつ、AgPtの金属間化合物膜厚が0.04μm以上1.9μm以下であることを特徴とするコネクタ用端子材。
A base material having at least a surface layer made of copper or a copper alloy, a silver layer containing silver as a main component coated on at least a part of the surface of the base material, and a silver-platinum alloy coated on at least a part of the silver layer. And a silver-platinum alloy layer consisting of
At least a part of the silver-platinum alloy layer is formed of an intermetallic compound of Ag 3 Pt, the concentration of Pt not forming a compound with Ag is 10% by mass or less, and the intermetallic compound of Ag 3 Pt is A terminal material for a connector, wherein the compound film thickness is 0.04 μm or more and 1.9 μm or less.
前記基材と前記銀層との間には、ニッケル又はニッケル合金からなるニッケル層が設けられ、該ニッケル層の膜厚は0.5μm以上5μm以下であることを特徴とする請求項1に記載のコネクタ用端子材。 The nickel layer made of nickel or a nickel alloy is provided between the base material and the silver layer, and the thickness of the nickel layer is 0.5 μm or more and 5 μm or less. Connector terminal material. 請求項1又は2に記載のコネクタ用端子材からなるコネクタ用端子であって、接点部分の表面に前記銀白金合金層が位置していることを特徴とするコネクタ用端子。 It is a connector terminal which consists of the connector terminal material of Claim 1 or 2, Comprising: The said silver platinum alloy layer is located in the surface of a contact part, The connector terminal characterized by the above-mentioned. 請求項1に記載のコネクタ用端子材の製造方法であって、少なくとも表層が銅及び銅合金からなる基材の表面の少なくとも一部に銀めっきを施して膜厚1μm以上50μm以下の銀めっき層を形成した後、該銀めっき層の少なくとも一部に白金めっきを施して膜厚0.01μm以上0.5μm以下の白金めっき層を形成し、該白金めっき層の表面温度が30℃以上80℃以下の温度で1時間以上保持することを特徴とするコネクタ用端子材の製造方法。 It is a manufacturing method of the terminal material for connectors of Claim 1, Comprising: At least one part of the surface of the base material whose surface layer consists of copper and a copper alloy is silver-plated, and a silver plating layer with a film thickness of 1 micrometer or more and 50 micrometers or less. And then at least a part of the silver-plated layer is plated with platinum to form a platinum-plated layer having a film thickness of 0.01 μm or more and 0.5 μm or less, and the surface temperature of the platinum-plated layer is 30° C. or more and 80° C. A method for manufacturing a terminal material for a connector, which is characterized by holding at the following temperature for 1 hour or more.
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