JP2020127056A - 発光装置 - Google Patents
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Description
前記光反射面で反射された放射光が照射される光照射面を有し、前記光照射面に前記放射光が照射されることにより蛍光を発する蛍光部と、を備える。この発光装置において、前記光反射面における前記放射光が照射される領域は、前記楕円形状のファーフィールドパターンを長手方向に3に分けた領域として、一端に位置する領域に対応する第1領域と、他端に位置する領域に対応する第2領域と、前記第1領域と前記第2領域との間に位置する第3領域と、を有し、前記第1領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第1領域で反射された放射光が、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第1領域又は前記第2領域の一方に近い側で反射された放射光と重なるように設けられており、前記第2領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第2領域で反射された放射光が、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第1領域又は前記第2領域の他方に近い側で反射された放射光と重なるように設けられている。
図1に第1実施形態に係る発光装置200の斜視図を示し、図2に発光装置200の上面図を示し、図3に図2のIII−IIIにおける断面図を示す。また、図4は発光装置200における光反射部20である光学素子20の斜視図である。さらに、図5は発光装置200において、半導体レーザ素子10から放射された放射光が光反射面21で反射されて蛍光部30の光照射面に照射されるまでの放射光の動きを説明するための図である。
)の放射光は、LD素子10の光出射面と平行な面において、活性層を含む複数の半導体層の積層方向の長さがそれに垂直な方向の長さよりも長い、楕円形状のFFPを有する。
ここでいうFFPとは、LD素子10の光出射面とからある程度離れており且つ光出射面と平行な面において放射光の光強度分布を測定したものであり、例えば、ピーク強度値から1/e2等の任意の強度に落ちたときの強度における形状として特定される。このとき、放射光は、楕円形における中心部の強度が楕円形における中心部から遠い部分の強度よりも高い。従来の発光装置は、例えば、LD素子から放射された放射光を45度傾斜させた光反射面で反射させて蛍光部の光照射面に照射している。この場合、FFPの光強度分布が維持されたまま蛍光部の光照射面に照射される。このことは、図6及び図7に示す、従来の発光装置における光照射面の光強度分布をシミュレーションして測定した結果からも明らかである。図7は、図6のVII−VIIを結ぶ直線における光強度分布を示す図であるが、中心部における光強度が端部における光強度よりも明らかに高くなっている。この光が蛍光部に照射されると、光強度の高い領域における蛍光部の発熱量が周囲の発熱量に比べて多くなることにより、蛍光部の変換効率の低下が生じる。また、蛍光部に照射される放射光の強度の違いに起因して、発光強度むらや色むらのある発光装置となる可能性がある。
基体40は、LD素子10を実装するものである。図3では、凹部が設けられた基体40を用い、凹部の底面にLD素子10が配置されている。
LD素子10は、その放射光が楕円形状のFFPを有する。LD素子10は、その光出射面が基体40の下面と垂直であり、FFPの楕円形の長手方向が基体40の下面と垂直になるように配置されている。これにより、LD素子10における面積の大きな面を基体40の下面と平行に配置することができるため、LD素子10で生じる熱を基体40やヒートシンクに発散しやすくなる。なお、ここでいう「垂直」には、実装時のずれ程度による傾きは含まれることとする。
光反射部20は、LD素子10からの放射光を蛍光部30に向けて反射させるものである。発光装置200のように、LD素子10からの放射光を光反射部20で反射させることにより、透過型のレンズを用いる場合に比較して、発光装置200の厚み(図3の上下方向における長さ)を小さくしながら、蛍光部30の光照射面に照射される放射光の強度を均等に近づけることができる。
蓋体80は、基体40と組み合わせてLD素子10が配置される空間を気密封止された空間としている。これにより、LD素子10の光出射面への有機物等の集塵を抑制することができる。蓋体80は、支持部81と、透光部82と、支持部81及び透光部82を接合する接合材83と、を有する。光反射面21で反射された光は透光部82を通過して蛍光部30の光照射面に照射される。
蛍光部30は、光反射面21で反射された放射光が照射される光照射面を有し、光照射面に放射光が照射されることにより蛍光を発する。図3において、蛍光部30の下面が光照射面であり、蛍光部30の上面が光取出面である。図3に示すように、蛍光部30は、蓋体80における透光部82の上方に配置されている。
第1遮光部90は、蛍光部30の上面以外の領域から光が出ることを低減するためのものであり、図3に示すように、蛍光部30の側方に配置されている。第1遮光部90は蛍光部30と直接接して設けられている。蛍光部30がYAG蛍光体を含む場合は、第1遮光部90として、酸化アルミニウムを主成分として含むセラミックスを用いることが好ましい。これにより、蛍光部30と第1遮光部90との接合力を高くしながら、蛍光部30からの光を遮光することができる。第1遮光部90に用いられる酸化アルミニウムは、後述する放熱体100に用いることができるサファイアと同じ材料であるが、第1遮光部90のうちの蛍光部30に近い領域は焼結密度が低いため、その領域には空隙が存在する。
同じ材料であっても、蛍光部30からの光は酸化アルミニウム等の粒子と空隙との界面で反射されるため、第1遮光部90は光を透過しにくくなっている。
図3に示すように、蛍光部30及び第1遮光部90は放熱体100を介して蓋体80に固定されている。放熱体100の上面と、蛍光部30の光照射面及び第1遮光部90の下面と、は直接接することが好ましい。これにより、蛍光部30における放射光が当たることにより発熱しやすい領域と放熱体100とを直接接触させることができるため、蛍光部30で生じる熱を発散しやすくなる。放熱体100としては透光性の部材を用いることができ、例えば、サファイア、石英又は炭化ケイ素を用いることができる。なお、第1遮光部90と放熱体100とを、耐熱性のある金属材料等により固定することにより、光反射面の上方に蛍光部30を配置してもよい。
放熱体100の側面には第2遮光部110が設けられている。これにより、放熱体100の側方から光が抜けることを抑制することができる。第2遮光部110としては、例えば、酸化チタン等の散乱粒子を含む樹脂を用いる。
図18に第2実施形態に係る発光装置300の断面図を示す。発光装置300は、次に説明する事項以外は、発光装置200で説明した事項と実質的に同一である。
図19に第3実施形態に係る発光装置400における基体40の凹部の内部を説明するめの斜視図を示し、図20に図19の上面図を示す。発光装置400は、次に説明する事項以外は、発光装置200で説明した事項と実質的に同一である。
図22は、第4実施形態に係る発光装置500において、半導体レーザ素子10から放射された放射光が光反射面21で反射されて蛍光部30の光照射面に照射されるまでの放射光の動きを説明するための図である。発光装置500は、次に説明する事項以外は、発光装置200で説明した事項と実質的に同一である。
したがって、蛍光部30の光照射面における放射光の光強度を均一に近づけやすい。
図23は、第5実施形態に係る発光装置600において、半導体レーザ素子10から放射された放射光が光反射面21で反射されて蛍光部30の光照射面に照射されるまでの放射光の動きを説明するための図である。発光装置600は、次に説明する事項以外は、発光装置200で説明した事項と実質的に同一である。
20…光反射部
21…光反射面
21a…第1領域
21b…第2領域
21c…第3領域
30…蛍光部
40…基体
41…本体部
42a、42b…配線部
43…溶接部
50…サブマウント
60…導電層
70…ワイヤ
80…蓋体
81…支持部
82…透光部
83…接合材
90…第1遮光部
100…放熱体
110…第2遮光部
200、300、400、500、600…発光装置
Claims (10)
- 放射光が楕円形状のファーフィールドパターンを有する半導体レーザ素子と、
前記放射光を反射する光反射面が設けられた光反射部と、
前記光反射面で反射された放射光が照射される光照射面を有し、前記光照射面に前記放射光が照射されることにより蛍光を発する蛍光部と、を備え、
前記光反射面における前記放射光が照射される領域は、前記楕円形状のファーフィールドパターンを長手方向に2以上に分けた領域のうち、一端に位置する領域に対応する第1領域と、他端に位置する領域に対応する第2領域と、を有し、
前記第1領域及び前記第2領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第1領域で反射された放射光のうちの前記第2領域に近い側で反射された放射光と、前記第2領域で反射された放射光のうちの前記第1領域から遠い側で反射された放射光と、が重なるとともに、前記第1領域で反射された放射光のうちの前記第2領域から遠い側で反射された放射光と、前記第2領域で反射された放射光のうちの前記第1領域に近い側で反射された放射光と、が重なるように設けられていることを特徴とする発光装置。 - 前記光反射面における前記放射光が照射される領域は、前記第1領域と前記第2領域との間に位置する第3領域をさらに有し、
前記第3領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第1領域に近い側で反射された放射光と、前記第1領域で反射された放射光のうちの前記第2領域から遠い側で反射された放射光と、が重なるとともに、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第2領域に近い側で反射された放射光と、前記第2領域で反射された放射光のうちの前記第1領域から遠い側で反射された放射光と、が重なるように設けられていることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。 - 放射光が楕円形状のファーフィールドパターンを有する半導体レーザ素子と、
前記放射光を反射する光反射面が設けられた光反射部と、
前記光反射面で反射された放射光が照射される光照射面を有し、前記光照射面に前記放射光が照射されることにより蛍光を発する蛍光部と、を備え、
前記光反射面における前記放射光が照射される領域は、前記楕円形状のファーフィールドパターンを長手方向に3に分けた領域として、一端に位置する領域に対応する第1領域と、他端に位置する領域に対応する第2領域と、前記第1領域と前記第2領域との間に位置する第3領域と、を有し、
前記第1領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第1領域で反射された放射光が、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第1領域又は前記第2領域の一方に近い側で反射された放射光と重なるように設けられており、
前記第2領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第2領域で反射された放射光が、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第1領域又は前記第2領域の他方に近い側で反射された放射光と重なるように設けられていることを特徴とする発光装置。 - 前記第1領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第1領域で反射された放射光が、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第2領域に近い側で反射された放射光と重なるように設けられており、
前記第2領域は、前記蛍光部の光照射面において、前記第2領域で反射された放射光が、前記第3領域で反射された放射光のうちの前記第1領域に近い側で反射された放射光と重なるように設けられていることを特徴とする請求項3に記載の発光装置。 - 前記第1領域及び前記第2領域はそれぞれ、前記蛍光部の光照射面において、前記第1領域で反射された放射光の強度分布と前記第2領域で反射された放射光の強度分布とが、前記長手方向に対応する方向に対して線対称となるように設けられることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の発光装置。
- 前記第1領域及び前記第2領域は、いずれも平面であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記第1領域は、前記第2領域よりも前記半導体レーザ素子に近い側に位置しており、 前記第1領域の面積は前記第2領域の面積よりも小さいことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の発光装置。
- 放射光が楕円形状のファーフィールドパターンを有する半導体レーザ素子と、
前記放射光を反射する光反射面が設けられた光反射部と、
前記光反射面で反射された放射光が照射される光照射面を有し、前記光照射面に前記放射光が照射されることにより蛍光を発する蛍光部と、を備え、
前記光反射面は、
曲面であり、
前記光照射面における放射光の強度分布が均一に近づくように、前記楕円形状のファーフィールドパターンの長手方向の両端に位置する領域に対応する領域で反射される放射光の発散角が前記長手方向の中央に位置する領域に対応する領域で反射される放射光の発散角よりも小さくなるように設けられていることを特徴とする発光装置。 - 前記光反射部は、少なくとも一面に前記光反射面を有する光学素子であることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の発光装置。
- 前記蛍光部の光照射面は一方向に長い長方形であり、
前記放射光は前記蛍光部の光照射面において一方向に長い形状で照射され、
前記蛍光部及び前記半導体レーザ素子は、前記蛍光部の長手方向と前記光反射面で反射された放射光の長手方向とが平行になるように配置されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の発光装置。
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