JP2020122207A - Treatment device, and operation method of treatment device - Google Patents

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Abstract

To provide a technology capable of enlarging an adjustment range of a treatment pressure.SOLUTION: A treatment device in one embodiment, includes a treatment vessel having an exhaust port, capable of decompressing the inside, a valve element capable of covering the whole of the exhaust port, and a valve element driving mechanism for adjusting a distance between the exhaust port and the valve element by moving the valve element. The valve element driving mechanism has a lifting part for lifting the valve element, and a restriction part for restricting operation of the lifting part by having contact with the lifting part.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本開示は、処理装置及び処理装置の動作方法に関する。 The present disclosure relates to a processing device and a method of operating the processing device.

基板に対してプラズマ処理等の処理を行う処理領域と該処理領域を減圧する真空ポンプとの間に、ポペット型のスロットルバルブを設けた基板処理装置が知られている(例えば、特許文献1、2参照)。 There is known a substrate processing apparatus in which a poppet type throttle valve is provided between a processing region for performing a process such as plasma processing on a substrate and a vacuum pump for depressurizing the processing region (for example, Patent Document 1, 2).

特開平8−172037号公報JP-A-8-172037 特開2013−84602号公報JP, 2013-84602, A

本開示は、処理圧力の調整範囲を拡大できる技術を提供する。 The present disclosure provides a technique capable of expanding the adjustment range of the processing pressure.

本開示の一態様による処理装置は、排気口を有し、内部を減圧できる処理容器と、前記排気口の全体を覆うことができる弁体と、前記弁体を移動させて前記排気口と前記弁体との距離を調整する弁体駆動機構と、を備え、前記弁体駆動機構は、前記弁体を昇降させる昇降部と、前記昇降部に接触して前記昇降部の動作を制限する制限部と、を有する。 A processing apparatus according to an aspect of the present disclosure has a processing container that has an exhaust port and can decompress the inside, a valve body that can cover the entire exhaust port, and the exhaust port and the exhaust port by moving the valve body. A valve body drive mechanism for adjusting the distance to the valve body, the valve body drive mechanism raising and lowering the valve body, and a limit for contacting the raising and lowering section and limiting the operation of the elevating and lowering section. And a section.

本開示によれば、処理圧力の調整範囲を拡大できる。 According to the present disclosure, the adjustment range of the processing pressure can be expanded.

処理装置の構成例を示す図The figure which shows the example of composition of the processor 図1の処理装置の処理室の構成例を示す図The figure which shows the structural example of the processing chamber of the processing apparatus of FIG. 第1構成例の弁体駆動機構を示す図The figure which shows the valve body drive mechanism of the 1st structural example. 図3の弁体駆動機構の動作の一例を示す図The figure which shows an example of operation|movement of the valve body drive mechanism of FIG. 第2構成例の弁体駆動機構を示す図The figure which shows the valve body drive mechanism of the example of a 2nd structure. 図5の弁体駆動機構のストッパ機構の一例を示す図The figure which shows an example of the stopper mechanism of the valve body drive mechanism of FIG. ガス流量と処理圧力との関係を示す図Diagram showing the relationship between gas flow rate and processing pressure

以下、添付の図面を参照しながら、本開示の限定的でない例示の実施形態について説明する。添付の全図面中、同一又は対応する部材又は部品については、同一又は対応する参照符号を付し、重複する説明を省略する。 Hereinafter, non-limiting exemplary embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. In all the accompanying drawings, the same or corresponding reference numerals are given to the same or corresponding members or parts, and duplicate explanations are omitted.

〔処理装置〕
処理装置の構成例について説明する。図1は、処理装置の構成例を示す図である。
[Processing device]
A configuration example of the processing device will be described. FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a processing device.

図1に示されるように、処理装置1は、処理室10,20と、真空搬送室30と、ロードロック室40と、大気搬送室50と、ロードポート60と、制御部70と、を備える。 As shown in FIG. 1, the processing apparatus 1 includes processing chambers 10 and 20, a vacuum transfer chamber 30, a load lock chamber 40, an atmospheric transfer chamber 50, a load port 60, and a control unit 70. ..

処理室10は、ゲートバルブG1を介して真空搬送室30と接続されている。処理室10内は所定の真空雰囲気に減圧され、その内部にてウエハWに処理を施す。処理室10は、例えばスパッタ法により膜を形成するスパッタ装置である。ただし、処理室10は、別の処理を行う装置、例えば化学気相堆積(CVD:Chemical Vapor Deposition)法により膜を形成するCVD装置であってもよい。 The processing chamber 10 is connected to the vacuum transfer chamber 30 via the gate valve G1. The inside of the processing chamber 10 is depressurized to a predetermined vacuum atmosphere, and the wafer W is processed therein. The processing chamber 10 is a sputtering device that forms a film by, for example, a sputtering method. However, the processing chamber 10 may be an apparatus that performs another processing, for example, a CVD apparatus that forms a film by a chemical vapor deposition (CVD) method.

処理室20は、ゲートバルブG2を介して真空搬送室30と接続されている。処理室20内は所定の真空雰囲気に減圧され、その内部にてウエハWに処理を施す。処理室20は、例えば処理室10と同様の処理を行う装置であってよい。ただし、処理室20は、処理室10とは異なる処理を行う装置であってもよい。 The processing chamber 20 is connected to the vacuum transfer chamber 30 via the gate valve G2. The inside of the processing chamber 20 is depressurized to a predetermined vacuum atmosphere, and the wafer W is processed therein. The processing chamber 20 may be a device that performs the same processing as the processing chamber 10, for example. However, the processing chamber 20 may be a device that performs a different process from the processing chamber 10.

真空搬送室30は、処理室10、処理室20及びロードロック室40と接続されている。真空搬送室30内は、所定の真空雰囲気に減圧されている。真空搬送室30には、減圧状態でウエハWを搬送可能な搬送機構31が設けられている。搬送機構31は、処理室10、処理室20及びロードロック室40の間でウエハWを搬送する。 The vacuum transfer chamber 30 is connected to the processing chamber 10, the processing chamber 20, and the load lock chamber 40. The inside of the vacuum transfer chamber 30 is depressurized to a predetermined vacuum atmosphere. The vacuum transfer chamber 30 is provided with a transfer mechanism 31 capable of transferring the wafer W in a reduced pressure state. The transfer mechanism 31 transfers the wafer W among the processing chamber 10, the processing chamber 20, and the load lock chamber 40.

ロードロック室40は、ゲートバルブG3を介して真空搬送室30と接続されている。ロードロック室40内は、大気雰囲気と真空雰囲気とを切り替え可能である。 The load lock chamber 40 is connected to the vacuum transfer chamber 30 via the gate valve G3. The load lock chamber 40 can switch between an atmospheric atmosphere and a vacuum atmosphere.

大気搬送室50は、ゲートバルブG4を介してロードロック室40と接続されている。大気搬送室50内は、大気雰囲気となっており、例えば清浄空気のダウンフローが形成されている。大気搬送室50には、搬送機構51が設けられている。搬送機構51は、ロードロック室40及びロードポート60のキャリアCとの間でウエハWを搬送する。 The atmosphere transfer chamber 50 is connected to the load lock chamber 40 via the gate valve G4. The atmosphere transfer chamber 50 is in the atmosphere, and for example, a downflow of clean air is formed. A transfer mechanism 51 is provided in the atmosphere transfer chamber 50. The transfer mechanism 51 transfers the wafer W between the load lock chamber 40 and the carrier C of the load port 60.

ロードポート60は、大気搬送室50の長辺の壁面に設けられている。ロードポート60は、ウエハWが収容されたキャリアC又は空のキャリアCが取り付けられる。キャリアCとしては、例えばFOUP(Front Opening Unified Pod)を利用できる。 The load port 60 is provided on the wall surface of the long side of the atmosphere transfer chamber 50. The carrier C containing the wafer W or an empty carrier C is attached to the load port 60. As the carrier C, for example, FOUP (Front Opening Unified Pod) can be used.

制御部70は、処理装置1の各部を制御する。例えば、制御部70は、処理室10,20の動作、搬送機構31,51の動作、ゲートバルブG1〜G4の開閉、ロードロック室40内の雰囲気の切り替え等を実行する。制御部70は、例えばコンピュータであってよい。 The control unit 70 controls each unit of the processing device 1. For example, the control unit 70 executes the operation of the processing chambers 10 and 20, the operation of the transfer mechanisms 31 and 51, the opening and closing of the gate valves G1 to G4, the switching of the atmosphere in the load lock chamber 40, and the like. The control unit 70 may be, for example, a computer.

〔処理室〕
次に、処理室10について説明する。なお、処理室20については説明を省略するが、処理室10と同様の構成であってよい。図2は、図1の処理装置1の処理室10の構成例を示す図である。図2に示されるように、処理室10は、処理容器110を備えている。
[Processing room]
Next, the processing chamber 10 will be described. Although the description of the processing chamber 20 is omitted, it may be the same as that of the processing chamber 10. FIG. 2 is a diagram showing a configuration example of the processing chamber 10 of the processing apparatus 1 of FIG. As shown in FIG. 2, the processing chamber 10 includes a processing container 110.

処理容器110は、例えばアルミニウムにより形成されている。処理容器110は、接地されている。処理容器110の側壁にはウエハWを搬入又は搬出するための搬送口112が設けられている。搬送口112は、ゲートバルブG1により開閉される。処理容器110内には、ウエハWを載置する載置台120が設けられている。 The processing container 110 is made of, for example, aluminum. The processing container 110 is grounded. A transfer port 112 for loading or unloading the wafer W is provided on the sidewall of the processing container 110. The transfer port 112 is opened and closed by the gate valve G1. A mounting table 120 on which the wafer W is mounted is provided in the processing container 110.

載置台120は、ベース部122と、静電チャック124と、を有する。 The mounting table 120 includes a base portion 122 and an electrostatic chuck 124.

ベース部122は、例えばアルミニウムにより形成されている。ベース部122は、例えば略円盤形状を有する。 The base portion 122 is made of, for example, aluminum. The base portion 122 has, for example, a substantially disc shape.

静電チャック124は、ベース部122の上面に設けられており、ウエハWを静電吸着力で保持する。静電チャック124は、例えばベース部122と同様に略円盤形状を有する。静電チャック124は、導電膜により形成される電極124aと、該電極124aを挟み込む誘電体膜124bと、を含む。電極124aには、直流電源(図示せず)が接続されている。静電チャック124は、直流電源から印加される電圧により、静電気力でウエハWを静電チャック124上に吸着保持する。 The electrostatic chuck 124 is provided on the upper surface of the base 122 and holds the wafer W by electrostatic attraction. The electrostatic chuck 124 has, for example, a substantially disc shape similar to the base portion 122. The electrostatic chuck 124 includes an electrode 124a formed of a conductive film and a dielectric film 124b sandwiching the electrode 124a. A DC power supply (not shown) is connected to the electrode 124a. The electrostatic chuck 124 attracts and holds the wafer W on the electrostatic chuck 124 by an electrostatic force by a voltage applied from a DC power supply.

また、静電チャック124内には、ヒータ124cが埋め込まれている。これにより、載置台120を加熱できる。なお、ヒータ124cは、ベース部122内に埋め込まれていてもよく、載置台120に貼り付け可能なシート型ヒータであってもよい。また、ヒータ124cは複数に分割されていてもよい。ヒータ124cが複数に分割されている場合、分割された領域ごとに載置台120の温度を調整できる。ヒータ124cには、交流電源(図示せず)が接続されている。交流電源からヒータ124cに電力が供給されることにより、載置台120(ウエハW)を所定の温度に調整できる。 A heater 124c is embedded in the electrostatic chuck 124. Thereby, the mounting table 120 can be heated. The heater 124c may be embedded in the base portion 122, or may be a sheet-type heater that can be attached to the mounting table 120. Further, the heater 124c may be divided into a plurality of pieces. When the heater 124c is divided into a plurality of parts, the temperature of the mounting table 120 can be adjusted for each of the divided areas. An AC power supply (not shown) is connected to the heater 124c. By supplying power from the AC power supply to the heater 124c, the mounting table 120 (wafer W) can be adjusted to a predetermined temperature.

載置台120は、駆動機構126に接続されている。駆動機構126は、回転軸128と、駆動装置130と、を有する。回転軸128は、略柱状の部材である。回転軸128は、載置台120の直下から処理容器110の底部を通って処理容器110の外部まで延在している。処理容器110の底部と回転軸128との間には、磁性流体シール等の封止部材132が設けられている。封止部材132は、回転軸128が回転及び上下動が可能であるように、処理容器110の底部と回転軸128との間の空間を封止する。 The mounting table 120 is connected to the drive mechanism 126. The drive mechanism 126 has a rotating shaft 128 and a drive device 130. The rotating shaft 128 is a substantially columnar member. The rotating shaft 128 extends from directly below the mounting table 120 to the outside of the processing container 110 through the bottom of the processing container 110. A sealing member 132 such as a magnetic fluid seal is provided between the bottom of the processing container 110 and the rotating shaft 128. The sealing member 132 seals the space between the bottom of the processing container 110 and the rotating shaft 128 so that the rotating shaft 128 can rotate and move up and down.

回転軸128の上端には載置台120が取り付けられており、回転軸128の下端には駆動装置130が取り付けられている。駆動装置130は、回転軸128を回転及び上下動させるための動力を発生する。載置台120は、駆動装置130の動力によって回転軸128が回転することにより回転する。また、載置台120は、駆動装置130の動力によって回転軸128が上下動することにより上下動する。なお、回転軸128は、載置台120と一体的に形成されていてもよい。載置台120の回転速度は、例えば60rpm〜120rpmであってよい。 The mounting table 120 is attached to the upper end of the rotating shaft 128, and the driving device 130 is attached to the lower end of the rotating shaft 128. The drive device 130 generates power for rotating the rotary shaft 128 and moving it up and down. The mounting table 120 rotates as the rotating shaft 128 rotates by the power of the driving device 130. Further, the mounting table 120 moves up and down as the rotating shaft 128 moves up and down by the power of the driving device 130. The rotary shaft 128 may be formed integrally with the mounting table 120. The rotation speed of the mounting table 120 may be, for example, 60 rpm to 120 rpm.

載置台120の上方には、成膜材料であるターゲット140が設けられている。ターゲット140は、載置台120に対向して配置されている。ただし、ターゲット140は載置台120に対して傾斜して配置されていてもよい。また、ターゲット140の数は、1つであってもよく、複数であってもよい。 A target 140, which is a film forming material, is provided above the mounting table 120. The target 140 is arranged to face the mounting table 120. However, the target 140 may be inclined with respect to the mounting table 120. Moreover, the number of the targets 140 may be one or plural.

ターゲット140は、金属製のホルダ142により保持されている。ホルダ142は、絶縁部材(図示せず)を介して処理容器110の天部に支持されている。ターゲット140には、ホルダ142を介して電源144が接続されている。電源144は、ターゲット140に負の直流電圧を印加する。また、処理容器110の外部には、ホルダ142を介してターゲット140と対向するようにマグネット146が設けられている。マグネット146は、励磁電源148から供給される電流により励磁する。 The target 140 is held by a metal holder 142. The holder 142 is supported on the top of the processing container 110 via an insulating member (not shown). A power source 144 is connected to the target 140 via a holder 142. The power supply 144 applies a negative DC voltage to the target 140. A magnet 146 is provided outside the processing container 110 so as to face the target 140 via the holder 142. The magnet 146 is excited by the current supplied from the excitation power supply 148.

また、処理容器110には、処理容器110内にガスを導入するポート150が設けられており、ガス供給部152からのガスがポート150を介して処理容器110内に導入される。ガス供給部152は、ガス供給源、流量制御器等を含む。 Further, the processing container 110 is provided with a port 150 for introducing gas into the processing container 110, and gas from the gas supply unit 152 is introduced into the processing container 110 via the port 150. The gas supply unit 152 includes a gas supply source, a flow rate controller, and the like.

ガス供給部152から処理容器110内にガスが供給され、電源144によりターゲット140に電圧が印加されると、処理容器110内に供給されたガスが励起される。また、マグネット146によりターゲット140の近傍に磁界が発生する。これにより、ターゲット140の近傍にプラズマが集中し、ターゲット140にプラズマ中の正イオンが衝突することにより、露出したターゲット140からターゲット材料が放出される。放出されたターゲット材料は、ウエハWに堆積することにより薄膜を形成する。 When the gas is supplied from the gas supply unit 152 into the processing container 110 and a voltage is applied to the target 140 by the power supply 144, the gas supplied into the processing container 110 is excited. Further, a magnetic field is generated near the target 140 by the magnet 146. As a result, the plasma is concentrated near the target 140 and the positive ions in the plasma collide with the target 140, whereby the target material is released from the exposed target 140. The released target material is deposited on the wafer W to form a thin film.

また、処理容器110の底部には、排気口114が形成されている。排気口114には、排気装置160が接続されている。排気装置160は、クライオポンプ、ウォーターポンプ等の真空ポンプを含み、処理容器110内の処理空間を所定の真空度まで減圧する。 An exhaust port 114 is formed at the bottom of the processing container 110. An exhaust device 160 is connected to the exhaust port 114. The exhaust device 160 includes a vacuum pump such as a cryopump and a water pump, and depressurizes the processing space in the processing container 110 to a predetermined vacuum degree.

また、処理容器110の底部には、弁体210と、弁体駆動機構220と、が設けられている。弁体210は、排気口114の全体を覆うことができる大きさに形成されている。弁体210は、処理容器110の底部から離間した位置(図2に示される位置)と、シール部材212を介して処理容器110の底部と接触する位置と、の間で移動する。弁体210が処理容器110の底部から離間した位置に移動した状態では、処理容器110内と排気装置160とが排気口114を介して連通し、処理容器110内が排気される。一方、弁体210がシール部材212を介して処理容器110の底部と接触する位置に移動した状態では、排気口114が閉じられるため、処理容器110内と排気装置160との連通が遮断され、処理容器110内は排気されない。弁体駆動機構220は、弁体210を昇降させて排気口114と弁体210との距離を調整する。なお、弁体駆動機構220の詳細について後述する。 Further, a valve body 210 and a valve body drive mechanism 220 are provided on the bottom of the processing container 110. The valve body 210 is formed in a size capable of covering the entire exhaust port 114. The valve body 210 moves between a position separated from the bottom of the processing container 110 (the position shown in FIG. 2) and a position in contact with the bottom of the processing container 110 via the seal member 212. When the valve body 210 has moved to a position separated from the bottom of the processing container 110, the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 communicate with each other through the exhaust port 114, and the inside of the processing container 110 is exhausted. On the other hand, in the state where the valve body 210 has moved to the position where it comes into contact with the bottom of the processing container 110 via the seal member 212, the exhaust port 114 is closed, so that the communication between the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 is cut off, The inside of the processing container 110 is not exhausted. The valve body drive mechanism 220 moves the valve body 210 up and down to adjust the distance between the exhaust port 114 and the valve body 210. The details of the valve body drive mechanism 220 will be described later.

〔弁体駆動機構〕
第1構成例の弁体駆動機構について説明する。図3は、第1構成例の弁体駆動機構を示す図である。
[Valve drive mechanism]
The valve body drive mechanism of the first configuration example will be described. FIG. 3 is a diagram showing a valve body drive mechanism of the first configuration example.

図3に示されるように、弁体駆動機構220は、第1のシリンダ221と、第2のシリンダ222と、を有する。 As shown in FIG. 3, the valve body drive mechanism 220 has a first cylinder 221 and a second cylinder 222.

第1のシリンダ221は、弁体210を昇降させる流体シリンダである。流体シリンダとしては、例えばエアシリンダを利用できる。第1のシリンダ221は、シリンダチューブ221aと、ピストン221bと、ピストンロッド221cと、ブロック部材221dと、を有する。 The first cylinder 221 is a fluid cylinder that moves the valve body 210 up and down. An air cylinder, for example, can be used as the fluid cylinder. The first cylinder 221 has a cylinder tube 221a, a piston 221b, a piston rod 221c, and a block member 221d.

シリンダチューブ221aは、軸方向に沿って延在した筒体により形成されている。 The cylinder tube 221a is formed of a cylindrical body extending along the axial direction.

ピストン221bは、シリンダチューブ221a内に軸方向に摺動可能に収容され、シリンダチューブ221a内を第1圧力室R11と第2圧力室R12とに仕切っている。ピストン221bは、シリンダチューブ221a内の第1圧力室R11内に空気が供給されると上方に移動して上端位置(図3中の二点鎖線で示す位置)で停止する。一方、ピストン221bは、シリンダチューブ221a内の第2圧力室R12内に空気が供給されると下方に移動して下端位置で停止する。 The piston 221b is accommodated in the cylinder tube 221a so as to be slidable in the axial direction, and partitions the inside of the cylinder tube 221a into a first pressure chamber R11 and a second pressure chamber R12. When air is supplied into the first pressure chamber R11 in the cylinder tube 221a, the piston 221b moves upward and stops at the upper end position (the position indicated by the chain double-dashed line in FIG. 3). On the other hand, the piston 221b moves downward and stops at the lower end position when air is supplied into the second pressure chamber R12 in the cylinder tube 221a.

ピストンロッド221cは、ピストン221bに取り付けられており、ピストン221bと共に上下に移動する。ピストンロッド221cの上端には弁体210が固定されており、ピストンロッド221cが上下に移動することにより弁体210が昇降する。例えば、ピストンロッド221cが上方に移動すると、弁体210が処理容器110の底部から離間した位置に移動するので、処理容器110内と排気装置160とが排気口114を介して連通し、処理容器110内が排気される。一方、ピストンロッド221cが下方に移動すると、弁体210がシール部材212を介して処理容器110の底部と接触する位置に移動するので、排気口114が閉じられる。これにより、処理容器110内と排気装置160との連通が遮断され、処理容器110内は排気されない。 The piston rod 221c is attached to the piston 221b and moves up and down together with the piston 221b. The valve body 210 is fixed to the upper end of the piston rod 221c, and the valve body 210 moves up and down as the piston rod 221c moves up and down. For example, when the piston rod 221c moves upward, the valve body 210 moves to a position separated from the bottom portion of the processing container 110, so that the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 communicate with each other via the exhaust port 114, and the processing container The inside of 110 is exhausted. On the other hand, when the piston rod 221c moves downward, the valve body 210 moves to a position where it comes into contact with the bottom of the processing container 110 via the seal member 212, so that the exhaust port 114 is closed. As a result, the communication between the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 is blocked, and the inside of the processing container 110 is not exhausted.

ブロック部材221dは、ピストンロッド221cの下端に取り付けられている。ブロック部材221dは、例えば円板形状を有する。ブロック部材221dは、ピストンロッド221cが上下に移動することにより昇降する。 The block member 221d is attached to the lower end of the piston rod 221c. The block member 221d has, for example, a disc shape. The block member 221d moves up and down as the piston rod 221c moves up and down.

第2のシリンダ222は、第1のシリンダ221のブロック部材221dと接触してピストンロッド221cを上端位置と下端位置との間の中間位置(図3中の実線で示す位置)において停止させる流体シリンダである。流体シリンダとしては、例えばエアシリンダを利用できる。第2のシリンダ222は、シリンダチューブ222aと、ピストン222bと、ピストンロッド222cと、を有する。 The second cylinder 222 is a fluid cylinder that comes into contact with the block member 221d of the first cylinder 221 to stop the piston rod 221c at an intermediate position between the upper end position and the lower end position (the position shown by the solid line in FIG. 3). Is. An air cylinder, for example, can be used as the fluid cylinder. The second cylinder 222 has a cylinder tube 222a, a piston 222b, and a piston rod 222c.

シリンダチューブ222aは、軸方向に沿って延在した筒体により形成されている。 The cylinder tube 222a is formed by a tubular body extending along the axial direction.

ピストン222bは、シリンダチューブ222a内に軸方向に摺動可能に収容され、シリンダチューブ222a内を第1圧力室R21と第2圧力室R22とに仕切っている。ピストン222bは、シリンダチューブ222a内の第1圧力室R21内に空気が供給されると、シリンダチューブ222aに対してピストンロッド222cが伸長する方向に移動して伸長位置(図3中の実線で示す位置)で停止する。一方、ピストン222bは、シリンダチューブ222a内の第2圧力室R22内に空気が供給されると、シリンダチューブ222aに対してピストンロッド222cが収縮する方向に移動して収縮位置(図3中の二点鎖線で示す位置)で停止する。 The piston 222b is slidably accommodated in the cylinder tube 222a in the axial direction, and partitions the interior of the cylinder tube 222a into a first pressure chamber R21 and a second pressure chamber R22. When air is supplied to the first pressure chamber R21 in the cylinder tube 222a, the piston 222b moves in a direction in which the piston rod 222c extends with respect to the cylinder tube 222a and extends to an extended position (shown by a solid line in FIG. 3). Stop). On the other hand, when air is supplied to the second pressure chamber R22 in the cylinder tube 222a, the piston 222b moves in a direction in which the piston rod 222c contracts with respect to the cylinder tube 222a and moves to a contracted position (second position in FIG. 3). Stop at the position indicated by the dotted line).

ピストンロッド222cは、ピストン222bに取り付けられており、ピストン222bと共に移動する。ピストンロッド222cは、少なくとも第1のシリンダ221のブロック部材221dと接触可能な接触位置(図3中の実線で示す位置)と、接触しない非接触位置(図3中の二点鎖線で示す位置)との間で移動する。 The piston rod 222c is attached to the piston 222b and moves together with the piston 222b. The piston rod 222c has a contact position (position shown by a solid line in FIG. 3) at which it can contact at least the block member 221d of the first cylinder 221, and a non-contact position that does not contact (a position shown by a chain double-dashed line in FIG. 3). To move between.

また、第1のシリンダ221に対する第2のシリンダ222の上下方向の位置は可変であることが好ましい。これにより、第2のシリンダ222における伸長位置に移動したピストンロッド222cが、第1のシリンダ221のブロック部材221dに接触する位置が上下に変化する。 Further, it is preferable that the vertical position of the second cylinder 222 with respect to the first cylinder 221 be variable. As a result, the position where the piston rod 222c that has moved to the extended position in the second cylinder 222 contacts the block member 221d of the first cylinder 221 changes up and down.

係る弁体駆動機構220では、ピストンロッド221cが上端位置にある状態で、ピストンロッド222cを伸長位置に移動させた後、ピストンロッド221cを下降させると、ピストンロッド222cが上端位置と下端位置との間の中間位置で停止する。これにより、処理容器110の底部と弁体210との間隔は、ピストンロッド221cが上端位置にあるときの処理容器110の底部と弁体210との間隔よりも狭くなる。そのため、排気コンダクタンスが小さくなり、処理容器110内の圧力(以下「処理圧力」ともいう。)を高圧側へ制御できる。すなわち、処理圧力の調整範囲を高圧側に拡大できる。 In the valve body driving mechanism 220, when the piston rod 221c is at the upper end position and the piston rod 221c is moved to the extended position and then the piston rod 221c is lowered, the piston rod 222c is moved to the upper end position and the lower end position. Stop at an intermediate position in between. As a result, the distance between the bottom of the processing container 110 and the valve body 210 is narrower than the distance between the bottom of the processing container 110 and the valve body 210 when the piston rod 221c is at the upper end position. Therefore, the exhaust conductance is reduced, and the pressure in the processing container 110 (hereinafter also referred to as “processing pressure”) can be controlled to the high pressure side. That is, the adjustment range of the processing pressure can be expanded to the high pressure side.

次に、弁体駆動機構220の動作方法について、処理装置1の処理室10において、通常プロセス、高圧プロセスをこの順序で実行し、アイドリング状態に移行させる場合を例に挙げて説明する。図4は、図3の弁体駆動機構220の動作の一例を示す図である。 Next, the operation method of the valve body drive mechanism 220 will be described by taking as an example the case where the normal process and the high-pressure process are executed in this order in the processing chamber 10 of the processing apparatus 1 to shift to the idling state. FIG. 4 is a diagram showing an example of the operation of the valve body drive mechanism 220 of FIG.

ステップS1は、通常プロセスを実行するステップである。通常プロセスは、処理圧力を例えば10−3Pa以下に調整して処理を行うステップである。ステップS1では、制御部70は、第1のシリンダ221のピストンロッド221cを上端位置に移動させる。これにより、弁体210は処理容器110の底部から離間した位置に移動するので、処理容器110内と排気装置160とが排気口114を介して連通し、処理容器110内が排気される。また、ステップS1では、第2のシリンダ222のピストンロッド222cを収縮位置に移動させる。 Step S1 is a step of executing a normal process. The normal process is a step of adjusting the treatment pressure to, for example, 10 −3 Pa or less and performing the treatment. In step S1, the control unit 70 moves the piston rod 221c of the first cylinder 221 to the upper end position. As a result, the valve body 210 moves to a position away from the bottom of the processing container 110, so that the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 communicate with each other through the exhaust port 114, and the inside of the processing container 110 is exhausted. In addition, in step S1, the piston rod 222c of the second cylinder 222 is moved to the contracted position.

ステップS2は、通常プロセスから高圧プロセスに移行させるステップである。高圧プロセスとは、通常プロセスよりも処理圧力を高くして処理を行うプロセスであり、処理圧力を例えば10−3Pa以上に調整して処理を行うプロセスである。ステップS2では、制御部70は、第2のシリンダ222のピストンロッド222cを、第1のシリンダ221のブロック部材221dに接触可能な伸長位置に移動させる。 Step S2 is a step of shifting from the normal process to the high pressure process. The high-pressure process is a process in which the treatment pressure is higher than that in the normal process, and the treatment pressure is adjusted to, for example, 10 −3 Pa or more. In step S2, the control unit 70 moves the piston rod 222c of the second cylinder 222 to an extension position where it can contact the block member 221d of the first cylinder 221.

ステップS3は、高圧プロセスを実行するステップである。ステップS3では、制御部70は、第2のシリンダ222のピストンロッド222cを伸長位置に移動させた状態で、第1のシリンダ221のピストンロッド221cを下降させる。このとき、ピストンロッド221cの下端に取り付けられたブロック部材221dがピストンロッド222cに接触することにより、上端位置と下端位置との間の中間位置で停止する。これにより、処理容器110の底部と弁体210との間隔は、ピストンロッド221cが上端位置にあるときの処理容器110の底部と弁体210との間隔よりも狭くなる。そのため、排気コンダクタンスが小さくなり、処理圧力を高圧側へ制御できる。 Step S3 is a step of executing a high pressure process. In step S3, the control unit 70 lowers the piston rod 221c of the first cylinder 221 while moving the piston rod 222c of the second cylinder 222 to the extended position. At this time, the block member 221d attached to the lower end of the piston rod 221c comes into contact with the piston rod 222c to stop at an intermediate position between the upper end position and the lower end position. As a result, the distance between the bottom of the processing container 110 and the valve body 210 is narrower than the distance between the bottom of the processing container 110 and the valve body 210 when the piston rod 221c is at the upper end position. Therefore, the exhaust conductance is reduced, and the processing pressure can be controlled to the high pressure side.

ステップS4及びステップS5は、高圧プロセスからアイドリング状態に移行させるステップである。アイドリング状態とは、処理室10において処理が行われていない状態である。ステップS4では、制御部70は、第1のシリンダ221のピストンロッド221cを上昇させる。ステップS5では、制御部70は、第2のシリンダ222のピストンロッド222cを収縮させる。 Steps S4 and S5 are steps for shifting from the high pressure process to the idling state. The idling state is a state in which processing is not being performed in the processing chamber 10. In step S4, the control unit 70 raises the piston rod 221c of the first cylinder 221. In step S5, the control unit 70 contracts the piston rod 222c of the second cylinder 222.

ステップS6は、アイドリングを実行するステップである。ステップS6では、制御部70は、第1のシリンダ221のピストンロッド221cを下降させる。このとき、第2のシリンダ222のピストンロッド222cは収縮位置に移動しているので、ピストンロッド221cは下端位置に移動する。これにより、弁体210がシール部材212を介して処理容器110の底部と接触する位置に移動するので、排気口114が閉じられる。そのため、処理容器110内と排気装置160との連通が遮断され、処理容器110内は排気されない。 Step S6 is a step of executing idling. In step S6, the control unit 70 lowers the piston rod 221c of the first cylinder 221. At this time, the piston rod 222c of the second cylinder 222 has moved to the contracted position, so the piston rod 221c moves to the lower end position. As a result, the valve body 210 moves to a position where it comes into contact with the bottom of the processing container 110 via the seal member 212, and the exhaust port 114 is closed. Therefore, the communication between the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 is blocked, and the inside of the processing container 110 is not exhausted.

〔弁体駆動機構の別の例〕
第2構成例の弁体駆動機構について説明する。図5は、第2構成例の弁体駆動機構を示す図である。図6は、図5の弁体駆動機構のストッパ機構の一例を示す図であり、図5における一点鎖線A−Aにおいて弁体駆動機構を切断した断面を示す。
[Another example of valve body drive mechanism]
The valve body drive mechanism of the second configuration example will be described. FIG. 5 is a diagram showing a valve body drive mechanism of the second configuration example. 6 is a diagram showing an example of a stopper mechanism of the valve body drive mechanism of FIG. 5, and shows a cross section of the valve body drive mechanism taken along the alternate long and short dash line AA in FIG.

図5に示されるように、弁体駆動機構220Aは、カム機構225と、ストッパ機構226と、を有する。 As shown in FIG. 5, the valve body drive mechanism 220A has a cam mechanism 225 and a stopper mechanism 226.

カム機構225は、弁体210を昇降させる円筒カムである。カム機構225は、筐体225aと、カム225bと、カムフォロア225cと、シャフト225dと、回転機構225eと、を有する。 The cam mechanism 225 is a cylindrical cam that moves the valve body 210 up and down. The cam mechanism 225 has a housing 225a, a cam 225b, a cam follower 225c, a shaft 225d, and a rotating mechanism 225e.

筐体225aは、軸方向に沿って延在した筒体により形成されている。 The housing 225a is formed by a tubular body extending along the axial direction.

カム225bは、筐体225a内に周方向に摺動可能に収容されている。カム225bは、軸方向に沿って延在した略円筒形状を有する。カム225bには、螺旋状のカム溝225fが形成されている。 The cam 225b is accommodated in the housing 225a so as to be slidable in the circumferential direction. The cam 225b has a substantially cylindrical shape extending along the axial direction. A spiral cam groove 225f is formed in the cam 225b.

カムフォロア225cは、カム溝225fに沿って摺動する略円筒形状の回転体である。 The cam follower 225c is a substantially cylindrical rotating body that slides along the cam groove 225f.

シャフト225dは、カム225bの内部にカム225bに対して軸方向に摺動可能に設けられている。シャフト225dの外周には、カムフォロア225cを回転可能に保持する円柱形状の保持部225gが設けられている。 The shaft 225d is provided inside the cam 225b so as to be slidable in the axial direction with respect to the cam 225b. A columnar holding portion 225g that rotatably holds the cam follower 225c is provided on the outer periphery of the shaft 225d.

回転機構225eは、回転軸225hを介してカム225bを回転させる。 The rotation mechanism 225e rotates the cam 225b via the rotation shaft 225h.

係るカム機構225では、回転機構225eにより回転軸225hを介してカム225bを回転させることにより、カムフォロア225cがカム溝225fに沿って摺動し、シャフト225dがカム225bに対して上下に直動する。例えば、シャフト225dが図5に示される位置にある状態で、カム225bを右回りに回転させると、カムフォロア225cがカム溝225fに沿って摺動し、シャフト225dが上方に移動し、上端位置で停止する。一方、シャフト225dが上端位置にある状態で、カム225bを左回りに回転させると、カムフォロア225cがカム溝225fに沿って摺動し、シャフト225dが下方に直動し、下端位置で停止する。 In the cam mechanism 225, the cam follower 225c slides along the cam groove 225f by rotating the cam 225b via the rotating shaft 225h by the rotating mechanism 225e, and the shaft 225d moves vertically with respect to the cam 225b. .. For example, when the cam 225b is rotated clockwise with the shaft 225d in the position shown in FIG. 5, the cam follower 225c slides along the cam groove 225f, the shaft 225d moves upward, and the upper end position is reached. Stop. On the other hand, when the cam 225b is rotated counterclockwise with the shaft 225d in the upper end position, the cam follower 225c slides along the cam groove 225f, the shaft 225d moves straight downward, and stops at the lower end position.

ストッパ機構226は、カム機構225に作用してシャフト225dを上端位置と下端位置との間の中間位置において停止させる機構である。ストッパ機構226は、センサアーム226aと、位置調整プレート226bと、中間停止用シリンダ226cと、ストッパ226dと、中間停止用センサ226eと、を有する。 The stopper mechanism 226 is a mechanism that acts on the cam mechanism 225 to stop the shaft 225d at an intermediate position between the upper end position and the lower end position. The stopper mechanism 226 includes a sensor arm 226a, a position adjusting plate 226b, an intermediate stop cylinder 226c, a stopper 226d, and an intermediate stop sensor 226e.

センサアーム226aは、カム機構225の回転軸225hの下端に取り付けられており、回転軸225hと共に回転する。 The sensor arm 226a is attached to the lower end of the rotating shaft 225h of the cam mechanism 225, and rotates together with the rotating shaft 225h.

位置調整プレート226bは、センサアーム226aの下方に設けられており、円板形状を有する。位置調整プレート226bは、センサアーム226aに対して相対的に回転可能に構成されている。 The position adjustment plate 226b is provided below the sensor arm 226a and has a disc shape. The position adjustment plate 226b is configured to be rotatable relative to the sensor arm 226a.

中間停止用シリンダ226cは、位置調整プレート226bの下面に取り付けられた流体シリンダである。流体シリンダとしては、例えばエアシリンダを利用できる。中間停止用シリンダ226cは、位置調整プレート226bに対してストッパ226dを上下に移動させる。 The intermediate stop cylinder 226c is a fluid cylinder attached to the lower surface of the position adjusting plate 226b. An air cylinder, for example, can be used as the fluid cylinder. The intermediate stop cylinder 226c moves the stopper 226d up and down with respect to the position adjustment plate 226b.

ストッパ226dは、接続部材226fを介して中間停止用シリンダ226cに接続されており、中間停止用シリンダ226cと共に上下に移動する。ストッパ226dは、少なくともセンサアーム226aと接触しない下端位置(図5中の実線で示す位置)と、センサアーム226aと接触する上端位置(図5中の二点鎖線で示す位置)との間で移動する。ストッパ226dは、上端位置に移動した状態で、センサアーム226aが所定の回転角度まで回転したときにセンサアーム226aと接触し、センサアーム226aの回転を停止させる。 The stopper 226d is connected to the intermediate stop cylinder 226c via a connecting member 226f, and moves up and down together with the intermediate stop cylinder 226c. The stopper 226d moves at least between a lower end position (a position indicated by a solid line in FIG. 5) not in contact with the sensor arm 226a and an upper end position (a position indicated by a chain double-dashed line in FIG. 5) in contact with the sensor arm 226a. To do. The stopper 226d comes into contact with the sensor arm 226a when the sensor arm 226a rotates to a predetermined rotation angle in the state of being moved to the upper end position, and stops the rotation of the sensor arm 226a.

中間停止用センサ226eは、センサアーム226aが中間位置で停止していることを検知するセンサである。中間停止用センサ226eは、例えば反射型の光学センサであってよい。なお、中間停止用センサ226eに加えて、センサアーム226aが下端位置で停止していることを検知するセンサや、センサアーム226aが上端位置で停止していることを検知するセンサが設けられていてもよい。これらのセンサは、中間停止用センサ226eと同様に、例えば反射型の光学センサであってよい。 The intermediate stop sensor 226e is a sensor that detects that the sensor arm 226a is stopped at the intermediate position. The intermediate stop sensor 226e may be, for example, a reflective optical sensor. In addition to the intermediate stop sensor 226e, a sensor that detects that the sensor arm 226a is stopped at the lower end position and a sensor that detects that the sensor arm 226a is stopped at the upper end position are provided. Good. These sensors may be, for example, reflective optical sensors, like the intermediate stop sensor 226e.

係るストッパ機構226では、ストッパ226dを接触位置に移動させた後、カム225bを回転させると、回転軸225hを介してカム225bと接続されたセンサアーム226aがストッパ226dに接触して停止する。これにより、カム225bの回転が停止され、カム225bの回転に伴って上下に移動するシャフト225dが上端位置と下端位置との間の中間位置で停止する。そのため、処理容器110の底部と弁体210との間隔は、シャフト225dが上端位置にあるときの処理容器110の底部と弁体210との間隔よりも狭くなる。その結果、排気コンダクタンスが小さくなり、処理圧力を高圧側へ制御できる。すなわち、処理圧力の調整範囲を高圧側に拡大できる。 In the stopper mechanism 226, when the cam 225b is rotated after the stopper 226d is moved to the contact position, the sensor arm 226a connected to the cam 225b via the rotation shaft 225h comes into contact with the stopper 226d and stops. As a result, the rotation of the cam 225b is stopped, and the shaft 225d that moves up and down with the rotation of the cam 225b stops at an intermediate position between the upper end position and the lower end position. Therefore, the distance between the bottom of the processing container 110 and the valve element 210 is smaller than the distance between the bottom of the processing container 110 and the valve element 210 when the shaft 225d is at the upper end position. As a result, the exhaust conductance is reduced, and the processing pressure can be controlled to the high pressure side. That is, the adjustment range of the processing pressure can be expanded to the high pressure side.

また、係るストッパ機構226では、位置調整プレート226bを回転させることで、センサアーム226aに対するストッパ226dの相対角度が変化する。これにより、回転軸225hを介してセンサアーム226aと接続されたカム225bの回転が制限される角度が変化するため、シャフト225dが停止する中間位置を変更できる。 Further, in the stopper mechanism 226, by rotating the position adjusting plate 226b, the relative angle of the stopper 226d with respect to the sensor arm 226a changes. As a result, the angle at which the rotation of the cam 225b connected to the sensor arm 226a via the rotation shaft 225h is restricted changes, so that the intermediate position where the shaft 225d stops can be changed.

次に、弁体駆動機構220Aの動作方法について、処理装置1の処理室10において、通常プロセス、高圧プロセスをこの順序で実行し、アイドリング状態に移行させる場合を例に挙げて説明する。 Next, the operation method of the valve body drive mechanism 220A will be described by taking as an example the case where the normal process and the high-pressure process are executed in this order in the processing chamber 10 of the processing apparatus 1 to shift to the idling state.

この場合、通常プロセスでは、制御部70は弁体駆動機構220Aを制御し、処理容器110の底部から離間した位置に弁体210を移動させる。これにより、処理容器110内と排気装置160とが排気口114を介して連通し、処理容器110内が排気される。 In this case, in the normal process, the control unit 70 controls the valve body drive mechanism 220A to move the valve body 210 to a position separated from the bottom of the processing container 110. As a result, the inside of the processing container 110 and the exhaust device 160 communicate with each other through the exhaust port 114, and the inside of the processing container 110 is exhausted.

また、高圧プロセスでは、制御部70は弁体駆動機構220Aを制御し、シャフト225dを中間位置に停止させて、処理容器110の底部と弁体210との間隔が通常プロセスよりも狭い位置に弁体210を移動させる。これにより、排気コンダクタンスが通常プロセスよりも小さくなり、処理圧力を高圧側へ制御できる。 Further, in the high pressure process, the control unit 70 controls the valve body driving mechanism 220A to stop the shaft 225d at the intermediate position, so that the gap between the bottom of the processing container 110 and the valve body 210 is narrower than in the normal process. The body 210 is moved. As a result, the exhaust conductance becomes smaller than in the normal process, and the processing pressure can be controlled to the high pressure side.

また、アイドリング状態では、制御部70は弁体駆動機構220Aを制御し、シール部材212を介して処理容器110の底部と接触する位置に弁体210を移動させる。 Further, in the idling state, the control unit 70 controls the valve body drive mechanism 220A to move the valve body 210 to a position where it contacts the bottom of the processing container 110 via the seal member 212.

〔実施例〕
次に、処理容器110の底部と弁体210との間隔Lを変更したときの処理圧力の変化を評価した。実施例では、処理容器110内の弁体210をOPEN位置、中間停止位置に設定し、ガス供給部152からポート150を介して処理容器110内にガスを20sccm〜500sccmの流量で導入したときの処理圧力を測定した。なお、OPEN位置は弁体駆動機構220のピストンロッド221cを上端位置に移動させたときの位置であり、中間停止位置は弁体駆動機構220のピストンロッド221cを中間位置に移動させたときの位置である。
〔Example〕
Next, the change in the processing pressure when the distance L between the bottom of the processing container 110 and the valve body 210 was changed was evaluated. In the embodiment, the valve body 210 in the processing container 110 is set to the OPEN position and the intermediate stop position, and when gas is introduced into the processing container 110 from the gas supply unit 152 through the port 150 at a flow rate of 20 sccm to 500 sccm. The processing pressure was measured. The OPEN position is the position when the piston rod 221c of the valve body drive mechanism 220 is moved to the upper end position, and the intermediate stop position is the position when the piston rod 221c of the valve body drive mechanism 220 is moved to the intermediate position. Is.

図7は、ガス流量と処理圧力との関係を示す図である。図7中、ガスの流量[sccm]を横軸に示し、Pressure[%]を縦軸に示す。また、図7において、処理容器110内の弁体210をOPEN位置に設定したときの結果を三角印で示し、処理容器110内の弁体210を中間停止位置に設定したときの結果を四角印で示す。 FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the gas flow rate and the processing pressure. In FIG. 7, the gas flow rate [sccm] is shown on the horizontal axis and the pressure [%] is shown on the vertical axis. Further, in FIG. 7, a triangle mark shows the result when the valve body 210 in the processing container 110 is set to the OPEN position, and a square mark shows the result when the valve body 210 in the processing container 110 is set to the intermediate stop position. Indicate.

図7に示されるように、処理容器110内の弁体210を中間停止位置に設定したときの処理圧力は、処理容器110内の弁体210をOPEN位置に設定したときの処理圧力よりも高いことが分かる。このことから、弁体駆動機構220のピストンロッド221cを中間位置に移動させることにより、処理圧力を高圧側へ制御できると言える。 As shown in FIG. 7, the processing pressure when the valve body 210 in the processing container 110 is set to the intermediate stop position is higher than the processing pressure when the valve body 210 in the processing container 110 is set to the OPEN position. I understand. From this, it can be said that the processing pressure can be controlled to the high pressure side by moving the piston rod 221c of the valve body drive mechanism 220 to the intermediate position.

なお、上記の実施形態において、第1のシリンダ221及びカム機構225は昇降部の一例であり、第2のシリンダ222及びストッパ機構226は制限部の一例である。また、カム225b、カムフォロア225c及び回転軸225hは回動部の一例であり、シャフト225dは直動部の一例であり、ストッパ226dは当接部の一例である。また、中間停止用シリンダ226cは駆動部の一例であり、位置調整プレート226bは調整部の一例であり、中間停止用センサ226eは検知部の一例である。 In addition, in the above-described embodiment, the first cylinder 221 and the cam mechanism 225 are an example of a lifting unit, and the second cylinder 222 and the stopper mechanism 226 are an example of a limiting unit. Further, the cam 225b, the cam follower 225c, and the rotary shaft 225h are examples of a rotating portion, the shaft 225d is an example of a linear moving portion, and the stopper 226d is an example of an abutting portion. The intermediate stop cylinder 226c is an example of a drive unit, the position adjustment plate 226b is an example of an adjustment unit, and the intermediate stop sensor 226e is an example of a detection unit.

今回開示された実施形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。上記の実施形態は、添付の請求の範囲及びその趣旨を逸脱することなく、様々な形態で省略、置換、変更されてもよい。 The embodiments disclosed this time are to be considered as illustrative in all points and not restrictive. The above-described embodiments may be omitted, replaced, or modified in various forms without departing from the scope and spirit of the appended claims.

上記の実施形態では、基板として半導体ウエハを例に挙げて説明したが、半導体ウエハはシリコンウエハであってもよく、GaAs、SiC、GaN等の化合物半導体ウエハであってもよい。また、基板は半導体ウエハに限定されず、液晶表示装置等のFPD(フラットパネルディスプレイ)に用いるガラス基板や、セラミック基板等であってもよい。 In the above embodiments, the semiconductor wafer has been described as an example of the substrate, but the semiconductor wafer may be a silicon wafer or a compound semiconductor wafer such as GaAs, SiC, or GaN. The substrate is not limited to a semiconductor wafer, and may be a glass substrate used for an FPD (flat panel display) such as a liquid crystal display device or a ceramic substrate.

1 処理装置
10 処理室
110 処理容器
114 排気口
160 排気装置
210 弁体
220、220A 弁体駆動機構
221 第1のシリンダ
222 第2のシリンダ
225 カム機構
225b カム
225c カムフォロア
225d シャフト
225h 回転軸
226 ストッパ機構
226c 中間停止用シリンダ
226d ストッパ
1 Processing Device 10 Processing Chamber 110 Processing Container 114 Exhaust Port 160 Exhaust Device 210 Valves 220, 220A Valve Body Drive Mechanism 221 First Cylinder 222 Second Cylinder 225 Cam Mechanism 225b Cam 225c Cam Follower 225d Shaft 225h Rotating Shaft 226 Stopper Mechanism 226c Intermediate stop cylinder 226d Stopper

Claims (13)

排気口を有し、内部を減圧できる処理容器と、
前記排気口の全体を覆うことができる弁体と、
前記弁体を移動させて前記排気口と前記弁体との距離を調整する弁体駆動機構と、
を備え、
前記弁体駆動機構は、
前記弁体を昇降させる昇降部と、
前記昇降部に接触して前記昇降部の動作を制限する制限部と、
を有する、
処理装置。
A processing container that has an exhaust port and can decompress the inside,
A valve body that can cover the entire exhaust port,
A valve body drive mechanism for moving the valve body to adjust the distance between the exhaust port and the valve body,
Equipped with
The valve body drive mechanism,
An elevating part for elevating the valve body,
A limiter that contacts the elevating part and limits the operation of the elevating part;
Has,
Processing equipment.
前記昇降部は、流体シリンダであり、
前記制限部は、前記流体シリンダに接触することにより前記流体シリンダの動作を制限する、
請求項1に記載の処理装置。
The lifting unit is a fluid cylinder,
The limiting portion limits the operation of the fluid cylinder by contacting the fluid cylinder,
The processing device according to claim 1.
前記制限部は、流体シリンダである、
請求項2に記載の処理装置。
The restriction is a fluid cylinder,
The processing device according to claim 2.
前記昇降部は、
回動部と、
前記回動部の回転に伴って直動し、前記弁体を支持する直動部と、
を有し、
前記制限部は、前記回動部に接触することにより前記回動部の回転を制限する、
請求項1に記載の処理装置。
The lifting unit is
A rotating part,
A linear motion section that linearly moves with the rotation of the rotary section and supports the valve body;
Have
The limiting portion limits rotation of the rotating portion by contacting the rotating portion,
The processing device according to claim 1.
前記制限部は、前記回動部に接触可能な当接部と、前記当接部を前記回動部に接触する位置と接触しない位置との間で移動させる駆動部と、を有する、
請求項4に記載の処理装置。
The limiting section includes an abutting section that can come into contact with the rotating section, and a driving section that moves the abutting section between a position that contacts the rotating section and a position that does not contact the rotating section.
The processing device according to claim 4.
前記当接部は、前記回動部が所定の回転角度に位置するときに前記回動部に接触する、
請求項5に記載の処理装置。
The contact portion contacts the rotating portion when the rotating portion is positioned at a predetermined rotation angle,
The processing device according to claim 5.
前記制限部は、前記当接部が前記回動部に接触するときの回転角度を調整する調整部を有する、
請求項6に記載の処理装置。
The limiting portion has an adjusting portion that adjusts a rotation angle when the contact portion contacts the rotating portion,
The processing device according to claim 6.
前記制限部は、前記回動部が前記所定の回転角度に位置することを検知する検知部を有する、
請求項6又は7に記載の処理装置。
The limiting section has a detection section that detects that the rotating section is located at the predetermined rotation angle.
The processing device according to claim 6.
前記駆動部は、流体シリンダである、
請求項5乃至8のいずれか一項に記載の処理装置。
The drive unit is a fluid cylinder,
The processing device according to claim 5.
前記排気口を介して前記処理容器内を排気する排気装置を有し、
前記排気装置は、クライオポンプを含む、
請求項1乃至9のいずれか一項に記載の処理装置。
An exhaust device for exhausting the inside of the processing container through the exhaust port,
The exhaust device includes a cryopump,
The processing device according to any one of claims 1 to 9.
排気口を有し、内部を減圧できる処理容器と、
前記排気口の全体を覆うことができる弁体と、
前記弁体を移動させて前記排気口と前記弁体との距離を調整する弁体駆動機構と、
を備え、
前記弁体駆動機構は、
前記弁体を昇降させる昇降部と、
前記昇降部に接触して前記昇降部の動作を制限する制限部と、
を有する処理装置の動作方法であって、
前記制限部により前記昇降部の動作を制限した状態で、前記処理容器内を減圧して処理を実行するステップを含む、
処理装置の動作方法。
A processing container that has an exhaust port and can decompress the inside,
A valve body that can cover the entire exhaust port,
A valve body drive mechanism for moving the valve body to adjust the distance between the exhaust port and the valve body,
Equipped with
The valve body drive mechanism,
An elevating part for elevating the valve body,
A limiter that contacts the elevating part and limits the operation of the elevating part;
A method of operating a processing device having:
In a state where the operation of the elevating part is restricted by the restricting part, the step of depressurizing the inside of the processing container and executing the process
Operating method of processing device.
前記制限部により前記昇降部の動作を制限することなく、前記処理容器内を減圧して処理を実行するステップを含む、
請求項11に記載の処理装置の動作方法。
Without restricting the operation of the elevating part by the restricting part, depressurizing the inside of the processing container, and performing a process,
A method for operating the processing apparatus according to claim 11.
前記制限部により前記昇降部の動作を制限した状態で、前記処理容器内を減圧して処理を実行するステップは、前記制限部により前記昇降部の動作を制限することなく、前記処理容器内を減圧して処理を実行するステップよりも、前記処理容器内の圧力を高くして実行するステップである、
請求項12に記載の処理装置の動作方法。
In a state in which the operation of the elevating unit is restricted by the limiting unit, the step of depressurizing the inside of the processing container and performing the process is performed without restricting the operation of the elevating unit by the limiting unit. It is a step of increasing the pressure in the processing container and executing the step, rather than performing the step of reducing the pressure.
A method for operating the processing apparatus according to claim 12.
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