JP2020115124A - 試験測定装置及び信号抽出方法 - Google Patents
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Abstract
Description
以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の1つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。
102 第2デバイス
104 差動伝送ラインの第1ライン
106 差動伝送ラインの第2ライン
200 電流プローブ
202 差動電圧プローブ
204 試験測定装置
206 プロセッサ
208 ユーザ入力部
300 電流プローブ
Claims (12)
- 差動伝送ラインから波形を抽出するための試験測定装置であって、
第1デバイスと第2デバイスとを電気的に接続する上記差動伝送ラインに電気的に結合された電圧プローブから電圧波形を受けるように構成された第1入力部と、
上記差動伝送ラインに電磁気的に結合された電流プローブから電流波形を受けるように構成された第2入力部と、
上記電圧波形及び上記電流波形を受けて、上記電圧波形及び上記電流波形に基づいて上記第1デバイスの電圧と上記第2デバイスの電圧を求めるように構成された1つ以上のプロセッサと
を具える試験測定装置。 - 1つ以上の上記プロセッサが、更に、上記差動伝送ラインのインピーダンスに基づいて、上記第1デバイスの上記電圧及び上記第2デバイスの上記電圧を求めるように構成される請求項1の試験測定装置。
- 1つ以上の上記プロセッサが、更に、次の式を使用して上記第1デバイスの上記電圧を求めるように構成されており、
VTx=(VTxRx+ITxRx*Z)÷2
このとき、VTxは上記第1デバイスの上記電圧、VTxRxは上記伝送ラインの上記電圧波形、ITxRxは上記差動伝送ラインの上記電流波形、Zは上記差動伝送ラインのインピーダンスである請求項1の試験測定装置。 - 1つ以上の上記プロセッサが、更に、次の式を使用して上記第1デバイスの上記電圧を求めるように構成されており、
VRx=(VTxRx−ITxRx*Z)÷2
このとき、VRxは上記第2デバイスの上記電圧、VTxRxは上記伝送ラインの上記電圧波形、ITxRxは上記差動伝送ラインの上記電流波形、Zは上記差動伝送ラインのインピーダンスである請求項1の試験測定装置。 - 1つ以上の上記プロセッサが、更に、次の式を使用して上記第1デバイスの上記電圧を決定するように構成されており、
VTx=(VTxRx+ITxRx*Z÷2)÷2
このとき、VTxは上記第1デバイスの上記電圧、VTxRxは上記伝送ラインの上記電圧波形、ITxRxは上記差動伝送ラインの上記電流波形、Zは上記差動伝送ラインのインピーダンスである請求項1の試験測定装置。 - 1つ以上の上記プロセッサが、更に、次の式を使用して上記第1デバイスの上記電圧を求めるように構成されており、
VRx=(VTxRx−ITxRx*Z÷2)÷2
このとき、VRxは上記第2デバイスの上記電圧、VTxRxは上記伝送ラインの上記電圧波形、ITxRxは上記差動伝送ラインの上記電流波形、Zは上記差動伝送ラインのインピーダンスである請求項1の試験測定装置。 - 第1デバイス及び第2デバイスを接続する伝送ライン上の上記第1デバイス及び上記第2デバイスからの信号を抽出する方法であって、
上記第1デバイスからの上記信号と上記第2デバイスからの上記信号とを含む電圧波形を、電気的に上記伝送ラインに結合された電圧プローブから受ける処理と、
電磁気的に上記伝送ラインに結合された電流プローブから電流波形を受ける処理と、
上記電圧波形及び上記電流波形に基づいて、上記第1デバイスの上記信号と上記第2デバイスの上記信号を上記電圧波形から分離する処理と
を具える信号抽出方法。 - 上記第1デバイスの上記信号と上記第2デバイスの上記信号を上記電圧波形から分離する処理が、上記差動伝送ラインのインピーダンスに基づいて、上記第1デバイスの上記信号と上記第2デバイスの上記信号を上記電圧波形から分離する処理を含む請求項7の信号抽出方法。
- 上記第1デバイスの上記信号を分離する処理は、以下の式を用いた処理が含まれており、
VTx=(VTxRx+ITxRx*Z)÷2
このとき、VTxは上記第1デバイスの上記信号、VTxRxは上記電圧波形、ITxRxは上記電流波形、Zは上記伝送ラインのインピーダンスである請求項7の信号抽出方法。 - 上記第2デバイスの上記信号を分離する処理は、以下の式を用いた処理が含まれており、
VRx=(VTxRx−ITxRx*Z)÷2
このとき、VRxは上記第1デバイスの上記信号、VTxRxは上記電圧波形、ITxRxは上記電流波形、Zは上記伝送ラインのインピーダンスである請求項7の信号抽出方法。 - 上記第2デバイスの上記信号を分離する前に、上記電流波形又は上記電圧波形のいずれかの位相を補償する処理を更に具える請求項7の信号抽出方法。
- 試験測定装置の1つ以上のプロセッサによって実行されると、上記試験測定装置に請求項7〜11のいずれかの方法を実行させる命令を含むプログラム。
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