CN206609901U - 一种pcie通道损耗测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型特别涉及一种PCIE通道损耗测试治具。该PCIE通道损耗测试治具，包括治具主板和金手指接口，所述治具主板通过高速测试探针SMA接口连接到频域测试仪器网络分析仪；所述治具主板上部设有去嵌入THRU线，一端连接一对高速测试探针SMA接口，另一端采用金手指设计；所述治具主板利用去嵌入THRU线做端口延伸，将测试界面移到金手指接口下方的被测通道位置，进而直接得到被测板的传输线损耗参数。该PCIE通道损耗测试治具，结构简单，简化了测试工序，降低了测试成本，既能用于测试发送信号，又能用于测试接收信号，便于评估系统性能，分析系统信号问题点，能够为产品设计提供了有效、有利的数据。
Description
技术领域
本实用新型涉及信号测试技术领域，特别涉及一种PCIE通道损耗测试治具。
背景技术
PCIE3.0是一种电子产品接口总线，随着数字版本的升高，其信号速率也相应的得到了提高。X8和X16是PCIE接口的带宽，X8有8对发送信号（TX0~TX7）路径和8对接收信号（RX0~RX7）路径，X16有16对发送信号（TX0~TX15）路径和16对接收信号（RX0~RX15）路径。
在服务器项目中，标准X8 PCIE接口，X16 PCIE接口，PCIE总线通道经过多板互联，布线情况复杂，信号测试有合格和不合格的情况，对于通道本身各个元素直观上很难了解，需要通过频域测量手段，获得全通道的S参数数据，进而分析通道在关注频点的表现，从而获得PCIE总线在系统架构中的实际驱动能力，所能支持的布线长度，方便后续项目的设计，积累设计经验。
在当前的测试治具市场中，PCIE1.0，PCIE 2.0和PCIE 3.0接口的信号质量测试治具都容易购得。但由于对通道损耗的测试是一种非标准的测试，且该测试对测试治具的易用性和准确性要求较高，目前还没有能够真正实现通道损耗测试的治具。
但是对PCIE接口通道损耗的测试对信号设计而言又非常重要，现有的测试方法不仅测试成本较高，而且测试工序复杂。针对这一问题，本实用新型提出了一种PCIE通道损耗测试治具。
发明内容
本实用新型为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种简单高效的PCIE通道损耗测试治具。
本实用新型是通过如下技术方案实现的：
一种PCIE通道损耗测试治具，其特征在于：包括治具主板和金手指接口，所述治具主板通过金手指接口连接标准PCIE测试接口SLOT槽端，所述治具主板上连接有高速测试探针SMA接口，治具主板通过高速测试探针SMA接口连接到频域测试仪器网络分析仪；所述治具主板通过高速测试探针SMA接口将标准PCIE测试接口SLOT槽端的n+1对发送信号和n+1对接收信号接入频域测试仪器网络分析仪；所述治具主板上部设有去嵌入THRU线，一端连接一对高速测试探针SMA接口，另一端采用金手指设计。
所述治具主板一面设有TX0~TXn测试引出线，另一面设有RX0~RXn引出线；所述TX0~TXn测试引出线和RX0~RXn引出线分别连接各个高速测试探针SMA接口和金手指接口，且TX0~TXn测试引出线和RX0~RXn引出线从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度相等。
所述TX0~TXn测试引出线和RX0~RXn引出线从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度均为4 INCH；所述去嵌入THRU线长度等同于TX0~TXn测试引出线和RX0~RXn引出线的长度，线长也为4 INCH。
该PCIE通道损耗测试治具适用于标准X8 PCIE接口和X16 PCIE接口，n为7或15。
本实用新型的有益效果是：该PCIE通道损耗测试治具，结构简单，简化了测试工序，降低了测试成本，既能用于测试发送信号，又能用于测试接收信号，便于评估系统性能，分析系统信号问题点，能够为产品设计提供了有效、有利的数据。
附图说明
附图1为本实用新型PCIE通道损耗测试治主视结构示意图。
附图2为本实用新型PCIE通道损耗测试治后视结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图和实施例，对本实用新型进行详细的说明。应当说明的是，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
实施例1
附图1和附图2以标准X16 PCIE接口为例，给出了该PCIE通道损耗测试治具的连接结构示意图，为了保证图片的清晰，便于理解，图中只画出了TX0~TX3测试引出线和RX0~RX3引出线，隐去了TX4~TX15测试引出线和RX4~RX15引出线。实际上，X16PCIE接口的16对发送信号（TX0~TX15）和16对接收信号（RX0~RX15）均有引出线接入金手指。
该PCIE通道损耗测试治具，包括治具主板和金手指接口，所述治具主板通过金手指接口连接标准PCIE测试接口SLOT槽端，所述治具主板上连接有高速测试探针SMA接口，治具主板通过高速测试探针SMA接口连接到频域测试仪器网络分析仪；所述治具主板通过高速测试探针SMA接口将标准PCIE测试接口SLOT槽端的16对发送信号和16对接收信号接入频域测试仪器网络分析仪；所述治具主板上部设有去嵌入THRU线，一端连接一对高速测试探针SMA接口，另一端采用金手指设计。所述治具主板利用去嵌入THRU线做端口延伸，将测试界面移到金手指接口下方的被测通道位置，进而直接得到被测板的传输线损耗参数。
所述治具主板一面设有TX0~TX15测试引出线，另一面设有RX0~RX15引出线；所述TX0~TX15测试引出线和RX0~RX15引出线分别连接各个高速测试探针SMA接口和金手指接口，且TX0~TX15测试引出线和RX0~RX15引出线从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度相等。
所述TX0~TX15测试引出线和RX0~RX15引出线从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度均为4 INCH；所述去嵌入THRU线长度等同于TX0~TX15测试引出线和RX0~RX15引出线的长度，线长也为4 INCH。
测试时，先将去嵌入THRU线两端的高速测试探针SMA接口和金手指接入频域测试仪器网络分析仪，进而得到该PCIE通道损耗测试治具的通道损耗参数。
然后，将PCIE通道损耗测试治具通过金手指接口连接到作为测试对象的标准X16PCIE接口；并该选择需要测试的发送信号或接收信号，并将其对应的高速测试探针SMA接口接入频域测试仪器网络分析仪，得到标准X16 PCIE接口和该PCIE通道损耗测试治具的通道损耗参数之和，扣除之前得到的该PCIE通道损耗测试治具的通道损耗参数后即为标准X16PCIE接口的通道损耗参数。
实施例2
在实施例1的基础上，以标准X8 PCIE接口为测试对象时，所述治具主板通过高速测试探针SMA接口将标准PCIE测试接口SLOT槽端的8对发送信号和8对接收信号接入频域测试仪器网络分析仪。
所述治具主板一面设有TX0~TX7测试引出线，另一面设有RX0~RX7引出线；所述TX0~TX7测试引出线和RX0~RX7引出线分别连接各个高速测试探针SMA接口和金手指接口，且TX0~TX7测试引出线和RX0~RX7引出线从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度相等。
所述TX0~TX7测试引出线和RX0~RX7引出线从各个高速测试探针SMA接口到金手指接口的长度均为4 INCH；所述去嵌入THRU线长度等同于TX0~TX7测试引出线和RX0~RX7引出线的长度，线长也为4 INCH。
Claims (4)
1.一种PCIE通道损耗测试治具，其特征在于：包括治具主板（1）和金手指接口（3），所述治具主板（1）通过金手指接口（3）连接标准PCIE测试接口SLOT槽端，所述治具主板（1）上连接有高速测试探针SMA接口（2），治具主板（1）通过高速测试探针SMA接口（2）将标准PCIE测试接口SLOT槽端的n+1对发送信号和n+1对接收信号接入频域测试仪器网络分析仪；所述治具主板（1）上部设有去嵌入THRU线（4），一端连接一对高速测试探针SMA接口（2），另一端采用金手指设计。
2.根据权利要求1所述的PCIE通道损耗测试治具，其特征在于：所述治具主板（1）一面设有TX0~TXn测试引出线（5），另一面设有RX0~RXn引出线（6）；所述TX0~TXn测试引出线（5）和RX0~RXn引出线（6）分别连接各个高速测试探针SMA接口（2）和金手指接口（3），且TX0~TXn测试引出线（5）和RX0~RXn引出线（6）从各个高速测试探针SMA接口（2）到金手指接口（3）的长度以及所述去嵌入THRU线（4）的长度均相等。
3.根据权利要求2所述的PCIE通道损耗测试治具，其特征在于：所述TX0~TXn测试引出线（5）和RX0~RXn引出线（6）从各个高速测试探针SMA接口（2）到金手指接口（3）的长度以及所述去嵌入THRU线（4）的长度均为4 INCH。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的PCIE通道损耗测试治具，其特征在于：适用于标准X8 PCIE接口和X16 PCIE接口，n为7或15。
Priority Applications (1)
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107703362A (zh) * | 2017-12-07 | 2018-02-16 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种服务器主板pcie信号线阻抗测试治具 |
| CN108829550A (zh) * | 2018-06-01 | 2018-11-16 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | Amd平台的测试夹具 |
| CN109684139A (zh) * | 2018-12-04 | 2019-04-26 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | PCIe 4.0插槽的测试治具 |
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