JP2020081450A - 画像解析装置、画像解析方法、及び眼科装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本発明の眼科装置10の概略図である。図1に示すように、眼科装置10は、被検眼Eの眼特性として眼屈折力及び角膜形状を測定するオートレフケラトメータである。この眼科装置10は、被検眼Eの眼屈折力及び角膜形状の他に、被検眼Eの状態を判定(推定)、具体的には被検眼Eの白内障及び円錐角膜等の疾患を検査する機能を有する。眼科装置10は、ベース12と、顔受け部13と、架台14と、測定ヘッド15と、を備える。
図3は、画像解析回路38の機能ブロック図である。図3に示すように、画像解析回路38は、既述のプログラム42を実行することにより、画像取得部46、リング像検出部48、高次収差検出部50、状態判定部52、及び眼特性演算部54として機能する。なお、本実施形態において「〜部」として説明するものは「〜回路」、「〜装置」、又は「〜機器」であってもよい。すなわち、「〜部」として説明するものは、ファームウェア、ソフトウェア、及びハードウェアまたはこれらの組み合わせのいずれで構成されていてもよい。
図10は、上記構成の眼科装置10による本発明の画像解析方法を用いた被検眼Eの状態の評価処理の流れを示すフローチャートである。なお、被検眼Eに対する測定ヘッド15のアライメント、被検眼Eの固視又は雲霧、及び被検眼Eの眼特性の測定については公知技術であるため、ここでは説明を省略する。
以上のように本実施形態の眼科装置10は、レフリング像34A及びケラトリング像34Bを解析して被検眼Eの特定の高次収差を検出することで、被検眼Eの状態(疾患の有無及び種類)を判定することができる。これにより、オートレフケラトメータ等のような既存の眼科装置10を利用して被検眼Eの疾患を検査することができる。
上記実施形態では、レフリング像34A及びケラトリング像34Bの双方をそれぞれ解析した結果に基づき、被検眼Eの状態の個別判定及び総合判定の双方を実行しているが、レフリング像34A及びケラトリング像34Bのいずれか一方のみを解析して被検眼Eの状態の個別判定のみを実行してもよい。この場合、眼科装置10として公知のレフラクトメータ又はケラトメータ等を用いることができる。
18…光学系,
20…制御装置,
23…ケラト系,
28…測定用パターン投影光学系,
30…測定光学系,
32A,32B…撮像画像,
34A…レフリング像,
34B…ケラトリング像,
38…画像解析回路,
43…判定用テーブル,
46…画像取得部,
48…リング像検出部,
50…高次収差検出部,
50a…楕円近似部,
50b…残差演算部,
50c…収差解析部,
52…状態判定部,
54…眼特性演算部,
60A,60B…楕円,
62A,62B…残差
Claims (9)
- 被検眼に投影された測定用パターンの反射光の撮像画像を取得する画像取得部と、
前記画像取得部により取得された前記撮像画像内から前記反射光に基づくリング像を検出するリング像検出部と、
前記リング像検出部により検出された前記リング像に基づき、前記リング像の歪みを発生させる前記被検眼の特定の高次収差を検出する高次収差検出部と、
を備える画像解析装置。 - 前記高次収差検出部が、
前記リング像検出部により検出された前記リング像に対して楕円をフィッティングする楕円近似部と、
前記楕円近似部によりフィッティングされた前記楕円と、前記リング像検出部により検出された前記リング像と、の残差を演算する残差演算部と、
前記残差演算部が演算した前記残差に基づき、前記被検眼の特定の高次収差を演算する収差解析部と、
を備える請求項1に記載の画像解析装置。 - 前記収差解析部が、前記残差をゼルニケ多項式の微分にフィットさせることにより、前記被検眼の特定の高次収差の演算結果として前記ゼルニケ多項式のゼルニケ係数を演算する請求項2に記載の画像解析装置。
- 前記高次収差検出部の検出結果に基づき、前記被検眼の状態を判定する状態判定部を備える請求項1から3のいずれか1項に記載の画像解析装置。
- 前記画像取得部が、前記撮像画像として、前記被検眼の眼底に投影された眼屈折力の測定用パターンの眼底反射光の第1撮像画像と、前記被検眼の角膜に投影された角膜形状の測定用パターンの角膜反射光の第2撮像画像とを取得し、
前記リング像検出部が、前記撮像画像の種類ごとに前記リング像を検出し、
前記高次収差検出部が、前記撮像画像の種類ごとに前記被検眼の特定の高次収差を検出し、
前記状態判定部が、前記撮像画像の種類ごとに前記被検眼の状態を判定する請求項4に記載の画像解析装置。 - 前記画像取得部が、前記撮像画像として、前記被検眼の眼底に投影された眼屈折力の測定用パターンの眼底反射光の第1撮像画像と、前記被検眼の角膜に投影された角膜形状の測定用パターンの角膜反射光の第2撮像画像とを取得し、
前記リング像検出部が、前記撮像画像の種類ごとに前記リング像を検出し、
前記高次収差検出部が、前記撮像画像の種類ごとに前記被検眼の特定の高次収差を検出し、
前記状態判定部が、前記撮像画像の種類ごとの前記高次収差検出部の検出結果に基づき、前記被検眼の状態を判定する請求項4に記載の画像解析装置。 - 被検眼に測定用パターンを投影する投影光学系と、
前記被検眼に投影された前記測定用パターンの反射光に基づくリング像を出力する測定光学系と、
請求項1から6のいずれか1項に記載の画像解析装置と、
を備える眼科装置。 - 被検眼に投影された測定用パターンの反射光の撮像画像を取得する画像取得ステップと、
前記画像取得ステップで取得された前記撮像画像内から前記反射光に基づくリング像を検出するリング像検出ステップと、
前記リング像検出ステップで検出された前記リング像に基づき、前記リング像の歪みを発生させる前記被検眼の特定の高次収差を検出する高次収差検出ステップと、
を有する画像解析方法。 - 前記高次収差検出ステップの検出結果に基づき、前記被検眼の状態を判定する状態判定ステップを有する請求項8に記載の画像解析方法。
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