JP2020076744A - 劣化測定からの制約付き凸回帰を使用する、残存耐用年数の適応的推定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (20)
- 荷重支持構造体の耐用年数を推定するための方法であって、
前記構造体に対して劣化測定を実行し、所定の時間間隔の劣化データを得ることと、
制約付き凸回帰モデルを前記劣化データに適用することと、
前記制約付き凸回帰モデルの出力に基づいて、前記構造体の総耐用年数(TUL)を推定することと、
総耐用年数(TUL)及び現在の時間に基づいて、残存耐用年数(RUL)を予測することと、を含む方法。 - 前記荷重支持構造体が荷重支持ケーブルを備え、かつ、
前記劣化測定を実行することが、
電気抵抗を測定すること、
熱抵抗を測定すること、及び
磁気抵抗を測定すること、のうちの1つ以上を含む、請求項1に記載の方法。 - 前記制約付き凸回帰モデルの前記出力に基づいて、測定の再較正が必要かどうかを判定することと、
測定再較正が必要であることに応じて、新たな劣化データを取得することと、を更に含む、請求項1に記載の方法。 - 後続の時間間隔に対して、追加の劣化測定を実行することと、
前記追加の劣化測定に基づいて、前記総耐用年数(TUL)推定を更新することと、を更に含む、請求項1に記載の方法。 - 粒子フィルタリング技術を使用して、前記制約付き凸回帰モデルの前記出力及び前記追加の劣化測定に基き、前記総耐用年数(TUL)の確率分布を推定することを更に含む、請求項4に記載の方法。
- 前記粒子フィルタリング技術が、カルマンフィルタリングを含む、請求項5に記載の方法。
- 前記制約付き凸回帰モデルが、漸近関数を含む、請求項1に記載の方法。
- 荷重支持構造体の耐用年数を推定するための装置であって、
前記荷重支持構造体内に埋め込まれ、劣化データを得るように構成されている1つ以上のセンサと、
所定の時間間隔に関連付けられた劣化データに、制約付き凸回帰モデルを適用するように構成されている、制約付き凸回帰モデリングモジュールと、
前記制約付き凸回帰モデルの出力に基づいて、前記構造の総耐用年数(TUL)を推定するように構成されている、総耐用年数(TUL)推定モジュールと、
前記総耐用年数(TUL)及び現在の時間に基づいて、残存耐用年数(RUL)を予測するように構成されている、残存耐用年数(RUL)予測モジュールと、を備える装置。 - 前記荷重支持構造体が荷重支持ケーブルを備え、かつ、
前記劣化データが、
電気抵抗、
熱抵抗、及び
磁気抵抗のうちの1つ以上を含む、請求項8に記載の装置。 - 前記制約付き凸回帰モデルの前記出力に基づいて、測定の再較正が必要かどうかを判定し、
前記測定再較正が必要であることに応じて、新たな劣化データを取得するように構成されている再較正モジュールを更に備える、請求項8に記載の装置。 - 前記1つ以上のセンサが、後続の時間間隔に対する追加の劣化データを取得するように更に構成され、
前記総耐用年数(TUL)推定モジュールが、前記追加の劣化データに基づいて、前記総耐用年数(TUL)推定を更新するように更に構成されている、請求項8に記載の装置。 - 粒子フィルタリング技術を使用し、前記制約付き凸回帰モデルの前記出力及び前記追加の劣化測定に基づいて、前記総耐用年数(TUL)の確率分布を推定するように構成されている、粒子フィルタリングモジュールを更に備える、請求項11に記載の装置。
- 前記粒子フィルタリング技術が、カルマンフィルタリングを含む、請求項12に記載の装置。
- 前記制約付き凸回帰モデルが、漸近関数を含む、請求項8に記載の装置。
- コンピュータによって実行されると、荷重支持構造体の耐用年数を推定する方法を、前記コンピュータに実施させる命令を記憶する非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、前記方法が、
前記構造体に対して劣化測定を実行し、所定の時間間隔に対する劣化データを取得することと、
制約付き凸回帰モデルを前記劣化データに適用することと、
前記制約付き凸回帰モデルの出力に基づいて、前記構造体の総耐用年数(TUL)を推定することと、
前記総耐用年数(TUL)及び現在の時間に基づいて、残存耐用年数(RUL)を予測することと、を含む、非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記荷重支持構造体が荷重支持ケーブルを含み、かつ
前記劣化測定を実行することが、
電気抵抗を測定すること、
熱抵抗を測定すること、及び
磁気抵抗を測定することのうちの1つ以上を含む、請求項15に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記方法が、
前記制約付き凸回帰モデルの前記出力に基づいて、測定再較正が必要かどうかを判定することと、
前記測定再較正が必要であることに応じて、新たな劣化データを取得することと、を更に含む、請求項15に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記方法が、
後続の時間間隔に対して、追加の劣化測定を実行することと、
前記追加の劣化測定に基づいて、前記総耐用年数(TUL)推定を更新することと、を更に含む、請求項15に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記方法が、粒子フィルタリング技術を使用して、前記制約付き凸回帰モデルの前記出力及び前記追加の劣化測定値に基づき、前記総耐用年数(TUL)の確率分布を推定することを更に含み、
前記粒子フィルタリング技術が、カルマンフィルタリングを含む、請求項18に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 前記制約付き凸回帰モデルが、漸近関数を含む、請求項15に記載の非一時的コンピュータ可読記憶媒体。
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