JP2020071082A - 変形試験器 - Google Patents

Abstract

【課題】曲げたり延ばしたりされる間の試験体の状態をうまく検出することができる変形試験器を提供する。【解決手段】検出器支持部４０１は、試験器本体１１にて試験される試験片１０１の繰り返し折り曲げられる部分を撮像するためのカメラや非接触温度計等の検出器５０３、５０５を支持するものであり、連結部材９４に基端側が取り付けられ真っ直ぐなほぼ角棒から形成される第１取付棒４０３と、連結部材９６に基端側が取り付けられ真っ直ぐなほぼ角棒から形成される第２取付棒４０５と、第１取付棒４０３先端側と第２取付棒４０５先端側とに架け渡されるように取り付けられる一対の取付板４０７、４０９と、を有し、大まかには片仮名の「コ」の字形をなしている。【選択図】図１６

Description

本発明は、変形試験器に関し、より詳細には、携帯電話等の基板や有機ＥＬ等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器に関する。

以前から、携帯電話等の基板や有機ＥＬ等のフレキシブルディスプレーに用いられる薄いガラス板や樹脂板等の面状の試験体を変形させてその耐久度を試験する変形試験器が知られている（例えば、特許文献１〜特許文献６参照）。

特許文献１は、「彎曲試験を機械でできるようにしたもので、これにおいて、彎曲の曲率半径や弧長が違っていても、わずかな調整で機械が作動できるようにしたもの」（特許文献１の段落番号０００５）であり、具体的には「略四角形のフレームの中に固定壁と移動壁とを対向して設け、両壁の頂上にワークを取り付ける取付部を固定壁と移動壁に対してそれぞれ鉛直面内で回動可能に設けるとともに、両取付部にワークとワークの他に板ばねのそれぞれ両端を取り付けて固定壁と移動壁との間に彎曲状態に渡し、移動壁を固定壁に対して遠近させてワークを繰り返し彎曲することを特徴とする彎曲試験機」（特許文献１の段落番号０００６）を開示している。かかる特許文献１の彎曲試験機によれば、「固定壁と移動壁に薄いガラス板や樹脂板といったワークを彎曲状態で渡し、移動壁を固定壁に対して遠近させてをワークを繰り返して彎曲するものである。このとき、ワークの彎曲の曲率半径等の形状要件を変えることがあるが、移動壁を移動させるアクチュエータによるストロークと両壁の初期位置を変えること等でそれを可能にする。また、ワークを取り付ける取付部が移動壁又は固定壁に対して鉛直面内で回動可能(相手方に向かって傾動可能なこと)にすることで内部応力を残さずにストローク変化にも対応できるようにしている。さらに、彎曲の速度も調整できなければならないが、アクチュエータの速さを変えることでそれができる。」（特許文献１の段落番号０００８）というものである。

特許文献４は、面状の試験体を繰り返し捩じり（捩回）試験を行うものである。
特許文献２及び特許文献５は、面状の試験体を繰り返し折り曲げたり延ばしたりを繰り返す試験を行うものである。
特許文献３は、シート状の試験体をＵ字形に垂らして一方を固定し、他方を上下に動かすことで折り曲げ部分を試験体において移動させる試験を行うものである。

本出願人の特許出願である特許文献６（本願出願時未公開文献）は、「面状の試験体を小さな曲げ半径により折り曲げられたり延ばされたりを繰り返すことができる変形試験器を提供することを目的」（特許文献６の段落番号０００５最終段落）としてなされたもので、具体的には「試験体が取り付けられる第１取付面と、第１線分の上に存する第１取付面の縁部である第１縁部と、を有する第１取付板と、試験体が取り付けられる第２取付面と、第２線分の上に存する第２取付面の縁部である第２縁部と、を有する第２取付板と、試験体が架け渡される隙間が第１縁部と第２縁部との間に形成されるように、第１線分と第２線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動可能であり、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動可能であるように、第１取付板と第２取付板とを支持する支持手段と、そして第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させる回動手段と、を備えてなる、変形試験器」（特許文献６、段落番号０００６）を開示している。かかる特許文献６の変形試験機によれば、「第１取付面と第２取付面とに試験体が取り付けられ、第１取付面の第１縁部と第２取付面の第２縁部との間に試験体が架け渡された状態において、第１縁部を規定する第１線分と、第２縁部を規定する第２線分と、が互いに平行で相対的位置を保持したまま、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させることにより、意図した曲げを試験体が生じる以外の力（例えば、試験体が不意に不均一に曲がる力、試験体を引っぱる力や圧縮する力）が試験体に加わることを防止又は減少させることができる（特許文献１中の板バネ１２を用いることなく、意図した曲げを試験体が生じる以外の力が試験体に加わることを防止又は減少させる。）と共に、第１縁部と第２縁部との距離が極小（理論的には０に限りなく近づけることができる。）になるまで両縁部を容易に近接させることができるので、試験体をどのような小さな曲げ半径であっても曲げたり延ばしたりを繰り返して試験することができる。」（特許文献６、段落番号０００９）というものである。

特開２０１６−８０６９４号公報 特開２０１６−４２０４８号公報 特開２０１３−１２５００２号公報 特開２０１３−６４６５８号公報 特開２０１３−５７５３８号公報 特願２０１７−１６０９４９号

このように特許文献６の試験機によれば、第１取付面の第１縁部と第２取付面の第２縁部との間に試験体が架け渡された状態において、試験体を曲げたり延ばしたりを繰り返して試験することができる。
このような試験体を繰り返し曲げたり延ばしたりする試験において、試験体に生じる変化を把握するため、曲げ延ばしされる試験体の状態（例えば、外観、温度、音等）を検出することが求められる場合がある。
そこで、本発明では、第１取付面の第１縁部と第２取付面の第２縁部との間に架け渡された試験体が曲げたり延ばしたりされる間の該試験体の状態をうまく検出することができる変形試験器を提供することを目的とする。

本発明の変形試験器（以下「本試験器」という。）は、試験体が取り付けられる第１取付面と、第１線分の上に存する第１取付面の縁部である第１縁部と、を有する第１取付板と、試験体が取り付けられる第２取付面と、第２線分の上に存する第２取付面の縁部である第２縁部と、を有する第２取付板と、試験体が架け渡される隙間が第１縁部と第２縁部との間に形成されるように、第１線分と第２線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動可能であり、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動可能であるように、第１取付板と第２取付板とを支持する支持手段と、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させる回動手段と、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分の状態を検出する検出器を支持する検出器支持手段と、を備えてなる変形試験器であって、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させることで、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分を変形させる変形試験において、第１線分と第２線分とを２辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置が、略同じである、変形試験器である。

本試験器は、大まかには、第１取付板と、第２取付板と、支持手段と、回動手段と、検出器支持手段と、を備えてなる。
第１取付板は、第１取付面と、第１取付面の縁部である第１縁部と、を有する。第１取付面は、試験体が取り付けられる面であり、例えば、シート状、フィルム状、膜状、板状等のように主表面を有する試験体が、該主表面の一部が第１取付面に接着等によって取り付けられる。第１縁部は、第１取付面の縁部であって第１線分上に存する真っ直ぐな縁である。
第２取付板は、第２取付面と、第２取付面の縁部である第２縁部と、を有する。第２取付面は、試験体が取り付けられる面であり、例えば、シート状、フィルム状、膜状、板状等のように主表面を有する試験体が、該主表面の一部が第２取付面に接着等によって取り付けられる。第２縁部は、第２取付面の縁部であって第２線分上に存する真っ直ぐな縁である。
このような第１取付板の第１取付面と、第２取付板の第２取付面と、に試験体が取り付けられ、第１縁部と第２縁部との間に試験体が架け渡される。

支持手段は、（ａ）第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動可能であること、（ｂ）第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動可能であること、のうち一方又は両方が満たされるように第１取付板と第２取付板とを支持する。この（ａ）（ｂ）の一方又は両方の回動を生じても、試験体が架け渡される隙間が第１縁部と第２縁部との間に形成されると共に、第１線分と第２線分とが互いに平行で両線分の相対的位置が保持される。なお、第１線分と第２線分との両線分の相対的位置は、両線分間の距離や、両線分の一方に対する他方の、両線分の平行方向に関する位置（該一方を含む直線に該他方が含まれるように平行移動させた際、該一方に対する該平行移動させた他方の位置）を含む。
回動手段は、（ｃ）第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させること、（ｄ）第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させること、のうち一方又は両方を行う。

検出器支持手段は検出器を支持し、検出器は、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分の状態を検出する。検出器が検出する該部分の状態は、いかなるものであってもよく何ら限定されるものではないが、例えば、外観、温度、発生音等を挙げることができる。外観を目的とする場合は検出器として撮像装置（動画及び静止画のいずれも含む。）を用いればよく、温度を目的とする場合は検出器として非接触温度計を用いればよく、発生音を目的とする場合は検出器としてマイクロフォンを用いればよい。
このような検出器が、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分（検出対象とする部分）の状態を検出できるように検出器支持手段によって支持される。

そして、本試験器においては、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させることで、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分を変形させる変形試験が行われる。
かかる本試験器の変形試験において、第１線分と第２線分とを２辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化する。しかしながら、本試験器においては、この変形試験における対象領域の絶対位置の変化に関わらず、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置が略同じにされる。

このように第１取付面と第２取付面とに試験体が取り付けられ、第１取付面の第１縁部と第２取付面の第２縁部との間に試験体が架け渡された状態において、第１縁部を規定する第１線分と、第２縁部を規定する第２線分と、が互いに平行で相対的位置を保持したまま、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させることにより、意図した曲げを試験体が生じる以外の力（例えば、試験体が不意に不均一に曲がる力、試験体を引っぱる力や圧縮する力）が試験体に加わることを防止又は減少させることができる（特許文献１中の板バネ１２を用いることなく、意図した曲げを試験体が生じる以外の力が試験体に加わることを防止又は減少させる。）と共に、第１縁部と第２縁部との距離が極小（理論的には０に限りなく近づけることができる。）になるまで両縁部を容易に近接させることができるので、試験体をどのような小さな曲げ半径であっても曲げたり延ばしたりを繰り返して試験することができる。
そして、検出器支持手段に支持される検出器から見て、対象領域（第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分が対象領域の近くに存在する。）の相対的位置（距離、方向）が略同じに保たれるので、変形試験における対象領域の絶対位置が変化しても、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分に対する検出器の相対的な位置（距離、方向）がほぼ同じに保たれることから、検出器よって対象とする該部分の状態を安定的かつ正確に検出することができる。

本試験器においては、検出器支持手段が、絶対位置が変化する第１縁部及び／又は第２縁部に取り付けられるもの（以下「縁部取付本試験器」という。）であってもよい。
このように検出器支持手段を、絶対位置が変化する第１縁部及び／又は第２縁部に取り付けるという簡単な構成によって、第１線分と第２線分とを２辺とする対象領域の絶対位置変化に合わせて検出器支持手段の絶対位置を変化させ、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置を略同じに保つことができる。なお、絶対位置が変化する第１縁部及び／又は第２縁部への検出器支持手段の取付は、直接的（他の物を介することなく取り付ける）及び間接的（他の物を介して取り付ける）のいずれであってもよい。

縁部取付本試験器においては、支持手段は、第１線分が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、検出器支持手段が、両縁部位置関係保持部材に取り付けられるもの（以下「両縁部位置関係保持部材本試験器」という。）であってもよい。
支持手段は、試験体が架け渡される隙間が第１縁部と第２縁部との間に形成されるように、第１線分と第２線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動可能であり、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動可能であるように、第１取付板と第２取付板とを支持するものであるが、支持手段は両縁部位置関係保持部材を有するようにしてもよい。即ち、両縁部位置関係保持部材は、第１取付板及び第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられるが、第１取付板に対し第１直線（第１線分を含む）の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２取付板に対し第２直線（第２線分を含む）の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられる。そして、両縁部位置関係保持部材は、第１取付板に対する回動可能な軸である第１直線と、第２取付板に対する回動可能な軸である第２直線と、の間の距離を一定に保持する。かかる両縁部位置関係保持部材を支持手段が有することで、支持手段を簡単に構成することができる。
そして、検出器支持手段が、第１線分及び第２線分と共に動く両縁部位置関係保持部材に取り付けられることで、第１線分と第２線分とを２辺とする対象領域の絶対位置変化に合わせて検出器支持手段の絶対位置をうまく変化させて、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置を略同じに保つことができる。

両縁部位置関係保持部材本試験器においては、支持手段は、第１線分の一端側の第１取付板と第２線分の一端側の第２取付板とに取り付けられる一端側の両縁部位置関係保持部材と、第１線分の他端側の第１取付板と第２線分の他端側の第２取付板とに取り付けられる他端側の両縁部位置関係保持部材と、を含んでなり、検出器支持手段が、一端側の両縁部位置関係保持部材と他端側の両縁部位置関係保持部材とに取り付けられるものであってもよい。
こうすることで、両縁部位置関係保持部材として、第１線分の一端側の第１取付板と第２線分の一端側の第２取付板とに取り付けられる一端側の両縁部位置関係保持部材と、第１線分の他端側の第１取付板と第２線分の他端側の第２取付板とに取り付けられる他端側の両縁部位置関係保持部材と、を含むので、一端側と他端側との両方において、第１縁部（第１線分）と第２縁部（第２線分）との位置関係が確実に保持される。
そして、検出器支持手段が、一端側の両縁部位置関係保持部材と他端側の両縁部位置関係保持部材とに取り付けられるので、変形試験における対象領域の絶対位置変化に伴って検出器支持手段の絶対位置を確実に変化させ、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置を略同じにうまく保つことができる。

本試験器においては、支持手段は、第１線分と平行な第１回動軸の周りに回動可能に第１取付板を支持すると共に、第２線分と平行な第２回動軸の周りに回動可能に第２取付板を支持し、第１回動軸と第２回動軸との間の距離が変化可能なものである取付板支持手段を有するもの（以下「取付板支持手段本試験器」という。）であってもよい。
このような支持手段が有する取付板支持手段によって、第１線分と平行な第１回動軸の周りに第１取付板が回動可能に支持され、第２線分と平行な第２回動軸の周りに第２取付板が回動可能に支持されると共に、第１回動軸と第２回動軸との間の距離が変化可能になるので、第１線分と第２線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動可能にし、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動可能にした状態で第１取付板と第２取付板とを支持することができる。

取付板支持手段本試験器においては、取付板支持手段は、第１回動軸の周りに回動可能に第１取付板を支持する第１回動棒を有してなり、回動手段は、第１回動棒を第１回動軸の周りに回動させる第１回動棒が取り付けられた回動駆動手段と、第１回動棒の回動により第２取付板を第２回動軸の周りに従動的に回動させるリンク機構と、を備えてなり、検出器支持手段が、リンク機構に取り付けられるもの（以下「リンク機構本試験器」という。）であってもよい。
こうすることで取付板支持手段が有する第１回動棒が、第１回動軸の周りに回動可能に第１取付板を支持し、回動手段が備える回動駆動手段が、それに取り付けられた第１回動棒を第１回動軸の周りに回動させるので、第１回動軸の周りに第１取付板が回動される。そして、回動手段が備えるリンク機構が、第１回動棒の回動により第２取付板を第２回動軸の周りに従動的に回動させるので、第１回動軸の周りの第１取付板の回動と、第２回動軸の周りの第２取付板の回動と、を生じさせる別個の回動駆動手段を設ける必要がなく、別個の回動駆動手段を設ける場合に比し、回動駆動手段の個数を減少させると共に別個の回動駆動手段の動作を同期させる機構も要さないので、本試験器を簡単に構成することができる。
そして、検出器支持手段をリンク機構に取り付けることで、第１回動棒の回動と第２回動軸の周りの回動（これら両回動により、第１取付板を第１線分を中心に回動させると共に、第２取付板を第２線分を中心に回動させる。）とに合わせて、検出器支持手段の絶対位置を確実に変化させ、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置をうまく保持することができる。

リンク機構本試験器においては、支持手段は、第１線分が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、前記リンク機構は、第２回動軸の周りに第２取付板が回動するように両縁部位置関係保持部材を移動させるものであってもよい。
両縁部位置関係保持部材は、第１取付板及び第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられるが、第１取付板に対し第１直線（第１線分を含む）の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２取付板に対し第２直線（第２線分を含む）の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられる。そして、両縁部位置関係保持部材は、第１取付板に対する回動可能な軸である第１直線と、第２取付板に対する回動可能な軸である第２直線と、の間の距離を一定に保持する。かかる両縁部位置関係保持部材を支持手段が有すれば、支持手段を簡単に構成することができる。
そして、リンク機構は、第２回動軸の周りに第２取付板が回動するように両縁部位置関係保持部材を移動させ、両縁部位置関係保持部材が取り付けられた第１取付板の部分（第１直線上）及び第２取付板の部分（第２直線上）を移動させ（第１線分と第２線分とを含む平面が平行移動する。）、第２回動軸の周りに第２取付板を回動させることができる。

リンク機構本試験器においては、第１回動軸の絶対的位置は不変であると共に、第２回動軸の絶対的位置が移動することで、第１回動軸と第２回動軸との間の距離が変化するものであってもよい。
このように回動駆動手段が取り付けられた第１回動棒の回動軸である第１回動軸の絶対的位置は不変で、第２回動軸の絶対的位置を移動させて第１回動軸と第２回動軸との間の距離を変化させることにより、回動駆動手段が取り付けられた第１回動棒を移動させる必要がないので本試験器を簡単な構成にすることができる（回動駆動手段が取り付けられた第１回動棒を移動させるには、回動駆動手段と第１回動棒とを含め一体として移動させれば移動部分が大形で重くなる問題があり、回動駆動手段は移動させず第１回動棒のみを移動させるには回動駆動手段から第１回動棒への動力伝達が複雑になる問題がある。）。

取付板支持手段本試験器においては、第１回動軸と第２回動軸とを含む平面である回動軸存在面への第１線分の正投影と、回動軸存在面への第２線分の正投影と、が第１回動軸と第２回動軸との間に存し、支持手段は、第１線分が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、回動手段は、回動軸存在面に対し垂直方向に両縁部位置関係保持部材を往復動させる往復駆動手段を有し、検出器支持手段が、両縁部位置関係保持部材に取り付けられるもの（以下「往復駆動本試験器」という。）であってもよい。
支持手段が有する両縁部位置関係保持部材は、第１取付板及び第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられるが、第１取付板に対し第１直線（第１線分を含む）の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２取付板に対し第２直線（第２線分を含む）の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられる。そして、両縁部位置関係保持部材は、第１取付板に対する回動可能な軸である第１直線と、第２取付板に対する回動可能な軸である第２直線と、の間の距離を一定に保持する。かかる両縁部位置関係保持部材を支持手段が有すれば、支持手段を簡単に構成することができる。
そして、第１回動軸と第２回動軸とを含む平面である回動軸存在面への第１線分の正投影と、回動軸存在面への第２線分の正投影と、が回動軸存在面において第１回動軸と第２回動軸との間に存し（即ち、回動軸存在面のうち、第１回動軸を含む直線と第２回動軸を含む直線とに挟まれた領域に、第１線分の正投影と、第２線分の正投影と、が存する。）、回動手段が有する往復駆動手段が、回動軸存在面に対し垂直方向に両縁部位置関係保持部材を往復動させれば、第１回動軸の周りに第１取付板が回動すると共に第２回動軸の周りに第２取付板が回動するようにでき、両縁部位置関係保持部材を往復動させる往復駆動手段という簡単な構成により本試験器を構成できる。
加えて、検出器支持手段が、両縁部位置関係保持部材に取り付けられることで、第１回動軸の周りの第１取付板の回動と第２回動軸の周りの第２取付板の回動（これら両回動により、第１取付板を第１線分を中心に回動させると共に、第２取付板を第２線分を中心に回動させる。）とに合わせて、検出器支持手段の絶対位置を確実に変化させ、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置をうまく保持することができる。

往復駆動本試験器においては、第１線分と第２線分とを含む平面に対して垂直かつ第１線分からの距離と第２線分からの距離とが等しい平面である基準面と第１回動軸との第１距離が、基準面と第２回動軸との第２距離に等しくなるように、第１回動軸及び第２回動軸のいずれも絶対的位置が変化するものであってもよい。
第１線分と第２線分とを含む平面に対して垂直かつ第１線分及び第２線分に平行な平面であって、第１線分からの距離と第２線分からの距離とが等しい平面である基準面と第１回動軸との第１距離と、基準面と第２回動軸との第２距離と、が互いに等しくなるように、第１回動軸及び第２回動軸のいずれも絶対的位置が変化するので、試験体が基準面の両側で同じように曲げられ、試験体が不意に不均一に曲がることを防止又は減少させることができる。

本試験器においては、検出器支持手段に支持される検出器の方向及び／又は位置が変化可能であってもよい。
こうすることで、検出器支持手段に支持される検出器の方向を適した方向に容易に調節でき、及び／又は検出器支持手段に支持される検出器の位置を適した位置に容易に調節できるので、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分の状態を検出器により的確に検出することができる。

本発明の変形試験器（本試験器）を構成する一例の試験器本体を示す斜視図である。 図２（ａ）は、図１の試験器本体を別の方向から見た斜視図であり、図２（ｂ）は、図１の試験器本体の正面図である。 図３（ａ）は、図１の試験器本体の平面図であり、図３（ｂ）は、図１の試験器本体の右側面図である。 図１の試験器本体のうち、駆動部、ガイドレール、一方支持軸部、一方試験片取付部、駆動軸、他方試験片取付部及びリンク部を拡大して示す拡大斜視図である。 図１の試験器本体の動作を説明する拡大斜視図である。 図１の試験器本体の動作を説明する拡大斜視図である。 図６に示した状態の図１の試験器本体を示す斜視図である。 Ｘ軸に平行な方向から他方取付板、一方取付板及びそれらに取り付けられた試験片を見たところを示す図である。 本発明の変形試験器（本試験器）を構成する別の試験器本体を示す斜視図である。 図１０（ａ）は、図９の試験器本体を別の方向から見た斜視図であり、図１０（ｂ）は、図９の試験器本体の正面図（一部）である。 図１１（ａ）は、図９の試験器本体の平面図であり、図１１（ｂ）は、図９の試験器本体の右側面図（一部）である。 図９の試験器本体のうち、駆動部、ガイドレール、一方支持軸部、一方試験片取付部、駆動棒、他方試験片取付部及びリンク部を拡大して示す拡大斜視図である。 図９の試験器本体の動作を説明する拡大斜視図である。 図９の試験器本体の動作を説明する拡大斜視図である。 図１４に示した状態の図９の試験器本体を示す斜視図である。 一例の本発明の変形試験器（本試験器）を示す斜視図である。 図１６の状態における本試験器の駆動部、ガイドレール、一方支持軸部、一方試験片取付部、駆動軸、他方試験片取付部、リンク部及び検出器支持部を拡大して示す拡大斜視図である。 図１６の本試験器の動作を説明する拡大斜視図である。 図１６の本試験器を示す斜視図である。 図１６の本試験器（図１９と同じ状態）の動作を説明する拡大斜視図である。

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。しかしながら、これらによって本発明は何ら制限されるものではない。

本発明に係る変形試験器（本試験器）は、試験器本体と検出器支持部とを含んでなる。ここでは試験器本体は、試験片を繰り返し折り曲げることで耐久性を試験するための装置であり、検出器支持部は、試験器本体にて試験される試験片の繰り返し折り曲げられる部分を撮像するためのカメラや非接触温度計等の検出器を支持するためのものである。

まず、一例の試験器本体１１について説明する。図１は、本試験器から検出器支持部を取り外した試験器本体１１を示す斜視図である。図２（ａ）は、試験器本体１１を別の方向から見た斜視図（図１中の矢印Ａ方向から見たところを示している。）であり、図２（ｂ）は、試験器本体１１の正面図（図２（ａ）中の矢印Ｂ方向から見たところを示している。）である。図３（ａ）は、試験器本体１１の平面図（図２（ａ）（ｂ）中の矢印Ｃ方向から見たところを示している。）であり、図３（ｂ）は、試験器本体１１の右側面図（図２（ａ）（ｂ）中の矢印Ｄ方向から見たところを示している。）である。図４は、後述する駆動部６１、ガイドレール３１ｂ、一方支持軸部４１、一方試験片取付部５１、駆動軸７３、他方試験片取付部８１及びリンク部９１を拡大して示す拡大斜視図である。図１乃至図４を参照して、試験器本体１１について説明する。また、説明及び理解を容易にするため、互いに直交する３軸であるＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸を用い（これら３軸の方向を図中にＸ、Ｙ及びＺとして示す。）、Ｚ軸に垂直な平面をＸＹ面といい、Ｘ軸に垂直な平面をＹＺ面といい、Ｙ軸に垂直な平面をＸＺ面という。なお、図１乃至図３においては試験片１０１が取り付けられた状態を図示しているが、図４においては試験片１０１が取り付けられていないところを示している。

試験器本体１１は、大まかには、中空の直方体形状をなすフレーム部２１と、フレーム部２１の上面に取り付けられたガイドレール３１ａ、３１ｂと、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ａ、３１ｂに取り付けられた一方支持軸部４１と、一方支持軸部４１が有する一方支持軸４３に取り付けられた一方試験片取付部５１と、フレーム部２１の左側面に固定された駆動部６１と、フレーム部２１に対して回動自在に支持される駆動軸７３と、駆動軸７３に回動不可能に取り付けられた他方試験片取付部８１と、一方試験片取付部５１を回動させるリンク部９１と、を含んでなる。

フレーム部２１は、直方体の一面に沿った天板部２３（両主表面が長方形を略なす平板部材により形成されている。）と、該直方体の辺に沿った棒状部材により形成された８本の棒状部２５と、を有し、天板部２３がフレーム部２１の上面を形成している。フレーム部２１が形成する該直方体の辺は、Ｘ軸、Ｙ軸及びＺ軸のいずれかに平行に配置され、フレーム部２１は十分な強度を有するようここでは金属によって形成されている。

ガイドレール３１ａ、３１ｂは、いずれもＹ軸に平行になるようにかつ同一のＸＹ面に属するようにフレーム部２１の天板部２３の上面２３ａに固定されている。

一方支持軸部４１は、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ａに取り付けられたスライド部４５ａと、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ｂに取り付けられたスライド部４５ｂと、スライド部４５ａとスライド部４５ｂとに回転自在に支持された一方支持軸４３（Ｘ軸に長手方向が平行な丸棒により形成されている。）と、を有してなる。これにより一方支持軸４３は、長手方向がＸ軸に平行な状態を保ちつつ、ＸＹ面に沿ってＹ軸方向に自由に移動することができる。

一方試験片取付部５１は、一方支持軸４３に回動不可能に取り付けられた取付部５３ａと、取付部５３ａとは離れて一方支持軸４３に回動不可能に取り付けられた取付部５３ｂと、取付部５３ａと取付部５３ｂとに両側が取り付けられた一方取付板５５と、を有してなる。
一方取付板５５は、両主表面が同じ長方形状をなしており、該両主表面の一方である上面５５ａの４の縁部のうちの１の縁部５５ａｅ（該４の縁部のＸ軸に平行な２の縁部のもののうち、試験片１０１の折り曲げ部分に近い方の縁部）は、一方試験片取付部５１が一方支持軸４３の回動に伴って回動しても、Ｘ軸に常に平行な状態が保たれる。

駆動部６１は、フレーム部２１の左側面に固定され、駆動軸７３の基端が取り付けられている。駆動部６１は、モーター、変速機及び制御部を内部に含んでおり、所定の回動角度及び回動速度により駆動軸７３をその中心軸の周りに正逆に回動させる。なお、ここでは図示していないが、該所定の回動角度及び回動速度は可変可能にされており、これによって後述の試験片１０１の折り曲げ試験における折り曲げ角度及び折り曲げ速度を適宜変更することが可能である。

駆動軸７３は、丸棒により形成されており、その丸棒の中心軸がＸ軸に平行な状態でフレーム部２１に対して回動自在に支持されている。駆動軸７３を構成する該丸棒は直円柱形状をなし、該直円柱の中心軸の周りに該丸棒は回動される。
そして、前述の如く、駆動軸７３の基端が駆動部６１に取り付けられることで、駆動軸７３は、所定の回動角度及び回動速度によりその中心軸の周りに正逆に回動する。

他方試験片取付部８１は、駆動軸７３に回動不可能に取り付けられた取付部８３ａと、取付部８３ａとは離れて駆動軸７３に回動不可能に取り付けられた取付部８３ｂと、取付部８３ａと取付部８３ｂとに両側が取り付けられた他方取付板８５と、を有してなる。
他方取付板８５は、両主表面が同じ長方形状をなしており、該両主表面の一方である上面８５ａの４の縁部のうちの１の縁部８５ａｅ（該４の縁部のＸ軸に平行な２の縁部のもののうち、試験片１０１の折り曲げ部分に近い方の縁部）は、他方試験片取付部８１が駆動軸７３の回動に伴って回動しても、Ｘ軸に常に平行な状態が保たれる。
なお、他方試験片取付部８１の駆動軸７３の周りの所定の回動位置（図１〜図４）における上面８５ａと、一方試験片取付部５１の一方支持軸４３の周りの所定の回動位置（図１〜図４）における上面５５ａと、は、ＸＹ面に平行な一平面に属するよう位置している。
また、上面８５ａ及び上面５５ａには、シート状又はフィルム状の試験片１０１が、試験片１０１の主表面が接着されることにより取り付けられる。

リンク部９１は、フレーム部２１に対して回動自在に支持されたリンク軸９２（真っ直ぐな丸棒により形成され、その中心軸がＸ軸に平行に支持されている）と、リンク軸９２に一端が回動不可能に取り付けられたアングル部材９３と、アングル部材９３の他端に一端が回動可能に取り付けられると共に他端が他方取付板８５及び一方取付板５５に回動自在（他方取付板８５に対する回動中心は、縁部８５ａｅが存する直線に含まれ、一方取付板５５に対する回動中心は、縁部５５ａｅが存する直線に含まれる。）に取り付けられた連結部材９４と、リンク軸９２に一端が回動不可能に取り付けられたアングル部材９５と、アングル部材９５の他端に一端が回動可能に取り付けられると共に他端が他方取付板８５及び一方取付板５５に回動自在（他方取付板８５に対する回動中心は、縁部８５ａｅが存する直線に含まれ、一方取付板５５に対する回動中心は、縁部５５ａｅが存する直線に含まれる。）に取り付けられた連結部材９６と、を有してなる。

このように連結部材９４及び連結部材９６はいずれも、縁部８５ａｅが含まれる直線に含まれる回動軸の周りに回動自在に他方取付板８５に対して取り付けられると共に、縁部５５ａｅが含まれる直線に含まれる回動軸の周りに回動自在に一方取付板５５に対して取り付けられているので、後述のように、駆動軸７３の回動に伴って他方取付板８５が回動すると、縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定かつ縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとの間は平行のまま、一方取付板５５も回動する。駆動軸７３の回動に伴って他方取付板８５が回動しても、連結部材９４、９６の長手方向はＺ軸に平行に保たれ、縁部５５ａｅと縁部８５ａｅとを含む平面は常にＺ軸に対して垂直に保たれる（縁部５５ａｅと縁部８５ａｅとを含む平面は、他方取付板８５の回動によって平行移動する。なお、縁部５５ａｅと縁部８５ａｅとは、同じＸＹ面に常に属する。）。
なお、この一方取付板５５の回動に従って、一方支持軸部４１はガイドレール３１ａ、３１ｂに沿って自由にスライド移動する。
なお、連結部材９４に穿設された一対の雌ネジ９４ｈ１、９４ｈ２は、検出器支持部を連結部材９４に取り付けるための取付ネジ４０３ｂ１、４０３ｂ２を螺合させるためのものである。そして、図には表れないが、連結部材９６にも同様の一対の雌ネジが穿設されており、後述のように、これら連結部材９４に穿設された一対の雌ネジ９４ｈ１、９４ｈ２と、連結部材９６に穿設された一対の雌ネジ（不図示）と、に検出器支持部の取付ネジを螺合させることで検出器支持部を連結部材９４、９６に取り付けることができる。

試験器本体１１の動作について、図４、図５、図６及び図７を用いて説明する。図５及び図６は、既に説明した図４と同様の構成要素を図４と同様の方向から見たところを示しており、図４の状態から駆動軸７３が図中で時計回り方向に回動したところを示している。また、図７は、図６に示した状態の試験器本体１１を、図１と同様の方向から見たところを示している。
まず、図４の状態においては、他方取付板８５の上面８５ａと一方取付板５５の上面５５ａとは、Ｚ軸に垂直な同じ一平面にほぼ属しており、上面８５ａと上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１（図４〜図６においては図示を省略している）は平面に沿った真っ直ぐな状態になっている。

図４の状態から、駆動部６１によって駆動軸７３をその中心軸の周りに正方向（図４、図５及び図６において時計回り方向をいう）に回動させると、駆動軸７３に回動不可能に取り付けられた取付部８３ａ、８３ｂと共に他方取付板８５も駆動軸７３の周りに正方向に回動する。この取付部８３ａ、８３ｂ及び他方取付板８５の正方向の回動により、連結部材９４、９６はその長手方向がＺ軸に平行な状態を保ちつつ他方取付板８５によって図５のように押し下げられる。そして、この連結部材９４、９６の押し下げにより、アングル部材９３、９５が正方向に回動することで、リンク軸９２も正方向に回動する。
また、この取付部８３ａ、８３ｂ及び他方取付板８５の正方向への回動により、連結部材９４、９６の前記他端（上端）に回動自在に取り付けられた一方試験片取付部５１（取付部５３ａ、５３ｂ、一方取付板５５）は一方支持軸４３を中心に逆方向（図中において反時計回り）に回動する。その一方試験片取付部５１の一方支持軸４３の周りの回動により、一方支持軸部４１（スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３）はガイドレール３１ａ、３１ｂに沿ってＹ軸と平行に他方試験片取付部８１に近づくように移動する（連結部材９４、９６により、縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定かつ縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとの間は平行に保たれる。）。

このような駆動部６１による駆動軸７３の正方向への回動により、他方試験片取付部８１（取付部８３ａ、８３ｂ、他方取付板８５）の駆動軸７３周りの正方向への回動と、一方試験片取付部５１（取付部５３ａ、５３ｂ、一方取付板５５）の一方支持軸４３周りの逆方向への回動と、を生じる。この３つの回動において、縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定に保たれると共に縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとは平行に保たれ、さらに一方試験片取付部５１は駆動軸７３に近づく方向にＹ軸と平行に移動する。
駆動軸７３の正方向への回動は、図４の状態から図５の状態を経由して図６の状態（図６の状態では、他方取付板８５の上面８５ａと一方取付板５５の上面５５ａとが略平行になっている。）に至るまで回動する（図６の状態で該回動は停止する。）。図６の状態においては、他方取付板８５の上面８５ａと一方取付板５５の上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１（図４〜図６においては図示を省略している）が折り畳まれた状態になる。

試験片１０１を折り畳んだ図６の状態から、駆動部６１によって駆動軸７３を逆方向（図６において反時計回り方向）に回動させる。これにより図５の状態を経由して図４の状態に戻る。このように、図４の状態（試験片１０１は平らな状態）から駆動軸７３を正方向へ回動させて図６の状態（試験片１０１は折り畳まれた状態）とし、その後、図６の状態から駆動軸７３を逆方向へ回動させて図４の状態に戻すことで（１サイクル）、試験片１０１は平らな状態から折り畳まれて再び平らな状態に戻るため、試験片１０１を１回折り畳む試験を行うことができる。このような駆動軸７３の正逆の回動を交互に行うことで、試験片１０１を複数折り畳む折り畳み試験を行うことができる。
このような試験片１０１の折り畳み試験（図４、図５、図６、図５、図４の順に動作する）においては、図８に示すように、縁部８５ａｅ、５５ａｅは、常に平行でありその間の距離Ｋが一定に保たれると共に、Ｚ軸に垂直な一平面に属する。また、試験片１０１の折り畳み試験において、縁部８５ａｅ、５５ａｅからの距離が等しくＹ軸に垂直な平面Ｐに対して、上面８５ａと上面５５ａとは常に面対称になっている。

図８は、Ｘ軸に平行な方向から他方取付板８５、一方取付板５５及びそれらに取り付けられた試験片１０１を見たところを示す図であり、図８（ａ）は図４の状態を示し、図８（ｂ）は図５の状態を示し、そして図８（ｃ）は図６の状態を示している。
図８（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、上面８５ａと上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１は、互いに平行でありかつ距離Ｋが一定の縁部８５ａｅ、５５ａｅを中心に平面Ｐに面対称に回動する２の上面８５ａ、５５ａの間で折り曲げられる。このため、縁部８５ａｅ近傍、縁部５５ａｅ近傍、そして縁部８５ａｅ、５５ａｅの間、いずれの部分の試験片１０１もほぼ同じ曲げ半径により曲げられ、試験片１０１の位置によって曲げ条件が不意に偏りにくいことから、再現性の高い試験を行うことができる。そして、距離Ｋを変更することで試験片１０１の曲げ半径を変更することができる（Ｋ／２がほぼ試験片１０１の曲げ半径となる。）。また、このような試験器本体１１では、距離Ｋが０になるまで自由に変更できるので、試験片１０１の曲げ半径を極めて小さくすることもできるので、種々の曲げ試験に対応できる。

また、試験器本体１１においては、試験片１０１が取り付けられる上面８５ａの縁部８５ａｅと、試験片１０１が取り付けられる上面５５ａの縁部５５ａｅと、が常に平行かつ距離Ｋが一定に保たれつつ、（試験片１０１から見たときに）縁部８５ａｅを中心に上面８５ａを回動させると共に（試験片１０１から見たときに）縁部５５ａｅを中心に上面５５ａを回動させることによって、非常に短い試験片１０１（縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとにかけわたされる長さと、上面８５ａに取り付けられる長さと、上面５５ａに取り付けられる長さと、の合計長さ以上の試験片１０１であれば試験が可能である。）の試験を可能ならしめる。
加えて、試験器本体１１においては、試験片１０１を上面５５ａと上面８５ａとに取り付けると共に試験片１０１から見たときに縁部５５ａｅ、８５ａｅを中心に縁部５５ａｅ、８５ａｅが常に平行かつ距離Ｋが一定に保たれた状態で上面５５ａ、８５ａを回動させるため、縁部８５ａｅ近傍と縁部５５ａｅ近傍との間に存する試験片１０１の部分を変形させるものの、それ以外の試験片１０１の残部（主として上面５５ａと上面８５ａとに面している部分）はほぼ変形させない。このことは、変形試験の対象とすべき部分を選択的に変形させるものであり、正確かつ高再現性の変形試験を可能ならしめる。
そして、試験器本体１１においては、試験片１０１が取り付けられる上面５５ａと上面８５ａとが、試験片１０１の意図した曲げを生じるためのみの動きをするので、（特許文献１中の板バネ１２を要することなく）試験片１０１が意図しない変形を生じる力（例えば、試験体が不意に不均一に曲がる力、試験体を引っぱる力や圧縮する力）が試験片１０１に加わることを防止又は減少させることができる。

試験器本体としては、試験器本体１１以外にも種々のものを用いることができる。
図９は、本発明に係る変形試験器（本試験器）を構成する別の試験器本体２１１を示す斜視図である。図１０（ａ）は、試験器本体２１１を別の方向から見た斜視図（図９中の矢印Ｅ方向から見たところを示している。）であり、図１０（ｂ）は、試験器本体２１１の正面図（図１０（ａ）中の矢印Ｆ方向から見たときの試験器本体２１１を示している。）である。図１１（ａ）は、試験器本体２１１の平面図（図９及び図１０（ａ）中の矢印Ｇ方向から見たところを示している。）であり、図１１（ｂ）は、試験器本体２１１の右側面図（図１０（ａ）（ｂ）中の矢印Ｊ方向から見たところを示している。）である。図１２は、後述する駆動部２６１、ガイドレール３１ｂ、一方支持軸部４１、一方試験片取付部５１、駆動棒２７３、他方支持軸部２４１、他方試験片取付部２５１及びリンク部２９１を拡大して示す拡大斜視図である。図９乃至図１２を参照して、試験器本体２１１について説明する。また、説明及び理解を容易にするため、互いに直交する３軸であるＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸を用い（これら３軸の方向を図中にＸ、Ｙ及びＺとして示す。）、Ｚ軸に垂直な平面をＸＹ面といい、Ｘ軸に垂直な平面をＹＺ面といい、Ｙ軸に垂直な平面をＸＺ面という。なお、図９乃至図１１においては試験片１０１が取り付けられた状態を図示しているが、図１２においては試験片１０１を取り外したところを示している。

試験器本体２１１は、大まかには、中空の直方体形状をなすフレーム部２１と、フレーム部２１の上面にＹ軸方向に沿って取り付けられたガイドレール３１ａ、３１ｂと、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ａ、３１ｂに取り付けられた一方支持軸部４１と、一方支持軸部４１が有する一方支持軸４３に取り付けられた一方試験片取付部５１と、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ａ、３１ｂに取り付けられた他方支持軸部２４１と、他方支持軸部２４１が有する他方支持軸２４３に取り付けられた他方試験片取付部２５１と、フレーム部２１の内部に固定された駆動部２６１と、一端（下端）が駆動部２６１に取り付けられＺ軸方向に往復動する駆動棒２７３と、駆動棒２７３の他端（上端）が取り付けられ一方試験片取付部５１及び他方試験片取付部２５１を回動させるリンク部２９１と、を含んでなる。

フレーム部２１は、直方体の一面に沿った天板部２３（両主表面が長方形を略なす平板部材により形成されており、中心には開口が形成されている。）と、該直方体の辺に沿った棒状部材により形成された８本の棒状部２５と、を有し、天板部２３がフレーム部２１の上面を形成している。フレーム部２１が形成する該直方体の辺は、Ｘ軸、Ｙ軸及びＺ軸のいずれかに平行に配置され、フレーム部２１は十分な強度を有するようここでは金属によって形成されている。

ガイドレール３１ａ、３１ｂは、いずれもＹ軸に平行になるようにかつＺ軸に垂直な同一のＸＹ面に属するようにフレーム部２１の天板部２３の上面２３ａに固定されている。

一方支持軸部４１は、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ａに取り付けられたスライド部４５ａと、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ｂに取り付けられたスライド部４５ｂと、スライド部４５ａとスライド部４５ｂとに両側が回転自在に支持された一方支持軸４３（長手方向がＸ軸に平行な丸棒により形成されている。）と、を有してなる。これにより一方支持軸４３は、長手方向がＸ軸に平行な状態を保ちつつ、ＸＹ面に沿ってＹ軸方向に自由に移動することができる。

一方試験片取付部５１は、一方支持軸４３に回動不可能に取り付けられた取付部５３ａと、取付部５３ａとは離れて一方支持軸４３に回動不可能に取り付けられた取付部５３ｂと、取付部５３ａと取付部５３ｂとに両側が取り付けられた一方取付板５５と、を有してなる。
一方取付板５５は、両主表面が同じ長方形状をなしており、該両主表面の一方である上面５５ａの４の縁部のうちの１の縁部５５ａｅ（該４の縁部のＸ軸に平行な２の縁部のもののうち、試験片１０１の折り曲げ部分に近い方の縁部）は、一方試験片取付部５１が一方支持軸４３の周りに回動しても、Ｘ軸に常に平行な状態が保たれる。

他方支持軸部２４１は、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ａに取り付けられたスライド部２４５ａと、Ｙ軸方向にスライド自在にガイドレール３１ｂに取り付けられたスライド部２４５ｂと、スライド部２４５ａとスライド部２４５ｂとに回転自在に支持された他方支持軸２４３（長手方向がＸ軸に平行な丸棒により形成されている。）と、を有してなる。これにより他方支持軸２４３は、長手方向がＸ軸に平行な状態を保ちつつ、ＸＹ面に沿ってＹ軸方向に自由に移動することができる。なお、他方支持軸２４３と一方支持軸４３とは、同一のＸＹ面に常に属するように配置されている。

他方試験片取付部２５１は、他方支持軸２４３に回動不可能に取り付けられた取付部２５３ａと、取付部２５３ａとは離れて他方支持軸２４３に回動不可能に取り付けられた取付部２５３ｂと、取付部２５３ａと取付部２５３ｂとに両側が取り付けられた他方取付板２５５と、を有してなる。
他方取付板２５５は、両主表面が同じ長方形状をなしており、該両主表面の一方である上面２５５ａの４の縁部のうちの１の縁部２５５ａｅ（該４の縁部のＸ軸に平行な２の縁部のもののうち、試験片１０１の折り曲げ部分に近い方の縁部）は、他方試験片取付部２５１が他方支持軸２４３の回動に伴って回動しても、Ｘ軸に常に平行な状態が保たれる。

駆動部２６１は、フレーム部２１に直接的又は他の部材を介して間接的に固定され、駆動棒２７３の一端（下端）が取り付けられている。駆動部２６１は、モーター、変速機、クランク機構（回転運動を往復動に変換する）及び制御部を内部に含んでおり、所定のストローク及び速度により駆動棒２７３をＺ軸に平行に往復動させる。なお、該所定のストローク及び速度は可変可能にされており、これによって後述の試験片１０１の折り曲げ試験における折り曲げ角度及び折り曲げ速度を適宜変更することが可能である。

駆動棒２７３は、真っ直ぐな丸棒により形成されており、その丸棒の中心軸がＺ軸に平行な状態で往復動可能に支持されている。
そして、前述の如く、駆動棒２７３の一端（下端）が駆動部２６１に取り付けられると共に、駆動棒２７３の他端（上端）がリンク部２９１に取り付けられている。

リンク部２９１は、他方取付板２５５及び一方取付板５５に一端（上端）近傍が回動自在（他方取付板２５５に対する回動中心は、縁部２５５ａｅが存する直線に含まれ、一方取付板５５に対する回動中心は、縁部５５ａｅが存する直線に含まれる。）に取り付けられた一対の連結部材２９６ａ、２９６ｂ（連結部材２９６ａはガイドレール３１ａ側に回動自在に取り付けられると共に、連結部材２９６ｂはガイドレール３１ｂ側に回動自在に取り付けられている。）と、連結部材２９６ａの他端（下端）と連結部材２９６ｂの他端（下端）とを連結する連結棒２９７と、を有してなる。

この一対の連結部材２９６ａ、２９６ｂいずれも、縁部２５５ａｅが存する直線を回動中心とするように他方取付板２５５に回動自在に取り付けられると共に、縁部５５ａｅが存する直線を回動中心とするように一方取付板５５に回動自在に取り付けられることで、縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとの距離は一定かつ縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとの間は平行に保たれる。リンク部２９１は、駆動棒２７３のＺ軸方向の往復動に伴いＺ軸方向に往復動するのみであり、Ｚ軸に対する方向は変化しない。
そして、連結棒２９７には、駆動棒２７３の他端（上端）が取り付けられているので、駆動部２６１により駆動棒２７３の他端（上端）がＺ軸方向に往復動することにより、縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定かつ縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとは平行のまま（なお、縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとは、同じＸＹ面に常に属する。）、他方取付板２５５及び一方取付板５５は正逆に回動する。このときの他方取付板２５５及び一方取付板５５の回動のいずれの状態においても、上面５５ａが含まれる平面と上面２５５ａが含まれる平面とは縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅから等距離にあるＸＺ面に対して面対称となる。この他方取付板２５５及び一方取付板５５の回動に従って、他方支持軸部２４１及び一方支持軸部４１はガイドレール３１ａ、３１ｂに沿ってスライド移動（往復動）する。
なお、連結部材２９６ａに穿設された一対の雌ネジ２９６ｈ１、２９６ｈ２は、検出器支持部を連結部材２９６ａに取り付けるための取付ネジ４０３ｂ１、４０３ｂ２を螺合させるためのものである。そして、図には表れないが、連結部材２９６ｂにも同様の一対の雌ネジが穿設されており、これら連結部材２９６ａに穿設された一対の雌ネジ２９６ｈ１、２９６ｈ２と、連結部材２９６ｂに穿設された一対の雌ネジ（不図示）と、に検出器支持部の取付ネジを螺合させることで検出器支持部を連結部材２９６ａ、２９６ｂに取り付けることができる。

試験器本体２１１の動作について、図１２、図１３、図１４及び図１５を用いて説明する。図１３及び図１４は、既に説明した図１２と同様の構成要素を図１２と同様の方向から見たところを示しており、図１２の状態から駆動棒２７３が駆動部２６１によって図中で下方（Ｚ軸の負方向。図１２中の矢印Ｒ方向）に移動したところを示している。また、図１５は、図１４に示した状態の試験器本体２１１を、図９と同様の方向から見たところを示している。
まず、図１２の状態においては、他方取付板２５５の上面２５５ａと一方取付板５５の上面５５ａとは、Ｚ軸に垂直な同一平面（同一のＸＹ面）にほぼ属しており、上面２５５ａと上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１（図１２〜図１４においては図示を省略している）は該平面に沿った真っ直ぐな状態になっている。

図１２の状態から、駆動部２６１によって駆動棒２７３を図中で下方（図１２中の矢印Ｒ方向）に移動させると、駆動棒２７３の他端（上端）が取り付けられている連結棒２９７によって連結部材２９６ａ、２９６ｂも図中で下方に移動する。上述のように、連結部材２９６ａ、２９６ｂいずれも、縁部２５５ａｅが存する直線を回動中心とするように他方取付板２５５に回動自在に取り付けられると共に、縁部５５ａｅが存する直線を回動中心とするように一方取付板５５に回動自在に取り付けられているので、縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定かつ縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとは平行のまま、縁部２５５ａｅ及び縁部５５ａｅが図中で下方に移動するように他方取付板２５５及び一方取付板５５が回動し図１３に示す状態となる。なお、図１２から図１３に遷移する際、一方支持軸部４１はガイドレール３１ａ、３１ｂに沿ってＹ軸と平行に他方支持軸部２４１に近づくように移動すると共に、他方支持軸部２４１はガイドレール３１ａ、３１ｂに沿ってＹ軸と平行に一方支持軸部４１に近づくように移動する（一方支持軸部４１と他方支持軸部２４１とは、ガイドレール３１ａ、３１ｂに沿ってＹ軸と平行に互いに近づくように移動する。）。

このような駆動部２６１による駆動棒２７３の図中下方（図１２中の矢印Ｒ）への駆動により、他方試験片取付部２５１の他方支持軸２４３周りの正方向（図１２から図１３へのように時計回り）の回動と、一方試験片取付部５１の一方支持軸４３周りの逆方向（図１２から図１３へのように反時計回り）の回動と、を生じる。この２つの回動において、縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定に保たれると共に縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとは平行に保たれ、さらに一方試験片取付部５１と他方試験片取付部２５１とは互いに近づく方向にＹ軸と平行に移動する。
このような他方試験片取付部２５１の他方支持軸２４３周りの正方向の回動と、一方試験片取付部５１の一方支持軸４３周りの逆方向の回動と、は、図１２の状態から図１３の状態を経由して図１４の状態（図１４の状態では、他方取付板２５５の上面２５５ａと一方取付板５５の上面５５ａとが略平行になっている。）に至るまで回動する（図１４の状態でこれら両回動は停止する。）。図１４の状態においては、他方取付板２５５の上面２５５ａと一方取付板５５の上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１（図１２〜図１４においては図示を省略している）が折り畳まれた状態になる。

試験片１０１を折り畳んだ図１４の状態から、駆動部２６１によって駆動棒２７３を図中上方（図１４中の矢印Ｑ方向）へ移動させることにより、図１３の状態を経由して図１２の状態に戻る。以上説明したように、図１２の状態（試験片１０１は平らな状態）から駆動棒２７３を図中、下方向へ移動させて図１３の状態（試験片１０１はほぼ９０度折られた状態）を経由し図１４の状態（試験片１０１は折り畳まれた状態）とし、その後、図１４の状態から駆動棒２７３を上方向へ移動させて図１３の状態を経由し図１２の状態に戻すことで、試験片１０１は平らな状態から折り畳まれて再び平らな状態に戻るため、試験片１０１を１回折り畳む試験（１サイクル）を行うことができる。即ち、駆動棒２７３を１回往復運動させることで試験片１０１を１回折り畳むことができるので、駆動棒２７３の往復運動を複数行うことで、試験片１０１を複数折り畳む試験を行うことができる。
このような試験片１０１の折り畳み試験（図１２、図１３、図１４、図１３、図１２の順に動作する）においては、試験器本体１１において図８を用いて説明したのと同様、縁部２５５ａｅ、５５ａｅは常に平行でありその間の距離Ｋが一定に保たれると共に、Ｚ軸に垂直な一平面（ＸＹ面）に属する。また、試験片１０１の折り畳み試験において、縁部２５５ａｅ、５５ａｅからの距離が等しくＹ軸に垂直なＸＺ面である平面Ｐ（図８参照）に対して、上面２５５ａと上面５５ａとは常に面対称になるように回動する。

このような試験器本体２１１の動作も、試験器本体１１の動作の説明に用いた図８に表されるものと同様である。再び図８を参照して試験器本体２１１の動作を説明する。図８においては、試験器本体２１１の構成要素の参照番号を括弧内に示している。試験器本体２１１においても図８は、Ｘ軸に平行な方向から他方取付板２５５、一方取付板５５及びそれらに取り付けられた試験片１０１を見たところを示す図であり、図８（ａ）は図１２の状態を示し、図８（ｂ）は図１３の状態を示し、そして図８（ｃ）は図１４の状態を示している。
図８（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように、互いに平行でありかつ距離Ｋが一定の縁部２５５ａｅ、５５ａｅを中心に平面Ｐに対して面対称に回動する２の上面２５５ａ、５５ａの間で、上面２５５ａと上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１は折り曲げられる。このため、縁部２５５ａｅ近傍、縁部５５ａｅ近傍、そして縁部２５５ａｅ、５５ａｅの間、いずれの部分に位置する試験片１０１もほぼ同じ曲げ半径により曲げられ、試験片１０１の位置によって曲げ条件が不意に偏りにくいことから、再現性の高い試験を行うことができる。そして、距離Ｋを変更することで試験片１０１の曲げ半径を変更することができる（Ｋ／２がほぼ試験片１０１の曲げ半径となる。）。また、試験器本体１１と同様、試験器本体２１１では、距離Ｋが０になるまで自由に変更できるので、試験片１０１の曲げ半径を極めて小さくすることもできるので、種々の曲げ試験に対応できる。

また、試験器本体２１１においては、試験片１０１が取り付けられる上面２５５ａの縁部２５５ａｅと、試験片１０１が取り付けられる上面５５ａの縁部５５ａｅと、が常に平行かつ距離Ｋが一定に保たれつつ、（試験片１０１から見たときに）縁部２５５ａｅを中心に上面２５５ａを回動させると共に、（試験片１０１から見たときに）縁部５５ａｅを中心に上面５５ａを回動させることによって、非常に短い試験片１０１（縁部２５５ａｅと縁部５５ａｅとにかけわたされる長さと、上面２５５ａに取り付けられる長さと、上面５５ａに取り付けられる長さと、の合計長さ以上の試験片１０１であれば試験が可能である。）の試験を可能ならしめる。
加えて、試験器本体２１１においては、試験片１０１を上面５５ａと上面２５５ａとに取り付けると共に試験片１０１から見たときに縁部５５ａｅ、２５５ａｅを中心に縁部５５ａｅ、２５５ａｅが常に平行かつ距離Ｋが一定に保たれた状態で上面５５ａ、２５５ａを回動させるため、縁部２５５ａｅ近傍と縁部５５ａｅ近傍との間に存する試験片１０１の部分を変形させるものの、それ以外の試験片１０１の残部（主として上面５５ａと上面２５５ａとに面している部分）はほぼ変形させない。このことは、変形試験の対象とすべき部分を選択的に変形させるものであり、正確かつ高再現性の変形試験を可能ならしめるものである。
そして、試験器本体２１１においては、試験片１０１が取り付けられる上面５５ａと上面２５５ａとが、試験片１０１の意図した曲げを生じるためのみの動きをするので、（特許文献１中の板バネ１２を要することなく）試験片１０１が意図しない変形を生じる力（例えば、試験体が不意に不均一に曲がる力、試験体を引っぱる力や圧縮する力）が試験片１０１に加わることを防止又は減少させることができる。

図１６は、試験器本体１１に検出器支持部４０１を取り付けて構成した本発明の変形試験器（本試験器）３０１を示す斜視図である。そして、図１７は、図１６の状態における駆動部６１、ガイドレール３１ｂ、一方支持軸部４１、一方試験片取付部５１、駆動軸７３、他方試験片取付部８１、リンク部９１及び検出器支持部４０１を拡大して示す拡大斜視図（試験器本体１１の説明に用いた図４と同様の位置を示している。）である。図１６及び図１７を参照して本試験器３０１について説明する。なお、試験器本体１１については、既に詳しく説明したので、ここでは説明を省略する（上の試験器本体１１に関する説明で用いた参照番号を図１６及び図１７においても付している。）。また、ここでは試験器本体として試験器本体１１を用いているが、試験器本体１１に代え、上述の試験器本体２１１を用いることもできる。

検出器支持部４０１は、試験器本体１１にて試験される試験片１０１の繰り返し折り曲げられる部分を撮像するためのカメラや非接触温度計等の検出器５０３、５０５を支持するものであり、連結部材９４に基端側が取り付けられ真っ直ぐなほぼ角棒から形成される第１取付棒４０３と、連結部材９６に基端側が取り付けられ真っ直ぐなほぼ角棒から形成される第２取付棒４０５と、第１取付棒４０３先端側と第２取付棒４０５先端側とに架け渡されるように取り付けられる一対の取付板４０７、４０９と、を有し、大まかには片仮名の「コ」の字形をなしている。
第１取付棒４０３の基端側は、取付ネジ４０３ｂ１、４０３ｂ２（特に図１７参照）により連結部材９４に取り付けられ（取付ネジ４０３ｂ１、４０３ｂ２を雌ネジ９４ｈ１、９４ｈ２に螺合させる。）、同様に、第２取付棒４０５の基端側は、図示しない取付ネジにより連結部材９６に取り付けられている（即ち、検出器支持部４０１は連結部材９４、９６に取り付けられている。）。第１取付棒４０３の長手方向と第２取付棒４０５の長手方向とはいずれもＺ軸に略平行であり、第１取付棒４０３の長さ（Ｚ軸方向の寸法）と第２取付棒４０５の長さ（Ｚ軸方向の寸法）とはほぼ同じにされている。

取付板４０７、４０９は、いずれも同様の短冊状の平板部材により形成されており、その短冊の長手方向（ここではＸ軸方向に平行）に沿って長穴４０７ｈ、４０９ｈが形成されている。そして、長穴４０７ｈ、４０９ｈを利用して、カメラや非接触温度計等の検出器５０３、５０５を取り付け支持させることができる（例えば、検出器５０３、５０５に形成された雌ネジに螺合可能な雄ねじ部材であって、該雄ねじ部材の軸は長穴４０７ｈ、４０９ｈを貫通可能であるが、該雄ねじ部材の頭は長穴４０７ｈ、４０９ｈを通過不可能な該雄ねじ部材を用いて、取付板４０７、４０９の両面のうち検出器５０３、５０５の反対側に該頭が存する状態で該軸を長穴４０７ｈ、４０９ｈに貫通させ、該雄ねじ部材を該雌ネジに螺合させればよい。）。なお、上述の如く、長穴４０７ｈ、４０９ｈはＸ軸方向に細長く形成されているので、これに沿って検出器５０３、５０５のＸ軸方向の取り付け位置を自由に調整することができる。また、検出器５０３、５０５の該雄ねじ部材に対する回転位置は自由に調節できるので、検出器５０３、５０５の検出方向を自由に調節できる。

図１６及び図１７の状態から、駆動部６１によって駆動軸７３をその中心軸の周りに正方向（図１６及び図１７において時計回り方向をいう）に回動させると、取付部８３ａ、８３ｂ及び他方取付板８５が駆動軸７３の周りに正方向に回動する。この取付部８３ａ、８３ｂ及び他方取付板８５の正方向の回動により、連結部材９４、９６はその長手方向がＺ軸に平行な状態を保ちつつ図１８のように押し下げられる。
そして、前述の通り、この駆動部６１による駆動軸７３の正方向への回動により、縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとの間の距離は一定に保たれると共に縁部８５ａｅと縁部５５ａｅとは平行に保たれた状態のまま、他方試験片取付部８１（取付部８３ａ、８３ｂ、他方取付板８５）の駆動軸７３周りの正方向への回動と、一方試験片取付部５１（取付部５３ａ、５３ｂ、一方取付板５５）の一方支持軸４３周りの逆方向への回動と、一方試験片取付部５１が駆動軸７３に近づくＹ軸に平行な移動を生じ、図１８に示すような状態となる。
図１８からさらに、駆動部６１により駆動軸７３を正方向へ回動させると、図１９及び図２０に示す状態（図１９及び図２０の状態では、他方取付板８５の上面８５ａと一方取付板５５の上面５５ａとが略平行になっている。）に至る（図１９及び図２０の状態で該回動は停止する。）。図１９及び図２０の状態においては、他方取付板８５の上面８５ａと一方取付板５５の上面５５ａとに取り付けられた試験片１０１（図１７、図１８においては図示を省略している）が折り畳まれた状態になる。

試験片１０１を折り畳んだ図１９及び図２０の状態から、駆動部６１によって駆動軸７３を逆方向（図１９及び図２０において反時計回り方向）に回動させる。これにより図１８の状態を経由して図１６及び図１７の状態に戻る。これに伴い連結部材９４、９６はその長手方向がＺ軸に平行な状態を保ちつつ押し上げられる。
このように、図１６及び図１７の状態（試験片１０１は平らな状態）から駆動軸７３を正方向へ回動させて図１９及び図２０の状態（試験片１０１は折り畳まれた状態）とし、その後、図１９及び図２０の状態から駆動軸７３を逆方向へ回動させて図１６及び図１７の状態に戻すことで（１サイクル）、試験片１０１は平らな状態から折り畳まれて再び平らな状態に戻るため、試験片１０１を１回折り畳む試験を行うことができる。このような駆動軸７３の正逆の回動を交互に行うことで、試験片１０１を複数折り畳む折り畳み試験を行うことができる。

このような試験片１０１の折り畳み試験において、試験片１０１の繰り返し折り曲げられる部分（縁部５５ａｅと縁部８５ａｅとの間に架け渡された部分）の位置は、縁部５５ａｅ、８５ａｅの移動と共に移動する。そして、縁部５５ａｅ、８５ａｅは、連結部材９４、９６の移動に合わせて移動するものであるので、連結部材９４、９６に取り付けられた検出器支持部４０１は、試験片１０１の折り畳み試験のいずれの状態（例えば、図１６及び図１７の状態（試験片１０１は平らな状態）、図１８の状態（試験片１０１はほぼ９０度に折り曲げられている状態）そして図１９及び図２０の状態（試験片１０１は折り畳まれた状態）の３のいずれの状態）においても、縁部５５ａｅ、８５ａｅに対する相対的位置が同じに保たれる。これによって、検出器支持部４０１に取り付けられた検出器５０３、５０５（例えば、カメラ、非接触温度計等）から、縁部５５ａｅと縁部８５ａｅとの間に架け渡された試験片１０１の部分までの距離と、該検出器から該部分の方向と、のいずれも、折り畳み試験のいずれの状態においてもほぼ同じに保たれることから、縁部５５ａｅと縁部８５ａｅとの間に架け渡され繰り返し折り曲げられる試験片１０１の部分の状態を、折り畳み試験のいずれの状態においても検出器によって安定的かつ高精度に検出できる（繰り返し折り曲げられる試験片１０１の部分（対象部分）への検出器５０３、５０５からの距離及び方向が一定に保たれることから、例えば、検出器が撮像用カメラであれば、折り畳み試験のいずれの状態においても対象部分の画像を安定的に画質よく撮影できるし、検出器が非接触温度計であれば、対象部分の温度を安定的に精度よく測定できる。）。

図１６〜図２０では試験器本体として試験器本体１１を用いたものを示したが、前述した通り、試験器本体１１に代えて試験器本体２１１を用いることもできる。試験器本体２１１を用いる場合は、取付ネジ４０３ｂ１、４０３ｂ２を雌ネジ２９６ｈ１、２９６ｈ２に螺合させて連結部材２９６ａに第１取付棒４０３の基端側を取り付けると共に、同様に、連結部材２９６ｂの一対の雌ネジに取付ネジを螺合させて連結部材２９６ｂに第２取付棒４０５の基端側を取り付けることで検出器支持部４０１を連結部材２９６ａ、２９６ｂに取り付けるようにすればよい。

また、図１６〜図２０では、試験片１０１の上面（図１８の状態（試験片１０１はほぼ９０度に折り曲げられている状態）と、図１９及び図２０の状態（試験片１０１は折り畳まれた状態）と、において、折り曲げられ又は折り畳まれた試験片１０１の内面）を検出器支持部４０１に取り付けられた検出器５０３、５０５により検出するようにしているが、これとは逆の試験片１０１の下面（図１８の状態（試験片１０１はほぼ９０度に折り曲げられている状態）と、図１９及び図２０の状態（試験片１０１は折り畳まれた状態）と、において、折り曲げられ又は折り畳まれた試験片１０１の外面）を検出器支持部４０１に取り付けられた検出器５０３、５０５により検出するようにすることもできる。即ち、図１６〜図２０では、検出器５０３、５０５が取り付けられた検出器支持部４０１の部分が試験片１０１の上方に存するように検出器支持部４０１が連結部材９４、９６に取り付けられているが、この検出器支持部４０１を上下逆にして、検出器５０３、５０５が取り付けられた検出器支持部４０１の部分が試験片１０１の下方に存するように検出器支持部４０１を連結部材９４、９６に取り付けるようにすれば、試験片１０１の下面を検出器５０３、５０５により検出することができる。
このことは、試験器本体２１１を用いる場合も同様であり、試験片１０１の上面（折り曲げられ又は折り畳まれる試験片１０１の内面）を検出器支持部４０１に取り付けられた検出器５０３、５０５により検出することに加え、検出器５０３、５０５が取り付けられる検出器支持部４０１の部分が試験片１０１の下方に存するように検出器支持部４０１を連結部材２９６ａ、２９６ｂに取り付けるようにすれば、試験片１０１の下面を検出器５０３、５０５により検出することもできる。

以上説明の通り、試験器本体１１に検出器支持部４０１を取り付けた本試験器３０１は、試験体（ここでは試験片１０１）が取り付けられる第１取付面（ここでは上面８５ａ）と、第１線分Ｓ１（図４参照。ここでは縁部８５ａｅが存する線分）の上に存する第１取付面（上面８５ａ）の縁部である第１縁部（縁部８５ａｅ）と、を有する第１取付板（ここでは他方取付板８５）と、試験体（試験片１０１）が取り付けられる第２取付面（ここでは上面５５ａ）と、第２線分Ｓ２（図４参照。ここでは縁部５５ａｅが存する線分）の上に存する第２取付面（上面５５ａ）の縁部である第２縁部（縁部５５ａｅ）と、を有する第２取付板（一方取付板５５）と、試験体（試験片１０１）が架け渡される隙間が第１縁部（縁部８５ａｅ）と第２縁部（縁部５５ａｅ）との間に形成されるように、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板（他方取付板８５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動可能であり、及び第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動可能であるように、第１取付板（他方取付板８５）と第２取付板（一方取付板５５）とを支持する支持手段（ここではガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ、連結部材９４、９６を含んで構成されている。）と、第１取付板（他方取付板８５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動させ、及び第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動させる回動手段（ここでは駆動部６１、リンク軸９２、アングル部材９３、９５、連結部材９４、９６を含んで構成されている。）と、第１縁部（縁部８５ａｅ）と第２縁部（縁部５５ａｅ）との間に存する試験体（試験片１０１）の部分の状態を検出する検出器５０３、５０５を支持する検出器支持手段（ここでは検出器支持部４０１）と、を備えてなる変形試験器であって、第１取付板（他方取付板８５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動させることで、第１縁部（縁部８５ａｅ）と第２縁部（縁部５５ａｅ）との間に存する試験体（試験片１０１）の部分を変形させる変形試験において、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを２辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、検出器支持手段（検出器支持部４０１）に支持される検出器５０３、５０５に対する対象領域の相対的位置が、略同じである、変形試験器である。このように本試験器３０１においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ、連結部材９４、９６を含む。）が、（ａ）第１取付板（他方取付板８５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動可能であること、（ｂ）第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動可能であること、の両方が満たされるように第１取付板（他方取付板８５）と第２取付板（一方取付板５５）とを支持すると共に、回動手段（駆動部６１、リンク軸９２、アングル部材９３、９５、連結部材９４、９６を含む。）が、（ｃ）第１取付板（他方取付板８５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動させること、（ｄ）第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動させること、の両方を実行することで、試験片１０１が、主として第１線分Ｓ１近傍と第２線分Ｓ２近傍との間で均一に曲げられるので、再現性の高い試験を行うことができる。

本試験器３０１においては、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、絶対位置が変化する第１縁部（縁部８５ａｅ）及び第２縁部（縁部５５ａｅ）に取り付けられる（ここでは連結部材９４、９６を介して間接的に取り付けられている。）ものである。
本試験器３０１においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ、連結部材９４、９６を含む。）は、第１線分Ｓ１が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板８５）が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分Ｓ２が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材（ここでは連結部材９４、９６）を有し、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、両縁部位置関係保持部材（連結部材９４、９６）に取り付けられるものである。
本試験器３０１においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ、連結部材９４、９６を含む。）は、第１線分Ｓ１の一端側の第１取付板（他方取付板８５）と第２線分Ｓ２の一端側の第２取付板（一方取付板５５）とに取り付けられる一端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材９４）と、第１線分Ｓ１の他端側の第１取付板（他方取付板８５）と第２線分Ｓ２の他端側の第２取付板（一方取付板５５）とに取り付けられる他端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材９６）と、を含んでなり、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、一端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材９４）と他端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材９６）とに取り付けられるものである。

本試験器３０１においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ、連結部材９４、９６を含む。）は、第１線分Ｓ１と平行な第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板８５）を支持すると共に、第２線分Ｓ２と平行な第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）を支持し、第１回動軸と第２回動軸との間の距離が変化可能なものである取付板支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂを含んで構成される。）を有する。
本試験器３０１においては、取付板支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂを含む。）は、第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板８５）を支持する第１回動棒（ここでは駆動軸７３）を有してなり、回動手段（駆動部６１、リンク軸９２、アングル部材９３、９５、連結部材９４、９６を含む。）は、第１回動棒（駆動軸７３）を第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）の周りに回動させる第１回動棒（駆動軸７３）が取り付けられた回動駆動手段（ここでは駆動部６１）と、第１回動棒（駆動軸７３）の回動により第２取付板（一方取付板５５）を第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の周りに従動的に回動させるリンク機構（リンク軸９２、アングル部材９３、９５、連結部材９４、９６）と、を備えてなり、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、リンク機構（ここでは連結部材９４、９６）に取り付けられるものである。

本試験器３０１においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ、連結部材９４、９６を含む。）は、第１線分Ｓ１が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板８５）が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分Ｓ２が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材（連結部材９４、９６）を有し、前記リンク機構（リンク軸９２、アングル部材９３、９５、連結部材９４、９６）は、第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の周りに第２取付板（一方取付板５５）が回動するように両縁部位置関係保持部材（連結部材９４、９６）を移動させるものである。
本試験器３０１においては、第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）の絶対的位置は不変であると共に、第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の絶対的位置が移動することで、第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）との間の距離が変化するものである。
本試験器３０１においては、検出器支持手段（検出器支持部４０１）に支持される検出器５０３、５０５の方向及び位置が変化可能である。

また、試験器本体２１１を用いる場合の本試験器は、試験体（ここでは試験片１０１）が取り付けられる第１取付面（ここでは上面２５５ａ）と、第１線分Ｓ１（図１２参照。ここでは縁部２５５ａｅが存する線分）の上に存する第１取付面（上面２５５ａ）の縁部である第１縁部（縁部２５５ａｅ）と、を有する第１取付板（ここでは他方取付板２５５）と、試験体（試験片１０１）が取り付けられる第２取付面（ここでは上面５５ａ）と、第２線分Ｓ２（図１２参照。ここでは縁部５５ａｅが存する線分）の上に存する第２取付面（上面５５ａ）の縁部である第２縁部（縁部５５ａｅ）と、を有する第２取付板（一方取付板５５）と、試験体（試験片１０１）が架け渡される隙間が第１縁部（縁部２５５ａｅ）と第２縁部（縁部５５ａｅ）との間に形成されるように、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板（他方取付板２５５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動可能であり、及び第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動可能であるように、第１取付板（他方取付板２５５）と第２取付板（一方取付板５５）とを支持する支持手段（ここではガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂ、連結部材２９６ａ、２９６ｂを含んで構成されている。）と、第１取付板（他方取付板２５５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動させ、及び、第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動させる回動手段（ここでは駆動部２６１、駆動棒２７３、連結部材２９６ａ、２９６ｂ、連結棒２９７を含んで構成されている。）と、第１縁部（縁部２５５ａｅ）と第２縁部（縁部５５ａｅ）との間に存する試験体（試験片１０１）の部分の状態を検出する検出器５０３、５０５を支持する検出器支持手段（検出器支持部４０１）と、を備えてなる変形試験器であって、第１取付板（他方取付板２５５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動させ、及び、第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動させることで、第１縁部（縁部２５５ａｅ）と第２縁部（縁部５５ａｅ）との間に存する試験体（試験片１０１）の部分を変形させる変形試験において、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを２辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、検出器支持手段（検出器支持部４０１）に支持される検出器５０３、５０５に対する対象領域の相対的位置が、略同じである、変形試験器である。試験器本体２１１を用いる場合の本試験器では、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂ、連結部材２９６ａ、２９６ｂを含む。）が、（ａ）第１取付板（他方取付板２５５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動可能であること、（ｂ）第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動可能であること、の両方が満たされるように第１取付板（他方取付板２５５）と第２取付板（一方取付板５５）とを支持すると共に、回動手段（駆動部２６１、駆動棒２７３、連結部材２９６ａ、２９６ｂ、連結棒２９７を含む。）が、（ｃ）第１取付板（他方取付板２５５）を第２線分Ｓ２に対して相対的に第１線分Ｓ１を中心に回動させること、（ｄ）第２取付板（一方取付板５５）を第１線分Ｓ１に対して相対的に第２線分Ｓ２を中心に回動させること、の両方を実行することで、試験片１０１が、主として第１線分Ｓ１近傍と第２線分Ｓ２近傍との間で均一に曲げられるので、再現性の高い試験を行うことができる。

試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、絶対位置が変化する第１縁部（縁部２５５ａｅ）及び第２縁部（縁部５５ａｅ）に取り付けられる（ここでは連結部材２９６ａ、２９６ｂを介して間接的に取り付けられる。）ものである。
試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂ、連結部材２９６ａ、２９６ｂを含む。）は、第１線分Ｓ１が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板２５５）が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分Ｓ２が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材（ここでは連結部材２９６ａ、２９６ｂ）を有し、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ａ、２９６ｂ）に取り付けられるものである。

試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂ、連結部材２９６ａ、２９６ｂを含む。）は、第１線分Ｓ１の一端側の第１取付板（他方取付板２５５）と第２線分Ｓ２の一端側の第２取付板（一方取付板５５）とに取り付けられる一端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ａ）と、第１線分Ｓ１の他端側の第１取付板（他方取付板２５５）と第２線分Ｓ２の他端側の第２取付板（一方取付板５５）とに取り付けられる他端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ｂ）と、を含んでなり、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、一端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ａ）と他端側の両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ｂ）とに取り付けられるものである。

試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂ、連結部材２９６ａ、２９６ｂを含む。）は、第１線分Ｓ１と平行な第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板２５５）を支持すると共に、第２線分Ｓ２と平行な第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）を支持し、第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）との間の距離が変化可能なものである取付板支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂを含む。）を有する。
試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）とを含む平面である回動軸存在面（ここではＸＹ面に平行）への第１線分Ｓ１の正投影と、回動軸存在面への第２線分Ｓ２の正投影と、が第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）との間に存し、支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂ、連結部材２９６ａ、２９６ｂを含む。）は、第１線分Ｓ１が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板２５５）が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分Ｓ２が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ａ、２９６ｂ）を有し、回動手段（駆動部２６１、駆動棒２７３、連結部材２９６ａ、２９６ｂ、連結棒２９７を含む。）は、回動軸存在面（ＸＹ面に平行）に対し垂直方向（Ｚ軸方向）に両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ａ、２９６ｂ）を往復動させる往復駆動手段（駆動部２６１、駆動棒２７３、連結棒２９７を含む。）を有し、検出器支持手段（検出器支持部４０１）が、両縁部位置関係保持部材（連結部材２９６ａ、２９６ｂ）に取り付けられるものである。

試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを含む平面（ＸＹ面に平行）に対して垂直かつ第１線分Ｓ１からの距離と第２線分Ｓ２からの距離とが等しい平面である基準面（平面Ｐ）と第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）との第１距離が、基準面（平面Ｐ）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）との第２距離に等しくなるように、第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）及び第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）のいずれも絶対的位置が変化する。
試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、検出器支持手段（検出器支持部４０１）に支持される検出器５０３、５０５の方向及び位置が変化可能である。

また、本試験器３０１においては、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを含む平面に対して垂直かつ第１線分Ｓ１からの距離と第２線分Ｓ２からの距離とが等しい平面である基準面（平面Ｐ）と第１取付面（上面８５ａ）とがなす角度と、基準面（平面Ｐ）と第２取付面（上面５５ａ）とがなす角度と、が等しくなるように回動手段（駆動部６１、リンク軸９２、アングル部材９３、９５、連結部材９４、９６を含む。）が第１取付板（他方取付板８５）及び第２取付板（一方取付板５５）を回動させるものである。
そして、試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを含む平面に対して垂直かつ第１線分Ｓ１からの距離と第２線分Ｓ２からの距離とが等しい平面である基準面（平面Ｐ）と第１取付面（上面２５５ａ）とがなす角度と、基準面（平面Ｐ）と第２取付面（上面５５ａ）とがなす角度と、が等しくなるように回動手段（駆動部２６１、駆動棒２７３、連結部材２９６ａ、２９６ｂ、連結棒２９７を含む。）が第１取付板（他方取付板２５５）及び第２取付板（一方取付板５５）を回動させるものである。
このようにすることで、基準面と第１取付面とがなす角度と、基準面と第２取付面とがなす角度と、が等しくなるように、試験体が取り付けられた第１取付面及び第２取付面が回動（第１線分、第２線分を中心）されるので、試験体が基準面の両側で同じように曲げられ、試験体が不意に不均一に曲がることを防止又は減少させることができる。なお、基準面は、第１線分と第２線分とを含む平面に対して垂直かつ第１線分及び第２線分に平行な平面であって、第１線分からの距離と第２線分からの距離とが等しい平面である。

本試験器３０１においては、第１線分Ｓ１と第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）との間の距離と、第２線分Ｓ２と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）との間の距離と、が等しいものである。
試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、第１線分Ｓ１と第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）との間の距離と、第２線分Ｓ２と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）との間の距離と、が等しいものである。
これにより、第１線分と第２線分とが互いに平行で相対的位置を保持した状態で、第１線分と第２線分とを含む平面が平行移動するように第１回動軸の周りに第１取付板を回動させると共に第２回動軸の周りに第２取付板を回動させた場合、それに伴う第１取付板の回動角と第２取付板の回動角とが同じになるので、両取付板の回動の調節が容易になり、試験体の両側（一方が第１取付板に取り付けられ、他方が第２取付板に取り付けられる。）が同じように曲げられて試験体が不均一に曲がることを防止又は減少させることができる。

本試験器３０１においては、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを含む平面である縁部存在面と、第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）とを含む平面である回動軸存在面と、が平行又は同一平面に属するものである。
試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、第１線分Ｓ１と第２線分Ｓ２とを含む平面である縁部存在面と、第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）とを含む平面である回動軸存在面と、が平行又は同一平面に属するものである。
このようにすることで第１線分と第２線分とを含む平面である縁部存在面と、第１回動軸と第２回動軸とを含む平面である回動軸存在面と、が平行又は同一平面に属し、第１取付板の第１回動軸周りの回動条件と第２取付板の第２回動軸周りの回動条件とが一致するので、試験体の両側（一方が第１取付板に取り付けられ、他方が第２取付板に取り付けられる。）が同じように曲げられ、試験体が不均一に曲がることを防止又は減少させることができる。

本試験器３０１においては、取付板支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂを含む。）は、第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板８５）を支持する第１取付板支持手段（ここでは駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂを含んでなる。）と、第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）を支持する第２取付板支持手段（ここでは一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂを含んでなる。）と、第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）とを含む平面である回動軸存在面において第１回動軸（駆動軸７３の中心軸）及び第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）に垂直な方向である変位方向（ここではＹ軸に平行な方向）に関し第１取付板支持手段（駆動軸７３、取付部８３ａ、８３ｂ）に対する第２取付板支持手段（一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ）の相対的位置が変化可能に第２取付板支持手段を支持する基礎支持手段（ここではガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ）と、を含んでなる。
試験器本体２１１を用いる場合の本試験器においては、取付板支持手段（ガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂ、他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂを含む。）は、第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）の周りに回動可能に第１取付板（他方取付板２５５）を支持する第１取付板支持手段（ここでは他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂを含む。）と、第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）の周りに回動可能に第２取付板（一方取付板５５）を支持する第２取付板支持手段（ここでは一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂを含む。）と、第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）と第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）とを含む平面である回動軸存在面において第１回動軸（他方支持軸２４３の中心軸）及び第２回動軸（一方支持軸４３の中心軸）に垂直な方向（ここではＹ軸に平行方向）である変位方向に関し第１取付板支持手段（他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂを含む。）に対する第２取付板支持手段（一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂを含む。）の相対的位置が変化可能に第１取付板支持手段（他方支持軸２４３、取付部２５３ａ、２５３ｂを含む。）及び第２取付板支持手段（一方支持軸４３、取付部５３ａ、５３ｂを含む。）を支持する基礎支持手段（ここではガイドレール３１ａ、３１ｂ、スライド部４５ａ、４５ｂ、スライド部２４５ａ、２４５ｂを含む。）と、を含んでなる。
このように取付板支持手段が第１取付板支持手段と第２取付板支持手段と基礎支持手段とを含むことで、第１取付板支持手段により第１取付板が第１回動軸の周りに回動可能に支持され、第２取付板支持手段により第２取付板が第２回動軸の周りに回動可能に支持され、そして基礎支持手段により所定方向に関し第１取付板支持手段に対する第２取付板支持手段の相対的位置が変化可能に第１取付板支持手段及び／又は第２取付板支持手段を支持する。ここに該所定方向は、第１回動軸と第２回動軸とを含む平面である回動軸存在面において第１回動軸及び第２回動軸に垂直な方向をいう。これによって取付板支持手段が、第１回動軸の周りに回動可能に第１取付板を支持すると共に、第２回動軸の周りに回動可能に第２取付板を支持し、第１回動軸と第２回動軸との間の距離を変化可能にすることができる。

１１ 試験器本体
２１ フレーム部
２３ 天板部
２３ａ 上面
２５ 棒状部
３１ａ、３１ｂ ガイドレール
４１ 一方支持軸部
４３ 一方支持軸
４５ａ、４５ｂ スライド部
５１ 一方試験片取付部
５３ａ、５３ｂ 取付部
５５ 一方取付板
５５ａ 上面
５５ａｅ 縁部
６１ 駆動部
７３ 駆動軸
８１ 他方試験片取付部
８３ａ、８３ｂ 取付部
８５ 他方取付板
８５ａ 上面
８５ａｅ 縁部
９１ リンク部
９２ リンク軸
９３、９５ アングル部材
９４、９６ 連結部材
９４ｈ１、９４ｈ２ 雌ネジ
１０１ 試験片
２１１ 試験器本体
２４１ 他方支持軸部
２４３ 他方支持軸
２４５ａ、２４５ｂ スライド部
２５１ 他方試験片取付部
２５３ａ、２５３ｂ 取付部
２５５ 他方取付板
２５５ａ 上面
２５５ａｅ 縁部
２６１ 駆動部
２７３ 駆動棒
２９１ リンク部
２９６ａ、２９６ｂ 連結部材
２９６ｈ１、２９６ｈ２ 雌ネジ
２９７ 連結棒
３０１ 本発明の変形試験器（本試験器）
４０１ 検出器支持部
４０３ 第１取付棒
４０３ｂ１、４０３ｂ２ 取付ネジ
４０５ 第２取付棒
４０７、４０９ 取付板
４０７ｈ、４０９ｈ 長穴
５０３、５０５ 検出器
Ｓ１ 第１線分
Ｓ２ 第２線分

Claims (11)

1. 試験体が取り付けられる第１取付面と、第１線分の上に存する第１取付面の縁部である第１縁部と、を有する第１取付板と、
   試験体が取り付けられる第２取付面と、第２線分の上に存する第２取付面の縁部である第２縁部と、を有する第２取付板と、
   試験体が架け渡される隙間が第１縁部と第２縁部との間に形成されるように、第１線分と第２線分とが互いに平行で相対的位置を保持しつつ、第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動可能であり、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動可能であるように、第１取付板と第２取付板とを支持する支持手段と、
   第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させる回動手段と、
   第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分の状態を検出する検出器を支持する検出器支持手段と、を備えてなる変形試験器であって、
   第１取付板を第２線分に対して相対的に第１線分を中心に回動させ、及び／又は、第２取付板を第１線分に対して相対的に第２線分を中心に回動させることで、第１縁部と第２縁部との間に存する試験体の部分を変形させる変形試験において、第１線分と第２線分とを２辺とする仮想上の四角形である対象領域の絶対位置が変化するものであり、
   対象領域の該絶対位置の変化に関わらず、検出器支持手段に支持される検出器に対する対象領域の相対的位置が、略同じである、変形試験器。
2. 検出器支持手段が、絶対位置が変化する第１縁部及び／又は第２縁部に取り付けられるものである、請求項１に記載の変形試験器。
3. 支持手段は、第１線分が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、
   検出器支持手段が、両縁部位置関係保持部材に取り付けられるものである、請求項２に記載の変形試験器。
4. 支持手段は、第１線分の一端側の第１取付板と第２線分の一端側の第２取付板とに取り付けられる一端側の両縁部位置関係保持部材と、第１線分の他端側の第１取付板と第２線分の他端側の第２取付板とに取り付けられる他端側の両縁部位置関係保持部材と、を含んでなり、
   検出器支持手段が、一端側の両縁部位置関係保持部材と他端側の両縁部位置関係保持部材とに取り付けられるものである、請求項３に記載の変形試験器。
5. 支持手段は、第１線分と平行な第１回動軸の周りに回動可能に第１取付板を支持すると共に、第２線分と平行な第２回動軸の周りに回動可能に第２取付板を支持し、第１回動軸と第２回動軸との間の距離が変化可能なものである取付板支持手段を有する、請求項１乃至４のいずれか１に記載の変形試験器。
6. 取付板支持手段は、第１回動軸の周りに回動可能に第１取付板を支持する第１回動棒を有してなり、
   回動手段は、第１回動棒を第１回動軸の周りに回動させる第１回動棒が取り付けられた回動駆動手段と、第１回動棒の回動により第２取付板を第２回動軸の周りに従動的に回動させるリンク機構と、を備えてなり、
   検出器支持手段が、リンク機構に取り付けられるものである、請求項５に記載の変形試験器。
7. 支持手段は、第１線分が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、
   前記リンク機構は、第２回動軸の周りに第２取付板が回動するように両縁部位置関係保持部材を移動させるものである、請求項６に記載の変形試験器。
8. 第１回動軸の絶対的位置は不変であると共に、第２回動軸の絶対的位置が移動することで、第１回動軸と第２回動軸との間の距離が変化するものである、請求項６又は７に記載の変形試験器。
9. 第１回動軸と第２回動軸とを含む平面である回動軸存在面への第１線分の正投影と、回動軸存在面への第２線分の正投影と、が第１回動軸と第２回動軸との間に存し、
   支持手段は、第１線分が含まれる第１直線の周りに回動可能に第１取付板が直接的又は間接的に取り付けられると共に、第２線分が含まれる第２直線の周りに回動可能に第２取付板が直接的又は間接的に取り付けられ、第１直線と第２直線との間の距離を一定に保持する両縁部位置関係保持部材を有し、
   回動手段は、回動軸存在面に対し垂直方向に両縁部位置関係保持部材を往復動させる往復駆動手段を有し、
   検出器支持手段が、両縁部位置関係保持部材に取り付けられるものである、請求項５に記載の変形試験器。
10. 第１線分と第２線分とを含む平面に対して垂直かつ第１線分からの距離と第２線分からの距離とが等しい平面である基準面と第１回動軸との第１距離が、基準面と第２回動軸との第２距離に等しくなるように、第１回動軸及び第２回動軸のいずれも絶対的位置が変化する、請求項９に記載の変形試験器。
11. 検出器支持手段に支持される検出器の方向及び／又は位置が変化可能である、請求項１乃至１０のいずれか１に記載の変形試験器。

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