JP2020067380A - 劣化推定装置、劣化推定システム、劣化推定方法及びコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (9)
- 絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記光の反射光の反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得するスペクトル取得部と、
前記スペクトル情報に含まれる複数の波長帯に対して所定の処理を行うことで、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する劣化指標決定部と、
前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する推定部と、
を備える、劣化推定装置。 - 前記劣化指標決定部は、前記スペクトル情報と劣化していない絶縁材料から取得される未劣化スペクトル情報との反射強度の差が所定の条件を満たした時を前記絶縁材料の劣化の発生時として決定する、
請求項1に記載の劣化推定装置。 - 前記劣化指標決定部は、前記スペクトル情報の反射強度と前記未劣化スペクトル情報の反射強度との差分が、所定の条件を満たす2波長帯を決定し、前記2波長帯における反射強度に基づいて、前記劣化指標を決定する、
請求項2に記載の劣化推定装置。 - 前記劣化指標決定部は、前記差分が予め定められた第一閾値以下となるように前記スペクトル情報の波長帯の第一反射強度と、前記差分が予め定められた第二閾値以上となる前記スペクトル情報の波長帯の第二反射強度と、に基づいて前記劣化指標を決定する、
請求項3に記載の劣化推定装置。 - 前記劣化指標決定部は、前記第一反射強度から第二反射強度とを減算した値に対して、前記第一反射強度と前記第二反射強度との和で除算し、前記除算の結果に対して所定の計数を乗ずることで前記劣化指標を決定する、
請求項4に記載の劣化推定装置。 - 前記スペクトル取得部は、前記絶縁材料の複数の箇所のスペクトル情報を収集する、
請求項1から5のいずれか一項に記載の劣化推定装置。 - 絶縁材料に対して光を照射し、前記光の反射光の反射強度を取得するセンサと、
前記絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得するスペクトル取得部と、
前記スペクトル情報に含まれる複数の波長帯に対して所定の処理を行うことで、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する劣化指標決定部と、
前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する推定部と、
を備える、劣化推定システム。 - 劣化推定装置が、絶縁材料に対して照射された光の波長帯と、前記光の反射光の反射強度とを対応付けたスペクトル情報を取得するスペクトル取得ステップと、
劣化推定装置が、前記スペクトル情報に含まれる複数の波長帯に対して所定の処理を行うことで、前記絶縁材料の劣化状態のパラメータを表す劣化指標を決定する劣化指標決定ステップと、
劣化推定装置が、前記劣化指標に基づいて前記絶縁材料の劣化状態を推定する推定ステップと、
を有する、劣化推定方法。 - 請求項1から6のいずれか一項に記載の劣化推定装置としてコンピュータを機能させるためのコンピュータプログラム。
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