JP2020059241A - Liquid discharge head and liquid discharge device - Google Patents

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Abstract

To provide a liquid discharge head capable of uniformizing the temperature distribution of an element substrate.SOLUTION: An element substrate 2 of a liquid discharge head has plural feeding ports 25 from which a liquid is fed and discharges an ink fed to the feeding ports 25. A support member 5 has a first face 5a supporting the element substrate 2, and a penetration flow path 6 penetrating from the first face 5a to a second face 5b on a side opposite to the first face 5a. Besides, the support member 5 has a beam 7 extending along the feeding port 25 at a position facing an area between two feeding ports 25 adjacent to each other in the element substrate 2. The face-to-face distance La which is the distance between a third face 7a facing the element substrate 2 of the beam 7 and the element substrate 2 differs by the position in a drawing direction along which the beam 7 extends.SELECTED DRAWING: Figure 6

Description

本発明は、液体を吐出する液体吐出ヘッドおよび液体吐出装置に関する。   The present invention relates to a liquid ejection head and a liquid ejection device that eject liquid.

インクジェット記録装置のような液体吐出装置には、液体を吐出する液体吐出ヘッドが備わっている。液体吐出ヘッドは、通常、液体を吐出する吐出口を備えた素子基板と、素子基板を支持する支持部材とを有する。素子基板は、吐出口から液体を吐出するためのエネルギーを発生させるエネルギー発生素子を有する。支持部材には、素子基板に液体を供給する流路が形成されている。
エネルギー発生素子として熱エネルギーを発生させるヒータ(発熱抵抗素子)が使用される場合、素子基板上の全てのヒータが均一に熱エネルギーを発生させた場合でも、素子基板に不均一な温度分布が生じてしまうことがある。素子基板に不均一な温度分布が生じると、素子基板内の液体にも不均一な温度分布が生じる。液体の吐出量は、ヒータが同じ熱エネルギーを発生させた場合でも、液体の温度によって変化するため、素子基板に不均一な温度分布が生じた場合、その温度分布に応じて、吐出量が吐出口ごとに変化してしまう恐れがある。この場合、記録される画像に濃度ムラが生じることがある。
特許文献1には、素子基板の温度分布を均一化することが可能な液体吐出ヘッドが開示されている。この液体吐出ヘッドでは、支持部材に形成された流路内に、素子基板に接する複数の梁が設けられている。これにより、梁を介して素子基板の熱を放出することが可能になるため、梁を適宜配置することで、素子基板の温度分布の均一化を図ることが可能になる。
A liquid ejection device such as an inkjet recording device is equipped with a liquid ejection head that ejects a liquid. The liquid ejection head usually has an element substrate having an ejection port for ejecting a liquid, and a support member that supports the element substrate. The element substrate has an energy generating element that generates energy for ejecting the liquid from the ejection port. The support member is formed with a channel for supplying a liquid to the element substrate.
When a heater (heat generation resistance element) that generates thermal energy is used as the energy generation element, an uneven temperature distribution occurs on the element substrate even if all the heaters on the element substrate generate heat energy uniformly. It may happen. When the nonuniform temperature distribution occurs in the element substrate, the nonuniform temperature distribution also occurs in the liquid in the element substrate. The discharge amount of the liquid changes depending on the temperature of the liquid even when the heater generates the same thermal energy. Therefore, when a non-uniform temperature distribution occurs in the element substrate, the discharge amount is discharged according to the temperature distribution. There is a risk that it will change at each exit. In this case, density unevenness may occur in the recorded image.
Patent Document 1 discloses a liquid ejection head capable of making the temperature distribution of an element substrate uniform. In this liquid ejection head, a plurality of beams that come into contact with the element substrate are provided in the flow path formed in the support member. Thereby, the heat of the element substrate can be radiated through the beam, and thus the temperature distribution of the element substrate can be made uniform by appropriately disposing the beam.

特開2007−276385号公報JP, 2007-276385, A

近年、液体吐出ヘッドに対して高速化が要求されており、それに伴い、吐出周波数の向上、吐出口の高密度化、吐出口列の長尺化などの対応が求められている。これらの対応は、素子基板の高温化や素子基板の温度分布の不均一化を助長するため、素子基板の温度分布を均一化するためのさらなる技術が必要となる。   In recent years, there has been a demand for higher speeds in liquid ejection heads, and along with this, there has been a demand for improvement in ejection frequency, higher density of ejection ports, lengthening of ejection port arrays and the like. Since these measures promote the temperature rise of the element substrate and the non-uniformity of the temperature distribution of the element substrate, further techniques for equalizing the temperature distribution of the element substrate are required.

本発明の目的は、素子基板の温度分布を均一化することが可能な液体吐出ヘッドおよび液体吐出装置を提供することである。   An object of the present invention is to provide a liquid ejection head and a liquid ejection device that can make the temperature distribution of an element substrate uniform.

本発明による液体吐出ヘッドは、液体が供給される複数の供給口を有し、前記供給口に供給された液体を吐出する素子基板と、前記素子基板を支持する第1の面を有し、前記第1の面から前記第1の面の反対側の第2の面まで貫通した流路が形成された支持部材とを備え、前記流路が前記供給口と連通している液体吐出ヘッドにおいて、前記支持部材は、前記素子基板における互いに隣接する2つの前記供給口の間の領域と対向する位置に、前記供給口に沿って延びる第1の仕切部材を有し、前記第1の仕切部材と前記素子基板との間の距離は、前記第1の仕切部材が延びる延伸方向の位置に応じて異なることを特徴とする。
本発明による液体吐出装置は、前記液体吐出ヘッドを備える。
A liquid discharge head according to the present invention has a plurality of supply ports for supplying a liquid, has an element substrate that discharges the liquid supplied to the supply port, and a first surface that supports the element substrate, A liquid discharge head, comprising: a support member having a flow passage that penetrates from the first surface to a second surface opposite to the first surface, the flow passage communicating with the supply port. The support member has a first partition member extending along the supply port at a position facing a region between the two supply ports adjacent to each other on the element substrate, and the first partition member. The distance between the element substrate and the element substrate varies depending on the position in the extending direction in which the first partition member extends.
A liquid ejection apparatus according to the present invention includes the liquid ejection head.

本発明によれば、第1の仕切部材と素子基板との間の距離が第1の仕切部材が延びる延伸方向の位置に応じて異なる。第1の仕切部材と素子基板との間の距離に応じて素子基板の放熱効率が変化するため、素子基板の放熱効率を第1の仕切部材の延伸方向の位置に応じて変化させることが可能になる。したがって、素子基板の温度分布をより均一化することが可能になる。   According to the present invention, the distance between the first partition member and the element substrate differs depending on the position in the extending direction in which the first partition member extends. Since the heat dissipation efficiency of the element substrate changes according to the distance between the first partition member and the element substrate, it is possible to change the heat dissipation efficiency of the element substrate according to the position of the first partition member in the extending direction. become. Therefore, the temperature distribution of the element substrate can be made more uniform.

本発明の第1の実施形態に係る液体吐出ヘッドを示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing the liquid ejection head according to the first embodiment of the present invention. 本発明の第1の実施形態に係る支持部材を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the support member which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第1の実施形態に係る素子基板を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the element substrate which concerns on the 1st Embodiment of this invention. 図1のA−A線に沿った断面図である。It is sectional drawing which followed the AA line of FIG. 図4の部分拡大図である。FIG. 5 is a partially enlarged view of FIG. 4. 図1のB−B線に沿った断面図である。It is sectional drawing which followed the BB line of FIG. 参考例の液体吐出ヘッドを示す図である。It is a figure which shows the liquid discharge head of a reference example. 本発明の第1の実施形態に係る素子基板と参考例に係る素子基板の温度分布を示す図である。It is a figure which shows the temperature distribution of the element substrate which concerns on the 1st Embodiment of this invention, and the element substrate which concerns on a reference example. 本発明の第2の実施形態に係る液体吐出ヘッドを示す断面図である。FIG. 6 is a cross-sectional view showing a liquid ejection head according to a second embodiment of the present invention. 本発明の第2の実施形態に係る素子基板の温度分布を示す図である。It is a figure which shows the temperature distribution of the element substrate which concerns on the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態に係る支持部材を示す斜視図である。It is a perspective view showing a support member concerning a 4th embodiment of the present invention. 本発明の第4の実施形態に係る液体吐出ヘッドを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the liquid discharge head which concerns on the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施形態に係る素子基板と参考例に係る素子基板の温度分布を示す図である。It is a figure which shows the temperature distribution of the element substrate which concerns on the 4th Embodiment of this invention, and the element substrate which concerns on a reference example. 本発明の第5の実施形態に係る液体吐出ヘッドを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the liquid discharge head which concerns on the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施形態に係る素子基板と参考例に係る素子基板の温度分布を示す図である。It is a figure which shows the temperature distribution of the element substrate which concerns on the 5th Embodiment of this invention, and the element substrate which concerns on a reference example. 本発明の第6の実施形態に係る液体吐出ヘッドを示す断面図である。It is sectional drawing which shows the liquid discharge head which concerns on the 6th Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。なお、各図面において同じ機能を有するものには同じ符号を付け、その説明を省略する場合がある。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る液体吐出ヘッドを示す斜視図である。図1に示す液体吐出ヘッド1は、インクジェット記録装置のようなインクなどの液体を吐出する液体吐出装置(図示せず)に搭載される。本実施形態では、液体はインクである。
液体吐出ヘッド1は、インクを吐出する素子基板2と、液体吐出装置に備わったメインタンク(図示せず)からインクが導入される導入口3を備えた筐体4と、素子基板2を支持する支持部材5とを有する。図では、支持部材5における素子基板2を支持する面内の互いに直交する2方向をX方向およびY方向とし、X方向およびY方向と直交する方向をZ方向としている。
素子基板2は、インクを吐出するためのエネルギーを発生するエネルギー発生素子として、熱エネルギーを発生するヒータ(図示せず)を備え、ヒータを駆動することでインクを吐出する。図の例では、6つの素子基板2が配列されているが、素子基板2の数は特に限定されない。
導入口3は、液体吐出装置本体に備わったメインタンクとチューブ(図示せず)を介して接続される。導入口3には、インクがメインタンクからチューブを介して導入される。図の例では、導入口3は、複数あり、複数の導入口3のそれぞれには、異なる色のインクが供給される。
筐体4は、導入口3に導入されたインクを素子基板2に供給する機能を有する。具体的には、筐体4は、導入口3に導入されたインクを蓄えるサブタンク、インクを素子基板2に供給する流路、および、インク内の気泡やゴミをトラップする液室(いずれも図示せず)などを備える。また、筐体4は、例えば、樹脂材料を射出成型することで形成される。
支持部材5は、筐体4と接合され、素子基板2は、支持部材5を介して筐体4と接合される。
なお、図1では、液体吐出ヘッド1は、素子基板2が筐体4よりも上側に配置された状態で示されているが、液体を吐出して記録を行う記録時には、図1を上下反転した状態、つまり、素子基板2を筐体4よりも下側にした状態で使用される。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, components having the same function are designated by the same reference numerals and the description thereof may be omitted.
(First embodiment)
FIG. 1 is a perspective view showing a liquid ejection head according to a first embodiment of the present invention. The liquid ejection head 1 shown in FIG. 1 is mounted on a liquid ejection device (not shown) that ejects a liquid such as ink such as an inkjet recording device. In this embodiment, the liquid is ink.
The liquid ejection head 1 supports the element substrate 2 for ejecting ink, a housing 4 having an inlet 3 for introducing ink from a main tank (not shown) provided in the liquid ejection device, and the element substrate 2. And a supporting member 5. In the figure, two directions in the plane of the support member 5 that support the element substrate 2 orthogonal to each other are the X direction and the Y direction, and the direction orthogonal to the X direction and the Y direction is the Z direction.
The element substrate 2 includes a heater (not shown) that generates thermal energy as an energy generation element that generates energy for ejecting ink, and ejects ink by driving the heater. In the illustrated example, six element substrates 2 are arranged, but the number of element substrates 2 is not particularly limited.
The inlet 3 is connected to a main tank provided in the liquid ejection apparatus main body via a tube (not shown). Ink is introduced into the introduction port 3 from the main tank via a tube. In the example of the figure, there are a plurality of inlets 3, and inks of different colors are supplied to each of the plurality of inlets 3.
The housing 4 has a function of supplying the ink introduced into the introduction port 3 to the element substrate 2. Specifically, the housing 4 includes a sub-tank for storing the ink introduced into the introduction port 3, a flow path for supplying the ink to the element substrate 2, and a liquid chamber for trapping bubbles and dust in the ink (both are shown in FIG. (Not shown) and the like. The housing 4 is formed, for example, by injection molding a resin material.
The support member 5 is joined to the housing 4, and the element substrate 2 is joined to the housing 4 via the support member 5.
Note that, in FIG. 1, the liquid ejection head 1 is shown in a state in which the element substrate 2 is disposed above the housing 4, but when recording is performed by ejecting liquid, the FIG. In this state, that is, in a state where the element substrate 2 is below the housing 4, the device is used.

図2は、支持部材5を示す図である。具体的には、図2(a)は、支持部材5の正面図であり、図2(b)は、支持部材5の斜視図である。
支持部材5は、素子基板2を高精度に配列するために、高い寸法精度や高い剛性が必要となる。また、支持部材5は、素子基板2にて発生した熱を放出するための放熱部材としても機能する。このため、支持部材5には、放熱性が必要となる。これらの観点から支持部材5は、熱伝導率の高い材料で形成されることが望ましい。例えば、支持部材5は、酸化アルミニウム(アルミナ)や、酸化アルミニウムよりも熱伝導率が高い材料で形成される。なお、支持部材5は、CIM(セラミックインジェクションモールド)にて成形されることが望ましい。この場合、切削などによる部品加工によって成形される場合と比べて、コストを低く抑えることが可能になる。
また、支持部材5は、筐体4から素子基板2にインクを供給するための流路部材としても機能する。このため、支持部材5は、図2に示すように、インクを筐体4から素子基板2に供給する流路として複数の貫通流路6を有する。貫通流路6は、支持部材5をZ方向に貫通し、素子基板2と筐体4とを連通させる。貫通流路6は、Y方向に沿って形成される。
支持部材5は、貫通流路6のそれぞれを2つに区切る第1の仕切部材である梁7を有する。梁7は、貫通流路6の長手方向であるY方向に沿って延在する。これにより、梁7は、貫通流路6の短手方向であるX方向に貫通流路6を区切る。
FIG. 2 is a diagram showing the support member 5. Specifically, FIG. 2A is a front view of the support member 5, and FIG. 2B is a perspective view of the support member 5.
The support member 5 requires high dimensional accuracy and high rigidity in order to arrange the element substrates 2 with high accuracy. Further, the support member 5 also functions as a heat dissipation member for radiating the heat generated in the element substrate 2. Therefore, the support member 5 needs to have heat dissipation. From these viewpoints, it is desirable that the support member 5 be formed of a material having a high thermal conductivity. For example, the support member 5 is made of aluminum oxide (alumina) or a material having a higher thermal conductivity than aluminum oxide. The support member 5 is preferably molded by CIM (ceramic injection mold). In this case, the cost can be kept low as compared with the case where the parts are formed by machining such as cutting.
The support member 5 also functions as a flow path member for supplying ink from the housing 4 to the element substrate 2. Therefore, as shown in FIG. 2, the support member 5 has a plurality of through flow paths 6 as flow paths for supplying ink from the housing 4 to the element substrate 2. The through flow path 6 penetrates the support member 5 in the Z direction and connects the element substrate 2 and the housing 4 to each other. The through channel 6 is formed along the Y direction.
The support member 5 has a beam 7 that is a first partition member that divides each of the through channels 6 into two. The beam 7 extends along the Y direction, which is the longitudinal direction of the through channel 6. As a result, the beam 7 partitions the through channel 6 in the X direction, which is the lateral direction of the through channel 6.

図3は、素子基板2を示す斜視図である。図3に示すように素子基板2は、基板21と、基板21上に設けられた吐出口形成部材22とを有する。基板21の長手方向であるY方向の両端辺付近には、素子基板2に電気信号を入力するための端子23が設けられている。
吐出口形成部材22には、インクを吐出する複数の吐出口24が形成されている。複数の吐出口24は、Y方向に沿った吐出口列24aを形成する。図の例では、吐出口列24aは、X方向に2列並設されているが、2列に限らず、例えば、4列などでもよい。また、基板21のヒータは、吐出口24のそれぞれに対向する位置に設けられる。そのため、ヒータはY方向に沿ったヒータ列を形成する。
インクを吐出する吐出時には、端子23に入力された電気信号に従ってヒータが駆動し、そのヒータにて発生した熱エネルギーにより吐出口24からインクが液滴として吐出される。この液滴により、紙などの被記録媒体(図示せず)に画像が形成される。このとき、素子基板2は、ヒータにて発生した熱エネルギーなどにより発熱し、それにより素子基板2の温度分布が変化する。
FIG. 3 is a perspective view showing the element substrate 2. As shown in FIG. 3, the element substrate 2 has a substrate 21 and a discharge port forming member 22 provided on the substrate 21. Terminals 23 for inputting an electric signal to the element substrate 2 are provided near both ends in the Y direction, which is the longitudinal direction of the substrate 21.
The ejection port forming member 22 has a plurality of ejection ports 24 for ejecting ink. The plurality of discharge ports 24 form a discharge port array 24a along the Y direction. In the illustrated example, the two ejection port arrays 24a are arranged in parallel in the X direction, but the number is not limited to two, and may be four, for example. Further, the heater of the substrate 21 is provided at a position facing each of the ejection ports 24. Therefore, the heater forms a heater array along the Y direction.
At the time of ejecting ink, the heater is driven according to an electric signal input to the terminal 23, and the thermal energy generated by the heater causes the ink to be ejected from the ejection port 24 as a droplet. The droplets form an image on a recording medium (not shown) such as paper. At this time, the element substrate 2 generates heat due to the heat energy generated by the heater, etc., and the temperature distribution of the element substrate 2 changes accordingly.

図4は、図1のA−A線に沿った断面図である。なお、図4では、記録時の状態、つまり図1を上下反転した状態の液体吐出ヘッド1が示されている。
図4に示すように素子基板2の基板21は、接着剤で形成された接着剤層(図示せず)を介して支持部材5の第1の面5aと接合されている。また、支持部材5は、第1の面5aの反対側の第2の面5bにおいて、接着剤で形成された接着剤層8を介して筐体4と接合されている。貫通流路6は、支持部材5の第1の面5aから第2の面5bまでZ方向に沿って貫通している。本実施形態では、複数の貫通流路6のそれぞれには、互いに異なる色のインクが供給される。これにより、複数の色のインクを吐出することが可能となる。
素子基板2は、貫通流路6と連通し、貫通流路6からインクが供給される供給口25を有する。素子基板2は、供給口25に供給されたインクを吐出口24から吐出する。
支持部材5の梁7は、素子基板2における互いに隣接する2つの供給口25の間の領域と対向する位置に設けられる。本実施形態では、梁7の素子基板2と対向する面である第3の面7aと支持部材5の第1の面5aとが同一平面内に配置される。また、貫通流路6の貫通方向であるZ方向の梁7の長さは、貫通流路6のZ方向の長さよりも短い。したがって、本実施形態では、梁7は貫通流路6の素子基板2側を2つに区切る。
FIG. 4 is a sectional view taken along the line AA of FIG. Note that FIG. 4 shows the liquid ejection head 1 in a state at the time of recording, that is, a state in which FIG. 1 is turned upside down.
As shown in FIG. 4, the substrate 21 of the element substrate 2 is bonded to the first surface 5a of the support member 5 via an adhesive layer (not shown) formed of an adhesive. The support member 5 is joined to the housing 4 on the second surface 5b opposite to the first surface 5a via the adhesive layer 8 formed of an adhesive. The through channel 6 penetrates from the first surface 5a to the second surface 5b of the support member 5 along the Z direction. In this embodiment, inks of different colors are supplied to each of the plurality of through channels 6. This makes it possible to eject ink of a plurality of colors.
The element substrate 2 has a supply port 25 that communicates with the through channel 6 and that is supplied with ink from the through channel 6. The element substrate 2 ejects the ink supplied to the supply port 25 from the ejection port 24.
The beam 7 of the support member 5 is provided at a position facing a region between two adjacent supply ports 25 on the element substrate 2. In the present embodiment, the third surface 7a of the beam 7 that faces the element substrate 2 and the first surface 5a of the support member 5 are arranged in the same plane. Further, the length of the beam 7 in the Z direction, which is the penetrating direction of the through channel 6, is shorter than the length of the through channel 6 in the Z direction. Therefore, in the present embodiment, the beam 7 divides the through flow path 6 into two on the element substrate 2 side.

図5は、図4で示した液体吐出ヘッド1の貫通流路6周辺の拡大図である。貫通流路6は、支持部材5の第1の面5aに開口61を有し、支持部材5の第2の面5bに開口62を有する。貫通流路6の幅(X方向の長さ)は、場所に依らず開口61の幅L1以上であることが望ましい。また、図の例では、開口62の幅L2よりも貫通流路6のZ方向の中央部付近の幅L3の方が広くなっている。梁7で区切られた貫通流路6のそれぞれの幅は開口61の幅L1と略同一である。
記録時や吐出口24を正常な状態にするための吸引回復時などにおいて、インク内に生じた気泡が開口61付近に滞留すると、素子基板2へのインクの供給に影響が生じるため、気泡は速やかに除去されることが好ましい。
図5に示すように気泡40が開口61付近に発生したとする(状態40a)。図5では、気泡40として、気泡の表面張力などを考慮した最大の気泡、つまり、開口61の幅L1と同程度の直径を有する気泡が示されている。
この場合、開口61付近では、気泡40の上面(筐体4側の面)と下面(素子基板2側の面)の表面張力は略等しい。この場合、気泡40は、インクによって作用する浮力により上昇して筐体4側に移動する。その後、気泡40の上面が梁7の設けられた箇所を抜け、貫通流路6の幅が広くなる箇所まで移動すると(状態40b)、気泡40の上面の表面張力が下面の表面張力よりも小さくなる。これら表面張力の差により、気泡40に対して上昇する方向に力が加わる。このため、気泡40は滞留せずにさらに上昇し(状態40c)、その後、筐体4まで移動する。したがって、インク内に生じる気泡40の速やかな除去が可能となる。なお、筐体4には、インク内の気泡をトラップする液室が設けられているため、筐体4に移動した気泡40による影響は無視できる。
上記の例では、梁7で区切られた貫通流路6のそれぞれの幅が開口61の幅L1と略同一であったが、インクの貫通流路6の壁面に対する離形性を考慮して、開口61から離れるほど狭くなる場合がある。この場合、気泡40の上面の表面張力が下面の表面張力よりも大きくなり、それにより、気泡40に対して下降する方向に力が加わる。しかしながら、この場合でも、この下降する方向に加わる力が気泡40に作用する浮力よりも大きくならないように、貫通流路6が狭くなる変化量を調整することで、気泡40の除去が可能となる。
また、本実施形態では、梁7を挟んだ2つの開口61のそれぞれの幅L1と、梁7の幅L4と、開口62の幅L2とは、2×L1+L4>L2の関係を満たす。この場合、筐体4と支持部材5とを接着する接着剤層8が設けられる接着領域51に十分な広さを確保することができる。また、接着領域51だけでなく、素子基板2をゴム部材などでシールする際に必要な領域を確保することもできる。
FIG. 5 is an enlarged view of the vicinity of the through flow path 6 of the liquid ejection head 1 shown in FIG. The through-flow passage 6 has an opening 61 on the first surface 5 a of the support member 5 and an opening 62 on the second surface 5 b of the support member 5. It is desirable that the width (length in the X direction) of the through flow path 6 be equal to or larger than the width L1 of the opening 61 regardless of the location. Further, in the example of the drawing, the width L3 near the central portion of the through channel 6 in the Z direction is wider than the width L2 of the opening 62. The width of each of the through flow paths 6 separated by the beam 7 is substantially the same as the width L1 of the opening 61.
When air bubbles generated in the ink stay near the opening 61 during recording or suction recovery for normalizing the ejection port 24, the ink supply to the element substrate 2 is affected. It is preferable to be removed promptly.
It is assumed that the bubble 40 is generated near the opening 61 as shown in FIG. 5 (state 40a). In FIG. 5, as the bubble 40, the maximum bubble in consideration of the surface tension of the bubble, that is, the bubble having a diameter similar to the width L1 of the opening 61 is shown.
In this case, in the vicinity of the opening 61, the surface tensions of the upper surface (the surface on the housing 4 side) and the lower surface (the surface on the element substrate 2 side) of the bubble 40 are substantially equal. In this case, the bubbles 40 rise due to the buoyancy acting on the ink and move to the housing 4 side. After that, when the upper surface of the bubble 40 passes through the position where the beam 7 is provided and moves to the position where the width of the through flow path 6 becomes wide (state 40b), the surface tension of the upper surface of the bubble 40 becomes smaller than the surface tension of the lower surface. Become. Due to the difference in surface tension, a force is applied to the bubble 40 in a rising direction. Therefore, the bubble 40 does not stay and further rises (state 40c), and then moves to the housing 4. Therefore, the bubbles 40 generated in the ink can be promptly removed. Since the housing 4 is provided with a liquid chamber for trapping bubbles in the ink, the influence of the bubbles 40 moved to the housing 4 can be ignored.
In the above example, the width of each of the through flow paths 6 separated by the beam 7 is substantially the same as the width L1 of the opening 61. However, in consideration of the releasability of the ink to the wall surface of the through flow path 6, It may become narrower as it goes away from the opening 61. In this case, the surface tension of the upper surface of the bubble 40 becomes larger than the surface tension of the lower surface, and thereby a force is applied to the bubble 40 in the descending direction. However, even in this case, the bubble 40 can be removed by adjusting the amount of change in which the through passage 6 becomes narrow so that the force applied in the descending direction does not become larger than the buoyancy acting on the bubble 40. .
Further, in the present embodiment, the width L1 of each of the two openings 61 sandwiching the beam 7, the width L4 of the beam 7, and the width L2 of the opening 62 satisfy the relationship of 2 × L1 + L4> L2. In this case, it is possible to secure a sufficient area in the bonding area 51 where the adhesive layer 8 for bonding the housing 4 and the support member 5 is provided. Further, not only the adhesion area 51, but also an area necessary for sealing the element substrate 2 with a rubber member or the like can be secured.

図6は、図1のB−B線に沿った断面図である。なお、図6では、図4および図5と同様に記録時の状態の液体吐出ヘッド1が示されている。
図6に示すように支持部材5の貫通流路6の開口61のY方向の長さは、開口62のY方向の長さよりも長い。また、貫通流路6には、梁7とは略直交する方向に延びる第2の仕切部材である梁9が複数配置されている。梁9の筐体4の側の面9aと支持部材5の第2の面5bとが同一平面内に配置される。また、梁9のZ方向の長さは、貫通流路6のZ方向の長さよりも短い。図6の例では、梁9は、1つの貫通流路6に対して2つ設けられている。具体的には、梁9は、開口62のY方向の両端部付近、つまり、Y方向における梁7の中央部と両端部との間に設けられる。
また、梁7は、素子基板2の供給口25の長手方向であるY方向に沿って設けられる。梁7の素子基板2側の面である第3の面7aには、第1の凹部である凹部30が設けられる。凹部30は、本実施形態では、梁7が延びる延伸方向であるY方向の両端部に設けられる。より具体的には、凹部30は、Y方向における梁9が設けられた位置よりも梁7の両端部に近い位置に設けられる。これにより、梁7と素子基板2との間の距離である対面距離は、凹部30が設けられた箇所だけ他の個所よりも長くなる。したがって、対面距離は、Y方向の位置に応じて異なることとなる。なお、本実施形態では、梁7の素子基板2側の面である第3の面7aにおける凹部30が設けられた箇所以外は、平坦である。凹部30の底面も平坦である。
また、支持部材5は、Y方向における梁7の両脇(梁7の延長線上)に素子基板2と接合される接合領域52を有し、接合領域52に第2の凹部である凹部31が設けられている。
なお、梁7および9は、支持部材5の一部を構成し、支持部材5の本体と同じ材料で形成される。このため、梁7および9も支持部材5の本体と同様に放熱部材として機能する。
FIG. 6 is a sectional view taken along the line BB of FIG. It should be noted that FIG. 6 shows the liquid ejection head 1 in the state during recording as in FIGS. 4 and 5.
As shown in FIG. 6, the length of the opening 61 of the through-flow passage 6 of the support member 5 in the Y direction is longer than the length of the opening 62 in the Y direction. Further, a plurality of beams 9, which are second partition members, extending in a direction substantially orthogonal to the beam 7 are arranged in the through flow path 6. The surface 9a of the beam 9 on the housing 4 side and the second surface 5b of the support member 5 are arranged in the same plane. Further, the length of the beam 9 in the Z direction is shorter than the length of the through passage 6 in the Z direction. In the example of FIG. 6, two beams 9 are provided for one through passage 6. Specifically, the beam 9 is provided near both ends of the opening 62 in the Y direction, that is, between the center and both ends of the beam 7 in the Y direction.
Further, the beam 7 is provided along the Y direction, which is the longitudinal direction of the supply port 25 of the element substrate 2. The third surface 7 a of the beam 7 on the element substrate 2 side is provided with a recess 30 that is a first recess. In the present embodiment, the recesses 30 are provided at both ends in the Y direction, which is the extending direction of the beam 7. More specifically, the recess 30 is provided at a position closer to both ends of the beam 7 than the position where the beam 9 is provided in the Y direction. As a result, the facing distance, which is the distance between the beam 7 and the element substrate 2, becomes longer only at the location where the recess 30 is provided than at other locations. Therefore, the facing distance differs depending on the position in the Y direction. In the present embodiment, the beam 7 is flat except for the portion where the concave portion 30 is provided on the third surface 7a, which is the surface on the element substrate 2 side. The bottom surface of the recess 30 is also flat.
In addition, the support member 5 has a bonding region 52 that is bonded to the element substrate 2 on both sides of the beam 7 in the Y direction (on the extension line of the beam 7), and the bonding region 52 has a recess 31 that is a second recess. It is provided.
The beams 7 and 9 form a part of the support member 5 and are made of the same material as the main body of the support member 5. For this reason, the beams 7 and 9 also function as a heat dissipation member similarly to the main body of the support member 5.

図7は、参考例の液体吐出ヘッドを断面図である。
図7(a)に示す第1の参考例の液体吐出ヘッド1aは、梁9が開口62のY方向の中心付近に3つ設けられている点と、凹部30および31が設けられていない点で本実施形態の液体吐出ヘッド1とは異なる。
図7(b)に示す第2の参考例の液体吐出ヘッド1bは、凹部30および31が設けられていない点で本実施形態の液体吐出ヘッド1とは異なる。
図7(c)に示す第3の参考例の液体吐出ヘッド1cは、梁9が開口62のY方向の両端部付近に加えて、開口62のY方向の略中心にさらに1つ設けられている点と、凹部30および31が設けられていない点で本実施形態の液体吐出ヘッド1とは異なる。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the liquid ejection head of the reference example.
In the liquid ejection head 1a of the first reference example shown in FIG. 7A, three beams 9 are provided near the center of the opening 62 in the Y direction, and no recesses 30 and 31 are provided. However, this is different from the liquid ejection head 1 of the present embodiment.
The liquid ejection head 1b of the second reference example shown in FIG. 7B is different from the liquid ejection head 1 of the present embodiment in that the recesses 30 and 31 are not provided.
In the liquid ejection head 1c of the third reference example shown in FIG. 7C, the beam 9 is provided near the both ends of the opening 62 in the Y direction, and one more beam is provided substantially at the center of the opening 62 in the Y direction. The liquid ejecting head 1 of the present embodiment is different in that the concave portions 30 and 31 are not provided.

図8は、本実施形態の液体吐出ヘッド1および参考例の液体吐出ヘッド1a〜1cにおける素子基板2のY方向の温度分布を示す図である。図8では、横軸は素子基板2のY方向の位置を示し、縦軸は温度を示す。吐出口列24aは、0番目(0seg)から1279番目(1279seg)までの1280個の吐出口24を含み、素子基板2のY方向の位置は吐出口24の位置で示されている。温度は、1列分の吐出口列24a内の全ての吐出口(1280個の吐出口)24から一定時間連続してインクを吐出した際の実測値を示す。
なお、素子基板2のY方向の温度分布にバラツキが大きいと、インクを吐出する際に使用されるエネルギーが吐出口24ごとに変化し、その結果、吐出される液滴の大きさが吐出口ごとに変化してしまう。この場合、液滴により被記録媒体に形成される画像に濃淡が生じ、画像の印字品位が低下してしまう。このため、素子基板2のY方向の温度分布は、均一に近いことが望ましい。
図8に示すように液体吐出ヘッド1aの温度分布81では、素子基板2の中央部付近の温度がその両側よりもかなり低くなっている。これは、放熱部材として機能する梁9が素子基板2の中央部付近に集中しているため、素子基板2の中央部付近の放熱効率が高くなっているからである。
液体吐出ヘッド1bの温度分布82では、素子基板2の中央部付近の温度が液体吐出ヘッド1aの素子基板2よりも高く、全体的に均一になっている。これは、素子基板2の中央部付近に梁9がなく、梁9が素子基板2の両端部に設けられているからである。
また、液体吐出ヘッド1cの温度分布83では、梁9が素子基板2の中央部に設けられているため、液体吐出ヘッド1aの温度分布81と同様に、素子基板2の中央部の温度が低くなっている。
なお、貫通流路6の形状などによっては、貫通流路6内のインクの流速が開口62のY方向の中心付近で最も速くなることがある。この場合、インクの流速が速い場所ほど素子基板2の放熱効率が高くなるため、素子基板2の中央部の放熱効率が他の個所よりも高くなる。特に記録の高速化を図る場合、貫通流路6内におけるインクの流速の差が大きくなる傾向があるため、素子基板2の温度分布が不均一になりやすい。液体吐出ヘッド1bおよび1cは、液体吐出ヘッド1aと比べて、梁9がインクの流速が遅い開口62の両端部に配置されているため、インクの流速の差による温度分布のバラツキを抑制することができる。
以上の観点から液体吐出ヘッド1a〜1cの中では、液体吐出ヘッド1bが最も温度分布を均一化することができる。しかしながら、図8に示されたように、液体吐出ヘッド1bだけでなく、参考例の全ての液体吐出ヘッド1a〜1cにおいて、Y方向における素子基板2の両端部の温度が他の個所よりも低い。これは、素子基板2が放熱部材である支持部材5と接触している面積が大きいためである。
FIG. 8 is a diagram showing a temperature distribution in the Y direction of the element substrate 2 in the liquid ejection head 1 of the present embodiment and the liquid ejection heads 1a to 1c of the reference example. In FIG. 8, the horizontal axis represents the position of the element substrate 2 in the Y direction, and the vertical axis represents the temperature. The ejection port array 24a includes 1280 ejection ports 24 from the 0th (0seg) to the 1279th (1279seg), and the position of the element substrate 2 in the Y direction is indicated by the position of the ejection port 24. The temperature indicates an actually measured value when ink is continuously ejected from all the ejection ports (1280 ejection ports) 24 in the ejection port array 24a for one column for a predetermined time.
If the temperature distribution of the element substrate 2 in the Y direction has a large variation, the energy used when ejecting ink changes for each ejection port 24, and as a result, the size of the ejected droplets changes. It changes every time. In this case, the liquid droplets cause shading in the image formed on the recording medium, which deteriorates the print quality of the image. Therefore, it is desirable that the Y-direction temperature distribution of the element substrate 2 be close to uniform.
As shown in FIG. 8, in the temperature distribution 81 of the liquid ejection head 1a, the temperature in the vicinity of the central portion of the element substrate 2 is considerably lower than both sides thereof. This is because the beams 9 functioning as a heat dissipation member are concentrated near the central portion of the element substrate 2, so that the heat dissipation efficiency near the central portion of the element substrate 2 is high.
In the temperature distribution 82 of the liquid ejection head 1b, the temperature in the vicinity of the central portion of the element substrate 2 is higher than that of the element substrate 2 of the liquid ejection head 1a, and is uniform throughout. This is because there is no beam 9 near the center of the element substrate 2 and the beams 9 are provided at both ends of the element substrate 2.
Further, in the temperature distribution 83 of the liquid ejection head 1c, since the beam 9 is provided in the central portion of the element substrate 2, the temperature of the central portion of the element substrate 2 is low like the temperature distribution 81 of the liquid ejection head 1a. Has become.
Depending on the shape of the through channel 6, the flow velocity of the ink in the through channel 6 may be highest near the center of the opening 62 in the Y direction. In this case, since the heat dissipation efficiency of the element substrate 2 is higher at a place where the ink flow velocity is faster, the heat dissipation efficiency of the central portion of the element substrate 2 is higher than that at other places. In particular, when the recording speed is increased, the temperature distribution of the element substrate 2 is likely to be non-uniform because the difference in the flow velocity of the ink in the through channel 6 tends to increase. In the liquid ejection heads 1b and 1c, since the beams 9 are arranged at both ends of the opening 62 where the ink flow velocity is slower than that of the liquid ejection head 1a, the variation in the temperature distribution due to the difference in the ink flow velocity is suppressed. You can
From the above viewpoints, the liquid ejection head 1b can make the temperature distribution most uniform among the liquid ejection heads 1a to 1c. However, as shown in FIG. 8, not only in the liquid ejection head 1b but also in all the liquid ejection heads 1a to 1c of the reference example, the temperature of both end portions of the element substrate 2 in the Y direction is lower than that of other portions. . This is because the element substrate 2 has a large area in contact with the support member 5, which is a heat dissipation member.

これに対して本実施形態の液体吐出ヘッド1では、液体吐出ヘッド1bの構成に加えて、Y方向における梁7の両端部および両脇に凹部30および31が設けられているため、素子基板2の両端部における放熱効率を低くすることができる。このため、液体吐出ヘッド1の温度分布80で示されているように、素子基板2の両端部の温度が液体吐出ヘッド1a〜1cの場合と比べて高くなっている。したがって、液体吐出ヘッド1の素子基板2の温度分布は、液体吐出ヘッド1a〜1cの素子基板2の温度分布よりも均一化されている。
なお、素子基板2の放熱効率は、素子基板2や吐出口24のサイズなどに応じて変化するが、その放熱効率の変化に応じて凹部30および31の位置やサイズを変更することで、温度分布の均一化を図ることができる。したがって、支持部材5の形状を大きく変形させなくても、多様な素子基板2に対応することができる。
On the other hand, in the liquid ejection head 1 of the present embodiment, in addition to the configuration of the liquid ejection head 1b, the recesses 30 and 31 are provided at both ends and both sides of the beam 7 in the Y direction. It is possible to reduce the heat dissipation efficiency at both ends of the. Therefore, as shown by the temperature distribution 80 of the liquid ejection head 1, the temperatures of both ends of the element substrate 2 are higher than those of the liquid ejection heads 1a to 1c. Therefore, the temperature distribution of the element substrate 2 of the liquid ejection head 1 is made more uniform than the temperature distribution of the element substrate 2 of the liquid ejection heads 1a to 1c.
Note that the heat radiation efficiency of the element substrate 2 changes according to the size of the element substrate 2 and the ejection port 24, and the like, but by changing the positions and sizes of the concave portions 30 and 31 according to the change of the heat radiation efficiency, the temperature The distribution can be made uniform. Therefore, even if the shape of the supporting member 5 is not largely changed, it is possible to deal with various element substrates 2.

以上説明したように本実施形態によれば、梁7の素子基板2と対向する第3の面7aと素子基板2との間の距離である対面距離は、梁7が延びる延伸方向であるY方向の位置に応じて異なる。素子基板2の放熱効率は対面距離に応じて変化するため、素子基板2の放熱効率を梁7の延伸方向に応じて変化させることが可能になる。したがって、素子基板2の温度分布を均一化することが可能になる。
また、本実施形態では、梁7のY方向における第3の面7aの両端部には、凹部30が形成されている。したがって、素子基板2のY方向の両端部の放熱性を低くすることが可能になるため、素子基板の温度分布を適切に均一化することが可能になる。また、凹部30の位置や大きさを調整することで、対面距離を調整することができるため、素子基板2の温度分布を容易に調整することが可能になる。
また、支持部材5は、Y方向における梁7の両脇に素子基板2と接合される接合領域52を有し、接合領域52に第2の凹部である凹部31が設けられている。したがって、素子基板2のY方向の両端部の放熱性を低くすることが可能になるため、素子基板の温度分布を適切に均一化することが可能になる。
また、貫通流路6が貫通する貫通方向であるX方向における梁7の長さは、Zにおける貫通流路6の長さよりも短く、梁7の第3の面7aと支持部材5の第1の面5aとが同一平面上に設けられる。したがって、支持部材5の筐体4側の面である第2の面5bに設けられた貫通流路6の開口62の幅を広くしつつ、筐体4と支持部材5とを接着する接着剤層8が設けられる接着領域51に十分な広さを確保することができる。
また、本実施形態では、梁7とは略直交する方向に延びる梁9が梁7の延びるY方向における梁7の中央部と両端部との間に設けられる。これにより、Y方向における梁7の中央部と両端部との間の放熱効率を高くすることが可能になる。したがって、素子基板2の温度分布を均一化することが可能になる。
As described above, according to the present embodiment, the facing distance, which is the distance between the element substrate 2 and the third surface 7a of the beam 7 that faces the element substrate 2, is the extending direction Y of the beam 7. It depends on the position in the direction. Since the heat dissipation efficiency of the element substrate 2 changes according to the facing distance, it becomes possible to change the heat dissipation efficiency of the element substrate 2 according to the extending direction of the beam 7. Therefore, it becomes possible to make the temperature distribution of the element substrate 2 uniform.
Further, in this embodiment, the recesses 30 are formed at both ends of the third surface 7a of the beam 7 in the Y direction. Therefore, it is possible to reduce the heat dissipation of both end portions of the element substrate 2 in the Y direction, so that the temperature distribution of the element substrate can be appropriately made uniform. Further, since the facing distance can be adjusted by adjusting the position and size of the concave portion 30, it becomes possible to easily adjust the temperature distribution of the element substrate 2.
Further, the support member 5 has a bonding region 52 bonded to the element substrate 2 on both sides of the beam 7 in the Y direction, and the bonding region 52 is provided with a recess 31 that is a second recess. Therefore, it is possible to reduce the heat dissipation of both end portions of the element substrate 2 in the Y direction, so that the temperature distribution of the element substrate can be appropriately made uniform.
Further, the length of the beam 7 in the X direction, which is the penetrating direction through which the through channel 6 penetrates, is shorter than the length of the through channel 6 in Z, and the third surface 7 a of the beam 7 and the first of the support member 5 are Surface 5a is provided on the same plane. Therefore, an adhesive that bonds the housing 4 and the supporting member 5 together with widening the width of the opening 62 of the through-flow passage 6 provided on the second surface 5b of the supporting member 5 on the housing 4 side. A sufficient area can be ensured in the bonding area 51 where the layer 8 is provided.
Further, in the present embodiment, the beam 9 extending in a direction substantially orthogonal to the beam 7 is provided between the central portion and both ends of the beam 7 in the Y direction in which the beam 7 extends. This makes it possible to increase the heat dissipation efficiency between the central portion and both end portions of the beam 7 in the Y direction. Therefore, it becomes possible to make the temperature distribution of the element substrate 2 uniform.

(第2の実施形態)
図9は、本発明の第2の実施形態の液体吐出ヘッド1の断面図であり、図1のB−B線に沿った断面が示されている。
図9に示す液体吐出ヘッド1は、図6で示した第1の実施形態の液体吐出ヘッド1と比べて、梁19が設けられている点と、梁7の素子基板2と対向する第3の面7aに凹部32が設けられている点で異なる。梁19は、梁9と同様に梁7とは略直交する方向に延びる第2の仕切部材であり、開口62のY方向の中央部に設けられている。凹部32は、梁7のY方向の中央部に設けられた第3の凹部である。梁19と凹部32のY方向の位置は略同一であることが望ましい。
図10は、本実施形態の液体吐出ヘッド1における素子基板2のY方向の温度分布を示す図である。なお、図10の縦軸および横軸、吐出口列24aの構成および動作については図8の場合と同じである。また、図10では、参考のために参考例の液体吐出ヘッド1a〜1cにおける素子基板2の温度分布81〜83も示されている。
本実施形態の液体吐出ヘッド1では、梁7のY方向の中央部に梁9が設けられているが、図10に示すように本実施形態の液体吐出ヘッド1の温度分布85では、第1の実施形態と同様に素子基板2の中央部の温度が低くなることが抑制されている。これは、梁19による放熱効果が凹部32による断熱効果によって打ち消されているからである。
したがって、本実施形態でも素子基板2の温度分布を均一化することが可能になる。また、梁7の中央部を梁19で支持することが可能になるため、梁7の変形を抑制することも可能となる。
(Second embodiment)
FIG. 9 is a cross-sectional view of the liquid ejection head 1 according to the second embodiment of the present invention, and shows a cross section taken along the line BB of FIG.
The liquid discharge head 1 shown in FIG. 9 is different from the liquid discharge head 1 of the first embodiment shown in FIG. 6 in that a beam 19 is provided and that the beam 7 is a third face opposed to the element substrate 2. The difference is that the concave portion 32 is provided on the surface 7a of the. The beam 19 is a second partition member that extends in a direction substantially orthogonal to the beam 7 similarly to the beam 9, and is provided at the center of the opening 62 in the Y direction. The recess 32 is a third recess provided in the center of the beam 7 in the Y direction. The positions of the beam 19 and the recess 32 in the Y direction are preferably substantially the same.
FIG. 10 is a diagram showing a temperature distribution in the Y direction of the element substrate 2 in the liquid ejection head 1 of this embodiment. The vertical axis and the horizontal axis in FIG. 10 and the configuration and operation of the ejection port array 24a are the same as those in FIG. In addition, FIG. 10 also shows, for reference, temperature distributions 81 to 83 of the element substrate 2 in the liquid ejection heads 1a to 1c of the reference example.
In the liquid ejection head 1 of the present embodiment, the beam 9 is provided at the central portion of the beam 7 in the Y direction, but as shown in FIG. 10, in the temperature distribution 85 of the liquid ejection head 1 of the present embodiment, the first As in the above embodiment, the temperature of the central portion of the element substrate 2 is suppressed from being lowered. This is because the heat radiation effect of the beam 19 is canceled by the heat insulation effect of the recess 32.
Therefore, also in this embodiment, the temperature distribution of the element substrate 2 can be made uniform. Further, since the central portion of the beam 7 can be supported by the beam 19, the deformation of the beam 7 can be suppressed.

(第3の実施形態)
本実施形態では、素子基板2の温度分布についてより詳細に説明する。
図11は、素子基板2の温度分布と配線パターンとの関係を示す図である。図11(a)は、図1のB−B線に沿った液体吐出ヘッド1の断面と放熱性の関係を示し、図11(b)は、素子基板2の模式的な配線パターンと配線の密度の関係を示す。なお、本実施形態の液体吐出ヘッド1の構成は、図9に示した第2の実施形態の液体吐出ヘッド1の構成と同じである。
素子基板2と支持部材5とは、Y方向における貫通流路6の外側で接合されるため、素子基板2の放熱効率は、Y方向における貫通流路6の外側で高く、貫通流路6の中央に近くなるほど低くなる。このため、凹部30および31を設けることで、Y方向における貫通流路6の外側の放熱効率を下げている。
また、素子基板2はヒータが駆動されることで発熱し、ヒータは素子基板2に対して全体的に配置されている。このため、一見すると、素子基板2の発熱量は、場所によらず全体的に均一、または両端部と比べると中央部の方が高くなると考えられる。
しかしながら、図11(b)に示すように素子基板2は、端子23に入力された電気信号をヒータに伝達する配線26を有し、その配線26によっても発熱する。本願発明者らは、配線26の密度が素子基板2の発熱量や温度分布に影響を与えることを発見した。具体的には、配線26の密度が高い部分の温度(発熱量)が高く、配線26の密度が低い部分の温度(発熱量)が低くなる傾向がある。
配線26の密度は、通常、素子基板2の両端部に向かうほど高くなり、中央部に向かうほど低くなる。したがって、発熱量は、素子基板2の両端部で高くなり、素子基板2の中央部で低くなる。
この観点からも、梁19を設ける場合には、同時に凹部32を設けることが望ましい。また、梁19および凹部32の位置や大きさは、配線26の密度に応じて調整されることが望ましい。
(Third Embodiment)
In this embodiment, the temperature distribution of the element substrate 2 will be described in more detail.
FIG. 11 is a diagram showing the relationship between the temperature distribution of the element substrate 2 and the wiring pattern. 11A shows the relationship between the cross section of the liquid ejection head 1 along the line BB in FIG. 1 and the heat radiation property, and FIG. 11B shows the schematic wiring pattern and wiring of the element substrate 2. The density relationship is shown. The configuration of the liquid ejection head 1 of this embodiment is the same as the configuration of the liquid ejection head 1 of the second embodiment shown in FIG.
Since the element substrate 2 and the support member 5 are bonded to each other outside the through-flow passage 6 in the Y direction, the heat dissipation efficiency of the element substrate 2 is high outside the through-flow passage 6 in the Y direction. The lower the distance to the center, the lower it becomes. Therefore, by providing the recesses 30 and 31, the heat radiation efficiency on the outside of the through channel 6 in the Y direction is reduced.
Further, the element substrate 2 generates heat when the heater is driven, and the heater is entirely arranged with respect to the element substrate 2. Therefore, at first glance, it is considered that the amount of heat generated by the element substrate 2 is generally uniform regardless of the location, or is higher in the central portion than in both end portions.
However, as shown in FIG. 11B, the element substrate 2 has the wiring 26 for transmitting the electric signal input to the terminal 23 to the heater, and the wiring 26 also generates heat. The inventors of the present application have found that the density of the wirings 26 affects the heat generation amount and the temperature distribution of the element substrate 2. Specifically, the temperature (heat generation amount) of the portion of the wiring 26 having a high density tends to be high, and the temperature (heat generation amount) of the portion of the wiring 26 having a low density tends to be low.
The density of the wirings 26 is generally higher toward both ends of the element substrate 2 and lowers toward the center thereof. Therefore, the heat generation amount becomes high at both ends of the element substrate 2 and becomes low at the central portion of the element substrate 2.
From this point of view, when the beam 19 is provided, it is desirable to provide the recess 32 at the same time. Further, it is desirable that the positions and sizes of the beams 19 and the recesses 32 are adjusted according to the density of the wirings 26.

(第4の実施形態)
図12は、本実施形態の支持部材5を示す斜視図である。具体的には、図12(a)は、素子基板2が接合される前の支持部材5を示し、図12(b)は、素子基板2を接合するために接着剤が塗布されている支持部材5を示し、図12(c)は、素子基板2が接合された支持部材5を示す。
支持部材5に素子基板2を接合する際には、先ず、図12(b)に示すようにディスペンサー101を用いて、支持部材5の開口61の周辺部に接着剤102を塗布する。その後、図12(c)に示すように接着剤102が塗布された領域に素子基板2を載置することで、支持部材5に素子基板2を接合する。なお、支持部材5の素子基板2が接合された面と対向する面に筐体4が接合される。
(Fourth Embodiment)
FIG. 12 is a perspective view showing the support member 5 of this embodiment. Specifically, FIG. 12A shows the support member 5 before the element substrate 2 is joined, and FIG. 12B shows the support to which the adhesive is applied to join the element substrate 2. The member 5 is shown, and FIG. 12C shows the support member 5 to which the element substrate 2 is joined.
When joining the element substrate 2 to the support member 5, first, as shown in FIG. 12B, the dispenser 101 is used to apply the adhesive 102 to the peripheral portion of the opening 61 of the support member 5. Thereafter, as shown in FIG. 12C, the element substrate 2 is placed on the area where the adhesive 102 is applied, so that the element substrate 2 is bonded to the support member 5. The housing 4 is bonded to the surface of the supporting member 5 that faces the surface of the element substrate 2 bonded thereto.

図13は、本実施形態の液体吐出ヘッド1の断面図である。具体的には、図13(a)は、図1のA−A線に沿った断面図であり、図13(b)は、図1のB−B線に沿った断面図である。なお、図13では、図1と同じ状態の液体吐出ヘッド1が示されている。
図13に示すように液体吐出ヘッド1は、図4で示した第1の実施形態の液体吐出ヘッド1と比較して、第1の仕切部材として梁7の代わりに壁部材10を備えている点と、梁9を備えていない点で異なる。また、図13では、図4では図示していなかった、素子基板2と支持部材5とを接合する接着剤層11が示されている。なお、接着剤層11は、図12で示した接着剤102を硬化させることで形成される。
壁部材10のZ方向の長さは、貫通流路6のZ方向の長さと略等しい。これにより、壁部材10は貫通流路6の全体を区切る。
また、図13(b)に示すように壁部材10の素子基板2と対向する面10aには、壁部材10と素子基板2との間の距離である対面距離LaがY方向の位置に応じて異なるように傾斜が設けられている。具体的には、壁部材10の面10aには、対面距離Laが供給口25の中央部に近づくほど短くなるような傾斜が設けられている。
面10aに傾斜が付けられているため、壁部材10と素子基板2との間には隙間が生じる。この隙間からインクが漏れることを抑制するためには、対面距離Laを、隙間を接着剤層11で封止できる距離に調整する必要がある。この距離は、接着剤層11を形成する接着剤102の物性(粘度やチキソ性など)や塗布方法などに応じて変化するため、対面距離La、つまり面10aの傾斜は接着剤102の物性や塗布方法に応じて適宜変更することが望ましい。本実施形態では、対面距離Laは、0.1mm以下である。
また、支持部材5の第1の面5aには、Y方向における壁部材10両脇に支持部材5と素子基板2との間の距離が対面距離Laの最小値以下の仮止め領域53が形成されている。素子基板2と支持部材5を接合する際には、仮止め領域53に塗布された接着剤102を硬化させることで、素子基板2と支持部材5との仮止めが行われ、その後、接着剤102全体を硬化させることで、素子基板2と支持部材5を接合する。この仮止めにより、素子基板2の組み立て精度を向上させることが可能になる。
FIG. 13 is a cross-sectional view of the liquid ejection head 1 of this embodiment. Specifically, FIG. 13A is a sectional view taken along the line AA of FIG. 1, and FIG. 13B is a sectional view taken along the line BB of FIG. Note that FIG. 13 shows the liquid ejection head 1 in the same state as in FIG.
As shown in FIG. 13, the liquid discharge head 1 includes a wall member 10 instead of the beam 7 as the first partition member, as compared with the liquid discharge head 1 of the first embodiment shown in FIG. This is different from the point that the beam 9 is not provided. Further, FIG. 13 shows an adhesive layer 11 for joining the element substrate 2 and the support member 5, which is not shown in FIG. The adhesive layer 11 is formed by curing the adhesive 102 shown in FIG.
The length of the wall member 10 in the Z direction is substantially equal to the length of the through passage 6 in the Z direction. As a result, the wall member 10 partitions the entire through channel 6.
Further, as shown in FIG. 13B, on the surface 10 a of the wall member 10 facing the element substrate 2, the facing distance La, which is the distance between the wall member 10 and the element substrate 2, depends on the position in the Y direction. Differently, the inclination is provided. Specifically, the surface 10 a of the wall member 10 is provided with an inclination such that the facing distance La becomes shorter as it approaches the central portion of the supply port 25.
Since the surface 10a is inclined, a gap is created between the wall member 10 and the element substrate 2. In order to prevent the ink from leaking from the gap, it is necessary to adjust the facing distance La to a distance at which the gap can be sealed with the adhesive layer 11. This distance changes depending on the physical properties (viscosity, thixotropy, etc.) of the adhesive 102 forming the adhesive layer 11, the coating method, and the like. Therefore, the facing distance La, that is, the inclination of the surface 10 a is the physical property of the adhesive 102. It is desirable to change appropriately according to the coating method. In this embodiment, the facing distance La is 0.1 mm or less.
Further, on the first surface 5a of the support member 5, a temporary fixing region 53 in which the distance between the support member 5 and the element substrate 2 is equal to or smaller than the minimum value of the facing distance La is formed on both sides of the wall member 10 in the Y direction. Has been done. When the element substrate 2 and the supporting member 5 are joined, the adhesive 102 applied to the temporary fixing region 53 is cured to temporarily fix the element substrate 2 and the supporting member 5, and then the adhesive agent is applied. By hardening the entire 102, the element substrate 2 and the supporting member 5 are joined. This temporary fixing makes it possible to improve the assembly accuracy of the element substrate 2.

図14は、本実施形態の液体吐出ヘッド1における素子基板2のY方向の温度分布を示す図である。なお、図14の縦軸および横軸は、吐出口列24aの構成および動作については図8の場合と同じである。
図14では、本実施形態の液体吐出ヘッド1における素子基板2のY方向の温度分布である温度分布90と、第4の参考例の液体吐出ヘッドにおける素子基板2のY方向の温度分布である温度分布91とが示されている。第4の参考例の液体吐出ヘッドは、素子基板2と支持部材5との間の距離Laが一定である点で本実施形態の液体吐出ヘッド1とは異なる。
図14に示すように第4の参考例の液体吐出ヘッドの温度分布91は、素子基板2の両端部において温度が低く、素子基板2の中央部において温度が高くなっている。これは、素子基板2両端部は放熱部材である支持部材5と接触している面積が大きいためである。
これに対して本実施形態の液体吐出ヘッド1の温度分布90では、素子基板2の両端部の温度が第4の参考例と比べて高くなっており、その結果、温度分布91と比べて均一化されている。これは、壁部材10と支持部材5との間の対面距離Laが素子基板2の両端部に近づくほど長くなっているため、素子基板2の両端部の放熱性が低くなっているためである。
したがって、本実施形態でも素子基板2の温度分布を均一化することが可能になる。
FIG. 14 is a diagram showing the temperature distribution in the Y direction of the element substrate 2 in the liquid ejection head 1 of this embodiment. The vertical axis and the horizontal axis in FIG. 14 are the same as those in FIG. 8 regarding the configuration and operation of the ejection port array 24a.
In FIG. 14, a temperature distribution 90, which is the Y-direction temperature distribution of the element substrate 2 in the liquid ejection head 1 of the present embodiment, and a Y-direction temperature distribution of the element substrate 2 in the liquid ejection head of the fourth reference example. A temperature distribution 91 is shown. The liquid ejection head of the fourth reference example is different from the liquid ejection head 1 of the present embodiment in that the distance La between the element substrate 2 and the support member 5 is constant.
As shown in FIG. 14, in the temperature distribution 91 of the liquid ejection head of the fourth reference example, the temperature is low at both ends of the element substrate 2 and is high at the central portion of the element substrate 2. This is because both ends of the element substrate 2 have a large area in contact with the support member 5 which is a heat dissipation member.
On the other hand, in the temperature distribution 90 of the liquid ejection head 1 of the present embodiment, the temperatures at both ends of the element substrate 2 are higher than those in the fourth reference example, and as a result, the temperature distribution 90 is uniform compared to the temperature distribution 91. Has been converted. This is because the facing distance La between the wall member 10 and the support member 5 becomes longer as the distance to the both ends of the element substrate 2 becomes closer, and thus the heat dissipation property at both ends of the element substrate 2 becomes low. .
Therefore, also in this embodiment, the temperature distribution of the element substrate 2 can be made uniform.

(第5の実施形態)
図15は、本実施形態における図1のB−B線に沿った断面図である。なお、図15では、図1と同じ状態の液体吐出ヘッド1が示されている。
図15に示す液体吐出ヘッド1は、図13に示した第4の実施形態の液体吐出ヘッド1と比較して、壁部材10の素子基板2と対向する面10aの形状が異なる。本実施形態の面10aには、素子基板2と支持部材5との間の対面距離Laが、Y方向における素子基板2の中央部と両端部との間にある特定箇所Pで最も短くなり、特定箇所Pから素子基板2の中央部および両端部に近づくほど長くなるような傾斜を有する。
また、本実施形態の液体吐出ヘッド1では、貫通流路6内のインクの流速が開口62のY方向の中心付近で最も速く、それにより、素子基板2の中央部の放熱効率が他の個所よりも高い。素子基板2の中央部と両端部で温度が低くなり、中央部と両端部の間の領域で温度が高くなる傾向を有する。
(Fifth Embodiment)
FIG. 15 is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 1 in this embodiment. Note that FIG. 15 shows the liquid ejection head 1 in the same state as in FIG.
The liquid discharge head 1 shown in FIG. 15 differs from the liquid discharge head 1 of the fourth embodiment shown in FIG. 13 in the shape of the surface 10a of the wall member 10 facing the element substrate 2. On the surface 10a of the present embodiment, the facing distance La between the element substrate 2 and the support member 5 is the shortest at a specific portion P between the central portion and both ends of the element substrate 2 in the Y direction, It has an inclination that becomes longer from the specific portion P toward the central portion and both end portions of the element substrate 2.
In addition, in the liquid ejection head 1 of the present embodiment, the flow velocity of the ink in the through flow path 6 is the highest near the center of the opening 62 in the Y direction, so that the heat dissipation efficiency of the central portion of the element substrate 2 is different. Higher than. The temperature tends to be low in the central portion and both ends of the element substrate 2, and tends to be high in the region between the central portion and both ends.

図16は、本実施形態の液体吐出ヘッド1における素子基板2のY方向の温度分布を示す図である。なお、図16の縦軸および横軸は、吐出口列24aの構成および動作については図8の場合と同じである。
図16では、本実施形態の液体吐出ヘッド1における素子基板2のY方向の温度分布である温度分布92と、第5の参考例の液体吐出ヘッドにおける素子基板2のY方向の温度分布である温度分布93とが示されている。第5の参考例の液体吐出ヘッドは、素子基板2と支持部材5との間の距離Laが一定である点で本実施形態の液体吐出ヘッド1とは異なる。
図16に示すように第5の参考例の液体吐出ヘッドの温度分布93は、貫通流路6内のインクの流速が開口62のY方向の中心付近で最も速いため、素子基板2の両端部と中央部において温度が低く、両端部と中央部の間で温度が高くなっている。これに対して本実施形態の液体吐出ヘッド1では、壁部材10の面10aに上述したような傾斜が設けられているため、素子基板2の両端部と中央部の温度が第5の参考例よりも高くなっている。
したがって、本実施形態でも素子基板2の温度分布を均一化することが可能になる。
FIG. 16 is a diagram showing a temperature distribution in the Y direction of the element substrate 2 in the liquid ejection head 1 of this embodiment. The vertical axis and the horizontal axis in FIG. 16 are the same as those in FIG. 8 regarding the configuration and operation of the ejection port array 24a.
In FIG. 16, a temperature distribution 92 that is the temperature distribution in the Y direction of the element substrate 2 in the liquid ejection head 1 of the present embodiment and a temperature distribution in the Y direction of the element substrate 2 in the liquid ejection head of the fifth reference example. A temperature distribution 93 is shown. The liquid ejection head of the fifth reference example is different from the liquid ejection head 1 of the present embodiment in that the distance La between the element substrate 2 and the support member 5 is constant.
As shown in FIG. 16, in the temperature distribution 93 of the liquid ejection head of the fifth reference example, since the flow velocity of the ink in the through flow path 6 is the fastest near the center of the opening 62 in the Y direction, both end portions of the element substrate 2 are shown. And the temperature is low in the central part, and the temperature is high between both ends and the central part. On the other hand, in the liquid discharge head 1 of the present embodiment, since the surface 10a of the wall member 10 is provided with the inclination as described above, the temperatures of both ends and the center of the element substrate 2 are the fifth reference example. Is higher than.
Therefore, also in this embodiment, the temperature distribution of the element substrate 2 can be made uniform.

(第6の実施形態)
図17は、本実施形態の液体吐出ヘッド1の断面図である。具体的には、図17(a)は、図1のA−A線に沿った断面図であり、図17(b)は、図1のB−B線に沿った断面図である。なお、図17では、図1と同じ状態の液体吐出ヘッド1が示されている。
図17に示す本実施形態の液体吐出ヘッド1は、図13に示した第4の実施形態の液体吐出ヘッド1と比べて、第1の仕切部材として壁部材10の代わりに梁12を有する点で異なる。
貫通流路6の貫通方向であるZ方向の梁12の長さは、貫通流路6のZ方向の長さよりも短い。また、梁12は貫通流路6の素子基板2側を2つに区切るように設けられる。
梁12の素子基板2と対向する面12aには、梁12と素子基板2との間の距離である対面距離LaがY方向の位置に応じて異なるように傾斜が設けられている。具体的には、梁12の面12aには、対面距離Laが供給口25の中央部に近づくほど短くなるような傾斜が設けられている。
本実施形態でも、梁12の素子基板2と対向する面12aと素子基板2との間の距離である対面距離Laは、梁12が延びる延伸方向であるY方向の位置に応じて異なるため、素子基板2の温度分布を均一化することが可能になる。
また、本実施形態では、梁12によって区切られた貫通流路6のそれぞれに同じ色のインクが供給されるため、梁7と素子基板2との間は、接着剤層11で封止されず、空隙であってもよい。図では、梁7と素子基板2との間が空隙の例が示されている。この場合、対面距離Laを梁7と素子基板2との間を接着剤層11で封止できる範囲に限定しなくてもよいため、対面距離Laを比較的自由に設定することが可能になる。
(Sixth Embodiment)
FIG. 17 is a cross-sectional view of the liquid ejection head 1 of this embodiment. Specifically, FIG. 17A is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. 1, and FIG. 17B is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. Note that FIG. 17 shows the liquid ejection head 1 in the same state as in FIG.
The liquid discharge head 1 of the present embodiment shown in FIG. 17 has a beam 12 instead of the wall member 10 as the first partition member as compared with the liquid discharge head 1 of the fourth embodiment shown in FIG. Different.
The length of the beam 12 in the Z direction, which is the penetrating direction of the through channel 6, is shorter than the length of the through channel 6 in the Z direction. Further, the beam 12 is provided so as to divide the through channel 6 on the element substrate 2 side into two.
The surface 12a of the beam 12 facing the element substrate 2 is provided with an inclination such that the facing distance La, which is the distance between the beam 12 and the element substrate 2, differs depending on the position in the Y direction. Specifically, the surface 12 a of the beam 12 is provided with an inclination such that the facing distance La becomes shorter as it approaches the center of the supply port 25.
In the present embodiment as well, the facing distance La, which is the distance between the surface 12a of the beam 12 that faces the element substrate 2 and the element substrate 2, differs depending on the position in the Y direction, which is the extending direction of the beam 12. It becomes possible to make the temperature distribution of the element substrate 2 uniform.
Further, in the present embodiment, since the ink of the same color is supplied to each of the through-flow passages 6 partitioned by the beam 12, the adhesive layer 11 does not seal the space between the beam 7 and the element substrate 2. It may be a void. In the figure, an example of a gap between the beam 7 and the element substrate 2 is shown. In this case, since the facing distance La does not have to be limited to the range in which the beam 7 and the element substrate 2 can be sealed with the adhesive layer 11, the facing distance La can be set relatively freely. .

以上説明した各実施形態において、図示した構成は単なる一例であって、本発明はその構成に限定されるものではない。   In each of the embodiments described above, the illustrated configuration is merely an example, and the present invention is not limited to the configuration.

1 液体吐出ヘッド
2 素子基板
5 支持部材
5a 第1の面
5b 第2の面
6 貫通流路
7、12 梁(第1の仕切部材)
9、19 梁(第2の仕切部材)
10 壁部材(第1の仕切部材)
25 供給口
30 凹部(第1の凹部)
31 凹部(第2の凹部)
32 凹部(第3の凹部)
1 Liquid Discharge Head 2 Element Substrate 5 Support Member 5a First Surface 5b Second Surface 6 Through Flow Path 7, 12 Beam (First Partition Member)
9, 19 Beam (second partition member)
10 Wall member (first partition member)
25 Supply Port 30 Recess (First Recess)
31 concave portion (second concave portion)
32 recess (third recess)

Claims (16)

液体が供給される複数の供給口を有し、前記供給口に供給された液体を吐出する素子基板と、前記素子基板を支持する第1の面を有し、前記第1の面から前記第1の面の反対側の第2の面まで貫通した流路が形成された支持部材とを備え、前記流路が前記供給口と連通している液体吐出ヘッドにおいて、
前記支持部材は、前記素子基板における互いに隣接する2つの前記供給口の間の領域と対向する位置に、前記供給口に沿って延びる第1の仕切部材を有し、
前記第1の仕切部材と前記素子基板との間の距離は、前記第1の仕切部材が延びる延伸方向の位置に応じて異なることを特徴とする液体吐出ヘッド。
An element substrate having a plurality of supply ports for supplying a liquid and ejecting the liquid supplied to the supply port, and a first surface supporting the element substrate, the first surface to the first surface A liquid discharge head in which a flow path that penetrates to a second surface opposite to the first surface is formed, and the flow path communicates with the supply port,
The support member has a first partition member extending along the supply port at a position facing a region between two adjacent supply ports on the element substrate,
The liquid discharge head, wherein the distance between the first partition member and the element substrate varies depending on the position in the extending direction of the first partition member.
前記第1の仕切部材における前記素子基板と対向する面の前記延伸方向における両端部には、第1の凹部が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の液体吐出ヘッド。   The liquid ejection head according to claim 1, wherein first recesses are formed at both ends of the surface of the first partition member facing the element substrate in the extending direction. 前記支持部材は、前記延伸方向における前記第1の仕切部材の両脇に前記素子基板と接合される接合領域を有し、
前記接合領域には、第2の凹部が形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の液体吐出ヘッド。
The support member has a joining region joined to the element substrate on both sides of the first partition member in the extending direction,
The liquid ejection head according to claim 1, wherein a second recess is formed in the bonding region.
前記第1の仕切部材における前記素子基板と対向する面における前記凹部が設けられた箇所以外は、平坦であることを特徴とする請求項2または3に記載の液体吐出ヘッド。   4. The liquid ejection head according to claim 2, wherein the first partition member is flat except for the portion where the recess is provided on the surface facing the element substrate. 前記第1の仕切部材における前記素子基板と対向する面は、前記延伸方向における前記供給口の中央部に近づくほど、前記距離が短くなるような傾斜を有することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。   The surface of the first partition member facing the element substrate has an inclination such that the distance becomes shorter as it approaches the central portion of the supply port in the extending direction. The liquid ejection head according to any one of 1. 前記第1の仕切部材における前記素子基板と対向する面は、前記延伸方向における前記供給口の中央部と両端部との間にある特定箇所で前記距離が最も短くなり、前記特定箇所から前記中央部および前記両端部に近づくほど、前記距離が長くなるような傾斜を有することを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。   The surface of the first partition member facing the element substrate has the shortest distance at a specific position between the central portion and both ends of the supply port in the extending direction, and the central portion extends from the central portion. 4. The liquid ejection head according to claim 1, wherein the liquid ejection head has an inclination such that the distance becomes longer as it approaches the portion and the both ends. 前記支持部材は、前記延伸方向における前記第1の仕切部材の両脇に前記素子基板と接合される接合領域を有し、
前記接合領域における前記支持部材と前記素子基板との間の距離は、前記供給口の両端部における前記距離よりも短いことを特徴とする請求項5または6に記載の液体吐出ヘッド。
The support member has a joining region joined to the element substrate on both sides of the first partition member in the extending direction,
7. The liquid ejection head according to claim 5, wherein a distance between the support member and the element substrate in the bonding area is shorter than the distance at both ends of the supply port.
前記第1の仕切部材と前記素子基板との間は、前記支持部材と前記素子基板とを接合する接着剤で形成された接着剤層で埋められていることを特徴とすることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。   A space between the first partition member and the element substrate is filled with an adhesive layer formed of an adhesive that bonds the support member and the element substrate. The liquid ejection head according to claim 1. 前記第1の仕切部材と前記素子基板との間は、空隙であることを特徴とすることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。   8. The liquid ejection head according to claim 1, wherein a gap is provided between the first partition member and the element substrate. 前記第1の面から前記第2の面に向かう貫通方向における前記第1の仕切部材の長さは、前記貫通方向における前記流路の長さよりも短く、
前記第1の仕切部材における前記素子基板と対向する面と前記第1の面とが同一平面上に設けられることとを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
The length of the first partition member in the penetrating direction from the first surface to the second surface is shorter than the length of the flow path in the penetrating direction,
The liquid ejection head according to claim 1, wherein a surface of the first partition member facing the element substrate and the first surface are provided on the same plane. .
前記第1の面から前記第2の面に向かう貫通方向における前記第1の仕切部材の長さは、前記貫通方向における前記流路の長さと略同一であることを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。   The length of the first partition member in the penetrating direction from the first surface to the second surface is substantially the same as the length of the flow path in the penetrating direction. 9. The liquid ejection head according to any one of items 9. 前記支持部材は、前記流路において前記第1の仕切部材とは略直交する方向に延びる第2の仕切部材を有し、
前記第2の仕切部材における前記素子基板と対向する面とは反対側の面と、前記支持部材の前記第2の面とが同一の平面上にあり、
前記第1の面から前記第2の面に向かう貫通方向における前記第2の仕切部材の長さは、前記貫通方向における前記流路の長さよりも短いことを特徴とする請求項1ないし11のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッド。
The support member has a second partition member extending in a direction substantially orthogonal to the first partition member in the flow path,
A surface of the second partition member opposite to the surface facing the element substrate and the second surface of the support member are on the same plane;
12. The length of the second partition member in the penetrating direction from the first surface to the second surface is shorter than the length of the flow path in the penetrating direction. The liquid ejection head according to claim 1.
前記第2の仕切部材は、前記延伸方向における前記第1の仕切部材の中央部と両端部との間に設けられることを特徴とする請求項12に記載の液体吐出ヘッド。   The liquid ejection head according to claim 12, wherein the second partition member is provided between the central portion and both end portions of the first partition member in the extending direction. 前記第2の仕切部材は、前記延伸方向における前記第1の仕切部材の中央部に設けられることを特徴とする請求項12または13に記載の液体吐出ヘッド。   14. The liquid ejection head according to claim 12, wherein the second partition member is provided at a central portion of the first partition member in the extending direction. 前記第1の仕切部材における前記素子基板と対向する面における前記第1の仕切部材の中央部に設けられた第2の仕切部材と対向する位置には、第3の凹部が形成されていることを特徴とする請求項14に記載の液体吐出ヘッド。   A third recess is formed at a position of the surface of the first partition member facing the element substrate, the position facing the second partition member provided in the central portion of the first partition member. The liquid ejection head according to claim 14, wherein 請求項1ないし15のいずれか1項に記載の液体吐出ヘッドを備えたことを特徴とする液体吐出装置。   A liquid ejecting apparatus comprising the liquid ejecting head according to any one of claims 1 to 15.
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