JP2020058190A - モバイルラマン分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 太陽電池モジュールの封止材の劣化の程度を測定分析する装置、及びその装置を使用した太陽電池モジュールの寿命予測方法を提供すること。【解決手段】 屋外に設置された太陽電池モジュール内の封止材の劣化の程度を前記太陽電池モジュールが設置された場所にて測定し分析する分析装置を、レーザー光を照射するラマンプローブと、プローブの太陽電池モジュールの表面に対する位置を計測する計測手段と、計測手段により計測された前記プローブの位置を調整する調整手段と、プローブからレーザー光を前記太陽電池モジュール内の封止材に照射し、前記太陽電池モジュール内の封止材から放出されるラマン散乱光を取得する取得手段と、獲得されたラマン散乱光を分析する分析手段を備えて構成した。【選択図】図２

Description

本発明は少なくても１つの太陽電池セルを持つ太陽電池モジュールにおいて、該太陽電池モジュールの封止材の劣化の程度を検知することにより、太陽電池モジュールの寿命の評価を行う太陽電池モジュールの寿命予測に使用するモバイルラマン分析装置及びその装置を使用した寿命予測方法に関する。

従来、太陽電池モジュールの寿命予測は、太陽電池モジュールの欠陥を測定したり、太陽電池モジュール内の部材の特性を測定して寿命を予測していた。太陽電池モジュール内の部材の特性を測定して寿命を予測する方法として特許文献１が開示されている。

特許文献１は、ラマン分光を用い太陽電池モジュール内の封止材への水の浸透による劣化の程度を、メチレン基とカルボニル基との割合を測定評価し、またそれを基にして太陽電池モジュールの寿命を評価する。この技術によると、破壊などの必要はなく、太陽電池モジュールが設置されている現場で検査ができる長所がある。

しかしながら、これまで太陽電池モジュールが将来どの程度の期間使用できるか正確に判定する寿命予測技術は無い。またこれまで太陽電池モジュールの中の太陽電池セルの劣化について寿命予測する方法も無い。また、封止材の全体を寿命予測する方法も無い。従って、太陽電池モジュールの寿命予測が難しいため太陽電池発電所では太陽電池モジュ−ルの補修及び交換等の管理が難しいという問題がある。また、太陽電池モジュールの寿命予測するための太陽電池モジュールの設置場所で測定分析する装置も無かった。

特開２０１３−９３３５６

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、太陽電池モジュールの封止材の劣化の程度を測定分析する装置、及びその装置を使用した太陽電池モジュールの寿命予測方法を提供することを課題とする。

前記課題を解決する第１発明の太陽電池モジュールの封止材の分析装置は、以下の特徴を有する。
屋外に設置された太陽電池モジュール内の封止材の劣化の程度を前記太陽電池モジュールが設置された場所にて測定し分析する分析装置であって、
前記太陽電池モジュールの表面に接近させてレーザー光を照射するラマンプローブと、
前記プローブの太陽電池モジュールの表面に対する位置を計測する計測手段と、
前記計測手段により計測された前記プローブの位置を調整する調整手段と、
前記プローブからレーザー光を前記太陽電池モジュール内の封止材に照射し、前記太陽電池モジュール内の封止材から放出されるラマン散乱光を取得する取得手段と、
前記獲得されたラマン散乱光を分析する分析手段と
を備えている。

本発明の分析装置によれば太陽電池モジュールを屋外に設置した場所で太陽電池モジュール内の封止材にレーザー光を照射し、照射された部分からの放出されるラマン散乱光を取得し分析することが可能である。このラマン散乱光を分析すると封止材の状態を特定することができる。従って設置され発電に供されている太陽電池モジュールの発電状態をいつでも容易に測定監視できるという効果が発現する。

第２発明の分析装置は、第１発明において、以下の特徴を有している。
自走移動手段を備え、前記太陽電池モジュール上を自走し、所定の複数位置の前記太陽電池モジュール内の封止材の劣化の程度を測定し分析する。

第２発明の分析装置によれば、以下の効果が発現する。この分析装置を屋外に設置されている太陽電池モジュールにセットすれば、装置の自走機能により太陽電池モジュールの任意の場所に移動し、その場所の封止材の状態を無人で測定監視することができる。

前記課題を解決する第３発明の太陽電池モジュールの寿命予測方法は、以下の特徴を有する。
第１発明または第２発明の分析装置を使用した太陽電池モジュールの寿命予測方法であって、
太陽電池モジュールに前記分析装置のラマンプローブを接近させてレーザー光を照射する工程（１）と、
前記工程（１）で照射したレーザー光により前記太陽電池モジュールの封止材のラマンスペクトルを獲得する工程（２）と、
前記工程（２）で獲得された前記太陽電池モジュール内の封止材のメチレン基のスペクトル強度を強度Ａとし、波数が１３００〜２５００ｃｍ^−１の範囲をベースラインとしそのベースラインの範囲内で任意に選択した波数におけるカルボニル基（ケトン）の増加に起因するスペクトル強度を強度Ｂとしたとき、蛍光強度比（Ｄ）をＤ＝Ｂ／Ａ×１００で定義し、前記蛍光強度比（Ｄ）に閾値を設け、その閾値を超えた場合に前記太陽電池モジュール内の封止材の劣化が始まり発電劣化が始まると判断する工程（３）と、
Ｉ−Ｖ測定器により日射強度が６００Ｗ／ｍ^２以上において計測した前記太陽電池モジュールの最大出力を日射強度が１ｋＷ／ｍ^２の値に換算して前記太陽電池モジュールの最大出力（Ｐｍａｘ）を獲得する工程（４）と、
工程（３）で獲得された前記太陽電池モジュール封止材の蛍光強度比（Ｄ）と工程（４）で獲得された前記太陽電池モジュールの最大出力（Ｐｍａｘ）の関係を求める工程（５）と、
を含む。

本発明によると、太陽電池発電所に設置されている太陽電池モジュール内に使用されている封止材の劣化の程度を測定評価するので、太陽電池モジュールの寿命を格段に正確に予測することが出来る。このように封止材の劣化度を蛍光強度比（Ｄ）で評価し、太陽電池モジュールの寿命を予測することはこれまでになく画期的な寿命予測方法である。従って、太陽電池モジュールの寿命予測の結果に基づき、太陽電池モジュールの補修時期や交換時期を正しく決定することができる。

第４発明の太陽電池モジュールの寿命予測方法は、第３発明において以下の特徴を有している。
前記蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）とをそれぞれ二つ以上獲得する工程（６）と、
二つ以上の前記蛍光強度比（Ｄ）とＰｍａｘとをそれぞれ対応して関係点として一緒に表示する工程（７）と、
二つ以上の前記関係点を利用し経年劣化直線を獲得する工程（８）と、
前記蛍光強度比（Ｄ）の閾値での最大出力（Ｐｍａｘ）から前記関係点までの発電劣化率を得る工程（９）と、
測定対象である前記太陽電池モジュールの稼働年数と前記発電劣化率を表示し、それぞれを連結する直線を表示して寿命予測直線を得る工程（１０）と
を含む。

第４発明によれば、太陽電池発電所に設置されている太陽電池モジュールで一定期間をおいて蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）を少なくとも２点測定すれば蛍光強度比（Ｄ）と発電劣化率に関する経年劣化直線を作図することが可能である。この経年劣化直線をもとに稼働年数と発電劣化率との関係を寿命予測直線として作図することができる。この寿命予測直線上で発電劣化率が閾値に到達する年数が太陽電池の予測寿命となる。このようにすることにより太陽電池モジュールを稼働させてから短期間のうちに蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）を測定することにより太陽電池モジュールの将来にわたる寿命を予測することができる。このような寿命予測方法は、従来になく画期的な方法であり、太陽電池発電所を円滑かつ効率的に運営することを可能にする。

第５発明の太陽電池モジュールの寿命予測方法は、第３発明または第４発明において以下の特徴を有している。
前記蛍光強度比（Ｄ）の閾値は、前記太陽電池モジュールに使用される封止材の種類等により変更する。

第５発明によれば、以下の効果が発現する。太陽電池モジュールに使用されている封止材は、種類が種々あり、同じＥＶＡにおいても劣化の程度はファーストキュアタイプとスタンダードキュアタイプで異なり、劣化の程度を判断する蛍光強度比（Ｄ）も変わることになる。この蛍光強度比（Ｄ）をラマンスペクトルから封止材のタイプを識別し、その識別結果から適切な蛍光強度比（Ｄ）を採用することにより太陽電池モジュールの寿命を更に高精度で予測することが可能となる。

第６発明の太陽電池モジュールの劣化診断方法は、以下の特徴を有している。
第１発明または第２発明の分析装置を使用した太陽電池モジュールの劣化診断方法であって、
太陽電池モジュールに前記分析装置のラマンプローブを接近させてレーザー光を照射する工程（１）と、
前記工程（１）で照射したレーザー光により前記太陽電池モジュールの封止材のラマンスペクトルを獲得する工程（２）と、
前記工程（２）で獲得された前記太陽電池モジュール内の封止材のメチレン基のスペクトル強度を強度Ａとし、波数が１３００〜２５００ｃｍ^−１の範囲をベースラインとしそのベースラインの範囲内で任意に選択した波数におけるカルボニル基（ケトン）の増加に起因するスペクトル強度を強度Ｂとしたとき、蛍光強度比（Ｄ）をＤ＝Ｂ／Ａ×１００で定義し、前記蛍光強度比（Ｄ）に閾値を設け、その閾値を超えた場合に前記太陽電池モジュール内の封止材の劣化が始まり発電劣化が始まると判断する工程（３）を含む。

第６発明によれば、太陽電池モジュール内の封止材のスペクトル強度をラマン分光法により測定し、蛍光強度比（Ｄ）を算出することにより封止材の劣化の程度が分かる。従って太陽電池モジュールの発電劣化を診断することができる。またこのような診断方法は、太陽電池の屋外設置場所にて実施することが可能であり、太陽電池発電所の発電劣化の原因究明及び対策を講じるために有効である。

太陽電池モジュールの断面図である。 ラマン分光法の原理の説明図である。 ラマン分光法により測定された太陽電池モジュールの封止材のスペクトル図の１例である。 経年劣化した太陽電池モジュールの発電劣化率と蛍光強度比の関係図である。 太陽電池モジュール中央部の蛍光強度比と最大出力との関係を表すグラフである。 本発明の太陽電池モジュール寿命予測方法の説明図である。 本発明の分析装置の全体図（正面図・平面図）である。 本発明の分析装置の斜視図である。 本発明の分析装置の自走機能を使用して太陽電池モジュールを測定分析する形態の説明図である。

以下、本発明の実施の形態を、添付図面を参照して説明する。

図１は太陽電池モジュールの断面図、図２はラマン分光法の原理の説明図、図３はラマン分光法により測定された太陽電池モジュールの封止材のスペクトル図、図４は経年劣化した太陽電池モジュールの発電劣化率と蛍光強度比の関係図、図５は太陽電池モジュール中央部の蛍光強度比と最大出力との関係を表すグラフ、図６は本発明の太陽電池モジュール寿命予測方法の説明図である。

＜１＞太陽電池モジュールの構造
まず、太陽電池モジュールの構成について説明する。
図１は太陽電池モジュールの断面図である。太陽電池モジュール１０の発電部分は、複数個の角型の太陽電池セル１４がインターコネクタ１５により接続されたものである。太陽電池セル１４には多数のフィンガー１３が配線（印刷）され、太陽電池セル１４により発電された電気を集電するように構成されている。太陽電池モジュール１０の全体構造は以下のようになっている。すなわち、一方側に透明保護層としてガラス１１が配置され、反対側にはバックシート１７が配置され、該ガラス１１とバックシート１７との間に封止材１２、１６が配置される。太陽電池セル１４とフィンガー１３とインターコネクタ１５は封止材１２、１６の中に挟まれた形態で配置されている。封止材１２、１６としては、ＥＶＡ樹脂（エチレンビニルアセテート）が使用されている。

＜２＞本発明の分析装置

＜２−１＞ラマン分光法
ラマン分光法による測定原理を、図２を用いて説明する。
図２は、ラマン分光法を使用した分析装置２００（図７参照）のラマンプローブ１００（以下、測定部という）の構成を示している。測定部１００は、検査装置本体２０、及び全体制御部５０を備えている。ラマン分光測定は、検査装置本体２０にて行う。その構成は、以下のとおりである。投光手段としての対物レンズ２１は、レーザー光源１０１から可視光の波長５３２ｎｍのレーザー光を、検査対象としての太陽電池モジュール１０に照射する。レーザー光は、透明保護層としてのカバーガラス１１（図１参照）を透過して、封止材１２（図１参照）中央部で焦点を結び、焦点位置からラマン散乱光が生じる。ラマン散乱光は、照射したレーザー光より振動数がシフトした物質固有の振動数を持った散乱光である。

ラマン散乱光は、焦点位置からだけでなく光軸上の焦点の前後からも発散されるが、結像レンズ２２とスリット２３の作用により、焦点から発散された散乱光のみがスリットを通過して分光手段２４上で結像するようになっている。分光手段２４には回折格子と、ＣＣＤなどの撮像素子が設けられ、ラマン散乱光のスペクトルを得ることができる。

分光手段２４で得られたスペクトルは、スペクトル解析手段２５に入力されて、ここで予め登録されている種々の物質のスペクトルと比較することで、焦点位置にある物質を同定することができる。なお、スペクトル解析手段２５は別置のパソコンを使用してもよい。たとえば、太陽電池内の結晶系シリコンは５２０ｃｍ^−１に、また、薄膜型のアモルファスシリコンは４７０ｃｍ^−１にピークを有する。本発明ではラマン分光法を太陽電池モジュールの封止材に適用する。得られたスペクトルの一例を図３に示す。図３（ａ）は、封止材が劣化していない状態を示し、図３（ｂ）は封止材の劣化が進行した状態を示している。

＜２−２＞分析装置の構成
本発明のモバイルラマン分析装置２００（以下、分析装置と略称する。）について、図７により説明する。図７（ａ）は平面図、図７（ｂ）は正面図である。図８は、装置の外観を分かりやすくするための斜視図である。図８には、図７と同じ部位には同じ符号が付与されている。

本発明の分析装置２００は、ベースプレート２０１に水平方向（Ｘ方向）と鉛直方向（Ｚ方向）に移動可能なスライド機構を設けている。分析装置は、屋外に設置されている太陽電池モジュールのガラス１１面上（図１参照）にセットするため、持ち運びが容易になるように、軽量化されており、かつ取手２０８が備えられている。またベースプレート２０１には、太陽電池モジュール（以下、被測定物ということもある。）にレーザーを照射するため穴Ｈが設けられている。

分析装置２００の測定部１００は、その先端部ＴをＸ方向（水平方向）とＺ方向（上下方法）に移動するスライド機構により被測定物の所定の位置に移動し位置調整することができる。Ｘ方向（水平方向）の移動機構の精度は、特に高精度は必要ない。一方、Ｚ方向（上下方向）の移動機構の精度は、太陽電池モジュール内の厚さが数１００μｍの封止材部分の状態を特定するためμｍのオーダーが必要である。

Ｘ方向の移動機構は、ベースプレート２０１上に設けたスライドレール２０２とテーブル２０３から構成されている。テーブル２０３の移動は、送りねじ部２０４を回転させてμｍのオーダーにて移動可能である。測定する太陽電池モジュール上に本発明の分析装置２００をセットし、その近傍でμｍからｍｍの範囲で、測定部１００の先端部Ｔを移動させることができる。

Ｚ方向の移動機構は、Ｘ方向のスライドテーブル２０３上に起立するスタンド２０５に設けられている。スタンド２０５の側面にスライドレール２０６とテーブル２０７が設けられている。テーブル２０７の移動は、送りねじ部２１２を回転させてμｍのオーダーにて移動可能である。尚太陽電池モジュール内の封止材の所定の測定位置を確認するためにＺ方向の移動量をダイヤルゲージ２１３にて表示させている。尚移動量の表示は、電気的に確認できるセンサを設けデジタル表示しても良い。

Ｚ方向の移動機構のテーブル２０７にＬ型のブラケット２１１を設けている。そのブラケット２１１に測定部１００が取り付けされている。

以下、本発明の分析装置２００の使用方法について説明する。本発明の分析装置２００は、被測定物である太陽電池モジュール１０のガラス１１上にセットする。本分析装置が封止材の経年劣化を分析するため、そのセットする位置は、太陽電池モジュールのほぼ中央部である。本分析装置には、データ処理等に使用する図示しないパソコンが接続されている。Ｘ方向の移動機構により、測定したい部位に測定部１００の先端部Ｔが位置するように移動調整する。Ｘ方向での測定位置が定まったら、Ｚ方向の移動機構により先端部Ｔを上下方向に微動調整する。上下方向の測定したい位置に到達したか否かはパソコン上の画面で確認する。ここでレーザー光源１０１を作動させると、ベースブレート２０１には穴Ｈがあり、その穴を通してレーザー光が太陽電池モジュール内の封止材に照射され、照射部位からラマン散乱光が放出されて測定部１００にて検出され、封止材部分のスペクトルが得られる。得られたスペクトルは、パソコンに転送されデータ処理されてパソコン画面上にスペクトルが表示される。

＜２−２＞別形態の分析装置の構成
本発明の分析装置を自動化することも可能である。図７の分析装置は、測定する太陽電池モジュール上への設置と移動は人が行っていた。また測定部１００のＸ方向とＺ方向への移動も人が行っていた。これらを自動化した分析装置を、一度太陽電池モジュール１０のガラス１１上のほぼ中央部にセットする。その後、分析装置は、自走機能と測定部１００の先端部Ｔの位置の自動計測機能を使用し、太陽電池モジュール上を移動し、複数箇所で太陽電池モジュール内の封止材の状況（スペクトル）を計測することができる。これにより太陽電池モジュール内の封止材の状況（スペクトル）を無人で監視取得することができる。

別形態の分析装置の自走機能は、公知のロボット技術を応用すれば良い。また測定部１００の先端部ＴのＸ方向とＺ方向の位置は、移動機構をサーボモータとボールねじ等を使用し、位置確認はリニアスケール等を利用すれば実現可能である。また分析装置の移動の際に障害物の確認等のためにＣＣＤカメラを搭載することでも良い。別形態の分析装置を使用して太陽電池モジュールの封止材の状況を監視する形態を図９に示した。図９では、最初に太陽電池モジュールのほぼ中央部に本分析装置をセットし、その後自走機能により中央部の周縁部を周回し測定分析するパターンを示している。本装置の停止位置は、図９に限定されるのもではなく、適宜プログラム等で設定すれば良い。

本発明の分析装置は、太陽電池モジュール内の封止材の状況を測定監視するために有用である。本発明の分析装置を利用した太陽電池モジュールの寿命予測方法について以下説明する。

＜３＞太陽電池モジュールの劣化（経年劣化とＰＩＤ劣化）
太陽電池モジュールの劣化には、大きく分けて太陽電池モジュール内に使用されている封止材の劣化に起因する経年劣化とＰＩＤ現象（ｐｏｔｅｎｔｉａｌ ｉｎｄｕｃｅｄ ｄｅｇｒａｄａｔｉｏｎ）の発生に起因するＰＩＤ劣化がある。経年劣化は、封止材の劣化に起因するものであり長期に亘り進行し発電劣化率は徐々に低下する。一方ＰＩＤ劣化は、ＰＩＤ現象の発生に起因し発電劣化率が突然大きく低下する。

経年劣化モジュール、ＰＩＤ試験モジュール、実フィールド／ＰＩＤ劣化、ＰＩＤ試験モジュールの破壊分析結果を基にそれぞれの発電劣化の形態例を分類したものが表１である。

太陽電池モジュール１０は、一定期間の使用により発電量が低下し一定値以下になると廃棄しなければならない。具体的には、太陽電池モジュールの発電劣化率は、１年につき０．５％〜１．０％で直線的に変化し、多くのメーカーが２０年経過にて発電劣化率約２０％まで保証している。一方、太陽電池発電所において、その発電劣化率は、設置環境に影響を受ける。従って現時点の発電劣化率を把握して太陽電池モジュールの寿命を予測する必要がある。

太陽電池モジュールは、発電素子を接続した発電部分と、それらを外的環境による劣化要因から保護するケーシング部分（ガラス１１・封止材１２・封止材１６・バックシート１７）からなる。発明者らは、鋭意研究を行い太陽電池モジュールの発電劣化率と封止材の蛍光強度比を測定することにより、徐々に進行する経年劣化に関する太陽電池モジュールの寿命予測を行う方法を見出した。

太陽電池モジュールを発電素子（セル１４）、セル１４上の銀フィンガー電極１３及びインターコネクタ１５を含む発電部とケーシング部分である封止材部（ＥＶＡ封止材）に分け、それぞれの状態を測定解析し確認した。更に封止材（ＥＶＡ封止材）部１２、１６については、経年劣化した太陽電池モジュールを含め発電劣化原因（ＰＩＤ現象も含む）を破壊分析およびＥＬ画像観察などにより確認した。ＥＬ画像の暗部を観察することにより、セル上の銀フィンガー電極１３の細線薄肉化とインターコネクタ１５のはんだ接合部の剥離が観察された。ＳＩＭＳを使用した破壊分析の結果、Ｐ型セルのフィンガー１３とインターコネクタ１５を起点とし、太陽電池セル１４表面へのナトリウムの堆積が観測された。尚、本明細書においてＥＬ画像等は、太陽電池モジュールに直流電圧を印加すると半導体である太陽電池セルから微弱な光が発出され、その微弱光を暗室中で特殊なカメラ等で撮影したものでる。

＜４＞経年劣化についての寿命予測方法
太陽電池モジュールの経年劣化にについてラマン分光法を用いた寿命予測方法について説明する。

＜４−１＞蛍光強度比と経年劣化の関係
長期間使用した太陽電池モジュール中のＥＶＡ封止材は、劣化による酢酸発生が認められる。太陽電池モジュール１０内部のＥＶＡ封止材の劣化（酢酸発生）は、ラマン分光測定器（本発明の分析装置２００）のＥＶＡのスペクトル強度の比（以下、蛍光強度比という）を評価指標とした。封止材の劣化挙動は一般にエステルの分解とカルボニルの変性である。すなわち、封止材内部のエステル基が減少し、ケトン（カルボニル）基が増加することで劣化が生じる。本実施形態の説明では、蛍光強度比（Ｄ）として使用した周波数の波数はそれぞれ１５００〜１７００ｃｍ^−１のピークと２８４７ｃｍ^−１とした。蛍光強度比（Ｄ）は、下記の（式１）で算出される数値であり、図３（ｂ）における波数１５００〜１７００ｃｍ^−１のピークにおけるスペクトル強度（Ｂ）と波数２８４７ｃｍ^−１ におけるスペクトル強度（Ａ）の比に１００を乗じて％表示したものである。スペクトル強度（Ａ）がメチレン基のピーク強度であり、スペクトル強度（Ｂ）はケトン基の強度を示している。蛍光強度比（Ｄ）が小さな状態は封止材の劣化が進んでいない状態（図３（a））であり、蛍光強度比（Ｄ）が大きくなると劣化が進行した状態(図３（b）)であることを示している。尚、メチレン基のスペクトルのピーク強度Ａは、２７００ｃｍ^−１から３０００ｃｍ^−１の範囲のピーク強度を封止材の種類等により適宜選ぶことができる。またスペクトル強度Ｂは、図３のベースラインの範囲（１３００ｃｍ^−１から２５００ｃｍ^−１）で封止材の種類等により適宜選ぶことができる。
蛍光強度比（Ｄ）＝１００×スペクトル強度（Ｂ）／スペクトル強度（Ａ）（％） （式１）

図４は経年劣化太陽電池モジュール（約３００枚）の発電劣化率と蛍光強度比の関係図を示す。

本図では、発電劣化率と蛍光強度比の関係は２本表示されている。これは、太陽電池モジュールに使用される封止材のタイプが異なっている。図中（Ａ）は、封止材がスタンダードキュア品であり、ラミネート加工装置にてＥＶＡ封止材を溶融プレス接着のみ行い、引き続き架橋炉で１００％架橋したものである。蛍光強度比（Ｄ）が約８０（この点をＤ１という）を超えた時点から発電劣化率は増加する傾向が見られる。図中（Ｂ）は、封止材がファーストキュア品であり、ラミネート加工装置にてＥＶＡ封止材をプレス架橋したものである。蛍光強度比（Ｄ）が約１２０％（この点をＤ２という）を超えた時点から発電劣化率が増加する傾向が見られた。尚、以下において蛍光強度比（Ｄ）の点Ｄ１と点Ｄ２を総称して点Ｄという。

蛍光強度比（Ｄ）は発電劣化率の代替指標であり、図４中で蛍光強度比（Ｄ）が点Ｄまでは、発電劣化率の変化と蛍光強度比（Ｄ）とは相関は無いが、その後は蛍光強度比（Ｄ）が大きくなるに伴って発電劣化率が増加する関係が得られている。このような状況は、封止材がスタンダードキュア品とファーストキュア品とでは異なることは先に述べた。ファーストキュア品（図４の線図（Ｂ））では太陽電池モジュール１０をスーパーＵＶ照射（通常の太陽光よりも光エネルギーが大きな状態）４８時間の条件で加速劣化させ蛍光強度比（Ｄ）が１５６％では、封止材１ｇ当たりの酢酸の発生量は９２μｇ／ｇとなる。この太陽電池セルのセル面内を太陽電池変換効率分布測定機ＭＰ−５０（レーザーテック社製）で計測した結果、発電性能は一切変化しないという結果が得られている。このような状態は、発電劣化の初期状態であると考えられる。

実フィールド（屋外暴露環境下）で、太陽光によってＥＶＡ封止材１２・１６の劣化が進行し、蛍光強度比（Ｄ）が点Ｄを超えた状態では、発電劣化要因であるＮａイオンが太陽電池セル１４の電極に引き寄せられ、腐食による銀フィンガー電極１３の細線化が始まっている。またＮａイオン（アルカリ性イオン）は、以下の様に封止材に影響を及ぼす。ＥＶＡがガラスや太陽電池セルと接触している部分にはシランカップリング剤が介在して接着機能を果たしており、それらにＮａイオンの影響で加水分解が始まり劣化が開始する。このためガラス１１内側近傍のＥＶＡ１２とシリコンセル１４表面のＥＶＡ１２の劣化は、ＥＶＡ１２の内部に比べて大きくなる。これによりガラスと太陽電池セルとＥＶＡとのそれぞれの界面に隙間が発生し、この隙間部分に水が浸入しＥＶＡの劣化のトリガとなる。

太陽電池発電所の太陽電池モジュールでは、蛍光強度比値（Ｄ）の点Ｄ（図４参照）を基準として、稼働何年でその値に達するかで寿命予測指標とすることができる。ここで点Ｄについては、一例として封止材がスタンダードキュア品であれば８０、封止材がファーストキュア品であれば１２０であるが、使用環境により変更することができる。また封止材並びに他の部材の持つＮａイオンの移動に対する阻害能力により、蛍光強度比（Ｄ）が点Ｄに達するまでの稼働年数は異なる。

＜３−２＞発電劣化率の算出
発電劣化率の算出は、従来の方法によると太陽電池モジュールの発電量を屋外設置場所にて計測することは難しいので以下のような方法を考案した。

太陽電池モジュールの初期発電量を、同一の太陽電池モジュールで時間差をおいて蛍光強度比（Ｄ）と太陽電池モジュールの発電量を同時に計測することにより経年劣化直線を作成し、太陽電池モジュールの初期の発電量を正確に把握し、発電劣化率を求めるという方法である。その方法の妥当性について以下の様に確認した。

太陽電池発電所の一つのアレイ（太陽電池モジュール複数枚直列の状態）中の太陽電池モジュールで封止材が黄変している太陽電池モジュールの最大発電量Ｐｍａｘを英弘精機製のＩＶ測定器で計測した。計測した各太陽電池モジュールの中央部の蛍光強度比（Ｄ）と最大発電量（最大出力）Ｐｍａｘとを測定しその結果を図５に示す。図５には黄変した太陽電池モジュールと黄変していない太陽電池モジュールの蛍光強度比（Ｄ）とＰｍａｘの合計６点の測定点が表示されている。黄変している太陽電池モジュールの蛍光強度比（Ｄ）は２１０％であり、他の黄変の無い太陽電池モジュールの蛍光強度比（Ｄ）は１７０％近辺であった。この太陽電池モジュールの蛍光強度比（Ｄ）とＰｍａｘをグラフ上に表示している。該アレイの太陽電池モジュールの正確な初期発電量は１８３Ｗであった。パネル温度が５５℃であったので、温度補正（−０．５％／℃）すると１５６Ｗとなる。図中の測定点６点から最尤な直線を求めるとその切片の値と１５６Ｗの値はほぼ一致した。このような方法によればパネルの初期発電量が分からなくとも、正確な初期発電量を求め発電劣化率を算出できることを示している。

＜３−４＞寿命予測の具体的な手順
以下に太陽電池発電所における太陽電池モジュール寿命予測方法について図６により説明する。図６（ａ）は、経年劣化直線の作成方法の説明図であり、図６（ｂ）は、寿命予測直線の作成方法の説明図である。以下手順１から手順７に沿って説明する。

手順１）ある太陽電池発電所の一つのアレイを構成する太陽電池モジュールでＥＶＡ封止材の蛍光強度比（Ｄ）を本発明の分析装置により測定算出する。
手順２）手順１にて蛍光強度比（Ｄ）を測定算出した太陽電池モジュールの最大出力Ｐｍａｘを計測する。ＩＶ測定器を用いて日射強度が６００Ｗ／ｍ^２以上において計測した太陽電池モジュールの最大出力を日射強度が１ｋＷ／ｍ^２の値に換算して太陽電池モジュールの最大出力（Ｐｍａｘ）を得る。これにより図６（ａ）中の劣化１の蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）が得られる。
手順３）同一の太陽電池発電所の同一の太陽電池モジュールについて手順１と手順２を行ってから一定期間（例えば、蛍光強度比（Ｄ）が３０〜４０％程度増加した後）経過後に再度、手順１と手順２を行う。これにより図６（ａ）中の劣化２の蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）が得られる。
手順４）手順１から手順３により蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）の点が２点得られ、経年劣化直線が得られる。同時に測定した太陽電池モジュールの初期の最大出力（Ｐｍａｘ）が図６（ａ）中の黒丸印の値として求めることができる。
手順５）手順４により得られた太陽電池モジュールの初期の最大出力Ｐｍａｘにより劣化１と劣化２の最大出力（Ｐｍａｘ）により、劣化１と劣化２の発電劣化率を算出することができる。
手順６）手順５により得られた劣化１と劣化２の状態の発電劣化率と劣化１と劣化２の稼働年数を図６（ｂ）のようにプロットし寿命予測直線Ａが得られる。
手順７）同一の太陽電池発電所の別の太陽電池モジュールは蛍光強度比（Ｄ）のみを測定し図６（ａ）の経年劣化直線により発電劣化率を求め、図６（ｂ）の寿命予測直線Ａにより稼働年数を求めることができる。尚、図６（ｂ）中の破線で表示した寿命予測直線Ｂは、太陽電池モジュールの封止材が、稼働後直ぐに劣化が始まる場合であり、例えば封止材としてウルトラファーストキュアタイプを使用した太陽電池モジュールの場合である。
上記の手順１から手順７により太陽電池モジュールの寿命となる発電劣化率になるまでの稼働年数を予測することができる。

＜５＞本発明の寿命予測方法の運用
ＰＩＤ現象は、突然発生するものである。ＰＩＤ現象が発生した場合、ラマン分光法で太陽電池モジュールの蛍光強度比（Ｄ）が図４の点Ｄ（点Ｄ１・点Ｄ２）を超えた時点において発電所の出力が急激に低下した場合にそれがＰＩＤ現象に起因するものなのか、太陽電池セルのインターコネクタの外れ等に起因するものなのかの判断が可能である。またＰＩＤ現象は、突然発生するものであり、ラマン分光解析では、封止材の劣化が認められない場合（蛍光強度比（Ｄ）が図４の点Ｄの前の状態）もある。

また本発明では、第１発明又は第２発明の分析装置を使用し、ラマン分光法により太陽電池モジュールの封止材のスペクトル強度を測定し蛍光強度比（Ｄ）を算出し上記の手順で太陽電池モジュールの寿命を予測することができる。この寿命予測の過程における封止材の蛍光強度比（Ｄ）を算出する手順は、太陽電池モジュールの現状の発電劣化の程度が分かるので診断方法としても活用可能であり有用である。

１０ 太陽電池モジュール
１１ ガラス
１２、１６ 封止材
１３ フィンガー
１４ 太陽電池セル
１５ インターコネクタ
１７ バックシート
１００ ラマンプローブ（測定部）
２００ 分析装置

Claims (6)

1. 屋外に設置された太陽電池モジュール内の封止材の劣化の程度を前記太陽電池モジュールが設置された場所にて測定し分析する分析装置であって、
   前記太陽電池モジュールの表面に接近させてレーザー光を照射するラマンプローブと、
   前記プローブの太陽電池モジュールの表面に対する位置を計測する計測手段と、
   前記計測手段により計測された前記プローブの位置を調整する調整手段と、
   前記プローブからレーザー光を前記太陽電池モジュール内の封止材に照射し、前記太陽電池モジュール内の封止材から放出されるラマン散乱光を取得する取得手段と、
   前記獲得されたラマン散乱光を分析する分析手段と
   を備えたことを特徴とする封止材の分析装置。
2. 自走移動手段を備え、前記太陽電池モジュール上を自走し、所定の複数位置の前記太陽電池モジュール内の封止材の劣化の程度を測定し分析することを特徴とする請求項１に記載の分析装置。
3. 請求項１または請求項２記載の分析装置を使用した太陽電池モジュールの寿命予測方法であって、
   太陽電池モジュールに前記分析装置のラマンプローブを接近させてレーザー光を照射する工程（１）と、
   前記工程（１）で照射したレーザー光により前記太陽電池モジュールの封止材のラマンスペクトルを獲得する工程（２）と、
   前記工程（２）で獲得された前記太陽電池モジュール内の封止材のメチレン基のスペクトル強度を強度Ａとし、波数が１３００〜２５００ｃｍ^−１の範囲をベースラインとしそのベースラインの範囲内で任意に選択した波数におけるカルボニル基（ケトン）の増加に起因するスペクトル強度を強度Ｂとしたとき、蛍光強度比（Ｄ）をＤ＝Ｂ／Ａ×１００で定義し、前記蛍光強度比（Ｄ）に閾値を設け、その閾値を超えた場合に前記太陽電池モジュール内の封止材の劣化が始まり発電劣化が始まると判断する工程（３）と、
   Ｉ−Ｖ測定器により日射強度が６００Ｗ／ｍ^２以上において計測した前記太陽電池モジュールの最大出力を日射強度が１ｋＷ／ｍ^２の値に換算して前記太陽電池モジュールの最大出力（Ｐｍａｘ）を獲得する工程（４）と、
   工程（３）で獲得された前記太陽電池モジュール封止材の蛍光強度比（Ｄ）と工程（４）で獲得された前記太陽電池モジュールの最大出力（Ｐｍａｘ）の関係を求める工程（５）と、
   を含むことを特徴とする太陽電池モジュールの寿命予測方法。
4. 前記蛍光強度比（Ｄ）と最大出力（Ｐｍａｘ）とをそれぞれ二つ以上獲得する工程（６）と、
   二つ以上の前記蛍光強度比（Ｄ）とＰｍａｘとをそれぞれ対応して関係点として一緒に表示する工程（７）と、
   二つ以上の前記関係点を利用し経年劣化直線を獲得する工程（８）と、
   前記蛍光強度比（Ｄ）の閾値での最大出力（Ｐｍａｘ）から前記関係点までの発電劣化率を得る工程（９）と、
   測定対象である前記太陽電池モジュールの稼働年数と前記発電劣化率を表示し、それぞれを連結する直線を表示して寿命予測直線を得る工程（１０）と
   を含む請求項３に記載の太陽電池モジュールの寿命予測方法。
5. 前記蛍光強度比（Ｄ）の閾値は、前記太陽電池モジュールに使用される封止材の種類等により変更することを特徴とする請求項３または請求項４に記載の太陽電池モジュールの寿命予測方法。
6. 請求項１または請求項２に記載の分析装置を使用した太陽電池モジュールの劣化診断方法であって、
   太陽電池モジュールに前記分析装置のラマンプローブを接近させてレーザー光を照射する工程（１）と、
   前記工程（１）で照射したレーザー光により前記太陽電池モジュールの封止材のラマンスペクトルを獲得する工程（２）と、
   前記工程（２）で獲得された前記太陽電池モジュール内の封止材のメチレン基のスペクトル強度を強度Ａとし、波数が１３００〜２５００ｃｍ^−１の範囲をベースラインとしそのベースラインの範囲内で任意に選択した波数におけるカルボニル基（ケトン）の増加に起因するスペクトル強度を強度Ｂとしたとき、蛍光強度比（Ｄ）をＤ＝Ｂ／Ａ×１００で定義し、前記蛍光強度比（Ｄ）に閾値を設け、その閾値を超えた場合に前記太陽電池モジュール内の封止材の劣化が始まり発電劣化が始まると判断する工程（３）を含むことを特徴とする太陽電池モジュールの劣化診断方法。
   

Images