JP2020030933A - Organic el display panel and manufacturing method of organic el display panel - Google Patents

Organic el display panel and manufacturing method of organic el display panel Download PDF

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JP2020030933A JP2018155188A JP2018155188A JP2020030933A JP 2020030933 A JP2020030933 A JP 2020030933A JP 2018155188 A JP2018155188 A JP 2018155188A JP 2018155188 A JP2018155188 A JP 2018155188A JP 2020030933 A JP2020030933 A JP 2020030933A
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拓治 松尾
篠川 泰治
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Abstract

To reduce a resistance in an electric connection between a common electrode 125 and a reference electrode 200.SOLUTION: An organic EL display panel comprises: a reference electrode 200 extended and distributed to an array direction in a gap of a pixel element 119 adjacent to a row direction on a substrate; a plurality of column insulation bodies 230 which is distributed in a state of being separated to the row direction, respectively onto the reference electrode 200; an electron transport layer 124 provided on a light emission layer 123, and over the plurality of column insulation bodies 230; and a common electrode 125. The reference electrode 200 contains a contact layer 202 made of a metal which is hardly oxidized than a construction material of a pixel electrode 119 or an alloy thereof in an upper surface part 202b where at least each column insulation body 230 is not existed, and in the electron transport layer 124, one part 124a positioned near a side wall 230c of each column insulation body 230 on the reference electrode 100 is in defection or has a thin layer.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本開示は、有機材料の電界発光現象を利用した有機EL(Electro Luminescence)素子を用いた有機EL表示パネル、及びそれを用いたその製造方法に関する。   The present disclosure relates to an organic EL display panel using an organic EL (Electro Luminescence) element utilizing an electroluminescence phenomenon of an organic material, and a method of manufacturing the same using the same.

近年、デジタルテレビ等の表示装置に用いられる表示パネルとして、基板上に有機EL素子をマトリックス状に複数配列した有機EL表示パネルが実用化されている。
有機EL表示パネルでは、一般に各有機EL素子の発光層と、隣接する有機EL素子とは絶縁材料からなる絶縁層で仕切られており、カラー表示用の有機EL表示パネルにおいては、有機EL素子がRGB各色に発光する副画素を形成し、隣り合うRGBの副画素が組合わさってカラー表示における単位画素が形成されている。
In recent years, as a display panel used for a display device such as a digital television, an organic EL display panel in which a plurality of organic EL elements are arranged in a matrix on a substrate has been put to practical use.
In an organic EL display panel, generally, a light emitting layer of each organic EL element and an adjacent organic EL element are separated by an insulating layer made of an insulating material. In an organic EL display panel for color display, the organic EL element is Subpixels that emit light of each color of RGB are formed, and adjacent RGB subpixels are combined to form a unit pixel in color display.

有機EL素子は、一対の電極の間に有機発光材料を含む発光層が配設された基本構造を有し、駆動時には、一対の電極対間に電圧を印加し、発光層に注入されるホールと電子との再結合に伴って発光する。
トップエミッション型の有機EL素子は、基板上に画素電極、有機層(発光層を含む)、及び共通電極が順に設けられた素子構造をしている。発光層からの光は、光反射性材料からなる画素電極にて反射されるとともに、光透光性材料からなる共通電極から上方に出射される。
The organic EL element has a basic structure in which a light-emitting layer containing an organic light-emitting material is disposed between a pair of electrodes, and when driven, a voltage is applied between the pair of electrodes to inject holes into the light-emitting layer. Light is emitted as a result of recombination of electrons and electrons.
The top emission type organic EL element has an element structure in which a pixel electrode, an organic layer (including a light emitting layer), and a common electrode are sequentially provided on a substrate. Light from the light emitting layer is reflected by the pixel electrode made of a light reflective material, and is emitted upward from a common electrode made of a light transmissive material.

共通電極は、基板全面にわたって成膜することが多く、共通電極の電気抵抗が大きい場合、給電部から遠い部分では電圧降下により電流が十分に供給されずに発光効率が低下し、これに起因して面内の輝度ムラが発生してしまう可能性がある。
そこで、共通電極の低抵抗化のために補助電極を設ける手法が提案されている(例えば、特許文献1)。特許文献1には、補助電極を画素電極と同層に形成し、発光層をメタルマスクで塗り分けることで、共通電極と画素電極との間には電界発光層を、共通電極と補助電極とは電気的に接続された構成を備えた発光装置が開示されている。
The common electrode is often formed over the entire surface of the substrate, and when the electric resistance of the common electrode is large, current is not sufficiently supplied due to a voltage drop in a portion far from the power supply portion, and the luminous efficiency is reduced. As a result, in-plane luminance unevenness may occur.
Therefore, a method of providing an auxiliary electrode to reduce the resistance of the common electrode has been proposed (for example, Patent Document 1). In Patent Literature 1, an auxiliary electrode is formed in the same layer as a pixel electrode, and a light emitting layer is separately painted with a metal mask. Discloses a light emitting device having an electrically connected configuration.

特開2017−212449号公報JP 2017-212449 A

しかしながら、上記従来の手法では、複数層からなる有機層のうち特に発光層の上層に位置する電子輸送層を形成する際に、補助電極を避けて形成するためにマスク蒸着を行う必要があり、生産コストが増大するという課題がある。
本開示は、上記課題に鑑みてなされたものであって、簡易な製造プロセスを用いて製造でき、共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減を図り、発光効率を向上させるとともに面内の輝度ムラを抑制した有機EL表示パネル、及び有機EL表示パネルの製造方法を提供することを目的とする。
However, in the above conventional method, it is necessary to perform mask vapor deposition in order to avoid the auxiliary electrode when forming an electron transporting layer located above the light emitting layer, particularly among the organic layers composed of a plurality of layers, There is a problem that the production cost increases.
The present disclosure has been made in view of the above problems, and can be manufactured by using a simple manufacturing process, reduces the electric resistance in the electrical connection between the common electrode and the auxiliary electrode, and improves the luminous efficiency. It is an object of the present invention to provide an organic EL display panel in which in-plane luminance unevenness is suppressed, and a method for manufacturing an organic EL display panel.

本開示の一態様に係る有機EL表示パネルは、基板上に複数の画素電極が行列状に配され、各画素電極上に有機発光材料を含む発光層が配されてなる有機EL表示パネルであって、前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸して配された補助電極と、前記補助電極上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体と、前記発光層上および複数の前記柱状絶縁体に跨って設けられた機能層と、前記機能層上に連続して延伸する状態で設けられた共通電極と、を備え、前記補助電極は、少なくとも前記柱状絶縁体が存在しない上面部分に、前記画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層を含み、前記機能層は、前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍に位置する一部分が欠落しているか又は薄層化しており、前記共通電極は、前記機能層の欠落により露出している前記接触層と接触しており、前記機能層が薄層化している部分において、それ以外の前記機能層の部分よりも低い抵抗にて前記補助電極に電気的に接続されていることを特徴とする。   An organic EL display panel according to one embodiment of the present disclosure is an organic EL display panel in which a plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix on a substrate, and a light emitting layer containing an organic light emitting material is arranged on each pixel electrode. An auxiliary electrode extending in a column direction on at least one of gaps between pixel electrodes adjacent to each other in a row direction on the substrate, and a state in which each of the auxiliary electrodes is separated on the auxiliary electrode in a column direction. A plurality of columnar insulators, a functional layer provided over the light emitting layer and the plurality of columnar insulators, and a common electrode provided in a state of continuously extending over the functional layer, Wherein the auxiliary electrode includes a contact layer made of a metal or an alloy thereof that is less oxidizable than a constituent material of the pixel electrode, at least on an upper surface portion where the columnar insulator does not exist, and the functional layer includes the auxiliary electrode The side wall of the columnar insulator above A part located beside is missing or thinned, the common electrode is in contact with the contact layer exposed by the lack of the functional layer, and the functional layer is thinned In some portions, the portion is electrically connected to the auxiliary electrode with a lower resistance than the other portions of the functional layer.

本開示の一態様に係る有機EL表示パネルは、簡易な製造プロセスを用いて製造でき、共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減を図り、発光効率を向上させるとともに面内の輝度ムラを抑制することができる。   The organic EL display panel according to one embodiment of the present disclosure can be manufactured using a simple manufacturing process, reduces electric resistance in electrical connection between a common electrode and an auxiliary electrode, improves luminous efficiency, and improves in-plane light emission. Luminance unevenness can be suppressed.

実施の形態に係る有機EL表示パネル10の一部を示す模式平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view showing a part of the organic EL display panel 10 according to the embodiment. 有機EL表示パネル10の単位画素100eに相当するバンク122の部分を斜め上方から視した斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a portion of a bank 122 corresponding to a unit pixel 100 e of the organic EL display panel 10 as viewed obliquely from above. 図1におけるA1−A1で切断した模式断面図である。It is the schematic cross section cut | disconnected by A1-A1 in FIG. 図1におけるA2−A2で切断した模式断面図である。It is the schematic cross section cut | disconnected by A2-A2 in FIG. 図1におけるA3−A3で切断した模式断面図である。It is the schematic cross section cut | disconnected by A3-A3 in FIG. (a)〜(f)は、有機EL表示パネル10の製造における各工程での状態を示す図1におけるA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。(A)-(f) is a schematic sectional view cut at the same position as A1-A1 in FIG. 1 showing a state in each step in manufacturing the organic EL display panel 10. (a)〜(d)は、有機EL表示パネル10の製造における各工程での状態を示す図1におけるA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。(A)-(d) is a schematic cross-sectional view showing the state in each step in the manufacture of the organic EL display panel 10 and cut at the same position as A1-A1 in FIG. (a)〜(d)は、有機EL表示パネル10の製造における各工程での状態を示す図1におけるA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。(A)-(d) is a schematic cross-sectional view showing the state in each step in the manufacture of the organic EL display panel 10 and cut at the same position as A1-A1 in FIG. 共通電極125の成膜に用いるスパッタ装置600を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing a sputtering apparatus 600 used for forming a common electrode 125. (a)〜(g)は、有機EL表示パネル10の製造における各工程での状態を示す図1におけるA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。(A)-(g) is a schematic cross-sectional view taken at the same position as A1-A1 in FIG. 1 showing a state in each step in manufacturing the organic EL display panel 10. (a)〜(b)は、有機EL表示パネル10の製造における各工程での状態を示す図1におけるA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。(A)-(b) is a schematic sectional view cut at the same position as A1-A1 in FIG. 1 showing a state in each step in manufacturing the organic EL display panel 10. 電子輸送層124の成膜に用いる蒸着装置500を示す模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a vapor deposition device 500 used for forming an electron transport layer 124. 共通電極125成膜後の図4に示した補助電極200周辺の拡大図である。FIG. 5 is an enlarged view around the auxiliary electrode 200 shown in FIG. 4 after a common electrode 125 is formed. 実施の形態に係る有機EL表示装置1の回路構成を示す模式ブロック図である。FIG. 2 is a schematic block diagram illustrating a circuit configuration of the organic EL display device 1 according to the embodiment. 有機EL表示装置1に用いる有機EL表示パネル10の各副画素100seにおける回路構成を示す模式回路図である。FIG. 2 is a schematic circuit diagram illustrating a circuit configuration of each sub-pixel 100se of the organic EL display panel 10 used in the organic EL display device 1. 変形例1に係る有機EL表示パネル10Aを図1のA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of the organic EL display panel 10A according to Modification Example 1 cut at the same position as A1-A1 in FIG. 変形例2に係る有機EL表示パネル10Bを図1のA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of an organic EL display panel 10B according to Modification Example 2 cut at the same position as A1-A1 in FIG.

≪本発明を実施するための形態の概要≫
本開示の態様に係る有機EL表示パネルは、基板上に複数の画素電極が行列状に配され、各画素電極上に有機発光材料を含む発光層が配されてなる有機EL表示パネルであって、前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸して配された補助電極と、前記補助電極上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体と、前記発光層上および複数の前記柱状絶縁体に跨って設けられた機能層と、前記機能層上に連続して延伸する状態で設けられた共通電極と、を備え、前記補助電極は、少なくとも前記柱状絶縁体が存在しない上面部分に、前記画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層を含み、前記機能層は、前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍に位置する一部分が欠落しているか又は薄層化しており、前記共通電極は、前記機能層の欠落により露出している前記接触層と接触するか、前記機能層が薄層化している部分において、それ以外の前記機能層の部分よりも低い抵抗にて前記補助電極に電気的に接続されていることを特徴とする。また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記柱状絶縁体が存在しない上面部分は、隣接する前記柱状絶縁体の間の間隙の底部である構成であってもよい。
<< Outline of Embodiment for Implementing the Present Invention >>
An organic EL display panel according to an aspect of the present disclosure is an organic EL display panel in which a plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix on a substrate, and a light emitting layer containing an organic light emitting material is arranged on each pixel electrode. An auxiliary electrode extending in a column direction on at least one of gaps between pixel electrodes adjacent to each other in a row direction on the substrate; and an auxiliary electrode extending in a column direction on the auxiliary electrode. A plurality of columnar insulators, a functional layer provided over the light emitting layer and the plurality of columnar insulators, and a common electrode provided in a state of continuously extending over the functional layer. The auxiliary electrode includes a contact layer made of a metal or an alloy thereof that is less oxidizable than a constituent material of the pixel electrode, at least on an upper surface portion where the columnar insulator does not exist, and the functional layer is formed on the auxiliary electrode. Near the side wall of the columnar insulator The common electrode is in contact with the contact layer exposed due to the lack of the functional layer, or in a portion where the functional layer is thinned. , And electrically connected to the auxiliary electrode with a lower resistance than the other portions of the functional layer. In another aspect, in any of the above structures, the upper surface portion where the columnar insulator does not exist may be a bottom portion of a gap between the adjacent columnar insulators.

係る構成により、簡易な製造プロセスを用いて製造でき、共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減を図り、発光効率を向上させるとともに面内の輝度ムラを抑制した有機EL表示パネルを提供することができる。また、補助電極のコンタクト面は、画素電極や補助電極の下層の構成材料よりも酸化されにくい材料から構成されているので、以降の製造プロセスにおいて補助電極の酸化が抑制され、欠落部を通した共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減できる。   With such a configuration, an organic EL display panel that can be manufactured using a simple manufacturing process, reduces electric resistance in electrical connection between the common electrode and the auxiliary electrode, improves luminous efficiency, and suppresses in-plane luminance unevenness. Can be provided. In addition, since the contact surface of the auxiliary electrode is made of a material that is less oxidized than the constituent material of the pixel electrode and the lower layer of the auxiliary electrode, the oxidation of the auxiliary electrode is suppressed in the subsequent manufacturing process, and The electric resistance in the electric connection between the common electrode and the auxiliary electrode can be reduced.

また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記柱状絶縁体の厚みに対する隣接する前記柱状絶縁体の間隙の幅の比率は0.5以上2以下である構成であってもよい。また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記柱状絶縁体の側壁の接触層表面に対する傾斜角は90°より大きく140°以下である構成であってもよい。
係る構成により、専用の工程を設けない簡易な製造プロセスにより、補助電極上の柱状絶縁体の側壁の近傍において機能層を段切れさせて欠落部を形成し、欠落部から補助電極の接触層のコンタクト面が露出する構造を実現できる。
In another aspect, in any of the above configurations, the ratio of the width of the gap between the adjacent columnar insulators to the thickness of the columnar insulator may be 0.5 or more and 2 or less. In another aspect, in any of the above configurations, the inclination angle of the side wall of the columnar insulator with respect to the contact layer surface may be greater than 90 ° and 140 ° or less.
With such a configuration, the functional layer is stepped in the vicinity of the side wall of the columnar insulator on the auxiliary electrode to form a cutout portion by a simple manufacturing process without providing a dedicated process, and a contact layer of the auxiliary electrode is formed from the cutout portion. A structure in which the contact surface is exposed can be realized.

また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記機能層は、前記柱状絶縁体の上面、及び前記補助電極上の前記柱状絶縁体が存在しない部分における前記柱状絶縁体の側壁近傍以外には存在しており、前記柱状絶縁体の側壁上に位置する部分は欠落しているか又は薄層化している構成であってもよい。これより、前記補助電極は、前記画素電極の構成材料と同じ材料からなる下層と、前記下層の上面に列方向に延伸して配された前記接触層からなる構成が得られる。   In another aspect, in any one of the above-described configurations, the functional layer may include an upper surface of the columnar insulator, and a portion other than the vicinity of a sidewall of the columnar insulator in a portion where the columnar insulator does not exist on the auxiliary electrode. May exist, and the portion located on the side wall of the columnar insulator may be missing or thinned. Accordingly, a configuration is obtained in which the auxiliary electrode includes a lower layer made of the same material as the constituent material of the pixel electrode, and the contact layer extended on the upper surface of the lower layer in the column direction.

係る構成により、補助電極の上に形成される電子輸送層の一部において途切れて(断切れして)一部分が欠落しているか欠落部か又は薄層化している薄層化部が形成されるとともに、共通電極は、この電子輸送層の欠落部に回り込むように、補助電極のコンタクト面に接触して形成される。あるいは、電子輸送層の薄層化部において、それ以外の電子輸送層の部分よりも低い抵抗にて補助電極に電気的に接続される。   With such a configuration, a part of the electron transport layer formed on the auxiliary electrode is interrupted (cut off), and a part of the electron transport layer is missing, missing, or thinned. At the same time, the common electrode is formed in contact with the contact surface of the auxiliary electrode so as to go around the missing portion of the electron transport layer. Alternatively, in the thinned portion of the electron transport layer, it is electrically connected to the auxiliary electrode with a lower resistance than the other portions of the electron transport layer.

また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記補助電極は、前記柱状絶縁体が上方に配され、前記画素電極の構成材料と同じ材料からなる下層と、前記下層の上面における平面視において前記柱状絶縁体が存在しない部分に島状に配された前記接触層からなる構成であってもよい。
係る構成により、簡易な製造プロセスを用いて製造でき共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗を低減するとともに、例えば、銀(Ag)、金(Au)、白金(Pt)等の貴金属又はそれらを主成分とする合金から構成される接触層の構成材料の使用量を低減して、材料コストを低減することができる。
In another aspect, in any one of the above structures, the auxiliary electrode includes a lower layer formed of the same material as a constituent material of the pixel electrode, wherein the columnar insulator is disposed above, and a plan view of an upper surface of the lower layer. In the above structure, the contact layer may be arranged in an island shape in a portion where the columnar insulator does not exist.
According to such a configuration, it is possible to manufacture using a simple manufacturing process, reduce the electric resistance in the electrical connection between the common electrode and the auxiliary electrode, and, for example, use a noble metal such as silver (Ag), gold (Au), and platinum (Pt). Alternatively, the amount of constituent materials of the contact layer composed of an alloy containing these as a main component can be reduced, and the material cost can be reduced.

また、別の態様では、上記何れかの構成において、記補助電極は、列方向に延伸する前記接触層のみからなる構成であってもよい。
係る構成により、簡易な製造プロセスを用いて製造でき共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減することができる。
本開示の態様に係る有機EL表示パネルの製造方法は、有機EL表示パネルの製造方法であって、基板を準備する工程と、前記基板上に複数の画素電極を行列状に配する工程と、前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸する補助電極を形成する工程と、少なくとも前記補助電極上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体を形成する工程と、各前記画素電極上に有機発光材料を含む発光層を形成する工程と、真空蒸着法により、前記発光層上および複数の前記柱状絶縁体に跨る機能層を形成する工程と、スパッタリング法またはCVD法により、前記機能層上に連続して延伸する共通電極を形成する工程とを含み、前記補助電極を形成する工程では、少なくとも前記柱状絶縁体が存在しない上面部分に、前記画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層を形成することを特徴とする。
In another aspect, in any of the above configurations, the auxiliary electrode may include only the contact layer extending in the column direction.
According to such a configuration, it is possible to manufacture using a simple manufacturing process, and it is possible to reduce the electric resistance in the electrical connection between the common electrode and the auxiliary electrode.
A method for manufacturing an organic EL display panel according to an aspect of the present disclosure is a method for manufacturing an organic EL display panel, comprising: preparing a substrate; and arranging a plurality of pixel electrodes on the substrate in a matrix. Forming auxiliary electrodes extending in the column direction on at least one of the gaps between the pixel electrodes adjacent to each other in the row direction on the substrate, and forming the auxiliary electrodes on at least the auxiliary electrodes in the column direction. Forming a plurality of columnar insulators, forming a light emitting layer containing an organic light emitting material on each of the pixel electrodes, and straddling the light emitting layer and the plurality of columnar insulators by a vacuum deposition method A step of forming a functional layer, and a step of forming a common electrode continuously extending on the functional layer by a sputtering method or a CVD method, wherein the step of forming the auxiliary electrode includes at least the columnar shape. The top portion of the edge member is absent, and forming a contact layer made of an oxide hard metal or alloy thereof than the material of said pixel electrodes.

係る構成により、発光層上の電子輸送層を共通層として成膜できるので、電子輸送層形成工程におけるマスク成膜などのパターニングが不要となり、簡易な製造プロセスを用いて、共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減を図り、発光効率を向上させるとともに輝度ムラを抑制する有機EL表示パネルを製造することができる。
また、別の態様では、上記何れかの構成において、さらに、前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙に列方向に延伸する列バンクを形成する工程を備え、前記バンクを形成する工程の後に、前記接触層を形成する構成であってもよい。
With such a configuration, since the electron transport layer on the light emitting layer can be formed as a common layer, patterning such as mask formation in the electron transport layer forming step is not required, and the common electrode and the auxiliary electrode can be formed using a simple manufacturing process. It is possible to manufacture an organic EL display panel in which the electric resistance in the electrical connection of the present invention is reduced, the luminous efficiency is improved, and the uneven brightness is suppressed.
In another aspect, in any one of the above structures, the method further includes a step of forming a column bank extending in a column direction in a gap between pixel electrodes adjacent to each other on the substrate in a row direction, the step of forming the bank After that, the contact layer may be formed.

係る構成により、バンクの形成など焼成を伴うプロセスは、補助電極の接触層形成後に行われる工程順となるため、補助電極のコンタクト面が以降の製造プロセスにおいて酸化されることが抑制され、製造された表示パネルにおいて、共通電極と補助電極との電気的接続における電気抵抗の低減できる。
また、別の態様では、上記何れかの構成において、さらに、前記柱状絶縁体を形成する工程の後に、前記接触層を形成する構成であってもよい。
According to such a configuration, a process involving baking such as formation of a bank is performed in the order of steps performed after formation of a contact layer of an auxiliary electrode. Therefore, oxidation of a contact surface of the auxiliary electrode in a subsequent manufacturing process is suppressed, and the manufacturing process is performed. In the display panel, the electric resistance in the electric connection between the common electrode and the auxiliary electrode can be reduced.
In another aspect, in any one of the above-described configurations, the configuration may be such that the contact layer is formed after the step of forming the columnar insulator.

係る構成により、柱状絶縁体の形成など焼成を伴うプロセスは、接触層形成後に行われる工程順となるため、補助電極のコンタクト面が以降の製造プロセスにおいて酸化されることがより一層抑制される。
また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記接触層は、前記画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金を含むインクを、前記画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸する列状領域内に塗布し前記インクに含まれる溶媒を蒸発させることにより形成する構成であってもよい。
With such a configuration, a process involving firing, such as formation of a columnar insulator, is performed in the order of steps performed after the formation of the contact layer. Therefore, oxidation of the contact surface of the auxiliary electrode in a subsequent manufacturing process is further suppressed.
In another aspect, in any one of the above structures, the contact layer includes an ink containing a metal or an alloy thereof that is less oxidizable than a constituent material of the pixel electrode, at least one of the gaps between the pixel electrodes. The ink may be formed in a row-like region extending in the row direction on the gap and formed by evaporating a solvent contained in the ink.

係る構成により、マスク成膜などのパターニングを用いることなく、少なくとも柱状絶縁体が存在しない下地の上面部分に選択的に接触層を形成することができる。
また、別の態様では、上記何れかの構成において、前記機能層を形成する工程では、前記補助電極上の前記柱状絶縁体が存在しない部分における前記柱状絶縁体の側壁近傍に位置する一部分が欠落しているか又は薄層化するように前記機能層が形成され、前記共通電極を形成する工程では、前記機能層の欠落により露出している前記接触層と前記共通電極とが直接接触するように、前記機能層が薄層化している部分ではそれ以外の前記機能層の部分よりも低い抵抗で前記共通電極が前記補助電極に電気的に接続されるように前記共通電極が形成される構成であってもよい。これより、前記機能層を形成する工程では、前記柱状絶縁体の上面、及び前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍以外には存在し、前記柱状絶縁体の側壁上に位置する部分は欠落しているか又は薄層化するように前記機能層が形成される構成が得られる。
With such a configuration, the contact layer can be selectively formed at least on the upper surface portion of the base where no columnar insulator exists without using patterning such as mask film formation.
In another aspect, in any one of the above structures, in the step of forming the functional layer, a portion of the auxiliary electrode on the auxiliary electrode where the columnar insulator does not exist is located near a side wall of the columnar insulator. The functional layer is formed so as to be thin or thin, and in the step of forming the common electrode, the contact layer exposed by the lack of the functional layer and the common electrode are in direct contact with each other. The configuration in which the common electrode is formed such that the common electrode is electrically connected to the auxiliary electrode with a lower resistance than the other functional layer portions in the portion where the functional layer is thinned There may be. Accordingly, in the step of forming the functional layer, the upper surface of the columnar insulator, and a portion present on the auxiliary electrode other than near the side wall of the columnar insulator, and a portion located on the side wall of the columnar insulator is A configuration is obtained in which the functional layer is formed so as to be missing or thin.

係る構成により、真空蒸着法などにより電子輸送層を成膜する際に、補助電極の接触層上面の隣接する柱状絶縁体の間隙の底部における、柱状絶縁体の側壁近傍に位置する一部分が欠落(段切れ)して、間隙底部の側壁近傍に電子輸送層が形成されない欠落部が生じ、欠落部より補助電極の間隙底部の一部が露出する。共通電極は、欠落部に回り込むよう、補助電極のコンタクト面に接触して形成させる構造を実現できる。あるいは、電子輸送層の薄層化部において、それ以外の電子輸送層の部分よりも低い抵抗にて補助電極に電気的に接続される構造を実現できる。   With this configuration, when the electron transport layer is formed by a vacuum deposition method or the like, a portion located near the sidewall of the columnar insulator at the bottom of the gap between the adjacent columnar insulators on the upper surface of the contact layer of the auxiliary electrode is missing ( (Step disconnection), a missing portion where the electron transport layer is not formed is generated near the side wall of the gap bottom, and a part of the gap bottom of the auxiliary electrode is exposed from the missing portion. A structure can be realized in which the common electrode is formed in contact with the contact surface of the auxiliary electrode so as to go around the missing portion. Alternatively, it is possible to realize a structure in which the thinned portion of the electron transport layer is electrically connected to the auxiliary electrode with a lower resistance than the other portions of the electron transport layer.

≪実施の形態1≫
以下、実施の形態に係る有機ELパネルの製造方法について図面を用いて説明する。
<表示パネル10の全体構成>
本実施の形態に係る表示パネル10(以後、「表示パネル10」と称する)について、図面を用いて説明する。なお、図面は模式図であって、その縮尺は実際とは異なる場合がある。図1は、実施の形態に係る有機EL表示パネル10の一部を示す模式平面図であって、後述するバンク122より下方を視した透視図である。図2は、有機EL表示パネル10の単位画素100eに相当するバンク122の部分を斜め上方から視した斜視図である。
Embodiment 1
Hereinafter, a method for manufacturing an organic EL panel according to the embodiment will be described with reference to the drawings.
<Overall Configuration of Display Panel 10>
Display panel 10 (hereinafter, referred to as “display panel 10”) according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. Note that the drawings are schematic diagrams, and the scales may be different from actual ones. FIG. 1 is a schematic plan view showing a part of the organic EL display panel 10 according to the embodiment, and is a perspective view seen from below a bank 122 described later. FIG. 2 is a perspective view of a portion of the bank 122 corresponding to the unit pixel 100e of the organic EL display panel 10 as viewed obliquely from above.

表示パネル10は、有機化合物の電界発光現象を利用した有機EL表示パネルであり、薄膜トランジスタ(TFT:Thin Film Transistor)が形成された基板100x(TFT基板)に、各々が画素を構成する複数の有機EL素子100が行列状に配され、上面より光を発するトップエミッション型の構成を有する。ここで、本明細書では、図1におけるX方向、Y方向、Z方向を、それぞれ表示パネル10における、行方向、列方向、厚み方向とする。   The display panel 10 is an organic EL display panel using the electroluminescence phenomenon of an organic compound. A plurality of organic EL elements each forming a pixel are formed on a substrate 100x (TFT substrate) on which a thin film transistor (TFT: Thin Film Transistor) is formed. The EL elements 100 are arranged in rows and columns, and have a top emission type configuration in which light is emitted from the upper surface. Here, in the present specification, the X direction, the Y direction, and the Z direction in FIG. 1 are referred to as a row direction, a column direction, and a thickness direction in the display panel 10, respectively.

図1に示すように、表示パネル10は、基板100x上をマトリックス状に区画してRGB各色の発光単位を規制する列バンク522Yと行バンク122Xとが配された区画領域10eから構成されている。本明細書では、列バンク522Yと行バンク122Xとを総称して「バンク122」とする。区画領域10eは、列バンク522Yと行バンク122Xにより規制される各区画に有機EL素子100が形成されている領域である。   As shown in FIG. 1, the display panel 10 includes a partition area 10e in which a column bank 522Y and a row bank 122X are arranged on a substrate 100x in a matrix shape and regulate light emitting units of RGB colors. . In this specification, the column bank 522Y and the row bank 122X are collectively referred to as “bank 122”. The partition region 10e is a region where the organic EL element 100 is formed in each partition regulated by the column bank 522Y and the row bank 122X.

表示パネル10の区画領域10e(以後、「領域10e」とする)には、有機EL素子100に対応する単位画素100eが行列状に配されている。各単位画素100eには、有機化合物により光を発する領域である、赤色に発光する100aR、緑色に発光する100aG、青色に発光する100aB(以後、100aR、100aG、100aBを区別しない場合は、「100a」と略称する)の3種類の自己発光領域100aが形成されている。すなわち、図1に示すように行方向に並んだ自己発光領域100aR、100aG、100aBのそれぞれに対応する3つの副画素100seが1組となりカラー表示における単位画素100eを構成している。   Unit pixels 100e corresponding to the organic EL elements 100 are arranged in rows and columns in a partitioned area 10e of the display panel 10 (hereinafter, referred to as "area 10e"). Each unit pixel 100e has an area where light is emitted from an organic compound, that is, 100aR that emits red light, 100aG that emits green light, and 100aB that emits blue light (hereinafter, 100aR, 100aG, and 100aB. ) Are formed. That is, as shown in FIG. 1, three sub-pixels 100se respectively corresponding to the self-luminous regions 100aR, 100aG, and 100aB arranged in the row direction constitute one set, and constitute a unit pixel 100e in color display.

また、図1、2、3に示すように、表示パネル10には、複数の画素電極119が基板100x上に行及び列方向にそれぞれ所定の距離δX及びδYだけ離れた状態で行列状に配されている。画素電極119は、平面視において矩形形状であり、光反射材料からなる。行列状に配された画素電極119は、行方向に順に並んだ3つの自己発光領域100aR、G、Bに対応する。   As shown in FIGS. 1, 2, and 3, the display panel 10 includes a plurality of pixel electrodes 119 arranged in a matrix on the substrate 100x in a row and column direction at predetermined distances δX and δY, respectively. Have been. The pixel electrode 119 has a rectangular shape in plan view, and is made of a light reflecting material. The pixel electrodes 119 arranged in a matrix correspond to the three self-luminous regions 100aR, G, and B sequentially arranged in the row direction.

さらに、表示パネル10には、複数の補助電極200が基板100x上の単位画素100e間に列方向にわたって連続して配されている。補助電極200は、画素電極119と同じ光反射材料からなる。
表示パネル10では、バンク122の形状は、いわゆるライン状の絶縁層形式を採用し、行方向に隣接する2つの画素電極119の行方向外縁119a3/119a4及び外縁間に位置する基板100x上の領域上方には、各条が列方向(図1のY方向)に延伸する列バンク522Yが複数行方向に並設されている。行方向に隣接する画素電極119と補助電極200の行方向外縁119a3/200a2又は119a4/200a1及びそれらの外縁間に位置する基板100x上の領域上方にも列バンク522Yが複数行方向に並設されている。
Further, in the display panel 10, a plurality of auxiliary electrodes 200 are continuously arranged in the column direction between the unit pixels 100e on the substrate 100x. The auxiliary electrode 200 is made of the same light reflecting material as the pixel electrode 119.
In the display panel 10, the shape of the bank 122 adopts a so-called linear insulating layer type, and a row-direction outer edge 119 a 3/119 a 4 of two pixel electrodes 119 adjacent in the row direction and a region on the substrate 100 x located between the outer edges. Above the column banks 522Y, each of which extends in the column direction (Y direction in FIG. 1), are arranged in a plurality of rows. A plurality of column banks 522Y are juxtaposed in the row direction also above the row edge 119a3 / 200a2 or 119a4 / 200a1 of the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200 adjacent in the row direction and the region on the substrate 100x located between the outer edges. ing.

一方、列方向に隣接する2つの画素電極119の列方向外縁119a1/119a2及び外縁間に位置する基板100x上の領域上方には、各条が行方向(図1のX方向)に延伸する行バンク122Xが複数列方向に並設されている。行バンク122Xが形成される領域は、画素電極119上方の発光層123において有機電界発光が生じないために非自己発光領域100bとなる。   On the other hand, above the region on the substrate 100x located between the outer edges 119a1 / 119a2 of the two pixel electrodes 119 adjacent in the column direction and the column direction, each row extends in the row direction (X direction in FIG. 1). Banks 122X are arranged side by side in a plurality of columns. The region where the row bank 122X is formed becomes the non-self-luminous region 100b because organic electroluminescence does not occur in the light emitting layer 123 above the pixel electrode 119.

隣り合う列バンク522Y間を間隙522zと定義し、自己発光領域100aRに対応する間隙を赤色間隙522zR、自己発光領域100aGに対応する間隙を緑色間隙522zG、自己発光領域100aBに対応する間隙を青色間隙522zB、青色間隙522zBと赤色間隙522zRとに挟まれ補助電極200が敷設されている補助間隙522zA(以後、間隙522zR、間隙522zG、間隙522zBを区別しない場合は「間隙522z」)とする。   A gap between adjacent column banks 522Y is defined as a gap 522z, a gap corresponding to the self-luminous region 100aR is a red gap 522zR, a gap corresponding to the self-luminous area 100aG is a green gap 522zG, and a gap corresponding to the self-luminous area 100aB is a blue gap. 522zB, the auxiliary gap 522zA in which the auxiliary electrode 200 is laid between the blue gap 522zB and the red gap 522zR (hereinafter, the gap 522zR, the gap 522zG, and the gap 522zB when the gap 522zB is not distinguished).

また、図1に示すように、表示パネル10では、複数の自己発光領域100aと非自己発光領域100bとが、間隙522zに沿って列方向に交互に並んで配されている。非自己発光領域100bには、画素電極119とTFTのソースS1とを接続する接続凹部(コンタクトホール、不図示)が設けられている。
また、図1及び図2に示すように、表示パネル10には、補助間隙522zAに、複数の補助電極200が基板100x上の単位画素100e間に列方向にわたって連続して配されている。補助間隙522zA内の補助電極200上は上面側に接触層202を含み、接触層202の上面に行列状に複数の柱状絶縁体230が配されている。なお、詳細は後述するが、平面視において補助電極200の上面における柱状絶縁体230が存在しない領域の一部において補助電極200の接触層202と上層である共通電極125とが接触している。
Further, as shown in FIG. 1, in the display panel 10, a plurality of self-luminous regions 100a and non-self-luminous regions 100b are arranged alternately in the column direction along the gap 522z. The non-self-emitting regions 100b, connecting recesses (contact holes, not shown) for connecting the source S 1 of the pixel electrode 119 and the TFT are provided.
Further, as shown in FIGS. 1 and 2, in the display panel 10, a plurality of auxiliary electrodes 200 are continuously arranged in the auxiliary gap 522zA between the unit pixels 100e on the substrate 100x in the column direction. On the auxiliary electrode 200 in the auxiliary gap 522zA, a contact layer 202 is provided on the upper surface side, and a plurality of columnar insulators 230 are arranged in a matrix on the upper surface of the contact layer 202. Although details will be described later, the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 and the upper layer common electrode 125 are in contact with each other in a part of a region where the columnar insulator 230 does not exist on the upper surface of the auxiliary electrode 200 in plan view.

<表示パネル10の各部構成>
表示パネル10における有機EL素子100の構成について、説明する。図3、図4及び図5は、それぞれ、図1におけるA1−A1、A2−A2及びA3−A3で切断した模式断面図である。
本実施の形態に係る表示パネル10においては、Z軸方向下方に薄膜トランジスタが形成された基板(TFT基板)が構成され、その上に有機EL素子部が構成されている。
<Each component of display panel 10>
The configuration of the organic EL element 100 in the display panel 10 will be described. FIGS. 3, 4, and 5 are schematic cross-sectional views cut along A1-A1, A2-A2, and A3-A3 in FIG. 1, respectively.
In the display panel 10 according to the present embodiment, a substrate (TFT substrate) on which a thin film transistor is formed is formed below the Z-axis direction, and an organic EL element unit is formed thereon.

[基板100x]
基板100xは表示パネル10の支持部材であり、基材(不図示)と、基材上に形成された薄膜トランジスタ層(不図示)とを有する。
基材は、表示パネル10の支持部材であり、平板状である。基材の材料としては、電気絶縁性を有する材料、例えば、ガラス材料、樹脂材料、半導体材料、絶縁層をコーティングした金属材料などを用いることができる。
[Substrate 100x]
The substrate 100x is a support member of the display panel 10, and has a base (not shown) and a thin film transistor layer (not shown) formed on the base.
The substrate is a support member of the display panel 10 and has a flat plate shape. As a material of the base material, a material having an electric insulation property, for example, a glass material, a resin material, a semiconductor material, a metal material coated with an insulating layer, or the like can be used.

TFT層は、基材上面に形成された複数のTFT及び配線(TFTのソースS1 と、対応する画素電極119を接続する)を含む複数の配線からなる。TFTは、表示パネル10の外部回路からの駆動信号に応じ、対応する画素電極119と外部電源とを電気的に接続するものであり、電極、半導体層、絶縁層などの多層構造からなる。配線は、TFT、画素電極119、外部電源、外部回路などを電気的に接続している。 The TFT layer includes a plurality of TFTs formed on the upper surface of the base material and wiring (TFT source S1). And a corresponding pixel electrode 119). The TFT electrically connects a corresponding pixel electrode 119 to an external power supply in response to a drive signal from an external circuit of the display panel 10, and has a multilayer structure including an electrode, a semiconductor layer, and an insulating layer. The wiring electrically connects the TFT, the pixel electrode 119, an external power supply, an external circuit, and the like.

[平坦化層118]
基材上及びTFT層の上面には平坦化層118が設けられている。基板100xの上面に位置する平坦化層118は、TFT層によって凹凸が存在する基板100xの上面を平坦化するとともに、配線及びTFTの間を埋め、配線及びTFTの間を電気的に絶縁している。
[Planarization layer 118]
A flattening layer 118 is provided on the base material and on the upper surface of the TFT layer. The flattening layer 118 located on the upper surface of the substrate 100x flattens the upper surface of the substrate 100x having the unevenness by the TFT layer, fills the space between the wiring and the TFT, and electrically insulates the wiring and the TFT. I have.

平坦化層118には、画素電極119と対応する画素のソースS1 に接続される配線とを接続するために、画素電極119に対応して、当該配線の上方の一部にコンタクト孔(不図示)が開設されている。
[画素電極119]
基板100xにおける領域10e上面に位置する平坦化層118上には、図2に示すように、副画素100se単位で画素電極119が設けられている。
In order to connect the pixel electrode 119 and a wiring connected to the source S1 of the corresponding pixel, the planarization layer 118 has a contact hole (not shown) corresponding to the pixel electrode 119 in a part above the wiring. ) Has been established.
[Pixel electrode 119]
As shown in FIG. 2, a pixel electrode 119 is provided for each sub-pixel 100 sec on the flattening layer 118 located on the upper surface of the region 10e in the substrate 100x.

画素電極119は、発光層123へキャリアを供給するためのものであり、例えば陽極として機能した場合は、発光層123へホールを供給する。また、表示パネル10がトップエミッション型であるため、画素電極119は光反射性を有する。画素電極119の形状は、例えば、概矩形形状をした平板状である。平坦化層118のコンタクト孔(不図示)上には、画素電極119の一部を基板100x方向に凹入された画素電極119の接続凹部119cが形成されており、接続凹部の底で画素電極119と対応する画素のソースS1に接続される配線110とが接続される。   The pixel electrode 119 supplies carriers to the light-emitting layer 123. For example, when the pixel electrode 119 functions as an anode, it supplies holes to the light-emitting layer 123. In addition, since the display panel 10 is of a top emission type, the pixel electrode 119 has light reflectivity. The shape of the pixel electrode 119 is, for example, a flat plate having a substantially rectangular shape. On a contact hole (not shown) of the flattening layer 118, a connection recess 119c of the pixel electrode 119, in which a part of the pixel electrode 119 is recessed in the direction of the substrate 100x, is formed. 119 and the wiring 110 connected to the source S1 of the corresponding pixel are connected.

[補助電極200]
補助電極200Yは、図3、図5に示すように、列バンク522Yの補助間隙522zA内の平坦化層118上には列方向に延伸して設けられている。補助電極200は、画素電極119間に行方向に間隔δXをあけて配されている。補助電極200Yは、共通電極125との電気的な接続を図ることにより、共通電極125の電気抵抗を低減するための補助的な電極層である。
[Auxiliary electrode 200]
The auxiliary electrode 200Y is provided to extend in the column direction on the flattening layer 118 in the auxiliary gap 522zA of the column bank 522Y, as shown in FIGS. The auxiliary electrodes 200 are arranged between the pixel electrodes 119 with an interval δX in the row direction. The auxiliary electrode 200Y is an auxiliary electrode layer for reducing the electric resistance of the common electrode 125 by making electrical connection with the common electrode 125.

補助電極200は、画素電極119と同層に形成された下層201と下層201に形成された接触層202を含む。これより、補助電極200は、少なくとも後述する柱状絶縁体230が存在しない間隙底部200bに、画素電極119の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層202を含む。補助電極200の接触層202は、電子輸送層124が欠落しているか電子輸送層124の欠落部124aを通して共通電極125と接触する。あるいは、電子輸送層124の欠落には至らないものの、電子輸送層124が薄層化している部分(薄層化部)において、それ以外の電子輸送層124の部分よりも低い抵抗にて補助電極200に電気的に接続されている。電子輸送層124の欠落部124a又は薄層化部は接触層202の上面の柱状絶縁体230間の間隙底部200bにおける柱状絶縁体230の側壁230cの近傍のコンタクト面200cに位置する。   The auxiliary electrode 200 includes a lower layer 201 formed on the same layer as the pixel electrode 119 and a contact layer 202 formed on the lower layer 201. Thus, the auxiliary electrode 200 includes the contact layer 202 made of a metal or an alloy thereof that is less oxidizable than the constituent material of the pixel electrode 119, at least in the gap bottom portion 200b where the columnar insulator 230 described below does not exist. The contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is in contact with the common electrode 125 through the missing portion 124 a of the electron transport layer 124 or through the missing portion 124 a of the electron transport layer 124. Alternatively, although the electron transport layer 124 is not lost, the auxiliary electrode has a lower resistance in a portion where the electron transport layer 124 is thinned (thinned portion) than in other portions of the electron transport layer 124. 200 is electrically connected. The missing portion 124a or the thinned portion of the electron transport layer 124 is located on the contact surface 200c near the side wall 230c of the columnar insulator 230 at the gap bottom 200b between the columnar insulators 230 on the upper surface of the contact layer 202.

ここで、補助電極200の厚みは、給電を補助するための十分な断面積を得るために、100nm以上1000nm以下であることが好ましい。本実施の形態では、補助電極200の厚みは、例えば、400nmとした。
補助電極200の幅は発光面積を広げるためできるだけ狭い方が好ましい。少なくとも副画素100seのX方向の幅よりも狭い方が好ましい。補助電極200の幅は、30μm以上40μm以下、補助電極200上の柱状絶縁体230が存在しない間隙底部202bの幅は10μm程度が好適である。また、配線抵抗低減のために、補助電極200の幅を拡大する場合には、行方向に延伸する補助電極200Xの幅の方が、列方向に延伸する補助電極200Yの幅よりも、拡大したときに発光面積に与える影響は少ない。
Here, the thickness of the auxiliary electrode 200 is preferably 100 nm or more and 1000 nm or less in order to obtain a sufficient cross-sectional area for assisting power supply. In the present embodiment, the thickness of the auxiliary electrode 200 is, for example, 400 nm.
The width of the auxiliary electrode 200 is preferably as narrow as possible to increase the light emitting area. It is preferable that the width is at least smaller than the width of the sub-pixel 100se in the X direction. The width of the auxiliary electrode 200 is preferably 30 μm or more and 40 μm or less, and the width of the gap bottom 202 b where no columnar insulator 230 exists on the auxiliary electrode 200 is preferably about 10 μm. When the width of the auxiliary electrode 200 is increased to reduce the wiring resistance, the width of the auxiliary electrode 200X extending in the row direction is larger than the width of the auxiliary electrode 200Y extending in the column direction. Sometimes the effect on the light emitting area is small.

さらに、補助電極は、行バンク122X間の平坦化層118上面に隣接する補助電極200の間をつなぐように行方向に延伸して配されていてもよい。
なお、平面視したときの補助電極200の形状は、列バンク522Yの補助間隙522zA内に列方向に延伸して設けられている形態には限られない。行方向に延伸され配されていてもよく、あるいは、行列方向に格子状の形態や、他のレイアウトであってもよい。
Further, the auxiliary electrodes may be arranged to extend in the row direction so as to connect between the auxiliary electrodes 200 adjacent to the upper surface of the planarization layer 118 between the row banks 122X.
Note that the shape of the auxiliary electrode 200 when viewed in a plan view is not limited to the form provided in the auxiliary gap 522zA of the column bank 522Y so as to extend in the column direction. It may be extended in the row direction, or may be a grid-like form in the matrix direction or another layout.

補助電極200と電子輸送層124又は共通電極との接触態様の詳細については後述する。
[ホール注入層120]
画素電極119及上には、図2に示すように、ホール注入層120が積層されている。ホール注入層120は、画素電極119から注入されたホールをホール輸送層121へ輸送する機能を有する。
The details of the contact mode between the auxiliary electrode 200 and the electron transport layer 124 or the common electrode will be described later.
[Hole injection layer 120]
On the pixel electrode 119 and above, as shown in FIG. 2, a hole injection layer 120 is laminated. The hole injection layer 120 has a function of transporting holes injected from the pixel electrode 119 to the hole transport layer 121.

ホール注入層120は、基板100x側から順に、画素電極119上及び補助電極200上に形成された金属酸化物からなるホール注入層120Aと、後述する間隙522zR、間隙522zG、間隙522zB内のホール注入層120A上それぞれに積層された有機物からなるホール注入層120Bとを含む。色副画素、緑色副画素及び赤色副画素内に設けられたホール注入層120Aを、それぞれホール注入層120AB、ホール注入層120AG及びホール注入層120ARとする。また、青色副画素、緑色副画素及び赤色副画素内に設けられた上部層120Bを、それぞれ上部層120BB、上部層120BG及び上部層120BRとする。   The hole injection layer 120 includes, in order from the substrate 100x side, a hole injection layer 120A made of a metal oxide formed on the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200, and holes 522zR, 522zG, and holes injected in the gaps 522zB described later. And a hole injection layer 120B made of an organic material laminated on the layer 120A. The hole injection layers 120A provided in the color subpixel, the green subpixel, and the red subpixel are referred to as a hole injection layer 120AB, a hole injection layer 120AG, and a hole injection layer 120AR, respectively. The upper layers 120B provided in the blue, green, and red sub-pixels are referred to as an upper layer 120BB, an upper layer 120BG, and an upper layer 120BR, respectively.

本実施の形態では、後述する間隙522zR、間隙522zG、間隙522zB内では、ホール注入層120Bは列方向に延伸するように線状に設けられている構成を採る。補助間隙522zAには、ホール注入層120Bは設けられていない。
[バンク122]
図3に示すように、画素電極119、ホール注入層120A、補助電極200の端縁を被覆するように絶縁物からなるバンクが形成されている。バンクには、列方向に延伸して行方向に複数並設されている列バンク522Yと、行方向に延伸して列方向に複数並設されている行バンク122Xとがある(以後、行バンク122X、列バンク522Yを区別しない場合は「バンク122」と称する)。
In the present embodiment, a hole injection layer 120B is provided linearly so as to extend in the column direction in gaps 522zR, 522zG, and 522zB described later. No hole injection layer 120B is provided in the auxiliary gap 522zA.
[Bank 122]
As shown in FIG. 3, a bank made of an insulator is formed so as to cover the edges of the pixel electrode 119, the hole injection layer 120A, and the auxiliary electrode 200. The banks include a column bank 522Y extending in the column direction and arranged in the row direction, and a row bank 122X extending in the row direction and arranged in the column direction (hereinafter, row bank 122X). 122X and the column bank 522Y are referred to as “bank 122” when not distinguished.)

列バンク522Yの形状は、列方向に延伸する線状であり、行方向に平行に切った断面は、上方を先細りとする順テーパー台形状である。列バンク522Yは、発光層123の材料となる有機化合物を含んだインクの行方向への流動を堰き止めて形成される発光層123の行方向外縁を規定するものである。列バンク522Yは、行方向の基部により行方向における各副画素100seの発光領域100aの外縁を規定する。   The shape of the column bank 522Y is a linear shape extending in the column direction, and a cross section cut in parallel with the row direction is a forward tapered trapezoidal shape tapering upward. The column bank 522Y defines an outer edge in the row direction of the light emitting layer 123 formed by blocking the flow of the ink containing the organic compound serving as the material of the light emitting layer 123 in the row direction. The column bank 522Y defines the outer edge of the light emitting area 100a of each sub-pixel 100se in the row direction by the base in the row direction.

行バンク122Xの形状は、行方向に延伸する線状であり、列方向に平行に切った断面は上方を先細りとする順テーパー台形状である。行バンク122Xは、各列バンク522Yを貫通するようにして行方向に設けられており、各々が列バンク522Yの上面522Ybよりも低い位置に上面を有する。そのため、行バンク122Xと列バンク522Yとにより、自己発光領域100aに対応する開口が形成されている。   The shape of the row bank 122X is a linear shape extending in the row direction, and a cross section cut in parallel to the column direction is a forward tapered trapezoidal shape tapering upward. The row banks 122X are provided in the row direction so as to penetrate the column banks 522Y, and each has an upper surface at a position lower than the upper surface 522Yb of the column bank 522Y. Therefore, an opening corresponding to the self-luminous region 100a is formed by the row bank 122X and the column bank 522Y.

[柱状絶縁体230]
柱状絶縁体230は、図3、図5に示すように、列バンク522Yの補助間隙522zA内の補助電極200の上において、少なくともそれぞれが列方向に離間した状態で複数配されている。さらに行方向に離間した状態で複数配されている構成であってもよい。本実施の形態では、1つの補助間隙522zA内の列方向の行バンク122X間において、一例として、行列方向にそれぞれ7×3個(21個)の柱状絶縁体230が形成されている。
[Columnar insulator 230]
As shown in FIGS. 3 and 5, a plurality of the columnar insulators 230 are arranged on the auxiliary electrodes 200 in the auxiliary gaps 522zA of the column bank 522Y, at least in a state where each of the columnar insulators is separated in the column direction. Further, a configuration in which a plurality are arranged in a state separated from each other in the row direction may be employed. In the present embodiment, for example, 7 × 3 (21) columnar insulators 230 are formed in the matrix direction between the row banks 122X in the column direction in one auxiliary gap 522zA.

柱状絶縁体230の形状は、図2に示すように、例えば、矩形形状の上面230aを有する柱状であり、行又は列方向に平行に切った断面は上方より下方が細くなる逆テーパー台形状である。柱状絶縁体230の側壁230cの接触層202表面に対する傾斜角φ(図13参照)は90°より大きく140°以下であることが好ましい。このとき、柱状絶縁体230の厚みに対する隣接する柱状絶縁体230の間隙の幅の比率は0.5以上2以下であることが好ましい。   The shape of the columnar insulator 230 is, for example, a columnar shape having a rectangular upper surface 230a as shown in FIG. is there. The inclination angle φ (see FIG. 13) of the side wall 230c of the columnar insulator 230 with respect to the surface of the contact layer 202 is preferably greater than 90 ° and 140 ° or less. At this time, the ratio of the width of the gap between the adjacent columnar insulators 230 to the thickness of the columnar insulators 230 is preferably 0.5 or more and 2 or less.

なお、上面230aの形状上記に限られず、円形などであってもよい、また、行列方向における個数も上記には限定されない。例えば、列方向にのみ離間した状態で複数配されている構成としてもよい、また、補助間隙522zA内に行バンク122Xを設けず、例えば、図5において、行バンク122Xの存在する部分にも柱状絶縁体230を設ける構成としてもよい。   The shape of the upper surface 230a is not limited to the above, and may be a circle or the like, and the number in the matrix direction is not limited to the above. For example, a configuration may be employed in which a plurality of rows are arranged only in the column direction, and the row bank 122X is not provided in the auxiliary gap 522zA. For example, in FIG. A structure in which the insulator 230 is provided may be employed.

[ホール輸送層121]
図3に示すように、間隙522zR、522zG、522zB内におけるホール注入層120上には、ホール輸送層121が積層される。補助間隙522zAには、ホール輸送層121は設けられていない。また、行バンク122Xにおけるホール注入層120上にも、ホール輸送層121が積層される(不図示)。ホール輸送層121は、ホール注入層120Bに接触している。ホール輸送層121は、ホール注入層120から注入されたホールを発光層123へ輸送する機能を有する。間隙522zR、522zG、522zB内に設けられたホール輸送層121を、それぞれホール輸送層121R、ホール輸送層121G及びホール輸送層121Bとする。
[Hole transport layer 121]
As shown in FIG. 3, the hole transport layer 121 is stacked on the hole injection layer 120 in the gaps 522zR, 522zG, and 522zB. The hole transport layer 121 is not provided in the auxiliary gap 522zA. Further, the hole transport layer 121 is also stacked on the hole injection layer 120 in the row bank 122X (not shown). The hole transport layer 121 is in contact with the hole injection layer 120B. The hole transport layer 121 has a function of transporting holes injected from the hole injection layer 120 to the light emitting layer 123. The hole transport layers 121 provided in the gaps 522zR, 522zG, and 522zB are referred to as a hole transport layer 121R, a hole transport layer 121G, and a hole transport layer 121B, respectively.

本実施の形態では、後述する間隙522z内では、ホール輸送層121は、ホール注入層120Bと同様、列方向に延伸するように線状に設けられている構成を採る。しかしながら、ホール輸送層121は間隙522z内では列方向に断続して設けられている構成としてもよい。
[発光層123]
図3に示すように、ホール輸送層121上には、発光層123が積層されている。発光層123は、有機化合物からなる層であり、内部でホールと電子が再結合することで光を発する機能を有する。列バンク522Yにより規定された間隙522zR、間隙522zG、間隙522zB内では、発光層123は、列方向に延伸するように線状に設けられている。補助間隙522zAには、発光層123は設けられていない。赤色間隙522zR、緑色間隙522zG、青色間隙522zBには、それぞれ各色に発光する発光層123R、123G、123Bが形成されている。
In the present embodiment, in a gap 522z to be described later, the hole transport layer 121 adopts a configuration provided linearly so as to extend in the column direction, similarly to the hole injection layer 120B. However, the hole transport layer 121 may be configured to be provided intermittently in the column direction within the gap 522z.
[Light-emitting layer 123]
As shown in FIG. 3, a light emitting layer 123 is laminated on the hole transport layer 121. The light-emitting layer 123 is a layer made of an organic compound, and has a function of emitting light when holes and electrons are recombined inside. In the gaps 522zR, 522zG, and 522zB defined by the column bank 522Y, the light emitting layer 123 is provided linearly so as to extend in the column direction. The light emitting layer 123 is not provided in the auxiliary gap 522zA. In the red gap 522zR, the green gap 522zG, and the blue gap 522zB, light emitting layers 123R, 123G, and 123B that emit light of respective colors are formed.

各色の副画素100seにおいて、画素電極119と共通電極125との間に各色の発光層123が存在し、発光層123からの光を共振させて共通電極125側から出射させる光共振器構造が形成され、発光層123R、123G、123Bそれぞれから出射させる光の波長に応じて、発光層123上面と画素電極119上面との間の光学距離が設定され、各色に対応する光成分が強め合うように光共振器構造が形成されている。   In the sub-pixel 100se of each color, the light emitting layer 123 of each color exists between the pixel electrode 119 and the common electrode 125, and an optical resonator structure that resonates light from the light emitting layer 123 and emits the light from the common electrode 125 side is formed. The optical distance between the upper surface of the light emitting layer 123 and the upper surface of the pixel electrode 119 is set in accordance with the wavelength of the light emitted from each of the light emitting layers 123R, 123G, and 123B, so that the light components corresponding to each color reinforce each other. An optical resonator structure is formed.

発光層123は、画素電極119からキャリアが供給される部分のみが発光するので、層間に絶縁物である行バンク122Xが存在する範囲では、有機化合物の電界発光現象が生じない。そのため、発光層123は、行バンク122Xがない部分が自己発光領域100aとなり、行バンク122Xの側面及び上面122Xbの上方にある部分は非自己発光領域となる。   Since the light emitting layer 123 emits light only in a portion to which carriers are supplied from the pixel electrode 119, the electroluminescent phenomenon of the organic compound does not occur in a range where the row bank 122X which is an insulator exists between the layers. Therefore, in the light emitting layer 123, a portion without the row bank 122X becomes the self light emitting region 100a, and a portion above the side surface and the upper surface 122Xb of the row bank 122X becomes a non self light emitting region.

[電子輸送層124]
図3に示すように、列バンク522Y及び列バンク522Yにより規定された間隙522z内の発光層123上を被覆するように電子輸送層124が積層して形成されている。電子輸送層124については、表示パネル10の少なくとも表示領域全体に連続した状態で形成されている。電子輸送層124は、共通電極125からの電子を発光層123へ輸送するとともに、発光層123への電子の注入を制限する機能を有する。電子輸送層124は、基板100x側から順に金属酸化物又はフッ化物等からなる電子輸送層124Aと、電子輸送層124A上に積層された有機物を主成分とする電子輸送層124Bとを含む(以後において、電子輸送層124A、124Bを総称する場合は「電子輸送層124」と表記する)。
[Electron transport layer 124]
As shown in FIG. 3, the electron transport layer 124 is formed by laminating the column bank 522Y and the light emitting layer 123 in the gap 522z defined by the column bank 522Y. The electron transport layer 124 is formed so as to be continuous at least over the entire display area of the display panel 10. The electron transport layer 124 has a function of transporting electrons from the common electrode 125 to the light emitting layer 123 and a function of restricting injection of electrons into the light emitting layer 123. The electron transport layer 124 includes an electron transport layer 124A made of a metal oxide, a fluoride, or the like in order from the substrate 100x side, and an electron transport layer 124B mainly composed of an organic substance laminated on the electron transport layer 124A (hereinafter, referred to as an electron transport layer 124B). , The electron transport layers 124A and 124B are collectively referred to as "electron transport layers 124").

また、電子輸送層124は、図3、図5に示すように、補助電極200の接触層202及び接触層202補助電極200上を覆う柱状絶縁体230上にも形成される。電子輸送層124は、柱状絶縁体230の上面230aに形成されている。電子輸送層124は、隣接する柱状絶縁体230の間隙230b内における、間隙底部(補助電極200の接触層202上の柱状絶縁体230が存在しない部分)200bにも部分的に形成される。具体的には、電子輸送層124は、隣接する柱状絶縁体230の間隙底部200bにおける柱状絶縁体230の側壁230cの近傍のコンタクト面200c以外の部分200a(遮蔽部)に形成されており、電子輸送層124の堆積部124bを構成する。柱状絶縁体230の側壁230cの近傍のコンタクト面200cに位置する部分は欠落している欠落部124aとなる。あるいは、電子輸送層124のコンタクト面200cに位置する部分は欠落には至らないものの、電子輸送層124が薄層化している薄層化部となる。電子輸送層124の欠落部124aでは、補助電極200の接触層202が露出している。また、柱状絶縁体230の側壁230c上に位置する部分も欠落しているか又は薄層化している。   The electron transport layer 124 is also formed on the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 and the columnar insulator 230 covering the auxiliary layer 200 of the contact layer 202, as shown in FIGS. The electron transport layer 124 is formed on the upper surface 230a of the columnar insulator 230. The electron transport layer 124 is also partially formed on the gap bottom (the portion where the columnar insulator 230 does not exist on the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200) 200b in the gap 230b between the adjacent columnar insulators 230. Specifically, the electron transport layer 124 is formed in a portion 200a (shielding portion) other than the contact surface 200c near the side wall 230c of the columnar insulator 230 in the gap bottom portion 200b of the adjacent columnar insulator 230. This constitutes a deposition part 124b of the transport layer 124. The portion located on the contact surface 200c near the side wall 230c of the columnar insulator 230 becomes the missing portion 124a. Alternatively, the portion of the electron transport layer 124 located on the contact surface 200c is a thinned portion in which the electron transport layer 124 is made thinner, although it is not lost. The contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is exposed in the missing portion 124a of the electron transport layer 124. Also, the portion of the columnar insulator 230 located on the side wall 230c is missing or thinned.

なお、電子輸送層124が薄層化しているとは、柱状絶縁体230の側壁230c近傍に位置する一部分が欠落するには至らないものの、電子輸送層124の一部分が1nm以下の膜厚に薄層化された薄層化部(不図示)が形成されていることを指す。
[共通電極125]
図3に示すように、電子輸送層124上に、共通電極125が形成されている。共通電極125は、各発光層123に共通の電極となっている。共通電極125Aは、画素電極119と対になって発光層123を挟むことで通電経路を作る。共通電極125は、発光層123へキャリアを供給し、例えば陰極として機能した場合は、発光層123へ電子を供給する。
Note that the thinning of the electron transporting layer 124 means that a part of the columnar insulator 230 located near the side wall 230c does not fall off, but a part of the electron transporting layer 124 has a thickness of 1 nm or less. It indicates that a layered thinned portion (not shown) is formed.
[Common electrode 125]
As shown in FIG. 3, a common electrode 125 is formed on the electron transport layer 124. The common electrode 125 is an electrode common to each light emitting layer 123. The common electrode 125A forms an energization path by sandwiching the light emitting layer 123 in pairs with the pixel electrode 119. The common electrode 125 supplies carriers to the light emitting layer 123, and supplies electrons to the light emitting layer 123, for example, when functioning as a cathode.

共通電極125は、図3、図5に示すように、補助電極200上方の領域にも形成される。共通電極125は、隣接する柱状絶縁体230の間隙底部200bにおける電子輸送層124の欠落部124aにおいて露出している接触層202と直接接触している。あるいは、電子輸送層124の一部分が欠落するには至らないものの、電子輸送層124の欠落部124aが薄層化している場合には、共通電極125は、補助電極200上における電子輸送層124の薄層化している薄層化部において、薄層化部以外よりも低い電気抵抗にて補助電極200に電気的に接続されている。   The common electrode 125 is also formed in a region above the auxiliary electrode 200, as shown in FIGS. The common electrode 125 is in direct contact with the contact layer 202 that is exposed at the gap 124a of the electron transport layer 124 at the gap bottom 200b of the adjacent columnar insulator 230. Alternatively, when a part of the electron transport layer 124 cannot be lost, but the missing part 124 a of the electron transport layer 124 is thin, the common electrode 125 In the thinned portion, which is thinned, it is electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower electric resistance than that of the portion other than the thinned portion.

共通電極125は、基板100x側から順に金属を主成分とする共通電極125Aと、共通電極125A上に積層された金属酸化物からなる共通電極125Bとを含む(以後において、共通電極125A、125Bを総称する場合は「共通電極125」と表記する)。
なお、共通電極125A、125Bの積層順についてはは、光学調整のために125Aと125Bの順番を入れ替える構成としてもよい。
The common electrode 125 includes, in order from the substrate 100x side, a common electrode 125A containing a metal as a main component and a common electrode 125B made of a metal oxide laminated on the common electrode 125A (hereinafter, the common electrodes 125A and 125B are referred to as common electrodes 125A and 125B. When collectively referred to as “common electrode 125”).
Note that the stacking order of the common electrodes 125A and 125B may be such that the order of 125A and 125B is switched for optical adjustment.

[封止層126]
共通電極125を被覆するように、封止層126が積層形成されている。封止層126は、発光層123が水分や空気などに触れて劣化することを抑制するためのものである。封止層126は、共通電極125の上面を覆うように設けられている。また、ディスプレイとして良好な光取り出し性を確保するために高い透光性を有することが必要である。
[Sealing layer 126]
A sealing layer 126 is formed so as to cover the common electrode 125. The sealing layer 126 is for suppressing the light emitting layer 123 from being deteriorated by contact with moisture, air, or the like. The sealing layer 126 is provided so as to cover the upper surface of the common electrode 125. In addition, it is necessary that the display has a high light-transmitting property in order to secure a good light-extracting property.

[接合層127]
封止層126のZ軸方向上方には、上部基板130のZ軸方向下側の主面にカラーフィルタ層132が形成されたカラーフィルタ基板131が配されており、接合層127により接合されている。接合層127は、基板100xから封止層126までの各層からなる背面パネルとカラーフィルタ基板131とを貼り合わせるとともに、各層が水分や空気に晒されることを防止する機能を有する。
[Joining layer 127]
Above the sealing layer 126 in the Z-axis direction, a color filter substrate 131 in which a color filter layer 132 is formed on the lower main surface of the upper substrate 130 in the Z-axis direction is arranged. I have. The bonding layer 127 has a function of bonding the back panel composed of each layer from the substrate 100x to the sealing layer 126 to the color filter substrate 131 and a function of preventing each layer from being exposed to moisture or air.

[上部基板130]
接合層127の上に、上部基板130にカラーフィルタ層132が形成されたカラーフィルタ基板131が設置・接合されている。上部基板130には、表示パネル10がトップエミッション型であるため、例えば、カバーガラス、透明樹脂フィルムなどの光透過性材料が用いられる。また、上部基板130により、表示パネル10、剛性向上、水分や空気などの侵入防止などを図ることができる。
[Upper substrate 130]
On the bonding layer 127, a color filter substrate 131 in which a color filter layer 132 is formed on an upper substrate 130 is provided and bonded. Since the display panel 10 is of a top emission type, a light transmissive material such as a cover glass or a transparent resin film is used for the upper substrate 130. Further, the upper substrate 130 can improve the rigidity of the display panel 10 and prevent entry of moisture, air, and the like.

[カラーフィルタ層132]
上部基板130には画素の各色自己発光領域100aに対応する位置にカラーフィルタ層132が形成されている。カラーフィルタ層132は、R、G、Bに対応する波長の可視光を透過させるために設けられる透明層であり、各色画素から出射された光を透過させて、その色度を矯正する機能を有する。例えば、本例では、赤色間隙522zR内の自己発光領域100aR、緑色間隙522zG内の自己発光領域100aG、青色間隙522zB内の自己発光領域100aBの上方に、赤色、緑色、青色のフィルタ層132R、132G、132Bが各々形成されている。
[Color filter layer 132]
On the upper substrate 130, a color filter layer 132 is formed at a position corresponding to each color self-luminous region 100a of the pixel. The color filter layer 132 is a transparent layer provided to transmit visible light of wavelengths corresponding to R, G, and B, and has a function of transmitting light emitted from each color pixel and correcting its chromaticity. Have. For example, in this example, the red, green, and blue filter layers 132R, 132G are located above the self-luminous region 100aR in the red gap 522zR, the self-luminous area 100aG in the green gap 522zG, and the self-luminous area 100aB in the blue gap 522zB. , 132B are formed.

[遮光層133]
上部基板130には、各画素の発光領域100a間の境界に対応する位置に遮光層133が形成されている。遮光層133は、R、G、Bに対応する波長の可視光を透過させないために設けられる黒色樹脂層であって、例えば光吸収性及び遮光性に優れる黒色顔料を含む樹脂材料からなる。
[Light shielding layer 133]
On the upper substrate 130, a light shielding layer 133 is formed at a position corresponding to a boundary between the light emitting regions 100a of each pixel. The light-shielding layer 133 is a black resin layer provided to prevent transmission of visible light of wavelengths corresponding to R, G, and B, and is made of, for example, a resin material containing a black pigment excellent in light absorption and light-shielding properties.

<各部の構成材料>
各部の構成材料について、一例を示す。
[基板100x(TFT基板)]
基材100pとしては、例えば、ガラス基板、石英基板、シリコン基板、硫化モリブデン、銅、亜鉛、アルミニウム、ステンレス、マグネシウム、鉄、ニッケル、金、銀などの金属基板、ガリウム砒素基などの半導体基板、プラスチック基板等を採用することができる。
<Components of each part>
An example of the constituent materials of each part will be described.
[Substrate 100x (TFT substrate)]
As the base material 100p, for example, a glass substrate, a quartz substrate, a silicon substrate, a metal substrate such as molybdenum sulfide, copper, zinc, aluminum, stainless steel, magnesium, iron, nickel, gold, silver, a semiconductor substrate such as a gallium arsenide group, A plastic substrate or the like can be employed.

TFT層は、基材100pに形成されたTFT回路と、TFT回路上に形成された無機絶縁層(不図示)、平坦化層118とを有する。TFT回路は、基材上面に形成された電極、半導体層、絶縁層などの多層構造からなる。
TFTを構成するゲート電極、ゲート絶縁層、チャネル層、チャネル保護層、ソース電極、ドレイン電極などには公知の材料を用いることができる。
The TFT layer has a TFT circuit formed on the base material 100p, an inorganic insulating layer (not shown) formed on the TFT circuit, and a flattening layer 118. The TFT circuit has a multilayer structure including electrodes, semiconductor layers, and insulating layers formed on the upper surface of the base material.
Known materials can be used for a gate electrode, a gate insulating layer, a channel layer, a channel protective layer, a source electrode, a drain electrode, and the like included in the TFT.

基板100xの上面に位置する平坦化層118の材料としては、例えば、ポリイミド系樹脂、アクリル系樹脂、シロキサン系樹脂、ノボラック型フェノール系樹脂などの有機化合物を用いることができる。
[画素電極119]
画素電極119は、金属材料から構成されている。トップエミッション型の本実施の形態に係る表示パネル10の場合には、厚みを最適に設定して光共振器構造を採用することにより出射される光の色度を調整し輝度を高めているため、画素電極119の表面部が高い反射性を有する。本実施の形態に係る表示パネル10では、画素電極119は、金属層、合金層、透明導電膜の中から選択される複数の膜を積層させた構造であってもよい。金属層としては、シート抵抗が小さく、高い光反射性を有する材料として、例えば、アルミニウム(Al)を含む金属材料から構成することができる。アルミニウム(Al)合金では、反射率が80〜95%と高く、電気抵抗率が、2.82×10-8(10nΩm)と小さく、画素電極119の材料として好適である。さらに、コスト面からアルミニウムを主成分として含む金属層、合金層を用いることが好ましい。
As a material of the planarization layer 118 located on the upper surface of the substrate 100x, for example, an organic compound such as a polyimide-based resin, an acrylic-based resin, a siloxane-based resin, and a novolak-type phenol-based resin can be used.
[Pixel electrode 119]
The pixel electrode 119 is made of a metal material. In the case of the top emission type display panel 10 according to the present embodiment, the thickness is optimally set and the chromaticity of the emitted light is adjusted by adopting the optical resonator structure to increase the luminance. The surface of the pixel electrode 119 has high reflectivity. In the display panel 10 according to the present embodiment, the pixel electrode 119 may have a structure in which a plurality of films selected from a metal layer, an alloy layer, and a transparent conductive film are stacked. As the metal layer, a material having a low sheet resistance and high light reflectivity can be formed of, for example, a metal material containing aluminum (Al). An aluminum (Al) alloy has a high reflectance of 80 to 95% and a small electrical resistivity of 2.82 × 10 −8 (10 nΩm), and is suitable as a material for the pixel electrode 119. Further, it is preferable to use a metal layer or an alloy layer containing aluminum as a main component in terms of cost.

金属層としては、アルミニウム合金などの金属層の他、高反射率の観点から、例えば、銀(Ag)や銀を含む合金等を用いることができる。例えば、APC(銀、パラジウム、銅の合金)、ARA(銀、ルビジウム、金の合金)、MoCr(モリブデンとクロムの合金)、NiCr(ニッケルとクロムの合金)等を用いることができる。
画素電極119がアルミニウムまたはアルミニウム合金から構成されるとき、酸化アルミニウム層が表面に形成される。
As the metal layer, in addition to a metal layer such as an aluminum alloy, for example, silver (Ag) or an alloy containing silver can be used from the viewpoint of high reflectance. For example, APC (an alloy of silver, palladium, and copper), ARA (an alloy of silver, rubidium, and gold), MoCr (an alloy of molybdenum and chromium), and NiCr (an alloy of nickel and chromium) can be used.
When the pixel electrode 119 is made of aluminum or an aluminum alloy, an aluminum oxide layer is formed on the surface.

透明導電層の構成材料としては、例えば、酸化インジウムスズ(ITO)や酸化インジウム亜鉛(IZO)などを用いることができる。
[補助電極200]
補助電極200は、共通電極125との電気的な接続を図ることにより、共通電極125の電気抵抗を低減するための補助的な電極層である。そのため、補助電極200の下層201は、シート抵抗が小さい材料として、例えば、アルミニウム(Al)を主成分として含む金属層、合金層から構成することができる。例えば、アルミニウム(Al)合金では、電気抵抗率が、2.82×10-8(10nΩm)と小さく、さらに、コスト面から補助電極200の材料として好適である。補助電極200の下層201は、画素電極119と同じ材料により構成されていてもよい。
As a constituent material of the transparent conductive layer, for example, indium tin oxide (ITO), indium zinc oxide (IZO), or the like can be used.
[Auxiliary electrode 200]
The auxiliary electrode 200 is an auxiliary electrode layer for reducing the electric resistance of the common electrode 125 by electrically connecting to the common electrode 125. Therefore, the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200 can be made of a material having a small sheet resistance, for example, a metal layer or an alloy layer containing aluminum (Al) as a main component. For example, an aluminum (Al) alloy has a small electric resistivity of 2.82 × 10 −8 (10 nΩm), and is suitable as a material for the auxiliary electrode 200 from the viewpoint of cost. The lower layer 201 of the auxiliary electrode 200 may be made of the same material as the pixel electrode 119.

補助電極200の上面に位置する接触層202は、共通電極125との電気的な接続を図るとともに、発光素子の製造プロセスにおける補助電極200の表面酸化を抑制するための層である。そのため、コンタクト抵抗が小さく、かつ、補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい材料から構成される。例えば、銀(Ag)、金(Au)、白金(Pt)等の貴金属又はそれらを主成分とする合金から構成されることが好ましい。補助電極200の下層201が、画素電極119と同じ材料により構成される場合には、接触層202は画素電極119の構成材料よりも酸化されにくい材料からなることが好ましい。   The contact layer 202 located on the upper surface of the auxiliary electrode 200 is a layer for establishing electrical connection with the common electrode 125 and for suppressing surface oxidation of the auxiliary electrode 200 in the manufacturing process of the light emitting element. Therefore, the auxiliary electrode 200 is made of a material that has a low contact resistance and is less oxidized than the material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200. For example, it is preferable to be composed of a noble metal such as silver (Ag), gold (Au), and platinum (Pt), or an alloy containing these as a main component. When the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200 is made of the same material as the pixel electrode 119, the contact layer 202 is preferably made of a material that is less oxidized than the constituent material of the pixel electrode 119.

[ホール注入層120]
ホール注入層120Aは、例えば、銀(Ag)、モリブデン(Mo)、バナジウム(V)、タングステン(W)、ニッケル(Ni)などの酸化物からなる層である。ホール注入層120Aを遷移金属の酸化物から構成する場合には、複数の酸化数をとるためこれにより複数の準位をとることができ、その結果、ホール注入が容易になり駆動電圧を低減することができる。
[Hole injection layer 120]
The hole injection layer 120A is a layer made of an oxide such as silver (Ag), molybdenum (Mo), vanadium (V), tungsten (W), and nickel (Ni). In the case where the hole injection layer 120A is made of a transition metal oxide, a plurality of oxidation levels are obtained, so that a plurality of levels can be obtained. As a result, hole injection becomes easy and the driving voltage is reduced. be able to.

ホール注入層120Bは、上述のとおり、例えば、PEDOT(ポリチオフェンとポリスチレンスルホン酸との混合物)などの導電性ポリマー材料の有機高分子溶液からなる塗布膜を用いることができる。
[バンク122]
バンク122は、樹脂等の有機材料を用い形成されており絶縁性を有する。バンク122の形成に用いる有機材料の例としては、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ノボラック型フェノール樹脂等があげられる。バンク122は、有機溶剤耐性を有することが好ましい。より好ましくは、アクリル系樹脂を用いることが望ましい。屈折率が低くリフレクターとして好適であるからである。
As described above, for example, a coating film made of an organic polymer solution of a conductive polymer material such as PEDOT (a mixture of polythiophene and polystyrene sulfonic acid) can be used for the hole injection layer 120B.
[Bank 122]
The bank 122 is formed using an organic material such as a resin and has an insulating property. Examples of the organic material used for forming the bank 122 include an acrylic resin, a polyimide resin, and a novolak phenol resin. The bank 122 preferably has organic solvent resistance. More preferably, it is desirable to use an acrylic resin. This is because it has a low refractive index and is suitable as a reflector.

あるいは、バンク122は、無機材料を用いる場合には、屈折率の観点から、例えば、酸化シリコン(SiO)を用いることが好ましい。あるいは、例えば、窒化シリコン(SiN)、酸窒化シリコン(SiON)などの無機材料を用い形成される。
さらに、バンク122は、製造工程中において、エッチング処理、ベーク処理など施されることがあるので、それらの処理に対して過度に変形、変質などをしないような耐性の高い材料で形成されることが好ましい。
Alternatively, when an inorganic material is used for the bank 122, it is preferable to use, for example, silicon oxide (SiO) from the viewpoint of the refractive index. Alternatively, for example, it is formed using an inorganic material such as silicon nitride (SiN) and silicon oxynitride (SiON).
Further, since the bank 122 may be subjected to an etching process, a baking process, or the like during a manufacturing process, the bank 122 may be formed of a material having high resistance so as not to be excessively deformed or deteriorated in the process. Is preferred.

また、表面に撥水性をもたせるために、表面をフッ素処理することもできる。また、バンク122の形成にフッ素を含有した材料を用いてもよい。また、バンク122の表面に撥水性を低くするために、バンク122に紫外線照射を行う、低温でベーク処理を行ってもよい。
なお、バンク122については、行方向に平行に切った断面を上方を先細りとする順テーパー台形状とするために、例えば、ポジ型の感光性材料が用いられる。ここで、感光性材料は光が当たった部分のみが化学変化を起こす樹脂であり、ポジ型の感光性材料では露光した部分が現像液に溶け順テーパー台形状のバンクが形成される。
In addition, the surface can be treated with fluorine in order to impart water repellency to the surface. Further, a material containing fluorine may be used for forming the bank 122. Further, in order to lower the water repellency of the surface of the bank 122, a low temperature baking process may be performed in which the bank 122 is irradiated with ultraviolet rays.
For the bank 122, for example, a positive photosensitive material is used in order to form a forward tapered trapezoidal shape in which the cross section cut in parallel to the row direction is tapered upward. Here, the photosensitive material is a resin that undergoes a chemical change only in a portion irradiated with light, and in a positive photosensitive material, the exposed portion is dissolved in a developing solution to form a forward tapered trapezoidal bank.

[柱状絶縁体230]
柱状絶縁体230は、樹脂等の有機材料を用い形成されており絶縁性を有する。柱状絶縁体230の形成に用いる有機材料の例としては、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ノボラック型フェノール樹脂等があげられる。柱状絶縁体230は、有機溶剤耐性を有することが好ましい。
[Columnar insulator 230]
The columnar insulator 230 is formed using an organic material such as a resin and has an insulating property. Examples of the organic material used for forming the columnar insulator 230 include an acrylic resin, a polyimide resin, and a novolak phenol resin. The columnar insulator 230 preferably has organic solvent resistance.

あるいは、柱状絶縁体230は、無機材料を用いる場合には、例えば、酸化シリコン(SiO)を用いることが好ましい。あるいは、例えば、窒化シリコン(SiN)、酸窒化シリコン(SiON)などの無機材料を用い形成される。
さらに、柱状絶縁体230は、製造工程中において、エッチング処理、ベーク処理など施されることがあるので、それらの処理に対して過度に変形、変質などをしないような耐性の高い材料で形成されることが好ましい。
Alternatively, when an inorganic material is used for the columnar insulator 230, it is preferable to use, for example, silicon oxide (SiO). Alternatively, for example, it is formed using an inorganic material such as silicon nitride (SiN) and silicon oxynitride (SiON).
Further, since the columnar insulator 230 may be subjected to an etching process, a baking process, or the like during a manufacturing process, the columnar insulator 230 is formed of a material having high resistance so as not to be excessively deformed or deteriorated in the process. Preferably.

なお、柱状絶縁体230については、製造工程の途中で、行及び列方向に平行に切った断面を上方より下方が細くなる逆テーパー台形状とするために、例えば、ネガ型の感光性材料が用いられる。感光性材料は光が当たった部分のみが化学変化を起こす樹脂であり、ネガ型の感光性材料では露光した部分が現像液に溶けなくなる。そのため、ネガ型の感光性材料を用いると、柱状絶縁体230となるべき部分の中央部は、十分な光量により露光されるので、現像液に溶けなくなるが、その周辺部においては、光量は十分ではなく、周辺部の奥部では、光の強度が減衰する。このため、周辺部の奥部は、現像液に溶け、その結果、逆テーパー台形状の柱状絶縁体230が形成される。   In addition, for the columnar insulator 230, in the middle of the manufacturing process, in order to make the cross section cut in parallel to the row and column directions into an inverted tapered trapezoid shape in which the lower part becomes narrower than the upper part, for example, a negative photosensitive material is used. Used. The photosensitive material is a resin that undergoes a chemical change only in a portion that is exposed to light, and in a negative photosensitive material, the exposed portion does not dissolve in a developing solution. Therefore, when a negative photosensitive material is used, the central portion of the portion to become the columnar insulator 230 is exposed with a sufficient amount of light, so that the central portion becomes insoluble in the developing solution. Rather, the intensity of the light is attenuated in the inner part of the periphery. For this reason, the inner part of the peripheral portion is dissolved in the developing solution, and as a result, an inverted tapered trapezoidal columnar insulator 230 is formed.

[ホール輸送層121]
ホール輸送層121は、例えば、ポリフルオレンやその誘導体、あるいはアミン系有機高分子であるポリアリールアミンやその誘導体などの高分子化合物、あるいは、TFB(poly(9、9-di-n-octylfluorene-alt-(1、4-phenylene-((4-sec-butylphenyl)imino)-1、4-phenylene))などを用いることができる。
[Hole transport layer 121]
The hole transport layer 121 is formed of, for example, a polymer compound such as polyfluorene or a derivative thereof, or an amine-based organic polymer such as polyarylamine or a derivative thereof, or TFB (poly (9,9-di-n-octylfluorene-derivative). alt- (1,4-phenylene-((4-sec-butylphenyl) imino) -1,4-phenylene)) and the like can be used.

[発光層123]
発光層123は、上述のように、ホールと電子とが注入され再結合されることにより励起状態が生成され発光する機能を有する。発光層123の形成に用いる材料は、湿式印刷法を用い製膜できる発光性の有機材料を用いることが必要である。
具体的には、例えば、特許公開公報(日本国・特開平5−163488号公報)に記載のオキシノイド化合物、ペリレン化合物、クマリン化合物、アザクマリン化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、ペリノン化合物、ピロロピロール化合物、ナフタレン化合物、アントラセン化合物、フルオレン化合物、フルオランテン化合物、テトラセン化合物、ピレン化合物、コロネン化合物、キノロン化合物及びアザキノロン化合物、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、ローダミン化合物、クリセン化合物、フェナントレン化合物、シクロペンタジエン化合物、スチルベン化合物、ジフェニルキノン化合物、スチリル化合物、ブタジエン化合物、ジシアノメチレンピラン化合物、ジシアノメチレンチオピラン化合物、フルオレセイン化合物、ピリリウム化合物、チアピリリウム化合物、セレナピリリウム化合物、テルロピリリウム化合物、芳香族アルダジエン化合物、オリゴフェニレン化合物、チオキサンテン化合物、アンスラセン化合物、シアニン化合物、アクリジン化合物、8−ヒドロキシキノリン化合物の金属錯体、2−ビピリジン化合物の金属錯体、シッフ塩とIII族金属との錯体、オキシン金属錯体、希土類錯体などの蛍光物質で形成されることが好ましい。
[Light-emitting layer 123]
As described above, the light-emitting layer 123 has a function of generating an excited state and emitting light by injecting and recombining holes and electrons. As a material used for forming the light-emitting layer 123, it is necessary to use a light-emitting organic material that can be formed by a wet printing method.
Specifically, for example, an oxinoid compound, a perylene compound, a coumarin compound, an azacoumarin compound, an oxazole compound, an oxadiazole compound, a perinone compound, a pyrrolopyrrole described in Patent Publication (JP-A-5-163488). Compound, naphthalene compound, anthracene compound, fluorene compound, fluoranthene compound, tetracene compound, pyrene compound, coronene compound, quinolone compound and azaquinolone compound, pyrazoline derivative and pyrazolone derivative, rhodamine compound, chrysene compound, phenanthrene compound, cyclopentadiene compound, stilbene compound , Diphenylquinone compounds, styryl compounds, butadiene compounds, dicyanomethylenepyran compounds, dicyanomethylenethiopyran compounds, fluoresceins In compounds, pyrylium compounds, thiapyrylium compounds, selenapyrylium compounds, telluropyrylium compounds, aromatic aldadienes, oligophenylene compounds, thioxanthene compounds, anthracene compounds, cyanine compounds, acridine compounds, metal complexes of 8-hydroxyquinoline compounds, 2- It is preferably formed of a fluorescent substance such as a metal complex of a bipyridine compound, a complex of a Schiff salt and a group III metal, an oxine metal complex, and a rare earth complex.

[電子輸送層124]
電子輸送層124には、電子輸送性が高い有機材料が用いられる。電子輸送層124Aは、フッ化ナトリウムで形成された層を含んでいてもよい。電子輸送層124Bに用いられる有機材料としては、例えば、オキサジアゾール誘導体(OXD)、トリアゾール誘導体(TAZ)、フェナンスロリン誘導体(BCP、Bphen)などのπ電子系低分子有機材料が挙げられる。
[Electron transport layer 124]
For the electron transport layer 124, an organic material having a high electron transport property is used. The electron transport layer 124A may include a layer formed of sodium fluoride. Examples of the organic material used for the electron transport layer 124B include π-electron low molecular weight organic materials such as an oxadiazole derivative (OXD), a triazole derivative (TAZ), and a phenanthroline derivative (BCP, Bphen).

また、電子輸送層124Bは、電子輸送性が高い有機材料に、アルカリ金属、又は、アルカリ土類金属から選択されるドープ金属がドープされて形成された層を含んでいてもよい。
[共通電極125]
共通電極125Aは、銀(Ag)又はアルミニウム(Al)などを薄膜化した電極を用い形成される。
The electron transporting layer 124B may include a layer formed by doping an organic material having a high electron transporting property with a doping metal selected from an alkali metal or an alkaline earth metal.
[Common electrode 125]
The common electrode 125A is formed using an electrode in which silver (Ag), aluminum (Al), or the like is thinned.

共通電極125Bは、光透過性を有する導電材料が用いられる。例えば、酸化インジウムスズ(ITO)若しくは酸化インジウム亜鉛(IZO)などを用い形成される。
[封止層126]
封止層126は、例えば、窒化シリコン(SiN)、酸窒化シリコン(SiON)などの透光性材料を用い形成される。また、窒化シリコン(SiN)、酸窒化シリコン(SiON)などの材料を用い形成された層の上に、アクリル樹脂、シリコン樹脂などの樹脂材料からなる封止樹脂層を設けてもよい。
For the common electrode 125B, a conductive material having a light transmitting property is used. For example, it is formed using indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO).
[Sealing layer 126]
The sealing layer 126 is formed using, for example, a light-transmitting material such as silicon nitride (SiN) or silicon oxynitride (SiON). Further, a sealing resin layer made of a resin material such as an acrylic resin or a silicon resin may be provided over a layer formed using a material such as silicon nitride (SiN) or silicon oxynitride (SiON).

封止層126は、トップエミッション型の場合においては、光透過性の材料で形成されることが必要となる。
[接合層127]
接合層127の材料は、例えば、樹脂接着剤等からなる。接合層127は、アクリル樹脂、シリコン樹脂、エポキシ樹脂などの透光性材料樹脂材料を採用することができる。
In the case of a top emission type, the sealing layer 126 needs to be formed of a light transmitting material.
[Joining layer 127]
The material of the bonding layer 127 is made of, for example, a resin adhesive. For the bonding layer 127, a light-transmitting material resin material such as an acrylic resin, a silicon resin, or an epoxy resin can be used.

[上部基板130]
上部基板130としては、例えば、ガラス基板、石英基板、プラスチック基板等に透光性材料を採用することができる。
[カラーフィルタ層132]
カラーフィルタ層132としては、公知の樹脂材料(例えば市販製品として、JSR株式会社製カラーレジスト)等を採用することができる。
[Upper substrate 130]
As the upper substrate 130, for example, a light-transmitting material can be used for a glass substrate, a quartz substrate, a plastic substrate, or the like.
[Color filter layer 132]
As the color filter layer 132, a known resin material (for example, as a commercially available product, a color resist manufactured by JSR Corporation) or the like can be used.

[遮光層133]
遮光層133としては、紫外線硬化樹脂(例えば紫外線硬化アクリル樹脂)材料を主成分とし、これに黒色顔料を添加してなる樹脂材料からなる。黒色顔料としては、例えば、カーボンブラック顔料、チタンブラック顔料、金属酸化顔料、有機顔料など遮光性材料を採用することができる。
[Light shielding layer 133]
The light-shielding layer 133 is made of a resin material containing an ultraviolet-curable resin (for example, an ultraviolet-curable acrylic resin) as a main component and a black pigment added thereto. As the black pigment, for example, a light-shielding material such as a carbon black pigment, a titanium black pigment, a metal oxide pigment, and an organic pigment can be adopted.

<表示パネル10の製造方法>
表示パネル10の製造方法について、図6〜11を用いて説明する。図6〜8、10、11における各図は、表示パネル10の製造における各工程での状態を示す図1におけるA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。
[基板100xの準備]
配線110を含む複数のTFTや配線が形成された基板100xを準備する。基板100xは、公知のTFTの製造方法により製造することができる(図6(a))。
<Method for Manufacturing Display Panel 10>
A method for manufacturing the display panel 10 will be described with reference to FIGS. Each of FIGS. 6 to 8, 10, and 11 is a schematic cross-sectional view taken at the same position as A <b> 1-A <b> 1 in FIG. 1, illustrating a state in each step of manufacturing the display panel 10.
[Preparation of substrate 100x]
A substrate 100x on which a plurality of TFTs including the wiring 110 and the wiring are formed is prepared. The substrate 100x can be manufactured by a known TFT manufacturing method (FIG. 6A).

[平坦化層118の形成]
基板100xを被覆するように、上述の平坦化層118の構成材料(感光性の樹脂材料)をフォトレジストとして塗布し、表面を平坦化することにより平坦化層118を形成する(図6(b))。
平坦化層118を形成した後、所定の開口部が施されたフォトマスクを重ね、その上から紫外線照射を行い平坦化層118を露光し、フォトマスクが有するパターンを転写する(不図示)。その後、現像によって、コンタクト孔118aをパターニングした平坦化層118を形成する。コンタクト孔118aの底部において配線110が露出する(不図示)。
[Formation of Flattening Layer 118]
The constituent material (photosensitive resin material) of the above-described flattening layer 118 is applied as a photoresist so as to cover the substrate 100x, and the surface is flattened to form the flattening layer 118 (FIG. 6B). )).
After forming the planarizing layer 118, a photomask provided with a predetermined opening is overlaid thereon, and ultraviolet light is irradiated thereon to expose the planarizing layer 118 to transfer a pattern of the photomask (not shown). Thereafter, a flattening layer 118 in which the contact hole 118a is patterned is formed by development. The wiring 110 is exposed at the bottom of the contact hole 118a (not shown).

[画素電極119及び補助電極200の下層201の形成]
コンタクト孔118aを開設した平坦化層118が形成された後、画素電極119及び補助電極200の下層201を形成する(図6(c))。
画素電極119及び補助電極200の形成は、スパッタリング法などを用い金属膜を形成した後、フォトリソグラフィ法およびエッチング法を用いパターニングすることでなされる。
[Formation of Lower Layer 201 of Pixel Electrode 119 and Auxiliary Electrode 200]
After the planarization layer 118 having the contact hole 118a is formed, the lower layer 201 of the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200 is formed (FIG. 6C).
The pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200 are formed by forming a metal film using a sputtering method or the like and then patterning the metal film using a photolithography method and an etching method.

具体的には、先ず、平坦化層118の表面に製膜前洗浄を行った後、画素電極119、補助電極200を形成するための画素電極用の金属膜119x気相成長法により平坦化層118の表面に製膜する。本例では、アルミニウム又はアルミニウムを主成分とする合金からなる膜をスパッタリング法により製膜する。
その後、感光性樹脂等からなるフォトレジスト層FRを塗布したのち、所定の開口部が施されたフォトマスクPMを載置し、その上から紫外線照射を行いフォトレジストを露光し、そのフォトレジストにフォトマスクが有するパターンを転写し、フォトレジスト層FRを現像によってパターニングする。その後、パターニングされたフォトレジスト層FRを介して、金属膜119xにウエットエッチング処理を施してパターニングを行い、画素電極119、補助電極200を形成する。
Specifically, first, after performing pre-film formation cleaning on the surface of the planarization layer 118, a metal film 119x for the pixel electrode for forming the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200 is formed by the vapor deposition method. A film is formed on the surface of 118. In this example, a film made of aluminum or an alloy containing aluminum as a main component is formed by a sputtering method.
After that, after applying a photoresist layer FR made of a photosensitive resin or the like, a photomask PM having a predetermined opening is placed thereon, and the photoresist is exposed by irradiating ultraviolet rays thereon, and the photoresist is exposed to the photoresist. The pattern of the photomask is transferred, and the photoresist layer FR is patterned by development. Thereafter, the metal film 119x is subjected to a wet etching process via the patterned photoresist layer FR to perform patterning, thereby forming the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200.

このとき、コンタクト孔118aの内壁に沿って金属膜を形成することにより画素電極119の接続凹部119cを形成する(不図示)。これより、画素電極119は、コンタクト孔118aの底部において露出した配線110と直接接触し、TFTの電極と電気的に接続された状態となる。
画素電極119は、平坦化層118のコンタクト孔118aの側面で段切れしないように、ステップカバレッジの優れた成膜方法(例えば、スパッタリング法やCVD法)により形成することが好ましい。また、ステップカバレッジの優れた成膜方法によっても画素電極119の膜厚が過度に薄いと、段切れが発生する可能性があるため、膜厚は、70nm以上で形成することが好ましい。本例では、アルミニウム又はアルミニウムを主成分とする合金からなる膜をスパッタリング法により製膜する。
At this time, a connection recess 119c for the pixel electrode 119 is formed by forming a metal film along the inner wall of the contact hole 118a (not shown). As a result, the pixel electrode 119 is in direct contact with the wiring 110 exposed at the bottom of the contact hole 118a, and is in a state of being electrically connected to the electrode of the TFT.
The pixel electrode 119 is preferably formed by a film formation method with excellent step coverage (for example, a sputtering method or a CVD method) so as not to be disconnected at the side surface of the contact hole 118a of the planarization layer 118. In addition, even if the film thickness of the pixel electrode 119 is excessively small even if the film formation method is excellent in step coverage, a step break may occur. Therefore, the film thickness is preferably 70 nm or more. In this example, a film made of aluminum or an alloy containing aluminum as a main component is formed by a sputtering method.

[ホール注入層120Aの形成]
画素電極119及び補助電極200を形成した後、画素電極119上に対して、ホール注入層120Aを形成する(図6(d))。
ホール注入層120Aは、スパッタリング法あるいは真空蒸着法などの気相成長法を用いそれぞれ金属(例えば、タングステン)からなる膜を形成した後焼成によって酸化させ、フォトリソグラフィ法およびエッチング法を用い各画素単位にパターニングすることで形成される。本例では、タングステンをスパッタリング法により製膜する構成とした。
[Formation of Hole Injection Layer 120A]
After forming the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200, a hole injection layer 120A is formed on the pixel electrode 119 (FIG. 6D).
The hole injection layer 120A is formed by forming a film made of a metal (for example, tungsten) using a vapor phase growth method such as a sputtering method or a vacuum evaporation method, and then oxidizing the film by baking. It is formed by patterning. In this example, the structure is such that tungsten is formed by sputtering.

ホール注入層120Aの形成において、ドライエッチング処理を行う理由は、例えば、酸化タングステン膜からなる金属層120A’と、例えば、アルミ系合金からなる金属膜119xとはウェットエッチングレートに大きな差があるため一括に処理することが困難であるため、酸化タングステンはアルゴンガス等でのドライエッチングを使用し、アルミ合金はウェットエッチングを本実施の形態では使用したがその限りではない。   In the formation of the hole injection layer 120A, dry etching is performed because, for example, there is a large difference in the wet etching rate between the metal layer 120A 'made of a tungsten oxide film and the metal film 119x made of, for example, an aluminum alloy. Since it is difficult to perform batch processing, tungsten oxide is used for dry etching with argon gas or the like, and aluminum alloy is used for wet etching in this embodiment, but is not limited thereto.

本実施の形態の製造方法では、ホール注入層120Aを所定条件で製膜及び焼成することにより、酸素欠陥構造を持つ酸化タングステンを含む酸化タングステン膜からなるホール注入層120を成膜して上述の占有準位を形成する構成としている。
最後に、フォトレジスト層FRを剥離して、外形が同一形状にパターニングされた画素電極119及びホール注入層120Aの積層体を形成する。
In the manufacturing method according to the present embodiment, the hole injection layer 120A made of a tungsten oxide film containing tungsten oxide having an oxygen defect structure is formed by forming and firing the hole injection layer 120A under predetermined conditions. An occupation level is formed.
Finally, the photoresist layer FR is peeled off to form a laminate of the pixel electrode 119 and the hole injection layer 120A whose outer shapes are patterned into the same shape.

なお、製膜の順序は、金属膜119xの表面に製膜前洗浄を行った後、ホール注入層120A用の金属層120A’を気相成長法により金属膜119xの表面に製膜した後、ドライエッチングとウエットエッチングを順次行う構成としてもよい。
具体的には、先ず、平坦化層118を形成した後、平坦化層118の表面に製膜前洗浄を行った後、画素電極119、補助電極200を形成するための画素電極用の金属膜119x気相成長法により平坦化層118の表面に製膜する、さらに、ホール注入層120Aを形成するためのホール注入層120A用の金属層120A’を気相成長法により金属膜119xの表面に製膜する、その後、感光性樹脂等からなるフォトレジスト層FRを塗布したのち、所定の開口部が施されたフォトマスクPMを載置し、その上から紫外線照射を行いフォトレジストを露光し、そのフォトレジストにフォトマスクが有するパターンを転写し、次に、フォトレジスト層FRを現像によってパターニングする。その後、パターニングされたフォトレジスト層FRを介して、金属層120A’にドライエッチング処理を施してパターニングを行い、ホール注入層120Aを形成する。続けて、パターニングされたフォトレジスト層FR及びホール注入層120Aを介して、金属膜119xにウエットエッチング処理を施してパターニングを行い、画素電極119、補助電極200を形成する。
The order of film formation is as follows: after performing pre-film formation cleaning on the surface of the metal film 119x, forming the metal layer 120A ′ for the hole injection layer 120A on the surface of the metal film 119x by a vapor phase growth method, Dry etching and wet etching may be sequentially performed.
Specifically, first, after the planarization layer 118 is formed, pre-film formation cleaning is performed on the surface of the planarization layer 118, and then a metal film for the pixel electrode for forming the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200 is formed. A metal layer 120A 'for the hole injection layer 120A for forming the hole injection layer 120A is formed on the surface of the metal film 119x by the vapor growth method. After forming the film, after applying a photoresist layer FR made of a photosensitive resin or the like, a photomask PM provided with a predetermined opening is placed, and the photoresist is exposed by irradiating ultraviolet rays thereon, The pattern of the photomask is transferred to the photoresist, and the photoresist layer FR is patterned by development. After that, the metal layer 120A 'is subjected to dry etching through the patterned photoresist layer FR to be patterned to form the hole injection layer 120A. Subsequently, the metal film 119x is subjected to wet etching through the patterned photoresist layer FR and the hole injection layer 120A to perform patterning, thereby forming the pixel electrode 119 and the auxiliary electrode 200.

[バンク122の形成]
ホール注入層120Aを形成した後、ホール注入層120Aを覆うようにバンク122を形成する。バンク122の形成では、先ず行バンク122Xを形成し、その後、間隙522zを形成するように列バンク522Yを形成する。
先ず、行バンク122の形成は、先ず、ホール注入層120A上に、スピンコート法などを用い、行バンク122Xの構成材料(例えば、感光性樹脂材料)からなる膜を積層形成する。そして、樹脂膜をパターニングして行バンク122Xを形成する(図6(e))。
[Formation of Bank 122]
After forming the hole injection layer 120A, a bank 122 is formed so as to cover the hole injection layer 120A. In the formation of the banks 122, first, the row banks 122X are formed, and then the column banks 522Y are formed so as to form the gaps 522z.
First, in forming the row bank 122, first, a film made of a constituent material (for example, a photosensitive resin material) of the row bank 122X is formed on the hole injection layer 120A by using a spin coating method or the like. Then, the resin film is patterned to form the row banks 122X (FIG. 6E).

行バンク122Xのパターニングは、樹脂膜の上方にフォトマスクを利用し露光を行い、現像工程、焼成工程(約230℃、約60分)をすることによりなされる。
次に、列バンク522Yの形成工程では、ホール注入層120A上及び行バンク122X上に、スピンコート法などを用い、列バンク522Yの構成材料(例えば、感光性樹脂材料)からなる膜を積層形成する。そして、間隙522zの形成は、樹脂膜の上方にマスクを配して露光し、その後で現像することにより、樹脂膜をパターニングして間隙522zを開設して列バンク522Yを形成する(図6(f))。列バンク522Yは、列方向に延設され、行方向に間隙522zを介して並設される。
The patterning of the row bank 122X is performed by performing exposure using a photomask above the resin film, and performing a developing step and a baking step (about 230 ° C., about 60 minutes).
Next, in the formation process of the column bank 522Y, a film made of a constituent material (for example, a photosensitive resin material) of the column bank 522Y is formed on the hole injection layer 120A and the row bank 122X by using a spin coating method or the like. I do. Then, the gap 522z is formed by arranging a mask above the resin film, exposing the resin film, and then developing the resin film, thereby patterning the resin film and opening the gap 522z to form the column bank 522Y (FIG. 6 ( f)). The column banks 522Y extend in the column direction and are juxtaposed in the row direction with a gap 522z therebetween.

具体的には、列バンク522Yの形成工程では、先ず、有機系の感光性樹脂材料、例えば、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ノボラック型フェノール樹脂等からなる感光性樹脂膜を形成した後、乾燥し、溶媒をある程度揮発させてから、所定の開口部が施されたフォトマスクを重ね、その上から紫外線照射を行い感光性樹脂等からなるフォトレジストを露光し、そのフォトレジストにフォトマスクが有するパターンを転写する。次に、感光性樹脂を現像、によって列バンク522Yをパターニングした絶縁層を、焼成(約230℃、約60分)することにより形成する。一般にはポジ型と呼ばれるフォトレジストが使用される。ポジ型は露光された部分が現像によって除去される。露光されないマスクパターンの部分は、現像されずに残存する。   Specifically, in the step of forming the row bank 522Y, first, a photosensitive resin film made of an organic photosensitive resin material, for example, an acrylic resin, a polyimide resin, a novolac phenol resin, or the like is formed, and then dried. Then, after volatilizing the solvent to some extent, a photomask provided with a predetermined opening is overlapped, and ultraviolet light is irradiated thereon to expose a photoresist made of a photosensitive resin or the like, and the photoresist has a photomask. Transfer the pattern. Next, an insulating layer in which the column bank 522Y is patterned by developing the photosensitive resin is formed by baking (about 230 ° C., about 60 minutes). Generally, a photoresist called a positive type is used. In the positive mold, exposed portions are removed by development. The portions of the mask pattern that are not exposed remain without being developed.

ここで、ホール注入層120Aは、上述のとおり、スパッタリング法あるいは真空蒸着法などの気相成長法を用い金属(例えば、タングステン)からなる膜を形成した後、フォトリソグラフィー法及びエッチング法を用い各画素単位にパターニングされるが、行バンク122X、列バンク522Yに対する焼成工程において、金属が酸化されホール注入層120Aとして完成する。   Here, as described above, the hole injection layer 120A is formed by forming a film made of a metal (for example, tungsten) using a vapor deposition method such as a sputtering method or a vacuum deposition method, and then using a photolithography method and an etching method. Although patterning is performed on a pixel-by-pixel basis, a metal is oxidized in a firing step for the row bank 122X and the column bank 522Y to complete the hole injection layer 120A.

製造上、バンク122Xの上限膜厚は、1500nm以下で、製造時の膜厚バラツキがより小さくなると共にボトム線幅の制御が可能となる。また、下限膜厚は、膜厚が薄くなるとともに膜厚とボトム線幅とを同程度にする必要があり、下限膜厚が200nm以上で、解像度の制約による所望のボトム線幅を得ることが可能となる。したがって、バンク122の厚みは、製造プロセスの観点では、例えば、200nm以上1500nm以下であることが好ましい。本実施の形態ではバンク122Xの膜厚は、約500nmとした。   In manufacturing, the upper limit film thickness of the bank 122X is 1500 nm or less, so that the film thickness variation during manufacturing becomes smaller and the bottom line width can be controlled. In addition, the lower limit film thickness is required to be approximately the same as the film thickness and the bottom line width as the film thickness becomes thinner. When the lower limit film thickness is 200 nm or more, a desired bottom line width due to the restriction of resolution may be obtained. It becomes possible. Therefore, the thickness of the bank 122 is preferably, for example, 200 nm or more and 1500 nm or less from the viewpoint of the manufacturing process. In the present embodiment, the thickness of the bank 122X is about 500 nm.

また、バンク522Yの上限膜厚は、製造上、コスト削減による生産性向上の観点から1500nm以下が望ましい。また、下限膜厚は、膜厚が薄くなるとともに膜厚とボトム線幅とを同程度にする必要があり、下限膜厚が1μm以上で、解像度の制約による所望のボトム線幅を得ることが可能となる。また溶液塗布をともなうプロセスの場合、下地の凹凸が膜厚の均一性が向上する。このことよりTFTの段差をできるだけ低減する必要があることより絶縁膜の下限膜厚が決定し500nm以上が好ましい。したがって、バンク522Yの厚みは、製造プロセスの観点では、例えば、500nm以上1500nm以下であることが好ましい。本実施の形態では約1000nmとした。   The upper limit film thickness of the bank 522Y is desirably 1500 nm or less from the viewpoint of improving productivity by reducing costs in manufacturing. In addition, the lower limit film thickness is required to be approximately the same as the film thickness and the bottom line width as the film thickness becomes thinner. When the lower limit film thickness is 1 μm or more, a desired bottom line width due to the restriction of resolution can be obtained. It becomes possible. In the case of a process involving solution coating, the unevenness of the underlayer improves the uniformity of the film thickness. From this, it is necessary to reduce the level difference of the TFT as much as possible. Therefore, the lower limit film thickness of the insulating film is determined, and the thickness is preferably 500 nm or more. Therefore, it is preferable that the thickness of the bank 522Y is, for example, 500 nm or more and 1500 nm or less from the viewpoint of the manufacturing process. In this embodiment, the thickness is about 1000 nm.

[補助電極200の接触層202の形成]
補助電極200の接触層202の形成は、インクジェット法やグラビア印刷法によるウェットプロセスを用い、補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい金属材料を含むインクを列バンク522Yにより規定される補助間隙522zA内に塗布した後、溶媒を揮発除去させる。あるいは、焼成することによりなされる(図7(a))。形成方法はこれに限定されず、インクジェット法やグラビア印刷法以外の方法、例えばディスペンサー法、ノズルコート法、スピンコート法、凹版印刷、凸版印刷等の公知の方法によりインクを滴下・塗布してもよい。
[Formation of Contact Layer 202 of Auxiliary Electrode 200]
The contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is formed by a wet process such as an inkjet method or a gravure printing method, and an ink containing a metal material that is less oxidized than the constituent material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200 is defined by the column bank 522Y. After application in the auxiliary gap 522zA, the solvent is volatilized and removed. Alternatively, it is performed by firing (FIG. 7A). The method of formation is not limited to this, and may be any method other than the inkjet method or the gravure printing method, such as a dispenser method, a nozzle coating method, a spin coating method, an intaglio printing, or a known method such as letterpress printing, in which the ink is dropped and applied. Good.

補助電極200の接触層202の厚みは、共通電極125とのコンタクト抵抗を低減するための十分な断面積を得るために、数十nm以上1000nm以下であることが好ましい。
[柱状絶縁体230の形成]
補助電極200の接触層202を形成した後、接触層202の上面に複数の柱状絶縁体230を形成する。
The thickness of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is preferably several tens nm or more and 1000 nm or less in order to obtain a sufficient cross-sectional area for reducing the contact resistance with the common electrode 125.
[Formation of columnar insulator 230]
After forming the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200, a plurality of columnar insulators 230 are formed on the upper surface of the contact layer 202.

先ず、柱状絶縁体230の形成は、先ず、補助電極200の接触層202が形成された基板100x上に、スピンコート法などを用い、柱状絶縁体230の構成材料(例えば、感光性樹脂材料)からなる膜を積層形成する。そして、樹脂膜をパターニングして柱状絶縁体230を形成する(図7(b))(図7(c))(図7(d))。柱状絶縁体230のパターニングは、樹脂膜の上方にフォトマスクを利用し露光を行い、現像工程、焼成工程(約230℃、約60分)をすることによりなされる。具体的には、柱状絶縁体230の形成工程では、先ず、有機系の感光性樹脂材料、例えば、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ノボラック型フェノール樹脂等からなる感光性樹脂膜230xを形成した後(図7(b))、乾燥し、溶媒をある程度揮発させてから、所定の開口部が施されたフォトマスクを重ね、その上から紫外線照射を行い感光性樹脂等からなるフォトレジストを露光し(図7(c))、そのフォトレジストにフォトマスクが有するパターンを転写する。柱状絶縁体230を形成する際の露光量により調整することにより、側壁230cの傾斜角φを制御できる。なお、側壁がいわゆる逆テーパー形状に制御することが望ましいため、柱状絶縁体230の形成においてはネガ型感光性樹脂材料を用いることが好ましい
次に、感光性樹脂を現像によって上面230aの形状をパターニングした絶縁体230xを、焼成(約230℃、約60分)することにより柱状絶縁体230を形成する(図7(d))。
First, the columnar insulator 230 is first formed on the substrate 100x on which the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is formed by using a spin coating method or the like by using a constituent material (for example, a photosensitive resin material) of the columnar insulator 230. Are laminated. Then, the columnar insulator 230 is formed by patterning the resin film (FIG. 7B) (FIG. 7C) (FIG. 7D). The patterning of the columnar insulator 230 is performed by performing exposure using a photomask above the resin film, and performing a development step and a baking step (about 230 ° C., about 60 minutes). Specifically, in the step of forming the columnar insulator 230, first, a photosensitive resin film 230x made of an organic photosensitive resin material, for example, an acrylic resin, a polyimide resin, a novolac phenol resin, or the like is formed. (FIG. 7 (b)), after drying and volatilizing the solvent to some extent, overlaying a photomask provided with a predetermined opening and irradiating ultraviolet rays from above to expose a photoresist made of a photosensitive resin or the like. (FIG. 7C), the pattern of the photomask is transferred to the photoresist. The inclination angle φ of the side wall 230c can be controlled by adjusting the amount of exposure when the columnar insulator 230 is formed. In addition, since it is desirable to control the side wall to have a so-called reverse taper shape, it is preferable to use a negative photosensitive resin material in forming the columnar insulator 230. Next, the shape of the upper surface 230a is patterned by developing the photosensitive resin. The columnar insulator 230 is formed by firing (about 230 ° C., about 60 minutes) the insulator 230x (FIG. 7D).

製造上、柱状絶縁体230の上限膜厚は、製造上、コスト削減による生産性向上の観点から15000nm以下が望ましい。また、下限膜厚は、膜厚が薄くなるとともに膜厚とボトム線幅とを同程度にする必要があり、下限膜厚が1μm以上で、解像度の制約による所望のボトム線幅を得ることが可能となる。また溶液塗布をともなうプロセスの場合、下地の凹凸が膜厚の均一性が向上する。このことよりTFTの段差をできるだけ低減する必要があることより絶縁膜の下限膜厚が決定し500nm以上が好ましい。したがって、柱状絶縁体230の厚みは、製造プロセスの観点では、例えば、500nm以上15000nm以下であることが好ましい。   In manufacturing, the upper limit film thickness of the columnar insulator 230 is desirably 15000 nm or less from the viewpoint of improving productivity by reducing costs in manufacturing. In addition, the lower limit film thickness is required to be approximately the same as the film thickness and the bottom line width as the film thickness becomes thinner. When the lower limit film thickness is 1 μm or more, a desired bottom line width due to the restriction of resolution can be obtained. It becomes possible. In the case of a process involving solution coating, the unevenness of the underlayer improves the uniformity of the film thickness. From this, it is necessary to reduce the level difference of the TFT as much as possible. Therefore, the lower limit film thickness of the insulating film is determined, and the thickness is preferably 500 nm or more. Therefore, the thickness of the columnar insulator 230 is preferably, for example, 500 nm or more and 15000 nm or less from the viewpoint of the manufacturing process.

[補助電極200の接触層202の形成]
補助電極200の接触層202の形成は、インクジェット法やグラビア印刷法によるウェットプロセスを用い、補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい金属材料を含むインクを列バンク522Yにより規定される補助間隙522zA内に塗布した後、溶媒を揮発除去させる。あるいは、焼成することによりなされる(図7(a))。塗布に用いるインクには数nmの金属微粒子を含むナノインクを用い、例えばインクジェット装置を用いてインクを塗布対象部分に向けて吐出することが好適である。しかしながら、形成方法はこれに限定されず、インクジェット法やグラビア印刷法以外の方法、例えばディスペンサー法、ノズルコート法、スピンコート法、凹版印刷、凸版印刷等の公知の方法によりインクを滴下・塗布してもよい。あるいは、スパッタリング法や蒸着法のような乾式法で成膜し、その後フォトリソグラフィー法及びエッチング法を用いて接触層202を形成してもよい。
[Formation of Contact Layer 202 of Auxiliary Electrode 200]
The contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is formed by a wet process such as an inkjet method or a gravure printing method, and an ink containing a metal material that is less oxidized than the constituent material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200 is defined by the column bank 522Y. After application in the auxiliary gap 522zA, the solvent is volatilized and removed. Alternatively, it is performed by firing (FIG. 7A). It is preferable to use nano-ink containing metal fine particles of several nm as the ink used for application, and to discharge the ink toward the application target portion using, for example, an inkjet device. However, the forming method is not limited to this, and the ink is dropped and applied by a method other than the inkjet method or the gravure printing method, for example, a known method such as a dispenser method, a nozzle coating method, a spin coating method, an intaglio printing, and a relief printing. You may. Alternatively, the contact layer 202 may be formed by a dry method such as a sputtering method or an evaporation method, and then using a photolithography method and an etching method.

[有機機能層の形成]
行バンク122X上を含む列バンク522Yにより規定される間隙522z内に形成されたホール注入層120A上に対して、ホール注入層120B、ホール輸送層121、発光層123を順に積層形成する(図8(a))。
ホール注入層120Bは、インクジェット法を用い、PEDOT(ポリチオフェンとポリスチレンスルホン酸との混合物)などの導電性ポリマー材料を含むインクを列バンク522Yにより規定される間隙522z内に塗布した後、溶媒を揮発除去させる。あるいは、焼成することによりなされる。補助間隙522zAには、ホール注入層120Bは設けられていない。その後、フォトリソグラフィー法およびエッチング法を用い各画素単位にパターニングしてもよい。
[Formation of organic functional layer]
The hole injection layer 120B, the hole transport layer 121, and the light emitting layer 123 are sequentially formed on the hole injection layer 120A formed in the gap 522z defined by the column bank 522Y including the row bank 122X (FIG. 8). (A)).
The hole injection layer 120B is formed by applying an ink containing a conductive polymer material such as PEDOT (a mixture of polythiophene and polystyrene sulfonic acid) into the gap 522z defined by the row bank 522Y using an inkjet method, and then evaporating the solvent. Let it be removed. Alternatively, it is performed by firing. No hole injection layer 120B is provided in the auxiliary gap 522zA. Thereafter, patterning may be performed for each pixel using a photolithography method and an etching method.

ホール輸送層121は、インクジェット法やグラビア印刷法によるウェットプロセスを用い、構成材料を含むインクを列バンク522Yにより規定される間隙522z内に塗布した後、溶媒を揮発除去させる、あるいは、焼成することによりなされる。ホール輸送層121のインクを間隙522z内に塗布する方法は、上述したホール注入層120Bにおける方法と同じである。補助間隙522zAには、ホール輸送層121は形成されない。   The hole transport layer 121 is formed by applying an ink containing a constituent material to the gap 522z defined by the row bank 522Y by using a wet process such as an inkjet method or a gravure printing method, and then volatilizing or removing the solvent or baking. Made by The method of applying the ink of the hole transport layer 121 to the gap 522z is the same as the method of the above-described hole injection layer 120B. The hole transport layer 121 is not formed in the auxiliary gap 522zA.

発光層123の形成は、インクジェット法を用い、構成材料を含むインクを列バンク522Yにより規定される間隙522z内に塗布した後、焼成することによりなされる。具体的には、基板100xは、列バンク522YがY方向に沿った状態で液滴吐出装置の動作テーブル上に載置され、Y方向に沿って複数のノズル孔がライン状に配置されたインクジェットヘッド301をX方向に基板100xに対し相対的に移動しながら、各ノズル孔から列バンク522Y同士の間隙522z内に設定された着弾目標を狙ってインクの液滴18を着弾させることによって行う。ここでも。補助間隙522zAには、発光層123は形成されない。   The light-emitting layer 123 is formed by applying an ink containing a constituent material in a gap 522z defined by the row bank 522Y by using an ink-jet method, and then firing. Specifically, the substrate 100x is mounted on the operation table of the droplet discharge device in a state where the row bank 522Y is along the Y direction, and the plurality of nozzle holes are linearly arranged along the Y direction. This is performed by moving the head 301 relative to the substrate 100x in the X direction and landing the ink droplets 18 from each nozzle hole to the landing target set in the gap 522z between the row banks 522Y. even here. The light emitting layer 123 is not formed in the auxiliary gap 522zA.

また、この工程では、副画素形成領域となる間隙522zに、インクジェット法によりR、G、Bいずれかの有機発光層の材料を含むインク123RI、123GI、123BIをそれぞれ充填し、充填したインクを減圧下で乾燥させ、ベーク処理することによって、発光層123R、123G、123Bを形成する。このとき、発光層123のインクの塗布では、先ず、液滴吐出装置を用いて発光層123の形成するための溶液の塗布を行う。   In this step, the inks 123RI, 123GI, and 123BI containing the material of the organic light emitting layer of any of R, G, and B are filled in the gap 522z serving as the sub-pixel formation region by an inkjet method, and the filled ink is decompressed. The light emitting layers 123R, 123G, and 123B are formed by drying under a baking process. At this time, in the application of the ink of the light emitting layer 123, first, a solution for forming the light emitting layer 123 is applied using a droplet discharge device.

基板100xに対して赤色発光層、緑色発光層、青色発光層の何れかを形成するためのインクの塗布が終わると、次に、その基板に別の色のインクを塗布し、次にその基板に3色目のインクを塗布する工程が繰り返し行われ、3色のインクを順次塗布する。これにより、基板100x上には、赤色発光層、緑色発光層、青色発光層が、図の紙面横方向に繰り返して並んで形成される。   When the application of the ink for forming any of the red light emitting layer, the green light emitting layer, and the blue light emitting layer to the substrate 100x is completed, next, another color ink is applied to the substrate, and then the substrate The process of applying the third color ink is repeatedly performed to sequentially apply the three color inks. Thus, on the substrate 100x, a red light emitting layer, a green light emitting layer, and a blue light emitting layer are repeatedly formed side by side in the horizontal direction of the drawing.

[電子輸送層124の形成]
発光層123を形成した後、用い表示パネル10の全面わたって、真空蒸着法などにより電子輸送層124を形成する(図8(b))。真空蒸着法を用いる理由は有機膜である発光層123に損傷を与えないためと、高真空化で行う真空蒸着法は成膜対象の分子が基板に向かって垂直方向に直進的に成膜されるためである、
電子輸送層124は、柱状絶縁体230の上面230aや柱状絶縁体230が設けられていない補助電極200上面の柱状絶縁体230間の間隙底部200bにも形成され、その際、柱状絶縁体230の側壁230cの近傍のコンタクト面200cに位置する一部分が欠落(段切れ)して、電子輸送層124が形成されない欠落部124aが生じる。そして、欠落部124aより補助電極200の接触層202の一部が露出する。欠落部124aより補助電極200の接触層202が露出している部分をコンタクト面200cとする。
[Formation of Electron Transport Layer 124]
After the formation of the light emitting layer 123, the electron transport layer 124 is formed over the entire surface of the display panel 10 using a vacuum evaporation method or the like (FIG. 8B). The reason for using the vacuum evaporation method is to prevent damage to the light-emitting layer 123 which is an organic film, and in the vacuum evaporation method performed under a high vacuum, molecules to be formed are formed in a straight line in a vertical direction toward a substrate. Because
The electron transport layer 124 is also formed on the upper surface 230a of the columnar insulator 230 and the gap bottom 200b between the columnar insulators 230 on the upper surface of the auxiliary electrode 200 where the columnar insulator 230 is not provided. A portion of the contact surface 200c near the side wall 230c is cut off (stepped), and a cutout portion 124a in which the electron transport layer 124 is not formed occurs. Then, a part of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is exposed from the missing portion 124a. A portion where the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is exposed from the missing portion 124a is defined as a contact surface 200c.

あるいは、電子輸送層124の欠落には至らないものの、電子輸送層124が薄層化している部分において、それ以外の電子輸送層124の部分よりも低い抵抗にて補助電極200に電気的に接続されている。
本明細書では、欠落部124aより補助電極200の接触層202が露出している部分の他、電子輸送層124が薄層化しそれ以外の電子輸送層124の部分よりも低い抵抗にて補助電極200に電気的に接続されている部分をコンタクト面200cとする
電子輸送層124の膜厚が過度に薄いと、共通電極125から発光層123へ電子が直接移動し、発光層123への電子の注入を制限する機能を果たせない。従って、電子輸送層124の膜厚を10nm以上に形成することが好ましい。一方、電子輸送層124の厚膜化は、電子輸送層124の透過率を低下させ、段切れの発生を阻害する。電子輸送層124を通過する光を過度に減衰させないため、かつ、補助電極200の貫通孔122Ya内の補助電極200上において意図的に段切れを発生させるため、電子輸送層124の膜厚を40nm以下に形成することが好ましい。電子輸送層124の膜厚は、一例であり、上記数値に限られるものではなく、光学的な光取り出しとして最も有利となる適切な膜厚とする。
Alternatively, although the electron transport layer 124 is not lost, the portion where the electron transport layer 124 is thinner is electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower resistance than the other portions of the electron transport layer 124. Have been.
In this specification, in addition to the portion where the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is exposed from the missing portion 124a, the thickness of the electron transport layer 124 is reduced, and the auxiliary electrode is formed with a lower resistance than the other portions of the electron transport layer 124. If the thickness of the electron transporting layer 124 is excessively small, the electrons directly move from the common electrode 125 to the light emitting layer 123, and the electrons are transferred to the light emitting layer 123. Inability to function to limit injection. Therefore, it is preferable that the electron transport layer 124 be formed to a thickness of 10 nm or more. On the other hand, increasing the thickness of the electron transport layer 124 lowers the transmittance of the electron transport layer 124 and inhibits the occurrence of disconnection. In order not to excessively attenuate the light passing through the electron transport layer 124 and to intentionally generate a step on the auxiliary electrode 200 in the through hole 122Ya of the auxiliary electrode 200, the thickness of the electron transport layer 124 is set to 40 nm. It is preferably formed below. The film thickness of the electron transport layer 124 is an example, and is not limited to the above value, and is set to an appropriate film thickness that is most advantageous for optical light extraction.

欠落部124aが生じる理由については後述する。
[共通電極125の形成]
電子輸送層124を形成した後、電子輸送層124を被覆するように、共通電極125を形成する(図8(d))。共通電極125は、基板100x側から順に金属を主成分とする共通電極125Aと、共通電極125A上に積層された金属酸化物からなる共通電極125Bとを含む。
The reason why the missing portion 124a occurs will be described later.
[Formation of Common Electrode 125]
After forming the electron transport layer 124, a common electrode 125 is formed so as to cover the electron transport layer 124 (FIG. 8D). The common electrode 125 includes, in order from the substrate 100x side, a common electrode 125A mainly composed of a metal, and a common electrode 125B made of a metal oxide laminated on the common electrode 125A.

このうち、先ず、共通電極125Aは、電子輸送層124を被覆するように、CVD(Chemical Vapor Deposition)法、スパッタリング法、又は真空蒸着法により形成する。本例では、共通電極125Aを真空蒸着法により銀を堆積することにより形成する構成としている。
次に、共通電極125Bは、共通電極125A上にスパッタリング法などにより形成する。本例では、共通電極125Bはスパッタリング法を用いてITO又はIZOなどの透明導電層を形成する構成としている。
First, the common electrode 125A is formed by a CVD (Chemical Vapor Deposition) method, a sputtering method, or a vacuum evaporation method so as to cover the electron transport layer 124. In this example, the common electrode 125A is formed by depositing silver by a vacuum evaporation method.
Next, the common electrode 125B is formed over the common electrode 125A by a sputtering method or the like. In this example, the common electrode 125B has a structure in which a transparent conductive layer such as ITO or IZO is formed by a sputtering method.

共通電極125は、、柱状絶縁体230の上面230aや側壁230c上、圃場間隙522zA内の電子輸送層124上や補助電極200上にも形成される。その際、共通電極125は、電子輸送層124の欠落部124a内に回り込み、電子輸送層124の欠落部分において露出している補助電極200のコンタクト面200cに直接接触するように成膜する。これより、補助間隙522zA内において列方向に延伸する電子輸送層124の一部が欠落した欠落部124cを通して、補助電極200の一部と共通電極125とを確実にコンタクトされることができ、補助電極200と共通電極125とを電気的な接続を確保することができる。   The common electrode 125 is also formed on the upper surface 230a and the side wall 230c of the columnar insulator 230, on the electron transport layer 124 in the field gap 522zA, and on the auxiliary electrode 200. At this time, the common electrode 125 is formed so as to go into the cutout portion 124a of the electron transport layer 124 and directly contact the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 exposed at the cutout portion of the electron transport layer 124. Thus, a part of the auxiliary electrode 200 and the common electrode 125 can be reliably contacted through the missing portion 124c in which a part of the electron transport layer 124 extending in the column direction is extended in the auxiliary gap 522zA. Electrical connection between the electrode 200 and the common electrode 125 can be secured.

あるいは、共通電極125は、電子輸送層124が薄層化している部分(薄層化部)に回り込み、それ以外の電子輸送層124の部分よりも低い抵抗にて補助電極200に電気的に接続される。
共通電極125が過度に薄いと、段切れ発生の要因にもなるため、共通電極125は膜厚を25nm以上に形成することが好ましい。一方、共通電極125の厚膜化は、共通電極125の透過率を低下させるため、共通電極125は膜厚を250nm以下に形成することが好ましい。
Alternatively, the common electrode 125 wraps around a portion (thinned portion) where the electron transport layer 124 is thinned, and is electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower resistance than the other portions of the electron transport layer 124. Is done.
If the common electrode 125 is excessively thin, it may cause disconnection, so the common electrode 125 is preferably formed to have a thickness of 25 nm or more. On the other hand, since increasing the thickness of the common electrode 125 lowers the transmittance of the common electrode 125, the common electrode 125 is preferably formed to have a thickness of 250 nm or less.

ここで、共通電極125の形成方法について、さらに説明する。
まず、図9を用いて、スパッタ装置600の概略構成について説明する。スパッタ装置600は、基板受け渡し室610、成膜室620、ロードロック室630を有し、成膜室620内で、マグネトロンスパッタ法によりスパッタリングを行う。成膜室620には、スパッタリングガスが導入されている。スパッタリングガスには、Ar(アルゴン)等の不活性ガスが用いられる。本実施形態においては、Arが用いられる。
Here, a method of forming the common electrode 125 will be further described.
First, a schematic configuration of the sputtering apparatus 600 will be described with reference to FIG. The sputtering apparatus 600 includes a substrate transfer chamber 610, a film formation chamber 620, and a load lock chamber 630, and performs sputtering by a magnetron sputtering method in the film formation chamber 620. A sputtering gas is introduced into the film formation chamber 620. An inert gas such as Ar (argon) is used as the sputtering gas. In the present embodiment, Ar is used.

スパッタ装置600内のキャリア621には、成膜対象の基板622が設置される。基板622は、基板受け渡し室610において、基板突き上げ機構611によりキャリア621に装着される。基板622が装着されたキャリア621は、基板受け渡し室610か
ら成膜室620を経由してロードロック室630まで、搬送路601上を一定の速度で直線移動する。本実施形態においては、キャリア621の移動速度は30mm/sである。なお、基板622は加温せず、常温でスパッタリングが行われる。
On the carrier 621 in the sputtering apparatus 600, a substrate 622 to be formed is set. The substrate 622 is mounted on the carrier 621 by the substrate push-up mechanism 611 in the substrate transfer chamber 610. The carrier 621 on which the substrate 622 is mounted moves linearly at a constant speed on the transfer path 601 from the substrate transfer chamber 610 to the load lock chamber 630 via the film formation chamber 620. In the present embodiment, the moving speed of the carrier 621 is 30 mm / s. Note that the substrate 622 is not heated but is sputtered at room temperature.

成膜室620内には、搬送路601に対して直交する方向に延びる、棒状のターゲット623が設置されている。本実施の形態においては、ターゲット623は、ITOである。なお、ターゲット623は、棒状である必要はなく、例えば、粉末状であってもよい。
電源624は、ターゲット623に対して電圧を印加する。なお、図12では電源624は交流電源であるが、直流電源、または、直流/交流のハイブリッド電源であってもよい。
A rod-shaped target 623 extending in a direction orthogonal to the transport path 601 is provided in the film forming chamber 620. In the present embodiment, the target 623 is ITO. The target 623 does not need to be in the shape of a rod, but may be in the form of a powder, for example.
The power supply 624 applies a voltage to the target 623. In FIG. 12, the power supply 624 is an AC power supply, but may be a DC power supply or a DC / AC hybrid power supply.

排気系61によりスパッタ装置600内を排気し、ガス供給系62により成膜室620内にスパッタリングガスを導入する。電源624によりターゲット623に電圧を印加すると、スパッタリングガスのプラズマが発生し、ターゲット623の表面がスパッタされる。そして、スパッタされたターゲット623の原子を基板622上に堆積させることにより成膜する。   The inside of the sputtering apparatus 600 is exhausted by the exhaust system 61, and a sputtering gas is introduced into the film forming chamber 620 by the gas supply system 62. When a voltage is applied to the target 623 by the power supply 624, plasma of a sputtering gas is generated and the surface of the target 623 is sputtered. Then, a film is formed by depositing atoms of the sputtered target 623 on the substrate 622.

なお、スパッタリングガスであるArのガス圧は、例えば、0.6Paであり、流量は100sccmである。
[封止層126の形成]
共通電極125を形成した後、共通電極125を被覆するように、封止層126を形成する(図8(d))。封止層126は、CVD法、スパッタリング法などを用い形成できる。
The gas pressure of Ar, which is a sputtering gas, is, for example, 0.6 Pa, and the flow rate is 100 sccm.
[Formation of Sealing Layer 126]
After forming the common electrode 125, a sealing layer 126 is formed so as to cover the common electrode 125 (FIG. 8D). The sealing layer 126 can be formed by a CVD method, a sputtering method, or the like.

[カラーフィルタ基板131の形成]
次に、カラーフィルタ基板131の製造工程を例示する。
透明な上部基板130を準備し、紫外線硬化樹脂(例えば紫外線硬化アクリル樹脂)材料を主成分とし、これに黒色顔料を添加してなる遮光層の材料(133X)を透明な上部基板130の一方の面に塗布する(図10(a))。
[Formation of Color Filter Substrate 131]
Next, a manufacturing process of the color filter substrate 131 will be exemplified.
A transparent upper substrate 130 is prepared, and a light-shielding layer material (133X) made of a UV-curable resin (for example, UV-curable acrylic resin) as a main component and a black pigment added thereto is added to one of the transparent upper substrates 130. It is applied to the surface (FIG. 10A).

塗布した遮光層の材料の膜133´の上面に所定の開口部が施されたパターンマスクPMを重ね、その上から紫外線照射を行う(図10(b))。
その後、パターンマスクPM及び未硬化の遮光層133を除去して現像し、キュアすると、例えば、概矩形状の断面形状の遮光層133が完成する(図10(c))。
次に、遮光層133を形成した上部基板130表面に、紫外線硬化樹脂成分を主成分とするカラーフィルタ層132(例えば、G)の材料132Gを塗布し(図10(d))、所定のパターンマスクPMを載置し、紫外線照射を行う(図10(e))。
A pattern mask PM having a predetermined opening is superimposed on the upper surface of the applied film 133 'made of the material of the light shielding layer, and ultraviolet light is irradiated from above (FIG. 10B).
Thereafter, the pattern mask PM and the uncured light-shielding layer 133 are removed, developed, and cured to complete the light-shielding layer 133 having, for example, a substantially rectangular cross-sectional shape (FIG. 10C).
Next, a material 132G of a color filter layer 132 (for example, G) mainly containing an ultraviolet curable resin component is applied to the surface of the upper substrate 130 on which the light shielding layer 133 is formed (FIG. 10D), and a predetermined pattern is formed. The mask PM is placed, and ultraviolet irradiation is performed (FIG. 10E).

その後はキュアを行い、パターンマスクPM及び未硬化のペースト132Gを除去して現像すると、カラーフィルタ層132Gが形成される(図10(f))。
この工程を各色のカラーフィルタ材料について同様に繰り返すことで、カラーフィルタ層132R、132Bを形成する(図10(g))。以上でカラーフィルタ基板131が形成される。
Thereafter, curing is performed, and the pattern mask PM and the uncured paste 132G are removed and developed, whereby a color filter layer 132G is formed (FIG. 10F).
This process is repeated for each color filter material to form color filter layers 132R and 132B (FIG. 10 (g)). Thus, the color filter substrate 131 is formed.

[カラーフィルタ基板131と背面パネルとの貼り合わせ]
次に、基板100xから封止層126までの各層からなる背面パネルに、アクリル樹脂、シリコン樹脂、エポキシ樹脂などの紫外線硬化型樹脂を主成分とする接合層127の材料を塗布する(図11(a))。
続いて、塗布した材料に紫外線照射を行い、背面パネルとカラーフィルタ基板131との相対的位置関係を合せた状態で両基板を貼り合わせる。このとき、両者の間にガスが入らないように注意する。その後、両基板を焼成して封止工程を完了すると、表示パネル10が完成する(図11(b))。
[Lamination of color filter substrate 131 and rear panel]
Next, the material of the bonding layer 127 mainly composed of an ultraviolet curable resin such as an acrylic resin, a silicon resin, or an epoxy resin is applied to the back panel including the layers from the substrate 100x to the sealing layer 126 (FIG. 11 ( a)).
Subsequently, the applied material is irradiated with ultraviolet light, and the substrates are bonded together in a state where the relative positional relationship between the back panel and the color filter substrate 131 is matched. At this time, care is taken so that gas does not enter between them. After that, when both substrates are fired to complete the sealing step, the display panel 10 is completed (FIG. 11B).

<補助電極200と共通電極125とを直接接触させる構成>
[真空蒸着における段切れの発生]
以上、説明したように、表示パネル10では、真空蒸着法などにより電子輸送層124を成膜する際に、補助電極200の接触層202上面の隣接する柱状絶縁体230の間隙230bの底部200bにおける、柱状絶縁体230の側壁230c近傍に位置する一部分が欠落(段切れ)して、間隙底部200bの側壁230c近傍に電子輸送層124が形成されない欠落部124aが生じ、欠落部124aより補助電極200の間隙底部200bの一部が露出する。以下、電子輸送層124を成膜する際に、欠落部124aが生じる理由について説明する。
<A configuration in which the auxiliary electrode 200 and the common electrode 125 are in direct contact with each other>
[Generation of disconnection in vacuum deposition]
As described above, in the display panel 10, when the electron transport layer 124 is formed by the vacuum evaporation method or the like, the bottom 200 b of the gap 230 b between the adjacent columnar insulators 230 on the upper surface of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is formed. In addition, a portion of the columnar insulator 230 located near the side wall 230c is dropped (stepped), and a missing portion 124a where the electron transport layer 124 is not formed is formed near the sidewall 230c of the gap bottom portion 200b, and the auxiliary electrode 200 is removed from the missing portion 124a. A portion of the gap bottom 200b is exposed. Hereinafter, the reason why the missing portion 124a occurs when the electron transport layer 124 is formed will be described.

図12は、電子輸送層124の成膜に用いる蒸着装置500を示す模式図である。図12に示すように、蒸着装置500は、チャンバ510を備えている。チャンバ510におけるチャンバ排気口510aには真空ポンプ(不図示)が接続され、チャンバ510の中を真空に維持できるように構成されている。チャンバ510の内部空間は、仕切板520によって上下に仕切られ、仕切板520の上を基板100xが搬送されるようになっている。チャンバ510の側壁には、基板100xをチャンバ510内に搬入する搬入口511bと、基板100xをチャンバ510から搬出する搬出口511cが設けられている。基板100xは搬送手段512によって、搬入口511bから間欠的にチャンバ510内に搬入され、仕切板520上を通過して搬出口511cから搬出される。   FIG. 12 is a schematic diagram illustrating a vapor deposition device 500 used for forming the electron transport layer 124. As shown in FIG. 12, the vapor deposition apparatus 500 includes a chamber 510. A vacuum pump (not shown) is connected to the chamber exhaust port 510a of the chamber 510, and the inside of the chamber 510 can be maintained at a vacuum. The internal space of the chamber 510 is vertically divided by a partition plate 520, and the substrate 100x is transported on the partition plate 520. On the side wall of the chamber 510, a carry-in port 511b for carrying the substrate 100x into the chamber 510 and a carry-out port 511c for carrying out the substrate 100x from the chamber 510 are provided. The substrate 100x is intermittently carried into the chamber 510 from the carry-in port 511b by the carrying means 512, passes over the partition plate 520, and is carried out from the carry-out port 511c.

チャンバ510内における仕切板520の下方には、蒸着物質を噴出させる蒸着源530が設置されている。蒸着源530はヒータ540を備えており、加熱により蒸着源530から噴出させる蒸着物質は、例えば、有機EL素子の機能層を形成する物質であって、有機物、無機物あるいは金属である。有機物としては、例えば、有機EL素子の機能層を形成する材料であり、例えば、オキサジアゾール誘導体(OXD)、トリアゾール誘導体(TAZ)、フェナンスロリン誘導体(BCP、Bphen)などが挙げられる。無機物としては、例えば、アルカリ金属、または、アルカリ土類金属から選択されるドープ金属が挙げられる。また、陽極を形成するためには、Alをはじめとして、Ba、Ni、Li、Mg、Au、Agなどの金属材料、MgF2、SiO2、Cr23などの金属酸化物材料が挙げられる。 Below the partition plate 520 in the chamber 510, an evaporation source 530 for ejecting an evaporation material is provided. The evaporation source 530 includes a heater 540, and the evaporation material ejected from the evaporation source 530 by heating is, for example, a substance that forms a functional layer of an organic EL element, and is an organic substance, an inorganic substance, or a metal. The organic substance is, for example, a material for forming a functional layer of an organic EL element, and includes, for example, an oxadiazole derivative (OXD), a triazole derivative (TAZ), and a phenanthroline derivative (BCP, Bphen). Examples of the inorganic substance include a doped metal selected from an alkali metal and an alkaline earth metal. In addition, in order to form the anode, metal materials such as Al, Ba, Ni, Li, Mg, Au, and Ag, and metal oxide materials such as MgF 2 , SiO 2 , and Cr 2 O 3 can be used. .

仕切板520には、この蒸着源530から放出される蒸着物質が通過する窓520aが開設され、この窓520aはシャッタ521によって開閉できるようになっている。このような蒸着装置500において、シャッタ521を開いた状態で、蒸着源530から蒸着物質を噴出しながら、基板100xを搬送することによって、蒸着源530から噴出される蒸着物質が窓520aを通って、基板100xの下面に蒸着される。このとき、蒸着源530と窓520aとの位置関係は、蒸着源530の中心から窓520aの中心を通る直線は基板100xの法線に対し角度θだけ傾いた状態を保持している。これにより、蒸着物質は蒸着時間を通して平均角度θの入射角にて基板100xに蒸着される。   The partition plate 520 is provided with a window 520a through which the deposition material emitted from the deposition source 530 passes, and the window 520a can be opened and closed by a shutter 521. In such a vapor deposition apparatus 500, while the shutter 521 is opened, the substrate 100x is conveyed while the vapor deposition material is being ejected from the vapor deposition source 530, so that the vapor deposition material ejected from the vapor deposition source 530 passes through the window 520a. Is deposited on the lower surface of the substrate 100x. At this time, the positional relationship between the deposition source 530 and the window 520a is such that a straight line passing from the center of the deposition source 530 to the center of the window 520a is inclined by an angle θ with respect to the normal to the substrate 100x. Accordingly, the deposition material is deposited on the substrate 100x at an incident angle of the average angle θ throughout the deposition time.

チャンバ510の内部には、蒸着源530から基板100xに向けて蒸着物質が単位時間当たりに供給される量(蒸発レート)を測定するセンサ550が設置されている。センサ550によって測定される蒸着物質の蒸発レートを参照することによって、基板100xを搬送する速度などが設定される。なお、蒸着物質を基板100xにパターン蒸着する場合には、パターンが形成されたマスクを基板100xの下面側に設けて蒸着が行われる。   Inside the chamber 510, a sensor 550 for measuring an amount (evaporation rate) of the evaporation material supplied per unit time from the evaporation source 530 toward the substrate 100x is provided. By referring to the evaporation rate of the deposition material measured by the sensor 550, the speed at which the substrate 100x is transported is set. In the case where a deposition material is pattern-deposited on the substrate 100x, the deposition is performed by providing a mask on which a pattern is formed on the lower surface side of the substrate 100x.

図13は、共通電極125成膜後の図4に示した補助電極200周辺の拡大図である。蒸着装置500を用いた電子輸送層124の成膜工程では、図12に示すように、基板100xに対する法線から角度θだけ傾いた位置に中心が配された蒸着源530を用いて蒸着が行われる。真空度が高い雰囲気で蒸着を行う真空蒸着法では蒸着物質は雰囲気中を直進する。蒸着装置500においては、蒸着物質は基板に対し角度θだけ傾いた蒸着源530の方向から蒸着物質が供給され基板100x上に堆積する。   FIG. 13 is an enlarged view around the auxiliary electrode 200 shown in FIG. 4 after the formation of the common electrode 125. In the film formation process of the electron transport layer 124 using the vapor deposition device 500, as shown in FIG. 12, vapor deposition is performed using a vapor deposition source 530 whose center is located at a position inclined by an angle θ from the normal to the substrate 100x. Will be In a vacuum deposition method in which deposition is performed in an atmosphere having a high degree of vacuum, a deposition material goes straight in the atmosphere. In the vapor deposition device 500, the vapor deposition material is supplied from the direction of the vapor deposition source 530 inclined by the angle θ with respect to the substrate, and is deposited on the substrate 100x.

表示パネル10では、上述のとおり、補助電極200上面に掲載された隣接する柱状絶縁体230の間には間隙230bが形成されている。間隙230bの開口の幅は、柱状絶縁体230の底面における幅W0は柱状絶縁体230の上面の高さにおける幅W0´に対し、W0´<W0であって、柱状絶縁体230の側壁230cの接触層202表面に対する傾斜角φは90°より大きく140°以下となるよう構成されている。 In the display panel 10, as described above, the gap 230b is formed between the adjacent columnar insulators 230 provided on the upper surface of the auxiliary electrode 200. The width of the opening of the gap 230b is such that the width W 0 at the bottom surface of the columnar insulator 230 is W 0 ′ <W 0 with respect to the width W 0 ′ at the height of the upper surface of the columnar insulator 230, and Of the side wall 230c with respect to the surface of the contact layer 202 is larger than 90 ° and equal to or smaller than 140 °.

また、柱状絶縁体の厚みhに対する隣接する柱状絶縁体230の間隙の幅WOの比率は0.5以上2以下となるよう構成されることが好ましい。
このように、柱状絶縁体230を配置することにより、補助電極200の接触層202の上面における柱状絶縁体230の側壁230c近傍に位置する一部分では電子輸送層124が欠落して、端部124a1、a2間に電子輸送層が形成されない欠落部124aが形成される。欠落部124aでは、補助電極200の接触層202が露出している。
Further, it is preferable that the ratio of the width W O of the gap between the adjacent columnar insulators 230 to the thickness h of the columnar insulators be 0.5 or more and 2 or less.
By arranging the columnar insulator 230 in this manner, the electron transport layer 124 is missing in a portion of the upper surface of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 near the side wall 230c of the columnar insulator 230, and the end portions 124a1, A gap 124a where no electron transport layer is formed is formed between a2. In the missing portion 124a, the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is exposed.

また、電子輸送層124bは、柱状絶縁体230間の間隙230bの底面における補助電極200上面の間隙底部200b内の欠落部124a下方を除く部分200a(遮蔽部)には形成される。この部分は、端部124a2、a2間に位置する。
このように、電子輸送層124は、柱状絶縁体230間の間隙230bの底面における補助電極200上面の間隙底部200b内において段切れしてコンタクト面200cが露出するように、比較的ステップカバレッジの劣る成膜方法(例えば、真空蒸着法)により形成される。
Further, the electron transport layer 124b is formed in a portion 200a (shielding portion) of the bottom surface of the gap 230b between the columnar insulators 230 except for a portion below the cutout 124a in the gap bottom 200b on the upper surface of the auxiliary electrode 200. This portion is located between the ends 124a2, a2.
As described above, the electron transport layer 124 has relatively poor step coverage such that the contact surface 200c is exposed by stepping in the gap bottom 200b on the upper surface of the auxiliary electrode 200 on the bottom surface of the gap 230b between the columnar insulators 230. It is formed by a film forming method (for example, a vacuum evaporation method).

以上のとおり、実施の形態に係る表示パネル10の製造方法によると、共通電極125は電子輸送層124の欠落部124aに回り込むよう、補助電極200のコンタクト面200cに接触して形成される。これにより、発光層上の電子輸送層を共通層として成膜できるので、電子輸送層形成工程におけるマスク成膜などのパターニングが不要となり、簡易な製造プロセスを用いて、共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減できる。   As described above, according to the method of manufacturing the display panel 10 according to the embodiment, the common electrode 125 is formed in contact with the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 so as to go around the missing portion 124a of the electron transport layer 124. Thereby, the electron transport layer on the light emitting layer can be formed as a common layer, so that patterning such as mask formation in the electron transport layer forming step is not required, and the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200 can be formed using a simple manufacturing process. The electrical resistance in the electrical connection with the substrate can be reduced.

また、電子輸送層124の欠落部124aが欠落には至らず薄層化している薄層化部についても、欠落部124aが生じる理由により電子輸送層124の一部分が欠落するには至らないものの段切れにより薄層化することにより生じる。この場合にも、共通電極125は、補助電極200上における電子輸送層124の薄層化している薄層化部において、薄層化部以外よりも低い電気抵抗にて補助電極200に電気的に接続される。   In the thinned portion in which the missing portion 124a of the electron transport layer 124 is not thinned but not thinned out, a portion of the electron transporting layer 124 cannot be lost due to the formation of the missing portion 124a. It is caused by thinning due to cutting. Also in this case, the common electrode 125 is electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower electric resistance in the thinned part of the electron transport layer 124 on the auxiliary electrode 200 than in the thinned part. Connected.

ここで、上述のとおり、補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい材料から構成されているとともに、バンク122の形成や柱状絶縁体230の形成など焼成を伴うプロセスは、接触層202形成後に行われる工程順となる。そのため、補助電極200のコンタクト面200cが以降の製造プロセスにおいて酸化されることが抑制され、製造された表示パネル10において、欠落部124aを通した共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減できる。   Here, as described above, the auxiliary electrode 200 is made of a material that is harder to be oxidized than the constituent material of the lower layer 201, and a process involving firing such as formation of the bank 122 and formation of the columnar insulator 230 is performed by the contact layer 202. This is the order of steps performed after the formation. Therefore, the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 is suppressed from being oxidized in the subsequent manufacturing process, and in the manufactured display panel 10, the electrical connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200 through the missing portion 124a is reduced. Electric resistance can be reduced.

[スパッタリング法やCVD法における回り込みの発生]
共通電極125を、CVD法、スパッタリング法などにより成膜する際に、共通電極125は、電子輸送層124の欠落部124a内に回り込み、電子輸送層124の欠落部分より露出している補助電極200のコンタクト面200cに直接接触する。以下、共通電極125の成膜について説明する。
[Wrap around in sputtering or CVD]
When the common electrode 125 is formed by a CVD method, a sputtering method, or the like, the common electrode 125 wraps around the missing portion 124a of the electron transport layer 124 and is exposed from the missing portion of the electron transport layer 124. Directly in contact with the contact surface 200c. Hereinafter, the formation of the common electrode 125 will be described.

共通電極125は、ステップカバレッジの優れた成膜方法(例えば、スパッタリング法やCVD法)により成膜されることにより、電子輸送層124の欠落部124a(端部124a1、a2間)に回り込んで形成される。その結果、図13に示すように、共通電極125は、柱状絶縁体230の間隙230b内の補助電極200上における電子輸送層124の欠落部124a(端部124a1、a2間)において露出している補助電極200の接触層202と直接接触するように形成される。   The common electrode 125 is formed by a film formation method with excellent step coverage (for example, a sputtering method or a CVD method), so that the common electrode 125 wraps around the missing portion 124a (between the end portions 124a1 and a2) of the electron transport layer 124. It is formed. As a result, as shown in FIG. 13, the common electrode 125 is exposed at the missing portion 124 a (between the ends 124 a 1 and a 2) of the electron transport layer 124 on the auxiliary electrode 200 within the gap 230 b of the columnar insulator 230. It is formed so as to be in direct contact with the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200.

このとき、柱状絶縁体230の厚みhは、500nm以上15000nm以下、より好ましくは1000nm以上10000nm以下の範囲で形成される。また、間隙230bの底面における開口幅W0は、限定されないが2μm以上30μm以下の範囲で形成される。本実施の形態では、厚みhが約5μm、幅W0が6.5μmとしに対し、W0/hが6.5μm/5μm(1.3)としている。 At this time, the thickness h of the columnar insulator 230 is formed in the range of 500 nm to 15000 nm, more preferably, 1000 nm to 10000 nm. The opening width W 0 at the bottom surface of the gap 230b is not limited, but is formed in the range of 2 μm to 30 μm. In the present embodiment, the thickness h is about 5 μm and the width W 0 is 6.5 μm, while W 0 / h is 6.5 μm / 5 μm (1.3).

したがって、柱状絶縁体230の柱状絶縁体230の厚みhに対する間隙230bの開口幅W0の比率は0.5以上2以下に構成されることが好ましい。
このような形状により、補助電極200の上に形成される電子輸送層124は、間隙230b内の間隙底部200bの一部において途切れて(断切れして)欠落部124aが形成される。詳細には、電子輸送層124では、補助電極200のコンタクト面200cが露出するように、端部124a1、a2間が離れて配置される。共通電極125は、この電子輸送層124の端部124a1、a2間の欠落部124aに回り込むように、補助電極200のコンタクト面200cに接触して形成される。あるいは、補助電極200上における電子輸送層124の薄層化部において、薄層化部以外よりも低い電気抵抗にて補助電極200に電気的に接続される。
Accordingly, the ratio of the aperture width W 0 of the gap 230b to the thickness h of the columnar insulator 230 of the columnar insulator 230 is preferably configured to 0.5 to 2.
With such a shape, the electron transport layer 124 formed on the auxiliary electrode 200 is cut off (cut off) at a part of the gap bottom part 200b in the gap 230b to form a missing part 124a. Specifically, in the electron transport layer 124, the end portions 124a1 and a2 are spaced apart such that the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 is exposed. The common electrode 125 is formed in contact with the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 so as to go around the notch 124a between the ends 124a1 and a2 of the electron transport layer 124. Alternatively, in the thinned portion of the electron transport layer 124 on the auxiliary electrode 200, the electron transport layer 124 is electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower electrical resistance than the portions other than the thinned portion.

これにより、補助電極200が、コンタクト面200cを通した接続により補助電極200と共通電極125との接続における電気抵抗を低減することができる。その結果、補助電極200と共通電極125との接合部分での電圧効果が抑制して発光効率を向上させるとともに、画面中央部での輝度低下が抑えられ輝度ムラを低減することができる。
<表示パネル10の効果>
以下、表示パネル10から得られる効果について説明する。
This allows the auxiliary electrode 200 to reduce the electrical resistance in the connection between the auxiliary electrode 200 and the common electrode 125 through the connection through the contact surface 200c. As a result, the voltage effect at the junction between the auxiliary electrode 200 and the common electrode 125 is suppressed to improve the luminous efficiency, and the decrease in luminance at the center of the screen is suppressed, thereby reducing the luminance unevenness.
<Effect of Display Panel 10>
Hereinafter, effects obtained from the display panel 10 will be described.

本実施の形態に係る表示パネル10は、基板上の行方向に隣接する画素電極119の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸して配された補助電極200と、補助電極200上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体230と、発光層123上および複数の柱状絶縁体230に跨って設けられた電子輸送層124と、電子輸送層124上に連続して延伸する状態で設けられた共通電極125と、を備え、補助電極200は、少なくとも柱状絶縁体230が存在しない上面部分202bに、画素電極119の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層202を含み、電子輸送層124は、補助電極100上の柱状絶縁体230の側壁230c近傍に位置する一部分124aが欠落しているか又は薄層化していることを特徴とする。   The display panel 10 according to the present embodiment includes an auxiliary electrode 200 extending in the column direction on at least one of the gaps between the pixel electrodes 119 adjacent in the row direction on the substrate, and an auxiliary electrode 200. A plurality of pillar-shaped insulators 230 are arranged on the light-emitting layer 123 and the plurality of pillar-shaped insulators 230, and a plurality of pillar-shaped insulators 230 are arranged on the electron-transporting layer 124. A common electrode 125 provided in a continuously extending state, and the auxiliary electrode 200 is formed on at least the upper surface portion 202b where the columnar insulator 230 is not present, by a metal or a metal which is less oxidizable than the constituent material of the pixel electrode 119. The electron transport layer 124 includes a contact layer 202 made of an alloy, and the electron transport layer 124 has a portion 124a located near the side wall 230c of the columnar insulator 230 on the auxiliary electrode 100 is missing or missing. Characterized in that it thinned.

また、共通電極125は、電子輸送層124の欠落により露出している接触層202と接触しているか、又は電子輸送層124が薄層化している部分において、それ以外の電子輸送層124の部分よりも低い抵抗にて補助電極200に電気的に接続されていることを特徴とする。
また、補助電極200における柱状絶縁体230が存在しない上面部分202bは、隣接する柱状絶縁体230の間の間隙230bの底部である構成としてもよい。
In addition, the common electrode 125 is in contact with the contact layer 202 which is exposed due to the lack of the electron transport layer 124, or in a portion where the electron transport layer 124 is thinned, a portion of the other electron transport layer 124. It is characterized by being electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower resistance.
Further, the upper surface portion 202b of the auxiliary electrode 200 where the columnar insulator 230 does not exist may be configured as the bottom of the gap 230b between the adjacent columnar insulators 230.

また、補助電極200は、画素電極119の構成材料と同じ材料からなる下層201と、下層201の上面に列方向に延伸して配された接触層202からなる構成としてもよい。
係る構成により、補助電極200の上に形成される電子輸送層124の一部において途切れて(断切れして)一部分が欠落しているか欠落部124a又は薄層化している薄層化部が形成されるとともに、共通電極125は、この電子輸送層124の欠落部124aに回り込むように、補助電極200のコンタクト面200cに接触して形成される。あるいは、電子輸送層124の欠落には至らないものの、電子輸送層124が薄層化している部分において、それ以外の電子輸送層124の部分よりも低い抵抗にて補助電極200に電気的に接続されている。
In addition, the auxiliary electrode 200 may be configured to include a lower layer 201 made of the same material as the constituent material of the pixel electrode 119 and a contact layer 202 extending on the upper surface of the lower layer 201 in the column direction.
With such a configuration, a part of the electron transport layer 124 formed on the auxiliary electrode 200 is interrupted (cut off), a part is missing or a missing part 124a, or a thinned part is formed. At the same time, the common electrode 125 is formed in contact with the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 so as to go around the missing portion 124a of the electron transport layer 124. Alternatively, although the electron transport layer 124 is not lost, the portion where the electron transport layer 124 is thinner is electrically connected to the auxiliary electrode 200 with a lower resistance than the other portions of the electron transport layer 124. Have been.

そのため、簡易な製造プロセスを用いて製造でき、共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減を図り、発光効率を向上させるとともに面内の輝度ムラを抑制した有機EL表示パネルを提供することができる。
また、隣接する柱状絶縁体230の厚みに対する柱状絶縁体230の間隙230bの幅の比率は0.5以上2以下である構成であってもよい。また、電子輸送層124は、柱状絶縁体230の上面230a、及び補助電極200上の柱状絶縁体230が存在しない部分における柱状絶縁体230の側壁230c近傍以外には存在しており、柱状絶縁体230の側壁230c上に位置する部分は欠落しているか又は薄層化している構成であってもよい。
Therefore, an organic EL display panel that can be manufactured using a simple manufacturing process, reduces electric resistance in electrical connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200, improves luminous efficiency, and suppresses in-plane luminance unevenness. Can be provided.
Further, the ratio of the width of the gap 230b of the columnar insulator 230 to the thickness of the adjacent columnar insulator 230 may be 0.5 or more and 2 or less. In addition, the electron transport layer 124 is present on portions other than the upper surface 230a of the columnar insulator 230 and the vicinity of the side wall 230c of the columnar insulator 230 in a portion where the columnar insulator 230 does not exist on the auxiliary electrode 200. The portion of the 230 located on the side wall 230c may be missing or thinned.

係る構成により、専用の工程を設けない簡易な製造プロセスにより、補助電極200上の柱状絶縁体230の側壁230cの近傍に位置する間隙底部200b内において機能層124を段切れさせて欠落部124aを形成し、欠落部124aから補助電極200の接触層202のコンタクト面200が露出する構造を実現することができる。
また、補助電極200のコンタクト面200cは、コンタクト抵抗が小さく、かつ、補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい材料から構成されているので、欠落部124cを通した共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減できる。
With such a configuration, the functional layer 124 is cut off in the gap bottom portion 200b located near the side wall 230c of the columnar insulator 230 on the auxiliary electrode 200 by a simple manufacturing process without providing a dedicated step, thereby forming the missing portion 124a. Thus, a structure in which the contact surface 200 of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 is exposed from the missing portion 124a can be realized.
Further, since the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 is made of a material having a low contact resistance and less oxidized than the constituent material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200, the contact surface 200c is connected to the common electrode 125 through the missing portion 124c. The electric resistance in the electric connection with the auxiliary electrode 200 can be reduced.

本実施の形態に係る有機EL表示パネル10の製造方法は、基板100xを準備する工程と、基板上に複数の画素電極119を行列状に配する工程と、基板上の行方向に隣接する画素電極119の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸する補助電極200を形成する工程と、少なくとも補助電極200上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体230を形成する工程と、各画素電極119上に有機発光材料を含む発光層123を形成する工程と、真空蒸着法により、発光層123上および複数の柱状絶縁体230に跨る電子輸送層124を形成する工程と、スパッタリング法またはCVD法により、電子輸送層124上に連続して延伸する共通電極125を形成する工程とを含み、補助電極200を形成する工程では、少なくとも柱状絶縁体230が存在しない部分200bに、画素電極129の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層202を選択的に形成することを特徴とする。   The method for manufacturing the organic EL display panel 10 according to the present embodiment includes a step of preparing a substrate 100x, a step of arranging a plurality of pixel electrodes 119 in a matrix on the substrate, and a step of forming pixels adjacent to the substrate in a row direction. A step of forming auxiliary electrodes 200 extending in the column direction on at least one of the gaps between the electrodes 119, and a plurality of columnar insulators 230 arranged at least on the auxiliary electrodes 200 in a state of being separated from each other in the column direction. Forming a light-emitting layer 123 containing an organic light-emitting material on each pixel electrode 119, and forming an electron transport layer 124 over the light-emitting layer 123 and over the plurality of columnar insulators 230 by a vacuum deposition method. And forming a common electrode 125 extending continuously on the electron transport layer 124 by a sputtering method or a CVD method to form the auxiliary electrode 200. The extent, in the portion 200b that does not at least columnar insulator 230 is present, and wherein the selectively forming a contact layer 202 made of oxidized refractory metal or an alloy than the material of the pixel electrode 129.

係る構成により、真空蒸着法などにより電子輸送層124を成膜する際に、補助電極200の接触層202上面の隣接する柱状絶縁体230の間隙230bの底部200bにおける、柱状絶縁体230の側壁230c近傍に位置する一部分が欠落(段切れ)して、間隙底部200bの側壁230c近傍に電子輸送層124が形成されない欠落部124aが生じ、欠落部124aより補助電極200の間隙底部200bの一部が露出する。   With this configuration, when the electron transport layer 124 is formed by a vacuum deposition method or the like, the side wall 230 c of the columnar insulator 230 at the bottom 200 b of the gap 230 b between the adjacent columnar insulators 230 on the upper surface of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200. A part located in the vicinity is cut off (stepped), and a cutout 124a in which the electron transport layer 124 is not formed is generated near the side wall 230c of the gap bottom 200b, and a part of the gap bottom 200b of the auxiliary electrode 200 becomes smaller than the cutout 124a. Exposed.

共通電極125は、欠落部124aに回り込むよう、補助電極200のコンタクト面200cに接触して形成される。これにより、発光層123上の電子輸送層124を共通層として成膜できるので、電子輸送層形成工程におけるマスク成膜などのパターニングが不要となり、簡易な製造プロセスを用いて、共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減を図り、発光効率を向上させるとともに輝度ムラを抑制する有機EL表示パネルを製造することができる。   The common electrode 125 is formed in contact with the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 so as to go around the missing portion 124a. Accordingly, the electron transport layer 124 on the light emitting layer 123 can be formed as a common layer, so that patterning such as mask formation in the electron transport layer forming step is not required, and the common electrode 125 and the auxiliary electrode can be formed using a simple manufacturing process. It is possible to manufacture an organic EL display panel in which the electrical resistance in the electrical connection with the electrode 200 is reduced, the luminous efficiency is improved, and the luminance unevenness is suppressed.

また、基板上の行方向に隣接する画素電極119の間隙に列方向に延伸するバンク122を形成する工程を備え、バンク122を形成する工程の後に、接触層202を形成する構成であってもよい。
係る構成により、バンク122の形成など焼成を伴うプロセスは、補助電極200の接触層202形成後に行われる工程順となるため、補助電極200のコンタクト面200cが以降の製造プロセスにおいて酸化されることが抑制され、製造された表示パネル10において、共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減できる。
In addition, the method may include a step of forming a bank 122 extending in a column direction in a gap between pixel electrodes 119 adjacent in a row direction on a substrate, and forming a contact layer 202 after the step of forming the bank 122. Good.
With such a configuration, a process involving baking such as formation of the bank 122 is performed in the order of steps performed after the formation of the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200. Therefore, the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 may be oxidized in a subsequent manufacturing process. In the thus manufactured display panel 10, the electrical resistance in the electrical connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200 can be reduced.

さらに、発光層123形成前に、補助電極200の接触層202やバンク122を形成するため、接触層202やバンク122形成工程において発光層123の耐熱温度以上の熱負荷をかけることが可能となる。
また、発光層123形成前に、補助電極200の接触層202やバンク122を形成するため、水分や酸素に脆弱な発光層が劣化しないように真空環境や窒素環境を用意することが不要となり、一般大気環境で補助電極200形成が行える。
Further, since the contact layer 202 and the bank 122 of the auxiliary electrode 200 are formed before the formation of the light emitting layer 123, it is possible to apply a heat load higher than the heat resistant temperature of the light emitting layer 123 in the step of forming the contact layer 202 and the bank 122. .
Further, since the contact layer 202 and the bank 122 of the auxiliary electrode 200 are formed before the formation of the light emitting layer 123, it is not necessary to prepare a vacuum environment or a nitrogen environment so that the light emitting layer vulnerable to moisture and oxygen does not deteriorate. The auxiliary electrode 200 can be formed in a general atmospheric environment.

また、従来、レーザー光を照射して電子輸送層124など有機機能層の一部を除去する際、除去すべき機能層にレーザー光を照射すると下地となる補助電極200に透過光による損傷が生じ、有機EL素子の性能が低下するという課題があった。レーザー光の照射により補助電極200が損傷した場合には、例えば、バリが出てバリの部分で後工程における封止に欠陥が生じて信頼性が低下したり、補助電極200の膜厚が変化して補助電極200の高抵抗化が生じたり、最悪のケースでは補助電極200が消失して断線による機能低下が生じる場合があった。これに対し、上記製造方法では、レーザー加工等を用いないため、加工時における発塵の発生を防止できる。   Further, conventionally, when a part of the organic functional layer such as the electron transport layer 124 is removed by irradiating a laser beam, irradiating the functional layer to be removed with the laser beam may cause damage to the auxiliary electrode 200 serving as a base by transmitted light. In addition, there is a problem that the performance of the organic EL element is reduced. When the auxiliary electrode 200 is damaged by the irradiation of the laser beam, for example, burrs are generated and defects occur in sealing in a later process at a portion of the burrs, thereby reducing reliability or changing the film thickness of the auxiliary electrode 200. As a result, the resistance of the auxiliary electrode 200 may be increased, and in the worst case, the auxiliary electrode 200 may disappear and the function may be degraded due to disconnection. On the other hand, in the above manufacturing method, since laser processing or the like is not used, generation of dust during processing can be prevented.

また、上部電極低抵抗化のための追加工程が補助電極200の接触層202とバンク122形成の2工程だけであり、簡便に共通電極125の低抵抗化が図ることができる。
また、接触層は、画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金を含むインクを、画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸する列状領域内に塗布しインクに含まれる溶媒を蒸発させることにより形成する構成としてもよい。
Further, the additional process for lowering the resistance of the upper electrode is only two processes of forming the contact layer 202 of the auxiliary electrode 200 and the bank 122, and the resistance of the common electrode 125 can be easily reduced.
In addition, the contact layer is formed by applying an ink containing a metal or an alloy thereof, which is less oxidizable than the constituent material of the pixel electrode, in at least one of the gaps between the pixel electrodes in a row region extending in the row direction. The ink may be formed by evaporating the solvent contained in the ink.

係る構成により、マスク成膜などのパターニングを用いることなく、少なくとも柱状絶縁体230が存在しない下地の上面部分202bに選択的に接触層202を形成することができる。
補助電極200の上に形成される電子輸送層124は、隣接する柱状絶縁体230の間隙230bの間隙底部200bの側壁230c近傍に電子輸送層124が形成されない欠落部124aが形成されるとともに、共通電極125は、この電子輸送層124の欠落部124aに回り込むように、補助電極200のコンタクト面200cに接触して形成される構造を実現できる。
With such a configuration, the contact layer 202 can be selectively formed at least on the upper surface portion 202b of the base where the columnar insulator 230 does not exist without using patterning such as mask film formation.
In the electron transport layer 124 formed on the auxiliary electrode 200, a notch 124 a where the electron transport layer 124 is not formed is formed near the sidewall 230 c of the gap bottom 200 b of the gap 230 b between the adjacent columnar insulators 230, and The electrode 125 can realize a structure formed in contact with the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 so as to go around the missing portion 124a of the electron transport layer 124.

また、補助電極200のコンタクト面200cは、補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい材料から構成されているので、接触層202形成後の製造プロセスにおいて補助電極200のコンタクト面200cの酸化を抑制できる。その結果、製造された表示パネル10において、欠落部124cを通した共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減できる。   Further, since the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 is made of a material that is less oxidized than the constituent material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200, the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 in the manufacturing process after the formation of the contact layer 202 is formed. Oxidation can be suppressed. As a result, in the manufactured display panel 10, the electrical resistance in the electrical connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200 through the missing portion 124 c can be reduced.

また、表示パネル10の製造方法では、発光層123の形成においては、印刷法を用いて画素電極119にのみ発光層123を選択的に形成し、補助電極200の上方には発光層123は形成されない構成としている。
表示パネル10の製造方法では、各色の発光層123R、G、Bは印刷法によりそれぞれの副画素に対応する間隙522zR、G、Bのみに選択的に形成される構成を採る。さらに、発光層123以外に機能層であるホール注入層120B、ホール輸送層121についても、同様に間隙522zR、G、Bのみに選択的に形成される構成を採る。したがって、補助電極200が存在する補助間隙522zAには発光層123が形成されない構成を採ることに対し、マスキング等特段の製造設備や工程を要しない。そのため、表示パネル10の製造方法では、特段の製造コスト等を要することなく発光層123を補助電極200の上方には形成しない構成を実現できる。
In the method of manufacturing the display panel 10, in forming the light emitting layer 123, the light emitting layer 123 is selectively formed only on the pixel electrode 119 using a printing method, and the light emitting layer 123 is formed above the auxiliary electrode 200. The configuration is not performed.
The method of manufacturing the display panel 10 adopts a configuration in which the light emitting layers 123R, G, and B of each color are selectively formed only in the gaps 522zR, G, and B corresponding to the respective sub-pixels by a printing method. Further, in addition to the light emitting layer 123, the hole injection layer 120B and the hole transport layer 121, which are the functional layers, also have a configuration in which the gaps 522zR, G, and B are selectively formed. Therefore, no special manufacturing equipment or process such as masking is required, in contrast to the configuration in which the light emitting layer 123 is not formed in the auxiliary gap 522zA where the auxiliary electrode 200 exists. Therefore, in the method of manufacturing the display panel 10, a configuration in which the light emitting layer 123 is not formed above the auxiliary electrode 200 can be realized without requiring any special manufacturing cost or the like.

<表示装置1の回路構成>
以下では、実施の形態に係る有機EL表示装置1(以後、「表示装置1」と称する)の回路構成について、図11を用い説明する。
図14に示すように、表示装置1は、有機EL表示パネル10(以後、「表示パネル10」と称する)と、これに接続された駆動制御回路部20とを有して構成されている。
<Circuit Configuration of Display Device 1>
Hereinafter, a circuit configuration of the organic EL display device 1 (hereinafter, referred to as “display device 1”) according to the embodiment will be described with reference to FIG.
As shown in FIG. 14, the display device 1 includes an organic EL display panel 10 (hereinafter, referred to as “display panel 10”) and a drive control circuit unit 20 connected thereto.

表示パネル10は、有機材料の電界発光現象を利用した有機EL(Electro Luminescence)パネルであって、複数の有機EL素子が、例えば、マトリクス状に配列され構成されている。駆動制御回路部20は、4つの駆動回路21〜24と制御回路25とにより構成されている。
<表示パネル10の回路構成>
表示パネル10においては、複数の単位画素100eが行列状に配されて表示領域を構成している。各単位画素100eは、3個の有機EL素子、つまり、R(赤)、G(緑)、B(青)の3色に発行する3個の副画素100seから構成される。各副画素100seの回路構成について説明する。図15は、表示装置1に用いる表示パネル10の各副画素100seに対応する有機EL素子100における回路構成を示す回路図である。
The display panel 10 is an organic EL (Electro Luminescence) panel using an electroluminescence phenomenon of an organic material, and is configured by arranging a plurality of organic EL elements, for example, in a matrix. The drive control circuit unit 20 includes four drive circuits 21 to 24 and a control circuit 25.
<Circuit Configuration of Display Panel 10>
In the display panel 10, a plurality of unit pixels 100e are arranged in a matrix to form a display area. Each unit pixel 100e is composed of three organic EL elements, that is, three sub-pixels 100se that issue three colors of R (red), G (green), and B (blue). The circuit configuration of each subpixel 100se will be described. FIG. 15 is a circuit diagram illustrating a circuit configuration of the organic EL element 100 corresponding to each subpixel 100se of the display panel 10 used in the display device 1.

図15に示すように、本実施の形態に係る表示パネル10では、各副画素100seが2つのトランジスタTr1、Tr2と一つのキャパシタC、及び発光部としての有機EL素子部ELとを有し構成されている。トランジスタTr1は、駆動トランジスタであり、トランジスタTr2は、スイッチングトランジスタである。
スイッチングトランジスタTr2のゲートG2は、走査ラインVscnに接続され、ソースS2は、データラインVdatに接続されている。スイッチングトランジスタTr2 のドレインD2は、駆動トランジスタTr1のゲートG1に接続されている。
As shown in FIG. 15, in the display panel 10 according to the present embodiment, each sub-pixel 100se has two transistors Tr1 and Tr2, one capacitor C, and an organic EL element part EL as a light emitting part. Have been. The transistor Tr1 is a driving transistor, and the transistor Tr2 is a switching transistor.
The gate G2 of the switching transistor Tr2 is connected to the scanning line Vscn, and the source S2 is connected to the data line Vdat. The drain D2 of the switching transistor Tr2 is connected to the gate G1 of the driving transistor Tr1.

駆動トランジスタTr1のドレインD1は、電源ラインVaに接続されており、ソースS1は、有機EL素子部ELの画素電極(アノード)に接続されている。有機EL素子部ELにおける共通電極(カソード)は、接地ラインVcatに接続されている。
なお、キャパシタCの第1端は、スイッチングトランジスタTr2のドレインD2及び駆動トランジスタTr1のゲートG1と接続され、キャパシタCの第2端は、電源ラインVaと接続されている。
The drain D1 of the driving transistor Tr1 is connected to the power supply line Va, and the source S1 is connected to the pixel electrode (anode) of the organic EL element unit EL. The common electrode (cathode) in the organic EL element section EL is connected to the ground line Vcat.
The first end of the capacitor C is connected to the drain D2 of the switching transistor Tr2 and the gate G1 of the drive transistor Tr1, and the second end of the capacitor C is connected to the power supply line Va.

表示パネル10においては、隣接する複数の副画素100se(例えば、赤色(R)と緑色(G)と青色(B)の発光色の3つの副画素100se)を組み合せて1つの単位画素100eを構成し、各単位画素100eが分布するように配されて画素領域を構成している。そして、各副画素100seのゲートG2からゲートラインが各々引き出され、表示パネル10の外部から接続される走査ラインVscnに接続されている。同様に、各副画素100seのソースS2からソースラインが各々引き出され表示パネル10の外部から接続されるデータラインVdatに接続されている。   In the display panel 10, one unit pixel 100e is formed by combining a plurality of adjacent sub-pixels 100se (for example, three sub-pixels 100se of red (R), green (G), and blue (B) emission colors). Then, the unit pixels 100e are arranged so as to be distributed to form a pixel region. A gate line is drawn out from the gate G2 of each sub-pixel 100se, and is connected to a scanning line Vscn connected from outside the display panel 10. Similarly, source lines are drawn from the source S2 of each sub-pixel 100se and connected to a data line Vdat connected from outside the display panel 10.

また、各副画素100seの電源ラインVa及び各副画素100seの接地ラインVcatは集約されて、表示装置1の電源ライン及び接地ラインに接続されている。
<変形例>
実施の形態に係る表示パネル10を説明したが、本開示は、その本質的な特徴的構成要素を除き、以上の実施の形態に何ら限定を受けるものではない。例えば、実施の形態に対して当業者が各種変形を施して得られる形態や、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で各実施の形態における構成要素及び機能を任意に組み合わせることで実現される形態も本開示に含まれる。以下では、そのような形態の一例として、表示パネル10の変形例を説明する。
(1)変形例1
変形例1に係る表示パネル10Aについて説明する。実施の形態に係る表示パネル10では、補助電極200は、画素電極119の構成材料と同じ材料からなる下層201と、下層201の上面に列方向に延伸して配された、画素電極119の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層202からなり、柱状絶縁体230が接触層202の上方に配された構成としている。すなわち、平面視において柱状絶縁体230と接触層202とが重なっている構成を採る。
The power line Va of each sub-pixel 100se and the ground line Vcat of each sub-pixel 100se are collected and connected to the power line and the ground line of the display device 1.
<Modification>
Although the display panel 10 according to the embodiment has been described, the present disclosure is not limited to the above embodiment at all, except for its essential characteristic components. For example, a form obtained by applying various modifications to the embodiment by a person skilled in the art, and a form realized by arbitrarily combining components and functions in each embodiment without departing from the spirit of the present invention are also included. Included in this disclosure. Hereinafter, a modified example of the display panel 10 will be described as an example of such an embodiment.
(1) Modification 1
A display panel 10A according to Modification 1 will be described. In display panel 10 according to the embodiment, auxiliary electrode 200 has lower layer 201 made of the same material as pixel electrode 119, and pixel electrode 119 formed on upper surface of lower layer 201 so as to extend in the column direction. The contact layer 202 is made of a metal or an alloy thereof that is less likely to be oxidized than a material, and the columnar insulator 230 is disposed above the contact layer 202. That is, a configuration is adopted in which the columnar insulator 230 and the contact layer 202 overlap in plan view.

しかしながら、平面視における補助電極200の接触層202との位置関係については、実施の形態の態様に限定されるものでなく適宜変更した構成としてもよい。図16は、変形例1に係る有機EL表示パネル10Aを図1のA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。図16に示すように、表示パネル10Aでは、補助電極200Aは、柱状絶縁体230が上方に配され、画素電極119の構成材料と同じ材料からなる下層201と、下層201の上面における平面視において柱状絶縁体230が存在しない部分に島状に配された接触層202Aからなる構成を採る。すなわち、補助電極200の接触層202Aは、補助間隙522ZAにおいて柱状絶縁体230が設けられていない補助電極200上面の柱状絶縁体230間の間隙底部200bに島状に配されている。   However, the positional relationship between the auxiliary electrode 200 and the contact layer 202 in plan view is not limited to the mode of the embodiment, and may be appropriately changed. FIG. 16 is a schematic cross-sectional view of the organic EL display panel 10A according to Modification 1 cut along the same position as A1-A1 in FIG. As shown in FIG. 16, in the display panel 10A, the auxiliary electrode 200A has a columnar insulator 230 disposed above and has a lower layer 201 made of the same material as the constituent material of the pixel electrode 119, and an upper surface of the lower layer 201 in plan view. A configuration is adopted in which the contact layer 202A is arranged in an island shape at a portion where the columnar insulator 230 does not exist. That is, the contact layer 202A of the auxiliary electrode 200 is arranged in an island shape at the gap bottom portion 200b between the columnar insulators 230 on the upper surface of the auxiliary electrode 200 where the columnar insulators 230 are not provided in the auxiliary gap 522ZA.

係る表示パネル10Aは、柱状絶縁体230を形成した後に、隣接する柱状絶縁体230の間隙230b内に、補助電極200Aの下層201の構成材料よりも酸化されにくい金属材料を含むインクを塗布した後、溶媒を揮発除去させ、焼成することにより容易に製造することができる。
また、変形例1に係る表示パネル10Aは、実施の形態と同様に、簡易な製造プロセスを用いて製造でき共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗を低減するとともに、接触層202の構成材料の使用量を低減できる。上述のとおり、接触層202Aは、画素電極119の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなり、例えば、銀(Ag)、金(Au)、白金(Pt)等の貴金属又はそれらを主成分とする合金から構成される。そのため、接触層202Aを間隙底部200bにのみ設け柱状絶縁体230底部の共通電極125との接触が得られない部分には使用しない構造を採ることにより、材料コストを低減することができる。
After forming the columnar insulator 230, the display panel 10A is applied with an ink containing a metal material that is less oxidized than the constituent material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200A in the gap 230b between the adjacent columnar insulators 230. It can be easily produced by removing the solvent by volatilization and baking.
Further, the display panel 10A according to the first modification can be manufactured using a simple manufacturing process as in the embodiment, reducing the electrical resistance in the electrical connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200, and reducing the contact layer. The use amount of the constituent material of 202 can be reduced. As described above, the contact layer 202A is made of a metal or an alloy thereof that is less susceptible to oxidation than the constituent material of the pixel electrode 119. For example, a noble metal such as silver (Ag), gold (Au), platinum (Pt), or mainly It is composed of an alloy as a component. Therefore, the material cost can be reduced by adopting a structure in which the contact layer 202A is provided only in the gap bottom 200b and is not used in a portion where the contact with the common electrode 125 cannot be obtained at the bottom of the columnar insulator 230.

また、変形例1に係る表示パネル10Aの製造方法では、基板上の行方向に隣接する画素電極119の間隙に列方向に延伸するバンク122を形成する工程を備え、バンク122の形成及び柱状絶縁体230を形成する形成する工程の後に、接触層202を形成する構成を採る。
これより、柱状絶縁体230の形成など焼成を伴うプロセスは、接触層202形成後に行われる工程順となるため、補助電極200のコンタクト面200cが以降の製造プロセスにおいて酸化されることがより一層抑制される。その結果、製造された表示パネル10において、共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗をさらに低減できる。
Further, the method of manufacturing the display panel 10A according to Modification 1 includes a step of forming the banks 122 extending in the column direction in the gaps between the pixel electrodes 119 adjacent to each other on the substrate in the row direction. After the step of forming the body 230, a configuration of forming the contact layer 202 is adopted.
As a result, since the processes involving firing, such as the formation of the columnar insulator 230, are performed in the order of the steps performed after the formation of the contact layer 202, the oxidation of the contact surface 200c of the auxiliary electrode 200 in the subsequent manufacturing process is further suppressed. Is done. As a result, in the manufactured display panel 10, the electric resistance in the electric connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200 can be further reduced.

(2)変形例2
平面視における補助電極200の接触層202との位置関係については、別の構成を採ってもよい。図17は、変形例2に係る有機EL表示パネル10Bを図1のA1−A1と同じ位置で切断した模式断面図である。図17に示すように、表示パネル10Bでは、補助電極200Bは、画素電極119の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層のみから構成され、列方向に延伸して配され柱状絶縁体230が接触層の上方に配された構成としている。
(2) Modification 2
Regarding the positional relationship between the auxiliary electrode 200 and the contact layer 202 in plan view, another configuration may be adopted. FIG. 17 is a schematic cross-sectional view of the organic EL display panel 10B according to Modification 2 cut at the same position as A1-A1 in FIG. As shown in FIG. 17, in the display panel 10B, the auxiliary electrode 200B is formed of only a contact layer made of a metal or an alloy thereof that is less likely to be oxidized than the constituent material of the pixel electrode 119. The insulator 230 is arranged above the contact layer.

係る表示パネル10Bは、バンク122及び柱状絶縁体230を形成する前に、平坦化層118の上面に補助電極200の下層201の構成材料よりも酸化されにくい金属材料を気相成長法により製膜するか、あるいは、当該金属材料を含むインクを塗布した後、溶媒を揮発除去させ、焼成することにより容易に製造することができる。
係る構成により、実施の形態と同様に、簡易な製造プロセスを用いて製造でき共通電極125と補助電極200との電気的接続における電気抵抗の低減することができる。
Before forming the bank 122 and the columnar insulator 230, the display panel 10B is formed by depositing a metal material that is less oxidizable than the constituent material of the lower layer 201 of the auxiliary electrode 200 on the upper surface of the planarization layer 118 by a vapor deposition method. Alternatively, it can be easily manufactured by applying an ink containing the metal material, and then volatilizing and removing the solvent, followed by baking.
With such a configuration, similarly to the embodiment, it is possible to manufacture using a simple manufacturing process, and it is possible to reduce the electric resistance in the electrical connection between the common electrode 125 and the auxiliary electrode 200.

<その他の変形例>
実施の形態1に係る表示パネル10では、補助間隙522zAに設けられた柱状絶縁体230は、図1、2に示すように、平面視において矩形の断面形状を有する複数の柱状絶縁体230が所定の間隔で列方向に3列に配されている構成としている。しかしながら、柱状絶縁体230は、一列に配されていてもよく、また、2列であってもよい。また、柱状絶縁体230の平面視における断面形状は矩形以外に他の形状であってもよい。
<Other modifications>
In the display panel 10 according to the first embodiment, as illustrated in FIGS. 1 and 2, the columnar insulators 230 provided in the auxiliary gaps 522zA include a plurality of columnar insulators 230 having a rectangular cross-sectional shape in plan view. Are arranged in three rows in the column direction at intervals of. However, the columnar insulators 230 may be arranged in a single row or in two rows. Further, the cross-sectional shape of the columnar insulator 230 in plan view may be another shape other than the rectangular shape.

また、表示パネル10では、発光層123は、行バンク上を列方向に連続して延伸している構成としている。しかしながら、上記構成において、発光層123は、行バンク上において画素ごとに断続している構成としてもよい。
表示パネル10では、行方向に隣接する列バンク522Y間の間隙522zに配された副画素100seの発光層123が発する光の色は互いに異なる構成とし、列方向に隣接する行バンク122X間の間隙に配された副画素100seの発光層123が発する光の色は同じである構成とした。しかしながら、上記構成において、行方向に隣接する副画素100seの発光層123が発する光の色は同じであり、列方向に隣接する副画素100seの発光層123が発する光の色が互いに異なる構成としてもよい。また、行列方向の両方において隣接する副画素100seの発光層123が発する光の色が互いに異なる構成としてもよい。
Further, the display panel 10 has a configuration in which the light emitting layer 123 extends continuously on the row bank in the column direction. However, in the above-described configuration, the light-emitting layer 123 may be configured so as to be intermittent for each pixel on the row bank.
In the display panel 10, the color of light emitted from the light emitting layer 123 of the sub-pixel 100se arranged in the gap 522z between the column banks 522Y adjacent in the row direction is different from each other, and the gap between the row banks 122X adjacent in the column direction is set. Have the same color of light emitted from the light-emitting layer 123 of the sub-pixel 100se arranged in the sub-pixel 100se. However, in the above configuration, the color of light emitted from the light emitting layer 123 of the subpixel 100se adjacent in the row direction is the same, and the color of light emitted from the light emitting layer 123 of the subpixel 100se adjacent in the column direction is different from each other. Is also good. Further, the color of light emitted from the light emitting layer 123 of the adjacent sub-pixel 100se in both the row and column directions may be different from each other.

実施の形態に係る表示パネル10では、画素100eには、赤色画素、緑色画素、青色画素の3種類があったが、本発明はこれに限られない。例えば、発光層が1種類であってもよいし、発光層が赤、緑、青、黄色に発光する4種類であってもよい。
また、上記実施の形態では、画素100eが、マトリクス状に並んだ構成であったが、本発明はこれに限られない。例えば、画素領域の間隔を1ピッチとするとき、隣り合う間隙同士で画素領域が列方向に半ピッチずれている構成に対しても効果を有する。高精細化が進む表示パネルにおいて、多少の列方向のずれは視認上判別が難しく、ある程度の幅を持った直線上(あるいは千鳥状)に膜厚むらが並んでも、視認上は帯状となる。したがって、このような場合も輝度むらが上記千鳥状に並ぶことを抑制することで、表示パネルの表示品質を向上できる。
In the display panel 10 according to the embodiment, the pixel 100e has three types of red pixel, green pixel, and blue pixel, but the present invention is not limited to this. For example, one type of light emitting layer may be used, or four types of light emitting layers that emit red, green, blue, and yellow light may be used.
In the above embodiment, the pixels 100e are arranged in a matrix, but the present invention is not limited to this. For example, when the interval between pixel regions is one pitch, the present invention is also effective for a configuration in which pixel regions are shifted by half a pitch in the column direction between adjacent gaps. In a display panel with higher definition, it is difficult to visually discriminate a slight displacement in the column direction. Even if the film thickness unevenness is arranged on a straight line having a certain width (or in a zigzag shape), the displacement becomes band-like. Therefore, even in such a case, the display quality of the display panel can be improved by suppressing the uneven luminance from being arranged in a staggered manner.

また、上記実施の形態では、画素電極119と共通電極125の間に、ホール注入層120、ホール輸送層121、発光層123及び電子輸送層124が存在する構成であったが、本発明はこれに限られない。例えば、ホール注入層120、ホール輸送層121及び電子輸送層124を用いずに、画素電極119と共通電極125との間に発光層123のみが存在する構成としてもよい。また、例えば、ホール注入層、ホール輸送層、電子輸送層、電子注入層などを備える構成や、これらの複数又は全部を同時に備える構成であってもよい。また、これらの層はすべて有機化合物からなる必要はなく、無機物などで構成されていてもよい。   In the above embodiment, the hole injection layer 120, the hole transport layer 121, the light emitting layer 123, and the electron transport layer 124 exist between the pixel electrode 119 and the common electrode 125. Not limited to For example, a configuration in which only the light emitting layer 123 exists between the pixel electrode 119 and the common electrode 125 without using the hole injection layer 120, the hole transport layer 121, and the electron transport layer 124 may be employed. Further, for example, a configuration including a hole injection layer, a hole transport layer, an electron transport layer, an electron injection layer, and the like, or a configuration including a plurality or all of them at the same time may be used. Further, these layers do not all need to be made of an organic compound, and may be made of an inorganic material or the like.

また、上記実施の形態では、発光層123の形成方法としては、印刷法、スピンコート法、インクジェット法などの湿式成膜プロセスを用いる構成であったが、本発明はこれに限られない。例えば、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、反応性スパッタリング法、イオンプレーティング法、気相成長法等の乾式成膜プロセスを用いることもできる。さらに、各構成部位の材料には、公知の材料を適宜採用することができる。   In the above embodiment, the light emitting layer 123 is formed by a wet film forming process such as a printing method, a spin coating method, or an ink jet method, but the present invention is not limited to this. For example, a dry film formation process such as a vacuum evaporation method, an electron beam evaporation method, a sputtering method, a reactive sputtering method, an ion plating method, and a vapor phase growth method can be used. Further, a known material can be appropriately used as a material of each component.

上記の形態では、EL素子部の下部にアノードである画素電極119が配され、TFTのソース電極に接続された配線110に画素電極119を接続する構成を採用したが、EL素子部の下部に共通電極、上部にアノードが配された構成を採用することもできる。この場合には、TFTにおけるドレインに対して、下部に配されたカソードを接続することになる。   In the above embodiment, the pixel electrode 119 serving as an anode is provided below the EL element portion, and the pixel electrode 119 is connected to the wiring 110 connected to the source electrode of the TFT. It is also possible to adopt a configuration in which the common electrode and the anode are disposed on the upper portion. In this case, the lower cathode is connected to the drain of the TFT.

また、上記実施の形態では、一つの副画素100seに対して2つのトランジスタTr1、Tr2が設けられてなる構成を採用したが、本発明はこれに限定を受けるものではない。例えば、一つのサブピクセルに対して一つのトランジスタを備える構成でもよいし、三つ以上のトランジスタを備える構成でもよい。
さらに、上記実施の形態では、トップエミッション型のEL表示パネルを一例としたが、本発明はこれに限定を受けるものではない。例えば、ボトムエミッション型の表示パネルなどに適用することもできる。その場合には、各構成について、適宜の変更が可能である。
Further, in the above-described embodiment, the configuration is adopted in which two transistors Tr 1 and Tr 2 are provided for one sub-pixel 100 se, but the present invention is not limited to this. For example, a configuration including one transistor for one subpixel or a configuration including three or more transistors may be employed.
Furthermore, in the above embodiment, the top emission type EL display panel is described as an example, but the present invention is not limited to this. For example, the present invention can be applied to a bottom emission type display panel and the like. In that case, each configuration can be appropriately changed.

≪補足≫
以上で説明した実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。
実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、工程、工程の順序などは一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない工程については、より好ましい形態を構成する任意の構成要素として説明される。
≪Supplement≫
Each of the embodiments described above shows a preferred specific example of the present invention.
Numerical values, shapes, materials, constituent elements, arrangement positions and connection forms of constituent elements, steps, order of steps, and the like described in the embodiments are merely examples, and do not limit the present invention. In addition, among the constituent elements in the embodiment, steps not described in the independent claims that indicate the highest concept of the present invention are described as arbitrary constituent elements that constitute a more preferable embodiment.

また、上記の工程が実行される順序は、本発明を具体的に説明するために例示するためのものであり、上記以外の順序であってもよい。また、上記工程の一部が、他の工程と同時(並列)に実行されてもよい。
また、発明の理解の容易のため、上記各実施の形態で挙げた各図の構成要素の縮尺は実際のものと異なる場合がある。また本発明は上記各実施の形態の記載によって限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。
The order in which the above-described steps are performed is merely an example for specifically describing the present invention, and may be any other order. Further, some of the above steps may be performed simultaneously (in parallel) with other steps.
In addition, for easy understanding of the invention, the scales of the components in each of the drawings described in the above embodiments may be different from actual ones. Further, the present invention is not limited by the description of the above embodiments, and can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention.

また、各実施の形態及びその変形例の機能のうち少なくとも一部を組み合わせてもよい。
さらに、本実施の形態に対して当業者が思いつく範囲内の変更を施した各種変形例も本発明に含まれる。
Further, at least a part of the functions of the embodiments and the modifications thereof may be combined.
Further, various modifications in which the present embodiment is modified within a range conceivable by those skilled in the art are also included in the present invention.

本発明に係る有機EL表示パネル、及び有機EL表示装置は、テレビジョンセット、パーソナルコンピュータ、携帯電話などの装置、又はその他表示パネルを有する様々な電子機器に広く利用することができる。   The organic EL display panel and the organic EL display device according to the present invention can be widely used for devices such as a television set, a personal computer, a mobile phone, and other various electronic devices having a display panel.

1 有機EL表示装置
10 有機EL表示パネル
100 有機EL素子
100e 単位画素
100se 副画素
100a 自己発光領域
100b 非自己発光領域
100x 基板(TFT基板)
118 層間絶縁層
119 画素電極
120 ホール注入層
120A ホール注入層(下部層)
120B ホール注入層(上部層)
121 ホール輸送層
122 絶縁層
122X 行絶縁層
122Xb 上面
122Y 列絶縁層
522Y 列バンク
123 発光層
124 電子輸送層
124a 欠落部
124b 堆積部
125 共通電極
126 封止層
127 接合層
128 カラーフィルタ層
130 上部基板
131 CF基板
200 補助電極
200a 遮蔽部
200b 間隙底部
200c コンタクト面
230 柱状絶縁体
230a 上面
230b 柱状絶縁体の間隙
230c 側壁
522z 列バンク間の間隙
522zA 補助間隙
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Organic EL display device 10 Organic EL display panel 100 Organic EL element 100e Unit pixel 100se Subpixel 100a Self-luminous area 100b Non-self-luminous area 100x Substrate (TFT substrate)
118 interlayer insulating layer 119 pixel electrode 120 hole injection layer 120A hole injection layer (lower layer)
120B Hole injection layer (upper layer)
121 Hole transporting layer 122 Insulating layer 122X Row insulating layer 122Xb Upper surface 122Y Column insulating layer 522Y Column bank 123 Light emitting layer 124 Electron transporting layer 124a Missing portion 124b Deposition portion 125 Common electrode 126 Sealing layer 127 Joining layer 128 Color filter layer 130 Upper substrate 131 CF substrate 200 Auxiliary electrode 200a Shielding portion 200b Gap bottom 200c Contact surface 230 Columnar insulator 230a Top surface 230b Columnar insulator gap 230c Side wall 522z Gap between column banks 522zA Auxiliary gap

Claims (15)

基板上に複数の画素電極が行列状に配され、各画素電極上に有機発光材料を含む発光層が配されてなる有機EL表示パネルであって、
前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸して配された補助電極と、
前記補助電極上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体と、
前記発光層上および複数の前記柱状絶縁体に跨って設けられた機能層と、
前記機能層上に連続して延伸する状態で設けられた共通電極と、を備え、
前記補助電極は、少なくとも前記柱状絶縁体が存在しない上面部分に、前記画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層を含み、
前記機能層は、前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍に位置する一部分が欠落しているか又は薄層化しており、
前記共通電極は、前記機能層の欠落により露出している前記接触層と接触するか、前記機能層が薄層化している部分において、それ以外の前記機能層の部分よりも低い抵抗にて前記補助電極に電気的に接続されている
有機EL表示パネル。
An organic EL display panel in which a plurality of pixel electrodes are arranged in a matrix on a substrate, and a light emitting layer containing an organic light emitting material is arranged on each pixel electrode,
An auxiliary electrode extending in a column direction on at least one of gaps between pixel electrodes adjacent to each other in a row direction on the substrate;
A plurality of columnar insulators each arranged on the auxiliary electrode in a state of being separated in the column direction,
A functional layer provided on the light emitting layer and over the plurality of columnar insulators,
A common electrode provided in a state of being continuously extended on the functional layer,
The auxiliary electrode, at least on the upper surface portion where the columnar insulator does not exist, includes a contact layer made of a metal or an alloy thereof that is less oxidized than the constituent material of the pixel electrode,
The functional layer is partially missing or thinner located in the vicinity of the side wall of the columnar insulator on the auxiliary electrode,
The common electrode is in contact with the contact layer that is exposed due to the lack of the functional layer, or in a portion where the functional layer is thinned, with a lower resistance than the other portions of the functional layer. An organic EL display panel electrically connected to the auxiliary electrode.
前記柱状絶縁体が存在しない上面部分は、隣接する前記柱状絶縁体の間の間隙の底部である
請求項1に記載の有機EL表示パネル。
The organic EL display panel according to claim 1, wherein the upper surface portion where the columnar insulator does not exist is a bottom portion of a gap between adjacent columnar insulators.
前記柱状絶縁体の厚みに対する隣接する前記柱状絶縁体の間隙の幅の比率は0.5以上2以下である
請求項1又は2に記載の有機EL表示パネル。
The organic EL display panel according to claim 1, wherein a ratio of a width of a gap between the adjacent columnar insulators to a thickness of the columnar insulator is 0.5 or more and 2 or less.
前記柱状絶縁体の側壁の接触層表面に対する傾斜角は90°より大きく140°以下である
請求項1から3の何れか1項に記載の有機EL表示パネル。
4. The organic EL display panel according to claim 1, wherein an inclination angle of a side wall of the columnar insulator with respect to a contact layer surface is greater than 90 ° and 140 ° or less. 5.
前記機能層は、前記柱状絶縁体の上面、及び前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍以外には存在しており、前記柱状絶縁体の側壁上に位置する部分は欠落しているか又は薄層化している
請求項1から4の何れか1項に記載の有機EL表示パネル。
The functional layer is present on the upper surface of the columnar insulator, and other than near the side wall of the columnar insulator on the auxiliary electrode, and a portion located on the side wall of the columnar insulator is missing or The organic EL display panel according to any one of claims 1 to 4, wherein the organic EL display panel is thin.
前記補助電極は、前記画素電極の構成材料と同じ材料からなる下層と、前記下層の上面に列方向に延伸して配された前記接触層からなる、
請求項1から5の何れか1項に記載の有機EL表示パネル。
The auxiliary electrode includes a lower layer made of the same material as the constituent material of the pixel electrode, and the contact layer that is arranged on the upper surface of the lower layer so as to extend in a column direction.
The organic EL display panel according to claim 1.
前記補助電極は、
前記柱状絶縁体が上方に配され、前記画素電極の構成材料と同じ材料からなる下層と、前記下層の上面における平面視において前記柱状絶縁体が存在しない部分に島状に配された前記接触層からなる、
請求項1から6の何れか1項に記載の有機EL表示パネル。
The auxiliary electrode,
A lower layer made of the same material as the constituent material of the pixel electrode, wherein the columnar insulator is disposed above, and the contact layer disposed in an island shape in a portion of the upper surface of the lower layer where the columnar insulator does not exist in plan view. Consisting of
The organic EL display panel according to claim 1.
前記補助電極は、列方向に延伸する前記接触層のみからなる
請求項1から5の何れか1項に記載の有機EL表示パネル。
The organic EL display panel according to claim 1, wherein the auxiliary electrode includes only the contact layer extending in a column direction.
有機EL表示パネルの製造方法であって、
基板を準備する工程と、
前記基板上に複数の画素電極を行列状に配する工程と、
前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙の内の少なくとも1の間隙上に列方向に延伸する補助電極を形成する工程と、
少なくとも前記補助電極上にそれぞれが列方向に離間した状態で複数配された柱状絶縁体を形成する工程と、
各前記画素電極上に有機発光材料を含む発光層を形成する工程と、
真空蒸着法により、前記発光層上および複数の前記柱状絶縁体に跨る機能層を形成する工程と、
スパッタリング法またはCVD法により、前記機能層上に連続して延伸する共通電極を形成する工程と、
を含み、
前記補助電極を形成する工程では、少なくとも前記柱状絶縁体が存在しない上面部分に、前記画素電極の構成材料よりも酸化しにくい金属又はその合金からなる接触層を形成する
有機EL表示パネルの製造方法。
A method for manufacturing an organic EL display panel,
Preparing a substrate;
Arranging a plurality of pixel electrodes in a matrix on the substrate,
Forming an auxiliary electrode extending in the column direction on at least one of the gaps between the pixel electrodes adjacent in the row direction on the substrate;
Forming a plurality of columnar insulators arranged at least on each of the auxiliary electrodes in a state where they are separated from each other in the column direction;
Forming a light emitting layer containing an organic light emitting material on each of the pixel electrodes;
Forming a functional layer over the light emitting layer and over the plurality of columnar insulators by a vacuum evaporation method;
Forming a common electrode extending continuously on the functional layer by a sputtering method or a CVD method,
Including
In the step of forming the auxiliary electrode, a method for manufacturing an organic EL display panel, wherein a contact layer made of a metal or an alloy thereof that is less oxidizable than the constituent material of the pixel electrode is formed at least on an upper surface where the columnar insulator does not exist. .
さらに、前記基板上の行方向に隣接する画素電極の間隙に列方向に延伸する列バンクを形成する工程を備え、
前記バンクを形成する工程の後に、前記接触層を形成する
請求項9に記載の有機EL表示パネルの製造方法。
A step of forming a column bank extending in a column direction in a gap between pixel electrodes adjacent in a row direction on the substrate;
The method for manufacturing an organic EL display panel according to claim 9, wherein the contact layer is formed after the step of forming the bank.
さらに、前記柱状絶縁体を形成する工程の後に、前記接触層を形成する
請求項10に記載の有機EL表示パネルの製造方法。
The method for manufacturing an organic EL display panel according to claim 10, further comprising forming the contact layer after the step of forming the columnar insulator.
前記機能層を形成する工程では、前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍に位置する一部分が欠落しているか又は薄層化するように前記機能層が形成され、
前記共通電極を形成する工程では、前記機能層の欠落により露出している前記接触層と前記共通電極とが直接接触するように、前記機能層が薄層化している部分ではそれ以外の前記機能層の部分よりも低い抵抗で前記共通電極が前記補助電極に電気的に接続されるように前記共通電極が形成される
請求項9から11の何れか1項に記載の有機EL表示パネルの製造方法。
In the step of forming the functional layer, the functional layer is formed such that a portion of the auxiliary electrode located near the side wall of the columnar insulator is missing or thinned,
In the step of forming the common electrode, the contact layer exposed due to the lack of the functional layer and the common electrode are in direct contact with each other, and in the portion where the functional layer is thinned, The manufacturing of the organic EL display panel according to any one of claims 9 to 11, wherein the common electrode is formed such that the common electrode is electrically connected to the auxiliary electrode with a lower resistance than a layer portion. Method.
前記機能層を形成する工程では、前記柱状絶縁体の上面、及び前記補助電極上の前記柱状絶縁体の側壁近傍以外には存在し、前記柱状絶縁体の側壁上に位置する部分は欠落しているか又は薄層化するように前記機能層が形成される
請求項9から12の何れか1項に記載の有機EL表示パネルの製造方法。
In the step of forming the functional layer, the upper surface of the columnar insulator, and other than the vicinity of the side wall of the columnar insulator on the auxiliary electrode, there is a portion located on the side wall of the columnar insulator is missing The method for manufacturing an organic EL display panel according to any one of claims 9 to 12, wherein the functional layer is formed so as to be thin or thin.
前記柱状絶縁体の厚みに対する隣接する前記柱状絶縁体の間隙の幅の比率は0.5以上2以下である
請求項9から13の何れか1項に記載の有機EL表示パネルの製造方法。
14. The method of manufacturing an organic EL display panel according to claim 9, wherein a ratio of a width of a gap between adjacent columnar insulators to a thickness of the columnar insulator is 0.5 or more and 2 or less.
前記柱状絶縁体の側壁の接触層表面に対する傾斜角は90°より大きく140°以下である
請求項9から14の何れか1項に記載の有機EL表示パネルの製造方法。
The method for manufacturing an organic EL display panel according to any one of claims 9 to 14, wherein an inclination angle of a side wall of the columnar insulator with respect to a contact layer surface is larger than 90 ° and equal to or smaller than 140 °.
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WO2023070521A1 (en) * 2021-10-26 2023-05-04 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Display panel and manufacturing method therefor, and electronic device
JP7451657B2 (en) 2021-12-08 2024-03-18 エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド Electroluminescent display device and method for manufacturing the same

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