JP2020024236A - 液晶光配向用フォトマスク、光配向装置、光配向方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】UV偏光を必要としない光配向法を提案する。【解決手段】液晶光配向用フォトマスク1は、配向膜に光を照射する複数のスリット開口部1Aを備え、複数のスリット開口部1Aは、配向膜表面に光照射領域と遮光領域との境界線を特定方向に沿って形成する複数の線状エッジ1eを備えると共に、少なくとも紫外光を無偏光状態で透過させるピッチ間隔Pを有する。【選択図】図1
Description
本発明は、液晶光配向用フォトマスク、これを用いた光配向装置、光配向方法に関するものである。
液晶分子の配向法は、液晶パネル、光学補償フィルム、光学変換デバイスなど、液晶材料を用いた部品又は装置の製造において、製品の性能や品質を左右する極めて重要な技術である。配向法の一つには、ラビング処理がある。ラビング処理は、基板上に形成された高分子膜(配向膜)の表面を布材などで特定方向に擦ることにより、表面に異方性を付与するものであり、液晶パネルの量産工程で一般に採用されてきた。
ラビング処理は、効果的な配向法ではあるが、配向膜表面の静電破壊やダスト発生による歩留まり低下の問題がある。この問題を解消でき且つより精細な解像度が得られる配向法として、光配向法が提案されており、近年は液晶パネルなどの量産工程で採用されている。
光配向法は、偏光の紫外線を感光性高分子膜(配向膜)上に照射することにより、その照射される感光性高分子膜の感光特性に応じ、偏光軸方向に対して90°回転方向、または、平行方向に、配向膜表面に異方性を発生させて液晶配向能を付与するものである。光配向のために配向膜に照射される光は、波長240nm〜300nmの紫外光であり、且つ、消光比が15:1以上のUV偏光である。このようなUV偏光を得るためには、グリッドを酸化チタン(TiOx)により形成し、グリッドのピッチを100〜150nm程度にした、ワイヤーグリッド型偏光子などが用いられている(下記特許文献1参照)。
前述した従来の光配向法は、消光比の高い偏光の紫外光を配向膜に照射することが必要条件とされており、このUV偏光を得るために、高価且つ製作困難なワイヤーグリッド型偏光子などの光学部品を用いることが不可欠とされていた。特に、ワイヤーグリッド型偏光子は、透過する光の波長よりグリッドのピッチをかなり狭くする必要があるので、波長の短い紫外光を用いる場合には製作が極めて困難になる。
一方、紫外線偏光を感光性高分子膜(配向膜)に照射した場合に生じる表面の変化と液晶分子を並べるための配向規制力発生現象(UV偏光照射による液晶分子配向のメカニズム)は学術的に説明がなされいるが、UV偏光を作り出す光学素子(Wire Grid等)の特性仕様と液晶配向との相関は、その光学素子(UV偏光用Wire Grid)の従来ながらの製法による光学特性条件設計変更の困難さや、最終形である液晶パネルの特性までの一環した評価がされにくい環境にあり、その相関がはっきり語られることが少ない。このような背景により、より良い特性を持つ光学素子への特性改善要求へ偏重加速され、より偏光度の高いUV偏光を得るための設備やプロセスが、液晶材料を用いた部品や装置の生産性を向上するための大きな負担になっていた。
本発明は、このような事情に対処することを課題としており、光配向に対して新たな知見を導入することで、UV偏光配向露光方式とは異なる光配向法を提案するものであり、これによって、設備コストの低減、生産性の向上、製品性能の改善等を図るものである。
このような課題を解決するために、本発明は、以下の構成を具備するものである。
配向膜に光を照射する複数のスリット開口部を備える液晶光配向用フォトマスクであって、前記複数のスリット開口部は、配向膜表面に光照射領域と遮光領域との境界線を特定方向に沿って形成する複数の線状エッジを備えると共に、少なくとも紫外光を無偏光状態で透過させるピッチ間隔を有することを特徴とする液晶光配向用フォトマスク。
配向膜に光を照射する複数のスリット開口部を備え、前記複数のスリット開口部が、配向膜表面に光照射領域と遮光領域との境界線を特定方向に沿って形成する複数の線状エッジを備えると共に、少なくとも紫外光を無偏光状態で透過させるピッチ間隔を有する液晶光配向用フォトマスクを用い、前記線状エッジが形成する配向膜上の前記境界線に平行又は垂直に、配向膜上の液晶分子を配向させることを特徴とする光配向方法。
本発明は、感光性高分子膜である配向膜上に、光照射領域と遮光領域との境界線を複数特定方向に形成した場合に、配向膜上の液晶分子が、その境界線の方向に沿って配向するという、光配向における新たに知見に基づくものである。この際に配向膜に照射する光は、UV偏光である必要は無く、境界線が所定の間隔で複数並んでいれば、それに平行又は垂直に配向膜上の液晶分子を配列することができる。
本発明の液晶光配向用フォトマスク、それを用いた光配向装置及び光配向方法によると、無偏光状態の光を配向膜に照射して光配向を行うことができるので、ワイヤーグリッド型偏光子のように高価な光学部品を用いる必要がない。これにより、液晶材料を用いた部品や装置の生産に際して、設備コストの低減、生産性の向上、製品性能の改善等を図ることができる。
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図1は、本発明の実施形態に係る液晶光配向用フォトマスクを示し、図中の一点破線による囲みは部分的な拡大図を示している。液晶光配向用フォトマスク1は、図示省略している配向膜に光を照射する複数のスリット開口部1Aを備えている。また、液晶光配向用フォトマスク1は、スリット開口部1Aを複数配列するために線状の遮光部1Bを複数備えている。
そして、スリット開口部1Aは、配向膜表面に光照射領域と遮光領域との境界線を特定方向に沿って形成する複数の線状エッジ1eを備えると共に、少なくとも紫外光を無偏光状態で透過させるピッチ間隔Pを有する。図示の例では、ピッチ間隔Pにおいて、スリット開口部1Aの開口幅Sと遮光部1Bの遮光幅Lが、S:L=1:1(L/S=1)に設定されている。そして、スリット開口部1Aによって形成される線状エッジ1eは平行に配列されている。また、所望の液晶配向性を持たせるようにS:Lの比率を変化させることも可能である。
また、液晶光配向用フォトマスク1は、図2に示すように、配向膜の感光性高分子材料の感光波長域の光を透過する基板10上に遮光部1Bを形成することで得ることができる。遮光部1Bは、一般的なフォトマスクの遮光材料(例えば、クロム系材料)を成膜して、フォトリソ工程などでパターン形成する。
図3は、液晶光配向用フォトマスク1のピッチ間隔Pを変えた場合の消光比を、照射する光の波長毎に示している。図示のグラフから、紫外光の波長域(代表的な露光感光波長である254nm、365nm)で無偏光状態(消光比1以下)を得るためには、ピッチ間隔は350nm以上(好ましくは、400nm以上)に設計される。
図4は、液晶光配向用フォトマスク1を用いた光配向方法を示している。基板11上に成膜された配向膜(感光性高分子膜)12に液晶配向能を付与するためには、光源部20から出射された光を液晶光配向用フォトマスク1を介して配向膜12の表面に照射する。液晶光配向用フォトマスク1のスリット開口部1Aを通過した光は、無偏光状態の光であり、配向膜12の表面に照射されることで、配向膜12の表面に光照射領域Tと遮光領域Rとの境界線Gを形成する。この境界線Gは、複数のスリット開口部1Aにおける線状エッジ1eに沿って線状に形成されることになり、この境界線Gによって、液晶分子を配向するための異方性が配向膜12の表面に付与される。
このような線状の境界線Gが複数所定間隔で特定方向に向けて形成された配向膜12は、その表面に接する液晶分子を境界線Gの延設方向に沿って配向することができる。この際、先ず境界線G上の液晶分子が境界線Gに沿って配向することになり、境界線Gを所定間隔で複数形成することで、境界線G上ではない液晶分子も境界線G上の液晶分子の向きに引き摺られるように、同方向に配向する。
このような光配向の現象は、配向膜12の表面に照射される光が無偏光状態であるから、光の偏光成分によって配向膜に異方性を生じさせる従来の光配向とは配向メカニズムが異なっている。本発明による光配向法では、液晶光配向用フォトマスク1が備える線状エッジ1eによって形成される光照射領域Tと遮光領域Rとの境界線G上の物理的或いは化学的異方性によって、液晶分子が配向すると考えられ、その意味では、ラビング処理と同等の現象を非接触で実現している。
ここで、配向膜12に照射する光の波長は、配向膜12となる感光性高分子膜の感光波長であれば、どのような波長であってもよい。配向膜12の材料も、従来の光配向に用いられる各種の感光性高分子材料(例えば、分解型ボリイミドなど)を用いることができる。
図5は、液晶光配向用フォトマスク1を用いた光配向装置を示している。この光配向装置100は、前述した液晶光配向用フォトマスク1と、液晶光配向用フォトマスク1を介して配向膜21に光を照射する光源部20と、配向膜12を備える基板11を液晶光配向用フォトマスク1に対向して保持する基板保持部30とを備える。また、光源部20に対して基板保持部30を図示矢印方向に相対的に移動させるスキャン機構40を備える。図示のスキャン機構40は、静止した光源部20に対して基板保持部30を移動させているが、それとは逆に、静止した基板保持部30に対して光源部20を移動させるものであってもよい。
このような光配向装置100によると、液晶光配向用フォトマスク1の線状エッジ1eの方向に沿って、基板保持部30又は光源部20を相対的にスキャンしながら、液晶光配向用フォトマスク1を介して配向膜12へ光照射を行うことで、前述した境界線Gをスキャン方向に沿って配向膜12上に形成することができる。
光源部20は、一方向に長い発光部材(ランプ)21と、発光部材21から出射する光を液晶光配向用フォトマスク1に向けて反射する反射部材22とを備えている。ここでの発光部材21は、液晶光配向用フォトマスク1の線状エッジ1eに沿った長手方向に延設されている。また、反射部材22は、発光部材21の長手方向に沿って一定の凹状断面を有している(図4参照)。このような光源部20を備えることで、図4に示すように、反射部材22によって線状エッジ1eと交差する方向に拡散する光が抑制され、配向膜12上によりエッジの効いた境界線Gを形成することができる。これによって、より効果的に液晶分子を配向させることができる。
図6は、液晶光配向用フォトマスク1の他の構成例を示している。この例は、液晶光配向用フォトマスク1のスリット開口部1Aのパターンを変えているが、複数の線状エッジ1eを平行に配列している点では前述した例と同様である。この例では、複数の線状エッジ1eが設定長さ毎に分断配置されている。このように分断配置された線状エッジ1eを備える液晶光配向用フォトマスク1を、前述したスキャン機構40を備える光配向装置100に適用すると、配向膜12上により細密な境界線Gを形成することができる。これによって、より効果的に液晶分子を配向させることができる。
以下、本発明の実施例(実験例)を説明する。ここでは、下記表1に示す条件で、本発明の実施形態に係るフォトマスクを用いた光配向処理(実施例1,2)とワイヤグリッドを用いた光配向処理(比較例1,2)を行い、図7(a),(b),(c)に示す項目について比較した。
図7(a)には、光配向処理を施した基板上の膜の異方性(リタデーション)特性を示している。ワイヤーグリッドを用いて光配向処理を施した比較例1,2は、高いリタデーションを示しているが、フォトマスクを用いて光配向処理を施した実施例1,2に光学異方性が生じていることが確認できた。
図7(b)は、実施例2と比較例2の光配向処理を施した基板でテストセルを作成し、各テストセルの黒輝度レベル(液晶パネルのコントラストに寄与する値)を比較した。ワイヤーグリッドを用いて光配向処理を施した比較例2のテストセルの1/黒輝度を100%基準として比較すると、実施例2のテストセルは、30%程度であるが、光学異方性が生じていることは確認できた。
図7(c)は、テストセルの表示パターン焼き付き(液晶パネルの信頼性に寄与する)を示す比較結果である。図の縦軸は、表示ムラの程度を数値化したものであり、1.05以下が合格レベルと言える。白電圧印加は、ノーマリーブラック(電圧無印加で黒表示)のパネルで、電圧を印加した状態であり、緩和は、全画面黒表示状態に戻した際に、焼き付いた表示パターンによるムラが消えた状態である。この項目でも、実施例2は比較例2と遜色のない結果になっている。
以上説明したように、本発明の実施形態に係る液晶光配向用フォトマスク1を用いることで、UV偏光を必要としない非接触の配向処理を実現することができる。これによって、ラビング処理における配向膜表面の静電破壊やダスト発生による歩留まり低下の問題が解消され、更に、ワイヤーグリッド型偏光子などの高価な設備が不要になって、設備コストの低減が可能になる。
また、本発明の実施形態に係る液晶光配向用フォトマスク1は、比較的広い開口幅を有しているので、UV偏光を照射する場合と比較して、同一光源での照射光量を増加することができる。これによって、生産性の向上が可能になると共に、光源負荷を低減させて、装置寿命の延長、発熱量や消費電力の低減化が可能になる。
更には、液晶光配向用フォトマスク1のスリット開口部1Aのパターンを変更するだけで、配向パターンの設計変更を任意に行うことができるので、液晶材料を用いた部品や装置の性能向上を簡易に実現することが可能になる。
以上、本発明の実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。また、上述の各実施の形態は、その目的及び構成等に特に矛盾や問題がない限り、互いの技術を流用して組み合わせることが可能である。
1:液晶光配向用フォトマスク,1A:スリット開口部,1B:遮光部,
1e:線状エッジ,10,11:基板,12:配向膜,T:光照射領域,
R:遮光領域,G:境界線,20:光源部,21:発光部材,22:反射部材,
30:基板保持部,40:スキャン機構,100:光配向装置。
1e:線状エッジ,10,11:基板,12:配向膜,T:光照射領域,
R:遮光領域,G:境界線,20:光源部,21:発光部材,22:反射部材,
30:基板保持部,40:スキャン機構,100:光配向装置。
Claims (7)
- 配向膜に光を照射する複数のスリット開口部を備える液晶光配向用フォトマスクであって、
前記複数のスリット開口部は、配向膜表面に光照射領域と遮光領域との境界線を特定方向に沿って形成する複数の線状エッジを備えると共に、少なくとも紫外光を無偏光状態で透過させるピッチ間隔を有することを特徴とする液晶光配向用フォトマスク。 - 前記複数の線状エッジが平行に配列されていることを特徴とする請求項1記載の液晶光配向用フォトマスク。
- 前記複数の線状エッジが設定長さ毎に分断配置されていることを特徴とする請求項1又は2記載の液晶光配向用フォトマスク。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載された液晶光配向用フォトマスクと、
前記液晶光配向用フォトマスクを介して前記配向膜に光を照射する光源部と、
前記配向膜を備える基板を前記液晶光配向用フォトマスクに対向して保持する基板保持部とを備えることを特徴とする光配向装置。 - 前記光源部は、前記線状エッジに沿った長手方向に延びる発光部材と、前記長手方向に沿って一定の凹状断面を有して前記発光部材から出射する光を前記液晶光配向用フォトマスクに向けて反射する反射部材とを備えることを特徴とする請求項4記載の光配向装置。
- 前記基板保持部又は前記光源部を前記線状エッジの延設方向に沿って相対的に移動するスキャン機構を備えることを特徴とする請求項4又は5記載の光配向装置。
- 配向膜に光を照射する複数のスリット開口部を備え、前記複数のスリット開口部が、配向膜表面に光照射領域と遮光領域との境界線を特定方向に沿って形成する複数の線状エッジを備えると共に、少なくとも紫外光を無偏光状態で透過させるピッチ間隔を有する液晶光配向用フォトマスクを用い、
前記線状エッジが形成する配向膜上の前記境界線に平行又は垂直に、配向膜上の液晶分子を配向させることを特徴とする光配向方法。
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