JP2020013868A - Back electrode type photoelectric conversion element, photoelectric conversion module, and electronic equipment - Google Patents

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Abstract

To provide a back electrode type photoelectric conversion element having high photoelectric conversion efficiency irrespective of the position of a connection portion, and a highly reliable photoelectric conversion module and an electronic device including the back electrode type photoelectric conversion element.SOLUTION: A back electrode type photoelectric conversion element includes a semiconductor substrate having one surface and the other surface in a front-to-back relationship with the one surface, a first electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate and extending in a first direction, a second electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate, extending in a second direction orthogonal to the first direction, and electrically connected to the first electrode, and a third electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate, extending in the first direction, and branching from the second electrode.SELECTED DRAWING: Figure 3

Description

本発明は、裏面電極型光電変換素子、光電変換モジュールおよび電子機器に関するものである。   The present invention relates to a back electrode type photoelectric conversion element, a photoelectric conversion module, and an electronic device.

GPS(Global Positioning System)等の測位システムに用いられる位置情報衛星からの電波を受信し、測位信号に含まれる時刻を取得したり、現在位置を検出したりする装着型電子機器(腕時計)が提案されている。   Wearable electronic devices (watches) that receive radio waves from positioning information satellites used in positioning systems such as GPS (Global Positioning System), obtain the time included in positioning signals, and detect the current position are proposed. Have been.

例えば、特許文献1には、腕時計ケースと、文字板と、文字板の下側に配置され位置情報衛星からの電波を受信するアンテナを含む時計モジュールと、文字板と時計モジュールとの間に設けられたソーラーパネルと、を有する腕時計が開示されている。このような腕時計によれば、文字板が光透過性を有しているため、文字板を透過した外部光をソーラーパネルに照射することにより、時計モジュールの動作に必要な電力を発電することができる。   For example, Patent Document 1 discloses a watch case, a dial, a clock module including an antenna disposed below the dial and receiving an electric wave from a position information satellite, and a clock module provided between the dial and the clock module. And a solar panel provided. According to such a wristwatch, since the dial has light transmissivity, it is possible to generate electric power necessary for the operation of the watch module by irradiating the solar panel with external light transmitted through the dial. it can.

一方、位置情報衛星から送出される電波には極超短波が使用されているが、この極超短波を受信するためには高周波回路を作動させる必要がある。このため、腕時計の消費電力が大きくなるという問題がある。   On the other hand, an ultra-high frequency wave is used for the radio wave transmitted from the positioning information satellite, and it is necessary to operate a high-frequency circuit in order to receive the ultra-high frequency wave. For this reason, there is a problem that the power consumption of the wristwatch increases.

そこで、ソーラーパネルの面積を拡大することにより、消費電力の増大に対応することが検討されている。しかしながら、腕時計のようなデザイン性が重視される製品の場合、一般的には、腕時計の表面積に対するソーラーパネルの占有面積は小さいほど好ましい。したがって、単位面積当たりの発電量が大きいソーラーパネルとしてバックコンタクト型(裏面電極型)の太陽電池セルの適用が検討されている。   Therefore, it has been studied to increase the power consumption by increasing the area of the solar panel. However, in the case of a product such as a wristwatch where design is important, it is generally preferable that the occupied area of the solar panel with respect to the surface area of the wristwatch is small. Therefore, the application of a back contact type (back electrode type) solar cell as a solar panel having a large amount of power generation per unit area is being studied.

特許文献2には、裏面にP型電極とN型電極とを有する単結晶シリコン型の太陽電池セルが開示されている。この太陽電池セルは、バックコンタクト型であるため、P型電極とN型電極の双方を裏面に設けることができる。このため、特許文献2に記載の太陽電池セルには、表面、すなわち受光面に電極を設ける必要がなく、電極の陰に伴う光電変換効率の低下(シャドウロス)を抑制することができる。   Patent Document 2 discloses a single-crystal silicon type solar cell having a P-type electrode and an N-type electrode on the back surface. Since this solar cell is of a back contact type, both the P-type electrode and the N-type electrode can be provided on the back surface. For this reason, in the solar cell described in Patent Document 2, it is not necessary to provide an electrode on the surface, that is, on the light receiving surface, and a decrease in the photoelectric conversion efficiency (shadow loss) due to the shadow of the electrode can be suppressed.

また、このようなバックコンタクト型の太陽電池セルの一例として、特許文献2に記載の太陽電池セルでは、隣り合うセル同士をつなぐためにインターコネクターを用いている。そして、インターコネクターとセルとの電気的接続を図るため、単結晶シリコン基板の裏面のうち、互いに対向する2辺の近傍に、取り出し電極であるP型電極およびN型電極が設けられている。   Further, as an example of such a back contact type solar cell, in the solar cell described in Patent Document 2, an interconnector is used to connect adjacent cells. In order to achieve electrical connection between the interconnector and the cell, a P-type electrode and an N-type electrode, which are extraction electrodes, are provided near two opposing sides on the back surface of the single crystal silicon substrate.

一方、特許文献2に記載のP型電極およびN型電極(以下、双方を指して「外部接続用電極」ともいう。)は、前述したように、それぞれ単結晶シリコン基板の端部に設けられている。このため、単結晶シリコン基板のうち、外部接続用電極と重なる部分で発生した少数キャリアーについては、十分に収集することができないという問題がある。特に、外部接続用電極と重なる部分のうち、単結晶シリコン基板の端面に近い部分では、PN接合を形成する空間的余地がないため、少数キャリアーの多くが消滅し、光電変換効率が低下する原因となっている。   On the other hand, the P-type electrode and the N-type electrode described in Patent Document 2 (hereinafter, also referred to as “external connection electrodes”) are provided at the ends of the single-crystal silicon substrate, respectively, as described above. ing. For this reason, there is a problem that minority carriers generated in a portion of the single crystal silicon substrate overlapping with the external connection electrode cannot be sufficiently collected. In particular, in a portion overlapping with the external connection electrode, a portion close to the end face of the single crystal silicon substrate has no room for forming a PN junction, so that most of the minority carriers disappear and the photoelectric conversion efficiency is reduced. It has become.

そこで、外部接続用電極を、単結晶シリコン基板の端部以外の領域、例えば中央部に設けることが検討されている。これにより、外部接続用電極の周囲にPN接合を形成する空間的余地が生まれるため、上記のような少数キャリアーの消滅を減らすことができ、光電変換効率の低下を防止することができる。   Therefore, it has been studied to provide the external connection electrode in a region other than the end of the single crystal silicon substrate, for example, in the center. This creates a space for forming a PN junction around the external connection electrode, so that the disappearance of the minority carriers as described above can be reduced, and a decrease in photoelectric conversion efficiency can be prevented.

特開2016−176957号公報JP-A-176-176957 特開2005−11869号公報JP 2005-11869 A

しかしながら、単結晶シリコン基板のより中央に近い領域に外部接続用電極を配置した場合、PN接合と外部接続用電極とをつなぐ内部接続用電極の引き回しパターンに制約が生じる。具体的には、N型の内部接続用電極についてはP型の外部接続用電極を避けるように引き回し、P型の内部接続用電極についてはN型の外部接続用電極を避けるように引き回す必要がある。このため、特に外部接続用電極の周辺においては、内部接続用電極を効率よく引き回すことができない領域が発生する。このような領域は、光電変換効率が低下する原因となる。   However, when the external connection electrode is arranged in a region closer to the center of the single crystal silicon substrate, there is a restriction on the wiring pattern of the internal connection electrode that connects the PN junction to the external connection electrode. Specifically, it is necessary to route the N-type internal connection electrode so as to avoid the P-type external connection electrode, and to route the P-type internal connection electrode so as to avoid the N-type external connection electrode. is there. For this reason, especially around the external connection electrode, there is a region where the internal connection electrode cannot be efficiently routed. Such a region causes a decrease in photoelectric conversion efficiency.

以上のような課題に鑑みて、外部接続用電極の位置によらず、光電変換効率を高める手段が求められている。   In view of the above problems, there is a need for a means for increasing the photoelectric conversion efficiency regardless of the position of the external connection electrode.

本発明は、上述の課題を解決するためになされたものであり、以下の適用例として実現することが可能である。   The present invention has been made to solve the above-described problem, and can be realized as the following application examples.

本発明の適用例に係る裏面電極型光電変換素子は、一方の面と、前記一方の面と表裏の関係にある他方の面とを有する半導体基板と、
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、第1方向に延在する第1電極と、
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、前記第1方向に直交する第2方向に延在し、前記第1電極と電気的に接続されている第2電極と、
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、前記第1方向に延在し、前記第2電極から分岐している第3電極と、
を有する。
A back electrode type photoelectric conversion element according to an application example of the present invention has one surface and a semiconductor substrate having the one surface and the other surface in a front-to-back relationship.
A first electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate and extending in a first direction;
A second electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate, extending in a second direction orthogonal to the first direction, and electrically connected to the first electrode;
A third electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate, extending in the first direction, and branching from the second electrode;
Having.

本発明の光電変換モジュールの第1実施形態を適用した太陽電池を図示した平面図である。1 is a plan view illustrating a solar cell to which a first embodiment of a photoelectric conversion module according to the present invention is applied. 図1に示す太陽電池の分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view of the solar cell shown in FIG. 1. 図2に示す光電変換素子の電極面を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view illustrating an electrode surface of the photoelectric conversion element illustrated in FIG. 2. 図1に示す太陽電池の分解断面図である。FIG. 2 is an exploded sectional view of the solar cell shown in FIG. 1. 図3に示す光電変換素子において、仮にサブフィンガー電極を省略するように変更した場合の電極を示す図であって、従来の裏面電極型光電変換素子を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an electrode in a case where the sub-finger electrode is temporarily changed to be omitted in the photoelectric conversion device illustrated in FIG. 3, and is a diagram illustrating a conventional back electrode type photoelectric conversion device. 本発明の裏面電極型光電変換素子の第2実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。It is a top view showing the electrode side of the cell to which the 2nd embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. 図6のB−B線断面図である。FIG. 7 is a sectional view taken along line BB of FIG. 6. 本発明の裏面電極型光電変換素子の第3実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。It is a top view showing the electrode side of the cell to which the 3rd embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. 図8の部分拡大図である。It is the elements on larger scale of FIG. 本発明の裏面電極型光電変換素子の第4実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。It is a top view showing the electrode side of the cell to which the 4th embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. 本発明の裏面電極型光電変換素子の第5実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。It is a top view showing the electrode side of the cell to which a 5th embodiment of a back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. 本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計を示す斜視図である。It is a perspective view showing an electronic timepiece to which an embodiment of an electronic device of the present invention is applied. 本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計を示す斜視図である。It is a perspective view showing an electronic timepiece to which an embodiment of an electronic device of the present invention is applied. 図12、13に示す電子時計の平面図である。FIG. 14 is a plan view of the electronic timepiece shown in FIGS. 図12、13に示す電子時計の縦断面図である。FIG. 14 is a longitudinal sectional view of the electronic timepiece shown in FIGS. 本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計の変形例を示す平面図である。It is a top view which shows the modification of the electronic timepiece which applied embodiment of the electronic device of this invention. 図16に示す電子時計の縦断面図である。FIG. 17 is a longitudinal sectional view of the electronic timepiece shown in FIG. 16.

以下、本発明の裏面電極型光電変換素子、光電変換モジュールおよび電子機器について、添付図面に示す好適実施形態に基づいて詳細に説明する。   Hereinafter, a back electrode type photoelectric conversion element, a photoelectric conversion module, and an electronic device of the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.

(太陽電池)
≪第1実施形態≫
まず、本発明の光電変換モジュールの第1実施形態を適用した太陽電池について詳述する。太陽電池は、光エネルギーを電気エネルギーに変換する光電変換モジュールである。
(Solar cells)
<< 1st Embodiment >>
First, a solar cell to which the first embodiment of the photoelectric conversion module of the present invention is applied will be described in detail. A solar cell is a photoelectric conversion module that converts light energy into electric energy.

図1は、本発明の光電変換モジュールの第1実施形態を適用した太陽電池を図示した平面図である。また、図2は、図1に示す太陽電池の分解斜視図である。なお、本明細書では、太陽電池のうち、太陽電池に入射する光の光源(例えば太陽、照明等)側を「表(おもて)」とし、その反対側を「裏」とする。また、太陽電池の受光面に直交する方向に延在する方向軸をZ軸とする。さらに、裏側から表側への向きを「+Z方向」とし、その反対向きを「−Z方向」とする。   FIG. 1 is a plan view illustrating a solar cell to which a first embodiment of a photoelectric conversion module according to the present invention is applied. FIG. 2 is an exploded perspective view of the solar cell shown in FIG. Note that, in this specification, a side of a light source (for example, the sun, illumination, or the like) of light incident on the solar cell is referred to as a “front” and a side opposite thereto is referred to as a “back”. Further, a direction axis extending in a direction orthogonal to the light receiving surface of the solar cell is defined as a Z axis. Further, the direction from the back side to the front side is defined as “+ Z direction”, and the opposite direction is defined as “−Z direction”.

図1に示す太陽電池80(光電変換モジュール)は、セル80A(裏面電極型光電変換素子)と、Z軸方向においてセル80Aと重なるように設けられ、セル80Aと電気的に接続された配線基板82と、を備えている。   The solar cell 80 (photoelectric conversion module) shown in FIG. 1 is provided so as to overlap with the cell 80A (back-electrode type photoelectric conversion element) in the Z-axis direction and is electrically connected to the cell 80A. 82.

セル80Aは、n型(第1導電型)のSi基板800を有している。Si基板800は、その厚さ方向(Z軸方向)で見たとき、すなわち互いに表裏の関係にある2つの主面を平面視したとき、その平面視形状が長方形をなす板状をなしており、かつ、2つの主面はそれぞれZ軸と直交している。また、光源に臨む主面とは反対の面(一方の面)が電極面85であり、光源に臨む主面(他方の面)が受光面84である。なお、受光面84に後述するテクスチャー構造が設けられている場合、そのテクスチャー構造を除いた面がZ軸と直交している。   The cell 80A has an n-type (first conductivity type) Si substrate 800. When viewed in the thickness direction (Z-axis direction), that is, when the two main surfaces having a front-to-back relationship with each other are viewed in a plan view, the Si substrate 800 has a rectangular plate-like shape in a plan view. , And the two main surfaces are each orthogonal to the Z axis. The surface (one surface) opposite to the main surface facing the light source is the electrode surface 85, and the main surface (the other surface) facing the light source is the light receiving surface 84. When a texture structure described later is provided on the light receiving surface 84, the surface excluding the texture structure is orthogonal to the Z axis.

また、Z軸に直交する2つの軸を「X軸」および「Y軸」とする。このうち、Si基板800の長辺は、X軸と平行に延在しており、Si基板800の短辺は、Y軸と平行に延在している。そして、図1の上向きを「+Y方向」とし、下向きを「−Y方向」とする。また、図1の右向きを「+X方向」とし、左向きを「−X方向」とする。   Two axes orthogonal to the Z axis are referred to as “X axis” and “Y axis”. The long side of the Si substrate 800 extends parallel to the X axis, and the short side of the Si substrate 800 extends parallel to the Y axis. The upward direction in FIG. 1 is defined as the “+ Y direction”, and the downward direction is defined as the “−Y direction”. In addition, the rightward direction in FIG. 1 is defined as “+ X direction”, and the leftward direction is defined as “−X direction”.

セル80Aが有するn型のSi基板800は、半導体基板の一例であり、化合物半導体基板(例えばGaAs基板)等で代替されてもよい。   The n-type Si substrate 800 included in the cell 80A is an example of a semiconductor substrate, and may be replaced with a compound semiconductor substrate (for example, a GaAs substrate).

このような半導体基板は、非晶質性を有していてもよいが、結晶性を有していることが好ましい。この結晶性とは、単結晶性または多結晶性のことをいう。このような結晶性を有する半導体基板を含むことにより、非晶質性を有する半導体基板を含む場合に比べて、より光電変換効率の高い太陽電池80が得られる。かかる太陽電池80は、仮に同じ電力を発電する場合、より面積を小さくすることを可能にする。このため、結晶性を有する半導体基板を含むことにより、光電変換効率と小型化とをより高度に両立させた太陽電池80が得られる。   Such a semiconductor substrate may have an amorphous property, but preferably has a crystalline property. This crystallinity refers to monocrystalline or polycrystalline. By including such a semiconductor substrate having crystallinity, a solar cell 80 having higher photoelectric conversion efficiency can be obtained as compared with a case including a semiconductor substrate having amorphousness. Such a solar cell 80 allows for a smaller area if the same power is generated. Therefore, by including a semiconductor substrate having crystallinity, a solar cell 80 can be obtained in which both photoelectric conversion efficiency and miniaturization are more highly compatible.

特に、半導体基板は、単結晶性を有するものが好ましい。これにより、太陽電池80の光電変換効率が特に高められる。したがって、光電変換効率と意匠性との両立を最大限に図ることができる。また、特に、太陽電池80の省スペース化が図られることにより、太陽電池80を搭載する電子機器の意匠性をより高めることができる。さらに、室内光のような低照度光においても光電変換効率が低下しにくいという利点もある。   In particular, the semiconductor substrate preferably has single crystallinity. Thereby, the photoelectric conversion efficiency of the solar cell 80 is particularly enhanced. Therefore, it is possible to maximize compatibility between the photoelectric conversion efficiency and the design. In particular, the space saving of the solar cell 80 is achieved, so that the design of an electronic device on which the solar cell 80 is mounted can be further improved. Further, there is an advantage that the photoelectric conversion efficiency is hardly reduced even in low illuminance light such as room light.

なお、単結晶性を有するとは、半導体基板全体が単結晶である場合の他、一部が多結晶または非晶質である場合も含む。後者の場合、単結晶の体積が相対的に大きい(例えば全体の90体積%以上である)ことが好ましい。   Note that having single crystallinity includes the case where the whole semiconductor substrate is single crystal and the case where a part thereof is polycrystalline or amorphous. In the latter case, the volume of the single crystal is preferably relatively large (for example, 90% by volume or more of the whole).

図3は、図2に示すセル80Aの電極面85を示す平面図である。また、図4は、図1に示す太陽電池80の分解断面図である。なお、図4に示すセル80Aの断面図は、図3のA−A線断面図である。また、図3では、電極面85上に設けられたパッシベーション膜807を介してフィンガー電極804やバスバー電極805を透視するように図示している。   FIG. 3 is a plan view showing the electrode surface 85 of the cell 80A shown in FIG. FIG. 4 is an exploded sectional view of the solar cell 80 shown in FIG. The cross-sectional view of the cell 80A shown in FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. FIG. 3 shows the finger electrode 804 and the bus bar electrode 805 through a passivation film 807 provided on the electrode surface 85.

太陽電池80は、裏面電極型とされる。具体的には、セル80Aは、図4に示すように、電極面85上に設けられた電極パッド86、87(接続部)を有している。このうち、電極パッド86は正極であり、一方、電極パッド87は負極である。したがって、電極パッド86および電極パッド87から電力を取り出すことができる。   The solar cell 80 is of a back electrode type. More specifically, as shown in FIG. 4, the cell 80A has electrode pads 86 and 87 (connecting portions) provided on the electrode surface 85. Among them, the electrode pad 86 is a positive electrode, while the electrode pad 87 is a negative electrode. Therefore, electric power can be extracted from the electrode pads 86 and 87.

このような裏面電極型では、極性にかかわらず、全ての電極パッド86、87を電極面85上に配置することができる。このため、受光面84を最大限に大きくすることができ、受光面積の最大化に伴う発電量の向上を図ることができる。加えて、受光面84側に電極パッドを設けることによる意匠性の低下を防止することができる。このため、太陽電池80の意匠性を高めることができる。   In such a back electrode type, all the electrode pads 86 and 87 can be arranged on the electrode surface 85 regardless of the polarity. For this reason, the light receiving surface 84 can be maximized, and the amount of power generation can be improved with the maximization of the light receiving area. In addition, it is possible to prevent the design from being deteriorated due to the provision of the electrode pad on the light receiving surface 84 side. Therefore, the design of the solar cell 80 can be improved.

なお、セル80Aには、電極パッド86および電極パッド87がそれぞれ複数設けられていてもよい。   Note that a plurality of electrode pads 86 and electrode pads 87 may be provided in the cell 80A.

((配線基板))
図4に示す太陽電池80は、前述したように、セル80Aと配線基板82とを備えている。
((Wiring board))
The solar cell 80 shown in FIG. 4 includes the cell 80A and the wiring board 82 as described above.

このうち、配線基板82は、絶縁基板821と、その上に設けられた導電膜822と、を備えている。   The wiring board 82 includes an insulating substrate 821 and a conductive film 822 provided thereon.

配線基板82は、図1、2に示すように、セル80Aと重なるように設けられている。このような配線基板82は、絶縁基板821と、その上に設けられた導電膜822と、導電膜822と重なる部分に設けられた開口部824を有する絶縁膜823と、を備えている。   The wiring board 82 is provided so as to overlap the cell 80A, as shown in FIGS. Such a wiring substrate 82 includes an insulating substrate 821, a conductive film 822 provided thereon, and an insulating film 823 having an opening 824 provided in a portion overlapping with the conductive film 822.

なお、「配線基板82がセル80Aと重なる」とは、配線基板82の平面視において、セル80Aの少なくとも一部が配線基板82と重なって見える状態をいう。   Note that “the wiring board 82 overlaps the cell 80A” refers to a state where at least a part of the cell 80A overlaps with the wiring board 82 in a plan view of the wiring board 82.

絶縁基板821としては、例えばポリイミド基板、ポリエチレンテレフタレート基板のような各種樹脂基板が挙げられる。   Examples of the insulating substrate 821 include various resin substrates such as a polyimide substrate and a polyethylene terephthalate substrate.

導電膜822の構成材料としては、例えば銅または銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金、銀または銀合金等が挙げられる。   As a constituent material of the conductive film 822, for example, copper or a copper alloy, aluminum or an aluminum alloy, silver or a silver alloy, or the like can be given.

絶縁膜823の構成材料としては、例えばポリイミド樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂のような各種樹脂材料が挙げられる。   Examples of a constituent material of the insulating film 823 include various resin materials such as a polyimide resin and a polyethylene terephthalate resin.

また、絶縁基板821と絶縁膜823とは、接着層825を介して接着されている。
接着層825の構成材料としては、例えばエポキシ系接着材、シリコーン系接着材、オレフィン系接着材、アクリル系接着材等が挙げられる。
Further, the insulating substrate 821 and the insulating film 823 are bonded to each other through an adhesive layer 825.
Examples of the constituent material of the adhesive layer 825 include an epoxy-based adhesive, a silicone-based adhesive, an olefin-based adhesive, and an acrylic-based adhesive.

配線基板82の厚さは、特に限定されないが、50μm以上500μm以下であるのが好ましく、100μm以上300μm以下であるのがより好ましい。配線基板82の厚さを前記範囲内に設定することにより、配線基板82に適度な可撓性が付与される。   The thickness of the wiring board 82 is not particularly limited, but is preferably 50 μm or more and 500 μm or less, and more preferably 100 μm or more and 300 μm or less. By setting the thickness of the wiring board 82 within the above range, appropriate flexibility is given to the wiring board 82.

((セル))
セル80Aは、図3または図4に示すように、Si基板800と、Si基板800に形成されたp+不純物領域801およびn+不純物領域802と、p+不純物領域801およびn+不純物領域802に接続されているフィンガー電極804と、フィンガー電極804に接続されているバスバー電極805と、フィンガー電極804を介してp+不純物領域801に接続されている電極パッド86(正極の接続部)と、フィンガー電極804を介してn+不純物領域802に接続されている電極パッド87(負極の接続部)と、を備えている。なお、図4では、図示の便宜上、電極パッド86のみを図示し、電極パッド87の図示を省略している。
((cell))
As shown in FIG. 3 or FIG. 4, cell 80A is connected to Si substrate 800, p + impurity region 801 and n + impurity region 802 formed on Si substrate 800, and p + impurity region 801 and n + impurity region 802. Finger electrode 804, a bus bar electrode 805 connected to the finger electrode 804, an electrode pad 86 (positive connection part) connected to the p + impurity region 801 via the finger electrode 804, and a finger electrode 804 And an electrode pad 87 (a connection portion of a negative electrode) connected to the n + impurity region 802. In FIG. 4, for convenience of illustration, only the electrode pad 86 is illustrated, and the illustration of the electrode pad 87 is omitted.

−Si基板−
Si基板800としては、例えばSi(100)基板等が用いられる。なお、Si基板800の結晶面は、特に限定されず、Si(100)面以外の結晶面であってもよい。
-Si substrate-
As the Si substrate 800, for example, a Si (100) substrate or the like is used. The crystal plane of Si substrate 800 is not particularly limited, and may be a crystal plane other than the Si (100) plane.

Si基板800(半導体基板)の主要構成元素以外の不純物元素濃度は、できるだけ低いことが好ましいが、それぞれ1×1011[atoms/cm]以下であるのがより好ましく、1×1010[atoms/cm]以下であるのがさらに好ましい。不純物元素濃度が前記範囲内であることにより、Si基板800の不純物が光電変換に及ぼす影響を十分に小さく抑えることができる。これにより、小面積であっても十分な電力を発生させ得る太陽電池80を実現することができる。さらに、室内光のような低照度光においても光電変換効率が低下しにくくなるという利点もある。 The impurity element concentration other than the main constituent elements of the Si substrate 800 (semiconductor substrate) is preferably as low as possible, but is more preferably 1 × 10 11 [atoms / cm 2 ] or less, and more preferably 1 × 10 10 [atoms / cm 2 ]. / Cm 2 ] or less. When the impurity element concentration is within the above range, the effect of impurities of the Si substrate 800 on photoelectric conversion can be sufficiently suppressed. This makes it possible to realize a solar cell 80 that can generate sufficient power even with a small area. Further, there is an advantage that the photoelectric conversion efficiency is hardly reduced even with low illuminance light such as room light.

なお、Si基板800の不純物元素濃度は、例えばICP−MS(Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry)法により測定することができる。   Note that the impurity element concentration of the Si substrate 800 can be measured by, for example, an ICP-MS (Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry) method.

また、p+不純物領域801に接続されているフィンガー電極804の一部が後述するパッシベーション膜807から露出し、前述した電極パッド86を構成している(図3参照)。一方、n+不純物領域802に接続されているフィンガー電極804の一部が後述するパッシベーション膜807から露出し、前述した電極パッド87を構成している(図3参照)。   Further, a part of the finger electrode 804 connected to the p + impurity region 801 is exposed from a passivation film 807 described later, and constitutes the electrode pad 86 described above (see FIG. 3). On the other hand, a part of the finger electrode 804 connected to the n + impurity region 802 is exposed from a later-described passivation film 807 to form the above-described electrode pad 87 (see FIG. 3).

また、電極パッド86は、図4に示すように、導電接続部83を介して、配線基板82と接続されている。同様に、電極パッド87も、図示しない導電接続部を介して、配線基板82と接続されている。   In addition, as shown in FIG. 4, the electrode pad 86 is connected to the wiring board 82 via the conductive connection portion 83. Similarly, the electrode pad 87 is connected to the wiring board 82 via a conductive connection (not shown).

導電接続部83としては、例えば導電ペースト、導電シート、金属材料、はんだ、ろう材等が挙げられる。   Examples of the conductive connection portion 83 include a conductive paste, a conductive sheet, a metal material, a solder, a brazing material, and the like.

Si基板800の受光面84には、必要に応じてテクスチャー構造が形成されている。このテクスチャー構造は、例えば任意の形状をなす凹凸形状のことをいう。具体的には、例えば受光面84に形成された多数のピラミッド状突起で構成される。このようなテクスチャー構造を設けることにより、受光面84における外部光の反射を抑制し、Si基板800に入射する光量の増大を図ることができる。また、受光面84から入射した外部光をSi基板800の内部に閉じ込めることができ、光電変換効率を高めることができる。   A texture structure is formed on the light receiving surface 84 of the Si substrate 800 as necessary. The texture structure refers to, for example, an irregular shape having an arbitrary shape. Specifically, for example, it is configured by a large number of pyramid-shaped protrusions formed on the light receiving surface 84. By providing such a texture structure, reflection of external light on the light receiving surface 84 can be suppressed, and the amount of light incident on the Si substrate 800 can be increased. Further, external light incident from the light receiving surface 84 can be confined inside the Si substrate 800, and the photoelectric conversion efficiency can be increased.

なお、Si基板800が例えばSi(100)面を主面とする基板である場合、Si(111)面を傾斜面とするピラミッド状突起がテクスチャー構造として好適に用いられる。   When the Si substrate 800 is, for example, a substrate having a Si (100) surface as a main surface, a pyramid-shaped protrusion having an Si (111) surface as an inclined surface is suitably used as a texture structure.

また、Si基板800の厚さは、特に限定されないが、50μm以上500μm以下であるのが好ましく、100μm以上300μm以下であるのがより好ましい。これにより、太陽電池80の光電変換効率と機械的特性との両立を図ることができる。   The thickness of the Si substrate 800 is not particularly limited, but is preferably 50 μm or more and 500 μm or less, and more preferably 100 μm or more and 300 μm or less. Thereby, it is possible to achieve both the photoelectric conversion efficiency and the mechanical characteristics of the solar cell 80.

なお、Si基板800の平面視形状は、上記に限定されず、いかなる形状、例えば正方形や菱形のような四角形、六角形、八角形のような多角形、真円、楕円、長円のような円形、扇形等であってもよい。   The planar shape of the Si substrate 800 is not limited to the above, and may be any shape, for example, a square such as a square or a rhombus, a hexagon, a polygon such as an octagon, a perfect circle, an ellipse, or an ellipse. It may be circular, fan-shaped, or the like.

一方、p+不純物領域801は、ホウ素イオンやアルミニウムイオンのようなp型不純物を相対的に高濃度に含む領域である。また、n+不純物領域802は、リンイオンやヒ素イオンのようなn型不純物を相対的に高濃度に含む領域である。これらのp+不純物領域801におけるp型不純物の濃度およびn+不純物領域802におけるn型不純物の濃度は、それぞれ特に限定されないが、1×1018[atoms/cm]以上であるのが好ましく、1×1019[atoms/cm]以上であるのがより好ましい。 On the other hand, the p + impurity region 801 is a region containing a relatively high concentration of p-type impurities such as boron ions and aluminum ions. The n + impurity region 802 is a region containing an n-type impurity such as phosphorus ions or arsenic ions at a relatively high concentration. The concentration of the p-type impurity in p + impurity region 801 and the concentration of the n-type impurity in n + impurity region 802 are not particularly limited, but are preferably 1 × 10 18 [atoms / cm 2 ] or more, and preferably 1 × 10 18 [atoms / cm 2 ]. More preferably, it is 10 19 [atoms / cm 2 ] or more.

−パッシベーション膜−
また、太陽電池80は、図4に示すように、受光面84上に設けられたパッシベーション膜817を備えている。このようなパッシベーション膜817を設けることにより、受光によって生成された少数キャリアーが受光面84において消滅するのを抑制することができる。
-Passivation film-
Further, as shown in FIG. 4, the solar cell 80 includes a passivation film 817 provided on the light receiving surface 84. By providing such a passivation film 817, it is possible to prevent minority carriers generated by light reception from disappearing on the light receiving surface 84.

パッシベーション膜817の構成材料としては、例えば無機材料、有機材料等が挙げられる。このうち、無機材料としては、例えば、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素のようなケイ素化合物、酸化ニオブ、酸化チタン、酸化タンタル、酸化アルミニウム、酸化ジルコニウム、酸化ランタンのような金属酸化物、フッ化マグネシウム、フッ化カルシウム、フッ化バリウム、フッ化リチウム、フッ化ナトリウム、フッ化ランタンのようなフッ化物等が挙げられる。また、有機材料としては、例えば、各種樹脂材料が挙げられる。そして、パッシベーション膜817の構成材料には、これらのうちの1種または2種以上を含む複合材料が用いられる。   Examples of a constituent material of the passivation film 817 include an inorganic material and an organic material. Among them, examples of the inorganic material include silicon compounds such as silicon oxide, silicon nitride, and silicon oxynitride; metal oxides such as niobium oxide, titanium oxide, tantalum oxide, aluminum oxide, zirconium oxide, and lanthanum oxide; Examples include fluorides such as magnesium fluoride, calcium fluoride, barium fluoride, lithium fluoride, sodium fluoride, and lanthanum fluoride. Examples of the organic material include various resin materials. As a constituent material of the passivation film 817, a composite material containing one or more of these materials is used.

また、パッシベーション膜817は、光透過性を有する。このため、パッシベーション膜817は、その屈折率が適宜調整されることにより、反射防止膜としても機能する。このような反射防止膜としての機能が付加されることにより、受光面84からSi基板800に入射する光量を増やし、光電変換効率を高めることができる。   Further, the passivation film 817 has light transmittance. Therefore, the passivation film 817 also functions as an anti-reflection film by appropriately adjusting the refractive index. By adding such a function as an anti-reflection film, the amount of light incident on the Si substrate 800 from the light receiving surface 84 can be increased, and the photoelectric conversion efficiency can be increased.

一方、セル80Aは、図4に示すように、電極面85上に設けられたパッシベーション膜807を備えている。このようなパッシベーション膜807を設けることにより、各部の絶縁を図るとともに、受光によって生成された少数キャリアーが電極面85において消滅するのを抑制することができる。   On the other hand, the cell 80A includes a passivation film 807 provided on the electrode surface 85, as shown in FIG. By providing such a passivation film 807, each part can be insulated, and the minority carriers generated by light reception can be suppressed from disappearing on the electrode surface 85.

パッシベーション膜807の構成材料としては、例えば、酸化ケイ素、窒化ケイ素、酸窒化ケイ素、酸化アルミニウム等が挙げられる。   Examples of a constituent material of the passivation film 807 include silicon oxide, silicon nitride, silicon oxynitride, and aluminum oxide.

−電極および電極パッド(接続部)−
セル80Aは、図3および図4に示すように、Si基板800の厚さ方向においてn+不純物領域802(第1導電型不純物領域)と重なるように設けられたn型フィンガー電極804nと、n+不純物領域802とn型フィンガー電極804nとの間を電気的に接続するn+コンタクト811nと、を備えている。なお、図3では、図示の便宜上、n+コンタクト811nおよびn型フィンガー電極804nにそれぞれドットを付している。
-Electrodes and electrode pads (connections)-
As shown in FIGS. 3 and 4, the cell 80A includes an n-type finger electrode 804n provided so as to overlap an n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region) in the thickness direction of the Si substrate 800; An n + contact 811n for electrically connecting the region 802 and the n-type finger electrode 804n. In FIG. 3, dots are respectively attached to the n + contact 811n and the n-type finger electrode 804n for convenience of illustration.

また、セル80Aは、図3および図4に示すように、Si基板800の厚さ方向においてp+不純物領域801(第2導電型不純物領域)と重なるように設けられたp型フィンガー電極804pと、p+不純物領域801とp型フィンガー電極804pとの間を電気的に接続するp+コンタクト811pと、を備えている。なお、図3では、図示の便宜上、p+コンタクト811pおよびp型フィンガー電極804pにそれぞれ斜線を付している。   Further, as shown in FIGS. 3 and 4, the cell 80A includes a p-type finger electrode 804p provided so as to overlap with the p + impurity region 801 (second conductivity type impurity region) in the thickness direction of the Si substrate 800; a p + contact 811p for electrically connecting between the p + impurity region 801 and the p-type finger electrode 804p. In FIG. 3, the p + contact 811p and the p-type finger electrode 804p are shaded for convenience of illustration.

そして、p+コンタクト811pは、図3に示すように、1つのp型フィンガー電極804pに対して複数設けられている。また、それに応じて、図4に示すp+不純物領域801も、1つのp型フィンガー電極804pに対して複数設けられている。これにより、受光によって発生した正孔(キャリアー)を効率よく取り出すことができる。   As shown in FIG. 3, a plurality of p + contacts 811p are provided for one p-type finger electrode 804p. Accordingly, a plurality of p + impurity regions 801 shown in FIG. 4 are provided for one p-type finger electrode 804p. Thereby, holes (carriers) generated by light reception can be efficiently taken out.

同様に、n+コンタクト811nは、図3に示すように、1つのn型フィンガー電極804nに対して複数設けられている。また、それに応じて、図4に示すn+不純物領域802も、1つのn型フィンガー電極804nに対して複数設けられている。これにより、受光によって発生した電子(キャリアー)を効率よく取り出すことができる。   Similarly, as shown in FIG. 3, a plurality of n + contacts 811n are provided for one n-type finger electrode 804n. Accordingly, a plurality of n + impurity regions 802 shown in FIG. 4 are provided for one n-type finger electrode 804n. Thereby, electrons (carriers) generated by light reception can be efficiently extracted.

p+コンタクト811pおよびn+コンタクト811nの構成材料は、例えば、後述するフィンガー電極804の構成材料と同様のものから適宜選択される。   The constituent materials of the p + contact 811p and the n + contact 811n are appropriately selected, for example, from the same as the constituent material of the finger electrode 804 described later.

図3に示すSi基板800では、電極面85が長方形をなしている。なお、本明細書および各図では、Si基板800の長軸に平行な方向軸をX軸とし、Si基板800の短軸に平行な方向軸をY軸とする。また、X軸が延在している方向をX軸方向(第1方向)とし、Y軸が延在している方向をY軸方向(第1方向に直交する第2方向)という。   In the Si substrate 800 shown in FIG. 3, the electrode surface 85 has a rectangular shape. In this specification and each of the drawings, a direction axis parallel to the long axis of the Si substrate 800 is defined as an X axis, and a direction axis parallel to the short axis of the Si substrate 800 is defined as a Y axis. The direction in which the X axis extends is referred to as the X axis direction (first direction), and the direction in which the Y axis extends is referred to as the Y axis direction (second direction orthogonal to the first direction).

そして、図3に示すセル80Aは、複数のp型フィンガー電極804pを備えている。これらのp型フィンガー電極804pは、それぞれY軸方向に沿って延在するとともに、X軸方向に並んでいる。   The cell 80A shown in FIG. 3 includes a plurality of p-type finger electrodes 804p. These p-type finger electrodes 804p extend along the Y-axis direction and are arranged in the X-axis direction.

また、図3に示すセル80Aは、1つのp型バスバー電極805pを備えている。このp型バスバー電極805pは、−Y側の外縁部においてX軸方向に沿って延在している。そして、複数のp型フィンガー電極804pは、1つのp型バスバー電極805pを介して互いに電気的に接続されている。   Further, the cell 80A shown in FIG. 3 includes one p-type busbar electrode 805p. The p-type busbar electrode 805p extends along the X-axis direction at the outer edge on the −Y side. The plurality of p-type finger electrodes 804p are electrically connected to each other via one p-type bus bar electrode 805p.

一方、図3に示すセル80Aは、複数のn型フィンガー電極804nを備えている。これらのn型フィンガー電極804nは、それぞれY軸方向に沿って延在するとともに、X軸方向に並んでいる。   On the other hand, the cell 80A shown in FIG. 3 includes a plurality of n-type finger electrodes 804n. These n-type finger electrodes 804n extend along the Y-axis direction and are arranged in the X-axis direction.

また、図3に示すセル80Aは、1つのn型バスバー電極805nを備えている。このn型バスバー電極805nは、+Y側の外縁部においてX軸方向に沿って延在している。そして、複数のn型フィンガー電極804nは、1つのn型バスバー電極805nを介して互いに電気的に接続されている。   The cell 80A shown in FIG. 3 includes one n-type bus bar electrode 805n. The n-type bus bar electrode 805n extends along the X-axis direction at the outer edge on the + Y side. The plurality of n-type finger electrodes 804n are electrically connected to each other via one n-type bus bar electrode 805n.

以上のような複数のp型フィンガー電極804pおよび1つのp型バスバー電極805pにより、いわゆる櫛歯形状のp型電極を構成している。また、複数のn型フィンガー電極804nおよび1つのn型バスバー電極805nにより、櫛歯形状のn型電極を構成している。そして、p型電極とn型電極とが互いに噛み合うように配置されている。   A plurality of p-type finger electrodes 804p and one p-type bus bar electrode 805p as described above constitute a so-called comb-shaped p-type electrode. A plurality of n-type finger electrodes 804n and one n-type busbar electrode 805n form a comb-shaped n-type electrode. Then, the p-type electrode and the n-type electrode are arranged so as to mesh with each other.

なお、前述したフィンガー電極804は、p型フィンガー電極804pおよびn型フィンガー電極804nの双方を指している。   Note that the above-mentioned finger electrode 804 indicates both the p-type finger electrode 804p and the n-type finger electrode 804n.

また、前述したバスバー電極805は、p型バスバー電極805pおよびn型バスバー電極805nの双方を指している。   The above-described bus bar electrode 805 indicates both the p-type bus bar electrode 805p and the n-type bus bar electrode 805n.

また、図3および図4に示すように、p型フィンガー電極804p、n型フィンガー電極804n、p型バスバー電極805pおよびn型バスバー電極805nは、それぞれパッシベーション膜807に覆われている。これにより、外部環境からこれらの電極が保護されている。   As shown in FIGS. 3 and 4, the p-type finger electrode 804p, the n-type finger electrode 804n, the p-type busbar electrode 805p, and the n-type busbar electrode 805n are covered with a passivation film 807, respectively. This protects these electrodes from the external environment.

・電極パッド(接続部)
一方、パッシベーション膜807の一部にはビアホールが設けられ、p型フィンガー電極804pおよびn型フィンガー電極804nの一部が露出している。このうち、p型フィンガー電極804pの露出面が前述した電極パッド86(正極の接続部)となり、n型フィンガー電極804nの露出面が前述した電極パッド87(負極の接続部)となる。なお、電極パッド86、87は、必要に応じて、前記露出面に設けられたスタッドバンプ等を含んでいてもよい。
・ Electrode pad (connection part)
On the other hand, a via hole is provided in a part of the passivation film 807, and a part of the p-type finger electrode 804p and a part of the n-type finger electrode 804n are exposed. Of these, the exposed surface of the p-type finger electrode 804p becomes the above-mentioned electrode pad 86 (the connection part of the positive electrode), and the exposed surface of the n-type finger electrode 804n becomes the above-mentioned electrode pad 87 (the connection part of the negative electrode). The electrode pads 86 and 87 may include a stud bump provided on the exposed surface as needed.

また、図3では、X軸方向において、p型フィンガー電極804pとn型フィンガー電極804nとが交互に並んでいる。   In FIG. 3, p-type finger electrodes 804p and n-type finger electrodes 804n are alternately arranged in the X-axis direction.

さらに、電極パッド86、87を挟む両側については、電極パッド86、87を挟んでp型フィンガー電極804pとn型フィンガー電極804nとが向かい合っている。   Further, on both sides of the electrode pads 86 and 87, the p-type finger electrode 804p and the n-type finger electrode 804n face each other across the electrode pads 86 and 87.

電極パッド86、87の1つの面積は、Si基板800の大きさに応じて適宜設定されるが、0.05mm以上5mm以下であることが好ましく、0.1mm以上3mm以下であることがより好ましい。これにより、接続抵抗の低減および接続強度の向上を十分に図りつつ、電極パッド86、87を設けることに伴う少数キャリアーの収集ロスも十分に抑えることができる。 The area of one of the electrode pads 86 and 87 is appropriately set according to the size of the Si substrate 800, but is preferably 0.05 mm 2 or more and 5 mm 2 or less, and is 0.1 mm 2 or more and 3 mm 2 or less. Is more preferable. Thus, while sufficiently reducing the connection resistance and improving the connection strength, the collection loss of the minority carriers caused by providing the electrode pads 86 and 87 can be sufficiently suppressed.

なお、電極パッド86、87の配置は、図示のものに限定されず、Si基板800の中央部であっても、外縁部であってもよい。   Note that the arrangement of the electrode pads 86 and 87 is not limited to the illustrated one, and may be at the center of the Si substrate 800 or at the outer edge.

また、電極パッド86、87の形状も、特に限定されず、いかなる形状であってもよい。一例として、図3に示す電極パッド86、87の形状は、それぞれ正方形であるが、真円、楕円、長円のような円形であってもよく、長方形、三角形、六角形、八角形のような多角形であってもよく、それ以外の形状であってもよい。   Also, the shape of the electrode pads 86 and 87 is not particularly limited, and may be any shape. As an example, the shape of each of the electrode pads 86 and 87 shown in FIG. 3 is a square, but may be a circle such as a perfect circle, an ellipse, or an ellipse, and may be a rectangle, a triangle, a hexagon, or an octagon. It may be a simple polygon or any other shape.

さらに、電極パッド86と電極パッド87との間で、互いに形状が同じであるのが好ましいが、互いに異なっていてもよい。   Further, the electrode pad 86 and the electrode pad 87 preferably have the same shape, but may have different shapes.

また、本実施形態では、電極パッド86、87が設けられている部分には、p+コンタクト811pおよびn+コンタクト811nが、それぞれ平面視で重ならないように配置されている(図3参照)。   Further, in the present embodiment, the p + contact 811p and the n + contact 811n are arranged in the portion where the electrode pads 86 and 87 are provided so as not to overlap each other in plan view (see FIG. 3).

すなわち、セル80Aは、n型(第1導電型)のSi基板800(半導体基板)と、Si基板800の電極面85に設けられ、バスバー電極805(第1電極)と電気的に接続されたp+不純物領域801(第2導電型不純物領域)およびn+不純物領域802(第1導電型不純物領域)と、を有し、Si基板800の厚さ方向で見たとき、電極パッド86(接続部)は、n+不純物領域802(第1導電型不純物領域)およびp+不純物領域801(第2導電型不純物領域)とずれるように配置されている。そして、それにより自ずと、電極パッド86は、p+コンタクト811pおよびn+コンタクト811nとずれるように配置されている。   That is, the cell 80A is provided on the n-type (first conductivity type) Si substrate 800 (semiconductor substrate) and the electrode surface 85 of the Si substrate 800, and is electrically connected to the bus bar electrode 805 (first electrode). It has ap + impurity region 801 (second conductivity type impurity region) and an n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region), and when viewed in the thickness direction of Si substrate 800, electrode pad 86 (connection portion) Are arranged so as to deviate from n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region) and p + impurity region 801 (second conductivity type impurity region). The electrode pad 86 is naturally arranged so as to be shifted from the p + contact 811p and the n + contact 811n.

同様に、Si基板800の厚さ方向で見たとき、電極パッド87(接続部)は、p+不純物領域801およびn+不純物領域802とずれるように配置されている。そして、それにより自ずと、電極パッド87は、p+コンタクト811pおよびn+コンタクト811nとずれるように配置されている。   Similarly, when viewed in the thickness direction of Si substrate 800, electrode pad 87 (connection portion) is arranged so as to be shifted from p + impurity region 801 and n + impurity region 802. Thus, the electrode pad 87 is naturally arranged so as to be shifted from the p + contact 811p and the n + contact 811n.

これにより、例えば電極パッド86、87に導電接続部83が接合された後、その接合部が破損したとしても、p+不純物領域801およびn+不純物領域802に損傷が及んでしまうのを抑制することができる。したがって、より信頼性の高いセル80Aが得られる。なお、本明細書において「ずれる」とは、平面視で互いに重なっている部分がない状態をいう。   Thus, for example, after the conductive connection portion 83 is bonded to the electrode pads 86 and 87, even if the bonding portion is broken, it is possible to prevent the p + impurity region 801 and the n + impurity region 802 from being damaged. it can. Therefore, a more reliable cell 80A can be obtained. Note that, in this specification, “displaced” refers to a state in which there are no overlapping portions in plan view.

また、上記のような配置であることにより、電極パッド86、87は、その平坦性等の形状においてp+不純物領域801やn+不純物領域802の影響を受けることがなくなる。このため、平坦性が高く、接触不良を発生させにくい電極パッド86、87が得られる。   Further, with the above arrangement, the electrode pads 86 and 87 are not affected by the p + impurity region 801 or the n + impurity region 802 in the shape such as flatness. Therefore, the electrode pads 86 and 87 having high flatness and hardly causing a contact failure can be obtained.

また、本実施形態では、図3に示すように、p+コンタクト811pおよびn+コンタクト811nが、電極パッド86、87(接続部)を囲むように配置されている。そして、前述したように、p+コンタクト811pは、p+不純物領域801(第2導電型不純物領域)に対応して設けられ、n+コンタクト811nは、n+不純物領域802(第1導電型不純物領域)に対応して設けられている。したがって、p+不純物領域801およびn+不純物領域802は、電極パッド86、87(接続部)を囲むように配置されている。このような位置にp+不純物領域801およびn+不純物領域802の少なくとも一方が配置されていることにより、上記のようにして電極パッド86、87にp+不純物領域801およびn+不純物領域802が設けられていない場合であっても、Si基板800で発生した少数キャリアーを効率よく収集することができる。すなわち、Si基板800のうち、電極パッド86、87と重なる部分では、p+不純物領域801が設けられていないため、受光によって発生した少数キャリアーを効率よく収集することができない。そこで、電極パッド86、87を囲むようにp+不純物領域801を設けることで、少数キャリアーの移動方向によらず、少数キャリアーの消滅を最小限に抑えつつ収集することが可能になる。このため、電極パッド86、87を設けたことによる光電変換効率の低下を最小限に留めることができる。   In this embodiment, as shown in FIG. 3, the p + contact 811p and the n + contact 811n are arranged so as to surround the electrode pads 86 and 87 (connection portions). As described above, p + contact 811p is provided corresponding to p + impurity region 801 (second conductivity type impurity region), and n + contact 811n corresponds to n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region). It is provided. Therefore, p + impurity region 801 and n + impurity region 802 are arranged to surround electrode pads 86 and 87 (connection portions). Since at least one of p + impurity region 801 and n + impurity region 802 is arranged at such a position, p + impurity region 801 and n + impurity region 802 are not provided on electrode pads 86 and 87 as described above. Even in this case, minority carriers generated on the Si substrate 800 can be efficiently collected. That is, in the portion of the Si substrate 800 that overlaps the electrode pads 86 and 87, the p + impurity region 801 is not provided, so that minority carriers generated by light reception cannot be collected efficiently. Therefore, by providing the p + impurity region 801 so as to surround the electrode pads 86 and 87, it becomes possible to collect the minority carriers while minimizing the disappearance of the minority carriers, regardless of the moving direction of the minority carriers. Therefore, it is possible to minimize a decrease in photoelectric conversion efficiency due to the provision of the electrode pads 86 and 87.

なお、電極パッド86、87の配置は、必ずしも限定されるものではなく、例えば、電極パッド86、87は、p+不純物領域801、n+不純物領域802、p+コンタクト811pおよびn+コンタクト811nのいずれかと平面視で重なっていてもよい。   Note that the arrangement of the electrode pads 86 and 87 is not necessarily limited. For example, the electrode pads 86 and 87 may be in plan view as any of the p + impurity region 801, the n + impurity region 802, the p + contact 811p, and the n + contact 811n. May overlap.

・フィンガー電極
セル80Aには、複数のフィンガー電極804が設けられている。このため、これらのフィンガー電極804は、X軸方向に沿って並んでいる。換言すれば、フィンガー電極804の配列軸がSi基板800の長軸と平行になっている。このように配列させることで、各フィンガー電極804の形状や面積を均一化することができ、セル80Aの構造の均一化を図ることができる。その結果、セル80Aにおける反り等の変形が発生しにくくなる。加えて、フィンガー電極804を、Si基板800に対してできるだけ隙間なく敷き詰めることができる。これにより、フィンガー電極804は、Si基板800の電極面85側において、受光面84から入射した光を反射するための反射膜としても機能する。すなわち、フィンガー電極804が隙間なく敷き詰められることにより、受光面84から入射しSi基板800を透過してしまった光を、フィンガー電極804においてより高い確率で反射させることができる。これにより、光電変換に寄与する光量を増やすことができ、光電変換効率の向上を図ることができる。
-Finger electrodes A plurality of finger electrodes 804 are provided in the cell 80A. For this reason, these finger electrodes 804 are arranged along the X-axis direction. In other words, the arrangement axis of the finger electrodes 804 is parallel to the long axis of the Si substrate 800. By arranging in this manner, the shape and area of each finger electrode 804 can be made uniform, and the structure of the cell 80A can be made uniform. As a result, deformation such as warpage in the cell 80A hardly occurs. In addition, the finger electrodes 804 can be spread over the Si substrate 800 as closely as possible. Thus, the finger electrode 804 also functions as a reflection film on the electrode surface 85 side of the Si substrate 800 for reflecting light incident from the light receiving surface 84. That is, since the finger electrodes 804 are laid without gaps, light incident from the light receiving surface 84 and transmitted through the Si substrate 800 can be reflected at the finger electrodes 804 with a higher probability. Thereby, the amount of light contributing to the photoelectric conversion can be increased, and the photoelectric conversion efficiency can be improved.

さらに、少なくとも互いに隣り合うフィンガー電極804同士は、特に限定されないが、互いに同一形状であり、かつ、互いに同一面積であることが好ましい。これにより、セル80Aの構造のさらなる均一化が図られることとなる。   Further, at least the finger electrodes 804 adjacent to each other are not particularly limited, but preferably have the same shape and the same area. As a result, the structure of the cell 80A is further uniformed.

なお、同一形状、同一面積および平行とは、それぞれ、製造時に発生する誤差を許容する概念である。   Note that the same shape, the same area, and the parallel are concepts that allow an error that occurs during manufacturing.

また、複数のフィンガー電極804が並ぶ場合、p型フィンガー電極804pとn型フィンガー電極804nとが交互に並んでいるのが好ましいが、このような配列パターンに限定されるものではなく、一部または全部が異なる配列パターンであってもよい。   In addition, when a plurality of finger electrodes 804 are arranged, it is preferable that the p-type finger electrodes 804p and the n-type finger electrodes 804n are alternately arranged. However, the arrangement is not limited to such an arrangement pattern. All may be different arrangement patterns.

フィンガー電極804の幅は、5μm以上100μm以下であるのが好ましく、10μm以上50μm以下であるのがより好ましい。これにより、各フィンガー電極804に対応して設けられるコンタクト同士のピッチや不純物領域同士のピッチが最適化されるため、受光により発生した少数キャリアーの取り出し効率が向上する。その結果、光電変換効率が特に高いセル80Aが得られる。   The width of the finger electrode 804 is preferably 5 μm or more and 100 μm or less, and more preferably 10 μm or more and 50 μm or less. This optimizes the pitch between the contacts provided corresponding to each finger electrode 804 and the pitch between the impurity regions, thereby improving the efficiency of taking out minority carriers generated by light reception. As a result, a cell 80A having a particularly high photoelectric conversion efficiency is obtained.

一方、フィンガー電極804同士の間隔は、1μm以上50μm以下であるのが好ましく、3μm以上30μm以下であるのがより好ましい。これにより、フィンガー電極804同士の絶縁を図りつつ、フィンガー電極804が占める面積を十分に大きくすることができる。   On the other hand, the distance between the finger electrodes 804 is preferably 1 μm or more and 50 μm or less, and more preferably 3 μm or more and 30 μm or less. Accordingly, the area occupied by the finger electrodes 804 can be sufficiently increased while the insulation between the finger electrodes 804 is achieved.

・バスバー電極
一方、セル80Aは、図3に示すように、複数のp型フィンガー電極804pを互いに接続するように設けられたp型バスバー電極805pを備えている。同様に、セル80Aは、図3に示すように、複数のn型フィンガー電極804nを互いに接続するように設けられたn型バスバー電極805nを備えている。なお、図3では、図示の便宜上、p型バスバー電極805pに斜線を付し、n型バスバー電極805nにドットを付している。
Bus Bar Electrode On the other hand, as shown in FIG. 3, the cell 80A includes a p-type bus bar electrode 805p provided to connect a plurality of p-type finger electrodes 804p to each other. Similarly, as shown in FIG. 3, the cell 80A includes an n-type busbar electrode 805n provided to connect a plurality of n-type finger electrodes 804n to each other. In FIG. 3, for convenience of illustration, the p-type busbar electrode 805p is hatched, and the n-type busbar electrode 805n is dotted.

また、p型バスバー電極805pは、p型フィンガー電極804pと同様、Si基板800の厚さ方向においてp+不純物領域801およびp+コンタクト811pと重なるように設けられている。同様に、n型バスバー電極805nは、n型フィンガー電極804nと同様、Si基板800の厚さ方向においてn+不純物領域802およびn+コンタクト811nと重なるように設けられている。   The p-type busbar electrode 805p is provided so as to overlap the p + impurity region 801 and the p + contact 811p in the thickness direction of the Si substrate 800, similarly to the p-type finger electrode 804p. Similarly, n-type busbar electrode 805n is provided so as to overlap n + impurity region 802 and n + contact 811n in the thickness direction of Si substrate 800, similarly to n-type finger electrode 804n.

ここで、バスバー電極805の延在方向は、図3に示すように、フィンガー電極804の延在方向と交差している。すなわち、前述したように、フィンガー電極804がY軸方向に沿って延在しているのに対し、バスバー電極805はX軸方向に沿って延在している。したがって、フィンガー電極804とバスバー電極805とがほぼ直交している。   Here, the extending direction of the bus bar electrode 805 crosses the extending direction of the finger electrode 804, as shown in FIG. That is, as described above, the finger electrode 804 extends along the Y-axis direction, whereas the bus bar electrode 805 extends along the X-axis direction. Therefore, the finger electrode 804 and the bus bar electrode 805 are substantially orthogonal.

なお、フィンガー電極804とバスバー電極805との交差角度は、90°であるが、製造時に発生する誤差が含まれていてもよい。   The intersection angle between the finger electrode 804 and the bus bar electrode 805 is 90 °, but may include an error generated at the time of manufacturing.

フィンガー電極804やバスバー電極805の構成材料としては、例えば、アルミニウム、チタン、銅のような金属の単体または合金等が挙げられる。   As a constituent material of the finger electrode 804 and the bus bar electrode 805, for example, a simple substance or an alloy of a metal such as aluminum, titanium, and copper can be used.

・サブフィンガー電極
また、セル80Aは、図3に示すように、p型フィンガー電極804pから分岐している複数のp型サブフィンガー電極806pを備えている。同様に、セル80Aは、図3に示すように、n型フィンガー電極804nから分岐している複数のn型サブフィンガー電極806nを備えている。なお、図3では、図示の便宜上、p型サブフィンガー電極806pに斜線を付し、n型サブフィンガー電極806nにドットを付している。
-Sub-finger electrode Further, as shown in FIG. 3, the cell 80A includes a plurality of p-type sub-finger electrodes 806p branched from the p-type finger electrode 804p. Similarly, as shown in FIG. 3, the cell 80A includes a plurality of n-type sub-finger electrodes 806n branched from the n-type finger electrodes 804n. In FIG. 3, for convenience of illustration, the p-type sub-finger electrode 806p is hatched, and the n-type sub-finger electrode 806n is dotted.

また、p型サブフィンガー電極806pは、p型フィンガー電極804pと同様、Si基板800の厚さ方向においてp+不純物領域801およびp+コンタクト811pと重なるように設けられている。同様に、n型サブフィンガー電極806nは、n型フィンガー電極804nと同様、Si基板800の厚さ方向においてn+不純物領域802およびn+コンタクト811nと重なるように設けられている。   The p-type sub-finger electrode 806p is provided so as to overlap the p + impurity region 801 and the p + contact 811p in the thickness direction of the Si substrate 800, similarly to the p-type finger electrode 804p. Similarly, n-type sub-finger electrode 806n is provided so as to overlap n + impurity region 802 and n + contact 811n in the thickness direction of Si substrate 800, similarly to n-type finger electrode 804n.

なお、以下の説明では、p型サブフィンガー電極806pおよびn型サブフィンガー電極806nの双方を指して、サブフィンガー電極806という。   In the following description, both the p-type sub-finger electrode 806p and the n-type sub-finger electrode 806n are referred to as a sub-finger electrode 806.

サブフィンガー電極806の延在方向は、図3に示すように、フィンガー電極804の延在方向と交差している。そして、前述したように、サブフィンガー電極806は、フィンガー電極804から分岐している。なお、「分岐している」とは、フィンガー電極804とサブフィンガー電極806とが、互いに同一の面上に設けられており(配置面のZ軸方向における位置が互いに同じに設けられており)、かつ、Y軸方向に延在しているフィンガー電極804の末端または途中から、X軸方向に沿ってサブフィンガー電極806が延出している構造を指す。   The extending direction of the sub-finger electrode 806 crosses the extending direction of the finger electrode 804, as shown in FIG. Then, as described above, the sub-finger electrode 806 branches off from the finger electrode 804. Note that “branched” means that the finger electrode 804 and the sub-finger electrode 806 are provided on the same plane (the positions of the arrangement planes in the Z-axis direction are the same). In addition, it refers to a structure in which a sub-finger electrode 806 extends along the X-axis direction from the end or the middle of the finger electrode 804 extending in the Y-axis direction.

以上のような複数のp型サブフィンガー電極806pおよびその分岐元であるp型フィンガー電極804pにより、いわゆる櫛歯形状のp型電極が構成されている。また、複数のn型サブフィンガー電極806nおよびその分岐元であるn型フィンガー電極804nにより、櫛歯形状のn型電極が構成されている。そして、p型電極とn型電極とが互いに噛み合うように配置されている。   The plurality of p-type sub-finger electrodes 806p and the p-type finger electrode 804p as a branching source constitute a so-called comb-shaped p-type electrode. Further, a plurality of n-type sub-finger electrodes 806n and an n-type finger electrode 804n that is a branch source thereof constitute a comb-shaped n-type electrode. Then, the p-type electrode and the n-type electrode are arranged so as to mesh with each other.

このようなサブフィンガー電極806を設けることにより、電極パッド86、87の位置によらず、p+不純物領域801およびn+不純物領域802を隙間なく配置することができる。これにより、例えば、電極パッド86、87がSi基板800の外縁部よりも内側(中央部)に配置されている場合であっても、その電極パッド86、87を取り囲むようにp+不純物領域801およびn+不純物領域802を配置することが可能になる。すなわち、サブフィンガー電極806を用いることによって、そのような位置に配置されたp+不純物領域801およびn+不純物領域802に対しても、それぞれ電気的接続を図ることができる。その結果、受光によって発生した少数キャリアーの消滅を極力減らすことができ、光電変換効率の向上を図ることができる。   By providing such a sub-finger electrode 806, the p + impurity region 801 and the n + impurity region 802 can be arranged without gaps regardless of the positions of the electrode pads 86 and 87. Accordingly, for example, even when electrode pads 86 and 87 are arranged inside (central part) the outer edge of Si substrate 800, p + impurity region 801 and p + impurity region 801 surround electrode pads 86 and 87. It becomes possible to arrange the n + impurity region 802. That is, by using the sub-finger electrode 806, electrical connection can also be achieved with the p + impurity region 801 and the n + impurity region 802 arranged at such positions. As a result, disappearance of minority carriers generated by light reception can be reduced as much as possible, and photoelectric conversion efficiency can be improved.

ここで、図5は、図3に示すセル80Aにおいて、仮にサブフィンガー電極806を省略するように変更した場合の電極を示す図、すなわち従来の裏面電極型光電変換素子を示す図である。   Here, FIG. 5 is a diagram showing an electrode in a case where the sub-finger electrode 806 is temporarily changed to be omitted in the cell 80A shown in FIG. 3, that is, a diagram showing a conventional back electrode type photoelectric conversion element.

図5に示すセル80A’では、フィンガー電極804から分岐するサブフィンガー電極806が設けられていない。このため、従来の裏面電極型光電変換素子では、例えば図5において電極到達不可領域809p、809nとして示すように、一方の極性のフィンガー電極804やバスバー電極805のみで取り囲まれた領域が生じてしまう。より具体的には、図5に示す電極到達不可領域809pは、n型フィンガー電極804n、n型バスバー電極805nおよび電極パッド87で取り囲まれている。このため、電極到達不可領域809pには、p型フィンガー電極804pを引き回すことができず、この電極到達不可領域809pで発生した少数キャリアーを効率よく収集することができない。その結果、光電変換効率の向上を図ることができないという問題がある。また、図5に示す電極到達不可領域809nは、p型フィンガー電極804p、p型バスバー電極805pおよび電極パッド86で取り囲まれている。このため、電極到達不可領域809nには、n型フィンガー電極804nを到達させることができず、この領域の多数キャリアーを効率よく収集することができない。以上のような理由から、従来の裏面電極型光電変換素子では、電極パッド(接続部)の位置によって、電極を引き回すことができない領域が発生し、光電変換効率を高めることができないという問題があった。   In the cell 80A 'shown in FIG. 5, the sub-finger electrode 806 branched from the finger electrode 804 is not provided. Therefore, in the conventional back electrode type photoelectric conversion element, for example, as shown as electrode unreachable regions 809p and 809n in FIG. 5, a region surrounded by only the finger electrode 804 of one polarity or the bus bar electrode 805 occurs. . More specifically, the electrode unreachable region 809p shown in FIG. 5 is surrounded by an n-type finger electrode 804n, an n-type bus bar electrode 805n, and an electrode pad 87. Therefore, the p-type finger electrode 804p cannot be routed in the electrode unreachable region 809p, and the minority carriers generated in the electrode unreachable region 809p cannot be collected efficiently. As a result, there is a problem that the photoelectric conversion efficiency cannot be improved. The electrode unreachable region 809n shown in FIG. 5 is surrounded by a p-type finger electrode 804p, a p-type bus bar electrode 805p, and an electrode pad 86. Therefore, the n-type finger electrode 804n cannot reach the electrode unreachable region 809n, and the majority carriers in this region cannot be efficiently collected. For the reasons described above, the conventional back electrode type photoelectric conversion element has a problem that an electrode cannot be routed depending on the position of the electrode pad (connection portion), and the photoelectric conversion efficiency cannot be increased. Was.

これに対し、図3に示すセル80Aでは、サブフィンガー電極806を設けることにより、図5に示す電極到達不可領域809p、809nにも電極を引き回すことができる。このため、図5に示す電極到達不可領域809pで発生した少数キャリアーを効率よく収集することができ、光電変換効率を高めることができる。   On the other hand, in the cell 80A shown in FIG. 3, by providing the sub-finger electrode 806, the electrode can be routed to the electrode unreachable regions 809p and 809n shown in FIG. Therefore, minority carriers generated in the electrode unreachable region 809p shown in FIG. 5 can be efficiently collected, and the photoelectric conversion efficiency can be increased.

また、従来の裏面電極型光電変換素子では、上記の課題を解消するため、電極パッド(接続部)をSi基板の外縁部に配置することがあった。このような配置であれば、電極到達不可領域809p、809nが生まれないため、光電変換効率の低下を防止することができる。その一方、電極パッドの配置がSi基板の外縁部である場合、Si基板を固定するポイントも外縁部に偏ることになる。このため、従来は、導電接続部を電極パッドに接続することにより、セルを固定しようとしても、セルの固定が不安定になるという問題がある。   Moreover, in the conventional back electrode type photoelectric conversion element, in order to solve the above-mentioned problem, an electrode pad (connection part) may be arranged at an outer edge of the Si substrate. With such an arrangement, the electrode unreachable regions 809p and 809n are not generated, so that a decrease in photoelectric conversion efficiency can be prevented. On the other hand, when the arrangement of the electrode pads is at the outer edge of the Si substrate, the point for fixing the Si substrate is also biased toward the outer edge. For this reason, conventionally, there is a problem that even if an attempt is made to fix the cell by connecting the conductive connecting portion to the electrode pad, the fixing of the cell becomes unstable.

そこで、電極パッドの配置をSi基板の中央部に変更することが考えられるが、その場合、前述した電極到達不可領域809p、809nが生まれるという問題が避けられない。   Therefore, it is conceivable to change the arrangement of the electrode pads to the center of the Si substrate. In this case, however, the problem that the above-mentioned electrode unreachable regions 809p and 809n are created is inevitable.

一方、サブフィンガー電極806を設けることにより、電極パッド86、87をSi基板800の中央部に配置した場合であっても、従来のような、同じ極性の電極で取り囲まれる領域、すなわち電極到達不可領域809p、809nが発生しない。このため、本実施形態では、電極パッド86、87の位置によらず、光電変換効率を高めることが可能になる。その結果、電極パッド86、87に導電接続部83を接続することによってセル80Aを安定的に固定するという効果と、セル80Aの光電変換効率を高めるという効果の双方を奏することができる。   On the other hand, by providing the sub-finger electrode 806, even when the electrode pads 86 and 87 are arranged at the center of the Si substrate 800, a region surrounded by electrodes of the same polarity, that is, an electrode Regions 809p and 809n do not occur. Therefore, in the present embodiment, it is possible to increase the photoelectric conversion efficiency regardless of the positions of the electrode pads 86 and 87. As a result, both the effect of stably fixing the cell 80A by connecting the conductive connection portion 83 to the electrode pads 86 and 87 and the effect of increasing the photoelectric conversion efficiency of the cell 80A can be obtained.

なお、図3に示す複数のサブフィンガー電極806は、Y軸方向に沿って並んでいる。このため、従来の電極到達不可領域809p、809nに対してもサブフィンガー電極806を隙間なく引き回すことができる。その結果、少数キャリアーの収集効率が高まるとともに、受光面84から入射した光を反射する反射膜としての機能も向上する。   Note that the plurality of sub-finger electrodes 806 shown in FIG. 3 are arranged along the Y-axis direction. For this reason, the sub-finger electrode 806 can be routed to the conventional electrode unreachable regions 809p and 809n without any gap. As a result, the collection efficiency of minority carriers is increased, and the function as a reflection film that reflects light incident from the light receiving surface 84 is also improved.

また、サブフィンガー電極806は、全てのフィンガー電極804から分岐している必要はなく、セル80Aは、サブフィンガー電極806が分岐していないフィンガー電極804を有していてもよい。また、複数のサブフィンガー電極806の長さや幅、間隔は、互いに同じであっても、異なっていてもよい。   Further, the sub-finger electrode 806 does not need to be branched from all the finger electrodes 804, and the cell 80A may have a finger electrode 804 where the sub-finger electrode 806 is not branched. The length, width, and interval of the plurality of sub-finger electrodes 806 may be the same or different.

以上のように、裏面電極型光電変換素子であるセル80Aは、n型(第1導電型)のSi基板800(半導体基板)と、p型(第1導電型と異なる第2導電型)を有するp+不純物領域801(第2導電型不純物領域)およびn型を有するn+不純物領域802(第1導電型不純物領域)と、Si基板800の一方の面である電極面85の上方に設けられ、X軸方向(第1方向)に延在するバスバー電極805(第1電極)と、Si基板800の電極面85の上方に設けられ、X軸方向に直交するY軸方向(第2方向)に延在し、バスバー電極805と電気的に接続されているフィンガー電極804(第2電極)と、Si基板800の電極面85の上方に設けられ、X軸方向に延在し、フィンガー電極804から分岐しているサブフィンガー電極806(第3電極)と、を有する。   As described above, the cell 80A, which is a back electrode type photoelectric conversion element, has an n-type (first conductivity type) Si substrate 800 (semiconductor substrate) and a p-type (second conductivity type different from the first conductivity type). A p + impurity region 801 (second conductivity type impurity region) and an n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region) having n-type and an electrode surface 85 which is one surface of the Si substrate 800. A bus bar electrode 805 (first electrode) extending in the X-axis direction (first direction) and a Y-axis direction (second direction) provided above the electrode surface 85 of the Si substrate 800 and orthogonal to the X-axis direction. A finger electrode 804 (second electrode) extending and electrically connected to the bus bar electrode 805; and a finger electrode 804 provided above the electrode surface 85 of the Si substrate 800, extending in the X-axis direction, and extending from the finger electrode 804. Branching subfinger A pole 806 (third electrode), a.

このようなセル80Aによれば、電極パッド86、87の位置によらず、光電変換効率を高めることができる。このため、例えば電極パッド86、87をSi基板800の中央部に配置してセル80Aを安定的に固定しつつ、光電変換効率の高い太陽電池80を実現することができる。   According to such a cell 80A, the photoelectric conversion efficiency can be increased regardless of the positions of the electrode pads 86 and 87. Therefore, for example, the solar cell 80 with high photoelectric conversion efficiency can be realized while the cell 80A is stably fixed by disposing the electrode pads 86 and 87 at the center of the Si substrate 800.

また、本実施形態では、図3に示すように、フィンガー電極804(第2電極)がバスバー電極805(第1電極)から分岐している。これにより、本実施形態では、バスバー電極805、フィンガー電極804およびサブフィンガー電極806が、いずれも同一の面上に配置されることになる。このため、セル80Aの構造が簡単になり、製造効率を高めやすくなる。   In this embodiment, as shown in FIG. 3, the finger electrode 804 (second electrode) branches off from the bus bar electrode 805 (first electrode). Thus, in the present embodiment, the bus bar electrode 805, the finger electrode 804, and the sub-finger electrode 806 are all arranged on the same plane. For this reason, the structure of the cell 80A is simplified, and the manufacturing efficiency is easily increased.

また、太陽電池80(光電変換モジュール)は、このようなセル80A(裏面電極型光電変換素子)と、このセル80Aと重なるように設けられている配線基板82と、セル80Aの電極パッド86、87と配線基板82の導電膜822とを電気的に接続する導電接続部83と、を有する。したがって、太陽電池80は、セル80Aが配線基板82に対して安定的に固定され、信頼性が高く、かつ、光電変換効率が高いものとなる。   Further, the solar cell 80 (photoelectric conversion module) includes such a cell 80A (a back electrode type photoelectric conversion element), a wiring substrate 82 provided so as to overlap the cell 80A, and an electrode pad 86 of the cell 80A. And a conductive connecting portion 83 for electrically connecting the conductive film 87 to the conductive film 822 of the wiring board 82. Therefore, in the solar cell 80, the cell 80A is stably fixed to the wiring substrate 82, the reliability is high, and the photoelectric conversion efficiency is high.

また、太陽電池80では、配線基板82によってセル80Aの電極面85の少なくとも一部が覆われることになるため、電極面85が保護される。このため、電極面85に異物が付着したり、外力が加わったりすることが抑制される。その結果、電極面85の信頼性を確保することができる。   Moreover, in the solar cell 80, at least a part of the electrode surface 85 of the cell 80A is covered by the wiring substrate 82, so that the electrode surface 85 is protected. For this reason, attachment of foreign matter to the electrode surface 85 and application of external force are suppressed. As a result, the reliability of the electrode surface 85 can be ensured.

換言すれば、受光面84を平面視したとき、導電接続部83は、セル80Aの陰に隠れている(セル80Aと重なっている)ことが好ましい。これにより、上述した信頼性の確保という効果に加え、導電接続部83が視認されないことによる太陽電池80の美的外観の向上を図ることができる。   In other words, when the light receiving surface 84 is viewed in a plan view, the conductive connection portion 83 is preferably hidden behind the cell 80A (overlaps with the cell 80A). Thereby, in addition to the effect of ensuring the above-described reliability, it is possible to improve the aesthetic appearance of the solar cell 80 due to the invisible conductive connection portion 83.

なお、導電接続部83は、セル80Aと配線基板82とを電気的のみならず、機械的にも接続している。このため、導電接続部83の機械的特性を最適化することにより、前述したセル80Aにおける応力の集中を緩和することができる。   The conductive connection portion 83 connects the cell 80A and the wiring board 82 not only electrically but also mechanically. Therefore, by optimizing the mechanical characteristics of the conductive connection portion 83, the concentration of the stress in the cell 80A described above can be reduced.

具体的には、導電接続部83のヤング率は、0.5GPa以上15GPa以下であるのが好ましく、1GPa以上10GPa以下であるのがより好ましく、1.5GPa以上6.5GPa以下であるのがさらに好ましい。導電接続部83のヤング率を前記範囲内に設定することにより、導電接続部83に求められる接着強度を確保しつつ、導電接続部83において歪み等を吸収することができる。このため、高い機械的特性に基づく機械的接続の信頼性と、セル80Aに発生する応力の集中を緩和する特性と、を両立させることができる。   Specifically, the Young's modulus of the conductive connection portion 83 is preferably 0.5 GPa or more and 15 GPa or less, more preferably 1 GPa or more and 10 GPa or less, and even more preferably 1.5 GPa or more and 6.5 GPa or less. preferable. By setting the Young's modulus of the conductive connection portion 83 within the above range, distortion and the like can be absorbed in the conductive connection portion 83 while securing the adhesive strength required for the conductive connection portion 83. Therefore, it is possible to achieve both the reliability of mechanical connection based on high mechanical characteristics and the characteristic of reducing the concentration of stress generated in the cell 80A.

なお、導電接続部83のヤング率が前記下限値を下回ると、導電接続部83の機械的特性が低くなるため、セル80Aの仕様等によっては、求められる接着強度を満たすことができないおそれがある。一方、導電接続部83のヤング率が前記上限値を上回ると、導電接続部83の変形能が低下するため、セル80Aの仕様等によっては、導電接続部83においてセル80Aの歪みを十分に吸収することができず、セル80Aに反り等の不具合を発生させるおそれがある。   When the Young's modulus of the conductive connection portion 83 is lower than the lower limit, the mechanical properties of the conductive connection portion 83 are reduced, and thus the required adhesive strength may not be satisfied depending on the specifications of the cell 80A. . On the other hand, if the Young's modulus of the conductive connecting portion 83 exceeds the upper limit, the deformability of the conductive connecting portion 83 is reduced. Therefore, depending on the specification of the cell 80A, the conductive connecting portion 83 can sufficiently absorb the distortion of the cell 80A. Therefore, there is a possibility that a defect such as warpage may occur in the cell 80A.

また、導電接続部83のヤング率は、例えば25℃において動的粘弾性測定装置(DMA)により測定される。   The Young's modulus of the conductive connection portion 83 is measured at 25 ° C. by a dynamic viscoelasticity measuring device (DMA), for example.

また、上述したヤング率の観点からすれば、導電接続部83としては、特に樹脂材料を含む導電性接着剤が好ましく用いられる。   Further, from the viewpoint of the Young's modulus described above, a conductive adhesive containing a resin material is particularly preferably used for the conductive connection portion 83.

導電性接着剤に含まれる樹脂材料としては、例えば、エポキシ系樹脂、ウレタン系樹脂、シリコーン系樹脂、アクリル系樹脂等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を混合して用いられる。   Examples of the resin material included in the conductive adhesive include an epoxy resin, a urethane resin, a silicone resin, an acrylic resin, and the like, and one or more of these are used as a mixture. .

≪第2実施形態≫
次に、本発明の裏面電極型光電変換素子の第2実施形態を適用したセルについて詳述する。
<< 2nd Embodiment >>
Next, a cell to which the second embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied will be described in detail.

図6は、本発明の裏面電極型光電変換素子の第2実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。また、図7は、図6のB−B線断面図である。なお、図6では、電極面85上に設けられたパッシベーション膜807およびバスバー電極805を介してフィンガー電極804やサブフィンガー電極806を透視するように図示している。また、図6では、バスバー電極805の輪郭のみを一点鎖線で図示している。   FIG. 6 is a plan view showing an electrode surface of a cell to which the second embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. FIG. 7 is a sectional view taken along line BB of FIG. Note that FIG. 6 illustrates the finger electrode 804 and the sub-finger electrode 806 through the passivation film 807 and the bus bar electrode 805 provided on the electrode surface 85. In FIG. 6, only the outline of the bus bar electrode 805 is shown by a dashed line.

以下、第2実施形態について説明するが、以下の説明では第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項についてはその説明を省略する。なお、図6および図7において、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。   Hereinafter, the second embodiment will be described, but in the following description, differences from the first embodiment will be mainly described, and description of similar items will be omitted. In FIGS. 6 and 7, the same components as those in the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals.

前述した第1実施形態に係るセル80Aでは、バスバー電極805とフィンガー電極804とが同一の面上に配置されているのに対し、第2実施形態に係るセル80Bでは、バスバー電極805とフィンガー電極804とを異なる面上、すなわちZ軸方向の位置が互いに異なる面上に配置している。そして、それ以外の構成は、第1実施形態に係るセル80Aと同様である。   In the cell 80A according to the first embodiment described above, the bus bar electrode 805 and the finger electrode 804 are arranged on the same surface, whereas in the cell 80B according to the second embodiment, the bus bar electrode 805 and the finger electrode 804 are arranged. 804 are arranged on different planes, that is, on planes whose positions in the Z-axis direction are different from each other. Other configurations are the same as those of the cell 80A according to the first embodiment.

このように本実施形態に係るセル80Bでは、Si基板800の厚さ方向においてフィンガー電極804と重なるように、バスバー電極805が設けられている。具体的には、Si基板800の電極面85のうち、−Y側には、X軸方向に延在するp型バスバー電極805pが設けられている。また、Si基板800の電極面85のうち、+Y側には、X軸方向に延在するn型バスバー電極805nが設けられている。   Thus, in the cell 80B according to the present embodiment, the bus bar electrode 805 is provided so as to overlap the finger electrode 804 in the thickness direction of the Si substrate 800. Specifically, a p-type busbar electrode 805p extending in the X-axis direction is provided on the −Y side of the electrode surface 85 of the Si substrate 800. On the + Y side of the electrode surface 85 of the Si substrate 800, an n-type busbar electrode 805n extending in the X-axis direction is provided.

これらのバスバー電極805は、複数のフィンガー電極804および複数のサブフィンガー電極806を跨ぐように設けられている。そして、バスバー電極805とフィンガー電極804およびサブフィンガー電極806との間は、パッシベーション膜807を介して絶縁されている。   These busbar electrodes 805 are provided so as to straddle the plurality of finger electrodes 804 and the plurality of sub-finger electrodes 806. The bus bar electrode 805 is insulated from the finger electrode 804 and the sub-finger electrode 806 via a passivation film 807.

このような構造によれば、電極面85のうち、第1実施形態においてバスバー電極805を配置するために確保されていた領域を、フィンガー電極804やサブフィンガー電極806を配置するために流用することができる。このため、p+不純物領域801をより高密度に配置することができ、光電変換効率をより高めることができる。   According to such a structure, of the electrode surface 85, the area secured for arranging the bus bar electrode 805 in the first embodiment can be diverted for arranging the finger electrode 804 and the sub-finger electrode 806. Can be. Therefore, the p + impurity regions 801 can be arranged at a higher density, and the photoelectric conversion efficiency can be further increased.

また、本実施形態においても、Si基板800を厚さ方向から見たとき、バスバー電極805の延在方向およびフィンガー電極804の延在方向は、互いに直交している。また、サブフィンガー電極806は、フィンガー電極804から分岐している。
以上のような第2実施形態においても、第1実施形態と同様の効果が得られる。
Also in the present embodiment, when the Si substrate 800 is viewed from the thickness direction, the extending direction of the bus bar electrode 805 and the extending direction of the finger electrode 804 are orthogonal to each other. The sub-finger electrode 806 is branched from the finger electrode 804.
In the second embodiment as described above, the same effects as in the first embodiment can be obtained.

また、本実施形態は、前述したように、Si基板800の電極面85(一方の面)に設けられ、バスバー電極805(第1電極)と電気的に接続されている電極パッド86、87(接続部)をさらに有している。すなわち、バスバー電極805は、図7に示すように、パッシベーション膜807で覆われている。そして、パッシベーション膜807の一部に設けられた開口部により、バスバー電極805の一部が−Z方向に露出している。これらの露出部が電極パッド86、87を構成している。   Further, as described above, in the present embodiment, the electrode pads 86 and 87 (provided on the electrode surface 85 (one surface) of the Si substrate 800 and electrically connected to the bus bar electrode 805 (first electrode)). Connection part). That is, the bus bar electrode 805 is covered with the passivation film 807 as shown in FIG. Then, a part of the bus bar electrode 805 is exposed in the −Z direction by an opening provided in a part of the passivation film 807. These exposed portions constitute the electrode pads 86 and 87.

そして、これらの電極パッド86、87は、それぞれSi基板800の外縁部よりも内側、すなわち中央部に配置されている。これにより、電極パッド86、87に導電接続部83を接続してセル80Bを固定するとき、セル80Bをより安定的に固定することが可能になる。   These electrode pads 86 and 87 are arranged inside the outer edge of the Si substrate 800, that is, at the center. Thus, when the conductive connection portion 83 is connected to the electrode pads 86 and 87 to fix the cell 80B, the cell 80B can be fixed more stably.

なお、「Si基板800の外縁部」とは、Si基板800の外縁からSi基板800の短軸の長さの10%の幅の範囲のことをいう。そして、「Si基板800の短軸の長さ」とは、Si基板800においてとり得る最大長さのことをいう。   The “outer edge of the Si substrate 800” refers to a range of 10% of the length of the short axis of the Si substrate 800 from the outer edge of the Si substrate 800. The “length of the short axis of the Si substrate 800” refers to the maximum length that the Si substrate 800 can have.

また、本実施形態では、前述したように、バスバー電極805(第1電極)とフィンガー電極804(第2電極)との間に設けられているパッシベーション膜807(絶縁層)をさらに有している。そして、本実施形態に係るセル80Bは、パッシベーション膜807を厚さ方向に貫通し、p型バスバー電極805pとp型フィンガー電極804pとを電気的に接続するp型貫通配線814pと、n型バスバー電極805nとn型フィンガー電極804nとを電気的に接続するn型貫通配線814nと、をさらに有している。   Further, in the present embodiment, as described above, the passivation film 807 (insulating layer) provided between the bus bar electrode 805 (first electrode) and the finger electrode 804 (second electrode) is further provided. . The cell 80B according to the present embodiment includes a p-type through wiring 814p that penetrates the passivation film 807 in the thickness direction and electrically connects the p-type busbar electrode 805p and the p-type finger electrode 804p, and an n-type busbar. An n-type through wiring 814n for electrically connecting the electrode 805n and the n-type finger electrode 804n is further provided.

このような構造によれば、フィンガー電極804の配置によらず、バスバー電極805の幅を十分に広く確保することができる。このため、バスバー電極805の導電性をより高めることができ、電気抵抗に伴う光電変換ロスを抑制することができる。加えて、バスバー電極805が、受光面84から入射した光を反射する反射膜として機能するため、光電変換効率をより高めることができる。   According to such a structure, a sufficiently large width of the bus bar electrode 805 can be ensured regardless of the arrangement of the finger electrodes 804. Therefore, the conductivity of the bus bar electrode 805 can be further increased, and photoelectric conversion loss due to electric resistance can be suppressed. In addition, since the bus bar electrode 805 functions as a reflection film that reflects light incident from the light receiving surface 84, the photoelectric conversion efficiency can be further improved.

≪第3実施形態≫
次に、本発明の裏面電極型光電変換素子の第3実施形態を適用したセルについて詳述する。
<< 3rd Embodiment >>
Next, a cell to which the third embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied will be described in detail.

図8は、本発明の裏面電極型光電変換素子の第3実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。なお、図8では、電極面85上に設けられたパッシベーション膜807を介してバスバー電極805、フィンガー電極804およびサブフィンガー電極806を透視するように図示している。   FIG. 8 is a plan view showing an electrode surface of a cell to which the third embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. In FIG. 8, the bus bar electrode 805, the finger electrode 804, and the sub-finger electrode 806 are shown as being seen through the passivation film 807 provided on the electrode surface 85.

以下、第3実施形態について説明するが、以下の説明では第1実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項についてはその説明を省略する。なお、図8において、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。   Hereinafter, the third embodiment will be described, but the following description focuses on differences from the first embodiment, and a description of the same items will be omitted. In FIG. 8, the same components as those in the above-described first embodiment are denoted by the same reference numerals.

前述した第1実施形態に係るセル80Aでは、Si基板800の電極面85の−Y側外縁部にp型バスバー電極805pが設けられ、+Y側外縁部にn型バスバー電極805nが設けられているのに対し、第3実施形態に係るセル80Cでは、Si基板800の外縁に沿ってp型バスバー電極805pが設けられている。   In the cell 80A according to the first embodiment described above, the p-type busbar electrode 805p is provided on the −Y side outer edge of the electrode surface 85 of the Si substrate 800, and the n-type busbar electrode 805n is provided on the + Y side outer edge. On the other hand, in the cell 80C according to the third embodiment, the p-type bus bar electrode 805p is provided along the outer edge of the Si substrate 800.

すなわち、本実施形態に係るセル80Cは、Si基板800(半導体基板)がn型(第1導電型)であり、Si基板800の電極面85は、n+不純物領域802(第1導電型不純物領域)およびp+不純物領域801(第2導電型不純物領域)を有している。   That is, in the cell 80C according to the present embodiment, the Si substrate 800 (semiconductor substrate) is an n-type (first conductivity type), and the electrode surface 85 of the Si substrate 800 has an n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region). ) And a p + impurity region 801 (second conductivity type impurity region).

また、バスバー電極805(第1電極)は、前述したように、第2導電型不純物領域であるp+不純物領域801(図4参照)と電気的に接続されているp型バスバー電極805p(第2の第1電極)、および、第1導電型不純物領域であるn+不純物領域802(図4参照)と電気的に接続されているn型バスバー電極805n(第1の第1電極)と、を備えている。そして、本実施形態に係るp型バスバー電極805pは、X軸方向に延在している部分のみでなく、Y軸方向に延在している部分も含んでいる。その結果、本実施形態に係るp型バスバー電極805pは、Si基板800(半導体基板)の外縁に沿って例えば環状に設けられている。   As described above, the bus bar electrode 805 (first electrode) is a p-type bus bar electrode 805p (second electrode) electrically connected to the p + impurity region 801 (see FIG. 4) which is the second conductivity type impurity region. And an n-type busbar electrode 805n (first first electrode) electrically connected to an n + impurity region 802 (see FIG. 4) that is a first conductivity type impurity region. ing. The p-type bus bar electrode 805p according to the present embodiment includes not only a portion extending in the X-axis direction but also a portion extending in the Y-axis direction. As a result, the p-type bus bar electrode 805p according to the present embodiment is provided, for example, in an annular shape along the outer edge of the Si substrate 800 (semiconductor substrate).

このようなセル80Cによれば、例えば環状をなすp型バスバー電極805pと重なるようにp+不純物領域801を配置したとき、そのp+不純物領域801から取り出した少数キャリアーを効率よく収集することができる。すなわち、従来の裏面電極型光電変換素子では、半導体基板の外縁近傍で発生した少数キャリアーを効率よく収集することができなかったのに対し、本実施形態では、Si基板800の外縁近傍で発生した少数キャリアーを効率よく収集することができる。特に、Si基板800の面積が小さい場合、相対的に外縁近傍で発生する少数キャリアーの割合が多くなるため、光電変換効率に寄与する割合も大きくなる。このため、光電変換効率が特に高いセル80Cが得られる。   According to such a cell 80C, for example, when the p + impurity region 801 is arranged so as to overlap the annular p-type busbar electrode 805p, minority carriers extracted from the p + impurity region 801 can be efficiently collected. That is, in the conventional back electrode type photoelectric conversion element, the minority carriers generated near the outer edge of the semiconductor substrate could not be efficiently collected, whereas in the present embodiment, the minority carriers generated near the outer edge of the Si substrate 800 were generated. Minority carriers can be collected efficiently. In particular, when the area of the Si substrate 800 is small, the proportion of minority carriers generated relatively near the outer edge increases, so that the proportion contributing to the photoelectric conversion efficiency also increases. Therefore, a cell 80C having a particularly high photoelectric conversion efficiency can be obtained.

また、本実施形態では、図8に示すように、p型バスバー電極805pが閉じた環状をなしている。このため、電流経路の最短化を図り、電気抵抗に伴う光電変換ロスを最小化することができる。なお、p型バスバー電極805pは、必ずしも閉じた環状をなしている必要はなく、一部が欠損していてもよい。   In the present embodiment, as shown in FIG. 8, the p-type bus bar electrode 805p has a closed ring shape. For this reason, the current path can be minimized, and the photoelectric conversion loss due to electrical resistance can be minimized. Note that the p-type busbar electrode 805p does not necessarily have to form a closed ring, and may be partially missing.

一方、本実施形態に係るn型バスバー電極805nは、Si基板800のY軸方向における中心を通過するように、X軸方向に沿って延在している。このn型バスバー電極805nは、電極パッド87を通過するとともに、電極パッド86を迂回するように引き回されている。   On the other hand, the n-type busbar electrode 805n according to the present embodiment extends along the X-axis direction so as to pass through the center of the Si substrate 800 in the Y-axis direction. The n-type bus bar electrode 805n is routed so as to pass through the electrode pad 87 and bypass the electrode pad 86.

そして、p型フィンガー電極804pの一部がパッシベーション膜807から露出し、電極パッド86を構成している。一方、n型フィンガー電極804nの一部がパッシベーション膜807から露出し、電極パッド87を構成している。   Then, a part of the p-type finger electrode 804p is exposed from the passivation film 807 to form an electrode pad 86. On the other hand, a part of the n-type finger electrode 804n is exposed from the passivation film 807 to form an electrode pad 87.

図9は、図8の部分拡大図である。なお、図9では、図8に図示した構成に加え、p+不純物領域801(第2導電型不純物領域)およびn+不純物領域802(第1導電型不純物領域)を図示している。また、図9において、前述した第1実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。   FIG. 9 is a partially enlarged view of FIG. Note that FIG. 9 shows a p + impurity region 801 (second conductivity type impurity region) and an n + impurity region 802 (first conductivity type impurity region) in addition to the configuration shown in FIG. In FIG. 9, the same components as those in the above-described first embodiment are denoted by the same reference numerals.

本実施形態では、前述したように、環状をなすp型バスバー電極805pと重なるように、第1導電型とは異なる第2導電型のp+不純物領域801が配置されている。すなわち、図9に示すセル80Cは、Si基板800(半導体基板)がn型(第1導電型)であり、Si基板800の電極面85は、p+不純物領域801を有している。   In the present embodiment, as described above, the p + impurity region 801 of the second conductivity type different from the first conductivity type is arranged so as to overlap the annular p-type busbar electrode 805p. That is, in the cell 80C shown in FIG. 9, the Si substrate 800 (semiconductor substrate) is an n-type (first conductivity type), and the electrode surface 85 of the Si substrate 800 has a p + impurity region 801.

そして、このp型バスバー電極805pと重なるように配置されたp+不純物領域801は、図9に示すように、Si基板800(半導体基板)の外縁に沿って設けられている。   Then, p + impurity region 801 arranged to overlap with p-type bus bar electrode 805p is provided along the outer edge of Si substrate 800 (semiconductor substrate), as shown in FIG.

このように設けられたp+不純物領域801は、前述したように、Si基板800の外縁近傍で発生した少数キャリアーを効率よく収集することを可能にする。このため、面積が小さいSi基板800を用いた場合であっても、光電変換効率が高いセル80Cを実現することができる。   As described above, the p + impurity region 801 provided in this manner enables the minority carriers generated near the outer edge of the Si substrate 800 to be efficiently collected. Therefore, even when the Si substrate 800 having a small area is used, the cell 80C having high photoelectric conversion efficiency can be realized.

また、本実施形態では、図8に示すように、p+不純物領域801が閉じた環状になっている。このため、Si基板800の外縁近傍で発生した少数キャリアーを最大限に収集することが可能になる。なお、p+不純物領域801は、必ずしも閉じた環状をなしている必要はなく、一部が欠損していてもよい。   In the present embodiment, as shown in FIG. 8, the p + impurity region 801 has a closed ring shape. Therefore, minority carriers generated near the outer edge of the Si substrate 800 can be collected to the maximum. Note that the p + impurity region 801 does not necessarily have to form a closed ring, and may be partially missing.

また、Si基板800の外縁とp+不純物領域801との離間距離L1は、特に限定されないが、0.01mm以上1.00mm以下であるのが好ましく、0.05mm以上0.20mm以下であるのがより好ましい。離間距離L1が前記範囲内であることにより、外縁近傍で発生した少数キャリアーを最大限に収集するという効果を十分に享受しつつ、同時に製造容易性を確保することができる。すなわち、離間距離L1が前記上限値を上回ると、Si基板800の外縁近傍で発生した少数キャリアーがp+不純物領域801まで移動する前に消滅してしまい、光電変換に寄与することができないおそれがある。一方、離間距離L1が前記下限値を下回ると、例えば切断プロセスを経てセル80Aを切り出すとき、切断加工の精度を特に高める必要があり、製造難易度が高くなるおそれがある。   Further, the distance L1 between the outer edge of Si substrate 800 and p + impurity region 801 is not particularly limited, but is preferably 0.01 mm or more and 1.00 mm or less, and is preferably 0.05 mm or more and 0.20 mm or less. More preferred. When the distance L1 is within the above range, the effect of maximally collecting the minority carriers generated in the vicinity of the outer edge can be sufficiently obtained, and at the same time, the manufacturability can be ensured. That is, when the separation distance L1 exceeds the upper limit, minority carriers generated near the outer edge of the Si substrate 800 disappear before moving to the p + impurity region 801 and may not be able to contribute to photoelectric conversion. . On the other hand, when the separation distance L1 is smaller than the lower limit, when cutting out the cell 80A through, for example, a cutting process, it is necessary to particularly increase the accuracy of the cutting process, and the manufacturing difficulty may be increased.

以上のような第3実施形態においても、第1実施形態と同様の効果が得られる。すなわち、第3実施形態も、サブフィンガー電極806を備えている。このため、電極パッド86、87の位置によらず、光電変換効率を高めることができる。その結果、例えば電極パッド86、87をSi基板800の中央部に配置してセル80Aを安定的に固定しつつ、光電変換効率の高い太陽電池80を実現することができる。   In the third embodiment as described above, the same effects as in the first embodiment can be obtained. That is, the third embodiment also includes the sub-finger electrode 806. Therefore, the photoelectric conversion efficiency can be increased regardless of the positions of the electrode pads 86 and 87. As a result, for example, the solar cell 80 with high photoelectric conversion efficiency can be realized while the cell 80A is stably fixed by disposing the electrode pads 86 and 87 at the center of the Si substrate 800.

≪第4実施形態≫
次に、本発明の裏面電極型光電変換素子の第4実施形態を適用したセルについて詳述する。
<< 4th Embodiment >>
Next, a cell to which the fourth embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied will be described in detail.

図10は、本発明の裏面電極型光電変換素子の第4実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。なお、図10では、電極面85上に設けられたパッシベーション膜807を介してバスバー電極805、フィンガー電極804およびサブフィンガー電極806を透視するように図示している。   FIG. 10 is a plan view showing an electrode surface of a cell to which a fourth embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. In FIG. 10, the bus bar electrode 805, the finger electrode 804, and the sub-finger electrode 806 are shown through the passivation film 807 provided on the electrode surface 85.

以下、第4実施形態について説明するが、以下の説明では第3実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項についてはその説明を省略する。なお、図10において、前述した実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。   Hereinafter, the fourth embodiment will be described. In the following description, differences from the third embodiment will be mainly described, and description of the same items will be omitted. In FIG. 10, the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals.

第4実施形態は、サブフィンガー電極806の形状が異なる以外、第3実施形態と同様である。すなわち、前述した第3実施形態に係るセル80Cは、p型サブフィンガー電極806pとn型サブフィンガー電極806nの双方を有しているのに対し、第4実施形態に係るセル80Dは、n型サブフィンガー電極806nのみを有している。   The fourth embodiment is the same as the third embodiment except that the shape of the sub-finger electrode 806 is different. That is, the cell 80C according to the third embodiment has both the p-type sub-finger electrode 806p and the n-type sub-finger electrode 806n, whereas the cell 80D according to the fourth embodiment has an n-type It has only the sub-finger electrode 806n.

また、本実施形態に係るp型バスバー電極805pは、環状をなす部分に加え、この部分と電極パッド86とをつなぐ部分も含んでいる。   In addition, the p-type bus bar electrode 805p according to the present embodiment includes, in addition to the ring-shaped portion, a portion connecting this portion to the electrode pad 86.

一方、本実施形態に係るn型バスバー電極805nは、電極パッド87を通過するように引き回されている。また、本実施形態に係るn型サブフィンガー電極806nは、電極パッド86の+Y側および−Y側にそれぞれ設けられている。そして、p型バスバー電極805pの一部がパッシベーション膜807から露出し、電極パッド86を構成している。一方、n型バスバー電極805nの一部がパッシベーション膜807から露出し、電極パッド87を構成している。
以上のような第4実施形態においても、第3実施形態と同様の効果が得られる。
On the other hand, the n-type bus bar electrode 805n according to the present embodiment is routed so as to pass through the electrode pad 87. Further, the n-type sub-finger electrodes 806n according to the present embodiment are provided on the + Y side and the −Y side of the electrode pad 86, respectively. Then, a part of the p-type bus bar electrode 805p is exposed from the passivation film 807 to form an electrode pad 86. On the other hand, a part of the n-type bus bar electrode 805n is exposed from the passivation film 807 to form an electrode pad 87.
In the above-described fourth embodiment, the same effects as in the third embodiment can be obtained.

≪第5実施形態≫
次に、本発明の裏面電極型光電変換素子の第5実施形態を適用したセルについて詳述する。
<< 5th Embodiment >>
Next, a cell to which the fifth embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied will be described in detail.

図11は、本発明の裏面電極型光電変換素子の第5実施形態を適用したセルの電極面を示す平面図である。なお、図11では、電極面85上に設けられたパッシベーション膜807およびバスバー電極805を介してフィンガー電極804およびサブフィンガー電極806を透視するように図示している。また、図11では、バスバー電極805の輪郭のみを一点鎖線で図示している。   FIG. 11 is a plan view showing an electrode surface of a cell to which the fifth embodiment of the back electrode type photoelectric conversion element of the present invention is applied. Note that FIG. 11 illustrates the finger electrode 804 and the sub-finger electrode 806 through the passivation film 807 and the bus bar electrode 805 provided on the electrode surface 85. In FIG. 11, only the outline of the bus bar electrode 805 is shown by a dashed line.

以下、第5実施形態について説明するが、以下の説明では第2実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項についてはその説明を省略する。なお、図11において、前述した実施形態と同様の構成には、同一符号を付してある。   Hereinafter, the fifth embodiment will be described. In the following description, differences from the second embodiment will be mainly described, and description of the same items will be omitted. Note that, in FIG. 11, the same components as those in the above-described embodiment are denoted by the same reference numerals.

第5実施形態は、Si基板800の形状が異なる以外、第2実施形態と同様である。すなわち、図11に示すセル80Eは、図6に示すセル80Aの2つの長辺を円弧に変更してなるものである。   The fifth embodiment is the same as the second embodiment except that the shape of the Si substrate 800 is different. That is, the cell 80E shown in FIG. 11 is obtained by changing two long sides of the cell 80A shown in FIG. 6 into arcs.

また、セル80Eが備えるバスバー電極805は、セル80Eの外形形状、すなわち円弧に沿って湾曲している。   The bus bar electrode 805 provided in the cell 80E is curved along the outer shape of the cell 80E, that is, along an arc.

さらに、セル80Eが備えるフィンガー電極804は、円弧の半径に沿って放射状に延在している。   Further, the finger electrodes 804 included in the cell 80E extend radially along the radius of the arc.

また、セル80Eが備えるサブフィンガー電極806は、フィンガー電極804から分岐するとともに、円弧に沿って延在している。   The sub-finger electrode 806 included in the cell 80E is branched from the finger electrode 804 and extends along an arc.

以上のような第5実施形態においても、第2実施形態と同様の効果が得られる。また、外形に曲線を含むセル80Eは、太陽電池を搭載する電子機器のデザイン性の向上に寄与する。   In the fifth embodiment as described above, the same effects as in the second embodiment can be obtained. In addition, the cell 80 </ b> E including a curve in the outer shape contributes to the improvement of design of an electronic device on which the solar cell is mounted.

<光電変換モジュールの製造方法>
次に、太陽電池80(光電変換モジュール)を製造する方法の一例について、図4を参照しつつ説明する。
<Method for manufacturing photoelectric conversion module>
Next, an example of a method for manufacturing the solar cell 80 (photoelectric conversion module) will be described with reference to FIG.

[1]まず、セル80Aを準備する。このセル80Aは、例えば、Siウエハーに不純物領域等を形成した後、電極やコンタクト、絶縁膜等を成膜することにより形成し、その後、個片化することにより製造される。電極やコンタクト、絶縁膜等の形成には、例えば各種蒸着技術、および、それにより形成された膜をパターニングするフォトリソグラフィー技術が用いられる。   [1] First, a cell 80A is prepared. The cell 80A is manufactured by, for example, forming an impurity region or the like on a Si wafer, forming an electrode, a contact, an insulating film, and the like, and then dividing the cell. For example, various vapor deposition techniques and a photolithography technique for patterning a film formed thereby are used to form the electrodes, contacts, and insulating films.

[2]次に、セル80Aおよび開口部824の少なくとも一方に、導電性の導電接続部83を配置する。具体的には、セル80Aの電極パッド86に導電接続部83を配置するようにしてもよく、配線基板82の開口部824に導電接続部83を配置するようにしてもよい。なお、電極パッド86や導電膜822には、あらかじめ金属バンプ等を形成しておいてもよい。   [2] Next, a conductive conductive connection portion 83 is arranged on at least one of the cell 80A and the opening 824. Specifically, the conductive connection part 83 may be arranged on the electrode pad 86 of the cell 80A, or the conductive connection part 83 may be arranged on the opening 824 of the wiring board 82. Note that a metal bump or the like may be formed on the electrode pad 86 or the conductive film 822 in advance.

[3]次に、導電接続部83を介して、セル80Aと配線基板82とを重ね合わせる。これにより、導電接続部83は、荷重を受けて変形し、開口部824の内側の空間に広がる。その結果、導電接続部83は、セル80Aの電極パッド86と配線基板82の導電膜822の双方に接触し、双方の間を電気的および機械的に接続することができる。
以上のようにして太陽電池80が得られる。
[3] Next, the cell 80A and the wiring board 82 are overlapped via the conductive connection portion 83. As a result, the conductive connection portion 83 is deformed by receiving a load and spreads in the space inside the opening 824. As a result, the conductive connection portion 83 contacts both the electrode pad 86 of the cell 80A and the conductive film 822 of the wiring board 82, and can electrically and mechanically connect both.
As described above, solar cell 80 is obtained.

<電子時計>
次に、本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計について説明する。
<Electronic clock>
Next, an electronic timepiece to which an embodiment of the electronic device of the invention is applied will be described.

図12、13は、それぞれ、本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計を示す斜視図である。このうち、図12は、電子時計の表側から見たときの外観を表す斜視図であり、図13は、電子時計の裏側から見たときの外観を表す斜視図である。また、図14は、図12、13に示す電子時計の平面図であり、図15は、図12、13に示す電子時計の縦断面図である。   12 and 13 are perspective views each showing an electronic timepiece to which an embodiment of the electronic device of the invention is applied. FIG. 12 is a perspective view showing the appearance of the electronic timepiece when viewed from the front side, and FIG. 13 is a perspective view showing the appearance of the electronic timepiece when viewed from the back side. FIG. 14 is a plan view of the electronic timepiece shown in FIGS. 12 and 13, and FIG. 15 is a longitudinal sectional view of the electronic timepiece shown in FIGS.

電子時計200は、ケース31と太陽電池80(光電変換モジュール)と表示部50と光センサー部40を含む機器本体30と、ケース31に取り付けられた2つのバンド10と、を有している。   The electronic timepiece 200 includes a case 31, a solar cell 80 (photoelectric conversion module), a device main body 30 including a display unit 50 and an optical sensor unit 40, and two bands 10 attached to the case 31.

なお、本明細書では、電子時計200および太陽電池80のうち、太陽電池80に入射する光の光源側を「表(おもて)」とし、その反対側を「裏」とする。また、太陽電池80の受光面84に直交する方向に延在する方向軸をZ軸とする。また、電子時計200の裏側から表側への向きを「+Z方向」とし、その反対向きを「−Z方向」とする。   In the present specification, of the electronic timepiece 200 and the solar cell 80, the light source side of light incident on the solar cell 80 is referred to as “front”, and the opposite side is referred to as “back”. A direction axis extending in a direction perpendicular to the light receiving surface 84 of the solar cell 80 is defined as a Z axis. Further, the direction from the back side to the front side of the electronic timepiece 200 is defined as “+ Z direction”, and the opposite direction is defined as “−Z direction”.

一方、Z軸に直交する2つの軸を「X軸」および「Y軸」とする。このうち、2つのバンド10同士を結ぶ方向軸をY軸とし、Y軸に直交する方向軸をX軸とする。また、表示部50の上向きを「+Y方向」とし、下向きを「−Y方向」とする。また、図14における右向きを「+X方向」とし、左向きを「−X方向」とする。   On the other hand, two axes orthogonal to the Z axis are referred to as “X axis” and “Y axis”. Among them, the direction axis connecting the two bands 10 is defined as the Y axis, and the direction axis orthogonal to the Y axis is defined as the X axis. Further, the upward direction of the display unit 50 is defined as “+ Y direction”, and the downward direction is defined as “−Y direction”. Further, the rightward direction in FIG. 14 is defined as “+ X direction”, and the leftward direction is defined as “−X direction”.

以下、電子時計200の構成について順次説明する。
(機器本体)
機器本体30は、表側および裏側に開口したケース31と、表側の開口部を塞ぐように設けられた風防板55と、ケース31の表面および風防板55の側面を覆うように設けられたベゼル57と、裏側の開口部を塞ぐように設けられた透明カバー44と、を備える筐体を有している。この筐体内には、後述する種々の構成要素が収容される。
Hereinafter, the configuration of the electronic timepiece 200 will be sequentially described.
(Equipment body)
The device main body 30 includes a case 31 opened on the front side and the back side, a windshield 55 provided to cover the opening on the front side, and a bezel 57 provided to cover the surface of the case 31 and the side surface of the windshield 55. And a transparent cover 44 provided so as to close the opening on the back side. Various components described later are housed in the housing.

筐体のうち、ケース31は円環状をなしており、表側には風防板55を嵌め込み可能な開口部35を備え、裏側には透明カバー44を嵌め込み可能な開口部(測定窓部45)を備えている。   Of the housing, the case 31 has an annular shape, and has an opening 35 on the front side in which the windshield plate 55 can be fitted, and an opening (measurement window 45) on the back side in which the transparent cover 44 can be fitted. Have.

また、ケース31の裏側の一部は、突出するように成形された凸状部32になっている。この凸状部32の頂部が開口しており、この開口部に透明カバー44が嵌め込まれているとともに、透明カバー44の一部が開口部から突出している。   A part of the back side of the case 31 is a convex portion 32 formed so as to protrude. The top of the convex portion 32 is open, and the transparent cover 44 is fitted into the opening, and a part of the transparent cover 44 protrudes from the opening.

ケース31の構成材料としては、例えばステンレス鋼、チタン合金のような金属材料の他、樹脂材料、セラミックス材料等が挙げられる。また、ケース31は、複数の部位の組み立て体であってもよく、その場合、部位同士で構成材料が異なっていてもよい。   Examples of the constituent material of the case 31 include a metal material such as stainless steel and a titanium alloy, a resin material, a ceramic material, and the like. The case 31 may be an assembly of a plurality of parts, in which case the constituent materials may be different between the parts.

また、ケース31の外側面には、複数の操作部58(操作ボタン)が設けられている。
また、ケース31の表側に設けられた開口部35の外縁には、+Z方向に突出する突起部34が形成されている。そして、この突起部34を覆うように、円環状をなすベゼル57が設けられている。
A plurality of operation units 58 (operation buttons) are provided on the outer surface of the case 31.
At the outer edge of the opening 35 provided on the front side of the case 31, a projection 34 projecting in the + Z direction is formed. An annular bezel 57 is provided so as to cover the projection 34.

さらに、ベゼル57の内側には風防板55が設けられている。そして、風防板55の側面とベゼル57との間が、パッキンや接着剤のような接合部材56を介して接着されている。   Further, a windshield 55 is provided inside the bezel 57. The side surface of the windshield 55 and the bezel 57 are bonded via a bonding member 56 such as packing or an adhesive.

風防板55および透明カバー44の構成材料としては、例えばガラス材料、セラミックス材料、樹脂材料等が挙げられる。また、風防板55は透光性を有し、風防板55を介して表示部50の表示内容および太陽電池80の受光面84を視認することができるようになっている。さらに、透明カバー44も透光性を有し、光センサー部40を生体情報測定部として機能させることができる。   Examples of a constituent material of the windshield 55 and the transparent cover 44 include a glass material, a ceramic material, and a resin material. In addition, the windshield 55 has translucency, and the display content of the display unit 50 and the light receiving surface 84 of the solar cell 80 can be visually recognized through the windshield 55. Further, the transparent cover 44 also has a light-transmitting property, so that the optical sensor unit 40 can function as a biological information measuring unit.

また、筐体の内部空間36は、後述する種々の構成要素を収容可能な閉空間になっている。   Further, the internal space 36 of the housing is a closed space capable of accommodating various components described later.

機器本体30は、それぞれ内部空間36に収容される要素として、回路基板20と、方位センサー22(地磁気センサー)と、加速度センサー23と、GPSアンテナ28と、光センサー部40と、表示部50を構成する電気光学パネル60および照明部61と、二次電池70と、太陽電池80と、を備えている。また、機器本体30は、これらの要素の他にも、標高や水深等を算出するための圧力センサー、温度を測定する温度センサー、角速度センサーのような各種センサー、バイブレーター等を備えていてもよい。   The device main body 30 includes the circuit board 20, the azimuth sensor 22 (geomagnetic sensor), the acceleration sensor 23, the GPS antenna 28, the optical sensor unit 40, and the display unit 50 as elements housed in the internal space 36, respectively. It comprises an electro-optical panel 60 and a lighting unit 61, a secondary battery 70, and a solar battery 80. In addition, in addition to these elements, the device main body 30 may include a pressure sensor for calculating altitude, water depth, and the like, a temperature sensor for measuring temperature, various sensors such as an angular velocity sensor, a vibrator, and the like. .

回路基板20は、前述した要素同士を電気的に接続する配線を含む基板である。また、回路基板20には、前述した要素の動作を制御する制御回路や駆動回路等を含むCPU21(Central Processing Unit)および他の回路素子24が搭載されている。   The circuit board 20 is a board including wiring for electrically connecting the above-described elements. Further, on the circuit board 20, a CPU 21 (Central Processing Unit) including a control circuit, a drive circuit, and the like for controlling operations of the above-described elements, and other circuit elements 24 are mounted.

また、太陽電池80、電気光学パネル60、回路基板20および光センサー部40は、風防板55側からこの順で配置されている。これにより、太陽電池80は、風防板55に近接して配置されることになり、多くの外部光が太陽電池80に効率よく入射する。その結果、太陽電池80における光電変換効率を最大限に高めることができる。   In addition, the solar cell 80, the electro-optical panel 60, the circuit board 20, and the optical sensor unit 40 are arranged in this order from the windshield 55 side. As a result, the solar cell 80 is disposed close to the windshield 55, and much external light efficiently enters the solar cell 80. As a result, the photoelectric conversion efficiency of the solar cell 80 can be maximized.

以下、機器本体30に収容される要素についてさらに詳述する。
回路基板20は、その端部が回路ケース75を介してケース31に取り付けられている。
Hereinafter, the elements accommodated in the device main body 30 will be described in more detail.
The circuit board 20 has an end attached to the case 31 via a circuit case 75.

また、回路基板20には、接続配線部63および接続配線部81が電気的に接続されている。このうち、接続配線部63を介して回路基板20と電気光学パネル60とが電気的に接続されている。また、接続配線部81を介して回路基板20と太陽電池80とが電気的に接続されている。これらの接続配線部63、81は、例えばフレキシブル回路基板で構成され、内部空間36の隙間に効率よく引き回される。   The connection wiring portion 63 and the connection wiring portion 81 are electrically connected to the circuit board 20. Among them, the circuit board 20 and the electro-optical panel 60 are electrically connected via the connection wiring portion 63. Further, the circuit board 20 and the solar cell 80 are electrically connected via the connection wiring section 81. These connection wiring portions 63 and 81 are formed of, for example, a flexible circuit board, and are efficiently routed through gaps in the internal space 36.

方位センサー22および加速度センサー23は、電子時計200を装着したユーザーの体の動きに係る情報を検出することができる。方位センサー22および加速度センサー23は、ユーザーの体動に応じて変化する信号を出力し、CPU21に送信する。   The direction sensor 22 and the acceleration sensor 23 can detect information related to the movement of the body of the user wearing the electronic timepiece 200. The azimuth sensor 22 and the acceleration sensor 23 output a signal that changes according to the user's body movement and transmit the signal to the CPU 21.

CPU21は、GPSアンテナ28を含むGPS受信部(図示せず)を制御する回路、光センサー部40を駆動しユーザーの脈波等を測定する回路、表示部50を駆動する回路、太陽電池80の発電を制御する回路等を含む。   The CPU 21 controls a GPS receiving unit (not shown) including the GPS antenna 28, a circuit that drives the optical sensor unit 40 to measure a pulse wave or the like of the user, a circuit that drives the display unit 50, Includes circuits for controlling power generation.

GPSアンテナ28は、複数の位置情報衛星から電波を受信する。また、機器本体30は、図示しない信号処理部を備えている。信号処理部は、GPSアンテナ28が受信した複数の測位信号に基づいて測位計算を行い、時刻および位置情報を取得する。信号処理部は、これらの情報をCPU21に送信する。   The GPS antenna 28 receives radio waves from a plurality of position information satellites. Further, the device main body 30 includes a signal processing unit (not shown). The signal processing unit performs positioning calculation based on a plurality of positioning signals received by the GPS antenna 28, and acquires time and position information. The signal processing unit transmits these pieces of information to the CPU 21.

光センサー部40は、ユーザーの脈波等を検出する生体情報測定部である。図15に示す光センサー部40は、受光部41と、受光部41の外側に設けられた複数の発光部42と、受光部41および発光部42が搭載されたセンサー基板43と、を含む光電センサーである。また、受光部41および発光部42は、前述した透明カバー44を介して、ケース31の測定窓部45に臨んでいる。また、機器本体30が備える接続配線部46を介して回路基板20と光センサー部40とが電気的に接続されている。   The optical sensor unit 40 is a biological information measuring unit that detects a user's pulse wave and the like. An optical sensor unit 40 illustrated in FIG. 15 includes a light receiving unit 41, a plurality of light emitting units 42 provided outside the light receiving unit 41, and a sensor substrate 43 on which the light receiving unit 41 and the light emitting unit 42 are mounted. It is a sensor. The light receiving unit 41 and the light emitting unit 42 face the measurement window 45 of the case 31 via the transparent cover 44 described above. Further, the circuit board 20 and the optical sensor unit 40 are electrically connected via the connection wiring unit 46 provided in the device main body 30.

このような光センサー部40は、発光部42から射出した光を被検体(例えばユーザーの皮膚)に対して照射し、その反射光を受光部41で受光することにより、脈波を検出する。光センサー部40は、検出した脈波の情報をCPU21に送信する。   Such an optical sensor unit 40 detects a pulse wave by irradiating the subject (for example, the skin of the user) with light emitted from the light emitting unit 42 and receiving the reflected light with the light receiving unit 41. The optical sensor unit 40 transmits information of the detected pulse wave to the CPU 21.

なお、光電センサーに代えて、心電計、超音波センサーのような他のセンサーを用いるようにしてもよい。   Note that, instead of the photoelectric sensor, another sensor such as an electrocardiograph or an ultrasonic sensor may be used.

また、機器本体30は、図示しない通信部を備えている。この通信部は、機器本体30が取得した各種の情報や記憶している情報、CPU21による演算結果等を外部に送信する。   The device main body 30 includes a communication unit (not shown). The communication unit transmits various information acquired by the device main body 30 and information stored therein, a calculation result by the CPU 21, and the like to the outside.

表示部50は、風防板55を介して、電気光学パネル60の表示内容をユーザーに視認させる。これにより、例えば前述した要素から取得した情報を、文字や画像として表示部50に表示し、ユーザーに認識させることができる。   The display unit 50 allows the user to visually recognize the display content of the electro-optical panel 60 via the windshield 55. Thereby, for example, information acquired from the above-described elements can be displayed on the display unit 50 as characters or images, and can be recognized by the user.

電気光学パネル60としては、例えば、液晶表示素子、有機EL(Organic Electro Luminescence)表示素子、電気泳動表示素子、LED(Light Emitting Diode)表示素子等が挙げられる。   Examples of the electro-optical panel 60 include a liquid crystal display element, an organic EL (Organic Electro Luminescence) display element, an electrophoretic display element, and an LED (Light Emitting Diode) display element.

図15では、一例として、電気光学パネル60が反射型の表示素子(例えば反射型液晶表示素子、電気泳動表示素子等)である場合を図示している。このため、表示部50は、電気光学パネル60が備える導光板(図示せず)の光入射面に設けられた照明部61を備えている。照明部61としては、例えばLED素子が挙げられる。このような照明部61および導光板は、反射型表示素子のフロントライトとして機能する。   FIG. 15 illustrates an example in which the electro-optical panel 60 is a reflective display element (for example, a reflective liquid crystal display element, an electrophoretic display element, or the like). For this reason, the display unit 50 includes an illumination unit 61 provided on a light incident surface of a light guide plate (not shown) included in the electro-optical panel 60. An example of the illumination unit 61 is an LED element. The illumination unit 61 and the light guide plate function as a front light of the reflective display element.

なお、電気光学パネル60が透過型の表示素子(例えば透過型液晶表示素子等)である場合には、フロントライトに代えてバックライトを設けるようにすればよい。   If the electro-optical panel 60 is a transmissive display device (for example, a transmissive liquid crystal display device), a backlight may be provided instead of the front light.

また、電気光学パネル60が自発光型の表示素子(例えば有機EL表示素子、LED表示素子等)である場合や、自発光型ではないものの外光を利用する表示素子である場合には、フロントライトやバックライトを省略することができる。   When the electro-optical panel 60 is a self-luminous display element (for example, an organic EL display element, an LED display element, or the like) or a non-self-luminous display element using external light, Lights and backlights can be omitted.

二次電池70は、図示しない配線を介して回路基板20に接続されている。これにより、二次電池70から出力される電力を、前述した要素の駆動に用いることができる。また、太陽電池80で発電した電力によって、二次電池70を充電することができる。   The secondary battery 70 is connected to the circuit board 20 via a wiring (not shown). Thus, the power output from the secondary battery 70 can be used for driving the above-described elements. Further, the secondary battery 70 can be charged by the electric power generated by the solar cell 80.

以上のような電子時計200(電子機器)は、例えば前述したセル80E(裏面電極型光電変換素子)を含む太陽電池80を備えている。すなわち、太陽電池80は、セル80Eを適用したセル80a、80b、80c、80dを備えている。このため、セル80a、80b、80c、80dが安定的に固定され、かつ光電変換効率が高い、信頼性の高い電子時計200が得られる。   The electronic timepiece 200 (electronic device) as described above includes, for example, a solar cell 80 including the above-described cell 80E (backside electrode type photoelectric conversion element). That is, the solar cell 80 includes cells 80a, 80b, 80c, and 80d to which the cell 80E is applied. For this reason, the highly reliable electronic timepiece 200 in which the cells 80a, 80b, 80c, and 80d are stably fixed, and whose photoelectric conversion efficiency is high is obtained.

なお、セル80Eに代えて、セル80A、80B、80C、80Dのうちのいずれかを備えていてもよい。また、電子時計200に代えて、アナログ時計に太陽電池80を搭載するようにしてもよい。   Note that any one of the cells 80A, 80B, 80C, and 80D may be provided instead of the cell 80E. Further, instead of the electronic timepiece 200, the solar battery 80 may be mounted on an analog timepiece.

以上、電子時計200について説明したが、本発明の電子機器の実施形態は電子時計に限定されず、例えば携帯電話端末、スマートフォン、タブレット端末、ウェアラブル端末、カメラ等であってもよい。   Although the electronic timepiece 200 has been described above, the embodiment of the electronic device of the invention is not limited to the electronic timepiece, and may be, for example, a mobile phone terminal, a smartphone, a tablet terminal, a wearable terminal, a camera, and the like.

<電子時計の変形例>
次に、本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計の変形例について説明する。
<Modification of electronic timepiece>
Next, a modification of the electronic timepiece to which the embodiment of the electronic apparatus of the invention is applied will be described.

図16は、本発明の電子機器の実施形態を適用した電子時計の変形例を示す平面図である。また、図17は、図16に示す電子時計の縦断面図である。   FIG. 16 is a plan view showing a modification of the electronic timepiece to which the embodiment of the electronic device of the invention is applied. FIG. 17 is a longitudinal sectional view of the electronic timepiece shown in FIG.

電子時計91は、図16または図17に示すように、外装ケース930と、カバーガラス933と、裏蓋934と、を備えている。外装ケース930は、円筒状のケース本体931に、ベゼル932が嵌合されて構成されている。このベゼル932の内周側に、リング状のダイヤルリング935を介して、円盤状の文字板911が時刻表示部分として配置されている。   The electronic timepiece 91 includes an outer case 930, a cover glass 933, and a back cover 934, as shown in FIG. 16 or FIG. The outer case 930 is configured by fitting a bezel 932 to a cylindrical case main body 931. A disk-shaped dial 911 is disposed on the inner peripheral side of the bezel 932 via a ring-shaped dial ring 935 as a time display portion.

また、外装ケース930の側面には、文字板911の中心より、2時方向の位置にAボタン92と、4時方向の位置にBボタン93と、3時方向の位置にリューズ94とが設けられている。   On the side surface of the outer case 930, an A button 92 is provided at a position of 2 o'clock from the center of the dial 911, a B button 93 is provided at a position of 4 o'clock, and a crown 94 is provided at a position of 3 o'clock. Have been.

電子時計91は、図16または図17に示すように、金属製のケース本体931の2つの開口のうち、表面側の開口は、ベゼル932を介してカバーガラス933で塞がれており、裏面側の開口は、裏蓋934で塞がれている。   As shown in FIG. 16 or FIG. 17, the electronic timepiece 91 has a front side opening of two openings of a metal case main body 931 which is closed by a cover glass 933 via a bezel 932, and The opening on the side is closed by a back cover 934.

外装ケース930の内側には、ベゼル932の内周に取り付けられているダイヤルリング935と、光透過性の文字板911と、指針921〜924と、カレンダー車920と、各指針921〜924およびカレンダー車920を駆動する駆動機構9140と、が設けられている。   Inside the outer case 930, a dial ring 935 attached to the inner periphery of the bezel 932, a light-transmitting dial 911, hands 921 to 924, a calendar wheel 920, each hand 921 to 924, and a calendar And a drive mechanism 9140 for driving the vehicle 920.

ダイヤルリング935は、カバーガラス933と並行している平板部分と、文字板911側へ傾斜した傾斜部分と、を備えている。ダイヤルリング935の平板部分および傾斜部分と、ベゼル932の内周面とによりドーナツ形状の収納空間が形成されており、この収納空間内には、リング状のアンテナ体9110が収納されている。   The dial ring 935 includes a flat plate portion parallel to the cover glass 933 and an inclined portion inclined toward the dial 911. A donut-shaped storage space is formed by the flat plate portion and the inclined portion of the dial ring 935 and the inner peripheral surface of the bezel 932, and a ring-shaped antenna 9110 is stored in the storage space.

文字板911は、外装ケース930の内側で時刻を表示する円形の板材であり、例えばプラスチック等の光透過性の材料で形成されている。また、文字板911とカバーガラス933との間には、指針921〜924等が設けられている。   The dial 911 is a circular plate for displaying the time inside the outer case 930, and is formed of a light transmissive material such as plastic. In addition, hands 921 to 924 and the like are provided between the dial 911 and the cover glass 933.

文字板911と、駆動機構9140が取り付けられている地板9125と、の間には、光発電を行う太陽電池9135が備えられている。すなわち、太陽電池9135は、文字板911の裏側に設けられている。そして、太陽電池9135は、文字板911を透過してくる光を受けて光発電する。   A solar cell 9135 that performs photovoltaic power generation is provided between the dial 911 and the base plate 9125 to which the driving mechanism 9140 is attached. That is, solar cell 9135 is provided on the back side of dial 911. Then, solar cell 9135 receives light transmitted through dial 911 and performs photovoltaic power generation.

太陽電池9135は、光エネルギーを電気エネルギーに変換する複数の光発電素子を直列接続した円形の平板であって、前述した太陽電池80と同様、本発明の光電変換モジュールの実施形態である。このため、太陽電池9135は、セル(裏面電極型光電変換素子)が安定的に固定され、かつ光電変換効率が高く、信頼性の高いものとなる。   The solar cell 9135 is a circular flat plate in which a plurality of photovoltaic elements for converting light energy into electric energy are connected in series, and is an embodiment of the photoelectric conversion module of the present invention, like the solar cell 80 described above. For this reason, in the solar cell 9135, the cell (the back electrode type photoelectric conversion element) is stably fixed, the photoelectric conversion efficiency is high, and the solar cell 9135 has high reliability.

また、文字板911、太陽電池9135および地板9125には、指針921〜923の指針軸929と、指針924の図示しない指針軸と、が貫通する穴が形成されている。また、文字板911および太陽電池9135には、それぞれカレンダー小窓919の開口部が形成されている。   The dial 911, the solar cell 9135, and the base plate 9125 are formed with holes through which the pointer shafts 929 of the hands 921 to 923 and the pointer shaft (not shown) of the hands 924 pass. The dial 911 and the solar cell 9135 each have an opening for a small calendar window 919.

駆動機構9140は、地板9125に取り付けられ、回路基板9120で裏面側から覆われている。駆動機構9140は、ステップモーターと歯車等の輪列とを有し、ステップモーターが輪列を介して指針軸929等を回転させることにより各指針921〜924およびカレンダー車920等を駆動する。   The drive mechanism 9140 is attached to the base plate 9125, and is covered with the circuit board 9120 from the back side. The drive mechanism 9140 has a step motor and a train of gears and the like, and drives the hands 921 to 924 and the calendar wheel 920 by rotating the pointer shaft 929 and the like via the train.

回路基板9120は、GPS受信回路945と、制御装置950と、を備えている。また、この回路基板9120およびアンテナ体9110は、アンテナ接続ピン9115を用いて互いに接続されている。GPS受信回路945および制御装置950が設けられた回路基板9120の裏蓋934側には、これらの回路部品を覆うための回路押さえ9122が設けられている。また、リチウムイオン電池等の二次電池9130が、地板9125と裏蓋934との間に設けられている。二次電池9130は、太陽電池9135が発電した電力で充電される。   The circuit board 9120 includes a GPS receiving circuit 945 and a control device 950. Further, the circuit board 9120 and the antenna body 9110 are connected to each other by using an antenna connection pin 9115. On the back cover 934 side of the circuit board 9120 on which the GPS receiving circuit 945 and the control device 950 are provided, a circuit holder 9122 for covering these circuit components is provided. In addition, a secondary battery 9130 such as a lithium ion battery is provided between the main plate 9125 and the back cover 934. Secondary battery 9130 is charged with electric power generated by solar cell 9135.

以上、本発明を図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。   The present invention has been described based on the illustrated embodiment, but the present invention is not limited to this.

例えば、本発明の裏面電極型光電変換素子、光電変換モジュールおよび電子機器は、前記実施形態の要素の一部が、同等の機能を有する任意の要素に代替されたものであってもよく、また、前記実施形態に任意の要素が付加されたものであってもよい。   For example, the back electrode type photoelectric conversion element, the photoelectric conversion module, and the electronic device of the present invention may be configured such that a part of the elements of the above embodiment is replaced with any element having an equivalent function, , Any element may be added to the above embodiment.

また、前記実施形態では、n型のSi基板を用いているが、p型のSi基板を用いるようにしてもよい。すなわち、前記実施形態では、第1導電型としてn型、第2導電型としてp型を採用した例を説明しているが、第1導電型がp型であり、第2導電型がn型であってもよい。後者の場合、前記実施形態におけるn型とp型の関係を互いに入れ替えるようにすればよい。   Further, in the above embodiment, an n-type Si substrate is used, but a p-type Si substrate may be used. That is, in the above-described embodiment, an example is described in which the first conductivity type is n-type and the second conductivity type is p-type. However, the first conductivity type is p-type, and the second conductivity type is n-type. It may be. In the latter case, the relationship between the n-type and p-type in the above embodiment may be interchanged.

10…バンド、20…回路基板、21…CPU、22…方位センサー、23…加速度センサー、24…回路素子、28…GPSアンテナ、30…機器本体、31…ケース、32…凸状部、34…突起部、35…開口部、36…内部空間、40…光センサー部、41…受光部、42…発光部、43…センサー基板、44…透明カバー、45…測定窓部、46…接続配線部、50…表示部、55…風防板、56…接合部材、57…ベゼル、58…操作部、60…電気光学パネル、61…照明部、63…接続配線部、70…二次電池、75…回路ケース、80…太陽電池、80a…セル、80b…セル、80c…セル、80d…セル、80A…セル、80A’…セル、80B…セル、80C…セル、80D…セル、80E…セル、81…接続配線部、82…配線基板、83…導電接続部、84…受光面、85…電極面、86…電極パッド、87…電極パッド、91…電子時計、92…Aボタン、93…Bボタン、94…リューズ、200…電子時計、800…Si基板、801…p+不純物領域、802…n+不純物領域、804…フィンガー電極、804n…n型フィンガー電極、804p…p型フィンガー電極、805…バスバー電極、805n…n型バスバー電極、805p…p型バスバー電極、806…サブフィンガー電極、806n…n型サブフィンガー電極、806p…p型サブフィンガー電極、807…パッシベーション膜、809n…電極到達不可領域、809p…電極到達不可領域、811n…n+コンタクト、811p…p+コンタクト、814n…n型貫通配線、814p…p型貫通配線、817…パッシベーション膜、821…絶縁基板、822…導電膜、823…絶縁膜、824…開口部、825…接着層、911…文字板、919…カレンダー小窓、920…カレンダー車、921…指針、922…指針、923…指針、924…指針、929…指針軸、930…外装ケース、931…ケース本体、932…ベゼル、933…カバーガラス、934…裏蓋、935…ダイヤルリング、945…GPS受信回路、950…制御装置、9110…アンテナ体、9115…アンテナ接続ピン、9120…回路基板、9122…回路押さえ、9125…地板、9130…二次電池、9135…太陽電池、9140…駆動機構、L1…離間距離 10 band, 20 circuit board, 21 CPU, 22 direction sensor, 23 acceleration sensor, 24 circuit element, 28 GPS antenna, 30 device body, 31 case, 32 convex part, 34 Projection part, 35 opening part, 36 internal space, 40 light sensor part, 41 light receiving part, 42 light emitting part, 43 sensor board, 44 transparent cover, 45 measurement window part, 46 connection wiring part Reference numeral 50, display unit, 55, windshield, 56, joining member, 57, bezel, 58, operation unit, 60, electro-optical panel, 61, lighting unit, 63, connection wiring unit, 70, secondary battery, 75 Circuit case, 80 ... solar cell, 80a ... cell, 80b ... cell, 80c ... cell, 80d ... cell, 80A ... cell, 80A '... cell, 80B ... cell, 80C ... cell, 80D ... cell, 80E ... cell, 81 ... Connection wiring 82: wiring board, 83: conductive connection portion, 84: light receiving surface, 85: electrode surface, 86: electrode pad, 87: electrode pad, 91: electronic timepiece, 92: A button, 93: B button, 94: crown, 200: electronic watch, 800: Si substrate, 801: p + impurity region, 802: n + impurity region, 804: finger electrode, 804n: n-type finger electrode, 804p: p-type finger electrode, 805: busbar electrode, 805n: n-type Busbar electrode, 805p ... p-type busbar electrode, 806 ... sub-finger electrode, 806n ... n-type sub-finger electrode, 806p ... p-type sub-finger electrode, 807 ... passivation film, 809n ... electrode unreachable area, 809p ... electrode unreachable area , 811n... N + contact, 811p... P + contact, 814n. 14p: p-type through wiring, 817: passivation film, 821: insulating substrate, 822: conductive film, 823: insulating film, 824: opening, 825: adhesive layer, 911: dial plate, 919: small calendar window, 920 ... Calendar car, 921 pointer, 922 pointer, 923 pointer, 924 pointer, 929 pointer axis, 930 outer case, 931 case body, 932 bezel, 933 cover glass, 934 back cover, 935 Dial ring, 945: GPS receiving circuit, 950: Control device, 9110: Antenna body, 9115: Antenna connection pin, 9120: Circuit board, 9122: Circuit holder, 9125: Ground plate, 9130: Secondary battery, 9135: Solar cell, 9140: drive mechanism, L1: separation distance

Claims (11)

一方の面と、前記一方の面と表裏の関係にある他方の面とを有する半導体基板と、
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、第1方向に延在する第1電極と、
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、前記第1方向に直交する第2方向に延在し、前記第1電極と電気的に接続されている第2電極と、
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、前記第1方向に延在し、前記第2電極から分岐している第3電極と、
を有することを特徴とする裏面電極型光電変換素子。
A semiconductor substrate having one surface and the other surface in a front-to-back relationship with the one surface;
A first electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate and extending in a first direction;
A second electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate, extending in a second direction orthogonal to the first direction, and electrically connected to the first electrode;
A third electrode provided above the one surface of the semiconductor substrate, extending in the first direction, and branching from the second electrode;
A back electrode type photoelectric conversion element comprising:
前記半導体基板の前記一方の面の上方に設けられ、前記半導体基板の外縁部よりも内側に配置され、かつ、前記第1電極と電気的に接続されている接続部を有する請求項1に記載の裏面電極型光電変換素子。   2. The semiconductor device according to claim 1, further comprising a connection portion provided above the one surface of the semiconductor substrate, arranged inside an outer edge of the semiconductor substrate, and electrically connected to the first electrode. 3. Back-electrode type photoelectric conversion element. 前記一方の面は、前記第1電極と電気的に接続された不純物領域を有し、
前記一方の面の平面視において、前記不純物領域は、前記接続部からずれた位置に配置されている請求項2に記載の裏面電極型光電変換素子。
The one surface has an impurity region electrically connected to the first electrode,
The back electrode type photoelectric conversion element according to claim 2, wherein the impurity region is arranged at a position shifted from the connection portion in a plan view of the one surface.
前記不純物領域は、前記接続部を囲む請求項3に記載の裏面電極型光電変換素子。   The back electrode type photoelectric conversion element according to claim 3, wherein the impurity region surrounds the connection portion. 前記半導体基板は、第1導電型であり、
前記不純物領域は、前記第1導電型とは異なる第2導電型であり、
前記不純物領域は、前記半導体基板の外縁に沿って設けられている請求項3または4に記載の裏面電極型光電変換素子。
The semiconductor substrate is of a first conductivity type;
The impurity region is of a second conductivity type different from the first conductivity type,
The back electrode type photoelectric conversion element according to claim 3, wherein the impurity region is provided along an outer edge of the semiconductor substrate.
前記半導体基板は、第1導電型であり、
前記不純物領域は、前記第1導電型である第1導電型不純物領域と、前記第1導電型とは異なる第2導電型である第2導電型不純物領域と、を有し、
前記第2導電型不純物領域は、前記半導体基板の外縁に沿って設けられており、
前記第1電極は、前記第1導電型不純物領域と電気的に接続されている第1の第1電極、および、前記第2導電型不純物領域と電気的に接続されている第2の第1電極、を備え、
前記第2の第1電極は、前記半導体基板の外縁に沿って設けられている請求項3または4に記載の裏面電極型光電変換素子。
The semiconductor substrate is of a first conductivity type;
The impurity region has a first conductivity type impurity region of the first conductivity type and a second conductivity type impurity region of a second conductivity type different from the first conductivity type,
The second conductivity type impurity region is provided along an outer edge of the semiconductor substrate,
The first electrode is a first first electrode electrically connected to the first conductivity type impurity region, and a second first electrode electrically connected to the second conductivity type impurity region. Electrodes,
The back electrode type photoelectric conversion element according to claim 3, wherein the second first electrode is provided along an outer edge of the semiconductor substrate.
前記第1電極と前記第2電極との間に設けられている絶縁層と、
前記絶縁層を貫通し前記第1電極と前記第2電極とを電気的に接続する貫通配線と、
を有する請求項1ないし6のいずれか1項に記載の裏面電極型光電変換素子。
An insulating layer provided between the first electrode and the second electrode;
A through wiring penetrating the insulating layer and electrically connecting the first electrode and the second electrode;
The back electrode type photoelectric conversion element according to any one of claims 1 to 6, comprising:
前記第2電極は、前記第1電極から分岐している請求項1ないし6のいずれか1項に記載の裏面電極型光電変換素子。   The back electrode type photoelectric conversion element according to claim 1, wherein the second electrode is branched from the first electrode. 前記半導体基板は、単結晶性を有する請求項1ないし8のいずれか1項に記載の裏面電極型光電変換素子。   9. The back electrode type photoelectric conversion element according to claim 1, wherein the semiconductor substrate has a single crystal property. 9. 請求項1ないし9のいずれか1項に記載の裏面電極型光電変換素子と、
前記裏面電極型光電変換素子と重なるように設けられている配線基板と、
を有することを特徴とする光電変換モジュール。
A back electrode type photoelectric conversion element according to any one of claims 1 to 9,
A wiring board provided so as to overlap the back electrode type photoelectric conversion element,
A photoelectric conversion module comprising:
請求項1ないし9のいずれか1項に記載の裏面電極型光電変換素子を備えることを特徴とする電子機器。   An electronic device comprising the back electrode type photoelectric conversion element according to claim 1.
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