JP2019217660A - 孔開き板状材料の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる孔開き板状材料、ならびに物品の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる物品 - Google Patents

孔開き板状材料の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる孔開き板状材料、ならびに物品の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる物品 Download PDF

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Takuji Osaki
拓司 大崎
智久 川上
Tomohisa Kawakami
智久 川上
健太郎 千原
Kentaro Chihara
健太郎 千原
藤原 直子
Naoko Fujiwara
直子 藤原
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Abstract

【課題】新たな偽造防止方法を提供できる孔開き板状材料の真贋判定方法を提供する。【解決手段】孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法は、孔開き板状材料の孔の配置形態の少なくとも一部に関する孔から任意に選択される孔の孔開き板状材料の第1主面に平行な平面上における二次元的な位置情報と、孔開き板状材料の製造に用いたダイの孔の配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の任意に選択される孔に対応する部分に関するダイの孔のダイの面に平行な平面上における二次元的な位置情報、または、ダイの設計に用いた原図のダイの孔に対応する孔図の配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の任意に選択される孔に対応するダイの孔に対応する部分に関する孔図の原図の平面上における二次元的な位置情報と、が一致するか否かにより、孔開き板状材料の真贋を判定する。【選択図】図1

Description

本発明は、孔開き板状材料の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる孔開き板状材料、ならびに物品の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる物品に関する。
偽造防止および/または装飾のために、種々の方法および媒体が提案されている。たとえば、特開2002−328210号公報(特許文献1)は、基材表面に形成する微細な凹部または凸部により構成する光散乱体により形成される光散乱パターンを用いて精巧で多彩な表現を可能とし、偽造防止効果とアイキャッチ効果の双方を向上させる表示方法を開示する。
また、特開2018−22077号公報(特許文献2)は、光の分光の度合いの異なる光学素子を規則的に並べ、分光領域と非分光領域の配置によってその透過光の量が異なることで絵柄が現れることを応用した偽造防止素子を開示する。
真贋判定の分野においては、たとえば、特開平8−156473号公報(特許文献3)は、金券類の基材中に電気的な共振回路を埋設し、当該金券類の券面上に情報記録部を設定してその領域内の共振回路によって決定される数字列を得、当該金券類の券番号と組み合わせて暗号化したバーコード等を不可視性インキで印刷した情報記録部を設ける金券類およびその偽造防止方法を開示する。
また、特開平7−63707号公報(特許文献4)は、X線励起源とX線検出器および試料搬送系を有する蛍光X線貴金属真贋検査装置において、試料を透過したX線強度を標準強度(本物の景品での透過X線強度)と比較処理することによって、貴金属製品の真贋を判断する貴金属真贋検査方法を開示する。
また、特開2016−81284号公報(特許文献5)は、鑑定対象となる商品の情報を取得する商品情報取得部と、商品を構成する金属部分における成分を分析する分析部と、商品情報取得部により取得される商品情報に含まれる金属部分における成分情報と分析部の分析結果とに基づいて商品の真贋を判定する真贋判定部とを備える鑑定システムを開示する。
また、国際公開第2009/044826号(特許文献6)は、物品を判定する物品判定システムにおいて、周知のX線透過法を用いて、物品の内部の透視画像により、物品の内部構造および部品などの形状、ICタグの有無、内部の刻印の識別を行う方法を開示する。
特開2002−328210号公報 特開2018−22077号公報 特開平8−156473号公報 特開平7−63707号公報 特開2016−81284号公報 国際公開第2009/044826号
特開2002−328210号公報(特許文献1)に開示の光散乱体により形成される光散乱パターンを用いた表示方法は、反射光を用いて光散乱パターンを認識する方法であるため、暗室などの光度の低い環境下では判断が難しいという問題点があった。
特開2018−22077号公報(特許文献2)に開示の光学素子を備えた偽装防止媒体は、光の分光の度合いの異なる光学素子を規則的に並べ、分光領域と非分光領域の配置によってその透過光の量が異なることで絵柄が現れることを応用した偽造防止媒体を提供しているが、たとえば油絵の中に埋め込んで可視光が通らない状態となると光学素子の配置を視認することができないため偽造防止の判定ができないという問題点があった。
特開平8−156473公報(特許文献3)に開示の金券類およびその偽造防止方法は、表面からは見えない回路をX線を利用してマトリックス単位としての位置情報として検知し券面に印刷されたその位置情報との整合性判断をする方法を採用することで偽造のハードルを上げているが、個々の回路そのものの形状による真贋判定を行っているのではないため、同様の周波数特性をもつ回路を特定の設定されたマトリックス範囲内に含む偽造金券や証券においては、その判定結果を保証することが難しいという問題点があった。
また、特開平7−063707公報(特許文献4)に開示の貴金属真贋検査方法は、金属元素含有量の比率を用いてその真贋を判定できるが、同様の元素含有量比率の調整を受けた偽造品に対しては誤判断を下すリスクが存在するという問題点があった。
また、特開2016−81284号公報(特許文献5)では、撮影された金属パーツの画像とこれをX線を用いて成分分析した結果を用いて真贋判定する仕組みとなっているため、たとえば正規部品を不適正なルートで入手して不正に制作された非正規品を見分けることができないという問題点があった。
また、国際公開第2009/044826号(特許文献6)に開示の物品を判定する物品判定システムは、X線透過法により得た透視画像を特徴情報として生成し、同画像により対象となる物品の内部構造や部品等の形状、ICタグの有無、内部の刻印の識別などを可能としているが、あらかじめ提供されている正規品または偽造品の特徴情報にのみ基づいての判断となり、判定の段階で任意の判定方法を追加できないという問題点があった。
すなわち、上記のように、従来の偽造防止方法においては、その方法を複雑化しても、その真贋を判定する際の問題点を解決することが難しく、方法の複雑化による問題点も発生する。
そこで、本発明は、上記問題点を回避できるシンプルでかつ精度の高い偽造防止方法を提供できる孔開き板状材料の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる孔開き板状材料、ならびに孔開き板状材料の真贋判定方法を用いた物品の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる物品を提供することを目的とする。
本発明のある局面に従う孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法は、少なくとも1層からなる板状材料の第1主面上の任意に特定される場所に3個以上の任意の形状の孔が任意の配置形態で配置されている孔開き板状材料の真贋判定方法であって、孔は少なくとも1種類以上の形状の孔で構成されており、孔開き板状材料の孔の配置形態の少なくとも一部に関する孔から任意に選択される孔の孔開き板状材料の第1主面に平行な平面上における二次元的な位置情報と、孔開き板状材料の製造に用いたダイの孔の配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の任意に選択される孔に対応する部分に関するダイの孔のダイの面に平行な平面上における二次元的な位置情報、または、ダイの設計に用いた原図のダイの孔に対応する孔図の配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の任意に選択される孔に対応するダイの孔に対応する部分に関する孔図の原図の平面上における二次元的な位置情報と、が一致するか否かにより、孔開き板状材料の真贋を判定する。
上記孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法においては、孔開き板状材料の平均厚さを0.01μm以上200μm以下とし、孔開き板状材料の第1主面に平行な第1投影面に垂直に各孔を投影したときの第1投影図において各孔の最大幅を与える第1最大幅を10μm以上5mm以下とし、第1投影面上で各孔の第1最大幅に垂直であり各孔の最大幅を与える第2最大幅を、第1最大幅の20%以上とし、各孔の第1最大幅に対する、第1最大幅を表示する線分を含み第1主面に垂直な第1垂直平面と各孔の孔空間が始まる輪郭線との2つの交点および第1最大線を表示する線分の二等分点を含み第1垂直平面と第1投影図とに垂直な第2垂直平面と各孔の孔空間が始まる輪郭線との2つの交点の4つの交点における孔開き板状材料の厚さの平均で表される孔空間高さの比で表される孔空間の扁平率を、5×10-6以上0.5以下とすることができる。
上記孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法においては、配置形態を構成する少なくとも一部の孔のうち、隣り合う3つの孔を、直線を構成する位置、任意の三角形を構成する位置、または60°千鳥の基本単位もしくは45°千鳥の基本単位を構成する位置とするか、あるいは、隣り合う4つの孔を、少なくとも一対の平行な辺を有する四角形を構成する位置、または任意の四角形を構成する位置とするか、の少なくともいずれか1つとすることができる。
上記孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法においては、孔の配置形態を、事物の概念を表現する形態とすることができる。
本発明の別の局面に従う物品の真贋を判定する真贋判定方法は、上記孔開き板状材料を含む物品の真贋判定方法であって、上記孔開き板状材料の真贋判定方法を用いる。
本発明のさらに別の局面に従う孔開き板状材料は、上記孔開き板状材料の真贋判定方法を用いて真贋が判定できる。
本発明のさらに別の局面に従う物品は、上記物品の真贋判定方法を用いて真贋が判定できる。
本発明によれば、シンプルでかつ精度の高い偽造防止方法を提供できる孔開き板状材料の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる孔開き板状材料、ならびに孔開き板状材料の真贋判定方法を用いた物品の真贋判定方法およびそれを用いて真贋が判定できる物品を提供することができる。
図1は、本発明のある局面に従う孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法の概念の一例を示す概略図である。 図2は、本発明のある局面に従う孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法における孔開き板状材料を示す概略図である。 図3は、上記孔開き板状材料のある孔の孔空間を示す概略図である。 図4は、上記孔開き板状材料のある孔の断面の形状の一部を示す概略断面図である。 図5は、上記孔開き板状材料の事物の概念を表現する配置形態の一例を示す概略平面図である。 図6は、上記孔開き板状材料の製造方法の一例を示す概略断面図である。 図7は、上記孔開き板状材料の具体的な第1例を示す写真である。 図8は、上記孔開き板状材料の具体的な第2例を示す写真である。 図9は、第2例の孔開き板状材料の一部の拡大写真である。 図10は、上記孔開き板状材料の具体的な第3例を示す写真である。 図11は、具体的な第4例として、第3例の孔開き板状材料に配置された孔の上に別の紙を載せてカバーされた目隠し孔開き板状材料の一例を示す写真である。 図12は、第4例である目隠し孔開き板状材料をX線により測定した一例を示す写真である。 図13は、上記孔開き板状材料に配置される孔を作製するためのダイの孔に対応する孔図の配置形態を示す原図とこれを用いる計測部分を示す概略平面図である。 図14は、上記孔開き板状材料における孔の配置形態を示すデジタルマイクロスコープ写真とこれを用いる計測部分を示す概略平面図である。 図15は、上記目隠し孔開き板状材料における孔の配置形態を示すX線写真とこれを用いる計測部分を示す概略平面図である。
≪実施形態1:孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法≫
図1を参照して、本発明の一実施形態にかかる孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法は、少なくとも1層からなる板状材料1oの第1主面1m上の任意に特定される場所に3個以上の任意の形状の孔1ha,1hb,1hcが任意の配置形態で配置されている孔開き板状材料1の真贋判定方法であって、孔1ha,1hb,1hcは少なくとも1種類以上の形状の孔で構成されており、孔開き板状材料1の孔1ha,1hb,1hcの配置形態の少なくとも一部に関する孔1ha,1hb,1hcの孔開き板状材料1の第1主面1mに平行な平面上における二次元的な位置情報(図1(A))と、孔開き板状材料1の製造に用いたダイ111の孔111ha,111hb,111hcの配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の孔1ha,1hb,1hcに対応する部分に関するダイの孔111ha,111hb,111hcのダイ111の面に平行な平面上における二次元的な位置情報(図1(B))、または、ダイ111の設計に用いた原図11のダイの孔111ha,111hb,111hcに対応する孔図11ha,11hb,11hcの配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の孔1ha,1hb,1hcに対応するダイの孔111ha,111hb,111hcに対応する部分に関する孔図11ha,11hb,11hcの原図11の平面上における二次元的な位置情報(図1(C))と、が一致するか否かにより、孔開き板状材料1の真贋を判定する。本実施形態の真贋判定方法によれば、第1主面1m上に3個以上の孔1ha,1hb,1hcが配置されている孔開き板状材料1を用いるシンプルでかつ精度の高い偽造防止方法を提供できる。
<孔開き板状材料>
図2を参照して、本実施形態にかかる真贋判定方法において用いられる孔開き板状材料1は、少なくとも1層の板状材料1oの第1主面1m上の任意に特定される場所に3個以上の任意の形状の孔1hが任意の配置形態で配置されている。
孔開き板状材料1は、真贋判定をする際に、上記従来技術に開示された回路、元素含有率または成分の比率、予め登録された複雑な画像パターンの対比などを用いるものではなく、上記特徴を有する構成を用いるため、シンプルでかつ精度の高い偽造防止方法を提供できる。具体的には、本実施形態の孔開き板状材料1は、特に真贋判定の際に対象となっているものが正当な権利を持つ、あるいは、その権利を取得している制作者から提供されているものであることを証明するための少なくとも一部である証明部として用いることができ、偽造が著しく難しく複製することが困難な証明部の基本部分となる構成を提供することができる。また、本実施形態の孔開き板状材料は、上記証明部の認識性を格段に向上し、機器による判断と同時に人による概略チェックを支援する上記証明部のデザインの構成を提供することができる。
(孔開き板状材料の平均厚さ)
孔開き板状材料1の厚さとは、孔開き板状材料1の第1主面1mに垂直な厚さをいう。孔開き板状材料1の平均厚さは、加工性を容易にする観点から、好ましくは0.01μm以上200μm以下であり、さらに孔の周辺強度を高くする観点から、より好ましくは1μm以上120μm以下であり、さらに好ましくは5μm以上120μm以下である。ここで、孔開き板状材料1の平均厚さは、孔開け加工後の孔開き板状材料(フィルム、箔など)をマイクロメータを用いて、あるいは、孔開け加工後の孔開き板状材料1を樹脂にて包埋し次いで断面が現れるように切断した後に研磨処理してデジタルマイクロスコープまたは走査型電子顕微鏡を用いて、第1主面上で任意に3点以上測定した平均の厚さを意味する。
[板状材料]
(板状材料の構造)
孔開き板状材料1における板状材料1oは、複数の微粒子の接着や結着による集合体であってもよく、板状の単一体または板状の単一体を含む積層体で構成されていてもよい。ここで、板状の単一体を含む積層体とは、板状の単一体の積層体、板状の単一体の少なくとも片方の面にフレークや粒状の微粒子が配置された積層体、これらの微粒子を板状の単一体で挟み込んだ積層体、単一体の少なくとも片方の面に樹脂層や樹脂層に微粒子のフィラーを混合した層を施した積層体、およびこれらの組み合わせの積層体のいずれかを意味する。
(板状材料の表面状態)
板状材料1oの表面状態は、特に制限はなく、板状材料1oの表面層は、めっき層、蒸着層、塗膜、アルマイト層、規則的または不規則に凹凸が付いた層、鏡面的性質を有した層、あるいはそれらの層または膜が組み合わされた複合層とすることができる。特に、板状材料1oの材質が樹脂や金属の場合は、通常供給される素材の表面状態のままでもよく、また、その表面状態を変化させる加工として、上述に加えて、ショットブラスト、ロールなどを用いた加圧による形状付加、同種または異種金属のラミネート(接着材使用や圧着など方法を問わない)などを行ったものでもよい。
(板状材料の材質)
板状材料1oについて、その材質については特に制限はなく、典型的な例として、樹脂、セラミック、金属、紙、複合材料(FRP、CRP、FRC)などが挙げられる。その形態については、特に制限はなく、シート、フィルム、薄膜、スパンボンド、不織布の形状のものをそのままで、あるいはこれらに対して、ラミネート処理、コート処理、熱溶融によるシート化、複層化処理、同種または異種金属のラミネート(接着材使用や圧着など方法を問わない)などを行ったものが挙げられる。
(板状材料の厚さ)
板状材料1oの厚さは、板状材料1oの第1主面に垂直な平均厚さをいう。板状材料1oの平均厚さは、加工性を容易にする観点から、好ましくは0.01μm以上200μm以下であり、さらに孔の周辺強度を高くする観点から、より好ましくは1μm以上120μm以下であり、さらに好ましくは5μm以上120μm以下である。ここで、板状材料1oの平均厚さは、孔開け加工前の板状材料1o(フィルム、箔など)をマイクロメータを用いて、あるいは、孔開け加工前の板状材料1oを樹脂にて包埋し次いで断面が現れるように切断した後に研磨処理してデジタルマイクロスコープまたは走査型電子顕微鏡を用いて、第1主面上で任意に3点以上測定した平均の厚さを意味する。かかる板状材料1oの平均厚さは、通常、孔開き板状材料1の平均厚さに等しいかまたは少し大きい。
(板状材料の第1主面)
板状材料1oの第1主面1mは、板状材料1oの任意に選択されるいずれか一方の主面をいう。板状材料1oの第1主面1mは、通常平面である。
[孔]
(孔空間の平均高さ)
図2および図3を参照して、孔1hの孔空間の平均高さh1hとは、孔1hの第1主面1m上での形状の差異を問わず、第1最大幅W1を表示する線分LSW1を含み第1主面1mに垂直な第1垂直平面P1と各孔1hの孔空間が始まる輪郭線CLとの2つの交点C1,C2および第1最大幅W1を表示する線分LSW1の二等分点C0を含み第1垂直平面P1と第1投影図PP1とに垂直な第2垂直平面P2と各孔1hの孔空間が始まる輪郭線CLとの2つの交点C3,C4の4つの交点C1,C2,C3,C4における孔開き板状材料1の厚さの平均をいう。孔1hの孔空間の平均高さh1hは、板状材料1oへの開孔の加工性を容易にする観点から、0.01μm以上200μm以下であり、さらに孔の周辺強度を高くする観点から、好ましくは1μm以上120μm以下であり、より好ましくは5μm以上120μm以下である。ここで、孔空間の平均高さh1hは、孔空間を形成した後の孔開き板状材料をマイクロメータを用いて、あるいは、孔空間を形成した後の孔開き板状材料を樹脂にて包埋し次いで断面が現れるように切断した後に研磨処理してデジタルマイクロスコープまたは走査型電子顕微鏡を用いて測定した上記4点の平均の高さを意味する。
(孔の平面的大きさ)
孔1hの平面的大きさは、孔1hの孔開き板状材料1の第1主面1m上の形状の差異を問わず、孔開き板状材料1に配置されている各孔1hを孔開き板状材料1の第1主面1mに平行な第1投影面PP1に投影したときの第1投影図において、各孔1hの最大幅を与える第1最大幅W1、ならびに、第1最大幅W1の方向に垂直であり各孔1h最大幅を与える第2最大幅W2を定義する。第1最大幅W1は、加工性および真贋判定を容易にする観点から、好ましくは10μm以上5mm以下であり、さらに、真贋判定におけるセキュリティを向上させる観点から、より好ましくは10μm以上1mm以下であり、さらに好ましくは50μm以上500μm以下である。また、第2最大幅W2は、加工性および真贋判定を容易にする観点から、好ましくは第1最大幅の20%以上であり、真贋判定における視認性を向上させる観点から、より好ましくは第1最大幅の30%以上である。ここで、孔の平面的大きさは、測定用ステージ上に各種の角度をもって配置した状態でデジタルマイクロスコープを用いて、あるいは、走査型電子顕微鏡にて得られたデータを用いて画像解析を行なうことにより、測定する。
(孔空間の扁平率)
孔1hの孔空間の扁平率は、第1最大幅W1に対する孔空間の平均高さh1h(すなわちh1h/W1)で定義され、加工性を容易にする観点から、好ましくは2×10-6以上0.5以下であり、さらに、平面材料の周囲の強度が高い観点から、より好ましくは1×10-4以上0.4以下であり、さらに好ましくは1×10-3以上0.3以下であり、特に好ましくは2×10-3以上0.2以下である。たとえば、第1最大幅が5mmで孔空間の扁平率が2×10-6のときの孔空間の平均高さは0.01μmであり、第1最大幅が100μmで扁平率が0.5のときの孔空間の平均高さは50μmとなる。
(孔の形状)
孔1hの平面的形状について、第1投影面上に得られる各孔の投影図の形状は、特に制限はなく、不定形、円形、楕円形、三角形、四角形、多角形、トランプ柄を代表とする任意の形状、複数の開孔した形状が集まってさらに1つの開孔していない形状を構成する場合(たとえば1対の半円の弧状の開孔部に挟まれた円形的非開孔部形状を構成)などの任意の形状が挙げられる。また、孔の形状は前記の形状から少なくとも1種類以上の形状、すなわち、任意のひとつの形状のみとすることもでき、あるいは、二つ以上の複数の形状の組み合わせとすることができる。
また、図4を参照して、孔1hの立体的形状の具体例としては、孔空間を形成する孔曲面1hsは、第1主面1m側から反対の主面側にかけて孔空間に向けて凸の1つの曲面を有する第1の孔曲面1hsa(図4(A))、第1主面1m側から反対の主面側にかけて孔空間に向けて凸の1つの曲面と孔空間に対して凹凸のない1つの曲面とを有する第2の孔曲面1hsb(図4(B))、および第1主面1m側から反対の主面側にかけて孔空間に向けて凸の2つの曲面を有する第3の孔曲面1hsc(図4(C))の少なくとも1つを含むものが挙げられる。すなわち、孔空間を形成する孔曲面1hsは、上記の第1の孔曲面1hsa、第2の孔曲面1hsb、および第3の孔曲面1hscをそれぞれ単独にまたは組み合わせて有することができる。
[孔開き板状材料の第1主面上における孔の配置形態]
図2を参照して、孔開き板状材料1の第1主面1m上における3個以上の孔1hの配置形態は、全体または隣り合う任意の基本単位の配列パターンが3つ以上の孔1hによって任意に構成されている。したがって、配置形態を構成する少なくとも一部の孔1hのうち、隣り合う3つの孔1hが、直線を構成する位置、任意の三角形を構成する位置、または60°千鳥の基本単位もしくは45°千鳥の基本単位を構成する位置にあるか、あるいは、隣り合う4つの孔1hが、少なくとも一対の平行な辺を有する四角形を構成する位置、または任意の四角形を構成する位置にあるか、の少なくともいずれか1つとすることができる。また、孔開き板状材料1の一部分と他の部分とを異なった配置形態とすることもできる。さらに、図5に示すように、事物の概念の表現を代表として、複数の孔1hの配置を利用してデザインや表現、文字などの伝達手段の役割も足すこともできる。また、孔開き板状材料1の一部分を上記のような配置形態とし、他の部分を孔を配置しないこともできる。
[孔の占有面積率]
図2および図3を参照して、孔開き板状材料1の第1主面1m上において、第1投影面PP1への孔1hの投影面積が占める割合(孔の占有面積率)は、真贋判定のための証明部としての難度を上げる点と任意のデザインによる孔1hの配置の自由度を確保する観点から、孔開き板状材料1の表面の全面積に対して、0.1%以上50%以下が好ましく、1%以上40%以下がより好ましく、3%以上30%以下がさらに好ましい。ここで、孔の占有率は、デジタルマイクロスコープまたは走査型電子顕微鏡にて撮影したデータを画像処理することにより測定する。
[孔部のカバー]
孔開き板状材料1の第1主面1m側または両側に、別の固体基材(図示せず)を配置、接着、または圧着してサンドイッチまたはパウチなどのラミネート状態とすることができる。このような孔開き板状材料を被覆する別の固体基材(以下、孔部被覆用固体基材という。)は、その目的と使用環境に応じて、耐湿性、酸素バリア性、その他特定の化学物質に対して耐性のある材料を用いたフィルムやシートを用いることができる。孔部被覆用固体基材の材料は、孔に対しての視認性を確保するために透明な材料であっても、あるいは目視で見えなくするために不透明な材料でもあってもよい。孔開き板状材料により形成されている前記孔の形状の検出にたとえばX線やγ線などの透過性の電磁波を用いる場合は、その検出する物質に合わせて当該の電磁波を適切な程度で透過する性質(透過性)を有するものを用いることが好ましい。
真贋判定の際に対象となっているものが正当な権利を持つ、あるいは、その権利を取得している制作者から提供されているものであることを証明するための証明部として、孔開き板状材料1の孔1hによるパターンを目視または光学顕微鏡で確認することが求められる場合は、孔が露出している状態としてもよいし、透明フィルムなどを用いて機械的な接触や水分や化学物質による劣化を防ぎつつ視認できる状態としてもよい。さらに、上記証明部および/またはその他の券として発行しているものが専門家による真贋判定時に正規品であることを証明することを目的としており、物品の使用者にその証明部としてのデザインの詳細内容を知らせずに、専門家がX線分析装置などで透過写真を撮って別途本格的に検査するために使用する場合は、可視光では不透明な樹脂フィルムや紙などを使用してデザイン部分を覆っておくこともできる。
[孔開き板状材料の第1主面上に配置されている孔の証明部としてのデザイン]
一般的に、真贋判定の際に対象となっているものが正当な権利を持つ、あるいは、その権利を取得している制作者から提供されているものであることを証明するための証明部は、その認識と認知のレベルを上げるために、ロゴマークを使ったり何らかの画像を採用したりすることで機器での認識をする前に使用している人間にとってもより確実に認識させるという工夫がなされている。特に、フォログラムまたは透かしでは、文字や幾何学模様ではなく何らかの物体の画像を取り入れて偽造の難度を上げると共にその認識力を上げ、セキュリティとしての取り組みについてアピールする取り組みがなされている。
図5を参照して、孔開き板状材料の第1主面上に配置されている孔の配置形態は、証明部としてのデザインとして、事物の概念を表現する形態とすることができる。ここで、事物の概念を表現する形態とは、人に所定の事および/または物の概念を想起させる表現形態を意味する。すなわち、孔の配置形態は、孔をドットとして、所定の事物を表す絵画(静物画、動物画、人物画、風景画)または写真(静物写真、動物写真、人物写真、風景写真)などを構成することができる。たとえば、孔をドットとして、図5に示すような金門橋を描くことができる。このように、規定された場所にのみ孔を配列して孔の配置形態にデザイン性を付与することにより、単純な孔の配置形態に比較して、視認性および偽造に対する難度を高めることができる。
<孔開き板状材料の真贋判定方法>
図1を参照して、本発明の一実施形態にかかる孔開き板状材料の真贋判定方法は、上記孔開き板状材料1の真贋判定方法であって、孔開き板状材料1の任意の孔1ha,1hb,1hcの配置形態の少なくとも一部に関する孔1ha,1hb,1hcの孔開き板状材料1の第1主面1mに平行な平面上における二次元的な位置情報(図1(A))と、孔開き板状材料1の製造に用いたダイ111の孔111ha,111hb,111hcの配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の孔1ha,1hb,1hcに対応する部分に関するダイの孔111ha,111hb,111hcのダイ111の面に平行な平面上における二次元的な位置情報(図1(B))、または、ダイ111の設計に用いた原図11のダイの孔111ha,111hb,111hcに対応する孔図11ha,11hb,11hcの配置形態の少なくとも一部であって孔開き板状材料の孔1ha,1hb,1hcに対応するダイの孔111ha,111hb,111hcに対応する部分に関する孔図11ha,11hb,11hcの原図11の平面上における二次元的な位置情報(図1(C))と、が一致するか否かにより孔開き板状材料の真贋を判定する。本実施形態の孔開き板状材料の真贋判定方法は、第1主面1m上に3個以上の孔1ha,1hb,1hcが配置されている孔開き板状材料1を用いるシンプルでかつ精度の高い偽造防止方法を提供できる。
(孔開き板状材料の第1主面に平行な平面)
孔開き板状材料1の第1主面1mは、上記板状材料1oの第1主面1mと共通であり、通常平面である。このため、孔開き板状材料1の第1主面1mに平行な平面は明確に定義される。ただし、孔開き板状材料1の第1主面1mが平面でない場合、孔開き板状材料1の第1主面1mに平行な平面は、孔開き板状材料1の第1主面1mの最小二乗平面に平行な平面と定義する。
[二次元的な位置情報]
本実施形態の孔開き板状材料の真贋判定方法において、二次元的な位置情報とは、孔開き板状材料の3個以上の孔の相互の配置形態の少なくとも一部や各孔の形状情報とその位置や各点を結ぶ線分や比率などの情報と、これらに対応するダイの孔の対応する部分、および原図の孔図の対応する部分のそれぞれに関する二次元的な位置情報を意味し、任意に選択して設定することができ、たとえば、それぞれの孔の第1最大幅を示す第1の直線とそれに直交して第2最大幅を示す第2の直線とがそれぞれの孔開き板状材料の孔、ダイの孔または孔図において交点として唯一の点を与えるときは、その交点を設定することができる。孔開き板状材料の孔の少なくとも一部、ダイの孔の対応する部分、および原図の孔図の対応する部分に関する二次的な位置情報の設定方法は、評価を行なう際にその都度自由にかつ任意の方法を採用できる。このような二次的な位置情報の設定方法の自由度の高さは、実施形態1の孔開き板状材料の贋作の作製をより困難なものとすることができる。
また、二次元的な位置情報が一致するとは、たとえば、証明部とする孔開き板状材料1の孔1ha,1hb,1hcの上記交点間の距離、対応するダイ111の孔111ha,111hb,111hcの交点間の距離、および対応する原図11の孔図11ha,11hb,11hcの上記交点間の距離が、誤差5%以下、好ましくは誤差2%以下、より好ましくは誤差1%以下、さらに好ましくは誤差0.5%以下の精度で一致、あるいは、複数の上記交点の内の特定の2点間の距離と少なくとも1点が異なる2点間の距離との比率が、孔開き板状材料の孔1ha,1hb,1hc、対応するダイの孔111ha,111hb,111hc、および原図の孔図11ha,11hb,11hcの間で上記と同様の精度で一致することをいう。特に、後者の複数の2点間の距離の間の比率を二次元的な位置情報の一致の判定に用いることにより、各マイクロスコープや走査型顕微鏡の表示距離精度、画像の拡大縮小比率、および/または測定時の単位の種類にかかわらず、測定精度に応じて精度の高い真贋判定が可能となる。ここで、誤差5%以下の精度とは対比する一方と他方との差が一方の5%以下であることを意味し、誤差2%以下の精度とは対比する一方と他方との差が一方の2%以下であることを意味し、誤差1%以下の精度とは対比する一方と他方との差が一方の1%以下であることを意味し、誤差0.5%以下の精度とは対比する一方と他方との差が一方の0.5%以下であることを意味する。
たとえば、図1を参照して、孔開き板状材料1の3つの孔1ha,1hb,1hcにおいて各々の第1最大幅を示す第1の線分とそれに直交して第2最大幅を示す第2の線分との3つの交点H1ha,H1hb,H1hcのH1ha1hb間の距離D1ab、H1hb1hc間の距離D1bc、およびH1hc1ha間の距離D1ca(図1(A))と、孔開き板状材料1の製造に用いたダイ111において上記3つの孔1ha,1hb,1hcにそれぞれ対応する3つの孔111ha,111hb,111hcにおいて各々の第1最大幅を示す第1の線分とそれに直交して第2最大幅を示す第2の線分との3つの交点H111ha,H111hb,H111hcのH111ha111hb間の距離D111ab、H111hb111hc間の距離D111bc、およびH111hc111ha間の距離D111ca(図1(B))、または、ダイ111の設計に用いたCADなどの原図11において上記3つのダイの孔111ha,111hb,111hcにそれぞれ対応する3つの孔図11ha,11hb,11hcにおいて各々の第1最大幅を示す第1の線分とそれに直交して第2最大幅を示す与える第2の線分との3つの交点H11ha,H11hb,H11hcのH11ha11hb間の距離D11ab、H11hb11hc間の距離D11bc、およびH11hc11ha間の距離D11ca(図1(C))とについて対応するそれぞれの距離が、誤差5%以下、好ましくは誤差2%以下、より好ましくは誤差1%以下、さらに好ましくは誤差0.5%以下の精度で一致するとき、それらの二次元的な位置情報が一致するとして、3つの孔1ha,1hb,1hcを有する孔開き板状材料1およびそれを含む物品は、真正品と判断できる。
また、図1を参照して、孔開き板状材料1におけるH1ha1hb間の距離D1ab、H1hb1hc間の距離D1bcおよびH1hc1ha間の距離D1ca(図1(A))における各距離間の比率と、これらに対応した、ダイ111におけるH111ha111hb間の距離D111ab、H111hb111hc間の距離D111bcおよびH111hc111ha間の距離D111ca(図1(B))における各距離間の比率、または、原図11におけるH11ha11hb間の距離D11ab、H11hb11hc間の距離D11bc、およびH11hc11ha間の距離D11ca(図1(C))における各距離間の比率とが、誤差5%以下、好ましくは誤差2%以下、より好ましくは誤差1%以下、さらに好ましくは誤差0.5%以下の精度で一致するとき、それらの二次元的な位置情報が一致するとして、3つの孔1ha,1hb,1hcを有する孔開き板状材料1およびそれを含む物品は、真正品と判断できる。
本実施形態の真贋判定方法においては、孔開き板状材料の孔の二次元的な位置情報とそれに対応する原図の孔図の二次元的な位置情報との対比については、ダイという媒体が介在する間接的な対比にも拘わらず、誤差5%以下、好ましくは誤差2%以下、より好ましくは誤差1%以下、さらに好ましくは誤差0.5%以下の精度が達成できる。また、孔開き板状材料の孔の二次元的な位置情報とそれに対応するダイの孔の二次元的な位置情報の対比については、それらの間に他の媒体が介在しない直接的な対比であるため、誤差5%以下、好ましくは誤差2%以下、より好ましくは誤差1%以下、さらに好ましくは誤差0.5%以下の精度が容易に達成できる。さらに、ダイの孔の製造時に生じる配置や形状上の寸法精度の揺らぎが、あたかも指紋のように固有の二次元的な位置情報となり、これが対応する孔開き板状材料の孔の二次元的な位置情報にそのまま反映されるため、その孔開き板状材料の製造に用いたダイとの間で個別的かつ精密な対比が可能となる。
また、本実施形態の孔開き板状材料の真贋判定方法は、従来の真贋判定方法(たとえば、蛍光X線による材料構成元素の分析など)と併用することにより、真贋判定の精度をより高くすることもできる。
<孔開き板状材料の製造方法>
図6を参照して、本実施形態の孔開き板状材料の真贋を判定する真贋判定方法における孔開き板状材料1の製造方法は、特に制限はないが、上記孔開き板状材料1を効率よく製造する観点から、孔111hとその孔111hの周111rを形成するエッジ111eとを有するダイ111の一方の主面側に板状材料1oを配置し、板状材料1o側およびダイ111側の少なくとも一方から、板状材料1oに対してダイ111の孔111hのサイズよりも大きいサイズの領域に圧力を加えて、ダイ111のエッジ111eで板状材料1oを切断することにより孔開き板状材料1を製造することが好ましい。ここで、板状材料1oに対してダイ111の孔111wのサイズよりも大きいサイズの領域に圧力を加える方法には、特に制限はないが、効率よく確実にかつ精度よく圧力を加える観点から、板状材料1o上に合成樹脂板またはゴム板などの弾性体131を配置し、弾性体131側に配置されるロール151rおよびダイ111側に配置されるロール152rにより、弾性体131、板状材料1oおよびダイ111に圧力を加えることが好ましい。また、ロール151r,152rに対して、弾性体131、板状材料1oおよびダイ111を相対的に移動させることが好ましい。
≪実施形態2:孔開き板状材料≫
本発明の一実施形態にかかる孔開き板状材料は、実施形態1の孔開き板状材料の真贋判定方法を用いて真贋が判定できる孔開き板状材料である。本実施形態の孔開き板状材料は、シンプルでかつ精度の高い真贋判定方法により真贋が判定できるため、安心して使用できる。本実施形態の孔開き板状材料は、真贋判定の結果を問わず、真贋判定ができるものであれば足りる。なお、真贋判定の結果を、孔開き板状材料またはその添付物(真贋判定証明書など)に表示することもできる。本実施形態の孔開き板状材料の具体的内容は、実施形態1の孔開き板状材料に記載しているため、ここでは繰り返さない。
≪実施形態3:物品の真贋判定方法≫
本発明の一実施形態にかかる物品の真贋判定方法は、上記の孔開き板状材料を含む物品の真贋判定方法であって、実施形態1の孔開き板状材料の真贋判定方法を用いる。本実施形態の真贋判定方法によれば、上記孔開き板状材料を含む物品のシンプルでかつ精度の高い偽造防止方法を提供できる。ここで、上記の孔開き板状材料を含む物品とは、物品に上記孔開き板状材料が含まれていれば足り、上記孔開き板状材料の含まれ方の形態および状態を問わない。すなわち、真贋判定の証明部となる上記孔開き板状材料は、真贋判定の対象となる被証明品である物品の全部または一部であってもよく、真贋判定の対象となる被証明品である物品に取り外しが可能または不可能に貼り付けまたは取り付けられていてもよい。
具体的には、真贋判定の証明部と真贋判定の対象とされる被証明品とは、以下の(1)〜(3)の関係を含む。(1)上記証明部は、真贋判定の対象とされる被証明品の全部または一部の関係であってもよい。この場合、被証明品自体の少なくとも一部が孔開き板状材料で構成されている。(2)また、上記証明部は、被証明品に積層し、あるいは、被証明品と同時にラミネート処理するなどの方法により、上記被証明品に一体化された関係であってもよい。(3)また、証明部は、上記被証明品にシールとして貼り付けまたは取り付けられた別物の関係であってもよい。
≪実施形態4:物品≫
本発明の一実施形態にかかる物品は、実施形態3の物品の真贋判定方法を用いて真贋が判定できる物品である。本実施形態の物品は、シンプルでかつ精度の高い真贋判定方法により真贋が判定できるため、安心して使用ができる。本実施形態の物品は真贋判定の結果を問わず、真贋判定ができるものであれば足りる。なお、真贋判定の結果を、物品またはその添付物(真贋判定証明書など)に表示することもできる。本実施形態の物品の具体的内容は、実施形態1の孔開き板状材料およびに記載しているため、ここでは繰り返さない。
<孔開き板状材料の作製>
[第1例]
図6を参照して、直径が100μmの複数の孔111hが所定間隔の60°千鳥の位置に配置されたステンレス製のダイ111上に、厚さ20μmのアルミニウム箔である板状材料1oを接触するように配置し、板状材料1oの上に加圧により変形可能な厚さ0.3mmの合成樹脂板である弾性体131を配置し、直径200mmの2本のロール151r,152rで挟み込む状態とした。次に、ロール間に圧力を加えながら回転させることにより、板状材料1oに貫通孔をあけて複数の孔1hが配置されたアルミニウム製の孔開き板状材料1を得た。得られた孔開き板状材料1の孔1hのその全景の写真を図7に示した。得られた孔開き板状材料1には複数の孔1hが上記所定間隔の60°千鳥で配置されていた。
[第2例]
図6を参照して、風景画となるような所定の場所に多数の直径100μmの孔111hが配置されているステンレス製のダイ111上に、厚さ20μmのアルミニウム箔である板状材料1oを接触するように配置し、その上に加圧により変形可能な厚さ0.3mmの合成樹脂板である弾性体131を配置し、直径200mmの2本のロール151r,152rで挟み込む状態とした。次に、ロール間に圧力を加えながら回転させることにより、板状材料1oに貫通孔をあけて多数の孔1hが配置されたアルミニウム製の孔開き板状材料1を得た。得られた孔開き板状材料1に孔1hにより形成された風景画の全景の写真を図8に、その一部のデジタルマイクロスコープによる拡大写真を図9に示した。得られた孔開き板状材料1には多数の孔1hがあらかじめデザインされている所定の場所に配置されていた。
[第3例]
図6を参照して、最大幅が1mmの4種類のトランプ柄の複数の孔111hが規則的に配置されているステンレス製のダイ111上に、厚さ15μmの銅箔である板状材料1oを接触するように配置し、その上に加圧により変形可能な厚さ0.3mmの合成樹脂板である弾性体131を配置し、直径200mmの2本のロール151r,152rで挟み込む状態とした。次に、ロール間に圧力を加えながら回転させることにより、板状材料1oに貫通孔をあけて複数のトランプ柄である孔1hが配置された銅製の孔開き板状材料1を得た。得られた孔開き板状材料1の孔1hのその全景の写真を図10に示した。得られた孔開き板状材料1には、4種のトランプ柄の孔1hが上記規則的に配置されていた。
[第4例]
第3例で得られた孔開き板状材料1上にさらに別の紙を載せてカバーすることにより、図11に示すように、孔1hの配置形態が目視できない状態の目隠し孔開き板状材料を得た。得られた目隠し孔開き板状材料について、堀場製作所XGT−7200を用いて蛍光X線を用いて分析したところ、図12に示す蛍光X線透過画像を得た。蛍光X線を用いることにより、目隠し孔開き板状材料におけるトランプ柄である孔1hの配置形態を明確に蛍光X線透過画像として測定可能なことが確認できた。
<孔開き板状材料の真贋判定>
図13〜図15を参照して、ダイの設計に用いたCADの原図における所定のスペード、ダイヤ、およびハートの二次元的な位置情報(原図位置情報)を図13に示し、上記ダイにより製造された孔開き板状材料のデジタルマイクロスコープ写真において対応する所定のスペード、ダイヤ、およびハートの二次元的な位置情報(孔開き板状材料位置情報)を図14に示し、上記孔開き板状材料上に別の紙を載せた目隠し孔孔開き板状材料の蛍光X線写真における所定のスペード、ダイヤ、およびハートの二次元的な位置情報(目隠し孔開き板状材料位置情報)を図15に示した。なお、図13〜図15は計測用のオリジナルサイズではないため、その距離的情報は以降の計測データの距離の値とは一致しない。図13〜図15の計測用のオリジナル画像における対応するスペード−ハート(S−H)間距離、ダイヤ−スペード(D−S)間距離およびハート−ダイヤ(H−D)間距離に関して、CADの原図におけるS−H間距離、D−S間距離およびH−D間距離に対する孔開き板状材料におけるS−H間距離、D−S間距離およびH−D間距離、ならびに、CADの原図におけるS−H間距離、D−S間距離およびH−D間距離に対する目隠し孔開き板状材料におけるS−H間距離、D−S間距離およびH−D間距離のそれぞれの比((S−H)対原図比、(D−S)対原図比および(H−D)対原図比)を算出した。次に、孔開き板状材料および目隠し孔開き板状材料における(S−H)対原図比に対する(D−S)対原図比((D−S)対原図比/(S−H)対原図比)および(S−H)対原図比に対する(H−D)対原図比((H−D)対原図比/(S−H)対原図比)を算出した。結果を表1に示した。表1において、2点間の距離の単位a.u.は任意単位を示し、たとえば、デジタルマイクロスコープ、走査型電子顕微鏡において表示されている距離(単位はたとえばμm)、あるいは画像ソフトに表示されているピクセル数なども用いることができる。
表1を参照して、孔開き板状材料および目隠し孔開き板状材料におけるS−H間距離、D−S間距離およびH−D間距離は、測定時の任意単位(a.u.)の条件の違いにより、原図におけるS−H間距離、D−S間距離およびH−D間距離に対してそれぞれ163.30%〜530.37%と大きく異なっていたにも拘わらず、(D−S)対原図比/(S−H)対原図比および(H−D)対原図比/(S−H)対原図比は99.75%〜100.15%であり、誤差0.25%以下の精度で一致していた。すなわち、孔開き板状材料および目隠し孔開き板状材料の測定用図の原図の倍率が変動しても、誤差0.25%以下(すなわち誤差0.5%以下)の極めて高い精度で真正品であることが確認できた。
今回開示された実施の形態および実施例はすべての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した実施の形態および実施例ではなく特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味、および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 孔開き板状材料、1h,1ha,1hb,1hc,111ha,111hb,111hc 孔、1m 第1主面、1o 板状材料、1hs,1hsa,1hsb,1hsc 孔曲面、11 原図、11ha,11hb,11hc 孔図、111 ダイ、111e エッジ、111r 周、131 弾性体、151r,152r ロール、h1h 孔空間高さ、C0 二等分点、C1,C2,C3,C4,H1ha,H1hb,H1hc,H11ha,H11hb,H11hc,H111ha,H111hb,H111hc 交点、D1ab,D1bc,D1ca,D11ab,D11bc,D11ca,D111ab,D111bc,D111ca 距離、W1 第1最大幅、W2 第2最大幅、P1 第1垂直平面、P2 第2垂直平面、PP1 第1投影面、LSW1 第1最大幅を示す線分、CL 輪郭線。

Claims (7)

  1. 少なくとも1層からなる板状材料の第1主面上の任意に特定される場所に3個以上の任意の形状の孔が任意の配置形態で配置されている孔開き板状材料の真贋判定方法であって、
    前記孔は少なくとも1種類以上の形状の孔で構成されており、
    前記孔開き板状材料の前記孔の配置形態の少なくとも一部に関する前記孔から任意に選択される孔の前記孔開き板状材料の前記第1主面に平行な平面上における二次元的な位置情報と、
    前記孔開き板状材料の製造に用いたダイの孔の配置形態の少なくとも一部であって前記孔開き板状材料の前記任意に選択される孔に対応する部分に関する前記ダイの孔の前記ダイの面に平行な平面上における二次元的な位置情報、または、
    前記ダイの設計に用いた原図の前記ダイの孔に対応する孔図の配置形態の少なくとも一部であって前記孔開き板状材料の前記任意に選択される孔に対応する前記ダイの孔に対応する部分に関する前記孔図の前記原図の平面上における二次元的な位置情報と、
    が一致するか否かにより孔開き板状材料の真贋を判定する孔開き板状材料の真贋判定方法。
  2. 前記孔開き板状材料の平均厚さは0.01μm以上200μm以下であり、
    前記孔開き板状材料の前記第1主面に平行な第1投影面に垂直に各前記孔を投影したときの第1投影図において各前記孔の最大幅を与える第1最大幅は10μm以上5mm以下であり、
    前記第1投影面上で各前記孔の前記第1最大幅に垂直であり各前記孔の最大幅を与える第2最大幅は、前記第1最大幅の20%以上であり、
    各前記孔の前記第1最大幅に対する、前記第1最大幅を表示する線分を含み前記第1主面に垂直な第1垂直平面と各前記孔の孔空間が始まる輪郭線との2つの交点および前記第1最大幅を表示する線分の二等分点を含み前記第1垂直平面と前記第1投影図とに垂直な第2垂直平面と各前記孔の孔空間が始まる前記輪郭線との2つの交点の4つの交点における前記孔開き板状材料の厚さの平均で表される孔空間の平均高さの比で表される孔空間の扁平率は、5×10-6以上0.5以下である請求項1に記載の孔開き板状材料の真贋判定方法。
  3. 前記配置形態を構成する少なくとも一部の前記孔のうち、
    隣り合う3つの前記孔が、直線を構成する位置、任意の三角形を構成する位置、または60°千鳥の基本単位もしくは45°千鳥の基本単位を構成する位置にあるか、あるいは、
    隣り合う4つの前記孔が、少なくとも一対の平行な辺を有する四角形を構成する位置、または任意の四角形を構成する位置にあるか、
    の少なくともいずれか1つである請求項1または請求項2に記載の孔開き板状材料の真贋判定方法。
  4. 前記孔の配置形態は、事物の概念を表現する形態である請求項1または請求項2に記載の孔開き板状材料の真贋判定方法。
  5. 前記孔開き板状材料を含む物品の真贋判定方法であって、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の孔開き板状材料の真贋判定方法を用いる物品の真贋判定方法。
  6. 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の孔開き板状材料の真贋判定方法を用いて真贋が判定できる孔開き板状材料。
  7. 請求項5に記載の物品の真贋判定方法を用いて真贋が判定できる物品。
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