JP2019180795A - 点検ツール，点検プラグ端子カバー - Google Patents

Abstract

【課題】内視鏡装置の電気的な点検を行う点検ツールの点検用プラグの端子表面を保護し変形を抑え点検ツール自体の導通チェックを容易に行い得る点検ツールを提供する。【解決手段】内視鏡装置の筐体に設けられるレセプタクルに接続されるプラグ３２と、プラグの表面に設けられプラグがレセプタクルに接続されている状態においてレセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子３２ａと、外部機器５０が接続される第１の端子３５と、一端が信号伝送端子に接続され他端が第１の端子に接続され信号伝送端子に入力される電流を第１の端子へと伝送する第１の伝送路３３，３４と、信号伝送端子及び第１の端子とは異なる位置に配置され外部機器が接続される第２の端子３７と、一端が信号伝送端子に接続され他端が第２の端子に接続され信号伝送端子を介して第１の端子と第２の端子とを電気的に接続し電流を伝送する第２の伝送路３８とを備える。【選択図】図２

Description

この発明は、内視鏡装置等に対する電気的な点検を行うための点検ツール及びこの点検ツールに用いられる点検プラグ端子カバーに関するものである。

従来、内視鏡及びプロセッサ装置等を含んで構成される内視鏡装置は、例えば機器メーカーの作業員による定期的な保守点検（メンテナンス）が実施されて、常に安全な運用を行うことができるような取り組みが実行されている。

この場合における点検項目としては、例えば電気的安全性（例えば漏れ電流チェック）等の点検のほか、機器の性能面の点検（例えば光源装置の出射光量，送気圧や送気量のチェック等）等といったものがある。このうち、例えば医療用の内視鏡装置においては、電気的安全性に関する点検が、特に重要視されている。

一方、近年において、医療用の内視鏡装置の点検を、機器メーカーの点検作業員ではなく、医療従事者（例えば臨床工学技士；Clinical Engineer）等の使用者（ユーザ）が行ないたいという要望がある。

しかしながら、従来一般に普及している内視鏡装置においては、例えば内視鏡の接続プラグ（以下、内視鏡プラグという）と、プロセッサ装置の筐体に設けられ当該内視鏡プラグが接続されるレセプタクル（以下、筐体レセプタクルという）等からなる接続用コネクタの各部材形状や機能等は、内視鏡装置の機種毎に異なる形態のものが採用されており、また、それぞれが特有の構造を有して構成されている場合が多い。

そのために、従来においては、内視鏡装置の接続用コネクタ（内視鏡プラグと筐体レセプタクル）周りの電気的な点検は、専用ツールを持たないユーザが容易に点検することはできなかった。

例えば従来の内視鏡装置において、内視鏡を接続するプロセッサ装置の電気的な点検（具体的には、プロセッサ装置から流れ出る漏れ電流等の点検）を行う際には、プロセッサ装置と点検ツール（漏れ電流測定用点検ツール）を接続して所定の点検が行われる。この場合において、点検ツールには、内視鏡プラグと同形状に形成された点検用プラグが設けられており、この点検用プラグをプロセッサ装置側の筐体レセプタクルに嵌合させる形態とする。

また、従来においては、例えば実用新案登録第３１９８７７４号公報等によって、医療用システムの点検に用いられる点検装置についての種々の提案がなされている。

上記実用新案登録第３１９８７７４号公報等には、手術システムの電源装置や制御装置と測定器とを接続するコネクションユニットについての開示がなされている。

実用新案登録第３１９８７７４号公報

一般に、従来の内視鏡装置における内視鏡プラグ及び筐体レセプタクルには、複数の電気的接続用端子が設けられており、各端子のそれぞれは所定の信号伝送路を有して構成されている。そして、例えば漏れ電流の点検の際には、それら複数の信号伝送路のうちの特定の伝送路についての点検が行われる。その場合、点検対象とする特定の伝送路は、内視鏡装置の機種毎に異なることがある。しかしながら、内視鏡装置の機種毎に対応させた専用ツールを用意するのは現実的ではないという問題点がある。

また、近年では、より一層の安全性への要望が強まっており、例えば上述のような点検ツールについても、それ自体の故障の有無等を容易に点検できることが求められている。例えば点検ツールを用いて内視鏡装置の点検作業を行う前に、これから使用しようとする点検ツール自体の点検（例えば導通チェック等）を行うことが、点検作業ルーチンに組み込まれるといった傾向が見られる。

このような点検ツール自体の点検としては、例えばデジタルマルチメータ（digital multimeter）等の測定器を用いた導通チェック等である。

この場合において、点検作業の都度、測定器のテストリード（接触用金属棒）を点検ツールの点検用プラグ側の端子に強く接触させることを繰り返していると、当該端子の表面に変形や損傷が生じてしまう可能性がある。また、点検用プラグの端子は外部に露呈した形態であるので、当該端子の表面に塵埃等の異物が付着してしまう可能性もある。

従来のこの種の点検ツールの点検用プラグは、本来の用途で使用される際（即ち対象装置の点検作業を行う際）には、筐体レセプタクルに嵌合させることになる。このとき、点検用プラグの端子は、筐体レセプタクル側の対応する端子に接触することによって、両者（点検用プラグと筐体レセプタクル）間の主に電気的な接続を確保するように構成されている。

したがって、このときに、点検用プラグの端子の表面に変形や塵埃等の異物付着があると、筐体レセプタクルの端子との間の接触不良が生じる可能性がある。

さらに、上述のようにして点検用プラグの端子の表面に変形等が生じてしまった点検ツールを使用して対象装置の点検作業を行うために、当該点検ツールの点検用プラグを対象装置（例えば内視鏡装置におけるプロセッサ装置）の筐体レセプタクルに嵌合させたとき、当該筐体レセプタクル側の端子を損傷させてしまうといった虞も考えられる。

本発明は、上述した点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、例えば内視鏡装置等に対する電気的な点検を行うための点検ツールにおいて、点検対象とする装置（例えばプロセッサ装置）の筐体に設けられるレセプタクルに嵌合させる点検用プラグの端子の表面を保護して変形，損傷，劣化等を抑えることで、確実かつ正確な点検作業を実施することができると共に、点検ツール自体の導通チェックをも容易に実施し得る構造を備えた点検ツール及びこの点検ツールに用いられる点検プラグ端子カバーを提供することである。

上記目的を達成するために、本発明の第１の態様の点検ツールは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子と、外部機器が接続される第１の端子と、一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、前記信号伝送端子及び前記第１の端子とは異なる位置に配置され、前記外部機器が接続される第２の端子と、一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記信号伝送端子を介して前記第１の端子と前記第２の端子とを電気的に接続し、電流を伝送する第２の伝送路と、を備える。

本発明の第１の態様の点検プラグ端子カバーは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子と、外部機器が接続される第１の端子と、一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、を有する点検ツールの前記プラグが着脱自在に配設される着脱部と、前記外部機器が接続される第２の端子と、一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記着脱部に前記プラグが装着されているときに、前記信号伝送端子を介して前記第１の端子と前記第２の端子とを電気的に接続し、電流を伝送する第２の伝送路と、を備える。

本発明の第２の態様の点検ツールは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子と、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子と、外部機器が接続される第１の端子と、一端が前記第１の信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記第１の信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、外部機器が接続される第２の端子と、一端が前記第２の信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記第２の信号伝送端子と前記第２の端子とを電気的に接続する第２の伝送路と、前記プラグに接続されるカバー部材と、前記カバー部材に設けられ、前記カバー部材に前記プラグが接続されている状態において前記第１の信号伝送端子と前記第２の信号伝送端子とを電気的に接続する第３の伝送路と、を備える。

本発明の第２の態様の点検プラグ端子カバーは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、前記プラグの表面に設けられ前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子と、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子と、外部機器が接続される第１の端子と、一端が前記第１の信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記第１の信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、外部機器が接続される第２の端子と、一端が前記第２の信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記第２の信号伝送端子と前記第２の端子とを電気的に接続する第２の伝送路と、を有する点検ツールの前記プラグが着脱自在に配設される着脱部と、前記着脱部に前記プラグが装着されている状態において、前記第１の信号伝送端子と前記第２の信号伝送端子とを電気的に接続する第３の伝送路と、を備える。

本発明によれば、例えば内視鏡装置等に対する電気的な点検を行うための点検ツールにおいて、点検対象とする装置（例えばプロセッサ装置）の筐体に設けられるレセプタクルに嵌合させる点検用プラグの端子の表面を保護して変形，損傷，劣化等を抑えることで、確実かつ正確な点検作業を実施することができると共に、点検ツール自体の導通チェックをも容易に実施し得る構造を備えた点検ツール及びこの点検ツールに用いられる点検プラグ端子カバーを提供することができる。

本発明の各実施形態の点検ツールを用いて点検を行う点検対象となる内視鏡装置を示す外観斜視図 本発明の第１の実施形態の点検ツールの外観斜視図 図２の点検ツールにおいてカバー部材とプラグ本体の分離状態を示す上面図 図２の点検ツールにおいてカバー部材とプラグ本体とを嵌合させた状態を示す上面図 図４の［５］−［５］線に沿う断面図 本発明の第２の実施形態の点検ツールの構成を示す概念図 本発明の第３の実施形態の点検ツールの外観斜視図 図７の点検ツールにおけるカバー部材とプラグ本体とを分離した状態を示す平面図 図７の点検ツールにおけるカバー部材とプラグ本体とを接続した状態を示す平面図 図９の状態の点検ツールの断面図 本発明の第４の実施形態の点検ツールの外観斜視図 図１１の点検ツールにおける点検プラグ端子カバーであるカバーシートのみを示す外観斜視図 本発明の第４の実施形態の点検ツールにおけるカバーシートの変形例を示す概念図 本発明の第５の実施形態の点検ツールの保管状態を示す外観斜視図 図１４の点検ツールにおいてカバー部材とプラグ本体を分離した状態を示す外観斜視図 図１４の点検ツールの導通チェックを行う際のようすを示す外観斜視図

以下、図示の実施の形態によって本発明を説明する。以下の説明に用いる各図面は模式的に示すものであり、各構成要素を図面上で認識できる程度の大きさで示すために、各部材の寸法関係や縮尺等を構成要素毎に異ならせて示している場合がある。したがって、本発明は、各図面に記載された各構成要素の数量や各構成要素の形状や各構成要素の大きさの比率や各構成要素の相対的な位置関係等に関して、図示の形態のみに限定されるものではない。

本発明の各実施形態で例示する点検ツールは、例えば内視鏡及びプロセッサ装置等を含んで構成される内視鏡装置を点検するための点検ツールである。

具体的には、当該内視鏡装置におけるプロセッサ装置において、当該プロセッサ装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクル（以下、単にレセプタクルという）に複数設けられる電気接続用の端子（以下、レセプタクル側端子という）のうちの特定のレセプタクル側端子から流れ出る漏れ電流等を点検するための点検ツールであって、いわゆる漏れ電流測定用点検ツールとよばれるものを例示している。

まず、本発明の各実施形態の点検ツールの詳細を説明する前に、当該点検ツールの点検対象とする内視鏡装置の概略構成を、図１を用いて以下に簡単に説明する。

図１は、本発明の各実施形態の点検ツールを用いて点検を行う点検対象となる内視鏡装置を示す外観斜視図である。

内視鏡装置１００は、内視鏡１０１と、プロセッサ装置１１０と、表示装置１２０等によって主に構成されている。

内視鏡１０１は、生体や構造物等の被検体の内部の所望の観察部位を撮像する撮像装置である。この内視鏡１０１は、挿入部１０２と、操作部１０３と、ユニバーサルコード１０４と、内視鏡プラグ１０とを有して主に構成されている。

このうち、内視鏡プラグ１０は、プロセッサ装置１１０のレセプタクル２０（内視鏡接続用レセプタクル）に嵌合して、内視鏡１０１とプロセッサ装置１１０とを接続するコネクタ１の一部を構成する構成ユニットである。

内視鏡プラグ１０は、内視鏡１０１から延出される配線ケーブルであるユニバーサルコード１０４の終端部に設けられている。当該内視鏡プラグ１０は、先端に向けて突設されるプラグ部１０ａと、このプラグ部１０ａの外周表面に設けられる複数の電気接続用のプラグ側端子１０ｂとを有して形成されている。

これら複数のプラグ側端子１０ｂは、当該内視鏡プラグ１０がプロセッサ装置１１０のレセプタクル２０に嵌合された時に、レセプタクル側端子（不図示）に接触するように配置されている。この構成により、内視鏡プラグ１０がレセプタクル２０に嵌合されると、両者（内視鏡プラグ１０とレセプタクル２０）間の電気的な接続が確保されるように構成されている。

なお、図１に示す例では、内視鏡プラグ１０及びレセプタクル２０の形状は、断面が略フレーム形状の形態のものを示しているが、この例示に限られることはなく、例えば断面が円環形状となる形態のもの等、各種様々な形状のものがある。

ユニバーサルコード１０４は、操作部１０３とプロセッサ装置１１０との間を接続するための配線ケーブルである。このユニバーサルコード１０４には、電気信号線や光ファイバーケーブル等（不図示）が挿通されている。これらの電気信号線や光ファイバーケーブル等は、操作部１０３を介して挿入部１０２内へと挿通している。ここで、例えば光ファイバーケーブルは、一端が内視鏡プラグ１０に配設され、他端が内視鏡１０１の挿入部１０２の先端部に配設されている。

このような構成により、内視鏡１０１は、挿入部１０２から操作部１０３を介してユニバーサルコード１０４内を電気信号線や光ファイバーケーブル等が挿通しており、これらのケーブル等は、内視鏡プラグ１０とレセプタクル２０とからなるコネクタ１を介してプロセッサ装置１１０の内部回路（不図示）へと接続されるように構成されている。

そして、これにより、内視鏡１０１によって取得された撮像データを内視鏡１０１からプロセッサ装置１１０へと伝送することができ、またプロセッサ装置１１０から内視鏡１０１へと各種の制御信号等を伝送することができるように構成されている。

プロセッサ装置１１０は、内視鏡１０１によって取得された撮像データの各種の信号処理を行ったり、内視鏡１０１の制御処理を行うための制御回路等を内蔵する制御ユニットである。このプロセッサ装置１１０の筐体の前面には、内視鏡プラグ１０を嵌合させるための開口部１１０ａが設けられ、この開口部１１０ａにはレセプタクル２０が固定されている。

ここで、本実施形態においては、開口部１１０ａは略矩形状に形成されている例を示している。この開口部１１０ａの形状は、レセプタクル２０の開口２０ａと、内視鏡プラグ１０のプラグ部１０ａの断面形状とに合わせて形成されている。したがって、上述したように、例えば内視鏡プラグ１０及びレセプタクル２０の断面形状を丸形状にした場合には、開口部１１０ａの形状も、これに合わせた丸形形状となる。

レセプタクル２０は、内視鏡１０１の内視鏡プラグ１０が嵌合して、プロセッサ装置１１０と内視鏡１０１とを接続するコネクタ１の一部を構成する部材である。

レセプタクル２０は、開口２０ａと、これに連設され内視鏡プラグ１０のプラグ部１０ａが嵌合する嵌合孔（不図示）と、この嵌合孔の内面に設けられ内視鏡プラグ１０のプラグ部１０ａのプラグ側端子１０ｂに対応するレセプタクル側端子（不図示）を有して構成されている。

このように、内視鏡プラグ１０とレセプタクル２０とによってコネクタ１が構成されている。そして、このコネクタ１は、内視鏡プラグ１０がレセプタクル２０に嵌合された状態となった時、内視鏡１０１とプロセッサ装置１１０との間の電気的な接続や光的な接続を確保する機能を備えた構成ユニットである。

内視鏡装置１００についてのその他の構成は、本発明とは直接関連しない部分であるので、それらその他の構成については、従来一般に普及している形態の内視鏡装置と同様構成を有しているものとして、これ以上の説明は省略する。

このように構成された内視鏡装置１００におけるプロセッサ装置１１０を点検対象として、主に当該プロセッサ装置１１０のレセプタクル２０のレセプタクル側端子（不図示）から流れ出る漏れ電流等を点検するための点検ツール（漏れ電流測定用点検ツール）に関する各種の実施形態を以下に詳述する。

［第１の実施形態］
図２〜図５は、本発明の第１の実施形態の点検ツールを示す図である。図２は、本発明の第１の実施形態の点検ツールの外観斜視図である。なお、図２においては、カバー部材とプラグ本体を分離した状態を示している。図３，図４は、図２の点検ツールの上面図である。このうち図３はカバー部材とプラグ本体の分離状態を示している。また図４はカバー部材とプラグ本体を嵌合させた状態を示している。図５は図４の［５］−［５］線に沿う断面図である。なお、図４，図５においては、当該点検ツールの導通チェックを行う際のようすを示すためにデジタルマルチメータを合わせて図示している。

本実施形態の点検ツール３０は、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグ（３２）と、プラグの表面に設けられプラグが内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子（３２ａ）と、外部機器が接続される第１の端子（３５）と、一端が信号伝送端子に接続され他端が第１の端子に接続され信号伝送端子に入力される電流を第１の端子へと伝送する第１の伝送路（３４）と、信号伝送端子及び第１の端子とは異なる位置に配置され外部機器が接続される第２の端子（３７）と、一端が信号伝送端子に接続され他端が第２の端子に接続され信号伝送端子を介して第１の端子と第２の端子とを電気的に接続し電流を伝送する第２の伝送路（３８）と、プラグが着脱自在に配設される着脱部（３６ｂ）を備えると共にプラグが接続された状態となったときに信号伝送端子と接触する接続部（３９）を備えたカバー部材（３６）とを有し、第２の伝送路はカバー部材に設けられ、第２の伝送路の一端は接続部を介して信号伝送端子に接続されて構成されている。

具体的に説明すると、本実施形態の点検ツール３０は、プラグ本体３１と、点検プラグ端子カバーであるカバー部材３６とによって主に構成されている。

プラグ本体３１は、プラグ筐体３１ａと、プラグ部３２（プラグ）と、基板ユニット３３又はリード線３４（第１の伝送路）と、点検用端子３５（第１の端子）とを有して構成されている。

プラグ筐体３１ａは、内部に第１の伝送路としての基板ユニット３３又はリード線３４を収納し得る内部空間を備えた筐体である。このプラグ筐体３１ａの一方の端部には、プラグ部３２が外方に突出するように配設されている。また、プラグ筐体３１ａの他方の端部（プラグ部３２の配設部位とは反対側の側面）には、点検用端子３５が設けられている。

ここで、プラグ部３２は、当該点検ツール３０を用いて点検対象とする装置（以下、点検対象装置という。例えば内視鏡装置１００のプロセッサ装置１１０）の点検作業を行う際に、点検対象装置（内視鏡装置１００のプロセッサ装置１１０）の筐体に設けられるレセプタクル２０（内視鏡接続用レセプタクル）に接続されるプラグである。そのために、当該プラグ部３２は、点検対象装置（内視鏡装置１００）の内視鏡プラグ１０のプラグ部１０ａと同形状に形成されている。

さらに、プラグ部３２の表面には、対応する内視鏡プラグ１０のプラグ部１０ａに形成される複数のプラグ側端子１０ｂのうちの特定の端子に対応するプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）が配設されている。このプラグ端子３２ａは、電気的に導通性を有する素材を用いて形成されている。

プラグ端子３２ａは、プラグ部３２の表面に設けられ、当該プラグ部３２がレセプタクル２０に接続された状態となったときに、当該レセプタクル２０に設けられる複数のレセプタクル側端子のうちの特定の端子（不図示）に接触する信号伝送端子である。

この場合におけるレセプタクル側端子の特定の端子とは、当該点検ツール３０を用いて行う漏れ電流の点検に対応する端子である。点検ツール３０のプラグ端子３２ａは、当該特定の端子に対応する信号伝送端子である。この特定の端子は、点検対象装置の機種毎に決められているものである。

プラグ筐体３１ａにおいて、プラグ部３２の配設部位とは反対側の側面に設けられる点検用端子３５は、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第１の端子である。この点検用端子３５は電気的に導通性を有する素材を用いて形成されている。

即ち、第１の端子である点検用端子３５は、当該点検ツール３０を用いた点検作業時や、点検作業前の導通チェック時に、例えば外部機器であるデジタルマルチメータ等の測定器５０（図４，図５参照）の一方のテストリード５０ａが接続される部位である。

そして、プラグ筐体３１ａの内部には、基板ユニット３３又はリード線３４が配設されている。ここで、基板ユニット３３又はリード線３４は、一端がプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接続され、他端が点検用端子３５（第１の端子）に接続され、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に入力される電流を点検用端子３５（第１の端子）へと伝送する第１の伝送路を構成する部材である。

なお、図２〜図５においては、第１の伝送路として、基板ユニット３３とリード線３４との二種類の伝送路を図示しているが、点検ツール３０における第１の伝送路としては、基板ユニット３３又はリード線３４のいずれか一方が備わっていればよい。

ここで、第１の伝送路としての基板ユニット３３について以下に詳述する。基板ユニット３３は、プリント基板３３ｘと、配線パターン３３ａと、２つのランド部３３ｂと、２本のリード線３４ａ，３４ｂとによって構成されている。

このうち、プリント基板３３ｘは、表面に電子回路がプリントされる形態の一般的な電子回路基板であって、例えば硬質のリジッド（Rigid）基板若しくは軟質のフレキシブル（Flexible）基板等が適用される。

このプリント基板３３ｘの表面には、配線パターン３３ａと、２つのランド部３３ｂが設けられている。配線パターン３３ａは、プリント基板３３ｘの表面上において２つのランド部３３ｂを電気的に接続する導通路である。２つのランド部３３ｂの一方には、リード線３４ａの一端が固定されている。このリード線３４ａの他端は、点検用端子３５に接続されている。また、２つのランド部３３ｂの他方には、リード線３４ｂの一端が固定されている。このリード線３４ｂの他端は、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接続されている。ここで、２本のリード線３４ａ，３４ｂは、電気的に導通性を有する線材を用いて形成されている。

このように、２本のリード線３４ａ，３４ｂと、配線パターン３３ａ及び２つのランド部３３ｂを実装したプリント基板３３ｘとによって第１の伝送路である基板ユニット３３が構成されている。そして、この構成により、基板ユニット３３は、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に入力される電流を点検用端子３５（第１の端子）へと伝送する機能を有している。

また、第１の伝送路であるリード線３４は、一端がプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接続されており、他端が点検用端子３５（第１の端子）に接続されている一本の導電線である。この構成により、リード線３４は、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に入力される電流を点検用端子３５（第１の端子）へと伝送することができる構成となっている。

一方、カバー部材３６は、プラグ部３２に設けられるプラグ端子３２ａの外面を覆うように配設されることで、当該プラグ端子３２ａを保護する役目を備えた構成部材である。そのために、このカバー部材３６は、カバー筐体３６ａと、このカバー筐体３６ａの一面に設けられ、プラグ部３２が着脱自在に配設される着脱部３６ｂとを備えて構成されている。

また、カバー部材３６は、カバー端子３７（第２の端子）と、リード線３８（第２の伝送路）と、接続部３９とを有して構成されている。このカバー部材３６は、例えば樹脂成形本等の電気的に非導通性の素材によって形成されている。

カバー端子３７は、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）及び点検用端子３５（第１の端子）とは異なる位置に配置されている。例えば、カバー端子３７は、カバー部材３６の外面に一部を露呈するように配設されている。このカバー端子３７は、電気的に導通性を有する素材によって形成されている。

そして、カバー端子３７は、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第２の端子であって、導通チェック用の端子である。

即ち、第２の端子であるカバー端子３７は、当該点検ツール３０を用いた点検作業時や、点検作業前の導通チェック時に、例えば外部機器であるデジタルマルチメータ等の測定器５０（図４，図５参照）の他方のテストリード５０ｂが接続される部位である。

接続部３９は、カバー部材３６の着脱部３６ｂの内壁面の表面における所定の部位に配設されている。即ち、接続部３９は、プラグ部３２が着脱部３６ｂに接続されて、両者（プラグ部３２と着脱部３６ｂと）が嵌合した状態となったときに、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）が接触する部位に配設されている。なお、この接続部３９は電気的に導通性を有する素材を用いて形成されている。

第２の伝送路であるリード線３８は、一端が接続部３９を介してプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接続され、他端がカバー端子３７（第２の端子）に接続されている。そして、このリード線３８は電気的に導通性を有する線材を用いて形成されている。

これにより、リード線３８は、接続部３９，プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）と第１の伝送路（基板ユニット３３又はリード線３４）を介して点検用端子３５（第１の端子）とカバー端子３７（第２の端子）との間を電気的に接続し電流を伝送する第２の伝送路である。本例において、リード線３８（第２の伝送路）はカバー部材３６に設けられている例を示している。

なお、カバー部材３６自体を、電気的に導通性を有する素材で形成することもできる。この場合、カバー端子３７（第２の端子），リード線３８（第２の伝送路）を特に設けることなく、同様の機能を備えることができる。即ち、カバー部材３６が導電性を備えることで、カバー部材３６の外表面と接続部３９との間は、カバー部材３６自体の導電性により導通状態になる。したがって、カバー部材３６自体が第２の端子と第２の伝送路との役目を担うことができる。これにより、カバー部材３６は、接続部３９，プラグ端子３２ａ（信号伝送端子），第１の伝送路（基板ユニット３３又はリード線３４）を介して点検用端子３５（第１の端子）と電気的に接続される構成となる。

このように構成される本実施形態の点検ツール３０は、次のようにして使用される。

まず、点検ツール３０の未使用時、つまり保管時などには、カバー部材３６とプラグ本体３１とを一体化させた形態（図４，図５に示す形態）とされる。この形態とするためには、例えば、図３に示すように、カバー部材３６とプラグ本体３１とを分離させた状態にあるとき、カバー部材３６の着脱部３６ｂに対して、プラグ本体３１のプラグ部３２を図３の矢印Ｘに沿う方向に移動させて、着脱部３６ｂにプラグ部３２を嵌合させる。これにより、本点検ツール３０は保管時に適した状態になる。

一方、当該点検ツール３０を用いて点検作業を行う際には、まず、図４，図５に示す状態にある点検ツール３０において、プラグ部３２を着脱部３６ｂから抜去する。これにより、当該点検ツール３０は、図２，図３に示すように、カバー部材３６とプラグ本体３１とを分離した状態になる。

そして、このうち、プラグ本体３１のプラグ部３２を、内視鏡装置１００のプロセッサ装置１１０の筐体に設けられるレセプタクル２０に嵌合させる。これにより、レセプタクル２０のレセプタクル側端子のうちの特定の端子（不図示）に、プラグ部３２のプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）が接触し、両者は電気的に接続される。この状態で、点検用端子３５（第１の端子）に対して所定の測定器を当てることで所望の点検（漏れ電流測定）を行うことができる。

測定が終了したら、測定器を取り外した後、プラグ本体３１のプラグ部３２を、レセプタクル２０から抜去する。次いで、プラグ本体３１のプラグ部３２に、カバー部材３６の着脱部３６ｂを嵌合させる。これにより、点検ツール３０は、図４，図５に示す状態に戻る。そして、この状態で当該点検ツール３０を保管する。

一方、当該点検ツール３０を用いて点検作業を行うのに先だって、当該点検ツール３０自体の点検（導通チェック等）を行う際には、次のように行う。

即ち、図４，図５に示す状態にある点検ツール３０において、同図に示すように、測定器５０の一方のテストリード５０ａを点検用端子３５（第１の端子）に当接させる（接続する）。同時に、測定器５０の他方のテストリード５０ｂをカバー部材３６のカバー端子３７（第２の端子）に当接させる（接続する）。この状態で測定器５０による導通チェックを行う。導通チェックが終了したら、測定器５０を点検ツール３０から取り外す。その後、点検ツール３０を、その状態（図４，図５に示す状態）のまま保管してもよいし、カバー部材３６を抜去して、装置の点検作業に進んでもよい。

以上説明したように上記第１の実施形態によれば、例えば内視鏡装置１００に対する電気的な点検を行うための点検ツール３０において、保管時等の点検作業を実施しない時には、プラグ本体３１のプラグ部３２をカバー部材３６の着脱部３６ｂに嵌合させることで、プラグ本体３１とカバー部材３６とを一体化させるように構成している。この状態にあるとき、プラグ部３２の表面に設けられたプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）は、カバー部材３６によって保護されている。

また、この状態にあるとき、プラグ本体３１の点検用端子３５（第１の端子）とカバー部材３６のカバー端子３７（第２の端子）とは、第１の伝送路（基板ユニット３３又はリード線３４），プラグ端子３２ａ（信号伝送端子），接続部３９，リード線３８（第２の伝送路）を介して電気的に接続される状態になる。

したがって、プラグ本体３１のプラグ部３２をカバー部材３６の着脱部３６ｂに嵌合させた状態で、点検用端子３５（第１の端子）とカバー部材３６のカバー端子３７（第２の端子）とに、測定器５０のテストリード５０ａ，５０ｂをそれぞれ宛がうことで、当該点検ツール３０の導通チェックを行うことができる。この場合において、測定器５０のテストリード５０ａ，５０ｂを、プラグ部３２のプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接触させることが無いばかりか、当該プラグ端子３２ａは、その表面がカバー部材３６によって覆われているので、当該プラグ端子３２ａの表面を保護すると同時に、変形，損傷，劣化等を抑止することができる。

したがって、点検ツール３０による本来の機能を損なうことなく、確実かつ正確な点検作業を実施することができると共に、点検ツール３０自体の導通チェックをも容易に実施することができる。

また、本実施形態の点検ツール３０においては、プラグ部３２が着脱自在に配設される着脱部３６ｂと、外部機器である測定器５０が接続されるカバー端子３７（第２の端子）と、一端がプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接続され、他端がカバー端子３７（第２の端子）に接続され、着脱部３６ｂにプラグ部３２が装着されているときに、プラグ端子（信号伝送端子）を介して点検用端子３５（第１の端子）とカバー端子３７（第２の端子）とを電気的に接続し電流を伝送するリード線３８等の第２の伝送路を備えた点検プラグ端子カバーであるカバー部材３６によって、プラグ端子３２ａの表面を保護すると同時に、変形，損傷，劣化等を抑止することができる。

なお、プラグ部３２の表面に設けられるプラグ端子３２ａの配置は、点検対象とする装置の機種に応じて異なる位置となる。本実施形態においては、プラグ部３２の一方の面にプラグ端子３２ａを設けた例を示しているが、この例に限らず、プラグ端子３２ａは、プラグ部３２の他方の面にも設けられることがある。つまり、プラグ端子３２ａの配置は、点検対象装置に応じて適宜設定すればよい。

さらに、本実施形態においては、プラグ端子３２ａを１つ設けた例を示しているが、この例に限られることはない。例えば、点検対象装置によっては、プラグ端子３２ａが複数設ける必要がある場合もある。つまり、プラグ端子３２ａの設置数についても、点検対象装置に応じて適宜設定すればよい。

［第２の実施形態］
図６は、本発明の第２の実施形態の点検ツールの構成を概念的に示す図である。図６においては、本実施形態の点検ツールを側面からみた場合における主要構成物の内部配置を概念的に示している。

本実施形態の基本的な構成は、上述の第１の実施形態と略同様であり、上述の第１の実施形態におけるカバー部材（３６）を不要としている。したがって、上述の第１の実施形態と同じ構成部については同じ符号を付して、その説明を省略すると共に、略同様の構成部材には同じ符号番号に「Ａ」を付した符号を付して、異なる点について以下に説明する。

本実施形態の点検ツール３０Ａは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグ（３２Ａ）と、プラグの表面に設けられプラグが内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子（３２ａ）と、外部機器が接続される第１の端子（３５）と、一端が信号伝送端子に接続され他端が第１の端子に接続され信号伝送端子に入力される電流を第１の端子へと伝送する第１の伝送路（３４）と、信号伝送端子及び第１の端子とは異なる位置に配置され外部機器が接続される第２の端子（３７Ａ）と、一端が信号伝送端子に接続され他端が第２の端子に接続され信号伝送端子を介して第１の端子と第２の端子とを電気的に接続し電流を伝送する第２の伝送路（３８Ａ）と、を有し、第２の端子（３７Ａ）はプラグ（３２Ａ）に設けられて構成されている。

具体的に説明すると、本実施形態の点検ツール３０Ａは、主にプラグ本体３１Ａによって構成されており、上述の第１の実施形態におけるカバー部材を有していない。

本実施形態の点検ツール３０Ａにおけるプラグ本体３１Ａは、プラグ筐体３１ａと、プラグであるプラグ部３２Ａ（信号伝送端子であるプラグ端子３２ａ及び第２の端子である第２端子３７Ａを含む）と、リード線３４（第１の伝送路）と、点検用端子３５（第１の端子）とを有して構成されている。

なお、図６に示す例では、第１の伝送路としてリード線３４を図示しているが、第１の伝送路としては、リード線３４に替えて、上述の第１の実施形態で説明したものと同様構成の基板ユニット３３による構成としてもよい。

プラグ筐体３１ａは、第１の伝送路（本例ではリード線３４）を収納し得る内部空間を備えた筐体である点において、上述の第１の実施形態と同様である。

プラグ筐体３１ａの一方の端部にはプラグ部３２Ａが設けられており、プラグ筐体３１ａの他方の端部には点検用端子３５が設けられている。

プラグ部３２Ａは、信号伝送端子であるプラグ端子３２ａと、第２の伝送路であるリード線３８Ａと、第２の端子である第２端子３７Ａとを有する。

第２端子３７Ａは、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）及び点検用端子３５（第１の端子）とは異なる位置に配置されている。即ち、第２端子３７Ａは、プラグ部３２Ａの先端面に一部を露呈させて設けられている。この第２端子３７Ａは、電気的に導通性を有する素材によって形成されている。そして、この第２端子３７Ａは、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第２の端子である。

リード線３８Ａは、一端がプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接続され、他端が第２端子３７Ａ（第２の端子）に接続されている。このような構成により、リード線３８Ａは、プラグ端子３２ａ（信号伝送端子）及びリード線３４（第１の伝送路）を介して点検用端子３５（第１の端子）と第２端子３７Ａ（第２の端子）との間を電気的に接続し電流を伝送する第２の伝送路として機能する。

ここで、第２の伝送路であるリード線３８Ａと、第２の端子である第２端子３７Ａとはプラグ部３２Ａに設けられている。

このように構成された上記第２の実施形態によれば、例えば内視鏡装置１００に対する電気的な点検を行うための点検ツール３０Ａであって、第２の端子である第２端子３７Ａをプラグ部３２Ａに設けて構成している。

これにより、当該点検ツール３０Ａは、保管時等の点検作業を実施しない時には、プラグ本体３１Ａの点検用端子３５（第１の端子）と第２端子３７Ａ（第２の端子）との間は、第１の伝送路（リード線３４），プラグ端子３２ａ（信号伝送端子），リード線３８Ａ（第２の伝送路）を介して電気的に接続される状態となっている。

したがって、この状態で、点検用端子３５（第１の端子）とカバー部材３６のカバー端子３７（第２の端子）とに、測定器５０のテストリード５０ａ，５０ｂをそれぞれ宛がうことにより、当該点検ツール３０Ａの導通チェックを容易に行うことができる。このとき、測定器５０のテストリード５０ａ，５０ｂは、プラグ部３２Ａのプラグ端子３２ａ（信号伝送端子）に接触させることが無いので、当該プラグ端子３２ａの表面への変形，損傷，劣化等を抑止することができる。

本実施形態の点検ツール３０Ａによれば、上述の第１の実施形態の点検ツール３０におけるカバー部材３６を不要としながら、上述の第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。

［第３の実施形態］
次に、本発明の第３の実施形態の点検ツールについて、以下に説明する。図７〜図１０は、本発明の第３の実施形態の点検ツールを示す図である。このうち図７は、本実施形態の点検ツールの外観斜視図である。図８，図９は、本実施形態の点検ツールの平面図である。このうち図８は本実施形態の点検ツールにおけるカバー部材とプラグ本体とを分離した状態を示している。図９は本実施形態の点検ツールにおけるカバー部材とプラグ本体とを接続した状態を示している。図１０は、図９の状態の点検ツールの断面を示す断面図である。なお、図９，図１０においては、当該点検ツールの導通チェックを行う際のようすを示すためにデジタルマルチメータを合わせて図示している。

本実施形態の基本的な構成は、上述の第１の実施形態と略同様であり、上述の第１の実施形態におけるカバー部材の構成が若干異なる。また、カバー部材の構成が異なるのに伴って、本実施形態においては、第２の伝送路及び第２の端子の配置が異なる。したがって、上述の第１の実施形態と同じ構成部については同じ符号を付して、その説明を省略すると共に、略同様の構成部材には同じ符号番号に「Ｂ」を付した符号を付して、異なる点について以下に説明する。

なお、図６においては、プラグ筐体３１ａの内部構成の図示は省略している。また、図７〜図９に示す例では、第１の伝送路及び第２の伝送路を基板ユニット３３として図示しているが、第１の伝送路及び第２の伝送路としては、基板ユニット３３に替えて、上述の第１の実施形態で説明したものと同様構成のリード線３４による構成としてもよい。

本実施形態の点検ツール３０Ｂは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグ（３２Ｂ）と、プラグの表面に設けられプラグが内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子（３２ａ）と、プラグの表面に設けられプラグが内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子（３２ｂ）と、外部機器が接続される第１の端子（３５）と、一端が第１の信号伝送端子に接続され他端が第１の端子に接続され第１の信号伝送端子に入力される電流を第１の端子へと伝送する第１の伝送路（３３Ｂ）と、外部機器が接続される第２の端子（３７Ｂ）と、一端が第２の信号伝送端子に接続され他端が第２の端子に接続され第２の信号伝送端子と第２の端子とを電気的に接続する第２の伝送路（３８Ｂ）と、プラグが着脱自在に配設される着脱部（３６ｂ）を備えると共に、着脱部にプラグが接続された状態となったときに、第１の信号伝送端子と第２の信号伝送端子とを電気的に接続する第３の伝送路（３９Ｂ）とを有するカバー部材（３６Ｂ）とを備えて構成されている。

具体的に説明すると、本実施形態の点検ツール３０Ｂは、プラグ本体３１Ｂと、点検プラグ端子カバーであるカバー部材３６Ｂとによって主に構成されている。この点において、上述の第１の実施形態と同様である。

本実施形態の点検ツール３０Ｂにおけるプラグ本体３１Ｂは、プラグ筐体３１ａと、プラグであるプラグ部３２Ｂ（第１の信号伝送端子である第１プラグ端子３２ａ，第２の信号伝送端子である第２プラグ端子３２ｂを含む）と、基板ユニット３３Ｂ（第１の伝送路及び第２の伝送路３８Ｂを含む）と、点検用端子３５（第１の端子）と、導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）とを有して構成されている。

プラグ筐体３１ａは、基板ユニット３３Ｂを収納し得る内部空間を備えた筐体である点において、上述の第１の実施形態と同様である。

プラグ筐体３１ａの一方の端部にはプラグ部３２Ｂが設けられており、プラグ筐体３１ａの他方の端部には第１の端子である点検用端子３５と第２の端子である導通チェック用端子３７Ｂが設けられている。

プラグ部３２Ｂの表面には、第１の信号伝送端子である第１プラグ端子３２ａと、第２の信号伝送端子である第２プラグ端子３２ｂとが設けられている。

このうち、第１プラグ端子３２ａは、プラグ部３２Ｂが内視鏡接続用レセプタクル２０に接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクル２０に設けられる複数の端子（不図示）のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子である。

また、第２プラグ端子３２ｂは、同様に、プラグ部３２Ｂが内視鏡接続用レセプタクル２０に接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクル２０に設けられる複数の端子（不図示）のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子である。

点検用端子３５は、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第１の端子である。この点において、上述の第１の実施形態と同様である。

導通チェック用端子３７Ｂは、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第２の端子である。

本実施形態において、点検用端子３５と導通チェック用端子３７Ｂとは、互いに近接した位置、例えばプラグ筐体３１ａの同一平面上において隣接した位置に配置されている。

本実施形態の点検ツール３０Ｂにおいて、第１の伝送路は、一端が第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）に接続され、他端が点検用端子３５（第１の端子）に接続され、第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）に入力される電流を点検用端子３５（第１の端子）へと伝送する役目を有する。

本実施形態の点検ツール３０Ｂにおける第１の伝送路は、基板ユニット３３Ｂによって構成されている。即ち、第１の伝送路は、基板ユニット３３Ｂに含まれるプリント基板３３ｘ，２本のリード線３４ａ，３４ｂと、配線パターン３３ａ及び２つのランド部３３ｂとによって構成されている。

さらに、本実施形態の点検ツール３０Ｂは、基板ユニット３３Ｂ上の上記第１の伝送路（３３ｘ，３３ａ，３３ｂ，３４ａ，３４ｂ）とは異なる位置に、第２の伝送路３８Ｂを有している。

この第２の伝送路３８Ｂは、一端が第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）に接続され、他端が導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）に接続され、第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）と導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）とを電気的に接続する第２の伝送路である。

詳述すると、第２の伝送路３８Ｂは、基板ユニット３３Ｂに含まれるプリント基板３３ｘと、２本のリード線３４ｃ，３４ｄと、配線パターン３３ｃ及び２つのランド部３３ｄとによって構成されている。

このうち、プリント基板３３ｘは、上記基板ユニット３３Ｂの主要構成部材であって、第１の伝送路が実装されているプリント基板３３ｘと同じものである。

このプリント基板３３ｘの表面には、配線パターン３３ｃと、２つのランド部３３ｄが設けられている。これら配線パターン３３ｃ，２つのランド部３３ｄは、第１の伝送路に含まれる配線パターン３３ａ，２つのランド部３３ｂと同様の構成である。

配線パターン３３ｃは、プリント基板３３ｘの表面上において２つのランド部３３ｄを電気的に接続する導通路である。２つのランド部３３ｄの一方には、リード線３４ｃの一端が固定されている。このリード線３４ｃの他端は、点検用端子３５に接続されている。また、２つのランド部３３ｄの他方には、リード線３４ｄの一端が固定されている。このリード線３４ｄの他端は、第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）に接続されている。

このように、第２の伝送路３８Ｂは、２本のリード線３４ｃ，３４ｄと、配線パターン３３ｃ及び２つのランド部３３ｄを実装したプリント基板３３ｘとによって構成されている。そして、この構成により、第２の伝送路３８Ｂは、第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）と導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）との間を電気的に接続している。

一方、カバー部材３６Ｂは、プラグ部３２Ｂに設けられる第１プラグ端子３２ａ，第２プラグ端子３２ｂの外面を覆うように配設されることで、当該第１プラグ端子３２ａ，第２プラグ端子３２ｂを保護する役目を備えた構成部材である。そのために、このカバー部材３６Ｂは、カバー筐体３６ａと、着脱部３６ｂと、第３の伝送路である信号伝送端子接続部３９Ｂとを備えて構成されている。

着脱部３６ｂは、カバー筐体３６ａの一面に設けられ、プラグ部３２Ｂが着脱自在に配設される嵌合部である。

信号伝送端子接続部３９Ｂは、着脱部３６ｂの内面側に設けられ、着脱部３６ｂにプラグ部３２Ｂが接続された状態となったときに、第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）と第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）とを電気的に接続する第３の伝送路である。この信号伝送端子接続部３９Ｂは電気的に導通性を有する素材を用いて形成されている。信号伝送端子接続部３９Ｂは、例えば金属箔若しくは金属板等を貼り付けて形成した形態でもよい。また、信号伝送端子接続部３９Ｂは、例えば着脱部３６ｂの内面に対してメッキ処理を施す等によって形成してもよい。

この構成により、プラグ部３２Ｂがカバー部材３６Ｂの着脱部３６ｂに嵌合して、両者（プラグ部３２Ｂと着脱部３６ｂ）が接続された状態となった時、カバー部材３６Ｂ側の信号伝送端子接続部３９Ｂがプラグ部３２Ｂ側の第１プラグ端子３２ａと第２プラグ端子３２ｂとの間を電気的に接続する。

ここで、第１プラグ端子３２ａは、第１の伝送路（基板ユニット３３Ｂ）を介して点検用端子３５（第１の端子）に接続されている。また、第２プラグ端子３２ｂは、第２の伝送路３８Ｂを介して導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）に接続されている。

したがって、プラグ部３２Ｂが着脱部３６ｂに嵌合して接続された状態とされた時、点検用端子３５（第１の端子）と導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）との間は電気的に導通状態になる。

したがって、この状態となった時（プラグ部３２Ｂが着脱部３６ｂに嵌合し接続状態となった時）に、図９，図１０に示すように測定器５０の一方のテストリード５０ａを点検用端子３５（第１の端子）に当接させる（接続する）。同時に、測定器５０の他方のテストリード５０ｂを導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）に当接させる（接続する）。これにより、当該点検ツール３０Ｂの導通チェックを行うことができる。このとき、測定器５０のテストリード５０ａ，５０ｂは、プラグ部３２Ｂのプラグ端子（３２ａ，３２ｂ）に当接させないどころか、これらプラグ端子（３２ａ，３２ｂ）は、カバー部材３６Ｂの着脱部３６ｂにおいて外面が保護された状態とされている。

以上説明したように、上記第３の実施形態によれば、上述の第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。

［第４の実施形態］
次に、本発明の第４の実施形態の点検ツールについて、以下に説明する。図１１，図１２は、本発明の第４の実施形態の点検ツールを示す図である。このうち図１１は、本実施形態の点検ツールの外観斜視図である。図１２は、本実施形態の点検ツールにおける点検プラグ端子カバーであるカバーシートのみを示す外観斜視図である。

本実施形態の基本的な構成は、上述の第３の実施形態と略同様である。本実施形態においては、上述の第３の実施形態に対しプラグ本体の形状が異なる場合（円筒形状の場合）の例示である。また、本実施形態においては、上述の第３の実施形態に対しカバー部材の形態が異なる例を示している。したがって、上述の第３の実施形態と同様の構成についての説明は省略し、異なる部分についてのみ、以下に説明する。

なお、図１１に示す例では、第１の伝送路及び第２の伝送路をリード線で構成した例を図示しているが、この構成に限られることはない。第１の伝送路及び第２の伝送路は、例えば、上述の第１，第３の実施形態と同様に、基板ユニットによって構成してもよい。

本実施形態の点検ツール３０Ｃは、内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグ（３２Ｃ）と、プラグの表面に設けられプラグが内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子（３２ａ）と、プラグの表面に設けられプラグが内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子（３２ｂ）と、外部機器が接続される第１の端子（３５Ｃ）と、一端が第１の信号伝送端子に接続され他端が第１の端子に接続され第１の信号伝送端子に入力される電流を第１の端子へと伝送する第１の伝送路（３４Ｃ）と、外部機器が接続される第２の端子（３７Ｃ）と、一端が第２の信号伝送端子に接続され他端が第２の端子に接続され第２の信号伝送端子と第２の端子とを電気的に接続する第２の伝送路（３８Ｃ）と、第１の信号伝送端子と第２の信号伝送端子とを電気的に接続する第３の伝送路（３９Ｃ）を有するカバーシート（３６Ｃ）とを備えて構成されている。

本実施形態の点検ツール３０Ｃは、プラグ本体３１Ｃと、点検プラグ端子カバーであるカバーシート３６Ｃとによって主に構成されている。

本実施形態の点検ツール３０Ｃにおけるプラグ本体３１Ｃは、プラグ筐体３１Ｃａと、プラグであるプラグ部３２Ｃ（第１の信号伝送端子である第１プラグ端子３２ａ，第２の信号伝送端子である第２プラグ端子３２ｂを含む）と、第１の伝送路である第１リード線３４Ｃと、第１の端子である点検用端子３５Ｃと、第２の伝送路である第２リード線３８Ｃと、第２の端子である導通チェック用端子３７Ｃとを有して構成されている。

本実施形態におけるプラグ筐体３１Ｃａは、内部に第１の伝送路及び第２の伝送路である複数（本例では２本）のリード線（３４Ｃ，３８Ｃ）等を収納し得る内部空間を備えた筐体である。本実施形態で例示するプラグ筐体３１Ｃａは、全体として略円筒形状を有して形成されている。

プラグ筐体３１Ｃａの一方の端部には略円筒形状のプラグ部３２Ｃが設けられており、プラグ筐体３１Ｃａの他方の端部には第１の端子である点検用端子３５Ｃと第２の端子である導通チェック用端子３７Ｃが設けられている。

プラグ部３２Ｃの表面には、第１の信号伝送端子である第１プラグ端子３２ａと、第２の信号伝送端子である第２プラグ端子３２ｂとが設けられている。

このうち、第１プラグ端子３２ａは、プラグ部３２Ｃが略円形状の開口を有する形態の内視鏡接続用レセプタクル（不図示）に接続された状態において当該内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子（不図示）のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子である。

また、第２プラグ端子３２ｂは、同様に、プラグ部３２Ｃが同内視鏡接続用レセプタクルに接続された状態において当該内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子（不図示）のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子である。

点検用端子３５Ｃは、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第１の端子である。

導通チェック用端子３７Ｃは、点検作業時等に用いられるデジタルマルチメータ等の測定器等の外部機器が接続される第２の端子である。

本実施形態において、点検用端子３５Ｃと導通チェック用端子３７Ｃとは、互いに近接した位置、例えばプラグ筐体３１Ｃａの同一平面上において隣接した位置に配置されている。

本実施形態の点検ツール３０Ｃにおいて、第１の伝送路は、一端が第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）に接続され、他端が点検用端子３５Ｃ（第１の端子）に接続され、第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）に入力される電流を点検用端子３５Ｃ（第１の端子）へと伝送する役目を有する。

本実施形態の点検ツール３０Ｃにおける第１の伝送路は、第１リード線３４Ｃによって構成されている。即ち、第１の伝送路である第１リード線３４Ｃは、一端が第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）に接続され、他端が点検用端子３５Ｃ（第１の端子）に接続されている。

さらに、本実施形態の点検ツール３０Ｃは、上記第１の伝送路である第１リード線３４Ｃとは異なる位置に、第２の伝送路である第２リード線３８Ｃを有している。

この第２リード線３８Ｃは、一端が第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）に接続され、他端が導通チェック用端子３７Ｃ（第２の端子）に接続され、第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）と導通チェック用端子３７Ｃ（第２の端子）とを電気的に接続する第２の伝送路である。

一方、カバーシート３６Ｃは、プラグ部３２Ｃに設けられる第１プラグ端子３２ａ，第２プラグ端子３２ｂの外面を覆う部位に配設されることにより、当該第１プラグ端子３２ａ，第２プラグ端子３２ｂを保護する点検プラグ端子カバーである。

カバーシート３６Ｃは、シート状で柔軟性を有する素材を用いて形成されている。そして、このカバーシート３６Ｃの少なくとも一面には、電気的に導通性を有する信号伝送端子接続部３９Ｃが設けられている。この信号伝送端子接続部３９Ｃとしては、例えば金属箔若しくは金属板等を貼り付けた形態であってもよい。また、信号伝送端子接続部３９Ｃは、カバーシート３６Ｃの一面にメッキ処理を施す等によって形成してもよい。

この信号伝送端子接続部３９Ｃは、当該カバーシート３６Ｃがプラグ部３２Ｃの外面における所定の部位に取り付けられたときに、第１プラグ端子３２ａ（第１の信号伝送端子）と第２プラグ端子３２ｂ（第２の信号伝送端子）とを電気的に接続する第３の伝送路である。

また、カバーシート３６Ｃは、信号伝送端子接続部３９Ｃが形成されている一面において、その一部の領域に貼着部３９Ｃａが設けられている。この貼着部３９Ｃａは、当該カバーシート３６Ｃをプラグ部３２Ｃの所定の部位に取り付けて、その位置に固定するための固定手段である。なお、貼着部３９Ｃａは、接点端子（プラグ端子）には触れない位置に設けられているのが望ましい。

なお、図１２に示す例では、貼着部３９Ｃａは、カバーシート３６Ｃの一面において長手方向の両端部近傍の所定領域に設けた例を示しているが、貼着部３９Ｃａの配置は、この例に限られることはない。例えば、貼着部３９Ｃａは、カバーシート３６Ｃの一面の周縁部の四辺の所定領域に設けるようにしてもよい。

カバーシート３６Ｃは、通常状態では、例えば図１２に示すような平板状の形態である。しかしながら、カバーシート３６Ｃは、上述したように柔軟性を有して形成されている。したがって、カバーシート３６Ｃは、略円筒形状のプラグ部３２Ｃの外周面に沿わせるような形状（図１１参照）に変位させて、当該プラグ部３２Ｃの外面に取り付けることができ、このとき、貼着部３９Ｃａによって当該所定の部位に固定することができるように構成されている。

そして、この構成により、カバーシート３６Ｃが、プラグ部３２Ｃの所定の部位に取り付け固定された状態となったときには、カバーシート３６Ｃ側の信号伝送端子接続部３９Ｃが、プラグ部３２Ｃ側の第１プラグ端子３２ａと第２プラグ端子３２ｂとの間を電気的に接続する。

ここで、第１プラグ端子３２ａは、第１の伝送路（第１リード線３４Ｃ）を介して点検用端子３５Ｃ（第１の端子）に接続されている。また、第２プラグ端子３２ｂは、第２リード線３８Ｃ（第２の伝送路）を介して導通チェック用端子３７Ｃ（第２の端子）に接続されている。

したがって、プラグ部３２Ｃの所定の部位にカバーシート３６Ｃが取り付けられた接続とされた時、点検用端子３５Ｃ（第１の端子）と導通チェック用端子３７Ｃ（第２の端子）との間は電気的に導通状態になる。

したがって、このとき、測定器５０の一方のテストリード５０ａを点検用端子３５Ｃ（第１の端子）に当接させる（接続する）と同時に、測定器５０の他方のテストリード５０ｂを導通チェック用端子３７Ｃ（第２の端子）に当接させる（接続する）。これにより、当該点検ツール３０Ｃの導通チェックを行うことができる。このとき、測定器５０のテストリード５０ａ，５０ｂは、プラグ部３２Ｃのプラグ端子（３２ａ，３２ｂ）に当接させないどころか、これらプラグ端子（３２ａ，３２ｂ）は、カバーシート３６Ｃによって外面が保護された状態とされている。

以上説明したように、上記第４の実施形態によれば、上述の第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。

なお、本実施形態におけるカバーシート３６Ｃは、繰り返し使用せず、例えば使用の都度に廃棄する形式のいわゆるディスポーザブルタイプとしてもよい。

図１３は、本実施形態の点検ツールにおけるカバーシートの変形例を示す概念図である。

本変形例は、図１３に示すように、複数のカバーシートを重ねて束ねた形態（例えば付箋紙のような形態）のカバーシート束３６Ｄを提供する。

この場合において、当該カバーシート束３６Ｄの個々のカバーシートは、上述の第４の実施形態で説明したものと略同様に構成される。即ち、個々のカバーシートは、シート状で柔軟性を有する素材を用いて形成され、一面に信号伝送端子接続部３９Ｄを設けて形成さている。

さらに、本変形例においては、個々のカバーシートの長手方向の一端の形状を工夫して、カバーシート束３６Ｄから一枚のカバーシートを取り外し易いように形成している。

具体的には、例えば、個々のカバーシートの一端部の所定の領域に、長手方向の外方に向けて突出する凸状部３９Ｄｂを形成している。そして、この凸状部３９Ｄｂの一面を貼着部３９Ｄａとしている。

なお、当該凸状部３９Ｄｂに対して長手方向の反対側の他端には、上述の第４の実施形態のカバーシート３６Ｃと同様の貼着部３９Ｄａを設けている。

このような構成とすることにより、本変形例のカバーシート束３６Ｄにおける個々のカバーシートは、貼着部３９Ｄａを設けたことによって使用する際に取り外し易く構成されている。また、２つの貼着部３９Ｄａによってカバーシート束３６Ｄの束形状を維持し易く構成されている。これと同時に、当該カバーシート束３６Ｄから取り外した一枚のカバーシートをプラグ部（不図示；図１１参照）の所定の部位に取り付ける際には、２つの貼着部３９Ｄａによってプラグ部の所定の部位に固定することができる。

［第５の実施形態］
次に、本発明の第５の実施形態について、図１４〜図１６を用いて以下に説明する。図１４〜図１６は、本発明の第５の実施形態の点検ツールの構成を簡略化して示す外観斜視図である。このうち図１４は本実施形態の点検ツールの保管状態を示す外観斜視図である。図１５は本実施形態の点検ツールにおいてカバー部材とプラグ本体を分離した状態を示す外観斜視図である。図１６は本実施形態の点検ツールの導通チェックを行う際のようすを示す外観斜視図である。

本実施形態の基本的な構成は、上述の第３の実施形態と略同様である。本実施形態においては、保管用ケースにカバー部材を一体化して構成している点が異なる。したがって、上述の第３の実施形態と同じ構成については、同じ符号を付して、その説明は省略し、異なる部分について以下に詳述する。

本実施形態の点検ツール３０Ｅは、プラグ本体３１Ｂと、カバー部材３６Ｅと、保管用ケース４０とによって主に構成されている。このうち、プラグ本体３１Ｂは、上述の第３の実施形態と全く同様の構成である。

保管用ケース４０は、プラグ本体３１Ｂとカバー部材３６Ｅとを一体化した形態で、つまり、プラグ本体３１Ｂのプラグ部をカバー部材３６Ｅの着脱部３６ｂ（図１５参照）に接続させた状態で保管するための箱体である。そのために、本実施形態に示す例では、この保管用ケース４０は、例えば一面に開口４０ａと、この開口４０ａに連通する内部空間４０ｂを有する直方体形状に形成されている。ここで、この内部空間４０ｂは、プラグ本体３１Ｂとカバー部材３６Ｅとを一体化した形態の構成ユニットを収納し得るだけの容積の領域を有している。なお、保管用ケース４０の外形形状については、直方体形状とした例を図示しているが、この例に限られることはない。

保管用ケース４０の内部空間４０ｂの所定の部位には、カバー部材３６Ｅのカバー筐体３６ａが支軸Ａｘを回転中心として図１４，図１６に示す矢印Ｒ方向に回動自在となるように、回転軸４１によって軸支されている。

なお、カバー部材３６Ｅ自体の構成は、上述の回転軸４１以外は、上述の第３の実施形態のカバー部材３６Ｂと同様の構成を有している。

このように構成された本実施形態の点検ツール３０Ｅにおいては、保管時には、図１４に示すように、カバー部材３６Ｅの着脱部３６ｂ（図１５参照）にプラグ本体３１Ｂのプラグ部３２Ｂ（図１５参照）を接続させた状態とする。このとき、カバー部材３６Ｅとプラグ本体３２Ｂを一体化させた構成ユニットは、保管用ケース４０の内部空間４０ｂに収納された状態となる。

したがって、図１４の保管状態とされたとき、プラグ本体３１Ｂのプラグ部３２Ｂのプラグ端子（３２ａ，３２ｂ）は、カバー部材３６Ｅによって外面が保護された状態にある。

これと同時に、第１プラグ端子３２ａと第２プラグ端子３２ｂとの間は、カバー部材３６Ｅの信号伝送端子接続部３９Ｂによって電気的に接続された状態となっている。

次に、点検ツール３０Ｅの導通チェックを行う際には、次のように行う。まず、図１４の保管状態にある点検ツール３０Ｅに対し、カバー筐体３６ａを支軸Ａｘを回転中心として矢印Ｒ方向に沿う所定方向（引き出し方向）に回転させる。このカバー筐体３６ａの回転に伴って、保管用ケース４０の内部空間４０ｂにあるプラグ本体３１Ｂは開口４０ａから外部へ露呈する位置に移動する。そして、プラグ本体３１Ｂに設けられた点検用端子３５（第１の端子）と導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）とが外部に充分に露呈した状態とする。具体的には、例えば図１６に示すような状態である。なお、以下の説明において、点検用端子３５と導通チェック用端子３７Ｂとが外部に充分に露呈されたときのカバー部材３６Ｅの回転位置を、導通チェック位置と呼称するものとする。

そして、保管用ケース４０には、カバー部材３６Ｅを導通チェック位置に配置したとき、カバー筐体３６ａの回転が規制されるロック機構が設けられている。このロック機構としては、従来一般的な位置規制機構を適用すればよく、その詳細な構成は省略する。

このようにして、保管用ケース４０内でカバー部材３６Ｅを所定の導通チェック位置にセットした後、図１６に示すように、測定器５０の一方のテストリード５０ａを点検用端子３５（第１の端子）に当接させる（接続する）と同時に、測定器５０の他方のテストリード５０ｂを導通チェック用端子３７Ｂ（第２の端子）に当接させる（接続する）。これにより、当該点検ツール３０Ｅの導通チェックを行うことができる。

その後、再度、保管状態に戻す場合には、ロック機構による回転規制を解除した後、カバー筐体３６ａを矢印Ｒ方向に沿う所定方向（収納方向）へと回転させる。これにより、プラグ本体３１Ｂとカバー部材３６Ｅとが一体化された構成ユニットは、接続された状態のまま共に内部空間４０ｂ内に収納される。

一方、本実施形態の点検ツール３０Ｅを用いて、点検対象とする装置（例えば内視鏡装置）の点検を行う際には、図１４若しくは図１６の状態のプラグ本体３１Ｂを取り出す。

ここで、図１６の状態にある時、即ち導通チェック作業を行った直後の状態では、そのまま、プラグ本体３１Ｂをカバー部材３６Ｅから引き抜いて、プラグ本体３１Ｂとカバー部材３６Ｅとを分離し、図１５に示す状態とする。

また、図１４の保管状態にある時には、カバー筐体３６ａを支軸Ａｘを回転中心として矢印Ｒ方向に沿う所定方向（引き出し方向）に回転させる。このカバー筐体３６ａの回転に伴って、保管用ケース４０の内部空間４０ｂにあるプラグ本体３１Ｂは開口４０ａから外部へ露呈する位置に移動する。そして、プラグ本体３１Ｂが内部空間４０ｂから充分に引き出された状態となったとき、プラグ本体３１Ｂをカバー部材３６Ｅから引き抜く。これにより、図１５に示すように、プラグ本体３１Ｂは、カバー部材３６Ｅから分離される。

このようにして、カバー部材３６Ｅから分離させたプラグ本体３１Ｂのプラグ部３２Ｂを、点検対象装置のレセプタクルへと接続して、所定の点検作業を行う。

点検作業が終了したら、カバー部材３６Ｅを図１６に示すような位置に回動させた後、当該カバー部材３６Ｅの着脱部３６ｂにプラグ本体３１Ｂのプラグ部３２Ｂを嵌合させて接続する。そして、カバー筐体３６ａを矢印Ｒ方向に沿う所定方向（収納方向）へと回転させる。これにより、プラグ本体３１Ｂとカバー部材３６Ｅとが一体化された構成ユニットは、接続された状態のまま共に内部空間４０ｂ内に収納される。

以上説明したように、上記第５の実施形態によれば、上述の各実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、本実施形態に寄れば、カバー部材３６Ｅを保管用ケース４０に一体化して構成したので、カバー部材３６Ｅとプラグ本体３１Ｂとを一体化させた状態で、保管用ケース４０内に保管することができる。そして、この保管状態にある点検ツール３０Ｅに対しては、カバー部材３６Ｅとプラグ本体３１Ｂとを一体化させた状態のまま、導通チェックを行うことができる。また、その導通チェックを実施後は、すぐに保管状態に戻すことができるので、プラグ端子（３２ａ，３２ｂ）に対する悪影響を極力抑止することができる。したがって、当該点検ツールを用いる点検対象装置のさらなる安全運用に寄与することができる。

本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲内において種々の変形や応用を実施することができることは勿論である。さらに、上記実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせによって、種々の発明が抽出され得る。例えば、上記一実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題が解決でき、発明の効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。この発明は、添付のクレームによって限定される以外にはそれの特定の実施態様によって制約されない。

本発明は、医療分野の内視鏡装置を対象とする点検ツールだけではなく、工業分野の内視鏡装置を対象とする点検ツールであっても同様に適用することができる。

１……コネクタ
１０ 内視鏡プラグ
１０ａ……プラグ部
１０ｂ プラグ側端子
２０……内視鏡接続用レセプタクル
２０ａ……開口
３０，３０Ａ，３０Ｂ，３０Ｃ，３０Ｅ……点検ツール
３１，３１Ａ，３１Ｂ，３１Ｃ……プラグ本体
３１ａ，３１Ｃａ……プラグ筐体
３２，３２Ａ，３２Ｂ，３２Ｂ，３２Ｃ……プラグ部
３２ａ……第１プラグ端子
３２ｂ……第２プラグ端子
３３，３３Ｂ……基板ユニット
３３ａ，３３ｃ……配線パターン
３３ｂ，３３ｄ……ランド部
３３ｘ……プリント基板
３４……リード線
３４Ｃ……第１リード線
３４ａ，３４ｂ，３４ｃ，３４ｄ……リード線
３５，３５Ｃ……点検用端子
３６，３６Ｂ，３６Ｅ……カバー部材
３６Ｃ……カバーシート
３６Ｄ……カバーシート束
３６ａ……カバー筐体
３６ｂ……着脱部
３７……カバー端子
３７Ａ……第２端子
３７Ｂ，３７Ｃ……導通チェック用端子
３８，３８Ａ……リード線
３８Ｂ……第２の伝送路
３８Ｃ……第２リード線
３９……接続部
３９Ｂ，３９Ｃ，３９Ｄ……信号伝送端子接続部
３９Ｃａ，３９Ｄａ……貼着部
３９Ｄｂ……凸状部
４０……保管用ケース
４０ａ……開口
４０ｂ……内部空間
４１……回転軸
５０……測定器
５０ａ，５０ｂ……テストリード
１００……内視鏡装置
１０１……内視鏡
１０２……挿入部
１０３……操作部
１０４……ユニバーサルコード
１１０……プロセッサ装置
１１０ａ……開口部
１２０……表示装置
Ａｘ……支軸

Claims (11)

1. 内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、
   前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子と、
   外部機器が接続される第１の端子と、
   一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、
   前記信号伝送端子及び前記第１の端子とは異なる位置に配置され、前記外部機器が接続される第２の端子と、
   一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記信号伝送端子を介して前記第１の端子と前記第２の端子とを電気的に接続し、電流を伝送する第２の伝送路と、
   を備えることを特徴とする点検ツール。
2. 前記プラグが着脱自在に配設される着脱部を備えたカバー部材を、さらに有し、
   前記カバー部材は、前記プラグが接続された状態となったときに、前記信号伝送端子と接触する接続部を備え、
   前記第２の伝送路は前記カバー部材に設けられ、前記第２の伝送路の一端は前記接続部を介して前記信号伝送端子に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の点検ツール。
3. 前記第２の端子は、前記プラグに設けられていることを特徴とする請求項１に記載の点検ツール。
4. 内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる端子と接触する信号伝送端子と、外部機器が接続される第１の端子と、一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、を有する点検ツールの前記プラグが着脱自在に配設される着脱部と、
   前記外部機器が接続される第２の端子と、
   一端が前記信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記着脱部に前記プラグが装着されているときに、前記信号伝送端子を介して前記第１の端子と前記第２の端子とを電気的に接続し、電流を伝送する第２の伝送路と、
   を備えることを特徴とする点検プラグ端子カバー。
5. 内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、
   前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子と、
   前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子と、
   外部機器が接続される第１の端子と、
   一端が前記第１の信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記第１の信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、
   外部機器が接続される第２の端子と、
   一端が前記第２の信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記第２の信号伝送端子と前記第２の端子とを電気的に接続する第２の伝送路と、
   前記プラグに接続されるカバー部材と、
   前記カバー部材に設けられ、前記カバー部材に前記プラグが接続されている状態において前記第１の信号伝送端子と前記第２の信号伝送端子とを電気的に接続する第３の伝送路と、
   を備えることを特徴とする点検ツール。
6. 内視鏡装置の筐体に設けられる内視鏡接続用レセプタクルに接続されるプラグと、前記プラグの表面に設けられ前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの１つと接触する第１の信号伝送端子と、前記プラグの表面に設けられ、前記プラグが前記内視鏡接続用レセプタクルに接続されている状態において前記内視鏡接続用レセプタクルに設けられる複数の端子のうちの他の１つと接触する第２の信号伝送端子と、外部機器が接続される第１の端子と、一端が前記第１の信号伝送端子に接続され、他端が前記第１の端子に接続され、前記第１の信号伝送端子に入力される電流を前記第１の端子へと伝送する第１の伝送路と、外部機器が接続される第２の端子と、一端が前記第２の信号伝送端子に接続され、他端が前記第２の端子に接続され、前記第２の信号伝送端子と前記第２の端子とを電気的に接続する第２の伝送路と、を有する点検ツールの前記プラグが着脱自在に配設される着脱部と、
   前記着脱部に前記プラグが装着されている状態において、前記第１の信号伝送端子と前記第２の信号伝送端子とを電気的に接続する第３の伝送路と、
   を備えることを特徴とする点検プラグ端子カバー。
7. 前記第３の伝送路は、導電性素材を箔状に形成されてなることを特徴とする請求項５に記載の点検ツール。
8. 前記第３の伝送路は、導電性素材を箔状に形成されてなることを特徴とする請求項６に記載の点検プラグ端子カバー。
9. 前記プラグは断面がフレーム形状であることを特徴とする請求項１又は請求項５に記載の点検ツール。
10. 前記プラグは断面が円環形状であることを特徴とする請求項１又は請求項５に記載の点検ツール。
11. 前記カバー部材を回動自在に軸支する保管用ケースを、さらに具備し、
    前記保管用ケースは、前記カバー部材の前記着脱部に前記プラグが接続された状態の構成ユニットを収納することを特徴とする請求項５に記載の点検ツール。

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