JP2019172918A - Temporal adhesive film used for manufacturing electronic device, support substrate for manufacturing electronic package, and manufacturing method of electronic package - Google Patents

Temporal adhesive film used for manufacturing electronic device, support substrate for manufacturing electronic package, and manufacturing method of electronic package Download PDF

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JP2019172918A JP2018065664A JP2018065664A JP2019172918A JP 2019172918 A JP2019172918 A JP 2019172918A JP 2018065664 A JP2018065664 A JP 2018065664A JP 2018065664 A JP2018065664 A JP 2018065664A JP 2019172918 A JP2019172918 A JP 2019172918A
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Kazuki Demachi
一樹 出町
高橋 豊誠
Toyomasa Takahashi
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Abstract

To enhance productivity in manufacturing an electronic package.SOLUTION: There is provided a temporal adhesive film used for manufacturing an electronic device, an area A with strong adhesive force and an area B with weaker adhesive force than the area A exist on a surface of the temporal adhesive film, and a relation of 0.1≤(xB/xA)≤0.5 is formed, wherein X[kN/m] is peeling strength of a copper foil at a part of the area A, and X[kN/m] is peeling strength of a copper foil at a part of the area B in a composite film by thermal compression binding the temporal adhesive film and the copper film with arithmetic mean surface roughness of 0.2 μm under a condition of temperature of 60°C, pressure 0.3 MPa, and time of 30 sec., then heating at 150°C for 1 hr and binding. There is provided a support substrate for manufacturing an electronic package having the temporal adhesive film and a first substrate. There is provided a manufacturing method of the electronic package using the temporal adhesive film or the support substrate.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、電子装置の製造に用いられる仮接着フィルム、電子パッケージ製造用サポート基板および電子パッケージの製造方法に関する。
より具体的には、電子装置の製造に用いられる仮接着フィルム、その仮接着フィルムを備える電子パッケージ製造用サポート基板、および、そのサポート基板を用いた電子パッケージの製造方法に関する。
The present invention relates to a temporary adhesive film used for manufacturing an electronic device, a support substrate for manufacturing an electronic package, and a method for manufacturing the electronic package.
More specifically, the present invention relates to a temporary adhesive film used for manufacturing an electronic device, an electronic package manufacturing support substrate including the temporary adhesive film, and an electronic package manufacturing method using the support substrate.

電子パッケージの製造に際して、基板や素子を一時的に固定または接着しておくプロセス(仮接着、仮固定などとしばしば呼ばれる)が行われる場合がある。また、仮接着や仮固定のための材料、プロセスなどが盛んに検討されている。   In manufacturing an electronic package, a process of temporarily fixing or bonding a substrate or an element (often referred to as temporary bonding or temporary fixing) may be performed. In addition, materials and processes for temporary bonding and temporary fixing are actively studied.

例えば、特許文献1には、「ウエハとサポート基板の容易な仮接着」などの課題を解決するものとして、ポリイミド樹脂の樹脂膜からなる第一仮接着材層と、硬化性シリコーン樹脂を含む接着剤組成物の硬化膜からなる第二仮接着材層とを有する、ウエハ加工用積層体が記載されている。   For example, in Patent Document 1, as a solution to problems such as “easy temporary adhesion between a wafer and a support substrate”, a first temporary adhesive layer made of a polyimide resin film and an adhesive containing a curable silicone resin The laminated body for wafer processing which has a 2nd temporary adhesive material layer which consists of a cured film of an agent composition is described.

また、特許文献2には、仮固定のプロセスを含み、半導体パッケージの薄型化と低反り化とを両立し、薄型の半導体装置を高い歩留まりで提供することができる技術が開示されている。具体的には、まず封止材により封止された半導体パッケージを作製した後に、その半導体パッケージの表面に反り矯正基板を仮固定する工程、リフローする工程、リフロー後に半導体パッケージから反り矯正基板を除去する工程などを含む半導体装置の製造方法が開示されている。   Patent Document 2 discloses a technique that includes a temporary fixing process and that can achieve both thinning and low warpage of a semiconductor package and provide a thin semiconductor device with high yield. Specifically, after manufacturing a semiconductor package sealed with a sealing material, a step of temporarily fixing a warp correction substrate to the surface of the semiconductor package, a step of reflowing, and removing the warp correction substrate from the semiconductor package after reflow A method of manufacturing a semiconductor device including a process for performing the process is disclosed.

特開2016−86158号公報JP, 2006-86158, A 特開2016−072254号公報JP 2006-072254 A

半導体技術の進展に伴い、電子パッケージの生産性の更なる向上が求められている。
本発明者らの知見によれば、従来の電子パッケージの製造技術には、少なくとも生産性の点でなお改善の余地がある。
よって、本発明は、電子パッケージの製造において、生産性を高めることを目的とする。
With the progress of semiconductor technology, further improvement in the productivity of electronic packages is required.
According to the knowledge of the present inventors, there is still room for improvement in the manufacturing technology of the conventional electronic package at least in terms of productivity.
Therefore, an object of the present invention is to increase productivity in manufacturing an electronic package.

本発明者らは、電子パッケージの生産性向上という点で、仮接着の技術を応用できないかと考え、様々に検討を行った。その結果、新規な仮接着フィルムを用いて新規な方法により電子パッケージを製造すれば、電子パッケージの生産性を向上できることを着想し、そして以下に示される発明を完成させた。   The inventors of the present invention considered various possibilities of applying temporary bonding technology in terms of improving the productivity of electronic packages, and conducted various studies. As a result, it was conceived that if an electronic package was manufactured by a novel method using a novel temporary adhesive film, the productivity of the electronic package could be improved, and the invention shown below was completed.

本発明によれば、
電子装置の製造に用いられる仮接着フィルムであって、
当該仮接着フィルムの表面には、接着力の強い領域Aと、前記領域Aより接着力の弱い領域Bとが存在し、
当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した複合膜における、前記領域Aの部分での前記銅箔の引きはがし強さをx[kN/m]、前記領域Bの部分での前記銅箔の引きはがし強さをx[kN/m]としたとき、0.1≦(x/x)≦0.5の関係が成り立つ仮接着フィルム
が提供される。
なお、この発明を「第1発明」とも表記する。
According to the present invention,
A temporary adhesive film used in the manufacture of electronic devices,
On the surface of the temporary adhesive film, there are a region A having a strong adhesive force and a region B having a weaker adhesive force than the region A,
The temporary adhesive film and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm were bonded by thermocompression bonding under conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and then heated at 150 ° C. for 1 hour. In the composite film, the peel strength of the copper foil at the region A is x A [kN / m], and the peel strength of the copper foil at the region B is x B [kN / m. ], A temporary adhesive film satisfying a relationship of 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5 is provided.
This invention is also referred to as “first invention”.

また、本発明によれば、
第1の基板と、
当該第1の基板の片面に設けられた、上記の仮接着フィルムと
を備える電子パッケージ製造用サポート基板
が提供される。
なお、この発明を「第2発明」とも表記する。
Moreover, according to the present invention,
A first substrate;
Provided is a support substrate for manufacturing an electronic package comprising the temporary adhesive film provided on one side of the first substrate.
This invention is also referred to as “second invention”.

また、本発明によれば、
上記のサポート基板が有する仮接着フィルムと、第2の基板とを仮接着し、複合基板を得る仮接着工程と、
前記第2の基板を備えた面を上面として前記複合基板を上面視したとき、前記複合基板における前記第2の基板の上に、前記領域Bと重なるようにして電子素子を配置する配置工程と、
前記配置工程で配置された前記電子素子に対して封止用組成物を適用し、当該封止用組成物の硬化物で前記電子素子が封止された封止基板を得る封止工程と、
前記封止基板の少なくとも一部を切削する切削工程と、
前記サポート基板と、前記第2の基板とを分離する分離工程と、
を含む電子パッケージの製造方法
が提供される。
なお、この発明を「第3発明」とも表記する。
Moreover, according to the present invention,
A temporary bonding step of temporarily bonding the temporary adhesive film of the support substrate and the second substrate to obtain a composite substrate;
An arrangement step of disposing an electronic element so as to overlap the region B on the second substrate in the composite substrate when the composite substrate is viewed from above with the surface including the second substrate as an upper surface; ,
A sealing step of applying a sealing composition to the electronic elements arranged in the arrangement step, and obtaining a sealing substrate in which the electronic elements are sealed with a cured product of the sealing composition;
A cutting step of cutting at least a part of the sealing substrate;
A separation step of separating the support substrate and the second substrate;
A method for manufacturing an electronic package is provided.
This invention is also referred to as “third invention”.

また、本発明によれば、
電子装置の製造に用いられる仮接着フィルムであって、
当該仮接着フィルムは、露光により接着力が低下する性質を有し、
未露光の当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第1複合膜における前記銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]とし、
2000mJ/cmのi線で露光した当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第2複合膜における前記銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]としたとき、0.1≦(y/y)≦0.5の関係が成り立つ仮接着フィルム
が提供される。
なお、この発明を「第4発明」とも表記する。
Moreover, according to the present invention,
A temporary adhesive film used in the manufacture of electronic devices,
The temporary adhesive film has a property that the adhesive strength is reduced by exposure,
The unexposed temporary adhesive film and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm are thermocompression bonded at a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and then heated at 150 ° C. for 1 hour. The peel strength of the copper foil in the first composite film adhered in this manner is y A [kN / m],
After thermobonding the temporary adhesive film exposed with i-line of 2000 mJ / cm 2 and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm under conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, When the peel strength of the copper foil in the second composite film bonded by heating at 150 ° C. for 1 hour is y B [kN / m], 0.1 ≦ (y B / y A ) ≦ 0.5 A temporary adhesive film that satisfies the above relationship is provided.
This invention is also referred to as “fourth invention”.

また、本発明によれば、
第1の基板と、
当該第1の基板の片面に設けられた、上記の仮接着フィルムと
を備える電子パッケージ製造用サポート基板
が提供される。
なお、この発明を「第5発明」とも表記する。
Moreover, according to the present invention,
A first substrate;
Provided is a support substrate for manufacturing an electronic package comprising the temporary adhesive film provided on one side of the first substrate.
This invention is also referred to as “fifth invention”.

また、本発明によれば、
上記のサポート基板が有する仮接着フィルムを露光し、接着力の強い領域Aと、前記領域Aより接着力の弱い領域Bと設ける露光工程と、
前記露光工程で露光された仮接着フィルムと第2の基板とを仮接着し、複合基板を得る仮接着工程と、
前記第2の基板を備えた面を上面として前記複合基板を上面視したとき、前記複合基板における前記第2の基板の上に、前記領域Bと重なるようにして電子素子を配置する配置工程と、
前記配置工程で配置された前記電子素子に対して封止用組成物を適用し、前記封止用組成物の硬化物で前記電子素子が封止された封止基板を得る封止工程と
前記封止基板の少なくとも一部を切削する切削工程と、
前記サポート基板と、前記第2の基板とを分離する分離工程と、
を含む電子パッケージの製造方法
が提供される。
なお、この発明を「第6発明」とも表記する。
Moreover, according to the present invention,
An exposure step of exposing the temporary adhesive film of the support substrate and providing a region A having a strong adhesive force and a region B having a weaker adhesive force than the region A;
A temporary bonding step of temporarily bonding the temporary adhesive film and the second substrate exposed in the exposure step to obtain a composite substrate;
An arrangement step of disposing an electronic element so as to overlap the region B on the second substrate in the composite substrate when the composite substrate is viewed from above with the surface including the second substrate as an upper surface; ,
A sealing step of applying a sealing composition to the electronic elements arranged in the arranging step to obtain a sealing substrate in which the electronic elements are sealed with a cured product of the sealing composition; A cutting step of cutting at least a part of the sealing substrate;
A separation step of separating the support substrate and the second substrate;
A method for manufacturing an electronic package is provided.
This invention is also referred to as “sixth invention”.

本発明によれば、電子パッケージの製造において、生産性を高めることができる。
この「生産性を高めることができる」ことについてごく簡単に説明しておくと、例えば、複数個の電子素子を一括して封止するプロセスにおいて、封止された電子素子を取り出しやすくなる。詳しくは、本発明の実施形態において述べる。
According to the present invention, productivity can be increased in the manufacture of electronic packages.
Briefly explaining that “productivity can be increased”, for example, in a process of sealing a plurality of electronic elements at once, it becomes easy to take out the sealed electronic elements. Details will be described in the embodiment of the present invention.

電子パッケージの製造工程などを模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the manufacturing process etc. of an electronic package. 電子パッケージの製造工程などを模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the manufacturing process etc. of an electronic package. 仮接着フィルムにおける「領域A」と「領域B」の設け方の例を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the example of how to provide "area | region A" and "area | region B" in a temporary adhesive film. 引きはがし強さの測定方法を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the measuring method of peeling strength.

以下、本発明の実施形態について、図面を参照しつつ、詳細に説明する。
すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
煩雑さを避けるため、(i)同一図面内に同一の構成要素が複数ある場合には、その1つのみに符号を付し、全てには符号を付さない場合や、(ii)特に図2以降において、図1と同様の構成要素に改めては符号を付さない場合がある。
すべての図面はあくまで説明用のものである。図面中の各部材の形状や寸法比などは、必ずしも現実の物品と対応するものではない。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
In all the drawings, the same components are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.
In order to avoid complications, (i) when there are a plurality of identical components in the same drawing, only one of them is given a reference, and all are not attached, or (ii) 2 and later, the same components as in FIG. 1 may not be denoted again.
All drawings are for illustrative purposes only. The shape and dimensional ratio of each member in the drawings do not necessarily correspond to an actual article.

本明細書中、「略」という用語は、特に明示的な説明の無い限りは、製造上の公差や組立て上のばらつき等を考慮した範囲を含むことを表す。
本明細書中、数値範囲の説明における「a〜b」との表記は、特に断らない限り、a以上b以下のことを表す。例えば、「1〜5質量%」とは「1質量%以上5質量%以下」の意である。
In this specification, the term “substantially” means that it includes a range that takes into account manufacturing tolerances, assembly variations, and the like, unless otherwise specified.
In the present specification, the notation “ab” in the description of the numerical range represents a range from a to b unless otherwise specified. For example, “1 to 5% by mass” means “1 to 5% by mass”.

本明細書における基(原子団)の表記において、置換か無置換かを記していない表記は、置換基を有しないものと置換基を有するものの両方を包含するものである。例えば「アルキル基」とは、置換基を有しないアルキル基(無置換アルキル基)のみならず、置換基を有するアルキル基(置換アルキル基)をも包含するものである。
本明細書における「(メタ)アクリル」との表記は、アクリルとメタクリルの両方を包含する概念を表す。「(メタ)アクリレート」等の類似の表記についても同様である。
本明細書において「電子パッケージ」とは、電子素子(典型的には半導体チップ)が、何らかの形で封止材により封止されたもののことをいう。
In the notation of a group (atomic group) in this specification, the notation which does not describe substitution or non-substitution includes both those having no substituent and those having a substituent. For example, the “alkyl group” includes not only an alkyl group having no substituent (unsubstituted alkyl group) but also an alkyl group having a substituent (substituted alkyl group).
The notation “(meth) acryl” in the present specification represents a concept including both acrylic and methacrylic. The same applies to similar notations such as “(meth) acrylate”.
In this specification, an “electronic package” refers to an electronic element (typically a semiconductor chip) sealed in some form with a sealing material.

以下では、第1発明、第2発明および第3発明の実施の形態を「第1実施形態」として説明する。また、第4発明、第5発明および第6発明の実施の形態を「第2実施形態」として説明する。   Hereinafter, embodiments of the first invention, the second invention, and the third invention will be described as “first embodiment”. The embodiments of the fourth, fifth and sixth inventions will be described as “second embodiment”.

<第1実施形態>
[仮接着フィルム]
第1実施形態の仮接着フィルムは、電子装置の製造に用いられる。
この仮接着フィルムの表面には、接着力の強い領域Aと、領域Aより接着力の弱い領域Bとが存在する。
また、この仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した複合膜における、領域Aの部分での銅箔の引きはがし強さをx[kN/m]、領域Bの部分での銅箔の引きはがし強さをx[kN/m]としたとき、0.1≦(x/x)≦0.5の関係が成り立つ。
<First Embodiment>
[Temporary adhesive film]
The temporary adhesive film of 1st Embodiment is used for manufacture of an electronic device.
On the surface of the temporary adhesive film, there are a region A having a strong adhesive force and a region B having a weaker adhesive force than the region A.
Further, this temporary adhesive film and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm were thermocompression bonded at a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and then heated at 150 ° C. for 1 hour. In the bonded composite film, the peel strength of the copper foil at the region A is x A [kN / m], and the peel strength of the copper foil at the region B is x B [kN / m]. Then, the relationship of 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5 is established.

/xの値は、0.1〜0.5であればよいが、好ましくは0.12〜0.4、より好ましくは0.14〜0.3である。
の値は特に限定されないが、好ましくは0.01〜0.3[kN/m]、より好ましくは0.05〜0.25[kN/m]、さらに好ましくは0.1〜0.2[kN/m]である。
これら値を適切に調整することで、後述の電子パッケージ製造の生産性を一層高めることができる。
The value of x B / x A is may be a 0.1 to 0.5, preferably from 0.12 to 0.4, more preferably from 0.14 to 0.3.
The value of x B is not particularly limited, preferably 0.01~0.3 [kN / m], more preferably 0.05~0.25 [kN / m], more preferably 0.1 to 0. 2 [kN / m].
By appropriately adjusting these values, it is possible to further increase the productivity of electronic package manufacturing described later.

なお、xおよびxの測定については、後述の実施例に記載の方法で行うことができるが、このような引きはがし強さの測定については、JIS C 6481の、特に5.7項などの記載を参照することができる。
また、測定で用いられる「算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔」としては、例えば、三井金属鉱山社製の銅箔(品番:3EC−M3−VLP、厚み12μm)の光沢面を用いることができる。ここで、「算術平均表面粗さ」は、具体的には、JIS B 0601:2013でRaとして規定されているものである。
It should be noted that the measurement of x A and x B, can be carried out by the method described in Examples set forth below, the measurement of such peeling strength of JIS C 6481, etc. in particular Section 5.7 Can be referred to.
In addition, as the “copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm” used in the measurement, for example, a glossy surface of a copper foil (product number: 3EC-M3-VLP, thickness 12 μm) manufactured by Mitsui Mining Co., Ltd. is used. be able to. Here, the “arithmetic average surface roughness” is specifically defined as Ra in JIS B 0601: 2013.

第1実施形態の仮接着フィルムにより、電子パッケージの生産性を向上できる理由については、後述の[電子パッケージの製造方法]の項で具体的に説明する。   The reason why the productivity of the electronic package can be improved by the temporary adhesive film of the first embodiment will be specifically described in the section of [Electronic Package Manufacturing Method] described later.

とxが上記の関係を満たす領域AとBを設ける方法は特に限定されないが、例えば、
(I)領域Aの部分を熱硬化性樹脂組成物で構成し、領域Bの部分を熱硬化性樹脂組成物または熱可塑性樹脂のフィルムで構成する、
(II)光硬化性樹脂組成物で膜を形成し、その膜の一部に光照射することで、領域Aと領域Bを設ける(光照射された部分が領域Bに、光照射されなかった部分が領域Aになる)、
などの方法が適用可能である。
The method of providing the regions A and B where x A and x B satisfy the above relationship is not particularly limited.
(I) The region A is composed of a thermosetting resin composition, and the region B is composed of a thermosetting resin composition or a thermoplastic resin film.
(II) Forming a film with a photocurable resin composition and irradiating a part of the film with light to provide region A and region B (the region irradiated with light was not irradiated with light Part becomes area A),
Such a method is applicable.

上記(I)における熱硬化性樹脂組成物ないし上記(II)における光硬化性樹脂組成物の構成成分やその量を適切に調整すること、また、(II)の場合には光照射のドーズを適切に調整すること等により、xおよびxが所定の関係を満たす仮接着フィルムを製造することができる。
特に、熱硬化性樹脂組成物または光硬化性樹脂組成物中の、後述の充填材(具体的には無機充填材)の量を適切に調整することや、接着性を示す成分(エポキシ樹脂や重合性(メタ)アクリレート化合物など)の量を適切に調整することなどにより、接着力ないし引きはがし強さを適切に調整しやすくなる。
Appropriately adjusting the components and amounts of the thermosetting resin composition in (I) to the photocurable resin composition in (II), and in the case of (II), the dose of light irradiation such as by appropriately adjusting, it can be x a and x B to produce a temporary adhesive film satisfying a predetermined relationship.
In particular, the amount of a filler (specifically, an inorganic filler) described later in the thermosetting resin composition or the photocurable resin composition is appropriately adjusted, or an adhesive component (epoxy resin or the like) is used. By appropriately adjusting the amount of the polymerizable (meth) acrylate compound or the like, it becomes easy to appropriately adjust the adhesive force or the peel strength.

上記(I)の、領域Aの部分を熱硬化性樹脂組成物で構成し、領域Bの部分を熱硬化性樹脂組成物または熱可塑性樹脂のフィルムで構成する場合について説明する。   The case where the part of the region A in (I) is composed of a thermosetting resin composition and the part of the region B is composed of a thermosetting resin composition or a thermoplastic resin film will be described.

このような仮接着フィルムは、例えば、未硬化または半硬化状態の熱硬化性樹脂組成物で形成された膜(膜1)の表面に、別の熱硬化性樹脂組成物で形成された膜または熱可塑性樹脂フィルムの膜(膜2)を、付着させるまたは貼り付けることで得ることができる。   Such a temporary adhesive film is, for example, a film formed of another thermosetting resin composition on the surface of the film (film 1) formed of an uncured or semi-cured thermosetting resin composition, or The film (film 2) of the thermoplastic resin film can be obtained by adhering or pasting.

なお、通常、膜2の大きさは、膜1の大きさよりも小さい。
また、膜2として膜1とは別の熱硬化性樹脂組成物で形成された膜を用いる場合、典型的には、膜2の接着力の強さは膜1の接着力の強さよりも弱い(具体的には、0.1≦(x/x)≦0.5の関係が成り立つような接着力の熱硬化性樹脂組成物が選択される)。このように接着力の強さを調整する方法としては、膜2を形成する熱硬化性樹脂組成物中に、後述の充填材(具体的には無機充填材)を適量含める、組成物中の接着性を示す成分(エポキシ樹脂や重合性(メタ)アクリレート化合物など)の量を適切に調整する、などの方法がある。
In general, the size of the film 2 is smaller than the size of the film 1.
When a film formed of a thermosetting resin composition different from the film 1 is used as the film 2, typically, the strength of the adhesive force of the film 2 is weaker than the strength of the adhesive force of the film 1. (Specifically, a thermosetting resin composition having an adhesive force that satisfies the relationship of 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5 is selected). As a method for adjusting the strength of the adhesive force in this way, an appropriate amount of a filler (specifically an inorganic filler) described later is included in the thermosetting resin composition forming the film 2. There are methods such as appropriately adjusting the amount of an adhesive component (such as an epoxy resin or a polymerizable (meth) acrylate compound).

膜1の表面に膜2を付着させるまたは貼り付ける方法については、公知のラミネート技術(例えば真空ラミネート技術)などを適用することができる。
このようにして得られた仮接着フィルムは、通常、膜1に対応する部分が領域A、膜2に対応する部分が領域Bとなる。
As a method for attaching or attaching the film 2 to the surface of the film 1, a known laminating technique (for example, a vacuum laminating technique) can be applied.
In the temporary adhesive film thus obtained, the part corresponding to the film 1 is usually the area A and the part corresponding to the film 2 is the area B.

領域Aを構成する熱硬化性樹脂組成物としては、前述の引きはがし強さ等を満たす限り任意のものを用いることができるが、エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物からなる群より選択される少なくとも1種の重合性化合物を含むものであることが好ましい。このような熱硬化性樹脂組成物を用いることで、高温条件下において接着力の低下を抑えやすい。このことは、後述の電子パッケージの製造において、種々の加熱に対して耐性がある(加熱による剥がれ等が発生しにくい)ことを意味する。   As the thermosetting resin composition constituting the region A, any thermosetting resin composition can be used as long as the above-mentioned peeling strength is satisfied, but it is selected from the group consisting of an epoxy compound and a polymerizable (meth) acrylate compound. It is preferable that it contains at least one polymerizable compound. By using such a thermosetting resin composition, it is easy to suppress a decrease in adhesive strength under high temperature conditions. This means that in the manufacture of an electronic package described later, it is resistant to various heating (exfoliation due to heating is unlikely to occur).

エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物の具体例、組成物中の含有量などは、後述の光硬化性樹脂組成物の構成成分として説明されているエポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物と同様である。
また、熱硬化性樹脂組成物は、たとえば 後述の光硬化性樹脂組成物の構成成分として説明されている熱硬化触媒、充填材、溶剤など(光重合開始剤以外の成分)を含むことができる。
特に、熱硬化性樹脂組成物が充填材を含むことで、接着力ないし引きはがし強さを所望の値に調整しやすい。
Specific examples of the epoxy compound and the polymerizable (meth) acrylate compound, the content in the composition, and the like are the epoxy compound and the polymerizable (meth) acrylate compound described as constituent components of the photocurable resin composition described later. It is the same.
In addition, the thermosetting resin composition can include, for example, a thermosetting catalyst, a filler, a solvent, and the like (components other than the photopolymerization initiator) described as components of the photocurable resin composition described later. .
In particular, when the thermosetting resin composition contains a filler, it is easy to adjust the adhesive strength or the peel strength to a desired value.

領域Bが熱硬化性樹脂組成物から構成される場合、その熱硬化性樹脂組成物としては、例えば、上記の領域Aを構成する熱硬化性樹脂組成物と同様の素材を用いつつも、接着力が低減された(0.1≦(x/x)≦0.5を満たすように調整された)組成物を用いることができる。
なお、接着力を適切に低減する方法としては、上記と同様、熱硬化性樹脂組成物中に、後述の充填材(具体的には無機充填材)を適量含める、組成物中の接着性を示す成分(エポキシ樹脂や重合性(メタ)アクリレート化合物など)の量を適切に調整する、などの方法がある。
When the region B is composed of a thermosetting resin composition, as the thermosetting resin composition, for example, while using the same material as the thermosetting resin composition constituting the region A, the region B is bonded. Compositions with reduced force (adjusted to satisfy 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5) can be used.
In addition, as a method of appropriately reducing the adhesive strength, the adhesiveness in the composition, in which an appropriate amount of a filler (specifically, an inorganic filler) described later is included in the thermosetting resin composition, as described above. There are methods such as appropriately adjusting the amount of components to be shown (such as epoxy resin and polymerizable (meth) acrylate compound).

領域Bが熱可塑性樹脂フィルムから構成される場合、その熱可塑性樹脂フィルムは特に限定されない。
例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ(4−メチル−1−ペンテン)、ポリ(1−ブテン)等のポリオレフィン;ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル;ナイロン−6、ナイロン−66、ポリメタキシレンアジパミド等のポリアミド;ポリ塩化ビニル;ポリ塩化ビニリデン;エチレン・酢酸ビニル共重合体;ポリビニルアルコール;ポリカーボネート;ポリスチレン;アイオノマー;等から選択される一種または二種以上の素材の熱可塑性樹脂フィルムを挙げることができる。
熱可塑性樹脂フィルムは、市販品を用いてもよいし、熱可塑性樹脂を含むワニス溶液を適当な基材に塗布し、溶剤を乾燥させることで得てもよい。後者の場合の「適当な基材」としては、PETフィルムなどを挙げることができる。また、塗布にはコンマコーター等を用いることができる。
熱可塑性樹脂フィルムは、延伸されているものでも未延伸のものでもよい。
When the region B is composed of a thermoplastic resin film, the thermoplastic resin film is not particularly limited.
For example, polyolefin such as polyethylene, polypropylene, poly (4-methyl-1-pentene), poly (1-butene); polyester such as polyethylene terephthalate (PET), polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate; nylon-6, nylon- 66, polyamide such as polymetaxylene adipamide, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, ethylene / vinyl acetate copolymer, polyvinyl alcohol, polycarbonate, polystyrene, ionomer, etc. A thermoplastic resin film can be mentioned.
A commercial item may be used for a thermoplastic resin film, and it may obtain by apply | coating the varnish solution containing a thermoplastic resin to a suitable base material, and drying a solvent. Examples of the “appropriate substrate” in the latter case include a PET film. Moreover, a comma coater etc. can be used for application | coating.
The thermoplastic resin film may be stretched or unstretched.

熱可塑性樹脂フィルムは、適度な柔軟性や軟化性などの観点から、ポリビニルアルコールフィルムまたはポリプロピレンフィルムが好ましい。
150℃前後に加熱されたときに適度に軟化/溶融するなどして、銅箔と弱く接着する(領域Aの接着力よりは弱いが、ある程度の力で接着する)熱可塑性樹脂フィルムを適用することで、後述する電子パッケージの製造において、他の基板との密着性向上などのメリットが得られると考えられる。
The thermoplastic resin film is preferably a polyvinyl alcohol film or a polypropylene film from the viewpoints of appropriate flexibility and softness.
Applying a thermoplastic resin film that is softened / melted moderately when heated to around 150 ° C. and is weakly bonded to the copper foil (which is weaker than the adhesive strength in region A, but is bonded to some extent). Thus, it is considered that merits such as improved adhesion to other substrates can be obtained in the manufacture of the electronic package described later.

次に、上記(II)の、光硬化性樹脂組成物で膜を形成し、その膜の一部に光照射することで、領域AとBを設ける場合について説明する。
一態様として、第1実施形態の仮接着フィルムの領域Aの部分は、光硬化性樹脂組成物で構成されていることが好ましい。また、第1実施形態の仮接着フィルムの領域Bの部分は、その光重合性樹脂組成物の硬化物で構成されていることが好ましい。
Next, the case where the regions A and B are provided by forming a film with the photocurable resin composition (II) and irradiating a part of the film with light will be described.
As one aspect, the region A of the temporary adhesive film according to the first embodiment is preferably composed of a photocurable resin composition. Moreover, it is preferable that the part of the area | region B of the temporary adhesive film of 1st Embodiment is comprised with the hardened | cured material of the photopolymerizable resin composition.

この仮接着フィルムは、例えば、(i)接着性を有し、かつ、その接着性が光照射により低下または喪失する光硬化性樹脂組成物により膜を形成し、そして、(ii)その膜の一部領域に光照射を行うことで、得ることができる(光照射された領域が領域Bとなり、光照射されなかった領域が領域Aになる)。   This temporary adhesive film is formed, for example, by (i) a film made of a photocurable resin composition that has adhesiveness and whose adhesiveness is reduced or lost by light irradiation, and (ii) It can be obtained by irradiating a partial region with light (the region irradiated with light becomes region B, and the region not irradiated with light becomes region A).

照射光は、光硬化性樹脂組成物の感光特性などに基づき適宜設定可能であるが、例えば波長100〜1000nmの光、より具体的にはg線、i線などが適用される。照射量(ドーズ)も、組成物の感光特性などに基づき適宜設定可能である。例えば、10〜10000mJ/cm、好ましくは50〜5000mJ/cm、より好ましくは100〜3000mJ/cmである。光照射の方法としては、密着露光法、投影露光法、コンタクト・プロキシミティ露光法などが適宜適用可能である。
これら光照射の条件は、0.1≦(x/x)≦0.5となるように適宜調整することができる。
Irradiation light can be appropriately set based on the photosensitive characteristics of the photo-curable resin composition, and for example, light having a wavelength of 100 to 1000 nm, more specifically g-line, i-line, and the like are applied. The dose (dose) can also be appropriately set based on the photosensitive characteristics of the composition. For example, 10~10000mJ / cm 2, preferably 50 to 5000 mJ / cm 2, more preferably 100~3000mJ / cm 2. As a light irradiation method, a contact exposure method, a projection exposure method, a contact proximity exposure method, or the like can be appropriately applied.
These light irradiation conditions can be appropriately adjusted so as to satisfy 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5.

領域AおよびBを構成する光硬化性樹脂組成物としては、前述の引きはがし強さ等を満たす限り任意のものを用いることができるが、エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物からなる群より選択される少なくとも1種の重合性化合物と、光重合開始剤とを含むものであることが好ましい。   As the photocurable resin composition constituting the regions A and B, any one can be used as long as the above-mentioned peeling strength is satisfied, but from the group consisting of an epoxy compound and a polymerizable (meth) acrylate compound It is preferable that it contains at least one polymerizable compound selected and a photopolymerization initiator.

以下、光硬化性樹脂組成物が含みうる成分や、組成物の性状などについて説明する。
なお、前述したように、以下成分のうち、光重合開始剤以外の成分は、前述の熱硬化性樹脂組成物の構成成分としても好ましく用いられるものである。
Hereinafter, components that can be contained in the photocurable resin composition, properties of the composition, and the like will be described.
In addition, as mentioned above, components other than a photoinitiator among the following components are preferably used also as a structural component of the above-mentioned thermosetting resin composition.

(エポキシ樹脂)
エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールE型エポキシ樹脂、ビスフェノールM型エポキシ樹脂、ビスフェノールP型エポキシ樹脂、ビスフェノールZ型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂等のアリールアルキレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、フェノキシ型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、ノルボルネン型エポキシ樹脂、アダマンタン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂が挙げられる。
(Epoxy resin)
Examples of the epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol M type epoxy resin, bisphenol P type epoxy resin, and bisphenol Z type epoxy resin. Bisphenol type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin and other novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, aryl aralkyl type epoxy resin having biphenylene skeleton, arylalkylene type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, Anthracene type epoxy resin, phenoxy type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, norbornene type epoxy resin, adamantane type Epoxy resins, epoxy resins, such as a fluorene epoxy resin.

エポキシ樹脂のエポキシ当量は、例えば100以上であり、150〜5000が好ましく、150〜1000がより好ましく、150〜500がさらに好ましい。
エポキシ樹脂は、多官能エポキシ基を有する硬化性樹脂としては、芳香環構造(ベンゼン環構造など)および脂環構造(脂環式の炭素環構造)の少なくともいずれか一方を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。
エポキシ樹脂は、典型的には、多官能(2官能以上)である。
The epoxy equivalent of an epoxy resin is 100 or more, for example, 150-5000 are preferable, 150-1000 are more preferable, 150-500 are more preferable.
The epoxy resin includes an epoxy resin having at least one of an aromatic ring structure (such as a benzene ring structure) and an alicyclic structure (an alicyclic carbocyclic structure) as a curable resin having a polyfunctional epoxy group. Is preferred.
The epoxy resin is typically polyfunctional (bifunctional or higher).

一態様として、エポキシ樹脂は、フェノキシ樹脂を含むことが好ましい。
フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノール骨格を有するフェノキシ樹脂、ナフタレン骨格を有するフェノキシ樹脂、アントラセン骨格を有するフェノキシ樹脂、ビフェニル骨格を有するフェノキシ樹脂、イミド骨格を有するフェノキシ樹脂等が挙げられる。また、これらの骨格を複数種有した構造のフェノキシ樹脂を用いることもできる。
As one aspect, the epoxy resin preferably contains a phenoxy resin.
Examples of the phenoxy resin include a phenoxy resin having a bisphenol skeleton, a phenoxy resin having a naphthalene skeleton, a phenoxy resin having an anthracene skeleton, a phenoxy resin having a biphenyl skeleton, and a phenoxy resin having an imide skeleton. A phenoxy resin having a structure having a plurality of these skeletons can also be used.

これらの中でも、ビスフェノールA型、ビスフェノールF型のフェノキシ樹脂、イミド骨格を有するフェノキシ樹脂、ビスフェノールアセトフェノン骨格を有するフェノキシ樹脂を用いるのが好ましい。また、上記のうち複数の骨格を有するフェノキシ樹脂を用いてもよい。   Among these, it is preferable to use bisphenol A-type and bisphenol F-type phenoxy resins, phenoxy resins having an imide skeleton, and phenoxy resins having a bisphenolacetophenone skeleton. Moreover, you may use the phenoxy resin which has several frame | skeleton among the above.

フェノキシ樹脂の重量平均分子量は、特に限定されないが、5.0×10以上8.0×10以下が好ましい。なお、本明細書において、重量平均分子量とは、特に断りのない限り、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)で測定したポリスチレン換算の値である。
また、フェノキシ樹脂のエポキシ当量は、例えば1000〜30000、より好ましくは5000〜20000である。
Although the weight average molecular weight of a phenoxy resin is not specifically limited, 5.0 * 10 < 3 > or more and 8.0 * 10 < 4 > or less are preferable. In the present specification, the weight average molecular weight is a value in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC) unless otherwise specified.
Moreover, the epoxy equivalent of a phenoxy resin is 1000-30000, for example, More preferably, it is 5000-20000.

一態様として、フェノキシ樹脂ではないエポキシ樹脂と、フェノキシ樹脂とが併用されることが好ましい。これにより、硬化速度を速めることができる。これにより、後述の電子パッケージの製造において、プロセスのスループットを高める効果が期待できる。
フェノキシ樹脂ではないエポキシ樹脂と、フェノキシ樹脂との量比は、特に限定されないが、例えば9:1〜5:5、好ましくは9:1〜6:4(質量比)である。
As one embodiment, it is preferable that an epoxy resin that is not a phenoxy resin and a phenoxy resin are used in combination. Thereby, the curing rate can be increased. As a result, an effect of increasing the throughput of the process can be expected in the manufacture of the electronic package described later.
The amount ratio between the epoxy resin that is not a phenoxy resin and the phenoxy resin is not particularly limited, but is, for example, 9: 1 to 5: 5, preferably 9: 1 to 6: 4 (mass ratio).

組成物中のエポキシ樹脂の含有量(複数種のエポキシ樹脂を併用する場合は、その合計量)は、組成物中の不揮発成分の全量を基準として、例えば20〜98質量%、好ましくは30〜96質量%、より好ましくは35〜90質量%、さらに好ましくは55〜90質量%である。   The content of the epoxy resin in the composition (when a plurality of types of epoxy resins are used in combination) is, for example, 20 to 98% by mass, preferably 30 to 30%, based on the total amount of nonvolatile components in the composition. It is 96 mass%, More preferably, it is 35-90 mass%, More preferably, it is 55-90 mass%.

エポキシ樹脂(フェノキシ樹脂を含む)は、公知のものや市販のものを適宜用いることができる。市販品は、例えば、三菱ケミカル株式会社、日本化薬株式会社、新日鉄住金化学株式会社等から入手可能である。   As the epoxy resin (including phenoxy resin), a known one or a commercially available one can be used as appropriate. Commercial products are available from Mitsubishi Chemical Corporation, Nippon Kayaku Co., Ltd., Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., and the like.

(重合性(メタ)アクリレート化合物)
重合性(メタ)アクリレート化合物とは、光、熱、その他外部刺激により重合反応可能な(メタ)アクリロイル基を有する化合物である。重合性(メタ)アクリレート化合物は、2官能以上である(1分子中に2以上の(メタ)アクリロイル基を有する)ことが好ましく、2〜6官能であることがより好ましい。
(Polymerizable (meth) acrylate compound)
The polymerizable (meth) acrylate compound is a compound having a (meth) acryloyl group that can be polymerized by light, heat, or other external stimulus. The polymerizable (meth) acrylate compound is preferably bifunctional or more (having two or more (meth) acryloyl groups in one molecule), and more preferably 2 to 6 functional.

重合性(メタ)アクリレート化合物として具体的には、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、テトラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールモノヒドロキシペンタ(メタ)アクリレート、1,4−ブチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、グリセリンジ(メタ)アクリレート等の、(メタ)アクリル酸と多価アルコールとのエステル化物;エステル(メタ)アクリレートオリゴマー;2−プロペニル−ジ−3−ブテニルシアヌレート等の炭素−炭素二重結合含有基を有しているシアヌレート系化合物;トリス(2−アクリロキシエチル)イソシアヌレート、トリス(2−メタクリロキシエチル)イソシアヌレート、2−ヒドロキシエチルビス(2−アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ビス(2−アクリロキシエチル) 2−[(5−アクリロキシヘキシル)−オキシ]エチルイソシアヌレート、トリス(1,3−ジアクリロキシ−2−プロピル−オキシカルボニルアミノ−n−ヘキシル)イソシアヌレート、トリス(1−アクリロキシエチル−3−メタクリロキシ−2−プロピル−オキシカルボニルアミノ−n−ヘキシル)イソシアヌレート、トリス(4−アクリロキシ−n−ブチル)イソシアヌレート等の炭素−炭素二重結合含有基を有しているイソシアヌレート系化合物;市販のオリゴエステルアクリレート、芳香族系、脂肪族系等のウレタン(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Specific examples of polymerizable (meth) acrylate compounds include trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, and tetraethylene glycol. Di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, dipentaerythritol monohydroxypenta (meth) acrylate, 1,4 -(Meth) acrylic acid and polyhydric alcohols such as butylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, glycerin di (meth) acrylate Esterified products; ester (meth) acrylate oligomers; cyanurate compounds having a carbon-carbon double bond-containing group such as 2-propenyl-di-3-butenyl cyanurate; tris (2-acryloxyethyl) Isocyanurate, tris (2-methacryloxyethyl) isocyanurate, 2-hydroxyethylbis (2-acryloxyethyl) isocyanurate, bis (2-acryloxyethyl) 2-[(5-acryloxyhexyl) -oxy] Ethyl isocyanurate, tris (1,3-diacryloxy-2-propyl-oxycarbonylamino-n-hexyl) isocyanurate, tris (1-acryloxyethyl-3-methacryloxy-2-propyl-oxycarbonylamino-n-hexyl) ) Isocyanurate, Tris (4 Isocyanurate compounds having a carbon-carbon double bond-containing group such as acryloxy-n-butyl) isocyanurate; commercially available oligoester acrylates, aromatic and aliphatic urethane (meth) acrylates, etc. Can be mentioned.

重合性(メタ)アクリレート化合物は、一態様として、ウレタン(メタ)アクリレートであることが好ましい。この態様として具体的には、ポリエステル型またはポリエーテル型等のポリオール化合物と、多価イソシアナート化合物(例えば、2,4−トリレンジイソシアナート、2,6−トリレンジイソシアナート、1,3−キシリレンジイソシアナート、1,4−キシリレンジイソシアナート、ジフェニルメタン4,4−ジイソシアナート等)を反応させて得られる末端イソシアナートウレタンプレポリマーに、ヒドロキシル基を有する(メタ)アクリレート(例えば、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコール(メタ)アクリレート等)を反応させて得られたもの、等が挙げられる。   As an aspect, the polymerizable (meth) acrylate compound is preferably urethane (meth) acrylate. Specifically, as this aspect, a polyol compound such as a polyester type or a polyether type and a polyvalent isocyanate compound (for example, 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 1,3- A terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting xylylene diisocyanate, 1,4-xylylene diisocyanate, diphenylmethane 4,4-diisocyanate, etc.) with a (meth) acrylate having a hydroxyl group (for example, 2 -Hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, polyethylene glycol (meth) acrylate and the like), and the like.

重合性(メタ)アクリレート化合物は、1種のみを用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
組成物中の硬化性(メタ)アクリレート化合物の含有量(複数種を併用する場合は、その合計量)は、組成物中の不揮発成分の全量を基準として、例えば10〜85質量%、好ましくは20〜80質量%、より好ましくは25〜75質量%である。
Only one type of polymerizable (meth) acrylate compound may be used, or two or more types may be used in combination.
The content of the curable (meth) acrylate compound in the composition (when using a plurality of types in combination, the total amount thereof) is, for example, 10 to 85% by mass, preferably based on the total amount of nonvolatile components in the composition, preferably It is 20-80 mass%, More preferably, it is 25-75 mass%.

(光重合開始剤)
光硬化性樹脂組成物が光重合開始剤を含むことで、領域Aと領域Bの引きはがし強さを最適化できること、露光量を少なくできることによる生産性のアップ、等が期待できる。
光重合開始剤は、公知の光ラジカル重合開始剤や光カチオン重合開始剤を、前述の露光工程における露光波長等に基づき適宜選択可能である。
(Photopolymerization initiator)
By including a photopolymerization initiator in the photocurable resin composition, it is possible to optimize the peel strength of the region A and the region B, increase the productivity by reducing the exposure amount, and the like.
As the photopolymerization initiator, a known photoradical polymerization initiator or photocationic polymerization initiator can be appropriately selected based on the exposure wavelength in the above-described exposure step.

光ラジカル重合開始剤として具体的には、例えば、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−ベンジル]フェニル}−2−メチル−プロパン−1−オン、ベンジルジフェニルサルファイド、テトラメチルチウラムモノサルファイド、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、α−ヒドロキシ−α,α´−ジメチルアセトフェノン、2−メチル−2−ヒドロキシプロピオフェノン、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ミヒラーズケトン、アセトフェノン、メトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)−フェニル]−2−モルホリノプロパン−1、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインプロピルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンジル、ベンゾイン、ジベンジル、α−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、ベンジルジメチルケタール、2−ヒドロキシメチルフェニルプロパン、2−ナフタレンスルホニルクロリド、1−フェノン−1,1―プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、ベンゾフェノン、ベンゾイル安息香酸、4,4´−ジメチルアミノベンゾフェノン、4,4´−ジエチルアミノベンゾフェノン、4,4´−ジクロロベンゾフェノン、3,3´−ジメチル−4−メトキシベンゾフェノン、o−アクリルオキシベンゾフェノン、p−アクリルオキシベンゾフェノン、o−メタクリルオキシベンゾフェノン、p−メタクリルオキシベンゾフェノン、p−(メタ)アクリルオキシエトキシベンゾフェノン、1,4−ブタンジオールモノ(メタ)アクリラート、1,2−エタンジオールモノ(メタ)アクリラート、1,8−オクタンジオールモノ(メタ)アクリラートのようなアクリラートのベンゾフェノン−4−カルボン酸エステル、チオキサンソン、2−クロロチオキサンソン、2−メチルチオキサンソン、2,4−ジメチルチオキサンソン、イソプロピルチオキサンソン、2,4−ジクロロチオキサンソン、2,4−ジエチルチオキサンソン、2,4−ジイソプロピルチオキサンソン、アゾビスイソブチロニトリル、β−クロールアンスラキノン、カンファーキノン、ハロゲン化ケトン、アシルホスフィノキシド、アシルホスフォナート、ポリビニルベンゾフェノン、クロロチオキサントン、ドデシルチオキサントン、ジメチルチオキサントン、ジエチルチオキサントン、2−エチルアントラキノン、t−ブチルアントラキノン、2,4,5−トリアリ−ルイミダゾール二量体、等が挙げられる。
光ラジカル重合開始剤としては、ベンゾフェノン誘導体およびアルキルフェノン誘導体から選ばれる少なくとも1種であることが好ましい。
Specific examples of the radical photopolymerization initiator include 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one and 1- [4- (2-hydroxyethoxy) -phenyl] -2-hydroxy-2. -Methyl-1-propan-1-one, 2-hydroxy-1- {4- [4- (2-hydroxy-2-methyl-propionyl) -benzyl] phenyl} -2-methyl-propan-1-one, Benzyldiphenyl sulfide, tetramethylthiuram monosulfide, 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl (2-hydroxy-2-propyl) ketone, α-hydroxy-α, α′-dimethylacetophenone, 2-methyl-2-hydroxypro Piophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, Michler's ketone, acetophenone, methoxyacetate Phenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 2-methyl-1- [4- (methylthio) -phenyl] -2-morpholinopropane-1, benzoin methyl ether, benzoin ethyl Ether, benzoin propyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl ether, benzyl, benzoin, dibenzyl, α-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, benzyl dimethyl ketal, 2-hydroxymethylphenylpropane, 2-naphthalenesulfonyl chloride, 1-phenone-1, 1-propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime, benzophenone, benzoylbenzoic acid, 4,4'-dimethylaminobenzophenone, 4,4'-diethylaminobenzene Nzophenone, 4,4'-dichlorobenzophenone, 3,3'-dimethyl-4-methoxybenzophenone, o-acryloxybenzophenone, p-acryloxybenzophenone, o-methacryloxybenzophenone, p-methacryloxybenzophenone, p- (meta ) Benzophenone-4- of acrylate such as acrylicoxyethoxybenzophenone, 1,4-butanediol mono (meth) acrylate, 1,2-ethanediol mono (meth) acrylate, 1,8-octanediol mono (meth) acrylate Carboxylic acid ester, thioxanthone, 2-chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2,4-dimethylthioxanthone, isopropylthioxanthone, 2,4-dichlorothioxanthone, 2,4-diethyl Thioxanthone, 2,4-diisopropylthioxanthone, azobisisobutyronitrile, β-chloranthraquinone, camphorquinone, halogenated ketone, acyl phosphinoxide, acyl phosphonate, polyvinyl benzophenone, chlorothioxanthone, dodecyl thioxanthone, Examples thereof include dimethylthioxanthone, diethylthioxanthone, 2-ethylanthraquinone, t-butylanthraquinone, 2,4,5-triallylimidazole dimer, and the like.
The radical photopolymerization initiator is preferably at least one selected from benzophenone derivatives and alkylphenone derivatives.

光カチオン重合開始剤としては、例えば、オニウム塩構造のものが挙げられる。より具体的には、ジアゾニウム塩のようなルイス酸発生型のものや、ヨードニウム塩、スルホニウム塩のようなブレンステッド酸発生型のもの等が挙げられる。
光カチオン重合開始剤は、特に、エポキシ樹脂が有するエポキシ基に対して作用し、硬化反応を進行させる。
As a photocationic polymerization initiator, the thing of an onium salt structure is mentioned, for example. More specifically, a Lewis acid generation type such as a diazonium salt, a Bronsted acid generation type such as an iodonium salt and a sulfonium salt, and the like can be mentioned.
The cationic photopolymerization initiator particularly acts on the epoxy group of the epoxy resin to advance the curing reaction.

光カチオン重合開始剤が、オニウム塩構造のものである場合、オニウムカチオンの構造として具体的には、ジフェニルヨードニウム、4−メトキシジフェニルヨードニウム、ビス(4−メチルフェニル)ヨードニウム、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム、ビス(ドデシルフェニル)ヨードニウム、トリフェニルスルホニウム、ジフェニル−4−チオフェノキシフェニルスルホニウム、ビス[4−(ジフェニルスルフォニオ)−フェニル]スルフィド、ビス[4−(ジ(4−(2−ヒドロキシエチル)フェニル)スルホニオ)―フェニル]スルフィド、η5−2,4−(シクロペンタジエニル)[1,2,3,4,5,6−η−(メチルエチル)ベンゼン]−鉄(1+)等が挙げられる。   When the photocationic polymerization initiator has an onium salt structure, specific examples of the onium cation structure include diphenyliodonium, 4-methoxydiphenyliodonium, bis (4-methylphenyl) iodonium, bis (4-tert- Butylphenyl) iodonium, bis (dodecylphenyl) iodonium, triphenylsulfonium, diphenyl-4-thiophenoxyphenylsulfonium, bis [4- (diphenylsulfonio) -phenyl] sulfide, bis [4- (di (4- ( 2-hydroxyethyl) phenyl) sulfonio) -phenyl] sulfide, η5-2,4- (cyclopentadienyl) [1,2,3,4,5,6-η- (methylethyl) benzene] -iron ( 1+) and the like.

また、光カチオン重合開始剤が、オニウム塩構造のものである場合、そのアニオンとしては、ボレート、ホスフェート、アンチモネート、スルホン酸アニオン等が挙げられる。より具体的なアニオンとしては、例えば以下の(i)〜(iii)などが挙げられる。   When the photocationic polymerization initiator has an onium salt structure, examples of the anion include borate, phosphate, antimonate, and sulfonate anion. More specific anions include, for example, the following (i) to (iii).

(i)ハロゲン化錯体:例えば、テトラフルオロボレート等のボレート、ヘキサフルオロホスフェート等のホスフェート、ヘキサフルオロアンチモネート、ヘキサクロロアンチモネート等のアンチモネート。
(ii)有機酸アニオン:例えば、トリフルオロメタンスルホン酸イオン、トルエンスルホン酸イオン、トリニトロトルエンスルホン酸イオン等。
(iii)芳香族陰イオン:具体例には、テトラ(フルオロフェニル)ボレート、テトラ(ジフルオロフェニル)ボレート、テトラ(トリフルオロフェニル)ボレート、テトラ(テトラフルオロフェニル)ボレート、テトラ(ペンタフルオロフェニル)ボレート、テトラ(パーフルオロフェニル)ボレート、テトラ(トリフルオロメチルフェニル)ボレート、テトラ(ジ(トリフルオロメチル)フェニル)ボレート等。
(I) Halogenated complex: For example, borate such as tetrafluoroborate, phosphate such as hexafluorophosphate, antimonate such as hexafluoroantimonate and hexachloroantimonate.
(Ii) Organic acid anion: For example, trifluoromethanesulfonate ion, toluenesulfonate ion, trinitrotoluenesulfonate ion, and the like.
(Iii) Aromatic anions: Specific examples include tetra (fluorophenyl) borate, tetra (difluorophenyl) borate, tetra (trifluorophenyl) borate, tetra (tetrafluorophenyl) borate, tetra (pentafluorophenyl) borate Tetra (perfluorophenyl) borate, tetra (trifluoromethylphenyl) borate, tetra (di (trifluoromethyl) phenyl) borate and the like.

好ましい光カチオン重合開始剤としては、ジフェニルヨードニウムテトラフルオロボレート、トリフェニルスルホニウムヘキサフルオロアンチモネート、2,4,6−トリフェニルチオピリリウムヘキサフルオロホスフェート、4−イソブチルフェニル(4−メチルフェニル)ヨードニウム・ヘキサフルオロホスファート)等が挙げられる。   Preferred photocationic polymerization initiators include diphenyliodonium tetrafluoroborate, triphenylsulfonium hexafluoroantimonate, 2,4,6-triphenylthiopyrylium hexafluorophosphate, 4-isobutylphenyl (4-methylphenyl) iodonium, Hexafluorophosphate) and the like.

光重合開始剤は、1種のみを用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。また、光ラジカル重合開始剤と光カチオン重合開始剤とを併用してもよい。もちろん、2種以上の光ラジカル重合開始剤を用いてもよいし、2種以上の光カチオン重合開始剤を用いてもよい。
組成物中の光重合開始剤の含有量(複数種を組み合わせて用いた場合は、その合計量)は、組成物の不揮発成分の全量を基準として、例えば0.1〜15質量%、好ましくは0.3〜10質量%、より好ましくは0.5〜8質量%である。
Only one type of photopolymerization initiator may be used, or two or more types may be used in combination. Moreover, you may use together a radical photopolymerization initiator and a photocationic polymerization initiator. Of course, two or more types of photo radical polymerization initiators may be used, or two or more types of photo cationic polymerization initiators may be used.
The content of the photopolymerization initiator in the composition (when used in combination of a plurality of types) is, for example, 0.1 to 15% by mass, preferably, based on the total amount of nonvolatile components in the composition, preferably It is 0.3-10 mass%, More preferably, it is 0.5-8 mass%.

(熱硬化触媒)
熱硬化触媒を用いることで、後述する電子パッケージの製造において、時間短縮によるスループットの向上や、他の部材との密着性向上等の効果が期待できる。
熱硬化触媒としては、好ましくはイミダゾール類が用いられる。具体的には、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、2−エチル−4−エチルイミダゾール、2−フェニル−4−エチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシイミダゾール等が挙げられる。
また、熱硬化触媒としては、オニウム塩化合物も好ましい。使用可能なオニウム塩化合物は特に限定されず、例えば、テトラフェニルホスホニウム・テトラフェニルボレート(TPP−K)、テトラフェニルホスホニウム・テトラキス(4−メチルフェニル)ボレート(TPP−MK)、テトラフェニルホスホニウムのビス(ナフタレン−2,3−ジオキシ)フェニルシリケート付加物のような四級ホスホニウム系化合物等が挙げられる。
(Thermosetting catalyst)
By using the thermosetting catalyst, effects such as an improvement in throughput due to a reduction in time and an improvement in adhesion to other members can be expected in the manufacture of an electronic package described later.
As the thermosetting catalyst, imidazoles are preferably used. Specifically, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 2-ethyl-4-ethylimidazole, 2-phenyl-4-ethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxyimidazole, Examples include 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole and 2-phenyl-4,5-dihydroxyimidazole.
Moreover, an onium salt compound is also preferable as the thermosetting catalyst. Usable onium salt compounds are not particularly limited. For example, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate (TPP-K), tetraphenylphosphonium tetrakis (4-methylphenyl) borate (TPP-MK), tetraphenylphosphonium bis And quaternary phosphonium compounds such as (naphthalene-2,3-dioxy) phenylsilicate adduct.

熱硬化触媒は、1種のみを用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
組成物中の熱硬化触媒の含有量(複数種を組み合わせて用いた場合は、その合計量)は、組成物中の不揮発成分の全量を基準として、例えば0.1〜15質量%、好ましくは0.3〜10質量%、より好ましくは0.5〜8質量%である。
熱硬化触媒は、市販品を用いてもよい。例えば、四国化成工業株式会社の「キュアゾール」シリーズ等を用いることができる。
Only one type of thermosetting catalyst may be used, or two or more types may be used in combination.
The content of the thermosetting catalyst in the composition (the total amount when a plurality of types are used in combination) is, for example, 0.1 to 15% by mass, preferably based on the total amount of nonvolatile components in the composition, preferably It is 0.3-10 mass%, More preferably, it is 0.5-8 mass%.
A commercially available product may be used as the thermosetting catalyst. For example, the “Curazole” series of Shikoku Chemicals Co., Ltd. can be used.

(充填材)
光硬化性樹脂組成物は、好ましくは、充填材(フィラー)を含む。
充填材は、任意の充填材であってよく、有機充填材や無機充填材であってよい。半導体プロセスにおける耐熱性などの観点などからは、有機充填材よりも無機充填材が好ましく用いられる。
(Filler)
The photocurable resin composition preferably contains a filler (filler).
The filler may be any filler, and may be an organic filler or an inorganic filler. From the viewpoint of heat resistance in the semiconductor process, an inorganic filler is preferably used rather than an organic filler.

充填材により、領域Aおよび/または領域Bの接着力を適切に調整する(典型的には弱くする)ことができる、領域Aと領域Bの接着力の比率を適切にすることができる、等の効果が期待できる。つまり、充填材を用いることで、接着力ないし引きはがし強さを所望の値に調整・最適化しやすくなる。   By the filler, the adhesive force of the region A and / or the region B can be appropriately adjusted (typically weakened), the ratio of the adhesive force of the region A and the region B can be made appropriate, etc. Can be expected. In other words, the use of the filler makes it easy to adjust and optimize the adhesive strength or peel strength to a desired value.

充填材は特に限定されないが、たとえば、溶融シリカ、結晶シリカ等のシリカ、アルミナ、水酸化アルミニウム、窒化珪素、硫酸バリウム、タルク、窒化ホウ素および窒化アルミからなる群から選択される1種類または2種類以上の無機充填材を含むことができる。これらの中でも、シリカおよびアルミナが、入手性や、上記の接着力の調整効果の点で好ましい。   The filler is not particularly limited, but for example, one or two types selected from the group consisting of silica such as fused silica and crystalline silica, alumina, aluminum hydroxide, silicon nitride, barium sulfate, talc, boron nitride and aluminum nitride. The above inorganic fillers can be included. Among these, silica and alumina are preferable in terms of availability and the effect of adjusting the adhesive strength.

充填材の平均粒径は、特に限定されないが、例えば、レーザー回折式粒度分布計による測定値において、好ましくは0.2〜2.0μm、より好ましくは0.2〜1.0μmある。また、充填材の形状は、略真円状であることが好ましい。   Although the average particle diameter of a filler is not specifically limited, For example, in the measured value by a laser diffraction type particle size distribution meter, Preferably it is 0.2-2.0 micrometers, More preferably, it is 0.2-1.0 micrometers. Moreover, it is preferable that the shape of a filler is a substantially perfect circle shape.

充填材を用いる場合、その使用量は特に限定されないが、例えば、組成物中の不揮発成分の全量に対し、例えば10〜80質量%、好ましくは20〜70質量%、より好ましくは20〜60質量%である。   When the filler is used, the amount used is not particularly limited. For example, the amount used is, for example, 10 to 80% by mass, preferably 20 to 70% by mass, and more preferably 20 to 60% by mass with respect to the total amount of nonvolatile components in the composition. %.

(組成物の性状、溶剤など)
仮接着フィルムとする前の光硬化性樹脂組成物の性状は、特に限定されず、例えば液状やフィルム状であってよい。
光硬化性樹脂組成物が液状である場合、その光硬化性樹脂組成物は、典型的には溶剤を含む。
溶剤は、領域Aや領域Bを形成する前段階として、光硬化性樹脂組成物を適当な基材の上に塗布して膜状にする際に必要となる。なお、ここでの「適当な基材」としては、例えば、後掲の[サポート基板]の項で説明される第1の基板10などがある。
また、塗布ではなくラミネート法により仮接着フィルムを形成する場合であっても、まず、上記のエポキシ樹脂等の各成分を溶剤に溶解させて液状の組成物を調製し、その後、その組成物を基材の上に均一に塗布する際、溶剤は必要と考えられる。
(Composition properties, solvents, etc.)
The property of the photocurable resin composition before the temporary adhesive film is not particularly limited, and may be, for example, a liquid or a film.
When the photocurable resin composition is liquid, the photocurable resin composition typically contains a solvent.
The solvent is required when the photocurable resin composition is applied on a suitable substrate to form a film as a pre-stage for forming the region A and the region B. Here, examples of the “appropriate base material” include the first substrate 10 described in the section “Support substrate” described later.
In addition, even when a temporary adhesive film is formed by a laminating method instead of coating, first, a liquid composition is prepared by dissolving each component such as the epoxy resin in a solvent, and then the composition is A solvent is considered necessary for uniform application on a substrate.

溶剤としては、たとえばアセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、トルエン、酢酸エチル、シクロヘキサン、ヘプタン、シクロヘキサン、シクロヘキサノン、テトラヒドロフラン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、エチレングリコール、セルソルブ系、カルビトール系、アニソール、およびN−メチルピロリドン等の有機溶剤が挙げられる。これらを単独で用いても2種以上を組み合わせて用いてもよい。
溶剤を用いる場合、その使用量は特に限定されないが、例えば、組成物の不揮発成分の全量を基準としたときの濃度が30〜80質量%、好ましくは40〜70質量%となるように使用される。
Examples of the solvent include acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, toluene, ethyl acetate, cyclohexane, heptane, cyclohexane, cyclohexanone, tetrahydrofuran, dimethylformamide, dimethylacetamide, dimethyl sulfoxide, ethylene glycol, cellosolve, carbitol, anisole, and Organic solvents such as N-methylpyrrolidone can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more.
When the solvent is used, the amount used is not particularly limited. For example, the solvent is used so that the concentration is 30 to 80% by mass, preferably 40 to 70% by mass based on the total amount of nonvolatile components of the composition. The

第1実施形態の仮接着フィルムの厚みは、特に限定されないが、例えば1〜100μm、好ましくは3〜80μm、より好ましくは5〜50μmである。仮接着フィルムの厚みの調整は、熱硬化性樹脂組成物または光硬化性樹脂組成物の濃度を調整する、塗布方法/塗布量を調整する、熱可塑性樹脂フィルムの厚みを調製する、等により行うことができる。   Although the thickness of the temporary adhesive film of 1st Embodiment is not specifically limited, For example, 1-100 micrometers, Preferably it is 3-80 micrometers, More preferably, it is 5-50 micrometers. Adjustment of the thickness of the temporary adhesive film is performed by adjusting the concentration of the thermosetting resin composition or the photocurable resin composition, adjusting the coating method / coating amount, adjusting the thickness of the thermoplastic resin film, and the like. be able to.

第1実施形態の仮接着フィルムの大きさや形状は特に限定されないが、例えば縦50〜1000mm、横50〜1000mmの略長方形状または略正方形状である。また、直径50〜1000mmの略円形状などであってもよい。   Although the magnitude | size and shape of the temporary adhesive film of 1st Embodiment are not specifically limited, For example, they are the substantially rectangular shape or the substantially square shape of 50-1000 mm long and 50-1000 mm wide. Moreover, the substantially circular shape etc. of diameter 50-1000mm may be sufficient.

第1実施形態の仮接着フィルムにおいて、領域Aと領域Bをどこに設けるかは、特に限定されない。例えば、図3(i)のように、長方形状の仮接着フィルムにおいて、中心部の領域B(長方形状)の周りに領域Aを設けることができる。その他、領域Aと領域Bは、図3(ii)〜(v)のいずれかのように設けてもよい。もちろん、領域Aと領域Bの設け方は、これらに該当しないものであってもよい。
後述の[電子パッケージの製造方法]における切削工程のやりやすさや、その後の電子パッケージの取り出しやすさの点からは、領域Aと領域Bの境界部は直線状である(曲線状でない)ことが好ましい。
(なお、図3において、仮接着フィルム12は、後述する第1の基板10の上に設けられた態様として示されている。)
In the temporary adhesive film of the first embodiment, where the region A and the region B are provided is not particularly limited. For example, as shown in FIG. 3I, in the rectangular temporary adhesive film, the region A can be provided around the central region B (rectangular shape). In addition, the region A and the region B may be provided as shown in any of FIGS. 3 (ii) to (v). Of course, the method of providing the region A and the region B may not correspond to these.
From the viewpoint of ease of the cutting process in [Electronic package manufacturing method] to be described later and ease of taking out the electronic package thereafter, the boundary between the region A and the region B may be linear (not curved). preferable.
(In FIG. 3, the temporary adhesive film 12 is shown as an embodiment provided on the first substrate 10 described later.)

[サポート基板]
第1実施形態の電子パッケージ製造用サポート基板(単に「サポート基板」とも記載する)は、第1の基板と、その第1の基板の片面に設けられた仮接着フィルム(上記で[仮接着フィルム]として説明したもの)とを備える。
このサポート基板の一例を、模式的に図1(i)に示す。
[Support substrate]
The electronic package manufacturing support substrate (also referred to simply as “support substrate”) of the first embodiment includes a first substrate and a temporary adhesive film (referred to as “temporary adhesive film” provided on one surface of the first substrate). ).
An example of this support substrate is schematically shown in FIG.

図1(i)において、サポート基板3は、第1の基板10と、その片面に設けられた仮接着フィルム12とを備える。仮接着フィルム12には、前述のように、領域AとBが存在する。   In FIG. 1I, the support substrate 3 includes a first substrate 10 and a temporary adhesive film 12 provided on one surface thereof. The temporary adhesive film 12 has regions A and B as described above.

第1の基板10の材質、厚み、大きさ、形状等は、特に限定されないが、好ましくは以下に説明されるものである。
第1の基板10の材質としては、例えば、金属や合成樹脂等が挙げられる。後述する種々のプロセス(加熱などを含む)を考慮すると、ある程度の高温に耐えられる材質であることが好ましい。この点では、第1の基板10は金属製であることが好ましい。より好ましくは、鉄、ステンレス鋼材、銅などである。これらの中でも、ステンレスが好ましい。
また、第1の基板10の材質を合成樹脂とする場合は、熱硬化性樹脂を用いることが好ましい。例えば、フェノール樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂等が挙げられる。また、第1の基板10の材質が合成樹脂である場合、フィラーや繊維等の成分が含まれていてもよい。これら成分により強度の向上が期待できる。
The material, thickness, size, shape, and the like of the first substrate 10 are not particularly limited, but are preferably described below.
Examples of the material of the first substrate 10 include metals and synthetic resins. In consideration of various processes (including heating and the like) described later, a material that can withstand a certain high temperature is preferable. In this respect, the first substrate 10 is preferably made of metal. More preferably, iron, stainless steel, copper or the like is used. Among these, stainless steel is preferable.
Further, when the material of the first substrate 10 is a synthetic resin, it is preferable to use a thermosetting resin. For example, a phenol resin, a melamine resin, a urea resin, etc. are mentioned. Moreover, when the material of the 1st board | substrate 10 is a synthetic resin, components, such as a filler and a fiber, may be contained. These components can be expected to improve strength.

第1の基板10の厚みは、好ましくは30μm以上、より好ましくは40μm以上、さらに好ましくは50μm以上である。厚みを一定の値以上とすることで、第1の基板10が十分な強度・剛性を有することとなるため、後の工程で第1の基板10の変形が抑えられる。つまり、安定的に電子パッケージを製造することができる。
また、第1の基板10の厚みは、例えば1000μm以下、好ましくは500μm以下、より好ましくは200μm以下である。厚みを一定の値以下とすることで、第1の基板10の重量の増加が抑えられるため、ハンドリング性が向上する。
The thickness of the first substrate 10 is preferably 30 μm or more, more preferably 40 μm or more, and further preferably 50 μm or more. By setting the thickness to a certain value or more, the first substrate 10 has sufficient strength and rigidity, so that deformation of the first substrate 10 can be suppressed in a later step. That is, an electronic package can be manufactured stably.
Moreover, the thickness of the 1st board | substrate 10 is 1000 micrometers or less, for example, Preferably it is 500 micrometers or less, More preferably, it is 200 micrometers or less. By making the thickness equal to or less than a certain value, an increase in the weight of the first substrate 10 can be suppressed, so that handling properties are improved.

第1の基板10の大きさや形状は、例えば縦50〜1000mm、横50〜1000mmの略長方形状または略正方形状である。また、直径50〜1000mmの略円形状などであってもよい。
第1の基板10は、少なくともその片面(仮接着フィルム12が形成される面)が、略平坦であることが好ましい。
The size and shape of the first substrate 10 is, for example, a substantially rectangular shape or a substantially square shape with a length of 50 to 1000 mm and a width of 50 to 1000 mm. Moreover, the substantially circular shape etc. of diameter 50-1000mm may be sufficient.
The first substrate 10 preferably has at least one surface (surface on which the temporary adhesive film 12 is formed) substantially flat.

第1の基板10の片面に、仮接着フィルム12を設ける方法は、前述のとおり、塗布やラミネートによる方法が挙げられる。仮接着フィルム12に領域AとBを設ける方法も前述のとおりである。
仮接着フィルム12の厚みについても、前述のとおりである。つまり、例えば1〜100μm、好ましくは3〜80μm、より好ましくは5〜50μmである。
Examples of the method of providing the temporary adhesive film 12 on one surface of the first substrate 10 include methods by coating and laminating as described above. The method of providing the regions A and B in the temporary adhesive film 12 is also as described above.
The thickness of the temporary adhesive film 12 is also as described above. That is, for example, the thickness is 1 to 100 μm, preferably 3 to 80 μm, more preferably 5 to 50 μm.

[電子パッケージの製造方法]
第1実施形態の電子パッケージの製造方法では、上記の仮接着フィルムないしサポート基板を用いて、電子パッケージを製造することができる。
この製造方法は、仮接着工程、配置工程、封止工程、切削工程および分離工程を含むことができる。これら各工程について、図を参照しつつ説明する。
[Electronic Package Manufacturing Method]
In the electronic package manufacturing method of the first embodiment, an electronic package can be manufactured using the temporary adhesive film or the support substrate.
This manufacturing method can include a temporary bonding step, an arrangement step, a sealing step, a cutting step, and a separation step. Each of these steps will be described with reference to the drawings.

・仮接着工程(図1(ii))
仮接着工程では、上述のサポート基板3が有する仮接着フィルム12(領域AおよびBを備える)と、第2の基板14とを密着させて、第1の基板10、仮接着フィルム12および第2の基板14の少なくとも3層を備える複合基板を得る。
-Temporary bonding process (Fig. 1 (ii))
In the temporary bonding step, the temporary bonding film 12 (including the regions A and B) included in the support substrate 3 and the second substrate 14 are brought into close contact with each other, and the first substrate 10, the temporary bonding film 12, and the second substrate 14 are brought into close contact with each other. A composite substrate comprising at least three layers of the substrate 14 is obtained.

第2の基板14として具体的には、半導体ウェハ(シリコンウェハ等)、有機基板、インターポーザー基板に代表される各種パッケージ用基板などが挙げられる。第1実施形態においては、インターポーザー基板を好ましく適用することができる。
インターポーザー基板とは、典型的には、電子パッケージ内で異なる電子素子の間を電気的に接続するためのものである。このため、インターポーザー基板には、典型的には銅配線などが含まれる。
Specific examples of the second substrate 14 include a semiconductor wafer (such as a silicon wafer), an organic substrate, and various package substrates typified by an interposer substrate. In the first embodiment, an interposer substrate can be preferably applied.
The interposer substrate is typically for electrically connecting different electronic elements in the electronic package. For this reason, the interposer substrate typically includes copper wiring and the like.

近年、電子装置(パッケージ)の一層の薄型化が要求されている。そのため、インターポーザー基板についても薄型化が要求されている。インターポーザーの材質として剛性が大きいものを用いることにより、インターポーザー基板のたわみや割れを抑えることも可能であるが、近年の薄膜化の要求に対しては材質の選択・改良のみでは不十分な場合もあると考えられる。
第1実施形態の電子パッケージの製造方法によれば、第1の基板10の剛性により、第2の基板14(具体的にはインターポーザー基板)のたわみや割れが抑えられる。
また、インターポーザー基板の材質として剛性が大きいものを用いる場合、より一層インターポーザー基板を薄く設計することができる。
In recent years, there has been a demand for thinner electronic devices (packages). Therefore, the interposer substrate is also required to be thin. It is possible to suppress bending and cracking of the interposer substrate by using a material with high rigidity as the material of the interposer. However, selection and improvement of the material alone are not sufficient for the recent demand for thin film. It may be possible.
According to the electronic package manufacturing method of the first embodiment, the second substrate 14 (specifically, the interposer substrate) can be prevented from being bent or cracked due to the rigidity of the first substrate 10.
Further, when a material having high rigidity is used as the material of the interposer substrate, the interposer substrate can be designed to be thinner.

第2の基板14(インターポーザー基板等)は、位置合わせのためのアラインメントマーク(図示せず)を有することが好ましい。これにより、第1の基板10と第2の基板14との位置合わせがしやすくなる、後述する配置工程において電子素子16を適切な位置に配置しやすくなる、後述する切削工程において適切な位置を切削しやすくなる、などの効果がある。   The second substrate 14 (interposer substrate or the like) preferably has an alignment mark (not shown) for alignment. Thereby, it becomes easy to align the first substrate 10 and the second substrate 14, and it becomes easy to place the electronic element 16 in an appropriate position in an arrangement step described later, and an appropriate position in a cutting step described later. There are effects such as easy cutting.

仮接着工程の具体的方法は、特に限定されないが、例えばラミネート法を用いることができる。具体的には、第2の基板14と、仮接着フィルム12とを密着させたうえで、30〜100℃、0.1〜1MPaの条件での真空ラミネートにより接着することができる。
また、例えばラミネート工程の後に、第1の基板10、仮接着フィルム12および第2の基板14の全体を、オーブンに投入するなどして、100〜200℃で10〜120分加熱してもよい。これにより、接着性が確実となる等の効果が期待できる。
Although the specific method of a temporary adhesion process is not specifically limited, For example, the lamination method can be used. Specifically, after the second substrate 14 and the temporary adhesive film 12 are brought into close contact, they can be bonded by vacuum lamination under conditions of 30 to 100 ° C. and 0.1 to 1 MPa.
Further, for example, after the laminating step, the entire first substrate 10, temporary adhesive film 12, and second substrate 14 may be heated at 100 to 200 ° C. for 10 to 120 minutes by putting them in an oven. . Thereby, effects such as adhesion can be expected.

・配置工程(図1(iii))
配置工程では、仮接着工程で得た複合基板の、第2の基板14を備えた面を上面視したときに、領域Bと重なるようにして、複合基板における第2の基板14の上に電子素子16を配置する。
このように配置することで、後述する切削工程、分離工程等を経て切り出される電子パッケージの底面が、接着力が比較的弱い領域Bと接することとなる。よって、切削工程後に、電子パッケージを第1の基板10から分離することが容易となる。つまり、電子パッケージ製造の生産性を高めることができる(このことは、後述の切削工程および分離工程でより詳しく説明する)。
Placement process (FIG. 1 (iii))
In the arranging step, the surface of the composite substrate obtained in the temporary bonding step is overlapped with the region B when the surface including the second substrate 14 is viewed from above, and electrons are placed on the second substrate 14 in the composite substrate. The element 16 is disposed.
By arranging in this way, the bottom surface of the electronic package cut out through a cutting process, a separation process, and the like, which will be described later, comes into contact with the region B having a relatively weak adhesive force. Therefore, it becomes easy to separate the electronic package from the first substrate 10 after the cutting process. That is, the productivity of electronic package manufacturing can be increased (this will be described in more detail in the cutting step and the separation step described later).

配置工程では、複数の電子素子16を配置することが好ましい。そうすることで、電子パッケージの生産性の一層の向上が期待できる。第1実施形態の電子パッケージの製造方法において、一度に配置される電子素子16の個数は、例えば、2〜2000個、好ましくは4〜1000個である。また、複数の電子素子16の相対的な配置位置は、特に限定はされないが、典型的には略等間隔に配置される。   In the arranging step, it is preferable to arrange a plurality of electronic elements 16. By doing so, further improvement in the productivity of electronic packages can be expected. In the electronic package manufacturing method of the first embodiment, the number of electronic elements 16 disposed at a time is, for example, 2 to 2000, preferably 4 to 1000. The relative arrangement positions of the plurality of electronic elements 16 are not particularly limited, but are typically arranged at substantially equal intervals.

配置される電子素子16は、装置・電子回路などの構成要素となる個々の部品で、独立した固有の機能をもっているものであれば、特に限定されない。電子素子16の例としては、半導体チップなどがある。   The electronic element 16 to be arranged is not particularly limited as long as it is an individual component that is a component of an apparatus / electronic circuit or the like and has an independent unique function. Examples of the electronic element 16 include a semiconductor chip.

配置される電子素子16は、後の封止工程において配置位置がずれないようにするため、またはその他の目的のため、追加の適当なプロセスにより、固定や仮止め等がされてもよい。   The electronic element 16 to be arranged may be fixed or temporarily fixed by an additional appropriate process so that the arrangement position is not shifted in the subsequent sealing process or for other purposes.

例えば、第2の基板14がインターポーザー基板である場合には、そのインターポーザー基板と電子素子16とを接続するプロセスを含むことが好ましい。具体的には、いわゆるリフロー工程を行う、すなわち、第2の基板14および/または電子素子16にあらかじめ付けておいた半田を、適当な手段で(例えば基板全体を加熱することで)溶かし、第2の基板14と電子素子16とを接続する工程を行ってもよい。リフロー工程の条件は、例えば、温度250〜300℃で1〜10分である。
ここでの固定や仮止めには、リフロー工程以外に、公知のバンプ形成技術、チップ接続技術等を適用してもよい。
For example, when the second substrate 14 is an interposer substrate, it is preferable to include a process of connecting the interposer substrate and the electronic element 16. Specifically, a so-called reflow process is performed, that is, the solder previously applied to the second substrate 14 and / or the electronic element 16 is melted by an appropriate means (for example, by heating the entire substrate), The step of connecting the second substrate 14 and the electronic element 16 may be performed. The conditions for the reflow process are, for example, 1 to 10 minutes at a temperature of 250 to 300 ° C.
In addition to the reflow process, a known bump formation technique, chip connection technique, or the like may be applied to the fixing or temporary fixing here.

・封止工程(図1(iv))
封止工程では、配置工程で配置された電子素子16に対して封止用組成物を適用し、封止用組成物の硬化物(硬化物18)で電子素子16が封止された封止基板20を得る。
・ Sealing process (FIG. 1 (iv))
In the sealing process, the sealing composition is applied to the electronic element 16 arranged in the arranging process, and the electronic element 16 is sealed with a cured product (cured product 18) of the sealing composition. A substrate 20 is obtained.

封止用組成物は、電子素子16を封止可能なものであれば、特に限定されないが、例えば、熱硬化性樹脂等を含むものが好ましく挙げられる。
封止用組成物としては、公知のものを適宜適用することができる。
封止用組成物は、一態様として、以下に説明する熱硬化性樹脂(A)を好ましく含有する。また、その他、硬化剤(B)、硬化触媒(C)、無機充填材(D)等の成分を含有してもよい。以下、これら成分について説明しておく。
Although it will not specifically limit if the composition for sealing can seal the electronic element 16, For example, what contains a thermosetting resin etc. is mentioned preferably.
As the sealing composition, a known composition can be appropriately applied.
The sealing composition preferably contains a thermosetting resin (A) described below as one embodiment. In addition, components such as a curing agent (B), a curing catalyst (C), and an inorganic filler (D) may be contained. Hereinafter, these components will be described.

(熱硬化性樹脂(A))
熱硬化性樹脂(A)は、たとえばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、オキセタン樹脂、(メタ)アクリレート樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、およびマレイミド樹脂からなる群から選択される一種類または二種類以上を含むことができる。これらの中でも、硬化性、保存性、耐熱性、耐湿性、および耐薬品性を向上させる観点から、エポキシ樹脂を含むことができる。
(Thermosetting resin (A))
The thermosetting resin (A) is, for example, one or more selected from the group consisting of epoxy resins, phenol resins, oxetane resins, (meth) acrylate resins, unsaturated polyester resins, diallyl phthalate resins, and maleimide resins. Can be included. Among these, an epoxy resin can be included from the viewpoint of improving curability, storage stability, heat resistance, moisture resistance, and chemical resistance.

熱硬化性樹脂(A)に含まれるエポキシ樹脂としては、1分子内にエポキシ基を2個以上有するモノマー、オリゴマー、ポリマー全般を用いることができ、その分子量や分子構造は特に限定されない。   As the epoxy resin contained in the thermosetting resin (A), monomers, oligomers and polymers generally having two or more epoxy groups in one molecule can be used, and the molecular weight and molecular structure are not particularly limited.

エポキシ樹脂は、たとえばビフェニル型エポキシ樹脂;ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、テトラメチルビスフェノールF型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂;スチルベン型エポキシ樹脂;フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂;トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、アルキル変性トリフェノールメタン型エポキシ樹脂等に例示されるトリスフェノール型エポキシ樹脂等の多官能エポキシ樹脂;フェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂、フェニレン骨格を有するナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するナフトールアラルキル型エポキシ樹脂等のフェノールアラルキル型エポキシ樹脂;ジヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂、ジヒドロキシナフタレンの2量体をグリシジルエーテル化して得られるエポキシ樹脂等のナフトール型エポキシ樹脂;トリグリシジルイソシアヌレート、モノアリルジグリシジルイソシアヌレート等のトリアジン核含有エポキシ樹脂;ジシクロペンタジエン変性フェノール型エポキシ樹脂等の有橋環状炭化水素化合物変性フェノール型エポキシ樹脂からなる群から選択される一種類または二種類以上を含むことができる。これらのうち、ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、およびフェノールアラルキル型エポキシ樹脂から選択される一種または二種以上を含むことが、充填性、耐熱性、耐湿性等の諸特性のバランスを向上させる観点から好ましい。   Examples of the epoxy resin include a biphenyl type epoxy resin; a bisphenol type epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, and a tetramethylbisphenol F type epoxy resin; a stilbene type epoxy resin; a phenol novolac type epoxy resin, and a cresol novolak type. Novolak type epoxy resins such as epoxy resins; polyfunctional epoxy resins such as trisphenol type epoxy resins exemplified by triphenolmethane type epoxy resins and alkyl-modified triphenolmethane type epoxy resins; phenol aralkyl type epoxy resins having a phenylene skeleton , Naphthol aralkyl epoxy resin having phenylene skeleton, phenol aralkyl epoxy resin having biphenylene skeleton, biphenylene skeleton Phenolic aralkyl type epoxy resins such as phthalol aralkyl type epoxy resins; Dihydroxynaphthalene type epoxy resins, naphthol type epoxy resins such as epoxy resins obtained by dimerizing dihydroxynaphthalene to glycidyl ether; Triglycidyl isocyanurate, monoallyldi One or two or more types selected from the group consisting of triazine nucleus-containing epoxy resins such as glycidyl isocyanurate; bridged cyclic hydrocarbon compound-modified phenolic epoxy resins such as dicyclopentadiene-modified phenolic epoxy resins can be included. . Among these, the inclusion of one or more selected from a novolac type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, and a phenol aralkyl type epoxy resin improves the balance of various properties such as fillability, heat resistance, and moisture resistance. From the viewpoint of making it.

熱硬化性樹脂(A)の含有量は、封止用組成物の全体に対して好ましくは2〜50質量%、より好ましくは3〜30質量%、更に好ましくは4〜15質量%である。適切な含有量とすることで、充填性や成形安定性の向上、耐湿信頼性や耐リフロー性の向上などが期待できる。   The content of the thermosetting resin (A) is preferably 2 to 50% by mass, more preferably 3 to 30% by mass, and still more preferably 4 to 15% by mass with respect to the whole sealing composition. By setting it to an appropriate content, improvement in filling property and molding stability, improvement in moisture resistance reliability and reflow resistance can be expected.

(硬化剤(B))
封止用組成物は、硬化剤(B)を含むことが好ましい。硬化剤(B)は、例えば、重付加型の硬化剤、触媒型の硬化剤、および縮合型の硬化剤の3タイプに大別することができる。
(Curing agent (B))
It is preferable that the composition for sealing contains a hardening | curing agent (B). The curing agent (B) can be roughly classified into three types, for example, a polyaddition type curing agent, a catalyst type curing agent, and a condensation type curing agent.

重付加型の硬化剤は、たとえばジエチレントリアミン(DETA)、トリエチレンテトラミン(TETA)、メタキシレリレンジアミン(MXDA)などの脂肪族ポリアミン、ジアミノジフェニルメタン(DDM)、m−フェニレンジアミン(MPDA)、ジアミノジフェニルスルホン(DDS)などの芳香族ポリアミンのほか、ジシアンジアミド(DICY)、有機酸ジヒドラジドなどを含むポリアミン化合物;ヘキサヒドロ無水フタル酸(HHPA)、メチルテトラヒドロ無水フタル酸(MTHPA)などの脂環族酸無水物、無水トリメリット酸(TMA)、無水ピロメリット酸(PMDA)、ベンゾフェノンテトラカルボン酸(BTDA)などの芳香族酸無水物などを含む酸無水物;ノボラック型フェノール樹脂、ポリビニルフェノール、アラルキル型フェノール樹脂などのフェノール樹脂系硬化剤;ポリサルファイド、チオエステル、チオエーテルなどのポリメルカプタン化合物;イソシアネートプレポリマー、ブロック化イソシアネートなどのイソシアネート化合物;カルボン酸含有ポリエステル樹脂などの有機酸類からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。   Examples of polyaddition type curing agents include aliphatic polyamines such as diethylenetriamine (DETA), triethylenetetramine (TETA), and metaxylylene diamine (MXDA), diaminodiphenylmethane (DDM), m-phenylenediamine (MPDA), and diamino. In addition to aromatic polyamines such as diphenylsulfone (DDS), polyamine compounds including dicyandiamide (DICY), organic acid dihydrazide, and the like; alicyclic acid anhydrides such as hexahydrophthalic anhydride (HHPA) and methyltetrahydrophthalic anhydride (MTHPA) , Acid anhydrides including aromatic acid anhydrides such as trimellitic anhydride (TMA), pyromellitic anhydride (PMDA), and benzophenone tetracarboxylic acid (BTDA); novolac-type phenolic resin, polyvinyl phenol Selected from the group consisting of phenolic resin-based curing agents such as aralkyl-type phenolic resins; polymercaptan compounds such as polysulfides, thioesters and thioethers; isocyanate compounds such as isocyanate prepolymers and blocked isocyanates; organic acids such as carboxylic acid-containing polyester resins Including one or more types.

触媒型の硬化剤は、たとえばベンジルジメチルアミン(BDMA)、2,4,6−トリスジメチルアミノメチルフェノール(DMP−30)などの3級アミン化合物;2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール(EMI24)などのイミダゾール化合物;BF3錯体などのルイス酸からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。   Catalytic curing agents include tertiary amine compounds such as benzyldimethylamine (BDMA) and 2,4,6-trisdimethylaminomethylphenol (DMP-30); 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methyl Imidazole compounds such as imidazole (EMI24); one or more selected from the group consisting of Lewis acids such as BF3 complexes.

縮合型の硬化剤は、たとえばレゾール型フェノール樹脂;メチロール基含有尿素樹脂などの尿素樹脂;メチロール基含有メラミン樹脂などのメラミン樹脂からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。   The condensation type curing agent includes, for example, one type or two or more types selected from the group consisting of a resol type phenol resin; a urea resin such as a methylol group-containing urea resin; and a melamine resin such as a methylol group-containing melamine resin.

これらの中でも、耐燃性、耐湿性、電気特性、硬化性、および保存安定性等についてのバランスを向上させる観点から、フェノール樹脂系硬化剤を含むことがより好ましい。フェノール樹脂系硬化剤としては、一分子内にフェノール性水酸基を2個以上有するモノマー、オリゴマー、ポリマー全般を用いることができ、その分子量、分子構造は特に限定されない。   Among these, it is more preferable to include a phenol resin-based curing agent from the viewpoint of improving the balance of flame resistance, moisture resistance, electrical characteristics, curability, storage stability, and the like. As the phenol resin-based curing agent, monomers, oligomers, and polymers in general having two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule can be used, and the molecular weight and molecular structure are not particularly limited.

硬化剤(B)として用いられるフェノール樹脂系硬化剤は、たとえばフェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールノボラック等のノボラック型フェノール樹脂;ポリビニルフェノール;トリフェノールメタン型フェノール樹脂等の多官能型フェノール樹脂;テルペン変性フェノール樹脂、ジシクロペンタジエン変性フェノール樹脂等の変性フェノール樹脂;フェニレン骨格及び/又はビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル樹脂、フェニレン及び/又はビフェニレン骨格を有するナフトールアラルキル樹脂等のフェノールアラルキル型フェノール樹脂;ビスフェノールA、ビスフェノールF等のビスフェノール化合物からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。これらの中でも、封止用組成物の硬化性を向上させる観点からは、ノボラック型フェノール樹脂、およびフェノールアラルキル型フェノール樹脂のうちの少なくとも一方を含むことがより好ましい。   The phenol resin-based curing agent used as the curing agent (B) is, for example, a novolac type phenol resin such as a phenol novolak resin, a cresol novolac resin, or a bisphenol novolac; a polyvinyl phenol; a polyfunctional phenol resin such as a triphenolmethane type phenol resin; Modified phenol resins such as terpene-modified phenol resin and dicyclopentadiene-modified phenol resin; phenol aralkyl resins having a phenylene skeleton and / or biphenylene skeleton, phenol aralkyl type phenol resins such as naphthol aralkyl resin having phenylene and / or biphenylene skeleton; bisphenol One type or two or more types selected from the group consisting of bisphenol compounds such as A and bisphenol F are included. Among these, it is more preferable that at least one of a novolac type phenol resin and a phenol aralkyl type phenol resin is included from the viewpoint of improving the curability of the sealing composition.

硬化剤(B)の含有量は、封止用組成物全体に対して1〜40質量%であることが好ましく、2〜25質量%であることがより好ましく、3〜10質量%であることが更に好ましい。硬化剤(B)の含有量を適切に調整することで、充填性や成形性の向上、耐湿信頼性や耐リフロー性の向上などが期待できる。   It is preferable that content of a hardening | curing agent (B) is 1-40 mass% with respect to the whole composition for sealing, It is more preferable that it is 2-25 mass%, It is 3-10 mass% Is more preferable. By appropriately adjusting the content of the curing agent (B), improvement in filling property and moldability, improvement in moisture resistance reliability and reflow resistance can be expected.

(硬化触媒(C))
封止用組成物は、硬化触媒(C)をさらに含んでもよい。硬化触媒(C)は、熱硬化性樹脂(A)(たとえば、エポキシ樹脂のエポキシ基)と、硬化剤(B)(たとえば、フェノール樹脂系硬化剤のフェノール性水酸基)と、の架橋反応を促進させるものであればよく、公知の封止用組成物に使用するものを用いることができる。
(Curing catalyst (C))
The composition for sealing may further contain a curing catalyst (C). The curing catalyst (C) promotes a crosslinking reaction between the thermosetting resin (A) (for example, epoxy group of epoxy resin) and the curing agent (B) (for example, phenolic hydroxyl group of phenol resin-based curing agent). What is necessary is just to be made, and what is used for a well-known sealing composition can be used.

硬化触媒(C)は、たとえば有機ホスフィン、テトラ置換ホスホニウム化合物、ホスホベタイン化合物、ホスフィン化合物とキノン化合物との付加物、ホスホニウム化合物とシラン化合物との付加物等のリン原子含有化合物、イミダゾール化合物、トリアジン系化合物のイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデセン等のアミン系硬化促進剤から選択される一種または二種以上を含むことができる。これらの中でも、バリの抑制や充填性、硬化性のバランスを向上させる観点からは、リン原子含有化合物およびイミダゾール化合物から選択される一種または二種以上を含むことがより好ましい。また、硬化性を向上させる観点からはリン原子含有化合物を含むことがより好ましい。   Curing catalysts (C) are, for example, organic phosphines, tetra-substituted phosphonium compounds, phosphobetaine compounds, adducts of phosphine compounds and quinone compounds, phosphorus atom-containing compounds such as adducts of phosphonium compounds and silane compounds, imidazole compounds, triazines An isocyanuric acid adduct of 2-phenylimidazole, an isocyanuric acid adduct of 2-phenylimidazole, an isocyanuric acid adduct of 2-methylimidazole, and an amine curing accelerator such as 1,8-diazabicyclo [5.4.0] undecene 1 type or 2 types or more can be included. Among these, from the viewpoint of improving the balance of burr suppression, filling properties, and curability, it is more preferable to include one or more selected from phosphorus atom-containing compounds and imidazole compounds. Moreover, it is more preferable that a phosphorus atom containing compound is included from a viewpoint of improving sclerosis | hardenability.

硬化触媒(C)の含有量は、封止用組成物全体に対して0.05〜2.0質量%であることが好ましく、0.1〜1.0質量%であることがより好ましく、0.15〜0.5質量%であることが更に好ましい。硬化触媒(C)の含有量を適切に調整することで、硬化性の向上や、流動性の向上による充填性の向上などが期待できる。   The content of the curing catalyst (C) is preferably 0.05 to 2.0% by mass, more preferably 0.1 to 1.0% by mass with respect to the entire sealing composition, More preferably, it is 0.15-0.5 mass%. By appropriately adjusting the content of the curing catalyst (C), an improvement in curability and an improvement in filling property due to an improvement in fluidity can be expected.

(無機充填材(D))
封止用組成物は、無機充填材(D)(フィラー)を含んでもよい。無機充填材(D)は、たとえば溶融シリカ、結晶シリカ等のシリカ、アルミナ、水酸化アルミニウム、窒化珪素、および窒化アルミからなる群から選択される一種類または二種類以上を含むことができる。これらの中でも、汎用性の観点から、シリカを含むことが好ましく、溶融シリカを含むことがより好ましい。また、封止用組成物を用いて形成される封止樹脂の難燃性を向上させる観点からは、水酸化アルミニウムを含むことがより好ましい。とりわけシリカと水酸化アルミニウムをともに含む場合を、好ましい例として挙げることができる。
(Inorganic filler (D))
The composition for sealing may contain an inorganic filler (D) (filler). The inorganic filler (D) can include one or more selected from the group consisting of silica such as fused silica and crystalline silica, alumina, aluminum hydroxide, silicon nitride, and aluminum nitride. Among these, it is preferable that a silica is included from a versatility viewpoint, and it is more preferable that a fused silica is included. Moreover, it is more preferable that aluminum hydroxide is included from a viewpoint of improving the flame retardance of sealing resin formed using the composition for sealing. In particular, a case where both silica and aluminum hydroxide are contained can be mentioned as a preferred example.

無機充填材(D)の含有量は、封止用組成物全体に対して60〜90質量%であることが好ましく、70〜85質量%であることがより好ましい。含有量を適切に調整することにより、耐湿信頼性や耐リフロー性の向上、充填性の向上などが期待できる。   The content of the inorganic filler (D) is preferably 60 to 90% by mass, and more preferably 70 to 85% by mass with respect to the entire sealing composition. By appropriately adjusting the content, improvement in moisture resistance reliability, reflow resistance, and improvement in filling properties can be expected.

(その他の成分)
封止用組成物は、必要に応じて、たとえばカップリング剤、離型性付与剤、着色剤、イオン捕捉剤、オイル、低応力剤、難燃剤および酸化防止剤等の各種添加剤のうち1種以上を適宜配合することができる。
(Other ingredients)
The sealing composition may be one of various additives such as a coupling agent, a release agent, a colorant, an ion scavenger, an oil, a low stress agent, a flame retardant, and an antioxidant, if necessary. More than one species can be appropriately blended.

カップリング剤は、たとえば各種シラン系化合物、チタン系化合物、アルミニウムキレート類、アルミニウム/ジルコニウム系化合物等の公知のカップリング剤を含んでもよい。これらの中でも、エポキシシランまたはアミノシランがより好ましく、2級アミノシランが更に好ましい。
離型性付与剤は、たとえばカルナバワックス等の天然ワックス、モンタン酸エステルワックスや酸化ポリエチレンワックス等の合成ワックス、ステアリン酸亜鉛等の高級脂肪酸およびその金属塩類、ならびにパラフィンから選択される一種類または二種類以上を含んでもよい。
着色剤は、たとえばカーボンブラックおよび黒色酸化チタンのうちのいずれか一方または双方を含んでもよい。
イオン捕捉剤は、たとえばハイドロタルサイトを含んでもよい。
オイルは、たとえばシリコーンオイルを含んでもよい。
低応力剤は、たとえばシリコーンゴムを含んでもよい。
難燃剤は、たとえば水酸化マグネシウム、ホウ酸亜鉛、モリブデン酸亜鉛、およびホスファゼンから選択される一種類または二種類以上を含んでもよい。
酸化防止剤は、フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤およびチオエーテル系酸化防止剤から選択される一種類または二種類以上を含んでもよい。
The coupling agent may include known coupling agents such as various silane compounds, titanium compounds, aluminum chelates, and aluminum / zirconium compounds. Among these, epoxy silane or aminosilane is more preferable, and secondary aminosilane is more preferable.
The releasability-imparting agent is, for example, one or two selected from natural waxes such as carnauba wax, synthetic waxes such as montanic acid ester wax and oxidized polyethylene wax, higher fatty acids such as zinc stearate and metal salts thereof, and paraffin. More than one type may be included.
The colorant may contain, for example, one or both of carbon black and black titanium oxide.
The ion scavenger may include, for example, hydrotalcite.
The oil may include, for example, silicone oil.
The low stress agent may include, for example, silicone rubber.
The flame retardant may include one or more selected from, for example, magnesium hydroxide, zinc borate, zinc molybdate, and phosphazene.
The antioxidant may include one kind or two or more kinds selected from a phenol-based antioxidant, a phosphorus-based antioxidant, and a thioether-based antioxidant.

(封止用組成物の性状)
封止用組成物の性状は、顆粒状、液体状、フィルム状(適当な支持体の上に膜状に形成されたもの)等であってよい。封止用組成物は、典型的には顆粒状である。
(Properties of sealing composition)
The properties of the sealing composition may be in the form of granules, liquid, film (formed in a film on an appropriate support), and the like. The sealing composition is typically granular.

封止工程は、例えば以下のように行うことができる。
まず、封止用組成物(典型的には、上記に説明した成分を含む顆粒状の封止用組成物)を、配置された電子素子16が十分に埋もれる程度の量、第2の基板14の上、すなわち配置された電子素子16の上面および側面に適用する。この際、配置された電子素子16の位置がずれないように留意する。
次に、圧縮成形等の方法により、封止成形を行う。これにより、硬化物18により電子素子16が封止された封止基板20が得られる。圧縮成形は、たとえば120〜180℃の温度で行うことができる。
また、封止用組成物を確実に硬化させるため、圧縮成形の後、更に加熱工程を行うことが好ましい。この加熱は、例えば、オーブンを用いて、温度120〜250℃で、1〜10時間程度とすることができる。
もちろん、封止工程は、上記以外のやり方により行ってもよい。例えば、封止用組成物として、顆粒状のものではなく、流動性のあるペースト状のものを用いるなどしてもよい。
A sealing process can be performed as follows, for example.
First, the sealing substrate (typically, the granular sealing composition containing the components described above) is added in an amount sufficient to bury the arranged electronic elements 16 in the second substrate 14. This is applied to the upper surface and the side surface of the arranged electronic element 16. At this time, attention should be paid so that the positions of the arranged electronic elements 16 do not shift.
Next, sealing molding is performed by a method such as compression molding. Thereby, the sealing substrate 20 in which the electronic element 16 is sealed with the cured product 18 is obtained. The compression molding can be performed at a temperature of 120 to 180 ° C., for example.
Moreover, in order to harden the composition for sealing reliably, it is preferable to perform a heating process after compression molding. This heating can be performed at a temperature of 120 to 250 ° C. for about 1 to 10 hours using an oven, for example.
Of course, you may perform a sealing process by methods other than the above. For example, as a sealing composition, a fluid paste may be used instead of granules.

・切削工程および分離工程(図2)
上述の封止基板20の少なくとも一部を切削する切削工程と、サポート基板3と第2の基板14とを分離する分離工程とにより、電子素子16が硬化物18で封止された構造物(電子パッケージ)を得ることができる。
・ Cutting process and separation process (Fig. 2)
A structure in which the electronic element 16 is sealed with the cured product 18 by the cutting step of cutting at least a part of the sealing substrate 20 and the separation step of separating the support substrate 3 and the second substrate 14 ( Electronic package).

切削の一例として、封止基板20における硬化物18がある面を上面として、電子素子16が存在する部分を切り出す(図2(v−1))。これにより、封止基板20から、電子パッケージを分離することができる。
ここでの切削は、例えば、少なくとも硬化物18の上面から第2の基板14の部分までの深さで行う(図2(v−1)は、このように切削した場合を模式的に示している)。もちろん、切削の深さは「硬化物18の上面から第2の基板14の部分まで」に限定されるものではない。硬化物18の上面から第1の基板10まで(上から下まで)を切削してもよい。
As an example of cutting, a portion where the electronic element 16 is present is cut out with the surface of the sealing substrate 20 on which the cured product 18 is present as an upper surface (FIG. 2 (v-1)). Thereby, the electronic package can be separated from the sealing substrate 20.
The cutting here is performed, for example, at least at a depth from the upper surface of the cured product 18 to the portion of the second substrate 14 (FIG. 2 (v-1) schematically shows the case of cutting in this way. ) Of course, the depth of cutting is not limited to “from the upper surface of the cured product 18 to the portion of the second substrate 14”. You may cut from the upper surface of the hardened | cured material 18 to the 1st board | substrate 10 (from the top to the bottom).

封止基板20の切削位置(ブレードを入れる位置)は、特に限定されず、電子パッケージを得られる限りにおいて任意の位置であってよい。ただし、好ましくは、封止基板20における硬化物18がある面を上面として、封止基板20を上面視したときに領域Bに相当する部分(特に、領域Bにおける、領域Aとの境界に近い部分)を切削する。このようにすることで、切削工程後に分離する電子パッケージの底面(第2の基板14の、仮接着フィルム12と接している部分)が、接着力が比較的小さい領域Bにのみ接することとなる。つまり、電子パッケージの分離がより容易となるというメリットがある。   The cutting position (position where the blade is inserted) of the sealing substrate 20 is not particularly limited, and may be any position as long as an electronic package can be obtained. However, preferably, a portion corresponding to the region B when the sealing substrate 20 is viewed from above with the surface on which the cured product 18 of the sealing substrate 20 is present as an upper surface (particularly close to the boundary with the region A in the region B). Cut part). By doing in this way, the bottom face of the electronic package to be separated after the cutting process (the portion of the second substrate 14 that is in contact with the temporary adhesive film 12) is in contact only with the region B having a relatively low adhesive force. . That is, there is an advantage that the electronic package can be separated more easily.

一方で、切削後電子パッケージがある程度強く仮接着された状態を所望する場合には、必ずしも上記のように切削する必要は無い。念のために述べておくが、第1実施形態において、領域Aに相当する部分を切削してはいけないということはない。
なお、切削は、通常は電子素子16を傷つけないように行われる。
On the other hand, when it is desired that the electronic package is temporarily bonded to a certain extent after cutting, it is not always necessary to perform cutting as described above. As a precaution, the portion corresponding to the region A should not be cut in the first embodiment.
The cutting is usually performed so as not to damage the electronic element 16.

切削および分離に際し、領域Bの接着力が領域Aの接着力よりも小さい(具体的には、0.1≦(x/x)≦0.5である)ことにより、電子パッケージの分離が容易であるというメリットがある。
また、xがゼロではない(領域Bは、領域Aよりは弱いものの、ある程度の接着力を有する)ことにより、切り出された電子パッケージが、切削力により意図しない方向に「飛んでいく」などの不具合が起こりにくい。
When cutting and separating, the adhesive force of the region B is smaller than the adhesive force of the region A (specifically, 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5), thereby separating the electronic package. There is an advantage that is easy.
Further, the x B not zero (region B, although weaker than the region A, some having adhesive force) by electrons package cut out, "fly" in an unintended direction by a cutting force such It is hard to happen.

さらに、第2の基板に仮接着フィルムの残渣が付着しにくいという追加的なメリットも考えられる。このことは、電子パッケージの歩留まり向上などの点で重要と考えられる。
特に、第1実施形態では、領域Bの、銅箔に対する接着力が比較的弱い。このことにより、第2の基板14としてインターポーザー基板(典型的には銅配線などの銅部材を含む)を用いた場合であっても、仮接着フィルムの残渣が付着しにくい傾向にある。この効果は、特に、xが0.01〜0.3[kN/m]であるときに顕著であると考えられる。
Furthermore, an additional merit that the residue of the temporary adhesive film hardly adheres to the second substrate can be considered. This is considered important in terms of improving the yield of electronic packages.
In particular, in 1st Embodiment, the adhesive force with respect to copper foil of the area | region B is comparatively weak. Accordingly, even when an interposer substrate (typically including a copper member such as a copper wiring) is used as the second substrate 14, the residue of the temporary adhesive film tends not to adhere. This effect is particularly considered to be remarkable when x B is 0.01~0.3 [kN / m].

一方、領域Aの部分の接着力は比較的大きいことにより、切削工程や前述の各工程において、サポート基板3が剥がれる等の不具合が起こりにくい。
特に、領域Aは、加熱後でもある程度大きな接着力を有するから、前述のリフロー工程などを行ったとしても、第1の基板10と第2の基板14との接着を維持することができると考えられる。
On the other hand, since the adhesive strength of the region A is relatively large, problems such as peeling of the support substrate 3 are unlikely to occur in the cutting process and the above-described processes.
In particular, since the region A has a certain amount of adhesive strength even after heating, it is considered that the adhesion between the first substrate 10 and the second substrate 14 can be maintained even if the above-described reflow process is performed. It is done.

また、上記の一連の工程により、複数の電子素子16に一括して第2の基板14(インターポーザー基板等)を接合させることができたり、複数の電子素子16を一括して封止したりすることができる。
さらに、切削において、第1の基板10があることにより、封止基板20全体が安定する。
Further, through the above-described series of steps, the second substrate 14 (interposer substrate or the like) can be bonded to the plurality of electronic elements 16 at once, or the plurality of electronic elements 16 can be collectively sealed. can do.
Furthermore, in the cutting, the presence of the first substrate 10 stabilizes the entire sealing substrate 20.

つまり、第1実施形態の仮接着フィルムないしサポート基板を用いて、上記の工程により電子パッケージを製造することで、電子パッケージの製造を効率化することができる。   That is, by using the temporary adhesive film or the support substrate according to the first embodiment to manufacture an electronic package by the above-described process, the electronic package can be manufactured efficiently.

上記とは別の切削の例として、封止基板20における、第1の基板10の面を上面として、その上面側から切削し、その後、封止基板20の一部である、第1の基板10および仮接着フィルム12(サポート基板3の一部)を分離してもよい(図2(v−2))。
この切削は、例えば、少なくとも第1の基板10の上面から仮接着フィルム12の部分の深さまで行う。もちろん、切削の深さは「第1の基板10の上面から仮接着フィルム12の部分まで」に限定されるものではない。第1の基板10の上面から硬化物18まで(上から下まで)を切削するようにしてもよい。
As an example of cutting different from the above, the first substrate which is a part of the sealing substrate 20 after cutting from the upper surface side with the surface of the first substrate 10 in the sealing substrate 20 as the upper surface. 10 and the temporary adhesive film 12 (a part of the support substrate 3) may be separated (FIG. 2 (v-2)).
This cutting is performed, for example, at least from the upper surface of the first substrate 10 to the depth of the temporary adhesive film 12 portion. Of course, the depth of cutting is not limited to “from the upper surface of the first substrate 10 to the portion of the temporary adhesive film 12”. You may make it cut from the upper surface of the 1st board | substrate 10 to the hardened | cured material 18 (from the top to the bottom).

この場合も、封止基板20の切削位置(ブレードを入れる位置)は、特に限定されず、電子パッケージを得られる限りにおいて任意の位置であってよい。ただし、好ましくは、封止基板20における第1の基板10がある面を上面として、封止基板20を上面視したときに領域Bに相当する部分(特に、領域Bにおける、領域Aとの境界に近い部分)を切削する。このようにすることで、切削工程後に分離するサポート基板3の、第2の基板14と接する部分が、接着力が比較的小さい領域Bにのみとなる。つまり、電子パッケージとサポート基板との分離がより容易となるというメリットがある。   Also in this case, the cutting position (position where the blade is inserted) of the sealing substrate 20 is not particularly limited, and may be any position as long as an electronic package can be obtained. However, preferably, a portion corresponding to the region B when the surface of the sealing substrate 20 is viewed from above with the surface of the sealing substrate 20 where the first substrate 10 is provided as the upper surface (particularly, the boundary between the region B and the region A). Cut the part close to. By doing in this way, the part which touches the 2nd board | substrate 14 of the support substrate 3 isolate | separated after a cutting process becomes only the area | region B with comparatively small adhesive force. That is, there is an advantage that the electronic package and the support substrate can be more easily separated.

一方で、切削後電子パッケージがある程度強く仮接着された状態を所望する場合には、必ずしも上記のように切削する必要は無い。念のために述べておくが、第1実施形態において、領域Aに相当する部分を切削してはいけないということはない。
なお、切削は、通常は電子素子16を傷つけないように行われる。
On the other hand, when it is desired that the electronic package is temporarily bonded to a certain extent after cutting, it is not always necessary to perform cutting as described above. As a precaution, the portion corresponding to the region A should not be cut in the first embodiment.
The cutting is usually performed so as not to damage the electronic element 16.

図2(v−2)のように切削する場合も、領域Aと領域Bがあることにより、分離が容易である、各工程でサポート基板3が剥がれにくい、複数の電子素子16に一括して第2の基板14(インターポーザー基板等)を接合できる、複数の電子素子16を一括して封止できる、等のメリットが得られる。   Even in the case of cutting as shown in FIG. 2 (v-2), due to the presence of the region A and the region B, separation is easy, and the support substrate 3 is difficult to peel off at each step, and the electronic devices 16 are collectively collected. Advantages such as being able to bond the second substrate 14 (interposer substrate or the like) and sealing a plurality of electronic elements 16 at a time are obtained.

切削には、公知の切削技術を適宜適用できる。具体的には、公知のダイシングソーを用いた切削、すなわち、ダイシングブレード(ダイヤモンド製の円形回転刃が慣用される)を高速回転させ、純水等で冷却・切削屑の洗い流しを行いながら切断する方法、レーザーダイシングによる方法、これら方法の組み合わせ、等の方法を適用できる。   A known cutting technique can be appropriately applied to the cutting. Specifically, cutting using a known dicing saw, that is, a dicing blade (a diamond circular rotary blade is commonly used) is rotated at a high speed and cut while being cooled with pure water or the like and washed away with cutting waste. A method such as a method, a method by laser dicing, or a combination of these methods can be applied.

切削により分離された電子パッケージ(複数の電子素子16を含む)を、さらに切削するなどすれば、1つ1つの電子素子16が封止された電子パッケージが得られる。   If the electronic package (including the plurality of electronic elements 16) separated by cutting is further cut, an electronic package in which each electronic element 16 is sealed is obtained.

なお、上記では、複数個の電子素子16を含む電子パッケージを切り出す例(2例)について説明したが、当然、1つ1つの電子素子16が切り出されるように切削する態様も、切削工程に含まれる。   In addition, although the example (2 examples) which cuts out the electronic package containing the some electronic element 16 was demonstrated above, naturally the aspect cut | disconnected so that each electronic element 16 may be cut out is also included in a cutting process. It is.

繰返しとなるが、第1実施形態は、1つ1つの電子パッケージそれぞれを封止用組成物で覆い、加熱して封止するという煩雑な工程ではなく、それより単純な工程により最終的な電子パッケージを得られるなどの点で、生産性向上のメリットがある。   To repeat, the first embodiment is not a complicated process of covering each individual electronic package with a sealing composition and then heating and sealing it, but the simpler process makes the final electronic There is a merit of productivity improvement in terms of obtaining a package.

<第2実施形態>
[仮接着フィルム]
第2実施形態の仮接着フィルムは、電子装置の製造に用いられる。
この仮接着フィルムは、露光により接着力が低下する性質を有する。
また、未露光の仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第1複合膜における銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]とし、
2000mJ/cmのi線で露光した仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第2複合膜における銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]としたとき、
0.1≦(y/y)≦0.5の関係が成り立つ。
<Second Embodiment>
[Temporary adhesive film]
The temporary adhesive film of 2nd Embodiment is used for manufacture of an electronic device.
This temporary adhesive film has a property that the adhesive strength is reduced by exposure.
In addition, an unexposed temporary adhesive film and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm were thermocompression bonded under the conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and then heated at 150 ° C. for 1 hour. The peel strength of the copper foil in the first composite film adhered in this manner is y A [kN / m],
After heat-bonding a temporary adhesive film exposed with i-line of 2000 mJ / cm 2 and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm under the conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, 150 When the peel strength of the copper foil in the second composite film adhered by heating at 0 ° C. for 1 hour is y B [kN / m],
The relationship of 0.1 ≦ (y B / y A ) ≦ 0.5 is established.

なお、y/yの値は、0.1〜0.5であればよいが、好ましくは0.15〜0.45、より好ましくは0.2〜0.4である。
また、yの値は特に限定されないが、好ましくは0.01〜0.3[kN/m]、より好ましくは0.05〜0.27[kN/m]、さらに好ましくは0.15〜0.25[kN/m]である。
およびyの測定の具体的方法は、第1実施形態におけるxおよびxの測定の具体的方法と同様である。詳細は後述の実施例を参照されたい。
The value of y B / y A is may be a 0.1 to 0.5, preferably 0.15 to 0.45, more preferably 0.2 to 0.4.
Further, the value of y B is not particularly limited, preferably 0.01~0.3 [kN / m], more preferably 0.05~0.27 [kN / m], more preferably 0.15 to It is 0.25 [kN / m].
The specific method for measuring y A and y B is the same as the specific method for measuring x A and x B in the first embodiment. For details, refer to Examples described later.

第2実施形態の仮接着フィルムは、上述の第1実施形態の(II)のような、光硬化性樹脂組成物で膜を形成し、その膜の一部に光照射することで領域Aと領域Bを設けた仮接着フィルムの、「前段階」のフィルムであると言える。
つまり、第2実施形態の仮接着フィルムの一部に、2000mJ/cm程度のi線を照射するなどして、照射部分の接着力を低下させ、第1実施形態における「領域A」と「領域B」を設けることができる。
The temporary adhesive film of 2nd Embodiment forms a film | membrane with a photocurable resin composition like (II) of the above-mentioned 1st Embodiment, and light-irradiates a part of the film | membrane, and the area | region A and It can be said that it is a “previous stage” film of the temporary adhesive film provided with the region B.
That is, by irradiating a part of the temporary adhesive film of the second embodiment with i-rays of about 2000 mJ / cm 2 , the adhesive strength of the irradiated portion is reduced, and the “region A” and “ Region B "can be provided.

このような、「領域A」と「領域B」が設けられた仮接着フィルムの利点(得られる効果)については、第1実施形態で説明済である。よって、改めての説明は省略する。   Such advantages (obtained effects) of the temporary adhesive film provided with “region A” and “region B” have been described in the first embodiment. Therefore, a renewed description is omitted.

また、第2実施形態の仮接着フィルムの原材料については、第1実施形態の仮接着フィルムにおいて説明した光硬化性樹脂組成物と同様のものを挙げることができる。
つまり、第2実施形態の仮接着フィルムは、好ましくは、エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物からなる群より選択される少なくとも1種の重合性化合物と、光重合開始剤と、場合によりその他任意成分(例えば充填材、好ましくは無機充填材)とを含む光硬化性樹脂組成物を用いて得ることができる。
光硬化性樹脂組成物の詳細についても、改めての説明は省略する。
Moreover, about the raw material of the temporary adhesive film of 2nd Embodiment, the thing similar to the photocurable resin composition demonstrated in the temporary adhesive film of 1st Embodiment can be mentioned.
That is, the temporary adhesive film of the second embodiment is preferably at least one polymerizable compound selected from the group consisting of an epoxy compound and a polymerizable (meth) acrylate compound, a photopolymerization initiator, and optionally other It can be obtained using a photocurable resin composition containing an optional component (for example, a filler, preferably an inorganic filler).
The details of the photocurable resin composition will not be described again.

第2実施形態の仮接着フィルム特有のメリットとして、接着力を「調整可能」であるという点がある。
第1実施形態の仮接着フィルムにおいては、x/xは基本的に一定値である。一方、第2実施形態の仮接着フィルムにおいては、領域Bを設ける際の露光量を調整することで、接着力を調整することができる。このことは、例えば、1種の仮接着フィルムを、多種多様な電子パッケージの製造に適用しうること(電子パッケージの変更に伴って、新たな仮接着フィルムを一から準備しなくてもよいこと)を意味する。
As a merit unique to the temporary adhesive film of the second embodiment, there is a point that the adhesive force is “adjustable”.
In the temporary adhesive film of the first embodiment, x B / x A is basically a constant value. On the other hand, in the temporary adhesive film of 2nd Embodiment, adhesive force can be adjusted by adjusting the exposure amount at the time of providing the area | region B. FIG. This means that, for example, one kind of temporary adhesive film can be applied to the manufacture of a wide variety of electronic packages (a new temporary adhesive film does not have to be prepared from scratch with the change of the electronic package). ).

具体的には、500mJ/cmのi線で露光した第2実施形態の仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第3複合膜における銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]としたとき、y<y<yの関係が成り立ち、かつ、0.2≦(y/y)≦0.7の関係が成り立つことが好ましい。 Specifically, the temporary adhesive film of the second embodiment exposed with i-line of 500 mJ / cm 2 and the copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm were heated at 60 ° C., pressure 0.3 MPa, and time. When the peel strength of the copper foil in the third composite film bonded by heating at 150 ° C. for 1 hour after thermocompression bonding under a condition of 30 seconds is y c [kN / m], y B <y c <y It holds the relationship of a, and it is preferable to hold the 0.2 ≦ relationship (y c / y a) ≦ 0.7.

また、第2実施形態の仮接着フィルム特有の更なるメリットとして、領域AおよびBを自由に設けることができるという点がある。これについても、1種の仮接着フィルムを、多種多様な電子パッケージの製造に適用しうるということを意味する。   Moreover, there exists the point that the area | regions A and B can be provided freely as a further merit specific to the temporary adhesive film of 2nd Embodiment. This also means that one type of temporary adhesive film can be applied to manufacture a wide variety of electronic packages.

[サポート基板]
第2実施形態の電子パッケージ製造用サポート基板(単に「サポート基板」とも記載する)は、第1の基板と、その第1の基板の片面に設けられた仮接着フィルム(上記で[仮接着フィルム]として説明したもの)とを備える。
このサポート基板の具体的態様、用途等については、第1実施形態のサポート基板と同様である。よって、改めての説明は省略する(ただし、仮接着フィルムについては、第2実施形態のものである)。
[Support substrate]
The support substrate for manufacturing an electronic package according to the second embodiment (also simply referred to as “support substrate”) includes a first substrate and a temporary adhesive film (referred to as “temporary adhesive film” provided on one surface of the first substrate). ).
The specific mode, use, etc. of the support substrate are the same as those of the support substrate of the first embodiment. Therefore, a renewed description is omitted (however, the temporary adhesive film is that of the second embodiment).

[電子パッケージの製造方法]
第2実施形態の電子パッケージの製造方法は、露光工程、仮接着工程、配置工程、封止工程、切削工程および分離工程を含むことができる。
このうち、露光工程以外の工程については、第1実施形態の電子パッケージの製造方法と同様であるよって、改めての説明は省略する。
[Electronic Package Manufacturing Method]
The method for manufacturing an electronic package of the second embodiment can include an exposure process, a temporary bonding process, an arrangement process, a sealing process, a cutting process, and a separation process.
Of these steps, steps other than the exposure step are the same as those in the electronic package manufacturing method according to the first embodiment, and thus a description thereof is omitted.

上記の露光工程について説明する。
露光工程においては、上述のサポート基板が有する仮接着フィルムを露光し、接着力の強い領域Aと、領域Aより接着力の弱い領域Bと設けることができる。
露光する光は、光硬化性樹脂組成物の感光特性などに基づき適宜設定可能であるが、例えば波長100〜1000nmの光、より具体的にはg線、i線などが適用される。露光量(ドーズ)も、組成物の感光特性などに基づき適宜設定可能である。例えば、10〜10000mJ/cm、好ましくは50〜5000mJ/cm、より好ましくは100〜3000mJ/cmである。露光の方法としては、密着露光法、投影露光法、コンタクト・プロキシミティ露光法などが適宜適用可能である。露光条件は、例えば、未露光部を基準としたときの露光部の引きはがし強さ(yやyなどと同様にして測定される)が、0.1〜0.5倍となるように適宜調整される。
The exposure process will be described.
In the exposure step, the temporary adhesive film of the support substrate described above can be exposed to provide a region A having a strong adhesive force and a region B having a weaker adhesive force than the region A.
The light to be exposed can be set as appropriate based on the photosensitive characteristics of the photocurable resin composition. For example, light having a wavelength of 100 to 1000 nm, more specifically g-line, i-line, or the like is applied. The exposure amount (dose) can also be appropriately set based on the photosensitive characteristics of the composition. For example, 10~10000mJ / cm 2, preferably 50 to 5000 mJ / cm 2, more preferably 100~3000mJ / cm 2. As an exposure method, a contact exposure method, a projection exposure method, a contact proximity exposure method, or the like can be appropriately applied. As for the exposure conditions, for example, the peel strength of the exposed portion (measured in the same manner as y A or y B ) when the unexposed portion is used as a reference is 0.1 to 0.5 times. Is adjusted as appropriate.

以上、本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することができる。また、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれる。   As mentioned above, although embodiment of this invention was described, these are illustrations of this invention and can employ | adopt various structures other than the above. Further, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.

本発明の実施態様を、実施例および比較例に基づき詳細に説明する。なお、本発明は実施例に限定されるものではない。   Embodiments of the present invention will be described in detail based on examples and comparative examples. In addition, this invention is not limited to an Example.

I.仮接着フィルムを、熱硬化性樹脂組成物および/または熱可塑性樹脂のフィルムから作製した例 I. Example in which a temporary adhesive film was prepared from a thermosetting resin composition and / or a thermoplastic resin film

1.実施例1および比較例1の仮接着フィルム/サポート基板の作製
以下の工程により、図1(i)に示されるような、中心部の領域B(長方形状)の周りに領域Aが設けられた、長方形状の仮接着フィルムを得た。また、その仮接着フィルムを片面に備えたサポート基板を得た。
1. Production of Temporary Adhesive Film / Support Substrate of Example 1 and Comparative Example 1 By the following steps, a region A was provided around a central region B (rectangular shape) as shown in FIG. A rectangular temporary adhesive film was obtained. Further, a support substrate provided with the temporary adhesive film on one side was obtained.

(1)市販の熱可塑性樹脂製フィルム(後掲の表に記載)を準備し、適当な大きさにカットした。(これを、領域Bの素となる熱可塑性樹脂のフィルムとした。)
(2)後掲の表の「領域A組成」の成分をメチルエチルケトンに溶解させて、濃度60質量%の塗布液を調製した。
(3)上記の塗布液を、コンマコーターを用いて、第1のPETフィルム(ユニチカ社製 TR1(膜厚38μm))に塗布し、溶媒を乾燥させた。このときの膜厚は20μmとした。(こうして形成した膜を領域Aの素となる熱硬化性樹脂組成物とした。)
(4)上記(3)で形成された膜の塗布面に、上記(1)で準備したフィルムを置いた。また、その上に更に第2のPETフィルム(ユニチカ社製 TR1(膜厚38μm))を置いた。これらを一括して真空ラミネーターでラミネートした。ラミネートの条件は、60℃/0.3MPa/30secとした。
(5)上記(4)で得られたラミネート構造における第1のPETフィルムを剥がし、ステンレス製の第1の基板(厚さ100μm、縦70mm×横200mm)と密着させた。その後、真空ラミネーター装置(株式会社名機製作所製 MVLP−500/600IIA)を用い、50℃、0.3MPaの条件で真空ラミネートを行った。これにより、ステンレス製の第1の基板の片面に、領域Aと領域Bを有する仮接着フィルムが設けられたサポート基板を得た。
なお、第1のPETフィルムは、下記3.の測定の直前、または、下記4.(2)の工程の直前に剥離した。
(1) A commercially available thermoplastic resin film (described in the table below) was prepared and cut into an appropriate size. (This was a thermoplastic resin film that would be the element of region B.)
(2) A component of “region A composition” in the table below was dissolved in methyl ethyl ketone to prepare a coating solution having a concentration of 60% by mass.
(3) The above coating solution was applied to a first PET film (TR1 (film thickness: 38 μm) manufactured by Unitika) using a comma coater, and the solvent was dried. The film thickness at this time was 20 μm. (The film formed in this way was used as a thermosetting resin composition that would be the raw material of region A.)
(4) The film prepared in (1) above was placed on the coating surface of the film formed in (3) above. Further, a second PET film (TR1 (film thickness: 38 μm) manufactured by Unitika Co., Ltd.) was further placed thereon. These were laminated together with a vacuum laminator. Lamination conditions were 60 ° C./0.3 MPa / 30 sec.
(5) The 1st PET film in the laminate structure obtained by said (4) was peeled, and it was made to contact | adhere with the stainless steel 1st board | substrate (100 micrometers in thickness, 70 mm long x 200 mm wide). Thereafter, vacuum lamination was performed using a vacuum laminator apparatus (MVLP-500 / 600IIA manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.) at 50 ° C. and 0.3 MPa. As a result, a support substrate in which a temporary adhesive film having regions A and B was provided on one surface of the first stainless steel substrate was obtained.
The first PET film has the following 3. Immediately before the measurement of the above or 4. It peeled just before the process of (2).

2.実施例2〜6および比較例2の仮接着フィルム/サポート基板の作製
上記1.において、市販の熱可塑性樹脂製フィルム(領域Bの素となる部分)の代わりに、以下のようにして準備したフィルムを用いた以外は同様にして、仮接着フィルムおよびサポート基板を得た。ここでの仮接着フィルムも、中心部の領域B(長方形状)の周りに、領域Aが設けられた、長方形状のものである。
2. Preparation of temporary adhesive films / support substrates of Examples 2 to 6 and Comparative Example 2 In Example 1, a temporary adhesive film and a support substrate were obtained in the same manner except that a film prepared as follows was used in place of a commercially available thermoplastic resin film (part of region B). The temporary adhesive film here is also a rectangular shape in which a region A is provided around a central region B (rectangular shape).

後掲の表の「領域B組成」の成分をメチルエチルケトンに溶解させて、濃度60質量%の塗布液を調製した。この塗布液を、コンマコーターを用いて、PETフィルム(ユニチカ社製 TR1(膜厚38μm))に塗布し、溶媒を乾燥させた。このときの膜厚は10μmとした。
こうして形成した膜を、領域Bの素とした。
The components of “Region B composition” in the table below were dissolved in methyl ethyl ketone to prepare a coating solution having a concentration of 60% by mass. This coating solution was applied to a PET film (TR1 manufactured by Unitika (film thickness 38 μm)) using a comma coater, and the solvent was dried. The film thickness at this time was 10 μm.
The film formed in this manner was used as a region B element.

3.xおよびxの測定
算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔として、三井金属鉱山社製の銅箔(品番:3EC−M3−VLP、厚み:12μm)を、幅25mmの短冊状に切ったものを準備した。
仮接着フィルムの領域Aの部分および領域Bの部分にまたがるように銅箔を置き、銅箔の光沢面(算術平均表面粗さ:0.2μm)を、仮接着フィルムの領域A、B両方に接触させた。これを温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着(真空ラミネート)し、さらに、オーブンを用いて150℃で1時間加熱した。その後、室温で放冷した。
3. As the copper foil measuring the arithmetic average surface roughness 0.2μm of x A and x B, Mitsui Mining & Smelting Mining Co. copper foil (product number: 3EC-M3-VLP, thickness: 12 [mu] m) and the wide strips 25mm Prepared what was cut.
Place the copper foil so as to straddle the area A and the area B of the temporary adhesive film, and apply the glossy surface (arithmetic average surface roughness: 0.2 μm) of the copper foil to both the areas A and B of the temporary adhesive film. Made contact. This was thermocompression-bonded (vacuum lamination) under the conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and further heated at 150 ° C. for 1 hour using an oven. Then, it stood to cool at room temperature.

上記で仮接着フィルムに接着された銅箔を、50mm/minの速度で、図4に示されるように垂直方向に引きはがした。このときの引きはがし強さ(単位:kN)を、銅箔の幅0.025mで割り、領域Aの部分での引きはがし強さxおよび領域Bの部分での引きはがし強さxを求めた。
一定速度での引きはがしおよび引きはがし強さの測定には、島津製作所社製の精密万能試験機(オートグラフ AG−X plus)を用いた。また、ここに明記のない測定条件等については、JIS C 6481の特に5.7項に準拠した。
The copper foil bonded to the temporary adhesive film was peeled off in the vertical direction as shown in FIG. 4 at a speed of 50 mm / min. The peel strength (unit: kN) at this time is divided by the width of the copper foil of 0.025 m, and the peel strength x A at the area A and the peel strength x B at the area B are Asked.
A precision universal testing machine (Autograph AG-X plus) manufactured by Shimadzu Corporation was used to measure peeling at a constant speed and peeling strength. In addition, the measurement conditions and the like that are not specified here are based on JIS C 6481, particularly, section 5.7.

4.電子パッケージの製造
(1)サポート基板の作製
上記1.および2.に記載のようにして、ステンレス製の第1の基板の上に、領域Aと領域Bを有する仮接着フィルムが設けられたサポート基板を準備した。
4). Manufacture of electronic package (1) Production of support substrate And 2. As described above, a support substrate was prepared in which a temporary adhesive film having regions A and B was provided on a stainless steel first substrate.

(2)仮接着工程
サポート基板が有する仮接着フィルムと、あらかじめ準備しておいた第2の基板(アラインメントマーク付きのインターポーザー基板)とを、真空ラミネーター装置(株式会社名機製作所製 MVLP−500/600IIA)を用い、60℃、0.3MPaの条件で真空ラミネートを行うことで、接着した。
用いたインターポーザー基板は、厚み80μmであり、縦横の大きさが第1の基板と略同じであった。また、このインターポーザー基板は、主としてエポキシ樹脂により構成され、略等間隔にユニット構造(インターポーザーの上下を電気的に接続する銅配線や、半田バンプ構造等を含む)が設けられ、また、ユニット構造が設けられていない部分は略平坦だった。
真空ラミネートによる接着後、接着性を確実にするため、オーブンを用いて、150℃で1時間加熱処理を行い、その後、放冷した。
以上により、第1の基板−仮接着フィルム−第2の基板(インターポーザー基板)の3層構成の複合基板を得た。
(2) Temporary bonding step A temporary adhesive film of the support substrate and a second substrate (interposer substrate with an alignment mark) prepared in advance are combined with a vacuum laminator device (MVLP-500 manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.). / 600IIA) and bonded by vacuum lamination under conditions of 60 ° C. and 0.3 MPa.
The interposer substrate used had a thickness of 80 μm, and the vertical and horizontal sizes were substantially the same as those of the first substrate. This interposer substrate is mainly composed of epoxy resin, and is provided with unit structures (including copper wiring and solder bump structures etc. for electrically connecting the upper and lower sides of the interposer) at substantially equal intervals. The part where the structure was not provided was substantially flat.
After bonding by vacuum laminating, heat treatment was performed at 150 ° C. for 1 hour using an oven to ensure adhesion, and then allowed to cool.
As a result, a composite substrate having a three-layer structure of a first substrate, a temporary adhesive film, and a second substrate (interposer substrate) was obtained.

(3)配置工程(リフロー工程を含む)
上記(2)で得られた複合基板のインターポーザー基板のユニット構造部分に、複数個の電子素子を配置した。なお、本実施例および比較例では、電子素子の配置位置は、複合基板を上面視したときに、全ての電子素子が領域Bと重なるようにした。
その後、電子素子を配置した複合基板をリフロー炉(株式会社大和製作所製 NRY−325−5Z)に投入し、リフロー処理(炉内雰囲気温度260℃、投入時間5分)を行った。これにより、インターポーザー基板と電子素子とを接続した。
(3) Placement process (including reflow process)
A plurality of electronic elements were arranged on the unit structure portion of the interposer substrate of the composite substrate obtained in (2) above. In the present example and the comparative example, the arrangement positions of the electronic elements are such that all the electronic elements overlap with the region B when the composite substrate is viewed from above.
Thereafter, the composite substrate on which the electronic elements were arranged was put into a reflow furnace (NRY-325-5Z manufactured by Yamato Seisakusho Co., Ltd.), and reflow treatment (furnace atmosphere temperature 260 ° C., throwing time 5 minutes) was performed. Thereby, the interposer substrate and the electronic element were connected.

(4)封止工程
まず、上記の配置工程を行った後の基板の上面(電子素子が配置されている面)に、電子素子が十分隠れる量の封止用組成物を適用した。封止用組成物としては、公知の顆粒状の封止用組成物(エポキシ樹脂、シリカ粒子、硬化剤等を含有)を用いた。
その後、温度175℃、圧力10MPa、時間120秒の条件で封止用組成物を封止し、そして、オーブンで温度175℃、時間5時間の条件で硬化させ、封止基板を得た。
(4) Sealing Step First, an encapsulating composition in an amount that sufficiently hides the electronic device was applied to the upper surface of the substrate (the surface on which the electronic device was placed) after the placement step. As the sealing composition, a known granular sealing composition (containing epoxy resin, silica particles, curing agent, etc.) was used.
Thereafter, the sealing composition was sealed under conditions of a temperature of 175 ° C., a pressure of 10 MPa, and a time of 120 seconds, and cured in an oven at a temperature of 175 ° C. for a time of 5 hours to obtain a sealing substrate.

(5)切削工程
上記で得られた封止基板における、封止物と第2の基板(インターポーザー基板)とを適切に切削することで、複数個の電子素子が封止された電子パッケージを切り出した。
切削装置としては、株式会社ディスコ製のダイシング装置 DAD3240を使用した。また、ダイシングブレードとして、型番ZH05−SD2000のものを使用した。
切削の「位置」については、封止基板を上面視したときの、領域Bに相当する部分の周縁部を長方形状に切削した。
(5) Cutting process By appropriately cutting the sealing material and the second substrate (interposer substrate) in the sealing substrate obtained above, an electronic package in which a plurality of electronic elements are sealed is obtained. Cut out.
As a cutting device, a dicing machine DAD3240 manufactured by DISCO Corporation was used. A dicing blade having a model number ZH05-SD2000 was used.
Regarding the “position” of cutting, the peripheral portion of the portion corresponding to the region B when the sealing substrate is viewed from above is cut into a rectangular shape.

5.評価
(1)基板接着性
上記4.(3)の配置工程(リフロー工程を含む)において、リフロー処理後に、基板の剥がれ等が発生していないかを確認した。基板(第1の基板および/または第2の基板)の剥がれや膨れが発生しなかった場合を○(良い)、剥がれまたは膨れが発生した場合を×(悪い)とした。
5. Evaluation (1) Substrate adhesiveness In the arrangement process (including the reflow process) of (3), it was confirmed whether or not peeling of the substrate occurred after the reflow process. A case where peeling or swelling of the substrate (first substrate and / or second substrate) did not occur was evaluated as “good”, and a case where peeling or swelling occurred was evaluated as “poor”.

(2)電子パッケージ分離性
上記4.(5)の切削工程にて切り出された電子パッケージについて、以下基準で評価した。
○(良い):切削終了時には、電子パッケージは仮接着フィルムと接着していたが、容易に剥離でき、電子パッケージを分離することができた。
△(やや良い):切削終了時に、既に電子パッケージは仮接着フィルムから剥離していた。
×(悪い):電子パッケージを仮接着フィルムから容易に剥離することができなかった、または、電子パッケージを仮接着フィルムから剥離した際、第2の基板に損傷が認められた。
(2) Electronic package separability 4. The electronic package cut out in the cutting step (5) was evaluated according to the following criteria.
○ (good): At the end of cutting, the electronic package was adhered to the temporary adhesive film, but could be easily peeled off and the electronic package could be separated.
Δ (somewhat good): At the end of cutting, the electronic package had already peeled off from the temporary adhesive film.
X (Bad): The electronic package could not be easily peeled from the temporary adhesive film, or when the electronic package was peeled from the temporary adhesive film, damage was observed on the second substrate.

(3)残渣の付着有無
上記4.(5)の切削工程の後、電子パッケージを第1の基板から分離して、その底面(第2の基板)を金属顕微鏡で観察した。仮接着フィルムの残渣が底面に付着していなければ〇(良い)、仮接着フィルムの残渣が底面に付着していれば×(悪い)とした。
(3) Residue adhesion or not 4. After the cutting step (5), the electronic package was separated from the first substrate, and the bottom surface (second substrate) was observed with a metal microscope. When the residue of the temporary adhesive film did not adhere to the bottom surface, it was rated as “good”, and when the residue of the temporary adhesive film adhered to the bottom surface, it was marked as “poor”.

表1に、領域AおよびBの構成または組成、上記3.のxおよびxの測定結果、上記5.の評価結果についてまとめて示す。
表1において、各成分の量は、質量部である。
Table 1 shows the constitution or composition of regions A and B, 3. Measurements of x A and x B, above 5. The evaluation results are summarized.
In Table 1, the amount of each component is parts by mass.

Figure 2019172918
Figure 2019172918

表1(および後掲の表2)に記載されたものの入手先などは以下の通りである。
・エポキシ樹脂1:YX6954BH30(フェノキシ樹脂) 三菱ケミカル社製
・エポキシ樹脂2:1256B40(フェノキシ樹脂) 三菱ケミカル社製
・エポキシ樹脂3:YL6810(ビスフェノールA型エポキシ樹脂) 三菱ケミカル社製
・エポキシ樹脂4:NC3000(BA型エポキシ樹脂) 日本化薬社製
・アクリレート1:NKオリゴUA−122P(ウレタンアクリレート系化合物) 新中村化学社製
・アクリレート2:NKオリゴUA−160TM (ウレタンアクリレート系化合物) 新中村化学社製
・光重合開始剤1:Irgacure 651(光ラジカル重合開始剤、化合物名:2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン) BASF社製
・熱硬化触媒:2PZ−PW(イミダゾール系エポキシ樹脂硬化剤) 四国化成社製
・無機充填材:SO−C2(平均粒径0.5μmの溶融シリカ) アドマテックス社製
・熱可塑フィルム1:VF−J100(ポリビニルアルコールフィルム、厚み18μm) クラレ社製
・熱可塑フィルム2:延伸ポリプロピレンフィルム
Where to find what is listed in Table 1 (and Table 2 below) is as follows.
・ Epoxy resin 1: YX6954BH30 (phenoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation ・ Epoxy resin 2: 1256B40 (phenoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation ・ Epoxy resin 3: YL6810 (bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation ・ Epoxy resin 4: NC3000 (BA type epoxy resin) Nippon Kayaku Co., Ltd., acrylate 1: NK oligo UA-122P (urethane acrylate compound) Shin Nakamura Chemical Co., Ltd., acrylate 2: NK oligo UA-160TM (urethane acrylate compound) Shin Nakamura Chemical -Photopolymerization initiator 1: Irgacure 651 (photo radical polymerization initiator, compound name: 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one) manufactured by BASF; thermosetting catalyst: 2PZ-PW ( Imidazole-based epoxy resin curing ) Shikoku Kasei Co., Ltd., inorganic filler: SO-C2 (fused silica with an average particle size of 0.5 μm) Admatechs, Inc. Thermoplastic film 1: VF-J100 (polyvinyl alcohol film, thickness 18 μm) Kuraray Co., Ltd., heat Plastic film 2: Stretched polypropylene film

表1に示されるとおり、x/xの値が0.1〜0.5である仮接着フィルムを用いて電子パッケージの製造を行った実施例1〜6では、基板接着性、電子パッケージ分離性および残渣の付着有無について、良好な結果が得られた。そして、複数個の電子素子を一括して封止するプロセスにより、電子パッケージの製造の生産性を高められることが示された。
一方、xが「ゼロ」である(領域Bに全く接着性が無い)比較例1は、電子パッケージ分離性において劣る結果であった。また、x/xの値が0.5を超える(領域Bの接着性が強すぎる)比較例2は、電子パッケージ分離性および残渣の付着有無において劣る結果であった。
As shown in Table 1, in Examples 1 to 6 in which an electronic package was manufactured using a temporary adhesive film having a value of x B / x A of 0.1 to 0.5, the substrate adhesion, the electronic package Good results were obtained with respect to separability and residue adhesion. It has been shown that the productivity of manufacturing electronic packages can be improved by the process of collectively sealing a plurality of electronic elements.
On the other hand, x B is "zero" (areas completely adhesiveness is not in B) Comparative Example 1 was a result of inferior in electronic package separability. Further, x B / value of x A is (too is highly adhesive in the region B) of greater than 0.5 Comparative Example 2 was poorer results in adhesion whether electronic package separability and residues.

II.仮接着フィルムを、光硬化性樹脂組成物から作製した例 II. Example in which a temporary adhesive film was prepared from a photocurable resin composition

1.仮接着フィルム/サポート基板の作製
後掲の表2に記載の成分をメチルエチルケトンに溶解させて、濃度60質量%の塗布液(光硬化性樹脂組成物)を調製した。この塗布液を、コンマコーターを用いて、PETフィルム(ユニチカ社製 TR1(膜厚38μm))に塗布し、溶媒を乾燥させた。塗布量については、乾燥後の膜厚が10μm程度となるように適宜調整した。
1. Preparation of Temporary Adhesive Film / Support Substrate The components shown in Table 2 below were dissolved in methyl ethyl ketone to prepare a coating solution (photocurable resin composition) having a concentration of 60% by mass. This coating solution was applied to a PET film (TR1 manufactured by Unitika (film thickness 38 μm)) using a comma coater, and the solvent was dried. About the application quantity, it adjusted suitably so that the film thickness after drying might be set to about 10 micrometers.

上記1.で得られたPETフィルム上の塗布膜を、ステンレス製の第1の基板(厚さ100μm、縦70mm×横200mm)と密着させた。その後、真空ラミネーター装置(株式会社名機製作所製 MVLP−500/600IIA)を用い、50℃、0.3MPaの条件で真空ラミネートを行った。これにより、ステンレス製の第1の基板の片面に仮接着フィルムが設けられたサポート基板を準備した。
なお、PETフィルムは、下記2.の測定の直前、または、下記3.(2)の工程の直前に剥離した。
Above 1. The coating film on the PET film obtained in the above was adhered to a first stainless steel substrate (thickness 100 μm, length 70 mm × width 200 mm). Thereafter, vacuum lamination was performed using a vacuum laminator apparatus (MVLP-500 / 600IIA manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.) at 50 ° C. and 0.3 MPa. This prepared the support substrate by which the temporary adhesive film was provided in the single side | surface of the 1st board | substrates made from stainless steel.
In addition, PET film has the following 2. 2. Immediately before the measurement of It peeled just before the process of (2).

2.y、yおよびyの測定
銅箔としては、上記I.3.と同様のものを準備した。
まず、上記1.で得られたサポート基板上の仮接着フィルム(未露光)の一部に、2000mJ/cmのi線を照射し、領域Aと領域Bに相当する部分を設けた。露光は、オーク社製の高圧水銀ランプ(i線露光機)EXM−1201により行った。
これら2つの領域にまたがるように銅箔を置いて、銅箔の光沢面を、仮接着フィルムに接触させた。これを温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着(真空ラミネート)し、さらに、オーブンを用いて150℃で1時間加熱した。その後、室温で放冷した。
その後、上記I.3.と同様にして、銅箔を引き剥がし、そしてyおよびyを求めた。
2. Measurement of y A , y B and y C As the copper foil, I. 3. I prepared the same thing.
First, the above 1. A portion of the temporary adhesive film (unexposed) on the support substrate obtained in (1) was irradiated with i-line of 2000 mJ / cm 2 to provide portions corresponding to regions A and B. The exposure was performed with a high-pressure mercury lamp (i-line exposure machine) EXM-1201 manufactured by Oak.
A copper foil was placed so as to straddle these two regions, and the glossy surface of the copper foil was brought into contact with the temporary adhesive film. This was thermocompression-bonded (vacuum lamination) under the conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and further heated at 150 ° C. for 1 hour using an oven. Then, it stood to cool at room temperature.
Thereafter, the above I.D. 3. In the same manner, the copper foil was peeled off, and y A and y B were determined.

また、同じ組成の仮接着フィルムを別途準備し、これに500mJ/cmのi線を照射した。そして、これの露光部に銅箔を置いて、銅箔の光沢面を、仮接着フィルムに接触させた。これを温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着(真空ラミネート)し、さらに、オーブンを用いて150℃で1時間加熱した。その後、室温で放冷した。
その後、上記I.3.と同様にして銅箔を引き剥がし、yを求めた。
Moreover, the temporary adhesive film of the same composition was prepared separately, and 500 mJ / cm < 2 > i line | wire was irradiated to this. And the copper foil was put in this exposure part, and the glossy surface of copper foil was made to contact a temporary adhesive film. This was thermocompression-bonded (vacuum lamination) under the conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and further heated at 150 ° C. for 1 hour using an oven. Then, it stood to cool at room temperature.
Thereafter, the above I.D. 3. Peeled copper foil in the same manner as to determine the y C.

3.電子パッケージの製造
(1)サポート基板の作成
上記1.に記載のようにして、ステンレス製の第1の基板の上に、感光性の仮接着フィルムが設けられたサポート基板を準備した。
3. Manufacture of electronic package (1) Creation of support substrate As described above, a support substrate in which a photosensitive temporary adhesive film was provided on a first stainless steel substrate was prepared.

(2)露光工程による領域AおよびBの形成
上記のサポート基板上の仮接着フィルムに対し、パターン露光を行った。これにより、露光部分の接着力を低下させて領域Bを設けた。
露光は、オーク社製の高圧水銀ランプ(i線露光機)EXM−1201により行った。
露光パターンについては、図1(i)のように、仮接着フィルムの中心部に長方形状の領域Bが設けられ、それを領域Aが囲うようにした。
露光量は、露光領域(領域B)について、2000mJ/cmとした。
(2) Formation of regions A and B by exposure process Pattern exposure was performed on the temporary adhesive film on the support substrate. Thereby, the adhesive force of the exposure part was reduced and the area | region B was provided.
The exposure was performed with a high-pressure mercury lamp (i-line exposure machine) EXM-1201 manufactured by Oak.
As for the exposure pattern, as shown in FIG. 1 (i), a rectangular region B was provided at the center of the temporary adhesive film, and the region A surrounded the region.
The exposure amount was 2000 mJ / cm 2 for the exposure region (region B).

(3)仮接着工程
上記I.4.(2)と同様にして行った。
(3) Temporary bonding step 4). It carried out like (2).

(4)配置工程(リフロー工程を含む)
上記I.4.(3)と同様にして行った。
(4) Placement process (including reflow process)
I. above. 4). It carried out like (3).

(5)封止工程
上記I.4.(4)と同様にして行った。
(5) Sealing step 4). It carried out like (4).

(6)切削工程
上記I.4.(5)と同様にして行った。
(6) Cutting process 4). It carried out like (5).

4.評価
基板接着性、電子パッケージ分離性および残渣の付着有無について、上記I.5.と同様にして評価した。
4). Evaluation Regarding the substrate adhesiveness, the electronic package separability, and the presence or absence of residues, I. 5. And evaluated in the same manner.

表2に、上記1.で用いた塗布液(光硬化性樹脂組成物)の組成、上記2.のy、yおよびyの測定結果、上記4.の評価結果についてまとめて示す。
表2の各成分の量は、質量部である。
表2に記載された各成分の入手先などは、表1と同様である。
Table 2 shows the above 1. 1. Composition of coating solution (photo-curable resin composition) used in 1. 3. Measurement results of y A , y B and y C of 4. The evaluation results are summarized.
The amount of each component in Table 2 is parts by mass.
The source of each component described in Table 2 is the same as in Table 1.

Figure 2019172918
Figure 2019172918

表2に示されるとおり、y/yの値が0.1〜0.5である仮接着フィルムを用いて電子パッケージの製造を行った実施例2−1〜2−8では、基板接着性、電子パッケージ分離性および残渣の付着有無について、良好な結果が得られた。
(実施例2−7については、残渣の付着有無の評価が悪いが、これは、無機充填材を使用していないこと等により、露光部(領域B)の接着強度が他の実施例ほどは低下しなかったことが原因と推定される。ただし、基板接着性および電子パッケージ分離性は良好であるし、電子素子を一括して封止し取り出せるという効果はあるから、残渣の付着有無が問題にならない用途であれば、実用に供せる。)
As shown in Table 2, in Examples 2-1 to 2-8 in which an electronic package was manufactured using a temporary adhesive film having a value of y B / y A of 0.1 to 0.5, substrate adhesion Good results were obtained with respect to the properties, the electronic package separability and the presence or absence of residues.
(For Example 2-7, the evaluation of the presence or absence of residue adhesion is poor, but this is because the adhesive strength of the exposed portion (region B) is as high as in other examples due to the fact that no inorganic filler is used. This is presumed to be due to the fact that it did not decrease, but the substrate adhesion and electronic package separation were good, and the effects of being able to seal and take out the electronic elements in a lump were a problem. It can be put to practical use if it does not become a use.)

一方、y/yが0.1より小さい比較例2−1は、そもそも基板の接着性自体が悪かった。また、y/yが0.5より大きい比較例2−2は、電子パッケージ分離性よび残渣の付着有無について悪い結果であった。比較例2−3(仮接着フィルムに感光剤が含まれておらず、露光部で接着力が低下していない)も同様である。 On the other hand, Comparative Example 2-1 in which y B / y A is smaller than 0.1 was originally poor in substrate adhesion. Further, Comparative Example 2-2 in which y B / y A was larger than 0.5 was a bad result with respect to the electronic package separability and the presence or absence of residue adhesion. The same applies to Comparative Example 2-3 (the photosensitive adhesive is not contained in the temporary adhesive film and the adhesive strength is not reduced in the exposed area).

3 サポート基板
10 第1の基板
12 仮接着フィルム
14 第2の基板
16 電子素子
18 硬化物
20 封止基板
3 Support substrate 10 First substrate 12 Temporary adhesive film 14 Second substrate 16 Electronic element 18 Cured material 20 Sealing substrate

Claims (20)

電子装置の製造に用いられる仮接着フィルムであって、
当該仮接着フィルムの表面には、接着力の強い領域Aと、前記領域Aより接着力の弱い領域Bとが存在し、
当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した複合膜における、前記領域Aの部分での前記銅箔の引きはがし強さをx[kN/m]、前記領域Bの部分での前記銅箔の引きはがし強さをx[kN/m]としたとき、0.1≦(x/x)≦0.5の関係が成り立つ仮接着フィルム。
A temporary adhesive film used in the manufacture of electronic devices,
On the surface of the temporary adhesive film, there are a region A having a strong adhesive force and a region B having a weaker adhesive force than the region A,
The temporary adhesive film and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm were bonded by thermocompression bonding under conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and then heated at 150 ° C. for 1 hour. In the composite film, the peel strength of the copper foil at the region A is x A [kN / m], and the peel strength of the copper foil at the region B is x B [kN / m. ], A temporary adhesive film in which a relationship of 0.1 ≦ (x B / x A ) ≦ 0.5 is established.
請求項1に記載の仮接着フィルムであって、
前記xが0.01〜0.3[kN/m]である仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 1,
Temporary adhesive film wherein x B is 0.01~0.3 [kN / m].
請求項1または2に記載の仮接着フィルムであって、
前記領域Aの部分が熱硬化性樹脂組成物で構成され、
前記領域Bの部分が熱硬化性樹脂組成物または熱可塑性樹脂のフィルムで構成されている仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 1 or 2,
The region A is composed of a thermosetting resin composition,
A temporary adhesive film in which the region B is composed of a thermosetting resin composition or a thermoplastic resin film.
請求項3に記載の仮接着フィルムであって、
前記領域Aの部分および/または前記領域Bの部分を構成する熱硬化性樹脂組成物が、エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物からなる群より選択される少なくとも1種の重合性化合物を含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 3,
The thermosetting resin composition constituting the region A and / or the region B includes at least one polymerizable compound selected from the group consisting of an epoxy compound and a polymerizable (meth) acrylate compound. Temporary adhesive film.
請求項1または2に記載の仮接着フィルムであって、
前記領域Aの部分が光硬化性樹脂組成物で構成され、
前記領域Bの部分が当該光硬化性樹脂組成物の硬化物で構成されている仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 1 or 2,
The region A is composed of a photocurable resin composition,
The temporary adhesive film in which the portion of the region B is composed of a cured product of the photocurable resin composition.
請求項5に記載の仮接着フィルムであって、
前記光硬化性樹脂組成物が、エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物からなる群より選択される少なくとも1種の重合性化合物と、光重合開始剤と、を含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 5,
The temporary adhesive film in which the said photocurable resin composition contains at least 1 sort (s) of polymeric compounds selected from the group which consists of an epoxy compound and a polymeric (meth) acrylate compound, and a photoinitiator.
請求項5または6に記載の仮接着フィルムであって、
前記光硬化性樹脂組成物が、充填材を含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 5 or 6,
The temporary adhesive film in which the said photocurable resin composition contains a filler.
請求項7に記載の仮接着フィルムであって、
前記充填材が無機充填材を含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 7,
The temporary adhesive film in which the filler includes an inorganic filler.
第1の基板と、
当該第1の基板の片面に設けられた請求項1〜8のいずれか1項に記載の仮接着フィルムと
を備える電子パッケージ製造用サポート基板。
A first substrate;
A support substrate for manufacturing an electronic package, comprising: the temporary adhesive film according to claim 1 provided on one side of the first substrate.
請求項9に記載のサポート基板が有する仮接着フィルムと、第2の基板とを仮接着し、複合基板を得る仮接着工程と、
前記第2の基板を備えた面を上面として前記複合基板を上面視したとき、前記複合基板における前記第2の基板の上に、前記領域Bと重なるようにして電子素子を配置する配置工程と、
前記配置工程で配置された前記電子素子に対して封止用組成物を適用し、当該封止用組成物の硬化物で前記電子素子が封止された封止基板を得る封止工程と、
前記封止基板の少なくとも一部を切削する切削工程と、
前記サポート基板と、前記第2の基板とを分離する分離工程と、
を含む電子パッケージの製造方法。
A temporary bonding step of temporarily bonding the temporary adhesive film of the support substrate according to claim 9 and the second substrate to obtain a composite substrate,
An arrangement step of disposing an electronic element so as to overlap the region B on the second substrate in the composite substrate when the composite substrate is viewed from above with the surface including the second substrate as an upper surface; ,
A sealing step of applying a sealing composition to the electronic elements arranged in the arrangement step, and obtaining a sealing substrate in which the electronic elements are sealed with a cured product of the sealing composition;
A cutting step of cutting at least a part of the sealing substrate;
A separation step of separating the support substrate and the second substrate;
An electronic package manufacturing method including:
請求項10に記載の電子パッケージの製造方法であって、
前記封止基板の、前記封止用組成物の硬化物を備えた面を上面として前記封止基板を上面視したとき、前記切削工程は、前記領域Bに相当する部分を切削する工程である電子パッケージの製造方法。
It is a manufacturing method of the electronic package according to claim 10,
When the sealing substrate is viewed from above with the surface of the sealing substrate provided with the cured product of the sealing composition as the upper surface, the cutting step is a step of cutting a portion corresponding to the region B. Electronic package manufacturing method.
電子装置の製造に用いられる仮接着フィルムであって、
当該仮接着フィルムは、露光により接着力が低下する性質を有し、
未露光の当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第1複合膜における前記銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]とし、
2000mJ/cmのi線で露光した当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第2複合膜における前記銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]としたとき、0.1≦(y/y)≦0.5の関係が成り立つ仮接着フィルム。
A temporary adhesive film used in the manufacture of electronic devices,
The temporary adhesive film has a property that the adhesive strength is reduced by exposure,
The unexposed temporary adhesive film and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm are thermocompression bonded at a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, and then heated at 150 ° C. for 1 hour. The peel strength of the copper foil in the first composite film adhered in this manner is y A [kN / m],
After thermobonding the temporary adhesive film exposed with i-line of 2000 mJ / cm 2 and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm under conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, When the peel strength of the copper foil in the second composite film bonded by heating at 150 ° C. for 1 hour is y B [kN / m], 0.1 ≦ (y B / y A ) ≦ 0.5 Temporary adhesive film that holds the relationship.
請求項12に記載の仮接着フィルムであって、
が0.01〜0.3[kN/m]である仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 12,
temporary adhesive film y B is 0.01~0.3 [kN / m].
請求項12または13に記載の仮接着フィルムであって、
500mJ/cmのi線で露光した当該仮接着フィルムと、算術平均表面粗さが0.2μmの銅箔とを、温度60℃、圧力0.3MPa、時間30秒の条件で熱圧着後、150℃で1時間加熱して接着した第3複合膜における前記銅箔の引きはがし強さをy[kN/m]としたとき、y<y<yの関係が成り立ち、かつ、0.2≦(y/y)≦0.7の関係を満たす仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 12 or 13,
After thermobonding the temporary adhesive film exposed with i-line of 500 mJ / cm 2 and a copper foil having an arithmetic average surface roughness of 0.2 μm under the conditions of a temperature of 60 ° C., a pressure of 0.3 MPa, and a time of 30 seconds, When the peeling strength of the copper foil in the third composite film adhered by heating at 150 ° C. for 1 hour is y c [kN / m], the relationship y B <y c <y A is satisfied, and A temporary adhesive film satisfying a relationship of 0.2 ≦ (y c / y A ) ≦ 0.7.
請求項12〜14のいずれか1項に記載の仮接着フィルムであって、
エポキシ化合物および重合性(メタ)アクリレート化合物からなる群より選択される少なくとも1種の重合性化合物と、光重合開始剤とを含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to any one of claims 12 to 14,
A temporary adhesive film comprising at least one polymerizable compound selected from the group consisting of an epoxy compound and a polymerizable (meth) acrylate compound, and a photopolymerization initiator.
請求項12〜15のいずれか1項に記載の仮接着フィルムであって、
充填材を含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to any one of claims 12 to 15,
Temporary adhesive film containing filler.
請求項16に記載の仮接着フィルムであって、
前記充填材が無機充填材を含む仮接着フィルム。
The temporary adhesive film according to claim 16,
The temporary adhesive film in which the filler includes an inorganic filler.
第1の基板と、
当該第1の基板の片面に設けられた請求項12〜17のいずれか1項に記載の仮接着フィルムと
を備える電子パッケージ製造用サポート基板。
A first substrate;
An electronic package manufacturing support substrate comprising the temporary adhesive film according to any one of claims 12 to 17 provided on one side of the first substrate.
請求項18に記載のサポート基板が有する仮接着フィルムを露光し、接着力の強い領域Aと、前記領域Aより接着力の弱い領域Bと設ける露光工程と、
前記露光工程で露光された仮接着フィルムと第2の基板とを仮接着し、複合基板を得る仮接着工程と、
前記第2の基板を備えた面を上面として前記複合基板を上面視したとき、前記複合基板における前記第2の基板の上に、前記領域Bと重なるようにして電子素子を配置する配置工程と、
前記配置工程で配置された前記電子素子に対して封止用組成物を適用し、前記封止用組成物の硬化物で前記電子素子が封止された封止基板を得る封止工程と
前記封止基板の少なくとも一部を切削する切削工程と、
前記サポート基板と、前記第2の基板とを分離する分離工程と、
を含む電子パッケージの製造方法。
An exposure step of exposing the temporary adhesive film of the support substrate according to claim 18 to provide a region A having a strong adhesive force and a region B having a weaker adhesive force than the region A;
A temporary bonding step of temporarily bonding the temporary adhesive film and the second substrate exposed in the exposure step to obtain a composite substrate;
An arrangement step of disposing an electronic element so as to overlap the region B on the second substrate in the composite substrate when the composite substrate is viewed from above with the surface including the second substrate as an upper surface; ,
A sealing step of applying a sealing composition to the electronic elements arranged in the arranging step to obtain a sealing substrate in which the electronic elements are sealed with a cured product of the sealing composition; A cutting step of cutting at least a part of the sealing substrate;
A separation step of separating the support substrate and the second substrate;
An electronic package manufacturing method including:
請求項19に記載の電子パッケージの製造方法であって、
前記封止基板の、前記封止用組成物の硬化物を備えた面を上面として前記封止基板を上面視したとき、前記切削工程は、前記領域Bに相当する部分を切削する工程である電子パッケージの製造方法。
The method of manufacturing an electronic package according to claim 19,
When the sealing substrate is viewed from above with the surface of the sealing substrate provided with the cured product of the sealing composition as the upper surface, the cutting step is a step of cutting a portion corresponding to the region B. Electronic package manufacturing method.
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