JP2019161857A - Power supply board - Google Patents

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亘 岡田
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郡 衞藤
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正武 佐藤
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Takayoshi TAWARAGI
隆圭 俵木
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Abstract

To provide a power supply board that can avoid an increase in substrate area and reduce a parasitic capacitance compared with a prior art.SOLUTION: A power supply board according to the present invention is a power supply board including a support formed with a power supply circuit including a switching element, and comprises: a first electrode that is formed on a first surface of the support, wherein the potential changes over time according to the operation of the switching element; and a second electrode that is formed on a second surface of the support, wherein the potential does not change over time according to the operation of the switching element, wherein the second electrode has an opening formed in at least part of a portion facing the first electrode. The opening of the second electrode may be formed in a portion facing the first electrode. The opening of the second electrode may further be formed in a portion other than the portion facing the first electrode.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、例えばインバータ等の電力変換器のためのスイッチング素子を含むスイッチング電源基板などの電源基板に関する。   The present invention relates to a power supply substrate such as a switching power supply substrate including a switching element for a power converter such as an inverter.

昨今、例えばインバータ等のためのスイッチング素子を含むスイッチング電源基板が、種々の装置において使用されているが、当該スイッチング電源基板から発生するノイズが発生し、これを抑制することが求められている。具体的には、電源基板において時間的に電位が変化する回路パターンと接地導体間の寄生容量により、伝導ノイズ(電気回路の経路上を伝搬するノイズ成分であって、雑端ノイズともいう)が増加し、そのため、ノイズ対策の手間や部材の追加等が必要になっていた。   In recent years, for example, switching power supply boards including switching elements for inverters and the like are used in various devices, but noise generated from the switching power supply boards is generated and is required to be suppressed. Specifically, due to the parasitic capacitance between the circuit pattern whose potential changes with time on the power supply board and the ground conductor, conduction noise (which is a noise component propagating on the path of the electric circuit, also called miscellaneous noise) is generated. Therefore, it has become necessary to take measures for noise and add additional members.

以上の課題を解決するために、以下の特許文献において種々の解決法が提案されている。   In order to solve the above problems, various solutions have been proposed in the following patent documents.

特許文献1では、第1の電極と接地導体との間の寄生容量と、第2の電極と接地導体との間の寄生容量が等しくなるように上記第1及び第2の電極を構成することで、電位変動パターンで発生するノイズを抑制することが提案されている。   In Patent Document 1, the first and second electrodes are configured so that the parasitic capacitance between the first electrode and the ground conductor is equal to the parasitic capacitance between the second electrode and the ground conductor. Therefore, it has been proposed to suppress noise generated in the potential fluctuation pattern.

また、特許文献2では、高電圧スイッチング回路部と、低電圧スイッチング回路部との間にノイズフィルタを設け、基板とノイズフィルタとの間にノイズを遮蔽する金属板を形成することで、放射ノイズを遮蔽することが提案されている。   In Patent Document 2, a noise filter is provided between the high-voltage switching circuit unit and the low-voltage switching circuit unit, and a metal plate that shields noise is formed between the substrate and the noise filter. It has been proposed to shield.

さらに、特許文献3では、以下の構成の配線基板が提案されている。
(1)5GHz以上の高周波信号を伝搬させる第1の配線導体を、その中央部から外周部に向けて互いの間隔が広がるように絶縁基板の一方の主面に形成する。
(2)絶縁基板の一方の主面の第1の配線導体との間において、外周部から中央部に向けて途中まで接地用又は電源用導体層を、下記の第2の配線導体と対向する部位に導体層が存在しないように形成する。
(3)絶縁基板の他方の主面に中央部から外周部にかけて第2の配線導体を形成する。
ここで、当該第2の配線導体にかかる配線のインピーダンスが途中で変わることを抑制することで高周波信号が反射て減衰することを回避することを特徴としている。
Furthermore, Patent Document 3 proposes a wiring board having the following configuration.
(1) A first wiring conductor for propagating a high-frequency signal of 5 GHz or more is formed on one main surface of the insulating substrate so that the distance from each other increases from the center to the outer periphery.
(2) Between the first wiring conductor on one main surface of the insulating substrate, the grounding or power supply conductor layer is opposed to the following second wiring conductor halfway from the outer periphery toward the center. It is formed so that there is no conductor layer at the site.
(3) A second wiring conductor is formed on the other main surface of the insulating substrate from the central portion to the outer peripheral portion.
Here, the high-frequency signal is prevented from being reflected and attenuated by suppressing the impedance of the wiring applied to the second wiring conductor from changing in the middle.

特開2009−261044号公報JP 2009-261044 A 特開2014−033531号公報JP 2014-033531 A 特開2005−191142号公報JP 2005-191142 A

しかしながら、上記の従来例では、以下の課題があった。   However, the above conventional example has the following problems.

特許文献1では、第2の電極を形成することで、基板面積が大型化し、寄生容量自体を小さくすることができないという課題があった。   In Patent Document 1, there is a problem that the formation of the second electrode increases the substrate area, and the parasitic capacitance itself cannot be reduced.

また、特許文献2では、金属板で放射ノイズを遮蔽して低減するが、構造が複雑になり、コストが増大するという課題があった。   Moreover, in patent document 2, although radiation noise is shielded and reduced with a metal plate, there existed a subject that a structure became complicated and cost increased.

さらに、特許文献3では、高周波信号が反射して減衰させることができるが、基板面積が大型化し、寄生容量自体を小さくすることができないという課題があった。   Further, in Patent Document 3, although a high-frequency signal can be reflected and attenuated, there is a problem that the substrate area becomes large and the parasitic capacitance itself cannot be reduced.

本発明の目的は以上の問題点を解決し、従来技術に比較して基板面積の増大を回避し、寄生容量を軽減することができる電源基板を提供することにある。   An object of the present invention is to solve the above-described problems, and to provide a power supply substrate capable of avoiding an increase in substrate area and reducing parasitic capacitance as compared with the prior art.

本発明の一態様にかかる電源基板は、
スイッチング素子を含む電源回路が形成された支持体を備えた電源基板であって、
上記支持体の第1の面に形成され、上記スイッチング素子の動作によって時間的に電位が変化する第1の電極と、
上記支持体の第2の面に形成され、スイッチング素子の動作によって時間的に電位が変化しない第2の電極とを備え、
上記第2の電極は、上記第1の電極と対向する部分の少なくとも一部に形成された開口部を有することを特徴とする。
A power supply board according to one embodiment of the present invention is provided.
A power supply substrate including a support on which a power supply circuit including a switching element is formed,
A first electrode formed on the first surface of the support, the potential of which varies with time according to the operation of the switching element;
A second electrode formed on the second surface of the support, the potential of which does not change with time by the operation of the switching element,
The second electrode has an opening formed in at least a part of a portion facing the first electrode.

上記電源基板において、上記第2の電極の開口部は、上記第1の電極と対向する部分に形成されたことを特徴とする。   In the power supply substrate, the opening of the second electrode is formed in a portion facing the first electrode.

また、上記電源基板において、上記第2の電極の開口部は、上記第1の電極と対向する部分以外の部分にさらに形成されたことを特徴とする。   In the power supply substrate, the opening of the second electrode is further formed in a portion other than the portion facing the first electrode.

さらに、上記電源基板において、上記電源基板はさらに、上記支持体の第1の面において、上記第1の電極を囲むように形成された第3の電極を備えたことを特徴とする。   Further, in the power supply substrate, the power supply substrate further includes a third electrode formed on the first surface of the support so as to surround the first electrode.

またさらに、上記電源基板において、上記スイッチング素子は、上記第1の電極と、上記第3の電極とに接続されたことを特徴とする。   Still further, in the power supply substrate, the switching element is connected to the first electrode and the third electrode.

またさらに、上記電源基板において、
上記第2の電極は、上記支持体の内層に形成され、
上記第1の電極は、上記支持体に形成されたビア導体を介して第4の電極に接続されたことを特徴とする。
Still further, in the power supply board,
The second electrode is formed on the inner layer of the support,
The first electrode is connected to a fourth electrode through a via conductor formed in the support.

従って、本発明にかかる電源基板によれば、従来技術に比較して基板面積の増大を回避し、寄生容量を軽減することで、伝導ノイズを低減できる。   Therefore, according to the power supply substrate according to the present invention, it is possible to reduce conduction noise by avoiding an increase in the substrate area and reducing the parasitic capacitance as compared with the prior art.

基本例にかかる電源基板の構成例を示し縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structural example of the power supply board concerning a basic example. 図1の電源基板で用いるスイッチング素子を含む回路例を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a circuit example including a switching element used in the power supply substrate of FIG. 1. 従来例にかかる電源基板の構成例を示し縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structural example of the power supply board concerning a prior art example. 図3の電源基板で用いるスイッチング素子を含む回路例を示す回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a circuit example including a switching element used in the power supply substrate of FIG. 3. 図4の回路における寄生容量Cpに対する伝導ノイズレベルの特性例を示すグラフである。6 is a graph showing a characteristic example of a conduction noise level with respect to a parasitic capacitance Cp in the circuit of FIG. 実施形態1にかかる電源基板の構成例であって、図6BのA−A’線についての縦断面図である。6 is a configuration example of a power supply board according to the first embodiment, and is a longitudinal sectional view taken along line A-A ′ of FIG. 6B. FIG. 図6Aの電源基板の平面図である。It is a top view of the power supply board of FIG. 6A. 実施形態1の変形例にかかる電源基板の構成例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structural example of the power supply board concerning the modification of Embodiment 1. 図7の長さlaに対する寄生容量Cpの特性例を示すグラフである。It is a graph which shows the example of a characteristic of the parasitic capacitance Cp with respect to length la of FIG. 実施形態2にかかる電源基板の構成例であって、図9BのB−B’線についての縦断面図である。FIG. 9B is a configuration example of the power supply board according to the second embodiment and is a longitudinal sectional view taken along line B-B ′ of FIG. 9B. 図9Aの電源基板の上面図である。It is a top view of the power supply board of FIG. 9A. 図9Aの電源基板の下面図である。It is a bottom view of the power supply board of FIG. 9A. 実施形態2の変形例1にかかる電源基板の構成例であって、図10BのC−C’線についての縦断面図である。FIG. 10 is a configuration example of a power supply board according to Modification 1 of Embodiment 2, and is a longitudinal sectional view taken along line C-C ′ of FIG. 10B. 図10Aの電源基板の上面図である。It is a top view of the power supply board of FIG. 10A. 図10Aの電源基板の下面図である。It is a bottom view of the power supply board of FIG. 10A. 実施形態2の変形例2にかかる電源基板の構成例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structural example of the power supply board concerning the modification 2 of Embodiment 2. FIG. 実施形態3にかかる電源基板の構成例を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the structural example of the power supply board concerning Embodiment 3. FIG. 基本例、従来例、実施形態1及び2にかかる電源基板のシミュレーション結果であって、寄生容量Cpを示すグラフである。It is a basic example, a prior art example, it is a graph which shows the parasitic capacitance Cp, as a simulation result of the power supply board concerning Embodiment 1 and 2. FIG. 基本例、従来例、実施形態1及び2にかかる電源基板のシミュレーション結果であって、電界強度Epを示すグラフである。It is a basic example, a prior art example, and the simulation result of the power supply board concerning Embodiment 1 and 2, Comprising: It is a graph which shows the electric field strength Ep. 基本例、従来例、実施形態1及び2にかかる電源基板のシミュレーション結果であって、電界強度Epを示す写真画像である。It is a photographic image which is a simulation result of the power supply board concerning a basic example, a prior art example, and Embodiments 1 and 2, and shows electric field strength Ep.

以下、比較例及び本発明に係る実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、同一又は同様の構成要素については同一の符号を付している。   Hereinafter, a comparative example and an embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, the same or similar components are denoted by the same reference numerals.

本発明者らは、例えばインバータ等の電力変換器のためのスイッチング素子を含むスイッチング電源基板などの電源基板において、伝導ノイズと放射ノイズの対策を検討の中で、電源基板の回路パターンからの伝導ノイズと放射ノイズに大きな課題があることが分かってきた。その対策として本実施形態にかかる解決手段を考えた。特に、本発明者らは、新材料(GaN)デバイスのスイッチング素子を用いた電力変換器で放射ノイズが増大しており、シミュレーションにより、電位変動が起こる回路パターンの特にエッジから電界放射が発生することを確認した。また、一方で電位変動の回路パターンと接地電位の寄生容量が大きいと伝導ノイズが増大することが判明し、これらを解決させる手法として以下の実施形態にかかる電源基板を考案した。本実施形態にかかる電源基板では、回路パターンからの伝導ノイズが低減するようにパターン形状を変更することで、ノイズ対策の軽減ができるようになった。以下、詳細について説明する。   The present inventors are studying countermeasures against conduction noise and radiation noise in a power supply board such as a switching power supply board including a switching element for a power converter such as an inverter. It has been found that there is a big problem with noise and radiation noise. As a countermeasure, the solution according to the present embodiment was considered. In particular, the present inventors have increased radiation noise in a power converter using a switching element of a new material (GaN) device, and electric field radiation is generated particularly from an edge of a circuit pattern in which potential fluctuation occurs by simulation. It was confirmed. On the other hand, it has been found that the conduction noise increases when the circuit pattern of the potential fluctuation and the parasitic capacitance of the ground potential are large, and the power supply substrate according to the following embodiment has been devised as a technique for solving these problems. In the power supply board according to the present embodiment, noise countermeasures can be reduced by changing the pattern shape so that the conduction noise from the circuit pattern is reduced. Details will be described below.

図1は基本例にかかる電源基板の構成例を示し縦断面図である。また、図2は図1の電源基板で用いるスイッチング素子を含む回路例を示す回路図である。   FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a configuration example of a power supply board according to a basic example. FIG. 2 is a circuit diagram showing a circuit example including a switching element used in the power supply substrate of FIG.

図1において、支持体である誘電体基板(電源基板)10上に電極11が形成されている。図2の昇圧回路は、インダクタL1と、ダイオードD1と、例えばMOSFET等のスイッチング素子SW1を含む電源回路とを備えて構成される。図2の昇圧回路において、回路部分Aはスイッチング素子SW1のスイッチング動作によって電位が変動する。このような場合、誘電体基板10上に設けられた回路部分Aに相当する電極11と、当該昇圧回路を収容する筐体、又はヒートシンクといった周囲金属部との間で交流電界Eが発生し、結果として、筐体外部への放射ノイズの増大につながる。   In FIG. 1, an electrode 11 is formed on a dielectric substrate (power supply substrate) 10 which is a support. The booster circuit shown in FIG. 2 includes an inductor L1, a diode D1, and a power supply circuit including a switching element SW1 such as a MOSFET. In the booster circuit of FIG. 2, the potential of the circuit portion A varies depending on the switching operation of the switching element SW1. In such a case, an alternating electric field E is generated between the electrode 11 corresponding to the circuit portion A provided on the dielectric substrate 10 and a surrounding metal part such as a housing for housing the booster circuit or a heat sink, As a result, the radiation noise to the outside of the housing is increased.

図3は従来例にかかる電源基板の構成例を示し縦断面図である。また、図4は図3の電源基板で用いるスイッチング素子を含む回路例を示す回路図である。   FIG. 3 is a longitudinal sectional view showing a configuration example of a power supply substrate according to a conventional example. 4 is a circuit diagram showing a circuit example including a switching element used in the power supply substrate of FIG.

電源基板からの放射電界を抑制する方法として、図3に示すように、電極11の近傍において、電位が安定な(例えば接地電位等)電極12を設けることが考えられる。この場合、電極11から発生する放射電界は近傍の電極12と結合することで広がりが抑制される。しかし、電極11と電極12の寄生容量Cpは大きくなるため、この寄生容量Cpを通って発生する伝導ノイズ成分は増大してしまうことが考えられる。   As a method of suppressing the radiation electric field from the power supply substrate, it is conceivable to provide an electrode 12 with a stable potential (for example, a ground potential) in the vicinity of the electrode 11 as shown in FIG. In this case, the spread of the radiation electric field generated from the electrode 11 is suppressed by coupling with the nearby electrode 12. However, since the parasitic capacitance Cp of the electrode 11 and the electrode 12 becomes large, it is considered that the conduction noise component generated through the parasitic capacitance Cp increases.

図5は図4の回路における寄生容量Cpに対する伝導ノイズレベルの特性例を示すグラフである。図5から明らかなように、電位が変動する電極11と接地された電極12との寄生容量Cpが大きい場合、電極11の電位が変動した場合に電極11,12に流れる電流成分が増大する。ここで、電位変動によって接地側の電極12へ流れた電流成分は電気回路の別の部分を通って還流するため、結果としてスイッチング素子のスイッチングによって経路に流れる伝導ノイズ成分の増加を招くという課題があった。   FIG. 5 is a graph showing a characteristic example of the conduction noise level with respect to the parasitic capacitance Cp in the circuit of FIG. As is apparent from FIG. 5, when the parasitic capacitance Cp between the electrode 11 whose potential varies and the grounded electrode 12 is large, the current component flowing in the electrodes 11 and 12 increases when the potential of the electrode 11 varies. Here, the current component that flows to the ground-side electrode 12 due to the potential fluctuation flows back through another part of the electric circuit, resulting in an increase in the conduction noise component that flows through the path due to switching of the switching element. there were.

実施形態1.
図6Aは実施形態1にかかる電源基板の構成例であって、図6BのA−A’線についての縦断面図である。また、図6Bは図6Aの電源基板の平面図である。
Embodiment 1. FIG.
6A is a configuration example of the power supply substrate according to the first embodiment, and is a longitudinal sectional view taken along line AA ′ of FIG. 6B. FIG. 6B is a plan view of the power supply substrate of FIG. 6A.

図6A及び図6Bにおいて、誘電体基板10の上面に矩形形状の電極11を形成する一方、その下面に、電極11と対向する位置範囲に位置しかつ実質的に同一のサイズを有する矩形の開口部12Cを有する電極12を形成する。これにより、電極12は矩形リング形状を有する。すなわち、本実施形態では、スイッチング素子が接続されて時間的に電位が変動する電極11に対して対向する面内に、スイッチング素子が接続されず電位が変動しない接地電位を有する電極12を形成することを特徴とする。ここで、電極12の少なくとも一部は電極11よりも外側にはみ出した構造であり、かつ電極11の直接に上下方向で対向する部分の少なくとも一部に開口部12Cを形成する。   6A and 6B, a rectangular electrode 11 is formed on the upper surface of the dielectric substrate 10, and a rectangular opening having a substantially the same size is positioned on the lower surface of the dielectric substrate 10 in a position range facing the electrode 11. An electrode 12 having a portion 12C is formed. Thereby, the electrode 12 has a rectangular ring shape. That is, in the present embodiment, the electrode 12 having the ground potential that is not connected to the switching element and does not change in potential is formed in a plane facing the electrode 11 that is connected to the switching element and changes in potential with time. It is characterized by that. Here, at least a part of the electrode 12 has a structure that protrudes outward from the electrode 11, and the opening 12 </ b> C is formed in at least a part of the part directly facing the electrode 11 in the vertical direction.

以上のように構成された電源基板においては、電極1の近傍にアース電位を有する電極12があることで、電極11から発生する放射電界は電極12に電磁的に結合し、誘電体基板10内に閉じ込められて抑制されることで、外部への放射電界成分が低減する。さらに、電極11からの放射電界はエッジ部で特に強いため、電極12の輪郭サイズを電極11よりも大きめの構造とすることで放射電界の拡散を効果的に低減できる。   In the power supply substrate configured as described above, since the electrode 12 having the ground potential is in the vicinity of the electrode 1, the radiated electric field generated from the electrode 11 is electromagnetically coupled to the electrode 12, and the dielectric substrate 10 By being confined and suppressed, the radiation field component to the outside is reduced. Further, since the radiation electric field from the electrode 11 is particularly strong at the edge portion, the diffusion of the radiation electric field can be effectively reduced by making the contour size of the electrode 12 larger than that of the electrode 11.

なお、電極11と電極12の開口部12Cが互いに完全に対向する構造でないように構成してもよい。この場合において、開口部12Cを設けることで、電極11とアース電位の電極12との間の寄生容量Cpは、上記のように互いに完全に対向する構造に比べて低減できる。その結果、電位変動によって発生する電流変化はそれほど大きくならず、電極12を設けることによって増加する電源基板の回路における伝導ノイズ成分も抑制が可能である。   In addition, you may comprise so that the opening part 12C of the electrode 11 and the electrode 12 may not be a structure which mutually opposes mutually. In this case, by providing the opening 12C, the parasitic capacitance Cp between the electrode 11 and the ground potential electrode 12 can be reduced as compared with the structure that completely faces each other as described above. As a result, the current change caused by the potential fluctuation is not so large, and the conduction noise component in the circuit of the power supply substrate that is increased by providing the electrode 12 can be suppressed.

以上の実施形態1において、電極12の開口部12Cは、電極11と対向する部分の少なくとも一部に形成すればよい。   In the first embodiment, the opening 12 </ b> C of the electrode 12 may be formed in at least a part of the portion facing the electrode 11.

従来例の電源基板と、実施形態1の電源基板との寄生容量Cpの比較については、図12を参照して後述するが、従来例の寄生容量Cpが1.49pFに対して、実施形態の寄生容量Cpが1.18pFと約20%寄生容量が低減されている。   A comparison of the parasitic capacitance Cp between the power supply substrate of the conventional example and the power supply substrate of the first embodiment will be described later with reference to FIG. 12, but the parasitic capacitance Cp of the conventional example is 1.49 pF. The parasitic capacitance Cp is 1.18 pF, which is about 20% reduced.

実施形態1の変形例.
図7は実施形態1の変形例にかかる電源基板の構成例を示す縦断面図である。また、図8は図7の長さlaに対する寄生容量Cpの特性例を示すグラフである。
Modified example of the first embodiment.
FIG. 7 is a longitudinal sectional view showing a configuration example of a power supply substrate according to a modification of the first embodiment. FIG. 8 is a graph showing a characteristic example of the parasitic capacitance Cp with respect to the length la in FIG.

図7の電源基板は、図6Aの電源基板に比較して、電極12の開口部12Cの矩形の一辺のサイズを長さ+2laだけ大きくしたことを特徴とする。すなわち、図7に示すように、開口部12Cは、電極11を電極12の形成面に投影したときの矩形部分から各辺で長さ+laだけ大きい矩形形状を有する。この長さ+laは、電極11を電極12の形成面に投影したときに、電極11と電極12との間の所定長のギャップとなる。   The power supply substrate of FIG. 7 is characterized in that the size of one side of the rectangle of the opening 12C of the electrode 12 is increased by the length + 2la, compared to the power supply substrate of FIG. 6A. That is, as shown in FIG. 7, the opening 12 </ b> C has a rectangular shape that is larger by a length + la on each side from the rectangular portion when the electrode 11 is projected onto the formation surface of the electrode 12. This length + la is a gap of a predetermined length between the electrode 11 and the electrode 12 when the electrode 11 is projected onto the formation surface of the electrode 12.

例えば本変形例では、図8から明らかなように、長さla=4mmとすることで寄生容量Cpを抑制しつつ、電界強度Epも一定以下に抑えることができることが分かる。   For example, in the present modification, as is apparent from FIG. 8, it can be seen that by setting the length la = 4 mm, the parasitic capacitance Cp can be suppressed and the electric field strength Ep can also be suppressed to a certain level or less.

実施形態2.
図9Aは実施形態2にかかる電源基板の構成例であって、図9BのB−B’線についての縦断面図である。また、図9Bは図9Aの電源基板の上面図であり、図9Cは図9Aの電源基板の下面図である。
Embodiment 2. FIG.
FIG. 9A is a configuration example of the power supply substrate according to the second embodiment, and is a longitudinal sectional view taken along line BB ′ of FIG. 9B. 9B is a top view of the power supply board of FIG. 9A, and FIG. 9C is a bottom view of the power supply board of FIG. 9A.

図9Aの電源基板は、図6Aの電源基板に比較して、誘電体基板10のおもて面において、電極11の外側に所定の開口部13C(矩形リング形状のギャップ)を有して矩形リング形状の電極13(浮遊電極)を、電極11を囲むように形成したことを特徴とする。ここで、電極13は、電極11と同一平面において電極11の周囲で一定の電位を有する。これにより、電極11から上側に発生する電界成分が電極13に結合することで、上側に放射される電界はさらに抑制される。ここで、電極13は電極11と絶縁距離を保つ必要があるため、電極12の開口部12Cの内側サイズよりも電極13の開口部13Cの内側サイズの方が大きいことを特徴とする。   The power supply substrate in FIG. 9A is rectangular with a predetermined opening 13C (rectangular ring-shaped gap) outside the electrode 11 on the front surface of the dielectric substrate 10 as compared with the power supply substrate in FIG. 6A. A ring-shaped electrode 13 (floating electrode) is formed so as to surround the electrode 11. Here, the electrode 13 has a constant potential around the electrode 11 in the same plane as the electrode 11. Thereby, the electric field component generated on the upper side from the electrode 11 is coupled to the electrode 13, whereby the electric field radiated on the upper side is further suppressed. Here, since it is necessary to keep the insulation distance between the electrode 13 and the electrode 11, the inner size of the opening 13C of the electrode 13 is larger than the inner size of the opening 12C of the electrode 12.

本発明者らによる実施形態2のシミュレーション結果では、実施形態1の構造に更に、電極11と同一平面に電極11の端からlb=3mmの間隙を空けて、幅2mmの電極13を周囲に設けた場合は、実施形態1よりも更に、誘電体基板10の上面からの放射電界が抑制されていることが分かった。これは電極11のエッジからの放射がさらに近傍の接地面と結合しやすい構造であるためである。   According to the simulation results of the second embodiment by the present inventors, in addition to the structure of the first embodiment, an electrode 13 having a width of 2 mm is provided around the electrode 11 with a gap of lb = 3 mm from the end of the electrode 11 in the periphery. In this case, it was found that the radiation electric field from the upper surface of the dielectric substrate 10 was further suppressed than in the first embodiment. This is because the structure is such that radiation from the edge of the electrode 11 is more likely to be coupled to a nearby ground plane.

以上のように構成された各例のシミュレーション結果による効果を次の表1に示す。   The effects of the simulation results of the examples configured as described above are shown in Table 1 below.

Figure 2019161857
Figure 2019161857

ここで、×は伝導ノイズ又は放射ノイズの影響があり、評価が低い場合(低評価)を示す。○は伝導ノイズ又は放射ノイズの影響がほとんどなく、評価が比較的高い場合(高評価)を示す。◎は伝導ノイズ又は放射ノイズの影響がなく、評価が非常に高い場合を示す(高評価)。なお、△−○は、低評価と高評価との間の評価である中間評価と、高評価との間の評価を示し、○−◎は高評価と最高評価との間の評価を示す。   Here, x indicates the influence of conduction noise or radiation noise, and the evaluation is low (low evaluation). ○ indicates that there is almost no influence of conduction noise or radiation noise, and the evaluation is relatively high (high evaluation). A indicates that the evaluation is very high without being affected by conduction noise or radiation noise (high evaluation). In addition, (triangle | delta)-* shows the evaluation between intermediate evaluation which is evaluation between low evaluation and high evaluation, and high evaluation, and (circle)-(◎) shows evaluation between high evaluation and the highest evaluation.

表1から明らかなように、実施形態1の電源基板によって寄生容量Cpを低減し、伝導ノイズが改善されることが期待される。さらに実施形態2の電源基板によって、放射ノイズも改善が期待される。また、一般的には、寄生容量Cpと電界強度Epはトレードオフの関係にある。   As is apparent from Table 1, it is expected that the parasitic capacitance Cp is reduced and the conduction noise is improved by the power supply substrate of the first embodiment. Furthermore, the power supply board of Embodiment 2 is also expected to improve radiation noise. In general, the parasitic capacitance Cp and the electric field strength Ep are in a trade-off relationship.

実施形態2の変形例1.
図10Aは実施形態2の変形例1にかかる電源基板の構成例であって、図10BのC−C’線についての縦断面図である。また、図10Bは図10Aの電源基板の上面図であり、図10Cは図10Aの電源基板の下面図である。
Modification 1 of Embodiment 2
FIG. 10A is a configuration example of a power supply board according to the first modification of the second embodiment, and is a longitudinal sectional view taken along the line CC ′ of FIG. 10B. 10B is a top view of the power supply board of FIG. 10A, and FIG. 10C is a bottom view of the power supply board of FIG. 10A.

図10Aの電源基板は、図9Aの電源基板に比較して、電極11及び電極13に接続された2個の端子を有するスイッチング素子14を電極11,13上に装着したことを特徴としている。この例では、スイッチング素子14の電極で電極11を囲うためには、電極11から放射する電界に欠落部が発生するが、スイッチング素子14の電極を使うことで周囲を完全に囲うことができる。   The power supply board of FIG. 10A is characterized in that a switching element 14 having two terminals connected to the electrode 11 and the electrode 13 is mounted on the electrodes 11 and 13 as compared with the power supply board of FIG. 9A. In this example, in order to surround the electrode 11 with the electrode of the switching element 14, a missing portion is generated in the electric field radiated from the electrode 11, but the periphery can be completely surrounded by using the electrode of the switching element 14.

実施形態2の変形例2.
図10Dは実施形態2の変形例2にかかる電源基板の構成例を示す縦断面図である。図10Dの電源基板は、図10Aの電源基板に比較して、矩形リング形状の電極13を削除したことを特徴としており、このように構成してもよい。言い換えれば、図10Dの電源基板は、図6Aの電源基板に比較してスイッチ素子14を設けたことを特徴としている。
Modification 2 of Embodiment 2
FIG. 10D is a longitudinal sectional view illustrating a configuration example of a power supply substrate according to the second modification of the second embodiment. The power supply board of FIG. 10D is characterized in that the rectangular ring-shaped electrode 13 is deleted as compared with the power supply board of FIG. 10A, and may be configured in this manner. In other words, the power supply substrate of FIG. 10D is characterized in that the switch element 14 is provided as compared with the power supply substrate of FIG. 6A.

図11は実施形態3にかかる電源基板の構成例を示す縦断面図である。   FIG. 11 is a longitudinal sectional view illustrating a configuration example of a power supply substrate according to the third embodiment.

実施形態3にかかる図11の電源基板においては、電極11の近傍にスイッチング素子又はダイオードなどの能動素子の発熱体14Aが設けられる場合を想定する。図11において、電極12は誘電体基板10,10Aの内層面に設ける。なお、30は、電源基板から放射される放射電界を閉じ込めるための筐体板金である。また、誘電体基板10Aの下面に形成された電極15から、誘電体基板10、電極12の開口部12C及び誘電体基板10Aを介して厚さ方向に延在して電極11に接続される複数のビア導体16を設ける。これにより、当該ビア導体16は電極11を電極15に接続することができ、これにより、基板裏面からの放熱性を高めることができる。   In the power supply substrate of FIG. 11 according to the third embodiment, it is assumed that a heating element 14 </ b> A of an active element such as a switching element or a diode is provided in the vicinity of the electrode 11. In FIG. 11, the electrode 12 is provided on the inner layer surface of the dielectric substrates 10 and 10A. Reference numeral 30 denotes a housing sheet metal for confining a radiation electric field radiated from the power supply substrate. A plurality of electrodes 15 extending in the thickness direction from the electrode 15 formed on the lower surface of the dielectric substrate 10A via the dielectric substrate 10, the opening 12C of the electrode 12 and the dielectric substrate 10A and connected to the electrode 11 are connected. The via conductor 16 is provided. Thereby, the via conductor 16 can connect the electrode 11 to the electrode 15, thereby improving the heat dissipation from the back surface of the substrate.

実際には、電極15から、熱インターフェースマテリアル(以下、TIM(Thermal Interface Materialという)21を介して放熱部20に接続する。なお、誘電体基板10,10Aは放熱部20から垂直方向に延在する複数の支持部材22により支持される。   Actually, the electrode 15 is connected to the heat radiating portion 20 through a thermal interface material (hereinafter referred to as TIM (Thermal Interface Material) 21), and the dielectric substrates 10 and 10A extend in the vertical direction from the heat radiating portion 20. Are supported by a plurality of support members 22.

以上のように構成された実施形態3にかかる電源基板によれば、放射電界の抑制と基板の放熱性の両立が可能である。   According to the power supply substrate according to the third embodiment configured as described above, it is possible to achieve both suppression of the radiation electric field and heat dissipation of the substrate.

以上の実施形態3において、ビア導体16はインレイなどで構成してもよい。また、TIMは熱伝導率が高く、厚さが比較的厚いことが望ましい(すなわち、放熱部との寄生容量は小さい)ので、例えば窒化ケイ素等のセラミックなどの材料にてなる。   In the third embodiment described above, the via conductor 16 may be formed of an inlay or the like. Moreover, since TIM has high thermal conductivity and desirably has a relatively large thickness (that is, the parasitic capacitance with the heat radiation portion is small), it is made of a material such as ceramic such as silicon nitride.

以下、本発明者らのシミュレーション結果について説明する。   Hereinafter, the simulation results of the present inventors will be described.

図12は基本例、従来例、実施形態1及び2にかかる電源基板のシミュレーション結果であって、寄生容量Cpを示すグラフである。図12から明らかなように、実施形態1及び2の寄生容量Cpは、従来例に比較して低減していることがわかる。   FIG. 12 is a graph showing the parasitic capacitance Cp, which is a simulation result of the power supply substrate according to the basic example, the conventional example, and the first and second embodiments. As can be seen from FIG. 12, the parasitic capacitance Cp in the first and second embodiments is reduced as compared with the conventional example.

図13は基本例、従来例、実施形態1及び2にかかる電源基板のシミュレーション結果であって、電界強度Epを示すグラフである。図13から明らかなように、実施形態1及び2の電界強度Epは、従来例に比較して低減していることがわかる。   FIG. 13 is a graph showing electric field strength Ep, which is a simulation result of the power supply substrate according to the basic example, the conventional example, and the first and second embodiments. As can be seen from FIG. 13, the electric field strength Ep in the first and second embodiments is reduced as compared with the conventional example.

図14は基本例、従来例、実施形態1及び2にかかる電源基板のシミュレーション結果であって、電界強度Epを示す写真画像である。図14から明らかなように、従来例では、放射電界が、電極11の近傍で集中しているが、実施形態1及び2では、電極11近傍に集中せず分散して低減していることがわかる。   FIG. 14 is a photographic image showing electric field strength Ep, which is a simulation result of the power supply substrate according to the basic example, the conventional example, and the first and second embodiments. As apparent from FIG. 14, in the conventional example, the radiation electric field is concentrated in the vicinity of the electrode 11, but in Embodiments 1 and 2, it is dispersed and reduced without being concentrated in the vicinity of the electrode 11. Recognize.

従って、本発明にかかる電源基板によれば、従来技術に比較して基板面積の増大を回避し、寄生容量を軽減することで、伝導ノイズを低減できる。本発明にかかる電源基板は、パワコントローラ、車載電源、汎用電源、UPS(Uninterruptible Power Supply)等の電力変換装置に適用することができる。   Therefore, according to the power supply substrate according to the present invention, it is possible to reduce conduction noise by avoiding an increase in the substrate area and reducing the parasitic capacitance as compared with the prior art. The power supply board according to the present invention can be applied to a power conversion device such as a power controller, an in-vehicle power supply, a general-purpose power supply, or a UPS (Uninterruptible Power Supply).

10,10A…誘電体基板、
11,12,13…電極、
12C,13C…開口部、
14…スイッチング素子、
14A…発熱体、
15…電極、
16…ビア導体、
20…放熱部、
21…熱インターフェースマテリアル(TIM)、
22…支持部材、
30…上部筐体板金、
A…電極部分、
Cp…寄生容量、
D1…ダイオード、
L1…インダクタ、
SW1…スイッチ素子。
10, 10A ... dielectric substrate,
11, 12, 13 ... electrodes,
12C, 13C ... opening,
14 ... switching element,
14A ... heating element,
15 ... electrodes,
16 ... via conductor,
20 ... heat radiation part,
21 ... Thermal interface material (TIM),
22: Support member,
30 ... Upper housing sheet metal,
A ... Electrode part,
Cp: parasitic capacitance,
D1 ... diode,
L1 ... inductor,
SW1 is a switch element.

Claims (6)

スイッチング素子を含む電源回路が形成された支持体を備えた電源基板であって、
上記支持体の第1の面に形成され、上記スイッチング素子の動作によって時間的に電位が変化する第1の電極と、
上記支持体の第2の面に形成され、スイッチング素子の動作によって時間的に電位が変化しない第2の電極とを備え、
上記第2の電極は、上記第1の電極と対向する部分の少なくとも一部に形成された開口部を有することを特徴とする電源基板。
A power supply substrate including a support on which a power supply circuit including a switching element is formed,
A first electrode formed on the first surface of the support, the potential of which varies with time according to the operation of the switching element;
A second electrode formed on the second surface of the support, the potential of which does not change with time by the operation of the switching element,
The power supply substrate, wherein the second electrode has an opening formed in at least a part of a portion facing the first electrode.
上記第2の電極の開口部は、上記第1の電極と対向する部分に形成されたことを特徴とする請求項1記載の電源基板。   2. The power supply substrate according to claim 1, wherein the opening of the second electrode is formed in a portion facing the first electrode. 上記第2の電極の開口部は、上記第1の電極と対向する部分以外の部分にさらに形成されたことを特徴とする請求項1記載の電源基板。   2. The power supply substrate according to claim 1, wherein the opening of the second electrode is further formed in a portion other than the portion facing the first electrode. 上記電源基板はさらに、
上記支持体の第1の面において、上記第1の電極を囲むように形成された第3の電極を備えたことを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか1つに記載の電源基板。
The power supply board further includes
The power supply according to claim 1, further comprising a third electrode formed on the first surface of the support so as to surround the first electrode. substrate.
上記スイッチング素子は、上記第1の電極と、上記第3の電極とに接続されたことを特徴とする請求項4記載の電源基板。   The power supply board according to claim 4, wherein the switching element is connected to the first electrode and the third electrode. 上記第2の電極は、上記支持体の内層に形成され、
上記第1の電極は、上記支持体に形成されたビア導体を介して第4の電極に接続されたことを特徴とする請求項1〜5のうちのいずれか1つに記載の電源基板。
The second electrode is formed on the inner layer of the support,
The power supply substrate according to claim 1, wherein the first electrode is connected to a fourth electrode through a via conductor formed in the support.
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11195921A (en) * 1997-12-26 1999-07-21 Kokusai Electric Co Ltd Card antenna
JP2003204128A (en) * 2002-01-10 2003-07-18 Sharp Corp Printed wiring board, converter for receiving radio wave, and antenna device
JP2006093842A (en) * 2004-09-21 2006-04-06 Alps Electric Co Ltd Method for adjusting resonance frequency in antenna device
JP2010173785A (en) * 2009-01-29 2010-08-12 Brother Ind Ltd Image forming device and paper conveying device
JP2012018782A (en) * 2010-07-07 2012-01-26 Yasushi Sato Ion generation terminal
JP2012109950A (en) * 2010-10-21 2012-06-07 Murata Mfg Co Ltd Laminated filter
JP2013046509A (en) * 2011-08-25 2013-03-04 Murata Mfg Co Ltd Dc-dc converter
JP2013223256A (en) * 2012-04-12 2013-10-28 Denso Corp Circuit board and manufacturing method therefor

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11195921A (en) * 1997-12-26 1999-07-21 Kokusai Electric Co Ltd Card antenna
JP2003204128A (en) * 2002-01-10 2003-07-18 Sharp Corp Printed wiring board, converter for receiving radio wave, and antenna device
JP2006093842A (en) * 2004-09-21 2006-04-06 Alps Electric Co Ltd Method for adjusting resonance frequency in antenna device
JP2010173785A (en) * 2009-01-29 2010-08-12 Brother Ind Ltd Image forming device and paper conveying device
JP2012018782A (en) * 2010-07-07 2012-01-26 Yasushi Sato Ion generation terminal
JP2012109950A (en) * 2010-10-21 2012-06-07 Murata Mfg Co Ltd Laminated filter
JP2013046509A (en) * 2011-08-25 2013-03-04 Murata Mfg Co Ltd Dc-dc converter
JP2013223256A (en) * 2012-04-12 2013-10-28 Denso Corp Circuit board and manufacturing method therefor

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