JP2019139849A - socket - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被検査部材と配線基板とを電気的に接続するためのソケットに関するものである。 The present invention relates to a socket for electrically connecting a member to be inspected and a wiring board.
従来、ベアチップなどの被検査部材の試験(例えば、バーンイン試験。)が行われる際、被検査部材と配線基板とを電気的に接続するために、ソケットが用いられている。 Conventionally, when a test of a member to be inspected such as a bare chip (for example, a burn-in test) is performed, a socket is used to electrically connect the member to be inspected and a wiring board.
特許文献1には、被検査部材の各種試験に用いられるソケットが開示されている。図6は、特許文献1に開示されたソケットを説明する模式図である。なお、図6では、矢印で示される方向を便宜的に上または下としてソケットの説明を行う。 Patent Document 1 discloses a socket used for various tests of a member to be inspected. FIG. 6 is a schematic diagram illustrating the socket disclosed in Patent Document 1. In FIG. In FIG. 6, the socket will be described with the direction indicated by the arrow being upward or downward for convenience.
ソケット200は、ソケット本体110と、ソケット本体110に収容された被検査部材170を下側に向けて押圧するカバー120とを有している。カバー120は、カバー本体121と、ストッパ130と、カバーパット125と、圧縮バネ140とを有し、カバー120がソケット本体110に取り付けられた状態において、カバーパット125が被検査部材170を押圧している。
The
また、カバー本体121とカバーパット125は、上下方向に貫通する貫通穴(不図示)を有し、被検査部材170がCCDイメージセンサなどの撮像素子である場合、撮像素子に被写体の像を結像させるレンズが貫通穴付近に配置される。
Further, the
一般に、ソケット200を構成する部品の数が多いほど、コストは増大する傾向にあるため、ソケット200を構成する部品の数は少ない方が好ましい。しかしながら、従来のソケット200では、カバー120が、カバー本体121と、ストッパ130と、カバーパット125と、圧縮バネ140とを有するなど、多くの部品で構成されていた。そのため、ソケット200のコストが増大することが懸念される。
Generally, as the number of parts constituting the
また、カバー120を、カバー本体121とカバーパット125で圧縮バネ140を挟み込む構成とすると、カバー120の厚みが厚くなり、結果として、レンズを被検査部材170に近づけられなくなる。そうすると、撮像素子に対して被写体の像を結像できず、適切に被検査部材の試験を行えなくなる恐れがあった。
Further, when the
本発明は、ソケットを構成する部品の数を減らしてソケットのコストを抑えるとともに、ソケットのカバーを薄く形成して被検査部材の試験を適切に行うことを可能とすることを目的とする。 It is an object of the present invention to reduce the number of parts constituting a socket to reduce the cost of the socket, and to make it possible to appropriately test a member to be inspected by forming a socket cover thinly.
上記目的を達成するために、本発明のソケットは、被検査部材を収容する本体部と、本体部とともに被検査部材を挟むプレートと、プレートに対して回動するように取り付けられるとともに、本体部に引っ掛かるストッパと、ストッパとプレートに挟まれプレートを被検査部材に向けて付勢する圧縮バネと、を備える。 In order to achieve the above object, a socket according to the present invention is provided with a main body that accommodates a member to be inspected, a plate that sandwiches the member to be inspected together with the main body, and a main body that is attached so as to rotate relative to the plate And a compression spring that is sandwiched between the stopper and the plate and biases the plate toward the member to be inspected.
本発明によれば、ソケットを構成する部品の数を減らしてソケットのコストを抑えるとともに、ソケットのカバーを薄く形成して被検査部材の試験を適切に行うことが可能となる。 According to the present invention, it is possible to reduce the number of parts constituting the socket and reduce the cost of the socket, and to appropriately test the member to be inspected by forming the socket cover thinly.
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、同じ構成要素には同じ符号を付している。また、図面は、理解しやすくするためにそれぞれの構成要素を模式的に示している。また、本明細書では、図1,2,4,5の矢印で示される方向を便宜的に上または下として説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same component. Further, the drawings schematically show each component for easy understanding. In this specification, the directions indicated by the arrows in FIGS.
図1は、本発明のソケットの一例を示す斜視図である。図2は、本発明のソケットの一例を示す正面図である。図3は、本発明のソケットの一例を示す平面図である。図4は、図3におけるA−A矢視断面図である。 FIG. 1 is a perspective view showing an example of the socket of the present invention. FIG. 2 is a front view showing an example of the socket of the present invention. FIG. 3 is a plan view showing an example of the socket of the present invention. 4 is a cross-sectional view taken along arrow AA in FIG.
ソケット100は、被検査部材(不図示)を収容し、収容した被検査部材と、ソケット100の下側に取り付けられた配線基板60とを電気的に接続するための装置である。被検査部材は、例えば、ICパッケージ、撮像素子などの電子部品である。
The
ソケット100は、ソケット本体10と、カバー20と、プローブピン45とを有する。
The
ソケット本体10は、例えば、合成樹脂などの絶縁体からなり、被検査部材を収容する収容部14を有する部材である。ソケット本体10は、枠体11、ならびに、枠体11を上下から挟み込む上側プレート12および下側プレート13を有する。
The
枠体11は、中央に矩形状の開口を有する枠状の部材である。枠体11の外側を向く側面のうち平行に配置された一対の側面には、外側方向に突出する爪部11aが形成されている。枠体11の爪部11aには、後に説明するストッパ30の爪部33が引っ掛けられる。
The
上側プレート12は、平面視で矩形状に形成された板状部材であり、上述した収容部14は、上側プレート12の上面に形成される。上側プレート12は、中央部に上下方向に貫通する矩形状の貫通穴を有する。この矩形状の貫通穴には、後に説明するベース部材50が挿入される。
The
また、上側プレート12は、上下方向に貫通する複数の小径の第1の貫通穴12aを有する。第1の貫通穴12aには、プローブピン45が挿入される。
Further, the
下側プレート13は、平面視で矩形状に形成された板状部材である。下側プレート13は、中央部に上下方向に貫通する矩形状の貫通穴を有する。枠体11に上側プレート12および下側プレート13が取り付けられた状態において、下側プレート13の矩形状の貫通穴は、上側プレート12の矩形状の貫通穴を上方から下側プレート13に向けて投影した位置に配置される。下側プレート13の矩形状の貫通穴には、後に説明するベース部材50が挿入される。
The
また、下側プレート13は、第1の貫通穴12aを上方から下側プレート13に向けて投影した位置に、上下方向に貫通する複数の小径の第2の貫通穴13aを有する。第1の貫通穴12aと同様に、第2の貫通穴13aにも、プローブピン45が挿入される。
Further, the
カバー20は、ソケット本体10を上側から覆うとともに、被検査部材をソケット本体10に向けて押圧する部材である。カバー20は、カバー本体21と、ストッパ30と、圧縮バネ40とを有する。
The
カバー本体21は、平面視で矩形状に形成されたプレートであり、中央付近に上下方向に貫通する矩形状の貫通穴20aを有する。
The cover
被検査部材が、例えば、撮像素子である場合、被検査部材に被写体の像を結像させるため、カバー本体21に形成された貫通穴20a付近にはレンズが配設される。
When the member to be inspected is, for example, an image sensor, a lens is disposed in the vicinity of the through
カバー本体21の下面には、カバー本体21がソケット本体10に取り付けられた際、被検査部材の上面に接触する接触部25が設けられている。
A
また、カバー本体21の互いに対向する一対の側面には、それぞれ外側に延びる突出部22が設けられている。突出部22は、一つの側面に対して2つ設けられており、これら2つの突出部22は、互いに所定間隔を空けて配置されている。各突出部22には、ストッパ30が取り付けられる取付穴23が形成されている。取付穴23は、上下方向に延びる直線部分を有する長穴である。換言すれば、取付穴23は、カバー本体21が付勢される方向に延びる長穴である。
In addition, the pair of side surfaces of the
また、カバー本体21は、カバー本体21の縁部分であって、2つの突出部22の間の領域に、圧縮バネ40を載置する圧縮バネ載置部24を有する。圧縮バネ載置部24には、複数の圧縮バネ40が載置され、圧縮バネ載置部24は、次に説明するストッパ30とともに圧縮バネ40を挟む。
The cover
ストッパ30は、カバー本体21をソケット本体10に向けて押圧するとともに、カバー本体21をソケット本体10に固定する部材である。
The
ストッパ30は、カバー本体21に設けられた圧縮バネ載置部24との間で圧縮バネ40を挟む圧縮バネ押圧部31と、ストッパ30がカバー本体21に取り付けられた状態においてソケット本体10の側面に沿って延びる延出部32と、延出部32の先端に設けられ、ソケット本体10の爪部11aに引っ掛かる爪部33と、カバー本体21がソケット本体10に着脱される際に操作される操作部34とを有する。
The
また、ストッパ30は、圧縮バネ押圧部31と延出部32と操作部34が交わる交差領域に沿って、水平方向に延びる貫通穴が形成されている。ストッパ30の貫通穴には軸部材35が挿入される。ストッパ30の貫通穴に軸部材35が挿入された状態において、軸部材35の両端部は、貫通穴の両端から突出する。
Further, the
ストッパ30は、カバー20に設けられた一対の突出部22の間に配置され、軸部材35の両端部は、突出部22に形成された取付穴23に嵌め込まれる。上述したように、突出部22に形成された取付穴23は、上下方向に延びる直線部分を有する長穴であるため、ストッパ30は、カバー本体21に対して上下方向に移動可能、かつ、軸部材35周りに回動可能にカバー本体21に取り付けられる。
The
圧縮バネ40は、カバー本体21の圧縮バネ載置部24とストッパ30の圧縮バネ押圧部31との間に挟まれている。圧縮バネ40は、カバー本体21がソケット本体10に取り付けられた際に、カバー本体21をソケット本体10に向けて付勢する付勢部材である。圧縮バネ40は、例えば、コイルバネである。
The
プローブピン45は、ソケット本体10の収容部14に収容された被検査部材とソケット本体10の下側に取り付けられる配線基板60とを電気的に接続する部材である。図5は、本発明のプローブピン45の一例を説明する図である。
The
プローブピン45は、例えば、導電性の金属材料により形成される。プローブピン45は、バレル46と、圧縮バネ47と、プランジャ48とを有する。
The
バレル46は、圧縮バネ47を収容するとともにプランジャ48をガイドする円筒部46aと、円筒部46aの外径よりも小径に形成され、先端に被検査部材と接触する接触部46cを有する円柱部46bとを備える。
The
プランジャ48は、圧縮バネ47を収容する円筒部48aと、下端が配線基板60に接触する接触部48cを有する円柱部48bとを備える。また、円筒部48aは、バレル46の円筒部46aの内周面にガイドされる大径部48a1を有する。
The
圧縮バネ47は、バレル46の円筒部46aおよびプランジャ48の円筒部48aに収容され、バレル46の接触部46cとプランジャ48の接触部48cとを互いに離れる方向に付勢する付勢部材である。
The
収容部14に被検査部材が収容されていない状態において、バレル46の円柱部46bは収容部14からわずかに突出する。このとき、プランジャ48の接触部48cはソケット本体10を構成する下側プレート13の下面からわずかに突出し、ソケット本体10の下側に配置された配線基板60に接触している。
In a state where the member to be inspected is not accommodated in the
収容部14に被検査部材が収容されると、バレル46は、被検査部材の下側に設けられた端子によって下側に押圧され、圧縮バネ47の反発力に抗して下側に移動する。これにより、バレル46は、圧縮バネ47によって被検査部材に向けて付勢される。また、プランジャ48は、圧縮バネ47の反発力によって配線基板60に向けて付勢される。したがって、プローブピン45は、被検査部材の端子および配線基板60に確実に接触する。
When the member to be inspected is accommodated in the
図1−4の説明に戻る。ソケット100には、下側からベース部材50が取り付けられる。ベース部材50は、上面に矩形状の突部51を有する板状部材である。ベース部材50は、突部51が上側プレート12に形成された貫通穴および下側プレート13に形成された貫通穴に挿入されるようにソケット100に取り付けられる。
Returning to the description of FIGS. A
ベース部材50の突部51の上面は、ベース部材50がソケット100に取り付けられた状態において、上側プレート12の上面と同一平面に位置するように配置される。
The upper surface of the
ベース部材50は、例えば、ヒーターブロックで構成される。ベース部材50をヒーターブロックで構成することで、各種試験において、高温雰囲気下における被検査部材の挙動について調べることができる。
The
次に、被検査部材をソケット100に収納する際の、ソケット100の各部の動きについて説明する。
Next, the movement of each part of the
まず、カバー20がソケット本体10に取り付けられていない状態において、ソケット本体10の収容部14に被検査部材が収容される。
First, in a state where the
上述したように、収容部14に被検査部材が収容されると、プローブピン45の接触部46cが被検査部材の下面に設けられた端子に接触する。
As described above, when the member to be inspected is accommodated in the
収容部14に被検査部材が収容された後、カバー本体21がソケット本体10に取り付けられる。カバー本体21がソケット本体10に取り付けられる際、ストッパ30の操作部34は、圧縮バネ40を圧縮する方向に操作される。
After the member to be inspected is accommodated in the
操作部34が操作された状態においてカバー本体21がソケット本体10に向けて押圧されると、被検査部材の上面は、カバー本体21の接触部25によって押圧される。この状態で操作部34の操作が解除されると、ストッパ30の爪部33とソケット本体10の爪部11aが引っ掛かり、カバー20とソケット本体10が固定される。
When the cover
上述したように、カバー本体21に形成された取付穴23は、上下方向に延びる直線部分を有する長穴である。そのため、カバー本体21がソケット本体10に固定された状態において、カバー本体21は、圧縮バネ40によって付勢されるとともに被検査部材を押圧する。
As described above, the
以上説明したとおり、本実施の形態では、カバー本体21が直接、被検査部材をソケット本体10に向けて押圧する。したがって、カバー本体21とは別に、被検査部材を押圧するカバーパットなどの部材を設ける必要がなく、少ない部品でソケット100を構成することができる。これにより、ソケット100のコストを抑制することができる。
As described above, in the present embodiment, the cover
また、本実施の形態では、カバー本体21とともに圧縮バネ40を挟むカバーパットなどの部材を設ける必要がない。したがって、カバー20の厚みを薄くして、ソケット100のコンパクト化を図ることができる。
Further, in the present embodiment, it is not necessary to provide a member such as a cover pad that sandwiches the
また、被検査部材が撮像素子であり、レンズなどの光学素子をカバー本体21の貫通穴20a付近に配置する場合は、レンズなどの光学素子を従来よりも撮像素子に近接させることができる。よって、撮像素子の試験を適切に行うことができる。
Further, when the member to be inspected is an image sensor, and an optical element such as a lens is disposed in the vicinity of the through
さらに、被検査部材の試験を行う際、試験の補助装置などの装置をカバー本体21の貫通穴20a付近に配置して被検査部材に近接させる必要がある場合、当該装置を従来よりも被検査部材に近接させることができる。
Furthermore, when testing a member to be inspected, if it is necessary to place a device such as a test auxiliary device in the vicinity of the through
上述した実施の形態では、ストッパ30に形成された貫通穴に軸部材35を挿入する構成としたが、ストッパ30と軸部材35とを一体成形してもよい。これにより、ソケット100を構成する部品の数をさらに削減することができる。
In the above-described embodiment, the
また、上述した実施の形態では、ストッパ30に軸部材35が取り付けられ、カバー本体21に長穴状の取付穴23が形成される構成としたが、ストッパ30に長穴状の取付穴23が形成され、カバー本体21に軸部材35が取り付けられる構成としてもよい。このような構成であっても、ストッパ30は、カバー本体21に対して上下方向に移動可能、かつ、軸部材35周りに回動可能にカバー本体21に取り付けられる。
In the above-described embodiment, the
また、上述した実施の形態では、ストッパ30の爪部33とソケット本体10の爪部11aとを2カ所で引っ掛けることにより、カバー20とソケット本体10とを固定する構成にした。しかしながら、カバー20とソケット本体10とを固定するための構成は、このような構成に限られない。
In the above-described embodiment, the
例えば、2つのストッパ30のうちの一方のストッパ30の延出部32と、ソケット本体10の一つの側面とをヒンジで接続してもよい。
For example, the extending
これにより、カバー本体21とソケット本体10とがヒンジおよび一方のストッパ30を介して接続されるため、カバー20をソケット本体10に対して被せる際、カバー20とソケット本体10とを容易に位置合わせすることができる。
Thereby, since the cover
本発明は、被検査部材と配線基板とを電気的に接続するためのソケットに広く利用可能である。 The present invention is widely applicable to sockets for electrically connecting a member to be inspected and a wiring board.
10 ソケット本体
11 枠体
11a 爪部
12 上側プレート
12a 第1の貫通穴
13 下側プレート
13a 第2の貫通穴
20 カバー
20a 貫通穴
21 カバー本体
22 突出部
23 取付穴
24 圧縮バネ載置部
25 接触部
30 ストッパ
31 圧縮バネ押圧部
32 延出部
33 爪部
34 操作部
35 軸部材
40 圧縮バネ
45 プローブピン
46 バレル
46a 円筒部
46b 円柱部
46c 接触部
47 圧縮バネ
48 プランジャ
48a 円筒部
48a1 大径部
48b 円柱部
48c 接触部
50 ベース部材
51 突部
60 配線基板
100 ソケット
110 ソケット本体
120 カバー
121 カバー本体
125 カバーパット
130 ストッパ
140 圧縮バネ
200 ソケット
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記本体部とともに前記被検査部材を挟むプレートと、
前記プレートに対して回動するように取り付けられるとともに、前記本体部に引っ掛かるストッパと、
前記ストッパと前記プレートに挟まれ前記プレートを前記被検査部材に向けて付勢する圧縮バネと、
を備えるソケット。 A main body for accommodating the member to be inspected;
A plate sandwiching the member to be inspected together with the main body,
A stopper attached to the plate so as to rotate, and a stopper hooked on the main body,
A compression spring sandwiched between the stopper and the plate and biasing the plate toward the member to be inspected;
Socket with.
前記プレートと前記ストッパのうち何れか他方は、前記長穴に挿入される軸を有することを特徴とする請求項1に記載のソケット。 Either one of the plate and the stopper has a long hole extending in a direction in which the plate is urged,
The socket according to claim 1, wherein one of the plate and the stopper has a shaft inserted into the elongated hole.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=67694193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018019298A Pending JP2019139849A (en) | 2018-02-06 | 2018-02-06 | socket |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP2019139849A (en) |
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20210107 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20211028 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20211102 |
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A02 | Decision of refusal |
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