JP2019128197A - 付着物検出装置および付着物検出方法 - Google Patents

付着物検出装置および付着物検出方法 Download PDF

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修久 池田
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Abstract

【課題】遮光性の付着物を検出すること。【解決手段】実施形態に係る付着物検出装置は、選択部と、判定部とを備える。選択部は、撮像装置によって撮像された撮像画像に含まれる各画素から輝度勾配が所定の中心領域から外向きとなる第1画素と該第1画素と輝度勾配が逆向きとなる第2画素とをペア画素として選択する。判定部は、選択部によって選択されたペア画像間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合に、当該低エッジ画素と当該ペア画素とを撮像装置に付着物が付着した付着物領域として判定する。【選択図】図1B

Description

本発明は、付着物検出装置および付着物検出方法に関する。
従来、例えば、車両に取り付けられたカメラのレンズに付着した付着物をかかるカメラによって撮像された撮像画像から検出する付着物検出装置がある(例えば、特許文献1参照)。
特開2010−14494号公報
しかしながら、従来技術では、水滴等の透光性の有る付着物を検出することを目的としており、遮光性の付着物については検出することができなかった。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、遮光性の付着物を検出することができる付着物検出装置および付着物検出方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、実施形態に係る付着物検出装置は、選択部と、判定部とを備える。前記選択部は、撮像装置によって撮像された撮像画像に含まれる各画素から輝度勾配が所定の中心領域から外向きとなる第1画素と該第1画素と輝度勾配が逆向きとなる第2画素とをペア画像として選択する。前記判定部は、前記選択部によって選択された前記ペア画像間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合に、当該低エッジ画素と当該ペア画素とを前記撮像装置に付着物が付着した付着物領域として判定する。
本発明によれば、遮光性の付着物を検出することができる。
図1Aは、付着物検出装置の搭載例を示す図である。 図1Bは、付着物検出方法の概要を示す図である。 図2は、付着物検出装置のブロック図である。 図3Aは、変換部による処理を示す図(その1)である。 図3Bは、変換部による処理を示す図(その2)である。 図3Cは、変換部による処理を示す図(その3)である。 図3Dは、変換部による処理を示す図(その4)である。 図4Aは、選択部による処理を説明する図(その1)である。 図4Bは、選択部による処理を説明する図(その2)である。 図4Cは、選択部による処理を説明する図(その3)である。 図5Aは、判定部による処理の具体例を示す図(その1)である。 図5Bは、判定部による処理の具体例を示す図(その2)である。 図5Cは、判定部による処理の具体例を示す図(その3)である。 図6は、確定部による処理の具体例を示す図である。 図7は、付着物検出装置が実行する処理手順を示すフローチャートである。 図8は、付着物のエッジ強度の分布を示す図である。
以下、添付図面を参照して実施形態に係る付着物検出装置および付着物検出方法について詳細に説明する。なお、以下に示す実施形態によりこの発明が限定されるものではない。
まず、図1Aおよび図1Bを用いて実施形態に係る付着物検出装置および付着物検出方法の概要について説明する。図1Aは、付着物検出装置の搭載例を示す図である。図1Bは、付着物検出方法の概要を示す図である。
図1Aに示すように、実施形態に係る付着物検出装置1は、車両Cに搭載される。車両Cは、それぞれ異なる撮像領域を有するカメラ10を備える。カメラ10によって撮像された撮像画像L(または映像)は、例えば、車両Cが自動運転や自動駐車を行う場合に、障害物検知や白線検知等の各種センシングに用いられる。
ここで、カメラ10は、車両Cの外部に設置されるので、カメラ10のレンズには、水滴をはじめとして付着物が付着する場合がある。かかる場合に、撮像画像Lに付着物が写り込み、上記の各種センシングを阻害するおそれがある。
このため、撮像画像Lから付着物を検出する技術が普及しつつある。しかしながら、従来技術では、カメラ10によって撮像された撮像画像からレンズに付着した付着物の検出精度を高めるという点において改善の余地があった。
具体的には、従来技術では、例えば、水滴などの透光性を有する付着物を検出対象としていた。しかしながら、カメラ10のレンズには、水滴に限られず、泥やごみなどの遮光性の付着物Fが付着する場合がある。
そこで、実施形態に係る付着物検出方法では、遮光性の付着物を検出することとした。つまり、実施形態に係る付着物検出方法では、撮像画像Lから遮光性の付着物Fに特有のパターンを検出する。
具体的には、図1Bに示すように、まず、付着物検出方法では、ペア画素を選択する(ステップS1)。かかるペア画素は、輝度勾配が所定の中心領域から外向きとなる第1画素と該第1画素と輝度勾配が逆向きとなる第2画素とのペアである。なお、同図では、各画素の中心点を黒丸で示し、中心点から延びる線の向きが輝度勾配を示す。
同図に示す例では、輝度勾配が上向きの上向き画素Puと、輝度勾配が下向きの下向き画素Pdとがペア画素となり、輝度勾配が左向きの左向き画素Plと、輝度勾配が右向きの右向き画素Prとがペア画素となる。
続いて、実施形態に係る付着物検出方法では、ペア画素間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合に、低エッジ画素とペア画素とを付着物領域Rfと判定する(ステップS2)。
すなわち、付着物Fの中央部に対応する画素は互いに暗いので、付着物領域Rfの中央部に対応する画素のエッジ強度は小さくなる。一方、付着物Fの端部から外周部にかけて徐々に明るくなるので、付着物Fの端部に対応する画素が外向きとなる。
つまり、低エッジ画素が付着物Fの中央部の特徴を示し、ペア画素が付着物Fの端部の特徴を示す。このように、実施形態に係る付着物検出方法では、付着物Fの中央部と、端部との特徴を併せ持つ領域について付着物領域Rfと判定する。
したがって、実施形態に係る付着物検出方法によれば、遮光性の付着物Fを検出することが可能となる。
次に、図2を用いて実施形態に係る付着物検出装置1の構成例について説明する。図2は、付着物検出装置1のブロック図である。なお、図2には、カメラ10および車両制御装置15を併せて示す。
カメラ10は、例えば、CCD(Charge Coupled Device)やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)などの撮像素子を備え、例えば車両の周囲を撮像する位置にそれぞれ取り付けられる。
カメラ10によって撮像された撮像画像Lは、付着物検出装置1を介して車両制御装置15に出力される。なお、かかる撮像画像Lは、車両制御装置15に直接出力されることにしてもよい。
車両制御装置15は、車両Cの自動運転、自動駐車制御や運転アシスト(例えば、PCS(Pre-crash Safety System)やAEB(Advanced Emergency Braking System)など)の車両制御を行う。なお、車両制御部15は、自動駐車制御を行う自動駐車制御部と別体であってもよい。
例えば、車両制御装置15は、付着物検出装置1を介して入力される撮像画像Lから障害物や白線を検出し、検出結果に基づいて上記の車両制御を行うことができる。
付着物検出装置1は、制御部2および記憶部3を備える。制御部2は、変換部21と、選択部22と、判定部23と、確定部24とを備える。制御部2は、たとえば、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、HDD(Hard Disk Drive)、入出力ポートなどを有するコンピュータや各種の回路を含む。また、付着物検出装置1は、撮像装置によって撮像された撮像画像の端から所定の走査向きに沿って撮像画像の画素を走査する走査部を備えてもよい。
コンピュータのCPUは、例えば、ROMに記憶されたプログラムを読み出して実行することによって、制御部2の変換部21、選択部22、判定部23および確定部24として機能する。
また、制御部2の変換部21、選択部22、判定部23および確定部24の少なくともいずれか一部または全部をASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)等のハードウェアで構成することもできる。
また、記憶部3は、たとえば、RAMやHDDに対応する。RAMやHDDは、得点情報31や各種プログラムの情報を記憶することができる。なお、付着物検出装置1は、有線や無線のネットワークで接続された他のコンピュータや可搬型記録媒体を介して上記したプログラムや各種情報を取得することとしてもよい。
制御部2の変換部21は、撮像画像Lに含まれる各画素を各画素の輝度勾配に対応するパラメータに変換する。まず、変換部21は、カメラ10から入力される撮像画像Lをグレースケール化することによりグレースケール画像へ変換する。グレースケール化とは、撮像画像Lにおける各画素の輝度に応じて白から黒までの各階調で表現する処理である。
続いて、変換部21は、グレースケール画像に対してソベルフィルタを用いることで、各画素のX軸方向およびY軸方向に対するエッジ強度を抽出する。次に、変換部21は、それぞれのエッジ強度から輝度勾配を算出し、各画素を対応するパラメータに変換する。
図3A〜図3Dは、変換部21による処理の具体例を示す図である。なお、図3Aでは、X軸方向およびY軸方向におけるエッジ強度を示す。変換部21は、各画素についてX軸方向のエッジ強度およびY軸方向のエッジ強度から実際のエッジ強度Sおよびエッジの向きθを算出する。
図3Aに示すように、X軸方向のエッジ強度およびY軸方向のエッジ強度をそれぞれ1つの辺とする矩形の対角線がエッジ強度Sとなり、かかる対角線とX軸との成す角度がエッジの向きθとなる。かかるエッジの向きθが輝度勾配となる。
また、本実施形態において変換部21は、複数の画素を統合して輝度勾配を算出する。言い換えれば、変換部21は、撮像画像Lを複数の領域に分割し、領域毎に輝度勾配に対応するパラメータへ変換する。
図3Bは、統合する画素の具体例を示す図である。変換部21は、図3Bに示すブロックごとに、ブロックの中央に位置する注目セルの輝度勾配を算出する。ここで、ブロックとは、例えば、3×3セルの画素の集合であり、セルは、4×4ピクセル(画素)の集合である。
つまり、同図に示す例では、1ブロックは、12×12ピクセルの集合となる。ここで、変換部21は、ブロック毎に、注目セルの輝度勾配の代表値を算出する。具体的には、変換部21は、図3Cに示すように、ブロック毎にヒストグラムを作成し、かかるヒストグラムに基づき、注目セルの代表値を算出する。
具体的には、図3Cに示すように、変換部21は、輝度勾配を所定間隔で複数の階級に分類し、ブロックに含まれる各画素の輝度勾配と合致する階級に各画素のエッジ強度を加算していく。なお、同図に示す例では、階級が30°ごとに分類される場合について示している。
そして、変換部21は、エッジ強度の総和が最も高い階級を注目セルの輝度勾配として算出する。このとき、変換部21は、かかる総和が閾値以上である場合に、かかる階級を代表値とする。言い換えれば、総和が閾値以下となる注目セルについては、代表値が割り当てられないこととなる。
つまり、ブロックに含まれる各画素のエッジ強度が低い場合や、かかる各画素の輝度勾配にバラつきがある場合、注目セルについては、代表値が割り当てられないこととなる。
なお、上記のエッジ強度に対する閾値を検出対象とする付着物に応じて変更することも可能である。具体的には、検出対象となる付着物の遮光性が高いほど、かかる閾値を高く設定し、検出対象となる付着物の透光性が高いほど、かかる閾値を低く設定する。
これは、遮光性が高い付着物ほど、周囲の画素との輝度の変化量が大きくなるのに対して、透光性が高い付着物は、周囲の画素との輝度の変化量が小さくなるためである。
このように、検出対象となる付着物に応じて上記の閾値を変更することで、多様な付着物を検出することが可能となる。なお、変換部21は、検出対象となる付着物が1つである場合、かかる付着物の透過度に応じて閾値を設定し、検出対象となる付着物が複数ある場合、複数の付着物に応じた複数の閾値を設定することも可能である。
変換部21は、1つの注目セルについて代表値を算出すると、引き続きブロックを1セルずつずらして注目セルを設定し、かかる注目セルに対して代表値を算出する。これにより、変換部21は、各セルについて代表値を算出する。
そして、変換部21は、各セルを代表値の階級に対応するパラメータに変換する。具体的には、図3Dに示すように、変換部21は、各セルを代表値に基づく色ベクトルを用いたパラメータに変換する。
色ベクトルとは、RGBの色要素に応じて規定されるベクトルであり、RGBから成る3成分の各パラメータを有する。なお、12色相環において各パラメータは、レッド、グリーン、ブルーがそれぞれ10進数で表記すれば、「0」、「128」あるいは「127」、および「255」の3つの値で表される。
ここで、12色相環において、補色の関係にあるRGBの各値は、16進数等の2進数表記で、1の補数の関係になる。つまり、変換部21は、対向する角度範囲同士のRGBのそれぞれの値が1の補数の関係を満たすパラメータを用いて各画素を変換する。なお、かかるパラメータは、厳密に1の補数の関係を満たす必要はなく、所定の誤差を許容するものとする。
具体的には、変換部21は、算出した輝度勾配に対応する角度範囲のRGBのパラメータを画素に割り当てる。例えば、輝度勾配が75°から105°の角度範囲となる場合、かかる輝度勾配のパラメータは、青色に対応するRGB(0、255、255)のパラメータが割り当てられる。
また、エッジ向きが、かかる角度範囲と対向する−75°から−105°の角度範囲に存在する場合、青色の補色である赤色に対応するRGB(255、0、0)が割り当てられることとなる。
このように、変換部21は、対向するエッジ向き同士が1の補数の関係となるパラメータを用いて各画素を変換する。これにより、対向するエッジ向きの違いを鮮明にすることができる。
また、付着物検出方法では、エッジ強度によらず、輝度勾配が近ければ、同一のパラメータが割り当てられる。このため、縁がぼやけた水滴すなわち、エッジ強度が弱い水滴であっても、エッジ強度が強い水滴と同等の精度で検出することが可能となる。なお、上記のパラメータは、一例であり、変換部21は、各セルを輝度勾配に対応する一次元や2次元の符号に変換することにしてもよい。
図2の説明に戻り、選択部22について説明する。選択部22は、撮像画像Lに含まれる各画素から、輝度勾配が所定の中心領域から外向きとなる第1画素と該第1画素と輝度勾配が逆向きとなる第2画素とをペア画素として選択する。
ここで、図4A〜図4Cを用いて選択部22による処理について説明する。図4A〜図4Cは、選択部22による処理の具体例を示す図である。まず、図4Aおよび図4Bを用いて輝度勾配が逆向きを示すテンプレートについて説明する。
図4Aに示すように、本実施形態において、例えば、輝度勾配が左向きを示す左向きテンプレートTlと、輝度勾配が右向きを示す右向きテンプレートTrとに大別してペア画像を選択する。
例えば、左向きテンプレートTlは、輝度勾配が−105°から105°までの時計回りの範囲であり、右向きテンプレートTrは、輝度勾配が−75°から75°までの反時計回りの範囲である。
すなわち、本実施形態において、輝度勾配が反対向きとは、厳密に反対である必要はなく、所定範囲での誤差を許容する。これは、付着物の外周形状によって周縁部の輝度勾配が変化するためである。つまり、本実施形態では、所定範囲の誤差を許容することで、多様な外周形状を有する付着物を検出することが可能となる。
また、選択部22は、図4Bに示すように、輝度勾配が上向きである上向きテンプレートTuと、輝度勾配が下向きである下向きテンプレートTdとを用いてペア画素を選択することにしてもよい。
例えば、上向きテンプレートTuは、15°から165°までの反時計回りの範囲であり、下向きテンプレートTdは、−15°から−165°までの時計回りの範囲である。
また、上向きテンプレートTuまたは下向きテンプレートTdと、左向きテンプレートTlまたは右向きテンプレートTrとが重複する角度範囲の画素については、重複する2つのテンプレートが対応付けられる。
そして、選択部22は、撮像画像L上を上下方向および左右方向に走査し、輝度勾配が逆向きとなるペア画素を選択する。具体的には、選択部22は、左から右へ走査した場合に、左向きテンプレートTlに対応する左向き画素Plから始まり、右向きテンプレートTrに対応する画素で右向き画素Prで終わるときに、かかる左向き画素Plと、右向き画素Prとをペア画素として選択する。なお、選択部22が撮像画像L上を走査する向きは、上下、左右方向に限られず、一方の方向(第1方向)と、他方の方向(第2方向)とが交差する向きであればその他の向きであってもよい。
ところで、カメラ10は、所定の距離に存在する被写体にピントを合わせて撮像画像Lを撮像する。このため、カメラのレンズに付着した付着物は、ピントがずれるので、ぼやけて撮像画像Lに写る。
本実施形態では、かかる点に着目してペア画像を選択することも可能である。つまり、付着物の周縁部がぼやけるので、かかる周縁部に対応する画素が連続して存在することに着目した。
具体的には、図4Cに示すように、選択部22は、左向き画素Plおよび右向き画素Prの幅が所定値Wよりも大きい場合に、最も内側の左向き画素Plおよび右向き画素Prをペア画素として選択する。つまり、選択部22は、輝度勾配が同じ向きで中心領域から遠ざかる向きに連続して存在する画素についてペア画素の選択対象とする。
このように、実施形態に係る付着物検出装置1は、撮像画像Lにおいて付着物のピントがずれる特徴に基づいてペア画素を選択することで、付着物に基づくペア画素のみを選択する選択精度を向上させることができる。言い換えれば、付着物以外に基づくペア画素の選択を抑制することができる。
図2の説明に戻り、判定部23について説明する。判定部23は、選択部22によって選択されたペア画素間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合、当該エッジ画素と当該ペア画素とをカメラ10に付着物が付着した付着物領域Rfとして判定する。
図5A〜図5Cは、判定部23による処理の具体例を示す図である。なお、図5Aでは、選択部22が、上向き画素Puと、下向き画素Pdとを第1方向に沿うペア画素として選択し、左向き画素Plと、右向き画素Prとを第2方向に沿うペア画素として選択した場合を示す。
同図に示すように、判定部23は、第1方向に沿うペア画素を結ぶ線と、第2方向に沿うペア画素を結ぶ線との交点画素Piについて低エッジ画素の判定対象とする。
そして、判定部23は、交点画素Piのエッジ強度が閾値以下である場合、かかる交点画素Piおよびそれぞれのペア画素を判定画素Pbとして判定する。かかる判定画素Pbは、付着物領域Rfの条件を満たす画素である。
つまり、判定部23は、4方をペア画素で囲まれた画素について低エッジ画素か否かを判定する。ここで、上述のように、ペア画素は、付着物の外周部に対応し、ペア画素に挟まれた低エッジ画素は、付着物の中央部に対応する。このため、撮像画像Lに付着物全体が写る場合、付着物の中央部に対応する画素は、4方をペア画素で挟まれることとなる。
このように、判定部23は、4方からペア画素で挟まれた交点画素Piについて付着物領域Rfの判定対象とすることで、付着物領域Rfの検出精度を向上させることができる。
なお、判定部23は、上下または左右の一方をペア画素で挟まれた画素について付着物領域Rfの判定対象とすることにしてもよい。また、判定部23は、ペア画素に挟まれた全ての画素が低輝度画素であることを判定画素Pbの判定条件とすることにしてもよい。
ところで、撮像画像Lから付着物が見切れる場合がある。かかる場合に、上記の処理では、かかる付着物を検出することはできない。実施形態に係る付着物検出装置1は、撮像画像Lから見切れる付着物を検出することも可能である。
具体的には、判定部23は、撮像画像L上を所定の走査向きに沿って走査し、撮像画像Lが低エッジ画素から始まり輝度勾配が走査向きである画素までの領域が全て低エッジ画素である場合、当該領域を付着物領域Rfの判定対象とする。
具体的には、図5Bに示すように、判定部23は、撮像画像Lを右向きに走査した場合に、撮像画像Lの端に位置する端画素Poが低エッジ画素であり、輝度勾配が右向きである右向き画素Prまで全て低エッジ画素である場合、端画素Poから右向き画素Prを付着物領域Rfの判定対象とする。
かかる場合に、例えば、判定部23は、撮像画像Lの外側であり、右向き画素Prに対応する位置に左向き画素Plを仮想的に配置する。つまり、仮想的に配置した左向き画素Plと右向き画素Prとが新たにペア画素となり、付着物領域Rfの判定対象とすることができる。
このように、実施形態に係る付着物検出装置1は、仮想的なペア画素を作ることで、撮像画像Lから見切れる付着物についても検出することが可能となる。なお、ここでは、判定部23が、撮像画像Lを右向きに走査する場合について説明したが、左右上下方向についてそれぞれ走査する。また、図5Bで説明した処理は、判定部23に代えて選択部22ですることにしてもよい。
続いて、判定部23は、図5Cに示すように、撮像画像Lを複数の領域に分割し、判定画素Pbの割合が所定値以上である領域について付着物領域Rfと判定する。
これは、車両Cの走行に支障の小さい付着物について、付着物の検出対象から除外するためである。仮に、判定画素Pbの全てについて付着物領域Rfとして判定すると、極めて小さい付着物のみならず、ノイズを付着物領域Rfとして検出するおそれがある。
つまり、判定部23は、領域毎に付着物領域Rfか否かを判定することで、車両Cに影響する付着物のみを検出することが可能である。なお、上記の所定値は、領域毎に設定することも可能である。例えば、車両Cの走行に影響が高い領域(例えば、撮像画像Lの中央側)の所定値を影響が低い領域(例えば、撮像画像Lの端部)の所定値よりも低く設定することにしてもよい。また、判定部23は、撮像装置によって撮像された撮像画像の端から所定の走査向きに沿って撮像画像の画素が走査された際、撮像画像の画素を走査する輝度勾配が走査向きと逆向きである画素から始まりエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素を経て輝度勾配が走査向きである画素までの領域を撮像装置に付着物が付着した付着物領域と判定してもよい。
図2の説明に戻り、確定部24について説明する。確定部24は、判定部23によって判定された付着物領域Rfの時系列的な重なりに基づいて付着物領域Rfを確定する。
図6は、確定部24による処理の具体例を示す図である。確定部24は、付着物領域Rfと判定された領域について加点し、付着物領域Rfと判定されなかった領域について減点する。
そして、確定部24は、累積値が閾値以上となった領域について付着物領域Rfとして確定させる。つまり、連続的に付着物領域Rfとして検出された領域が付着物領域Rfとして確定されることとなる。
このように、確定部24は、時系列的に連続する複数の撮像画像Lに基づいて付着物領域Rfを確定させることで、付着物の検出精度を向上させることができる。つまり、確定部24は、1つの撮像画像Lのみで付着物領域Rfとして確定しないので、付着物の誤検出を抑制することができる。
また、確定部24は、付着物領域Rfとして確定させた場合に、かかる付着物領域Rfをマスクしたマスク画像を生成する。そして、確定部24は、撮像画像Lにマスク画像を重畳して車両制御装置15(図2参照)に出力する。
これにより、車両制御装置15は、付着物による誤った各種センシングを抑制することができる。つまり、付着物による誤った車両制御を抑制することが可能となる。例えば、車両制御装置15は、撮像画像L中の付着物の領域が大きいために、自動駐車制御を安全に継続することが困難と判断した場合には、自動駐車制御を停止する。このように、車両制御装置15は、車両の安全が担保された場合にのみ自動駐車制御を行うことで、車両の安全性を向上させることが可能となる。
次に、図7を用いて実施形態に係る付着物検出装置1が実行する処理手順について説明する。図7は、付着物検出装置1が実行する処理手順を示すフローチャートである。
図7に示すように、まず、変換部21は、撮像画像Lを変換する(ステップS101)。続いて、選択部22は、輝度勾配が互いに逆向きとなるペア画素を選択する(ステップS102)。
続いて、判定部23は、エッジ強度に基づいて判定画素Pbを抽出し(ステップS103)、領域毎に判定画素Pbの割合が所定値以上か否かを判定する(ステップS104)。
ここで、判定画素Pbの割合が所定値以上である場合(ステップS104,Yes)、判定部23は、かかる領域について付着物領域Rfと判定する(ステップS105)。
一方、判定画素Pbの割合が所定値未満である場合(ステップS104,No)、判定部23は、かかる領域について付着物領域Rfと判定せず、ステップS105の処理を省略する。
続いて、確定部24は、領域毎に得点を加点または減点し(ステップS106)、領域毎に累積値が閾値より大きいか否かを判定する(ステップS107)。
ここで、領域の累積値が閾値を超える場合(ステップS107,Yes)、確定部24は、かかる領域について付着物領域Rfとして確定し(ステップS108)、マスク画像を生成して(ステップS109)、処理を終了する。
一方、確定部24は、領域の累積値が所定値以下である場合(ステップS107,No)、かかる領域について処理を終了する。
上述したように、実施形態に係る付着物検出装置1は、選択部22と、判定部23とを備える。選択部22は、カメラ10(撮像装置の一例)によって撮像された撮像画像Lに含まれる各画素から輝度勾配が所定の中心領域から外向きであり、互いに逆向きとなるペア画像を選択する。
判定部23は、選択部22によって選択されたペア画像間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合に、当該低エッジ画素と当該ペア画素とをカメラ10に付着物が付着した付着物領域Rfとして判定する。したがって、実施形態に係る付着物検出装置1は、遮光性の付着物を検出することができる。
ところで、上述した実施形態では、付着物の輪郭部を輝度勾配に基づいて抽出する場合について説明したが、これに限定されるものではない。すなわち、エッジ強度の分布に基づいて付着物の輪郭部を抽出することも可能である。
図8は、付着物のエッジ強度の分布を示す図である。なお、図8は、縦軸をエッジ強度とし、横軸を撮像画像L上の座標とする。図8に示すように、遮光性の付着物Fは、輪郭部分のエッジ強度が大きく、中央部分のエッジ強度が小さくなる。
つまり、付着物Fの輪郭部分に対応する画素は、付着物Fの輪郭の外に対応する画素との輝度の変化量が大きくなるので、エッジ強度が大きくなる特徴を有する。また、付着物Fの中央部分に対応する画素は、互いに暗く、輝度の変化量が少ないので、エッジ強度が小さくなる特徴を有する。
このため、付着物に関するエッジ強度は、図8に示すような分布を取る。そこで、実施形態に係る付着物検出装置1は、かかる点に着目し、エッジ強度の分布が輪郭部分と中央部分との特徴を有する領域について付着物領域Rfとして検出することも可能である。つまり、付着物検出装置1は、エッジ強度のみから付着物Fを検出することも可能である。
また、上述した実施形態では、選択部22が撮像画像L上を走査し、ペア画素を選択する場合について説明したが、これに限定されるものではない。すなわち、撮像画像L上を撮像画像Lの端から所定の走査向きに沿って走査する走査部を設けることとしてもよい。かかる場合に、判定部23は、輝度勾配が上記の走査向きと逆向きである画素から始まり低エッジ画素を経て輝度勾配が走査向きとなる画素までの領域を付着物領域Frとして判定する。
また、上記した実施形態では、付着物検出装置1をいずれも車載用のカメラ10に適用する場合について示したが、例えば、建物の内外や路地等に設定される監視/防犯カメラなどのその他の種類のカメラに適用してもよい。
さらなる効果や変形例は、当業者によって容易に導き出すことができる。このため、本発明のより広範な態様は、以上のように表しかつ記述した特定の詳細および代表的な実施形態に限定されるものではない。したがって、添付の特許請求の範囲およびその均等物によって定義される総括的な発明の概念の精神または範囲から逸脱することなく、様々な変更が可能である。
1 付着物検出装置
21 変換部
22 選択部
23 判定部
24 確定部
Rf 付着物領域

Claims (9)

  1. 撮像装置によって撮像された撮像画像に含まれる各画素から、輝度勾配が所定の中心領域から外向きとなる第1画素と該第1画素と輝度勾配が逆向きとなる第2画素とをペア画素として選択する選択部と、
    前記選択部によって選択された前記ペア画素間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合に、当該低エッジ画素と当該ペア画素とを前記撮像装置に付着物が付着した付着物領域として判定する判定部と
    を備えることを特徴とする付着物検出装置。
  2. 前記判定部は、
    前記撮像画像を複数の領域に分割し、前記付着物領域の条件を満たす画素の割合が所定値以上である前記領域について前記付着物領域として判定すること
    を特徴とする請求項1に記載の付着物検出装置。
  3. 前記選択部は、
    前記輝度勾配が同じ向きで前記中心領域から遠ざかる向きに連続して存在する画素について前記ペア画素の選択対象とすること
    を特徴とする請求項1または2に記載の付着物検出装置。
  4. 前記選択部は、
    第1方向と、前記第1方向と交差する第2方向とに沿って前記撮像画像から前記ペア画素を選択し、
    前記判定部は、
    前記第1方向に沿う前記ペア画素を結ぶ線と、前記第2方向に沿う前記ペア画素を結ぶ線との交点となる交点画素について前記低エッジ画素の判定対象とすること
    を特徴とする請求項1、2または3に記載の付着物検出装置。
  5. 前記判定部は、
    前記撮像画像におけるエッジ強度の分布に基づいて前記付着物領域を判定すること
    を特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の付着物検出装置。
  6. 前記判定部は、
    前記撮像画像の端から所定の走査向きに沿って走査し、前記撮像画像が前記低エッジ画素から始まり輝度勾配が前記走査向きである画素までの領域が全て前記低エッジ画素である場合、当該領域を前記付着物領域の判定対象とすること
    を特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載の付着物検出装置。
  7. 前記撮像装置は車両に搭載され、
    前記車両は前記撮像画像に基づき該車両の駐車制御を行う駐車制御部を備え、
    前記付着物領域に付着物が付着したと確定する確定部と
    をさらに備え、
    前記駐車制御部は、前記付着物領域が確定された場合に、前記車両の駐車制御を停止すること
    を特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の付着物検出装置。
  8. 撮像装置によって撮像された撮像画像の端から所定の走査向きに沿って該撮像画像の画素を走査する走査部と、
    輝度勾配が前記走査向きと逆向きである画素から始まりエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素を経て輝度勾配が前記走査向きである画素までの領域を前記撮像装置に付着物が付着した付着物領域と判定する判定部と
    を備えることを特徴とする付着物検出装置。
  9. 撮像装置によって撮像された撮像画像に含まれる各画素から、輝度勾配が所定の中心領域から外向きとなる第1画素と該第1画素と輝度勾配が逆向きとなる第2画素とをペア画素として選択する選択工程と、
    前記選択工程によって選択された前記ペア画素間にエッジ強度が閾値以下である低エッジ画素が存在する場合に、当該低エッジ画素と当該ペア画素とを前記撮像装置に付着物が付着した付着物領域として判定する判定工程と
    を含むことを特徴とする付着物検出方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2021051380A (ja) * 2019-09-20 2021-04-01 株式会社デンソーテン 付着物検出装置および付着物検出方法
WO2022185885A1 (ja) * 2021-03-05 2022-09-09 株式会社小糸製作所 センサシステム

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