JP2019114116A - データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム - Google Patents
データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019114116A JP2019114116A JP2017248162A JP2017248162A JP2019114116A JP 2019114116 A JP2019114116 A JP 2019114116A JP 2017248162 A JP2017248162 A JP 2017248162A JP 2017248162 A JP2017248162 A JP 2017248162A JP 2019114116 A JP2019114116 A JP 2019114116A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- unit
- data
- determination
- learning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/70—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
- G06V10/77—Processing image or video features in feature spaces; using data integration or data reduction, e.g. principal component analysis [PCA] or independent component analysis [ICA] or self-organising maps [SOM]; Blind source separation
- G06V10/778—Active pattern-learning, e.g. online learning of image or video features
- G06V10/7784—Active pattern-learning, e.g. online learning of image or video features based on feedback from supervisors
- G06V10/7788—Active pattern-learning, e.g. online learning of image or video features based on feedback from supervisors the supervisor being a human, e.g. interactive learning with a human teacher
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/21—Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
- G06F18/214—Generating training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/21—Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
- G06F18/217—Validation; Performance evaluation; Active pattern learning techniques
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/21—Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
- G06F18/217—Validation; Performance evaluation; Active pattern learning techniques
- G06F18/2178—Validation; Performance evaluation; Active pattern learning techniques based on feedback of a supervisor
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/40—Software arrangements specially adapted for pattern recognition, e.g. user interfaces or toolboxes therefor
- G06F18/41—Interactive pattern learning with a human teacher
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N3/00—Computing arrangements based on biological models
- G06N3/02—Neural networks
- G06N3/04—Architecture, e.g. interconnection topology
- G06N3/045—Combinations of networks
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N3/00—Computing arrangements based on biological models
- G06N3/02—Neural networks
- G06N3/08—Learning methods
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/70—Arrangements for image or video recognition or understanding using pattern recognition or machine learning
- G06V10/77—Processing image or video features in feature spaces; using data integration or data reduction, e.g. principal component analysis [PCA] or independent component analysis [ICA] or self-organising maps [SOM]; Blind source separation
- G06V10/774—Generating sets of training patterns; Bootstrap methods, e.g. bagging or boosting
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V2201/00—Indexing scheme relating to image or video recognition or understanding
- G06V2201/06—Recognition of objects for industrial automation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Computational Linguistics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
まず、図1を用いて、本発明が適用される場面の一例について説明する。図1は、本実施形態に係るデータ生成装置100の適用場面の一例を模式的に例示した機能ブロック図である。本実施形態に係るデータ生成装置100は、例えばコンボリューショナルニューラルネットワーク(Convolutional Neural Network、以下、「CNN」と称す。)等のニューラルネットワークを用いた識別器(a、b、c、A、B、…)を有する。識別器(a、b、c、A、B、…)は、検査対象物の画像と、画像に含まれる検査対象部位の有無に関する情報(ラベル)とを少なくとも含む学習用データを用いて機械学習により生成され、入力される画像内に含まれる検査対象部位の有無に関する情報を出力可能な識別器である。データ生成装置100は、識別器(a、b、c、A、B、…)によって、検査対象物の画像に基づいて検査対象物に検査対象部位が含まれているか否かを判定し、ユーザインタフェース170によって判定結果が正しいか否かに関する入力を受け付けて、入力に基づいて評価部127により判定結果が正しいか否かを評価し、判定結果が正しくないと評価された場合に、判定結果を修正した情報を、検査対象物の画像又は検査対象物の画像に基づいて生成された合成画像に関連付けて、新たな学習用データを生成する装置である。ここで、判定結果を修正した情報は、正しい判定結果に関する情報であってよく、例えば、検査対象物の画像に検査対象部位が含まれないことを示す情報であったり、画像に検査対象部位が含まれていることを示す情報であったりしてよい。また、検査対象部位が含まれないことを示す情報は、画像の特定の領域に検査対象部位が含まれないことを示す情報であってよいし、検査対象部位が含まれていることを示す情報は、画像の特定の領域に検査対象部位が含まれていることを示す情報であってよい。本実施形態では、検出対象部位が、検査対象物に含まれる欠陥の部位である場合について説明する。しかしながら、検出対象部位は、検査対象物に含まれる欠陥の部位に限られず、検査対象物に含まれる任意の部位であってよい。
ここで、計測部150は、本発明の「取得部」の一例である。本明細書では、撮像装置153により新たに撮像される検査対象物の画像を「計測画像」と呼び、識別器(a、b、c、A、B、…)を学習するため予め収集される検査対象物の画像を「サンプル画像」と呼ぶ。なお、データ生成装置100は、必ずしも撮像装置153を備えていなくてもよく、別体で設けられた撮像装置から計測画像を取得するものであってもよい。また、データ生成装置100は、必ずしも判定部152を備えていなくてもよく、別体で設けられた判定部から判定結果を取得するものであってもよい。さらに、データ生成装置100は、必ずしも計測部150を備えていなくてもよい。別体で設けられた撮像装置や判定部から計測画像や判定結果を取得する場合、データ生成装置100は、インターネット等の通信ネットワークを介して計測画像や判定結果を取得してもよい。
[機能構成]
次に、図1を用いて、本実施形態に係るデータ生成装置100の機能構成の一例を説明する。データ生成装置100は、学習用データを用いて、検査対象物の欠陥の有無と、検査対象物に欠陥が含まれる場合には、その欠陥の位置と、その欠陥の種類と、を含む属性情報(ラベル)を出力する識別器を生成する機能を備える。ここで、検査対象物に複数の欠陥が含まれる場合には、属性情報は、欠陥の有無と、複数の欠陥の位置と、それらの欠陥の種類と、を含んでよい。また、データ生成装置100は、検査対象物を測定した計測画像を取得し、新たな学習用データを用いて学習された識別器を用いて、検査対象物の属性情報を出力する機能を備える。したがって、データ生成装置100は、検査対象物の計測画像を取得し、計測画像に基づいて検査対象物の欠陥の有無に関する情報を含む計測結果を出力する検査装置又は検査システムとして機能する。
画像収集部110は、学習用データを生成するためのサンプル画像を取得する。サンプル画像は、検査対象物を撮像した画像でもよく、また、公知の画像合成技術により生成されたCG画像であってもよい。画像収集部110が取得したサンプル画像は、属性付与部111にて、各画像に対して、又は、複数の画像に対して、属性情報の付与が行われる。すなわち、属性付与部111は、サンプル画像に対して属性情報を付与することで、サンプル画像を学習用データにする。
図2は、本実施形態に係るデータ生成装置100の第1学習部130及び第2学習部140における処理の内容を示す概念図である。第1学習部130は、画像収集部110から、学習用データを取得する。なお、第1学習部130は、後述する画像修正部120から、学習用データを取得してもよい。第1学習部130は、取得した学習用データを用いた機械学習を実行し、識別器(a、b、c、・・・)を生成する第1学習処理部131を有する。識別器(a、b、c、・・・)は、画像データを入力とし、当該画像に含まれる欠陥の有無、1又は複数の欠陥が含まれる場合にはその位置及びその種類、を含む属性情報を出力するものである。なお、識別器(a、b、c、・・・)には、画像データ以外のデータが入力されてもよい。例えば、識別器(a、b、c、・・・)には、検査対象物の画像を撮像した条件(光量や撮像装置の露光時間等)が入力されたり、検査対象物の識別情報が入力されたりしてもよい。
引き続き、図2を用いて、第2学習部140における処理の内容を説明する。第2学習部140は、所定の生成処理によって生成された識別器に対する追加学習(再学習)を行う。なお、第2学習部140について、第1学習部130と共通する要素については、その記載を省略する。
図3は、本実施形態に係るデータ生成装置100の計測部150における処理の内容を示す概念図である。計測部150は、学習用データを用いた学習処理及び評価処理によって生成された識別器を用いて、撮像装置153により撮像された検査対象物の計測画像の属性情報を出力させ、判定部152により検査対象物に欠陥が含まれているか否かを判定して、欠陥の有無に関する情報(判定結果)を含む属性情報及び計測画像を含む計測結果を出力する。属性情報は、欠陥の有無に関する情報(判定結果)、1又は複数の欠陥が含まれる場合にはその欠陥の位置及び種類、を含む。
計測結果管理部160は、計測結果に含まれる計測画像と、判定部152が識別器を用いて出力する計測画像の判定結果を少なくとも含む、計測画像の属性情報とを関連付けて記憶する計測結果DB161を有する。なお、計測結果管理部160は、検査対象物を識別するための識別情報を、計測結果とともに取得してもよい。このとき、検査対象物の識別情報は、計測部150から取得してもよく、所定のインタフェースを介して外部より取得してもよい。また、計測結果DB161は、属性情報に含まれる属性の種別に応じて、例えば、欠陥の種別の属性に関連付けて、計測画像を分類して記憶してもよい。
本実施形態において、ユーザインタフェース170は、第2作業者が、判定部152による判定結果や計測画像の属性情報を確認するために用いられたり、計測画像に含まれる欠陥を含む部分画像を指定するために用いられたり、判定部152による判定結果が正しいか否かに関する入力を受け付けたり、補正部126による補正方法を指定するために用いられたり、生成部121による合成画像の生成方法を指定するために用いられたりする。ユーザインタフェース170は、少なくとも計測画像及び計測部150による計測結果を表示するための表示部(液晶表示装置等)、及び、第2作業者による部分画像の指定、判定部152による判定結果が正しいか否かの入力、補正方法の指定及び生成方法の指定等を行うための入力部(タッチパネル、キーボード、マウス等)を有する。第2作業者は、表示部に表示された計測画像及び当該計測画像の計測結果に基づいて、計測結果の正誤を判断し、入力部を用いて計測結果の正誤を入力し、欠陥を含む部分画像の領域を入力してよい。そして、第2作業者は、表示部に表示された計測画像及び当該計測画像の計測結果に基づいて、部分画像を他の画像にどのように合成するかを、入力部を用いて指定してよい。
画像修正部120は、取得された計測画像に判定結果を修正した情報を関連付けて、学習用データの生成を行う。画像修正部120は、生成部121、修正画像データベース(以下、「修正画像DB」と称す。)122、抽出部123、検証部124、通信部125、補正部126及び評価部127を有し、評価部127によって判定結果が正しくないと評価された場合に、判定結果を修正した情報を、画像及び画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、学習用データを生成する。なお、以下では、画像修正部120は、計測画像に基づいて新たな学習用データを生成する例について説明するが、サンプル画像に基づいて新たな学習用データを生成してもよい。
次に、図4を用いて、本実施形態に係るデータ生成装置100のハードウェア構成の一例を説明する。本実施形態に係るデータ生成装置100は、演算装置101、出力装置191、入力装置192及び撮像装置153を備えるものであってよい。ここで、出力装置191及び入力装置192は、ユーザインタフェース170及びユーザインタフェース180を構成する。
図5は、本実施形態に係るデータ生成装置100により実行される第1処理の内容を示すフローチャートである。第1処理は、判定結果が第1誤判定又は第2誤判定の場合に、それぞれの場合に応じた処理で新たな学習用データを生成し、第1誤判定の場合に生成した新たな学習用データと、第2誤判定の場合に生成した新たな学習用データと、を混合して学習用のデータセットを生成する処理である。
<4.1>
図10は、本実施形態の変形例に係るデータ生成装置100により実行される第1誤判定の場合の処理の内容を示すフローチャートである。変形例に係るデータ生成装置100は、第1誤判定が生じた場合、判定結果の根拠となる画像の部分画像を抽出する(S21)。部分画像の抽出は、CAMを用いて行ってよい。
検査対象物の画像と、学習用データを用いて学習された識別器(a、b、c、A、B)によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定部(152)により判定した判定結果とを取得する取得部(150)と、
前記判定部(152)による判定結果が正しいか否かを評価する評価部(127)と、
前記評価部(127)により、前記判定結果が正しくないと評価された場合に、前記判定結果を修正した情報を、前記画像及び前記画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、新たな学習用データを生成する生成部(121)と、
を備えるデータ生成装置(100)。
前記生成部(121)は、前記判定部(152)により前記検査対象物に検出対象部位が含まれていると判定され、前記評価部(127)により前記判定結果が正しくないと入力された第1誤判定の場合と、前記判定部(152)により前記検査対象物に検出対象部位が含まれていないと判定され、前記評価部(127)により前記判定結果が正しくないと入力された第2誤判定の場合とで、検出対象部位の有無に関して異なる情報を付与する処理を実行することにより前記新たな学習用データを生成する、
付記1に記載のデータ生成装置。
前記生成部(121)は、前記第1誤判定の場合に生成した前記新たな学習用データと、前記第2誤判定の場合に生成した前記新たな学習用データと、を混合して、学習用のデータセットを生成する、
付記2に記載のデータ生成装置。
前記生成部(121)は、前記第1誤判定の場合に、少なくとも前記判定結果の根拠となる前記画像の部分画像には検出対象部位が含まれていないことを示す情報を前記画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
付記2又は3に記載のデータ生成装置。
前記生成部(121)は、前記第1誤判定の場合に、前記判定結果の根拠となる前記画像の部分画像と、前記部分画像を含む前記画像とは異なる画像とを合成した前記合成画像を生成し、検出対象部位が含まれていないことを示す情報を前記合成画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
付記2から4のいずれか一項に記載のデータ生成装置。
前記生成部(121)は、前記第2誤判定の場合に、少なくとも前記画像に検出対象部位が含まれていることを示す情報を前記画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
付記2から5のいずれか一項に記載のデータ生成装置。
前記検出対象部位が含まれていることを示す情報は、前記検出対象部位が含まれている前記画像の領域を示す情報を含み、
前記領域を示す情報を、前記領域の内部に含まれる画素が所定量多くなるように、前記領域の外縁の少なくとも一部を広げるように補正する補正部(126)をさらに備え、
前記生成部(121)は、補正された前記領域を示す情報を前記画像に関連付けて、学習用データを生成する、
付記6に記載のデータ生成装置。
前記生成部(121)は、前記第2誤判定の場合に、前記画像のうち前記検出対象部位を含む部分画像と、前記部分画像を含む前記画像とは異なる画像とを合成した前記合成画像を生成し、検出対象部位が含まれていることを示す情報を前記合成画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
付記2から7のいずれか一項に記載のデータ生成装置。
前記検出対象部位は、前記検査対象物に含まれる欠陥の部位であり、
前記合成画像に欠陥が含まれているか否かを前記判定部(152)により判定させ、前記第1誤判定又は前記第2誤判定の判定結果が得られるか検証する検証部(124)をさらに備える、
付記5又は8に記載のデータ生成装置。
前記生成部(121)によって前記新たな学習用データを生成する場合に、前記第1誤判定の場合であるか前記第2誤判定の場合であるかを示す情報とともに、前記新たな学習用データの登録の可否を権限者に問い合わせる通信部(125)をさらに備える、
付記2から9のいずれか一項に記載のデータ生成装置。
付記1から10のいずれか一項に記載のデータ生成装置(100)により生成された前記新たな学習用データを用いて学習された識別器(a、b、c、A、B)によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定する判定部(152)を備える、
検査装置。
検査対象物の画像と、学習用データを用いて学習された識別器(a、b、c、A、B)によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定部(152)により判定した判定結果とを取得することと、
前記判定結果が正しいか否かを評価することと、
前記評価することにより、前記判定結果が正しくないと評価された場合に、前記判定結果を修正した情報を、前記画像及び前記画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、新たな学習用データを生成することと、
を含むデータ生成方法。
データ生成装置に備えられた演算装置を、
検査対象物の画像と、学習用データを用いて学習された識別器(a、b、c、A、B)によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定部(152)により判定した判定結果とを取得する取得部(150)、
前記判定部(152)による判定結果が正しいか否かを評価する評価部(127)、及び
前記評価部(127)により、前記判定結果が正しくないと評価された場合に、前記判定結果を修正した情報を、前記画像及び前記画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、新たな学習用データを生成する生成部(121)、
として動作させるデータ生成プログラム。
Claims (13)
- 検査対象物の画像と、学習用データを用いて学習された識別器によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定部により判定した判定結果とを取得する取得部と、
前記判定部による判定結果が正しいか否かを評価する評価部と、
前記評価部により、前記判定結果が正しくないと評価された場合に、前記判定結果を修正した情報を、前記画像及び前記画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、新たな学習用データを生成する生成部と、
を備えるデータ生成装置。 - 前記生成部は、前記判定部により前記検査対象物に検出対象部位が含まれていると判定され、前記評価部により前記判定結果が正しくないと評価された第1誤判定の場合と、前記判定部により前記検査対象物に検出対象部位が含まれていないと判定され、前記評価部により前記判定結果が正しくないと評価された第2誤判定の場合とで、検出対象部位の有無に関して異なる情報を付与する処理を実行することにより前記新たな学習用データを生成する、
請求項1に記載のデータ生成装置。 - 前記生成部は、前記第1誤判定の場合に生成した前記新たな学習用データと、前記第2誤判定の場合に生成した前記新たな学習用データと、を混合して、学習用のデータセットを生成する、
請求項2に記載のデータ生成装置。 - 前記生成部は、前記第1誤判定の場合に、少なくとも前記判定結果の根拠となる前記画像の部分画像には検出対象部位が含まれていないことを示す情報を前記画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
請求項2又は3に記載のデータ生成装置。 - 前記生成部は、前記第1誤判定の場合に、前記判定結果の根拠となる前記画像の部分画像と、前記部分画像を含む前記画像とは異なる画像とを合成した前記合成画像を生成し、検出対象部位が含まれていないことを示す情報を前記合成画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
請求項2から4のいずれか一項に記載のデータ生成装置。 - 前記生成部は、前記第2誤判定の場合に、少なくとも前記画像に検出対象部位が含まれていることを示す情報を前記画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
請求項2から5のいずれか一項に記載のデータ生成装置。 - 前記検出対象部位が含まれていることを示す情報は、前記検出対象部位が含まれている前記画像の領域を示す情報を含み、
前記領域を示す情報を、前記領域の内部に含まれる画素が所定量多くなるように、前記領域の外縁の少なくとも一部を広げるように補正する補正部をさらに備え、
前記生成部は、補正された前記領域を示す情報を前記画像に関連付けて、学習用データを生成する、
請求項6に記載のデータ生成装置。 - 前記生成部は、前記第2誤判定の場合に、前記画像のうち前記検出対象部位を含む部分画像と、前記部分画像を含む前記画像とは異なる画像とを合成した前記合成画像を生成し、検出対象部位が含まれていることを示す情報を前記合成画像に関連付けて、前記新たな学習用データを生成する、
請求項2から7のいずれか一項に記載のデータ生成装置。 - 前記検出対象部位は、前記検査対象物に含まれる欠陥の部位であり、
前記合成画像に欠陥が含まれているか否かを前記判定部により判定させ、前記第1誤判定又は前記第2誤判定の判定結果が得られるか検証する検証部をさらに備える、
請求項5又は8に記載のデータ生成装置。 - 前記生成部によって前記新たな学習用データを生成する場合に、前記第1誤判定の場合であるか前記第2誤判定の場合であるかを示す情報とともに、前記新たな学習用データの登録の可否を権限者に問い合わせる通信部をさらに備える、
請求項2から9のいずれか一項に記載のデータ生成装置。 - 請求項1から10のいずれか一項に記載のデータ生成装置により生成された前記新たな学習用データを用いて学習された識別器によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定する判定部を備える、
検査装置。 - 検査対象物の画像と、学習用データを用いて学習された識別器によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定部により判定した判定結果とを取得することと、
前記判定結果が正しいか否かを評価することと、
前記評価することにより、前記判定結果が正しくないと評価された場合に、前記判定結果を修正した情報を、前記画像及び前記画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、新たな学習用データを生成することと、
を含むデータ生成方法。 - データ生成装置に備えられた演算装置を、
検査対象物の画像と、学習用データを用いて学習された識別器によって、前記画像に基づいて前記検査対象物に検出対象部位が含まれているか否かを判定部により判定した判定結果とを取得する取得部、
前記判定部による判定結果が正しいか否かを評価する評価部、及び
前記評価部により、前記判定結果が正しくないと評価された場合に、前記判定結果を修正した情報を、前記画像及び前記画像に基づいて生成された合成画像の少なくともいずれかに関連付けて、新たな学習用データを生成する生成部、
として動作させるデータ生成プログラム。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017248162A JP6924413B2 (ja) | 2017-12-25 | 2017-12-25 | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム |
CN201811182264.8A CN109961421B (zh) | 2017-12-25 | 2018-10-10 | 数据生成装置、数据生成方法以及数据生成记录介质 |
EP18200916.7A EP3502966B1 (en) | 2017-12-25 | 2018-10-17 | Data generation apparatus, data generation method, and data generation program |
US16/163,250 US10878283B2 (en) | 2017-12-25 | 2018-10-17 | Data generation apparatus, data generation method, and data generation program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017248162A JP6924413B2 (ja) | 2017-12-25 | 2017-12-25 | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019114116A true JP2019114116A (ja) | 2019-07-11 |
JP6924413B2 JP6924413B2 (ja) | 2021-08-25 |
Family
ID=63878506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017248162A Active JP6924413B2 (ja) | 2017-12-25 | 2017-12-25 | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10878283B2 (ja) |
EP (1) | EP3502966B1 (ja) |
JP (1) | JP6924413B2 (ja) |
CN (1) | CN109961421B (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2021010269A1 (ja) * | 2019-07-18 | 2021-01-21 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
JP2021093004A (ja) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | 富士電機株式会社 | 画像生成装置、画像生成方法及びプログラム |
WO2021149091A1 (ja) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及び、記録媒体 |
JP2021117548A (ja) * | 2020-01-22 | 2021-08-10 | 富士通株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム |
JP2021139769A (ja) * | 2020-03-05 | 2021-09-16 | 国立大学法人 筑波大学 | 欠陥検出分類システム及び欠陥判定トレーニングシステム |
WO2022024165A1 (ja) * | 2020-07-27 | 2022-02-03 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及び、記録媒体 |
WO2022102523A1 (ja) * | 2020-11-10 | 2022-05-19 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | データ作成システム、学習システム、推定システム、処理装置、評価システム、データ作成方法、及びプログラム |
JP2023514466A (ja) * | 2019-12-20 | 2023-04-06 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 | 推論演算装置、モデル訓練装置、及び推論演算システム |
WO2023162479A1 (ja) * | 2022-02-24 | 2023-08-31 | ソニーグループ株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
WO2023223790A1 (ja) * | 2022-05-18 | 2023-11-23 | コニカミノルタ株式会社 | 訓練装置、訓練方法、異常検出装置及び異常検出方法 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6924413B2 (ja) * | 2017-12-25 | 2021-08-25 | オムロン株式会社 | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム |
WO2019127618A1 (zh) * | 2017-12-25 | 2019-07-04 | 图灵通诺(北京)科技有限公司 | 结算方法、装置和系统 |
CN111727412B (zh) * | 2018-03-05 | 2023-07-14 | 欧姆龙株式会社 | 用于设定照明条件的方法、装置、系统以及存储介质 |
JP6766839B2 (ja) * | 2018-03-14 | 2020-10-14 | オムロン株式会社 | 検査システム、画像識別システム、識別システム、識別器生成システム、及び学習データ生成装置 |
US11170255B2 (en) * | 2018-03-21 | 2021-11-09 | Kla-Tencor Corp. | Training a machine learning model with synthetic images |
TWI787296B (zh) * | 2018-06-29 | 2022-12-21 | 由田新技股份有限公司 | 光學檢測方法、光學檢測裝置及光學檢測系統 |
US10769496B2 (en) * | 2018-10-25 | 2020-09-08 | Adobe Inc. | Logo detection |
JP7242309B2 (ja) * | 2019-01-16 | 2023-03-20 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム |
JP6651189B1 (ja) | 2019-03-29 | 2020-02-19 | 株式会社 情報システムエンジニアリング | 機械学習用のデータ構造、学習方法及び情報提供システム |
JP6653929B1 (ja) * | 2019-07-18 | 2020-02-26 | Jeインターナショナル株式会社 | 自動判別処理装置、自動判別処理方法、検査システム、プログラム、および記録媒体 |
US11727522B2 (en) * | 2019-10-11 | 2023-08-15 | Cargo Spectre | Method, system, and apparatus for damage assessment and classification |
CN110766079B (zh) * | 2019-10-24 | 2023-07-21 | 南京纳贝信息技术有限公司 | 用于屏幕异常画面检测的训练数据的生成方法与装置 |
WO2021079728A1 (ja) * | 2019-10-25 | 2021-04-29 | 日本電気株式会社 | 欠陥位置判定システム、外観検査方法およびプログラム |
JP6710387B1 (ja) * | 2019-10-31 | 2020-06-17 | 株式会社 情報システムエンジニアリング | 情報提供システム |
CN111080394B (zh) * | 2019-11-13 | 2024-06-18 | 联想(北京)有限公司 | 匹配方法、设备及存储介质 |
JP7308775B2 (ja) * | 2020-02-12 | 2023-07-14 | 株式会社日立ハイテク | 機械学習方法および機械学習用情報処理装置 |
JP2022167689A (ja) * | 2021-04-23 | 2022-11-04 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
US11468552B1 (en) | 2021-07-12 | 2022-10-11 | The Florida International University Board Of Trustees | Systems and methods for quantifying concrete surface roughness |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006293528A (ja) * | 2005-04-07 | 2006-10-26 | Sharp Corp | 学習用画像選択方法および装置、画像処理アルゴリズム生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体 |
JP2014022837A (ja) * | 2012-07-13 | 2014-02-03 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 学習装置、及びプログラム |
JP2014178957A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Nec Corp | 学習データ生成装置、学習データ作成システム、方法およびプログラム |
WO2017073373A1 (ja) * | 2015-10-30 | 2017-05-04 | 株式会社モルフォ | 学習システム、学習装置、学習方法、学習プログラム、教師データ作成装置、教師データ作成方法、教師データ作成プログラム、端末装置及び閾値変更装置 |
JP2017151813A (ja) * | 2016-02-25 | 2017-08-31 | ファナック株式会社 | 入力画像から検出した対象物を表示する画像処理装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4155496B2 (ja) | 2002-04-25 | 2008-09-24 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 分類支援装置、分類装置およびプログラム |
JP2007315803A (ja) * | 2006-05-23 | 2007-12-06 | Kirin Techno-System Co Ltd | 表面検査装置 |
JP4799329B2 (ja) * | 2006-09-07 | 2011-10-26 | 株式会社東芝 | ムラ検査方法、表示パネルの製造方法及びムラ検査装置 |
JP2010231455A (ja) * | 2009-03-26 | 2010-10-14 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 信号識別方法および信号識別装置 |
WO2011114447A1 (ja) * | 2010-03-17 | 2011-09-22 | グローリー株式会社 | 紙葉類判別装置および紙葉類判別方法 |
JP5546317B2 (ja) * | 2010-03-31 | 2014-07-09 | 株式会社デンソーアイティーラボラトリ | 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム |
JP6136504B2 (ja) * | 2013-04-15 | 2017-05-31 | オムロン株式会社 | 対象画像検出デバイス、その制御方法および制御プログラム、記録媒体、並びにデジタルカメラ |
JP6148265B2 (ja) | 2015-02-04 | 2017-06-14 | エヌ・ティ・ティ・コムウェア株式会社 | 学習装置、学習方法、およびプログラム |
JP6393230B2 (ja) * | 2015-04-20 | 2018-09-19 | 株式会社日立製作所 | オブジェクト検出方法及び画像検索システム |
US20170069075A1 (en) * | 2015-09-04 | 2017-03-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Classifier generation apparatus, defective/non-defective determination method, and program |
JP6924413B2 (ja) * | 2017-12-25 | 2021-08-25 | オムロン株式会社 | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム |
-
2017
- 2017-12-25 JP JP2017248162A patent/JP6924413B2/ja active Active
-
2018
- 2018-10-10 CN CN201811182264.8A patent/CN109961421B/zh active Active
- 2018-10-17 EP EP18200916.7A patent/EP3502966B1/en active Active
- 2018-10-17 US US16/163,250 patent/US10878283B2/en active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006293528A (ja) * | 2005-04-07 | 2006-10-26 | Sharp Corp | 学習用画像選択方法および装置、画像処理アルゴリズム生成方法および装置、プログラムならびに記録媒体 |
JP2014022837A (ja) * | 2012-07-13 | 2014-02-03 | Nippon Hoso Kyokai <Nhk> | 学習装置、及びプログラム |
JP2014178957A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Nec Corp | 学習データ生成装置、学習データ作成システム、方法およびプログラム |
WO2017073373A1 (ja) * | 2015-10-30 | 2017-05-04 | 株式会社モルフォ | 学習システム、学習装置、学習方法、学習プログラム、教師データ作成装置、教師データ作成方法、教師データ作成プログラム、端末装置及び閾値変更装置 |
JP2017151813A (ja) * | 2016-02-25 | 2017-08-31 | ファナック株式会社 | 入力画像から検出した対象物を表示する画像処理装置 |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2021010269A1 (ja) * | 2019-07-18 | 2021-11-25 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
WO2021010269A1 (ja) * | 2019-07-18 | 2021-01-21 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
JP7118277B2 (ja) | 2019-07-18 | 2022-08-15 | 三菱電機株式会社 | 検査装置、検査方法及びプログラム |
JP2021093004A (ja) * | 2019-12-11 | 2021-06-17 | 富士電機株式会社 | 画像生成装置、画像生成方法及びプログラム |
JP7487469B2 (ja) | 2019-12-11 | 2024-05-21 | 富士電機株式会社 | 画像生成装置、画像生成方法及びプログラム |
JP2023514466A (ja) * | 2019-12-20 | 2023-04-06 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 | 推論演算装置、モデル訓練装置、及び推論演算システム |
JP7442550B2 (ja) | 2019-12-20 | 2024-03-04 | 京東方科技集團股▲ふん▼有限公司 | 推論演算装置、モデル訓練装置、及び推論演算システム |
WO2021149091A1 (ja) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及び、記録媒体 |
JPWO2021149091A1 (ja) * | 2020-01-20 | 2021-07-29 | ||
JP2021117548A (ja) * | 2020-01-22 | 2021-08-10 | 富士通株式会社 | 画像処理装置、画像処理方法及び画像処理プログラム |
JP2021139769A (ja) * | 2020-03-05 | 2021-09-16 | 国立大学法人 筑波大学 | 欠陥検出分類システム及び欠陥判定トレーニングシステム |
JP7444439B2 (ja) | 2020-03-05 | 2024-03-06 | 国立大学法人 筑波大学 | 欠陥検出分類システム及び欠陥判定トレーニングシステム |
JP7400982B2 (ja) | 2020-07-27 | 2023-12-19 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム |
JPWO2022024165A1 (ja) * | 2020-07-27 | 2022-02-03 | ||
WO2022024165A1 (ja) * | 2020-07-27 | 2022-02-03 | 日本電気株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及び、記録媒体 |
JPWO2022102523A1 (ja) * | 2020-11-10 | 2022-05-19 | ||
WO2022102523A1 (ja) * | 2020-11-10 | 2022-05-19 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | データ作成システム、学習システム、推定システム、処理装置、評価システム、データ作成方法、及びプログラム |
JP7507441B2 (ja) | 2020-11-10 | 2024-06-28 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | データ作成システム、学習システム、推定システム、処理装置、評価システム、データ作成方法、及びプログラム |
WO2023162479A1 (ja) * | 2022-02-24 | 2023-08-31 | ソニーグループ株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム |
WO2023223790A1 (ja) * | 2022-05-18 | 2023-11-23 | コニカミノルタ株式会社 | 訓練装置、訓練方法、異常検出装置及び異常検出方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190197356A1 (en) | 2019-06-27 |
CN109961421B (zh) | 2023-11-24 |
EP3502966A1 (en) | 2019-06-26 |
CN109961421A (zh) | 2019-07-02 |
EP3502966B1 (en) | 2023-08-23 |
JP6924413B2 (ja) | 2021-08-25 |
US10878283B2 (en) | 2020-12-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6924413B2 (ja) | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム | |
JP6936957B2 (ja) | 検査装置、データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム | |
JP6573226B2 (ja) | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム | |
US11176650B2 (en) | Data generation apparatus, data generation method, and data generation program | |
Shipway et al. | Automated defect detection for fluorescent penetrant inspection using random forest | |
JP6544716B2 (ja) | データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム | |
JP5546317B2 (ja) | 外観検査装置、外観検査用識別器の生成装置及び外観検査用識別器生成方法ならびに外観検査用識別器生成用コンピュータプログラム | |
TWI748122B (zh) | 用於對多個項進行分類的系統、方法和電腦程式產品 | |
TW201935590A (zh) | 半導體樣品的基於深度學習的檢查的方法及其系統 | |
TW202105549A (zh) | 對樣本的缺陷檢測的方法及其系統 | |
JP2019158684A (ja) | 検査システム、識別システム、及び識別器評価装置 | |
CN113537407A (zh) | 基于机器学习的图像数据评价处理方法及装置 | |
Ahmadi et al. | A novel crowdsourcing platform for microelectronics counterfeit defect detection | |
CN113205110B (zh) | 一种面板缺陷分类模型的建立方法及面板缺陷分类方法 | |
JP7559633B2 (ja) | 統合モデルの生成方法、画像検査システム、画像検査用モデルの生成装置、画像検査用モデルの生成プログラム及び画像検査装置 | |
JP7562851B2 (ja) | コンポーネントを分析する方法、システムをトレーニングする方法、デバイス、コンピュータプログラム及びコンピュータ可読記憶媒体 | |
CN116204878A (zh) | 一种基于计算机视觉辅助的硬件木马自动排查判读方法 | |
JP2024102390A (ja) | 検査装置、検査方法、および検査プログラム | |
JP2024075062A (ja) | 外観検査装置および外観検査用識別器の生成方法 | |
CN113705676A (zh) | 分类模型的更新方法及装置、电子设备、存储介质 | |
JP2018198034A (ja) | 画像分類システム、画像分類機能付製造装置、画像分類用の識別器、及び画像分類方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200310 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210426 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210507 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210622 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210702 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210715 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6924413 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |