JP2019111509A - 排ガス浄化用触媒 - Google Patents

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【課題】HC浄化能及びOSC能に優れる排ガス浄化用触媒を提供する。【解決手段】基材と、該基材の表面に形成された触媒コート層とを備える排ガス浄化用触媒であって、触媒コート層が、基材表面に近い方を下層とし相対的に遠い方を上層とする上下層を含み、触媒コート層の上層が、Rh及びPdと担体とを含有し、触媒コート層の上層が、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層を含み、触媒コート層の下層が、Pd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属と担体とを含有し、Pd最表面層に含有されるPdの65質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在し、上層において、Rhに対するPdの質量比(Pd/Rh)が0.5以上7.0以下であり、上層において、担体がCeO2を含み、上層におけるCeO2の含有量が9質量%を超えて23質量%以下である、上記排ガス浄化用触媒。【選択図】図1

Description

本発明は、排ガス浄化用触媒に関する。
自動車の排ガス浄化用触媒は、エンジンから排出される排気ガスに含まれる炭化水素(HC)及び一酸化炭素(CO)を酸化して水及び二酸化炭素に、窒素酸化物(NOx)を還元して窒素に、それぞれ変換する。このような触媒活性を有する排ガス浄化用触媒(以下、「三元触媒」とも記載する)としては、通常は、パラジウム(Pd)、ロジウム(Rh)及び白金(Pt)等の触媒貴金属の粒子を含有する触媒層を、耐熱性の基材に被覆した貴金属担持触媒が使用される。
将来の触媒開発では、特にA/Fがリッチであり、低体格化に伴う高SV領域においてHC浄化を向上させることが望まれており、HCに特化した触媒が求められている。
例えば、特許文献1には、基材と、該基材の表面に形成された触媒コート層と、を備える排ガス浄化用触媒であって、前記触媒コート層は、前記基材表面に近い方を下層とし相対的に遠い方を上層とする上下層を有する積層構造に形成されており、前記触媒コート層は、貴金属触媒としてRhとPdとを備えており、前記触媒コート層は、担体として酸素吸蔵能を有するOSC材を備えており、前記Rhは、前記触媒コート層の上層に配置されており、前記Pdは、前記触媒コート層の上層と下層の双方に配置されており、前記上層及び下層において、前記Pdの少なくとも一部は前記OSC材に担持されており、前記下層に配置されたPdに対する前記上層に配置されたPdの質量比が、0.4以下である、排ガス浄化用触媒が開示されている。特許文献1に記載の排ガス浄化用触媒によれば、NOx浄化能を低下させることなく、触媒全体のOSC能を効果的に向上できるとされている。
しかしながら、上記のような排ガス浄化用触媒においてさらに高いHC浄化能を達成することが望まれていた。
特開2013−136032号公報
それ故、本発明は、HC浄化能及びOSC能に優れる排ガス浄化用触媒を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記課題を解決するための手段を種々検討した結果、触媒上層においてPdを特定の配置とし、触媒上層におけるPd/Rh比率を特定の範囲とし、さらに上層におけるCeO比率を特定の範囲とすることにより、高いHC浄化能及びOSC能を両立させることができることを見出し、本発明を完成した。
すなわち、本発明の要旨は以下の通りである。
[1]基材と、該基材の表面に形成された触媒コート層とを備える排ガス浄化用触媒であって、
触媒コート層が、基材表面に近い方を下層とし相対的に遠い方を上層とする上下層を含み、
触媒コート層の上層が、Rh及びPdと担体とを含有し、
触媒コート層の上層が、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層を含み、
触媒コート層の下層が、Pd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属と担体とを含有し、
Pd最表面層に含有されるPdの65質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在し、
上層において、Rhに対するPdの質量比(Pd/Rh)が0.5以上7.0以下であり、
上層において、担体がCeOを含み、上層におけるCeOの含有量が9質量%を超えて23質量%以下である、上記排ガス浄化用触媒。
[2]Pd最表面層に含有されるPdの85質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在する、[1]に記載の排ガス浄化用触媒。
本発明による排ガス浄化用触媒はHC浄化能及びOSC能に優れる。
図1は、本願発明の一実施形態を示す図である。 図2は、耐久試験後の実施例1−3及び比較例1−4の触媒についての温度特性評価試験の結果を示す図である。 図3は、耐久試験後の実施例1−3及び比較例1−4の触媒についてのOSC評価試験の結果を示す図である。
以下、本発明の好ましい実施形態について詳細に説明する。本明細書では、適宜図面を参照して本発明の特徴を説明する。図面では、明確化のために各部の寸法及び形状を誇張しており、実際の寸法及び形状を正確に描写してはいない。それ故、本発明の技術的範囲は、これら図面に表された各部の寸法及び形状に限定されるものではない。
本発明は、排気ガス浄化用触媒に関する。具体的には、本発明は、基材と、該基材の表面に形成された触媒コート層とを備える排ガス浄化用触媒に関し、触媒コート層が、基材表面に近い方を下層とし相対的に遠い方を上層とする上下層を含み、触媒コート層の上層が、Rh及びPdと担体とを含有し、触媒コート層の上層が、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層を含み、触媒コート層の下層が、Pd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属と担体とを含有し、Pd最表面層に含有されるPdの65質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在し、上層において、Rhに対するPdの質量比(Pd/Rh)が0.5以上7.0以下であり、上層において、担体がCeOを含み、上層におけるCeOの含有量が9質量%を超えて23質量%以下であることを特徴とする(以下、本発明の触媒ともいう)。本発明者らは、OSC能との背反なしにHC浄化能を向上できる、上層におけるCeO含有率を見出した。
本発明の触媒の一実施形態の構成を示す模式図を図1に示す。本発明の触媒1は、基材10と、該基材の表面に形成された触媒コート層11とを備える。触媒コート層11は、基材表面に近い方を下層(第2層)12とし相対的に遠い方を上層(第1層)13とする上下層14、及び第3層16を含む。上層13は、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層15を含む。
本発明の触媒は、基材と、該基材の表面に形成された触媒コート層とを備える。基材は、ハニカム、ペレット又は粒子の形態であることが好ましく、ハニカムの形態のモノリス基材であることがさらに好ましい。また、基材は、コージェライト等の耐熱性無機物又は金属を含有することが好ましい。上記の特徴を有する基材を用いることにより、高温条件下でも高い排気ガス浄化能力を発揮することができる。排ガス流れに沿った方向の基材の長さ(基材長)は、所望の触媒性能を得る観点から、好ましくは50〜160mmである。尚、本明細書において「基材容量1リットル当たり」とは、基材の純体積にセル通路の容積も含めた全体の嵩容積1L当たりをいう。以下の説明において(g/L)と記載しているものについては、基材の体積1リットルに含まれる量(担持密度)を示すものである。また本明細書において「触媒1個当たり」とは基材1個を含む触媒当たりをいう。
本発明の触媒において、触媒コート層は、基材表面に近い方を下層とし相対的に遠い方を上層とする上下層を含む。ここで上層は触媒コート層の排ガスに接する最上層であることが好ましく、また、上下層は接触していることが好ましい。触媒コート層は、上下層及びさらに下層に一層以上の層を有していてもよい。本明細書においては、上層を第1層、下層を第2層とも言い、上下層のさらに下層に一層以上の層を有している場合、基材表面に遠い方から第3層、第4層・・と言う。各層は、隣接する層とは異なる組成を有することが好ましい。また、各層は、必ずしも排ガス浄化用触媒の基材全体にわたって均一でなくてもよい。触媒コート層の上層は、ガスとの接触の観点から、上流側の端部から下流方向に20mm以上基材全長以下の範囲に形成されていることが好ましい。また触媒コート層の下層は、触媒コート層内に含まれる貴金属の劣化抑制の観点から、下流側の端部から上流方向に50mm以上基材全長以下の範囲に形成されていることが好ましい。また第3層以降の層は、上流側の端部から下流方向に20mm以上基材全長以下の範囲に形成されていることが好ましい。
本発明の触媒において、触媒コート層の上層は、Rh及びPdと担体とを含有し、触媒コート層の下層は、Pd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属と担体とを含有する。Pd及びPtは主として一酸化炭素(CO)及び炭化水素(HC)の浄化性能(酸化浄化能)に寄与する。Rhは主としてNOxの浄化性能(還元浄化能)に寄与する。
本発明の触媒において、触媒コート層の上層は、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層を含む。Pd最表面層の幅は上層の幅以下であればよい。尚、触媒層の「幅」とは、排ガス流れに沿った方向の触媒層の「長さ」のことを言う。触媒コート層の上層におけるPd最表面層は、HC浄化活性を高める観点から、好ましくは上流側の端部から下流方向に50mm以上基材全長以下の範囲又は80mm以上基材全長以下の範囲に形成されている。
本発明の触媒において、触媒コート層の下層は、Pd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属と担体とを含有する。触媒コート層の下層は、Pd、Pt又はRhの性能を損なわない程度に他の貴金属、例えば、ルテニウム(Ru)、イリジウム(Ir)及びオスミウム(Os)等を含んでいてもよい。
上記下層に含まれる担体としては、通常の排ガス浄化用触媒に使用することができるものであれば特に制限されずに用いることができ、酸化アルミニウム(Al、アルミナ)、酸化セリウム(CeO、セリア)、酸化ジルコニウム(ZrO、ジルコニア)、酸化珪素(SiO、シリカ)、酸化イットリウム(Y、イットリア)及び酸化ランタン(La、ランタナ)及び酸化ネオジム(Nd)等の金属酸化物、ならびにこれらの固溶体又は複合酸化物が挙げられる。金属酸化物は2種以上を組み合わせて用いてもよい。具体的には、下記実施例において用いた原料1〜3等が挙げられる。例えば、特開2013−136032号公報に記載されるような酸素吸蔵能を有するOSC材を担体として用いることが好ましい。OSC材は、排ガスの空燃比がリーンであるとき(すなわち酸素過剰側の雰囲気)には排ガス中の酸素を吸蔵し、排ガスの空燃比がリッチであるとき(すなわち燃料過剰側の雰囲気)には吸蔵されている酸素を放出するという働きをする。このようなOSC材としては、例えば、酸化セリウム(セリア:CeO)や該セリアを含む複合酸化物(例えば、セリア−ジルコニア複合酸化物(CeO−ZrO複合酸化物)等が挙げられる。下層にPdが含まれる場合、担体にバリウム(Ba)が添加されてもよい。下層の担体にBaを添加することにより、PdのHC被毒が抑えられ、触媒活性の向上が図られる。また、Pd等の貴金属を担持することから比表面積の高い材料を用いることが好ましい。下層にRhが含まれる場合、担体はジルコニア(ZrO)及び/又はアルミナ(Al)を含むことが好ましい。ZrOに担持されたRhは、排ガス中のHCから水素改質反応によって水素を発生させる。この水素の還元力によって排ガス中のNOxがよりよく浄化される。Alは、ZrO複合酸化物に比べて比表面積が大きく、かつ耐久性(特に耐熱性)が高い。そのため、AlにRhを担持させることにより、担体全体としての熱安定性が向上するとともに、担体全体に適量のRhを担持させることができる。
上記下層に含まれるPd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属の含有量の合計は、十分な触媒活性を得られる限り特に制限されず、必要に応じた量を添加することができる。
上記下層を形成するにあたっては、担体粉末を含むスラリーを基材(例えばハニカム基材)の表面にコーティングし、それにRh等を担持させてもよいし、担体粉末に予めRh等を担持した触媒粉末を含むスラリーを基材の表面にコーティングしてもよい。
上記下層の担体にRh等の貴金属を担持させる方法としては特に制限されない。例えば、担体粉末を、ロジウム塩(例えば硝酸塩)やロジウム錯体(例えば、テトラアンミン錯体)を含有する水溶液に含浸させる方法が挙げられる。
上記下層をコーティングにより形成するプロセスにおいて、基材の表面にスラリーを適当に密着させるため、スラリーにはバインダーを含有させることが好ましい。バインダーとしては、例えばアルミナゾル、シリカゾル等の使用が好ましい。スラリーの粘度は、該スラリーが基材(例えばハニカム基材)のセル内へ容易に流入し得るように適宜調整するとよい。
上記下層の成形量(コート量)は特に制限されないが、例えば、基材容量1リットル当たり、20g〜200g程度であることが好ましい。下層の成形量(コート量)をこのような範囲とすることにより、担持されている貴金属の粒成長を防ぎ、また、基材のセル内を排気ガスが通過する際の圧力損失の上昇を防ぐことができる。
基材の表面にコーティングされたスラリーの乾燥条件は基材又は担体の形状及び寸法により左右されるが、典型的には80℃〜150℃程度(例えば100℃〜130℃)で1時間〜10時間程度であり、焼成条件は約300℃〜800℃程度(例えば400℃〜600℃)で約1時間〜4時間程度である。
本発明の触媒が、上下層のさらに下層に一層以上の層を有している場合、第3層以降の層の好ましい態様は上記下層についての記載を引用するものとする。
本発明の触媒において、触媒コート層の上層は、Rh及びPdと担体とを含有する。触媒コート層の上層は、Rh及びPdの性能を損なわない程度に他の貴金属、例えば、白金(Pt)、ルテニウム(Ru)、イリジウム(Ir)及びオスミウム(Os)等を含んでいてもよい。
本発明の触媒は、十分な触媒活性を得る観点から、Pd最表面層に含有されるPdの65質量%以上、好ましくは85質量%以上、さらに好ましくは90質量%以上が基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層(表面層)に存在する。表面層に存在するPdの割合は、FE−EPMAでPd最表面層が存在する部分の触媒コート層を観察し、触媒コート層断面の厚さ方向に対してPdのライン分析を行い、Pd最表面層にあるPd量と、表面から上層の厚さ50%までの範囲にあるPd量を積算することにより得た上層の上半分にあるPd量とを比較することで、表面層に存在するPdの割合を算出することができる。この割合の数値は、Pd最表面層の厚さが、上層の厚さの50%(表面層)の厚さより薄い場合は100%となり、Pd最表面層の厚さが、上層の厚さの50%(表面層)の厚さより厚い場合は100%未満となる。例えば下記[II−1.物性評価]に記載した方法により測定することができる。ここで、「Pd最表面層に含有されるPd」は、Pd最表面層の形成時に添加したPd及び場合により上層形成時に添加したPdの内Pd最表面層中に存在するPdを意味する。上層におけるPd最表面層及び上層におけるPd最表面層以外の部分とは上層のコート材の元素及びPd分布をFE−EPMAにて測定し、上層の深さと上層に含まれるPdの深さを特定することにより区別することができる。
上記上層に含まれるPdの含有量は、十分な触媒活性を得る観点から、基材容量に対して、好ましくは0.025g/L〜1.5g/L、さらに好ましくは0.05g/L〜0.8g/Lである。上記Pd最表面層に含まれるPdの含有量は、十分な触媒活性を得る観点から、Pd最表面層の幅に対応する基材容量、すなわちPd最表面層がない部分を除いたPd最表面層が存在する基材の部分の容量とPd担持量より算出した触媒担持密度として、好ましくは0.016g/L〜0.975g/L、さらに好ましくは0.03g/L〜0.52g/Lである。
また、本発明の触媒は、十分な触媒活性を得る観点から、触媒コート層の上層において、Rhに対するPdの質量比(Pd/Rh)が0.5以上7.0以下であり、好ましくは0.5以上6.4以下であり、さらに好ましくは0.5以上3.0以下である。触媒のガス当りのよい上層においてPdをRhに対して特定量配置することでHC浄化能を向上させることができる。Rhに対するPdの質量比(Pd/Rh)は、上層に吸水させたPd量と上層に担持したRhの比率により算出することができる。例えば下記[II−1.物性評価]に記載した方法により測定することができる。
上記上層に含まれる担体は酸化セリウム(CeO、セリア)を含み、上層におけるCeOの含有量が9質量%を超えて23質量%以下である。CeOはそれ自体として含まれてもよく、1種以上の他の金属酸化物との固溶体又は複合酸化物として含まれてもよい。他の金属酸化物としては、酸化アルミニウム(Al、アルミナ)、酸化ジルコニウム(ZrO、ジルコニア)、酸化珪素(SiO、シリカ)、酸化イットリウム(Y、イットリア)及び酸化ランタン(La、ランタナ)及び酸化ネオジム(Nd)等が挙げられ、これらの金属酸化物も、それ自体、固溶体又は複合酸化物として含まれてよい。具体的には、下記実施例において用いた原料1及び3等が挙げられる。ここで、上層におけるCeOの含有量は、本発明の触媒の製造時に用いた上層材料の合計量、具体的には担体及びバインダーの合計量に含まれるCeOの量として算出されるが、製造された本発明の触媒において、EPMA等により上層に含まれる元素の割合を測定・算出して求めることができる。上層に含まれる上層におけるCeOの含有量は、HC浄化能及びOSC能を両立させる観点から、好ましくは10質量%以上22質量%以下であり、より好ましくは15質量%以上21質量%以下である。上層に含まれる担体は、CeOの他に、ジルコニア(ZrO)及び/又はアルミナ(Al)を含むことが好ましい。ZrOに担持されたRhは、排ガス中のHCから水素改質反応によって水素を発生させる。この水素の還元力によって排ガス中のNOxがよりよく浄化される。Alは、ZrO複合酸化物に比べて比表面積が大きく、かつ耐久性(特に耐熱性)が高い。そのため、AlにRhを担持させることにより、担体全体としての熱安定性が向上するとともに、担体全体に適量のRhを担持させることができる。上層に含まれる担体は、多孔質であり、且つ、耐熱性に優れた金属酸化物を含むことが好ましい。
上記上層を形成するにあたっては、担体粉末を含むスラリーを下層表面にコーティングし、それにRh等を担持させてもよいし、担体粉末に予めRh等を担持した触媒粉末を含むスラリーを下層表面にコーティングしてもよい。
上記上層の担体にRh等の貴金属を担持させる方法としては特に制限されない。例えば、担体粉末を、ロジウム塩(例えば硝酸塩)やロジウム錯体(例えば、テトラアンミン錯体)を含有する水溶液に含浸させる方法が挙げられる。
上記上層をコーティングにより形成するプロセスにおいて、下層の表面にスラリーを適当に密着させるため、スラリーにはバインダーを含有させることが好ましい。バインダーとしては、例えばアルミナゾル、シリカゾル等の使用が好ましい。スラリーの粘度は、該スラリーが基材(例えばハニカム基材)のセル内へ容易に流入し得るように適宜調整するとよい。
上記上層の成形量(コート量)は特に制限されないが、例えば、基材容量1リットル当たり、20g〜200g程度であることが好ましい。上層の成形量(コート量)をこのような範囲とすることにより、担持されているRh及びPdの粒成長を防ぎ、また、基材のセル内を排気ガスが通過する際の圧力損失の上昇を防ぐことができる。
下層表面にコーティングされたスラリーの乾燥条件は基材又は担体の形状及び寸法により左右されるが、典型的には80℃〜150℃程度(例えば100℃〜130℃)で1時間〜10時間程度であり、焼成条件は約300℃〜800℃程度(例えば400℃〜600℃)で約1時間〜4時間程度である。
上記Pd最表面層を形成するにあたっては、上述したように上層を下層表面にコーティングし、乾燥・焼成後、それにパラジウム塩(例えば硝酸塩)やパラジウム錯体(例えば、テトラアンミン錯体)を含有する水溶液を吸水させてPdを担持させる方法が挙げられる。上層表面に、コート法、含浸法、噴霧法によりPdを担持させてもよい。いずれの方法であっても、上層中に、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高い領域を形成し、Pd最表面層とすればよい。Pd水溶液は、Pd溶液中に硝酸(他に酢酸、クエン酸等、酸種は制限されない)を添加することにより調製することができる。上層におけるPdの担持量は、使用するPd水溶液のpHを適宜調整することにより調節することができる。例えば、Pd水溶液のpHを1未満とすると、一般的にpHが低くなると上層材料へのPdの吸着が阻害され、Pd水溶液が深くまで浸透するため、結果として、Pd最表面層が上層の深くまで形成されることにより、Pd最表面層に含有されるPdの約65質量%が、表面層に存在するようにPdを担持することができる。また、Pd水溶液のpHを1以上かつ2以下とすると、上層材料へのPdの吸着が阻害されないため、結果として、Pd最表面層がpH1未満の場合より上層の浅い部分まで形成されることにより、Pd最表面層に含有されるPdの約85質量%以上が、表面層に存在するようにPdを担持することができる。
Pd最表面層の乾燥条件は基材又は担体の形状及び寸法により左右されるが、典型的には80℃〜150℃程度(例えば100℃〜130℃)で1時間〜10時間程度であり、焼成条件は約300℃〜800℃程度(例えば400℃〜600℃)で約1時間〜4時間程度である。
本発明の触媒は、加速時などの吸入空気量が多い条件、具体的にはGa条件が、好ましくは20g/s〜100g/s、さらに好ましくは30g/s〜100g/sのもとで高い浄化性能を発揮することができる。また本発明の触媒は、空燃比A/Fが特にリッチである条件、具体的にはA/Fが、好ましくは13.5〜14.6、さらに好ましくは14.0〜14.6のもとで高い浄化性能を発揮することができる。
本発明の触媒は、耐久試験後に、770℃における酸素吸放出量が、好ましくは0.21g以上である。また、本発明の触媒は、耐久試験後に、550℃におけるTHC浄化率が、好ましくは84.0%以上、さらに好ましくは85.0%以上である。ここで、酸素吸放出量及びTHC浄化率の測定は、例えば下記[II−3.性能評価]に記載された方法により行うことができる。
ここで、「耐久試験」とは、試験対象となる触媒等を、混合気を燃焼することにより発生する排ガス雰囲気若しくはその排ガスを模したガス組成を有するガス雰囲気に、800〜1100℃程度の温度で1〜70時間晒すことによって行われる試験のことをいう。尚、「耐久試験」は、通常排ガス浄化用触媒の耐久性を評価するために行われるものである。「耐久試験」は、例えば下記[II−2.耐久試験]に記載された方法により行うことができる。
以下、実施例を用いて本発明をさらに具体的に説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれら実施例に限定されるものではない。
<I.触媒の作製>
[I−1.原料]
(1)担体として使用した原料は以下の通りである:
材料1(Al
4質量%−La複合化Alを使用した。Sasol製。
材料2(ACZ)
30質量%−Al、23質量%−CeO、39質量%−ZrO、4質量%−La、4質量%−Y複合酸化物を使用した。第一稀元素製。
材料3(CZ)
30質量%−CeO、60質量%−ZrO、5質量%−La、5質量%−Y複合酸化物を使用した。Solvay製。
(2)基材として使用した原料は以下の通りである:
700cc(600セル六角、壁厚2mil)のコージェライトハニカム基材(基材長84mm)を使用した。
[I−2.触媒の作製]
<比較例1>
第3層:
硝酸Pdを用いて、Pdを材料2に担時したPd/ACZ(材料4)を調製した。担時方法には含浸法を用いた。次に、Pd/ACZ(材料4)、Al(材料1)、硫酸Ba、Al系バインダーを投入し懸濁した[スラリー1]を調製した。さらに、調製した[スラリー1]を基材へ流し込み、ブロアーで不要分を吹き払うことで、基材壁面に排ガス上流側の端部(Fr)より30mmになるように材料をコーティングした。その際のコーティング材料は、触媒1個当たり、Pdが0.29g、ACZ(材料4)が11g、Al(材料1)が8g、硫酸Baが3gになる。最後に、120℃に保たれた乾燥機で2時間水分を飛ばした後、電気炉で500℃、2時間の焼成を加えた。
第2層(下層):
硝酸Rhを用いて、含浸法によりRhを材料1に担時したRh/Al(材料5)を調製した。Rh/Al(材料5)、CZ(材料3)、Al系バインダーを投入し懸濁した[スラリー2]を調製した。調製したRhスラリー[スラリー2]を、第3層を塗布した基材へ流し込み、ブロアーで不要分を吹き払うことで、基材壁面に排ガス下流側の端部(Rr)から60mmになるように材料をコーティングした。その際にコーティング材料は、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料5)が25g、CZ(材料3)が58gになる。最後に、120℃に保たれた乾燥機で2時間水分を飛ばした後、電気炉で500℃、2時間の焼成を加えた。
第1層(上層):
硝酸Rhを用いて、含浸法によりRhを材料1に担時したRh/Al(材料6)を調製した。Rh/Al(材料6)、Al(材料1)、CZ(材料3)、Al系バインダーを投入し懸濁した[スラリー3]を調製した。調製したRhスラリー[スラリー3]を、第2及び3層を塗布した基材へ流し込み、ブロアーで不要分を吹き払うことで、基材壁面に排ガス上流側の端部(Fr)から60mmになるように材料をコーティングした。その際にコーティング材料は、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が11g、CZ(材料3)が39gになる。最後に、120℃に保たれた乾燥機で2時間水分を飛ばした後、電気炉で500℃、2時間の焼成を加えた。
<比較例2>
第3層:
コーティング材料において、触媒1個当たりPdを0.15gとしたこと以外は比較例1と同様に第3層を形成した。
第2層:
比較例1と同様に第2層を形成した。
第1層:
コーティング材料を、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が0g、CZ(材料3)が50gとしたこと以外は比較例1と同様に、第2及び3層を塗布した基材に材料をコーティングした。その後、120℃に保たれた乾燥機で2時間水分を飛ばした後、電気炉で500℃、2時間の焼成を加えた。当該コーティングの上から基材の排ガス上流側の端部(Fr)より硝酸Pd溶液を流し込み、ブロアーで不要分を吹き払うことで、第1層上にPdをコーティングした。その際、Pd長さが基材長に対して60mmとなるように調整した。また、Pd溶液のpHを1以上かつ2以下とすることにより、Pd最表面層に含有されるPdの85質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在するように条件を調整した。最後に、120℃に保たれた乾燥機で2時間水分を飛ばした後、電気炉で500℃2時間の焼成を加えた。その際、第1層に配置されたPdは0.14gとなる。
<比較例3>
第3層:
比較例2と同様に第3層を形成した。
第2層:
比較例2と同様に第2層を形成した。
第1層:
コーティング材料を、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が5.6g、CZ(材料3)が44.4gとしたこと以外は比較例2と同様に第1層を形成した。
<比較例4>
第3層:
比較例2と同様に第3層を形成した。
第2層:
比較例2と同様に第2層を形成した。
第1層:
コーティング材料を、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が33.5g、CZ(材料3)が16.5gとしたこと以外は比較例2と同様に第1層を形成した。
<実施例1>
第3層:
比較例2と同様に第3層を形成した。
第2層:
比較例2と同様に第2層を形成した。
第1層:
コーティング材料を、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が11g、CZ(材料3)が39gとしたこと以外は比較例2と同様に第1層を形成した。
<実施例2>
第3層:
比較例2と同様に第3層を形成した。
第2層:
比較例2と同様に第2層を形成した。
第1層:
コーティング材料を、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が16.5g、CZ(材料3)が33.5gとしたこと以外は比較例2と同様に第1層を形成した。
<実施例3>
第3層:
比較例2と同様に第3層を形成した。
第2層:
比較例2と同様に第2層を形成した。
第1層:
コーティング材料を、触媒1個当たり、Rhが0.07g、Al(材料6)が5.6g、Al(材料1)が28g、CZ(材料3)が22gとしたこと以外は比較例2と同様に第1層を形成した。
<II.触媒の評価方法>
[II−1.物性評価]
物性評価は、各触媒(耐久試験後)を所定のサイズに切り出し、樹脂埋め後、研磨、Au蒸着し、FE−EPMA(JXA−8530F JEOL製)を用いて行った。
具体的には、表面層に存在するPd量の割合は、FE−EPMAで触媒コート層を観察し、触媒コート層断面の厚さ方向に対してPdのライン分析を行い、Pd最表面層にあるPd量と、表面から上層の厚さ50%までの範囲にあるPd元素を積算することにより得た上層の上半分にあるPd量とから算出した。
上層におけるRhに対するPdの質量比(Pd/Rh)は、上層コーティング層に吸水させたPd量と上層コーティング層に担持したRhの比率により算出した。
[II−2.耐久試験]
各触媒について、実際のエンジンを用いて耐久試験を実施した。具体的には、各触媒をV型8気筒エンジンの排気系にそれぞれ装着し、触媒床温950℃で50時間にわたり、ストイキ及びリーンの各雰囲気の排ガスを一定時間(3:1の比率)ずつ繰り返して流すことにより行った。
[II−3.性能評価]
各触媒の活性を、L4エンジンを用いて評価した。
(1)OSC評価
14.4と15.1を目標にA/Fをフィードバック制御し、ストイキ点とA/Fセンサー出力の差分より、酸素の過不足を算出した酸素吸放出量をOSCとして評価した。入りガス温度が770℃、Ga=40g/sとなる条件で行った。
(2)温度特性評価
空燃比(A/F)14.4の排ガスを供給し、高Ga条件(Ga=35g/s)での昇温特性(〜550℃)を評価した。入りガス温度が550℃となった際の浄化率により触媒活性を評価した。
<III.触媒の評価結果>
上記[II−1.物性評価]及び[II−3.性能評価]により得られた各触媒の評価結果を表1に示す。
Figure 2019111509
耐久試験後の実施例1−3及び比較例1−4についての温度特性評価試験(THC)の結果を図2に示す。図2より上層におけるCeO比率が少ない場合、特に23質量%以下である場合にTHC浄化率が向上することがわかる。耐久試験後の実施例1−3及び比較例1−4についてのOSC評価試験の結果を図3に示す。図3より、上層の上層におけるCeO比率が9質量%を超え23質量%以下である場合にOSC能に優れることがわかる。
1・・本発明の触媒
10・・基材
11・・触媒コート層
12・・下層(第2層)
13・・上層(第1層)
14・・上下層
15・・上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層
16・・第3層
本発明の排ガス浄化用触媒は、特に自動車排ガス浄化用触媒に好ましく適用できる。

Claims (2)

  1. 基材と、該基材の表面に形成された触媒コート層とを備える排ガス浄化用触媒であって、
    触媒コート層が、基材表面に近い方を下層とし相対的に遠い方を上層とする上下層を含み、
    触媒コート層の上層が、Rh及びPdと担体とを含有し、
    触媒コート層の上層が、上層の他の部位より相対的にPd濃度が高いPd最表面層を含み、
    触媒コート層の下層が、Pd、Pt及びRhから選択される少なくとも1種の貴金属と担体とを含有し、
    Pd最表面層に含有されるPdの65質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在し、
    上層において、Rhに対するPdの質量比(Pd/Rh)が0.5以上7.0以下であり、
    上層において、担体がCeOを含み、上層におけるCeOの含有量が9質量%を超えて23質量%以下である、上記排ガス浄化用触媒。
  2. Pd最表面層に含有されるPdの85質量%以上が、基材表面に相対的に遠いPd最表面層の表面から上層の厚さ50%までの層に存在する、請求項1に記載の排ガス浄化用触媒。
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