JP2019090636A - 真円度測定器 - Google Patents
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Abstract
Description
真円度測定装置は、回転テーブルと、座標測定部と、を備える。
回転テーブルは、測定対象物を載せる載物台と、載物台を回転させる回転駆動部と、を備える。座標測定部は、測定対象物表面を検出するプローブと、このプローブを2次元あるいは三次元的に移動させる移動機構と、を備える。さらに、移動機構には変位量あるいは変位角を検出する複数のエンコーダが設けられる。
さらに、測定にあっては回転テーブルが回転するわけであるから、回転テーブルが最低一回転するまでは待つほかない。
精密な測定ではなく、ワークWの加工中にときどき簡単に真円度を確認したい場合もあるが、そのたびに真円度測定装置を使用するのは手間と時間のロスが大きい。
輪状のリング部と、
前記リング部に所定角度間隔で複数設けられた変位センサと、を有し、
前記変位センサの測定軸を延長した線が一点で交差するように前記変位センサが配設されている
ことを特徴とする。
前記変位センサは、少なくとも8つ以上である
ことが好ましい。
前記変位センサは、先端に測定子を有し、軸方向に進退可能に設けられたスピンドルを備え、前記スピンドルの変位を検出して測定データとして出力するように構成されており、
前記スピンドルの突き出し方向が前記リング部の内側を向くように前記変位センサが配設されている
ことが好ましい。
前記真円度測定器を用いた真円度測定方法であって、
基準となる真円のマスターで前記変位センサをゼロセットする校正工程と、
測定対象物を前記変位センサで計測する計測工程と、
前記校正工程のときの前記マスターの位置と前記計測工程のときの前記測定対象物の位置とのずれを偏心量として算出する偏心量算出工程と、
前記計測工程で得た前記変位センサの計測値から前記偏心量算出工程で得た前記偏心量を減算して、前記測定対象物の真円からのずれを算出する真円度算出工程と、を備える
ことを特徴とする。
前記偏心量算出工程において、
前記偏心量をX軸成分とY軸成分とに分けて、(ΔCx、ΔCy)で表わすとき、
前記偏心量(ΔCx、ΔCy)を
ΔCx=2×(Σi=1 i=n{di・cosθi})/n
ΔCy=2×(Σi=1 i=n{di・sinθi})/n
にて求める
ことが好ましい。
ここで、diは前記各変位センサの測定値である。また、X軸を基準線として、前記各変位センサの測定軸とX軸とがなす角をθiとする。
(第1実施形態)
図1は、真円度測定器100の外観図である。
ここでは、測定対象物の外径の真円度を測定する真円度測定器100を例示している。
真円度測定器100は、測定部200と、演算部300と、を備える。
また、リング部の一部にスリットが入っていたり、開閉あるいは分離するようになっていてもよい。
スピンドル222の先端には測定子223が設けられている。電気マイクロメータ231−238は、ステム221の内部を進退するスピンドル222の変位を検出し、測定データとして出力する。
電気マイクロメータ231−238はリング部210に45度間隔で8つ配設されている。
いま、図2において、8つの電気マイクロメータを第1電気マイクロメータ231から第8電気マイクロメータ238とする。
電気マイクロメータ231−238のスピンドル222の突き出し方向はリング部210の内側を向いている。
より詳細には、何れのスピンドル222の突き出し方向も、リング部210の中心を向き、各電気マイクロメータ231−238の測定軸(スピンドル222の変位方向)を延長すると、当該中心で交わる。
リング部210が真円でない場合やリング部210が多角形である場合には、リング部210の中心を定義する必要があるが、リング部210の内接円あるいは外接円の中心をリング部210の中心と考えていただいてもよいだろう。
より本質的には、すべての電気マイクロメータ(ここでは8つ)231−238の測定軸線(測定軸を延長した線)が一点で交差するように電気マイクロメータ231−238を配置してあればよい。
すべての測定軸線が交差する点をリング部210の中心と称することにする。
X軸は、中心を通り、第1電気マイクロメータ231の測定軸と第5電気マイクロメータ235の測定軸とを結び、さらに延長した線に等しい。
また、図2中の上から下にY軸を取る。
Y軸は、中心を通り、第3電気マイクロメータ233の測定軸と第7電気マイクロメータ237の測定軸とを結び、さらに延長した線に等しい。そして、X軸を基準線として、各電気マイクロメータの測定軸とX軸とがなす角をθ1〜θ8で表わすとする。
図2中ではθ2のみ例示した。
θ1〜θ8を"電気マイクロメータの角度"と称することにする。
電気マイクロメータの角度の設計値としては、
θ1=0°
θ2=45°
θ3=90°
θ4=135°
θ5=180°
θ6=225°
θ7=270°
θ8=315°
である。
演算部300は、例えばパソコン(つまりCPUとメモリ)であって、真円度演算プログラムを実行することで測定対象物の真円度を算出する。(真円度演算プログラムを実行できるのであれば、パソコンをスマートフォンやタブレットに置き換えてもよいことはもちろんである。)
演算部300(真円度演算プログラム)による具体的な処理手順を含め、真円度測定器の使用方法を次に説明する。
図3は、真円度測定器100を用いた測定手順を説明するためのフローチャートである。
まず、ST111において、ゼロセットを行う。
基準となる真円のマスターMW(図4参照)が予め用意されているとする。マスターMWは、真円であればよく、測定対象物(ワークW)の径と大きさが違っていてもよい。そして、このマスターMWを測定部200で測定する。
マスターMWを持ち上げてリング部210の内側に置いてもよいし、測定部200を持ち上げてマスターMWの上から被せるようにしてもよいだろう。
iは1から8の整数。
すなわち、第1電気マイクロメータ231の計測値はD1、第2電気マイクロメータ232の計測値はD2・・・、というように表わすとする。
ゼロセットすると、
D1=0.00
D2=0.00
D3=0.00
D4=0.00
D5=0.00
D6=0.00
D7=0.00
D8=0.00
である。
図5は、ワークWを計測している様子を例示する図である。
このときも、ワークWがリング部210の真ん中にくることが好ましいが、図5のように真ん中からずれていても問題はない。つまり、測定時のワークWの位置は任意の位置でよい。
いま、第1電気マイクロメータ231から第8電気マイクロメータ238の計測値がd1〜d8であったとする。
D1=d1
D2=d2
D3=d3
D4=d4
D5=d5
D6=d6
D7=d7
D8=d8
これら計測値d1−d8は演算部300に取り込まれる。
図4と図5とに例示したように、ゼロセット時(ST111)とワークWの計測時(ST113)とではマスターMWの位置とワークWの位置とは同じではない。そこで、マスターMWの位置とワークWの位置とのズレをまずは求める。
マスターMWの位置とワークWの位置とのズレを"偏心量"とし、次の式で求める。
いま、偏心量ΔCをX軸成分とY軸成分とに分けて、(ΔCx、ΔCy)で表わす(図6参照)。
このとき、偏心量ΔC(ΔCx、ΔCy)は次のように求められる。
ΔCy=2×(Σi=1 i=8{di・sinθi})/8
いま、第1電気マイクロメータ231の位置においてワークWとマスターMWとの形状の差をΔR1と表わす。
同じようにして、第i電気マイクロメータ231−238の位置においてワークWとマスターMWとの形状の差をΔRiと表わす。
iは1〜8。
ΔR2=d2―(ΔCx・cosθ2+ΔCy・sinθ2)
ΔR3=d3―(ΔCx・cosθ3+ΔCy・sinθ3)
ΔR4=d4―(ΔCx・cosθ4+ΔCy・sinθ4)
ΔR5=d5―(ΔCx・cosθ5+ΔCy・sinθ5)
ΔR6=d6―(ΔCx・cosθ6+ΔCy・sinθ6)
ΔR7=d7―(ΔCx・cosθ7+ΔCy・sinθ7)
ΔR8=d8―(ΔCx・cosθ8+ΔCy・sinθ8)
Rmax=MAX{ΔR1、ΔR2、ΔR3、ΔR4、ΔR5、ΔR6、ΔR7、ΔR8}
Rmin=MIN{ΔR1、ΔR2、ΔR3、ΔR4、ΔR5、ΔR6、ΔR7、ΔR8}
真円度=Rmax−Rmin
その場合でも、ΔR1〜ΔR8により真円に対するワークWの幾何学的ズレは求まっているわけであるから、真円度の定義に応じて適宜演算すればよい。
上記の説明において、ゼロセット時のマスターMWの位置が任意でよく、さらに、ワーク測定時のワークWの位置も任意でよかった。このように調心作業が全く不要である点が本実施形態の真円度測定器100の便利さに繋がっている。
このような簡易真円度測定ができる原理的なポイントは、ゼロセット時のマスターMWと測定時のワークWとの偏心量ΔC(ΔCx、ΔCy)を求め、測定値diから偏心量ΔC(ΔCx、ΔCy)を減算することでワークWの真円からの誤差を抽出できている点にある。
今一度この点を補足説明しておく。
図7(A)をθ=0で切断して引き伸ばすと図7(B)になったとする。
ここで、D(θ)はフーリエ級数で次のように表せるはずである。
+b1・sinθ+b2・sin2θ+b3・sin3θ+・・・
=a0+(Σk=1 k=∞{ak・cos(kθ)})+(Σk=1 k=∞{bk・sin(kθ)})
さて、マスターMWで各センサをゼロリセットしたあとでワークWを測定したときの各センサの測定値はd1〜d8として得られている。
そこで、D(θ)のフーリエ級数に対して離散サンプリングデータ(d1〜d8)を使って離散フーリエ変換を考える。
すると、次のように偏心量が得られるわけである。
離散化すると、
a1=ΔCx=2×(Σi=1 i=8{di・cosθi})/8
b1=ΔCy=∫(D(θ)・sinθ)dθ
離散化すると、
b1=ΔCy=2×(Σi=1 i=8{di・sinθi})/8
つまりワークWの真円度が求められるというわけである(ST115)。
しかしながら、いずれも本実施形態のようなゼロセット、偏心量の取得方法、偏心量を減じることによるワーク形状の算出、それに基づく真円度算出、については全く開示がない。
上記実施形態では、45度間隔で8個の電気マイクロメータ(変位センサ)を円形に配した真円度測定器100を例示した。45度間隔で8個の電気マイクロメータ(変位センサ)によれば、原理的にワークWの楕円成分を求めることができ、簡易的な真円度評価には十分であると考えられるが、変位センサの数をもっと増やしてもよいことはもちろんである。
上記実施形態では、ワークWの外径の真円度を測定する真円度測定器100を例示したが、電気マイクロメータのスピンドル222の突き出し方向を逆さまにすれば、円筒の内径の真円度を測定する真円度測定器になる。
(この変形例2の形態を内側用真円度測定器と称することにする。第1実施形態の真円度測定器の形態を外側用真円度測定器と称することにする。)
もし、電気マイクロメータがリング部の内側方向にも外側方向に測定できるようになっていれば、外径の真円度も内径の真円度も測定できるだろう。電気マイクロメータのスピンドルを内側突き出し用と外側突き出し用とで2本ずつ設けておくことで対応できるだろう。
また、図8に例示するように、測定部200を縦方向に連ねると、円筒度(同軸度)を測定する測定器(円筒度測定器)として利用できる。
いま図8の例では円筒のワークに対して電気マイクロメータは外側から突き当たるようになっている。
円筒ワークの中心線に沿った複数の位置(図8では3箇所)で円筒の外円を各真円度測定器で測定して、外側の円がどの程度ずれているかが簡易的にわかる。
図8の形態を外側用円筒度測定器と称することにする。
この場合、内側の円がどの程度ずれているかが簡易的にわかる。
この形態を内側用円筒度測定器と称することにする。
図9に例示するように、電気マイクロメータが測定軸方向あるいはリング部の周方向に移動可能に設けられているとよい。
電気マイクロメータのスピンドルのストロークはそれほど大きくないので、様々な大きさのワークに対応できるように電気マイクロメータが測定軸方向に移動可能になっているとよい。
また、電気マイクロメータの角度(θ1〜θ8)を微調整できるように、電気マイクロメータがリング部の周方向に移動可能に設けられているとよい。
電気マイクロメータを微小移動可能にするには、ストップネジ等を利用すればよいだろう。
上記実施形態では変位センサとしてスピンドルが直動する電気マイクロメータを例示したが、てこ式テストインジケータに置き換えることもできるし、非接触式センサであるレーザー測距計に置き換えてもよいだろう。
上記第1実施形態と変形例1−4は適宜組み合わせできることはもちろんである。
200…測定部、210…リング部、221…ステム、222…スピンドル、223…測定子、
231…第1電気マイクロメータ、232…第2電気マイクロメータ、233…第3電気マイクロメータ、234…第4電気マイクロメータ、235…第5電気マイクロメータ、236…第6電気マイクロメータ、237…第7電気マイクロメータ、238…第8電気マイクロメータ、
300…演算部。
Claims (6)
- 輪状のリング部と、
前記リング部に所定角度間隔で複数設けられた変位センサと、を有し、
前記変位センサの測定軸を延長した線が一点で交差するように前記変位センサが配設されている
ことを特徴とする真円度測定器。 - 請求項1に記載の真円度測定器において、
前記変位センサは、少なくとも8つ以上である
ことを特徴とする真円度測定器。 - 請求項1または請求項2に記載の真円度測定器において、
前記変位センサは、先端に測定子を有し、軸方向に進退可能に設けられたスピンドルを備え、前記スピンドルの変位を検出して測定データとして出力するように構成されており、
前記スピンドルの突き出し方向が前記リング部の内側を向くように前記変位センサが配設されている
ことを特徴とする真円度測定器。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の前記真円度測定器が縦方向に複数重ねて配置された
ことを特徴とする円筒度測定器。 - 請求項1から請求項3のいずれかに記載の真円度測定器を用いた真円度測定方法であって、
基準となる真円のマスターで前記変位センサをゼロセットする校正工程と、
測定対象物を前記変位センサで計測する計測工程と、
前記校正工程のときの前記マスターの位置と前記計測工程のときの前記測定対象物の位置とのずれを偏心量として算出する偏心量算出工程と、
前記計測工程で得た前記変位センサの計測値から前記偏心量算出工程で得た前記偏心量を減算して、前記測定対象物の真円からのずれを算出する真円度算出工程と、を備える
ことを特徴とする真円度測定方法。 - 請求項5に記載の真円度測定方法において、
前記偏心量算出工程において、
前記偏心量をX軸成分とY軸成分とに分けて、(ΔCx、ΔCy)で表わすとき、
前記偏心量(ΔCx、ΔCy)を
ΔCx=2×(Σi=1 i=n{di・cosθi})/n
ΔCy=2×(Σi=1 i=n{di・sinθi})/n
にて求める
ことを特徴とする真円度測定方法。
ここで、diは前記各変位センサの測定値である。また、X軸を基準線として、前記各変位センサの測定軸とX軸とがなす角をθiとする。
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