CN105180779A - 一种整体式交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器及其测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开的整体式交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器及其测量方法,所述测试器包括工作台(1)、套圈(2)、检测平台(3)、千分表(4)、转动轴(5)、辅助检测平台(6)、移动按钮(7)以及定位块(8),所述的辅助检测平台以及千分表固定支架设置在工作台上,并在工作台上与辅助检测平台接触端设置有标尺以及移动按钮,辅助检测平台两侧设置有定位块,在辅助检测平台上方设置有转动轴,该转动轴上设置有检测平台,检测平台上可放置需测量套圈,需测量套圈滚道角度位置与千分表相接触,千分表与千分表固定支架相连接。有效减少定位误差,提高加工检测效率;检测仪器不仅结构简单、易于操作,而且误差低、测量准确可靠。
Description
技术领域
本发明涉及一种整体式交叉圆柱滚子轴承的测量方法,尤其涉及一种整体式交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器及其测量方法。
背景技术
公知的轴承横截面高度与单列轴承轴承相似,由此节省了空间和轴承座材料,使其内外圈尺寸被最大限度的小型化。特别是超薄型接近极限的小型尺寸,这类轴承可以承受径向负荷、轴向负荷及力矩负荷等方向的负荷,特别适用于工业机器人的关节或旋转部位、精密旋转工作台、医疗机械、计量器等用途。以往对于此整体式交叉滚子套圈滚道角度及角度偏差的测量方法一般是使用万能角度尺或角度样板通过肉眼比较来检测轴承滚道和基准端面夹角的偏差;此测量方法的为定性测量,测量精度低,人为的因素对检测结果影响很大,且检测效率低。
发明内容
为了解决上述技术方案的不足,本发明提供一种新的测量方法,即一种整体式交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器及其测量方法,用标准样件采用比较法定量判断此外圈滚道的角度偏差是否符合产品图要求;解决了肉眼比对检测时的不准确问题,提高了检测精度及检测效率。
本发明实现上述目的采取的技术方案是:一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,所述测试器包括工作台、检测平台、千分表、转动轴、辅助检测平台、移动按钮以及定位块,所述的辅助检测平台以及千分表固定支架设置在工作台上,并在工作台上与辅助检测平台接触端设置有标尺以及移动按钮,辅助检测平台两侧设置有定位块,在辅助检测平台上方设置有转动轴,该转动轴上设置有检测平台,检测平台上可放置需测量套圈,需测量套圈滚道角度位置与千分表相接触,千分表与千分表固定支架相连接。
所述辅助检测平台以及转动轴可调节。
所述检测平台上设置有可调节固定装置。
所述千分表固定支架为可调节。
所述定位块为可调节。
本发明的检测方法是:
将标准模具的轴承外圈放到检测平台上,通过转动轴调整水平检测平台的水平角度和通过移动按钮调整辅助检测平台左右移动,利用套圈标准样板校正检测平台的水平偏角,左右移动辅助检测平台,使得千分表测头自滚道一端至另一端(滚道全长)始终指在某一刻度值(调零),锁紧左右定位块;取下套圈标准样板,换上待测套圈,辅助检测平台,使得千分表测头从滚道的一端到滚道另一端,读取千分表两端测值之差。
将标准模具的轴承内圈放到检测平台上,通过转动轴调整水平检测平台的水平角度和通过移动按钮调整辅助检测平台左右移动,利用的套圈标准样板校正检测平台的水平偏角,左右移动辅助检测平台,将千分尺支架放入轴承内圈,使得千分表测头自滚道一端至另一端(滚道全长)始终指在某一刻度值(调零),锁紧左右定位块;取下套圈标准样板,换上待测套圈,辅助检测平台,使得千分表测头从滚道的一端到滚道另一端,读取千分表两端测值之差。
本发明由于采用上述的技术方案,因而具有以下有益效果:
采用标准样件比较法定量判断此外圈滚道的角度偏差是否符合产品图要求,解决了人工肉眼比对检测时的不准确问题,提高了检测精度及检测效率,能够对生产加工过程中的套圈滚道尺寸公差及形位公差进行100%的检验,有效减少定位误差,提高加工检测效率;检测仪器不仅结构简单、易于操作,而且误差低、测量准确可靠。
附图说明
图1为整体式交叉圆柱滚子轴承套圈滚道角度偏差的外部测量剖面结构示意图;
图2为整体式交叉圆柱滚子轴承套圈滚道角度偏差的内部测量剖面结构示意图;
图3为整体式交叉圆柱滚子轴承套圈滚道角度偏差的外部测量整体结构示意图;
图4为整体式交叉圆柱滚子轴承套圈滚道角度偏差的内部测量整体结构示意图;
图中:1、工作台,2、套圈,3、检测平台,4、千分表,5、转动轴,6、辅助检测平台,7、定位块,8、移动按钮,9、样板。
具体实施方式
结合附图,对本发明进一步详细说明。但本发明不局限以下实施例。
如图1-4所示:本实施例所述的一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,包括工作台1、检测平台3、千分表4、转动轴5、辅助检测平台6、移动按钮8以及定位块7,所述的辅助检测平台以及千分表固定支架设置在工作台上,并在工作台上与辅助检测平台接触端设置有标尺以及移动按钮,辅助检测平台两侧设置有定位块,所述定位块为可调节。在辅助检测平台上方设置有转动轴,该转动轴上设置有检测平台,所述辅助检测平台以及转动轴可调节。检测平台上可放置需测量套圈,需测量套圈滚道角度位置与千分表相接触,千分表与千分表固定支架相连接。所述检测平台上设置有可调节固定装置。所述千分表固定支架为可调节。
检测时,将标准样件2放在检测平台3上,旋转转动轴5调整检测平台3的水平角度,并旋转移动按钮8使辅助平台6左右移动,调整千分表4使表测头接触套圈标准件2滚道一端,然后微调转动轴5使标准件2滚道与千分表4测头垂直,锁定该端限位块7,旋转移动按钮8带动套圈标准件2移动到滚道另一端,锁定该端限位块7,查看千分表4变化情况,若千分表4数值有变动则重复以上操作进行微调,直到左右移动辅助检测平台6时千分表4在两端测值一致,这时检测平台3水平角度已经调整好,固定检测平台3,千分表4调零且固定好;取下套圈标准件2,把待测套圈2放在检测平台3上固定好,转动移动按钮8使辅助检测平台6从被测套圈2滚道的一端移动到另一端,读取千分表4在两端所显示数值差,即为该套圈滚道角度偏差。
本发明的检测方法是:
(1)将标准模具的轴承外圈放到检测平台3上,通过转动轴5调整水平检测平台3的水平角度和通过移动按钮8调整辅助检测平台左右移动,利用的套圈标准样板9校正检测平台3的水平偏角,左右移动辅助检测平台6,使得千分表4测头自滚道一端至另一端(滚道全长)始终指在某一刻度值(调零),锁紧左右定位块7;取下套圈标准样板9,换上待测套圈2,辅助检测平台6,使得千分表4测头从滚道的一端到滚道另一端,读取千分表两端测值之差。
将标准模具的轴承内圈放到检测平台3上,通过转动轴5调整水平检测平台3的水平角度和通过移动按钮8调整辅助检测平台左右移动,利用的套圈标准样板9校正检测平台3的水平偏角,左右移动辅助检测平台6,将千分尺支架放入轴承内圈,使得千分表4测头自滚道一端至另一端(滚道全长)始终指在某一刻度值(调零),锁紧左右定位块7;取下套圈标准样板9,换上待测套圈2,辅助检测平台6,使得千分表4测头从滚道的一端到滚道另一端,读取千分表两端测值之差。
本发明未详述部分为现有技术。
Claims (6)
1.一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,其特征是:所述测试器包括工作台(1)、套圈(2)、检测平台(3)、千分表(4)、转动轴(5)、辅助检测平台(6)、移动按钮(7)以及定位块(8),所述的辅助检测平台以及千分表固定支架设置在工作台上,并在工作台上与辅助检测平台接触端设置有标尺以及移动按钮,辅助检测平台两侧设置有定位块,在辅助检测平台上方设置有转动轴,该转动轴上设置有检测平台,检测平台上可放置需测量套圈,需测量套圈滚道角度位置与千分表相接触,千分表与千分表固定支架相连接。
2.根据权利要求1所述一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,其特征是:所述辅助检测平台(6)以及转动轴(5)可调节。
3.根据权利要求1所述一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,其特征是:所述检测平台(3)上设置有可调节固定装置。
4.根据权利要求1所述一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,其特征是:所述千分表固定支架为可调节。
5.根据权利要求1所述一种交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器,其特征是:所述定位块(8)为可调节。
6.一种实现权利要求1所述的一种整体式交叉圆柱滚子轴承套圈内外滚道角度偏差的测量仪器及其测量方法,其特征是:
(1)将标准模具的轴承外圈放到检测平台(3)上,通过转动轴(5)调整水平检测平台(3)的水平角度和通过移动按钮(8)调整辅助检测平台左右移动,利用的套圈标准样板(9)校正检测平台的水平偏角,左右移动辅助检测平台(6),使得千分表(4)测头自滚道一端至另一端(滚道全长)始终指在某一刻度值(调零),锁紧左右定位块(7);取下套圈标准样板(9),换上待测套圈(2),辅助检测平台(6),使得千分表(4)测头从滚道的一端到滚道另一端,读取千分表两端测值之差;
(2)将标准模具的轴承内圈放到检测平台(3)上,通过转动轴(5)调整水平检测平台(3)的水平角度和通过移动按钮(8)调整辅助检测平台左右移动,利用的套圈标准样板(9)校正检测平台(3)的水平偏角,左右移动辅助检测平台(6),将千分尺支架放入轴承内圈,使得千分表(4)测头自滚道一端至另一端(滚道全长)始终指在某一刻度值(调零),锁紧左右定位块(7);取下套圈标准样板(9),换上待测套圈(2),辅助检测平台(6),使得千分表(4)测头从滚道的一端到滚道另一端,读取千分表两端测值之差。
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Application publication date: 20151223 |
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WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |