JP2019082477A - Analytical curve generation method and autoanalyzer - Google Patents

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Abstract

To measure a detection object with high sensitivity and high concentration, that is, to achieve a wide dynamic range with high sensitivity in measurement using an insoluble carrier having an antibody or an antigen immobilized thereon.SOLUTION: An analytical curve generation method includes generating an analytical curve on the basis of reaction curves C1 to C8 obtained from photometric results of a plurality of standard samples corresponding to different concentration including a detection object having known concentration. The analytical curve generation means includes generating the analytical curve on the basis of the photometric results of the plurality of standard samples obtained at different photometric timings.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明の実施形態は、検量線生成方法、及び自動分析装置に関する。   Embodiments of the present invention relate to a calibration curve generation method and an automatic analyzer.

自動分析装置は、血液等の検査試料に種々検査項目に対応する試薬を添加し、検査試料に含まれる特定の成分に試薬を反応させる。自動分析装置は、この反応液を、例えば光学的に測定することで、検査項目に対応した検査試料の成分を分析する。   The automatic analyzer adds reagents corresponding to various test items to a test sample such as blood, and causes the reagent to react with specific components contained in the test sample. The automatic analyzer analyzes the components of the test sample corresponding to the test item by optically measuring this reaction solution, for example.

自動分析装置において、ラテックス凝集法を用いて測定の高感度化を図る技術が知られている。ラテックス凝集法では、不溶性の担体であるラテックス粒子の表面に抗体を結合させた試薬を試料に添加して反応液とする。反応液では、試料中に含まれる抗原がラテックス粒子表面の抗体と結合することで、ラテックス粒子が凝集する。そして、ラテックス粒子が凝集する過程において、反応液に光を照射し、反応液を透過する透過光、又は反応液中で散乱される散乱光の強度を測定することで、試料中に含まれる検出対象の成分量を測定する。   In an automatic analyzer, a technique for achieving high sensitivity of measurement using a latex agglutination method is known. In the latex aggregation method, a reagent in which an antibody is bound to the surface of latex particles, which is an insoluble carrier, is added to a sample to form a reaction solution. In the reaction solution, the antigen contained in the sample is bound to the antibody on the surface of the latex particle to aggregate the latex particle. Then, in the process of aggregation of the latex particles, the reaction solution is irradiated with light, and the transmitted light passing through the reaction solution or the intensity of the scattered light scattered in the reaction solution is measured to detect the sample contained in the sample. Measure the amount of component of interest.

凝集法の場合、粒径を大きくすれば、一定時間当たりの反応面積は小さくなり抗原抗体反応が少なくなるが、散乱が大きくなり、わずかな凝集でも検出できる。逆に、粒径が小さければ一定時間あたりの反応面積は大きくなり反応が大きくなるが、散乱が小さく検出が難しい。通常、ラテックス凝集法で高感度を測定できる様に大径を使用した場合、粒子濃度に限りがある。例えば、粒子濃度が一定以上になると、透過光が小さくなり検出能の低下を招く。また、測定物が高濃度の場合、凝集塊が大きくなり過ぎて自己沈降が起き、凝集塊が光路から外れてしまい吸光度が低下する。そのため、大径の粒子を使用する場合、ダイナミックレンジを確保することが難しい。   In the case of the agglutination method, if the particle size is increased, the reaction area per fixed time decreases and the antigen-antibody reaction decreases, but the scattering increases and even a slight aggregation can be detected. Conversely, if the particle size is small, the reaction area per fixed time will be large and the reaction will be large, but the scattering is small and detection is difficult. In general, the particle concentration is limited when a large diameter is used so that high sensitivity can be measured by the latex agglutination method. For example, when the particle concentration is higher than or equal to a certain level, the transmitted light is reduced, which leads to a decrease in detectability. In addition, when the concentration of the substance to be measured is high, the clumps become too large and self-sedimentation occurs, causing the clumps to deviate from the optical path and the absorbance to decrease. Therefore, when using large diameter particles, it is difficult to secure a dynamic range.

一方、小径の粒子を使用した場合、粒子濃度を高くできるため、測定対象物の高濃度域まで測定ができる。しかし、凝集による自己沈降は起き難く、広いダイナミックレンジを確保できるが、検出感度は悪くなる。現在のラテックス凝集法試薬は、感度の良い大粒径とダイナミックレンジの取れる小粒径との2種以上の粒径の粒子を使用して、高感度、かつワイドレンジを実現している。しかし、両者の利点が少しずつ消されてしまっているため、単一径粒子本来の性能を落としている。   On the other hand, when particles of small diameter are used, the particle concentration can be increased, so that measurement can be performed up to the high concentration region of the measurement object. However, although self-sedimentation due to aggregation hardly occurs and a wide dynamic range can be secured, detection sensitivity is degraded. The current latex agglutination method reagent achieves high sensitivity and wide range by using particles of two or more kinds of particle sizes of a large particle size with high sensitivity and a small particle size capable of obtaining a dynamic range. However, since the advantages of both have been gradually eliminated, the inherent performance of single-size particles has been reduced.

特表2014−192963号公報JP-A-2014-192963 特許第6104746号明細書Patent No. 6104746 specification

発明が解決しようとする課題は、抗体又は抗原を固定化した不溶性担体を用いた測定において、検出対象を高感度かつ高濃度まで測定可能とすること、すなわち、高感度かつ広いダイナミックレンジを実現することである。   The problem to be solved by the invention is that in the measurement using the insoluble carrier on which the antibody or antigen is immobilized, the detection object can be measured with high sensitivity and high concentration, that is, high sensitivity and wide dynamic range are realized. It is.

実施形態によれば、検量線生成方法は、既知の濃度の検出対象を含み、異なる濃度に対応する複数の標準試料の測光結果に基づき、検量線を生成する。検量線生成方法は、異なる測光タイミングで取得された複数の標準試料の測光結果に基づいて前記検量線を生成する。   According to an embodiment, the calibration curve generation method generates a calibration curve based on photometric results of a plurality of standard samples corresponding to different concentrations, including detection targets of known concentrations. The calibration curve generation method generates the calibration curve based on photometric results of a plurality of standard samples acquired at different photometric timings.

図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of the automatic analyzer according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態に係る測光タイミング線及び測光タイミングを表す図である。FIG. 2 is a diagram showing a photometric timing line and photometric timing according to the first embodiment. 図3は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 図4は、標準試料についての測定値及び反応曲線を表す図である。FIG. 4 is a diagram showing measured values and response curves for standard samples. 図5は、図4に示される反応曲線に基づいて設定される測光タイミング線、及び測光タイミングを表す図である。FIG. 5 is a diagram showing a photometric timing line set based on the response curve shown in FIG. 4 and the photometric timing. 図6は、図4に示される反応曲線に基づいて設定される測光タイミング線、及び測光タイミングを表す図である。FIG. 6 is a diagram showing a photometric timing line set based on the response curve shown in FIG. 4 and the photometric timing. 図7は、測定値に基づいて設定される測光タイミング線、及び測光タイミングを表す図である。FIG. 7 is a diagram showing a photometric timing line set based on the measurement value and the photometric timing. 図8は、図7に示される測光タイミングに基づいて生成される標準検量線を表す図である。FIG. 8 shows a standard calibration curve generated based on the photometric timing shown in FIG. 図9は、測光タイミング線が2本設定される場合の測光タイミング線、及び測光タイミングを表す図である。FIG. 9 is a diagram showing a light measurement timing line and a light measurement timing when two light measurement timing lines are set. 図10は、図9に示される測光タイミングに基づいて生成される標準検量線を表す図である。FIG. 10 is a diagram showing a standard calibration curve generated based on the photometric timing shown in FIG. 図11は、反応曲線、測光タイミング線、及び被検データ近似曲線を表す図である。FIG. 11 is a diagram showing a response curve, a photometric timing line, and a test data approximate curve. 図12は、図11と対応する補正済み検量データを表す図である。FIG. 12 is a diagram showing corrected calibration data corresponding to FIG. 図13は、第2の実施形態に係る標準検量線の取得方法の一例を表す図である。FIG. 13 is a diagram illustrating an example of a method of acquiring a standard calibration curve according to the second embodiment. 図14は、図13の方法により取得される標準検量線を表す図である。FIG. 14 shows a standard calibration curve obtained by the method of FIG. 図15は、標準検量線の取得方法のその他の例を表す図である。FIG. 15 is a diagram illustrating another example of the method of acquiring a standard calibration curve. 図16は、図15の方法により取得される標準検量線を表す図である。FIG. 16 is a diagram showing a standard calibration curve acquired by the method of FIG. 図17は、標準検量線の取得方法のその他の例を表す図である。FIG. 17 is a diagram illustrating another example of the method of acquiring a standard calibration curve. 図18は、図17の方法により取得される標準検量線を表す図である。FIG. 18 is a diagram showing a standard calibration curve acquired by the method of FIG. 図19は、標準検量線の取得方法のその他の例を表す図である。FIG. 19 is a diagram illustrating another example of the method of acquiring a standard calibration curve. 図20は、図19の方法により取得される標準検量線の一部を表す図である。FIG. 20 is a diagram showing a part of a standard calibration curve acquired by the method of FIG. 図21は、図19の方法により取得される標準検量線の一部を表す図である。FIG. 21 is a diagram showing a part of a standard calibration curve acquired by the method of FIG. 図22は、反応曲線、測光タイミング線、及び被検データ近似曲線を表す図である。FIG. 22 is a diagram showing a response curve, a photometric timing line, and a test data approximate curve. 図23は、図22と対応する補正済み検量データを表す図である。FIG. 23 is a diagram showing corrected calibration data corresponding to FIG. 図24は、反応曲線、測光タイミング線、及び被検データ近似曲線を表す図である。FIG. 24 is a diagram showing a response curve, a photometric timing line, and a test data approximate curve. 図25は、図24と対応する補正済み検量データを表す図である。FIG. 25 is a diagram showing corrected calibration data corresponding to FIG.

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。   Embodiments will be described below with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
(自動分析装置)
図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図である。図1に示される自動分析装置1は、分析機構2、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース5、出力インタフェース6、通信インタフェース7、記憶回路8、及び制御回路9を具備する。
First Embodiment
(Automatic analyzer)
FIG. 1 is a block diagram showing an example of the functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the first embodiment. The automatic analyzer 1 shown in FIG. 1 includes an analysis mechanism 2, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a storage circuit 8, and a control circuit 9.

自動分析装置1は、ラテックス凝集法を用いて試料等の濃度を測定する装置であり、試薬に添加する不溶性の担体としては、各種の担体粒子が利用可能である。担体粒子としては、例えば、ラテックス粒子、ポリスチレン、ポリスチレンラテックス、シリカ粒子等を用いることができる。   The automatic analyzer 1 is a device that measures the concentration of a sample or the like using a latex agglutination method, and various carrier particles can be used as an insoluble carrier to be added to a reagent. As the carrier particles, for example, latex particles, polystyrene, polystyrene latex, silica particles and the like can be used.

分析機構2は、標準試料、又は被検試料等の試料に、この試料に設定される各検査項目で用いられる試薬を添加する。分析機構2は、試料に試薬を添加して得られる反応液を測定し、例えば吸光度又は散乱光量で表される標準データ、及び被検データを生成する。本実施形態において、標準データは、含まれる検出対象の濃度が既知の標準試料についての吸光度又は散乱光量の測定データを表す。また、被検データは、被検試料についての吸光度又は散乱光量の測定データを表す。   The analysis mechanism 2 adds, to a standard sample or a sample such as a test sample, a reagent used in each inspection item set for the sample. The analysis mechanism 2 measures a reaction solution obtained by adding a reagent to a sample, and generates, for example, standard data represented by absorbance or light intensity and test data. In the present embodiment, the standard data represents the measurement data of the absorbance or the amount of scattered light for a standard sample whose concentration to be detected is known. Further, the test data represents measurement data of the absorbance or the amount of scattered light of the test sample.

解析回路3は、分析機構2により生成される標準データ、及び被検データを解析し、検量データ、及び分析データ等を生成するプロセッサである。検量データは、例えば、標準データと、標準試料について予め設定された標準検量線との関係を示す。標準検量線は、例えば、標準試料を使って試薬メーカーが算出した測定精度の高い検量線である。また、分析データは、被検データを検量データに基づいて分析することで得られる、例えば、濃度値、及び酵素の活性値として表されるデータである。   The analysis circuit 3 is a processor that analyzes standard data generated by the analysis mechanism 2 and test data, and generates calibration data, analysis data, and the like. The calibration data indicates, for example, the relationship between standard data and a standard calibration curve preset for a standard sample. The standard calibration curve is, for example, a calibration curve with high measurement accuracy calculated by a reagent manufacturer using a standard sample. Further, the analysis data is, for example, data represented as a concentration value and an activity value of an enzyme obtained by analyzing the test data based on the calibration data.

解析回路3は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行し、この動作プログラムに対応する機能を実現することで、検量データ及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路3は、吸光度又は散乱光量が既知で濃度が0の標準試料と、吸光度又は散乱光量が既知で、濃度がそれぞれ既知である複数の標準試料とについて得られた標準データ、これらの標準試料について予め設定された標準検量線、及び予め設定された測光タイミング等に基づき、検量データを算出する。また、解析回路3は、被検データ、この被検データに対応する検査項目の検量データ、及び予め設定された測光タイミング等に基づき、分析データを生成する。解析回路3は生成した検量データ、及び分析データ等を制御回路9へ出力する。   The analysis circuit 3 executes an operation program stored in the storage circuit 8 and realizes functions corresponding to the operation program to generate calibration data, analysis data, and the like. For example, the analysis circuit 3 obtains standard data obtained for a standard sample whose absorbance or light intensity is known and has a concentration of 0, and a plurality of standard samples whose absorbance or light intensity is known and whose concentrations are known, respectively, Calibration data is calculated based on a standard calibration curve set in advance for a standard sample, and a photometric timing set in advance. Further, the analysis circuit 3 generates analysis data based on the test data, calibration data of an inspection item corresponding to the test data, and photometric timing set in advance. The analysis circuit 3 outputs the generated calibration data, analysis data and the like to the control circuit 9.

駆動機構4は、制御回路9の制御に従い、分析機構2を駆動させる。駆動機構4は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。   The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 9. The drive mechanism 4 is realized by, for example, a gear, a stepping motor, a belt conveyor, and a lead screw.

入力インタフェース5は、例えば、操作者から、又は病院内ネットワークNWを介して測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インタフェース5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース5は、制御回路9に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路9へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース5はマウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路9へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース5の例に含まれる。   The input interface 5 receives, for example, the setting of analysis parameters and the like of each inspection item related to the sample requested to be measured from the operator or via the in-hospital network NW. The input interface 5 is realized by, for example, a mouse, a keyboard, and a touch pad to which an instruction is input by touching the operation surface. The input interface 5 is connected to the control circuit 9, converts an operation instruction input from the operator into an electric signal, and outputs the electric signal to the control circuit 9. In the present specification, the input interface 5 is not limited to one having physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs the electrical signal to the control circuit 9 is also an input interface Included in example 5

出力インタフェース6は、制御回路9に接続され、制御回路9から供給される信号を出力する。出力インタフェース6は、例えば、表示回路、及び印刷回路等により実現される。表示回路には、例えば、CRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。   The output interface 6 is connected to the control circuit 9 and outputs a signal supplied from the control circuit 9. The output interface 6 is realized by, for example, a display circuit, a print circuit, and the like. The display circuit includes, for example, a CRT display, a liquid crystal display, an organic EL display, an LED display, a plasma display, and the like. Note that a display circuit also includes a processing circuit that converts data representing a display target into a video signal and outputs the video signal to the outside. The printed circuit includes, for example, a printer. An output circuit that outputs data representing a print target to the outside is also included in the print circuit.

通信インタフェース7は、例えば、病院内ネットワークNWと接続する。通信インタフェース7は、病院内ネットワークNWを介してHIS(Hospital Information System)とデータ通信を行う。なお、通信インタフェース7は、病院内ネットワークNWと接続する検査部門システム(Laboratory Information System:LIS)を介してHISとデータ通信を行っても構わない。   The communication interface 7 is connected to, for example, the in-hospital network NW. The communication interface 7 performs data communication with an HIS (Hospital Information System) via the in-hospital network NW. The communication interface 7 may perform data communication with the HIS via a laboratory information system (LIS) connected to the in-hospital network NW.

記憶回路8は、磁気的、若しくは光学的記録媒体、又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。なお、記憶回路8は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路8は、複数の記憶装置により実現されても構わない。   The storage circuit 8 includes a processor-readable storage medium, such as a magnetic or optical storage medium, or a semiconductor memory. The memory circuit 8 does not necessarily have to be realized by a single memory device. For example, the storage circuit 8 may be realized by a plurality of storage devices.

記憶回路8は、解析回路3で実行される動作プログラム、及び制御回路9で実行される動作プログラムを記憶している。記憶回路8は、分析機構2内に保持されている試薬に関する検量線情報を記憶する。検量線情報には、試薬について予め設定された標準検量線に関するデータが、検査項目毎に含まれている。また、検量線情報には、例えば、試薬について予め設定された測光タイミング線に関するデータが、検査項目毎に含まれている。検量線情報は、通信インタフェース7を介し、例えば、試薬のロット単位で、試薬メーカーから提供される。なお、検量線情報は、例えば、試薬と共に試薬メーカーから提供され、入力インタフェース5から操作者により入力されても構わない。   The memory circuit 8 stores an operation program executed by the analysis circuit 3 and an operation program executed by the control circuit 9. The storage circuit 8 stores calibration curve information on the reagent held in the analysis mechanism 2. The calibration curve information includes data on a standard calibration curve set in advance for the reagent for each test item. Further, in the calibration curve information, for example, data on a photometric timing line preset for the reagent is included for each inspection item. Calibration curve information is provided from the reagent manufacturer via the communication interface 7, for example, in units of lots of reagents. The calibration curve information may be provided, for example, by the reagent manufacturer together with the reagent, and may be input by the operator from the input interface 5.

測光タイミング線は、測定タイミングを規定する基準線である。測光タイミングは、検量データを生成する際に用いる吸光度等の情報を取得する時点を表す。すなわち、測光タイミングは、例えば、検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体である、担体粒子が含まれる試薬を標準試料に添加してからの経過時間を表す。また、測光タイミングは、分析データを生成する際に用いる吸光度等の情報を取得する時点を表す。すなわち、測光タイミングは、例えば、担体粒子が含まれる試薬を被検試料に添加してからの経過時間を表す。   The photometric timing line is a reference line that defines measurement timing. The photometric timing represents a point in time of acquiring information such as absorbance used when generating calibration data. That is, the photometric timing represents, for example, an elapsed time after adding a reagent including carrier particles, which is an insoluble carrier on which a component that binds to a detection target is immobilized, to a standard sample. In addition, the photometric timing represents a point in time of acquiring information such as absorbance used when generating analysis data. That is, the photometric timing represents, for example, an elapsed time since the reagent containing the carrier particles is added to the test sample.

図2は、所定の試薬についての測光タイミング線及び測光タイミングの例を表す図である。図2において、太い実線が測光タイミング線を表す。また、細い実線は、所定の濃度の標準試料に試薬を添加した後に測定される吸光度に基づいて取得される反応曲線を表す。図2に示される反応曲線のうち、吸光度の立ち上がりが急な反応曲線ほど、濃度の高い標準試料についての反応曲線を表す。丸印は、測光タイミング線と、反応曲線との交点であり、測光タイミングを表す。図2において、測光タイミング線は、図中の右下から左上へ斜めに伸びる。すなわち、測光タイミング線は、濃度の低い標準試料に試薬を添加した場合には測光タイミングが遅くなり、濃度の高い標準試料に試薬を添加した場合には測光タイミングが早くなるように設定されている。なお、検量線情報には、測光タイミング線に関するデータではなく、測光タイミングに関するデータが含まれていても構わない。   FIG. 2 is a diagram showing an example of a photometric timing line and photometric timing for a predetermined reagent. In FIG. 2, a thick solid line indicates a photometric timing line. The thin solid line represents a reaction curve obtained based on the absorbance measured after adding the reagent to a standard sample of a predetermined concentration. Of the reaction curves shown in FIG. 2, the reaction curve having a steeper rise in absorbance represents the reaction curve for a standard sample of higher concentration. Circles are points of intersection of the photometric timing line and the response curve, and represent photometric timing. In FIG. 2, the photometric timing line obliquely extends from the lower right to the upper left in the drawing. That is, the photometric timing line is set so that the photometric timing is delayed when the reagent is added to the standard sample with low concentration, and the photometric timing is advanced when the reagent is added to the standard sample with high concentration. . It should be noted that the calibration curve information may include not data related to the light measurement timing line but data related to the light measurement timing.

記憶回路8は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路8は、解析回路3により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。   The storage circuit 8 stores calibration data generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. The storage circuit 8 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each test sample.

制御回路9は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路9は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路9は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えても構わない。   The control circuit 9 is a processor that functions as the center of the automatic analyzer 1. The control circuit 9 executes an operation program stored in the storage circuit 8 to realize a function corresponding to the operation program. The control circuit 9 may have a storage area for storing at least a part of the data stored in the storage circuit 8.

図3は、図1に示される分析機構2の構成の一例を示す模式図である。図3に示される分析機構2は、反応ディスク201、恒温部202、サンプルディスク203、第1試薬庫204、及び第2試薬庫205を備える。   FIG. 3 is a schematic view showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. The analysis mechanism 2 shown in FIG. 3 includes a reaction disk 201, a constant temperature unit 202, a sample disk 203, a first reagent storage 204, and a second reagent storage 205.

反応ディスク201は、反応容器2011を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、反応ディスク201は、複数の反応容器2011を、環状に配列させて保持する。反応ディスク201は、駆動機構4により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。   The reaction disk 201 transports the reaction container 2011 along a predetermined path. Specifically, the reaction disc 201 holds a plurality of reaction vessels 2011 arranged in a ring. The reaction disc 201 is alternately rotated and stopped at predetermined time intervals by the drive mechanism 4.

反応容器2011は、例えば、ガラスにより形成されている。反応容器2011は、四角柱状を有し、上部に開口部を有している。四角柱を形成する第1乃至第4側壁のうち、第1側壁の外面からは、測光ユニット214に設けられる光源から照射される光が入射される。第1乃至第4側壁のうち、第1側壁と対向する第2側壁の外面からは、第1側壁の外面から入射された光が出射される。   The reaction container 2011 is formed of, for example, glass. The reaction vessel 2011 has a square pole shape and an opening at the top. The light emitted from the light source provided to the photometric unit 214 is incident from the outer surface of the first side wall among the first to fourth side walls forming the quadrangular prism. The light incident from the outer surface of the first side wall is emitted from the outer surface of the second side wall facing the first side wall among the first to fourth side walls.

恒温部202は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留する。恒温部202は、貯留する熱媒体に反応容器2011を浸漬させることで、反応容器2011に収容される反応液を昇温する。   The constant temperature unit 202 stores the heat medium set to a predetermined temperature. The constant temperature unit 202 causes the reaction container 2011 to be immersed in a heat medium to be stored, thereby raising the temperature of the reaction liquid contained in the reaction container 2011.

サンプルディスク203は、試料を収容する試料容器を複数保持する。サンプルディスク203は、駆動機構4により回動される。   The sample disk 203 holds a plurality of sample containers for storing a sample. The sample disc 203 is rotated by the drive mechanism 4.

第1試薬庫204は、標準試料、及び被検試料に含まれる所定の成分と反応する第1試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第1試薬は、例えば、ウシ血清アルブミン(BSA)等を含む緩衝液である。試薬容器には、試薬ラベルが貼付されている。試薬ラベルには、試薬情報を表す光学式マークが印刷されている。光学式マークには、例えば、1次元画素コード、及び2次元画素コード等、任意の画素コードが用いられる。試薬情報は、試薬容器に収容される試薬に関する情報であり、例えば、試薬名、試薬メーカコード、試薬項目コード、ボトル種類、ボトルサイズ、容量、製造ロット番号、及び有効期間等を含む。   The first reagent storage 204 cools a plurality of reagent containers containing a standard sample and a first reagent that reacts with a predetermined component contained in the test sample. The first reagent is, for example, a buffer solution containing bovine serum albumin (BSA) or the like. A reagent label is attached to the reagent container. The reagent label is printed with an optical mark indicating reagent information. For the optical mark, for example, an arbitrary pixel code such as a one-dimensional pixel code and a two-dimensional pixel code is used. The reagent information is information related to the reagent contained in the reagent container, and includes, for example, a reagent name, a reagent maker code, a reagent item code, a bottle type, a bottle size, a capacity, a production lot number, and a term of validity.

また、第1試薬庫204は、標準試料を収容する標準試料容器を複数保冷する。標準試料容器には、濃度が異なる同一の成分の標準試料が収容されていても構わない。なお、標準試料容器は、サンプルディスク203に保持されていても構わない。   Further, the first reagent storage 204 cools a plurality of standard sample containers for storing standard samples. The standard sample container may contain standard samples of the same component having different concentrations. The standard sample container may be held by the sample disc 203.

第1試薬庫204内には、試薬ラック2041が回転自在に設けられている。試薬ラック2041は、複数の試薬容器、及び複数の標準試料容器を円環状に配列して保持する。試薬ラック2041は、駆動機構4により回動される。また、第1試薬庫204内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ(図示せず)が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路8で記憶される。   In the first reagent storage 204, a reagent rack 2041 is rotatably provided. The reagent rack 2041 holds a plurality of reagent containers and a plurality of standard sample containers arranged in an annular shape. The reagent rack 2041 is rotated by the drive mechanism 4. In addition, in the first reagent storage 204, a reader (not shown) for reading reagent information from a reagent label attached to a reagent container is provided. The read reagent information is stored in the storage circuit 8.

第1試薬庫204上の所定の位置には、第1試薬吸引位置が設定されている。第1試薬吸引位置は、例えば、第1試薬分注プローブ209の回動軌道と、試薬ラック2041に円環状に配列される試薬容器及び標準試料容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。   A first reagent suction position is set at a predetermined position on the first reagent storage 204. The first reagent aspirating position is, for example, at a position where the rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 209 intersects with the movement trajectory of the opening of the reagent container and the standard sample container arranged annularly in the reagent rack 2041. Provided.

第2試薬庫205は、2試薬系の第1試薬と対をなす第2試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第2試薬は、試料に含まれる所定の抗原又は抗体と、特異的抗原抗体反応により結合又は乖離する抗原又は抗体が固定化された不溶性担体、例えば、担体粒子を含む溶液である。特異的反応により結合又は乖離するものとして酵素、基質、アプタマー、受容体であっても良い。第2試薬庫205内には、試薬ラック2051が回転自在に設けられている。   The second reagent storage 205 cools a plurality of reagent containers storing the second reagent that makes a pair with the first reagent of the two reagent system. The second reagent is a solution containing a predetermined antigen or antibody contained in the sample and an insoluble carrier, eg, carrier particles, on which the antigen or antibody that binds or separates due to a specific antigen-antibody reaction is immobilized. It may be an enzyme, a substrate, an aptamer, or a receptor as one that binds or separates by a specific reaction. In the second reagent storage 205, a reagent rack 2051 is rotatably provided.

試薬ラック2051は、複数の試薬容器を円環状に配列して保持する。なお、第2試薬庫205において、標準試料を収容する標準試料容器が保冷されていても構わない。試薬ラック2051は、駆動機構4により回動される。また、第2試薬庫205内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ(図示せず)が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路8で記憶される。   The reagent rack 2051 holds a plurality of reagent containers arranged in an annular shape. In the second reagent storage 205, the standard sample container for storing the standard sample may be cooled. The reagent rack 2051 is rotated by the drive mechanism 4. In the second reagent storage 205, a reader (not shown) for reading reagent information from a reagent label attached to the reagent container is provided. The read reagent information is stored in the storage circuit 8.

第2試薬庫205上の所定の位置には、第2試薬吸引位置が設定されている。第2試薬吸引位置は、例えば、第2試薬分注プローブ211の回動軌道と、試薬ラック2051に円環状に配列される試薬容器の開口部の移動軌道とが交差する位置に設けられる。   A second reagent suction position is set at a predetermined position on the second reagent storage 205. The second reagent suction position is provided, for example, at a position where the rotation track of the second reagent dispensing probe 211 intersects with the movement track of the opening of the reagent container arranged annularly in the reagent rack 2051.

また、図3に示される分析機構2は、サンプル分注アーム206、サンプル分注プローブ207、第1試薬分注アーム208、第1試薬分注プローブ209、第2試薬分注アーム210、第2試薬分注プローブ211、第1攪拌ユニット212、第2攪拌ユニット213、測光ユニット214、及び洗浄ユニット215を備える。   Further, the analysis mechanism 2 shown in FIG. 3 includes a sample dispensing arm 206, a sample dispensing probe 207, a first reagent dispensing arm 208, a first reagent dispensing probe 209, a second reagent dispensing arm 210, a second A reagent dispensing probe 211, a first stirring unit 212, a second stirring unit 213, a photometric unit 214, and a washing unit 215 are provided.

サンプル分注アーム206は、反応ディスク201とサンプルディスク203との間に設けられている。サンプル分注アーム206は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム206は、一端にサンプル分注プローブ207を保持する。   The sample dispensing arm 206 is provided between the reaction disc 201 and the sample disc 203. The sample dispensing arm 206 is vertically vertically movable and horizontally rotatable by the drive mechanism 4. The sample dispensing arm 206 holds the sample dispensing probe 207 at one end.

サンプル分注プローブ207は、サンプル分注アーム206の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプルディスク203で保持される試料容器の開口部が位置するようになっている。また、サンプル分注プローブ207の回動軌道上には、サンプル分注プローブ207が吸引した試料を反応容器2011へ吐出するためのサンプル吐出位置が設けられている。サンプル吐出位置は、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器2011の移動軌道との交点に相当する。   The sample dispensing probe 207 pivots along an arc-shaped pivoting track as the sample dispensing arm 206 pivots. The opening portion of the sample container held by the sample disc 203 is positioned on this rotating orbit. A sample discharge position for discharging the sample sucked by the sample dispensing probe 207 to the reaction container 2011 is provided on the rotation trajectory of the sample dispensing probe 207. The sample discharge position corresponds to the intersection of the rotation trajectory of the sample dispensing probe 207 and the movement trajectory of the reaction container 2011 held by the reaction disk 201.

サンプル分注プローブ207は、駆動機構4によって駆動され、サンプルディスク203で保持される試料容器の開口部の直上、又は、サンプル吐出位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置の直下に位置する反応容器2011へ吐出する。   The sample dispensing probe 207 is driven by the drive mechanism 4 and moves vertically on the opening of the sample container held by the sample disk 203 or at the sample discharge position. Further, the sample dispensing probe 207 sucks the sample from the sample container located immediately below according to the control of the control circuit 9. Further, the sample dispensing probe 207 discharges the aspirated sample to the reaction container 2011 located immediately below the sample discharge position according to the control of the control circuit 9.

第1試薬分注アーム208は、第1試薬庫204の外周近傍に設けられている。第1試薬分注アーム208は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第1試薬分注アーム208は、一端に第1試薬分注プローブ209を保持する。   The first reagent dispensing arm 208 is provided near the outer periphery of the first reagent storage 204. The first reagent dispensing arm 208 is vertically movable in the vertical direction by the drive mechanism 4 and rotatably provided in the horizontal direction. The first reagent dispensing arm 208 holds the first reagent dispensing probe 209 at one end.

第1試薬分注プローブ209は、第1試薬分注アーム208の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第1試薬吸引位置が設けられている。また、第1試薬分注プローブ209の回動軌道上には、第1試薬分注プローブ209が吸引した第1試薬、又は標準試料を反応容器2011へ吐出するための第1試薬吐出位置が設定されている。第1試薬吐出位置は、第1試薬分注プローブ209の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器2011の移動軌道との交点に相当する。   The first reagent dispensing probe 209 pivots along an arc-shaped pivoting track as the first reagent dispensing arm 208 pivots. A first reagent suction position is provided on the rotation track. In addition, the first reagent discharge position for discharging the first reagent sucked by the first reagent dispensing probe 209 or the standard sample to the reaction container 2011 is set on the rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 209 It is done. The first reagent discharge position corresponds to an intersection point of the rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 209 and the movement trajectory of the reaction container 2011 held by the reaction disk 201.

第1試薬分注プローブ209は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の第1試薬吸引位置、又は第1試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第1試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、第1試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第1試薬、又は標準試料を吸引する。また、第1試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、吸引した第1試薬、又は標準試料を、第1試薬吐出位置の直下に位置する反応容器2011へ吐出する。すなわち、第1試薬分注プローブ209は、本実施形態における吐出部の一例である。   The first reagent dispensing probe 209 is driven by the drive mechanism 4 and moves up and down at the first reagent suction position or the first reagent discharge position on the rotation track. Further, the first reagent dispensing probe 209 aspirates the first reagent or the standard sample from the reagent container positioned immediately below the first reagent aspirating position under the control of the control circuit 9. In addition, the first reagent dispensing probe 209 discharges the aspirated first reagent or standard sample to the reaction container 2011 located immediately below the first reagent discharge position according to the control of the control circuit 9. That is, the first reagent dispensing probe 209 is an example of the discharge unit in the present embodiment.

第2試薬分注アーム210は、第1試薬庫204の外周近傍に設けられている。第2試薬分注アーム210は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第2試薬分注アーム210は、一端に第2試薬分注プローブ211を保持する。   The second reagent dispensing arm 210 is provided near the outer periphery of the first reagent storage 204. The second reagent dispensing arm 210 is vertically movable in the vertical direction by the drive mechanism 4 and rotatably provided in the horizontal direction. The second reagent dispensing arm 210 holds the second reagent dispensing probe 211 at one end.

第2試薬分注プローブ211は、第2試薬分注アーム210の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第2試薬吸引位置が設けられている。また、第2試薬分注プローブ211の回動軌道上には、第2試薬分注プローブ211が吸引した第2試薬を反応容器2011へ吐出するための第2試薬吐出位置が設定されている。第2試薬吐出位置は、第2試薬分注プローブ211の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器2011の移動軌道との交点に相当する。   The second reagent dispensing probe 211 pivots along an arc-shaped pivoting track as the second reagent dispensing arm 210 pivots. A second reagent suction position is provided on the rotation track. In addition, on the rotation trajectory of the second reagent dispensing probe 211, a second reagent discharge position for discharging the second reagent sucked by the second reagent dispensing probe 211 to the reaction container 2011 is set. The second reagent discharge position corresponds to an intersection point of the rotation trajectory of the second reagent dispensing probe 211 and the movement trajectory of the reaction container 2011 held by the reaction disk 201.

第2試薬分注プローブ211は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の第2試薬吸引位置、又は第2試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第2試薬分注プローブ211は、制御回路9の制御に従い、第2試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第2試薬を吸引する。また、第2試薬分注プローブ211は、制御回路9の制御に従い、吸引した第2試薬を、第2試薬吐出位置の直下に位置する反応容器2011へ吐出する。すなわち、第2試薬分注プローブ211は、本実施形態における吐出部の一例である。   The second reagent dispensing probe 211 is driven by the drive mechanism 4 and vertically moves at a second reagent suction position or a second reagent discharge position on the rotation track. Further, the second reagent dispensing probe 211 aspirates the second reagent from the reagent container located immediately below the second reagent aspirating position under the control of the control circuit 9. In addition, the second reagent dispensing probe 211 discharges the aspirated second reagent to the reaction container 2011 positioned immediately below the second reagent discharge position according to the control of the control circuit 9. That is, the second reagent dispensing probe 211 is an example of the discharge unit in the present embodiment.

第1攪拌ユニット212は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。第1攪拌ユニット212は、第1攪拌アーム2121、及び第1攪拌アーム2121の先端に設けられる第1攪拌子を有する。第1攪拌ユニット212は、第1攪拌子により、反応ディスク201上の第1攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている標準試料と第1試薬とを攪拌する。また、第1攪拌ユニット212は、第1攪拌子により、反応ディスク201上の第1攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている試料と第1試薬とを攪拌する。   The first stirring unit 212 is provided near the outer periphery of the reaction disc 201. The first stirring unit 212 has a first stirring arm 2121 and a first stirring bar provided at the tip of the first stirring arm 2121. The first stirring unit 212 stirs the standard sample and the first reagent contained in the reaction container 2011 located at the first stirring position on the reaction disc 201 by the first stirring element. Further, the first stirring unit 212 stirs the sample and the first reagent contained in the reaction container 2011 positioned at the first stirring position on the reaction disc 201 by the first stirring element.

第2攪拌ユニット213は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。第2攪拌ユニット213は、第2攪拌アーム2131、及び第2攪拌アーム2131の先端に設けられる第2攪拌子を有する。第2攪拌ユニット213は、第2攪拌子により、反応ディスク201上の第2攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている標準試料、第1試薬、及び第2試薬を攪拌する。また、第2攪拌ユニット213は、第2攪拌子により、第2攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている試料、第1試薬、及び第2試薬を攪拌する。   The second stirring unit 213 is provided in the vicinity of the outer periphery of the reaction disk 201. The second stirring unit 213 has a second stirring arm 2131 and a second stirring bar provided at the tip of the second stirring arm 2131. The second stirring unit 213 stirs the standard sample, the first reagent, and the second reagent contained in the reaction container 2011 positioned at the second stirring position on the reaction disc 201 by the second stirring element. In addition, the second stirring unit 213 stirs the sample, the first reagent, and the second reagent stored in the reaction container 2011 positioned at the second stirring position by the second stirring element.

測光ユニット214は、反応容器2011内に吐出された試料、第1試薬、及び第2試薬の反応液を光学的に測定する。測光ユニット214は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット214は、制御回路9の制御に従い、光源から光を照射する。照射された光は、反応容器2011の第1側壁から入射され、第1側壁と対向する第2側壁から出射される。測光ユニット214は、反応容器2011から出射された光を、光検出器により検出する。   The photometry unit 214 optically measures the reaction solution of the sample, the first reagent, and the second reagent discharged into the reaction container 2011. The photometry unit 214 includes a light source and a light detector. The photometry unit 214 emits light from the light source according to the control of the control circuit 9. The irradiated light is incident from the first side wall of the reaction vessel 2011 and emitted from the second side wall opposite to the first side wall. The photometric unit 214 detects the light emitted from the reaction container 2011 by the light detector.

具体的には、例えば、光検出器は、光源から反応容器2011に照射される光の光軸上の位置に配置されている。光検出器は、反応容器2011内の標準試料、第1試薬、及び第2試薬の反応液を透過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度により表される標準データを生成する。また、光検出器は、反応容器2011内の被検試料、第1試薬、及び第2試薬の反応液を透過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度により表される被検データを生成する。測光ユニット214は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路3へ出力する。   Specifically, for example, the light detector is disposed at a position on the optical axis of the light emitted from the light source to the reaction container 2011. The photodetector detects light transmitted through the reaction solution of the standard sample, the first reagent, and the second reagent in the reaction container 2011, and generates standard data represented by absorbance based on the detected light intensity. . In addition, the light detector detects the light transmitted through the reaction solution of the test sample, the first reagent, and the second reagent in the reaction container 2011, and the test represented by the absorbance based on the detected light intensity. Generate data. The photometry unit 214 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3.

洗浄ユニット215は、測光ユニット214で反応液の測定が終了した反応容器2011の内部を洗浄する。   The cleaning unit 215 cleans the inside of the reaction container 2011 in which the measurement of the reaction liquid has been completed by the photometry unit 214.

図1に示される制御回路9は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9は、動作プログラムを実行することで、システム制御機能91、校正制御機能92、及び測定制御機能93を有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91、校正制御機能92、及び測定制御機能93が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能91、校正制御機能92、及び測定制御機能93を実現しても構わない。   The control circuit 9 shown in FIG. 1 implements the function corresponding to the program by executing the operation program stored in the memory circuit 8. For example, the control circuit 9 has a system control function 91, a calibration control function 92, and a measurement control function 93 by executing an operation program. Although the case where the system control function 91, the calibration control function 92, and the measurement control function 93 are realized by a single processor is described in this embodiment, the present invention is not limited thereto. For example, a plurality of independent processors may be combined to constitute a control circuit, and each processor may execute an operation program to implement the system control function 91, the calibration control function 92, and the measurement control function 93.

システム制御機能91は、入力インタフェース5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。   The system control function 91 is a function that controls each part in the automatic analyzer 1 in an integrated manner based on input information input from the input interface 5.

校正制御機能92は、標準データを生成するように、分析機構2、及び駆動機構4を制御する機能である。具体的には、制御回路9は、所定のタイミングで校正制御機能92を実行する。所定のタイミングとは、例えば、初期設定時、装置起動時、メンテナンス時、及び操作者から校正動作開始の指示が入力された際等である。   The calibration control function 92 is a function to control the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 so as to generate standard data. Specifically, the control circuit 9 executes the calibration control function 92 at a predetermined timing. The predetermined timing is, for example, at the time of initial setting, at the time of apparatus startup, at the time of maintenance, or when an instruction to start the calibration operation is input from the operator.

校正制御機能92を実行すると制御回路9は、分析機構2、及び駆動機構4を制御する。分析機構2、及び駆動機構4が制御されることで、分析機構2では、標準データが生成される。具体的には、例えば、駆動機構4により駆動されることで、分析機構2の第1試薬分注プローブ209は、標準試料を第1試薬庫204から吸引し、吸引した標準試料を反応容器2011へ吐出する。第1試薬分注プローブ209は、第1試薬を第1試薬庫204から吸引し、吸引した第1試薬を、標準試料が吐出された反応容器2011へ吐出する。第1攪拌ユニット212は、標準試料に第1試薬が添加された溶液を撹拌する。   When the calibration control function 92 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4. By controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4, the analysis mechanism 2 generates standard data. Specifically, for example, by driving by the driving mechanism 4, the first reagent dispensing probe 209 of the analysis mechanism 2 aspirates the standard sample from the first reagent storage 204, and the aspirated standard sample is the reaction container 2011. To discharge. The first reagent dispensing probe 209 sucks the first reagent from the first reagent storage 204, and discharges the sucked first reagent to the reaction container 2011 from which the standard sample is discharged. The first stirring unit 212 stirs the solution in which the first reagent is added to the standard sample.

第2試薬分注プローブ211は、第2試薬を第2試薬庫205から吸引し、吸引した第2試薬を、標準試料と第1試薬とが混合された混合液へ吐出する。第2攪拌ユニット213は、混合液に第2試薬が添加された溶液を撹拌する。測光ユニット214は、標準試料、第1試薬、及び第2試薬が撹拌されてなる反応液を光学的に測定することで、標準データを生成する。測光ユニット214は、生成した標準データを解析回路3へ出力する。測光ユニット214は、予め設定された周期で予め設定された回数、反応液の測定を繰り返し、生成した標準データを解析回路3へ出力する。分析機構2は、予め設定した複数の濃度の標準試料について上記動作を繰り返し、生成した標準データを解析回路3へ出力する。   The second reagent dispensing probe 211 aspirates the second reagent from the second reagent reservoir 205, and discharges the aspirated second reagent to a mixed solution in which the standard sample and the first reagent are mixed. The second stirring unit 213 stirs the solution in which the second reagent is added to the mixed solution. The photometry unit 214 generates standard data by optically measuring the reaction solution in which the standard sample, the first reagent, and the second reagent are agitated. The photometry unit 214 outputs the generated standard data to the analysis circuit 3. The photometry unit 214 repeats measurement of the reaction solution a preset number of times in a preset cycle, and outputs the generated standard data to the analysis circuit 3. The analysis mechanism 2 repeats the above operation with reference samples of a plurality of concentrations set in advance, and outputs the generated standard data to the analysis circuit 3.

測定制御機能93は、被検データを生成するように、分析機構2、及び駆動機構4を制御する機能である。具体的には、制御回路9は、所定の指示に応じて測定制御機能93を実行する。所定の指示とは、例えば、操作者から入力される測定動作開始の指示、及び予め設定した時刻に到達したことを表す指示等である。   The measurement control function 93 is a function that controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 so as to generate test data. Specifically, the control circuit 9 executes the measurement control function 93 in accordance with a predetermined instruction. The predetermined instruction is, for example, an instruction to start measurement operation input from the operator, an instruction indicating that a predetermined time has been reached, or the like.

測定制御機能93を実行すると制御回路9は、分析機構2、及び駆動機構4を制御する。分析機構2、及び駆動機構4が制御されることで、分析機構2では、被検データが生成される。具体的には、駆動機構4により駆動されることで、分析機構2のサンプル分注プローブ207は、被検試料をサンプルディスク203から吸引し、吸引した被検試料を反応容器2011へ吐出する。第1試薬分注プローブ209は、第1試薬を第1試薬庫204から吸引し、吸引した第1試薬を、被検試料が吐出された反応容器2011へ吐出する。第1攪拌ユニット212は、被検試料に第1試薬が添加された溶液を撹拌する。   When the measurement control function 93 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4. By controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4, test data is generated in the analysis mechanism 2. Specifically, by being driven by the drive mechanism 4, the sample dispensing probe 207 of the analysis mechanism 2 sucks the test sample from the sample disk 203 and discharges the suctioned test sample to the reaction container 2011. The first reagent dispensing probe 209 aspirates the first reagent from the first reagent storage 204, and discharges the aspirated first reagent to the reaction container 2011 from which the test sample is discharged. The first stirring unit 212 stirs the solution in which the first reagent is added to the test sample.

第2試薬分注プローブ211は、第2試薬を第2試薬庫205から吸引し、吸引した第2試薬を、被検試料と第1試薬とが混合された混合液へ吐出する。第2攪拌ユニット213は、混合液に第2試薬が添加された溶液を撹拌する。測光ユニット214は、被検試料、第1試薬、及び第2試薬が撹拌されてなる反応液を光学的に測定することで、被検データを生成する。測光ユニット214は、生成した被検データを解析回路3へ出力する。測光ユニット214は、予め設定された周期で予め設定された回数、反応液の測定を繰り返し、生成した被検データを解析回路3へ出力する。   The second reagent dispensing probe 211 aspirates the second reagent from the second reagent reservoir 205, and discharges the aspirated second reagent to a mixed solution in which the test sample and the first reagent are mixed. The second stirring unit 213 stirs the solution in which the second reagent is added to the mixed solution. The photometry unit 214 generates test data by optically measuring the reaction solution in which the test sample, the first reagent, and the second reagent are agitated. The photometry unit 214 outputs the generated test data to the analysis circuit 3. The photometry unit 214 repeats the measurement of the reaction solution a preset number of times in a preset cycle, and outputs the generated test data to the analysis circuit 3.

図1に示される解析回路3は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、解析回路3は、動作プログラムを実行することで、検量データ生成機能31、及び分析データ生成機能32を有する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによって検量データ生成機能31、及び分析データ生成機能32が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて解析回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することにより検量データ生成機能31、及び分析データ生成機能32を実現しても構わない。   The analysis circuit 3 shown in FIG. 1 implements the function corresponding to the program by executing the operation program stored in the memory circuit 8. For example, the analysis circuit 3 has a calibration data generation function 31 and an analysis data generation function 32 by executing an operation program. In the present embodiment, although the case where the calibration data generation function 31 and the analysis data generation function 32 are realized by a single processor will be described, the present invention is not limited thereto. For example, the calibration data generation function 31 and the analysis data generation function 32 may be realized by configuring an analysis circuit by combining a plurality of independent processors and executing the operation program by each processor.

検量データ生成機能31は、分析機構2で生成された標準データに基づいて検量データを生成する機能である。具体的には、解析回路3は、分析機構2で生成された標準データを受信すると、検量データ生成機能31を実行する。検量データ生成機能31を実行すると解析回路3は、所定の検査項目の試薬について予め設定された標準検量線に関するデータ、及び測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、標準データ、標準検量線、及び測光タイミング線に基づき、検量データを生成する。解析回路3は、生成した検量データを記憶回路8に記憶させる。   The calibration data generation function 31 is a function of generating calibration data based on the standard data generated by the analysis mechanism 2. Specifically, when the analysis circuit 3 receives the standard data generated by the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes the calibration data generation function 31. When the calibration data generation function 31 is executed, the analysis circuit 3 reads from the storage circuit 8 data on a standard calibration curve set in advance for the reagent of a predetermined inspection item and data on a photometric timing line. The analysis circuit 3 generates calibration data based on the standard data, the standard calibration curve, and the photometric timing line. The analysis circuit 3 stores the generated calibration data in the storage circuit 8.

分析データ生成機能32は、分析機構2で生成された被検データを解析することで分析データを生成する機能である。具体的には、解析回路3は、分析機構2で生成された被検データを受信すると、分析データ生成機能32を実行する。分析データ生成機能32を実行すると解析回路3は、所定の検査項目について記憶されている検量データ、及び測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、被検データ、測光タイミング線、及び検量データに基づき、分析データを生成する。   The analysis data generation function 32 is a function of generating analysis data by analyzing the test data generated by the analysis mechanism 2. Specifically, when the analysis circuit 3 receives the test data generated by the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes an analysis data generation function 32. When the analysis data generation function 32 is executed, the analysis circuit 3 reads out from the storage circuit 8 calibration data stored for a predetermined inspection item and data on a photometric timing line. The analysis circuit 3 generates analysis data based on the test data, the photometric timing line, and the calibration data.

(標準検量線、測光タイミング線、及び測光タイミングの設定)
次に、標準検量線、測光タイミング線、及び測光タイミングの設定の例について詳細に説明する。以下では、例えば、試薬メーカーにおいて、上記の自動分析装置1を用いて吸光度が測定され、測定された吸光度に基づき、標準検量線、測光タイミング線、及び測光タイミングが設定される場合を例に説明する。
(Setting of standard calibration curve, photometric timing line, and photometric timing)
Next, an example of setting of the standard calibration curve, the photometric timing line, and the photometric timing will be described in detail. In the following description, for example, a case where the standard calibration curve, the photometric timing line, and the photometric timing are set based on the measured absorbance is measured by using the above-described automatic analyzer 1 in a reagent manufacturer, for example. Do.

まず、測光タイミング、及び測光タイミング線の設定について説明する。   First, the photometric timing and the setting of the photometric timing line will be described.

試薬を設計する際、又は処方する際、標準試料についてのタイムコースが取得される。例えば、反応容器2011−1〜2011−8へ、濃度が既知の標準試料S1〜S8がそれぞれ分注される。例えば、標準試料S1の濃度は0であり、標準試料S2の濃度は8ng/mlであり、標準試料S3の濃度は32ng/mlであり、標準試料S4の濃度は64ng/mlであり、標準試料S5の濃度は129ng/mlであり、標準試料S6の濃度は259ng/mlであり、標準試料S7の濃度は518ng/mlであり、標準試料S8の濃度は1037ng/mlであるとする。   When designing or prescribing reagents, a time course for a standard sample is obtained. For example, standard samples S1 to S8 having known concentrations are respectively dispensed into the reaction containers 2011-1 to 2011-8. For example, the concentration of standard sample S1 is 0, the concentration of standard sample S2 is 8 ng / ml, the concentration of standard sample S3 is 32 ng / ml, the concentration of standard sample S4 is 64 ng / ml, and the standard sample is The concentration of S5 is 129 ng / ml, the concentration of standard sample S6 is 259 ng / ml, the concentration of standard sample S7 is 518 ng / ml, and the concentration of standard sample S8 is 1037 ng / ml.

続いて、反応容器2011−1〜2011−8へそれぞれ分注された標準試料S1〜S8に、緩衝液である第1試薬が添加される。第1試薬が添加された標準試料S1〜S8は撹拌される。反応容器2011−1〜2011−8に収容される混合液は、撹拌後、所定の温度で所定期間インキュベーションされる。インキュベーション後、反応容器2011−1〜2011−8にそれぞれ収容される混合液に、標準試料中の検出対象と結合する成分が固定化された担体粒子を含む第2試薬が添加される。第2試薬が添加された混合液は撹拌される。   Subsequently, the first reagent which is a buffer solution is added to the standard samples S1 to S8 respectively dispensed to the reaction containers 2011-1 to 2011-8. The standard samples S1 to S8 to which the first reagent is added are agitated. After stirring, the mixed solution contained in the reaction containers 2011-1 to 2011-8 is incubated at a predetermined temperature for a predetermined period. After the incubation, a second reagent containing carrier particles on which a component to be bound to the detection target in the standard sample is immobilized is added to the liquid mixtures respectively accommodated in the reaction containers 2011-1 to 2011-8. The mixture to which the second reagent is added is stirred.

反応容器2011−1〜2011−8にそれぞれ収容される標準試料S1〜S8、第1試薬、及び第2試薬の反応液は、所定の温度で所定期間インキュベーションされている間に光が照射される。具体的には、例えば、反応容器2011−1〜2011−8には、標準試料S1〜S8に第2試薬が添加された後、4.6秒の周期で33回、光源から光がそれぞれ照射される。反応容器2011−1〜2011−8を透過した透過光は、光検出器により検出される。検出された光の強度に基づき、標準試料についてのタイムコースが取得される。   The reaction solutions of the standard samples S1 to S8, the first reagent, and the second reagent stored in the reaction vessels 2011-1 to 2011-8 are irradiated with light while being incubated at a predetermined temperature for a predetermined period. . Specifically, for example, in the reaction containers 2011-1 to 2011-8, after the second reagent is added to the standard samples S1 to S8, light is emitted from the light source 33 times in a cycle of 4.6 seconds. Be done. The transmitted light transmitted through the reaction containers 2011-1 to 2011-8 is detected by the photodetector. Based on the detected light intensity, a time course for the standard sample is obtained.

図4は、標準試料S1〜S8についての測定値及びタイムコース(反応曲線)の例を表す図である。図4では、17サイクルから33サイクルにおいて、濃度の異なる標準試料S1〜S8についての反応液で測定された吸光度が表されている。図4において、四角印は吸光度の測定値を表し、各四角印を結んだ線は反応曲線を表す。反応曲線C1は、標準試料S1の各サイクルの吸光度に基づいて算出される。反応曲線C1と同様に、反応曲線C2〜C8は、それぞれ標準試料S2〜S8の各サイクルの吸光度に基づいて算出される。濃度が低い標準試料S2〜S4については、反応時間の増加量と、吸光度の増加量とは、略比例関係にある。一方、濃度が中程度から高い標準試料S5〜S8については、反応時間が経過すると、吸光度が飽和に近づく。   FIG. 4 shows an example of measured values and time courses (response curves) for standard samples S1 to S8. In FIG. 4, the absorbance measured in the reaction solution for standard samples S1 to S8 having different concentrations is shown in 17 cycles to 33 cycles. In FIG. 4, square marks indicate measured values of absorbance, and lines connecting the square marks indicate reaction curves. The reaction curve C1 is calculated based on the absorbance of each cycle of the standard sample S1. Similar to the reaction curve C1, the reaction curves C2 to C8 are calculated based on the absorbance of each cycle of the standard samples S2 to S8. For the standard samples S2 to S4 with low concentrations, the increase in reaction time and the increase in absorbance are in a substantially proportional relationship. On the other hand, for the standard samples S5 to S8 with medium to high concentrations, the absorbance approaches saturation when the reaction time passes.

第2試薬に含まれる担体粒子の凝集反応は、試料の濃度が増大すると吸光度が飽和し、フック現象を起こす特性を有する。そのため、濃度が高い標準試料との反応液については、フック現象を起こすよりも短い測光タイミングで測定されることが望ましい。本実施形態では、反応曲線C1〜C8に基づき、例えば、標準試料の濃度が低濃度から高濃度になるにつれて、測光タイミングが短くなるように測光タイミング線が設定される。なお、反応曲線が交差する部分が存在する場合には、測光タイミングは、反応曲線が交差する時点より早く設定される。   The agglutination reaction of the carrier particles contained in the second reagent has a characteristic that the absorbance is saturated when the concentration of the sample increases and the hook phenomenon occurs. Therefore, it is desirable that the reaction solution with a standard sample having a high concentration be measured at a photometric timing shorter than that causing the hook phenomenon. In the present embodiment, based on the response curves C1 to C8, for example, the photometric timing line is set such that the photometric timing becomes shorter as the density of the standard sample changes from low density to high density. When there is a portion where the response curves intersect, the photometric timing is set earlier than the time when the response curves intersect.

より詳細には、例えば、まず、反応曲線C1〜C8それぞれから1つずつ抽出した測定値をデータセットとし、吸光度を目的変数とする回帰分析を実施する。抽出する測定値を変更しながら回帰分析を繰り返し、算出された複数の回帰式のうち、所定の条件を満たす回帰式を抽出する。所定の条件とは、例えば、回帰式の決定係数が0.9以上となること、及び回帰式の次数が所定次数以下となることを含む。続いて、抽出した回帰式毎に、反応曲線C1〜C8との交点を求め、隣り合う反応曲線との交点間の吸光度の差の和、又は積等を算出する。そして、抽出した回帰式のうち、算出した和、又は積の値が最も大きくなる回帰式を測光タイミング線とする。   More specifically, for example, first, a measurement value extracted one by one from each of the reaction curves C1 to C8 is used as a data set, and a regression analysis using absorbance as a target variable is performed. The regression analysis is repeated while changing the measurement value to be extracted, and a regression equation satisfying a predetermined condition is extracted among the calculated plurality of regression equations. The predetermined condition includes, for example, that the determination coefficient of the regression equation is 0.9 or more, and that the order of the regression equation is less than or equal to a predetermined order. Then, the intersection with the reaction curves C1 to C8 is determined for each extracted regression equation, and the sum, the product or the like of the difference in absorbance between the intersections with the adjacent reaction curves is calculated. Then, among the extracted regression equations, the regression equation in which the value of the calculated sum or product is the largest is taken as the photometric timing line.

図5及び図6は、図4に示される反応曲線C1〜C8に基づいて設定される測光タイミング線、及び測光タイミングの例を表す図である。図5において、測光タイミング線は太い破線により表され、直線形状を有する。図6において、測光タイミング線は太い破線により表され、曲線形状を有する。図5及び図6において、丸印は測光タイミングを表す。測光タイミングは、測光タイミング線と、反応曲線C1〜C8との交点に設定される。   FIGS. 5 and 6 are diagrams showing examples of photometric timing lines set based on the response curves C1 to C8 shown in FIG. 4 and photometric timing. In FIG. 5, the photometric timing line is represented by a thick broken line and has a linear shape. In FIG. 6, the photometric timing line is represented by a thick broken line and has a curved shape. In FIG. 5 and FIG. 6, circle marks indicate photometric timing. The photometric timing is set at the intersection of the photometric timing line and the response curves C1 to C8.

なお、測光タイミング線は、図5及び図6で示されるような、回帰式に基づく線に限定されない。測光タイミング線は、回帰分析に用いられた測定値に基づいて設定されても構わない。具体的には、例えば、回帰分析により算出された複数の回帰式のうち、所定の条件を満たす回帰式を抽出する。抽出した回帰式毎に、回帰分析に用いた反応曲線C1〜C8毎の測定値を取得し、隣り合う反応曲線の測定値間の吸光度の差の和、又は積等を算出する。そして、算出した和、又は積の値が最も大きくなる測定値を結んだ線を測光タイミング線とする。   The photometric timing line is not limited to a line based on regression as shown in FIGS. 5 and 6. The photometric timing line may be set based on the measurement value used for regression analysis. Specifically, for example, a regression equation satisfying a predetermined condition is extracted from among a plurality of regression equations calculated by regression analysis. Measured values for each of the reaction curves C1 to C8 used in the regression analysis are acquired for each extracted regression equation, and the sum or product or the like of the difference in absorbance between the measured values of adjacent reaction curves is calculated. Then, a line connecting the calculated sum or the measured value with the largest product value is taken as a photometric timing line.

図7は、回帰分析に用いられた測定値に基づいて設定される測光タイミング線、及び測光タイミングの例を表す図である。このように、実際に計測した測定値を利用して測光タイミング線を設定することが可能となる。   FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a photometric timing line set based on measurement values used for regression analysis, and photometric timing. As described above, it becomes possible to set the photometric timing line using the actually measured values.

次に、標準検量線の生成について説明する。標準検量線は、例えば、反応曲線C1〜C8毎に設定された測光タイミングで測定される吸光度に基づいて生成される。標準検量線は、濃度と吸光度との相関関係を表す。   Next, generation of a standard calibration curve will be described. The standard calibration curve is generated based on, for example, the absorbance measured at the photometric timing set for each of the reaction curves C1 to C8. The standard calibration curve represents the correlation between concentration and absorbance.

図8は、図7に示される測光タイミングに基づいて生成される標準検量線の例を表す図である。図8に示される標準検量線によれば、吸光度は、検出対象の濃度の増加と共に増加する。このため、検出対象の濃度の高低に関わらず、吸光度から、検出対象の濃度を一意に求めることが可能となる。   FIG. 8 is a diagram showing an example of a standard calibration curve generated based on the photometric timing shown in FIG. According to the standard calibration curve shown in FIG. 8, the absorbance increases with the increase of the concentration to be detected. Therefore, regardless of the level of the concentration to be detected, the concentration to be detected can be uniquely determined from the absorbance.

なお、本実施形態において設定される測光タイミング線は、図5乃至図7で示されるような1本の測光タイミング線に限定されない。標準試料の濃度に応じ、複数本の測光タイミング線が設定されても構わない。例えば、図9に示されるように2本の測光タイミング線L1,L2が設定されてもよい。このとき、低い濃度の標準試料S1〜S3についての測光タイミングT1〜T3は、標準試料S1〜S3についての反応曲線C1〜C3と、測光タイミング線L1との交点に設定される。また、中程度から高い濃度の標準試料S4〜S8についての測光タイミングT4〜T8は、標準試料S4〜S8についての反応曲線C4〜C8と、測光タイミング線L2との交点に設定される。なお、図9において、低濃度帯と、高濃度帯とで照射する光の周波数を変えても構わない。   The photometry timing line set in the present embodiment is not limited to one photometry timing line as shown in FIGS. 5 to 7. A plurality of photometric timing lines may be set according to the density of the standard sample. For example, as shown in FIG. 9, two photometric timing lines L1 and L2 may be set. At this time, the photometric timings T1 to T3 for the low density standard samples S1 to S3 are set at the intersections of the response curves C1 to C3 for the standard samples S1 to S3 and the photometric timing line L1. Further, the photometric timings T4 to T8 for the medium to high concentration standard samples S4 to S8 are set at the intersections of the reaction curves C4 to C8 for the standard samples S4 to S8 and the photometric timing line L2. In FIG. 9, the frequencies of light to be irradiated may be changed between the low concentration band and the high concentration band.

図10は、図9に示される測光タイミングに基づいて生成される標準検量線の例を表す図である。図10に示される標準検量線は、濃度と吸光度との相関関係を表す。図10に示される吸光度は、例えば、反応液内での反応が進んでいない初期サイクルにおける吸光度と、図9に示される測光タイミングT1〜T8で測定される吸光度との差から算出される。図10によれば、検出対象の濃度帯毎に、吸光度が検出対象の濃度の増加と共に増加する標準検量線が生成される。これにより、短サイクルでの測定については中高濃度帯用の標準検量線を参照し、長サイクルでの測定については低濃度帯用の標準検量線を参照することで、吸光度から、検出対象の濃度を一意に求めることが可能となる。   FIG. 10 is a diagram showing an example of a standard calibration curve generated based on the photometric timing shown in FIG. The standard calibration curve shown in FIG. 10 represents the correlation between concentration and absorbance. The absorbance shown in FIG. 10 is calculated, for example, from the difference between the absorbance in the initial cycle in which the reaction in the reaction solution has not progressed and the absorbance measured at photometric timings T1 to T8 shown in FIG. According to FIG. 10, for each concentration band to be detected, a standard calibration curve is generated in which the absorbance increases with the increase of the concentration to be detected. This makes it possible to refer to the standard calibration curve for the middle and high concentration band for measurement in the short cycle, and to refer to the standard calibration curve for the low concentration band for the measurement in the long cycle. Can be determined uniquely.

また、本実施形態では、標準試料S1〜S8を利用した測定結果に基づいて測光タイミング線及び測光タイミングを設定する場合を例に説明したが、これに限定されない。利用される標準試料の数は、8以下、例えば、6程度であっても構わない。   In the present embodiment, the photometric timing line and the photometric timing are set as an example based on the measurement results using the standard samples S1 to S8. However, the present invention is not limited to this. The number of standard samples to be used may be eight or less, for example, about six.

以上のように、第1の実施形態では、標準試料S1〜S8それぞれに、標準試料S1〜S8内の検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体を含む試薬が添加される。標準試料S1〜S8に試薬が添加されたそれぞれの反応液は、異なる測光タイミングで光学的に測定される。そして、標準試料毎の測光結果に基づき、標準検量線としての検量線が生成される。これにより、濃度毎に異なる測光タイミングで取得された測光結果を用いて検量線を生成することが可能となる。   As described above, in the first embodiment, to each of the standard samples S1 to S8, a reagent including an insoluble carrier on which a component that binds to the detection target in the standard samples S1 to S8 is immobilized is added. Each reaction solution in which the reagent is added to the standard samples S1 to S8 is optically measured at different photometric timings. Then, a calibration curve as a standard calibration curve is generated based on the photometric result of each standard sample. As a result, it is possible to generate a calibration curve using photometric results acquired at different photometric timings for each concentration.

また、第1の実施形態では、測光タイミングは、標準試料の濃度が高濃度から低濃度になるに伴い、段階的に遅くなるように設定されている。これにより、濃度が高いほど早くに取得された測光結果を用いて検量線が生成されるようになる。   In the first embodiment, the photometric timing is set so as to be gradually delayed as the density of the standard sample changes from the high density to the low density. As a result, a calibration curve is generated using photometric results acquired earlier as the concentration is higher.

また、第1の実施形態では、測光強度の経時変化を表す強度曲線を標準試料毎に算出する。標準試料毎の強度曲線に基づき、情報を取得する時点が高濃度の標準試料から低濃度の標準試料へ段階的に遅くなるように測光タイミング線を設定する。そして、標準試料毎の強度曲線と、測光タイミング線との交点を測光タイミングとするようにしている。これにより、検量線を生成するための情報を、検出対象の濃度毎に適した反応時間で取得することが可能となる。   Further, in the first embodiment, an intensity curve representing a temporal change in photometric intensity is calculated for each standard sample. Based on the intensity curve for each standard sample, the photometric timing line is set such that the time point for acquiring information is gradually delayed from the high concentration standard sample to the low concentration standard sample. The intersection point of the intensity curve of each standard sample and the photometric timing line is used as the photometric timing. This makes it possible to obtain information for generating a calibration curve in a reaction time suitable for each concentration to be detected.

(自動分析装置1による検量データの生成)
次に、以上のように構成された自動分析装置1が検量データを生成する動作の例を詳細に説明する。
(Generation of calibration data by automatic analyzer 1)
Next, an example of an operation in which the automatic analyzer 1 configured as described above generates calibration data will be described in detail.

まず、自動分析装置1は、ロット単位で入荷した第2試薬の検量線情報を、例えば、ネットワークを介して取得する。検量線情報には、ロット単位で入荷された第2試薬の標準検量線に関するデータ、及び測光タイミング線に関するデータが含まれている。取得した検量線情報は、記憶回路8に記憶される。   First, the automatic analyzer 1 acquires calibration curve information of the second reagent received in lot units, for example, via a network. The calibration curve information includes data on a standard calibration curve of the second reagent received in lot units and data on a photometric timing line. The acquired calibration curve information is stored in the storage circuit 8.

制御回路9は、例えば、自動分析装置1の起動時に、校正制御機能92を実行する。校正制御機能92を実行すると制御回路9は、分析機構2、及び駆動機構4を制御することで所定の検査項目についての標準データを生成する。具体的には、例えば、第1試薬庫204に設けられている試薬ラック2041が回動され、試薬ラック2041に保持されている、標準試料S1〜S8の少なくとも1つの標準試料の容器の開口部が第1試薬吸引位置に配置される。容器に収容されている標準試料は、第1試薬分注プローブ209により吸引される。吸引された標準試料は反応容器2011へ吐出される。   The control circuit 9 executes, for example, the calibration control function 92 when the automatic analyzer 1 is started. When the calibration control function 92 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 to generate standard data for a predetermined inspection item. Specifically, for example, the opening of the container of at least one standard sample of standard samples S1 to S8 held in the reagent rack 2041 by rotating the reagent rack 2041 provided in the first reagent storage 204 Is placed at the first reagent aspiration position. The standard sample stored in the container is aspirated by the first reagent dispensing probe 209. The aspirated standard sample is discharged to the reaction container 2011.

続いて、試薬ラック2041が回動され、試薬ラック2041に保持されている、第1試薬の試薬容器の開口部が第1試薬吸引位置に配置される。試薬容器に収容されている第1試薬は、第1試薬分注プローブ209により吸引される。吸引された第1試薬は、標準試料が吐出された反応容器2011へ吐出される。標準試料及び第1試薬が吐出された反応容器2011は、反応ディスク201により、第1攪拌位置へ搬送される。標準試料に第1試薬が添加された溶液は、第1攪拌ユニット212により撹拌され、所定の温度で所定期間インキュベーションされる。   Subsequently, the reagent rack 2041 is rotated, and the opening portion of the reagent container of the first reagent held by the reagent rack 2041 is disposed at the first reagent suction position. The first reagent stored in the reagent container is aspirated by the first reagent dispensing probe 209. The aspirated first reagent is discharged to the reaction container 2011 from which the standard sample is discharged. The reaction container 2011 from which the standard sample and the first reagent have been discharged is transported by the reaction disk 201 to the first stirring position. The solution in which the first reagent is added to the standard sample is stirred by the first stirring unit 212 and incubated at a predetermined temperature for a predetermined period.

続いて、第2試薬庫205に設けられている試薬ラック2051が回動され、試薬ラック2051に保持されている、第2試薬の試薬容器の開口部が第2試薬吸引位置に配置される。試薬容器に収容されている第2試薬は、第2試薬分注プローブ211により吸引される。吸引された第2試薬は、標準試料と第1試薬とが混合された混合液へ吐出される。標準試料、第1試薬、及び第2試薬が吐出された反応容器2011は、反応ディスク201により、第2攪拌位置へ搬送される。標準試料に第1試薬及び第2試薬が添加された溶液は、第2攪拌ユニット213により撹拌される。   Subsequently, the reagent rack 2051 provided in the second reagent storage 205 is rotated, and the opening portion of the reagent container of the second reagent held in the reagent rack 2051 is disposed at the second reagent suction position. The second reagent stored in the reagent container is aspirated by the second reagent dispensing probe 211. The aspirated second reagent is discharged into a mixed solution in which the standard sample and the first reagent are mixed. The reaction container 2011 from which the standard sample, the first reagent, and the second reagent are discharged is transported by the reaction disc 201 to the second stirring position. The solution in which the first reagent and the second reagent are added to the standard sample is stirred by the second stirring unit 213.

第2攪拌ユニット213により撹拌された反応容器2011は、反応ディスク201により、測光ポイントへ搬送される。測光ユニット214の光源は、測光ポイントに搬送された反応容器2011へ光を照射する。測光ユニット214の光検出器は、反応容器2011を透過した光を検出する。検出された光の強度に基づき、吸光度としての標準データが生成される。生成された標準データは、解析回路3へ出力される。測光ユニット214による測定は、予め設定された周期で予め設定された回数繰り返され、生成された標準データは、解析回路3へ出力される。なお、標準データを生成するのに用いられる標準試料は1つに限定されない。例えば、2つの標準試料が用いられても構わない。このとき、例えば、標準試料S2,S5が用いられる。   The reaction container 2011 stirred by the second stirring unit 213 is transported by the reaction disk 201 to the photometric point. The light source of the photometry unit 214 applies light to the reaction container 2011 transported to the photometric point. The light detector of the photometry unit 214 detects the light transmitted through the reaction container 2011. Based on the detected light intensity, standard data as absorbance are generated. The generated standard data is output to the analysis circuit 3. The measurement by the photometry unit 214 is repeated a preset number of times in a preset cycle, and the generated standard data is output to the analysis circuit 3. The standard sample used to generate standard data is not limited to one. For example, two standard samples may be used. At this time, for example, standard samples S2 and S5 are used.

解析回路3は、分析機構2から出力された標準データを受信すると、検量データ生成機能31を実行する。検量データ生成機能31を実行すると解析回路3は、第2試薬の所定の検査項目についての標準検量線に関するデータ、及び測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、標準データに含まれる標準試料についての測定値に対して近似曲線を引くことで、反応曲線を算出する。解析回路3は、反応曲線と、測光タイミング線との交点である測光タイミング(標準試料S2,S5を用いる場合には測光タイミングT2,T5)における吸光度を算出する。   When the analysis circuit 3 receives the standard data output from the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes the calibration data generation function 31. When the calibration data generation function 31 is executed, the analysis circuit 3 reads from the storage circuit 8 data on a standard calibration curve for a predetermined test item of the second reagent and data on a photometric timing line. The analysis circuit 3 calculates a reaction curve by drawing an approximate curve with respect to the measurement value of the standard sample included in the standard data. The analysis circuit 3 calculates the absorbance at the light measurement timing (the light measurement timings T2 and T5 when using the standard samples S2 and S5) which is the intersection of the reaction curve and the light measurement timing line.

解析回路3は、測光タイミングにおける吸光度に基づいて標準検量線を補正・補間することで、当該検査項目の被検データ測定が可能となる検量線を得る。解析回路3は、例えば、補正された検量線を検量データとして記憶回路8に記憶させる。なお、少なくとも1つの標準試料の測定により得られた標準データに基づいて標準検量線を補正することで検量線を得る手法は、試薬を節約する観点から一般的に用いられる手法である。しかしながら、これに限定されない。解析回路3は、標準検量線を用いずに検量線を取得してもよい。   The analysis circuit 3 corrects and interpolates the standard calibration curve based on the absorbance at the photometric timing to obtain a calibration curve that enables measurement of the test data of the test item. The analysis circuit 3 stores, for example, the corrected calibration curve in the storage circuit 8 as calibration data. The method of obtaining a calibration curve by correcting a standard calibration curve based on standard data obtained by measurement of at least one standard sample is a commonly used method from the viewpoint of saving reagents. However, it is not limited to this. The analysis circuit 3 may acquire a calibration curve without using a standard calibration curve.

具体的には、例えば、全ての標準試料S1〜S8についての測定が実施され、吸光度としての標準データが生成される。解析回路3は、分析機構2から出力された標準データを受信すると、検量データ生成機能31を実行する。検量データ生成機能31を実行すると解析回路3は、第2試薬の所定の検査項目についての測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、標準データに含まれる標準試料についての測定値に対して近似曲線を引くことで、反応曲線を算出する。解析回路3は、反応曲線と、測光タイミング線との交点である測光タイミングにおける吸光度を算出する。解析回路3は、測光タイミングにおける吸光度に基づいて検量線を得る。解析回路3は、例えば、検量線を検量データとして記憶回路8に記憶させる。これにより、現環境下におけるより適正な検量線を得ることが可能となる。   Specifically, for example, measurements on all the standard samples S1 to S8 are performed to generate standard data as absorbance. When the analysis circuit 3 receives the standard data output from the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes the calibration data generation function 31. When the calibration data generation function 31 is executed, the analysis circuit 3 reads out from the storage circuit 8 data on a photometric timing line for a predetermined inspection item of the second reagent. The analysis circuit 3 calculates a reaction curve by drawing an approximate curve with respect to the measurement value of the standard sample included in the standard data. The analysis circuit 3 calculates the absorbance at the light measurement timing which is an intersection point of the reaction curve and the light measurement timing line. The analysis circuit 3 obtains a calibration curve based on the absorbance at the photometric timing. The analysis circuit 3 stores, for example, a calibration curve in the storage circuit 8 as calibration data. This makes it possible to obtain a more appropriate calibration curve under the current environment.

以上のように、第1の実施形態では、自動分析装置1は、第1試薬分注プローブ209により、標準試料S1〜S8の少なくともいずれかに、標準試料に含まれる検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体を含む試薬を添加する。測光ユニット214は、標準試料に試薬が添加された反応液を光学的に測定することで、標準試料についての測光強度を取得する。記憶回路8は、測光強度に関する情報を取得する時点が、高濃度の標準試料から低濃度の標準試料へ段階的に長くなるように設定された測光タイミング線を記憶している。そして、解析回路3は、検量データ生成機能31により、取得した測光強度に基づいてこの測光強度の経時変化を表す強度曲線を取得し、強度曲線と測光タイミング線との交点で取得される情報に基づいて検量データを生成するようにしている。これにより、自動分析装置1は、検出対象の濃度に適した反応時間で情報を取得することで、ダイナミックレンジの広い検量データを生成することが可能となる。   As described above, in the first embodiment, the automatic analyzer 1 causes the first reagent dispensing probe 209 to cause at least one of the standard samples S1 to S8 a component to be bound to the detection target contained in the standard sample. Add a reagent containing the immobilized insoluble carrier. The photometry unit 214 obtains the photometric intensity of the standard sample by optically measuring the reaction solution in which the reagent is added to the standard sample. The memory circuit 8 stores a photometric timing line which is set such that the point of time when information on photometric intensity is acquired becomes gradually longer from a high density standard sample to a low density standard sample. Then, the analysis circuit 3 acquires an intensity curve representing the temporal change of the photometric intensity based on the acquired photometric intensity by the calibration data generation function 31, and uses information acquired at the intersection of the intensity curve and the photometric timing line. Calibration data is generated on the basis of this. Thereby, the automatic analyzer 1 can generate calibration data with a wide dynamic range by acquiring information at a reaction time suitable for the concentration of the detection target.

(自動分析装置1による分析データの生成)
次に、自動分析装置1が分析データを生成する動作の例を詳細に説明する。
(Generation of analytical data by automatic analyzer 1)
Next, an example of an operation in which the automatic analyzer 1 generates analysis data will be described in detail.

制御回路9は、例えば、操作者から測定動作開始の指示が入力されると、測定制御機能93を実行する。測定制御機能93を実行すると制御回路9は、分析機構2、及び駆動機構4を制御することで所定の検査項目についての被検データを生成する。   The control circuit 9 executes the measurement control function 93, for example, when an instruction to start the measurement operation is input from the operator. When the measurement control function 93 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 to generate test data for a predetermined inspection item.

解析回路3は、分析機構2から出力された被検データを受信すると、分析データ生成機能32を実行する。分析データ生成機能32を実行すると解析回路3は、被検データと対応する検査項目について記憶されている検量データ、及び測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、被検データに含まれる、実際に測定された複数の吸光度に対して近似曲線を引くことで、被検データ近似曲線を算出する。なお、被検データ近似曲線は、吸光度に基づいて算出される近似曲線に限られず、吸光度間を線形補間した直線であっても構わない。近似式の精度が高いことが前提となるが、近似曲線により表される方が、直線により表される場合よりもノイズに対してロバストとなる。   When the analysis circuit 3 receives the test data output from the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes an analysis data generation function 32. When the analysis data generation function 32 is executed, the analysis circuit 3 reads out from the storage circuit 8 calibration data stored for the inspection item corresponding to the test data and data on the photometric timing line. The analysis circuit 3 calculates a test data approximate curve by drawing an approximate curve with respect to a plurality of actually measured absorbances included in the test data. The test data approximate curve is not limited to the approximate curve calculated based on the absorbance, and may be a straight line obtained by linearly interpolating between the absorbances. It is premised that the accuracy of the approximation equation is high, but the one represented by the approximation curve is more robust to noise than the one represented by the straight line.

図11は、標準試料S1〜S8についての反応曲線C1〜C8、測光タイミング線、及び被検データに基づいて算出された被検データ近似曲線の例を表す図である。図11に示される例では、被検データ近似曲線は、太い二点鎖線により表され、測光タイミングT4とT5との間で測光タイミング線と交差している。   FIG. 11 is a diagram showing examples of reaction curves C1 to C8, standard photometric timing lines, and test data approximate curves calculated based on test data for standard samples S1 to S8. In the example shown in FIG. 11, the test data approximate curve is represented by a thick two-dot chain line, and intersects the photometric timing line between photometric timings T4 and T5.

被検データに基づき、試料中の検出対象の濃度を求めるためには、測光タイミング線と被検データ近似曲線との交点の位置を求め、その位置を検量データ上に置き換える必要がある。解析回路3では、例えば、次の処理によって検量データ上の位置が特定される。   In order to determine the concentration of the detection target in the sample based on the test data, it is necessary to obtain the position of the intersection of the photometric timing line and the test data approximate curve, and replace the position on the calibration data. In the analysis circuit 3, for example, the position on the calibration data is specified by the following processing.

図12は、記憶回路8に記憶されている補正済み検量データの例を表す図である。まず、解析回路3は、図11に示される測光タイミング線上のT4とT5とを直線で結ぶ。測光タイミング線と被検データ近似曲線とが交差するポイントをXとした場合、T4X:XT5=a:bであるとする。解析回路3は、被検データと対応する検査項目についての補正済み検量データ上において線分T4T5をa:bに分割するポイントを計算により求める。このポイントが、測光タイミング線上の交点が検量データ上に置き換えられた交点Xとなる。図12において、交点Xからグラフのx軸に垂線を下し、x軸と交わった値が、試料中の検出対象の濃度となる。   FIG. 12 is a diagram illustrating an example of the corrected calibration data stored in the memory circuit 8. First, the analysis circuit 3 connects T4 and T5 on the photometric timing line shown in FIG. 11 with a straight line. When a point at which the photometric timing line intersects the test data approximate curve is X, it is assumed that T4X: XT5 = a: b. The analysis circuit 3 calculates the point at which the line segment T4T5 is divided into a: b on the corrected calibration data of the inspection item corresponding to the test data. This point is the intersection point X in which the intersection point on the photometric timing line is replaced on the calibration data. In FIG. 12, a vertical line is drawn from the intersection point X to the x axis of the graph, and the value intersecting the x axis is the concentration of the detection target in the sample.

以上のように、第1の実施形態では、自動分析装置1は、第1試薬分注プローブ209により、被検試料に、所定成分が固定化された不溶性担体を含む試薬を添加する。測光ユニット214は、被検試料に試薬が添加された反応液を光学的に測定することで、被検試料についての測光強度を取得する。そして、解析回路3は、分析データ生成機能32により、取得した被検試料の測光強度に基づいてこの測光強度の経時変化を表す強度曲線を取得し、強度曲線と測光タイミング線との交点で取得される情報、及び検量データに基づいて分析データを生成するようにしている。これにより、自動分析装置1は、ダイナミックレンジの広い検量データを用い、分析データを生成することが可能となる。   As described above, in the first embodiment, the automatic analyzer 1 adds the reagent including the insoluble carrier on which the predetermined component is immobilized to the test sample by the first reagent dispensing probe 209. The photometry unit 214 optically measures the reaction solution in which the reagent is added to the test sample to obtain the photometric intensity of the test sample. Then, the analysis circuit 3 acquires the intensity curve representing the temporal change of the photometric intensity based on the acquired photometric intensity of the test sample by the analysis data generation function 32, and acquires it at the intersection of the intensity curve and the photometry timing line. The analysis data is generated based on the information to be analyzed and the calibration data. As a result, the automatic analyzer 1 can generate analytical data using calibration data with a wide dynamic range.

(第2の実施形態)
第1の実施形態では、標準検量線及び検量線は、例えば、濃度と吸光度との相関関係を表すものとして説明した。第2の実施形態では、標準検量線及び検量線が、例えば、濃度と反応時間との相関関係を表すものである場合を説明する。
Second Embodiment
In the first embodiment, the standard calibration curve and the calibration curve are described as representing, for example, the correlation between concentration and absorbance. In the second embodiment, the case where the standard calibration curve and the calibration curve represent, for example, the correlation between concentration and reaction time will be described.

(標準検量線、測光タイミング線、及び測光タイミングの設定)
第2の実施形態において標準検量線は、例えば、濃度と反応時間との相関関係を表す。標準検量線は、例えば、試薬メーカー等において、反応曲線C1〜C8毎に設定された測光タイミングに到達するまでの反応時間に基づいて生成される。
(Setting of standard calibration curve, photometric timing line, and photometric timing)
In the second embodiment, the standard calibration curve represents, for example, the correlation between concentration and reaction time. The standard calibration curve is generated, for example, based on the reaction time until reaching the photometric timing set for each of the reaction curves C1 to C8 in a reagent maker or the like.

具体的には、例えば、測光タイミング線が図6に示されるような曲線形状を有する場合、測光タイミングT1〜T8にそれぞれ到達するまでの反応時間は、図13に示されるように表される。このとき、標準検量線は、取得した反応時間を縦軸とし、濃度を横軸として算出される。図14は、図13に基づいて算出される、濃度と反応時間とから表される標準検量線の例を表す図である。図14に示される標準検量線によれば、反応時間は、検出対象の濃度の増加と共に減少する。   Specifically, for example, when the photometric timing line has a curved shape as shown in FIG. 6, the reaction time until reaching each of the photometric timings T1 to T8 is expressed as shown in FIG. At this time, the standard calibration curve is calculated with the obtained reaction time as the ordinate and the concentration as the abscissa. FIG. 14 is a diagram showing an example of a standard calibration curve represented from concentration and reaction time, calculated based on FIG. According to the standard calibration curve shown in FIG. 14, the reaction time decreases with the increase of the concentration to be detected.

なお、第2の実施形態において、測光タイミング線により規定される測光タイミングは、最大測定回数内で設定されることに限定されない。すなわち、測光タイミングは、例えば、33サイクルよりも遅い時間で設定されても構わない。   In the second embodiment, the photometric timing defined by the photometric timing line is not limited to being set within the maximum number of measurements. That is, the photometric timing may be set, for example, to a time later than 33 cycles.

例えば、標準試料についてのタイムコース(反応曲線)の少なくともいずれかに基づき、最大測定回数を超える区間の反応曲線を推測する。そして、反応曲線、及び推測した反応曲線に基づき、測光タイミング線が設定される。   For example, based on at least one of the time courses (reaction curves) for the standard sample, reaction curves in sections exceeding the maximum number of measurements are estimated. Then, a photometric timing line is set based on the response curve and the estimated response curve.

具体的には、例えば、図4に示される、標準試料S1〜S8についての反応曲線C1〜C8を想定する。反応曲線C1〜C8について、例えば、それぞれ観測区間30〜33の4点を用いた線形回帰分析を実施する。なお、線形回帰分析に用いる区間は任意であり、ユーザ及び試薬メーカーで選択可能である。   Specifically, for example, reaction curves C1 to C8 for standard samples S1 to S8 shown in FIG. 4 are assumed. For the reaction curves C1 to C8, for example, linear regression analysis using four points of observation intervals 30 to 33 is performed. The section used for linear regression analysis is arbitrary and can be selected by the user and the reagent maker.

線形回帰分析により算出した近似直線のうち、決定係数が例えば0.5以上の近似直線を抽出する。観測区間30〜33の4点により算出される近似直線の決定係数が負の値、又は0.5未満である場合、直線近似よりも曲線近似の方が望ましいからである。抽出した近似直線は、当該近似直線と対応する反応曲線についての33サイクルより後の反応を表す。決定係数が0.5未満の近似直線が算出された反応曲線については、33サイクルより後の反応は考慮しない。   Among the approximate straight lines calculated by linear regression analysis, an approximate straight line having a determination coefficient of, for example, 0.5 or more is extracted. This is because when the determination coefficient of the approximate straight line calculated by the four points in the observation sections 30 to 33 is a negative value or less than 0.5, curve approximation is more desirable than linear approximation. The extracted approximate straight line represents the reaction after 33 cycles for the reaction curve corresponding to the approximate straight line. For response curves for which an approximation line with a coefficient of determination less than 0.5 was calculated, responses after 33 cycles are not considered.

33サイクルより後の区間を含む反応曲線C1〜C8それぞれから、例えば、1つずつ抽出した測定値をデータセットとし、吸光度を目的変数とする回帰分析を実施する。抽出する測定値を変更しながら回帰分析を繰り返し、算出された複数の回帰式のうち、所定の条件を満たす回帰式を抽出する。続いて、抽出した回帰式毎に、反応曲線C1〜C8との交点を求め、隣り合う反応曲線との交点間の吸光度の差の和、又は積等を算出する。そして、抽出した回帰式のうち、算出した和、又は積の値が最も大きくなる回帰式を測光タイミング線とする。   For example, measurement values extracted one by one from each of the reaction curves C1 to C8 including a section after 33 cycles are used as a data set, and regression analysis using absorbance as a target variable is performed. The regression analysis is repeated while changing the measurement value to be extracted, and a regression equation satisfying a predetermined condition is extracted among the calculated plurality of regression equations. Then, the intersection with the reaction curves C1 to C8 is determined for each extracted regression equation, and the sum, the product or the like of the difference in absorbance between the intersections with the adjacent reaction curves is calculated. Then, among the extracted regression equations, the regression equation in which the value of the calculated sum or product is the largest is taken as the photometric timing line.

図15は、33サイクルより後の区間を含む反応曲線C1〜C8に基づいて設定される測光タイミング線、及び測光タイミングの例を表す図である。図15において、測光タイミング線は太い破線により表され、曲線形状を有する。図15において、丸印は測光タイミングを表す。図15では、反応曲線C1〜C4について算出された近似直線が、33サイクルより後の反応を表している。図15では、測光タイミング線と反応曲線C1〜C3とが、33サイクルを超える区間で交差している。つまり、標準試料S1〜S3についての測光タイミングT1〜T3は、33サイクルを超える区間で発生している。図15に示される測光タイミングT1〜T8に到達するまでの反応時間に基づいて標準検量線が生成される。   FIG. 15 is a diagram illustrating an example of photometric timing lines set based on the response curves C1 to C8 including a section after 33 cycles, and photometric timing. In FIG. 15, the photometric timing line is represented by a thick broken line and has a curved shape. In FIG. 15, circle marks indicate photometric timing. In FIG. 15, the approximate straight lines calculated for the reaction curves C1 to C4 represent the reactions after 33 cycles. In FIG. 15, the photometric timing line and the response curves C1 to C3 intersect in a section exceeding 33 cycles. That is, photometric timings T1 to T3 for the standard samples S1 to S3 occur in a section exceeding 33 cycles. A standard calibration curve is generated based on the reaction time until reaching the photometric timings T1 to T8 shown in FIG.

図16は、図15に示される測光タイミングに基づいて生成される標準検量線の例を表す図である。図16に示される標準検量線によれば、反応時間は、検出対象の濃度の増加と共に減少する。   FIG. 16 is a diagram showing an example of a standard calibration curve generated based on the photometric timing shown in FIG. According to the standard calibration curve shown in FIG. 16, the reaction time decreases with the increase of the concentration to be detected.

なお、決定係数0.5未満の近似直線が算出された反応曲線については、観測区間30〜33の4点を用いて近似曲線を改めて算出し、算出した近似曲線により、33サイクルより後の反応を表しても構わない。また、近似直線を抽出する際の決定係数の閾値は、0.5に限定されない。当該閾値は、任意に設定可能である。   In addition, about the reaction curve in which the approximation line less than the coefficient of determination 0.5 was calculated, an approximation curve is newly calculated using four points of observation sections 30 to 33, and the reaction after the 33 cycles is calculated by the calculated approximation curve. It does not matter. Further, the threshold of the determination coefficient when extracting the approximate straight line is not limited to 0.5. The threshold can be set arbitrarily.

また、測光タイミング線は、33サイクルより後の反応曲線を算出した後に設定されることに限定されない。例えば、測光タイミング線は、33サイクルより後の反応曲線を算出する前に設定されてもよい。例えば、吸光度がどの値になった点(反応時間)を標準検量線上の点として採用するかを反応曲線毎に決定する。決定された点に基づいて測光タイミング線が設定される。   Also, the photometric timing line is not limited to being set after calculating the reaction curve after 33 cycles. For example, the photometric timing line may be set before calculating the response curve after 33 cycles. For example, it is determined for each reaction curve which point the absorbance value becomes (reaction time) as a point on the standard calibration curve. A metering timing line is set based on the determined point.

このとき、33サイクルより後の反応曲線を算出する必要があるか否かは、設定した測光タイミング線に基づいて判断され得る。例えば、設定した測光タイミング線と反応曲線との交点が33サイクル以内に存在しない場合、33サイクルより後の反応曲線を算出する必要があると判断する。33サイクルより後の反応曲線を算出する必要がある場合、反応曲線における所定の区間の測定値を用いて回帰分析を実施し、33サイクルより後の反応曲線を算出する。   At this time, whether or not it is necessary to calculate a reaction curve after 33 cycles can be determined based on the set photometric timing line. For example, when the intersection point between the set photometric timing line and the response curve does not exist within 33 cycles, it is determined that it is necessary to calculate the response curve after 33 cycles. When it is necessary to calculate a reaction curve after 33 cycles, regression analysis is performed using measured values in a predetermined section of the reaction curve, and a reaction curve after 33 cycles is calculated.

また、第2の実施形態において、測光タイミング線は、右下から左上へ斜めに伸びる線でなくても構わない。例えば、測光タイミング線は、横軸と平行な直線であっても構わない。   In the second embodiment, the photometric timing line may not be a line extending diagonally from the lower right to the upper left. For example, the photometric timing line may be a straight line parallel to the horizontal axis.

例えば、測光タイミング線を吸光度が固定された直線として設定する。図17は、吸光度が固定された測光タイミング線、及び測光タイミングの例を表す図である。図17において、測光タイミング線は太い破線により表され、測光タイミングは丸印により表される。図17では、反応曲線C1〜C4について算出された近似直線が、33サイクルより後の反応を表している。図17では、測光タイミング線と反応曲線C2,C3とが、33サイクルを超える区間で交差している。なお、反応曲線C2は、横軸に対して所定の角度を有しているため、これらの反応曲線を延伸させるといずれ測光タイミング線と交差することになる。これにより、標準試料S2,S3についての測光タイミングT2,T3は、33サイクルを超える区間で発生することになる。図17に示される測光タイミングT2〜T8に到達するまでの反応時間に基づいて標準検量線が生成される。   For example, the photometric timing line is set as a straight line with fixed absorbance. FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a photometric timing line whose absorbance is fixed, and the photometric timing. In FIG. 17, the photometric timing line is represented by a thick broken line, and the photometric timing is represented by a circle. In FIG. 17, the approximate straight lines calculated for the reaction curves C1 to C4 represent reactions after 33 cycles. In FIG. 17, the photometric timing line and the response curves C2 and C3 cross each other in a section exceeding 33 cycles. Note that, since the reaction curve C2 has a predetermined angle with respect to the horizontal axis, when these reaction curves are stretched, they will eventually intersect the photometric timing line. As a result, photometric timings T2 and T3 for the standard samples S2 and S3 are generated in a section exceeding 33 cycles. A standard calibration curve is generated based on the reaction time until reaching the photometric timing T2 to T8 shown in FIG.

図18は、図17に示される測光タイミングに基づいて生成される標準検量線の例を表す図である。図18に示される標準検量線によれば、低濃度で急な傾斜を有することになるため、演算濃度の分解能がさらに向上することになる。   FIG. 18 is a diagram showing an example of a standard calibration curve generated based on the photometric timing shown in FIG. According to the standard calibration curve shown in FIG. 18, since the concentration is steep at a low concentration, the resolution of the calculated concentration is further improved.

以上のように、第2の実施形態では、標準試料S1〜S8それぞれに、標準試料S1〜S8内の検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体を含む試薬が添加される。標準試料S1〜S8に試薬が添加されたそれぞれの反応液は、異なる測光タイミングで光学的に測定される。そして、標準試料毎の測光結果に基づき、所定の吸光度に達するまでの反応時間から検量線が生成される。これにより、検出対象の濃度の高低に関わらず、所定の吸光度に達するまでの反応時間から、検出対象の濃度を一意に求めることが可能となる。   As described above, in the second embodiment, to each of the standard samples S1 to S8, a reagent including an insoluble carrier on which a component that binds to the detection target in the standard samples S1 to S8 is immobilized is added. Each reaction solution in which the reagent is added to the standard samples S1 to S8 is optically measured at different photometric timings. Then, based on the photometric result of each standard sample, a calibration curve is generated from the reaction time until reaching the predetermined absorbance. As a result, regardless of the level of the concentration to be detected, it is possible to uniquely determine the concentration to be detected from the reaction time until reaching the predetermined absorbance.

なお、標準検量線は、濃度と吸光度との相関関係と、濃度と反応時間との相関関係とが組み合わされたものであっても構わない。標準検量線は、例えば、検出対象の濃度が低い場合には濃度と吸光度との相関関係で表され、検出対象の濃度が中程度から高い場合には濃度と反応時間との相関関係で表される。具体的には、例えば、図19に示されるように、濃度が中程度から高い標準試料に対しては測光タイミングT5〜T8にそれぞれ到達するまでの反応時間を取得する。そして、取得した反応時間に基づき、検出対象の濃度が中程度から高い試料についての標準検量線を生成する。また、濃度の低い標準試料に対しては反応液内での反応が進んでいない初期サイクルで測定される吸光度と、図19に示される測光タイミングT1〜T5において測定される吸光度との差から吸光度を算出する。そして、算出した吸光度に基づき、検出対象の濃度が低い試料についての標準検量線を生成する。   The standard calibration curve may be a combination of the correlation between concentration and absorbance and the correlation between concentration and reaction time. The standard calibration curve is represented, for example, by the correlation between concentration and absorbance when the concentration of the detection target is low, and is represented by the correlation between the concentration and the reaction time when the concentration of the detection target is medium to high. Ru. Specifically, for example, as shown in FIG. 19, the response time until reaching the photometric timings T5 to T8 is acquired for standard samples with medium to high concentration. Then, based on the acquired reaction time, a standard calibration curve is generated for a sample whose concentration to be detected is medium to high. In addition, for standard samples with low concentrations, the absorbance is measured from the difference between the absorbance measured in the initial cycle in which the reaction in the reaction solution has not progressed and the absorbance measured at photometric timings T1 to T5 shown in FIG. Calculate Then, based on the calculated absorbance, a standard calibration curve for a sample having a low concentration to be detected is generated.

図20及び図21は、図19に示される手法で生成される標準検量線の例を表す図である。図20に示される標準検量線は、濃度と吸光度との相関関係で表され、濃度が低い検出対象の測定に用いられる。図21に示される標準検量線は、濃度と反応時間との相関間関係で表され、濃度が中程度から高い検出対象の測定に用いられる。これにより、濃度が低い検出対象の測定については吸光度から、検出対象の濃度を求めることが可能となる。また、濃度が中程度から高い検出対象の測定については所定の吸光度に達するまでの反応時間から、検出対象の濃度を求めることが可能となる。すなわち、検出対象の濃度の高低に関わらず、検出対象の濃度を一意に求めることが可能となる。   FIG. 20 and FIG. 21 show examples of standard calibration curves generated by the method shown in FIG. The standard calibration curve shown in FIG. 20 is represented by the correlation between concentration and absorbance, and is used for measurement of a low concentration detection target. The standard calibration curve shown in FIG. 21 is represented by the correlation between concentration and reaction time, and is used for measurement of medium to high concentration detection targets. This makes it possible to determine the concentration of the detection target from the absorbance for the measurement of the detection target having a low concentration. In addition, for the measurement of medium to high concentration target, the concentration of the detection target can be obtained from the reaction time until the predetermined absorbance is reached. That is, regardless of the level of the concentration to be detected, the concentration to be detected can be uniquely determined.

(自動分析装置1による検量データの生成)
次に、自動分析装置1が検量データを生成する動作の例を説明する。
(Generation of calibration data by automatic analyzer 1)
Next, an example of an operation in which the automatic analyzer 1 generates calibration data will be described.

まず、分析機構2で、所定の検査項目に係る標準試料S1〜S8の少なくとも1つについての標準データが生成される。標準データが生成されると、解析回路3は、検量データ生成機能31を実行する。検量データ生成機能31を実行すると解析回路3は、所定の検査項目についての標準検量線に関するデータ、及び測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、標準データに含まれる標準試料についての測定値に対して近似曲線を引くことで、反応曲線を算出する。   First, in the analysis mechanism 2, standard data is generated for at least one of the standard samples S1 to S8 related to a predetermined inspection item. When the standard data is generated, the analysis circuit 3 executes the calibration data generation function 31. When the calibration data generation function 31 is executed, the analysis circuit 3 reads from the storage circuit 8 data on a standard calibration curve for a predetermined inspection item and data on a photometric timing line. The analysis circuit 3 calculates a reaction curve by drawing an approximate curve with respect to the measurement value of the standard sample included in the standard data.

解析回路3は、測光タイミング線と反応曲線との交点が最大測定回数内、例えば、33サイクル内に存在するか否かを判断する。図13に示されるように測光タイミング線が33サイクル内に収まっている場合、測光タイミング線と反応曲線とは33サイクル内で必ず交差する。解析回路3は、反応曲線と、測光タイミング線との交点である測光タイミングに到達するまでの反応時間を算出する。解析回路3は、測光タイミングに到達するまでの反応時間に基づき、例えば、図14のように設定されている標準検量線を補正・補間する。これにより、所定の検査項目の被検データ測定が可能となる検量線を得る。解析回路3は、例えば、補正された検量線を検量データとして記憶回路8に記憶させる。   The analysis circuit 3 determines whether the intersection of the photometric timing line and the response curve is within the maximum number of measurements, for example, 33 cycles. As shown in FIG. 13, when the photometric timing line falls within 33 cycles, the photometric timing line and the response curve always cross within 33 cycles. The analysis circuit 3 calculates the reaction time until reaching the photometric timing which is an intersection point of the response curve and the photometric timing line. The analysis circuit 3 corrects and interpolates, for example, a standard calibration curve set as shown in FIG. 14 based on the reaction time until the photometric timing is reached. In this way, a calibration curve that enables measurement of test data of a predetermined test item is obtained. The analysis circuit 3 stores, for example, the corrected calibration curve in the storage circuit 8 as calibration data.

図15に示されるように測光タイミング線が33サイクル内に収まっていない場合、算出された反応曲線によっては、測光タイミング線との交点が33サイクルを超えたサイクルに存在する。測光タイミング線と反応曲線との交点が33サイクル内に存在しない場合、解析回路3は、算出した反応曲線について、例えば、観測区間30〜33の4点を用いた線形回帰分析を実施する。解析回路3は、線形回帰分析により算出した近似直線で、当該反応曲線を延伸する。解析回路3は、33サイクルより後に延伸した反応曲線と、測光タイミング線との交点である測光タイミングに到達するまでの反応時間を算出する。   As shown in FIG. 15, when the photometric timing line does not fall within 33 cycles, the intersection with the photometric timing line exists in a cycle exceeding 33 cycles depending on the calculated response curve. When the intersection point of the photometric timing line and the reaction curve does not exist within 33 cycles, the analysis circuit 3 performs, for example, linear regression analysis using four points in the observation interval 30 to 33 for the calculated reaction curve. The analysis circuit 3 extends the reaction curve with the approximate straight line calculated by linear regression analysis. The analysis circuit 3 calculates the reaction time until reaching the photometric timing which is an intersection point of the response curve stretched after 33 cycles and the photometric timing line.

なお、線形回帰分析により所定の決定係数以上の近似直線が算出できない反応曲線については、当該反応曲線と、測光タイミング線とが33サイクル内で交差するように測光タイミング線が予め設定されていても構わない。こうすると、反応時間の算出がより正確になる。   Note that for a reaction curve for which an approximate straight line greater than a predetermined determination coefficient can not be calculated by linear regression analysis, the photometric timing line is preset so that the response curve and the photometric timing line intersect within 33 cycles. I do not care. This makes the calculation of the reaction time more accurate.

解析回路3は、測光タイミングに到達するまでの反応時間に基づき、例えば、図16に設定されている標準検量線を補正・補間する。これにより、所定の検査項目の被検データ測定が可能となる検量線を得る。解析回路3は、例えば、補正された検量線を検量データとして記憶回路8に記憶させる。   The analysis circuit 3 corrects and interpolates, for example, the standard calibration curve set in FIG. 16 based on the reaction time until reaching the photometric timing. In this way, a calibration curve that enables measurement of test data of a predetermined test item is obtained. The analysis circuit 3 stores, for example, the corrected calibration curve in the storage circuit 8 as calibration data.

なお、検量線を取得する手法は上記に限定されない。解析回路3は、標準検量線を用いずに検量線を取得してもよい。   The method of acquiring the calibration curve is not limited to the above. The analysis circuit 3 may acquire a calibration curve without using a standard calibration curve.

具体的には、例えば、全ての標準試料S1〜S8についての測定が実施され、吸光度としての標準データが生成される。解析回路3は、標準データに含まれる標準試料S1〜S8についての測定値に対して近似曲線を引くことで、反応曲線を算出する。解析回路3は、反応曲線と、測光タイミング線との交点である測光タイミングT1〜T8にそれぞれ到達するまでの反応時間を算出する。解析回路3は、測光タイミングT1〜T8にそれぞれ到達するまでの反応時間に基づいて検量線を得る。解析回路3は、例えば、検量線を検量データとして記憶回路8に記憶させる。   Specifically, for example, measurements on all the standard samples S1 to S8 are performed to generate standard data as absorbance. The analysis circuit 3 calculates a reaction curve by drawing an approximate curve with respect to the measurement values of the standard samples S1 to S8 included in the standard data. The analysis circuit 3 calculates the reaction time until reaching each of the light measurement timings T1 to T8 which is the intersection point of the reaction curve and the light measurement timing line. The analysis circuit 3 obtains a calibration curve based on the reaction time until reaching each of the photometric timings T1 to T8. The analysis circuit 3 stores, for example, a calibration curve in the storage circuit 8 as calibration data.

以上のように、第2の実施形態では、自動分析装置1は、解析回路3の検量データ生成機能31により、取得した測光強度に基づいてこの測光強度の経時変化を表す強度曲線を取得し、強度曲線と測光タイミング線との交点に到達するまでの反応時間に基づいて検量データを生成するようにしている。これにより、自動分析装置1は、ダイナミックレンジの広い検量データを生成することが可能となる。   As described above, in the second embodiment, the automatic analyzer 1 acquires the intensity curve representing the temporal change of the photometric intensity based on the acquired photometric intensity by the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3, Calibration data is generated based on the reaction time until reaching the intersection of the intensity curve and the photometric timing line. Thus, the automatic analyzer 1 can generate calibration data with a wide dynamic range.

(自動分析装置1による分析データの生成)
次に、自動分析装置1が分析データを生成する動作の例を説明する。
(Generation of analytical data by automatic analyzer 1)
Next, an example of an operation in which the automatic analyzer 1 generates analysis data will be described.

測定動作が開始されると、所定の検査項目についての被検データが分析機構2で生成される。解析回路3は、分析機構2から出力された被検データを受信すると、分析データ生成機能32を実行する。分析データ生成機能32を実行すると解析回路3は、被検データと対応する検査項目について記憶されている検量データ、及び測光タイミング線に関するデータを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、被検データに含まれる、実際に測定された複数の吸光度に対して近似曲線を引くことで、被検データ近似曲線を算出する。   When the measurement operation is started, test data for a predetermined inspection item is generated by the analysis mechanism 2. When the analysis circuit 3 receives the test data output from the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes an analysis data generation function 32. When the analysis data generation function 32 is executed, the analysis circuit 3 reads out from the storage circuit 8 calibration data stored for the inspection item corresponding to the test data and data on the photometric timing line. The analysis circuit 3 calculates a test data approximate curve by drawing an approximate curve with respect to a plurality of actually measured absorbances included in the test data.

解析回路3は、測光タイミング線と反応曲線との交点が最大測定回数内、例えば、33サイクル内に存在するか否かを判断する。図22は、標準試料S1〜S8についての反応曲線C1〜C8、測光タイミング線、及び被検データに基づいて算出された被検データ近似曲線の例を表す図である。図22では、被検データ近似曲線は、太い二点鎖線により表され、測光タイミング線と反応曲線とは33サイクル内で交差している。   The analysis circuit 3 determines whether the intersection of the photometric timing line and the response curve is within the maximum number of measurements, for example, 33 cycles. FIG. 22 is a diagram illustrating an example of reaction curve C1 to C8, standard light measurement timing lines, and a test data approximate curve calculated based on test data for standard samples S1 to S8. In FIG. 22, the test data approximate curve is represented by a thick two-dot chain line, and the photometric timing line and the response curve intersect within 33 cycles.

測光タイミング線と反応曲線との交点が33サイクル内に存在する場合、解析回路3は、交点近傍の測光タイミング、例えば、測光タイミングT4,T5を用いて分析データを生成する。例えば、解析回路3は、図22に示される測光タイミング線上のT4とT5とを直線で結ぶ。ここで、測光タイミング線と被検データ近似曲線とが交差するポイントをXとした場合、T4X:XT5=a:bであるとする。解析回路3は、被検データと対応する検査項目についての補正済み検量データ上において、線分T4T5をa:bに分割する点を計算により求める。この点が、測光タイミング線上の交点Xが検量データ上に置き換えられた点Xである。図23は、図22と対応する補正済み検量データ、及び算出した点Xの例を表す図である。図23において、点Xからグラフのx軸に垂線を下し、x軸と交わった値が、試料中の検出対象の濃度となる。   If the intersection of the photometric timing line and the response curve is within 33 cycles, the analysis circuit 3 generates analysis data using photometric timing near the intersection, for example, photometric timings T4 and T5. For example, the analysis circuit 3 connects T4 and T5 on the photometric timing line shown in FIG. 22 with a straight line. Here, assuming that a point at which the photometric timing line intersects the test data approximate curve is X, it is assumed that T4X: XT5 = a: b. The analysis circuit 3 calculates the point at which the line segment T4T5 is divided into a: b on the corrected calibration data on the inspection item corresponding to the test data. This point is a point X where the intersection point X on the photometric timing line is replaced on the calibration data. FIG. 23 is a diagram showing an example of corrected calibration data corresponding to FIG. 22 and the calculated point X. In FIG. 23, a vertical line is drawn from point X to the x axis of the graph, and the value intersecting the x axis is the concentration of the detection target in the sample.

図24に示されるように測光タイミング線が33サイクル内に収まっていない場合、被検データ近似曲線によっては、測光タイミング線との交点が33サイクルを超えたサイクルに存在する。測光タイミング線と被検データ近似曲線との交点が33サイクル内に存在しない場合、解析回路3は、算出した被検データ近似曲線について、例えば、観測区間30〜33の4点を用いた線形回帰分析を実施する。解析回路3は、線形回帰分析により算出した近似直線で、当該被検データ近似曲線を延伸する。解析回路3は、33サイクルより後に延伸した被検データ近似曲線と、測光タイミング線との交点Xを求める。   As shown in FIG. 24, when the photometric timing line does not fit within 33 cycles, the intersection with the photometric timing line exists in a cycle exceeding 33 cycles depending on the test data approximation curve. When the intersection point of the photometric timing line and the test data approximate curve does not exist within 33 cycles, the analysis circuit 3 performs linear regression using, for example, four points of observation intervals 30 to 33 for the calculated test data approximate curve. Perform the analysis. The analysis circuit 3 extends the test data approximate curve with the approximate straight line calculated by linear regression analysis. The analysis circuit 3 obtains an intersection point X of the test data approximate curve extended after 33 cycles and the photometric timing line.

解析回路3は、交点近傍の測光タイミング、例えば、測光タイミングT2,T3を用いて分析データを生成する。例えば、解析回路3は、図24に示される測光タイミング線上のT2とT3とを直線で結ぶ。このとき、T2X:XT3=a:bであるとする。解析回路3は、被検データと対応する検査項目についての補正済み検量データ上において、線分T2T3をa:bに分割する点Xを計算により求める。この点Xは、測光タイミング線上の交点Xと対応する。図25は、図24と対応する補正済み検量データ、及び算出した点Xの例を表す図である。図25において、点Xからグラフのx軸に垂線を下し、x軸と交わった値が、試料中の検出対象の濃度となる。   The analysis circuit 3 generates analysis data using photometric timing near the intersection point, for example, photometric timings T2 and T3. For example, the analysis circuit 3 connects T2 and T3 on the photometric timing line shown in FIG. 24 with a straight line. At this time, it is assumed that T2X: XT3 = a: b. The analysis circuit 3 calculates a point X at which the line segment T2T3 is divided into a: b on the corrected calibration data on the inspection item corresponding to the test data. This point X corresponds to the intersection point X on the photometric timing line. FIG. 25 is a diagram showing an example of the corrected calibration data corresponding to FIG. 24 and the calculated point X. In FIG. 25, a vertical line is drawn from point X to the x axis of the graph, and the value intersecting the x axis is the concentration of the detection target in the sample.

なお、試料中の検出対象の濃度を取得する手法は上記に限定されない。例えば、解析回路3は、測光タイミング線と被検データ近似曲線との交点Xまで到達する反応時間を算出するようにしてもよい。解析回路3は、例えば、図23に示される補正済み検量データに、算出した反応時間を照らし合わせ、試料中の検出対象の濃度を算出する。   The method of acquiring the concentration of the detection target in the sample is not limited to the above. For example, the analysis circuit 3 may calculate the reaction time to reach the intersection point X of the photometric timing line and the test data approximate curve. The analysis circuit 3 compares the calculated reaction time with, for example, the corrected calibration data shown in FIG. 23, and calculates the concentration of the detection target in the sample.

また、試料中の検出対象の濃度によっては、例えば、観測区間30〜33における測光値がばらつくことがある。このような場合、観測区間30〜33の4点を用いた線形回帰分析により算出された近似直線の精度は高くない。解析回路3は、例えば、観測区間30〜33における測光値のばらつきが予め設定した以上である場合、算出した近似直線の精度が高くないことを表す識別子、例えば、エラーフラグを立てても構わない。   Further, depending on the concentration of the detection target in the sample, for example, the photometric values in the observation sections 30 to 33 may vary. In such a case, the accuracy of the approximate straight line calculated by linear regression analysis using four points in the observation intervals 30 to 33 is not high. The analysis circuit 3 may set an identifier indicating that the accuracy of the calculated approximate straight line is not high, for example, an error flag, for example, when the variation of the photometric value in the observation sections 30 to 33 is equal to or greater than a preset value. .

以上のように、第2の実施形態では、自動分析装置1は、解析回路3の分析データ生成機能32により、取得した被検試料の測光強度に基づいてこの測光強度の経時変化を表す強度曲線を取得する。そして、自動分析装置1は、取得した強度曲線と測光タイミング線との交点に到達するまでの反応時間に基づいて分析データを生成するようにしている。ところで、強度曲線と測光タイミング線との交点における吸光度を利用して生成した検量線に基づいて検出対象の濃度を測定する場合、測定時における吸光度の微小なばらつきが測定結果に大きく影響を与えることがある。このことは濃度が低いときに特に顕著である。これに対し、強度曲線と測光タイミング線との交点に到達するまでの反応時間を利用して生成した検量線では、低い濃度においても高い分解能を有する。このため、測定時における反応時間に微小ばらつきがあった場合であっても測定結果が大きく変動しにくくなる。   As described above, in the second embodiment, the automatic analyzer 1 uses the analysis data generation function 32 of the analysis circuit 3 to generate an intensity curve representing the change over time of the photometric intensity based on the acquired photometric intensity of the test sample. To get Then, the automatic analyzer 1 generates analysis data based on the reaction time until reaching the intersection point of the acquired intensity curve and the photometric timing line. By the way, when measuring the concentration of the detection target based on the calibration curve generated using the absorbance at the intersection of the intensity curve and the photometric timing line, minute variations in absorbance at the time of measurement greatly affect the measurement result There is. This is particularly pronounced at low concentrations. On the other hand, the calibration curve generated using the reaction time to reach the intersection of the intensity curve and the photometric timing line has high resolution even at low concentrations. For this reason, even if the reaction time at the time of measurement has a slight variation, the measurement result hardly varies greatly.

以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、抗体又は抗原を固定化した不溶性担体を用いた測定において、検出対象を高感度かつ高濃度まで測定可能とすること、すなわち、高感度かつ広いダイナミックレンジを実現することができる。   According to at least one embodiment described above, in the measurement using the insoluble carrier on which the antibody or the antigen is immobilized, the detection target can be measured with high sensitivity and high concentration, that is, high sensitivity and wide dynamic range Can be realized.

実施形態の説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC))、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路8に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路8にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、上記各実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、上記実施形態における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。   The word “processor” used in the description of the embodiment is, for example, a central processing unit (CPU), a graphics processing unit (GPU), or an application specific integrated circuit (ASIC)), a programmable logic device It means circuits such as (for example, Simple Programmable Logic Device (SPLD), Complex Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA)). The processor realizes a function by reading and executing a program stored in the memory circuit 8. Instead of storing the program in the memory circuit 8, the program may be directly incorporated in the circuit of the processor. In this case, the processor implements the function by reading and executing a program embedded in the circuit. Each processor in each of the above embodiments is not limited to the case where it is configured as a single circuit for each processor, but a plurality of independent circuits are combined to configure as one processor, and the functions thereof are realized It is also good. Furthermore, a plurality of components in the above embodiment may be integrated into one processor to realize its function.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   While certain embodiments of the present invention have been described, these embodiments have been presented by way of example only, and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in other various forms, and various omissions, replacements, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof as well as included in the scope and the gist of the invention.

1…自動分析装置
2…分析機構
3…解析回路
4…駆動機構
5…入力インタフェース
6…出力インタフェース
7…通信インタフェース
8…記憶回路
9…制御回路
31…検量データ生成機能
32…分析データ生成機能
91…システム制御機能
92…校正制御機能
93…測定制御機能
201…反応ディスク
202…恒温部
203…サンプルディスク
204…試薬庫
205…試薬庫
206…サンプル分注アーム
207…サンプル分注プローブ
208…試薬分注アーム
209…試薬分注プローブ
210…試薬分注アーム
211…試薬分注プローブ
212…攪拌ユニット
213…攪拌ユニット
214…測光ユニット
215…洗浄ユニット
2011,2011−1〜2011−8…反応容器
2041…試薬ラック
2051…試薬ラック
2121…攪拌アーム
2131…攪拌アーム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 automatic analysis device 2 analysis mechanism 3 analysis circuit 4 drive mechanism 5 input interface 6 output interface 7 communication interface 8 storage circuit 9 control circuit 31 calibration data generation function 32 analysis data generation function 91 ... System control function 92 ... Calibration control function 93 ... Measurement control function 201 ... Reaction disk 202 ... Constant temperature section 203 ... Sample disk 204 ... Reagent storage 205 ... Reagent storage 206 ... Sample dispensing arm 207 ... Sample dispensing probe 208 ... Reagent portion Note arm 209 ... reagent dispensing probe 210 ... reagent dispensing arm 211 ... reagent dispensing probe 212 ... agitation unit 213 ... agitation unit 214 ... photometric unit 215 ... cleaning unit 2011, 2011-1 to 2011-8 ... reaction container 2041 ... Reagent rack 2051 ... Reagent rack 2121 ... Stirring arm 131 ... stirring arm

Claims (20)

既知の濃度の検出対象を含み、異なる濃度に対応する複数の標準試料の測光結果に基づき、検量線を生成する検量線生成方法であって、
異なる測光タイミングで取得された複数の標準試料の測光結果に基づいて前記検量線を生成する検量線生成方法。
A calibration curve generation method for generating a calibration curve based on photometric results of a plurality of standard samples corresponding to different concentrations, including detection targets of known concentrations,
A calibration curve generation method for generating the calibration curve based on photometric results of a plurality of standard samples acquired at different photometric timings.
前記測光タイミングは、前記標準試料の濃度が高濃度から低濃度になるに伴い、段階的に遅くなるように設定される請求項1記載の検量線生成方法。   The calibration curve generation method according to claim 1, wherein the photometric timing is set so as to be stepwise delayed as the concentration of the standard sample changes from high concentration to low concentration. 前記検量線は、反応時間と濃度との相関関係を表したものである請求項1又は2に記載の検量線生成方法。   The method according to claim 1 or 2, wherein the calibration curve represents a correlation between reaction time and concentration. 前記複数の標準試料毎の強度曲線に基づき、前記標準試料毎に測光強度を取得する時点が異なる測光タイミング線を設定し、
前記標準試料毎の強度曲線と前記測光タイミング線との交点を前記測光タイミングとする請求項1記載の検量線生成方法。
Based on the intensity curve of each of the plurality of standard samples, a photometric timing line is set which is different at the time of acquiring the photometric intensity for each of the standard samples,
The calibration curve generation method according to claim 1, wherein an intersection point of an intensity curve for each of the standard samples and the light measurement timing line is used as the light measurement timing.
前記測光タイミング線を、前記複数の標準試料毎の強度曲線に基づき、高濃度の標準試料から低濃度の標準試料へ、前記標準試料毎に測光強度を取得する時点が段階的に遅くなるように設定する請求項4記載の検量線生成方法。   Based on the intensity curve of each of the plurality of standard samples, the timing of acquiring the photometric intensity for each of the standard samples is gradually delayed based on the intensity curve of each of the plurality of standard samples, from the high concentration standard sample to the low concentration standard sample. The method of generating a calibration curve according to claim 4 to be set. 前記測光タイミング線を、前記標準試料毎の強度曲線を利用した回帰分析により設定する請求項4又は5に記載の検量線生成方法。   The calibration curve generation method according to claim 4 or 5, wherein the photometric timing line is set by regression analysis using an intensity curve for each of the standard samples. 前記測光タイミング線を、前記標準試料毎の強度曲線に含まれる実測時点と交わるように設定する請求項4記載の検量線生成方法。   5. The method of generating a calibration curve according to claim 4, wherein the photometric timing line is set to intersect an actual measurement point included in an intensity curve of each of the standard samples. 前記測光タイミング線は、複数本設定される請求項4乃至7のいずれかに記載の検量線生成方法。   The calibration curve generation method according to any one of claims 4 to 7, wherein a plurality of photometric timing lines are set. 前記測光タイミングで取得される測光強度に基づいて前記検量線を生成する請求項1乃至8のいずれかに記載の検量線生成方法。   The calibration curve generation method according to any one of claims 1 to 8, wherein the calibration curve is generated based on the photometric intensity acquired at the photometric timing. 前記測光タイミングで取得される反応時間に基づいて前記検量線を生成する請求項1乃至8のいずれかに記載の検量線生成方法。   The calibration curve generation method according to any one of claims 1 to 8, wherein the calibration curve is generated based on a reaction time acquired at the photometric timing. 前記標準試料の濃度に応じ、前記測光タイミングで取得される反応時間に基づいて前記検量線を生成し、又は前記測光タイミングで取得される測光強度に基づいて前記検量線を生成する請求項1乃至8のいずれかに記載の検量線生成方法。   The calibration curve is generated based on the reaction time acquired at the photometric timing according to the concentration of the standard sample, or the calibration curve is generated based on the photometric intensity acquired at the photometric timing. The calibration curve generation method as described in any one of 8. 前記強度曲線の少なくともいずれかを近似して延伸し、
前記延伸した強度曲線と前記測光タイミング線との交点を前記測光タイミングとする請求項4記載の検量線生成方法。
Approximating and stretching at least one of the intensity curves,
5. The calibration curve generation method according to claim 4, wherein an intersection point between the stretched intensity curve and the photometric timing line is used as the photometric timing.
既知の濃度の検出対象を含む標準試料に、前記検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体を含む試薬を添加する吐出部と、
前記標準試料に前記試薬が添加された反応液を光学的に測定する測光部と、
含まれる検出対象の濃度がそれぞれ異なる複数の標準試料毎に異なるように設定された測光タイミングに関する情報を記憶する記憶部と、
前記測光タイミングで取得される測光結果に基づいて検量データを生成する検量データ生成部と
を具備する自動分析装置。
An ejection unit for adding a reagent containing an insoluble carrier on which a component that binds to the detection target is immobilized to a standard sample containing the detection target at a known concentration;
A photometry unit that optically measures a reaction solution in which the reagent is added to the standard sample;
A storage unit for storing information on photometric timing which is set to be different for each of a plurality of standard samples different in concentration of a detection target included;
An automatic analyzer comprising: a calibration data generation unit configured to generate calibration data based on the photometry result acquired at the photometry timing.
前記測光タイミングは、前記標準試料の濃度が高濃度から低濃度になるに伴い、段階的に遅くなるように設定される請求項13記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 13, wherein the photometric timing is set so as to be gradually delayed as the concentration of the standard sample changes from high concentration to low concentration. 前記検量データは、反応時間と濃度との相関関係を表したものである請求項13又は14に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 13 or 14, wherein the calibration data represents a correlation between reaction time and concentration. 前記測光部は、前記標準試料に前記試薬が添加された反応液を光学的に測定することで、前記標準試料の測光強度を取得し、
前記記憶部は、前記取得された測光強度に関する情報を取得する時点が、含んでいる検出対象の濃度がそれぞれ異なる複数の標準試料毎に異なるように設定された測光タイミング線を記憶し、
前記検量データ生成部は、前記取得した測光強度に基づき、当該測光強度の経時変化を表す強度曲線を取得し、前記強度曲線と前記測光タイミング線との交点を前記測光タイミングとする請求項13又は14に記載の自動分析装置。
The photometric unit obtains the photometric intensity of the standard sample by optically measuring the reaction solution in which the reagent is added to the standard sample.
The storage unit stores a photometric timing line which is set such that the point of time when the information on the acquired photometric intensity is acquired is different for each of a plurality of standard samples having different concentrations of the detection target.
The calibration data generation unit acquires, based on the acquired photometric intensity, an intensity curve representing a temporal change of the photometric intensity, and uses an intersection point of the intensity curve and the photometric timing line as the photometric timing. The automatic analyzer according to 14.
前記測光タイミング線は、前記複数の標準試料毎の強度曲線に基づき、高濃度の標準試料から低濃度の標準試料へ、前記標準試料毎に測光強度を取得する時点が段階的に遅くなるように設定される請求項16記載の自動分析装置。   The photometric timing line is based on the intensity curve of each of the plurality of standard samples so that the point at which the photometric intensity is obtained for each of the standard samples is gradually delayed from the high density standard sample to the low density standard sample. The automatic analyzer according to claim 16, which is set. 前記検量データ生成部は、前記測光タイミングで取得される測光強度に基づいて前記検量データを生成する請求項16又は17に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 16 or 17, wherein the calibration data generation unit generates the calibration data based on the photometric intensity acquired at the photometric timing. 前記検量データ生成部は、前記測光タイミングで取得される反応時間に基づいて前記検量データを生成する請求項16又は17に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 16 or 17, wherein the calibration data generation unit generates the calibration data based on a reaction time acquired at the light measurement timing. 前記吐出部は、被検試料に、前記試薬を添加し、
前記測光部は、前記被検試料に前記試薬が添加された反応液を光学的に測定することで、前記被検試料の測光強度を取得し、
前記取得した前記被検試料の測光強度に基づき、当該測光強度の経時変化を表す強度曲線を取得し、前記強度曲線と前記測光タイミング線との交点で取得される情報、及び前記検量データに基づいて分析データを生成する分析データ生成部をさらに具備する請求項16乃至19のいずれかに記載の自動分析装置。
The discharge unit adds the reagent to a test sample,
The photometry unit optically measures the reaction solution in which the reagent is added to the test sample to obtain the photometric intensity of the test sample.
Based on the acquired photometric intensity of the test sample, an intensity curve representing a change with time of the photometric intensity is acquired, and information acquired at the intersection of the intensity curve and the photometric timing line, and the calibration data The automatic analyzer according to any one of claims 16 to 19, further comprising an analysis data generation unit that generates analysis data.
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