JP7361575B2 - Calibration curve generator and automatic analyzer - Google Patents

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本発明の実施形態は、検量線生成装置及び自動分析装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to a calibration curve generation device and an automatic analysis device.

自動分析装置は、検出対象の成分を含む血液等の被検試料に種々の検査項目に対応する試薬を添加し、被検試料に含まれる特定の成分に試薬を反応させる。自動分析装置は、この反応を、例えば光学的に測定することで、検査項目に対応した被検試料の成分を分析する。 An automatic analyzer adds reagents corresponding to various test items to a test sample such as blood containing a component to be detected, and causes the reagent to react with a specific component contained in the test sample. The automatic analyzer analyzes the components of the test sample corresponding to the test items by optically measuring this reaction, for example.

このような自動分析装置において、ラテックス凝集法を用いて測定の高感度化を図る技術が知られている。ラテックス凝集法では、不溶性の担体であるラテックス粒子の表面に抗体を結合させた試薬を被検試料に添加して反応液とする。反応液では、被検試料中に含まれる抗原がラテックス粒子の表面の抗体と結合することで、ラテックス粒子が凝集する。そして、ラテックス粒子が凝集する過程において、反応液に光を照射し、反応液を光が通過する際に弱まる程度、すなわち吸光度を測定することで、試料中に含まれる検出対象の濃度を測定する。 In such an automatic analyzer, a technique is known that uses a latex agglutination method to increase the sensitivity of measurement. In the latex agglutination method, a reagent in which an antibody is bound to the surface of latex particles, which are insoluble carriers, is added to a test sample to prepare a reaction solution. In the reaction solution, the antigen contained in the test sample binds to the antibody on the surface of the latex particles, causing the latex particles to aggregate. Then, in the process of aggregation of latex particles, the concentration of the target to be detected in the sample is measured by irradiating the reaction solution with light and measuring the degree to which the light weakens as it passes through the reaction solution, that is, the absorbance. .

吸光度に基づいて、被検試料中に含まれる検出対象の濃度を測定するためには、予め、吸光度と被検試料中の検出対象の濃度との関係を定めた検量線を生成しておく必要がある。検量線を生成するためには、自動分析装置において、予め濃度が分かっている標準試料に試薬を添加し、この添加した後に測定される吸光度の変化を示す反応曲線を、複数の濃度について生成する必要がある。そして、この反応曲線を表したグラフを用いて、試薬を添加した後の所定タイミングにおける吸光度を、標準試料の既知の濃度に1対1で対応付けることにより、検量線が得られる。 In order to measure the concentration of the detection target contained in the test sample based on absorbance, it is necessary to generate a calibration curve in advance that determines the relationship between the absorbance and the concentration of the detection target in the test sample. There is. To generate a calibration curve, an automatic analyzer adds a reagent to a standard sample whose concentration is known in advance, and generates a reaction curve showing the change in absorbance measured after the addition for multiple concentrations. There is a need. Then, using a graph representing this reaction curve, a calibration curve can be obtained by associating the absorbance at a predetermined timing after adding the reagent with the known concentration of the standard sample on a one-to-one basis.

しかしながら、異なる複数の濃度の標準試料について生成した反応曲線において、高濃度の標準試料に関してフック現象が発生し、時間の経過とともに、高濃度の反応曲線で示される吸光度が、それよりも濃度の低い反応曲線で示される吸光度よりも低くなってしまう現象が現れる。これは、測定対象の標準試料が高濃度であるにもかかわらず、試薬との反応が抑制されてしまうことにより生じる現象である。このため、フック現象が起こる前の区間を用いるように吸光度測定区間を設定したり、フック現象が起こった場合に自動分析装置がエラーを出力したりするような対策がとられている。 However, in reaction curves generated for standard samples with different concentrations, a hook phenomenon occurs for the high concentration standard sample, and over time, the absorbance shown in the high concentration reaction curve becomes smaller than that of the lower concentration standard sample. A phenomenon occurs in which the absorbance becomes lower than the absorbance shown in the reaction curve. This is a phenomenon that occurs when the reaction with the reagent is suppressed even though the standard sample to be measured has a high concentration. For this reason, measures have been taken such as setting the absorbance measurement interval to use the interval before the hook phenomenon occurs, and having the automatic analyzer output an error when the hook phenomenon occurs.

その一方で、低濃度の被検試料を実際に測定する際には、試料と試薬の反応がある程度進み、異なる低濃度の間でお互いの吸光度の違いが明瞭になる測光タイミングで測定した吸光度を用いて濃度を決定する方が望ましい。また、自動分析装置がエラーを出力したとしても、フック現象に対する解決策としては十分とはいえない。 On the other hand, when actually measuring a low-concentration test sample, the absorbance measured at a photometric timing when the reaction between the sample and reagent has progressed to a certain extent and the difference in absorbance between different low concentrations becomes clear. It is preferable to determine the concentration using Further, even if the automatic analyzer outputs an error, it cannot be said to be a sufficient solution to the hook phenomenon.

特開2019-082477号公報JP2019-082477A 特開2011-226909号公報Japanese Patent Application Publication No. 2011-226909 特開2019-060813号公報Japanese Patent Application Publication No. 2019-060813

本実施形態の目的は、標準試料の測定結果である反応曲線に基づいて、適切な検量線を生成し得る検量線生成装置及び自動分析装置を提供することにある。 An object of the present embodiment is to provide a calibration curve generation device and an automatic analyzer that can generate an appropriate calibration curve based on a reaction curve that is a measurement result of a standard sample.

本実施形態に係る検量線生成装置は、既知の濃度の検出対象を含む標準試料に、前記検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体を含む試薬を吐出して添加する分注部と、前記標準試料に前記試薬が添加された反応液を光学的に測定する測光部と、前記測光部で測定した複数の異なる濃度の前記標準試料の測定結果を表す反応曲線に近似する近似関数を導出し、この導出した近似関数のパラメータに基づいて、検量線を生成する検量線生成部であって、測定結果に基づいて、前記反応曲線における前記近似関数を導出する区間を変更する、検量線生成部と、を備える。 The calibration curve generation device according to the present embodiment includes a dispensing unit that dispenses and adds a reagent containing an insoluble carrier on which a component that binds to the detection target is immobilized to a standard sample containing the detection target at a known concentration. , a photometry unit that optically measures a reaction solution in which the reagent is added to the standard sample; and an approximation function that approximates a reaction curve representing the measurement results of the standard sample at a plurality of different concentrations measured by the photometry unit. a calibration curve generation unit that generates a calibration curve based on parameters of the derived approximation function, the calibration curve changing an interval in the reaction curve for deriving the approximation function based on the measurement result; A generation unit.

また、本実施形態に係る自動分析装置は、上記検量線生成装置を備えた上で、前記分注部は、不知の濃度の前記検出対象を含む被検試料に、前記試薬を吐出して添加し、前記測光部は、前記被検試料に前記試薬が添加された反応液を光学的に測定するとともに、前記測光部で測定した前記被検試料の測定結果を表す反応曲線に近似する近似関数を導出し、この導出した近似関数のパラメータと、前記記憶部から読み出した検量線とに基づいて、前記被検試料の前記検出対象の濃度を算出する検出対象濃度算出部を備える。 Further, the automatic analyzer according to the present embodiment includes the above-mentioned calibration curve generation device, and the dispensing unit dispenses and adds the reagent to the test sample containing the detection target at an unknown concentration. The photometry section optically measures a reaction solution in which the reagent is added to the test sample, and also uses an approximation function that approximates a reaction curve representing the measurement result of the test sample measured by the photometry section. and a detection target concentration calculation unit that calculates the concentration of the detection target in the test sample based on the parameters of the derived approximation function and the calibration curve read from the storage unit.

一実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示したブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing the functional configuration of an automatic analyzer according to an embodiment. 図1に示す自動分析装置における分析機構の構成の一例を示す図。2 is a diagram showing an example of the configuration of an analysis mechanism in the automatic analyzer shown in FIG. 1. FIG. 標準試料についての測定値及び反応曲線の一例を表す図。The figure showing an example of the measured value and reaction curve about a standard sample. ある反応曲線を用いて、その反応曲線の近似関数を導出する手法を説明する図(近似の精度が低い状態)。A diagram illustrating a method of deriving an approximation function for a reaction curve using a certain reaction curve (a state in which the accuracy of approximation is low). ある反応曲線を用いて、その反応曲線の近似関数を導出する手法を説明する図(近似関数を導出する区間を短くして、近似の精度を上げた状態)。A diagram illustrating a method of deriving an approximation function for a reaction curve using a certain reaction curve (a state in which the interval for deriving the approximation function is shortened to improve the accuracy of approximation). ある反応曲線を用いて、その反応曲線の近似関数を導出する手法を説明する図(近似関数を導出する区間をさらに短くして、近似の精度をさらに上げた結果、近似の精度が所定の基準よりも高くなった状態)。Diagram explaining a method for deriving an approximation function for a reaction curve using a certain reaction curve (As a result of further increasing the accuracy of approximation by further shortening the interval for deriving the approximation function, the accuracy of approximation reaches the predetermined standard) ). 近似関数を導出した区間を明示して、複数の異なる濃度の標準試料の反応曲線と、その導出された近似関数を示す図。FIG. 2 is a diagram showing reaction curves of standard samples with a plurality of different concentrations and the derived approximate functions, clearly indicating the intervals from which the approximate functions were derived. 導出された近似関数に基づいて生成された検量線の一例を示す図。The figure which shows an example of the calibration curve produced|generated based on the derived approximation function. 図3の測定値及び反応曲線に、ある被検試料の測定値及び反応曲線を追加した図。FIG. 4 is a diagram in which the measured values and reaction curve of a certain test sample are added to the measured values and reaction curve of FIG. 3. 被検試料の測定値である傾きaに基づいて、その被検試料の検出対象の濃度を算出する手法の一例を説明する図。The figure explaining an example of the method of calculating the concentration of the detection target of a test sample based on slope a which is a measurement value of the test sample.

以下、図面を参照しながら、本実施形態に係る自動分析装置を説明する。なお、以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行うこととする。 The automatic analyzer according to this embodiment will be described below with reference to the drawings. In the following description, components having substantially the same functions and configurations will be denoted by the same reference numerals, and repeated description will be given only when necessary.

(自動分析装置)
図1は、本実施形態に係る自動分析装置1の機能構成の例を示すブロック図である。図1に示される自動分析装置1は、例えば、分析機構2と、解析回路3と、駆動機構4と、入力インターフェース5と、出力インターフェース6と、通信インターフェース7と、記憶回路8と、制御回路9とを備えて構成されている。
(Automatic analyzer)
FIG. 1 is a block diagram showing an example of the functional configuration of an automatic analyzer 1 according to the present embodiment. The automatic analyzer 1 shown in FIG. 1 includes, for example, an analysis mechanism 2, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface 5, an output interface 6, a communication interface 7, a storage circuit 8, and a control circuit. 9.

自動分析装置1は、ラテックス凝集法を用いて試料等の濃度を測定する装置であり、試薬に添加する不溶性の担体としては、各種の担体粒子が利用可能である。担体粒子としては、例えば、ラテックス粒子、ポリスチレン、ポリスチレンラテックス、シリカ粒子等を用いることができる。 The automatic analyzer 1 is a device that measures the concentration of a sample, etc. using a latex agglutination method, and various carrier particles can be used as an insoluble carrier added to the reagent. As the carrier particles, for example, latex particles, polystyrene, polystyrene latex, silica particles, etc. can be used.

分析機構2は、標準試料、又は、被検試料等の試料に、この試料に設定される各検査項目で用いられる試薬を添加する。分析機構2は、試料に試薬を添加して得られる反応液を測定し、例えば、標準データ、及び、被検データを生成する。本実施形態においては、標準データは、含まれる検出対象の濃度が既知の標準試料についての吸光度の測定データを表す。また、被検データは、被検試料についての吸光度の測定データを表す。 The analysis mechanism 2 adds reagents used in each test item set for the sample to a sample such as a standard sample or a test sample. The analysis mechanism 2 measures a reaction solution obtained by adding a reagent to a sample, and generates, for example, standard data and test data. In this embodiment, the standard data represents absorbance measurement data for a standard sample containing a known concentration of a detection target. Further, the test data represents absorbance measurement data for the test sample.

解析回路3は、分析機構2により生成される標準データ及び被検データを解析し、検量データ及び分析データ等を生成するプロセッサである。検量データは、例えば、標準データに基づいて生成された検量線に関する情報を含んでいる。また、分析データは、被検データを検量データに基づいて分析することで得られる、例えば、被検試料に含まれる検出対象の濃度に関する情報を含んでいる。 The analysis circuit 3 is a processor that analyzes the standard data and test data generated by the analysis mechanism 2 and generates calibration data, analysis data, and the like. The calibration data includes, for example, information regarding a calibration curve generated based on standard data. Further, the analysis data includes information regarding, for example, the concentration of the detection target contained in the test sample, which is obtained by analyzing the test data based on the calibration data.

解析回路3は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行し、この動作プログラムに対応する機能を実現することで、検量データ及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路3は、1)吸光度が既知で濃度が0の標準試料と、濃度が既知である複数の標準試料とについて得られた標準データと、2)これらの標準試料について予め設定された濃度と、3)予め設定された測光タイミング等に基づき、検量線を生成し、この検量線に関する情報を含む検量データを算出する。また、解析回路3は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量線を含む検量データと、予め設定された測光タイミング等に基づき、分析データを生成する。解析回路3は生成した検量データ及び分析データ等を制御回路9へ出力する。 The analysis circuit 3 executes the operation program stored in the storage circuit 8 and generates calibration data, analysis data, etc. by realizing a function corresponding to this operation program. For example, the analysis circuit 3 uses 1) standard data obtained for a standard sample with a known absorbance and a concentration of 0, and a plurality of standard samples with known concentrations, and 2) standard data set in advance for these standard samples. A calibration curve is generated based on the concentration and 3) preset photometry timing, and calibration data including information regarding this calibration curve is calculated. Further, the analysis circuit 3 generates analysis data based on the test data, calibration data including a calibration curve of the test item corresponding to the test data, and preset photometry timing. The analysis circuit 3 outputs the generated calibration data, analysis data, etc. to the control circuit 9.

駆動機構4は、制御回路9の制御に従い、分析機構2を駆動させる。駆動機構4は、例えば、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。 The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 9. The drive mechanism 4 is realized by, for example, a gear, a stepping motor, a belt conveyor, a lead screw, or the like.

入力インターフェース5は、例えば、操作者から又は病院内ネットワークNWを介して、測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インターフェース5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インターフェース5は、制御回路9に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路9へ出力する。なお、本実施形態においては、入力インターフェース5は、マウス、及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路9へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース5の例に含まれる。 The input interface 5 receives, for example, settings such as analysis parameters for each test item related to a sample requested to be measured from an operator or via the hospital network NW. The input interface 5 is realized by, for example, a mouse, a keyboard, a touch pad on which instructions are input by touching the operation surface, and the like. The input interface 5 is connected to the control circuit 9 , converts an operation instruction input from an operator into an electrical signal, and outputs the electrical signal to the control circuit 9 . Note that in this embodiment, the input interface 5 is not limited to one that includes physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs this electrical signal to the control circuit 9 is also an input interface. Included in example 5.

出力インターフェース6は、制御回路9に接続され、制御回路9から供給される信号を出力する。出力インターフェース6は、例えば、表示回路、及び印刷回路等により実現される。表示回路には、例えば、CRTディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、LEDディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等が含まれる。なお、本実施形態においては、表示対象を表すデータをビデオ信号に変換し、ビデオ信号を外部へ出力する処理回路も表示回路に含まれる。印刷回路は、例えば、プリンタ等を含む。なお、本実施形態においては、印刷対象を表すデータを外部へ出力する出力回路も印刷回路に含まれる。 The output interface 6 is connected to the control circuit 9 and outputs a signal supplied from the control circuit 9. The output interface 6 is realized by, for example, a display circuit, a printed circuit, and the like. Display circuits include, for example, CRT displays, liquid crystal displays, organic EL displays, LED displays, plasma displays, and the like. Note that in this embodiment, the display circuit also includes a processing circuit that converts data representing a display target into a video signal and outputs the video signal to the outside. The printed circuit includes, for example, a printer. Note that in this embodiment, the printing circuit also includes an output circuit that outputs data representing a printing target to the outside.

通信インターフェース7は、例えば、病院内ネットワークNWに接続されており、自動分析装置1を病院内ネットワークNWに接続する。通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWを介してHIS(Hospital Information System)とデータ通信を行う。なお、通信インターフェース7は、病院内ネットワークNWと接続する検査部門システム(Laboratory Information System:LIS)を介してHISとデータ通信を行っても構わない。 The communication interface 7 is connected to, for example, an intra-hospital network NW, and connects the automatic analysis device 1 to the intra-hospital network NW. The communication interface 7 performs data communication with an HIS (Hospital Information System) via the hospital network NW. Note that the communication interface 7 may perform data communication with the HIS via a laboratory information system (LIS) connected to the hospital network NW.

記憶回路8は、磁気的、若しくは、光学的記録媒体、又は、半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等により構成されている。なお、記憶回路8は、必ずしも単一の記憶装置により実現される必要は無い。例えば、記憶回路8は、複数の記憶装置により実現することもできる。 The storage circuit 8 is constituted by a processor-readable recording medium such as a magnetic or optical recording medium or a semiconductor memory. Note that the memory circuit 8 does not necessarily need to be realized by a single memory device. For example, the memory circuit 8 can also be realized by a plurality of memory devices.

また、記憶回路8は、解析回路3で実行される動作プログラム、及び、制御回路9で実行される動作プログラムを記憶している。記憶回路8は、分析機構2内に保持されている試薬に関する検量線に関する情報を記憶する。詳しくは後述するが、分析機構2で使用される試薬に関する検量線は、自動分析装置1にて生成され、検量データとして、記憶回路8に記憶される。また、記憶回路8に記憶される検量データには、例えば、試薬について予め設定された測光タイミングに関するデータも、検査項目毎に含まれている。 Furthermore, the storage circuit 8 stores an operation program executed by the analysis circuit 3 and an operation program executed by the control circuit 9. The storage circuit 8 stores information regarding calibration curves related to reagents held within the analysis mechanism 2. Although details will be described later, a calibration curve for reagents used in the analysis mechanism 2 is generated by the automatic analyzer 1 and stored in the storage circuit 8 as calibration data. The calibration data stored in the storage circuit 8 also includes, for example, data regarding preset photometry timing for reagents for each test item.

測光タイミングは、検量線を含む検量データを生成する際に用いる吸光度等の情報を取得する時点を表す。すなわち、測光タイミングは、例えば、検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体である担体粒子が含まれる試薬を標準試料に添加してからの経過時間を表している。また、測光タイミングは、分析データを生成する際に用いる吸光度等の情報を取得する時点を表す。すなわち、測光タイミングは、例えば、不溶性担体の粒子が含まれる試薬を被検試料に添加してからの経過時間を表している。 The photometry timing represents the time point at which information such as absorbance used when generating calibration data including a calibration curve is acquired. That is, the photometric timing represents, for example, the elapsed time from the time when a reagent containing carrier particles, which are insoluble carriers on which a component that binds to a detection target is immobilized, is added to a standard sample. Further, the photometry timing represents the time point at which information such as absorbance used when generating analysis data is acquired. In other words, the photometric timing represents, for example, the time elapsed since the reagent containing particles of the insoluble carrier was added to the test sample.

すなわち、記憶回路8は、解析回路3により生成される検量データを、検査項目毎に記憶する。また、記憶回路8は、解析回路3により生成される分析データを、被検試料毎に記憶する。 That is, the storage circuit 8 stores the calibration data generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. Furthermore, the storage circuit 8 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each test sample.

制御回路9は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路9は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。なお、制御回路9は、記憶回路8で記憶されているデータの少なくとも一部を記憶する記憶領域を備えていてもよい。 The control circuit 9 is a processor that functions as the core of the automatic analyzer 1. The control circuit 9 executes the operation program stored in the storage circuit 8 to realize a function corresponding to the operation program. Note that the control circuit 9 may include a storage area that stores at least part of the data stored in the storage circuit 8.

図2は、図1に示す分析機構2の構成の一例を示す模式図である。この図2に示すように、本実施形態に係る自動分析装置1の分析機構2は、反応ディスク201と、恒温部202と、サンプルディスク203と、第1試薬庫204と、第2試薬庫205とを備えて構成されている。 FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. As shown in FIG. 2, the analysis mechanism 2 of the automatic analyzer 1 according to the present embodiment includes a reaction disk 201, a constant temperature section 202, a sample disk 203, a first reagent storage 204, and a second reagent storage 205. It is composed of:

反応ディスク201は、反応容器2011を所定の経路に沿って搬送する。具体的には、反応ディスク201は、複数の反応容器2011を、環状に配列させて保持する。反応ディスク201は、駆動機構4により、既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。 The reaction disk 201 transports the reaction container 2011 along a predetermined path. Specifically, the reaction disk 201 holds a plurality of reaction containers 2011 arranged in a ring shape. The reaction disk 201 is rotated and stopped alternately at predetermined time intervals by the drive mechanism 4.

反応容器2011は、例えば、ガラスにより形成されている。反応容器2011は、四角柱状をなしており、上部に開口部を有している。四角柱を形成する第1乃至第4側壁のうち、第1側壁の外面からは、測光ユニット214に設けられる光源から照射される光が入射される。第1乃至第4側壁のうち、第1側壁と対向する第2側壁の外面からは、第1側壁の外面から入射された光が出射される。 Reaction container 2011 is made of glass, for example. The reaction container 2011 has a quadrangular column shape and has an opening at the top. Of the first to fourth side walls forming a quadrangular prism, light emitted from a light source provided in the photometry unit 214 is incident from the outer surface of the first side wall. Of the first to fourth side walls, the light incident from the outer surface of the first side wall is emitted from the outer surface of the second side wall that faces the first side wall.

恒温部202は、所定の温度に設定された熱媒体を貯留する。恒温部202は、貯留する熱媒体に反応容器2011を浸漬させることで、反応容器2011に収容される反応液を所定の温度まで昇温し保温する。 The constant temperature section 202 stores a heat medium set at a predetermined temperature. The constant temperature section 202 raises the temperature of the reaction liquid contained in the reaction container 2011 to a predetermined temperature and keeps it warm by immersing the reaction container 2011 in the stored heat medium.

サンプルディスク203は、試料を収容する試料容器を複数保持する。サンプルディスク203は、駆動機構4により回動される。本実施形態においては、検出対象の成分を含む試料を適宜、被検試料と言う。 The sample disk 203 holds a plurality of sample containers containing samples. The sample disk 203 is rotated by the drive mechanism 4. In this embodiment, a sample containing a component to be detected is appropriately referred to as a test sample.

第1試薬庫204は、標準試料及び被検試料に含まれる所定の成分と反応する第1試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第1試薬は、例えば、ウシ血清アルブミン(BSA)等を含む緩衝液である。試薬容器には、試薬ラベルが貼付されている。試薬ラベルには、試薬情報を表す光学式マークが印刷されている。光学式マークには、例えば、1次元画素コード及び2次元画素コード等、任意の画素コードが用いられる。試薬情報は、試薬容器に収容される試薬に関する情報であり、例えば、試薬名、試薬メーカコード、試薬項目コード、ボトル種類、ボトルサイズ、容量、製造ロット番号、及び、有効期間等を含んでいる。 The first reagent storage 204 cools a plurality of reagent containers containing a first reagent that reacts with a predetermined component contained in the standard sample and the test sample. The first reagent is, for example, a buffer containing bovine serum albumin (BSA). A reagent label is attached to the reagent container. An optical mark representing reagent information is printed on the reagent label. Any pixel code, such as a one-dimensional pixel code or a two-dimensional pixel code, is used for the optical mark. The reagent information is information regarding the reagent contained in the reagent container, and includes, for example, the reagent name, reagent manufacturer code, reagent item code, bottle type, bottle size, capacity, manufacturing lot number, and expiration date. .

また、第1試薬庫204は、標準試料を収容する標準試料容器を複数保冷する。複数の標準試料容器のそれぞれには、濃度が異なる同一の成分の標準試料が収容されている。なお、標準試料容器は、サンプルディスク203に保持されていても構わない。 Further, the first reagent storage 204 cools a plurality of standard sample containers containing standard samples. Each of the plurality of standard sample containers contains standard samples of the same component but with different concentrations. Note that the standard sample container may be held on the sample disk 203.

第1試薬庫204内には、試薬ラック2041が回転自在に設けられている。試薬ラック2041は、複数の試薬容器及び複数の標準試料容器を、円環状に配列して保持する。試薬ラック2041は、駆動機構4により回動される。また、第1試薬庫204内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ(図示せず)が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路8で記憶される。 A reagent rack 2041 is rotatably provided in the first reagent storage 204 . The reagent rack 2041 holds a plurality of reagent containers and a plurality of standard sample containers arranged in an annular shape. The reagent rack 2041 is rotated by the drive mechanism 4. Furthermore, a reader (not shown) is provided in the first reagent storage 204 to read reagent information from a reagent label attached to a reagent container. The read reagent information is stored in the storage circuit 8.

第1試薬庫204上の所定の位置には、第1試薬吸引位置が設定されている。第1試薬吸引位置は、例えば、第1試薬分注プローブ209の回動軌道と、試薬ラック2041に円環状に配列される試薬容器及び標準試料容器の開口部の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。 A first reagent suction position is set at a predetermined position on the first reagent storage 204 . The first reagent suction position is, for example, a position where the rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 209 and the movement trajectory of the openings of the reagent containers and standard sample containers arranged in an annular manner in the reagent rack 2041 intersect. established in

第2試薬庫205は、2試薬系の第1試薬と対をなす第2試薬を収容する試薬容器を複数保冷する。第2試薬は、試料に含まれる所定の抗原又は抗体と、特異的抗原抗体反応により結合又は乖離する抗原又は抗体が固定化された不溶性担体、例えば、担体粒子を含む溶液である。特異的反応により結合又は乖離するものとして酵素、基質、アプタマー、受容体であっても良い。第2試薬庫205内には、試薬ラック2051が回転自在に設けられている。 The second reagent storage 205 cools a plurality of reagent containers containing a second reagent that is paired with a first reagent in a two-reagent system. The second reagent is a solution containing an insoluble carrier, for example, carrier particles, on which an antigen or antibody that binds to or dissociates from a predetermined antigen or antibody contained in a sample through a specific antigen-antibody reaction is immobilized. It may be an enzyme, a substrate, an aptamer, or a receptor that binds or dissociates due to a specific reaction. A reagent rack 2051 is rotatably provided within the second reagent storage 205 .

試薬ラック2051は、複数の試薬容器を円環状に配列して保持する。なお、第2試薬庫205において、標準試料を収容する標準試料容器が保冷されていてもよい。試薬ラック2051は、駆動機構4により回動される。また、第2試薬庫205内には、試薬容器に貼付されている試薬ラベルから試薬情報を読み取るリーダ(図示せず)が設けられている。読み取られた試薬情報は、記憶回路8で記憶される。 The reagent rack 2051 holds a plurality of reagent containers arranged in an annular shape. Note that in the second reagent storage 205, a standard sample container containing a standard sample may be kept cold. The reagent rack 2051 is rotated by the drive mechanism 4. Further, a reader (not shown) is provided in the second reagent storage 205 to read reagent information from a reagent label attached to a reagent container. The read reagent information is stored in the storage circuit 8.

第2試薬庫205上の所定の位置には、第2試薬吸引位置が設定されている。第2試薬吸引位置は、例えば、第2試薬分注プローブ211の回動軌道と、試薬ラック2051に円環状に配列される試薬容器の開口部の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。 A second reagent suction position is set at a predetermined position on the second reagent storage 205 . The second reagent suction position is provided, for example, at a position where the rotational trajectory of the second reagent dispensing probe 211 and the movement trajectory of the openings of the reagent containers arranged in an annular shape on the reagent rack 2051 intersect.

また、図2に示す自動分析装置1の分析機構2は、さらに、サンプル分注アーム206と、サンプル分注プローブ207と、第1試薬分注アーム208と、第1試薬分注プローブ209と、第2試薬分注アーム210と、第2試薬分注プローブ211と、第1攪拌ユニット212と、第2攪拌ユニット213と、測光ユニット214と、洗浄ユニット215を備えて構成されている。 Further, the analysis mechanism 2 of the automatic analyzer 1 shown in FIG. 2 further includes a sample dispensing arm 206, a sample dispensing probe 207, a first reagent dispensing arm 208, a first reagent dispensing probe 209, It includes a second reagent dispensing arm 210, a second reagent dispensing probe 211, a first stirring unit 212, a second stirring unit 213, a photometry unit 214, and a cleaning unit 215.

サンプル分注アーム206は、反応ディスク201とサンプルディスク203との間に設けられている。サンプル分注アーム206は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。サンプル分注アーム206は、一端にサンプル分注プローブ207を保持する。 Sample dispensing arm 206 is provided between reaction disk 201 and sample disk 203. The sample dispensing arm 206 is provided so as to be vertically movable and horizontally rotatable by the drive mechanism 4 . Sample dispensing arm 206 holds a sample dispensing probe 207 at one end.

サンプル分注プローブ207は、サンプル分注アーム206の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプルディスク203で保持される試料容器の開口部が位置するようになっている。また、サンプル分注プローブ207の回動軌道上には、サンプル分注プローブ207が吸引した試料を反応容器2011へ吐出するためのサンプル吐出位置が設けられている。サンプル吐出位置は、サンプル分注プローブ207の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器2011の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。 The sample dispensing probe 207 rotates along an arcuate rotation trajectory as the sample dispensing arm 206 rotates. The opening of the sample container held by the sample disk 203 is located on this rotating orbit. Further, a sample discharge position for discharging the sample sucked by the sample dispensing probe 207 into the reaction container 2011 is provided on the rotational trajectory of the sample dispensing probe 207 . The sample discharge position is provided at a position where the rotational trajectory of the sample dispensing probe 207 and the movement trajectory of the reaction container 2011 held on the reaction disk 201 intersect.

サンプル分注プローブ207は、駆動機構4によって駆動され、サンプルディスク203で保持される試料容器の開口部の直上、又は、サンプル吐出位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、直下に位置する試料容器から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ207は、制御回路9の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置の直下に位置する反応容器2011へ吐出する。 The sample dispensing probe 207 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction directly above the opening of the sample container held by the sample disk 203 or at the sample discharge position. Further, the sample dispensing probe 207 aspirates the sample from the sample container located directly below it under the control of the control circuit 9 . Further, the sample dispensing probe 207 discharges the aspirated sample into the reaction container 2011 located directly below the sample discharge position under the control of the control circuit 9.

第1試薬分注アーム208は、第1試薬庫204の外周近傍に設けられている。第1試薬分注アーム208は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第1試薬分注アーム208は、一端に第1試薬分注プローブ209を保持している。 The first reagent dispensing arm 208 is provided near the outer periphery of the first reagent storage 204 . The first reagent dispensing arm 208 is provided so as to be vertically movable and horizontally rotatable by the drive mechanism 4 . The first reagent dispensing arm 208 holds a first reagent dispensing probe 209 at one end.

第1試薬分注プローブ209は、第1試薬分注アーム208の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第1試薬吸引位置が設けられている。また、第1試薬分注プローブ209の回動軌道上には、第1試薬分注プローブ209が吸引した第1試薬又は標準試料を反応容器2011へ吐出するための第1試薬吐出位置が設定されている。第1試薬吐出位置は、第1試薬分注プローブ209の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器2011の移動軌道とが、交差する位置に設けられる。 The first reagent dispensing probe 209 rotates along an arcuate rotation trajectory as the first reagent dispensing arm 208 rotates. A first reagent suction position is provided on this rotational trajectory. Further, a first reagent dispensing position is set on the rotational trajectory of the first reagent dispensing probe 209 for discharging the first reagent or standard sample aspirated by the first reagent dispensing probe 209 into the reaction container 2011. ing. The first reagent discharge position is provided at a position where the rotational trajectory of the first reagent dispensing probe 209 and the movement trajectory of the reaction container 2011 held on the reaction disk 201 intersect.

第1試薬分注プローブ209は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の第1試薬吸引位置又は第1試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第1試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、第1試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第1試薬又は標準試料を吸引する。また、第1試薬分注プローブ209は、制御回路9の制御に従い、吸引した第1試薬又は標準試料を、第1試薬吐出位置の直下に位置する反応容器2011へ吐出する。すなわち、第1試薬分注プローブ209は、本実施形態における分注部の一例である。 The first reagent dispensing probe 209 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the first reagent suction position or the first reagent discharge position on the rotating orbit. Further, the first reagent dispensing probe 209 aspirates the first reagent or standard sample from the reagent container located directly below the first reagent suction position under the control of the control circuit 9. Further, the first reagent dispensing probe 209 discharges the aspirated first reagent or standard sample into the reaction container 2011 located directly below the first reagent discharge position under the control of the control circuit 9 . That is, the first reagent dispensing probe 209 is an example of a dispensing section in this embodiment.

第2試薬分注アーム210は、第1試薬庫204の外周近傍に設けられている。第2試薬分注アーム210は、駆動機構4により、鉛直方向に上下動自在、かつ、水平方向に回動自在に設けられている。第2試薬分注アーム210は、一端に第2試薬分注プローブ211を保持している。 The second reagent dispensing arm 210 is provided near the outer periphery of the first reagent storage 204 . The second reagent dispensing arm 210 is provided so as to be vertically movable and horizontally rotatable by the drive mechanism 4 . The second reagent dispensing arm 210 holds a second reagent dispensing probe 211 at one end.

第2試薬分注プローブ211は、第2試薬分注アーム210の回動に伴い、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、第2試薬吸引位置が設けられている。また、第2試薬分注プローブ211の回動軌道上には、第2試薬分注プローブ211が吸引した第2試薬を反応容器2011へ吐出するための第2試薬吐出位置が設定されている。第2試薬吐出位置は、第2試薬分注プローブ211の回動軌道と、反応ディスク201に保持されている反応容器2011の移動軌道とが、交点する位置に設けられる。 The second reagent dispensing probe 211 rotates along an arcuate rotation trajectory as the second reagent dispensing arm 210 rotates. A second reagent suction position is provided on this rotational trajectory. Further, a second reagent discharging position is set on the rotational trajectory of the second reagent dispensing probe 211 for discharging the second reagent sucked by the second reagent dispensing probe 211 into the reaction container 2011. The second reagent discharge position is provided at a position where the rotational trajectory of the second reagent dispensing probe 211 and the movement trajectory of the reaction container 2011 held on the reaction disk 201 intersect.

第2試薬分注プローブ211は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の第2試薬吸引位置、又は第2試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第2試薬分注プローブ211は、制御回路9の制御に従い、第2試薬吸引位置の直下に位置する試薬容器から第2試薬を吸引する。また、第2試薬分注プローブ211は、制御回路9の制御に従い、吸引した第2試薬を、第2試薬吐出位置の直下に位置する反応容器2011へ吐出する。すなわち、第2試薬分注プローブ211は、本実施形態における分注部の一例である。 The second reagent dispensing probe 211 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the second reagent suction position or the second reagent discharge position on the rotating orbit. Further, the second reagent dispensing probe 211 aspirates the second reagent from the reagent container located directly below the second reagent suction position under the control of the control circuit 9. Further, the second reagent dispensing probe 211 discharges the aspirated second reagent into the reaction container 2011 located directly below the second reagent discharge position under the control of the control circuit 9. That is, the second reagent dispensing probe 211 is an example of a dispensing section in this embodiment.

第1攪拌ユニット212は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。第1攪拌ユニット212は、第1攪拌アーム2121及び第1攪拌アーム2121の先端に設けられる第1攪拌子を有する。第1攪拌ユニット212は、第1攪拌子により、反応ディスク201上の第1攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている標準試料と第1試薬との混合液を攪拌する。また、第1攪拌ユニット212は、第1攪拌子により、反応ディスク201上の第1攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている被検試料と第1試薬との混合液を攪拌する。 The first stirring unit 212 is provided near the outer periphery of the reaction disk 201. The first stirring unit 212 has a first stirring arm 2121 and a first stirring bar provided at the tip of the first stirring arm 2121. The first stirring unit 212 uses a first stirrer to stir the mixture of the standard sample and the first reagent contained in the reaction container 2011 located at the first stirring position on the reaction disk 201. Further, the first stirring unit 212 uses a first stirring bar to stir the mixed liquid of the test sample and the first reagent contained in the reaction container 2011 located at the first stirring position on the reaction disk 201. .

第2攪拌ユニット213は、反応ディスク201の外周近傍に設けられている。第2攪拌ユニット213は、第2攪拌アーム2131及び第2攪拌アーム2131の先端に設けられる第2攪拌子を有する。第2攪拌ユニット213は、第2攪拌子により、反応ディスク201上の第2攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている標準試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液を攪拌する。また、第2攪拌ユニット213は、第2攪拌子により、第2攪拌位置に位置する反応容器2011内に収容されている被検試料、第1試薬、及び第2試薬の混合液を攪拌する。 The second stirring unit 213 is provided near the outer periphery of the reaction disk 201. The second stirring unit 213 has a second stirring arm 2131 and a second stirring bar provided at the tip of the second stirring arm 2131. The second stirring unit 213 uses a second stirring bar to stir the mixed solution of the standard sample, the first reagent, and the second reagent contained in the reaction container 2011 located at the second stirring position on the reaction disk 201. do. Further, the second stirring unit 213 uses a second stirring bar to stir the mixed liquid of the test sample, the first reagent, and the second reagent contained in the reaction container 2011 located at the second stirring position.

測光ユニット214は、反応容器2011内に吐出された試料、第1試薬、及び第2試薬の反応液を光学的に測定する。測光ユニット214は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット214は、制御回路9の制御に従い、光源から光を照射する。照射された光は、反応容器2011の第1側壁から入射され、第1側壁と対向する第2側壁から出射される。測光ユニット214は、反応容器2011から出射された光を、光検出器により検出する。測光ユニット214は、本実施形態における測光部の一例である。 The photometry unit 214 optically measures the reaction liquid of the sample, the first reagent, and the second reagent discharged into the reaction container 2011. Photometry unit 214 includes a light source and a photodetector. The photometry unit 214 emits light from a light source under the control of the control circuit 9. The irradiated light enters the reaction container 2011 through the first side wall and exits from the second side wall opposite to the first side wall. The photometry unit 214 detects the light emitted from the reaction container 2011 using a photodetector. The photometry unit 214 is an example of a photometry section in this embodiment.

具体的には、例えば、光検出器は、光源から反応容器2011に照射される光の光軸上の位置に配置されている。光検出器は、反応容器2011内の標準試料、第1試薬、及び第2試薬の反応液を透過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度により表される標準データを生成する。また、光検出器は、反応容器2011内の被検試料、第1試薬、及び第2試薬の反応液を透過した光を検出し、検出した光の強度に基づき、吸光度により表される被検データを生成する。測光ユニット214は、生成した標準データ及び被検データを測定結果として解析回路3へ出力する。 Specifically, for example, the photodetector is placed at a position on the optical axis of the light irradiated onto the reaction container 2011 from the light source. The photodetector detects the light that has passed through the reaction solution of the standard sample, first reagent, and second reagent in the reaction container 2011, and generates standard data expressed by absorbance based on the intensity of the detected light. . In addition, the photodetector detects the light that has passed through the reaction solution of the test sample, the first reagent, and the second reagent in the reaction container 2011, and based on the intensity of the detected light, the Generate data. The photometry unit 214 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3 as measurement results.

洗浄ユニット215は、測光ユニット214で反応液の測定が終了した反応容器2011の内部を洗浄する。 The cleaning unit 215 cleans the inside of the reaction container 2011 after the measurement of the reaction liquid by the photometry unit 214.

図1に示すように、制御回路9は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、制御回路9は、動作プログラムを実行することで、システム制御機能91、校正制御機能92、及び測定制御機能93を実現する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能91、校正制御機能92、及び測定制御機能93が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能91、校正制御機能92、及び測定制御機能93を実現するようにしてもよい。 As shown in FIG. 1, the control circuit 9 executes an operation program stored in the storage circuit 8 to realize a function corresponding to the program. For example, the control circuit 9 implements a system control function 91, a calibration control function 92, and a measurement control function 93 by executing an operation program. In this embodiment, a case will be described in which the system control function 91, the calibration control function 92, and the measurement control function 93 are realized by a single processor, but the present invention is not limited to this. For example, a control circuit may be configured by combining a plurality of independent processors, and the system control function 91, the calibration control function 92, and the measurement control function 93 may be realized by each processor executing an operation program.

システム制御機能91は、入力インターフェース5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。 The system control function 91 is a function that centrally controls each part of the automatic analyzer 1 based on input information input from the input interface 5.

校正制御機能92は、標準データを生成するように、分析機構2及び駆動機構4を制御する機能である。具体的には、制御回路9は、所定のタイミングで校正制御機能92を実行する。所定のタイミングとは、例えば、初期設定時、装置起動時、メンテナンス時、及び操作者から校正動作開始の指示が入力された際等である。 The calibration control function 92 is a function that controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 so as to generate standard data. Specifically, the control circuit 9 executes the calibration control function 92 at a predetermined timing. The predetermined timing is, for example, during initial setting, when starting up the apparatus, during maintenance, and when an instruction to start a calibration operation is input by an operator.

校正制御機能92を実行すると制御回路9は、分析機構2及び駆動機構4を制御する。分析機構2及び駆動機構4が制御されることで、分析機構2では、標準データが生成される。具体的には、例えば、駆動機構4により駆動されることで、分析機構2の第1試薬分注プローブ209は、標準試料を第1試薬庫204から吸引し、吸引した標準試料を反応容器2011へ吐出する。続いて、第1試薬分注プローブ209は、第1試薬を第1試薬庫204から吸引し、吸引した第1試薬を、標準試料が吐出された反応容器2011へ吐出する。続いて、第1攪拌ユニット212は、標準試料に第1試薬が添加された溶液を撹拌する。 When the calibration control function 92 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4. By controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4, the analysis mechanism 2 generates standard data. Specifically, for example, by being driven by the drive mechanism 4, the first reagent dispensing probe 209 of the analysis mechanism 2 sucks the standard sample from the first reagent storage 204, and transfers the sucked standard sample to the reaction container 2011. Discharge to. Subsequently, the first reagent dispensing probe 209 sucks the first reagent from the first reagent storage 204 and discharges the sucked first reagent into the reaction container 2011 into which the standard sample has been discharged. Subsequently, the first stirring unit 212 stirs the solution in which the first reagent is added to the standard sample.

次に、第2試薬分注プローブ211は、第2試薬を第2試薬庫205から吸引し、吸引した第2試薬を、標準試料と第1試薬とが混合された混合液へ吐出する。続いて、第2攪拌ユニット213は、混合液に第2試薬が添加された溶液を撹拌する。測光ユニット214は、標準試料、第1試薬、及び第2試薬が撹拌されてなる反応液を光学的に測定することで、標準データを生成する。測光ユニット214は、生成した標準データを解析回路3へ出力する。測光ユニット214は、予め設定された周期で予め設定された回数、反応液の測定を繰り返し、生成した標準データを解析回路3へ出力する。分析機構2は、予め設定した複数の濃度の標準試料について上記動作を繰り返し、生成した標準データを解析回路3へ出力する。なお、標準試料、第1試薬、及び第2試薬を反応容器2011に吐出する順番は、上記に限られるものではなく、任意に順序を変更することが可能である。 Next, the second reagent dispensing probe 211 aspirates the second reagent from the second reagent storage 205 and discharges the aspirated second reagent into the mixture of the standard sample and the first reagent. Subsequently, the second stirring unit 213 stirs the solution in which the second reagent is added to the mixed liquid. The photometry unit 214 generates standard data by optically measuring a reaction solution obtained by stirring a standard sample, a first reagent, and a second reagent. The photometry unit 214 outputs the generated standard data to the analysis circuit 3. The photometry unit 214 repeats the measurement of the reaction liquid a preset number of times at a preset period, and outputs the generated standard data to the analysis circuit 3. The analysis mechanism 2 repeats the above operation for standard samples having a plurality of preset concentrations, and outputs the generated standard data to the analysis circuit 3. Note that the order in which the standard sample, first reagent, and second reagent are discharged into the reaction container 2011 is not limited to the above order, and the order can be changed arbitrarily.

測定制御機能93は、被検データを生成するように、分析機構2及び駆動機構4を制御する機能である。具体的には、制御回路9は、所定の指示に応じて測定制御機能93を実行する。所定の指示とは、例えば、操作者から入力される測定動作開始の指示、及び予め設定した時刻に到達したことを表す指示等である。 The measurement control function 93 is a function that controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 so as to generate test data. Specifically, the control circuit 9 executes the measurement control function 93 in response to a predetermined instruction. The predetermined instructions include, for example, an instruction to start a measurement operation input by the operator, an instruction indicating that a preset time has arrived, and the like.

測定制御機能93を実行すると制御回路9は、分析機構2及び駆動機構4を制御する。分析機構2及び駆動機構4が制御されることで、分析機構2では、被検データが生成される。具体的には、駆動機構4により駆動されることで、分析機構2のサンプル分注プローブ207は、被検試料をサンプルディスク203から吸引し、吸引した被検試料を反応容器2011へ吐出する。続いて、第1試薬分注プローブ209は、第1試薬を第1試薬庫204から吸引し、吸引した第1試薬を、被検試料が吐出された反応容器2011へ吐出する。続いて、第1攪拌ユニット212は、被検試料に第1試薬が添加された溶液を撹拌する。 When the measurement control function 93 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4. By controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4, the analysis mechanism 2 generates test data. Specifically, by being driven by the drive mechanism 4, the sample dispensing probe 207 of the analysis mechanism 2 sucks the test sample from the sample disk 203 and discharges the sucked test sample into the reaction container 2011. Subsequently, the first reagent dispensing probe 209 sucks the first reagent from the first reagent storage 204 and discharges the sucked first reagent into the reaction container 2011 into which the test sample has been discharged. Subsequently, the first stirring unit 212 stirs the solution in which the first reagent is added to the test sample.

次に、第2試薬分注プローブ211は、第2試薬を第2試薬庫205から吸引し、吸引した第2試薬を、被検試料と第1試薬とが混合された混合液へ吐出する。続いて、第2攪拌ユニット213は、混合液に第2試薬が添加された溶液を撹拌する。続いて、測光ユニット214は、被検試料、第1試薬、及び第2試薬が撹拌されてなる反応液を光学的に測定することで、被検データを生成する。測光ユニット214は、生成した被検データを解析回路3へ出力する。測光ユニット214は、予め設定された周期で予め設定された回数、反応液の測定を繰り返し、生成した被検データを解析回路3へ出力する。 Next, the second reagent dispensing probe 211 sucks the second reagent from the second reagent storage 205 and discharges the sucked second reagent into the liquid mixture of the test sample and the first reagent. Subsequently, the second stirring unit 213 stirs the solution in which the second reagent is added to the mixed liquid. Subsequently, the photometry unit 214 generates test data by optically measuring a reaction liquid obtained by stirring the test sample, the first reagent, and the second reagent. The photometry unit 214 outputs the generated test data to the analysis circuit 3. The photometry unit 214 repeats the measurement of the reaction liquid a preset number of times at a preset period, and outputs the generated test data to the analysis circuit 3.

また、図1に示される解析回路3は、記憶回路8に記憶されている動作プログラムを実行することで、当該プログラムに対応する機能を実現する。例えば、解析回路3は、動作プログラムを実行することで、検量データ生成機能31及び分析データ生成機能32を実現する。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによって検量データ生成機能31、及び分析データ生成機能32が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて解析回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することにより検量データ生成機能31、及び分析データ生成機能32を実現するようにしてもよい。 Furthermore, the analysis circuit 3 shown in FIG. 1 executes an operation program stored in the storage circuit 8 to realize a function corresponding to the program. For example, the analysis circuit 3 implements the calibration data generation function 31 and the analysis data generation function 32 by executing an operation program. Note that in this embodiment, a case will be described in which the calibration data generation function 31 and the analysis data generation function 32 are realized by a single processor, but the present invention is not limited to this. For example, an analysis circuit may be configured by combining a plurality of independent processors, and each processor may execute an operation program to realize the calibration data generation function 31 and the analysis data generation function 32.

検量データ生成機能31は、分析機構2で生成された標準データに基づいて検量データを生成する機能である。具体的には、解析回路3は、分析機構2で生成された標準データを受信すると、検量データ生成機能31を実行する。検量データ生成機能31を実行すると解析回路3は、異なる複数の濃度の標準試料に関する吸光度を含む測定データである標準データに基づいて、検量線を生成する。この生成された検量線は、検量データとして記憶回路8に記憶させる。このため、検量データ生成機能31は、本実施形態における検量線生成部の一例である。 The calibration data generation function 31 is a function that generates calibration data based on the standard data generated by the analysis mechanism 2. Specifically, upon receiving the standard data generated by the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes the calibration data generation function 31. When the calibration data generation function 31 is executed, the analysis circuit 3 generates a calibration curve based on standard data that is measurement data including absorbance regarding standard samples of different concentrations. This generated calibration curve is stored in the storage circuit 8 as calibration data. Therefore, the calibration data generation function 31 is an example of a calibration curve generation section in this embodiment.

分析データ生成機能32は、分析機構2で生成された被検データを解析することで分析データを生成する機能である。具体的には、解析回路3は、分析機構2で生成された被検データを受信すると、分析データ生成機能32を実行する。分析データ生成機能32を実行すると解析回路3は、検量線に関する情報を含む検量データを記憶回路8から読み出す。解析回路3は、これら被検データ及び検量データに基づき、被検試料の検出対象の濃度に関する情報を含む分析データを生成する。 The analysis data generation function 32 is a function that generates analysis data by analyzing the test data generated by the analysis mechanism 2. Specifically, upon receiving the test data generated by the analysis mechanism 2, the analysis circuit 3 executes the analysis data generation function 32. When the analysis data generation function 32 is executed, the analysis circuit 3 reads calibration data including information regarding the calibration curve from the storage circuit 8. The analysis circuit 3 generates analysis data including information regarding the concentration of the detection target in the test sample based on the test data and calibration data.

(検量線の生成)
次に、本実施形態に係る自動分析装置1における検量線の生成の例について詳細に説明する。以下では、例えば、病院等において、上記の自動分析装置1を用いて複数の異なる濃度の標準試料のそれぞれの吸光度が測定され、測定された吸光度に基づき、検量線が生成される場合を例に説明する。なお、本実施形態に係る自動分析装置1は、検量線を生成する際には、検量線生成装置としての役割を果たすこととなる。
(Generation of calibration curve)
Next, an example of generation of a calibration curve in the automatic analyzer 1 according to the present embodiment will be described in detail. In the following, a case will be described in which the absorbance of each of a plurality of standard samples with different concentrations is measured using the automatic analyzer 1 described above in a hospital, etc., and a calibration curve is generated based on the measured absorbance. explain. Note that the automatic analyzer 1 according to the present embodiment plays a role as a calibration curve generation device when generating a calibration curve.

検量線の生成は、例えば、毎朝、病院の検査技師等の操作者により行われる。すなわち、操作者は、自動分析装置1を起動して、解析回路3の検量データ生成機能31を実行させる。解析回路3の検量データ生成機能31を実行すると、制御回路9は、分析機構2及び駆動機構4を制御して、検量線を生成し、この生成された検量線は検量データとして記憶回路8に記憶される。 The calibration curve is generated, for example, every morning by an operator such as a laboratory technician at a hospital. That is, the operator starts the automatic analyzer 1 and causes the analysis circuit 3 to execute the calibration data generation function 31. When the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 is executed, the control circuit 9 controls the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4 to generate a calibration curve, and the generated calibration curve is stored in the storage circuit 8 as calibration data. be remembered.

検量線を生成する際には、解析回路3及び制御回路9は、標準試料についてのタイムコース(反応曲線)を生成する。例えば、反応容器2011-1~2011-8へ、濃度が既知の標準試料S1~S8がそれぞれ分注される。例えば、標準試料S1の濃度は0であり、標準試料S2の濃度は0.5ng/mlであり、標準試料S3の濃度は1ng/mlであり、標準試料S4の濃度は2ng/mlであり、標準試料S5の濃度は4ng/mlであり、標準試料S6の濃度は8ng/mlであり、標準試料S7の濃度は16ng/mlであり、標準試料S8の濃度は32ng/mlであるとする。 When generating a calibration curve, the analysis circuit 3 and control circuit 9 generate a time course (reaction curve) for the standard sample. For example, standard samples S1 to S8 with known concentrations are dispensed into reaction vessels 2011-1 to 2011-8, respectively. For example, the concentration of standard sample S1 is 0, the concentration of standard sample S2 is 0.5 ng/ml, the concentration of standard sample S3 is 1 ng/ml, the concentration of standard sample S4 is 2 ng/ml, It is assumed that the concentration of the standard sample S5 is 4 ng/ml, the concentration of the standard sample S6 is 8 ng/ml, the concentration of the standard sample S7 is 16 ng/ml, and the concentration of the standard sample S8 is 32 ng/ml.

続いて、反応容器2011-1~2011-8へそれぞれ分注された標準試料S1~S8に、緩衝液である第1試薬が吐出されて添加される。第1試薬が添加された標準試料S1~S8は撹拌される。反応容器2011-1~2011-8に収容される混合液は、撹拌後、所定の温度で所定期間インキュベーションされる。インキュベーション後、反応容器2011-1~2011-8にそれぞれ収容される混合液に、標準試料中の検出対象と結合する成分が固定化された担体粒子を含む第2試薬が添加される。第2試薬が添加された混合液は撹拌される。 Subsequently, the first reagent, which is a buffer solution, is discharged and added to the standard samples S1 to S8 dispensed into the reaction vessels 2011-1 to 2011-8, respectively. Standard samples S1 to S8 to which the first reagent has been added are stirred. After stirring, the mixed liquids contained in the reaction containers 2011-1 to 2011-8 are incubated at a predetermined temperature for a predetermined period of time. After the incubation, a second reagent containing carrier particles on which a component that binds to the detection target in the standard sample is immobilized is added to the mixed liquid contained in each of the reaction containers 2011-1 to 2011-8. The mixture to which the second reagent is added is stirred.

反応容器2011-1~2011-8にそれぞれ収容される標準試料S1~S8、第1試薬、及び第2試薬の反応液は、所定の温度で所定期間インキュベーションされている間に光が照射される。具体的には、例えば、反応容器2011-1~2011-8には、標準試料S1~S8に第2試薬が添加された後、4.6秒の周期で33回、光源から光がそれぞれ照射される。反応容器2011-1~2011-8を透過した透過光は、光検出器により検出される。検出された光の強度に基づき、標準試料についての反応曲線であるタイムコースが取得される。すなわち、第1サイクルから第33サイクルのそれぞれで、反応液の吸光度が測定され、標準試料S1~S8のそれぞれについて、33回の吸光度が測定される。この測定結果である測定データが、標準データとなり、分析機構2から解析回路3に出力される。 The reaction solutions of the standard samples S1 to S8, the first reagent, and the second reagent contained in the reaction containers 2011-1 to 2011-8, respectively, are irradiated with light while being incubated at a predetermined temperature for a predetermined period of time. . Specifically, for example, after the second reagent is added to the standard samples S1 to S8, the reaction vessels 2011-1 to 2011-8 are each irradiated with light from a light source 33 times at a cycle of 4.6 seconds. be done. The transmitted light that has passed through the reaction vessels 2011-1 to 2011-8 is detected by a photodetector. Based on the detected light intensity, a time course, which is a reaction curve for the standard sample, is obtained. That is, in each of the first cycle to the 33rd cycle, the absorbance of the reaction solution is measured, and the absorbance is measured 33 times for each of the standard samples S1 to S8. The measurement data that is the measurement result becomes standard data and is output from the analysis mechanism 2 to the analysis circuit 3.

図3は、標準試料S1~S8についての測定値及びタイムコース(反応曲線)の例を表す図である。図3では、第17サイクルから第33サイクルにおいて、検出対象に関して濃度の異なる標準試料S1~S8を用いた反応液で測定された吸光度が表されている。図3において、四角印は吸光度の測定値を表し、各四角印を結んだ線は反応曲線を表す。反応曲線C1は、標準試料S1の各サイクルの吸光度に基づいて算出される。反応曲線C1と同様に、反応曲線C2~C8は、それぞれ標準試料S2~S8の各サイクルの吸光度に基づいて算出される。濃度が低い標準試料S2~S4については、反応時間の増加量と、吸光度の増加量とは、略比例関係にある。一方、濃度が中程度から高い標準試料S5~S8については、反応時間が経過すると、吸光度が飽和に近づく。 FIG. 3 is a diagram showing examples of measured values and time courses (reaction curves) for standard samples S1 to S8. FIG. 3 shows the absorbance measured from the 17th cycle to the 33rd cycle in reaction solutions using standard samples S1 to S8 having different concentrations with respect to the detection target. In FIG. 3, the square marks represent the measured values of absorbance, and the lines connecting the square marks represent the reaction curve. The reaction curve C1 is calculated based on the absorbance of each cycle of the standard sample S1. Similar to the reaction curve C1, the reaction curves C2 to C8 are calculated based on the absorbance of each cycle of the standard samples S2 to S8, respectively. For standard samples S2 to S4 with low concentrations, the amount of increase in reaction time and the amount of increase in absorbance are approximately proportional. On the other hand, for standard samples S5 to S8 with medium to high concentrations, the absorbance approaches saturation as the reaction time elapses.

この図3から分かるように、第2試薬に含まれる担体粒子の凝集反応は、試料の濃度が増大すると吸光度が飽和し、フック現象を起こす特性を有する。このため、本実施形態においては、標準試料S1~S8の反応曲線C1~C8に近似する近似関数を導出し、この導出した近似関数に基づいて検量線を生成する。特に、本実施形態においては、一次関数を用いて、反応曲線C1~C8を線形近似し、この一次関数に基づいて検量線を生成する。 As can be seen from FIG. 3, the aggregation reaction of the carrier particles contained in the second reagent has the characteristic that as the concentration of the sample increases, the absorbance becomes saturated, causing a hook phenomenon. Therefore, in this embodiment, an approximation function that approximates the reaction curves C1 to C8 of the standard samples S1 to S8 is derived, and a calibration curve is generated based on the derived approximation function. In particular, in this embodiment, the reaction curves C1 to C8 are linearly approximated using a linear function, and a calibration curve is generated based on this linear function.

図4乃至図6は、本実施形態において、反応曲線に近似する近似関数を導出する過程を説明する図である。すなわち、図4乃至図6は、ある標準試料についての測定値に基づいて生成された反応曲線の一例を示しており、実線が反応曲線を示しており、点線が近似関数を示している。また、グラフにおいては、縦軸が吸光度を表しており、横軸が時間(サイクル)を表している。 4 to 6 are diagrams for explaining the process of deriving an approximation function that approximates a reaction curve in this embodiment. That is, FIGS. 4 to 6 show examples of reaction curves generated based on measured values for a certain standard sample, with the solid line showing the reaction curve and the dotted line showing the approximate function. In the graph, the vertical axis represents absorbance, and the horizontal axis represents time (cycle).

まず図4に示すように、解析回路3の検量データ生成機能31は、第19サイクルから第33サイクルの反応曲線を、一次関数を用いて線形近似して、近似関数を導出する。すなわち、y=ax+bの形の一次関数で、第19サイクルから第33サイクルの反応曲線を近似する。 First, as shown in FIG. 4, the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 linearly approximates the reaction curves from the 19th cycle to the 33rd cycle using a linear function to derive an approximate function. That is, the reaction curves from the 19th cycle to the 33rd cycle are approximated by a linear function of the form y=ax+b.

次に、解析回路3の検量データ生成機能31は、導出した近似関数について決定係数を算出して、近似の精度を求める。ここで、決定係数とは、吸光度の測定値に基づいて生成された反応曲線と、これを近似した一次関数との間における近似の程度を示す値である。この決定係数が1に近いほど、両者が近似していることを意味する。換言すれば、本実施形態において近似関数を導出するとは、この決定係数が最も小さくなるように、y=ax+bの一次関数のパラメータaとパラメータbを求めることを意味する。この図4の例では、決定係数は0.0091である。このため、反応曲線と導出した一次関数との間の近似の精度は低く、両者はかけ離れていることが分かる。 Next, the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 calculates the coefficient of determination for the derived approximation function to determine the accuracy of the approximation. Here, the coefficient of determination is a value indicating the degree of approximation between the reaction curve generated based on the measured value of absorbance and the linear function that approximated the reaction curve. The closer this coefficient of determination is to 1, the more similar the two are. In other words, deriving an approximate function in this embodiment means finding parameters a and b of a linear function of y=ax+b so that the coefficient of determination is the smallest. In the example of FIG. 4, the coefficient of determination is 0.0091. Therefore, it can be seen that the accuracy of approximation between the reaction curve and the derived linear function is low, and the two are far apart.

このため、図5に示すように、解析回路3の検量データ生成機能31は、近似関数を導出する区間を狭める。本実施形態においては、反応曲線の始点である第19サイクルは不変にして、反応曲線の終点を、順次、始点の方向にずらして移動することにより、近似関数を導出する区間を短くしていく。これは、図3のタイムコース(反応曲線)から分かるように、フック現象が起こるのが33あるサイクルの内の終盤であり、このフック現象を避けて近似関数を導出できるようにするためである。また、濃度の高い標準試料S6~S8の反応曲線の形を観察すると、近似関数を導出する区間を短くすることにより、y=ax+bの一次関数で近似したとしても、決定係数の向上を期待できるからである。 Therefore, as shown in FIG. 5, the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 narrows the interval for deriving the approximate function. In this embodiment, the 19th cycle, which is the starting point of the reaction curve, is kept unchanged, and the end points of the reaction curve are sequentially shifted in the direction of the starting point, thereby shortening the interval for deriving the approximate function. . This is because, as can be seen from the time course (reaction curve) in Figure 3, the hook phenomenon occurs at the end of the 33 cycles, and this is to avoid this hook phenomenon and derive the approximate function. . Furthermore, by observing the shape of the reaction curves for standard samples S6 to S8 with high concentrations, it can be expected that by shortening the interval for deriving the approximation function, the coefficient of determination can be expected to improve even if it is approximated by a linear function of y=ax+b. It is from.

この図5の例では、終点を第33サイクルから、より早いサイクルである第27サイクルに移動して、第19サイクルから第27サイクルの反応曲線に近似する近似関数を導出する。このように近似関数を導出する区間を短くしたことにより、決定係数は0.7237に上昇している。本実施形態においては、この決定係数に所定の閾値を設定し、決定係数が所定の閾値を上回った場合に、導出した近似関数が反応曲線に所定の基準よりも高い精度で近似したと判定して、近似関数を決定する。ここでは、例えば決定係数の閾値を0.9であると仮定する。このため、図5に示した近似関数では、決定係数が閾値である0.9以下であるので、検量データ生成機能31は、さらに、近似関数を導出する区間を短くする。 In the example of FIG. 5, the end point is moved from the 33rd cycle to the 27th cycle, which is an earlier cycle, and an approximation function that approximates the reaction curve from the 19th cycle to the 27th cycle is derived. By shortening the interval for deriving the approximate function in this way, the coefficient of determination increases to 0.7237. In this embodiment, a predetermined threshold is set for this coefficient of determination, and when the coefficient of determination exceeds the predetermined threshold, it is determined that the derived approximation function approximates the reaction curve with higher accuracy than a predetermined standard. Then, determine the approximation function. Here, it is assumed that the threshold value of the coefficient of determination is 0.9, for example. Therefore, in the approximation function shown in FIG. 5, since the coefficient of determination is less than or equal to the threshold value of 0.9, the calibration data generation function 31 further shortens the interval for deriving the approximation function.

すなわち、図6に示すように、解析回路3の検量データ生成機能31は、終点を第27サイクルから、より早いサイクルである第24サイクルに移動して、第19サイクルから第24サイクルの反応曲線に近似する近似関数を導出する。このように近似関数を導出する区間を短くしたことにより、決定係数は0.9898に上昇している。この結果、図6の近似関数が決定係数の閾値である0.9を上回ったことになるので、解析回路3の検量データ生成機能31は、このときの近似関数であるy=ax+bのパラメータaとパラメータbを、この反応曲線に近似する近似関数のパラメータとして決定する。つまり、算出されたパラメータaとパラメータbに基づいて定まるy=ax+bが、この図4乃至図6に示されている反応曲線の近似関数であると決定し、近似関数の導出が終了する。 That is, as shown in FIG. 6, the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 moves the end point from the 27th cycle to the 24th cycle, which is an earlier cycle, and changes the reaction curve from the 19th cycle to the 24th cycle. Derive an approximation function that approximates . By shortening the interval for deriving the approximate function in this way, the coefficient of determination increases to 0.9898. As a result, the approximate function in FIG. 6 exceeds the threshold value of 0.9 for the coefficient of determination, so the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 determines the parameter a of the approximate function y=ax+b at this time. and parameter b are determined as parameters of an approximation function that approximates this reaction curve. That is, y=ax+b, which is determined based on the calculated parameters a and b, is determined to be the approximate function of the reaction curves shown in FIGS. 4 to 6, and the derivation of the approximate function is completed.

解析回路3の検量データ生成機能31は、この近似関数の導出をすべての標準試料S1~S8の反応曲線C1~C8について行う。図7は、標準試料S1~S8について導出した近似関数を、それぞれの反応曲線C1~C8に重ねて示したタイムコースの一例を表しており、実線が反応曲線を示しており、点線が近似関数を示している。また、この図7においては、近似関数を導出した区間だけ、反応曲線と近似関数を描いている。このため、反応曲線と近似関数の横軸の長さは、反応曲線における近似関数を導出した区間の長さを示している。 The calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 derives this approximate function for the reaction curves C1 to C8 of all standard samples S1 to S8. FIG. 7 shows an example of a time course in which the approximate functions derived for the standard samples S1 to S8 are superimposed on the respective reaction curves C1 to C8, with the solid line indicating the reaction curve and the dotted line indicating the approximate function. It shows. Further, in FIG. 7, the reaction curve and the approximate function are drawn only in the section where the approximate function was derived. Therefore, the length of the horizontal axis of the reaction curve and the approximation function indicates the length of the section in the reaction curve from which the approximation function was derived.

図7に示すように、標準試料S1~S8の反応曲線C1~C8は、試料の濃度が高くなると、近似関数を導出する区間が短くっている。これは、図3からも分かるように、標準試料の濃度が高くなると、反応曲線の長い区間を一次関数であるy=ax+bで近似することが難しく、どうしても反応曲線の短い区間の近似しかできないためである。このため、結果として、高い濃度でフック現象が発生する、反応曲線の終盤のサイクルを排除することができる。 As shown in FIG. 7, in the reaction curves C1 to C8 of the standard samples S1 to S8, as the concentration of the sample increases, the interval for deriving the approximate function becomes shorter. This is because, as can be seen from Figure 3, as the concentration of the standard sample increases, it becomes difficult to approximate the long section of the reaction curve with the linear function y=ax+b, and it is only possible to approximate the short section of the reaction curve. It is. As a result, cycles at the end of the reaction curve where the hook phenomenon occurs at high concentrations can be eliminated.

次に、解析回路3の検量データ生成機能31は、近似関数y=ax+bの傾きaを測定値として、検量線を生成する。すなわち、パラメータaを、標準試料の既知の濃度に対する測定値として、検量線を生成する。図8は、解析回路3の検量データ生成機能31が生成した検量線の一例を示す図である。この図8は、図7に例示した標準試料S1~S8のそれぞれについて、近似関数y=ax+bの傾きを示すパラメータaを測定値として検量線を描いている。また、図8に示すグラフにおいては、縦軸が傾きaを表しており、横軸が濃度を表している。 Next, the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3 generates a calibration curve using the slope a of the approximation function y=ax+b as the measured value. That is, a calibration curve is generated using parameter a as a measured value for a known concentration of a standard sample. FIG. 8 is a diagram showing an example of a calibration curve generated by the calibration data generation function 31 of the analysis circuit 3. In FIG. 8, a calibration curve is drawn for each of the standard samples S1 to S8 illustrated in FIG. 7, using a parameter a indicating the slope of the approximation function y=ax+b as a measured value. Further, in the graph shown in FIG. 8, the vertical axis represents the slope a, and the horizontal axis represents the concentration.

具体的には、図7に示したグラフにおける標準試料S1~S8の近似関数の傾きaは、それぞれ、0.0001、0.0106、0.0157、0.0215、0.0261、0.0329、0.0422、0.0573である。また、標準試料S1~S8の濃度は、それぞれ、0、0.5ng/ml、1ng/ml、2ng/ml、4ng/ml、8ng/ml、16ng/ml、32ng/mlであるので、これらを、図8に示すグラフにプロットし、各プロットの間を線形補間して直線で結ぶことにより、本実施形態に係る検量線が生成される。或いは、各プロットを滑らかな曲線で結ぶことにより、検量線を生成するようにしてもよい。このようにして生成された検量線は、検量データとして、解析回路3から記憶回路8に出力されて記憶される。 Specifically, the slope a of the approximate function for standard samples S1 to S8 in the graph shown in FIG. 7 is 0.0001, 0.0106, 0.0157, 0.0215, 0.0261, and 0.0329, respectively. , 0.0422, 0.0573. In addition, the concentrations of standard samples S1 to S8 are 0, 0.5 ng/ml, 1 ng/ml, 2 ng/ml, 4 ng/ml, 8 ng/ml, 16 ng/ml, and 32 ng/ml, respectively. , are plotted on the graph shown in FIG. 8, and the calibration curve according to the present embodiment is generated by linearly interpolating and connecting each plot with a straight line. Alternatively, a calibration curve may be generated by connecting each plot with a smooth curve. The calibration curve generated in this manner is output from the analysis circuit 3 to the storage circuit 8 and stored as calibration data.

また、解析回路3は、検量データに加えて、測光タイミングに関するデータも、記憶回路8に記憶させる。すなわち、本実施形態においては、検量線を生成する際に標準試料S1~S8を測定するタイミングである、1サイクルが4.6秒の周期で33回、測定するという情報も、測光タイミングに関するデータとして記憶回路8に記憶される。 Furthermore, the analysis circuit 3 causes the storage circuit 8 to store data regarding photometry timing in addition to the calibration data. That is, in this embodiment, the information that measurements are performed 33 times with a cycle of 4.6 seconds, which is the timing at which standard samples S1 to S8 are measured when generating a calibration curve, is also included in the data regarding the photometry timing. It is stored in the memory circuit 8 as .

これらの説明から明らかなように、自動分析装置1を用いて検量線を生成する際には、この自動分析装置1は、検量線生成装置として機能することが分かる。 As is clear from these descriptions, when the automatic analyzer 1 is used to generate a calibration curve, the automatic analyzer 1 functions as a calibration curve generator.

(分析データの生成)
次に、自動分析装置1が分析データを生成する動作の例を詳細に説明する。
(Generation of analysis data)
Next, an example of the operation in which the automatic analyzer 1 generates analysis data will be described in detail.

制御回路9は、例えば、操作者から測定動作開始の指示が入力されると、測定制御機能93を実行する。測定制御機能93を実行すると制御回路9は、分析機構2及び駆動機構4を制御することで所定の検査項目についての被検データを生成する。 For example, the control circuit 9 executes the measurement control function 93 when an instruction to start a measurement operation is input from an operator. When the measurement control function 93 is executed, the control circuit 9 generates test data regarding a predetermined test item by controlling the analysis mechanism 2 and the drive mechanism 4.

解析回路3は、分析機構2から出力された被検データを受信すると、分析データ生成機能32を実行する。分析データ生成機能32を実行すると解析回路3は、被検データに対応する検査項目について記憶されている検量データを記憶回路8から読み出す。 When the analysis circuit 3 receives the test data output from the analysis mechanism 2, it executes the analysis data generation function 32. When the analysis data generation function 32 is executed, the analysis circuit 3 reads out the calibration data stored for the test item corresponding to the test data from the storage circuit 8.

図9は、被検データの反応曲線Dを、図3のタイムコース(反応曲線)に追加的に描いたグラフを示している。すなわち、解析回路3の分析データ生成機能32は、不知の濃度の検出対象を含む被検試料について、検量線を生成した測光タイミングと同じ測光タイミングで反応液の吸光度を測定した測定結果と、その測光タイミングとに基づいて、反応曲線Dを生成する。そして、図4乃至図6を用いて説明したのと同様の手法で、被検データの反応曲線Dについて、この反応曲線Dを近似する関数である近似関数を導出する。上述したように、本実施形態においては、この近似関数は、y=ax+bの一次関数である。 FIG. 9 shows a graph in which the reaction curve D of the test data is additionally drawn on the time course (reaction curve) of FIG. 3. That is, the analysis data generation function 32 of the analysis circuit 3 generates the measurement result of measuring the absorbance of the reaction solution at the same photometry timing as the photometry timing that generated the calibration curve for the test sample containing the detection target at an unknown concentration, and the measurement result. A reaction curve D is generated based on the photometry timing. Then, using the same method as explained using FIGS. 4 to 6, an approximation function that approximates the reaction curve D of the test data is derived for the reaction curve D of the test data. As mentioned above, in this embodiment, this approximation function is a linear function of y=ax+b.

次に、解析回路3の分析データ生成機能32は、y=ax+bの傾きaを、その被検試料の測定値として用いて、図8に示す検量線に基づいて、試料の濃度を算出する。図9の例では、近似関数y=ax+bの傾きaが0.0238であったとすると、図8の検量線から、被検試料の濃度は3ng/mlと算出することができる。すなわち、本実施形態においては、検量線の各プロットの間は、線形補間をして直線で結ぶこととしているので、プロットとプロットの間に位置する測定値のプロットを按分することにより、濃度を算出することができる。 Next, the analysis data generation function 32 of the analysis circuit 3 calculates the concentration of the sample based on the calibration curve shown in FIG. 8, using the slope a of y=ax+b as the measured value of the test sample. In the example of FIG. 9, if the slope a of the approximation function y=ax+b is 0.0238, the concentration of the test sample can be calculated as 3 ng/ml from the calibration curve of FIG. In other words, in this embodiment, each plot of the calibration curve is connected with a straight line by linear interpolation, so the concentration can be determined by proportionally dividing the plot of the measured values located between the plots. It can be calculated.

図10は、このプロットとプロットの間を按分する処理を説明するためのグラフを示しており、図8に示す検量線のうち標準試料S4と標準試料S5の部分を拡大して示すグラフである。上記の例では、標準試料S4のプロットは、傾きaが0.0215であり、濃度が2ng/mlである。一方、標準試料S5のプロットは、傾きが0.0261であり、濃度が4ng/mlである。このため、(0.0238-0.0215):(0.0261-0.0238)=(x-2):(4-x)の関係が成り立つ。これによりxを求めることにより、被検試料の濃度が3ng/mlであると算出される。 FIG. 10 shows a graph for explaining the process of proportionally dividing between plots, and is a graph showing an enlarged view of the standard sample S4 and standard sample S5 of the calibration curve shown in FIG. . In the above example, the plot of standard sample S4 has a slope a of 0.0215 and a concentration of 2 ng/ml. On the other hand, the plot of standard sample S5 has a slope of 0.0261 and a concentration of 4 ng/ml. Therefore, the relationship (0.0238-0.0215):(0.0261-0.0238)=(x-2):(4-x) holds true. By determining x from this, the concentration of the test sample is calculated to be 3 ng/ml.

次に、解析回路3の分析データ生成機能32は、算出された被検試料の濃度を分析データとして制御回路9に出力する。制御回路9は、算出された被検試料の検出対象の濃度を含む分析データを、例えば、記憶回路8に記憶させ、操作者が事後的に測定結果として取得できるようにする。また、制御回路9は、算出された被検試料の検出対象の濃度を含む分析データを、例えば、出力インターフェース6から出力して、表示回路で表示したり、印刷回路で印刷したりすることもできる。 Next, the analysis data generation function 32 of the analysis circuit 3 outputs the calculated concentration of the test sample to the control circuit 9 as analysis data. The control circuit 9 stores the analysis data including the calculated concentration of the detection target in the test sample in the storage circuit 8, for example, so that the operator can obtain it as a measurement result after the fact. Further, the control circuit 9 may output the analysis data including the calculated concentration of the detection target of the test sample from the output interface 6 and display it on a display circuit or print it on a print circuit. can.

これらの説明から明らかなように、解析回路3の分析データ生成機能32は、被検試料の検出対象の濃度を算出する際には、検出対象濃度算出部として機能することがわかる。 As is clear from these descriptions, the analysis data generation function 32 of the analysis circuit 3 functions as a detection target concentration calculation unit when calculating the concentration of the detection target in the test sample.

以上のように、本実施形態に係る自動分析装置1によれば、標準試料S1~S8を用いて検量線を生成する際に、標準試料S1~S8のタイムコースにおけるそれぞれの反応曲線に近似する近似関数を導出し、この近似関数のパラメータの少なくとも一部を用いて、検量線を生成することとしたので、タイムコースにフック現象が生じていたとしても、精度よく被検試料の測定が可能な検量線を生成することができる。 As described above, according to the automatic analyzer 1 according to the present embodiment, when generating a calibration curve using the standard samples S1 to S8, each reaction curve in the time course of the standard samples S1 to S8 is approximated. By deriving an approximation function and using at least some of the parameters of this approximation function to generate a calibration curve, it is possible to accurately measure the test sample even if a hook phenomenon occurs in the time course. A standard curve can be generated.

(変形例)
上述した実施形態においては、検量データ生成機能31が反応曲線の近似に用いる近似関数は一次関数であったが、この近似関数は一次関数に限られるものではない。例えば、近似関数は、n次関数(nは自然数)を用いることができる。この場合、検量データ生成機能31が用いる近似関数は、
で表すことができ、検量線を生成する上での測定値として
を用いることができる。
(Modified example)
In the embodiment described above, the approximation function used by the calibration data generation function 31 to approximate the reaction curve is a linear function, but this approximation function is not limited to a linear function. For example, an nth-order function (n is a natural number) can be used as the approximation function. In this case, the approximation function used by the calibration data generation function 31 is
can be expressed as the measured value for generating the calibration curve.
can be used.

具体的には、n=2の場合、すなわち、近似関数が二次関数である場合には、y=a+ax+aの形で、反応曲線を近似することができる。この場合、例えば、検量データ生成機能31は、導出された近似関数y=a+ax+aにおけるa +a を測定値として、検量線を生成するようにすることができる。検量線の測定値を算出するにあたり、どのパラメータをどのように用いるかは、試験等を繰り返して決定される事項であり、様々な手法を採用し得る。つまり、検量線を生成する際に用いる縦軸である測定値も、種々のものを採用することができる。 Specifically, when n=2, that is, when the approximation function is a quadratic function, the reaction curve can be approximated in the form y=a 2 x 2 +a 1 x+a 0 . In this case, for example, the calibration data generation function 31 can generate a calibration curve using a 2 2 + a 1 2 in the derived approximation function y = a 2 x 2 + a 1 x + a 0 as a measured value. . Which parameters to use and how to calculate the measured values of the calibration curve is a matter to be determined through repeated tests, and various methods may be employed. That is, various measured values, which are the vertical axis used when generating the calibration curve, can be employed.

例えば、
の近似関数に対して、検量線を生成する上での測定値として、三乗和である
を用いることができる。或いは、
の近似関数に対して、測定値として、二乗平均である
を用いることもできる。さらには、すべてのパラメータを用いる必要はなく、例えば、特定のパラメータ1つを用いて、測定値を算出するようにしてもよい。
for example,
For the approximation function, the measured value in generating the calibration curve is the sum of cubes.
can be used. Or,
For the approximation function, the measured value is the root mean squared value.
You can also use Furthermore, it is not necessary to use all the parameters; for example, the measured value may be calculated using one specific parameter.

また、検量データ生成機能31が反応曲線の近似に用いる近似関数は、n次関数ではなく、ロジスティックカーブ等の非線形曲線や、スプライン等の補間曲線を用いることもできる。すなわち、反応曲線を近似することの可能なあらゆる種類の関数を、近似関数として用いることができる。 Furthermore, the approximation function used by the calibration data generation function 31 to approximate the reaction curve is not an n-th order function, but may also be a nonlinear curve such as a logistic curve or an interpolation curve such as a spline. That is, all kinds of functions that can approximate the reaction curve can be used as the approximation function.

さらに、上述した実施形態においては、反応曲線と近似関数との間の近似の程度を表す決定係数を用いて、導出した近似関数が反応曲線に所定の基準よりも高い精度で近似したと判断して、その近似関数をその反応曲線を近似する近似関数と決定したが、近似の精度を測る基準は決定係数に限るものでは無い。例えば、反応曲線と近似関数との間の相関係数を用いて近似の程度を測り、両者が所定の基準よりも高い精度で近似したかどうかを判定するようにしてもよい。 Furthermore, in the embodiment described above, it is determined that the derived approximation function approximates the reaction curve with higher accuracy than a predetermined standard, using a coefficient of determination representing the degree of approximation between the reaction curve and the approximation function. Therefore, the approximation function was determined to be the approximation function that approximates the reaction curve, but the criterion for measuring the accuracy of the approximation is not limited to the coefficient of determination. For example, the degree of approximation may be measured using a correlation coefficient between the reaction curve and the approximation function, and it may be determined whether the two are approximated with higher accuracy than a predetermined standard.

また、上述した実施形態においては、反応曲線と近似関数との間の近似の精度が所定の基準以下である場合には、反応曲線における近似関数を導出する区間の終点をより早いサイクルに移動することにより、その区間を短くするようにしたが、反応曲線の近似関数を導出する区間を短くする手法は、これに限るものでは無い。例えば、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点をより遅いサイクルに移動することにより、その区間を短くしてもよい。 Furthermore, in the embodiment described above, if the accuracy of the approximation between the reaction curve and the approximation function is below a predetermined standard, the end point of the section for deriving the approximation function in the reaction curve is moved to an earlier cycle. However, the method of shortening the interval for deriving the approximation function of the reaction curve is not limited to this. For example, the interval for deriving the approximation function in the reaction curve may be shortened by moving the starting point of the interval to a slower cycle.

さらには、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点と終点の双方を移動することにより、その区間を短くしてもよい。すなわち、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点をより遅いサイクルに移動し、その終点をより早いサイクルに移動するようにしてもよい。この場合、始点の移動量と終点の移動量は同じであってもよいし、異なっていてもよい。 Furthermore, the interval may be shortened by moving both the start point and the end point of the interval for deriving the approximation function in the reaction curve. That is, the starting point of the section for deriving the approximation function in the reaction curve may be moved to a later cycle, and the end point thereof may be moved to an earlier cycle. In this case, the amount of movement of the starting point and the amount of movement of the end point may be the same or different.

例えば、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点を2サイクル分遅くし、その終点も2サイクル分早くするようにしてもよい。或いは、例えば、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点を1サイクル分遅くし、その終点を3サイクル分早くするようにしてもよい。 For example, the starting point of the section for deriving the approximation function in the reaction curve may be delayed by two cycles, and the ending point may also be delayed by two cycles. Alternatively, for example, the starting point of the section for deriving the approximation function in the reaction curve may be delayed by one cycle, and the ending point thereof may be delayed by three cycles.

さらには、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点と終点を交互に移動するようにしてもよい。例えば、反応曲線と近似関数との間の近似の精度が所定の基準以下である場合には、まず反応曲線における近似関数を導出する区間の始点をより遅いサイクルに移動し、それでも近似の精度が所定の基準以下である場合には、その終点をより早いサイクルに移動するようにしてもよい。 Furthermore, the starting point and ending point of the section for deriving the approximation function in the reaction curve may be alternately moved. For example, if the accuracy of the approximation between the response curve and the approximation function is below a predetermined criterion, first move the starting point of the interval in the reaction curve from which the approximation function is derived to a slower cycle, and the accuracy of the approximation still remains. If it is below a predetermined standard, the end point may be moved to an earlier cycle.

以上のことから分かるように、反応曲線と近似関数との間の近似の精度が所定の基準以下である場合には、検量データ生成機能31は、反応曲線における近似関数を導出する区間の始点及び終点の少なくとも一方を移動することにより、その区間を短くするようにすることができる。 As can be seen from the above, when the accuracy of the approximation between the reaction curve and the approximation function is below a predetermined standard, the calibration data generation function 31 By moving at least one of the end points, the section can be shortened.

以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規な装置および方法は、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明した装置および方法の形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲およびこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。 Although several embodiments have been described above, these embodiments are presented only as examples and are not intended to limit the scope of the invention. The novel apparatus and methods described herein can be implemented in a variety of other forms. Furthermore, various omissions, substitutions, and changes can be made to the apparatus and method described in this specification without departing from the spirit of the invention. The appended claims and their equivalents are intended to cover such forms and modifications as fall within the scope and spirit of the invention.

1…自動分析装置、2…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5…入力インターフェース、6…出力インターフェース、7…通信インターフェース、8…記憶回路、9…制御回路、31…検量データ生成機能、32…分析データ生成機能、91…システム制御機能、92…校正制御機能、93…測定制御機能、201…反応ディスク、202…恒温部、203…サンプルディスク、204…第1試薬庫、205…第2試薬庫、206…サンプル分注アーム、207…サンプル分注プローブ、208…第1試薬分注アーム、209…第1試薬分注プローブ、210…第2試薬分注アーム、211…第2試薬分注プローブ、212…第1攪拌ユニット、213…第2攪拌ユニット、214…測光ユニット、215…洗浄ユニット、2011…反応容器、C1~C8…反応曲線、D…反応曲線、S1~S8…標準試料 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Automatic analyzer, 2...Analysis mechanism, 3...Analysis circuit, 4...Drive mechanism, 5...Input interface, 6...Output interface, 7...Communication interface, 8...Storage circuit, 9...Control circuit, 31...Calibration data Generation function, 32... Analysis data generation function, 91... System control function, 92... Calibration control function, 93... Measurement control function, 201... Reaction disk, 202... Constant temperature section, 203... Sample disk, 204... First reagent storage, 205... Second reagent storage, 206... Sample dispensing arm, 207... Sample dispensing probe, 208... First reagent dispensing arm, 209... First reagent dispensing probe, 210... Second reagent dispensing arm, 211... Second reagent dispensing probe, 212...First stirring unit, 213...Second stirring unit, 214...Photometry unit, 215...Washing unit, 2011...Reaction container, C1-C8...Reaction curve, D...Reaction curve, S1- S8...Standard sample

Claims (10)

反応容器に既知の濃度の検出対象を含む標準試料と、前記検出対象と結合する成分が固定化された不溶性担体を含む試薬とを吐出する分注部と、
前記標準試料と前記試薬との反応液を光学的に測定する測光部と、
前記測光部で測定した複数の異なる濃度の前記標準試料の測定結果を表す反応曲線に近似する近似関数を導出し、この導出した近似関数のパラメータに基づいて、検量線を生成する検量線生成部であって、測定結果に基づいて、前記反応曲線における前記近似関数を導出する区間を変更する、検量線生成部と、
を備える検量線生成装置であって、
前記検量線生成部は、前記測定結果に基づいて導出した近似関数の前記反応曲線への近似の精度に基づいて、前記反応曲線における前記近似関数を導出する区間を変更する、検量線生成装置
a dispensing unit that dispenses a standard sample containing a detection target at a known concentration into a reaction container and a reagent containing an insoluble carrier on which a component that binds to the detection target is immobilized ;
a photometry unit that optically measures a reaction solution of the standard sample and the reagent;
a calibration curve generation unit that derives an approximation function that approximates a reaction curve representing the measurement results of the standard samples at a plurality of different concentrations measured by the photometry unit, and generates a calibration curve based on the parameters of the derived approximation function; a calibration curve generation unit that changes an interval for deriving the approximation function in the reaction curve based on the measurement results;
A calibration curve generation device comprising:
The calibration curve generation unit is configured to change an interval in the reaction curve for deriving the approximation function based on the accuracy of approximation of the approximation function derived based on the measurement results to the reaction curve.
前記検量線生成部は、導出した近似関数が前記反応曲線に所定の基準よりも高い精度で近似した場合に、その導出した近似関数を前記反応曲線の近似関数とする、請求項に記載の検量線生成装置。 2. The calibration curve generation unit, when the derived approximation function approximates the reaction curve with higher accuracy than a predetermined standard, sets the derived approximation function as the approximation function of the reaction curve. Calibration curve generator. 前記検量線生成部は、導出した近似関数の前記反応曲線への近似の精度が、前記所定の基準以下であった場合には、前記反応曲線における前記近似関数を導出する区間を短くして、再度、その反応曲線に近似する近似関数を導出する、請求項に記載の検量線生成装置。 If the accuracy of approximation of the derived approximation function to the reaction curve is below the predetermined standard, the calibration curve generation unit shortens the section of the reaction curve in which the approximation function is derived, The calibration curve generation device according to claim 2 , wherein an approximation function that approximates the reaction curve is derived again. 前記検量線生成部は、前記反応曲線における前記近似関数を導出する区間を短くする際には、前記導出する区間の始点及び終点の少なくとも一方を移動する、請求項に記載の検量線生成装置。 The calibration curve generation device according to claim 3 , wherein the calibration curve generation unit moves at least one of a start point and an end point of the section to be derived when shortening the section in the reaction curve for deriving the approximate function. . 前記検量線生成部は、前記反応曲線と前記近似関数との間の近似の精度を、吸光度の測定値に基づいて生成された前記反応曲線と、これを近似した前記近似関数との間における近似の程度を示す値である決定係数を算出して判定する、請求項乃至請求項のいずれかに記載の検量線生成装置。 The calibration curve generation unit determines the accuracy of approximation between the reaction curve and the approximation function by determining the accuracy of approximation between the reaction curve generated based on the measured value of absorbance and the approximation function that approximates the reaction curve. 5. The calibration curve generation device according to claim 4 , wherein the calibration curve generation device makes the determination by calculating a coefficient of determination , which is a value indicating the degree of . 前記検量線生成部は、導出した近似関数の前記決定係数が、所定の閾値を上回った場合に、導出した近似関数が前記反応曲線に所定の基準よりも高い精度で近似したと判定する、請求項に記載の検量線生成装置。 The calibration curve generation unit determines that the derived approximation function approximates the reaction curve with higher accuracy than a predetermined standard when the coefficient of determination of the derived approximation function exceeds a predetermined threshold. The calibration curve generation device according to item 5 . 前記近似関数は、n次関数(nは自然数)である、請求項1乃至請求項のいずれかに記載の検量線生成装置。 The calibration curve generation device according to any one of claims 1 to 6 , wherein the approximation function is an nth-order function (n is a natural number). 前記近似関数は、y=ax+bの一次関数であり、前記検量線生成部は、パラメータaを、前記標準試料の既知の濃度に対する測定値として、検量線を生成する、請求項に記載の検量線生成装置。 The calibration according to claim 7 , wherein the approximation function is a linear function of y=ax+b, and the calibration curve generation unit generates the calibration curve using parameter a as a measured value for a known concentration of the standard sample. Line generator. 前記検量線生成部が生成した検量線を記憶する記憶部をさらに備える、請求項1乃至請求項のいずれかに記載の検量線生成装置。 The calibration curve generation device according to any one of claims 1 to 8 , further comprising a storage unit that stores the calibration curve generated by the calibration curve generation unit. 前記分注部は、不知の濃度の前記検出対象を含む被検試料に、前記試薬を吐出して添加し、
前記測光部は、前記被検試料に前記試薬が添加された反応液を光学的に測定するとともに、
前記測光部で測定した前記被検試料の測定結果を表す反応曲線に近似する近似関数を導出し、この導出した近似関数のパラメータと、前記記憶部から読み出した検量線とに基づいて、前記被検試料の前記検出対象の濃度を算出する検出対象濃度算出部と、
請求項に記載の検量線生成装置と、
を備える自動分析装置。
The dispensing unit dispenses and adds the reagent to the test sample containing the detection target at an unknown concentration,
The photometry section optically measures a reaction solution in which the reagent is added to the test sample, and
An approximation function that approximates the reaction curve representing the measurement result of the test sample measured by the photometry unit is derived, and the test sample is calculated based on the parameters of the derived approximation function and the calibration curve read from the storage unit. a detection target concentration calculation unit that calculates the concentration of the detection target in the test sample;
A calibration curve generation device according to claim 9 ;
An automatic analyzer equipped with
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