JP2019053009A - 超音波疲労試験機用治具 - Google Patents

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Abstract

【課題】 各種材料の試験片の設計を容易にするとともに、試験片に高応力を繰り返し与える疲労試験を行うことが可能な超音波疲労試験機用治具を提供する。【解決手段】 一対の治具10は、互いに同じ質量を有するものであり、試験片Sの中央部の応力が希望値となるように試験片形状を考慮して重さが調整されている。すなわち、この治具10は、試験片Sの共振周波数および応力を調整するための重さ調整具として機能する。上下の治具10は、上側の治具10の重心と下側の治具10の重心が試験片Sの中央部を通る垂直線上に位置するように、試験片Sの両端部に取り付けられる。【選択図】 図2

Description

この発明は、超音波により試験片を共振させて疲労試験を行うときに試験片に装着する超音波疲労試験機用治具に関する。
超音波を利用して試験片に振動を与え、材料の疲労寿命を評価する超音波疲労試験では、例えば、20kHzの正弦波振動に試験片を共振させることにより、試験片に繰り返し応力を負荷している。超音波疲労試験機においては、超音波振動子からの超音波振動をホーンにより増幅して試験片に伝達している。このため、試験片を確実にホーンに装着する必要がある。試験片のホーンへの装着は、振動エネルギーの伝達性の観点から、ネジ結合により行われている(特許文献1参照)。
図9は、従来の丸形試験片の形状と応力曲線および振幅曲線との関係を示す説明図である。この図において、紙面左側に丸形試験片を示し、紙面右側に軸方向の応力曲線Pを破線で変位曲線Eを実線で示している。
超音波疲労試験用の試験片は、超音波振動子からの超音波振動と同じ共振周波数を持つ必要がある。したがって、図9に示すように、試験片の形状は、ホーンの試験片の取り付け位置Bでの応力振幅がゼロとなり(変位振動の腹となる)、試験片の中央部の位置Cの応力振幅が最大となる(変位振動の節となる)ように設計される。
特開平5−87719号公報
金属材料の場合、ホーンの先端に形成された雌ネジに対応する雄ネジを、材料を加工して試験片を製作する際に、試験片の本体と一体的に形成している(特許文献1、図9参照)。超音波疲労試験機は、標準的な丸形試験片用に設計されており、板状試験片を超音波疲労試験用に製作する場合でも、丸形試験片の場合と同様にホーンの雌ネジに対応するネジ径の雄ネジを形成する必要がある。板状試験片の板厚が、ネジ径より十分厚い材料であればよいが、ネジ径より薄い板厚の試験片を製作したい場合には、精度の高いネジ加工を行うことが要求され、板状試験片の製作を困難なものにしている。
また、近年では高強度鋼に対して、1000MPa級の高い応力での疲労試験が望まれている。一般的な丸形試験片用に設計された超音波疲労試験機で板状試験片に試験を行うと、板状では丸形に比べ試験片両端の質量が減るため、試験片の中央部と両端部の幅の寸法比率が同程度の場合、共振時の中央部での応力が丸形試験片に比べて半分以下になる。
図10は、板状試験片モデルの共振シミュレーションを示す図である。なお、図10では、共振時の中央部での応力が丸形試験片の場合と同等となるように設計した板状試験片を中央部で切断した1/2モデルを示している。図10(a)は、共振前の状態を示している。図10(b)は、一般的な超音波疲労試験機で実現できる最大の正弦波応力波形を試験片に与えた状態を示し、共振前の試験片を破線で、共振時に横ブレが生じている試験片を実線で示している。
図10の板状試験片は、中央部の径よりも両端部の幅寸法を大きくすることで、中央部の応力が丸形試験片の場合と同等となるように設計されている。正常な試験では、試験片は波の進行方向と平行に縦振動する(図10(a)の矢印Aの方向)。しかしながら、板状試験片では、図10(b)に実線で示すような横ブレが縦振動と近い周波数で発生し、正常な試験が妨げられてしまう。このように、高応力に対応した板状試験片の製作が困難な場合がある。
上述したように、試験片の中央部に希望する応力をかけるために、試験片の両端部の質量が中央部に比べて十分大きくなるように材料そのものを加工するには限界がある。一方で、試験片としての形状加工が難しい材料もある。そのような材料として、例えば、近年開発が進んでいるCFRP(炭素繊維強化プラスチック)などの複合材料がある。複合材料では、材料を直接ネジ加工することや、繊維の積層方向に並行にタップ加工することなど、材料を従来の超音波疲労試験用の試験片形状に加工することが困難であり、高応力に対応した試験片の製作が困難となっている。
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、各種材料の試験片の設計を容易にするとともに、試験片に高応力を繰り返し与える疲労試験を行うことが可能な超音波疲労試験機用治具を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、超音波振動子からの振動をホーンで増幅し、前記ホーンの先端に接続された試験片を共振させる疲労試験に使用する超音波疲労試験機用治具であって、本体部と、前記試験片の端部を保持するつかみ部とを有し、前記試験片の両端に取り付けて、前記試験片の両端部の質量を調整することを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の超音波疲労試験機用治具において、前記つかみ部とは逆側となる前記本体部の端部に、前記ホーンに接続するためのネジ部が設けられる。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の超音波疲労試験機用治具において、前記本体部の端部を前記ホーンに接続するときは、前記本体部と前記ホーンとの間に調整板を介挿し、前記本体部の端部を自由端とするときは、前記自由端に調整板を取り付けることにより、前記試験片の両端部の質量を調整する。
請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の超音波疲労試験機用治具において、前記つかみ部は、前記試験片の端部を保持するにあたって、ネジを使用した押圧力により前記試験片の端部を挟持する押圧力発生部材を有する。
請求項5に記載の発明は、請求項4に記載の超音波疲労試験機用治具において、前記押圧力発生部材の重さを変更することにより、前記試験片の両端部の質量を調整する。
請求項1から請求項5に記載の発明によれば、この超音波疲労試験機用治具を試験片の両端部に取り付けることで、試験片の端部側の質量を増すことができる。これにより、試験片自体の端部の質量を大きくすることなく、試験片の中央部に対して試験片の端部側の質量を大きくすることができ、試験片の中央部に目標とする高応力を繰り返し与えることが可能となる。したがって、丸形試験片用に構成された超音波疲労試験機の容量を上げることなく、そのままの装置構成でも、試験片に対して、1000MPa級の高い応力での疲労試験を実行することが可能となる。また、この超音波疲労試験機用治具を試験片の両端部に取り付けることで、試験片製作時に超音波疲労試験機のホーンに接続するネジ部を試験片自体に設ける必要がなく、ネジ加工が困難な材料の超音波疲労試験が可能となる。異なる重さの超音波疲労試験機用治具の対を用意しておけば、計算で求めた長さで試作した試験片では、望む共振周波数の精度が出ない場合でも、単純なばね・マス系と仮定すると共振周波数ωは√(ばね定数/質量)となるので、試験片に装着する超音波疲労試験機用治具を異なる重さのものに交換することで、共振周波数の調整が容易に行える。このため、従来のように、長さの異なる調整用試験片を製作し、それぞれの共振周波数を実測して最適な試験片長さを決める必要がなくなり、試験片の製作が容易になる。
請求項3に記載の発明によれば、調整板により、試験片の両端部の質量を調整することから、調整板の枚数や厚みを調整することにより、試験片の中央部に与える目標応力に応じた共振周波数の微調整を容易に行うことが可能となる。
請求項4に記載の発明によれば、一組の超音波疲労試験機用治具を、試験片を交換しながら繰り返し使用することが可能である。
請求項5に記載の発明によれば、押圧力発生部材の重さを、試験片の中央部に与える目標応力に応じて変更できることから、超音波疲労試験機用治具の重さの変更がより容易に行え、試験片の共振周波数を微調整することができる。
この発明に係る超音波疲労試験機用治具10を装着して疲労試験を実行する超音波疲労試験機の概要図である。 この発明に係る超音波疲労試験機用治具10の概要図である。 超音波疲労試験機用治具10の重さ調整を説明する概要図である。 この発明の第2実施形態に係る超音波疲労試験機用治具20の概要図である。 この発明の第2実施形態に係る超音波疲労試験機用治具20の正面概要図である。 この発明の第3実施形態に係る超音波疲労試験機用治具30の正面概要図である。 この発明の第4実施形態に係る超音波疲労試験機用治具40の概要図である。 この発明の第4実施形態に係る超音波疲労試験機用治具40の断面概要図である。 従来の丸形試験片の形状と応力曲線および振幅曲線との関係を示す説明図である。 板状試験片モデルの共振シミュレーションを示す図である。
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明に係る超音波疲労試験機用治具10を装着して疲労試験を実行する超音波疲労試験機の概要図である。
この超音波疲労試験機は、超音波により試験片Sを共振させて疲労試験を行うものであり、発振器3により作成された信号により振動する超音波振動子5と振動を増幅して試験片Sに伝達するホーン6とからなる振動部7と、振動部7が取り付けられるフレーム1と、を有する。発振器3は、制御部2において設定された試験周波数に基づいて電気信号を作成する。図1に示す振動部13および試験片Sの配置は、試験片Sに縦方向の振動を与える疲労試験を行うようにしたものである。
試験片Sは、板状試験片であり、一対の超音波疲労試験機用治具10(以下、必要に応じてこの明細書において、超音波疲労試験機用治具10を「治具10」と呼称する)により両端を挟持されている。この一対の治具10は、互いに同じ質量を有するものであり、試験片Sの中央部の応力が装置の能力範囲内で、希望値(目標応力)となるように試験片形状を考慮して重さが調整されている。すなわち、この治具10は、試験片Sの共振周波数および応力を調整するための重さ調整具として機能する。重さの調整としては治具10の長さや幅の寸法を調整すればよい。上下の治具10は、上側の治具10の重心と下側の治具10の重心が試験片Sの中央部を通る鉛直線上に位置するように、試験片Sの両端部に取り付けられる。上下治具10と試験片Sの重心位置を鉛直線上に合わせることにより、不要な横ブレ共振の誘発を防ぐことができる。上側の治具10は、ネジ結合によりホーン6に接続されている。下側の治具10は、ネジ結合によりフレーム1に固定されたホーン6に接続されている。この図1の例では、試験片Sに平均応力を付与するために、下側の治具10も同じ周期で共振するホーン6に接続している。なお、下側の治具10は、試験の目的に応じて、自由端としてもよい。また、図1の例では、試験片Sの上側から試験片Sに縦方向の振動が与えられる構成となっているが、フレーム1の上下から試験片Sに振動を与える場合には、下側の治具10に接続しているホーン6も超音波振動子5および発振器3に接続される。
図2は、この発明に係る超音波疲労試験機用治具10の概要図である。
この治具10は、本体部11と、試験片Sの端部を挟持する一対のつかみ部12を有する。ホーン6に接続する側であって、つかみ部12とは逆側となる治具10の本体部11の端部(端面)には、ホーン6の先端にネジ結合により接続させるためのネジ部16が設けられている。一対のつかみ部12の間に試験片Sの端部を挿入し、焼き嵌め、圧着や溶接、ロウ付け、接着剤の固着によって、試験片Sと治具10とを一体化し、保持する。なお、一対の治具10は、一対の治具10の各々の重心が、試験片Sの中心部を通る直線上に合うように、試験片Sに取り付けられる。
図3は、超音波疲労試験機用治具10の重さ調整を説明する概要図である。図3(a)は、ホーン6にネジ結合により接続する治具10の重さ調整を示し、図3(b)は、下側の治具10を自由端としたときの重さ調整を示している。
一対の治具10は、試験片Sのサイズに合わせて同じ質量のものが用意される。一方で、用意した治具10では、試験片Sの中央部の応力が希望値(目標応力)となるには重さが足りない場合もある。このような場合には、図3に示すように、一対の治具10に対して重さの調整を行う。
計算で求めた長さで試作した試験片Sで、望む共振周波数の精度がでなかったとしても、治具10の重さを調整するようにしている。このように、試験片Sに治具10を取り付けることで、試験片Sの両端部の実質的な質量を、試験片Sの中央部の応力が目標とする値となるように、中央部に比べて十分大きくすることができる。この実施形態では、厚さの異なる調整板13a、13bを複数用意している。この調整板13a、13bは、ネジ部16が貫通する孔が設けられている。そして、目標とする重さとなるように、厚さの異なる調整板13a、13bを選択してホーン6の先端と治具10との間に介挿することで、試験片Sの両端部の重さを調整している。なお、下側の治具10をホーン6に接続せずに自由端とする場合は、図3(b)に示すように、治具10の端面に雌ネジを設け、厚さの異なる調整板14a、14bをボルト15により固定することにより取り付ける。
試験片Sの両端に一対の治具10を装着した状態で、治具10をホーン6の先端に接続して試験を開始すると、治具10は試験片Sとともに共振する。試験片Sは、従来のようにホーン6に直接接続するように加工する必要はなく、ホーン6と治具10の接続部が変位振動の腹となり、試験片Sの中央部が変位振動の節となるように、治具10の重さを考慮して、試験片Sの長さを決めることになる。
図4は、この発明に係る超音波疲労試験機用治具20の概要図である。図5は、この発明に係る超音波疲労試験機用治具20の正面概要図である。
この治具20は、本体部21と、押圧力により試験片Sの端部を挟持する一対のつかみ部22を有する。ホーン6に接続する側の治具20の本体部21には、ホーン6の先端にネジ結合により接続させるためのネジ部26が設けられている。一対のつかみ部22には、試験片Sおよびつかみ部22を貫通するネジ24を通す穴が設けられている。なお、この治具20を装着する試験片Sには、ネジ24を通す穴加工を予め施しておく必要がある。また、試験片Sの端部を一対のつかみ部22の間に挿入した状態で隙間がないのが理想的である。この実施形態では、図5に示すように本体部21の試験片Sの端部を向く側に割り27を設けていることから、左右2つのナット25をバランスよく締めることで試験片Sに作用させる押圧力を発生させ、つかみ部22の内面を試験片Sの端部の側面に十分に密着させることができる。なお、つかみ部22の内面と試験片Sの端部の側面との間に、スペーサを挿入してもよい。スペーサには、例えば、タブとして使用されるアルミニウムなどの軟らかい金属が採用できる。
使用者は、ネジ24の両端にナット25を締結しネジ24およびナット25を操作して、一対の治具20の各々の重心を試験片Sの中心部を通る直線上に合わせて、試験片Sを一対のつかみ部22で確実にクランプし、保持させる。このように、治具20の重心と試験片Sの中心部とを合わせることにより、不要な横ブレ共振の誘発を防ぐことができる。なお、この第2実施形態の治具20は、第1実施形態の治具10と異なり、試験片Sに対してネジ止めしているため、試験片Sを交換して繰り返し使用することが可能である。
試験片Sの両端に一対の治具20を装着した状態で、治具20をホーン6の先端に接続して試験を開始すると、治具20は試験片Sとともに共振する。すなわち、試験片Sと治具20とを含めた全体が試験周波数で共振する。上述したように、治具20の重さを調整することで、試験片Sの両端部の実質的な質量を、試験片Sの中央部の応力が目標とする値となるように、中央部に比べて十分大きくすることができる。このため、既存の超音波疲労試験機では試験片Sの中央部に高応力を繰り返し負荷する疲労試験の実行が困難とされていた材料でも、試験片形状の設計と試験片Sの製作に時間と手間をかけることなく、試験を実行することが可能となる。
試験片Sは、従来のようにホーン6に直接接続するように加工する必要はなく、ホーン6と治具20の接続部が変位振動の腹となり、試験片Sの中央部が変位振動の節となるように、治具20の重さを考慮して、試験片Sの長さを決めることになる。この実施形態では、ナット25の高さ寸法の変更や、ネジ24の長さ、ネジ24に締結するナット25の厚さ変更や、数の増減により、ホーン6の先に接続した治具20を含む試験片Sの両端部分の質量を容易に変更することが可能である。したがって、計算で求めた試験片Sの長さで、望む共振周波数の精度がでなかったとしても、ネジ24やナット25などの取り外し可能な部材の重さ変更により、治具20の重さを調節することができる。
このように、図5の治具20では、一対のつかみ部22を試験片Sに押し付けるための押圧力発生部材としてネジ24とナット25を使用し、ナット25で治具20の重さが変更できるようにしている。なお、治具20は、治具20の本体部21の重さが異なる対を用意しておき、希望の共振周波数や試験片Sの中央部に与える目標応力に応じて、試験片Sに対して付け替えるようにしてもよい。また、図3に示す第1実施形態の場合と同様に、一対の治具20に調整板13a、13b、14a、14bを挿入して重さを調整してもよい。
図6は、この発明の第3実施形態に係る超音波疲労試験機用治具30の正面概要図である。なお、第2実施形態と同一の部材については、同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
この実施形態の治具30は、ネジ24に代えて、一対のネジ34を備える。このネジ34は、例えば、六角穴付止めネジ、すり割り付止めネジなどであり、工具を用いて締め付けることができるものである。つかみ部22の左右のそれぞれにはネジ34と螺合するネジ孔が形成されている。ネジ34の先端には、試験片Sの端部側面に当接するスペーサ33が配設されている。上述した第2実施形態の治具20を装着するときのように、試験片Sの材質が両端部にネジ24を通す穴加工をすることが困難な場合には、この治具30を使用する。使用者は、一対のつかみ部22に形成したネジ孔に螺合させたネジ34の各々をバランスよく操作して、スペーサ33を試験片Sの両端部の側面に密着させて押圧力を作用させることで、一対のつかみ部22に試験片Sをクランプし、保持させる。そして、ナット25は治具30の重さ調整のためのものであるが、ネジ34で試験片Sをクランプした後でネジ34に螺合させ、つかみ部22の外面に押し付けて固定しておく。厚さの異なるナット25を使用することによって治具30の重さ調整を行うことができる。
なお、図6の治具30では、一対のつかみ部22を試験片Sに押し付けるための押圧力発生部材としてネジ34を使用し、ナット25で治具20の重さが変更できるようにしているが、ネジ34とナット25に代えてボルトを採用してもよい。ボルトの頭の大きさを変更することでも、治具30の重さを変更できる。
図7は、この発明の第4実施形態に係る超音波疲労試験機用治具40の概要図であり、図8は、その断面概要図である。なお、図8(a)は、焼き嵌め、圧着や溶接、ロウ付け、接着剤による固着によって、試験片Sを保持する治具40を示し、図8(b)は、ネジ44より、試験片Sを保持する治具40の変形例を示す。
この実施形態の治具40は、所謂、線材と呼称される試験片Sを保持するものである。線材に対して高応力での試験を行うために、図9を参照して説明したような中央部を削った形状の試験片Sを準備するのは、現実的ではなかった。しかしながら、中央部をより細く削ることが困難な線材でも、図7に示すように、両端に重りとなる治具40を装着することで、試験片Sの中央部に高応力を与えることが可能となる。
この治具40の一方の端部にはホーン6に接続するためのネジ部46が設けられ、他方には、図8(a)に示すように、試験片Sの先端部が挿入可能な穴が設けられている。なお、この穴の内壁は試験片Sの側面と密着することから、この穴は、この発明のつかみ部として機能する。すなわち、穴に試験片Sの端部を挿入し、焼き嵌め、圧着や溶接、ロウ付け、接着剤による固着によって、治具40を試験片Sに装着する。また、図8(b)に示すように、穴の内壁まで貫通するように治具40の側部にネジ孔を設け、ネジ44を挿入し、ネジ44の先端を試験片Sの側面に当接させることにより、試験片Sを治具40に保持させるようにしてもよい。また、図3に示す第1実施形態の場合と同様に、一対の治具40に調整板13a、13b、14a、14bを挿入して重さを調整することが可能である。
この発明の治具10、20、30、40を用いることで、最適な共振周波数を微調整するために、長さの異なる試験片Sを用意してそれぞれの共振周波数を実測し、最適な試験片Sの長さを決める必要がなくなり、試験片Sの製作が容易となる。例えば、材料によっては、一般的な静的引張試験用に加工された形状の板状試験片を超音波疲労試験に用いることもできるようになる。
1 フレーム
2 制御部
3 発振器
5 超音波振動子
6 ホーン
7 振動部
10 治具
11 本体部
12 つかみ部
16 ネジ部
20 治具
21 本体部
22 つかみ部
24 ネジ
25 ナット
26 ネジ部
27 割り
30 治具
33 スペーサ
34 ネジ
40 治具
44 ネジ
46 ネジ部
S 試験片

Claims (5)

  1. 超音波振動子からの振動をホーンで増幅し、前記ホーンの先端に接続された試験片を共振させる疲労試験に使用する超音波疲労試験機用治具であって、
    本体部と、前記試験片の端部を保持するつかみ部とを有し、前記試験片の両端に取り付けて、前記試験片の両端部の質量を調整することを特徴とする超音波疲労試験機用治具。
  2. 請求項1に記載の超音波疲労試験機用治具において、
    前記つかみ部とは逆側となる前記本体部の端部に、前記ホーンに接続するためのネジ部が設けられる超音波疲労試験機用治具。
  3. 請求項1に記載の超音波疲労試験機用治具において、
    前記本体部の端部を前記ホーンに接続するときは、前記本体部と前記ホーンとの間に調整板を介挿し、前記本体部の端部を自由端とするときは、前記自由端に調整板を取り付けることにより、前記試験片の両端部の質量を調整する超音波疲労試験機用治具。
  4. 請求項1に記載の超音波疲労試験機用治具において、
    前記つかみ部は、前記試験片の端部を保持するにあたって、ネジを使用した押圧力により前記試験片の端部を挟持する押圧力発生部材を有する超音波疲労試験機用治具。
  5. 請求項4に記載の超音波疲労試験機用治具において、
    前記押圧力発生部材の重さを変更することにより、前記試験片の両端部の質量を調整する超音波疲労試験機用治具。

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