JP2019050080A - 分析システム - Google Patents

Abstract

【課題】コストおよび重量を増加させることなく広範囲の電圧により駆動可能なヒータユニットを有する分析システムを提供する。【解決手段】試料を分析する分析装置の予め定められた構成部分を加熱するようにヒータユニットＨ１のヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが設けられる。端子ｉ１と端子ｉ２との間に印加される電圧に応じて切替部３０が第１および第２の接続状態のいずれかに選択的に設定される。第１の接続状態においては、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが端子ｉ１と端子ｉ２との間に並列接続される。第２の接続状態においては、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが端子ｉ１と端子ｉ２との間に直列接続される。【選択図】図２

Description

本発明は、ヒータユニットを有する分析システムに関する。

分析システムには、試料を加熱するためのヒータが設けられることがある。例えば、特許文献１記載の液体クロマトグラフ質量分析装置においては、温度制御された複数のヒータが脱溶媒管に設けられることにより、脱溶媒管の温度が均一に維持される。ノズルから噴霧されてイオン化した液体試料が、上記の脱溶媒管を通して質量分析（ＭＳ）部に導入される。ＭＳ部においては、特定の質量電荷比を有するイオンのみが、四重極フィルタを通過して検出器により検出される。

特開平１１−１０８８９５号公報

上記のヒータとして、商用電源により駆動可能なヒータを用いることができる。ここで、商用電源としては、例えば１００Ｖ〜１２０Ｖの交流電圧を供給する１００Ｖ系電源と、例えば２２０Ｖ〜２４０Ｖの交流電圧を供給する２００Ｖ系電源とが存在する。したがって、供給電圧に対応した定格電圧を有するヒータを用いるか、または供給電圧をヒータの定格電圧に変換するトランスを分析装置に設ける必要がある。

しかしながら、供給電圧に対応した定格電圧を有するヒータを用いる場合には、複数種類の分析装置の生産および管理を行う必要が生じることに伴い、生産コストおよび管理コストが増加する。一方で、トランスを設ける場合には、ヒータの容量またはヒータの数によっては、大容量のトランスを用いる必要がある。そのため、トランスのコストが増加するとともに、分析装置の重量が増加する。

本発明の目的は、コストおよび重量を増加させることなく広範囲の電圧により駆動可能なヒータユニットを有する分析システムを提供することである。

（１）本発明に係る分析システムは、試料を分析する分析装置と、分析装置の予め定められた構成部分を加熱するように設けられた第１および第２のヒータ素子を含む第１のヒータユニットと、第１および第２の端子と、第１の端子と第２の端子との間に第１および第２のヒータ素子を並列接続する第１の接続状態と、第１の端子と第２の端子との間に第１および第２のヒータ素子を直列接続する第２の接続状態とに切り替え可能な切替部と、第１の端子と第２の端子との間に印加される電圧に応じて切替部を第１および第２の接続状態のいずれかに選択的に設定する設定部とを備える。

この分析システムにおいては、試料を分析する分析装置の予め定められた構成部分を加熱するように第１のヒータユニットの第１および第２のヒータ素子が設けられる。第１の端子と第２の端子との間に印加される電圧（以下、供給電圧と呼ぶ。）に応じて切替部が第１および第２の接続状態のいずれかに選択的に設定される。第１の接続状態においては、第１および第２のヒータ素子が第１の端子と第２の端子との間に並列接続される。それにより、第１および第２のヒータ素子の各々に供給電圧が印加される。第２の接続状態においては、第１および第２のヒータ素子が第１の端子と第２の端子との間に直列接続される。それにより、第１および第２のヒータ素子の各々に供給電圧よりも低い電圧が印加される。

このように、供給電圧に応じて第１および第２のヒータ素子の各々に印加される電圧を切り替えることができる。そのため、供給電圧に応じて複数種類のヒータ素子を準備する必要がない。また、大容量のトランスを用いる必要もない。これにより、コストおよび重量を増加させることなく第１のヒータユニットを広範囲の電圧により駆動することができる。

（２）設定部は、第１の端子と第２の端子との間に第１の範囲内の電圧が印加された場合に切替部を第１の接続状態に設定し、第１の端子と第２の端子との間に第１の範囲よりも高い第２の範囲内の電圧が印加された場合に切替部を第２の接続状態に設定してもよい。

この構成によれば、供給電圧が第１の範囲内にある場合、第１および第２のヒータ素子が第１の端子と第２の端子との間に並列接続されることにより、第１および第２のヒータ素子の各々に当該供給電圧が印加される。一方、供給電圧が第１の範囲よりも高い第２の範囲内にある場合、第１および第２のヒータ素子が第１の端子と第２の端子との間に直列接続されることにより、供給電圧が分圧され、第１および第２のヒータ素子の各々に当該供給電圧よりも低い電圧が供給される。これにより、第１のヒータユニットを簡単な構成で駆動することができる。

（３）分析システムは、第１および第２の入力コネクタと、トランスと、トランスの一次コイルに接続されるとともに第１および第２の入力コネクタに選択的に接続可能な一次コネクタと、トランスの二次コイルに接続される二次コネクタと、二次コネクタに接続可能な第２のヒータユニットとをさらに備え、第１の入力コネクタは、一次コネクタが当該第１の入力コネクタに接続された状態で第１の端子と第２の端子との間に第１の範囲内の電圧が印加された場合に、二次コネクタに予め定められた第３の範囲内の電圧が発生するように、一次コネクタに接続され、第２の入力コネクタは、一次コネクタが当該第２の入力コネクタに接続された状態で第１の端子と第２の端子との間に第２の範囲内の電圧が印加された場合に、二次コネクタに第３の範囲内の電圧が発生するように、一次コネクタに接続され、設定部は、一次コネクタが第１の入力コネクタに接続された場合に切替部を第１の接続状態に設定し、一次コネクタが第２の入力コネクタに接続された場合に切替部を第２の接続状態に設定してもよい。

この構成によれば、供給電圧が第１の範囲内である場合に、二次コネクタに第３の範囲内の電圧を発生させるために一次コネクタを第１の入力コネクタに接続することができる。この場合、切替部が第１の接続状態に設定される。それにより、第１および第２のヒータ素子の各々に供給電圧が印加される。一方、供給電圧が第２の範囲内である場合に、二次コネクタに第３の範囲内の電圧を発生させるために一次コネクタを第２の入力コネクタに接続することができる。この場合、切替部が第２の接続状態に設定される。それにより、第１および第２のヒータ素子の各々に供給電圧よりも低い電圧が印加される。

このように、第２のヒータユニットに第３の範囲内の電圧を印加するための一次コネクタの接続切り替え操作に連動して、第１および第２のヒータ素子の各々に印加される電圧を自動的に切り替えることができる。したがって、供給電圧を判定するための回路を設けることなく、供給電圧に応じて第１および第２のヒータ素子の各々に印加される電圧を切り替えることが可能となる。

（４）切替部は、第１および第２のヒータ素子を接続する接続回路と、接続回路を第１の接続状態と第２の接続状態とに切り替えるリレーとを含み、設定部は、一次コネクタが第１の入力コネクタに接続されたか第２の入力コネクタに接続されたかに基づいてリレーを駆動してもよい。この場合、簡単な構成で接続回路を第１の接続状態と第２の接続状態とに切り替えることができる。

（５）第１および第２の入力コネクタのうち一方の入力コネクタは、リレーに接続されかつ第１および第２の端子に接続されない第３の端子と、リレーに接続されずかつ第１および第２の端子に接続されない第４の端子とを有し、一次コネクタは、互いに短絡されかつトランスに接続されない第５および第６の端子を有し、一次コネクタが一方の入力コネクタに接続されたときに、第３の端子と第５の端子とが接続されかつ第４の端子と第６の端子とが接続され、第３の端子と第４の端子とが短絡されることによりリレーが駆動されてもよい。この場合、一次コネクタを第１および第２の入力コネクタの一方に接続する操作により、簡単な構成でリレーを駆動することができる。

（６）分析システムは、第１の端子と第２の端子との間に第１の範囲の電圧が印加されたか第２の範囲の電圧が印加されかを判定する判定部をさらに備え、設定部は、判定部の判定結果に基づいて、切替部を第１の接続状態または第２の接続状態に設定してもよい。この場合、切替部の第１の接続状態と第２の接続状態との切り替えを自動的に行うことができる。これにより、分析システムの利便性が向上する。

（７）分析システムは、第１のヒータユニットを制御する制御装置をさらに備え、制御装置は、切替部が第１の接続状態であるか第２の接続状態であるかに基づいて第１のヒータユニットの制御パラメータを調整してもよい。この場合、第１のヒータユニットに供給電圧に応じた制御を行うことができる。

（８）制御パラメータは、第１のヒータユニットに供給される電流のデューティ比を含んでもよい。この場合、供給電圧に応じて第１のヒータユニットの出力電力を制御することができる。

（９）制御パラメータは、第１の端子と第２の端子との間に第１の範囲の電圧が印加された場合と第１の端子と第２の端子との間に第２の範囲の電圧が印加された場合とで第１のヒータユニットの出力電力が実質的に等しくなるように制御パラメータを調整してもよい。この場合、供給電圧が第１および第２の範囲内のいずれであっても、分析装置の予め定められた構成部分を実質的に等しい温度に加熱することができる。

本発明によれば、コストおよび重量を増加させることなくヒータユニットを広範囲の電圧により駆動することができる。

本発明の一実施の形態に係る分析システムの構成を示す模式図である。 図１のヒータ駆動装置の構成を示す図である。 ２００Ｖ系電源時の直列接続を示す回路図である。 １００Ｖ系電源時の並列接続を示す回路図である。 ヒータ駆動装置の判定機能付きの構成を示す図である。 判定部の構成の一例を示す図である。 判定部の構成の他の例を示す図である。 供給電圧が１００Ｖ、１２０Ｖ、２２０Ｖおよび２４０Ｖであるときにスイッチング素子に与えられる制御信号を示す図である。 ヒータ駆動装置の自動判定機能付きの構成を示す図である。

以下、本発明の実施の形態に係る分析システムについて図面を参照しながら詳細に説明する。

（１）分析システムの構成
図１は、本発明の一実施の形態に係る分析システムの構成を示す模式図である。図１に示すように、分析システム５００は、前処理部１００、分析部２００、ヒータ駆動装置３００および制御装置４００を含む。前処理部１００と分析部２００とは、２つの配管５０１，５０２により接続される。前処理部１００および分析部２００により分析装置１が構成される。

前処理部１００は、流路切替バルブ１１０、ガス流量制御部１２０、凝縮部１３０、サンプルチューブ１４０および冷却ファン１５０を含む。流路切替バルブ１１０は、６つのポート１１１〜１１６を有し、第１の流路状態と第２の流路状態との間で切り替え可能である。第１の流路状態においては、点線で示すように、ポート１１１，１１２間が連通し、ポート１１３，１１４間が連通し、ポート１１５，１１６間が連通する。第２の流路状態においては、実線で示すように、ポート１１２，１１３間が連通し、ポート１１４，１１５間が連通し、ポート１１６，１１１間が連通する。

ポート１１１は、電磁バルブ１２１を介してサンプルチューブ１４０の一端部に接続される。電磁バルブ１２１の開閉は、ガス流量制御部１２０により制御される。ポート１１２は、凝縮部１３０の一端部に接続される。ポート１１３は、配管５０１の一端部に接続される。ポート１１４は、配管５０２の一端部に接続される。ポート１１５は、凝縮部１３０の他端部に接続される。ポート１１６は、サンプルチューブ１４０の他端部に接続される。

サンプルチューブ１４０においては、分析対象の試料が吸着剤により吸着されている。サンプルチューブ１４０が加熱されることにより、試料が脱離し、凝縮部１３０を通して分析部２００に導かれる。冷却ファン１５０は、サンプルチューブ１４０を冷却するように配置される。

分析部２００は、例えばガスクロマトグラフであり、インジェクタ２１０、ガス流量制御部２２０、カラム２３０および検出器２４０を含む。インジェクタ２１０は、３つのポート２１１〜２１３を有する。ポート２１１は、配管５０２の他端部に接続される。ポート２１２は、ガス流量制御部２２０に接続される。ポート２１３は、カラム２３０の一端部に接続される。ガス流量制御部２２０は、配管５０１の他端部に接続される。検出器２４０は、例えばＦＩＤ（水素炎イオン化検出器）であり、カラム２３０の他端部に接続される。

流路切替バルブ１１０、サンプルチューブ１４０およびインジェクタ２１０には、試料を加熱するためのヒータユニットＨ１，Ｈ２，ＨＡがそれぞれ設けられる。ヒータユニットＨ１，Ｈ２，ＨＡは、交流ヒータを含む。また、流路切替バルブ１１０、サンプルチューブ１４０およびインジェクタ２１０には、温度センサＤ１，Ｄ２，ＤＡがそれぞれ設けられる。ヒータ駆動装置３００は、ヒータユニットＨ１，Ｈ２，ＨＡを動作させる。ヒータ駆動装置３００の詳細については後述する。

制御装置４００は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）および記憶装置により構成される。また、本実施の形態においては、制御装置４００は、直流電源を含み、ヒータ駆動装置３００に例えば１２Ｖの直流電圧を供給する。なお、本実施の形態において、直流電源が制御装置４００の一部として設けられるが、本発明はこれに限定されない。直流電源は、制御装置４００とは独立して設けられてもよい。

制御装置４００は、温度センサＤ１，Ｄ２，ＤＡにより検出される温度に基づいてヒータ駆動装置３００の動作を制御するとともに、前処理部１００および分析部２００の動作を制御する。以下、前処理部１００および分析部２００による試料の分析動作を簡略化して説明する。

初期状態において、流路切替バルブ１１０が点線で示される第１の流路状態に切り替えられる。また、サンプルチューブ１４０内に吸着されている試料がヒータユニットＨ２により加熱されることにより脱離する。

次に、電磁バルブ１２１が開放され、ガス流量制御部１２０によりキャリアガスが流路切替バルブ１１０のポート１１１に供給される。この場合、キャリアガスがポート１１１，１１２、凝縮部１３０およびポート１１５，１１６を通してサンプルチューブ１４０内の試料が加圧される。これにより、試料がポート１１１，１１２、凝縮部１３０およびポート１１５，１１６からなる流路を循環する。

また、ガス流量制御部２２０によりキャリアガスが配管５０１を通して流路切替バルブ１１０のポート１１３に供給される。これにより、ポート１１３，１１４、配管５０２およびインジェクタ２１０のポート２１１，２１３を通してカラム２３０に一定流量のキャリアガスが供給される。

その後、流路切替バルブ１１０が実線で示される第２の流路状態に切り替えられる。また、ガス流量制御部２２０により配管５０２を通してキャリアガスが流路切替バルブ１１０のポート１１３に供給されるとともに、インジェクタ２１０のポート２１２からキャリアガスが排出される。これにより、キャリアガスがポート１１３，１１２を通して凝縮部１３０に導入され、試料がキャリアガスとともに流路切替バルブ１１０のポート１１５，１１４、配管５０２、インジェクタ２１０のポート２１１，２１３を通してカラム２３０に導入される。検出器２４０は、カラム２３０に導入された試料に含まれる成分の量に対応する検出信号を出力する。

（２）ヒータ駆動装置
図２は、図１のヒータ駆動装置３００の構成を示す図である。図２に示すように、ヒータ駆動装置３００は、トランス１０および回路基板２０を含む。トランス１０には、一次コネクタＣ１および二次コネクタＣ２が接続される。トランス１０の一次コイルｗ１には、タップＴａ〜Ｔｅがこの順で設けられる。タップＴａ，Ｔｅ間の巻数、タップＴｂ，Ｔｅ間の巻数、タップＴｃ，Ｔｅ間の巻数、およびタップＴｄ，Ｔｅ間の巻数の比は、およそ２４：２２：１２：１０である。また、一次コイルｗ１と二次コイルｗ２との巻数比は、およそ２４：１０である。

一次コネクタＣ１には、７つの端子Ａ〜Ｇがこの順で形成される。端子Ａ〜Ｅは、一次コイルｗ１のタップＴａ〜Ｔｅにそれぞれ接続される。端子Ｆ，Ｇ間は短絡部材Ｊにより電気的に短絡される。短絡部材Ｊは、例えばケーブルである。二次コネクタＣ２には、２つの端子Ｈ，Ｉが形成される。端子Ｈ，Ｉは、二次コイルｗ２の一端部および他端部にそれぞれ接続される。

回路基板２０には、給電部Ｃ２１、４つの入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４、出力コネクタＣ２２、ヒータ用コネクタＣ２３、通信コネクタＣ２４、スイッチング素子Ｓ３および複数（本例では２つ）の切替部３０が実装される。本実施の形態においては、２つの切替部３０が回路基板２０に実装されるが、本発明はこれに限定されない。１つの切替部３０が回路基板２０に実装されてもよいし、３個以上の切替部３０が回路基板２０に実装されてもよい。

給電部Ｃ２１には、２つの端子ｉ１，ｉ２が形成される。本実施の形態においては、端子ｉ１はライブ端子であり、端子ｉ２はニュートラル端子である。端子ｉ１，ｉ２は、図示しない電源プラグを介して外部の商用電源に接続される。これにより、端子ｉ１，ｉ２間に交流電圧が供給される。給電部Ｃ２１は、図示しないヒューズを介して商用電源からの交流電圧を回路基板２０に実装された素子の各部に供給する。

各入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４には、トランス１０の一次コネクタＣ１の端子Ａ〜Ｇにそれぞれ対応する７つの端子ａ〜ｇが形成される。入力コネクタＣ１１の端子ｄ、入力コネクタＣ１２の端子ｃ、入力コネクタＣ１３の端子ｂおよび入力コネクタＣ１４の端子ａは、端子ｉ１に接続される。また、各入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４の端子ｅは、端子ｉ２に接続される。

入力コネクタＣ１１，Ｃ１２の端子ｆは、互いに接続されるとともに、各切替部３０に接続される。詳細は後述する。また、入力コネクタＣ１１，Ｃ１２の端子ｇは、回路基板２０のグランド電位（基準電位）に維持される部分（以下、グランド部と呼ぶ。）に接続される。一方、入力コネクタＣ１３，Ｃ１４においては、端子ｆ，ｇは開放されている。

商用電源の供給電圧（以下、単に供給電圧と呼ぶ。）は、１００Ｖ、１２０Ｖ、２２０Ｖまたは２４０Ｖのいずれかである。以下、１００Ｖまたは１２０Ｖの供給電圧を１００Ｖ系の供給電圧と呼び、２２０Ｖまたは２４０Ｖの供給電圧を２００Ｖ系の供給電圧と呼ぶ。

供給電圧が１００Ｖである場合、使用者は、一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１１に接続する。供給電圧が１２０Ｖである場合、使用者は、一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１２に接続する。供給電圧が２２０Ｖである場合、使用者は、一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１３に接続する。供給電圧が２４０Ｖである場合、使用者は、一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１４に接続する。また、使用者は、二次コネクタＣ２を出力コネクタＣ２２に接続する。上記の接続によれば、供給電圧が１００Ｖ、１２０Ｖ、２２０Ｖまたは２４０Ｖのいずれであっても、供給電圧は、トランス１０により１００Ｖの電圧に変換される。変換された１００Ｖの電圧は、二次コネクタＣ２から出力される。

出力コネクタＣ２２には、トランス１０の二次コネクタＣ２の２つの端子Ｈ，Ｉにそれぞれ対応する２つの端子ｈ，ｉが形成される。ヒータ用コネクタＣ２３には、２つの端子ｊ，ｋが形成される。端子ｈと端子ｊとの間には、スイッチング素子Ｓ３が接続される。端子ｉは、端子ｋに接続される。通信コネクタＣ２４には、端子ｃ１，ｃ２，ｃ３が形成される。スイッチング素子Ｓ３の制御端子は、通信コネクタＣ２４の端子ｃ３に接続される。

本実施の形態においては、ヒータユニットＨＡは、１００Ｖ系の定格電圧を有する。ここで、１００Ｖ系の定格電圧は、１００Ｖ以上２００Ｖ未満の定格電圧であり、例えば１２０Ｖの定格電圧である。

ヒータユニットＨＡの両端が、ヒータ用コネクタＣ２３の端子ｊ，ｋにそれぞれ接続される。この場合、ヒータユニットＨＡに１００Ｖの電圧が印加される。これにより、ヒータユニットＨＡが動作する。図１の制御装置４００は、図１の温度センサＤＡにより検出される温度に基づいて、通信コネクタＣ２４の端子ｃ３を通して制御信号ＣＳ３をスイッチング素子Ｓ３に与える。これにより、スイッチング素子Ｓ３のオンおよびオフが制御され、図１のインジェクタ２１０が所望の温度に維持される。

通信コネクタＣ２４の端子ｃ１は、グランド部に接続される。端子ｃ２は、各切替部３０に接続される。また、端子ｃ３は、各切替部３０に接続される。図２においては、１つの端子ｃ３のみが図示されるが、切替部３０およびスイッチング素子Ｓ３の数に対応して通信コネクタＣ２４に複数の端子ｃ３が形成される。

通信コネクタＣ２４は、制御装置４００に接続される。制御装置４００は、端子ｃ１を通して回路基板２０のグランド部を直流電源のグランド電位に維持し、端子ｃ２を通して各切替部３０に直流電圧を供給する。また、制御装置４００は、端子ｃ３を通して切替部３０に制御信号ＣＳ１，ＣＳ２を与え、スイッチング素子Ｓ３に制御信号ＣＳ３を与える。

本実施の形態においては、一方の切替部３０にヒータユニットＨ１が接続され、他方の切替部３０にヒータユニットＨ２が接続される。図３は、２００Ｖ系電源時の直列接続を示す回路図である。図４は、１００Ｖ系電源時の並列接続を示す回路図である。図３および図４においては、一方の切替部３０の構成が示されるが、他方の切替部３０の構成も図３および図４の構成と同様である。また、ヒータユニットＨ２も、後述する図３および図４のヒータユニットＨ１と同様の構成を有し、２つのヒータ素子Ｈ２ａ，Ｈ２ｂを含む。

図３および図４に示すように、切替部３０は、リレーＲ、スイッチング素子Ｓ１およびヒータ用コネクタＣ２５を含む。リレーＲは、電磁コイルＭおよびスイッチ回路Ｓ２を含む。スイッチ回路Ｓ２（リレーＲ）は、電磁コイルＭに直流電流が流れるか否かにより、図３に示される第１の接続状態と図４に示される第２の接続状態との間で切り替え可能である。

電磁コイルＭの一端は通信コネクタＣ２４の端子ｃ２に接続され、電磁コイルＭの他端は入力コネクタＣ１１の端子ｆおよび入力コネクタＣ１２の端子ｆに接続される。スイッチ回路Ｓ２には、６つの接点ｓ１〜ｓ６が形成される。接点ｓ１は、給電部Ｃ２１の端子ｉ１に接続される。接点ｓ４は接点ｓ５に接続される。接点ｓ６は、スイッチング素子Ｓ１を介して給電部Ｃ２１の端子ｉ２に接続される。スイッチング素子Ｓ１は、通信コネクタＣ２４の端子ｃ３に接続される。

ヒータ用コネクタＣ２５には、４つの端子ｏ１〜ｏ４が形成される。端子ｏ１，ｏ２，ｏ３，ｏ４は、スイッチ回路Ｓ２の接点ｓ１，ｓ２，ｓ４，ｓ６にそれぞれ接続される。本実施の形態においては、ヒータユニットＨ１は、２つのヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂからなる。ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々は、１００Ｖ系の定格電圧を有する。本実施の形態では、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々が１２０Ｖ以上２００Ｖ未満の定格電圧を有し、例えば１２０Ｖの定格電圧を有する。ヒータ素子Ｈ１ａの両端は端子ｏ１，ｏ２にそれぞれ接続され、ヒータ素子Ｈ１ｂの両端は端子ｏ３，ｏ４にそれぞれ接続される。

上記のように、端子ｉ１，ｉ２間の電圧が２２０Ｖまたは２４０Ｖである場合、使用者は、図２のトランス１０の一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１３または入力コネクタＣ１４に接続する。この場合、入力コネクタＣ１３，Ｃ１４のいずれにおいても、端子ｆ，ｇ間は導通せず、電磁コイルＭの両端に直流電圧が印加されない。そのため、電磁コイルＭに直流電流が流れず、リレーＲが図３に示される第１の接続状態となる。

第１の接続状態においては、接点ｓ１，ｓ３間が導通し、接点ｓ２，ｓ５間が導通する。したがって、端子ｉ１，ｉ２間に、ヒータ素子Ｈ１ａとヒータ素子Ｈ１ｂとが直列接続される。この場合、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に１１０Ｖまたは１２０Ｖの電圧が印加される。これにより、ヒータユニットＨ１が動作する。

一方、端子ｉ１，ｉ２間の電圧が１００Ｖまたは１２０Ｖである場合、使用者は、トランス１０の一次コネクタＣ１を図２の入力コネクタＣ１１または入力コネクタＣ１２に接続する。この場合、一次コネクタＣ１の端子Ｆ，Ｇは短絡しているので、入力コネクタＣ１１，Ｃ１２のいずれかの端子ｆ，ｇ間が導通し、電磁コイルＭの両端に直流電圧が印加される。その結果、電磁コイルＭに直流電流が流れ、リレーＲが図４に示される第２の接続状態となる。

第２の接続状態においては、接点ｓ１，ｓ４間が導通し、接点ｓ２，ｓ６間が導通する。したがって、端子ｉ１，ｉ２間に、ヒータ素子Ｈ１ａとヒータ素子Ｈ１ｂとが並列接続される。この場合、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に１００Ｖまたは１２０Ｖの電圧が供給される。これにより、ヒータユニットＨ１が動作する。このように、一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４のいずれかに接続する操作により、簡単な構成でリレーＲを駆動することができる。

本実施の形態では、入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４、一次コネクタＣ１、端子ｆ，ｇ，Ｆ，Ｇ，ｃ１，ｃ２および短絡部材Ｊが、端子ｉ１と端子ｉ２との間に印加される電圧に応じて切替部３０を第１および第２の接続状態のいずれかに選択的に設定する設定部として機能する。設定部は、端子ｉ１と端子ｉ２との間に第１の範囲内の電圧が印加された場合に切替部３０を第１の接続状態に設定する。第１の範囲は、例えば１００Ｖ〜１２０Ｖである。また、設定部は、端子ｉ１と端子ｉ２との間に第２の範囲内の電圧が印加された場合に切替部３０を第２の接続状態に設定する。第１の範囲は、例えば２２０Ｖ〜２４０Ｖである。

制御装置４００は、図１の温度センサＤ１により検出される温度に基づいて、通信コネクタＣ２４の端子ｃ３を通して制御信号ＣＳ１をスイッチング素子Ｓ１に与える。これにより、スイッチング素子Ｓ１のオンおよびオフが制御され、図１の流路切替バルブ１１０が所望の温度に維持される。

なお、制御装置４００は、図１の温度センサＤ２により検出される温度に基づいて、通信コネクタＣ２４の端子ｃ３を通して制御信号ＣＳ２を他方の切替部３０におけるスイッチング素子Ｓ１に与える。これにより、スイッチング素子Ｓ１のオンおよびオフが制御され、図１のサンプルチューブ１４０が所望の温度に維持される。

（３）実施の形態の効果
本実施の形態に係る分析システム５００においては、供給電圧が１００Ｖまたは１２０Ｖである場合、二次コネクタＣ２に１００Ｖの電圧を発生させるために一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１１，Ｃ１２にそれぞれ接続することができる。この場合、切替部３０が第１の接続状態に設定される。これにより、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが端子ｉ１と端子ｉ２との間に並列接続され、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に供給電圧が印加される。

一方、供給電圧が２２０Ｖまたは２４０Ｖである場合、二次コネクタＣ２に１００Ｖの電圧を発生させるために一次コネクタＣ１を入力コネクタＣ１３，Ｃ１４にそれぞれ接続することができる。この場合、切替部３０が第２の接続状態に設定される。これにより、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが端子ｉ１と端子ｉ２との間に直列接続され、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に供給電圧よりも低い電圧が印加される。

このように、ヒータユニットＨＡに１００Ｖの電圧を印加するための一次コネクタＣ１の接続切り替え操作に連動して、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に印加される電圧を自動的に切り替えることができる。したがって、供給電圧を判定するための回路を設けることなく、供給電圧に応じてヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に印加される電圧を切り替えることが可能となる。

この構成によれば、供給電圧に応じて複数種類のヒータ素子を準備する必要がない。また、大容量のトランスを用いる必要もない。これにより、コストおよび重量を増加させることなくヒータユニットＨ１を広範囲の電圧により駆動することができる。ヒータユニットＨ２についても同様である。

（４）他の実施の形態
（ａ）図５は、ヒータ駆動装置３００の判定機能付きの構成を示す図である。図５のヒータ駆動装置３００が図２のヒータ駆動装置３００と異なるのは以下の点である。図５のヒータ駆動装置３００には、判定部４０がさらに実装される。一次コネクタＣ１に端子Ｆ，Ｇが形成されず、入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４の各々に端子ｆ，ｇが形成されない。各リレーＲの電磁コイルＭの両端は、通信コネクタＣ２４の端子ｃ１，ｃ２間に接続される。通信コネクタＣ２４には、端子ｃ４がさらに形成される。判定部４０は、端子ｉ１，ｉ２間の供給電圧が１００Ｖ系の供給電圧であるか２００Ｖ系の供給電圧であるかを判定し、判定結果を通信コネクタＣ２４の端子ｃ４に与える。端子ｃ４は図１の制御装置４００に接続される。

図６は、判定部４０の構成の一例を示す図である。図６に示すように、判定部４０は、フォトカプラ４１、複数の定電圧ダイオード４２、整流ダイオード４３、比較回路４４、ラッチ回路４５および抵抗４６〜４８を含む。フォトカプラ４１は、双方向性のフォトダイオード４１ａおよびフォトトランジスタ４１ｂを含む。給電部Ｃ２１の端子ｉ１，ｉ２間に、整流ダイオード４３、抵抗４６、複数の定電圧ダイオード４２およびフォトダイオード４１ａが直列接続される。

フォトカプラ４１のフォトトランジスタ４１ｂのコレクタには、直流電圧Ｖｃｃが供給される。フォトトランジスタ４１ｂのエミッタは抵抗４７を介してノードｎ１に接続される。ノードｎ１は、抵抗４８を介してグランド部に接続され、かつ比較回路４４の一方の入力端子に接続される。比較回路４４の他方の入力端子には参照電圧Ｖｒｆが与えられる。比較回路４４は、ノードｎ１の電圧と参照電圧Ｖｒｆとを比較し、比較結果を示す信号を判定信号ＤＥとして出力する。ラッチ回路４５は、比較回路４４の判定信号ＤＥを保持するとともに通信コネクタＣ２４の端子ｃ４を通して図１の制御装置４００に与える。

具体的には、端子ｉ１，ｉ２間に２２０Ｖまたは２４０Ｖの２００Ｖ系の供給電圧が印加された場合、フォトダイオード４１ａに電流が流れ、フォトダイオード４１ａが発光する。それにより、フォトトランジスタ４１ｂに電流が流れる。この場合、ノードｎ１の電圧は参照電圧Ｖｒｆ以上となる。その結果、比較回路４４は、例えば“Ｈ”レベルの判定信号ＤＥを出力する。ラッチ回路４５は、“Ｈ”レベルの判定信号を制御装置４００に与える。制御装置４００は、判定部４０から“Ｈ”レベルの判定信号ＤＥを取得した場合、通信コネクタＣ２４の端子ｃ２に直流電圧を供給しない。これにより、切替部３０の電磁コイルＭに直流電流が流れず、リレーＲが図３に示される第１の接続状態となる。

一方、端子ｉ１，ｉ２間に１００Ｖまたは１２０Ｖの１００Ｖ系の供給電圧が印加された場合、フォトダイオード４１ａに電流が流れず、フォトダイオード４１ａが発光しない。それにより、フォトトランジスタ４１ｂに電流が流れない。この場合、ノードｎ１の電圧はグランド電位となり、参照電圧Ｖｒｆよりも低くなる。その結果、比較回路４４は、例えば“Ｌ”レベルの判定信号を出力する。ラッチ回路４５は、“Ｌ”レベルの判定信号ＤＥを制御装置４００に与える。制御装置４００は、判定部４０から“Ｌ”レベルの判定信号ＤＥを取得した場合、図５の通信コネクタＣ２４の端子ｃ２に直流電圧を供給する。これにより、切替部３０の電磁コイルＭに直流電流が流れ、リレーＲが図４に示される第２の接続状態となる。

図５のヒータ駆動装置３００によれば、供給電圧が１００Ｖ系および２００Ｖ系のいずれであるかが自動的に判定され、判定信号ＤＥに基づいて制御装置４００により各切替部３０が第１の接続状態または第２の接続状態に切り替えられる。これにより、分析システム５００の利便性が向上する。本例においては、判定部４０がリレーＲを第１の接続状態と第２の接続状態とで切り替えるための信号として判定信号ＤＥを制御装置４００に与える。これにより、制御装置４００を介して各切替部３０が第１の接続状態と第２の接続状態とで切り替えられる。

（ｂ）図７は、判定部の構成の他の例を示す図である。図７に示すように、判定部５０は、図６の判定部４０と同様の構成を有する判定部４０Ａ，４０Ｂ，４０Ｃを含む。判定部４０Ａ〜４０Ｃは、給電部Ｃ２１の端子ｉ１，ｉ２間に並列接続される。判定部４０Ａ〜４０Ｃは、それぞれ異なる数の定電圧ダイオード４２を含む点を除いて図６の判定部４０と同様の構成を有する。判定部４０Ｃの定電圧ダイオード４２の数が最も大きく、判定部４０Ａの定電圧ダイオード４２の数が最も小さい。判定部４０Ａ〜４０Ｃはそれぞれ判定信号ＤＥ１，ＤＥ２，ＤＥ３を図１の制御装置４００に与える。

この構成によれば、供給電圧が１００Ｖである場合、判定部４０Ａ〜４０Ｃから“Ｌ”レベル、“Ｌ”レベルおよび“Ｌ”レベルの判定信号ＤＥ１，ＤＥ２，ＤＥ３がそれぞれ出力される。この場合、制御装置４００は、通信コネクタＣ２４に直流電圧を供給する。それにより、切替部３０が図４に示される第２の接続状態となり、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが並列接続される。

供給電圧が１２０Ｖである場合、判定部４０Ａ〜４０Ｃから“Ｈ”レベル、“Ｌ”レベルおよび“Ｌ”レベルの判定信号ＤＥ１，ＤＥ２，ＤＥ３がそれぞれ出力される。この場合、制御装置４００は、通信コネクタＣ２４に直流電圧を供給する。それにより、切替部３０が図４に示される第２の接続状態となり、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが並列接続される。

供給電圧が２２０Ｖである場合、判定部４０Ａ〜４０Ｃから“Ｈ”レベル、“Ｈ”レベルおよび“Ｌ”レベルの判定信号ＤＥ１，ＤＥ２，ＤＥ３がそれぞれ出力される。この場合、制御装置４００は、通信コネクタＣ２４に直流電圧を供給しない。それにより、切替部３０が図３に示される第１の接続状態となり、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが直列接続される。

供給電圧が２４０Ｖである場合、判定部４０Ａ〜４０Ｃから“Ｈ”レベル、“Ｈ”レベルおよび“Ｈ”レベルの判定信号ＤＥ１，ＤＥ２，ＤＥ３がそれぞれ出力される。この場合、制御装置４００は、通信コネクタＣ２４に直流電圧を供給しない。それにより、切替部３０が図３に示される第１の接続状態となり、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂが直列接続される。

図７の判定部５０が用いられる場合、供給電圧が１００Ｖ、１２０Ｖ、２００Ｖまたは２４０Ｖのいずれであるかが自動的に判定され、判定信号ＤＥ１，ＤＥ２，ＤＥ３に基づいて制御装置４００により各切替部３０が第１の接続状態または第２の接続状態に切り替えられる。

（ｃ）制御装置４００は、判定部５０により判別された供給電圧に基づいてヒータユニットＨ１，Ｈ２に供給される電流のデューティ比を制御してもよい。上記実施の形態に係るヒータ駆動装置３００によれば、供給電圧が１００Ｖである場合にはヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に１００Ｖが印加され、供給電圧が１２０Ｖである場合にはヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に１２０Ｖが印加される。また、供給電圧が２２０Ｖである場合にはヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に１１０Ｖが印加され、供給電圧が２４０Ｖである場合にはヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に１２０Ｖが印加される。このように、供給電圧が異なる場合にヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に印加される電圧が異なる。そこで、制御装置４００は、供給電圧が異なる場合にヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に供給される電力が等しくなるようにヒータユニットＨ１に供給される電流のデューティ比を調整する。

図８（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ）は、供給電圧がそれぞれ１００Ｖ、１２０Ｖ、２２０Ｖおよび２４０Ｖであるときにスイッチング素子Ｓ１に与えられる制御信号ＣＳ１を示す図である。制御信号ＣＳ２についても制御信号ＣＳ１と同様である。図８の例においては、制御信号ＣＳ１が“Ｌ”レベルおよび“Ｈ”レベルのときにスイッチング素子Ｓ１がそれぞれオフおよびオンになる。

図８（ａ）に示すように、供給電圧が１００Ｖであるときには、制御信号ＣＳ１のデューティ比が第１の値（１００％）に設定される。図８（ｂ）に示すように、供給電圧が１２０Ｖであるときには、制御信号ＣＳ１のデューティ比が第１の値よりも小さい第２の値に設定される。図８（ｃ）に示すように、供給電圧が２２０Ｖであるときには、制御信号ＣＳ１のデューティ比が第２の値よりも大きく第１の値よりも小さい第３の値に設定される。図８（ｄ）に示すように、供給電圧が２４０Ｖであるときには、制御信号ＣＳ３のデューティ比が第３の値よりも小さい第４の値に設定される。

この制御によれば、供給電圧が異なる場合であっても、ヒータユニットＨ１に供給電圧に応じた制御を行うことができ、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの各々に供給される電力を等しくすることができる。そのため、供給電圧が異なる場合であっても、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ１ｂの出力電力が等しくなる。これにより、供給電圧が１００Ｖ、１２０Ｖ、２２０Ｖまたは２４０Ｖのいずれであっても、流路切替バルブ１１０およびサンプルチューブ１４０を実質的に等しい温度に加熱することができる。

また、図２、図５または図９（後述）のヒータ駆動装置３００において、供給電圧が１００Ｖ、１２０Ｖ、２２０Ｖまたは２４０Ｖのいずれであるかを制御装置４００が判別可能である場合には、制御装置４００は、スイッチング素子Ｓ１に図８と同様の制御信号ＣＳ１，ＣＳ２をそれぞれ与えてもよい。

さらに、制御装置４００は、ヒータユニットＨ１，Ｈ２に供給される電流のデューティ比を制御パラメータとして供給電圧に基づいて制御するが、本発明はこれに限定されない。制御装置４００は、加熱時間等を制御するための他の制御パラメータを供給電圧に基づいて制御してもよい。

（ｄ）図９は、ヒータ駆動装置３００の自動判定機能付きの構成を示す図である。図９のヒータ駆動装置３００が図５のヒータ駆動装置３００と異なるのは以下の点である。図９のヒータ駆動装置３００においては、電磁コイルＭと端子ｃ１または端子ｃ２との間にスイッチング素子Ｓ４がさらに実装される。スイッチング素子Ｓ４の制御端子は、判定部４０に接続される。端子ｃ２には、直流電圧が常時供給される。

判定部４０から出力される判定信号ＤＥが“Ｈ”レベルのときにスイッチング素子Ｓ４がオフになる。これにより、切替部３０の電磁コイルＭに直流電流が流れず、リレーＲが図３に示される第１の接続状態となる。一方、判定部４０から出力される判定信号ＤＥが“Ｌ”レベルのときにスイッチング素子Ｓ４がオンになる。これにより、切替部３０の電磁コイルＭに直流電流が流れ、リレーＲが図４に示される第２の接続状態となる。この構成によれば、制御装置４００による制御が行われることなく、判定信号ＤＥに基づいて各切替部３０が第１の接続状態または第２の接続状態に切り替えられる。

（ｅ）上記実施の形態においては、リレーＲは、電磁コイルＭに直流電流が流れない場合に第１の接続状態となり、電磁コイルＭに直流電流が流れる場合に第２の接続状態となるが、本発明はこれに限定されない。リレーＲは、電磁コイルＭに直流電流が流れる場合に第１の接続状態となり、電磁コイルＭに直流電流が流れない場合に第２の接続状態となってもよい。この場合、入力コネクタＣ１１，Ｃ１２においては、端子ｆ，ｇが開放される。また、入力コネクタＣ１３，Ｃ１４においては、端子ｆがリレーＲに接続され、端子ｇがグランド部に接続される。

（ｆ）上記実施の形態においては、トランス１０は第３の範囲内の電圧として１００Ｖを出力するが、本発明はこれに限定されない。トランス１０は、第３の範囲内の電圧として、例えば１００Ｖ〜１２０Ｖの電圧を出力してもよい。

（ｇ）上記実施の形態においては、分析部２００はガスクロマトグラフであるが、本発明はこれに限定されない。分析部２００は、液体クロマトグラフまたは質量分析装置等の他の分析部であってもよい。また、上記実施の形態においては、ヒータ駆動装置３００により制御されるヒータユニットＨ１，Ｈ２，ＨＡが前処理部１００および分析部２００の両方に設けられるが、本発明はこれに限定されない。ヒータユニットＨ１，Ｈ２，ＨＡは、前処理部１００および分析部２００の一方に設けられてもよい。さらに、ヒータユニットＨ１，Ｈ２，ＨＡは、流路切替バルブ１１０、サンプルチューブ１４０またはインジェクタ２１０とは異なる分析装置１の他の構成部分を加熱するように設けられてもよい。

（５）請求項の各構成要素と実施の形態の各部との対応関係
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各部との対応の例について説明するが、本発明は下記の例に限定されない。請求項の各構成要素として、請求項に記載されている構成または機能を有する他の種々の要素を用いることもできる。

上記実施の形態においては、流路切替バルブ１１０またはサンプルチューブ１４０が構成部分の例であり、ヒータ素子Ｈ１ａ，Ｈ２ａが第１のヒータ素子の例であり、ヒータ素子Ｈ１ｂ，Ｈ２ｂが第２のヒータ素子の例である。ヒータユニットＨ１，Ｈ２が第１のヒータユニットの例であり、ヒータユニットＨＡが第２のヒータユニットの例であり、端子ｉ１，ｉ２，ｆ，ｇ，Ｆ，Ｇがそれぞれ第１〜第６の端子の例である。入力コネクタＣ１１，Ｃ１２が第１の入力コネクタおよび一方の入力コネクタの例であり、入力コネクタＣ１３，Ｃ１４が第２の入力コネクタの例であり、ヒータ用コネクタＣ２５が接続回路の例である。

図２のヒータ駆動装置３００においては、入力コネクタＣ１１〜Ｃ１４、一次コネクタＣ１、端子ｆ，ｇ，Ｆ，Ｇ，ｃ１，ｃ２および短絡部材Ｊが設定部の例である。図５のヒータ駆動装置３００においては、判定部４０、端子ｃ１，ｃ２および制御装置４００が設定部の例である。図９のヒータ駆動装置３００においては、判定部４０、端子ｃ１，ｃ２およびスイッチング素子Ｓ４が設定部の例である。

１…分析装置，１０…トランス，２０…回路基板，３０…切替部，４０，４０Ａ〜４０Ｃ，５０…判定部，４１…フォトカプラ，４２…定電圧ダイオード，４３…整流ダイオード，４４…比較回路，４５…ラッチ回路，４６〜４８…抵抗，１００…前処理部，１１０…流路切替バルブ，１１１〜１１６，２１１〜２１３…ポート，１２０，２２０…ガス流量制御部，１３０…凝縮部，１４０…サンプルチューブ，１５０…冷却ファン，２００…分析部，２１０…インジェクタ，２３０…カラム，２４０…検出器，３００…ヒータ駆動装置，４００…制御装置，５００…分析システム，５０１，５０２…配管，ａ〜ｋ，Ａ〜Ｉ，ｃ１〜ｃ４，ｉ１，ｉ２，ｏ１〜ｏ４…端子，Ｃ１…一次コネクタ，Ｃ２…二次コネクタ，Ｃ１１〜Ｃ１４…入力コネクタ，Ｃ２１…給電部，Ｃ２２…出力コネクタ，Ｃ２３，Ｃ２５…ヒータ用コネクタ，Ｃ２４…通信コネクタ，Ｄ１，Ｄ２，ＤＡ…温度センサ，Ｈ１，Ｈ２，ＨＡ…ヒータユニット，Ｈ１ａ，Ｈ１ｂ，Ｈ２ａ，Ｈ２ｂ…ヒータ素子，Ｊ…短絡部材，Ｍ…電磁コイル，Ｒ…リレー，ｓ１〜ｓ６…接点，Ｓ１，Ｓ３，Ｓ４…スイッチング素子，Ｓ２…スイッチ回路，ｗ１…一次コイル，ｗ２…二次コイル

Claims (9)

1. 試料を分析する分析装置と、
   前記分析装置の予め定められた構成部分を加熱するように設けられた第１および第２のヒータ素子を含む第１のヒータユニットと、
   第１および第２の端子と、
   前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第１および第２のヒータ素子を並列接続する第１の接続状態と、前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第１および第２のヒータ素子を直列接続する第２の接続状態とに切り替え可能な切替部と、
   前記第１の端子と第２の端子との間に印加される電圧に応じて前記切替部を前記第１および第２の接続状態のいずれかに選択的に設定する設定部とを備える、分析システム。
2. 前記設定部は、前記第１の端子と第２の端子との間に第１の範囲内の電圧が印加された場合に前記切替部を前記第１の接続状態に設定し、前記第１の端子と第２の端子との間に前記第１の範囲よりも高い第２の範囲内の電圧が印加された場合に前記切替部を前記第２の接続状態に設定する、請求項１記載の分析システム。
3. 第１および第２の入力コネクタと、
   トランスと、
   前記トランスの一次コイルに接続されるとともに前記第１および第２の入力コネクタに選択的に接続可能な一次コネクタと、
   前記トランスの二次コイルに接続される二次コネクタと、
   前記二次コネクタに接続可能な第２のヒータユニットとをさらに備え、
   前記第１の入力コネクタは、前記一次コネクタが当該第１の入力コネクタに接続された状態で前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第１の範囲内の電圧が印加された場合に、前記二次コネクタに予め定められた第３の範囲内の電圧が発生するように、前記一次コネクタに接続され、
   前記第２の入力コネクタは、前記一次コネクタが当該第２の入力コネクタに接続された状態で前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第２の範囲内の電圧が印加された場合に、前記二次コネクタに前記第３の範囲内の電圧が発生するように、前記一次コネクタに接続され、
   前記設定部は、前記一次コネクタが前記第１の入力コネクタに接続された場合に前記切替部を前記第１の接続状態に設定し、前記一次コネクタが前記第２の入力コネクタに接続された場合に前記切替部を前記第２の接続状態に設定する、請求項２記載の分析システム。
4. 前記切替部は、
   前記第１および第２のヒータ素子を接続する接続回路と、
   前記接続回路を前記第１の接続状態と前記第２の接続状態とに切り替えるリレーとを含み、
   前記設定部は、前記一次コネクタが前記第１の入力コネクタに接続されたか前記第２の入力コネクタに接続されたかに基づいて前記リレーを駆動する、請求項３記載の分析システム。
5. 前記第１および第２の入力コネクタのうち一方の入力コネクタは、前記リレーに接続されかつ前記第１および第２の端子に接続されない第３の端子と、前記リレーに接続されずかつ前記第１および第２の端子に接続されない第４の端子とを有し、
   前記一次コネクタは、互いに短絡されかつ前記トランスに接続されない第５および第６の端子を有し、
   前記一次コネクタが前記一方の入力コネクタに接続されたときに、前記第３の端子と前記第５の端子とが接続されかつ前記第４の端子と前記第６の端子とが接続され、前記第３の端子と前記第４の端子とが短絡されることにより前記リレーが駆動される、請求項４記載の分析システム。
6. 前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第１の範囲の電圧が印加されたか前記第２の範囲の電圧が印加されかを判定する判定部をさらに備え、
   前記設定部は、前記判定部の判定結果に基づいて、前記切替部を前記第１の接続状態または前記第２の接続状態に設定する、請求項２記載の分析システム。
7. 前記第１のヒータユニットを制御する制御装置をさらに備え、
   前記制御装置は、前記切替部が前記第１の接続状態であるか前記第２の接続状態であるかに基づいて前記第１のヒータユニットの制御パラメータを調整する、請求項２〜６のいずれか一項に記載の分析システム。
8. 前記制御パラメータは、前記第１のヒータユニットに供給される電流のデューティ比を含む、請求項７記載の分析システム。
9. 前記制御パラメータは、前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第１の範囲の電圧が印加された場合と前記第１の端子と前記第２の端子との間に前記第２の範囲の電圧が印加された場合とで前記第１のヒータユニットの出力電力が実質的に等しくなるように前記制御パラメータを調整する、請求項７または８記載の分析システム。

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