JP2019041500A - Inspection method of power conversion equipment - Google Patents

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Abstract

To provide an inspection method of power conversion equipment that performs deterioration determination of an optical fiber, without removing the optical fiber.SOLUTION: In an inspection method of power conversion equipment having a separately excited power converter including multiple thyristors, an optical fiber, and a gate controller including a photoelectric conversion circuit for converting an optical signal transmitted from the optical fiber into an electric signal to be outputted, an AC signal generation device applies an AC voltage between main terminals of one of the multiple thyristors, an optical conversion circuit converts the AC voltage into an optical signal, the photoelectric conversion circuit converts the optical signal into an electric signal, and a waveform observation device determined whether or not the amplitude and the time width of the electrical signal satisfy a prescribed values.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の実施形態は、電力変換装置の検査方法に関する。   Embodiments described herein relate generally to an inspection method for a power converter.

電力系統等に用いられる電力変換装置は、長期間の使用に耐えるために、高い信頼性が求められる。高信頼性を維持するために、保守点検作業が欠かせない。保守点検作業を実施している間は、その電力変換装置は停止状態となり、その電力変換装置によって電力供給される系統は、他の系統に代替等される必要がある。電力需給の状況によっては、停止している期間は、極力短縮する必要がある。また、検査のための作業工数の観点からは、短時間で保守点検作業を完了することが望まれる。   Power converters used in power systems and the like are required to have high reliability in order to withstand long-term use. Maintenance and inspection work is indispensable for maintaining high reliability. While the maintenance and inspection work is being performed, the power conversion device is in a stopped state, and the system supplied with power by the power conversion device needs to be replaced with another system. Depending on the power supply and demand situation, it is necessary to shorten the period when it is stopped. Further, from the viewpoint of the work man-hours for inspection, it is desirable to complete the maintenance inspection work in a short time.

たとえば、他励式の交直電力変換装置の場合には、サイリスタの順方向動作および逆阻止動作を検出するFV信号およびRV信号を光信号に変換し光ファイバによってゲート制御装置に送信する。これによって、ゲート制御装置では、各サイリスタの順方向動作および逆阻止動作を監視し、これらにもとづいて適切なゲート駆動信号を生成する。   For example, in the case of a separately-excited AC / DC power converter, the FV signal and the RV signal for detecting the forward operation and the reverse blocking operation of the thyristor are converted into optical signals and transmitted to the gate control device through optical fibers. Thus, the gate control device monitors the forward operation and reverse blocking operation of each thyristor, and generates an appropriate gate drive signal based on these.

高電圧出力する電力変換装置では、多数のサイリスタを直列接続するため、これらのサイリスタに対応する本数の光ファイバが接続されており、保守点検においては、これら多数の光ファイバの劣化状況等を検査する必要がある。従来、検査すべき光ファイバは、保守点検時にすべて取り外して、1本1本劣化の程度を確認し、劣化不良と判定されたものについては、良品に交換し、良品と判定されたものとともに再度装置に接続する。   In a power converter that outputs high voltage, a large number of thyristors are connected in series, so the number of optical fibers corresponding to these thyristors is connected. There is a need to. Conventionally, all the optical fibers to be inspected are removed at the time of maintenance and inspection, and the degree of deterioration of each one is checked. Connect to the device.

上述のように、光ファイバは、サイリスタの個数×信号本数分あり、取り外し作業や再接続作業に膨大な時間を要する。また、光ファイバを脱着する場合に、光ファイバを破損するおそれもあり、信頼性を確保するには、さらに慎重な作業が必要となり、交換作業に要する時間が長くなる傾向にある。   As described above, the number of optical fibers is equal to the number of thyristors × the number of signals, and an enormous amount of time is required for removal and reconnection. Further, when the optical fiber is detached, the optical fiber may be damaged. To ensure the reliability, more careful work is required, and the time required for the replacement work tends to be longer.

特開2011−205812号公報JP 2011-205812 A

実施形態は、光ファイバを取り外すことなく、光ファイバの劣化判定を行う電力変換装置の検査方法を提供する。   The embodiment provides an inspection method for a power conversion device that performs optical fiber deterioration determination without removing the optical fiber.

実施形態に係る電力変換装置の検査方法は、直列に接続された複数のサイリスタと、前記複数のサイリスタのそれぞれの主端子間の電圧を検出して光信号に変換する光変換回路と、を含む電力変換器と、前記光信号を伝送する光ファイバと、前記光ファイバから伝送された光信号を電気信号に変換して電気信号として出力する光電変換回路を含むゲート制御装置と、を有する電力変換装置の検査方法である。交流信号発生装置によって、前記複数のサイリスタのうちの1つの主端子間に交流電圧を印加し、前記光変換回路によって、前記交流電圧を光信号に変換し、前記光電変換回路によって、前記光信号を前記電気信号に変換し、波形観測装置によって、前記電気信号の振幅および時間幅がそれぞれ所定値を満たすか否かを判定する。   An inspection method for a power conversion device according to an embodiment includes a plurality of thyristors connected in series, and an optical conversion circuit that detects a voltage between main terminals of the plurality of thyristors and converts the voltage into an optical signal. A power converter comprising: a power converter; an optical fiber that transmits the optical signal; and a gate control device that includes a photoelectric conversion circuit that converts the optical signal transmitted from the optical fiber into an electrical signal and outputs the electrical signal. It is an inspection method of a device. An AC signal generator applies an AC voltage between main terminals of the plurality of thyristors, the AC conversion circuit converts the AC voltage into an optical signal, and the photoelectric conversion circuit converts the optical signal into the optical signal. Is converted into the electric signal, and the waveform observation device determines whether the amplitude and time width of the electric signal satisfy predetermined values.

本実施形態では、電力変換器の光変換回路を交流信号発生装置で駆動し、光ファイバで伝送された光信号を、ゲート制御装置の光電変換回路によって電気信号に変換して出力波形を観測するので、光ファイバを機器から取り外すことなく、光ファイバの劣化判定を行うことができる。   In this embodiment, the optical converter circuit of the power converter is driven by an AC signal generator, and the optical signal transmitted through the optical fiber is converted into an electric signal by the photoelectric converter circuit of the gate controller, and the output waveform is observed. Therefore, it is possible to determine the deterioration of the optical fiber without removing the optical fiber from the device.

第1の実施形態に係る電力変換装置の検査方法を例示するブロック図である。It is a block diagram which illustrates the inspection method of the power converter concerning a 1st embodiment. 図2(a)〜図2(c)は、第1の実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準の例を説明するための模式的な波形図である。Fig.2 (a)-FIG.2 (c) are typical waveform diagrams for demonstrating the example of the criterion in the inspection method of the power converter device of 1st Embodiment. 図3(a)〜図3(f)は、第1の実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準の例を説明するための模式的な波形図である。Fig.3 (a)-FIG.3 (f) are typical waveform diagrams for demonstrating the example of the criterion in the test | inspection method of the power converter device of 1st Embodiment. 第2の実施形態に係る電力変換装置の検査方法を例示するブロック図である。It is a block diagram which illustrates the test | inspection method of the power converter device which concerns on 2nd Embodiment. 図5(a)〜図5(d)は、第2の実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準の例を説明するための模式的な波形図である。Fig.5 (a)-FIG.5 (d) are typical waveform diagrams for demonstrating the example of the criterion in the inspection method of the power converter device of 2nd Embodiment. 図6(a)〜図6(d)は、第2の実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準の例を説明するための模式的な波形図である。FIG. 6A to FIG. 6D are schematic waveform diagrams for explaining examples of determination criteria in the inspection method for the power conversion device of the second embodiment. 第3の実施形態に係る電力変換装置の検査方法を例示するブロック図である。It is a block diagram which illustrates the inspection method of the power converter device concerning a 3rd embodiment. 第3の実施形態の電力変換装置の検査方法を説明するためのフローチャートの例である。It is an example of the flowchart for demonstrating the test | inspection method of the power converter device of 3rd Embodiment. 図9(a)〜図9(c)は、第3の実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準を説明するための模式的な波形図である。Fig.9 (a)-FIG.9 (c) are typical waveform diagrams for demonstrating the determination criterion in the test | inspection method of the power converter device of 3rd Embodiment.

以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態について説明する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には、同一の符号を付して詳細な説明を適宜省略する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
The drawings are schematic or conceptual, and the relationship between the thickness and width of each part, the size ratio between the parts, and the like are not necessarily the same as actual ones. Further, even when the same part is represented, the dimensions and ratios may be represented differently depending on the drawings.
In the present specification and drawings, the same elements as those described above with reference to the previous drawings are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted as appropriate.

(第1の実施形態)
図1は、本実施形態に係る電力変換装置の検査方法を例示するブロック図である。
図1に示すように、電力変換装置10は、電力変換器20と、光ファイバ30−1〜30−nと、ゲート制御装置50と、を有する。電力変換器20およびゲート制御装置50は、n(nは2以上の整数)本の光ファイバ30−1〜30−nにより接続されている。電力変換装置10は、ゲート制御装置50によって電力変換器20を位相制御して、交流電力を直流電力に変換し、直流電力を交流電力に変換する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram illustrating an inspection method for a power conversion device according to this embodiment.
As illustrated in FIG. 1, the power conversion device 10 includes a power converter 20, optical fibers 30-1 to 30-n, and a gate control device 50. The power converter 20 and the gate control device 50 are connected by n (n is an integer of 2 or more) optical fibers 30-1 to 30-n. The power conversion device 10 controls the phase of the power converter 20 by the gate control device 50, converts AC power into DC power, and converts DC power into AC power.

電力変換器20は、アームA0を含む。アームA0は、直列に接続された複数のサイリスタTH1〜THnを含む。この例では、サイリスタの個数はn個としている。電力変換器20は、他励式の変換器であり、ゲート制御装置50で生成されるゲート信号を、図示しないゲート信号用の光ファイバを介して複数のサイリスタTH1〜THnを駆動する。   Power converter 20 includes arm A0. Arm A0 includes a plurality of thyristors TH1 to THn connected in series. In this example, the number of thyristors is n. The power converter 20 is a separately-excited converter, and drives a plurality of thyristors TH1 to THn through a gate signal optical fiber (not shown) generated by the gate control device 50.

アームA0は、サイリスタTH1〜THnごとのアノード端子およびカソード端子にそれぞれ接続された接続端子21−1a,21−1b,…,21−na,21−nbを含む。接続端子21−1a,21−1b,…,21−na,21−nbの対には、交流信号発生装置1を接続することができる。各サイリスタTH1〜THnのアノードカソード間には、接続端子21−1a,21−1b,…,21−na,21−nbを介して接続された交流信号発生装置1によって供給される交流信号vsを印加することができる。交流信号vsは、たとえば商用周波数(50Hzまたは60Hz)の正弦波の交流電圧を有する信号である。   The arm A0 includes connection terminals 21-1a, 21-1b,..., 21-na, 21-nb connected to the anode terminal and the cathode terminal for each of the thyristors TH1 to THn. The AC signal generator 1 can be connected to a pair of connection terminals 21-1a, 21-1b,..., 21-na, 21-nb. The AC signal vs supplied by the AC signal generator 1 connected via the connection terminals 21-1a, 21-1b,..., 21-na, 21-nb is connected between the anodes and cathodes of the thyristors TH1 to THn. Can be applied. The AC signal vs is a signal having a sinusoidal AC voltage having a commercial frequency (50 Hz or 60 Hz), for example.

電力変換器20は、光変換回路22−1〜22−nを含む。光変換回路22−1〜22−nは、サイリスタTH1〜THnにそれぞれ接続されている。より具体的には、光変換回路22−1は、サイリスタTH1のアノードカソード間電圧を入力して、光信号に変換し、光信号を光ファイバ30−1に供給する。他の光変換回路についてもそれぞれ同様に接続され動作する。   The power converter 20 includes optical conversion circuits 22-1 to 22-n. The optical conversion circuits 22-1 to 22-n are connected to the thyristors TH1 to THn, respectively. More specifically, the light conversion circuit 22-1 receives the anode-cathode voltage of the thyristor TH1, converts it to an optical signal, and supplies the optical signal to the optical fiber 30-1. Other optical conversion circuits are connected and operate in the same manner.

光ファイバ30−1〜30−nは、それぞれの一端が電力変換器20の光変換回路22−1〜22−nに接続されている。光ファイバ30−1〜30−nは、それぞれの他端がゲート制御装置50に接続されている。   One end of each of the optical fibers 30-1 to 30-n is connected to the optical conversion circuits 22-1 to 22-n of the power converter 20. The other ends of the optical fibers 30-1 to 30-n are connected to the gate control device 50.

ゲート制御装置50は、光電変換回路52−1〜52−nを含む。光ファイバ30−1〜30−nの他端は、光電変換回路52−1〜52−nの入力にそれぞれ接続されている。光電変換回路52−1〜52−nは、光ファイバ30−1〜30−nを介して、それぞれ送信された光信号を電気信号に変換し、所定の変換処理を行って出力する。所定の変換処理は、たとえば任意の入力信号を方形波の電圧信号や電流信号に変換する。   The gate control device 50 includes photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n. The other ends of the optical fibers 30-1 to 30-n are connected to inputs of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n, respectively. The photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n convert the optical signals transmitted through the optical fibers 30-1 to 30-n, respectively, into electrical signals, perform predetermined conversion processing, and output the electrical signals. In the predetermined conversion process, for example, an arbitrary input signal is converted into a square wave voltage signal or current signal.

光電変換回路52−1〜52−nは、信号出力端子53−1〜53−nを含む。信号出力端子53−1〜53−nには、波形観測装置2を接続することができる。波形観測装置2は、信号出力端子53−1〜53−nを介して、光電変換回路52−1〜52−nから出力される信号を観測することができる。   The photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n include signal output terminals 53-1 to 53-n. The waveform observation device 2 can be connected to the signal output terminals 53-1 to 53-n. The waveform observation apparatus 2 can observe signals output from the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n via the signal output terminals 53-1 to 53-n.

本実施形態の電力変換装置の検査方法の動作について説明する。本実施形態の電力変換装置の検査方法では、以下の手順によって光ファイバ30−1〜30−nの劣化の有無を判定する。   Operation | movement of the test | inspection method of the power converter device of this embodiment is demonstrated. In the inspection method for the power conversion device of this embodiment, the presence or absence of deterioration of the optical fibers 30-1 to 30-n is determined by the following procedure.

まず、交流信号発生装置1によって交流信号vsをサイリスタTH−1〜TH−nのうちのいずれか1つのサイリスタTH−x(以下、1≦x≦nとする。)のアノードカソード間に接続端子21−xa,21−xbを介して印加する。   First, the AC signal generator 1 connects the AC signal vs between the anode and cathode of one of the thyristors TH-x (hereinafter, 1 ≦ x ≦ n) among the thyristors TH-1 to TH-n. Application is performed via 21-xa and 21-xb.

印加された交流信号vsは、対応する光変換回路22−xに入力され、光信号に変換される。   The applied AC signal vs is input to the corresponding optical conversion circuit 22-x and converted into an optical signal.

変換された光信号は、対応する光ファイバ30−xによって、光ファイバ30−xの一端から他端へ伝送される。   The converted optical signal is transmitted from one end of the optical fiber 30-x to the other end by the corresponding optical fiber 30-x.

光ファイバ30−xによって伝送された光信号は、光ファイバ30−xの他端に接続された光電変換回路52−xによって電気信号に変換され、所定の変換処理によってたとえば方形波の電圧信号に変換される。   The optical signal transmitted through the optical fiber 30-x is converted into an electric signal by the photoelectric conversion circuit 52-x connected to the other end of the optical fiber 30-x, and converted into, for example, a square wave voltage signal by a predetermined conversion process. Converted.

変換された電圧信号は、対応する信号出力端子53−xから出力され、波形観測装置2によって観測される。印加された交流信号vsに対する変換後の信号の形状等をあらかじめ設定することによって、対応する光ファイバの劣化検出を行うことができる。   The converted voltage signal is output from the corresponding signal output terminal 53-x and observed by the waveform observation device 2. By setting in advance the shape of the converted signal with respect to the applied AC signal vs, it is possible to detect the deterioration of the corresponding optical fiber.

交流信号発生装置1を他のサイリスタTH−y(以下、1≦y≦n,y≠xとする。)のアノードカソード間に接続を切り替え、波形観測装置2を対応する信号出力端子53−yに接続を切り替える。対応する光変換回路22−y、光ファイバ30−y、光電変換回路52−yを介して、印加された交流信号vsおよび出力の電圧信号の関係から光ファイバ30−yの劣化判定を行う。   The AC signal generator 1 is switched between the anodes and cathodes of other thyristors TH-y (hereinafter, 1 ≦ y ≦ n, y ≠ x), and the waveform observing device 2 is connected to the corresponding signal output terminal 53-y. Switch the connection to. The deterioration of the optical fiber 30-y is determined from the relationship between the applied AC signal vs and the output voltage signal via the corresponding optical conversion circuit 22-y, optical fiber 30-y, and photoelectric conversion circuit 52-y.

上述の手順をすべての光ファイバ30−1〜30−nに対して繰り返す。   The above procedure is repeated for all the optical fibers 30-1 to 30-n.

なお、サイリスタTH−1〜TH−nのアノードカソード間の電圧は、順方向の電圧および逆阻止電圧の両方について検出され、それぞれ光ファイバを介してゲート制御装置50に伝送される。順方向の電圧に関しては、FV信号、逆阻止電圧についてはRV信号として、検出され伝送される。つまり、これらの信号を伝送する光ファイバは、サイリスタ1つ当たりFV信号用およびRV信号用の2本設けられている。本実施形態の説明では、FV信号用およびRV信号用は、それぞれ同様に扱うことができるので、以下では、FV信号用の光ファイバに関連する事項について説明する。以下の説明は、RV信号用の光ファイバについても同様に適用することができる。   The voltages between the anodes and cathodes of the thyristors TH-1 to TH-n are detected for both the forward voltage and the reverse blocking voltage, and are respectively transmitted to the gate controller 50 through the optical fiber. The forward voltage is detected and transmitted as an FV signal and the reverse blocking voltage as an RV signal. That is, two optical fibers for transmitting these signals are provided for each FV signal and RV signal per thyristor. In the description of the present embodiment, the FV signal and the RV signal can be handled in the same manner, and therefore, items related to the optical fiber for the FV signal will be described below. The following description can be similarly applied to an optical fiber for RV signals.

以下では、光ファイバの劣化判定の基準の例について説明する。
図2(a)〜図3(f)は、本実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準の例を説明するための模式的な波形図である。
図2(a)の上段の図は、交流信号発生装置1から出力される交流信号vsの波形の時間変化を示している。下段の図は、ゲート制御装置50の光電変換回路52−xの信号出力端子53−xにおけるFV信号の波形の時間変化を示している。以後、波形図については同様である。
図2(a)〜図2(c)では、光ファイバの光量の劣化の判定基準において良品と判定される場合の波形図が示されている。
図3(a)〜図3(f)では、光ファイバの光量の劣化の判定基準において劣化ありと判定される場合の波形図が示されている。
Hereinafter, an example of a criterion for determining the deterioration of an optical fiber will be described.
Fig.2 (a)-FIG.3 (f) are typical waveform diagrams for demonstrating the example of the criterion in the inspection method of the power converter device of this embodiment.
The upper diagram in FIG. 2A shows the time change of the waveform of the AC signal vs output from the AC signal generator 1. The lower diagram shows the time change of the waveform of the FV signal at the signal output terminal 53-x of the photoelectric conversion circuit 52-x of the gate control device 50. FIG. Hereinafter, the same applies to the waveform diagrams.
FIGS. 2A to 2C show waveform diagrams in the case where the optical fiber is determined to be non-defective on the basis of the determination criterion for the light amount deterioration of the optical fiber.
FIGS. 3A to 3F show waveform diagrams in the case where it is determined that there is deterioration in the determination criterion for the deterioration of the light amount of the optical fiber.

ここで説明する例では、交流信号発生装置1から出力される交流信号vsのピーク値の判定下限値vs1および判定上限値vs2があらかじめ設定されている。また、FV信号についてのパルス幅の規定値Tspecがあらかじめ設定されている。交流信号vsのピーク値を次第に大きくした場合に、FV信号のパルス幅が広がり、規定値Tspecとなったときの交流信号vsのピーク値によって光ファイバの良否判定を行う。良品と判定されるのは、FV信号のパルス幅が規定値Tspecとなったときに、交流信号vsのピーク値が判定下限値vs1から判定上限値vs2の範囲にある場合である。劣化ありと判定されるのは、FV信号のパルス幅が規定値Tspecとなったときに、交流信号vsのピーク値が判定下限値vs1に達しない場合や、交流信号vsのピーク値が判定上限値vs2を超過する場合である。   In the example described here, the determination lower limit value vs1 and the determination upper limit value vs2 of the peak value of the AC signal vs output from the AC signal generator 1 are set in advance. In addition, a prescribed value Tspec of the pulse width for the FV signal is set in advance. When the peak value of the AC signal vs is gradually increased, the pass / fail of the optical fiber is determined based on the peak value of the AC signal vs when the pulse width of the FV signal widens to the specified value Tspec. A non-defective product is determined when the peak value of the AC signal vs falls within the range from the determination lower limit value vs1 to the determination upper limit value vs2 when the pulse width of the FV signal reaches the specified value Tspec. It is determined that there is deterioration when the peak value of the AC signal vs does not reach the determination lower limit value vs1 when the pulse width of the FV signal reaches the specified value Tspec, or when the peak value of the AC signal vs exceeds the determination upper limit. This is the case when the value vs2 is exceeded.

図2(a)〜図2(c)に示すように、交流信号vsの振幅を大きくした場合に、FV信号のパルス幅が広がり、規定値Tspecに達したときに、交流信号vsのピーク値は、判定下限値vs1と判定上限値vs2との間となっている。したがって、このような場合については、光ファイバは良品と判定される。   As shown in FIGS. 2A to 2C, when the amplitude of the AC signal vs is increased, when the pulse width of the FV signal widens and reaches the specified value Tspec, the peak value of the AC signal vs. Is between the determination lower limit value vs1 and the determination upper limit value vs2. Therefore, in such a case, the optical fiber is determined as a good product.

図3(a)〜図3(c)に示すように、交流信号vsの振幅を大きくした場合に、FV信号のパルス幅が規定値Tspecに達したとき(図3(c))には、交流信号vsのピーク値は、判定上限値vs2を超えており、光ファイバの劣化ありと判定される。   As shown in FIGS. 3A to 3C, when the amplitude of the AC signal vs is increased and the pulse width of the FV signal reaches a specified value Tspec (FIG. 3C), The peak value of the AC signal vs exceeds the determination upper limit value vs2, and it is determined that the optical fiber is deteriorated.

図3(d)〜図3(f)には、伝送される光ファイバが伝送する光量が所望の値よりも大きい場合が示されており、この場合にも光ファイバは劣化と判定される。図3(d)〜図3(f)に示すように、FV信号のパルス幅が規定値Tspecに達したときに(図3(d))、交流信号vsのピーク値が判定下限値vs1に達しておらず、さらに、交流信号vsの振幅を大きくして、ピーク値が判定下限値vs1と判定上限値vs2との間になるようにすると、FV信号のパルス幅が規定値Tspecを超えてしまう(図3(e)および図3(f))。   FIGS. 3D to 3F show a case where the amount of light transmitted by the transmitted optical fiber is larger than a desired value. In this case as well, the optical fiber is determined to be deteriorated. As shown in FIGS. 3D to 3F, when the pulse width of the FV signal reaches the specified value Tspec (FIG. 3D), the peak value of the AC signal vs becomes the determination lower limit value vs1. If the amplitude of the AC signal vs is increased and the peak value is between the determination lower limit value vs1 and the determination upper limit value vs2, the pulse width of the FV signal exceeds the specified value Tspec. (FIG. 3 (e) and FIG. 3 (f)).

光ファイバ30−1〜30−nの劣化判定の基準については上述に限らず、他にも適切に設定することができる。たとえば、出力される信号の歪率をあらかじめ設定したしきい値と比較する等としてもよい。   The criteria for determining the deterioration of the optical fibers 30-1 to 30-n are not limited to those described above, and can be set appropriately. For example, the distortion rate of the output signal may be compared with a preset threshold value.

本実施形態の電力変換装置の検査方法の効果について説明する。
本実施形態の電力変換装置の検査方法では、電力変換器20内のサイリスタTH1〜THnごとに設けられた光変換回路22−1〜22−nによって、交流信号vsを光信号に変換することができる。そのため、光ファイバ30−1〜30−nのそれぞれの一端を光変換回路22−1〜22−nから取り外すことなく、試験用の発光信号を光ファイバ30−1〜30−nに供給することができる。
The effect of the inspection method of the power converter of this embodiment will be described.
In the inspection method for the power conversion device of this embodiment, the AC signal vs can be converted into an optical signal by the optical conversion circuits 22-1 to 22-n provided for the thyristors TH1 to THn in the power converter 20. it can. Therefore, a test light emission signal is supplied to the optical fibers 30-1 to 30-n without removing one end of each of the optical fibers 30-1 to 30-n from the optical conversion circuits 22-1 to 22-n. Can do.

そして、ゲート制御装置50内に光ファイバ30−1〜30−nに対応するように設けられた光電変換回路52−1〜52−nの信号出力端子53−1〜53−nを用いて、光電変換回路52−1〜52−nから出力される信号を検出することができる。そのため、光ファイバ30−1〜30−nの他端を光電変換回路52−1〜52−nから取り外すことなく、光ファイバ30−1〜30−nから出力される光量を検出することができる。   Then, using the signal output terminals 53-1 to 53-n of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n provided in the gate control device 50 so as to correspond to the optical fibers 30-1 to 30-n, Signals output from the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n can be detected. Therefore, it is possible to detect the amount of light output from the optical fibers 30-1 to 30-n without removing the other ends of the optical fibers 30-1 to 30-n from the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n. .

以上より、本実施形態の電力変換装置の検査方法では、いずれの光ファイバ30−1〜30−nも電力変換器20およびゲート制御装置50から取り外すことなく、光量の劣化の有無を検査することができる。したがって、光ファイバ30−1〜30−nを取り外し、再度接続することによる作業工数を削減することができる。   As mentioned above, in the inspection method of the power converter of this embodiment, the presence or absence of light amount deterioration is inspected without removing any of the optical fibers 30-1 to 30-n from the power converter 20 and the gate controller 50. Can do. Therefore, it is possible to reduce the work man-hours by removing and reconnecting the optical fibers 30-1 to 30-n.

本実施形態では、光ファイバの光量の劣化を検査するのに、光ファイバを電力変換器20およびゲート制御装置50から取り外し、再接続することがない。そのため、光ファイバの取り扱い時における機械的損傷等を生じることがなく、慎重な作業を行う必要もなくなるので、さらなる作業工数の低減に寄与することができる。   In the present embodiment, the optical fiber is not removed from the power converter 20 and the gate control device 50 and reconnected in order to check the deterioration of the light amount of the optical fiber. Therefore, mechanical damage or the like during handling of the optical fiber does not occur, and it is not necessary to perform careful work, which can contribute to further reduction in the number of work steps.

光変換回路22−1〜22−nや光電変換回路52−1〜52−nは、電力変換装置10の通常の動作のために設けられている。したがって、新たに設備の変更や修正を行うことなく、検査方法を実施することができる。   The optical conversion circuits 22-1 to 22-n and the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n are provided for normal operation of the power conversion device 10. Therefore, the inspection method can be carried out without newly changing or correcting the equipment.

なお、上述では、FV信号のための光ファイバの光量の劣化検査について説明したが、実際には、これに加えてRV信号のための光ファイバも設けられているので、作業工数の低減効果はさらに大きくなる。   In the above description, the optical fiber deterioration test for the FV signal has been described. However, in reality, an optical fiber for the RV signal is also provided, so the effect of reducing the work man-hours is It gets bigger.

(第2の実施形態)
図4は、本実施形態に係る電力変換装置の検査方法を例示するブロック図である。
図4に示すように、本実施形態の電力変換装置の検査方法では、交流信号発生装置101によって、アームA0の両端に交流信号vsaを印加する。ゲート制御装置150は、論理回路153を含む。論理回路153は、OR回路153aと、AND回路153bと、を含む。
(Second Embodiment)
FIG. 4 is a block diagram illustrating a power conversion device inspection method according to this embodiment.
As shown in FIG. 4, in the method for inspecting a power conversion device of the present embodiment, an AC signal vsa is applied to both ends of the arm A0 by the AC signal generator 101. The gate control device 150 includes a logic circuit 153. The logic circuit 153 includes an OR circuit 153a and an AND circuit 153b.

OR回路153aおよびAND回路153bの入力には、光電変換回路52−1〜52−nの出力がそれぞれ接続されている。OR回路153aは、光電変換回路52−1〜52−nの出力の論理和をとってFVOR信号を出力する。AND回路153bは、光電変換回路52−1〜52−nの出力の論理積をとってFVAND信号を出力する。   The outputs of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n are connected to the inputs of the OR circuit 153a and the AND circuit 153b, respectively. The OR circuit 153a calculates the logical sum of the outputs of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n and outputs an FVOR signal. The AND circuit 153b calculates the logical product of the outputs of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n and outputs an FVAND signal.

本実施形態の電力変換装置の検査方法の動作について説明する。本実施形態の電力変換装置の検査方法では、以下の手順によって光ファイバの劣化の有無を判定する。ただし、この実施形態の場合には、n本の光ファイバ30−1〜30−nのうちの劣化のある光ファイバを特定するのではなく、アーム単位で劣化した光ファイバが存在するか否かを判定する。   Operation | movement of the test | inspection method of the power converter device of this embodiment is demonstrated. In the inspection method for the power conversion device of this embodiment, the presence or absence of optical fiber deterioration is determined by the following procedure. However, in the case of this embodiment, whether or not there is an optical fiber deteriorated in units of arms, rather than specifying a deteriorated optical fiber among the n optical fibers 30-1 to 30-n. Determine.

まず、交流信号発生装置101によって交流信号vsaをアームA0の両端に印加する。   First, the AC signal generator 101 applies the AC signal vsa to both ends of the arm A0.

印加された信号は、各サイリスタTH−1〜TH−nによって分圧され、分圧された信号は、光変換回路22−1〜22−nにそれぞれ入力される。光変換回路22−1〜22−nは、光信号にそれぞれ変換して光ファイバ30−1〜30−nに供給する。   The applied signal is divided by the thyristors TH-1 to TH-n, and the divided signals are input to the optical conversion circuits 22-1 to 22-n, respectively. The optical conversion circuits 22-1 to 22-n are converted into optical signals and supplied to the optical fibers 30-1 to 30-n.

光ファイバ30−1〜30−nは、一端から入力された光信号を他端に伝送する。   The optical fibers 30-1 to 30-n transmit an optical signal input from one end to the other end.

光電変換回路52−1〜52−nは、伝送された光信号を所定の形式の電気信号に変換して出力する。   The photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n convert the transmitted optical signal into an electric signal of a predetermined format and output it.

論理回路153は、光電変換回路52−1〜52−nが出力した電気信号の論理和および論理積をとって、それぞれ出力する。論理和であるFVOR信号および論理積であるFVAND信号の形状を、あらかじめ設定された基準と比較して、アームA0単位の光ファイバの劣化判定を行う。   The logic circuit 153 takes the logical sum and logical product of the electrical signals output from the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n, and outputs them. The shape of the FVOR signal that is the logical sum and the FVAND signal that is the logical product is compared with a preset reference, and the deterioration of the optical fiber in the arm A0 unit is determined.

FVAND信号が劣化判定された場合には、そのアームA0中のサイリスタTH−1〜TH−nに対応する光ファイバ30−1〜30−nの中に、少なくとも1つの劣化判定される光ファイバが含まれる。そのため、アームA0のサイリスタTH−1〜TH−nのいずれに対応する光ファイバが劣化しているかについては、別途個別に劣化検査等を行う必要がある。   When the FVAND signal is determined to be deteriorated, at least one of the optical fibers 30-1 to 30-n corresponding to the thyristors TH-1 to TH-n in the arm A0 is determined to be deteriorated. included. Therefore, it is necessary to separately perform a deterioration inspection or the like as to whether the optical fiber corresponding to any of thyristors TH-1 to TH-n of arm A0 has deteriorated.

FVAND信号が良品判定となった場合には、そのアームA0中のサイリスタTH−1〜TH−nに対応する光ファイバ30−1〜30−nはすべて良品判定となる。   When the FVAND signal is determined as good, all the optical fibers 30-1 to 30-n corresponding to the thyristors TH-1 to TH-n in the arm A0 are determined as good.

FVOR信号が劣化判定された場合には、そのアームA0中のサイリスタTH−1〜TH−nに対応する光ファイバ30−1〜30−nはすべて劣化判定となる。   When the FVOR signal is determined to be deteriorated, all the optical fibers 30-1 to 30-n corresponding to the thyristors TH-1 to TH-n in the arm A0 are determined to be deteriorated.

FVOR信号が良品判定となった場合には、そのアームA0のサイリスタTH−1〜TH−nに対応する光ファイバのうち少なくとも1本について良品判定されるものが含まれる。そのため、そのアームA0に劣化判定品が含まれるか否かについてFVAND信号の結果等を合わせて確認する必要がある。たとえば、FVAND信号により劣化判定された場合には、別途個別に劣化検討を行う必要がある。FVAND信号により良品判定された場合には、上述したとおり、アームA0内のサイリスタTH−1〜TH−nは、良品となる。   When the FVOR signal is determined to be non-defective, a non-defective product is determined for at least one of the optical fibers corresponding to the thyristors TH-1 to TH-n of the arm A0. Therefore, it is necessary to confirm whether or not the arm A0 includes a deterioration determination product together with the result of the FVAND signal. For example, when the deterioration is determined by the FVAND signal, it is necessary to separately examine the deterioration. When the non-defective product is determined by the FVAND signal, as described above, the thyristors TH-1 to TH-n in the arm A0 are non-defective.

図5(a)〜図6(d)は、本実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準の例を説明するための模式的な波形図である。
本実施形態の電力変換装置の検査方法の動作について、図5(a)〜図6(d)を用いて説明する。
図5(a)の最上段の図は、交流信号発生装置101から出力される交流信号vsaの波形の時間変化を示している。2段目の図は、OR回路153aが出力するFVOR信号の波形の時間変化を示している。最下段の図は、AND回路153bが出力するFVAND信号の波形の時間変化を示している。以下、図5(b)〜図6(d)の各波形図について同様である。
Fig.5 (a)-FIG.6 (d) are typical waveform diagrams for demonstrating the example of the criterion in the inspection method of the power converter device of this embodiment.
Operation | movement of the test | inspection method of the power converter device of this embodiment is demonstrated using Fig.5 (a)-FIG.6 (d).
The uppermost diagram in FIG. 5A shows the time change of the waveform of the AC signal vsa output from the AC signal generator 101. The second stage diagram shows the time change of the waveform of the FVOR signal output from the OR circuit 153a. The lowermost diagram shows the time change of the waveform of the FVAND signal output from the AND circuit 153b. The same applies to the waveform diagrams of FIGS. 5B to 6D.

図5(a)〜図5(d)には、光ファイバの光量が良品判定となる場合について、図5(a)〜図5(d)の順に、交流信号vsaの振幅を大きくしていった場合のFVOR信号およびFVAND信号の波形が示されている。図5(a)では、交流信号vsaが判定下限値vsa1に達した場合が示されている。図5(b)では、交流信号vsaが判定下限値vsa1を超えた後に、FVOR信号のパルス幅が規定値Tspecに達したことを示している。この例では、FVAND信号のパルス幅は、FVOR信号のパルス幅よりも狭い。   FIGS. 5A to 5D show the case where the amplitude of the AC signal vsa is increased in the order of FIGS. 5A to 5D in the case where the light quantity of the optical fiber is determined as non-defective. The waveforms of the FVOR signal and the FVAND signal are shown. FIG. 5A shows a case where the AC signal vsa has reached the determination lower limit value vsa1. FIG. 5B shows that the pulse width of the FVOR signal has reached the specified value Tspec after the AC signal vsa has exceeded the determination lower limit value vsa1. In this example, the pulse width of the FVAND signal is narrower than the pulse width of the FVOR signal.

FVOR信号は、光電変換回路52−1〜52−nがそれぞれ出力する方形波信号の論理和である。光電変換回路52−1〜52−nが出力する信号は、光ファイバ30−1〜30−nを伝搬してきた光信号である。これらの光信号は、光ファイバ30−1〜30−nの一端において、光変換回路22−1〜22−nによって供給される。サイリスタTH−1〜TH−nのオフ時のインピーダンスをすべて等しいとすれば、各サイリスタの両端には、vsa/nの電圧が印加される。   The FVOR signal is a logical sum of square wave signals output from the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n, respectively. The signals output from the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n are optical signals that have propagated through the optical fibers 30-1 to 30-n. These optical signals are supplied by the optical conversion circuits 22-1 to 22-n at one end of the optical fibers 30-1 to 30-n. Assuming that the impedances of the thyristors TH-1 to TH-n are all equal, a voltage of vsa / n is applied to both ends of each thyristor.

図5(b)に示すように、OR回路153aは、光電変換回路52−1〜52−nの出力のうち、もっともパルス幅が広いものを出力する。つまり、図5(b)のFVOR信号によって判定されるのは、アームA0内のいくつかのサイリスタに対応する光ファイバの光量の劣化が良品のレベルであるということである。   As shown in FIG. 5B, the OR circuit 153a outputs the output having the widest pulse width among the outputs of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n. In other words, what is determined by the FVOR signal in FIG. 5B is that the light amount deterioration of the optical fibers corresponding to some thyristors in the arm A0 is at a non-defective level.

図5(c)および図5(d)に示すように、さらに交流信号vsaのピーク値を増加させると、FVAND信号のパルス幅が規定値Tspecに達する。AND回路153bは、光電変換回路52−1〜52−nの出力のうち、もっともパルス幅が狭いものを出力する。つまり、図5(c)および図5(d)の状態においては、光ファイバが伝送する光量がもっとも小さいものであっても、規定値以上の光量を伝送できることを示している。   As shown in FIG. 5C and FIG. 5D, when the peak value of the AC signal vsa is further increased, the pulse width of the FVAND signal reaches the specified value Tspec. The AND circuit 153b outputs the output having the narrowest pulse width among the outputs of the photoelectric conversion circuits 52-1 to 52-n. That is, in the states of FIG. 5C and FIG. 5D, it is shown that even when the amount of light transmitted by the optical fiber is the smallest, the amount of light exceeding the specified value can be transmitted.

図6(a)〜図6(d)には、n本のうちいずれか1本以上の光ファイバの光量の伝送に劣化が生じている場合について示している。図6(a)〜図6(c)に示すように、FVOR信号は、交流信号vsaが判定下限値vsa1から判定上限値vsa2の範囲において、規定値Tspecに達している。このことは、n本のうちいずれか1本以上の光ファイバの光量の劣化は良品のレベルであることを示している。   FIGS. 6A to 6D show a case where the transmission of the light amount of any one or more of the n optical fibers is deteriorated. As shown in FIGS. 6A to 6C, the FVOR signal reaches the specified value Tspec when the AC signal vsa is in the range from the determination lower limit value vsa1 to the determination upper limit value vsa2. This indicates that the deterioration of the light amount of any one or more of the n optical fibers is at a non-defective level.

しかし、図6(c)および図6(d)に示すように、FVAND信号は、交流信号vsaが判定上限値vsa2に達しても、規定値Tspecに達することがなく、さらに交流信号のピーク値を増大させてはじめて規定値Tspecに達している。つまり、このことは、n本の光ファイバのうち1本以上の光ファイバについて、光量に劣化のレベルのものがあることを示している。   However, as shown in FIGS. 6C and 6D, the FVAND signal does not reach the specified value Tspec even when the AC signal vsa reaches the determination upper limit value vsa2, and further the peak value of the AC signal. The specified value Tspec is reached only when the value is increased. That is, this indicates that one or more of the n optical fibers has a level of deterioration in light quantity.

論理回路153は、ORゲートおよびANDゲートを用いてハードウェア的に実現してもよいし、プログラムのステップとして論理和および論理積をとるようにしてもよい。   The logic circuit 153 may be realized by hardware using an OR gate and an AND gate, or may be ORed and ANDed as program steps.

本実施形態の電力変換装置の検査方法の効果について説明する。
本実施形態では、ゲート制御装置50が論理回路153を含んでいることによって、数多くの光ファイバ30−1〜30−nの光量の劣化の有無について、劣化の大きいものが含まれていない場合を迅速に検出することができる。
The effect of the inspection method of the power converter of this embodiment will be described.
In the present embodiment, since the gate control device 50 includes the logic circuit 153, there is a case where a large number of optical fibers 30-1 to 30-n are not deteriorated with respect to the presence or absence of light amount deterioration. It can be detected quickly.

光ファイバ30−1〜30−nの中に光量の劣化の大きいものが含まれていた場合には、n本の光ファイバを全数検査すればよい。光ファイバを全数検査するには、上述した第1の実施形態の場合を適用してもよいし、他の方法を用いてもよい。   If the optical fibers 30-1 to 30-n include ones with a large deterioration in the amount of light, all the n optical fibers may be inspected. In order to inspect all the optical fibers, the case of the first embodiment described above may be applied, or another method may be used.

電力変換装置には、多数のアームA0が設けられている場合があり、また、多数の電力変換装置の光ファイバを検査する場合には、アーム中のサイリスタそれぞれに対応する光ファイバごとに検査を行っていたのでは、検査の効率が低下する。本実施形態の電力変換装置の検査方法では、たとえばアームA0ごとに検査を行い、アームA0単位で対応する光ファイバの劣化の有無を判定することができる。その後、劣化が大きいと判定された光ファイバが含まれるアームA0について詳細検査を行うことで、検査の効率と検査の確実性が保証される。   The power conversion apparatus may be provided with a large number of arms A0, and when inspecting the optical fibers of a large number of power conversion apparatuses, the inspection is performed for each optical fiber corresponding to each thyristor in the arm. Doing so reduces the efficiency of the inspection. In the inspection method for the power conversion device of this embodiment, for example, an inspection is performed for each arm A0, and it is possible to determine whether or not the corresponding optical fiber has deteriorated in units of the arm A0. Thereafter, a detailed inspection is performed on the arm A0 including the optical fiber determined to have a large deterioration, thereby guaranteeing the inspection efficiency and the reliability of the inspection.

論理回路153の論理和および論理積をプログラムのステップとして実行する場合には、容易に実装することができるので、現状の装置を用いて検査の効率化を実現することができる。   When the logical sum and logical product of the logic circuit 153 are executed as program steps, the logic circuit 153 can be easily implemented, so that the efficiency of the inspection can be realized using the current apparatus.

上述した実施形態では、アームA0単位で交流信号を印加することとしたが、交流信号の印加単位は、アームA0単位に限らない。アームA0内のサイリスタTH−1〜TH−nを数個ごとにグループ分けして、そのグループ単位に順次交流信号を印加し、対応する光ファイバの劣化判定を行うようにしてもよい。   In the embodiment described above, the AC signal is applied in units of the arm A0. However, the unit of application of the AC signal is not limited to the unit of the arm A0. The thyristors TH-1 to TH-n in the arm A0 may be grouped into groups of several, and an AC signal may be sequentially applied to each group unit to determine the deterioration of the corresponding optical fiber.

(第3の実施形態)
図7は、本実施形態に係る電力変換装置の検査方法を例示するブロック図である。
図7に示すように、本実施形態の電力変換装置の検査方法では、電力変換装置は、上述の他の実施形態の場合と異なるゲート制御装置250を有している。ゲート制御装置250は、論理回路253を含む。論理回路253は、OR回路253−1a〜253−maと、AND回路253−1b〜253−mbと、を含む。
(Third embodiment)
FIG. 7 is a block diagram illustrating an inspection method for the power conversion device according to this embodiment.
As shown in FIG. 7, in the power conversion device inspection method according to the present embodiment, the power conversion device has a gate control device 250 that is different from those in the other embodiments described above. The gate control device 250 includes a logic circuit 253. The logic circuit 253 includes OR circuits 253-1a to 253-ma and AND circuits 253-1b to 253-mb.

本実施形態では、アームA0は、直列に接続されたn個のサイリスタTH−1〜TH−nを含む。アームA0は、m(mは2以上の整数)個のサイリスタのグループを含んでいる。たとえばこのサイリスタのグループは、サイリスタモジュールである。つまり、アームA0は、直列に接続されたm個のサイリスタモジュールM−1〜M−mを含み、それぞれのサイリスタモジュールには、k(=n/m)個のサイリスタを含む。   In the present embodiment, the arm A0 includes n thyristors TH-1 to TH-n connected in series. The arm A0 includes a group of m thyristors (m is an integer of 2 or more). For example, this group of thyristors is a thyristor module. That is, the arm A0 includes m thyristor modules M-1 to M-m connected in series, and each thyristor module includes k (= n / m) thyristors.

本実施形態では、サイリスタモジュールM−1〜M−mごとに、OR回路およびAND回路が接続されている。つまり、サイリスタモジュールM−1には、OR回路253−1aおよびAND回路253−1bが接続され、サイリスタモジュールM−mには、OR回路253−maおよびAND回路253−mbが接続されている。   In the present embodiment, an OR circuit and an AND circuit are connected to each of the thyristor modules M-1 to M-m. That is, the OR circuit 253-1a and the AND circuit 253-1b are connected to the thyristor module M-1, and the OR circuit 253-ma and the AND circuit 253-mb are connected to the thyristor module M-m.

交流信号発生装置101は、交流信号vsaを出力する。サイリスタモジュールM−1〜M−mの両端に印加される電圧は、各モジュールに含まれるサイリスタの個数によってほぼ設定される。たとえばすべてのサイリスタモジュールM−1〜M−mに含まれるサイリスタの個数が同じ場合には、サイリスタモジュールM−1〜M−mの両端に印加される電圧はそれぞれ等しい。たとえばサイリスタモジュールの印加電圧は、vsa/mである。以下では、各サイリスタモジュールに等しい電圧が印加されるものとして説明する。   The AC signal generator 101 outputs an AC signal vsa. The voltage applied to both ends of the thyristor modules M-1 to M-m is substantially set according to the number of thyristors included in each module. For example, when the number of thyristors included in all the thyristor modules M-1 to M-m is the same, the voltages applied to both ends of the thyristor modules M-1 to M-m are equal. For example, the applied voltage of the thyristor module is vsa / m. In the following description, it is assumed that an equal voltage is applied to each thyristor module.

アームA0の両端には、交流信号発生装置101が接続される。交流信号発生装置101は、アームA0に電圧信号vsaを供給する。サイリスタモジュールM−1〜M−mには、電圧vsmがそれぞれ印加される。たとえばサイリスタモジュールM−1の各サイリスタの両端に印加された電圧によって、対応する光変換回路は、印加された電圧に応じた光量の光を発光する。   The AC signal generator 101 is connected to both ends of the arm A0. The AC signal generator 101 supplies the voltage signal vsa to the arm A0. A voltage vsm is applied to each of the thyristor modules M-1 to Mm. For example, according to the voltage applied to both ends of each thyristor of the thyristor module M-1, the corresponding light conversion circuit emits light having a light amount corresponding to the applied voltage.

対応する光ファイバは、光変換回路の出力光を他端に接続された光電変換回路に伝送する。光電変換回路は、受光した光量に応じたパルス信号を出力する。   The corresponding optical fiber transmits the output light of the light conversion circuit to the photoelectric conversion circuit connected to the other end. The photoelectric conversion circuit outputs a pulse signal corresponding to the amount of received light.

光電変換回路が出力するパルス信号は、OR回路およびAND回路にそれぞれ入力される。OR回路は、入力されたパルス信号のうちもっとも広いパルス幅のパルス信号を出力する。AND回路は、入力されたパルス信号のうちもっとも狭いパルス幅のパルス信号を出力する。   The pulse signal output from the photoelectric conversion circuit is input to the OR circuit and the AND circuit, respectively. The OR circuit outputs a pulse signal having the widest pulse width among the input pulse signals. The AND circuit outputs a pulse signal having the narrowest pulse width among the input pulse signals.

図8は、本実施形態の電力変換装置の検査方法を例示するフローチャートである。
以下では、本実施形態の検査方法を用いて、光ファイバの劣化判定されたサイリスタモジュールを抽出した後、そのサイリスタモジュールについて、すべてのサイリスタに対応する光ファイバの劣化判定を行うことについて説明する。
FIG. 8 is a flowchart illustrating the inspection method for the power conversion device according to this embodiment.
Below, after extracting the thyristor module by which the optical fiber degradation determination was carried out using the test | inspection method of this embodiment, the degradation determination of the optical fiber corresponding to all the thyristors is performed about the thyristor module.

図8に示すように、本実施形態では、ステップS01において、アームA0のサイリスタモジュールごとに対応する光ファイバの光量劣化の判定を行い、劣化と判定されたサイリスタモジュールに対応する光ファイバ群を抽出する。   As shown in FIG. 8, in this embodiment, in step S01, the light amount deterioration of the optical fiber corresponding to each thyristor module of the arm A0 is determined, and the optical fiber group corresponding to the thyristor module determined to be deteriorated is extracted. To do.

より具体的には、ステップS11において、交流信号発生装置101によって、交流信号vsaをアームA0の両端に印加する。出力される交流信号のピーク値を、最小値から最大値の範囲で変化させる。   More specifically, in step S11, the AC signal generator 101 applies the AC signal vsa to both ends of the arm A0. The peak value of the output AC signal is changed in the range from the minimum value to the maximum value.

ステップS12において、光変換回路によって、交流信号を光信号に変換して対応する光ファイバにこの光信号を供給する。   In step S12, the optical conversion circuit converts the alternating current signal into an optical signal and supplies the optical signal to the corresponding optical fiber.

ステップS13において、光ファイバによって、光信号が一端から他端に伝送される。   In step S13, the optical signal is transmitted from one end to the other end by the optical fiber.

ステップS14において、光電変換回路によって、伝送された光信号が所定の形式の電気信号に変換される。   In step S14, the transmitted optical signal is converted into an electric signal of a predetermined format by the photoelectric conversion circuit.

ステップS15において、論理回路253によって、変換された電気信号すべての論理和および論理積がとられ出力される。波形観測装置2によって、出力された論理和および論理積によって対応するサイリスタモジュールに対応する光ファイバの劣化判定を行う。   In step S15, the logical circuit 253 takes the logical sum and logical product of all the converted electrical signals and outputs them. The waveform observation device 2 determines the deterioration of the optical fiber corresponding to the corresponding thyristor module based on the output logical sum and logical product.

次に、ステップS02において、劣化判定され抽出されたサイリスタモジュールを構成するサイリスタそれぞれに対して、交流信号vsを印加して、対応する光ファイバの劣化判定を行う。   Next, in step S02, the AC signal vs is applied to each of the thyristors constituting the thyristor module that has been determined to be deteriorated and extracted, and deterioration of the corresponding optical fiber is determined.

より具体的には、ステップS21において、交流信号発生装置1によって、交流信号vsを各サイリスタの両端に順次印加する。   More specifically, in step S21, the AC signal generator 1 sequentially applies the AC signal vs to both ends of each thyristor.

ステップS22において、対応する光変換回路によって、印加された交流信号vsは、光信号に変換される。   In step S22, the applied AC signal vs is converted into an optical signal by the corresponding optical conversion circuit.

ステップS23において、対応する光ファイバによって、変換された光信号は一端から他端へ伝送される。   In step S23, the converted optical signal is transmitted from one end to the other end by the corresponding optical fiber.

ステップS24において、光電変換回路によって、伝送されてきた光信号は、電気信号に変換され、所定の変換処理によってたとえば方形波の電圧信号に変換される。   In step S24, the optical signal transmitted by the photoelectric conversion circuit is converted into an electric signal, and is converted into, for example, a square wave voltage signal by a predetermined conversion process.

ステップS25において、波形観測装置2によって、変換された電圧信号は、対応する信号出力端子で波形観測される。印加された交流信号vsに対する変換後の信号の形状等をあらかじめ設定することによって、対応する光ファイバの劣化検出を行うことができる。   In step S25, the waveform observation apparatus 2 observes the waveform of the converted voltage signal at the corresponding signal output terminal. By setting in advance the shape of the converted signal with respect to the applied AC signal vs, it is possible to detect the deterioration of the corresponding optical fiber.

このようにして、それぞれの光ファイバについて、光量の伝送の劣化の有無が判定される。   In this manner, it is determined whether or not the transmission of the light amount has deteriorated for each optical fiber.

上述では、アームA0をいくつかのサイリスタモジュールに分割してサイリスタモジュールごとに光量劣化の判定を行うこととした。アームA0に含まれるサイリスタの個数が少ない場合等については、アームA0を分割せずに光量劣化の判定を行うようにしてもよい。その場合には、上述のステップS01を第2の実施形態の場合で置き換えることによって実現することができる。   In the above description, the arm A0 is divided into several thyristor modules, and light amount deterioration is determined for each thyristor module. For example, when the number of thyristors included in the arm A0 is small, the light amount deterioration may be determined without dividing the arm A0. In that case, it can be realized by replacing the above-described step S01 with the case of the second embodiment.

図9(a)〜図9(c)は、本実施形態の電力変換装置の検査方法における判定基準を説明するための模式的な波形図である。
図9(a)〜図9(c)の最上段の図は、各サイリスタの両端に印加される検査用の電圧vsmの波形の時間変化をそれぞれ示している。2段目の図は、サイリスタモジュールM−1に対応するAND回路253−1bが出力するFVAND信号の波形の時間変化を示している。3段目の図は、サイリスタモジュールM−2に対応するAND回路253−2bが出力するFVAND信号の波形の時間変化を示している。最下段の図は、サイリスタモジュールM−mに対応するAND回路253−mbが出力するFVAND信号の波形の時間変化を示している。
Fig.9 (a)-FIG.9 (c) are typical waveform diagrams for demonstrating the determination criterion in the test | inspection method of the power converter device of this embodiment.
9 (a) to 9 (c) show the time change of the waveform of the test voltage vsm applied to both ends of each thyristor. The second stage diagram shows the time change of the waveform of the FVAND signal output from the AND circuit 253-1b corresponding to the thyristor module M-1. The third diagram shows the time change of the waveform of the FVAND signal output from the AND circuit 253-2b corresponding to the thyristor module M-2. The lowermost diagram shows the time change of the waveform of the FVAND signal output from the AND circuit 253-mb corresponding to the thyristor module M-m.

図9(a)〜図9(c)に示すように、サイリスタモジュールのうちいくつか(この例では、少なくともサイリスタモジュールM−1,M−2)は、両端に印加された電圧vsmが最小値vsm1〜最大値vsm2の範囲で、FVAND信号のパルス幅が規定値Tspecに達している。そして、この例では、サイリスタモジュールのうちサイリスタモジュールM−mは、検査電圧vsmが最大値vsm2に達しても、FVAND信号のパルス幅が規定値Tspecに達していない。つまり、サイリスタモジュールM−mは、光量の劣化を生じた光ファイバに対応するサイリスタを含んでいる。   As shown in FIGS. 9A to 9C, some of the thyristor modules (in this example, at least thyristor modules M-1 and M-2) have a minimum voltage vsm applied to both ends. In the range from vsm1 to the maximum value vsm2, the pulse width of the FVAND signal reaches the specified value Tspec. In this example, among the thyristor modules M-m, the pulse width of the FVAND signal does not reach the specified value Tspec even when the inspection voltage vsm reaches the maximum value vsm2. That is, the thyristor module M-m includes a thyristor corresponding to the optical fiber in which the light amount is deteriorated.

なお、図9(a)〜図9(c)では、FVOR信号については、図示していないが、FVOR信号のパルス幅が規定値Tspecに達しない場合には、そのサイリスタモジュールに含まれるサイリスタに対応する光ファイバのすべてについて光量が劣化したと判定される。   In FIGS. 9A to 9C, the FVOR signal is not shown, but if the pulse width of the FVOR signal does not reach the specified value Tspec, the thyristor included in the thyristor module is used. It is determined that the amount of light has deteriorated for all of the corresponding optical fibers.

本実施形態の電力変換装置の検査方法の効果について説明する。
本実施形態では、1つのアームA0を複数のサイリスタモジュールに分割して、分割されたサイリスタモジュールに対応するOR回路およびAND回路を含む論理回路253を含んでいる。そのため、分割されたサイリスタモジュールごとに対応する光ファイバの光量伝送の劣化の有無を判定することができる。
The effect of the inspection method of the power converter of this embodiment will be described.
In the present embodiment, one arm A0 is divided into a plurality of thyristor modules, and a logic circuit 253 including an OR circuit and an AND circuit corresponding to the divided thyristor modules is included. Therefore, it is possible to determine the presence or absence of deterioration in the light amount transmission of the optical fiber corresponding to each divided thyristor module.

高圧直流送電に用いられる他励式の電力変換装置等の場合には、高電圧の入出力に対応するために、アームには、多数のサイリスタを直列接続している。また、このような電力変換装置は、多相のアームを有しており、たとえば6相のアームや12相のアーム等を含んでいる。このような場合に、アームごとに検査を行い、劣化判定されたときには、その劣化判定された光ファイバを特定するのにも、多数の光ファイバの個別チェックが必要となる。   In the case of a separately-excited power converter used for high-voltage direct current power transmission or the like, a large number of thyristors are connected in series to the arm in order to support high-voltage input / output. Such a power conversion device has a multi-phase arm, and includes, for example, a 6-phase arm, a 12-phase arm, and the like. In such a case, when the inspection is performed for each arm and the deterioration is determined, an individual check of a large number of optical fibers is required to identify the optical fiber determined to be deteriorated.

本実施形態の電力変換装置の検査方法では、分割されたサイリスタモジュールの直列個数を適切に設定することによって、サイリスタモジュール内での対応する光ファイバの劣化を効率よく検出することができる。劣化検出されたサイリスタモジュールごとに、たとえば個別チェックを行うことによって、確実に劣化した光ファイバを特定することが可能になる。   In the inspection method for the power conversion device of this embodiment, it is possible to efficiently detect the deterioration of the corresponding optical fiber in the thyristor module by appropriately setting the number of the divided thyristor modules in series. For example, by performing an individual check for each thyristor module whose deterioration is detected, it is possible to reliably identify the deteriorated optical fiber.

第3の実施形態においては、アームA0中のサイリスタモジュールM−1〜M−mの良否判定後に、劣化が検出されたサイリスタモジュールに対して、光ファイバごとに劣化判定を行う。上述したように、大電力容量の電力変換装置では、多相のアームを有しているので、あらかじめ電力変換装置中のアーム単位の光ファイバの劣化判定を行うようにしてもよい。具体的には、各アーム中のサイリスタモジュールの良否判定を行う前に、各アームの光ファイバの良否判定を行い(第2の実施形態に対応)、あらかじめ劣化した光ファイバを含むアームを抽出する。そのアームに対して、サイリスタモジュールごとの光ファイバの劣化判定を行い、続いて光ファイバごとの劣化判定を行うようにしてもよい。   In the third embodiment, after the quality determination of the thyristor modules M-1 to M-m in the arm A0, the deterioration determination is performed for each optical fiber on the thyristor module in which the deterioration is detected. As described above, since a power converter having a large power capacity has multi-phase arms, deterioration determination of optical fibers in units of arms in the power converter may be performed in advance. Specifically, before the pass / fail judgment of the thyristor module in each arm, the pass / fail judgment of the optical fiber of each arm is performed (corresponding to the second embodiment), and the arm including the optical fiber deteriorated in advance is extracted. . For the arm, the deterioration determination of the optical fiber for each thyristor module may be performed, and then the deterioration determination for each optical fiber may be performed.

以上説明した実施形態によれば、光ファイバを取り外すことなく、光ファイバの劣化判定を行う電力変換装置の検査方法を実現することができる。   According to the embodiment described above, it is possible to realize an inspection method for a power conversion device that performs optical fiber deterioration determination without removing the optical fiber.

以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他のさまざまな形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明およびその等価物の範囲に含まれる。また、前述の各実施形態は、相互に組み合わせて実施することができる。   As mentioned above, although some embodiment of this invention was described, these embodiment is shown as an example and is not intending limiting the range of invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the scope of the invention described in the claims and the equivalents thereof. Further, the above-described embodiments can be implemented in combination with each other.

1,101 交流信号発生装置、2 波形観測装置、10 電力変換装置、20 電力変換器、22−1〜22−n 光変換回路、30−1〜30−n 光ファイバ、50 ゲート制御装置、52−1〜52−n 光電変換回路、53−1〜53−n 信号出力端子、153,253 論理回路   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,101 AC signal generator, 2 Waveform observation apparatus, 10 Power converter, 20 Power converter, 22-1 to 22-n Optical conversion circuit, 30-1 to 30-n Optical fiber, 50 Gate controller, 52 -1 to 52-n photoelectric conversion circuit, 53-1 to 53-n signal output terminal, 153,253 logic circuit

Claims (4)

直列に接続された複数のサイリスタと、前記複数のサイリスタのそれぞれの主端子間の電圧を検出して光信号に変換する光変換回路と、を含む電力変換器と、
前記光信号を伝送する光ファイバと、
前記光ファイバから伝送された光信号を電気信号に変換して出力する光電変換回路を含むゲート制御装置と、
を有する電力変換装置の検査方法であって、
交流信号発生装置によって、前記複数のサイリスタのうちの1つの主端子間に交流電圧を印加し、
前記光変換回路によって、前記交流電圧を光信号に変換し、
前記光電変換回路によって、前記光信号を前記電気信号に変換し、
波形観測装置によって、前記電気信号の振幅および時間幅がそれぞれ所定値を満たすか否かを判定する電力変換装置の検査方法。
A power converter comprising: a plurality of thyristors connected in series; and an optical conversion circuit that detects a voltage between main terminals of each of the plurality of thyristors and converts the voltage into an optical signal;
An optical fiber for transmitting the optical signal;
A gate control device including a photoelectric conversion circuit that converts an optical signal transmitted from the optical fiber into an electrical signal and outputs the electrical signal;
An inspection method for a power converter having
By applying an AC voltage between one main terminal of the plurality of thyristors by an AC signal generator,
The AC conversion circuit converts the AC voltage into an optical signal,
The photoelectric conversion circuit converts the optical signal into the electrical signal,
A method for inspecting a power converter, wherein the waveform observation device determines whether or not the amplitude and time width of the electrical signal satisfy predetermined values, respectively.
直列に接続された複数のサイリスタと、前記複数のサイリスタのそれぞれの主端子間の電圧を検出して前記複数のサイリスタのそれぞれに対応した光信号に変換する光変換回路と、を含む電力変換器と、
前記光信号を伝送する光ファイバと、
前記光ファイバから伝送された光信号を電気信号に変換して出力する光電変換回路と、前記複数のサイリスタのそれぞれに対応した前記電気信号の論理演算を行う論理回路と、を含むゲート制御装置と、
を有する電力変換装置の検査方法であって、
交流信号発生装置によって、前記複数のサイリスタの直列接続体の両端に交流電圧を印加し、
前記光変換回路によって、前記交流電圧を光信号に変換し、
前記光電変換回路によって、前記光信号を前記電気信号に変換し、
波形観測装置によって、前記論理回路の出力信号の振幅および時間幅が所定値を満たすか否かを判定する電力変換装置の検査方法。
A power converter comprising: a plurality of thyristors connected in series; and an optical conversion circuit that detects a voltage between main terminals of each of the plurality of thyristors and converts the voltage into an optical signal corresponding to each of the plurality of thyristors. When,
An optical fiber for transmitting the optical signal;
A gate control device comprising: a photoelectric conversion circuit that converts an optical signal transmitted from the optical fiber into an electrical signal and outputs the electrical signal; and a logic circuit that performs a logical operation of the electrical signal corresponding to each of the plurality of thyristors; ,
An inspection method for a power converter having
By applying an AC voltage to both ends of the series connection body of the plurality of thyristors by an AC signal generator,
The AC conversion circuit converts the AC voltage into an optical signal,
The photoelectric conversion circuit converts the optical signal into the electrical signal,
An inspection method for a power conversion apparatus, wherein a waveform observation apparatus determines whether or not an amplitude and a time width of an output signal of the logic circuit satisfy predetermined values.
前記光電変換回路は、入力された前記光信号を、前記光信号の振幅および時間幅に応じた方形波に変換する方形波整形回路を含み、
前記論理回路は、前記方形波整形回路から出力される方形波信号の論理和および論理積をそれぞれ出力する請求項2記載の電力変換装置の検査方法。
The photoelectric conversion circuit includes a square wave shaping circuit that converts the input optical signal into a square wave according to the amplitude and time width of the optical signal,
The method of testing a power converter according to claim 2, wherein the logic circuit outputs a logical sum and a logical product of square wave signals output from the square wave shaping circuit.
前記複数のサイリスタは、2以上のグループを含み、
前記論理回路は、
前記2以上のグループのうちの1つのグループについて、
前記複数のサイリスタのうち前記1つのグループに含まれるそれぞれのサイリスタに対応した前記電気信号の論理演算を行い、
前記グループのうちの他の1つのグループについて、
前記複数のサイリスタのうち前記他の1つのグループに含まれるそれぞれのサイリスタに対応した前記電気信号の論理演算を行う請求項2または3に記載の電力変換装置の検査方法。
The plurality of thyristors includes two or more groups,
The logic circuit is:
For one of the two or more groups,
Performing a logical operation of the electrical signal corresponding to each thyristor included in the one group among the plurality of thyristors;
For the other one of the groups,
4. The method for inspecting a power conversion device according to claim 2, wherein logical operation of the electrical signal corresponding to each thyristor included in the other one group among the plurality of thyristors is performed. 5.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2021191069A (en) * 2020-05-28 2021-12-13 東芝三菱電機産業システム株式会社 Inspection method of power conversion device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05102571A (en) * 1991-10-03 1993-04-23 Toshiba Corp High voltage pulse generator
JP2009219171A (en) * 2008-03-06 2009-09-24 Hitachi Ltd Thyristor protector
JP2011205812A (en) * 2010-03-26 2011-10-13 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp Fault detection circuit of thyristor series circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05102571A (en) * 1991-10-03 1993-04-23 Toshiba Corp High voltage pulse generator
JP2009219171A (en) * 2008-03-06 2009-09-24 Hitachi Ltd Thyristor protector
JP2011205812A (en) * 2010-03-26 2011-10-13 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp Fault detection circuit of thyristor series circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021191069A (en) * 2020-05-28 2021-12-13 東芝三菱電機産業システム株式会社 Inspection method of power conversion device
JP7320330B2 (en) 2020-05-28 2023-08-03 東芝三菱電機産業システム株式会社 Power converter inspection method

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