JP2019028932A - 不良原因抽出システム及びその方法 - Google Patents
不良原因抽出システム及びその方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019028932A JP2019028932A JP2017150789A JP2017150789A JP2019028932A JP 2019028932 A JP2019028932 A JP 2019028932A JP 2017150789 A JP2017150789 A JP 2017150789A JP 2017150789 A JP2017150789 A JP 2017150789A JP 2019028932 A JP2019028932 A JP 2019028932A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- product
- database
- combination
- ratio
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- General Factory Administration (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
Description
第1の不良原因抽出システムであって、複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報を蓄積するデータベースと、前記データベースに蓄積された不良品情報が不良を示す製品の個数の割合と、前記データベースに蓄積された計測項目の値との関係を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに特定し、特定された関係における割合と、前記データベースに蓄積された計算項目ごとに平均化された割合とを比較し、不良原因の候補となる値を計測項目ごとに抽出する比較部と、前記比較部で抽出された不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、組み合せられた計測項目それぞれの値が計測された共通の製品の、前記データベースに蓄積された不良情報が不良を示す個数の割合を算出する計算部と、前記計算部で算出された割合に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てる順位生成部と、を備えたことを特徴とする。
Claims (11)
- 不良原因抽出システムであって、
複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報を蓄積するデータベースと、
前記データベースに蓄積された不良品情報が不良を示す製品の個数の割合と、前記データベースに蓄積された計測項目の値との関係を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに特定し、特定された関係における割合と、前記データベースに蓄積された計算項目ごとに平均化された割合とを比較し、不良原因の候補となる値を計測項目ごとに抽出する比較部と、
前記比較部で抽出された不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、組み合せられた計測項目それぞれの値が計測された共通の製品の、前記データベースに蓄積された不良情報が不良を示す個数の割合を算出する計算部と、
前記計算部で算出された割合に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てる順位生成部と、を備えたこと
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項1に記載の不良原因抽出システムであって、
前記データベースは、
工程に関連付けられた第1の日付と、不良品情報に関連付けられた第2の日付とを、さらに蓄積し、
前記比較部は、
期間を取得し、
前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、取得された期間に対応する日付に含まれる第1の日付を特定し、特定された第1の日付に関連付けられた工程で製造された第1の製品を特定し、取得された期間に含まれる第2の日付を特定し、特定された第2の日付に関連付けられた不良品情報が不良品を示す第2の製品を特定し、
第2の製品の個数に対する第1の製品の個数の割合を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、平均化された第1の割合として算出し、
前記データベースに蓄積された計測項目ごとに、前記データベースに蓄積された計測項目の値を予め設定された複数の区間のいずれかに分類し、区間ごとに、計測項目の値を発生させた工程により製造された第3の製品を特定し、
区間ごとに、第3の製品かつ第1の製品の個数に対する第3の製品かつ第2の製品の個数を、特定された関係における第2の割合として算出し、
区間ごとの第2の割合と、平均化された第1の割合とを比較し、
平均化された第1の割合を、区間ごとの第2の割合が上回る区間を、不良原因の候補となる値として、計測項目ごとに抽出すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項2に記載の不良原因抽出システムであって、
前記データベースは、
製品と計測項目の値に対して、さらにフラグを関連付けて蓄積し、
前記比較部は、
前記データベースにおいて、第2の製品に関連付けられたフラグに不良品を示す情報を設定し、
前記データベースにおいて、第1の製品の中で第2の製品以外に製品に関連付けられたフラグに良品を示す情報を設定し、
前記データベースに蓄積された計測項目を順次選択し、選択された計測項目に対応する第4の製品を特定し、
第4の製品に関連付けられたフラグに設定された不良品の数を、第4の製品に関連付けられたフラグに設定された不良品と良品の数で除算することにより、平均化された第1の割合を算出すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項3に記載の不良原因抽出システムであって、
第1の日付は工程完了の日付であり、
第2の日付は不良検知の日付であり、
前記比較部は、
同じ製品の工程完了の日付と不良検知の日付との差に基づき、第1の日付を特定するための、取得された期間に対応する日付を算出すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項4に記載の不良原因抽出システムであって、
入力および表示を制御する操作受付部をさらに備え、
前記操作受付部は、
期間あるいは開始の指示が入力されるように制御し、
期間が入力されると、前記データベースにおいて、入力された期間に含まれる第2の日付を特定し、特定された第2の日付と関連付けられた不良品情報を表示するように制御し、
開始の指示が入力されると、入力された期間を前記比較部へ出力すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項2に記載の不良原因抽出システムであって、
前記計算部は、
前記比較部で抽出された区間と、その区間が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、生成された組合せの計測項目それぞれの区間に含まれる値が計測された共通の第5の製品に対し、第5の製品かつ第1の製品の個数に対する第5の製品かつ第2の製品の個数を、組合せにおける共通の製品の不良の個数の割合として、算出すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項6に記載の不良原因抽出システムであって、
入力および表示を制御する操作受付部をさらに備え、
前記操作受付部は、
組合せの数が入力されるように制御し、
組合せの数が入力されると、入力された数を前記計算部へ設定すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項7に記載の不良原因抽出システムであって、
前記順位生成部は、
組合せにおける共通の製品の不良の個数の割合として算出した第3の割合と第4の割合に対して、第3の割合が第4の割合より高い場合、第3の割合が算出された計測項目の組合せに、第4の割合が算出された計測項目の組合せより、組合せ不良原因として、高い順位指標を割り当てること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項8に記載の不良原因抽出システムであって、
第1の組合せの第5の製品かつ第2の製品が、第1の個数であり、
第2の組合せの第5の製品かつ第2の製品が、第1の個数より少ない第2の個数であり、第2の組合せで第3の割合が算出され、
第3の組合せの第5の製品かつ第2の製品が、第2の組合せと同じ第2の個数であり、第3の組合せで第4の割合が算出された場合、
前記順位生成部は、
第1の組合せに第2の組合せより高い順位指標を割り当て、第2の組合せに第3の組合せより高い順位指標を割り当てること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - 請求項9に記載の不良原因抽出システムであって、
前記順位生成部は、
組合せと順位指標を前記操作受付部へ出力し、
前記操作受付部は、
組合せと順位指標とを対応づけて表示するように制御すること
を特徴とする不良原因抽出システム。 - コンピューターによる不良原因の抽出方法であって、
前記コンピューターは、演算装置と記憶装置を備え、
前記記憶装置は、
複数の製品を製造する複数の工程それぞれにおいて発生する計測項目の値と、複数の製品のそれぞれが良品であるか不良品であるかを示す不良品情報を蓄積するデータベースと、プログラムが格納され、
前記演算装置は、前記プログラムを実行し、
前記データベースに蓄積された不良品情報が不良を示す製品の個数の割合と、前記データベースに蓄積された計測項目の値との関係を、前記データベースに蓄積された計測項目ごとに特定し、特定された関係における割合と、前記データベースに蓄積された計算項目ごとに平均化された割合とを比較して、不良原因の候補となる値を計測項目ごとに抽出し、
抽出された不良原因の候補となる値とその値が属する計測項目において、設定された数の計測項目の組合せを生成し、組み合せられた計測項目それぞれの値が計測された共通の製品の、前記データベースに蓄積された不良情報が不良を示す個数の割合を算出し、
算出された割合に応じて、組合せ不良原因の順位指標を割り当てること
を特徴とする不良原因の抽出方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017150789A JP7019339B2 (ja) | 2017-08-03 | 2017-08-03 | 不良原因抽出システム及びその方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017150789A JP7019339B2 (ja) | 2017-08-03 | 2017-08-03 | 不良原因抽出システム及びその方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019028932A true JP2019028932A (ja) | 2019-02-21 |
JP7019339B2 JP7019339B2 (ja) | 2022-02-15 |
Family
ID=65478540
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017150789A Active JP7019339B2 (ja) | 2017-08-03 | 2017-08-03 | 不良原因抽出システム及びその方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7019339B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020154625A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 日鉄大径鋼管株式会社 | 品質改善システム |
JP2020194336A (ja) * | 2019-05-28 | 2020-12-03 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 不良品の発生に寄与する装置特定のための製造条件計算装置、製造条件計算方法及び製造条件計算プログラム |
KR102525954B1 (ko) * | 2022-12-09 | 2023-04-27 | 주식회사 루트시스템 | 생산 설비의 결함파라미터 및 결함범위 도출 장치 및 방법 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07114601A (ja) * | 1993-10-19 | 1995-05-02 | Hitachi Ltd | 製造不良解析システム、方法およびこれに関連したデータベースの生成方法 |
JP2006216589A (ja) * | 2005-02-01 | 2006-08-17 | Omron Corp | プリント基板の品質管理システム |
JP2006318263A (ja) * | 2005-05-13 | 2006-11-24 | Sharp Corp | 情報分析システム、情報分析方法及びプログラム |
JP2008146621A (ja) * | 2006-11-14 | 2008-06-26 | Nippon Steel Corp | 製品の品質改善条件解析装置、解析方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2008250910A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujitsu Microelectronics Ltd | データマイニング方法及び工程管理方法 |
JP2015142084A (ja) * | 2014-01-30 | 2015-08-03 | オムロン株式会社 | 品質管理装置、品質管理方法 |
-
2017
- 2017-08-03 JP JP2017150789A patent/JP7019339B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07114601A (ja) * | 1993-10-19 | 1995-05-02 | Hitachi Ltd | 製造不良解析システム、方法およびこれに関連したデータベースの生成方法 |
JP2006216589A (ja) * | 2005-02-01 | 2006-08-17 | Omron Corp | プリント基板の品質管理システム |
JP2006318263A (ja) * | 2005-05-13 | 2006-11-24 | Sharp Corp | 情報分析システム、情報分析方法及びプログラム |
JP2008146621A (ja) * | 2006-11-14 | 2008-06-26 | Nippon Steel Corp | 製品の品質改善条件解析装置、解析方法、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2008250910A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-16 | Fujitsu Microelectronics Ltd | データマイニング方法及び工程管理方法 |
JP2015142084A (ja) * | 2014-01-30 | 2015-08-03 | オムロン株式会社 | 品質管理装置、品質管理方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020154625A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 日鉄大径鋼管株式会社 | 品質改善システム |
JP2020194336A (ja) * | 2019-05-28 | 2020-12-03 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 不良品の発生に寄与する装置特定のための製造条件計算装置、製造条件計算方法及び製造条件計算プログラム |
JP7281708B2 (ja) | 2019-05-28 | 2023-05-26 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 不良品の発生に寄与する装置特定のための製造条件計算装置、製造条件計算方法及び製造条件計算プログラム |
KR102525954B1 (ko) * | 2022-12-09 | 2023-04-27 | 주식회사 루트시스템 | 생산 설비의 결함파라미터 및 결함범위 도출 장치 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP7019339B2 (ja) | 2022-02-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20100332439A1 (en) | Apparatus and method for supporting cause analysis | |
CA2844140C (en) | Manufacturing quality inspection and analytics system | |
JP4739447B2 (ja) | 不良要因の分析表示方法および不良要因の分析表示装置 | |
JP7019339B2 (ja) | 不良原因抽出システム及びその方法 | |
JP5771060B2 (ja) | 検体分析装置及びデータ処理装置 | |
EP2492767A2 (en) | Inspection system, management server, inspection apparatus and method for managing inspection data | |
US20190012622A1 (en) | Computer-readable recording medium for visualization of manufacturing-process, method of visualizing manufacturing process, and manufacturing-process visualizing system | |
JP2010079595A (ja) | 規制対策の対象選定支援方法及びそのシステム | |
KR101998972B1 (ko) | 변수 구간별 불량 발생 지수를 도출하여 공정 불량 원인을 파악하고 시각화하는 방법 | |
US8543552B2 (en) | Detecting statistical variation from unclassified process log | |
JP2019032671A (ja) | 原因推定方法およびプログラム | |
US7992126B2 (en) | Apparatus and method for quantitatively measuring the balance within a balanced scorecard | |
US20210191835A1 (en) | System and method for struggle identification | |
JP6276668B2 (ja) | 障害分析システム | |
JPWO2019016892A1 (ja) | 品質分析装置及び品質分析方法 | |
JP5532782B2 (ja) | トレーサビリティシステムおよび製造工程異常検出方法 | |
JP2018005588A (ja) | 不良原因探索システム、及び不良要因探索方法 | |
US20150012317A1 (en) | Information analysis supporting apparatus and method | |
CN114969169A (zh) | 签收数据监控方法、装置、设备及存储介质 | |
JP7396213B2 (ja) | データ解析システム、データ解析方法及びデータ解析プログラム | |
JP2005235130A (ja) | 製造・開発情報のデータトレースシステム | |
US11592807B2 (en) | Manufacturing defect factor searching method and manufacturing defect factor searching apparatus | |
US20190266548A1 (en) | Project Progress Prediction Device and Project Progress Prediction System | |
JP2021026455A (ja) | 不良原因抽出システム、製造情報管理システム、不良原因抽出方法、製造情報管理方法 | |
CN111143325A (zh) | 一种数据采集的监测方法、监测装置及可读存储介质 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200226 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210224 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210316 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210514 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210817 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211011 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220104 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220202 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7019339 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |