JP2019021904A - Electron module and method for manufacturing the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子部品が基板に実装され、封止樹脂によって封止された電子モジュールに関する。また、本発明は、本発明の電子モジュールを製造するのに適した電子モジュールの製造方法に関する。 The present invention relates to an electronic module in which an electronic component is mounted on a substrate and sealed with a sealing resin. The present invention also relates to an electronic module manufacturing method suitable for manufacturing the electronic module of the present invention.
電子部品が基板に実装され、封止樹脂によって封止された電子モジュールが、種々の電子機器に広く使用されている。例として、WO2014-017159A1(特許文献1)に開示された電子モジュール1100を図9示す。
Electronic modules in which electronic components are mounted on a substrate and sealed with a sealing resin are widely used in various electronic devices. As an example, FIG. 9 shows an
電子モジュール1100は、基板(配線基板)101の一方主面に、コンデンサ、インダクタ、抵抗などの両端に電極が形成されたチップ状の電子部品(チップ部品)102、103、104が実装されている。また、基板101の他方主面に、実装面に複数の電極が形成された半導体装置(半導体基板)105が実装されている。
In an
そして、電子部品102、103、104が、封止樹脂(樹脂層)108によって封止されている。また、半導体装置105が、封止樹脂109によって封止されている。
The
電子モジュール1100では、基板(配線基板)101の一方主面と他方主面に、同種の樹脂である封止樹脂108と封止樹脂109を使用している。但し、電子モジュール1100の反りが大きい場合には、反りを抑制するために、封止樹脂108と封止樹脂109の線膨張係数を異ならせてもよいとしている。
In the
また、SAW(Surface Acoustic Wave;弾性表面波)やBAW(Bulk Acoustic Wave; バルク弾性波)を利用した弾性波装置が、移動体通信機器などの電子機器に、共振子やフィルタなどとして広く使用されている。例として、WO2015-098678A1(特許文献2)に開示された弾性波装置1200を図10に示す。
In addition, elastic wave devices using SAW (Surface Acoustic Wave) and BAW (Bulk Acoustic Wave) are widely used as resonators and filters in electronic devices such as mobile communication devices. ing. As an example, FIG. 10 shows an
弾性波装置1200は、基板(支持基板)201、支持部材202、蓋材203などで囲まれた中空部204を備えている。
The
弾性波装置1200は、中空部204内に形成された圧電薄膜205上に、IDT電極206が形成されている。中空部204は、IDT電極206の振動が妨げられないようにするために設けられたものである。
In the
電子モジュール1100は、コンデンサ、インダクタ、抵抗などのチップ状の電子部品102、103、104や、半導体装置105を内蔵している。電子モジュール1100において、さらに高機能化をはかるために、弾性波装置1200のような中空部を有する電子部品を追加して内蔵させたい場合がある。
The
しかしながら、実装面に複数の電極が極めて小さいピッチで形成された半導体装置と、中空部を有する電子部品とを、同じ流動性を有する封止樹脂で封止しようとした場合には、次のような問題が発生する。 However, when an attempt is made to seal a semiconductor device in which a plurality of electrodes are formed on the mounting surface at an extremely small pitch and an electronic component having a hollow portion with a sealing resin having the same fluidity, the following is performed. Problems occur.
すなわち、半導体装置は、実装面に複数の電極が形成されているが、一般に、その電極間ピッチが極めて小さいため、半導体装置を封止する場合には、流動性の高い樹脂を使用する必要がある。流動性の低い封止樹脂を使用すると、半導体装置の実装面の電極間に十分に封止樹脂が充填されず、空隙が形成されてしまう虞がある。そして、半導体装置の電極間の封止樹脂に空隙が形成されてしまうと、電子モジュールをリフロー半田などによって電子機器の基板などに実装するときの熱によって、半導体装置を基板に実装するのに使用した半田が再溶融し、かつ膨張して、空隙に入り込む。その結果、半導体装置の電極間を短絡させてしまう、半田フラッシュと呼ばれる現象が発生してしまう虞がある。 That is, the semiconductor device has a plurality of electrodes formed on the mounting surface, but generally, the pitch between the electrodes is extremely small, and therefore, when sealing the semiconductor device, it is necessary to use a resin with high fluidity. is there. If a sealing resin with low fluidity is used, the sealing resin is not sufficiently filled between the electrodes on the mounting surface of the semiconductor device, and a gap may be formed. And if a gap is formed in the sealing resin between the electrodes of the semiconductor device, it is used to mount the semiconductor device on the substrate by heat when mounting the electronic module on the substrate of the electronic device by reflow soldering etc. The solder that has been melted again expands and expands into the gap. As a result, there is a possibility that a phenomenon called solder flash that short-circuits the electrodes of the semiconductor device may occur.
一方、弾性波装置1200のような中空部を有する電子部品を封止する場合には、流動性の低いものを使用する必要がある。流動性の高い封止樹脂を使用すると、中空部を有する電子部品の周囲に封止樹脂を形成する工程において、封止樹脂の圧力によって中空部が潰れてしまう虞がある。
On the other hand, when sealing an electronic component having a hollow portion, such as the
なお、封止樹脂には、線膨張係数の調整などを目的として、シリカなどの無機物のフィラーが添加される場合が多い。フィラーの添加は、一般に、封止樹脂の流動性を低くする。また、フィラーは封止樹脂内の水分の透過経路を遮断するため、一般に、フィラーを多く添加するほど、封止樹脂の耐湿性は高くなる。なお、封止樹脂に同量(同体積)のフィラーを添加した場合、フィラーの平均粒径が小さいほど流動性が高くなり、平均粒径が大きいほど流動性が低くなる傾向にある。 In many cases, an inorganic filler such as silica is added to the sealing resin for the purpose of adjusting the linear expansion coefficient. Addition of the filler generally lowers the fluidity of the sealing resin. In addition, since the filler blocks the moisture permeation path in the sealing resin, generally, the more filler is added, the higher the moisture resistance of the sealing resin. When the same amount (same volume) of filler is added to the sealing resin, the fluidity increases as the average particle size of the filler decreases, and the fluidity tends to decrease as the average particle size increases.
以上のように、内蔵される電子部品ごとに、封止樹脂に要求される流動性が異なるため、電子モジュールの基板に、電極間ピッチが小さい半導体装置と、中空部を有する電子部品とを実装し、同じ流動性を有する封止樹脂で封止しようとした場合には、次のような問題が発生する。 As described above, since the fluidity required for the sealing resin differs for each built-in electronic component, a semiconductor device having a small inter-electrode pitch and an electronic component having a hollow portion are mounted on the substrate of the electronic module. However, when trying to seal with a sealing resin having the same fluidity, the following problems occur.
まず、電極間ピッチが小さい電子部品(半導体装置)の電極間に十分に封止樹脂を充填し、電極間の封止樹脂に空隙が形成されないようにするために、封止樹脂に流動性の高いものを使用すると、中空部を有する電子部品(弾性波装置)の中空部が封止樹脂を充填するときの圧力で潰れてしまう虞があった。 First, in order to sufficiently fill the sealing resin between the electrodes of the electronic component (semiconductor device) having a small inter-electrode pitch, and to prevent a gap from being formed in the sealing resin between the electrodes, When a high one is used, there is a possibility that the hollow part of the electronic component (elastic wave device) having the hollow part may be crushed by the pressure when the sealing resin is filled.
逆に、中空部を有する電子部品の中空部が封止樹脂を充填するときの圧力で潰れてしまわないようにするために、封止樹脂に、流動性の低いものを使用すると、電極間ピッチが小さい電子部品の電極間に十分に封止樹脂が充填されず、電極間の封止樹脂に空隙が形成され、半田フラッシュの原因になる虞があった。 On the contrary, in order to prevent the hollow part of the electronic component having a hollow part from being crushed by the pressure when filling the sealing resin, the pitch between the electrodes is reduced by using a sealing resin with low fluidity. There is a possibility that the sealing resin is not sufficiently filled between the electrodes of the small electronic component, and a gap is formed in the sealing resin between the electrodes, which may cause a solder flash.
本発明は、上述した従来の問題を解決するためになされたものであり、その手段として、本発明の一局面にかかる電子モジュールは、基板と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、第1封止樹脂と、第2封止樹脂と、を備え、第1電子部品は、第1封止樹脂によって封止され、第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品は、少なくとも電極を含む実装面が第2封止樹脂によって封止され、第1封止樹脂に含有されるフィラーの体積%が、第2封止樹脂に含有されるフィラーの体積%よりも高いものとした。なお、第2封止樹脂にフィラーが含有されない場合も、第1封止樹脂に含有されるフィラーの体積%が、第2封止樹脂に含有されるフィラーの体積%よりも高い場合に該当するものとする。 The present invention has been made to solve the above-described conventional problems. As a means for the electronic module according to one aspect of the present invention, a substrate and a plurality of electrodes are formed on a mounting surface of the substrate. And at least one first electronic component having a hollow portion, a plurality of electrodes formed on the mounting surface on the substrate, and at least one second electronic component having no hollow portion, A sealing resin and a second sealing resin, wherein the first electronic component is sealed with the first sealing resin, and the pitch between the electrodes formed on the mounting surface of the second electronic component is The smallest second electronic component is such that at least the mounting surface including the electrode is sealed with the second sealing resin, and the volume percentage of the filler contained in the first sealing resin is the filler contained in the second sealing resin. Higher than the volume%. In addition, even when a filler is not contained in 2nd sealing resin, it corresponds when the volume% of the filler contained in 1st sealing resin is higher than the volume% of the filler contained in 2nd sealing resin. Shall.
また、本発明の別の一局面にかかる電子モジュールは、基板と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、第1封止樹脂と、第2封止樹脂と、を備え、第1電子部品は、第1封止樹脂によって封止され、第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品は、少なくとも電極を含む実装面が第2封止樹脂によって封止され、第1封止樹脂に含有されるフィラーの平均粒径が、第2封止樹脂に含有されるフィラーの平均粒径よりも大きいものとした。なお、第2封止樹脂にフィラーが含有されない場合も、第1封止樹脂に含有されるフィラーの平均粒径が、第2封止樹脂に含有されるフィラーの平均粒径よりも大きい場合に該当するものとする。 In addition, an electronic module according to another aspect of the present invention includes a substrate, a plurality of electrodes formed on a mounting surface of the substrate, and at least one first electronic component having a hollow portion; A plurality of electrodes are formed on the mounting surface, and includes at least one second electronic component that does not have a hollow portion, a first sealing resin, and a second sealing resin. The second electronic component that is sealed with the first sealing resin and has the smallest inter-electrode pitch of the electrodes formed on the mounting surface among the second electronic components has a mounting surface that includes at least the electrode at the second sealing resin. The average particle size of the filler contained in the first sealing resin is larger than the average particle size of the filler contained in the second sealing resin. Even when the second sealing resin contains no filler, the average particle size of the filler contained in the first sealing resin is larger than the average particle size of the filler contained in the second sealing resin. Applicable.
なお、樹脂に含有されたフィラーの平均粒径は、次の方法によって測定する。まず、フィラーの含有された樹脂の断面を露出させる。次に、露出された断面の中から、フィラーが100個以上、110個未満含まれた正方形の任意の断面を「測定領域」として確定し、1回目のSEM(走査型電子顕微鏡)画像(反射電子像)を撮影する。次に、測定領域について、さらに3μm深い部分の断面を露出させ、2回目のSEM画像を撮影する。この工程を繰り返し、測定領域について、3回目、4回目・・・n回目と複数のSEM画像を撮影する。次に、測定領域に含まれるフィラーの中から、できるだけ分散させて任意に10個のフィラーを選び、測定対象フィラーとして特定する。次に、各測定対象フィラーについて、撮影された複数のSEM画像の中から、フィラー断面が最大面積のものを選び、その面積を当該測定対象フィラーのみなし最大断面積とする(10個の測定対象フィラーそれぞれについて、みなし最大断面積を求める)。各測定対象フィラーのみなし最大断面積から、当該測定対象フィラーが真球であると仮定した場合の直径を求め、求められた直径を当該測定対象フィラーのみなし粒径とする。10個の測定対象フィラーのみなし粒径の平均値を求め、樹脂に含有されたフィラーの平均粒径とする。
In addition, the average particle diameter of the filler contained in resin is measured with the following method. First, the cross section of the resin containing the filler is exposed. Next, from the exposed cross section, an arbitrary square cross section including 100 or more and less than 110 fillers is determined as a “measurement region”, and a first SEM (scanning electron microscope) image (reflection) is determined. Take an electronic image. Next, a cross section of a
第1封止樹脂の耐湿性を、第2封止樹脂の耐湿性よりも高くすることも好ましい。この場合には、耐湿性の高い第1封止樹脂によって、第1電子部品の中空部への水分の侵入を抑制することができる。 It is also preferable to make the moisture resistance of the first sealing resin higher than the moisture resistance of the second sealing resin. In this case, the penetration of moisture into the hollow portion of the first electronic component can be suppressed by the first sealing resin having high moisture resistance.
本発明の電子モジュールは、例えば、基板の一方の主面に、第1封止樹脂が形成され、基板の他方の主面に、第2封止樹脂が形成されたものとすることができる。あるいは、本発明の電子モジュールは、基板の一方の主面に、第1封止樹脂と、第2封止樹脂とが、積層して形成されたものとすることができる。 In the electronic module of the present invention, for example, a first sealing resin may be formed on one main surface of the substrate, and a second sealing resin may be formed on the other main surface of the substrate. Alternatively, the electronic module of the present invention can be formed by laminating the first sealing resin and the second sealing resin on one main surface of the substrate.
第1電子部品は、例えば、SAWやBAWなどを利用した弾性波装置である。また、第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品は、例えば、半導体装置である。 The first electronic component is an elastic wave device using, for example, SAW or BAW. In addition, among the second electronic components, the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch between the electrodes formed on the mounting surface is, for example, a semiconductor device.
さらに実装用の外部電極を備え、外部電極が、第2封止樹脂の外表面に形成されることも好ましい。電子モジュールは、封止樹脂の外部電極が形成された部分から内部に水分が侵入しやすいが、第1電子部品を第1封止樹脂によって封止するとともに、外部電極を第2封止樹脂に形成することによって、第2封止樹脂の外部電極が形成された部分から内部に水分が浸入したとしても、第1封止樹脂とモジュール基板によって、侵入した水分が第1電子部品の中空部に到達することを抑制することができるからである。 Further, it is preferable that an external electrode for mounting is provided, and the external electrode is formed on the outer surface of the second sealing resin. In the electronic module, moisture easily enters from the portion where the external electrode of the sealing resin is formed, but the first electronic component is sealed with the first sealing resin and the external electrode is used as the second sealing resin. Even if moisture penetrates into the inside from the portion where the external electrode of the second sealing resin is formed, the moisture that has entered the first electronic component is hollowed by the first sealing resin and the module substrate. It is because it can suppress reaching.
第1封止樹脂の外表面および第2封止樹脂の外表面の少なくとも一部に、シールド電極が形成されることも好ましい。この場合には、シールド電極によって、外部から電子モジュールの内部に浸入するノイズ、および、電子モジュールの内部から外部に放出されるノイズを抑制することができるからである。また、シールド電極によっても内部への水分の侵入を抑制することができるため、電子モジュールの耐湿性をさらに向上させることができるからである。 It is also preferable that a shield electrode is formed on at least a part of the outer surface of the first sealing resin and the outer surface of the second sealing resin. In this case, the shield electrode can suppress noise entering the inside of the electronic module from outside and noise emitted from the inside of the electronic module to the outside. Moreover, since the penetration | invasion of the water | moisture content to an inside can be suppressed also by a shield electrode, it is because the moisture resistance of an electronic module can further be improved.
本発明の一局面にかかる電子モジュールの製造方法は、基板と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、未硬化の第1封止樹脂と、未硬化の第1封止樹脂よりも流動性の高い未硬化の第2封止樹脂と、を用意する工程と、第1電子部品を、直接または間接に、基板に実装する工程と、第2電子部品を、直接または間接に、基板に実装する工程と、実装された第1電子部品の周囲に、未硬化の第1封止樹脂を充填した上で、未硬化の第1封止樹脂を硬化させる工程と、実装された第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品の、少なくとも電極を含む実装面に、未硬化の第2封止樹脂を充填した上で、未硬化の第2封止樹脂を硬化させる工程と、を備えるようにした。 An electronic module manufacturing method according to one aspect of the present invention includes a substrate, a plurality of electrodes formed on a mounting surface on the substrate, and at least one first electronic component having a hollow portion, and mounting on the substrate. A plurality of electrodes are formed on the surface, and at least one second electronic component having no hollow portion, an uncured first sealing resin, and more fluid than the uncured first sealing resin Preparing a high uncured second sealing resin, mounting the first electronic component directly or indirectly on the substrate, and mounting the second electronic component directly or indirectly on the substrate A step of filling an uncured first sealing resin around the mounted first electronic component and then curing the uncured first sealing resin; and mounting the second electronic component Of these, the second electronic component having the smallest pitch between the electrodes formed on the mounting surface , The mounting surface including at least the electrode, after filling the second sealing resin uncured, and so comprises curing the second sealing resin uncured, the.
また、本発明の別の一局面にかかる電子モジュールの製造方法は、基板と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、未硬化の第1封止樹脂と、未硬化の第1封止樹脂よりも硬化状態で耐湿性の低い未硬化の第2封止樹脂と、を用意する工程と、を用意する工程と、第1電子部品を、直接または間接に、基板に実装する工程と、第2電子部品を、直接または間接に、基板に実装する工程と、実装された第1電子部品の周囲に、未硬化の第1封止樹脂を充填した上で、未硬化の第1封止樹脂を硬化させる工程と、実装された第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品の、少なくとも電極を含む実装面に、未硬化の第2封止樹脂を充填した上で、未硬化の第2封止樹脂を硬化させる工程と、を備えるようにした。 According to another aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing an electronic module, comprising: a substrate; a plurality of electrodes formed on a mounting surface of the substrate; and at least one first electronic component having a hollow portion; A plurality of electrodes are formed on the mounting surface on the substrate, and have at least one second electronic component, an uncured first sealing resin, and an uncured first sealing resin that do not have a hollow portion. A step of preparing an uncured second sealing resin having a low moisture resistance in a cured state, a step of preparing the first electronic component directly or indirectly on the substrate, a second step The step of mounting the electronic component directly or indirectly on the substrate, and the periphery of the mounted first electronic component is filled with the uncured first sealing resin, and then the uncured first sealing resin is Step of curing and electrode formed on mounting surface among mounted second electronic components A step of filling the mounting surface including at least the electrode of the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch with the uncured second sealing resin and curing the uncured second sealing resin. I did it.
第1電子部品を第1封止樹脂によって封止し、第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品の、少なくとも電極を含む実装面を第2封止樹脂によって封止し、第1封止樹脂に含有されたフィラーの体積%を、第2封止樹脂に含有されたフィラーの体積%よりも高いものとした本発明の電子モジュールは、第2封止樹脂の未硬化状態での流動性が高いため、第2電子部品の、少なくとも電極を含む実装面に第2封止樹脂が十分に充填され、第2電子部品の電極間の封止樹脂に空隙が形成されにくい。また、第1封止樹脂の未硬化状態での流動性が低いため、第1封止樹脂を充填するときの圧力によって、第1電子部品の中空部が潰れにくい。 The first electronic component is sealed with the first sealing resin, and the mounting surface including at least the electrode of the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch of the electrodes formed on the mounting surface among the second electronic components is The electronic module of the present invention is sealed with two sealing resins, and the volume% of the filler contained in the first sealing resin is higher than the volume% of the filler contained in the second sealing resin. Since the fluidity of the second sealing resin in the uncured state is high, the second sealing resin is sufficiently filled in the mounting surface including at least the electrodes of the second electronic component, and the sealing between the electrodes of the second electronic component is performed. It is difficult to form voids in the stop resin. Moreover, since the fluidity | liquidity in the uncured state of 1st sealing resin is low, the hollow part of a 1st electronic component is hard to be crushed by the pressure when filling 1st sealing resin.
また、第1電子部品を第1封止樹脂によって封止し、第2電子部品のうち、実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品の、少なくとも電極を含む実装面を第2封止樹脂によって封止し、第1封止樹脂に含有されたフィラーの平均粒径が、第2封止樹脂に含有されたフィラーの平均粒径よりも大きいものとした本発明の電子モジュールは、第2封止樹脂の未硬化状態での流動性が高いため、第2電子部品の、少なくとも電極を含む実装面に第2封止樹脂が十分に充填され、第2電子部品の電極間の封止樹脂に空隙が形成されにくい。また、第1封止樹脂の未硬化状態での流動性が低いため、第1封止樹脂を充填するときの圧力によって、第1電子部品の中空部が潰れにくい。 In addition, the first electronic component is sealed with the first sealing resin, and the mounting surface including at least the electrodes of the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch formed on the mounting surface among the second electronic components. Of the present invention in which the average particle size of the filler contained in the first sealing resin is larger than the average particle size of the filler contained in the second sealing resin. Since the electronic module has high fluidity in the uncured state of the second sealing resin, the mounting surface including at least the electrode of the second electronic component is sufficiently filled with the second sealing resin. It is difficult to form voids in the sealing resin between the electrodes. Moreover, since the fluidity | liquidity in the uncured state of 1st sealing resin is low, the hollow part of a 1st electronic component is hard to be crushed by the pressure when filling 1st sealing resin.
本発明の電子モジュールの製造方法によれば、本発明の電子モジュールを容易に製造することができる。 According to the electronic module manufacturing method of the present invention, the electronic module of the present invention can be easily manufactured.
以下、図面とともに、本発明を実施するための形態について説明する。なお、各実施形態は、本発明の実施の形態を例示的に示したものであり、本発明が実施形態の内容に限定されることはない。また、異なる実施形態に記載された内容を組合せて実施することも可能であり、その場合の実施内容も本発明に含まれる。また、図面は、明細書の理解を助けるためのものであって、模式的に描画されている場合があり、描画された構成要素または構成要素間の寸法の比率が、明細書に記載されたそれらの寸法の比率と一致していない場合がある。また、明細書に記載されている構成要素が、図面において省略されている場合や、個数を省略して描画されている場合などがある。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described with reference to the drawings. Each embodiment shows an embodiment of the present invention exemplarily, and the present invention is not limited to the content of the embodiment. Moreover, it is also possible to implement combining the content described in different embodiment, and the implementation content in that case is also included in this invention. Further, the drawings are for helping the understanding of the specification, and may be schematically drawn, and the drawn components or the ratio of dimensions between the components are described in the specification. There are cases where the ratio of these dimensions does not match. In addition, the constituent elements described in the specification may be omitted in the drawings or may be drawn with the number omitted.
[第1実施形態]
図1に、第1実施形態にかかる電子モジュール100を示す。ただし、図1は、電子モジュール100の断面図である。
[First Embodiment]
FIG. 1 shows an
電子モジュール100は、基板1を備えている。基板1の材質は任意であり、例えば、PCB(Poly Chlorinated Biphenyl;ポリ塩化ビフェニル)などを用いた樹脂基板や、LTCC(Low Temperature Co‐fired Ceramics;低温同時焼成セラミックス)などを用いたセラミックス基板を使用することができる。また、基板1の構造も任意であり、多層基板であってもよいし、単層基板であってもよい。
The
基板1は、図1における上側に第1主面1Aを有し、図1における下側に第2主面1Bを有している。そして、第1主面1Aに電極2が形成され、第2主面1Bに電極3が形成されている。電極2、3の材質は任意であるが、例えば、銅、銀などを使用することができる。また、電極2、3の表面に、錫や半田などのめっきが施される場合がある。
The substrate 1 has a first
基板1の内部には、図示を省略するが、例えば、銅などによって、ビア電極、または、ビア電極および配線電極が形成されて、内部配線が構成されている。内部配線によって、基板1の第1主面1Aに形成された電極2と、第2主面1Bに形成された電極3とが接続されている。
Although illustration is omitted inside the substrate 1, for example, via electrodes or via electrodes and wiring electrodes are formed of copper or the like to form internal wiring. The
基板1の第1主面1Aに、中空部5を有する、2つの第1電子部品4が実装されている。本実施形態においては、SAWを利用した弾性波装置を、第1電子部品4とした。ただし、第1電子部品4の種類は任意であり、SAWを利用した弾性波装置に代えて、BAWを利用した弾性波装置であってもよく、さらには、弾性波装置以外の電子部品であってもよい。
Two first
第1電子部品4は、圧電基板5a、支持部材5b、蓋材5cで構成された中空部5を有している。そして、中空部5の内部の圧電基板5a上に、IDT電極6が形成されている。第1電子部品4の中空部5は、IDT電極6の振動が妨げられないようにするために設けられたものである。なお、本明細書において、中空部とは、意図的に形成された閉じた空間をいい、たとえば、製造過程において樹脂中に空気が入り込むなどして意図せずに形成された空隙などは含まれない。第1電子部品4の中空部5は、液密性は備えているが、完璧な気密性は備えていない場合があり、中空部に湿度の高い気体が侵入しないように、封止樹脂によって耐湿性を向上させる必要がある。
The first
第1電子部品4は、実装面に複数の電極7が形成されている。電極7の材質は任意であるが、例えば、CuやNiを使用することができる。電極7の電極間ピッチは十分に大きく、最も近接した電極7同士の電極間ピッチが、例えば 0.3mmである。なお、電極7は、金属膜からなる電極ではなく、金バンプなどのバンプ電極であってもよい。
The first
第1電子部品4は、実装面に形成された電極7が、基板1の第1主面1Aに形成された電極2に、半田8によって接合されている。なお、電極7と電極2との接合には、半田8に代えて、導電性接着剤などを使用してもよい。本実施形態においては、基板1の第1主面1Aに、2つの第1電子部品4が実装されている。なお、第1電子部品4は、基板1に直接または間接に実装されていてよい。基板に間接に実装されるとは、基板上に封止樹脂を形成し、その封止樹脂の上に第1電子部品を実装することを意味する。
In the first
また、基板1の第1主面1Aに、中空部を有していない、チップ状の第2電子部品9が実装されている。第2電子部品9は、例えば、コンデンサ、インダクタ、抵抗などである。第2電子部品9の両端には、電極10a、10bが形成されている。電極10a、10bの電極間ピッチは十分に大きく、例えば0.3mmである。
Further, a chip-like second
第2電子部品9は、電極10a、10bが、基板1の第1主面1Aに形成された電極2に、半田8によって接合されている。なお、電極10a、10bと電極2との接合には、半田8に代えて、導電性接着剤などを使用してもよい。なお、第2電子部品9は、実装面に電極が形成されたものではないため、実装面に形成された電極の電極間ピッチを有していない(「実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品」には該当しない)。
In the second
基板1の第2主面1Bに、中空部を有していない、第2電子部品11が実装されている。本実施形態においては、半導体装置を、第2電子部品11とした。
A second
第2電子部品11は、実装面に複数の電極12が形成されている。電極12の材質は任意であるが、例えば、Cuを使用することができる。第2電子部品11の実装面に形成された電極12の電極間ピッチは、他の第2電子部品の実装面に形成された電極の電極間ピッチより小さく、最も近接した電極12同士の電極間ピッチは、例えば 150μmである。なお、電極12は、金属膜からなる電極ではなく、金バンプなどのバンプ電極であってもよい。
The second
第2電子部品11は、実装面に形成された電極12が、基板1の第2主面1Bに形成された電極3に、半田8によって接合されている。なお、電極12と電極3との接合には、半田8に代えて、導電性接着剤などを使用してもよい。なお、第2電子部品11は、基板1に直接または間接に実装されていてよい。基板に間接に実装されるとは、基板上に封止樹脂を形成し、その封止樹脂の上に第2電子部品を実装することを意味する。
In the second
基板1の第1主面1Aに実装された、第1電子部品4と、チップ状の第2電子部品9とが、第1封止樹脂13によって封止されている。
The first
第1封止樹脂13には、未硬化状態での流動性が低く、かつ、硬化状態での耐湿性が高い樹脂が使用される。第1封止樹脂13に未硬化状態において流動性の低い樹脂を使用するのは、第1封止樹脂13を形成する工程において、第1封止樹脂13の圧力によって、第1電子部品4の中空部5が潰れてしまうことがないようにするためである。また、第1封止樹脂13に硬化状態での耐湿性の高い樹脂を使用するのは、第1封止樹脂13によって封止された第1電子部品4の中空部5に、水分が侵入することを抑制するためである。
For the first sealing
本実施形態においては、第1封止樹脂13として、基材であるエポキシ樹脂に、フィラーとして、平均粒径が30μmのシリカの粉末を、80体積%、添加したものを使用した。なお、基材のエポキシ樹脂は、熱硬化性および光硬化性の少なくとも一方の性質を備えている。第1封止樹脂13は、フィラーの添加量が多いため、未硬化状態において流動性が低く、かつ、硬化状態において耐湿性が高い。なお、第1封止樹脂13の基材の種類は任意であり、エポキシ樹脂に代えて、シリコーン樹脂やアクリル樹脂などを使用してもよい。また、フィラーの材質も任意であり、シリカに代えて、アルミナ、窒化ホウ素、あるいはこれらの複合材料などを使用してもよい。
In the present embodiment, the first sealing
基板1の第2主面1Bに実装された、第2電子部品11が、第2封止樹脂14によって封止されている。
The second
第2封止樹脂14には、未硬化状態での流動性の高い樹脂が使用される。第2封止樹脂14に、未硬化状態において流動性の高い樹脂を使用するのは、第2電子部品11の、電極ピッチの小さい電極12間に、十分に第2封止樹脂14を充填し、電極12間の第2封止樹脂14に空隙を形成しないようにするためである。
As the second sealing
本実施形態においては、第2封止樹脂14として、基材であるエポキシ樹脂に、フィラーとして、平均粒径が30μmのシリカの粉末を、50体積%、添加したものを使用した。なお、基材のエポキシ樹脂は、熱硬化性および光硬化性の少なくとも一方の性質を備えている。第2封止樹脂14は、フィラーの添加量が少ないため、未硬化状態において流動性が高い。また、第2封止樹脂14は、フィラーの添加量が少ないため、第1封止樹脂13よりも耐湿性が低い。なお、第2封止樹脂14の基材の種類は任意であり、エポキシ樹脂に代えて、シリコーン樹脂やアクリル樹脂などを使用してもよい。また、フィラーの材質も任意であり、シリカに代えて、アルミナ、窒化ホウ素、あるいはこれらの複合材料などを使用してもよい。また、本実施形態においては、第2封止樹脂14にフィラーを添加しているが、第2封止樹脂14にフィラーを添加せず、いわゆるフィラーレスにしてもよい。
In the present embodiment, as the second sealing
第2封止樹脂14を貫通して、複数のビア電極15が形成されている。ビア電極15の材質は任意であるが、例えば、銅などが使用される。ビア電極15は、一端が、基板1の第2主面1Bに形成された電極3に接続されている。また、ビア電極15は、他端が、第2封止樹脂14の外表面に露出されている。そして、第2封止樹脂14の外表面に露出されたビア電極15の他端に、例えば、金めっきを施し、電子モジュール100を実装するときに使用する、外部電極16が形成されている。
A plurality of via
以上の構造からなる電子モジュール100は、第1封止樹脂13の未硬化状態での流動性が低いため、第1封止樹脂13を充填するときの圧力によって第1電子部品4の中空部5が潰れることが抑制されている。また、電子モジュール100は、耐湿性の高い第1封止樹脂13によって、第1電子部品4の中空部5への水分の侵入が抑制されている。また、電子モジュール100は、第2封止樹脂14の未硬化状態での流動性が高いため、第2電子部品11の、電極ピッチの小さい電極12間に、第2封止樹脂14が十分に充填され、空隙の形成が抑制されている。
Since the
以上の構造からなる第1実施形態にかかる電子モジュール100は、たとえば、以下に説明する製造方法によって作製することができる。なお、実際の製造工程においては、マザー基板を使い、途中で個片化することにより、多数の電子モジュール100を一括して作製するが、以下においては、便宜上、1個の電子モジュール100を作製する場合について説明する。
The
(電子モジュール100の製造方法の一例)
まず、図2(A)に示すように、予め、第1主面1Aに電極2が形成され、第2主面1Bに電極3が形成され、電極2と電極3とを繋ぐ内部配線(不図示)が内部に形成された基板1を用意する。
(Example of manufacturing method of electronic module 100)
First, as shown in FIG. 2A, the
次に、図2(B)に示すように、第1電子部品4と第2電子部品9とを、基板1の第1主面1Aの電極2に実装する。具体的には、まず、電極2上にクリーム半田を塗布する。次に、クリーム半田が塗布された電極2上に、第1電子部品4の電極7、第2電子部品9の電極10a、10bを配置する。次に、加熱してクリーム半田を溶融させ、続いて冷却して半田8を形成し、第1電子部品4の電極7および第2電子部品9の電極10a、10bを、基板1の第1主面1Aに形成された電極2に接合する。
Next, as shown in FIG. 2B, the first
次に、図2(C)に示すように、基板1の第1主面1Aに実装された第1電子部品4および第2電子部品9を、第1封止樹脂13によって封止する。具体的には、まず、第1電子部品4および第2電子部品9の周囲に、未硬化の第1封止樹脂13を充填する。次に、加熱および光照射の少なくとも一方を施し、第1封止樹脂13を硬化させる。なお、第1封止樹脂13は未硬化状態において流動性が低いため、第1封止樹脂13を充填するときの圧力によって、第1電子部品4の中空部5が潰れることがない。
Next, as shown in FIG. 2C, the first
次に、図3(D)に示すように、第2電子部品11を、基板1の第2主面1Bの電極3に実装する。具体的には、まず、基板1の上下方向を反転させる。次に、第2電子部品11を実装する電極3上にクリーム半田を塗布する。次に、クリーム半田が塗布された電極3上に、第2電子部品11の電極12を配置する。次に、加熱してクリーム半田を溶融させ、続いて冷却して半田8を形成し、第2電子部品11の電極12を、基板1の第2主面1Bに形成された電極3に接合する。
Next, as shown in FIG. 3D, the second
次に、図3(E)に示すように、基板1の第2主面1Bに実装された第2電子部品11を、第2封止樹脂14によって封止する。具体的には、まず、第2電子部品11の周囲に、未硬化の第2封止樹脂14を充填する。次に、加熱および光照射の少なくとも一方を施し、第2封止樹脂14を硬化させる。なお、第2封止樹脂14は、未硬化状態において流動性が高いため、第2電子部品11の電極ピッチの小さい電極12間に十分に充填され、空隙は形成されない。
Next, as shown in FIG. 3E, the second
次に、図3(F)に示すように、第2封止樹脂14に、例えば、レーザー光の照射によって、ビア電極15を形成するための孔15’を形成する。なお、孔15’は、底部が、基板1の第2主面1Bの電極3に到達するように形成する。ただし、孔15’の形成は、レーザー光の照射に代えて、ドリルなどによる切削などによっておこなってもよい。
Next, as shown in FIG. 3F, a
次に、図4(G)に示すように、孔15’の底部に露出した、基板1の第2主面1Bに形成された電極3上に、めっきによって金属を析出させ、ビア電極15を形成する。
Next, as shown in FIG. 4G, metal is deposited by plating on the
最後に、図4(H)に示すように、第2封止樹脂14の外表面から露出したビア電極15上に、めっきを施し、外部電極16を形成して、電子モジュール100を完成させる。
Finally, as shown in FIG. 4H, plating is performed on the via
次に、電子モジュール100の変形例について説明する。
Next, a modified example of the
(電子モジュール100の第1変形例)
上述した電子モジュール100では、第2封止樹脂14に、基材であるエポキシ樹脂に、フィラーとして、平均粒径が30μmのシリカの粉末を、50体積%、添加したものを使用した。
(First Modification of Electronic Module 100)
In the
第1変形例にかかる電子モジュールは、第2封止樹脂14の基材の種類、フィラーの材質、フィラーの体積%は変更せず、フィラーの平均粒径のみを、 30μmから10μmに変更した。
In the electronic module according to the first modification, the type of the base material of the second sealing
なお、第1封止樹脂13は変更せず、上述したとおり、基材であるエポキシ樹脂に、フィラーとして、平均粒径が30μmのシリカの粉末を、80体積%、添加したものを使用した。
In addition, the
第1変形例にかかる電子モジュールは、第2封止樹脂14に添加するフィラーの平均粒径を、30μmから10μmに小さくしたことにより、第2封止樹脂14の未硬化状態での流動性がより高くなっている。第1変形例にかかる電子モジュールは、第2封止樹脂14の未硬化状態での流動性がより高くなっているため、第2電子部品11の電極ピッチの小さい電極12間に、第2封止樹脂14が確実に充填され、より空隙が形成されにくくなっている。
In the electronic module according to the first modification, the fluidity in the uncured state of the second sealing
(電子モジュール100の第2変形例)
第1変形例にかかる電子モジュールでは、第2封止樹脂14に添加するフィラーの平均粒径を、30μmから10μmに小さくした。
(Second Modification of Electronic Module 100)
In the electronic module according to the first modification, the average particle size of the filler added to the second sealing
第2変形例にかかる電子モジュールは、第2封止樹脂14に、フィラーを添加するのをやめ、いわゆるフィラーレスにした。
In the electronic module according to the second modification, the addition of the filler to the second sealing
第2変形例にかかる電子モジュールは、第2封止樹脂14をフィラーレスにしたことにより、第2封止樹脂14の未硬化状態での流動性がさらに高くなっている。そのため、第2電子部品11の電極ピッチの小さい電極12間に、第2封止樹脂14がさらに確実に充填され、さらに空隙が形成されにくくなっている。
In the electronic module according to the second modification, the fluidity of the second sealing
[第2実施形態]
図5に、第2実施形態にかかる電子モジュール200を示す。ただし、図5は、電子モジュール200の断面図である。
[Second Embodiment]
FIG. 5 shows an
電子モジュール200は、第1実施形態にかかる電子モジュール100に変更を加えた。具体的には、電子モジュール100では、基板1の第1主面1Aに、中空部5を有する2つの第1電子部品4と、中空部を有さない1つの第2電子部品9を実装していたが、電子モジュール200では、第1電子部品4のうちの1つを、第2電子部品21に置換えた。第2電子部品21は、第1電子部品4および第2電子部品9とともに、第1封止樹脂13によって封止されている。
The
第2電子部品21も、第2電子部品11と同様に半導体装置であり、実装面に複数の電極22が形成されている。しかしながら、第2電子部品21は、第2電子部品11に比べて、実装面に形成された電極22の電極間ピッチが大きく、例えば0.3mmである。
The second
第2電子部品21は、未硬化状態において流動性の低い第1封止樹脂13によって封止しても、実装面に形成された電極22の電極間ピッチが大きいため、電極22間に、第1封止樹脂13が十分に充填され、空隙が形成されない。
Even if the second
第2電子部品であっても、第2電子部品21のように、実装面に形成された電極22の電極間ピッチが十分大きければ、基板1の第1主面1Aに実装し、未硬化状態において流動性の低い第1封止樹脂13によって封止することができる。
Even if it is a 2nd electronic component, if the inter-electrode pitch of the
[第3実施形態]
図6に、第3実施形態にかかる電子モジュール300を示す。ただし、図6は、電子モジュール300の断面図である。
[Third Embodiment]
FIG. 6 shows an
電子モジュール300も、第1実施形態にかかる電子モジュール100に変更を加えた。具体的には、電子モジュール100では、中空部を有さない第2電子部品のうち実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品11が、第2封止樹脂14によって、完全に封止されていた。すなわち、第2電子部品11は、実装面も、実装面と反対側の天面も、側面も含めて、全ての面が、第2封止樹脂14によって覆われていた。電子モジュール300は、これに変更を加え、第2電子部品のうち実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2電子部品31の天面を、第2封止樹脂14の外表面から外部に露出させた。なお、電子モジュール300の第2電子部品31には、電子モジュール100の第2電子部品11よりも、厚みの小さなものを使用している。
The
電子モジュール300は、第2電子部品31の天面を第2封止樹脂14の外表面から外部に露出させたことにより、第2封止樹脂14の厚みが小さくなっており、低背化されている。また、第2電子部品31に厚みの小さなものを使用したことも、低背化に寄与している。
In the
[第4実施形態]
図7に、第4実施形態にかかる電子モジュール400を示す。ただし、図7は、電子モジュール400の断面図である。
[Fourth Embodiment]
FIG. 7 shows an
電子モジュール400は、第1実施形態にかかる電子モジュール100に構成を追加した。具体的には、電子モジュール400は、電子モジュール100の天面と4つの側面に、シールド電極41を形成した。より具体的には、第1封止樹脂13の全ての外表面と、基板1の4つの端面と、第2封止樹脂14の外表面の一部分とに、シールド電極41を形成した。シールド電極41の材質および構成は任意であるが、例えば、Ti、Ni、Cr、SUS、またはそれらの合金からなる密着層、Cu、Al、Ag、またはそれらの合金からなる導電層、Ti、Ni、Cr、またはそれらの合金からなる耐食層の3層構造に形成することができる。
The
電子モジュール400は、シールド電極41によって、外部から内部に浸入するノイズ、および、内部から外部に放出されるノイズを抑制することができる。また、電子モジュール400は、シールド電極41によって内部への水分の侵入が抑制されるため、耐湿性が向上している。
The
[第5実施形態]
図8に、第5実施形態にかかる電子モジュール500を示す。ただし、図8は、電子モジュール500の断面図である。
[Fifth Embodiment]
FIG. 8 shows an
第1実施形態〜第4実施形態にかかる電子モジュール100、200、300、400では、基板1の第1主面1Aに第1封止樹脂13を形成し、基板1の第2主面1Bに第2封止樹脂14を形成していた。電子モジュール500では、これを変更し、基板51の第1主面51A上に第2封止樹脂14を形成し、第2封止樹脂14の上に第1封止樹脂13を形成した。以下に、簡潔に説明する。
In the
電子モジュール500は、基板51を備えている。基板51の第1主面51Aに、電極3が形成されている。基板51の第2主面51Bに、電子モジュール500を実装する際に使用する外部電極56が形成されている。
The
基板51の第1主面51Aに、中空部を有していない、第2電子部品のうち実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2の電子部品(半導体装置)11が実装されている。
A second electronic component (semiconductor device) 11 having the smallest inter-electrode pitch of the electrodes formed on the mounting surface among the second electronic components that does not have a hollow portion is mounted on the first
第2電子部品11が、第2封止樹脂14によって封止されている。電子モジュール500においても、電子モジュール100と同様に、第2封止樹脂14として、基材であるエポキシ樹脂に、フィラーとして、平均粒径が30μmのシリカの粉末を、50体積%、添加したものを使用している。第2封止樹脂14は、フィラーの添加量が少ないため、未硬化状態において流動性が高い。
The second
第2封止樹脂14を貫通して、複数のビア電極55が形成されている。ビア電極55は、一端が、基板51の第1主面51Aに形成された電極3に接続されている。また、ビア電極55は、他端が、第2封止樹脂14の外表面に露出されている。
A plurality of via
第2封止樹脂14上に、電極52が形成されている。所定の電極52は、第2封止樹脂14の外表面に露出されたビア電極55と接続されている。
An
第2封止樹脂14上に形成された電極52に、中空部5を有する、2つの第1電子部品(弾性波装置)4と、チップ状の1つの第2電子部品9とが実装されている。
Two first electronic components (elastic wave devices) 4 having a
第1電子部品4と第2電子部品9とが、第1封止樹脂13によって封止されている。電子モジュール500においても、電子モジュール100と同様に、第1封止樹脂13に、基材であるエポキシ樹脂に、フィラーとして、平均粒径が 30μmのシリカの粉末を、80体積%、添加したものを使用している。第1封止樹脂13は、フィラーの添加量が多いため、耐湿性が高く、かつ、未硬化状態において流動性が低い。
The first
電子モジュール500は、上述した電子モジュール100の製造方法の一例を応用して作製することができる。具体的には、まず、基板51に第2電子部品11を実装する。次に、第2電子部品11を第2封止樹脂14によって封止する。次に、第2封止樹脂14にビア電極55を形成する。次に、第2封止樹脂14上に電極52を形成する。次に、電極52に第1電子部品4と第2電子部品9とを実装する。最後に、第1電子部品4および第2電子部品9を第1封止樹脂13によって封止し、電子モジュール500を完成させる。
The
電子モジュール500は、第2封止樹脂14の未硬化状態での流動性が高いため、第2電子部品11の電極ピッチの小さい電極12間に、第2封止樹脂14が十分に充填され、空隙が形成されることが抑制されている。また、電子モジュール500は、第1封止樹脂13の未硬化状態での流動性が低いため、第1封止樹脂13を充填するときの圧力によって第1電子部品4の中空部5が潰れることが抑制されている。また、電子モジュール500は、耐湿性の高い第1封止樹脂13によって、第1電子部品4の中空部5への水分の侵入が抑制されている。
Since the
以上、第1実施形態〜第3実施形態にかかる電子モジュール100、200、300、400、500について説明した。しかしながら、本発明が上述した内容に限定されることはなく、発明の趣旨に沿って、種々の変更をなすことができる。
The
たとえば、電子モジュール100、200、300、400、500では、第1封止樹脂13および第2封止樹脂14の基材に、いずれもエポキシ樹脂を使用したが、樹脂の基材の種類は任意であり、エポキシ樹脂に代えて、たとえば、シリコーン樹脂などを使用してもよい。また、第1封止樹脂13と第2封止樹脂14とで、基材の種類が異なっていてもよい。
For example, in the
また、電子モジュール100、200、300、400、500では、第1封止樹脂13および第2封止樹脂14のフィラーに、いずれもシリカの粉末を使用したが、フィラーの材質は任意であり、シリカに代えて、たとえば、アルミナ、窒化ホウ素、あるいはこれらの複合材料などを使用してもよい。また、第1封止樹脂13と第2封止樹脂14とで、フィラーの材質が異なっていてもよい。
Further, in the
また、電子モジュール100、200、300、400、500では、中空部5を有する第1電子部品4として弾性波装置を使用したが、第1電子部品4の種類は任意であり、弾性波装置に代えて、他の種類の第1電子部品を使用しても良い。
In the
また、電子モジュール100、200、300、400、500では、中空部を有さない第2電子部品11として半導体装置を使用したが、第2電子部品11の種類は任意であり、半導体装置に代えて、他の種類の第2電子部品を使用しても良い。
In the
また、電子モジュール100、200、300、400、500では、第2封止樹脂14に、電解めっきによって金属を析出させる方法によってビア電極15、55を形成したが、これに代えて、ピン状の金属端子を埋め込むことによって、第2封止樹脂14にビア電極15、55を形成するようにしてもよい。
In addition, in the
また、電子モジュール500では、基板51の第1主面51A上に第2封止樹脂14を形成し、第2封止樹脂14上に第1封止樹脂13を形成したが、この順番を入れ替え、基板51の第1主面51A上に第1封止樹脂13を形成し、第1封止樹脂13上に第2封止樹脂14を形成するようにしてもよい。
In the
1、51・・・基板
1A、51A・・・第1主面
1B、51B・・・第2主面
2、52・・・電極
3・・・電極
4・・・第1電子部品(中空部を有する;弾性波装置など)
5・・・中空部
6・・・IDT電極
7・・・電極
8・・・半田
9、21・・・第2電子部品(中空部を有さない;半導体装置、コンデンサ、インダクタ、抵抗など)
10a、10b・・・電極
11、31・・・第2電子部品のうち実装面に形成された電極の電極間ピッチが最も小さい第2の電子部品(半導体装置など)
12、22・・・第2電子部品の実装面に形成された電極
13・・・第1封止樹脂
14・・・第2封止樹脂
15、55・・・ビア電極
16、56・・・外部電極
41・・・シールド電極
100、200、300、400、500・・・電子モジュール
DESCRIPTION OF
5 ...
10a, 10b...
12, 22 ...
Claims (11)
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、
第1封止樹脂と、
第2封止樹脂と、を備えた電子モジュールであって、
前記第1電子部品は、前記第1封止樹脂によって封止され、
前記第2電子部品のうち、前記実装面に形成された前記電極の電極間ピッチが最も小さい前記第2電子部品は、少なくとも前記電極を含む前記実装面が前記第2封止樹脂によって封止され、
前記第1封止樹脂に含有される前記フィラーの体積%が、前記第2封止樹脂に含有される前記フィラーの体積%よりも高い、電子モジュール。 A substrate,
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface on the substrate, and at least one first electronic component having a hollow portion;
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface to the substrate, and at least one second electronic component that does not have a hollow portion;
A first sealing resin;
An electronic module comprising a second sealing resin,
The first electronic component is sealed with the first sealing resin;
Among the second electronic components, the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch of the electrodes formed on the mounting surface is sealed with the second sealing resin at least the mounting surface including the electrodes. ,
The electronic module in which the volume% of the filler contained in the first sealing resin is higher than the volume% of the filler contained in the second sealing resin.
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、
第1封止樹脂と、
第2封止樹脂と、を備えた電子モジュールであって、
前記第1電子部品は、前記第1封止樹脂によって封止され、
前記第2電子部品のうち、前記実装面に形成された前記電極の電極間ピッチが最も小さい前記第2電子部品は、少なくとも前記電極を含む前記実装面が前記第2封止樹脂によって封止され、
前記第1封止樹脂に含有される前記フィラーの平均粒径が、前記第2封止樹脂に含有される前記フィラーの平均粒径よりも大きい、電子モジュール。 A substrate,
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface on the substrate, and at least one first electronic component having a hollow portion;
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface to the substrate, and at least one second electronic component that does not have a hollow portion;
A first sealing resin;
An electronic module comprising a second sealing resin,
The first electronic component is sealed with the first sealing resin;
Among the second electronic components, the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch of the electrodes formed on the mounting surface is sealed with the second sealing resin at least the mounting surface including the electrodes. ,
An electronic module in which an average particle diameter of the filler contained in the first sealing resin is larger than an average particle diameter of the filler contained in the second sealing resin.
前記基板の他方の主面に、前記第2封止樹脂が形成された、請求項1ないし3のいずれか1項に記載された電子モジュール。 The first sealing resin is formed on one main surface of the substrate,
4. The electronic module according to claim 1, wherein the second sealing resin is formed on the other main surface of the substrate. 5.
た電子モジュール。 The electronic module according to claim 1, wherein the first electronic component is an elastic wave device.
前記外部電極が、前記第2封止樹脂の外表面に形成された、請求項1ないし7のいずれか1項に記載された電子モジュール。 In addition, it has external electrodes for mounting
The electronic module according to any one of claims 1 to 7, wherein the external electrode is formed on an outer surface of the second sealing resin.
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、
未硬化の第1封止樹脂と、
未硬化の前記第1封止樹脂よりも流動性の高い未硬化の第2封止樹脂と、を用意する工程と、
前記第1電子部品を、直接または間接に、前記基板に実装する工程と、
前記第2電子部品を、直接または間接に、前記基板に実装する工程と、
実装された前記第1電子部品の周囲に、未硬化の前記第1封止樹脂を充填した上で、未硬化の前記第1封止樹脂を硬化させる工程と、
実装された前記第2電子部品のうち、前記実装面に形成された前記電極の電極間ピッチが最も小さい前記第2電子部品の、少なくとも前記電極を含む前記実装面に、未硬化の前記第2封止樹脂を充填した上で、未硬化の前記第2封止樹脂を硬化させる工程と、を備えた電子モジュールの製造方法。 A substrate,
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface on the substrate, and at least one first electronic component having a hollow portion;
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface to the substrate, and at least one second electronic component that does not have a hollow portion;
An uncured first sealing resin;
A step of preparing an uncured second sealing resin having higher fluidity than the uncured first sealing resin;
Mounting the first electronic component directly or indirectly on the substrate;
Mounting the second electronic component directly or indirectly on the substrate;
The step of curing the uncured first sealing resin after filling the uncured first sealing resin around the mounted first electronic component;
Of the second electronic component mounted, the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch formed on the mounting surface is uncured on the mounting surface including at least the electrode. And a step of curing the uncured second sealing resin after filling with a sealing resin.
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有する、少なくとも1つの第1電子部品と、
前記基板への実装面に複数の電極が形成されるとともに、中空部を有さない、少なくとも1つの第2電子部品と、
未硬化の第1封止樹脂と、
未硬化の前記第1封止樹脂よりも硬化状態における耐湿性の低い未硬化の第2封止樹脂と、を用意する工程と、
前記第1電子部品を、直接または間接に、前記基板に実装する工程と、
前記第2電子部品を、直接または間接に、前記基板に実装する工程と、
実装された前記第1電子部品の周囲に、未硬化の前記第1封止樹脂を充填した上で、未硬化の前記第1封止樹脂を硬化させる工程と、
実装された前記第2電子部品のうち、前記実装面に形成された前記電極の電極間ピッチが最も小さい前記第2電子部品の、少なくとも前記電極を含む前記実装面に、未硬化の前記第2封止樹脂を充填した上で、未硬化の前記第2封止樹脂を硬化させる工程と、を備えた電子モジュールの製造方法。 A substrate,
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface on the substrate, and at least one first electronic component having a hollow portion;
A plurality of electrodes are formed on the mounting surface to the substrate, and at least one second electronic component that does not have a hollow portion;
An uncured first sealing resin;
A step of preparing an uncured second sealing resin having lower moisture resistance in a cured state than the uncured first sealing resin;
Mounting the first electronic component directly or indirectly on the substrate;
Mounting the second electronic component directly or indirectly on the substrate;
The step of curing the uncured first sealing resin after filling the uncured first sealing resin around the mounted first electronic component;
Of the second electronic component mounted, the second electronic component having the smallest inter-electrode pitch formed on the mounting surface is uncured on the mounting surface including at least the electrode. And a step of curing the uncured second sealing resin after filling with a sealing resin.
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