JP2019020274A - パターン検査方法およびパターン検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、第1実施形態におけるパターン検査装置の一例を示す構成図である。検査装置100は、試料101に形成されたパターンの欠陥を検査する光学画像取得部150および制御系回路160(制御部)を備えている。尚、点線で囲まれた部分a,bは、それぞれ、図2の照明光学系aおよび結像光学系bに対応する。図1では、照明光学系aおよび結像光学系bの内部構成の図示を省略している。
図4は、試料101の歪みを示す断面図である。試料(例えば、マスク)101は、ステージ102上に搭載されると、自重により歪む(撓む)場合がある。歪みマップは、ステージ102上に搭載された試料101のパターン面内の各座標における歪みの度合いを示すマップである。
このように作成された歪みマップは、ストレージ109に予め格納され、以下に説明する焦点位置調整方法において参照される。
図5は、第1実施形態による焦点位置調整方法の一例を示すフロー図である。図2および図5を参照して、焦点位置調整方法について説明する。
図9(A)〜図11(B)は、第2実施形態に従ったオートフォーカス機能の判定手法を示す説明図である。第2実施形態は、第1および第2焦点位置センサ29,30からの光強度に基づいてオートフォーカス機能の信頼性を判定する。従って、光強度判定回路126は、第1および第2焦点位置センサ29,30から光強度を入力し、その光強度分布に基づいて、第1および第2焦点位置センサ29,30のオートフォーカス機能の信頼性を判定する。第2実施形態の構成および他の動作は、第1実施形態と同様でよい。
Claims (7)
- 光源からの光を試料に照明する照明光学系と、前記試料で反射した光を撮像センサに結像する結像光学系と、前記照明光学系および前記結像光学系を制御する制御部とを備え、前記撮像センサに結像した像を用いて前記試料に形成されたパターンの欠陥検査を行う検査装置におけるパターン検査方法であって、
前記光源からの光で前記試料を照明する工程と、
前記試料で反射した光から前記照明光学系の光強度分布を得る工程と、
第1スリットを介して前記試料で反射した光を検出する第1焦点位置センサと第2スリットを介して前記試料で反射した光を検出する第2焦点位置センサとを用いて前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせる焦点位置調整が可能か否かを、前記光強度分布に基づいて前記制御部で判定する工程と、
前記焦点位置調整が可能と判定された場合、前記第1および第2焦点位置センサを用いて前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせ、前記焦点位置調整が不可と判定された場合、予め作成され前記試料の歪みを示す歪みマップに基づいて前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせる工程と、
前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせながら、前記撮像センサで前記試料の前記パターンを撮像する工程と、を具備するパターン検査方法。 - 前記光強度分布は、第1センサに集光して得られた前記照明光学系における対物レンズの瞳の光強度分布である、請求項1に記載のパターン検査方法。
- 前記光強度分布は、前記第1焦点位置センサと前記第2焦点位置センサとに集光して得られた前記照明光学系の光強度分布である、請求項1に記載のパターン検査方法。
- 前記制御部は、前記第1焦点位置センサに設けられた複数の第1フォトセンサ部の全体で検出された光強度に対する或る第1フォトセンサ部で検出された光強度の比率、または、前記第2焦点位置センサに設けられた複数の第2フォトセンサ部の全体で検出された光強度に対する或る第2フォトセンサ部で検出された光強度の比率に基づいて、前記第1焦点位置センサと前記第2焦点位置センサとを用いて前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせることが可能か否かを判定する、請求項3に記載のパターン検査方法。
- 前記試料と同じ材質でありかつパターンの形成されていない基準試料に前記光源からの光を照明する工程と、
前記第1および第2焦点位置センサを用いて前記照明光学系の焦点位置と前記基準試料の表面とを合わせるように、前記基準試料の表面に対して略垂直方向に該基準試料を移動させる工程と、
前記基準試料の前記略垂直方向における高さ位置を測定する工程と、
前記基準試料の表面に対して略平行方向へ前記基準試料を移動させながら測定された前記基準試料の表面の各座標における高さ位置を、前記歪みマップとして生成する工程と、をさらに具備する請求項1から請求項4のいずれか一項に記載のパターン検査方法。 - 前記焦点位置調整が不可と判定された場合、前記第1および第2焦点位置センサを用いることなく、前記歪みマップにおける前記基準試料の高さ位置を用いて、前記試料の表面の歪み方向とは反対方向へ歪み分だけ該試料を移動させて前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせる、請求項5に記載のパターン検査方法。
- 光源からの光を試料に照明する照明光学系と、
前記試料で反射した光を検出し前記試料に形成されたパターンを撮像する撮像センサと、
前記試料で反射した光を検出する第1センサと、
第1スリットを介して前記試料で反射した光を検出する第1焦点位置センサと、
第2スリットを介して前記試料で反射した光を検出する第2焦点位置センサと、
前記第1および第2焦点位置センサで得られた光強度分布を用いて前記照明光学系の焦点位置を検出する焦点位置検出部と、
前記第1センサまたは前記第1および第2焦点位置センサで検出された前記照明光学系の光強度分布に基づいて、前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせる焦点位置調整が可能か否かを判定する光強度判定部と、
前記焦点位置調整が可能と判定された場合に、前記第1および第2焦点位置センサによって前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせ、前記焦点位置調整が不可と判定された場合に、予め作成され前記試料の歪みを示す歪みマップに基づいて前記照明光学系の焦点位置と前記試料の表面とを合わせる焦点調整切替部と、を備えたパターン検査装置。
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