JP2018531389A - 現場(in situ)でのトランスデューサ較正 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図8
Description
本明細書では、トランスデューサの非線形性は多項式としてモデル化される。テイラーの定理によると、すべての十分に滑らかな(すなわち微分可能な)関数は、多項式で近似されることができる。そのような多項式の形は、大多数の流量計トランスデューサが遭遇すると予想される、大部分のあらゆる非線形性に対して存在する。多項式の低次項が、本明細書に記載される流量計トランスデューサの挙動を支配する傾向があることが認められている。従って、実用的な適用には、適切な最大多項式次数(例えば4次〜8次)が必須ではないが好ましい。
あらゆる入力周波数、位相、および振幅、ならびにあらゆる任意の非線形性多項式を有するIM歪みのケースを扱うために、実施形態で使用されることを予想して、以下にいくつかの特定の数学的ツールを簡単に説明する。
正弦波入力トーンの多項式展開は、複数の正弦、余弦の積からなる項になるであろう。例えば以下のようになる。
一態様によれば、流量計トランスデューサを較正する方法は、流量計流管の振動モードを励振することと、振動モードの励振を停止することと、流管の自由減衰応答を測定することと、駆動周波数における自由減衰応答の振幅および位相を抽出することと、トランスデューサの強度を計算することと、を含む。
好ましくは、本方法はトランスデューサのピーク速度を決定するステップを含む。
好ましくは、トランスデューサは励振器を含む。
好ましくは、トランスデューサはピックオフセンサを含む。
好ましくは、トランスデューサはピックオフセンサと並置される励振器を含む。
好ましくは、本方法は、トランスデューサの強度を補償するためにメータ電子機器を較正するステップを含む。
好ましくは、本方法は、プロセス流体を流管を通して流すステップと、プロセス流体の流量を測定するステップを含む。
好ましくは、第1のピックオフセンサと第1の励振器が並置され、第2のピックオフセンサと第2の励振器が並置される。
好ましくは、メータ電子機器は、参照曲線を提供し、かつ曲線を多項式非線形性モデルとしてモデル化し、測定された非線形性モデルが参照曲線に当てはめられるように構成される。
好ましくは、メータ電子機器は、メータ電子機器を較正してトランスデューサ強度を補償するように構成される。
好ましくは、振動型流量計は流管内にプロセス流体を含み、メータ電子機器はプロセス流体の流量を測定するように構成される。
好ましくは、メータ電子機器は、非線形性多項式を調整し、測定された高調波を補償するように構成される。
入力は正弦波の和であると仮定される。
別の例として、cosωt・sin2ωt=0.25cosωt―0.25cos3ωtである。この場合、R121=0.25及びR123=-0.25となる。なお、Rを定義するために、kが偶数であるか奇数であるかだけが重要である。すなわち、R0pf=R2pf=R−4pf及びR1pf=R3pf=R−5pfである。従って、任意の値のpおよびfに対して、特定の係数の値を見つけることができる。pの偶数の値が基底周波数の奇数倍だけを生成し、pの奇数の値が偶数倍だけを生成することは注目に値する。
余弦から正弦への変換は係数Rによって処理されるが、因子―ωは依然として考慮されなければならない。一般に、kが測定空間から非線形性空間への微分(正)または積分(負)の数を表すために使用されるので、非線形性空間の振幅はskAωkと記述され、ここでAは元の信号の振幅であり、skは適当な符号である。例えば、元の加速度信号がAcosωtの場合、その位置は(-A/ω2)cosωtである。簡略化した表記では、これは振幅s-2Aω-2=―Aω-2の余弦である。別の例として、Acosωtの位置は、―Aωsinωtの速度、または簡略化した表記では振幅s1Aω1=―Aωの正弦になる。
上で導出した数学を使用して、非線形システムの出力を計算して純粋なトーン入力Acosωtを得る行列方程式が構築されてもよい。このシステムは、入力測定値からの特定空間およびk導関数(積分の場合、kは負)において非線形であり、以下になる。
Claims (16)
- 流量計のトランスデューサを較正する方法であって、
流量計の流管の振動モードを励振するステップと、
振動モードの励振を停止するステップと、
流管の自由減衰応答を測定するステップと、
駆動周波数における自由減衰応答の振幅及び位相を抽出するステップと、
トランスデューサの強度を計算するステップと、を含む、方法。 - 流量計は共振点にて励振される、請求項1に記載の方法。
- 更に、トランスデューサのピーク速度を決定するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- トランスデューサは励振器を含む、請求項1に記載の方法。
- トランスデューサはピックオフセンサを含む、請求項1に記載の方法。
- トランスデューサはピックオフセンサと並置される励振器を含む、請求項1に記載の方法。
- 多項式非線形性を導出するステップと、
参照曲線を提供するステップと、
多項式非線形性モデルの曲線をモデル化するステップと、
測定された非線形性モデルを参照曲線に当てはめるステップとを含む、請求項1に記載の方法。 - トランスデューサの強度を補償するためにメータ電子機器を較正するステップを含む、請求項7に記載の方法。
- プロセス流体を流管を通して流すステップと、
プロセス流体の流量を測定するステップを含む、請求項8に記載の方法。 - 振動型流量計(5)であって、
1つまたは複数の流管(130、130’)ならびに第1及び第2のピックオフセンサ(170L、170R)を含むセンサアセンブリ(10)と、
1つまたは複数の流管(130、130’)を振動させるように構成される第1及び第2の励振器(180L、180R)と、
第1及び第2のピックオフセンサ(170L、170R)に結合され、第1及び第2の励振器(180L、180R)に結合されるメータ電子機器(20)とを備え、
メータ電子機器(20)は、第1の信号を第1及び第2の励振器(180L、180R)に提供するように構成され、第1及び第2の励振器(180L、180R)は、1つまたは複数の流管(130、130’)の振動モードを励振するように構成され、振動モードの励振が停止され、1つまたは複数の流管(130、130’)の自由減衰応答が測定され、
メータ電子機器(20)は更に、多項式非線形性モデルを導出し、少なくとも第1及び第2のピックオフセンサ(170L、170R)の強度を計算するように構成されている、振動型流量計(5)。 - メータ電子機器(20)は、自由減衰応答の振幅を計算し、自由減衰応答の位相を計算するように構成される、請求項10に記載の振動型流量計(5)。
- 第1のピックオフセンサ(170L)と第1の励振器(180L)が並置され、第2のピックオフセンサ(170R)と第2の励振器(180R)が並置される、請求項10に記載の振動型流量計(5)。
- メータ電子機器(20)は、参照曲線を提供し、かつ曲線を多項式非線形性モデルとしてモデル化し、測定された非線形性モデルが参照曲線に当てはめられるように構成される、請求項10に記載の振動型流量計(5)。
- メータ電子機器(20)は、メータ電子機器を較正してトランスデューサ強度を補償するように構成される、請求項13に記載の振動型流量計(5)。
- 流管内にプロセス流体を含み、メータ電子機器(20)はプロセス流体の流量を測定するように構成される、請求項14に記載の振動型流量計(5)。
- メータ電子機器(20)は、非線形性多項式を調整し、測定された高調波を補償するように構成される、請求項14に記載の振動型流量計(5)。
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