JP2018200821A - Electric contactor and socket for electrical component - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、半導体装置(以下「ICパッケージ」という)等の電気部品に電気的に接続される電気接触子、及び、この電気接触子が配設された電気部品用ソケットに関するものである。 The present invention relates to an electrical contact that is electrically connected to an electrical component such as a semiconductor device (hereinafter referred to as an “IC package”), and an electrical component socket in which the electrical contact is disposed.
従来、この種の電気接触子としては、電気部品用ソケットとしてのICソケットに設けられたコンタクトピンが知られている。このICソケットは、配線基板上に配置されると共に、検査対象であるICパッケージが収容されるようになっており、このICパッケージの端子と、配線基板の電極とが、そのコンタクトピンを介して電気的に接続されて、導通試験等の試験を行うようになっている。 Conventionally, as this type of electrical contact, a contact pin provided in an IC socket as an electrical component socket is known. The IC socket is arranged on the wiring board and accommodates the IC package to be inspected. The terminals of the IC package and the electrodes of the wiring board are connected via the contact pins. It is electrically connected to perform tests such as a continuity test.
そのようなコンタクトピンには、配線基板とICパッケージとに接触する接触部同士の間に、当該接触部同士を離間させる方向に付勢するコイルバネが配設されているものがある(例えば、特許文献1参照)。 Among such contact pins, there is one in which a coil spring is disposed between contact portions that are in contact with the wiring board and the IC package so as to bias the contact portions in a direction in which the contact portions are separated from each other (for example, patents). Reference 1).
ここで、前記した特許文献1のようなコイルバネを備えたコンタクトピンを有するICソケットでは、コイルバネの付勢力に抗して、配線基板とICパッケージの双方が近づく方向にコンタクトピンを押圧することで、コンタクトピンを介して所定の接圧を確保した状態で配線基板とICパッケージを電気的に接続するように構成されている。 Here, in the IC socket having the contact pin provided with the coil spring as described in Patent Document 1, the contact pin is pressed in the direction in which both the wiring board and the IC package approach against the biasing force of the coil spring. The wiring board and the IC package are electrically connected in a state where a predetermined contact pressure is secured via the contact pins.
しかしながら、このようなコンタクトピンにおいては、配線基板とICパッケージによる押圧力でコイルバネが折れ曲がって正常な接続ができなくなる不具合が生じる虞があり、問題となっていた。 However, in such a contact pin, the coil spring is bent by the pressing force of the wiring board and the IC package, which may cause a problem that a normal connection cannot be made.
そこで、この発明は、コイルバネの折れ曲がりを防止して、電気部品同士(配線基板とICパッケージ)を正常な状態で電気的に接続することができる電気接触子(コンタクトピン)及び電気部品用ソケット(ICソケット)を提供することを課題としている。 Therefore, the present invention prevents the bending of the coil spring and can electrically connect the electrical components (wiring board and IC package) in a normal state and the electrical component socket ( It is an object to provide an IC socket.
かかる課題を達成するために、請求項1に記載の発明は、2つの電気部品の間に配設され、当該2つの電気部品同士を電気的に接続する電気接触子において、一方の電気部品に接触する第1接触部と、他方の電気部品に接触する第2接触部と、前記第1接触部及び前記第2接触部を離間する方向に付勢するコイルバネとを有し、該コイルバネは、前記第1接触部及び前記第2接触部を離間する方向に付勢する付勢力を有する有効巻き部と、当該付勢力を有しない密着巻き部とで構成されており、前記第1接触部の前記コイルバネが接触する箇所と前記第2接触部の前記コイルバネが接触する箇所の間には、前記コイルバネの径より大径の大空間部を有しており、前記コイルバネの前記大空間部に存在する箇所に前記密着巻き部を有する電気接触子としたことを特徴とする。 In order to achieve such a subject, the invention according to claim 1 is an electrical contact that is disposed between two electrical components and electrically connects the two electrical components to each other. A first contact portion that contacts, a second contact portion that contacts the other electrical component, and a coil spring that biases the first contact portion and the second contact portion in a direction away from each other. An effective winding portion having an urging force for urging the first contact portion and the second contact portion in a direction away from each other, and a tightly wound portion not having the urging force, Between the location where the coil spring contacts and the location where the coil spring of the second contact portion contacts, there is a large space portion having a diameter larger than the diameter of the coil spring, and exists in the large space portion of the coil spring. Electrical contact with the tightly wound portion It is characterized in that as a child.
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の構成に加え、前記密着巻き部は、前記コイルバネに前記密着巻き部を有していない場合に前記第1接触部と前記第2接触部が前記コイルバネの付勢力に抗して近づく方向に押圧されたときに、前記大空間部内において前記コイルバネが湾曲を開始する箇所に設けられている電気接触子としたことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration according to the first aspect, the first contact portion and the second contact portion are formed when the tightly wound portion does not have the tightly wound portion in the coil spring. When the coil spring is pressed in a direction approaching against the urging force of the coil spring, the electrical contact is provided in a location where the coil spring starts to bend in the large space.
請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の構成に加え、前記第1接触部は、前記コイルバネと略同径で該コイルバネが内部に挿入される挿入部を有しており、前記第2接触部は、前記挿入部と該挿入部の内部に挿入された前記コイルバネが内部に挿入される筒状部を有しており、該筒状部における前記挿入部から前記コイルバネが突出する箇所と前記第2接触部の前記コイルバネが接触する箇所の間には、前記コイルバネの径より大径の大空間部を有しており、前記第1接触部と前記第2接触部とが伸縮されるように構成されている電気接触子としたことを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in addition to the configuration according to the first or second aspect, the first contact portion has an insertion portion having substantially the same diameter as the coil spring and into which the coil spring is inserted. The second contact portion has a cylindrical portion into which the insertion portion and the coil spring inserted into the insertion portion are inserted, and the coil spring extends from the insertion portion in the cylindrical portion. Between the protruding part and the part where the coil spring of the second contact part contacts, there is a large space part having a diameter larger than the diameter of the coil spring, and the first contact part and the second contact part The electric contactor is configured to be expanded and contracted.
請求項4に記載の発明は、請求項1又は2に記載の構成に加え、前記第1接触部は、前記コイルバネと略同径で該コイルバネが内部に挿入される第1挿入部を有しており、前記第2接触部は、前記コイルバネと略同径で該コイルバネが内部に挿入される第2挿入部を有しており、筒状を呈し、一方の端部から前記第1挿入部が内部に挿入され、他方の端部から前記第2挿入部が内部に挿入される筒状部を有しており、前記コイルバネは、前記筒状部内で一端部が前記第1挿入部に挿入されると共に他端部が前記第2挿入部に挿入されており、前記筒状部における前記第1挿入部及び前記第2挿入部の双方から前記コイルバネが突出している箇所には、前記コイルバネの径より大径の大空間部を有しており、前記第1接触部と前記第2接触部とが伸縮されるように構成されている電気接触子としたことを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, in addition to the configuration according to the first or second aspect, the first contact portion has a first insertion portion having substantially the same diameter as the coil spring and into which the coil spring is inserted. The second contact portion has a second insertion portion that is substantially the same diameter as the coil spring and into which the coil spring is inserted. The second contact portion has a cylindrical shape, and the first insertion portion starts from one end. Is inserted inside, and the second insertion portion is inserted into the inside from the other end, and the coil spring is inserted into the first insertion portion at one end in the cylindrical portion. And the other end portion is inserted into the second insertion portion, and the coil spring protrudes from both the first insertion portion and the second insertion portion in the cylindrical portion. A large space portion having a diameter larger than the diameter, and the first contact portion and the second contact portion, It has an electrical contact that is configured to be stretchable and said.
請求項5に記載の発明は、一の電気部品上に配置され、他の電気部品が収容される収容部を有するソケット本体と、該ソケット本体に配設されて前記一の電気部品と前記他の電気部品とに設けられた端子同士に接触する請求項1乃至4の何れか1つに記載の電気接触子とを有する電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。 According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a socket main body disposed on one electrical component and having a receiving portion for accommodating another electrical component, and the one electrical component and the other disposed on the socket main body. It is set as the socket for electrical components which has the electrical contactor as described in any one of Claim 1 thru | or 4 which contacts the terminals provided in this electrical component.
請求項1に記載の発明によれば、第1接触部のコイルバネが接触する箇所と第2接触部のコイルバネが接触する箇所の間にコイルバネの径より大径の大空間部を有しており、コイルバネのここに存在する箇所に密着巻き部が形成されていることで、適切な位置に密着巻き部が設けられてコイルバネの折れ曲がりを防止し、電気部品同士を正常な状態で電気的に接続することができる。 According to invention of Claim 1, it has a large space part with a larger diameter than the diameter of a coil spring between the location where the coil spring of a 1st contact part contacts, and the location where the coil spring of a 2nd contact part contacts. The tightly wound portion is formed at the location of the coil spring so that the tightly wound portion is provided at an appropriate position to prevent the coil spring from being bent and the electrical components are electrically connected in a normal state. can do.
請求項2に記載の発明によれば、大空間部におけるコイルバネが湾曲を開始する箇所に密着巻き部が設けられていることで、より適切な位置に密着巻き部が設けられてコイルバネの折れ曲がりを確実に防止し、電気部品同士をより正常な状態で電気的に接続することができる。また、密着巻き部を、コイルバネが湾曲を開始する箇所に設けておけば、コイルバネの折れ曲がりを防げるため、他の箇所に余分に密着巻き部を設ける必要がなく、コイルバネの長さに対して有効巻き部の割合を高めることができ、コイルバネの伸縮を効率良く行うことができる。 According to the second aspect of the present invention, since the tightly wound portion is provided at a position where the coil spring in the large space portion starts to bend, the tightly wound portion is provided at a more appropriate position so that the coil spring can be bent. It can prevent reliably and can electrically connect electrical components in a more normal state. In addition, if the tightly wound part is provided at the location where the coil spring begins to bend, it is possible to prevent the coil spring from being bent, so there is no need to provide an extra tightly wound part at other locations, which is effective for the length of the coil spring. The ratio of the winding portion can be increased, and the coil spring can be efficiently expanded and contracted.
請求項3に記載の発明によれば、挿入部を有する第1接触部と、挿入部が内部に挿入される筒状部を有する第2接触部と、これらに挿入されるコイルバネとで構成される電気接触子において、適切な位置に密着巻き部が設けられてコイルバネの折れ曲がりを防止し、電気部品同士を正常な状態で電気的に接続することができる。 According to invention of Claim 3, it is comprised with the 1st contact part which has an insertion part, the 2nd contact part which has a cylindrical part in which an insertion part is inserted, and a coil spring inserted in these. In the electrical contact, the tightly wound portion is provided at an appropriate position to prevent the coil spring from being bent, and the electrical components can be electrically connected in a normal state.
請求項4に記載の発明によれば、第1挿入部を有する第1接触部と、第2挿入部を有する第2接触部と、第1挿入部と第2挿入部とが挿入される筒状部と、これらに挿入されるコイルバネとで構成される電気接触子において、適切な位置に密着巻き部が設けられてコイルバネの折れ曲がりを防止し、電気部品同士を正常な状態で電気的に接続することができる。 According to invention of Claim 4, the cylinder into which the 1st contact part which has a 1st insertion part, the 2nd contact part which has a 2nd insertion part, and a 1st insertion part and a 2nd insertion part are inserted. In an electrical contact composed of a coil-shaped part and a coil spring inserted into these, a tightly wound part is provided at an appropriate position to prevent the coil spring from being bent and to electrically connect electrical components in a normal state. can do.
請求項5に記載の発明によれば、請求項1乃至4の何れか一つに記載の電気接触子を有しているため、適切な位置に密着巻き部が設けられてコイルバネの折れ曲がりを防止し、電気部品同士を正常な状態で電気的に接続できる電気部品用ソケットとすることができる。 According to the fifth aspect of the present invention, since the electric contactor according to any one of the first to fourth aspects is provided, the tightly wound portion is provided at an appropriate position to prevent the coil spring from being bent. And it can be set as the socket for electrical components which can electrically connect electrical components in a normal state.
以下、この発明の実施の形態について説明する。
[発明の実施の形態1]
図1〜図10には、この発明の実施の形態1を示す。
Embodiments of the present invention will be described below.
Embodiment 1 of the Invention
1 to 10 show a first embodiment of the present invention.
この実施の形態の「電気部品用ソケット」としてのICソケット10は、図2に示すように、「電気部品」としての配線基板1上に固定され、上部に「電気部品」としてのICパッケージ2が収容されて、配線基板1の「端子」としての電極(図示省略)とICパッケージ2の「端子」としての半田ボール4とを電気的に接続させるように構成されており、例えばICパッケージ2に対するバーンイン試験及び信頼性試験等の導通試験の試験装置などに用いられるものである。 As shown in FIG. 2, an IC socket 10 as an “electrical component socket” of this embodiment is fixed on a wiring board 1 as an “electrical component”, and an IC package 2 as an “electrical component” at the top. Is configured to electrically connect electrodes (not shown) as “terminals” of the wiring substrate 1 and solder balls 4 as “terminals” of the IC package 2, for example, the IC package 2. It is used in a test apparatus for continuity tests such as burn-in test and reliability test for the above.
まず、この実施の形態のICパッケージ2について、図10を用いて説明する。この実施の形態のICパッケージ2は、図10に示すように、平面視略方形状のパッケージ本体3を有しており、このパッケージ本体3の下面5に複数の球状の半田ボール4がマトリックス状に設けられている。 First, the IC package 2 of this embodiment will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 10, the IC package 2 of this embodiment has a package body 3 having a substantially square shape in plan view. A plurality of spherical solder balls 4 are arranged in a matrix on the lower surface 5 of the package body 3. Is provided.
次に、この実施の形態のICソケット10について、図1〜図9を用いて説明する。この実施の形態のICソケット10は、図1及び図2に示すように、板状のソケット本体11を有しており、このソケット本体11の上面の略中央部に、ICパッケージ2を収容する略方形状の収容部12を有している。 Next, the IC socket 10 of this embodiment will be described with reference to FIGS. As shown in FIGS. 1 and 2, the IC socket 10 of this embodiment has a plate-shaped socket body 11, and the IC package 2 is accommodated in a substantially central portion of the upper surface of the socket body 11. The container 12 has a substantially rectangular shape.
また、このソケット本体11には、図1及び図2に示すように、縦方向に貫通して配設された複数の「電気接触子」としてのコンタクトピン20を備えており、これら複数のコンタクトピン20がソケット本体11の収容部12にマトリックス状に配設されている。また、収容部12の周囲の角部には、ICパッケージ2を収容部12にガイドするために突起状に形成されたガイド部13が設けられている。 Further, as shown in FIGS. 1 and 2, the socket body 11 is provided with a plurality of contact pins 20 as “electrical contacts” arranged penetrating in the vertical direction. The pins 20 are arranged in a matrix in the accommodating portion 12 of the socket body 11. In addition, a guide portion 13 formed in a protruding shape is provided at a corner portion around the housing portion 12 in order to guide the IC package 2 to the housing portion 12.
この実施の形態では、ICパッケージ2の半田ボール4の配置ピッチと、半田ボール4に電気的に接続される配線基板1の電極の配置ピッチとは同一となっており、コンタクトピン20の配置ピッチはこれらの配置ピッチと同一となっている。 In this embodiment, the arrangement pitch of the solder balls 4 of the IC package 2 and the arrangement pitch of the electrodes of the wiring board 1 electrically connected to the solder balls 4 are the same, and the arrangement pitch of the contact pins 20. Are the same as these arrangement pitches.
各コンタクトピン20は、図3〜図5に示すように、長手方向の軸線Lに沿って、上端にICパッケージ2の半田ボール4と電気的に接触する略王冠形状の第1上端部31を有する「第1接触部」としての第1プランジャ30と、下端に配線基板1の電極と電気的に接触する突起形状の第2下端部41を有する「第2接触部」としての第2プランジャ40と、この第1プランジャ30と第2プランジャ40との間に連続し、第1プランジャ30と第2プランジャ40とを軸線Lに沿って互いに離間する方向に付勢するコイルバネ50とを有している。 As shown in FIGS. 3 to 5, each contact pin 20 has a substantially crown-shaped first upper end portion 31 in electrical contact with the solder ball 4 of the IC package 2 at the upper end along the longitudinal axis L. A first plunger 30 as a “first contact portion” and a second plunger 40 as a “second contact portion” having a projecting-shaped second lower end portion 41 in electrical contact with the electrode of the wiring board 1 at the lower end. And a coil spring 50 which is continuous between the first plunger 30 and the second plunger 40 and biases the first plunger 30 and the second plunger 40 along the axis L in a direction away from each other. Yes.
また、第1プランジャ30には、図4及び図5に示すように、コイルバネ50の一端部51側を挿入させる中空形状の挿入部33が形成されている。この挿入部33は、第1上端部31と逆側の第1下端部32に挿入口33aを有しており、この挿入口33aからコイルバネ50の一端部51側を第1プランジャ30の内部に挿入させて保持するように構成されている。この挿入部33は、その内径がコイルバネ50の径と略同一に形成されており、コイルバネ50が摺動して挿入されるようになっている。 Further, as shown in FIGS. 4 and 5, the first plunger 30 is formed with a hollow insertion portion 33 into which the one end 51 side of the coil spring 50 is inserted. The insertion portion 33 has an insertion port 33 a in the first lower end portion 32 opposite to the first upper end portion 31, and the one end portion 51 side of the coil spring 50 is inserted into the first plunger 30 from the insertion port 33 a. It is configured to be inserted and held. The inner diameter of the insertion portion 33 is substantially the same as the diameter of the coil spring 50, and the coil spring 50 is slid and inserted.
また、図4及び図5に示すように、第1下端部32は挿入部33の他の箇所の外径より大きく形成されている。また、挿入部33の第1上端部31側の最奥部は、略円錐形状のコイルバネ係止部34を有しており、この形状によりコイルバネ50が係止しやすい状態に構成されている。 As shown in FIGS. 4 and 5, the first lower end portion 32 is formed larger than the outer diameter of the other portion of the insertion portion 33. Further, the innermost portion of the insertion portion 33 on the first upper end portion 31 side has a coil spring locking portion 34 having a substantially conical shape, and the coil spring 50 is easily locked by this shape.
また、第2プランジャ40には、図4及び図5に示すように、「筒状部」としての大径の大径筒部43と小径の小径部44の2つの大きさの中空部43,44が軸線Lに沿って連続するように設けられている。このうち、大径筒部43は第2下端部41と逆側の第2上端部42に挿入口43aを有しており、この挿入口43aからコイルバネ50及び第1プランジャ30の挿入部33を第2プランジャ40の内部に挿入させて保持するように構成されている。 As shown in FIGS. 4 and 5, the second plunger 40 has two large hollow portions 43, which are a large-diameter large-diameter cylindrical portion 43 and a small-diameter small-diameter portion 44 as “cylindrical portions”. 44 is provided to be continuous along the axis L. Among these, the large-diameter cylindrical portion 43 has an insertion port 43 a in the second upper end portion 42 opposite to the second lower end portion 41, and the coil spring 50 and the insertion portion 33 of the first plunger 30 are connected from the insertion port 43 a. The second plunger 40 is configured to be inserted and held.
この大径筒部43は挿入部33が摺動して挿入できる大きさ及び形状に形成されている。そのため、コイルバネ50が挿入された状態で、大径筒部43の内径Tに対してコイルバネ50の外径Sが所定量小さい径となっている。 The large-diameter cylindrical portion 43 is formed in a size and shape that allows the insertion portion 33 to slide and be inserted. Therefore, the outer diameter S of the coil spring 50 is smaller than the inner diameter T of the large diameter cylindrical portion 43 by a predetermined amount with the coil spring 50 inserted.
また、図4及び図5に示すように、第2上端部42は、他の大径筒部43より小径となるように加工されており、第1プランジャ30の大径となっている第1下端部32がこの位置で係止されて、第1プランジャ30が第2プランジャ40から外れないように構成されている。 As shown in FIGS. 4 and 5, the second upper end portion 42 is processed to have a smaller diameter than the other large-diameter cylindrical portion 43, and the first diameter that is the larger diameter of the first plunger 30. The lower end portion 32 is locked at this position so that the first plunger 30 does not come off the second plunger 40.
また、大径筒部43の第2下端部41側には、小径部44が形成されている。この小径部44は、後述するコイルバネ50と略同径の大きさに形成されており、所定量のコイルバネ50の他端部52側を挿入するように構成されている。また、小径部44の第2下端部41側の最奥部は、略円錐形状のコイルバネ係止部45を有しており、この形状によりコイルバネ50が係止しやすい状態に構成されている。 Further, a small diameter portion 44 is formed on the second lower end portion 41 side of the large diameter cylindrical portion 43. The small-diameter portion 44 is formed to have the same diameter as that of a coil spring 50 described later, and is configured to insert the other end portion 52 side of a predetermined amount of the coil spring 50. Further, the innermost part of the small diameter portion 44 on the second lower end portion 41 side has a substantially conical coil spring locking portion 45, which is configured so that the coil spring 50 can be easily locked.
また、図4及び図5に示すように、コイルバネ50は、第1プランジャ30及び第2プランジャ40を離間する方向に付勢する付勢力を有する有効巻き部54と、当該付勢力を有しない2つの密着巻き部53とで構成されている。 As shown in FIGS. 4 and 5, the coil spring 50 includes an effective winding portion 54 having a biasing force that biases the first plunger 30 and the second plunger 40 away from each other, and 2 that does not have the biasing force. It is composed of two tightly wound portions 53.
また、コイルバネ50は、図4に示すように、第1プランジャ30と第2プランジャ40とを軸線Lに沿って互いに離間する方向に付勢するように、第1プランジャ30の挿入部33に一端部51側が挿入されると共に、第2プランジャ40の大径筒部43を貫通して他端部52側が小径部44に挿入されて保持されている。 Further, as shown in FIG. 4, the coil spring 50 has one end on the insertion portion 33 of the first plunger 30 so as to bias the first plunger 30 and the second plunger 40 along the axis L in a direction away from each other. The portion 51 side is inserted, and the other end 52 side is inserted and held in the small diameter portion 44 through the large diameter cylindrical portion 43 of the second plunger 40.
また、図3(a)に示すように、コンタクトピン20に対して配線基板1からもICパッケージ2からも押圧力が掛かっていない状態において、第1プランジャ30のコイルバネ50が接触する箇所と第2プランジャ40のコイルバネ50が接触する箇所の間、すなわち第1プランジャ30の挿入部33の挿入口33aと第2プランジャ40の小径部44の入り口まで間における大径筒部43の内壁部43bで囲まれた空間に、大径筒部43の内壁部43bとコイルバネ50の間に所定の空間を有する大空間部49が形成されるように構成されている。そして、この大空間部49に密着巻き部53の1つが位置するように形成されている。 In addition, as shown in FIG. 3A, in a state where no pressing force is applied to the contact pin 20 from the wiring board 1 or the IC package 2, the location where the coil spring 50 of the first plunger 30 contacts and 2 between the portion of the plunger 40 where the coil spring 50 contacts, that is, between the insertion port 33a of the insertion portion 33 of the first plunger 30 and the entrance of the small diameter portion 44 of the second plunger 40. A large space portion 49 having a predetermined space is formed between the inner wall portion 43 b of the large-diameter cylindrical portion 43 and the coil spring 50 in the enclosed space. And it forms so that one of the close_contact | adherence winding parts 53 may be located in this large space part 49. FIG.
特に、この実施の形態では、密着巻き部53が、挿入部33の内部の他、コイルバネ50に当該密着巻き部53を有していないと仮定した場合に第1プランジャ30と第2プランジャ40がコイルバネ50の付勢力に抗して近づく方向に押圧されたときに、大空間部43内においてコイルバネ50が湾曲を開始する箇所Pに設けられている。具体的には、付勢されていないコイルバネ50が挿入部33の挿入口33aから突出した箇所から所定量離間した位置Pに、2巻きの密着巻き部53が形成されている。 In particular, in this embodiment, when it is assumed that the tightly wound portion 53 does not have the tightly wound portion 53 in the coil spring 50 in addition to the inside of the insertion portion 33, the first plunger 30 and the second plunger 40 are When the coil spring 50 is pressed in a direction approaching against the urging force of the coil spring 50, the coil spring 50 is provided at a position P where the coil spring 50 starts to bend in the large space portion 43. Specifically, the two tightly wound portions 53 are formed at a position P where the coil spring 50 that is not biased is spaced a predetermined amount from the position where the coil spring 50 protrudes from the insertion port 33 a of the insertion portion 33.
なお、この密着巻き部53は、図4に示すように2つ設けられていても良いし、付勢力を保持できる程度に1又は3つ以上設けられていても良い。また、大空間部49に位置する密着巻き部53の数も、図4に示すような1つに限らず、複数設けられていても良い。 Note that two tightly wound portions 53 may be provided as shown in FIG. 4, or one or three or more may be provided to the extent that the urging force can be maintained. Further, the number of tightly wound portions 53 located in the large space 49 is not limited to one as shown in FIG. 4, and a plurality of closely wound portions 53 may be provided.
次に、このようなコイルバネ50が配設されたコンタクトピン20を備えたICソケット10の作用について説明する。 Next, the operation of the IC socket 10 including the contact pin 20 provided with such a coil spring 50 will be described.
このICソケット10を使用する際には、図1及び図2に示すように、複数のコンタクトピン20をそれぞれソケット本体11に装着し、図3(a)及び図4に示すように、第1プランジャ30の第1上端部31を上方に突出させると共に、第2プランジャ40の第2下端部41を下方に突出させた状態で配置する。そして、このICソケット10を配線基板1に位置決め固定し、図3(b)に示すように、第2プランジャ20の第2下端部41を配線基板1の電極に接触させる。このとき、コンタクトピン20全体が上方にスライド移動する。 When the IC socket 10 is used, as shown in FIGS. 1 and 2, a plurality of contact pins 20 are respectively attached to the socket body 11, and the first socket as shown in FIGS. The first upper end portion 31 of the plunger 30 is protruded upward, and the second lower end portion 41 of the second plunger 40 is protruded downward. Then, the IC socket 10 is positioned and fixed to the wiring board 1, and the second lower end portion 41 of the second plunger 20 is brought into contact with the electrode of the wiring board 1 as shown in FIG. At this time, the entire contact pin 20 slides upward.
その後、図3(c)に示すように、ICパッケージ2を収容部12に収容して、半田ボール4を第1上端部31に接触させる。その状態で押圧治具(図示省略)等を下降させてICパッケージ2を下方に押圧すると、第1プランジャ30の第1上端部31が半田ボール4により押圧され、図3(c)及び図5に示すように、第1プランジャ30が下方に押し込まれる。 Thereafter, as shown in FIG. 3C, the IC package 2 is accommodated in the accommodating portion 12, and the solder ball 4 is brought into contact with the first upper end portion 31. In this state, when a pressing jig (not shown) or the like is lowered to press the IC package 2 downward, the first upper end portion 31 of the first plunger 30 is pressed by the solder ball 4, and FIGS. As shown, the first plunger 30 is pushed downward.
そして、このように第1プランジャ30及び第2プランジャ40によってコイルバネ50を圧縮することで、コイルバネ50の有効巻き部54が収縮し、当該コイルバネ50の有効巻き部54の付勢力で第1プランジャ30の第1上端部31と第2プランジャ40の第2下端部41とを互いに離間する方向に付勢する。これにより、配線基板1の電極とICパッケージ2の半田ボール4に適切な接圧を持ってコンタクトピン20を接触させて双方を電気的に接続させた状態で、ICパッケージ2のバーンイン試験等の導通試験を実施する。 Then, by compressing the coil spring 50 by the first plunger 30 and the second plunger 40 in this way, the effective winding portion 54 of the coil spring 50 contracts, and the first plunger 30 is urged by the urging force of the effective winding portion 54 of the coil spring 50. The first upper end portion 31 and the second lower end portion 41 of the second plunger 40 are urged away from each other. As a result, the contact pins 20 are brought into contact with the electrodes of the wiring board 1 and the solder balls 4 of the IC package 2 with an appropriate contact pressure so that both are electrically connected. Conduct a continuity test.
このとき、コイルバネ50の密着巻き部53が、コイルバネ50に当該密着巻き部53を有していないと仮定した場合に第1プランジャ30と第2プランジャ40がコイルバネ50の付勢力に抗して近づく方向に押圧されたときに、大空間部49内においてコイルバネ50が湾曲を開始する箇所Pに設けられている(具体的には、付勢されていないコイルバネ50が挿入部33の挿入口33aから突出した箇所から所定量離間した位置Pに2巻きの密着巻き部53を有している)。 At this time, when it is assumed that the tightly wound portion 53 of the coil spring 50 does not have the tightly wound portion 53 on the coil spring 50, the first plunger 30 and the second plunger 40 approach against the biasing force of the coil spring 50. The coil spring 50 is provided at a location P where the coil spring 50 starts to bend in the large space 49 when pressed in the direction (specifically, the coil spring 50 that is not biased is inserted through the insertion port 33a of the insertion portion 33). (Two close winding portions 53 are provided at a position P spaced apart from the protruding portion by a predetermined amount).
これにより、コイルバネ50が圧縮して折れ曲がろうとする力が働くところを密着巻き部53でコイルバネ50の動きを小さくすることができ、その結果、コイルバネ50の折れ曲がりを防止して、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続することができる。 As a result, the movement of the coil spring 50 can be reduced by the tightly wound portion 53 at the place where the coil spring 50 compresses and acts to be bent. As a result, the coil spring 50 is prevented from being bent, and the wiring board 1 can be prevented from bending. And the IC package 2 can be electrically connected in a normal state.
例えば、図8及び図9に示すように、密着巻き部53を有しない従来のコンタクトピン220では、図8に示す押圧力が掛かっていない状態に対して、上方と下方の双方から押圧してコイルバネ250を圧縮させると、図9に示すように、大空間部49の特定の位置(コイルバネ250が湾曲を開始する箇所)Pを起点としてコイルバネ250が折れ曲がり、大空間部49の内壁部43bに当接するまで曲がってしまう。 For example, as shown in FIGS. 8 and 9, the conventional contact pin 220 without the tightly wound portion 53 is pressed from both above and below with respect to the state where the pressing force shown in FIG. 8 is not applied. When the coil spring 250 is compressed, as shown in FIG. 9, the coil spring 250 is bent starting from a specific position P (a position where the coil spring 250 starts to bend) P of the large space portion 49, and the inner wall portion 43 b of the large space portion 49 is bent. It will bend until it touches.
これに対し、図6及び図7に示すこの実施の形態のコンタクトピン20では、図6に示す圧力が掛かっていない状態に対して、上方と下方の双方から同様に押圧してコイルバネ50を圧縮させると、図7に示すように、大空間部49の特定の位置Pに密着巻き部53を有しているため、曲がりが軽減されて大空間部49の内壁部43bに当接するまでは曲がらないようになっている。 On the other hand, in the contact pin 20 of this embodiment shown in FIGS. 6 and 7, the coil spring 50 is compressed by pressing similarly from both above and below against the state where the pressure shown in FIG. 6 is not applied. Then, as shown in FIG. 7, since the tightly wound portion 53 is provided at a specific position P of the large space portion 49, the bending is reduced until the bending is reduced and the inner wall portion 43 b of the large space portion 49 is contacted. There is no such thing.
このように、この実施の形態のコンタクトピン20によれば、第1プランジャ30のコイルバネ50が接触する箇所と第2プランジャ40のコイルバネ50が接触する箇所の間にコイルバネ50の径Sより大径Tの大空間部49を有しており、コイルバネ50のここに存在する箇所に密着巻き部53が形成されていることで、適切な位置に密着巻き部53が設けられてコイルバネの折れ曲がりを防止し、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続することができる。 Thus, according to the contact pin 20 of this embodiment, the diameter is larger than the diameter S of the coil spring 50 between the portion where the coil spring 50 of the first plunger 30 contacts and the portion where the coil spring 50 of the second plunger 40 contacts. It has a large space portion 49 of T, and the tightly wound portion 53 is formed at a location where the coil spring 50 exists, so that the tightly wound portion 53 is provided at an appropriate position to prevent the coil spring from being bent. In addition, the wiring board 1 and the IC package 2 can be electrically connected in a normal state.
また、この実施の形態のコンタクトピン20によれば、大空間部49におけるコイルバネ50が湾曲を開始する箇所Pに密着巻き部53が設けられていることで、より適切な位置に密着巻き部53が設けられてコイルバネ50の折れ曲がりを確実に防止し、配線基板1とICパッケージ2をより正常な状態で電気的に接続することができる。また、密着巻き部53を、コイルバネ50が湾曲を開始する箇所Pに設けておけば、コイルバネ50の折れ曲がりを防げるため、他の箇所に余分に密着巻き部53を設ける必要がなく、コイルバネ50の長さに対して有効巻き部54の割合を高めることができ、コイルバネ50の伸縮を効率良く行うことができる。 Further, according to the contact pin 20 of this embodiment, the tightly wound portion 53 is provided at a more appropriate position by providing the tightly wound portion 53 at the position P where the coil spring 50 in the large space 49 starts to bend. Is provided to reliably prevent the coil spring 50 from being bent, and the wiring board 1 and the IC package 2 can be electrically connected in a more normal state. In addition, if the tightly wound portion 53 is provided at the location P where the coil spring 50 starts to bend, the coil spring 50 can be prevented from being bent, so that it is not necessary to provide the tightly wound portion 53 at other locations. The ratio of the effective winding portion 54 to the length can be increased, and the coil spring 50 can be efficiently expanded and contracted.
また、この実施の形態のコンタクトピン20によれば、挿入部33を有する第1プランジャ30と、挿入部33が内部に挿入される大径筒部43を有する第2プランジャ40と、これらに挿入されるコイルバネ50とで構成されるコンタクトピン20において、適切な位置Pに密着巻き部53が設けられてコイルバネ50の折れ曲がりを防止し、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続することができる。 Further, according to the contact pin 20 of this embodiment, the first plunger 30 having the insertion portion 33, the second plunger 40 having the large-diameter cylindrical portion 43 into which the insertion portion 33 is inserted, and the insertion into these. In the contact pin 20 composed of the coil spring 50 that is formed, the tightly wound portion 53 is provided at an appropriate position P to prevent the coil spring 50 from being bent, and the wiring board 1 and the IC package 2 are electrically connected in a normal state. Can be connected.
また、この実施の形態のICソケット10によれば、前記したようなコンタクトピン20を有しているため、適切な位置Pに密着巻き部53が設けられてコイルバネ50の折れ曲がりを防止し、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続できるICソケット10とすることができる。
[発明の実施の形態2]
図11及び図12には、この発明の実施の形態2を示す。なお、この発明の実施の形態は、以下に説明する事項以外については前記した実施の形態1と同様であるので、前記した実施の形態1と異なる事項以外は同じ符号を付して説明を省略する。
In addition, according to the IC socket 10 of this embodiment, since the contact pin 20 as described above is provided, the tightly wound portion 53 is provided at an appropriate position P to prevent the coil spring 50 from being bent and wiring. The IC socket 10 can be electrically connected to the substrate 1 and the IC package 2 in a normal state.
[Embodiment 2 of the Invention]
11 and 12 show a second embodiment of the present invention. The embodiment of the present invention is the same as that of the above-described first embodiment except for the matters described below. Therefore, the same reference numerals are given to the matters other than the matters different from the above-described first embodiment, and the description is omitted. To do.
この実施の形態は、前記した実施の形態1におけるコンタクトピン20を、図11及び図12に示すような、構成の異なるコンタクトピン120に変更したものである。以下、この実施の形態におけるコンタクトピン120について説明する。 In this embodiment, the contact pin 20 in the first embodiment described above is changed to a contact pin 120 having a different configuration as shown in FIGS. Hereinafter, the contact pin 120 in this embodiment will be described.
この実施の形態のコンタクトピン120は、図11及び図12に示すように、長手方向の軸線Lに沿って、上端にICパッケージ2の半田ボール4と電気的に接触する略王冠形状の第1上端部131を有する「第1接触部」としての第1プランジャ130と、下端に配線基板1の電極と電気的に接触する突起形状の第2下端部141を有する「第2接触部」としての第2プランジャ140と、第1プランジャ130を一方向(上方向)から挿入すると共に第2プランジャ140を反対方向(下方向)から挿入する筒状部材160と、この第1プランジャ130と第2プランジャ140との間に連続し、第1プランジャ130と第2プランジャ140とを軸線Lに沿って互いに離間する方向に付勢するコイルバネ150とを有している。 As shown in FIGS. 11 and 12, the contact pin 120 of this embodiment has a substantially crown-shaped first contact that is in electrical contact with the solder ball 4 of the IC package 2 at the upper end along the axis L in the longitudinal direction. As a “second contact portion” having a first plunger 130 as a “first contact portion” having an upper end portion 131 and a projecting second lower end portion 141 in electrical contact with the electrode of the wiring board 1 at the lower end. The second plunger 140, the cylindrical member 160 for inserting the first plunger 130 from one direction (upward) and the second plunger 140 from the opposite direction (downward), the first plunger 130 and the second plunger 140 and a coil spring 150 that urges the first plunger 130 and the second plunger 140 along the axis L in a direction away from each other.
また、この実施の形態の第1プランジャ130は、第1上端部131と第1挿入部133の2つの部材で構成されている。このうち、第1上端部131は、ICパッケージ2の半田ボール4に当接する略王冠形状の当接部131aと鍔状の拡径部131bと第1挿入部133に挿入される挿通部131cとを有している。この挿通部131cは、その一部に径の小さい凹部131dを有している。 The first plunger 130 of this embodiment is composed of two members, a first upper end portion 131 and a first insertion portion 133. Among these, the first upper end portion 131 includes a substantially crown-shaped contact portion 131 a that contacts the solder ball 4 of the IC package 2, a bowl-shaped enlarged diameter portion 131 b, and an insertion portion 131 c that is inserted into the first insertion portion 133. have. The insertion portion 131c has a recess 131d having a small diameter at a part thereof.
また、第1挿入部133は、筒状の部材であり、コイルバネ150の一端部151側を挿入させると共に第1上端部131を挿入させるように形成されている。この第1挿入部133は、第1下端部132に第1挿入口133a、逆側の第1上端部131側に第2挿入口133bを有している。 The first insertion portion 133 is a cylindrical member, and is formed so that the one end 151 side of the coil spring 150 is inserted and the first upper end 131 is inserted. The first insertion portion 133 has a first insertion port 133a at the first lower end 132 and a second insertion port 133b at the first upper end 131 on the opposite side.
そして、第2挿入口133bに第1上端部131の挿通部131cが挿通されて、拡径部131bが第1挿入部133の第2挿入口133bの縁部133dに当接した状態で、当該凹部131dの位置で第1挿入部133をかしめて凹部133cとすることで、第1挿入部133に第1上端部131を固定するように構成されている。 Then, the insertion portion 131c of the first upper end portion 131 is inserted into the second insertion port 133b, and the expanded diameter portion 131b is in contact with the edge portion 133d of the second insertion port 133b of the first insertion portion 133. The first upper end 131 is fixed to the first insertion portion 133 by caulking the first insertion portion 133 at the position of the recess 131d to form the recess 133c.
また、第1挿入口133aからコイルバネ150の一端部151側を第1挿入部133の中空部133eに挿入させて保持するように構成されている。この中空部133eは、その内径がコイルバネ150の径と略同一に形成されており、コイルバネ150が摺動して挿入されるようになっている。 Further, one end 151 side of the coil spring 150 from the first insertion port 133 a is inserted into the hollow portion 133 e of the first insertion portion 133 and held. The hollow portion 133e has an inner diameter that is substantially the same as the diameter of the coil spring 150, and the coil spring 150 is slid and inserted.
また、第1下端部132側は第1挿入部133の他の箇所の外径より大きく形成されている。また、第1挿入部133の第1上端部131側の最奥部(第1上端部131の挿通部131cの下端部)は、略円錐形状のコイルバネ係止部134を有しており、この形状によりコイルバネ150が係止しやすい状態に構成されている。 Further, the first lower end 132 side is formed larger than the outer diameter of the other part of the first insertion part 133. Further, the innermost part of the first insertion part 133 on the first upper end part 131 side (the lower end part of the insertion part 131c of the first upper end part 131) has a substantially conical coil spring locking part 134. The coil spring 150 is configured to be easily locked depending on the shape.
また、第2プランジャ140には、コイルバネ150の他端部152側を挿入させる中空形状の第2挿入部143が形成されている。この第2挿入部143は、第2下端部141とは逆側の第2上端部142に挿入口143aを有しており、この挿入口143aからコイルバネ150の他端部152側を第2プランジャ140の内部に挿入させて保持するように構成されている。この第2挿入部143は、その内径がコイルバネ150の径と略同一に形成されており、コイルバネ150が摺動して挿入されるようになっている。 The second plunger 140 has a hollow second insertion portion 143 into which the other end 152 side of the coil spring 150 is inserted. The second insertion portion 143 has an insertion port 143a in the second upper end portion 142 opposite to the second lower end portion 141, and the other end 152 side of the coil spring 150 is connected to the second plunger from the insertion port 143a. It is configured to be inserted and held inside 140. The second insertion portion 143 has an inner diameter substantially the same as the diameter of the coil spring 150, and the coil spring 150 is slid and inserted.
また、第2上端部142側は第2挿入部143の他の箇所の外径より大きく形成されている。また、第2挿入部143の第2下端部141側の最奥部は、略円錐形状のコイルバネ係止部145を有しており、この形状によりコイルバネ150が係止しやすい状態に構成されている。 Further, the second upper end portion 142 side is formed larger than the outer diameter of the other portion of the second insertion portion 143. In addition, the innermost portion of the second insertion portion 143 on the second lower end portion 141 side has a substantially conical coil spring locking portion 145, and this shape is configured so that the coil spring 150 can be easily locked. Yes.
また、筒状部材160は、その内部に上端側挿入口163aと下端側挿入口163bを貫通する大径の「筒状部」としての大径筒部163が設けられている。この上端側挿入口163aからコイルバネ150及び第1プランジャ130の第1挿入部133を大径筒部163に挿入させ、下端側挿入口163bから第2プランジャ140の第2挿入部143を大径筒部163に挿入させて、コイルバネ150が第1挿入部133のコイルバネ係止部134と第2挿入部143のコイルバネ係止部145に係止された状態となることで、これらの部材が保持されるように構成されている。 The cylindrical member 160 is provided with a large-diameter cylindrical portion 163 as a large-diameter “cylindrical portion” that penetrates the upper-end-side insertion port 163a and the lower-end-side insertion port 163b. The coil spring 150 and the first insertion portion 133 of the first plunger 130 are inserted into the large diameter cylindrical portion 163 from the upper end side insertion port 163a, and the second insertion portion 143 of the second plunger 140 is inserted into the large diameter cylinder from the lower end side insertion port 163b. When the coil spring 150 is inserted into the portion 163 and is engaged with the coil spring engagement portion 134 of the first insertion portion 133 and the coil spring engagement portion 145 of the second insertion portion 143, these members are held. It is comprised so that.
また、上端側挿入口163aと下端側挿入口163bは、他の筒状部材160より小径となるように加工されており、第1プランジャ130の大径となっている第1下端部132が上端側挿入口163aで係止され、第2プランジャ140の大径となっている第2上端部142が下端側挿入口163bで係止されて、第1プランジャ30と第2プランジャ40が筒状部材160から外れないように構成されている。 Moreover, the upper end side insertion port 163a and the lower end side insertion port 163b are processed so as to have a smaller diameter than the other cylindrical members 160, and the first lower end portion 132 having a larger diameter of the first plunger 130 is the upper end. The second upper end portion 142 that is locked by the side insertion port 163a and has a large diameter of the second plunger 140 is locked by the lower end side insertion port 163b, and the first plunger 30 and the second plunger 40 are tubular members. It is configured not to deviate from 160.
この大径筒部163は第1挿入部133及び第2挿入部143が摺動して挿入できる大きさ及び形状に形成されている。そのため、コイルバネ150が挿入された状態で、大径筒部163の内径Wに対してコイルバネ50の外径Vが所定量小さい径となっている。 The large-diameter cylindrical portion 163 is formed in a size and shape that allows the first insertion portion 133 and the second insertion portion 143 to slide and be inserted. Therefore, with the coil spring 150 inserted, the outer diameter V of the coil spring 50 is smaller than the inner diameter W of the large diameter cylindrical portion 163 by a predetermined amount.
また、コイルバネ150は、図11に示すように、第1プランジャ130と第2プランジャ140とを軸線Lに沿って互いに離間する方向に付勢する付勢力を有する有効巻き部154と、当該付勢力を有しない2つの密着巻き部153とで構成されている。 Further, as shown in FIG. 11, the coil spring 150 includes an effective winding portion 154 having a biasing force that biases the first plunger 130 and the second plunger 140 in a direction away from each other along the axis L, and the biasing force. It is comprised with the two close_contact | adherence winding parts 153 which do not have.
また、コイルバネ150は、図11に示すように、第1プランジャ130と第2プランジャ140とを軸線Lに沿って互いに離間する方向に付勢するように、第1プランジャ130の第1挿入部133に一端部151側が挿入されると共に、第2プランジャ140の第2挿入部143に他端部152側が挿入されて保持されている。 Further, as shown in FIG. 11, the coil spring 150 urges the first plunger 130 and the second plunger 140 along the axis L in a direction away from each other, so that the first insertion portion 133 of the first plunger 130 is urged. The one end 151 side is inserted into the second plunger 140 and the other end 152 side is inserted and held in the second insertion portion 143 of the second plunger 140.
また、図11に示すように、コンタクトピン120に対して配線基板1からもICパッケージ2からも押圧力が掛かっていない状態において、第1プランジャ130のコイルバネ150が接触する箇所と第2プランジャ140のコイルバネ150が接触する箇所の間、すなわち第1プランジャ130の第1挿入部133の挿入口133aと第2プランジャ140の第2挿入部143の挿入口143aまでの間における大径筒部163の内壁部164で囲まれた空間に、大径筒部163の内壁部164とコイルバネ150の間に所定の空間を有する大空間部169が形成されるように構成されている。そして、この大空間部169に密着巻き部153の両方が位置するように形成されている。 In addition, as shown in FIG. 11, the position where the coil spring 150 of the first plunger 130 contacts with the second plunger 140 in a state where neither the wiring board 1 nor the IC package 2 is pressed against the contact pin 120. Of the large-diameter cylindrical portion 163 between the portions where the coil spring 150 contacts, that is, between the insertion port 133a of the first insertion portion 133 of the first plunger 130 and the insertion port 143a of the second insertion portion 143 of the second plunger 140. A large space portion 169 having a predetermined space is formed between the inner wall portion 164 of the large diameter cylindrical portion 163 and the coil spring 150 in the space surrounded by the inner wall portion 164. And it forms so that both the close_contact | adherence winding parts 153 may be located in this large space part 169. FIG.
特に、この実施の形態では、密着巻き部153が、コイルバネ150に当該密着巻き部153を有していないと仮定した場合に第1プランジャ130と第2プランジャ140がコイルバネ150の付勢力に抗して近づく方向に押圧されたときに、大空間部169内においてコイルバネ150が湾曲を開始する箇所Q,Rに設けられている。具体的には、付勢されていないコイルバネ150が第1挿入部133の第1挿入口133aと第2挿入部143の第2挿入口143aからそれぞれ突出した箇所から所定量離間した位置Q,Rに2巻きの密着巻き部153を有している。 In particular, in this embodiment, when it is assumed that the tightly wound portion 153 does not have the tightly wound portion 153 in the coil spring 150, the first plunger 130 and the second plunger 140 resist the biasing force of the coil spring 150. The coil spring 150 is provided at the locations Q and R where the coil spring 150 starts to bend in the large space 169 when pressed in the direction approaching. Specifically, the positions Q and R where the coil springs 150 that are not urged are spaced apart from the first protrusions 133 a of the first insertion part 133 and the second insertion openings 143 a of the second insertion part 143 by a predetermined amount. Have two tightly wound portions 153.
なお、この密着巻き部153は、図11に示すように2つ設けられていても良いし、付勢力を保持できる程度に1又は3つ以上設けられていても良い。また、大空間部169に位置する密着巻き部153の数も、図11に示すような2つに限らず、1又は3つ以上設けられていても良い。 Note that two close winding portions 153 may be provided as shown in FIG. 11, or one or three or more may be provided to the extent that the urging force can be maintained. Further, the number of tightly wound portions 153 located in the large space portion 169 is not limited to two as shown in FIG. 11, and one or three or more may be provided.
次に、このようなコイルバネ150が配設されたコンタクトピン120を備えたICソケット10の作用について説明する。なお、前記した実施の形態1と同様の記載は、説明を省略する。 Next, an operation of the IC socket 10 including the contact pin 120 provided with such a coil spring 150 will be described. Note that description of the same description as in the first embodiment is omitted.
このICソケット10を使用する際には、前記した実施の形態1で図1及び図2に示すのと同様に、複数のコンタクトピン120をそれぞれソケット本体11に装着し、図11に示すように、筒状部材160の上端側挿入口163aから第1プランジャ130の第1上端部131を上方に突出させると共に、筒状部材160の下端側挿入口163bから第2プランジャ140の第2下端部141を下方に突出させた状態で配置する。 When the IC socket 10 is used, a plurality of contact pins 120 are respectively attached to the socket body 11 as shown in FIGS. 1 and 2 in the first embodiment, and as shown in FIG. The first upper end portion 131 of the first plunger 130 protrudes upward from the upper end side insertion port 163a of the cylindrical member 160, and the second lower end portion 141 of the second plunger 140 extends from the lower end side insertion port 163b of the cylindrical member 160. Is arranged in a state of protruding downward.
そして、このようなコンタクトピン120を備えたICソケット10を配線基板1に位置決め固定し、第2プランジャ140の第2下端部141を配線基板1の電極に接触させると共に、ICパッケージ2を収容部12に収容して、半田ボール4を第1上端部131に接触させる。その状態で押圧治具(図示省略)等を下降させてICパッケージ2を下方に押圧する。 Then, the IC socket 10 provided with such contact pins 120 is positioned and fixed to the wiring board 1, the second lower end portion 141 of the second plunger 140 is brought into contact with the electrode of the wiring board 1, and the IC package 2 is accommodated in the housing portion. 12, the solder ball 4 is brought into contact with the first upper end 131. In this state, a pressing jig (not shown) is lowered to press the IC package 2 downward.
すると、第1プランジャ130の第1上端部131が半田ボール4により押圧され、第2プランジャ140の第2下端部141が配線基板1の端子により押圧され、図12に示すように、第1プランジャ130が下方に押し込まれると共に第2プランジャ140が上方に押し込まれる。 Then, the first upper end portion 131 of the first plunger 130 is pressed by the solder ball 4, and the second lower end portion 141 of the second plunger 140 is pressed by the terminal of the wiring board 1, and as shown in FIG. 130 is pushed downward and the second plunger 140 is pushed upward.
そして、このように第1プランジャ130及び第2プランジャ140によってコイルバネ150を圧縮することで、コイルバネ150の有効巻き部154が収縮し、当該コイルバネ150の有効巻き部154の付勢力で第1プランジャ130の第1上端部131と第2プランジャ140の第2下端部141とを互いに離間する方向に付勢する。これにより、配線基板1の電極とICパッケージ2の半田ボール4に適切な接圧を持ってコンタクトピン120を接触させて双方を電気的に接続させた状態で、ICパッケージ2のバーンイン試験等の導通試験を実施する。 Then, by compressing the coil spring 150 by the first plunger 130 and the second plunger 140 in this way, the effective winding portion 154 of the coil spring 150 contracts, and the first plunger 130 is urged by the urging force of the effective winding portion 154 of the coil spring 150. The first upper end portion 131 and the second lower end portion 141 of the second plunger 140 are urged away from each other. As a result, the contact pins 120 are brought into contact with the electrodes of the wiring board 1 and the solder balls 4 of the IC package 2 with appropriate contact pressure, and both are electrically connected. Conduct a continuity test.
このとき、コイルバネ150の密着巻き部153が、コイルバネ150に当該密着巻き部153を有していないと仮定した場合に第1プランジャ130と第2プランジャ140がコイルバネ150の付勢力に抗して近づく方向に押圧されたときに、大空間部169内においてコイルバネ150が湾曲を開始する箇所Q,Rに設けられている(具体的には、付勢されていないコイルバネ150が第1挿入部133の第1挿入口133aから突出した箇所から所定量離間した位置Qに2巻きの密着巻き部153を有し、付勢されていないコイルバネ150が第2挿入部143の第2挿入口143aから突出した箇所から所定量離間した位置Rにも2巻きの密着巻き部153を有している)。 At this time, when it is assumed that the tightly wound portion 153 of the coil spring 150 does not have the tightly wound portion 153 in the coil spring 150, the first plunger 130 and the second plunger 140 approach against the biasing force of the coil spring 150. When the coil spring 150 is pressed in the direction, it is provided at locations Q and R where the coil spring 150 starts to bend in the large space portion 169 (specifically, the coil spring 150 which is not biased is provided in the first insertion portion 133). The coil spring 150 that has two tightly wound winding portions 153 at a position Q spaced apart from a portion protruding from the first insertion port 133a by a predetermined amount and that is not biased protrudes from the second insertion port 143a of the second insertion portion 143. The position R separated by a predetermined amount from the location also has two tightly wound portions 153).
これにより、コイルバネ150が圧縮して折れ曲がろうとする力が働くところを密着巻き部153でコイルバネ150の動きを小さくすることができ、その結果、コイルバネ150の折れ曲がりを防止して、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続することができる。 As a result, the movement of the coil spring 150 can be reduced by the tightly wound portion 153 where the coil spring 150 compresses and acts to be bent. As a result, the coil spring 150 is prevented from bending and the wiring board 1 And the IC package 2 can be electrically connected in a normal state.
このように、この実施の形態のコンタクトピン120によれば、第1プランジャ130のコイルバネ150が接触する箇所と第2プランジャ140のコイルバネ150が接触する箇所の間にコイルバネ150の径Vより大径Wの大空間部169を有しており、コイルバネ150のここに存在する箇所に密着巻き部153が形成されていることで、適切な位置Q,Rに密着巻き部153が設けられてコイルバネ150の折れ曲がりを防止し、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続することができる。 Thus, according to the contact pin 120 of this embodiment, the diameter is larger than the diameter V of the coil spring 150 between the location where the coil spring 150 of the first plunger 130 contacts and the location where the coil spring 150 of the second plunger 140 contacts. By having the large space portion 169 of W and the tightly wound portion 153 formed at the location where the coil spring 150 is present, the tightly wound portion 153 is provided at appropriate positions Q and R, and the coil spring 150. Therefore, the wiring board 1 and the IC package 2 can be electrically connected in a normal state.
また、この実施の形態のコンタクトピン120によれば、大空間部163におけるコイルバネ150が湾曲を開始する箇所Q,Rに密着巻き部153が設けられていることで、より適切な位置に密着巻き部153が設けられてコイルバネ150の折れ曲がりを確実に防止し、配線基板1とICパッケージ2をより正常な状態で電気的に接続することができる。また、密着巻き部153を、コイルバネ150が湾曲を開始する箇所Q,Rに設けておけば、コイルバネ150の折れ曲がりを防げるため、他の箇所に余分に密着巻き部153を設ける必要がなく、コイルバネ150の長さに対して有効巻き部154の割合を高めることができ、コイルバネ150の伸縮を効率良く行うことができる。 Further, according to the contact pin 120 of this embodiment, the tightly wound portions 153 are provided at the locations Q and R where the coil spring 150 in the large space portion 163 starts to bend, so that the tightly wound portions are more appropriately positioned. The portion 153 is provided to reliably prevent the coil spring 150 from being bent, and the wiring board 1 and the IC package 2 can be electrically connected in a more normal state. Further, if the tightly wound portion 153 is provided at the locations Q and R where the coil spring 150 starts to bend, the coil spring 150 can be prevented from being bent, so that it is not necessary to additionally provide the tightly wound portion 153 at other locations. The ratio of the effective winding portion 154 to the length of 150 can be increased, and the coil spring 150 can be efficiently expanded and contracted.
また、この実施の形態のコンタクトピン120によれば、第1挿入部133を有する第1プランジャ130と、第2挿入部143を有する第2プランジャ140と、第1挿入部133と第2挿入部143とが挿入される大径筒部163と、これらに挿入されるコイルバネ150とで構成されるコンタクトピン120において、適切な位置Q,Rに密着巻き部153が設けられてコイルバネ150の折れ曲がりを防止し、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続することができる。 Further, according to the contact pin 120 of this embodiment, the first plunger 130 having the first insertion portion 133, the second plunger 140 having the second insertion portion 143, the first insertion portion 133, and the second insertion portion. In the contact pin 120 composed of the large-diameter cylindrical portion 163 into which the coil spring 143 is inserted and the coil spring 150 inserted into these, the tightly wound portions 153 are provided at appropriate positions Q and R so that the coil spring 150 is bent. Therefore, the wiring board 1 and the IC package 2 can be electrically connected in a normal state.
また、この実施の形態のICソケット10によれば、前記したようなコンタクトピン120を有しているため、適切な位置Q,Rに密着巻き部153が設けられてコイルバネ150の折れ曲がりを防止し、配線基板1とICパッケージ2を正常な状態で電気的に接続できるICソケット10とすることができる。 Further, according to the IC socket 10 of this embodiment, since the contact pin 120 as described above is provided, the tightly wound portions 153 are provided at appropriate positions Q and R to prevent the coil spring 150 from being bent. The IC socket 10 can be electrically connected to the wiring board 1 and the IC package 2 in a normal state.
なお、本発明の「電気接触子」は、前記した実施の形態1,2のような構造のコンタクトピンに限るものではなく、他の構造のものにも適用できる。また、前記した実施の形態1,2では、本発明の「電気部品用ソケット」をカバー等がなく上面が開放されたタイプのICソケットに適用したが、これに限るものではなく、カバー等を有するICソケットや、ICソケット以外の他の装置にも適用できる。 The “electric contactor” of the present invention is not limited to the contact pin having the structure as in the first and second embodiments, but can be applied to other structures. In the first and second embodiments described above, the “electrical component socket” of the present invention is applied to an IC socket having no cover or the like and having an open upper surface. However, the present invention is not limited to this. The present invention can also be applied to IC sockets having other devices than the IC socket.
1 配線基板(電気部品)
2 ICパッケージ(電気部品)
4 半田ボール(端子)
10 ICソケット(電気部品用ソケット)
11 ソケット本体
20,120 コンタクトピン(電気接触子)
30,130 第1プランジャ(第1接触部)
33 挿入部
40,140 第2プランジャ(第2接触部)
43,163 大径筒部(筒状部)
49,169 大空間部
50,150 コイルバネ
51,151 一端部
52,152 他端部
53,153 密着巻き部
54,154 有効巻き部
133 第1挿入部
143 第2挿入部
P,Q,R 湾曲を開始する箇所
1 Wiring board (electric parts)
2 IC package (electrical parts)
4 Solder balls (terminals)
10 IC socket (socket for electrical parts)
11 Socket body
20,120 Contact pin (Electric contact)
30,130 1st plunger (1st contact part)
33 Insertion section
40,140 2nd plunger (2nd contact part)
43,163 Large diameter cylindrical part (cylindrical part)
49,169 Large space
50,150 coil spring
51,151 One end
52,152 other end
53,153 Tightly wound part
54,154 Effective winding part
133 First insert
143 Second insert
P, Q, R where to start bending
Claims (5)
一方の電気部品に接触する第1接触部と、他方の電気部品に接触する第2接触部と、前記第1接触部及び前記第2接触部を離間する方向に付勢するコイルバネとを有し、
該コイルバネは、前記第1接触部及び前記第2接触部を離間する方向に付勢する付勢力を有する有効巻き部と、当該付勢力を有しない密着巻き部とで構成されており、
前記第1接触部の前記コイルバネが接触する箇所と前記第2接触部の前記コイルバネが接触する箇所の間には、前記コイルバネの径より大径の大空間部を有しており、
前記コイルバネの前記大空間部に存在する箇所に前記密着巻き部を有することを特徴とする電気接触子。 In an electrical contact disposed between two electrical components and electrically connecting the two electrical components,
A first contact portion that contacts one of the electrical components; a second contact portion that contacts the other electrical component; and a coil spring that biases the first contact portion and the second contact portion in a direction away from each other. ,
The coil spring is composed of an effective winding portion having a biasing force that biases the first contact portion and the second contact portion in a direction away from each other, and a tightly wound portion that does not have the biasing force.
Between the location where the coil spring of the first contact portion contacts and the location where the coil spring of the second contact portion contacts, there is a large space portion having a diameter larger than the diameter of the coil spring,
An electrical contact having the tightly wound portion at a location in the large space of the coil spring.
前記第2接触部は、前記挿入部と該挿入部の内部に挿入された前記コイルバネが内部に挿入される筒状部を有しており、
該筒状部における前記挿入部から前記コイルバネが突出する箇所と前記第2接触部の前記コイルバネが接触する箇所の間には、前記コイルバネの径より大径の大空間部を有しており、
前記第1接触部と前記第2接触部とが伸縮されるように構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気接触子。 The first contact portion has an insertion portion that is substantially the same diameter as the coil spring and into which the coil spring is inserted.
The second contact portion has a cylindrical portion into which the insertion portion and the coil spring inserted into the insertion portion are inserted,
Between the portion where the coil spring protrudes from the insertion portion in the tubular portion and the portion where the coil spring contacts the second contact portion, a large space portion having a diameter larger than the diameter of the coil spring is provided.
The electric contact according to claim 1, wherein the first contact portion and the second contact portion are configured to be expanded and contracted.
前記第2接触部は、前記コイルバネと略同径で該コイルバネが内部に挿入される第2挿入部を有しており、
筒状を呈し、一方の端部から前記第1挿入部が内部に挿入され、他方の端部から前記第2挿入部が内部に挿入される筒状部を有しており、
前記コイルバネは、前記筒状部内で一端部が前記第1挿入部に挿入されると共に他端部が前記第2挿入部に挿入されており、
前記筒状部における前記第1挿入部及び前記第2挿入部の双方から前記コイルバネが突出している箇所には、前記コイルバネの径より大径の大空間部を有しており、
前記第1接触部と前記第2接触部とが伸縮されるように構成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載の電気接触子。 The first contact portion has a first insertion portion having substantially the same diameter as the coil spring and into which the coil spring is inserted.
The second contact portion has a second insertion portion that is substantially the same diameter as the coil spring and into which the coil spring is inserted.
Presenting a cylindrical shape, the first insertion portion is inserted into the inside from one end, and the second insertion portion is inserted into the inside from the other end,
The coil spring has one end inserted into the first insertion portion and the other end inserted into the second insertion portion within the cylindrical portion,
The cylindrical portion has a large space portion having a diameter larger than the diameter of the coil spring at a location where the coil spring protrudes from both the first insertion portion and the second insertion portion.
The electric contact according to claim 1, wherein the first contact portion and the second contact portion are configured to be expanded and contracted.
該ソケット本体に配設されて前記一の電気部品と前記他の電気部品とに設けられた端子同士に接触する請求項1乃至4の何れか1つに記載の電気接触子とを有することを特徴とする電気部品用ソケット。 A socket body that is disposed on one electrical component and has a housing portion that houses another electrical component;
The electrical contact according to any one of claims 1 to 4, wherein the electrical contact is disposed on the socket body and contacts terminals provided on the one electrical component and the other electrical component. A socket for electrical components.
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