JP2018170260A - Manufacturing method of insulated wire - Google Patents

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槙弥 太田
Shinya Ota
槙弥 太田
田村 康
Yasushi Tamura
康 田村
吉田 健吾
Kengo Yoshida
健吾 吉田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an insulated wire including an insulation film having a hole, the method capable of appropriately detecting a defect that potentially affects insulation properties thereof, thereby allowing a manufacture of the insulated wire with stable quality.SOLUTION: A manufacturing method of an insulated wire 1 includes: a step of preparing a conductor 10 having a linear shape; a step of obtaining an insulated wire 1 having the conductor 10 and an insulation film 20 covering the conductor 10; and a step of detecting a first capacitance between the insulated wire 1 and a first electrode 40 arranged outside in a diameter direction of the insulated wire 20 and facing an outer peripheral surface of the insulated wire 20, so as to inspect a formation state of the insulation film 20 according to a relation between porosity of the insulation film 20 and the first capacitance. The first electrode 40 includes a plurality of units 40a, 40b, 40c and 40d having a divided shape to be alienated with one another in a circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to a longer direction of the conductor 10, and extending along the longer direction of the conductor 10.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、絶縁電線の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing an insulated wire.

絶縁電線として、導体と、その導体の外周側に形成された絶縁皮膜とを備えた絶縁電線が知られている。このような絶縁電線においては部分放電の発生を抑制することが求められる。部分放電とは、絶縁材料中に欠陥箇所があると、その箇所に電界が集中し、微弱な放電が生じる現象である。このような部分放電が繰り返し生じると、絶縁性が低下して最終的に絶縁不良となる。そのため、絶縁電線には優れた絶縁性や高い機械的特性を有することに加え、部分放電の発生を抑制することが求められる。部分放電の発生を抑制するには、誘電率の低い絶縁皮膜を有する絶縁電線を準備するのが効果的である。誘電率の低い絶縁皮膜を有する絶縁電線として、空孔を有する絶縁皮膜を導体上に備えた絶縁電線が提案されている(例えば特許文献1、特許文献2参照)。   As an insulated wire, an insulated wire including a conductor and an insulating film formed on the outer peripheral side of the conductor is known. Such an insulated wire is required to suppress the occurrence of partial discharge. The partial discharge is a phenomenon in which if there is a defective portion in the insulating material, the electric field concentrates on the portion and a weak discharge is generated. When such partial discharge is repeatedly generated, the insulation is lowered and finally insulation failure occurs. Therefore, in addition to having excellent insulation properties and high mechanical properties, insulated wires are required to suppress the occurrence of partial discharge. In order to suppress the occurrence of partial discharge, it is effective to prepare an insulated wire having an insulating film with a low dielectric constant. As an insulated wire having an insulating film with a low dielectric constant, an insulated wire having an insulating film having pores on a conductor has been proposed (see, for example, Patent Document 1 and Patent Document 2).

特開2016−81563号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2006-81563 特開2016−110847号公報JP 2016-110847 A

実際に製造される絶縁電線においては、空孔を有する絶縁皮膜の一部に欠陥が生じる場合がある。このような欠陥は絶縁不良の原因となる場合がある。欠陥の中でも、特に低気孔率部と呼ばれる空孔がない又は空孔が極めて少ない領域は、外観からその存在を検出することが難しい。低気孔率部、特に空孔が存在しない無空孔部は部分放電の発生の原因となり得る。また導体の膨れにより、絶縁皮膜が局所的に肉薄になる部分(肉薄部)が生じる欠陥についても、外観からその存在を検出することが難しい。絶縁皮膜に肉薄部が存在すると、その部分において絶縁性が低下する。安定した品質の絶縁電線を製造するためには、低気孔率部及び肉薄部の存在を適切に検出し、絶縁皮膜の品質を管理することが好ましい。   In an insulated wire actually manufactured, a defect may occur in a part of the insulating film having pores. Such a defect may cause insulation failure. Among defects, it is difficult to detect the presence of a region called “low porosity portion”, which has no pores or has very few pores, from the appearance. A low porosity portion, particularly a non-porous portion where no void exists, may cause partial discharge. In addition, it is difficult to detect the presence of a defect in which a portion (thin portion) in which the insulating film becomes locally thin due to the swelling of the conductor from the appearance. If a thin portion exists in the insulating film, the insulating property decreases at that portion. In order to manufacture an insulated wire with stable quality, it is preferable to appropriately detect the presence of a low porosity portion and a thin portion and manage the quality of the insulating film.

そこで、空孔を有する絶縁皮膜を備える絶縁電線の、絶縁特性に影響を与え得る欠陥、特に低気孔率部や肉薄部を適切に検出することができ、それにより安定した品質の絶縁電線を製造することを可能とする絶縁電線の製造方法を提供することを目的の1つとする。   Therefore, it is possible to appropriately detect defects that can affect the insulation characteristics of insulated wires with an insulation film having pores, especially low porosity portions and thin portions, thereby producing stable quality insulated wires. An object of the present invention is to provide a method of manufacturing an insulated wire that can be performed.

本願の絶縁電線の製造方法は、線状の形状を有する導体を準備する工程と、導体の外周側の面を覆うように、絶縁体からなり、内部に空孔を含む絶縁皮膜を形成することにより、導体と、導体を被覆する絶縁皮膜とを有する絶縁電線を得る工程と、絶縁電線の外周面に対向するように絶縁電線の径方向外側に配置される第1の電極と、絶縁電線との間の第1の静電容量を検出し、第1の静電容量と絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜の形成状態を検査する工程と、を含む。第1の電極は、導体の長手方向に垂直な断面において導体の周方向に互いに離間するように分割された形状を有し、導体の長手方向に沿って延在する複数のユニットを含む。   The method for manufacturing an insulated wire of the present application includes a step of preparing a conductor having a linear shape, and an insulating film made of an insulator and including a void inside so as to cover the outer peripheral surface of the conductor. The process of obtaining the insulated wire which has a conductor and the insulating film which coat | covers a conductor, the 1st electrode arrange | positioned on the radial direction outer side of an insulated wire so as to oppose the outer peripheral surface of an insulated wire, and an insulated wire, Detecting a first electrostatic capacity between the first and second electrodes, and inspecting a formation state of the insulating film based on a relationship between the first electrostatic capacity and a porosity of the insulating film. The first electrode has a shape divided so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor, and includes a plurality of units extending along the longitudinal direction of the conductor.

上記絶縁電線の製造方法によれば、空孔を有する絶縁皮膜を備える絶縁電線の、絶縁性に影響を与え得る欠陥、特に低気孔率部及び肉薄部を適切に検出することができ、それにより安定した品質の絶縁電線を製造することが可能となる。   According to the above-described method for manufacturing an insulated wire, it is possible to appropriately detect defects, particularly low porosity portions and thin portions, which can affect the insulation properties of an insulated wire having an insulation film having pores, thereby It becomes possible to manufacture insulated wires with stable quality.

絶縁電線の一例を示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows an example of an insulated wire. 絶縁電線の製造工程を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the manufacturing process of an insulated wire. 絶縁電線の製造方法の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the manufacturing method of an insulated wire. 実施の形態1における検査電極の構造の一例を示す概略平面図である。4 is a schematic plan view showing an example of a structure of a test electrode in Embodiment 1. FIG. 図4の線分V−Vに沿う断面を矢印の向きに見た状態に対応する概略断面図である。It is a schematic sectional drawing corresponding to the state which looked at the cross section in alignment with the line segment VV of FIG. 4 in the direction of the arrow. 絶縁皮膜内の低気孔率部の状態を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the state of the low-porosity part in an insulating film. 絶縁皮膜の肉薄部の状態を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the state of the thin part of an insulating film. 絶縁皮膜表面の傷欠陥の状態を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the state of the flaw defect on the surface of an insulating film. 絶縁皮膜の穴欠陥の状態を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the state of the hole defect of an insulating film. 実施の形態2における検査電極の構造の一例を示す概略平面図である。5 is a schematic plan view showing an example of a structure of a test electrode in Embodiment 2. FIG. 実施の形態3における検査電極の構造の一例を示す概略平面図である。10 is a schematic plan view showing an example of a structure of a test electrode in Embodiment 3. FIG. 実施の形態4における検査電極の構造の一例を示す概略平面図である。6 is a schematic plan view showing an example of a structure of a test electrode in Embodiment 4. FIG.

[本願発明の実施形態の説明]
最初に本願発明の実施態様を列記して説明する。本願の絶縁電線の製造方法は、線状の形状を有する導体を準備する工程と、導体の外周側の面を覆うように、絶縁体からなり、内部に空孔を含む絶縁皮膜を形成することにより、導体と、導体を被覆する絶縁皮膜とを有する絶縁電線を得る工程と、絶縁電線の外周面に対向するように絶縁電線の径方向外側に配置される第1の電極と、絶縁電線との間の第1の静電容量を検出し、第1の静電容量と絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜の形成状態を検査する工程と、を含む。第1の電極は、導体の長手方向に垂直な断面において導体の周方向に互いに離間するように分割された形状を有し、導体の長手方向に沿って延在する複数のユニットを含む。
[Description of Embodiment of Present Invention]
First, embodiments of the present invention will be listed and described. The method for manufacturing an insulated wire of the present application includes a step of preparing a conductor having a linear shape, and an insulating film made of an insulator and including a void inside so as to cover the outer peripheral surface of the conductor. The process of obtaining the insulated wire which has a conductor and the insulating film which coat | covers a conductor, the 1st electrode arrange | positioned on the radial direction outer side of an insulated wire so as to oppose the outer peripheral surface of an insulated wire, and an insulated wire, Detecting a first electrostatic capacity between the first and second electrodes, and inspecting a formation state of the insulating film based on a relationship between the first electrostatic capacity and a porosity of the insulating film. The first electrode has a shape divided so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor, and includes a plurality of units extending along the longitudinal direction of the conductor.

空気の誘電率は約1.0である。これに対し、絶縁皮膜を構成する材料は空気とは異なった誘電率を有する。したがって、絶縁皮膜内に空孔が存在すると、絶縁皮膜全体としての誘電率は絶縁皮膜内の空孔の存在割合(気孔率)に応じて変化する。本発明者らによる検討の結果、電極と絶縁電線との間の静電容量(キャパシタンス)と絶縁皮膜の気孔率との間には相関関係があることが確認された。   The dielectric constant of air is about 1.0. In contrast, the material constituting the insulating film has a dielectric constant different from that of air. Accordingly, when there are holes in the insulating film, the dielectric constant of the insulating film as a whole changes according to the existence ratio (porosity) of the holes in the insulating film. As a result of studies by the present inventors, it has been confirmed that there is a correlation between the capacitance between the electrode and the insulated wire and the porosity of the insulating film.

本願の絶縁電線の製造方法によれば、上述の相関関係を利用することにより、絶縁皮膜の形成状態を検査する工程において、上記第1の静電容量が検出され、第1の静電容量と絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜の形成状態が検査される。例えば絶縁皮膜に低気孔率部や肉薄部、傷、穴などの欠陥が存在すると電極と絶縁皮膜との間の静電容量が定常時と比べて変化する。そのため、欠陥が存在した場合にその存在を検知することができる。   According to the method for manufacturing an insulated wire of the present application, the first capacitance is detected in the step of inspecting the formation state of the insulating film by using the correlation described above, and the first capacitance and The formation state of the insulating film is inspected based on the relationship with the porosity of the insulating film. For example, if a defect such as a low-porosity part, a thin part, a scratch, or a hole is present in the insulating film, the capacitance between the electrode and the insulating film changes compared to that in a steady state. Therefore, the presence of a defect can be detected.

さらに上記絶縁電線の製造方法において、第1の電極は、導体の長手方向に垂直な断面において導体の周方向に互いに離間するように分割された形状を有し導体の長手方向に沿って延在する複数のユニットを含む。第1の電極がこのような形状を有することで、絶縁電線の周方向における欠陥の存在位置についても細かく特定することが可能となる。   Furthermore, in the method for manufacturing an insulated wire, the first electrode has a shape divided so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor, and extends along the longitudinal direction of the conductor. Including multiple units. When the first electrode has such a shape, it is possible to finely specify the existence position of the defect in the circumferential direction of the insulated wire.

また傷や穴などの、絶縁皮膜の外観から特定可能な欠陥は画像分析などによる一般的な欠陥検査方法でも検出することができるが、低気孔率部や肉薄部については外観のみからは検出することが難しい。これに対し、本願の絶縁電線の製造方法によれば、上述の電極を用いて第1の静電容量と絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜の形成状態を検査することにより、傷や穴だけでなく、このような低気孔率部や肉薄部の存在を検出することができる。その結果、本願の絶縁電線の製造方法によれば、欠陥を的確に検出することができ、安定した品質の絶縁電線を製造することが可能となる。   In addition, defects that can be identified from the appearance of the insulation film, such as scratches and holes, can be detected by general defect inspection methods such as image analysis, but low-porosity parts and thin parts are detected only from the appearance. It is difficult. On the other hand, according to the manufacturing method of the insulated wire of the present application, by inspecting the formation state of the insulating film based on the relationship between the first capacitance and the porosity of the insulating film using the above-described electrode, In addition to scratches and holes, the presence of such a low porosity portion or thin portion can be detected. As a result, according to the method for manufacturing an insulated wire of the present application, it is possible to accurately detect a defect and to manufacture an insulated wire having a stable quality.

上記絶縁皮膜は、ポリイミドを含んでもよい。ポリイミドを含む絶縁皮膜は、絶縁性および耐熱性に優れる。そのため、ポリイミドは絶縁皮膜を構成する材料として好適である。   The insulating film may include polyimide. An insulating film containing polyimide is excellent in insulation and heat resistance. Therefore, polyimide is suitable as a material constituting the insulating film.

絶縁皮膜の形成状態を検査する工程は、オンラインで行われるのが好ましい。絶縁皮膜の形成状態を検査する工程をオンラインで検査を行うことにより、連続して絶縁電線の製造を行うことができ、高い生産効率で絶縁電線を得ることができる。なおオンラインで検査を行う状態とは、一連の製造工程内において、絶縁電線を得る工程に引き続き連続して絶縁皮膜の形成状態を検査する状態を意味する。   The step of inspecting the formation state of the insulating film is preferably performed online. By performing an on-line inspection of the step of inspecting the formation state of the insulating film, the insulated wire can be continuously manufactured, and the insulated wire can be obtained with high production efficiency. The state in which the inspection is performed online means a state in which the formation state of the insulating film is inspected continuously after the step of obtaining the insulated wire in a series of manufacturing processes.

上記絶縁電線の製造方法は、絶縁電線の外周面に対向するように絶縁電線の径方向外側に配置された第2の電極と、絶縁電線との間の第2の静電容量を検出し、第1の静電容量および第2の静電容量と、絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜の形成状態を検査する工程をさらに含んでもよい。第1の電極および第2の電極を含む複数の電極を用いて検査を行うことにより、欠陥の誤検出を低減し、より精度良く欠陥を検出することができる。   The method for manufacturing the insulated wire detects a second capacitance between the second electrode disposed on the radially outer side of the insulated wire and the insulated wire so as to face the outer peripheral surface of the insulated wire, You may further include the process of test | inspecting the formation state of an insulating film based on the relationship between a 1st electrostatic capacitance and a 2nd electrostatic capacitance, and the porosity of an insulating film. By performing inspection using a plurality of electrodes including the first electrode and the second electrode, it is possible to reduce erroneous detection of defects and detect defects with higher accuracy.

上記絶縁電線の製造方法において、第2の電極の、導体の長手方向に沿った長さが第1の電極とは異なっていてもよい。このようにすることで、第1の電極と絶縁電線との間の第1の静電容量と、第2の電極と絶縁電線との間の第2の静電容量とを求め、それらに基づく検査結果を比較することにより(両者の差分をとることにより)、より精度の高い欠陥の検出が可能となる。   In the method for manufacturing an insulated wire, the length of the second electrode along the longitudinal direction of the conductor may be different from that of the first electrode. By doing in this way, the 1st electrostatic capacity between the 1st electrode and an insulated wire and the 2nd electrostatic capacity between the 2nd electrode and an insulated wire are calculated, and based on them By comparing the inspection results (by taking the difference between the two), it becomes possible to detect a defect with higher accuracy.

上記絶縁電線の製造方法において、第2の電極は、導体の長手方向に垂直な断面において導体の周方向に互いに離間するように分割された形状を有し導体の長手方向に沿って延在する複数のユニットを含んでもよい。第2の電極がこのような形状を有することで、絶縁電線の周方向における欠陥の存在位置についてより細かく特定することが可能となる。   In the method for manufacturing an insulated wire, the second electrode has a shape divided so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor, and extends along the longitudinal direction of the conductor. Multiple units may be included. When the second electrode has such a shape, it is possible to more precisely specify the position of the defect in the circumferential direction of the insulated wire.

[本願発明の実施形態の詳細]
次に、本願の絶縁電線の製造方法の実施の形態を、図面を参照しつつ説明する。以下の図面において同一または相当する部分には同一の参照番号を付しその説明は繰返さない。
[Details of the embodiment of the present invention]
Next, an embodiment of a method for manufacturing an insulated wire of the present application will be described with reference to the drawings. In the following drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and description thereof will not be repeated.

(実施の形態1)
[絶縁電線の構造]
まず、図1〜図9を参照して実施の形態1を説明する。図1に本願の絶縁電線の製造方法において製造される絶縁電線1の一例の断面模式図を示す。図1を参照して、線状の形状を有する導体10の長手方向に垂直な断面において円形の断面形状を有する絶縁電線1は、円形の断面形状を有する線状の導体10と、この導体10の外周側の面を覆うように導体10を被覆する絶縁皮膜20とを備える。絶縁皮膜20は、有機材料を含む絶縁体からなる。また絶縁皮膜20は内部に空孔15を含む。具体的には、絶縁皮膜20は、その内部に複数(多数)の空孔15が分散された状態で形成される。
(Embodiment 1)
[Insulated wire structure]
First, Embodiment 1 will be described with reference to FIGS. The cross-sectional schematic diagram of an example of the insulated wire 1 manufactured in the manufacturing method of the insulated wire of this application is shown in FIG. Referring to FIG. 1, an insulated wire 1 having a circular cross-sectional shape in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of a conductor 10 having a linear shape includes a linear conductor 10 having a circular cross-sectional shape, and the conductor 10. And an insulating film 20 covering the conductor 10 so as to cover the outer peripheral surface. The insulating film 20 is made of an insulator containing an organic material. Further, the insulating film 20 includes pores 15 inside. Specifically, the insulating film 20 is formed in a state where a plurality (large number) of holes 15 are dispersed therein.

絶縁体に含まれる上記有機材料としては特に限定されないが、例えば熱硬化性樹脂であればポリイミド(PI)やポリアミドイミド、熱可塑性樹脂であればポリエーテルサルフォン(PES)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)などが挙げられる。なかでも絶縁性および耐熱性に優れることから、絶縁皮膜20を構成する絶縁体はポリイミドを含むのが好ましく、絶縁皮膜20を構成する絶縁体の50質量%以上がポリイミドであるのがより好ましく、ポリイミドと不可避的不純物とからなるのが特に好ましい。例えば、本実施の形態における絶縁皮膜20はポリイミドおよび不可避的不純物からなるポリイミド皮膜である。図1を参照して、本実施の形態における絶縁皮膜20はその内部に空孔15を含む。絶縁皮膜20の全体積に占める空孔15の総体積の割合(気孔率)は、たとえば5体積%以上80体積%以下であり、好ましくは10体積%以上70体積%以下、より好ましくは25体積%以上65体積%以下である。ポリイミドなどの絶縁皮膜20を構成する材料と空気とでは誘電率が異なることから、絶縁皮膜20が空孔15を有することにより絶縁皮膜20全体としての誘電率が変化する。例えばポリイミドは、空気よりも誘電率(比誘電率)が高い。したがって、絶縁皮膜20がポリイミドからなる場合、絶縁皮膜20が空孔15を有することで、空孔15を有しない絶縁皮膜20に比べて誘電率の低い絶縁皮膜20を得ることができる。   Although it does not specifically limit as said organic material contained in an insulator, For example, if it is a thermosetting resin, polyimide (PI) and polyamideimide, if it is a thermoplastic resin, polyethersulfone (PES), polyetheretherketone ( PEEK). Especially, since it is excellent in insulation and heat resistance, it is preferable that the insulator which comprises the insulating film 20 contains a polyimide, and it is more preferable that 50 mass% or more of the insulator which comprises the insulating film 20 is a polyimide, It is particularly preferable that it consists of polyimide and inevitable impurities. For example, the insulating film 20 in the present embodiment is a polyimide film made of polyimide and unavoidable impurities. Referring to FIG. 1, insulating film 20 in the present embodiment includes voids 15 therein. The ratio of the total volume of the pores 15 (porosity) to the total volume of the insulating film 20 is, for example, 5% by volume to 80% by volume, preferably 10% by volume to 70% by volume, more preferably 25% by volume. % To 65% by volume. Since the dielectric constant is different between air and the material constituting the insulating film 20 such as polyimide, the dielectric constant of the insulating film 20 as a whole changes when the insulating film 20 has the holes 15. For example, polyimide has a higher dielectric constant (relative dielectric constant) than air. Therefore, when the insulating film 20 is made of polyimide, the insulating film 20 having the holes 15 makes it possible to obtain the insulating film 20 having a lower dielectric constant than the insulating film 20 having no holes 15.

絶縁電線1は、図1に示すように絶縁皮膜20内に分散された状態で空孔15を有していてもよい。また図示していないが、絶縁皮膜20が、中実層と、空孔15を有する多孔質層とが互いに積層された多層構造を有していてもよい。この場合、中実層の厚みと多孔質層の厚みとは、必要な特性に応じて任意に設定できる。   As shown in FIG. 1, the insulated wire 1 may have holes 15 in a state of being dispersed in the insulating film 20. Although not shown, the insulating film 20 may have a multilayer structure in which a solid layer and a porous layer having pores 15 are stacked on each other. In this case, the thickness of the solid layer and the thickness of the porous layer can be arbitrarily set according to necessary characteristics.

次に、本実施の形態に係る絶縁電線1の製造方法の流れを、図2〜図5を参照して説明する。図2は、絶縁電線1の製造工程を説明するためのブロック図である。図3は、絶縁電線1の製造方法の手順を示すフローチャートである。図4は、実施の形態1における検査電極の構造の一例を示す概略平面図である。図5は、図4の線分V−Vに沿う断面を矢印の向きに見た状態に対応する概略断面図である。   Next, the flow of the method for manufacturing the insulated wire 1 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a block diagram for explaining a manufacturing process of the insulated wire 1. FIG. 3 is a flowchart showing the procedure of the method for manufacturing the insulated wire 1. FIG. 4 is a schematic plan view showing an example of the structure of the inspection electrode in the first embodiment. FIG. 5 is a schematic cross-sectional view corresponding to a state in which a cross section taken along line VV in FIG. 4 is viewed in the direction of the arrow.

[製造装置の構成]
図2を参照して、絶縁電線1の製造装置30は、導線準備部50と、絶縁皮膜形成部54と、検査部53と、巻取り部56とを備える。導線準備部50は、素線供給部51と導体加工部52とを含む。素線供給部51は、導体10の原料となる素銅線などの金属素線を保持し、その金属素線を導体加工部52に供給する。導体加工部52は、素線供給部51の下流側に配置され、素線供給部51から供給された金属素線を所望の形状およびサイズに加工する。導体加工部52は、例えば引き抜き加工(伸線加工)に使用されるダイスなどの金属加工用金型を備える。
[Configuration of manufacturing equipment]
With reference to FIG. 2, the manufacturing apparatus 30 for the insulated wire 1 includes a conducting wire preparation unit 50, an insulating film forming unit 54, an inspection unit 53, and a winding unit 56. The conducting wire preparation unit 50 includes a strand supply unit 51 and a conductor processing unit 52. The strand supply unit 51 holds a metal strand such as a strand of copper that is a raw material of the conductor 10 and supplies the metal strand to the conductor processing unit 52. The conductor processing unit 52 is disposed downstream of the strand supply unit 51 and processes the metal strand supplied from the strand supply unit 51 into a desired shape and size. The conductor processing portion 52 includes a metal processing mold such as a die used for drawing (drawing), for example.

絶縁皮膜形成部54は、導体加工部52の下流側に配置される。絶縁皮膜形成部54は、例えば絶縁皮膜20の原料となるワニスを導体10に塗工する塗工装置と、塗工されたワニスを加熱し、ポリイミド皮膜を形成する焼付炉とを備える。   The insulating film forming portion 54 is disposed on the downstream side of the conductor processing portion 52. The insulating film forming unit 54 includes, for example, a coating apparatus that coats the conductor 10 with a varnish that is a raw material of the insulating film 20, and a baking furnace that heats the coated varnish to form a polyimide film.

検査部53は、絶縁皮膜形成部54の下流側に配置される。検査部53は、第1の電極としての第1主電極40と、絶縁電線1との間の第1の静電容量を検出し、その第1の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態を検査する。さらに、第2の電極としての第2主電極41と、絶縁電線1との間の第2の静電容量を検出し、第1の静電容量および第2の静電容量と、絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態を検査してもよい。検査部53は、キャパシタンスセンサ2と、キャパシタンスモニタ58とを備える。キャパシタンスセンサ2は、検査電極55と、筐体44と、検査電極55内の各電極に接続された配線とを備える。キャパシタンスセンサ2内を絶縁電線1が通過することにより、第1主電極40または第2主電極41と、絶縁電線1との間の第1の静電容量および第2の静電容量が検出される。   The inspection unit 53 is disposed on the downstream side of the insulating film forming unit 54. The inspection unit 53 detects the first capacitance between the first main electrode 40 as the first electrode and the insulated wire 1, and the first capacitance and the porosity of the insulating film 20 are detected. Based on the relationship, the formation state of the insulating film 20 is inspected. Further, a second capacitance between the second main electrode 41 as the second electrode and the insulated wire 1 is detected, and the first capacitance and the second capacitance, and the insulating film 20 are detected. The formation state of the insulating film 20 may be inspected based on the relationship with the porosity. The inspection unit 53 includes a capacitance sensor 2 and a capacitance monitor 58. The capacitance sensor 2 includes a test electrode 55, a housing 44, and wiring connected to each electrode in the test electrode 55. When the insulated wire 1 passes through the capacitance sensor 2, the first capacitance and the second capacitance between the first main electrode 40 or the second main electrode 41 and the insulated wire 1 are detected. The

図2、図4および図5を参照して、キャパシタンスセンサ2の構造について説明する。キャパシタンスセンサ2は、検査電極55と、筐体44とを備える。本実施の形態1に係るキャパシタンスセンサ2の検査電極55は、上記第1の電極としての第1主電極40と、上記第2の電極としての第2主電極41と、第1ガード電極42aと、第2ガード電極42bと、第3ガード電極42cとを含む。筐体44は、第1主電極40と、第2主電極41と、第1ガード電極42aと、第2ガード電極42bと、第3ガード電極42cと、各電極に接続された配線とを収容できる形状を有する。   The structure of the capacitance sensor 2 will be described with reference to FIGS. 2, 4 and 5. The capacitance sensor 2 includes a test electrode 55 and a housing 44. The inspection electrode 55 of the capacitance sensor 2 according to the first embodiment includes a first main electrode 40 as the first electrode, a second main electrode 41 as the second electrode, and a first guard electrode 42a. , Second guard electrode 42b and third guard electrode 42c. The housing 44 accommodates the first main electrode 40, the second main electrode 41, the first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, the third guard electrode 42c, and the wiring connected to each electrode. It has a shape that can be made.

図5を参照して、検査電極55の構造についてさらに説明する。第1主電極40は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット40a,40b,40c,40dから構成されている。第2主電極41も、同様の断面形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット41a,41b,41c,41d(電極ユニット41dは、電極ユニット40dと同様に、絶縁電線1を挟んで電極ユニット41bの対面側に位置し、図示は省略)から構成される。また第1主電極40および第2主電極41の各電極ユニットは、図2に示すように、それぞれ配線を介してキャパシタンスモニタ58と接続されている。説明の便宜のため、図4においては、各電極に接続された配線については図示を省略する。   The structure of the inspection electrode 55 will be further described with reference to FIG. The first main electrode 40 has an arc shape that is divided into four parts so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10, and extends along the longitudinal direction of the conductor 10. It consists of four electrode units 40a, 40b, 40c, 40d. The second main electrode 41 also has a similar cross-sectional shape and extends along the longitudinal direction of the conductor 10 to four electrode units 41a, 41b, 41c, 41d (the electrode unit 41d is similar to the electrode unit 40d, It is located on the opposite side of the electrode unit 41b across the insulated wire 1 and is not shown). Each electrode unit of the first main electrode 40 and the second main electrode 41 is connected to a capacitance monitor 58 via wiring as shown in FIG. For convenience of explanation, illustration of wirings connected to the electrodes is omitted in FIG.

導体10の長手方向に沿った第1主電極40の長さL40は、同方向の第2主電極41の長さL41とは異なる。図4においては、第2主電極41の長さL41は、第1主電極40の長さL40よりも大きい。 The length L 40 of the first main electrode 40 along the longitudinal direction of the conductor 10 is different from the length L 41 of the second main electrode 41 in the same direction. In FIG. 4, the length L 41 of the second main electrode 41 is larger than the length L 40 of the first main electrode 40.

第1ガード電極42aは、第1主電極40から見て導体10の長手方向において上流側に配置される。第2ガード電極42bは、導体10の長手方向に沿って第1主電極40と第2主電極41との間に配置される。第3ガード電極42cは、第2主電極41から見て導体10の長手方向において下流側に配置される。第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cは、第1主電極40および第2主電極41の端部における電界の集中を緩和し、絶縁電線1と第1主電極40および第2主電極41との間に生じる第1の静電容量および第2の静電容量の数値を安定的に計測するために設置される。第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cは配線を介して互いに接続されている。また第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cは、キャパシタンスモニタ58および巻取り部56と接続され、巻取り部56と、第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cとの間の経路において接地されている。すなわち、第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cは接地電極である。   The first guard electrode 42 a is disposed on the upstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the first main electrode 40. The second guard electrode 42 b is disposed between the first main electrode 40 and the second main electrode 41 along the longitudinal direction of the conductor 10. The third guard electrode 42 c is disposed on the downstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the second main electrode 41. The first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c alleviate the concentration of the electric field at the ends of the first main electrode 40 and the second main electrode 41, and the insulated wire 1 and the first main electrode 40. The first electrostatic capacity and the second electrostatic capacity generated between the second main electrode 41 and the second main electrode 41 are stably measured. The first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c are connected to each other through a wiring. The first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c are connected to the capacitance monitor 58 and the winding unit 56, and the winding unit 56, the first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and It is grounded in the path between the third guard electrode 42c. That is, the first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c are ground electrodes.

本実施の形態において、第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cは同一の構造を有する。すなわち、それぞれ中空円筒状の形状を有し、導体10の長手方向に沿った各ガード電極の長さL42a、L42b、L42cは同一である。各主電極40,41と、各ガード電極42a,42b,42cとは間隔Gをおいて配置される。絶縁電線1と各主電極40,41との間隔は、測定される第1の静電容量および第2の静電容量が安定する範囲に適宜設定される。 In the present embodiment, the first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c have the same structure. That is, each guard electrode has a hollow cylindrical shape, and the lengths L 42a , L 42b , and L 42c of the guard electrodes along the longitudinal direction of the conductor 10 are the same. The main electrodes 40, 41 and the guard electrodes 42a, 42b, 42c are arranged with a gap G. The distance between the insulated wire 1 and each of the main electrodes 40 and 41 is appropriately set within a range in which the measured first capacitance and second capacitance are stable.

キャパシタンスモニタ58は、キャパシタンスセンサ2の検査電極55を構成する各電極ユニットと接続されている。またキャパシタンスモニタ58は、配線を通じて第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cと共に接地されている。キャパシタンスモニタ58は、キャパシタンスセンサ2において検出された静電容量を表示し、記録時間または絶縁電線1の検査対象位置と関係づけてその静電容量を記録する。キャパシタンスモニタ58に表示又は記録される静電容量の変動から、絶縁電線1内の正常箇所と欠陥箇所とを区別することができる。   The capacitance monitor 58 is connected to each electrode unit constituting the inspection electrode 55 of the capacitance sensor 2. The capacitance monitor 58 is grounded together with the first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c through wiring. The capacitance monitor 58 displays the capacitance detected by the capacitance sensor 2 and records the capacitance in relation to the recording time or the inspection target position of the insulated wire 1. A normal location and a defective location in the insulated wire 1 can be distinguished from the variation in capacitance displayed or recorded on the capacitance monitor 58.

巻取り部56は、検査部53の下流側に配置される。巻取り部56は、着脱可能な巻取りリールを配置することができる巻取りリール装着部を備え、検査部53において検査された絶縁電線1を巻取る。絶縁電線1が巻き取られた巻取りリールを巻取りリール装着部から脱着することにより、絶縁電線1を巻き取られた状態で得ることができる。   The winding unit 56 is disposed on the downstream side of the inspection unit 53. The take-up unit 56 includes a take-up reel mounting unit in which a detachable take-up reel can be disposed, and winds the insulated wire 1 inspected by the inspection unit 53. The insulated wire 1 can be obtained in a wound state by detaching the take-up reel on which the insulated wire 1 is wound from the take-up reel mounting portion.

[絶縁電線1の製造方法の手順]
次に図1〜図9を参照して、絶縁電線1の製造方法の手順を説明する。図6は、絶縁皮膜20内の低気孔率部欠陥の状態を示す概略断面図である。図7は絶縁皮膜20の肉薄部の状態を示す概略断面図である。図8は、絶縁皮膜20表面の傷欠陥の状態を示す概略断面図である。図9は、絶縁皮膜20の穴欠陥の状態を示す概略断面図である。
[Procedure for manufacturing method of insulated wire 1]
Next, with reference to FIGS. 1-9, the procedure of the manufacturing method of the insulated wire 1 is demonstrated. FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a state of a low porosity portion defect in the insulating film 20. FIG. 7 is a schematic cross-sectional view showing the state of the thin portion of the insulating film 20. FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing a state of a flaw defect on the surface of the insulating film 20. FIG. 9 is a schematic cross-sectional view showing a state of hole defects in the insulating film 20.

本実施の形態に係る絶縁電線1の製造方法においては、図3に示すS10〜S30のステップが実施される。図2および図3を参照して、まず導線準備部50において、円形の断面形状を有する線状の導体10を準備する(S10)。具体的には、素線供給部51に保持された、素銅線などの金属素線が引き出される。素線は矢印Dの方向に送られ、導体加工部52に供給される。素線供給部51から供給された金属素線は、ダイスによる引き抜き加工(伸線加工)により、所望の形状およびサイズを有する導体10に加工される。導体加工部52において素線から加工された導体10は、絶縁皮膜形成部54に送られる。 In the method for manufacturing the insulated wire 1 according to the present embodiment, steps S10 to S30 shown in FIG. 3 are performed. With reference to FIG. 2 and FIG. 3, first, the conductor preparation part 50 prepares the linear conductor 10 having a circular cross-sectional shape (S10). Specifically, a metal strand such as a strand of copper held by the strand supply unit 51 is drawn out. Wire is fed in the direction of arrow D 1, is supplied to the conductor processing unit 52. The metal strand supplied from the strand supply section 51 is processed into a conductor 10 having a desired shape and size by drawing (drawing) using a die. The conductor 10 processed from the strand in the conductor processing portion 52 is sent to the insulating film forming portion 54.

次に、絶縁皮膜20が形成される(S20)。絶縁皮膜20は、図1に示すように、線状の形状を有する導体10の外周側の面を覆うように形成される。絶縁皮膜20は絶縁体からなり、内部に空孔15を含む。   Next, the insulating film 20 is formed (S20). As shown in FIG. 1, the insulating film 20 is formed so as to cover the outer peripheral surface of the conductor 10 having a linear shape. The insulating film 20 is made of an insulator and includes pores 15 inside.

上述のように、絶縁皮膜形成部54は、ワニス塗工装置と、焼付炉とを備える。絶縁皮膜形成部54では、以下のような手順により導体10外周側の面を覆うように絶縁皮膜20が形成される。   As described above, the insulating film forming unit 54 includes a varnish coating device and a baking furnace. In the insulating film forming portion 54, the insulating film 20 is formed so as to cover the outer peripheral surface of the conductor 10 by the following procedure.

まず塗工装置内に保持されたワニス内を、導体加工部52において加工された導体10が通過することにより、導体10の外周側の面を覆うようにワニスが塗工される。本実施の形態において塗工されるワニスは、有機溶剤中にポリイミドの前駆体と熱分解樹脂との混合物を含むポリイミド前駆体である。次に焼付炉において、塗工された塗膜を加熱すると、ポリイミドの前駆体からポリイミドへの反応が促進される。ポリイミドは熱硬化性であるため、加熱により塗膜が硬化する。また加熱により熱分解樹脂が分解されて気化する。このとき、ポリイミドの硬化皮膜中の、熱分解性樹脂が存在していた箇所に空孔15が形成される。このようにして、導体10の外周側の面を覆うように、絶縁体であるポリイミドからなり、多数の空孔15が内部に分散された絶縁皮膜20が形成される。   First, the varnish is applied so as to cover the outer peripheral surface of the conductor 10 by passing the conductor 10 processed in the conductor processing section 52 through the varnish held in the coating apparatus. The varnish to be applied in the present embodiment is a polyimide precursor containing a mixture of a polyimide precursor and a thermal decomposition resin in an organic solvent. Next, when the coated coating film is heated in the baking furnace, the reaction from the polyimide precursor to the polyimide is promoted. Since polyimide is thermosetting, the coating is cured by heating. Further, the pyrolysis resin is decomposed and vaporized by heating. At this time, voids 15 are formed at locations where the thermally decomposable resin was present in the cured polyimide film. In this way, an insulating film 20 made of polyimide as an insulator and having a large number of holes 15 dispersed therein is formed so as to cover the outer peripheral surface of the conductor 10.

また必要に応じて上記ワニスの塗工および加熱のサイクルを繰り返すことにより、所望の厚みの絶縁皮膜20を形成することができる。   Moreover, the insulating film 20 having a desired thickness can be formed by repeating the coating and heating cycle of the varnish as necessary.

絶縁皮膜20を形成するステップS20に引き続き、得られた絶縁電線1を検査する(S30)。絶縁皮膜形成部54において絶縁皮膜20が形成された絶縁電線1は、さらに矢印Dの方向に送られ、検査部53において絶縁皮膜20の形成状態が検査される。 Subsequent to step S20 for forming the insulating film 20, the obtained insulated wire 1 is inspected (S30). Insulation coating forming unit insulated wire 1 in which the insulating film 20 is formed at 54 is further fed in the direction of arrow D 1, the state of formation of the insulating coating 20 is inspected in the inspection unit 53.

検査は、図2に示すようなキャパシタンスセンサ2およびキャパシタンスモニタ58によって行われる。キャパシタンスセンサ2の検査電極55によって検出された静電容量のデータは、キャパシタンスモニタ58に送信される。キャパシタンスモニタ58に表示される静電容量と、予め調査された絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態が検査される。   The inspection is performed by the capacitance sensor 2 and the capacitance monitor 58 as shown in FIG. Capacitance data detected by the inspection electrode 55 of the capacitance sensor 2 is transmitted to the capacitance monitor 58. The formation state of the insulating film 20 is inspected based on the relationship between the capacitance displayed on the capacitance monitor 58 and the porosity of the insulating film 20 investigated in advance.

検査部53は、第1の電極としての第1主電極40と、絶縁電線1との間の第1の静電容量を検出し、その第1の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態を検査する。さらに、第2の電極としての第2主電極41と、絶縁電線1との間の第2の静電容量を検出し、第1の静電容量および第2の静電容量と、絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態を検査してもよい。本実施の形態においては、第2主電極41と、絶縁電線1との間の第2の静電容量を検出し、第1の静電容量および第2の静電容量と、絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態が検査される。このように第1の静電容量および第2の静電容量を検出し、絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて検査することにより、より精度良く欠陥を検出することができる。   The inspection unit 53 detects the first capacitance between the first main electrode 40 as the first electrode and the insulated wire 1, and the first capacitance and the porosity of the insulating film 20 are detected. Based on the relationship, the formation state of the insulating film 20 is inspected. Further, a second capacitance between the second main electrode 41 as the second electrode and the insulated wire 1 is detected, and the first capacitance and the second capacitance, and the insulating film 20 are detected. The formation state of the insulating film 20 may be inspected based on the relationship with the porosity. In the present embodiment, the second electrostatic capacitance between the second main electrode 41 and the insulated wire 1 is detected, and the first electrostatic capacitance and the second electrostatic capacitance, and the insulating coating 20 The formation state of the insulating film 20 is inspected based on the relationship with the porosity. By detecting the first capacitance and the second capacitance in this manner and inspecting based on the relationship with the porosity of the insulating film 20, defects can be detected with higher accuracy.

具体的には、以下のように検査が行われる。まず第1主電極40の各電極ユニット40a,40b,40c,40dおよび第2主電極41の各電極ユニット41a,41b,41c,41dに電圧を印加し、第1主電極40と絶縁電線1との間の第1の静電容量、および第2主電極41と絶縁電線1との間の第2の静電容量を検出する。   Specifically, the inspection is performed as follows. First, a voltage is applied to each electrode unit 40a, 40b, 40c, 40d of the first main electrode 40 and each electrode unit 41a, 41b, 41c, 41d of the second main electrode 41, and the first main electrode 40, the insulated wire 1 and A first capacitance between the second main electrode 41 and the insulated wire 1 is detected.

次に検出された上記第1の静電容量および第2の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、絶縁皮膜20の形成状態を検査する。例えば、絶縁皮膜20の気孔率が安定している状態においては、検出される静電容量は定常値を示す。一方、絶縁皮膜20に欠陥が存在する場合、気孔率に変動が生じるため、上記静電容量もそれに応じて変化する。その静電容量の変化に基づいて欠陥の位置を特定し、記録する。このようにして安定した品質の絶縁電線1を製造することができる。   Next, the formation state of the insulating film 20 is inspected based on the relationship between the detected first and second capacitances and the porosity of the insulating film 20. For example, in a state where the porosity of the insulating film 20 is stable, the detected capacitance shows a steady value. On the other hand, when there is a defect in the insulating film 20, the porosity varies, so the capacitance changes accordingly. Based on the change in the capacitance, the position of the defect is specified and recorded. In this way, the insulated wire 1 with stable quality can be manufactured.

キャパシタンスセンサ2において絶縁皮膜20の形成状態が検査された絶縁電線1は、その後巻取り部56において巻き取られる。巻き取られた絶縁電線1は、欠陥位置が記録された状態で製品としてもよいし、欠陥を含む絶縁電線1については製品とせずに廃棄してもよい。また記録された位置に基づいて欠陥箇所のみを削除し、残部を製品としてもよい。   The insulated wire 1 in which the formation state of the insulating film 20 is inspected in the capacitance sensor 2 is then wound up in the winding portion 56. The wound insulated wire 1 may be a product with a recorded defect position, or the insulated wire 1 including the defect may be discarded without being a product. Further, only the defective part may be deleted based on the recorded position, and the remaining part may be the product.

上記検査はオンラインで行われる。オンラインで行う検査では、ステップS10〜S30までの一連の工程において、上記ステップS20に引き続き連続して、ステップS20で得られた絶縁皮膜20の形成状態の検査を行う。また検査をオンラインで行う場合、図4に示す素線供給部51から巻取り部56に至るまでの一連の流れが、絶縁電線1を切断することなく一体的に行われる。   The above inspection is performed online. In the inspection performed online, the formation state of the insulating film 20 obtained in step S20 is inspected continuously from step S20 in the series of steps from step S10 to step S30. When the inspection is performed on-line, a series of flows from the wire supply unit 51 to the winding unit 56 shown in FIG. 4 are integrally performed without cutting the insulated wire 1.

絶縁皮膜20の形成状態を検査する工程では、検査電極55を水(図示せず)に浸漬した状態で第1主電極40の各電極ユニット40a,40b,40c,40dおよび第2主電極41の各電極ユニット41a,41b,41c,41dに電圧を印加して、第1主電極40または第2主電極41と、絶縁電線1との間の第1の静電容量および第2の静電容量をキャパシタンスモニタ58において監視する。検出した第1の静電容量および第2の静電と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜20の形成状態を検査する。   In the step of inspecting the formation state of the insulating film 20, the electrode units 40 a, 40 b, 40 c, 40 d of the first main electrode 40 and the second main electrode 41 are in a state where the inspection electrode 55 is immersed in water (not shown). A first electrostatic capacity and a second electrostatic capacity between the first main electrode 40 or the second main electrode 41 and the insulated wire 1 by applying a voltage to each electrode unit 41a, 41b, 41c, 41d. Is monitored by a capacitance monitor 58. The formation state of the insulating film 20 is inspected based on the relationship between the detected first electrostatic capacity and the second static electricity and the porosity of the insulating film 20.

本実施の形態1においては、第1主電極40は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット41a,41b,41c,41dから構成されている。第2主電極41も同様に周方向に4分割された4つの電極ユニットから構成されている。このように周方向に分割された複数の電極ユニットから構成される第1主電極40および第2主電極41を用いることにより、絶縁電線1の周方向における欠陥の存在位置についても細かく特定することが可能となる。なお、主電極の周方向における複数の電極ユニットの数は特に4つに限定されない。例えば周方向に2分割された電極ユニットを有する主電極などの、周方向において2以上の任意の数の電極ユニットを有する主電極を必要に応じて選択することができる。   In the first embodiment, the first main electrode 40 has an arc shape that is divided into four so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10. It is comprised from four electrode units 41a, 41b, 41c, 41d extended along the longitudinal direction. Similarly, the second main electrode 41 is composed of four electrode units divided into four in the circumferential direction. By using the first main electrode 40 and the second main electrode 41 composed of the plurality of electrode units divided in the circumferential direction in this way, the position of the defect in the circumferential direction of the insulated wire 1 can be specified in detail. Is possible. Note that the number of the plurality of electrode units in the circumferential direction of the main electrode is not particularly limited to four. For example, a main electrode having an arbitrary number of electrode units of two or more in the circumferential direction, such as a main electrode having an electrode unit divided into two in the circumferential direction, can be selected as necessary.

本実施の形態1に係る絶縁電線1の製造方法においては、図6に示すような絶縁皮膜20内の低気孔率部21を検出することが可能である。低気孔率部21は、絶縁皮膜20において、絶縁皮膜20全体の平均の気孔率に比べて有意に気孔率が低く空孔15の割合が少ない部分である。低気孔率部21の中でも特に空孔15が全く存在しない部分を無空孔部と呼ぶ。このような低気孔率部21、特に無空孔部は部分放電の発生の原因となり得る。安定した品質の絶縁電線1を製造するためには、このような低気孔率部21の存在を適切に検出し、絶縁皮膜20の品質を管理することが好ましい。   In the method of manufacturing the insulated wire 1 according to the first embodiment, it is possible to detect the low porosity portion 21 in the insulating film 20 as shown in FIG. The low porosity portion 21 is a portion of the insulating film 20 that has a significantly lower porosity and a lower proportion of the holes 15 than the average porosity of the insulating film 20 as a whole. In the low porosity portion 21, a portion where no pores 15 are present at all is called a non-porous portion. Such a low porosity portion 21, particularly a non-porous portion, can cause partial discharge. In order to manufacture the insulated wire 1 having stable quality, it is preferable to appropriately detect the presence of such a low porosity portion 21 and manage the quality of the insulating film 20.

さらに本実施の形態1に係る絶縁電線1の製造方法においては、図7に示すような絶縁皮膜20内の肉薄部22を検出することも可能である。肉薄部22とは、導体10の膨れ12により、絶縁皮膜20が局所的に肉薄になる部分をいう。このような肉薄部22が存在すると、その肉薄部22において絶縁性が低下する。そのため、安定した品質の絶縁電線1を製造するためには、このような肉薄部22の存在も適切に検出し、絶縁皮膜20の品質を管理することが好ましい。   Furthermore, in the method for manufacturing the insulated wire 1 according to the first embodiment, it is also possible to detect the thin portion 22 in the insulating film 20 as shown in FIG. The thin portion 22 refers to a portion where the insulating film 20 is locally thin due to the swelling 12 of the conductor 10. When such a thin portion 22 exists, the insulating property is reduced in the thin portion 22. Therefore, in order to manufacture the insulated wire 1 with stable quality, it is preferable to appropriately detect the presence of such a thin portion 22 and manage the quality of the insulating film 20.

また図8に示すような絶縁皮膜20表面の傷23や、図9に示すような絶縁皮膜20の穴24などの絶縁皮膜20の外観から特定可能な欠陥については、画像分析などによる一般的な欠陥検査方法でも検出することができる。しかしながら、図6に示すような低気孔率部21や図7に示すような肉薄部22については外観のみからは検出することが難しい。導体10の長手方向に沿った長さLが1mm程度の低気孔率部21や肉薄部22を適切に検出することができれば、実質的に有害な欠陥を有効に検出することができる。 Further, defects that can be identified from the appearance of the insulating film 20 such as the scratch 23 on the surface of the insulating film 20 as shown in FIG. 8 and the hole 24 of the insulating film 20 as shown in FIG. It can also be detected by a defect inspection method. However, it is difficult to detect the low porosity portion 21 as shown in FIG. 6 and the thin portion 22 as shown in FIG. If it is possible to length L D along the longitudinal direction of the conductor 10 is properly detect the low porosity portion 21 and the thin portion 22 of approximately 1 mm, it is possible to effectively detect a substantial harmful defects.

本実施の形態1においては、主電極として上述のような第1主電極40および第2主電極41を用いて、第1の静電容量および第2の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜20の形成状態を検査することにより、傷23や穴24だけでなく、このような低気孔率部21や肉薄部22の存在を検出することができる。その結果、本願の絶縁電線1の製造方法によれば、欠陥を的確に検出することができ、安定した品質の絶縁電線1を製造することが可能となる。   In the first embodiment, the first main electrode 40 and the second main electrode 41 as described above are used as the main electrodes, and the first capacitance, the second capacitance, and the porosity of the insulating film 20 are used. By examining the formation state of the insulating film 20 based on the relationship, it is possible to detect the presence of the low porosity portion 21 and the thin portion 22 as well as the scratches 23 and the holes 24. As a result, according to the manufacturing method of the insulated wire 1 of the present application, it is possible to accurately detect defects and to manufacture the insulated wire 1 with stable quality.

また本実施の形態1においては、導体10の長手方向に沿った長さが概ね10mm以下、好ましくは5mm以下である第1主電極40および第2主電極41が用いられる。測定される静電容量の値は、第1主電極40全体の平均値、または第2主電極41全体の平均値である。したがって、電極が導体10の長手方向に沿って長い場合、広い範囲を検出することが可能となるが、静電容量の値が長手方向に渡って平均化されるため、小さな欠陥を感度良く検出することが難しい。これに対し、第1主電極40および第2主電極41の、導体10の長手方向に沿った長さL40,L41を10mm以下とすることで、長手方向に長い電極では検知できない小さな欠陥をも検知することができる。なお、上記第1主電極40および第2主電極41の長さの下限は特に限定されないが、例えば0.1mmである。 In the first embodiment, the first main electrode 40 and the second main electrode 41 whose length along the longitudinal direction of the conductor 10 is approximately 10 mm or less, preferably 5 mm or less are used. The measured capacitance value is the average value of the entire first main electrode 40 or the average value of the entire second main electrode 41. Therefore, when the electrode is long along the longitudinal direction of the conductor 10, it is possible to detect a wide range, but since the capacitance value is averaged over the longitudinal direction, small defects can be detected with high sensitivity. Difficult to do. On the other hand, when the lengths L 40 and L 41 along the longitudinal direction of the conductor 10 of the first main electrode 40 and the second main electrode 41 are 10 mm or less, a small defect that cannot be detected by an electrode that is long in the longitudinal direction. Can also be detected. The lower limit of the length of the first main electrode 40 and the second main electrode 41 is not particularly limited, but is, for example, 0.1 mm.

さらに第1主電極40および第2主電極41の、導体10の長手方向に沿った長さL40,L41を10mm以下とし、第1の静電容量および第2の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜20の形成状態を検査することにより、傷23や穴24による欠陥、あるいはサイズの大きな欠陥のみならず、小さな欠陥、特に低気孔率部21や肉薄部22による欠陥についても検出することが可能である。 Further, the lengths L 40 and L 41 along the longitudinal direction of the conductor 10 of the first main electrode 40 and the second main electrode 41 are set to 10 mm or less, and the first capacitance, the second capacitance, and the insulating film By inspecting the formation state of the insulating film 20 based on the relationship with the porosity of 20, not only defects due to the scratches 23 and holes 24, or large-size defects, but also small defects, particularly the low porosity portion 21 and the thin wall It is possible to detect a defect caused by the portion 22.

また本実施の形態においては、複数の主電極、すなわち第1主電極40および第2主電極41とを有する検査電極55を備えたキャパシタンスセンサ2を用いて第1の静電容量および第2の静電容量の測定を行う。このように複数の主電極を用いて検査を行うことで、一方の主電極による検査結果に欠陥の誤検出が含まれるか否かを、別の主電極の検査結果と対比して検証することができる。その結果、欠陥の誤検出を低減し、より精度良く欠陥を検出することができる。   In the present embodiment, the first electrostatic capacitance and the second capacitance are obtained by using the capacitance sensor 2 including the inspection electrode 55 having a plurality of main electrodes, that is, the first main electrode 40 and the second main electrode 41. Measure the capacitance. By inspecting using multiple main electrodes in this way, verifying whether the inspection result of one main electrode includes a false detection of a defect in comparison with the inspection result of another main electrode Can do. As a result, it is possible to reduce erroneous detection of defects and detect defects with higher accuracy.

さらに第1主電極40および第2主電極41は、それぞれ長さが異なる。そのため2つの主電極を用いて測定される第1の静電容量および第2の静電容量とを求め、それらに基づく検査結果を比較することにより(両者の差分をとることにより)、より狭小な範囲の絶縁皮膜20の形成状態を検査することができる。すなわち、長さL40を有する第1主電極40と絶縁電線1との間の第1の静電容量と、長さL40よりも大きい長さL41を有する第2主電極41と絶縁電線1との間の第2の静電容量とを求め、それらに基づく検査結果を比較することにより(両者の差分をとることにより)、実質的に差(L41‐L40)(例えば1mm)の範囲に相当する絶縁皮膜20の形成状態を検査することができる。 Further, the first main electrode 40 and the second main electrode 41 have different lengths. Therefore, by obtaining the first capacitance and the second capacitance measured using the two main electrodes, and comparing the inspection results based on them (by taking the difference between the two), it becomes narrower It is possible to inspect the formation state of the insulating film 20 in a wide range. That is, the first capacitance between the first main electrode 40 having the length L 40 and the insulated wire 1 and the second main electrode 41 having the length L 41 larger than the length L 40 and the insulated wire. By calculating the second capacitance between the first and the second and comparing the inspection results based on the second capacitance (by taking the difference between the two), a substantial difference (L 41 -L 40 ) (for example, 1 mm) The formation state of the insulating film 20 corresponding to the range can be inspected.

このようにして測定された第1静電容量(および第2の静電容量)と、予め調査された絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて、気孔率を導出することができる。具体的には、計算により求められる理論曲線や、標準物質を用いて求められる検量線と、検査工程において求められる絶縁電線1の静電容量の値とを比較することにより、絶縁電線1の気孔率を見積もることができる。予め欠陥として検出すべき気孔率から求められる、欠陥と判断すべき静電容量のしきい値を設定しておくことで、上記欠陥の検出を行うことができる。また必要に応じて、静電容量と気孔率との関係に加え、厚みと静電容量との関係も参照することができる。   The porosity can be derived based on the relationship between the first capacitance (and the second capacitance) measured in this way and the porosity of the insulating film 20 investigated in advance. Specifically, the pores of the insulated wire 1 are compared by comparing a theoretical curve obtained by calculation, a calibration curve obtained using a standard substance, and a capacitance value of the insulated wire 1 obtained in the inspection process. The rate can be estimated. The defect can be detected by setting in advance a threshold value of the capacitance to be determined as a defect, which is obtained from the porosity to be detected as a defect. In addition to the relationship between the capacitance and the porosity, the relationship between the thickness and the capacitance can be referred to as necessary.

(実施の形態2)
次に、他の実施形態である実施の形態2について説明する。図10は、実施の形態2における検査電極55の構造の一例を示す概略平面図である。本実施の形態に係る絶縁電線1の製造方法は、基本的には実施の形態1の場合と同様に実施され、同様の効果を奏する。しかし、実施の形態2におけるキャパシタンスセンサ2の検査電極55は、1つの主電極60と、2つのガード電極62a,62bとから構成される点において実施の形態1の場合とは異なっている。
(Embodiment 2)
Next, Embodiment 2, which is another embodiment, will be described. FIG. 10 is a schematic plan view showing an example of the structure of the inspection electrode 55 in the second embodiment. The method of manufacturing the insulated wire 1 according to the present embodiment is basically performed in the same manner as in the first embodiment, and has the same effect. However, the inspection electrode 55 of the capacitance sensor 2 in the second embodiment is different from that in the first embodiment in that it includes one main electrode 60 and two guard electrodes 62a and 62b.

図10を参照して、検査電極55は、第1の電極としての第3主電極60を有する。第3主電極60は、実施の形態1に係る第1主電極40と同一の構造を有する。すなわち、第3主電極60は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット60a,60b,60c,60d(60dは図示せず)から構成されている。第3主電極60は、導体10の長手方向に沿って長さL60を有する。長さL60は10mm以下である。また第3主電極60の各電極ユニットは、それぞれ配線を介してキャパシタンスモニタ58(図2)と接続されている。説明の便宜のため、図10においては、各電極に接続された配線については図示を省略する。 Referring to FIG. 10, the inspection electrode 55 includes a third main electrode 60 as a first electrode. The third main electrode 60 has the same structure as the first main electrode 40 according to the first embodiment. That is, the third main electrode 60 has an arc shape that is divided into four parts so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10, and along the longitudinal direction of the conductor 10. The four electrode units 60a, 60b, 60c and 60d (60d is not shown) are extended. The third main electrode 60 has a length L 60 along the longitudinal direction of the conductor 10. The length L 60 is 10 mm or less. Each electrode unit of the third main electrode 60 is connected to a capacitance monitor 58 (FIG. 2) via wiring. For convenience of explanation, in FIG. 10, illustration of wirings connected to the respective electrodes is omitted.

第3主電極60から見て導体10の長手方向において上流側には第4ガード電極62aが配置されている。第3主電極60から見て導体10の長手方向において下流側には第5ガード電極62bが配置されている。第4ガード電極62aおよび第5ガード電極62bのそれぞれは、実施の形態1に係る第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cのそれぞれと同一の構造および同一の機能を有する。   A fourth guard electrode 62 a is disposed on the upstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the third main electrode 60. A fifth guard electrode 62 b is disposed on the downstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the third main electrode 60. Each of fourth guard electrode 62a and fifth guard electrode 62b has the same structure and the same function as each of first guard electrode 42a, second guard electrode 42b, and third guard electrode 42c according to the first embodiment. .

絶縁皮膜20の形成状態を検査する工程においては、第3主電極60の各電極ユニット60a,60b,60c,60dと絶縁電線1との間の第1の静電容量を検出し、第1の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜20の形成状態を検査する。   In the step of inspecting the formation state of the insulating film 20, the first capacitance between the electrode units 60a, 60b, 60c, 60d of the third main electrode 60 and the insulated wire 1 is detected, and the first The formation state of the insulating film 20 is inspected based on the relationship between the capacitance and the porosity of the insulating film 20.

本実施の形態における検査部53によれば、第3主電極60は、第1主電極40および第2主電極41と同様に、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット60a,60b,60c,60dから構成されている。そのため、絶縁電線1の周方向における欠陥の存在位置についても細かく特定することが可能となる。   According to the inspection unit 53 in the present embodiment, the third main electrode 60 is arranged in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10, similarly to the first main electrode 40 and the second main electrode 41. It has an arcuate shape that is divided into four so as to be separated from each other, and includes four electrode units 60a, 60b, 60c, and 60d that extend along the longitudinal direction of the conductor 10. Therefore, it is possible to finely specify the existence position of the defect in the circumferential direction of the insulated wire 1.

また導体10の長手方向に沿った長さL60は10mm以下と充分に短い。そのため実施の形態1と同様に、小さな低気孔率部21や肉薄部22などの欠陥を検出することができる。 Further, the length L 60 along the longitudinal direction of the conductor 10 is sufficiently short as 10 mm or less. Therefore, as in the first embodiment, defects such as a small low porosity portion 21 and a thin portion 22 can be detected.

(実施の形態3)
次に、他の実施形態である実施の形態3について説明する。図11は、実施の形態3における検査電極55の構造の一例を示す概略平面図である。本実施の形態に係る絶縁電線1の製造方法は、基本的には実施の形態1の場合と同様に実施され、同様の効果を奏する。しかし、実施の形態3におけるキャパシタンスセンサ2の検査電極55は、第4主電極70の長さL70及び第5主電極71の長さL71が10mmを超える点で実施の形態1の場合とは異なっている。
(Embodiment 3)
Next, the third embodiment which is another embodiment will be described. FIG. 11 is a schematic plan view showing an example of the structure of the inspection electrode 55 in the third embodiment. The method of manufacturing the insulated wire 1 according to the present embodiment is basically performed in the same manner as in the first embodiment, and has the same effect. However, the inspection electrode 55 of the capacitance sensor 2 in Embodiment 3, the case of the first embodiment in that the length L 71 of the length L 70 and a fifth main electrode 71 of the fourth main electrode 70 is more than 10mm Is different.

図11を参照して、検査電極55は、第1の電極としての第4主電極70と、第2の電極としての第5主電極71とを有する。第4主電極70は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット70a,70b,70c,70d(電極ユニット70dは、電極ユニット40dと同様に、絶縁電線1を挟んで電極ユニット70bの対面側に位置し、図示は省略)から構成されている。第5主電極71も、同様の断面形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット71a,71b,71c,71d(電極ユニット71dは、電極ユニット40dと同様に、絶縁電線1を挟んで電極ユニット71bの対面側に位置し、図示は省略)から構成される。また第4主電極70および第5主電極71の各電極ユニットは、それぞれ配線を介してキャパシタンスモニタ58(図2)と接続されている。説明の便宜のため、図11においては、各電極に接続された配線については図示を省略する。   Referring to FIG. 11, the inspection electrode 55 includes a fourth main electrode 70 as a first electrode and a fifth main electrode 71 as a second electrode. The fourth main electrode 70 has an arc shape that is divided into four so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10, and extends along the longitudinal direction of the conductor 10. The four electrode units 70a, 70b, 70c, and 70d (the electrode unit 70d is located on the opposite side of the electrode unit 70b across the insulated wire 1 as in the electrode unit 40d and is not shown). . The fifth main electrode 71 also has the same cross-sectional shape, and extends along the longitudinal direction of the conductor 10 to four electrode units 71a, 71b, 71c, 71d (the electrode unit 71d is similar to the electrode unit 40d, It is located on the opposite side of the electrode unit 71b with the insulated wire 1 in between and is not shown). Each electrode unit of the fourth main electrode 70 and the fifth main electrode 71 is connected to a capacitance monitor 58 (FIG. 2) via wiring. For convenience of explanation, illustration of wirings connected to the electrodes is omitted in FIG.

第4主電極70から見て導体10の長手方向において上流側には第6ガード電極72aが配置されている。導体10の長手方向に沿って第4主電極70と第5主電極71との間には第7ガード電極72bが配置されている。第5主電極71から見て導体10の長手方向において下流側には第8ガード電極72cが配置されている。第6ガード電極72a、第7ガード電極72bおよび第8ガード電極72cのそれぞれは、実施の形態1に係る第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cのそれぞれと同一の構造および同一の機能を有する。   A sixth guard electrode 72 a is arranged on the upstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the fourth main electrode 70. A seventh guard electrode 72 b is disposed between the fourth main electrode 70 and the fifth main electrode 71 along the longitudinal direction of the conductor 10. An eighth guard electrode 72 c is disposed on the downstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the fifth main electrode 71. Each of sixth guard electrode 72a, seventh guard electrode 72b, and eighth guard electrode 72c has the same structure as each of first guard electrode 42a, second guard electrode 42b, and third guard electrode 42c according to the first embodiment. And has the same function.

導体10の長手方向に沿った第4主電極70の長さL70は、同方向の第5主電極71の長さL71とは異なる。特に限定されないが、図11における第5主電極71の長さL71は、第4主電極70の長さL70の1.5倍である。 The length L 70 of the fourth main electrode 70 along the longitudinal direction of the conductor 10 is different from the length L 71 of the fifth main electrode 71 in the same direction. Although not particularly limited, the length L 71 of the fifth main electrode 71 in FIG. 11 is 1.5 times the length L 70 of the fourth main electrode 70.

絶縁皮膜20の形成状態を検査する工程においては、第4主電極70および第5主電極71のそれぞれに電圧を印加し、第4主電極70の各電極ユニット70a,70b,70c,70dと絶縁電線1との間の第1の静電容量、および第5主電極71の各電極ユニット71a,71b,71c,71dと絶縁電線1との間の第2の静電容量を検出する。   In the step of inspecting the formation state of the insulating film 20, a voltage is applied to each of the fourth main electrode 70 and the fifth main electrode 71 to insulate each electrode unit 70a, 70b, 70c, 70d of the fourth main electrode 70 from each other. A first capacitance between the electric wire 1 and a second capacitance between the electrode units 71a, 71b, 71c, 71d of the fifth main electrode 71 and the insulated electric wire 1 are detected.

図11に示すように、第4主電極70は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット70a,70b,70c,70dから構成されている。第5主電極71も同様に周方向に4分割された4つの電極ユニット71a,71b,71c,71dから構成されている。このように周方向に分割された複数の電極ユニットから構成される第4主電極70および第5主電極71を用いることにより、絶縁電線1の周方向における欠陥の存在位置についても細かく特定することが可能となる。   As shown in FIG. 11, the fourth main electrode 70 has an arc shape that is divided into four so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10. It is comprised from four electrode units 70a, 70b, 70c, 70d extended along a longitudinal direction. Similarly, the fifth main electrode 71 includes four electrode units 71a, 71b, 71c, and 71d that are divided into four in the circumferential direction. By using the fourth main electrode 70 and the fifth main electrode 71 composed of a plurality of electrode units divided in the circumferential direction in this way, the position of the defect in the circumferential direction of the insulated wire 1 can be specified in detail. Is possible.

また本実施の形態においては、複数の主電極、すなわち第4主電極70および第5主電極71とを有する検査電極55を備えたキャパシタンスセンサ2を用いて第1の静電容量および第2の静電容量の測定を行う。このように複数の主電極を用いて検査を行うことで、一方の主電極による検査結果に欠陥の誤検出が含まれるか否かを、別の主電極の検査結果と対比して検証することができる。その結果、欠陥の誤検出を低減し、より精度良く欠陥を検出することができる。   Further, in the present embodiment, the first electrostatic capacitance and the second capacitance are obtained by using the capacitance sensor 2 including the inspection electrode 55 having a plurality of main electrodes, that is, the fourth main electrode 70 and the fifth main electrode 71. Measure the capacitance. By inspecting using multiple main electrodes in this way, verifying whether the inspection result of one main electrode includes a false detection of a defect in comparison with the inspection result of another main electrode Can do. As a result, it is possible to reduce erroneous detection of defects and detect defects with higher accuracy.

さらに第4主電極70および第5主電極71は、それぞれ長さが異なる。そのため2つの主電極を用いて測定される第1の静電容量および第2の静電容量とを求め、それらに基づく検査結果を比較することにより(両者の差分をとることにより)、より狭小な範囲の絶縁皮膜20の形成状態を検査することができる。すなわち、長さL70を有する第4主電極70と絶縁電線1との間の第1の静電容量と、長さL70よりも大きい長さL71を有する第5主電極71と絶縁電線1との間の第2の静電容量とを求め、それらに基づく検査結果を比較することにより(両者の差分をとることにより)、実質的に差(L71‐L70)(例えば1mm)の範囲に相当する絶縁皮膜20の形成状態を検査することができる。 Further, the fourth main electrode 70 and the fifth main electrode 71 have different lengths. Therefore, by obtaining the first capacitance and the second capacitance measured using the two main electrodes, and comparing the inspection results based on them (by taking the difference between the two), it becomes narrower It is possible to inspect the formation state of the insulating film 20 in a wide range. That is, the first electrostatic capacitance between the fourth main electrode 70 having the length L 70 and the insulated wire 1, the fifth main electrode 71 having the length L 71 larger than the length L 70, and the insulated wire By calculating the second capacitance between 1 and 1 and comparing the inspection results based on them (by taking the difference between the two), a substantial difference (L 71 -L 70 ) (for example, 1 mm) The formation state of the insulating film 20 corresponding to the range can be inspected.

(実施の形態4)
次に、他の実施形態である実施の形態4について説明する。図12は、実施の形態4における検査電極55の構造の一例を示す概略平面図である。本実施の形態に係る絶縁電線1の製造方法は、基本的には実施の形態1の場合と同様に実施され、同様の効果を奏する。しかし、実施の形態4におけるキャパシタンスセンサ2の検査電極55は、第6主電極80の長さL80が10mmを超える点、および検査電極55が1つの主電極(第6主電極)80と、2つのガード電極82a,82bとから構成される点において実施の形態1の場合とは異なっている。
(Embodiment 4)
Next, Embodiment 4, which is another embodiment, will be described. FIG. 12 is a schematic plan view showing an example of the structure of the inspection electrode 55 in the fourth embodiment. The method of manufacturing the insulated wire 1 according to the present embodiment is basically performed in the same manner as in the first embodiment, and has the same effect. However, the inspection electrode 55 of the capacitance sensor 2 according to the fourth embodiment has a point that the length L 80 of the sixth main electrode 80 exceeds 10 mm, and the inspection electrode 55 has one main electrode (sixth main electrode) 80. The second embodiment is different from the first embodiment in that it includes two guard electrodes 82a and 82b.

図12を参照して、検査電極55は、第1の電極としての第6主電極80を有する。第6主電極80は、実施の形態1に係る第1主電極40と同一の構造を有する。すなわち、第6主電極80は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット80a,80b,80c,80d(80dは図示せず)から構成されている。第6主電極80は、導体10の長手方向に沿って長さL80を有する。長さL80は10mmを超える。また第6主電極80の各電極ユニットは、それぞれ配線を介してキャパシタンスモニタ58(図2)と接続されている。説明の便宜のため、図12においては、各電極に接続された配線については図示を省略する。 Referring to FIG. 12, the inspection electrode 55 has a sixth main electrode 80 as a first electrode. The sixth main electrode 80 has the same structure as the first main electrode 40 according to the first embodiment. That is, the sixth main electrode 80 has an arc shape that is divided into four parts so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10, and along the longitudinal direction of the conductor 10. The four electrode units 80a, 80b, 80c, and 80d (80d is not shown) are extended. The sixth main electrode 80 has a length L 80 along the longitudinal direction of the conductor 10. The length L 80 exceeds 10 mm. Each electrode unit of the sixth main electrode 80 is connected to a capacitance monitor 58 (FIG. 2) via wiring. For convenience of explanation, in FIG. 12, illustration of wiring connected to each electrode is omitted.

第6主電極80から見て導体10の長手方向において上流側には第9ガード電極82aが配置されている。第6主電極80から見て導体10の長手方向において下流側には第10ガード電極82bが配置されている。第9ガード電極82aおよび第10ガード電極82bのそれぞれは、実施の形態1に係る第1ガード電極42a、第2ガード電極42bおよび第3ガード電極42cのそれぞれと同一の構造および同一の機能を有する。   A ninth guard electrode 82a is disposed on the upstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the sixth main electrode 80. A tenth guard electrode 82 b is disposed on the downstream side in the longitudinal direction of the conductor 10 when viewed from the sixth main electrode 80. Each of the ninth guard electrode 82a and the tenth guard electrode 82b has the same structure and the same function as each of the first guard electrode 42a, the second guard electrode 42b, and the third guard electrode 42c according to the first embodiment. .

絶縁皮膜20の形成状態を検査する工程においては、第6主電極80に電圧を印加し、第6主電極80の各電極ユニット80a,80b,80c,80dと絶縁電線1との間の第1の静電容量を検出し、第1の静電容量と絶縁皮膜20の気孔率との関係に基づいて絶縁皮膜20の形成状態を検査する。   In the step of inspecting the formation state of the insulating film 20, a voltage is applied to the sixth main electrode 80, and the first unit between the electrode units 80 a, 80 b, 80 c, 80 d of the sixth main electrode 80 and the insulated wire 1 is applied. And the formation state of the insulating film 20 is inspected based on the relationship between the first capacitance and the porosity of the insulating film 20.

図12を参照して、本実施の形態における、第1の電極としての第6主電極80は、導体10の長手方向に垂直な断面において導体10の周方向に互いに離間するように4分割された円弧状の形状を有し、導体10の長手方向に沿って延在する4つの電極ユニット80a,80b,80c,80dから構成されている。このように周方向に分割された複数の電極ユニットから構成される第6主電極80を用いることにより、絶縁電線1の周方向における欠陥の存在位置についても細かく特定することが可能となる。   Referring to FIG. 12, the sixth main electrode 80 as the first electrode in the present embodiment is divided into four so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor 10 in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor 10. It has a circular arc shape and is composed of four electrode units 80 a, 80 b, 80 c and 80 d extending along the longitudinal direction of the conductor 10. As described above, by using the sixth main electrode 80 composed of a plurality of electrode units divided in the circumferential direction, it is possible to finely specify the positions of defects in the circumferential direction of the insulated wire 1.

なお、上記各実施の形態においては、円形の断面形状を有する線状の絶縁電線1の製造方法を説明したが、絶縁電線1の断面形状はこれらに限定されず、四角形、六角形など任意の断面形状に加工された絶縁電線を得ることも可能である。   In addition, in each said embodiment, although the manufacturing method of the linear insulated wire 1 which has a circular cross-sectional shape was demonstrated, the cross-sectional shape of the insulated wire 1 is not limited to these, Arbitrary squares, hexagons, etc. are arbitrary. It is also possible to obtain an insulated wire processed into a cross-sectional shape.

また上記実施の形態においては、静電容量の検出を行うためのキャパシタンスセンサ2を巻取り部56において巻き取られる直前の位置に配置したが、静電容量の検出を行うための装置を配置する位置はこの位置に限定されない。例えば、導体10上に複数の層の絶縁層を形成することにより絶縁皮膜20を形成する場合、巻取り部56において巻き取られる直前の位置に代えて、または巻取り部56において巻き取られる直前の位置とともに、絶縁皮膜20が完成する前の中間体の段階において静電容量の検出が行える位置にキャパシタンスセンサ2等の検査装置を配置してもよい。   In the above embodiment, the capacitance sensor 2 for detecting the capacitance is arranged at a position immediately before being taken up by the take-up unit 56. However, an apparatus for detecting the capacitance is arranged. The position is not limited to this position. For example, in the case where the insulating film 20 is formed by forming a plurality of insulating layers on the conductor 10, instead of the position immediately before being wound at the winding portion 56, or immediately before being wound at the winding portion 56. An inspection device such as the capacitance sensor 2 may be disposed at a position where the electrostatic capacitance can be detected at the intermediate stage before the insulating film 20 is completed.

また上記実施形態においては、導体10の長手方向に沿った各ガード電極の長さが同一であったが、各ガード電極の上記長さはそれぞれ異なっていてもよい。また、欠陥の検出に影響のない範囲でガード電極を省略することもできる。   Moreover, in the said embodiment, although the length of each guard electrode along the longitudinal direction of the conductor 10 was the same, the said length of each guard electrode may each differ. In addition, the guard electrode can be omitted as long as it does not affect the detection of defects.

上記実施形態においては、導体10の表面に塗工されたワニスを焼付炉内で加熱する方法により絶縁皮膜20を形成したが、絶縁皮膜20の形成方法はこの方法に限定されない。たとえば、熱可塑性樹脂の押出成形により絶縁皮膜20を形成することもできる。また空孔15の形成方法についても、熱分解性樹脂の分解を利用した空孔15の形成方法のみならず、他の方法を利用することもできる。例えば、相分離法(ポリマーと溶剤の均一溶液から、ミクロ相分離後、溶剤を抽出除去することにより多孔を形成する方法)や超臨界法(超臨界流体を利用して多孔質体を形成する方法)を利用して、絶縁皮膜20に空孔15を形成することも可能である。   In the said embodiment, although the insulating film 20 was formed by the method of heating the varnish coated on the surface of the conductor 10 in a baking furnace, the formation method of the insulating film 20 is not limited to this method. For example, the insulating film 20 can be formed by extrusion molding of a thermoplastic resin. As for the method for forming the holes 15, not only the method for forming the holes 15 utilizing decomposition of the thermally decomposable resin but also other methods can be used. For example, a phase separation method (a method of forming a pore by extracting and removing a solvent after a microphase separation from a homogeneous solution of a polymer and a solvent) or a supercritical method (a porous material is formed using a supercritical fluid) It is also possible to form the holes 15 in the insulating film 20 using the method.

また図面において、周方向に4分割された円弧状の形状を有する電極の複数の電極ユニットのうち、他の電極に隠れて図示できない電極ユニット(電極ユニット41d,60d、70d,71d,80d)については図示を省略する。   In the drawing, among the plurality of electrode units having an arc shape divided into four in the circumferential direction, the electrode units (electrode units 41d, 60d, 70d, 71d, and 80d) that are hidden behind other electrodes and cannot be illustrated. The illustration is omitted.

[検査例]
次に、本願の絶縁電線1の製造方法に基づいて、キャパシタンスセンサ2により実際に絶縁皮膜20の欠陥を測定した例を示す。
[Inspection example]
Next, based on the manufacturing method of the insulated wire 1 of this application, the example which actually measured the defect of the insulating film 20 with the capacitance sensor 2 is shown.

(検査例1)
導体10と、導体10を被覆する絶縁皮膜20とを有する無欠陥の絶縁電線1を準備した。絶縁皮膜20に、平面的に見た形状が一辺0.5mmの正方形形状である穴を開け、その穴をエポキシ樹脂(誘電率約3.1)で充填して、人工的に低気孔率部21を有する測定試料Aを作製した。同様に、絶縁皮膜20に、平面的に見た形状が一辺0.4mmの正方形形状である穴を開け、その穴を同じエポキシ樹脂で充填して、人工的に低気孔率部21を有する測定試料Bを作製した。
(Inspection example 1)
A defect-free insulated electric wire 1 having a conductor 10 and an insulating film 20 covering the conductor 10 was prepared. A hole having a square shape with a side of 0.5 mm is formed in the insulating film 20 and filled with an epoxy resin (dielectric constant of about 3.1) to artificially generate a low porosity portion. A measurement sample A having 21 was prepared. Similarly, a hole having a square shape with a side of 0.4 mm is formed in the insulating film 20 and the hole is filled with the same epoxy resin to artificially have the low porosity portion 21. Sample B was prepared.

実施の形態1に係る検査電極55を有するキャパシタンスセンサ2を用いて、測定試料Aおよび測定試料Bの低気孔率部21が検出されるか否かを検査した。その結果、測定試料Aおよび測定試料Bのいずれについても低気孔率部21が検出された。   Whether or not the low porosity portion 21 of the measurement sample A and the measurement sample B is detected is inspected using the capacitance sensor 2 having the inspection electrode 55 according to the first embodiment. As a result, the low porosity portion 21 was detected for both the measurement sample A and the measurement sample B.

(検査例2)
実施の形態2に係る検査電極55を有するキャパシタンスセンサ2を用いて、測定試料Aおよび測定試料Bの低気孔率部21が検出されるか否かを検査した。その結果、測定試料Aおよび測定試料Bのいずれについても低気孔率部21が検出された。
(Inspection example 2)
Whether or not the low porosity portion 21 of the measurement sample A and the measurement sample B is detected is inspected using the capacitance sensor 2 having the inspection electrode 55 according to the second embodiment. As a result, the low porosity portion 21 was detected for both the measurement sample A and the measurement sample B.

(検査例3)
実施の形態3に係る検査電極55を有するキャパシタンスセンサ2を用いて、測定試料Aおよび測定試料Bの低気孔率部21が検出されるか否かを検査した。その結果、測定試料Aおよび測定試料Bのいずれについても低気孔率部21が検出された。
(Inspection example 3)
Whether or not the low porosity portion 21 of the measurement sample A and the measurement sample B is detected is inspected using the capacitance sensor 2 having the inspection electrode 55 according to the third embodiment. As a result, the low porosity portion 21 was detected for both the measurement sample A and the measurement sample B.

(検査例4)
実施の形態3に係る検査電極55を有するキャパシタンスセンサ2を用いて、測定試料Aおよび測定試料Bの低気孔率部21が検出されるか否かを検査した。その結果、測定試料Aおよび測定試料Bのいずれについても低気孔率部21が検出された。
(Inspection example 4)
Whether or not the low porosity portion 21 of the measurement sample A and the measurement sample B is detected is inspected using the capacitance sensor 2 having the inspection electrode 55 according to the third embodiment. As a result, the low porosity portion 21 was detected for both the measurement sample A and the measurement sample B.

上述の通り、いずれの検査例においても、平面的に見た形状が一辺0.5mmの正方形形状である低気孔率部21、および平面的に見た形状が一辺0.4mmの正方形形状である低気孔率部21を検出できることが明らかとなった。   As described above, in any of the inspection examples, the low porosity portion 21 having a square shape with a side of 0.5 mm in a plan view and the square shape with a side of 0.4 mm in a plan view. It was revealed that the low porosity portion 21 can be detected.

[まとめ]
以上説明した通り、本願の絶縁電線1の製造方法によれば、空孔15を有する絶縁皮膜20を備える絶縁電線1の、絶縁性に影響を与え得る欠陥、特に低気孔率部21や肉薄部22を適切に検出することができ、それにより安定した品質の絶縁電線1を製造することが可能となる。
[Summary]
As described above, according to the method for manufacturing the insulated wire 1 of the present application, defects, particularly the low porosity portion 21 and the thin portion, of the insulated wire 1 including the insulating film 20 having the holes 15 can affect the insulation. 22 can be detected appropriately, and it becomes possible to manufacture the insulated wire 1 of the stable quality by it.

今回開示された実施の形態および検査例はすべての点で例示であって、どのような面からも制限的なものではないと理解されるべきである。本発明の範囲は上記した意味ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。   It should be understood that the embodiments and inspection examples disclosed herein are illustrative in all respects and are not restrictive in any aspect. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, rather than the meaning described above, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本願の絶縁電線の製造方法は、空孔を有する絶縁皮膜を備える絶縁電線であって、欠陥の少ない絶縁電線が求められる技術分野において、特に有利に適用され得る。   The method for manufacturing an insulated wire of the present application can be applied particularly advantageously in a technical field that is an insulated wire having an insulating film having pores and requires an insulated wire with few defects.

1 絶縁電線
2 キャパシタンスセンサ
10 導体
11 膨れ
15 空孔
20 絶縁皮膜
21 低気孔率部
22 肉薄部
23 傷
24 穴
40 第1主電極
40a,40b,40c,40d 電極ユニット
41 第2主電極
41a,41b,41c,41d 電極ユニット
42a 第1ガード電極
42b 第2ガード電極
42c 第3ガード電極
44 筐体
50 導線準備部
51 素線供給部
52 導体加工部
53 検査部
54 絶縁皮膜形成部
55 検査電極
56 巻取り部
58 キャパシタンスモニタ
60 第3主電極
60a,60b,60c,60d 電極ユニット
62a 第4ガード電極
62b 第5ガード電極
70 第4主電極
71 第5主電極
72a 第6ガード電極
72b 第7ガード電極
72c 第8ガード電極
80 第6主電極
82a 第9ガード電極
82b 第10ガード電極
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Insulated electric wire 2 Capacitance sensor 10 Conductor 11 Swelling 15 Hole 20 Insulating film 21 Low-porosity part 22 Thin part 23 Scratch 24 Hole 40 1st main electrode 40a, 40b, 40c, 40d Electrode unit 41 2nd main electrode 41a, 41b , 41c, 41d Electrode unit 42a First guard electrode 42b Second guard electrode 42c Third guard electrode 44 Housing 50 Conductive wire preparation portion 51 Wire supply portion 52 Conductor processing portion 53 Inspection portion 54 Insulating film formation portion 55 Inspection electrode 56 Winding Taking part 58 Capacitance monitor 60 Third main electrodes 60a, 60b, 60c, 60d Electrode unit 62a Fourth guard electrode 62b Fifth guard electrode 70 Fourth main electrode 71 Fifth main electrode 72a Sixth guard electrode 72b Seventh guard electrode 72c The eighth guard electrode 80 The sixth main electrode 82a The ninth guard electrode 82b The tenth guard electrode

Claims (6)

線状の形状を有する導体を準備する工程と、
前記導体の外周側の面を覆うように、絶縁体からなり、内部に空孔を含む絶縁皮膜を形成することにより、前記導体と、前記導体を被覆する前記絶縁皮膜とを有する絶縁電線を得る工程と、
前記絶縁電線の外周面に対向するように前記絶縁電線の径方向外側に配置される第1の電極と、前記絶縁電線との間の第1の静電容量を検出し、前記第1の静電容量と前記絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて前記絶縁皮膜の形成状態を検査する工程と、を含み、
前記第1の電極は、前記導体の長手方向に垂直な断面において導体の周方向に互いに離間するように分割された形状を有し、前記導体の長手方向に沿って延在する複数のユニットを含む、絶縁電線の製造方法。
Preparing a conductor having a linear shape;
An insulated wire comprising the conductor and the insulating film covering the conductor is obtained by forming an insulating film made of an insulator and including pores inside so as to cover the outer peripheral surface of the conductor. Process,
A first capacitance between the first electrode disposed radially outside the insulated wire and the insulated wire so as to face the outer peripheral surface of the insulated wire is detected, and the first static electricity is detected. Inspecting the formation state of the insulating film based on the relationship between the electric capacity and the porosity of the insulating film,
The first electrode has a shape divided so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor, and includes a plurality of units extending along the longitudinal direction of the conductor. A method for manufacturing an insulated wire.
前記絶縁皮膜はポリイミドを含む、請求項1に記載の絶縁電線の製造方法。   The method for manufacturing an insulated wire according to claim 1, wherein the insulating film includes polyimide. 前記絶縁皮膜の形成状態を検査する工程は、オンラインで行われる、請求項1又は請求項2に記載の絶縁電線の製造方法。   The method for manufacturing an insulated wire according to claim 1, wherein the step of inspecting the formation state of the insulating film is performed online. 前記絶縁電線の外周面に対向するように前記絶縁電線の径方向外側に配置された第2の電極と、前記絶縁電線との間の第2の静電容量を検出し、前記第1の静電容量および前記第2の静電容量と、前記絶縁皮膜の気孔率との関係に基づいて前記絶縁皮膜の形成状態を検査する工程をさらに含む、請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の絶縁電線の製造方法。   A second capacitance between the second electrode disposed radially outside the insulated wire so as to face the outer peripheral surface of the insulated wire and the insulated wire is detected, and the first static electricity is detected. 4. The method according to claim 1, further comprising a step of inspecting a formation state of the insulating film based on a relationship between a capacitance, the second capacitance, and a porosity of the insulating film. The manufacturing method of the insulated wire of description. 前記第2の電極の、前記導体の長手方向に沿った長さが前記第1の電極とは異なる、請求項4に記載の絶縁電線の製造方法。   The method for manufacturing an insulated wire according to claim 4, wherein a length of the second electrode along a longitudinal direction of the conductor is different from that of the first electrode. 前記第2の電極は、前記導体の長手方向に垂直な断面において導体の周方向に互いに離間するように分割された形状を有し、前記導体の長手方向に沿って延在する複数のユニットを含む、請求項4又は請求項5に記載の絶縁電線の製造方法。
The second electrode has a shape divided so as to be separated from each other in the circumferential direction of the conductor in a cross section perpendicular to the longitudinal direction of the conductor, and includes a plurality of units extending along the longitudinal direction of the conductor. The manufacturing method of the insulated wire of Claim 4 or Claim 5 containing.
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