JP2018169235A - 光パルス試験装置及び光パルス試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
複数の光ファイバ(31,32,33,34)がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第1の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる1の被測定光ファイバにおける、前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部(11)と、
前記測定部の測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出部(23)と、
距離の等しい隣接する区間を検出し、当該区間の前の区間と当該区間の後の区間との距離が等しい場合、当該隣接する区間の境界位置を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出部(25)と、
を備える。
前記波形反転部は、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの近端での光強度に一致し、前記偶数番目の光ファイバの前記近端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度に一致するように、前記第1の反転波形をさらに反転させ、第2の反転波形を生成してもよい。
また、前記表示部に表示されている波形の少なくとも一部を、光強度軸において平行移動させる波形移動部(22)をさらに備えていてもよい。
測定部(11)が、複数の光ファイバ(31,32,33,34)がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第1の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる1の被測定光ファイバにおける、前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定手順と、
反射検出部(23)が、前記測定部の測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出手順と、
折り返し点検出部(25)が、距離の等しい隣接する区間を検出し、当該区間の前の区間と当該区間の後の区間との距離が等しい場合、当該隣接する区間の境界位置を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出手順と、
を実行する。
図1は、本開示に係る光パルス試験方法の適用例を示す。鉄塔42の上のアンテナ41があり、アンテナ41まで多心の光ファイバケーブルである光ファイバケーブル3が敷設されている。この場合、複数のうちの2本を送信と受信で用いるケースが多い。本開示の光パルス試験方法は、端部36にて2本の光ファイバをパッチコードで接続した光ファイバケーブル3を被測定光ファイバとし、光ファイバケーブル3に備わる1本の光ファイバの端部35に光パルス試験装置10を接続して、光ファイバケーブル3の光パルス試験を行う。
図7に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置10は、信号処理部12が波形移動部22をさらに備える。また、本実施形態に係る光パルス試験方法は、波形反転手順の後に波形移動手順をさらに備える。
図9は、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。光パルス試験装置10は、測定部11と、信号処理部12と、表示部13と、を備える。信号処理部12は、反射検出部23と、アイコン反転部24と、を備える。
図15に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置10は、実施形態1で説明した信号処理部12が反射検出部23及び折り返し点検出部25をさらに備える。また、本実施形態に係る光パルス試験方法は、実施形態1及び2の測定手順と波形反転手順との間に、反射検出手順と、折り返し点検出手順とをさらに備える。
11:測定部
12:信号処理部
13:表示部
21:波形反転部
22:波形移動部
23:反射検出部
24:アイコン反転部
25:折り返し点検出部
3:光ファイバケーブル
31−1、31−2、31−3、32−1、32−2、32−3、33、34:光ファイバ
35、36:端部
41:アンテナ
42:鉄塔
5、5−1、5−2、5−3:光ファイバパッチコード
Claims (6)
- 複数の光ファイバ(31,32,33,34)がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第1の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる1の被測定光ファイバにおける、前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定部(11)と、
前記測定部の測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出部(23)と、
距離の等しい隣接する区間を検出し、当該区間の前の区間と当該区間の後の区間との距離が等しい場合、当該隣接する区間の境界位置を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出部(25)と、
を備える光パルス試験装置(10)。 - 前記測定部が測定した測定波形のうち、前記折り返し点検出部の検出した奇数番目の折り返し点を始点とする偶数番目の光ファイバの測定波形について、前記遠端に位置する始点と前記近端に位置する終点とを相互に反転させ、第1の反転波形を生成する波形反転部(21)と、
前記波形反転部の生成した波形を表示する表示部(13)と、
をさらに備える請求項1に記載の光パルス試験装置。 - 前記波形反転部は、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの近端での光強度に一致し、前記偶数番目の光ファイバの前記近端での光強度が前記偶数番目の光ファイバの前記遠端での光強度に一致するように、前記第1の反転波形をさらに反転させ、第2の反転波形を生成する、
請求項2に記載の光パルス試験装置。 - 前記表示部に表示されている波形の少なくとも一部を、光強度軸において平行移動させる波形移動部(22)をさらに備える、
請求項3に記載の光パルス試験装置。 - 前記折り返し点検出部の検出した奇数番目の折り返し点を始点とする偶数番目の光ファイバの前記遠端及び前記近端を特定し、前記偶数番目の光ファイバの前記遠端から前記近端までの光損失地点の配列を、前記偶数番目の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点の配列に反転させるアイコン反転部(24)と、
前記複数の光ファイバの前記近端での光損失地点を一方に、前記複数の光ファイバの前記遠端での光損失地点を他方にして、前記複数の光ファイバの前記近端から前記遠端までの光損失地点が配列されたアイコンを表示する表示部(13)と、
をさらに備える請求項1に記載の光パルス試験装置。 - 測定部(11)が、複数の光ファイバ(31,32,33,34)がそれぞれ近端と遠端とを持って並んで敷設され、前記複数の光ファイバのうちの第1の光ファイバの前記近端を除く各光ファイバの前記近端同士又は前記遠端同士が接続されてなる1の被測定光ファイバにおける、前記第1の光ファイバの前記近端を光パルスの入射端に用い、前記被測定光ファイバにおける後方散乱光を測定する測定手順と、
反射検出部(23)が、前記測定部の測定した測定波形から光損失地点を検出する反射検出手順と、
折り返し点検出部(25)が、距離の等しい隣接する区間を検出し、当該区間の前の区間と当該区間の後の区間との距離が等しい場合、当該隣接する区間の境界位置を前記複数の光ファイバの折り返し点であると判定する折り返し点検出手順と、
を実行する光パルス試験方法。
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2017
- 2017-03-29 JP JP2017065514A patent/JP6752746B2/ja active Active
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吉田 寛美ら: "「高性能・多機能な小型OTDRの開発」", 横河技報, vol. 55, no. 1, JPN6020027831, 30 September 2012 (2012-09-30), pages 19 - 22, ISSN: 0004317326 * |
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