JP2018163109A - Sample holder for cross-sectional sample preparation device - Google Patents

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巌 木谷
Iwao Kitani
巌 木谷
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Jujo Paper Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sample holder used with a cross-sectional sample preparation device, which allows for easily preparing an oblique section, preparing highly reproducible samples, and performing highly accurate inspection.SOLUTION: A sample holder 1 used with a cross-sectional sample preparation device comprises a cuboid-shaped base material 2 having one surface configured to act as a sample holding surface 3 for holding a sample S, where the sample holding surface 3 of the base material 2 is sloped. This obliquely positions the sample S with respect to a horizontally moving cutting blade 9, which allows the sample S to be obliquely sliced off by moving the cutting blade 9 in such an arrangement, making an oblique section 27 on the sample S.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は、電子顕微鏡等の検査に使用する試料を保持する断面試料作製装置に用いる試料ホルダーに関するものである。   The present invention relates to a sample holder used in a cross-sectional sample preparation apparatus that holds a sample used for inspection of an electron microscope or the like.

透過型電子顕微鏡(TEM)や走査型電子顕微鏡(SEM)等により断面観察を行う場合には、例えば、ミクロトームやウルトラミクロトーム等の断面試料作製装置を用いてサンプルとなる試料を切り出す必要がある。
そのような断面試料作製装置としては、試料を保持する試料ホルダーを有する試料保持手段と、試料保持手段の高さや傾斜を調整する位置調整手段と、試料を切断する切刃を水平方向に移動させる切断手段とを備えたものが知られている(例えば、特許文献1参照。)
When performing cross-sectional observation with a transmission electron microscope (TEM), a scanning electron microscope (SEM), or the like, it is necessary to cut out a sample sample using a cross-sectional sample preparation device such as a microtome or an ultramicrotome.
As such a cross-section sample preparation device, a sample holding means having a sample holder for holding a sample, a position adjusting means for adjusting the height and inclination of the sample holding means, and a cutting blade for cutting the sample are moved in the horizontal direction. What is provided with the cutting | disconnection means is known (for example, refer patent document 1).

従来より、電子顕微鏡等の断面観察において詳細な層分析を行う場合には、上記のような断面試料作製装置を用いて試料を斜めに削り取り、削り取った斜め断面部分(斜断面)を観察する方法が行われている。
上記のような断面試料作製装置は、切刃が水平方向に移動するため、このような断面試料作製装置を使って試料に斜断面を作製する場合は、位置調整手段で試料保持手段の試料ホルダーを傾斜させ、斜めになった試料に対して切刃を移動させて、試料を斜めに削り取り斜断面を作製していた。
Conventionally, when performing detailed layer analysis in cross-sectional observation of an electron microscope or the like, a method of observing a shaved cross-sectional portion (oblique cross-section) by shaving a sample obliquely using the cross-sectional sample preparation apparatus as described above Has been done.
In the cross-section sample preparation apparatus as described above, the cutting blade moves in the horizontal direction. Therefore, when using such a cross-section sample preparation apparatus to prepare an oblique cross section in the sample, the position adjustment means uses the sample holder of the sample holding means Was tilted, the cutting blade was moved with respect to the slanted sample, and the sample was cut off obliquely to produce a slanted cross section.

特開2003−130767号公報JP 2003-130767 A

しかしながら、上記のような断面試料作製装置は、通常試料保持手段を水平にして使用するため、斜断面を作製するため試料保持手段を傾斜させた場合には、傾斜させた試料保持手段を水平位置に戻す必要があり、その作業が面倒であるといった問題があった。
また、傾斜角度の調整は、作業者の手動によるハンドル操作によって行うため、角度の微調整が難しく、再度同じ角度の斜断面を作製することが困難であるといった問題があった。
本発明の目的は、容易に斜断面を作製することができ、再現性の高い試料の作製および精度の高い検査を行うことができる断面試料作製装置に用いる試料ホルダーを提供することにある。
However, since the cross-section sample preparation apparatus as described above normally uses the sample holding means in a horizontal position, when the sample holding means is inclined to produce an oblique cross section, the inclined sample holding means is placed in the horizontal position. There was a problem that the work was troublesome.
In addition, since the adjustment of the inclination angle is performed by a manual handle operation by the operator, it is difficult to finely adjust the angle, and it is difficult to produce an oblique section having the same angle again.
An object of the present invention is to provide a sample holder that can be used for a cross-section sample preparation apparatus that can easily produce an oblique cross-section and can perform high-reproducibility sample preparation and high-precision inspection.

上記の目的を達成するために、請求項1に記載の発明は、直方体形状の基体からなり、前記基体の一の面が試料を保持する試料保持面となった断面試料作製装置に用いる試料ホルダーであって、前記基体は、前記試料保持面が傾斜状となっていることを特徴とする。   In order to achieve the above-mentioned object, the invention according to claim 1 is a sample holder used in a cross-section sample preparation apparatus comprising a rectangular parallelepiped base and one surface of the base being a sample holding surface for holding a sample. And the said base | substrate has the said sample holding surface inclined, It is characterized by the above-mentioned.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の、前記基体は、直方体形状の複数のブロックで構成されており、前記基体を構成する複数のブロックは、前記基体の試料保持面が所定の傾斜角度となるように、用意された複数のブロックから適宜選択されたものであることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, the base body according to the first aspect is configured by a plurality of rectangular parallelepiped blocks, and the plurality of blocks constituting the base body have a predetermined sample holding surface of the base body. It is characterized by being appropriately selected from a plurality of prepared blocks so as to have an inclination angle of.

請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の、前記基体を構成する複数のブロックに、ズレ防止手段を設けたことを特徴とする。   The invention described in claim 3 is characterized in that a shift prevention means is provided in the plurality of blocks constituting the base body described in claim 2.

請求項1に記載の試料ホルダーによれば、基体の試料保持面が傾斜状となっているので、試料保持手段が水平位置のとき、水平方向に移動する切刃に対して試料は斜めに配置される。この状態で切刃を移動させると、試料が斜めに削り取られ、試料に斜断面が作製される。したがって、従来のように位置調整手段を操作して試料保持手段を傾斜させることなく、容易に斜断面を作製することができる。
また、請求項1に記載の試料ホルダーによれば、例えば、試料保持面の傾斜角度が1°の試料ホルダーを用いれば、誰でも簡単に角度が1°の斜断面を作製することできる。このように、角度が小さい斜断面を作製する場合であっても、再現性の高い試料を作製でき、ひいては精度の高い検査を行うことができる。
According to the sample holder of claim 1, since the sample holding surface of the substrate is inclined, when the sample holding means is in the horizontal position, the sample is disposed obliquely with respect to the cutting blade that moves in the horizontal direction. Is done. When the cutting blade is moved in this state, the sample is cut off obliquely, and an oblique cross section is produced in the sample. Therefore, it is possible to easily produce an oblique cross section without operating the position adjusting means and inclining the sample holding means as in the prior art.
Further, according to the sample holder of the first aspect, for example, if a sample holder having a sample holding surface with an inclination angle of 1 ° is used, anyone can easily produce an oblique cross section with an angle of 1 °. As described above, even when an oblique section with a small angle is manufactured, a sample with high reproducibility can be manufactured, and as a result, a highly accurate inspection can be performed.

請求項2に記載の試料ホルダーによれば、基体は、直方体形状の複数のブロックで構成されており、基体を構成する複数のブロックは、基体の試料保持面が所定の傾斜角度となるように、用意された複数のブロックから適宜選択されたものであるため、例えば、一の面が傾斜面となっている傾斜ブロックと、対向する2面が水平面となっている水平ブロックを用意し、これらを適宜組み合わせることにより、試料保持面の傾斜角度を容易に調整することでき、所望の角度の斜断面を容易に作製することができる。   According to the sample holder of the second aspect, the base body is composed of a plurality of rectangular parallelepiped blocks, and the plurality of blocks constituting the base body are arranged such that the sample holding surface of the base body has a predetermined inclination angle. Since the block is appropriately selected from a plurality of prepared blocks, for example, an inclined block having one inclined surface and a horizontal block having two horizontal surfaces facing each other are prepared. As appropriate, the inclination angle of the sample holding surface can be easily adjusted, and an oblique cross section having a desired angle can be easily produced.

請求項3に記載の試料ホルダーによれば、基体を構成する複数のブロックに、ズレ防止手段が設けられているので、少しの振動で画像がぶれてしまう電子顕微鏡での断面観察でも、画像がぶれることなく、正確に検査を行うことができる。   According to the sample holder of the third aspect, since the displacement prevention means is provided in the plurality of blocks constituting the substrate, the image is not observed even in cross-sectional observation with an electron microscope in which the image is blurred by slight vibration. The inspection can be performed accurately without blurring.

本発明に係る断面試料作製装置に用いる試料ホルダーの第1例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the 1st example of the sample holder used for the cross-section sample preparation apparatus which concerns on this invention. 図1に示す試料ホルダーの説明図である。It is explanatory drawing of the sample holder shown in FIG. 断面試料作製装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a cross-section sample preparation apparatus. 図1に示す試料ホルダーを固定クランプに固定させた状態を示す説明図であるIt is explanatory drawing which shows the state which fixed the sample holder shown in FIG. 1 to a fixed clamp. 斜断面を作製する工程を示す工程図である。It is process drawing which shows the process of producing an oblique cross section. 斜断面を作製する工程を示す拡大工程図である。It is an expansion process figure which shows the process of producing an oblique cross section. 本発明に係る断面試料作製装置に用いる試料ホルダーの第2例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the 2nd example of the sample holder used for the cross-section sample preparation apparatus which concerns on this invention. ブロックを組み合わせた状態を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the state which combined the block. ズレ防止手段が設けられたブロックの分解図である。It is an exploded view of the block provided with the slip prevention means.

以下、本発明に係る断面試料作製装置に用いる試料ホルダーの実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。
図1乃至図6は本発明に係る断面試料作製装置に用いる試料ホルダーの実施の形態の第1例を示すものであり、図1は第1例の試料ホルダーを示す斜視図、図2は図1に示す試料ホルダーの説明図、図3は断面試料作製装置を示す斜視図、図4は図1に示す試料ホルダーを固定クランプに固定させた状態を示す説明図、図5は斜断面を作製する工程を示す工程図、図6は斜断面を作製する工程を示す拡大工程図である。
Hereinafter, embodiments of a sample holder used in a cross-sectional sample preparation apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
1 to 6 show a first example of the embodiment of the sample holder used in the cross-sectional sample preparation apparatus according to the present invention. FIG. 1 is a perspective view showing the sample holder of the first example, and FIG. FIG. 3 is a perspective view showing a cross-section sample preparation device, FIG. 4 is an explanatory view showing a state in which the sample holder shown in FIG. 1 is fixed to a fixed clamp, and FIG. FIG. 6 is an enlarged process diagram showing a process for producing an oblique section.

本例の試料ホルダー1は、直方体形状の基体2からなる。基体2は、導電性を有する素材で形成されており、例えば、真鍮、銅材、アルミニウム素材等の高い導電性を有する素材で形成するのが好ましい。   The sample holder 1 of this example includes a rectangular parallelepiped base 2. The base body 2 is formed of a material having conductivity, and is preferably formed of a material having high conductivity such as brass, copper material, aluminum material, or the like.

基体2は、一の面が試料Sを保持する試料保持面3となっている。本例では、試料Sと試料保持面3の間に樹脂フィルム4が設けられているが、試料Sは試料保持面3に直接保持させてもよい。樹脂フィルム4は、試料Sに斜断面を作製する際に、切刃が試料保持面3に当たらないよう設けられるものであり、適度に厚みのあるものが好ましい。樹脂フィルム4は、例えば、PETフィルムやPPフィルムが用いられる。   The base 2 is a sample holding surface 3 on which one surface holds the sample S. In this example, the resin film 4 is provided between the sample S and the sample holding surface 3, but the sample S may be held directly on the sample holding surface 3. The resin film 4 is provided so that the cutting edge does not come into contact with the sample holding surface 3 when an oblique cross section is formed on the sample S, and a resin film having an appropriate thickness is preferable. As the resin film 4, for example, a PET film or a PP film is used.

本発明では、基体2の試料保持面3が傾斜状に形成されている。傾斜状の試料保持面3は、頂部5から底部6にかけて平坦な傾斜面となっており、試料保持面3と対向する面は水平面となっている。また、傾斜状の試料保持面3の傾斜方向に対して左右の面は同形に形成されている。   In the present invention, the sample holding surface 3 of the substrate 2 is formed in an inclined shape. The inclined sample holding surface 3 is a flat inclined surface from the top 5 to the bottom 6, and the surface facing the sample holding surface 3 is a horizontal plane. Further, the left and right surfaces with respect to the inclination direction of the inclined sample holding surface 3 are formed in the same shape.

試料保持面3の傾斜角度(試料保持面3の頂部5を通る水平線Lと、試料保持面3とのなす角度)θは、試料Sに作製する斜断面の角度に応じて適宜設定される。即ち、試料Sに角度が1°の斜断面を作製する場合には、試料保持面3の傾斜角度θが1°の試料ホルダー1が用いられる。   The inclination angle of the sample holding surface 3 (the angle formed between the horizontal line L passing through the top 5 of the sample holding surface 3 and the sample holding surface 3) θ is appropriately set according to the angle of the oblique cross section to be produced on the sample S. That is, when an oblique cross section having an angle of 1 ° is formed on the sample S, the sample holder 1 having an inclination angle θ of the sample holding surface 3 of 1 ° is used.

図3は試料ホルダーが用いられる断面試料作製装置の斜視図である。
図3に示す断面試料作製装置は、いわゆる滑走式ミクロトームと称されるものであり、試料ホルダー1を有する試料保持手段7と、試料保持手段7の高さや傾斜を調整する位置調整手段8と、切刃9を移動可能に支持する切断手段10とを備えている。
FIG. 3 is a perspective view of a cross-sectional sample preparation apparatus in which a sample holder is used.
The cross-sectional sample preparation apparatus shown in FIG. 3 is a so-called sliding microtome, and includes a sample holding means 7 having a sample holder 1, a position adjusting means 8 for adjusting the height and inclination of the sample holding means 7, A cutting means 10 that movably supports the cutting blade 9 is provided.

試料保持手段7は、試料ホルダー1を挟持して固定する固定クランプ11と、固定クランプ11が取り付けられるステージ12とで構成されている。
固定クランプ11は、試料ホルダー1を載せる基台13と、試料ホルダー固定用の固定腕14及び可動腕15と、可動腕開閉用レバー16とで構成されており、可動腕開閉用レバー16を操作して可動腕15を開き、固定腕14と可動腕15との間の基台13上に試料ホルダー1を載せ、可動腕開閉用レバー16を操作して可動腕15を閉じて、固定腕14と可動腕15との間で試料ホルダー1を挟持して固定するようになっている。
ステージ12は、周囲に壁部17が形成された皿状となっており、壁部17で囲まれたステージ内に固定クランプ11が取り付けられる。
The sample holding means 7 includes a fixed clamp 11 that clamps and fixes the sample holder 1 and a stage 12 to which the fixed clamp 11 is attached.
The fixed clamp 11 includes a base 13 on which the sample holder 1 is placed, a fixed arm 14 and a movable arm 15 for fixing the sample holder, and a movable arm opening / closing lever 16, and the movable arm opening / closing lever 16 is operated. Then, the movable arm 15 is opened, the sample holder 1 is placed on the base 13 between the fixed arm 14 and the movable arm 15, the movable arm opening / closing lever 16 is operated to close the movable arm 15, and the fixed arm 14 The sample holder 1 is sandwiched and fixed between the movable arm 15 and the movable arm 15.
The stage 12 has a dish shape with a wall portion 17 formed around it, and the fixed clamp 11 is attached to the stage surrounded by the wall portion 17.

位置調整手段8は、昇降機構18と、昇降調節ハンドル19とを備えている。昇降機構18は、仲介台20を介してステージ12に固定されており、昇降調節ハンドル19を操作することにより、昇降機構18とともにステージ12が上下方向に移動するようになっている。   The position adjusting means 8 includes an elevating mechanism 18 and an elevating adjustment handle 19. The elevating mechanism 18 is fixed to the stage 12 via the intermediary table 20, and the stage 12 moves up and down together with the elevating mechanism 18 by operating the elevating adjustment handle 19.

切断手段10は、試料Sを切断・切削する切刃9と、切刃9を支持固定する切刃保持部21と、切刃を水平方向に移動させるレール22とを備えており、切刃保持部21に支持固定された切刃9が、レール22に沿って水平方向に移動するように構成されている。   The cutting means 10 includes a cutting blade 9 for cutting and cutting the sample S, a cutting blade holding portion 21 for supporting and fixing the cutting blade 9, and a rail 22 for moving the cutting blade in the horizontal direction. The cutting edge 9 supported and fixed to the portion 21 is configured to move in the horizontal direction along the rail 22.

次に、このような試料ホルダーを取り付けた断面試料作製装置を用いて試料に斜断面を作製する方法について説明する。
まず、試料保持面3が所望の傾斜角度の試料ホルダー1を用意し(図5A)、試料Sよりも大きくカットした樹脂フィルム4を基体2の試料保持面3に両面テープ等で貼り付ける(図5B)。このとき、樹脂フィルム4は、端部を試料保持面3の頂部5に合わせて貼り付ける。樹脂フィルム4の厚みにもよるが、樹脂フィルム4が薄い場合には、複数枚の樹脂フィルム4を重ね合わせて樹脂フィルム全体の厚みを1mm程度にするのが好ましい。
そして、樹脂フィルム4の上に試料S(紙片)を両面テープ等で貼り付ける(図5C)。このとき、試料Sも樹脂フィルム4と同様に、端部を試料保持面3の頂部5に合わせて貼り付ける。
Next, a method for producing an oblique cross section in a sample using the cross-section sample preparation apparatus to which such a sample holder is attached will be described.
First, a sample holder 1 having a sample holding surface 3 having a desired inclination angle is prepared (FIG. 5A), and a resin film 4 cut larger than the sample S is attached to the sample holding surface 3 of the substrate 2 with a double-sided tape or the like (FIG. 5). 5B). At this time, the resin film 4 is pasted with its end aligned with the top 5 of the sample holding surface 3. Although depending on the thickness of the resin film 4, when the resin film 4 is thin, it is preferable to overlap a plurality of resin films 4 so that the thickness of the entire resin film is about 1 mm.
And the sample S (paper piece) is affixed on the resin film 4 with a double-sided tape etc. (FIG. 5C). At this time, similarly to the resin film 4, the sample S is attached with its end portion aligned with the top portion 5 of the sample holding surface 3.

このようにして試料Sを保持させた試料ホルダー1を、切刃9が試料保持面3の底部6から頂部5を通過するように固定クランプ11の基台13上に載せ、固定腕14と可動腕15で挟持して固定クランプ11に固定させる。そして、試料ホルダー1を固定させた固定クランプ11を、水平位置にセットされたステージ12に取り付け、昇降調節ハンドル19を操作して、ステージ12を上方向に移動させ、試料Sを所定の高さに位置決めする(図3、図4)。そして、切刃保持部21を水平方向に沿って移動させて、切刃9により試料Sの上面を斜めに削り取り、図6に示すように、試料Sに斜断面23を作製する(図5D)。   The sample holder 1 holding the sample S in this way is placed on the base 13 of the fixed clamp 11 so that the cutting edge 9 passes from the bottom 6 to the top 5 of the sample holding surface 3, and is movable with the fixed arm 14. It is clamped by the arm 15 and fixed to the fixed clamp 11. Then, the fixed clamp 11 with the sample holder 1 fixed is attached to the stage 12 set in the horizontal position, the lift adjustment handle 19 is operated, the stage 12 is moved upward, and the sample S is moved to a predetermined height. (FIGS. 3 and 4). And the cutting blade holding | maintenance part 21 is moved along a horizontal direction, and the upper surface of the sample S is cut off diagonally with the cutting blade 9, and as shown in FIG. 6, the oblique cross section 23 is produced in the sample S (FIG. 5D). .

このような第1例の試料ホルダー1によれば、基体2の試料保持面3が傾斜状となっているので、ステージ12が水平位置のとき、試料Sは切刃9の移動方向に対して斜めに配置される。そして、この状態で切刃9を移動させると、試料Sが斜めに削り取られ、容易に斜断面23を作製することができる。   According to the sample holder 1 of the first example as described above, the sample holding surface 3 of the base 2 is inclined, so that when the stage 12 is in the horizontal position, the sample S is in the moving direction of the cutting edge 9. It is arranged diagonally. When the cutting blade 9 is moved in this state, the sample S is cut off obliquely, and the oblique section 23 can be easily produced.

また、本例によれば、例えば、試料保持面3の傾斜角度θが1°の試料ホルダー1を用いれば、誰でも簡単に角度が1°の斜断面23を作製することできる。このように、角度が小さい斜断面23を作製する場合であっても、再現性の高い試料Sを作製でき、ひいては精度の高い検査を行うことができる。特に、紙のように厚さが薄い試料の場合でも、試料保持面の傾斜角度を小さくすることによって、角度が大きい場合と比較して、断面の長さが長くなり、広い範囲の断面を観察することができるため、精度の高い検査を行うことが可能となる。   In addition, according to this example, for example, if the sample holder 1 having the inclination angle θ of the sample holding surface 3 of 1 ° is used, anyone can easily produce the oblique section 23 having an angle of 1 °. As described above, even when the oblique section 23 having a small angle is produced, the sample S with high reproducibility can be produced, and as a result, a highly accurate inspection can be performed. In particular, even in the case of a thin sample such as paper, by reducing the inclination angle of the sample holding surface, the length of the cross section becomes longer than when the angle is large, and a wide range of cross sections are observed. Therefore, a highly accurate inspection can be performed.

さらに、本例の試料ホルダー1は、基体2が導電性を有する素材で形成されているので、試料Sが保持された試料ホルダー1をそのまま電子顕微鏡にセットして断面観察をすることができる。   Further, in the sample holder 1 of this example, since the base 2 is formed of a conductive material, the sample holder 1 holding the sample S can be set on an electron microscope as it is to observe a cross section.

図7乃至図9は本発明に係る試料ホルダーの第2例を示したもので、図7は第2例の試料ホルダーを示す斜視図、図8はブロックを組み合わせた状態を示す説明図、図9はズレ防止手段が設けられたブロックの分解図である。第1例と同じ部分には同一の符号を付し、その説明を省略する。   7 to 9 show a second example of the sample holder according to the present invention, FIG. 7 is a perspective view showing the sample holder of the second example, and FIG. 8 is an explanatory view showing a state in which the blocks are combined. 9 is an exploded view of a block provided with a shift prevention means. The same parts as those in the first example are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

本例の試料ホルダー24は、基体25が直方体形状の複数のブロック26で構成されている。
基体25を構成する複数のブロック26は、傾斜状に形成された傾斜面27を有する傾斜ブロック28と、対向する2面に水平面29を有する水平ブロック30が用意され、これらのうちから、基体25の試料保持面3が所定の傾斜角度となるように適宜選択されたものである。
In the sample holder 24 of this example, the base body 25 is composed of a plurality of blocks 26 having a rectangular parallelepiped shape.
The plurality of blocks 26 constituting the base body 25 are provided with an inclined block 28 having an inclined surface 27 formed in an inclined shape, and a horizontal block 30 having a horizontal surface 29 on two opposing surfaces. The sample holding surface 3 is appropriately selected so as to have a predetermined inclination angle.

即ち、基体25は、予め用意された複数のブロック26(傾斜ブロック28と水平ブロック30)から、基体25の試料保持面3が所定の傾斜角度となるように適宜選択された複数のブロック26で構成されている。複数のブロック26は、ネジ(図示せず)で互いに結合し、固定されている。また、ブロック26は、導電性を有する素材で形成されており、例えば、真鍮、銅材、アルミニウム素材等の高い導電性を有する素材で形成するのが好ましい。   That is, the base 25 is a plurality of blocks 26 appropriately selected from a plurality of blocks 26 (inclined blocks 28 and horizontal blocks 30) prepared in advance so that the sample holding surface 3 of the base 25 has a predetermined inclination angle. It is configured. The plurality of blocks 26 are coupled to each other by screws (not shown) and fixed. Further, the block 26 is formed of a material having conductivity, and is preferably formed of a material having high conductivity such as, for example, brass, copper material, or aluminum material.

傾斜ブロック28は、傾斜面27と対向する面が水平面となっており、傾斜面27の傾斜方向に対して左右の面が同形に形成されている。また、水平ブロック30は、少なくとも対向する2面に水平面29を有すれば特に形状は限定されないが、本例では、それぞれ対向する面が同形に形成された完全な直方体形状となっている。   In the inclined block 28, the surface facing the inclined surface 27 is a horizontal surface, and the left and right surfaces are formed in the same shape with respect to the inclination direction of the inclined surface 27. Further, the shape of the horizontal block 30 is not particularly limited as long as it has horizontal surfaces 29 on at least two opposing surfaces. However, in this example, the horizontal blocks 30 have a complete rectangular parallelepiped shape in which the opposing surfaces are formed in the same shape.

本例では、ブロック26として、傾斜面27の角度がそれぞれ異なる複数の傾斜ブロック28、例えば、傾斜面27の角度が0.5°、1.0°、2.0°.3.0°となった傾斜ブロック28と、水平ブロック30を用意する。   In this example, as the block 26, a plurality of inclined blocks 28 having different angles of the inclined surface 27, for example, the angles of the inclined surface 27 are 0.5 °, 1.0 °, 2.0 °, and 3.0 °. An inclined block 28 and a horizontal block 30 are prepared.

図8(A)に示すように、基体25の試料保持面3の傾斜角度θを0.5°とする場合には、傾斜面27の角度が0.5°の傾斜ブロック28と、水平ブロック30を、傾斜面27および水平面29が上面となるように積み重ねて形成する。   As shown in FIG. 8A, when the inclination angle θ of the sample holding surface 3 of the substrate 25 is set to 0.5 °, the inclined block 28 in which the angle of the inclined surface 27 is 0.5 °, and the horizontal block 30 are stacked and formed such that the inclined surface 27 and the horizontal surface 29 become the upper surface.

また、図8(B)に示すように、基体25の試料保持面3の傾斜角θを1.5°とする場合には、傾斜面27の角度が1.0°の傾斜ブロック28と、傾斜面27の角度が0.5°の傾斜ブロック28を、それぞれの傾斜面27が上面となるように積み重ねて形成する。   As shown in FIG. 8B, when the inclination angle θ of the sample holding surface 3 of the substrate 25 is set to 1.5 °, an inclined block 28 having an inclined surface 27 having an angle of 1.0 °; The inclined blocks 28 with the inclined surfaces 27 having an angle of 0.5 ° are stacked and formed such that the inclined surfaces 27 are the upper surfaces.

さらに、図8(C)に示すように、基体25の試料保持面3の傾斜角θを5.0°とする場合には、傾斜面27の角度が2.0°の傾斜ブロック28と、傾斜面27の角度が3.0°の傾斜ブロック28を、それぞれの傾斜面27が上面となるように積み重ねて形成する。   Further, as shown in FIG. 8C, when the inclination angle θ of the sample holding surface 3 of the substrate 25 is set to 5.0 °, an inclined block 28 in which the angle of the inclined surface 27 is 2.0 °; The inclined blocks 28 having the inclined surfaces 27 having an angle of 3.0 ° are stacked and formed such that the inclined surfaces 27 are the upper surfaces.

他の構成は第1例と同様なので、第1例の説明を援用する。また、第2例の試料ホルダー24を使用した斜断面23の作製は第1例と同様なので、第1例の説明を援用する。   Since the other configuration is the same as that of the first example, the description of the first example is cited. The production of the oblique section 23 using the sample holder 24 of the second example is the same as that of the first example, so the description of the first example is cited.

このような第2例によれば、図8(A)〜(C)に示すように、予め用意された傾斜ブロック28と水平ブロック30を適宜組み合わせることにより、試料保持面3の傾斜角度θを容易に調整することでき、所望の角度の斜断面23を容易に作製することができる。   According to such a second example, as shown in FIGS. 8A to 8C, the inclination angle θ of the sample holding surface 3 can be set by appropriately combining the inclination block 28 and the horizontal block 30 prepared in advance. It can be adjusted easily, and the oblique section 23 having a desired angle can be easily produced.

また、図9に示すように、基体25を構成する複数のブロック26に、ズレ防止手段31を設けてもよい。ズレ防止手段31は、積み重ねられた一方のブロック26に凸部32が設けられ、他方のブロック26に凹部33が設けられ、凸部32と凹部33が嵌合することにより、積み重ねられたブロック26のズレが防止できるようになっている。本例では、ズレ防止手段31は、凸部32がレール状となっており、凹部33が溝状となっているが、ズレ防止手段31の形状は特に限定されない。電子顕微鏡による断面観察では、少しの振動でも画像がぶれてしまうが、基体25を構成する複数のブロック26にズレ防止手段31を設けることにより、試料Sが保持された試料ホルダー24をそのまま電子顕微鏡にセットした場合でも、画像がぶれることなく、正確に検査を行うことができる。   Further, as shown in FIG. 9, misalignment prevention means 31 may be provided in a plurality of blocks 26 constituting the base body 25. The misalignment prevention means 31 is configured such that one of the stacked blocks 26 is provided with a convex portion 32, the other block 26 is provided with a concave portion 33, and the convex portion 32 and the concave portion 33 are fitted to each other. It is possible to prevent the deviation. In this example, as for the slip prevention means 31, although the convex part 32 becomes rail shape and the recessed part 33 becomes groove shape, the shape of the slip prevention means 31 is not specifically limited. In the cross-sectional observation using the electron microscope, the image is blurred even with a slight vibration. Even when set to, the image can be accurately inspected without blurring.

1、24 試料ホルダー
2、25 基体
3 試料保持面
4 樹脂フィルム
5 頂部
6 底部
7 試料保持手段
8 位置調整手段
9 切刃
10 切断手段
11 固定クランプ
12 ステージ
13 基台
14 固定腕
15 可動腕
16 可動腕開閉用レバー
17 壁部
18 昇降機構
19 昇降調節ハンドル
20 仲介台
21 切刃保持部
22 レール
23 斜断面
26 ブロック
27 傾斜面
28 傾斜ブロック
29 水平面
30 水平ブロック
31 ズレ防止手段
32 凸部
33 凹部
S 試料
L 水平線
θ 傾斜角度
1, 24 Sample holder 2, 25 Base 3 Sample holding surface 4 Resin film 5 Top 6 Bottom 7 Sample holding means 8 Position adjusting means 9 Cutting edge 10 Cutting means 11 Fixed clamp 12 Stage 13 Base 14 Fixed arm 15 Movable arm 16 Movable Arm opening / closing lever 17 Wall portion 18 Elevating mechanism 19 Elevating adjustment handle 20 Intermediary base 21 Cutting blade holding portion 22 Rail 23 Oblique section 26 Block 27 Inclined surface 28 Inclined block 29 Horizontal surface 31 Displacement preventing means 32 Convex portion 33 Concavity S Sample L Horizontal line θ Inclination angle

Claims (3)

直方体形状の基体からなり、前記基体の一の面が試料を保持する試料保持面となった断面試料作製装置に用いる試料ホルダーであって、
前記基体は、前記試料保持面が傾斜状となっていることを特徴とする、断面試料作製装置に用いる試料ホルダー。
A sample holder for use in a cross-section sample preparation device comprising a rectangular parallelepiped base and one surface of the base serving as a sample holding surface for holding a sample,
A sample holder used in a cross-section sample preparation apparatus, wherein the substrate has an inclined sample holding surface.
前記基体は、直方体形状の複数のブロックで構成されており、前記基体を構成する複数のブロックは、前記基体の試料保持面が所定の傾斜角度となるように、用意された複数のブロックから適宜選択されたものであることを特徴とする、請求項1に記載の断面試料作製装置に用いる試料ホルダー。   The base body is composed of a plurality of rectangular parallelepiped blocks, and the plurality of blocks constituting the base body are appropriately selected from the plurality of prepared blocks so that the sample holding surface of the base body has a predetermined inclination angle. The sample holder used for the cross-section sample preparation device according to claim 1, wherein the sample holder is selected. 前記基体を構成する複数のブロックに、ズレ防止手段を設けたことを特徴とする、請求項2に記載の断面試料作製装置に用いる試料ホルダー。   The sample holder used in the cross-section sample preparation apparatus according to claim 2, wherein a misalignment prevention means is provided in a plurality of blocks constituting the substrate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN109946136A (en) * 2019-04-11 2019-06-28 中国人民解放军军事科学院国防工程研究院 A kind of inclined clay sample cut mold of depositional plane and its operating method
CN113960149A (en) * 2020-07-15 2022-01-21 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 Bearing device, equipment and method for FIB-SIMS interconnection experiment

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