JP2018119929A - 氷上の水の厚さの計測方法 - Google Patents
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 182
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 3
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 1
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- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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Abstract
Description
本発明の氷上の水の厚さの計測方法は、前記氷の一方の面に向けて、10THz以下の周波数を有するテラヘルツ波を照射し、該テラヘルツ波の透過波又は反射波を計測し、該計測結果から前記氷上の水の厚さを計測することを特徴とする。
本発明の氷上の水の厚さの計測方法によれば、簡易な手法により、氷上の水の厚さを計測することができる。
本明細書において、「氷上の水の厚さの計測」とは、水が存在しない場合に、水の厚さが0であることを計測結果として得ることも含み、また、厚さの値を得ることのみならず、厚さの相対関係を得ることも含み、さらに、氷上の水の有無自体を検知することも含む。
前記物体からの前記テラヘルツ波の反射波を計測し、該計測結果から前記氷と前記物体との間の前記水の厚さを計測することが好ましい。
この方法によれば、氷と物体との間に存在する水の厚さを計測することができる。
この方法によれば、氷とゴムとの間に存在する水の厚さを計測することができる。
この方法によれば、氷とタイヤ、ゴムブロック、ゴムシートのいずれかとの間に存在する水の厚さを計測することができる。
この方法によれば、さらに簡易に氷上の水の厚さを計測することができる。
この方法によれば、氷上の水の厚さの絶対値を算出することができる。
この方法によっても、さらに簡易に氷上の水の厚さを計測することができる。
この方法によれば、より精度良く氷上の水の厚さを計測することができる。
(式1)
(透明板の合計厚さ)=(計測に用いる氷の厚さ)×(氷の場合の透過率)/(透明板の場合の透過率)
4:氷、4a:氷の一方の面、4b:氷の他方の面、
5:水、6:反射波計測装置、7:タイヤ、8:ゴムブロック、
9a、9b:透明板、10:スペーサ、11:空気、
12:物体、13:サイプ付きブロック
Claims (9)
- 氷上の水の厚さの計測方法であって、
前記氷の一方の面に向けて、10THz以下の周波数を有するテラヘルツ波を照射し、該テラヘルツ波の透過波又は反射波を計測し、該計測結果から前記氷上の水の厚さを計測することを特徴とする、氷上の水の厚さの計測方法。 - 前記氷の他方の面側の外側から前記氷の一方の面に向けて前記テラヘルツ波を照射し、又は、前記氷の内部から前記一方の面に前記テラヘルツ波を照射して、
該テラヘルツ波の透過波又は反射波を計測し、該計測結果から前記氷の前記一方の面上の前記水の厚さを計測する、請求項1に記載の氷上の水の厚さの計測方法。 - 前記氷の前記一方の面上に物体を載せた状態で、前記氷の他方の面側の外側から前記氷の他方の面に向けて前記テラヘルツ波を照射し、又は、前記氷の内部から前記一方の面に前記テラヘルツ波を照射して、
前記物体からの前記テラヘルツ波の反射波を計測し、該計測結果から前記氷と前記物体との間の前記水の厚さを計測する、請求項2に記載の氷上の水の厚さの計測方法。 - 前記物体は、ゴムからなる、請求項3に記載の氷上の水の厚さの計測方法。
- 前記物体は、タイヤ、ゴムブロック、ゴムシートのいずれかである、請求項4に記載の氷上の水の厚さの計測方法。
- 前記氷の一方の面又は前記氷の他方の面に向けて、10THz以下の周波数を有するテラヘルツ波を照射し、該テラヘルツ波の反射波を計測し、該反射波の強度を計測し、該計測結果から前記氷上の前記水の厚さを計測する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の氷上の水の厚さの計測方法。
- 既知の厚さの水にテラヘルツ波を照射し、該テラヘルツ波の透過波又は反射波の強度を計測して、水の厚さと前記テラヘルツ波の透過波又は反射波の強度との関係を予め取得し、
前記予め取得した前記関係を用いて、前記氷上の水の厚さを計測する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の氷上の水の厚さの計測方法。 - 前記反射波の到達時間を計測し、前記テラヘルツ波の速度と計測した前記到達時間とにより、前記氷上の水の厚さを計測する、請求項1〜5のいずれか一項に記載の氷上の水の厚さの計測方法。
- 前記テラヘルツ波の周波数を変更して前記計測を行い、
前記計測結果は、異なる周波数の前記テラヘルツ波での計測結果からなる、請求項1〜8のいずれか一項に記載の氷上の水の厚さの計測方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017013671A JP6940953B2 (ja) | 2017-01-27 | 2017-01-27 | 氷上の水の厚さの計測方法 |
PCT/JP2018/001832 WO2018139413A1 (ja) | 2017-01-27 | 2018-01-22 | 氷上の水の厚さの計測方法 |
EP18744830.3A EP3575743B1 (en) | 2017-01-27 | 2018-01-22 | Method for measuring the thickness of water on ice |
CN201880008334.XA CN110226077B (zh) | 2017-01-27 | 2018-01-22 | 冰上的水的厚度的测量方法 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017013671A JP6940953B2 (ja) | 2017-01-27 | 2017-01-27 | 氷上の水の厚さの計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018119929A true JP2018119929A (ja) | 2018-08-02 |
JP6940953B2 JP6940953B2 (ja) | 2021-09-29 |
Family
ID=62978457
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017013671A Active JP6940953B2 (ja) | 2017-01-27 | 2017-01-27 | 氷上の水の厚さの計測方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10900893B2 (ja) |
EP (1) | EP3575743B1 (ja) |
JP (1) | JP6940953B2 (ja) |
CN (1) | CN110226077B (ja) |
WO (1) | WO2018139413A1 (ja) |
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- 2018-01-22 EP EP18744830.3A patent/EP3575743B1/en active Active
- 2018-01-22 CN CN201880008334.XA patent/CN110226077B/zh active Active
- 2018-01-22 WO PCT/JP2018/001832 patent/WO2018139413A1/ja unknown
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EP3575743A4 (en) | 2020-11-04 |
CN110226077B (zh) | 2021-10-26 |
WO2018139413A1 (ja) | 2018-08-02 |
US20190346365A1 (en) | 2019-11-14 |
US10900893B2 (en) | 2021-01-26 |
CN110226077A (zh) | 2019-09-10 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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