JP2018087974A - 有機発光表示装置及びその駆動方法 - Google Patents

Abstract

【課題】画素間の劣化状態差を補償する有機発光表示装置及びその駆動方法を提供する。
【解決手段】表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル、及び前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成し、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出し、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部２００を含む有機発光表示装置を提供する。かかる有機発光表示装置は、有機発光素子の周辺温度によって白色光の色温度が変動することを補償することができる。
【選択図】図３

Description

本発明は、有機発光表示装置及びその駆動方法に関し、特に、画素間の劣化状態差を補償する有機発光表示装置及びその駆動方法に関する。

平面表示装置（Ｆｌａｔ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｄｅｖｉｃｅ）はＴＶ、携帯電話、ノートパソコン及びタブレット等のような様々な電子機器に適用される。このため表示装置の薄型化・軽量化及び省消費電力化等を開発する研究を続けている。

平面表示装置の代表的な例としては、液晶ディスプレイ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＬＣＤ）、プラズマディスプレイ（Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ ｄｅｖｉｃｅ：ＰＤＰ）、電界放出ディスプレイ（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＦＥＤ）、ＥＬディスプレイ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＥＬＤ）、電気湿潤表示装置（Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｗｅｔｔｉｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＥＷＤ）及び有機発光表示装置（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＯＬＥＤ）等があげられる。

その中で、有機発光表示装置は、各サブ画素に対応する有機発光素子を利用して映像を表示する。さらに、有機発光表示装置は、カラー映像を表示するため、異なる色相に対応する２つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素を含む。

ところが、有機発光素子は使用量によって次第に劣化する。すなわち、各サブ画素の使用量によって、同じ駆動電流に対する輝度が異なる。これにより、各サブ画素の輝度に対する均一度及び信頼度が低下する問題点、及び画質が低下する問題点がある。

また、カラー映像を表示する有機発光表示装置の場合、各単位画素に含まれる２つ以上のサブ画素各々は、白色に対応する光を放出する有機発光素子と、異なる色相に対応するカラーフィルタを含む。

一般的に、白色光を放出する有機発光素子は、赤色光と緑色光との混色からなる黄色光に対応する第１の有機発光層と、青色光に対応する第２の有機発光層を含む。
ところが、第１及び第２の有機発光層は、温度による劣化量が異なるという問題点がある。それにより、有機発光素子の周辺温度及び該温度が維持される時間によって、各サブ画素の有機発光素子で放出される白色光の色温度が変動することで、画質が低下する問題点がある。

本発明は、有機発光素子の周辺温度によって白色光の色温度が変動することを補償することができる、有機発光表示装置及びその駆動方法を提供するためのものである。

本発明の目的は、以上で言及した目的に制限されないし、言及していない本発明の他の目的及び特長は、下記の説明により理解され、本発明の実施形態によりさらに明らかに理解されるだろう。また、本発明の目的及び特長は、特許請求の範囲に示した手段及びその組み合わせによって実現できることが理解されるだろう。

本発明の一例示は、表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル、及び前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成して、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出して、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部を含む有機発光表示装置を提供する。

前記劣化補償部は、前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する劣化予測データ生成部、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成する温度劣化データ生成部、前記劣化予測データ、前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する個別補償ゲイン値算出部、及び前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する個別補償部を含む。

ここで、前記温度劣化データ生成部は、所定の測定周期において前記装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第１のストレスデータを累積して、前記所定の測定周期において前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第２のストレスデータを累積して、前記累積した第１のストレスデータに基づいて、前記第１の温度劣化データを生成して、前記累積した第２のストレスデータに基づいて、前記第２の温度劣化データを生成する。

そして、本発明の他の一例示は、表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む有機発光表示装置を駆動する方法において、前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する段階、所定の測定周期において、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第１のストレスデータを累積する段階、前記所定の測定周期において、前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第２のストレスデータを累積する段階、前記累積した第１のストレスデータに基づいて、第１の温度劣化データを生成する段階、前記累積した第２のストレスデータに基づいて、第２の温度劣化データを生成する段階、前記各サブ画素の劣化予測データと前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する段階、及び前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する段階を含む有機発光表示装置の駆動方法を提供する。

本発明の一実施形態による有機発光表示装置は、有機発光素子の周辺温度によって第１及び第２の有機発光層の劣化状態を予測して、第１及び第２の温度劣化データを生成する。そして、各サブ画素の劣化予測データと第１及び第２の温度劣化データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。

これにより、白色を放出するサブ画素の第１及び第２の有機発光層は、周辺温度によって相違して劣化されるとしても、白色の色温度を維持することができる。したがって、劣化による画質低下及び画質の信頼度低下を防止することができる。

本発明の一実施形態による有機発光表示装置を概略的に示す図面である。 図１の各サブ画素に対応する等価回路図である。 図１の劣化補償部を示す図面である。 本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法を示した手順図である。 周辺温度による輝度変化率の差を示した図面である。 周辺温度による色温度変化率の差を示した図面である。 色座標において、周辺温度による色温度変化の方向を示した図面である。 赤色または緑色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度、及び劣化予測データと第１の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。 青色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度、及び劣化予測データと第２の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。 個別補償ゲイン値によって補償された輝度、及び個別補償ゲイン値とグローバル補償ゲイン値によって補償された輝度を示す図面である。

以下、本発明の一実施形態による有機発光表示装置及びその駆動方法について添付図面を参考にして詳説する。

先ず、図１及び図２を参照して、本発明の一実施形態による有機発光表示装置について説明する。

図１は、本発明の一実施形態による有機発光表示装置を概略的に示す図面である。図２は、図１の各サブ画素に対応する等価回路図である。

図１に示したように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置は表示パネル１００、劣化補償部２００、ゲート駆動部３１０、データ駆動部３２０、タイミングコントローラ３３０、第１及び第２メモリー４１０，４２０を含む。

表示パネル１００は、映像が表示される表示領域にマトリックス配列される複数の単位画素を含む。複数の単位画素各々は、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素（ＳＰ）からなる。

各サブ画素（ＳＰ）は、互に交差するゲートライン（ＧＬ）とデータライン（ＤＬ）により定義される画素領域に配置される。各サブ画素（ＳＰ）は、有機発光素子（ＯＬＥＤ）とこれを駆動する画素回路（ＰＣ）を含む。

また、表示パネル１００は、第１方向（図１の左右方向）に配置されたゲートライン（ＧＬ）と第２電源ライン（ＰＬ２）及び第２方向（図１の上下方向）に配置されたデータライン（ＤＬ）と第１電源ライン（ＰＬ１）をさらに含む。

ゲートライン（ＧＬ）は、各サブ画素（ＳＰ）にゲート信号（ＧＳ）を印加するためのものであり、データライン（ＤＬ）は、各サブ画素（ＳＰ）にデータ信号（Ｖｄａｔａ）を印加するためのものである。第１電源ライン（ＰＬ１）は、各サブ画素（ＳＰ）に第１駆動電源を印加するためのものであり、第２電源ライン（ＰＬ２）は、各サブ画素（ＳＰ）に第２駆動電源を印加するためのものである。

各単位画素に含まれる２つ以上のサブ画素（ＳＰ）各々の有機発光素子（ＯＬＥＤ）は、白色光を放出する素子である。

すなわち、図１に詳しく示していないが、有機発光素子（ＯＬＥＤ）は、赤色光と緑色光との混色からなる黄色光に対応する第１の有機発光層と、青色光に対応する第２の有機発光層を含む。

この場合、２つ以上のサブ画素（ＳＰ）は、異なる色相に対応するカラーフィルタをさらに含む。例示として、各単位画素に含まれる２つ以上のサブ画素（ＳＰ）は赤色、緑色、青色及び白色に対応する第１、第２、第３及び第４サブ画素を含む。

その中で、赤色に対応する第１サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子（ＯＬＥＤ）と白色光のうち赤色光をフィルタリングする第１カラーフィルタを含む。緑色に対応する第２サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子（ＯＬＥＤ）と白色光のうち緑色光をフィルタリングする第２カラーフィルタを含む。青色に対応する第３サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子（ＯＬＥＤ）と白色光のうち青色光をフィルタリングする第３カラーフィルタを含む。そして、白色に対応する第４サブ画素は、白色光を放出する有機発光素子（ＯＬＥＤ）と白色光を透過する第４カラーフィルタを含む。

図２に示したように、各サブ画素（ＳＰ）の画素回路は、スイッチングトランジスタ（Ｔｓｗ）、駆動トランジスタ（Ｔｄｒ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）を含む。

スイッチングトランジスタ（Ｔｓｗ）は、ゲートライン（ＧＬ）、データライン（ＤＬ）及び駆動トランジスタ（Ｔｄｒ）に連結される。かかるスイッチングトランジスタ（Ｔｓｗ）は、ゲートライン（ＧＬ）のゲート信号（ＧＳ）に基づいてターンオンすると、データライン（ＤＬ）のデータ信号（Ｖｄａｔａ）を駆動トランジスタ（Ｔｄｒ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）に伝達する。

ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、駆動トランジスタ（Ｔｄｒ）のゲート端子とソース端子の間に連結されて、ターンオンしたスイッチングトランジスタ（Ｔｓｗ）を通じて供給されるデータ信号（Ｖｄａｔａ）で充填される。

駆動トランジスタ（Ｔｄｒ）は、データ信号（Ｖｄａｔａ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）の充填電圧によりターンオンする。そして、ターンオンした駆動トランジスタ（Ｔｄｒ）を通じて、第１及び第２駆動電源（ＶＤＤ，ＶＳＳ）の間の電流経路が発生して、駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）が有機発光素子（ＯＬＥＤ）に供給される。

さらに、図１に戻って説明する。

劣化補償部２００は、各サブ画素（ＳＰ）の劣化状態によって各サブ画素（ＳＰ）の入力データを補償して、各サブ画素（ＳＰ）の入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を生成する。

具体的には、劣化補償部２００は、各サブ画素（ＳＰ）の累積データに基づいて、各サブ画素（ＳＰ）の劣化予測データを生成する。劣化補償部２００は、有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成する。劣化補償部２００は、劣化予測データ、第１及び第２の温度劣化データに基づいて、各サブ画素（ＳＰ）に対応する個別補償ゲイン値を算出する。劣化補償部２００は、各サブ画素（ＳＰ）の個別補償ゲイン値によって各サブ画素（ＳＰ）の入力データ（Ｉｄａｔａ）を補償して、各サブ画素（ＳＰ）の入力補償データを生成する。そして、劣化補償部２００は、全体サブ画素（ＳＰ）の累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値を算出し、グローバル補償ゲイン値に基づいて、各サブ画素（ＳＰ）の入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を生成する。このような劣化補償部２００については、以下にさらに詳説する。

ゲート駆動部３１０は、ゲートライン（ＧＬ）を通じて各サブ画素（ＳＰ）にゲート信号（ＧＳ）を供給する。すなわち、ゲート駆動部３１０は、タイミングコントローラ３３０のゲート制御信号（ＧＣＳ）に基づいて、各サブ画素（ＳＰ）にゲート信号（ＧＳ）を供給する。

データ駆動部３２０は、データライン（ＤＬ）を通じて複数のサブ画素（ＳＰ）にデータ信号（Ｖｄａｔａ）を供給する。ここで、データ信号（Ｖｄａｔａ）は、劣化補償部２００の出力値に対応する。すなわち、データ駆動部３２０は、劣化補償部２００から出力された各サブ画素（ＳＰ）の入力変調データ（Ｍｄａｔａ）に対応する各サブ画素（ＳＰ）のデータ信号（Ｖｄａｔａ）を生成する。

そして、データ駆動部３２０は、タイミングコントローラ３３０のデータ制御信号（ＤＣＳ）及び画素データ（ＤＡＴＡ）に基づいて、各サブ画素（ＳＰ）にデータ信号（Ｖｄａｔａ）を供給する。例示として、データ駆動部３２０はデータ制御信号（ＤＣＳ）に従い複数の基準ガンマ電圧を利用して、画素データ（ＤＡＴＡ）をアナログ形態のデータ信号（Ｖｄａｔａ）に変換して、データ信号（Ｖｄａｔａ）を各サブ画素（ＳＰ）に供給する。

タイミングコントローラ３３０は、ゲート駆動部３１０とデータ駆動部３２０それぞれの駆動を制御する。

例示として、タイミングコントローラ３３０は、外部から入力されるタイミング同期信号（ＴＳＳ）に基づいて、ゲート制御信号（ＧＣＳ）及びデータ制御信号（ＤＣＳ）を生成する。ゲート制御信号（ＧＣＳ）は、ゲート駆動部３１０の駆動を制御するためのものであり、データ制御信号（ＤＣＳ）は、データ駆動部３２０の駆動を制御するためのものである。ここで、タイミング同期信号（ＴＳＳ）は垂直同期信号、水平同期信号、データイネーブル信号及びドットクロック等を含む。

そして、タイミングコントローラ３３０は、表示パネル１００の画素配列構造に対応して、劣化補償部２００で出力された入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を整列する。そして、整列済み画素データ（ＤＡＴＡ）をデータ駆動部３２０に供給する。

一方、劣化補償部２００は、タイミングコントローラ３３０の一部の構成要素で具現することができる。すなわち、劣化補償部２００は、タイミングコントローラ３３０にプログラム形態またはロジック形態で内蔵することができる。

第１メモリー４１０は、劣化補償部２００による各サブ画素（ＳＰ）の累積データ（Ａｄａｔａ）を保有する。

第２メモリー４２０は、劣化補償部２００により累積した第１及び第２のストレスデータ（ＴＤｄａｔａ）を保有する。

次に、図３及び図４を参照して、本発明の一実施形態による劣化補償部及びそれを含む有機発光表示装置の駆動方法について説明する。

図３は、図１の劣化補償部を示す図面である。図４は、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法を示した手順図である。

図３に示したように、本発明の一実施形態による劣化補償部２００は、劣化予測データ生成部２１０、温度劣化データ生成部２２０、個別補償ゲイン値算出部２３０、個別補償部２４０、グローバル補償ゲイン値算出部２５０、グローバル補償部２６０及びデータ累積部２７０を含む。

劣化予測データ生成部２１０は、各サブ画素の累積データ（Ａｄａｔａ）に基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する。ここで、劣化予測データは、使用量による有機発光素子の劣化状態に関するデータモデリングを利用して、累積データに対応するサブ画素の劣化状態を予測した値に生成される。

温度劣化データ生成部２２０は、有機発光表示装置の内外部の周辺温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成する。ここで、第１及び第２の温度劣化データは、有機発光素子の周辺温度及び有機発光素子の使用量による第１及び第２の有機発光層それぞれの劣化状態に関するデータモデリングを利用して、装置温度データ及び該装置温度データが維持された期間に対応する第１及び第２の有機発光層それぞれの劣化状態を予測した値に生成される。

例示として、温度劣化データ生成部２２０は、所定の測定周期において装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第２メモリー４２０に保有された第１のストレスデータを累積する反面、所定の測定周期において装置温度データが所定の臨界温度データ未満であると、第２メモリー４２０に保有された第２のストレスデータを累積する。

ここで、第１のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において、黄色光に対応する第１の有機発光層が臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）以上の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

そして、第２のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において、青色光に対応する第２の有機発光層が臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）未満の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

ここで、第１有機物質層は、赤色光と緑色光との混色からなる黄色光に対応して、第２有機物質層は青色光に対応する。

そして、臨界温度データは、実験を通じて第１有機物質層が第２有機物質層よりさらに多く劣化される臨界温度に設定することができる。例示として、臨界温度データは約６０℃である。

温度劣化データ生成部２２０は、累積した第１のストレスデータに対応する第１の温度劣化データを生成して、累積した第２のストレスデータに対応する第２の温度劣化データを生成する。

ここで、第１及び第２の温度劣化データは、第１及び第２のストレスデータに対応する第１及び第２有機物質層の劣化状態を予測するデータモデリングで作成された所定のルックアップテーブルを利用して生成することができる。

個別補償ゲイン値算出部２３０は、各サブ画素の劣化予測データ、第１及び第２の温度劣化データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）を算出する。

すなわち、個別補償ゲイン値算出部２３０は、各サブ画素の劣化予測データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。このとき、個別補償ゲイン値算出部２３０は、第１の温度劣化データにさらに基づいて、赤色光及び緑色光を放出する第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を算出する。そして、個別補償ゲイン値算出部２３０は、第２の温度劣化データにさらに基づいて、青色光を放出する第３サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。そして、個別補償ゲイン値算出部２３０は、白色光を放出する第４サブ画素の劣化予測データに基づいて、第４サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する。

一例として、第１サブ画素の個別補償ゲイン値は、第１サブ画素の劣化予測データ及び第１の温度劣化データに基づいて算出されて、第２サブ画素の個別補償ゲイン値は、第２サブ画素の劣化予測データ及び第１の温度劣化データに基づいて算出される。そして、第３サブ画素の個別補償ゲイン値は、第３サブ画素の劣化予測データ及び第２の温度劣化データに基づいて算出されて、第４サブ画素の個別補償ゲイン値は、第４サブ画素の劣化予測データに基づいて算出される。

このようにすれば、白色光を放出する有機発光素子の第１及び第２の有機発光層は、周辺温度によって劣化する度合いが異なることを補償することができる。

すなわち、本発明の一実施形態によれば、臨界温度データ以上の高温環境において、黄色光を放出する第１の有機発光層は、第２の有機発光層より多く劣化されることに対応して、赤色光及び緑色光に対応する第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を増加させる。一方、臨界温度データ未満の常温環境において、青色光を放出する第２の有機発光層は、第１の有機発光層より多く劣化されることに対応して、青色光に対応する第３サブ画素の個別補償ゲイン値を増加させる。

ところが、各サブ画素に供給されるデータ信号は、各サブ画素の個別補償ゲイン値に対応するため、結果として、各サブ画素に供給されるデータ信号は、第１及び第２の有機発光層それぞれの劣化状態に対応する第１及び第２の温度劣化データに従い調節することができる。したがって、第１及び第２サブ画素の輝度を調節するか、または第３サブ画素の輝度を調節することで、第１及び第２の有機発光層の劣化状態が異なることを補償することができる。これにより、白色光の色温度を維持することができる。

また、個別補償ゲイン値生成部２３０による各サブ画素の個別補償ゲイン値は、１以上の実数として算出される。

個別補償部２４０は、各サブ画素の個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）によって各サブ画素の入力データ（Ｉｄａｔａ）を補正して、各サブ画素の入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）を生成する。

例示として、個別補償部２４０は、各サブ画素に対応する入力データ（Ｉｄａｔａ）と個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）を乗算演算（Ｘ）した値で入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）を生成する。但し、これは単なる例示であって、個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）に基づいて、入力データ（Ｉｄａｔａ）を補正する演算は、状況によって多様に変更され得る。

グローバル補償ゲイン値算出部２５０は、全体サブ画素の累積データに対応する最大累積データ、平均累積データ及び最小累積データのうちいずれかに基づいて、全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）を算出する。ここで、グローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）は、全体サブ画素のデータ信号を共通して調節するためのものであり、０以上１未満の実数に算出される。

例示として、グローバル補償ゲイン値算出部２５０は、全体サブ画素の累積データのうち最大値である最大累積データを検出する。そして、最大累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）を算出することができる。この場合、最大累積データに基づくグローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）によって全体サブ画素の輝度が減少することで、最大累積データに対応するサブ画素の有機発光素子の劣化速度を遅延させることができる。

これと違って、グローバル補償ゲイン値算出部２５０は、全体サブ画素の累積データに対する平均である平均累積データを算出する。そして、平均累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）を算出することができる。または、全体サブ画素の累積データのうち最小値である最小累積データを検出して、最小累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）を算出することもできる。

グローバル補償部２６０は、グローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）によって各サブ画素の入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）を変調して、各サブ画素の入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を生成する。例示として、グローバル補償部２６０は、各サブ画素に対応する入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）とグローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）を乗算演算（Ｘ）した値で入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を生成することができる。但し、これは単なる例示であって、グローバル補償ゲイン値（ＧＣＧ）に基づいて、入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）を変調する演算は、状況によって多様に変更され得る。

データ累積部２７０は、グローバル補償部２６０から出力される入力補正データ（Ｍｄａｔａ）を累積合算して、第１メモリー４１０に保有された各サブ画素の累積データ（Ａｄａｔａ）を更新する。

図４に示したように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法は、各サブ画素の累積データを生成する段階（Ｓ１１）、各サブ画素の累積データに基づいて各サブ画素の劣化予測データを生成する段階（Ｓ１２）、所定の測定周期において（Ｓ２１）、有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると（Ｓ２２）、白色に対応するサブ画素の有機発光素子に含まれた第１の有機発光層の劣化状態に対応する第１のストレスデータを累積する段階（Ｓ２３）、所定の測定周期において（Ｓ２１）装置温度データが臨界温度データ未満であると（Ｓ２２）、白色に対応するサブ画素の有機発光素子に含まれた第２の有機発光層の劣化状態に対応する第２のストレスデータを累積する段階（Ｓ２４）、累積した第１のストレスデータに基づいて第１の温度劣化データを生成する段階（Ｓ２５）、累積した第２のストレスデータに基づいて第２の温度劣化データを生成する段階（Ｓ２６）、各サブ画素の劣化予測データ、第１及び第２の温度劣化データに基づいて各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する段階（Ｓ３０）、各サブ画素の個別補償ゲイン値によって各サブ画素の入力データを補正して、各サブ画素の入力補正データを生成する段階（Ｓ４０）、全体サブ画素各々の累積データに基づいて全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出する段階（Ｓ５０）、及びグローバル補償ゲイン値によって各サブ画素の入力データを変調して、各サブ画素の入力変調データを生成する段階（Ｓ６０）を含む。

具体的には、データ累積部２７０は、タイミングコントローラ３３０に供給される各サブ画素の入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を累積して、各サブ画素の累積データ（Ａｄａｔａ）を生成し、これを第１メモリー４１０に伝達する。（Ｓ１１）すなわち、第１メモリー４１０は、各サブ画素の累積データ（Ａｄａｔａ）を保有する。

劣化予測データ生成部２１０は、第１メモリー４１０に保有された各サブ画素の累積データ（Ａｄａｔａ）に基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する。（Ｓ１２）ここで、劣化予測データは、各サブ画素の有機発光素子の使用量による劣化状態を予測した値である。

温度劣化データ生成部２２０は、測定周期（ＭＣ）をカウントするためのタイマーを含む。すなわち、温度劣化データ生成部２２０は、タイマーが測定周期（ＭＣ）を指示しないと（Ｓ２１）、タイマーをカウンティングする。（Ｓ２１１）これに、タイマーが測定周期（ＭＣ）を指示すると（Ｓ２１）、タイマーをリセットして（Ｓ２１２）、装置温度データを所定の臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）と比較する。（Ｓ２２）

温度劣化データ生成部２２０は、所定の測定周期（ＭＣ）において装置温度データが臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）以上であると、第２メモリー４２０に保有された第１のストレスデータを累積する。（Ｓ２３）一方、温度劣化データ生成部２２０は、所定の測定周期（ＭＣ）において装置温度データが臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）未満であると、第２メモリー４２０に保有された第２のストレスデータを累積する。（Ｓ２４）

ここで、第１のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において黄色光に対応する第１の有機発光層が、臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）以上の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

第２のストレスデータは、白色を放出する有機発光素子において青色光に対応する第２の有機発光層が、臨界温度データ（ＴＨ＿Ｔ）未満の環境に露出した状態で使われた量をカウンティングするためのものである。

臨界温度データは、第１の有機発光層が第２の有機発光層より多く劣化される温度に設定される。例示として、臨界温度データは約６０℃に設定される。

そして、第２メモリー４２０は、累積した第１及び第２のストレスデータを保有する。

温度劣化データ生成部２２０は、第１のストレスデータに対応する第１の温度劣化データを生成して（Ｓ２５）、第２のストレスデータに対応する第２の温度劣化データを生成する。（Ｓ２６）ここで、第１の温度劣化データは、第１の有機発光層の劣化状態を予測した値に対応して、第２の温度劣化データは、第２の有機発光層の劣化状態を予測した値に対応する。

個別補償ゲイン値算出部２３０は、各サブ画素の劣化予測データと第１及び第２の温度劣化データに基づいて、各サブ画素の個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）を算出する。（Ｓ３０）

ここで、各単位画素に含まれる２つ以上のサブ画素の中で、赤色光及び緑色光に対応する第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）は、それぞれの劣化予測データと第１の温度劣化データに基づいて算出される。

そして、青色光に対応する第３サブ画素の個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）は、第３サブ画素の劣化予測データと第２の温度劣化データに基づいて算出される。

個別補償部２４０は、各サブ画素の個別補償ゲイン値（ＰＣＧ）によって各サブ画素の入力データ（Ｉｄａｔａ）を補正して、各サブ画素の入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）を生成する。（Ｓ４０）

グローバル補償ゲイン値算出部２５０は、各サブ画素の累積データ（Ａｄａｔａ）に基づいて、全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出する。（Ｓ５０）

例示として、グローバル補償ゲイン値は、全体サブ画素の累積データの中で最大値、平均値及び最小値のうちいずれかに基づいて算出することができる。

グローバル補償部２６０は、グローバル補償ゲイン値によって各サブ画素の入力補正データを変調して、各サブ画素の入力変調データ（Ｍｄａｔａ）を生成する。（Ｓ６０）

以上のように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の劣化補償部２００は、有機発光素子の周辺温度によって第１及び第２の有機発光層の劣化状態を予測して、第１及び第２の温度劣化データを生成する。そして、赤色光及び緑色光を放出する第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を算出する際に、各サブ画素の劣化予測データと共に、黄色光に対応する第１の有機発光層の劣化状態に対応する第１の温度劣化データを反映する。また、青色光を放出する第３サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する際に、第３サブ画素の劣化予測データと共に、青色光に対応する第２の有機発光層の劣化状態に対応する第２の温度劣化データを反映する。

これにより、白色光を放出する有機発光素子において臨界温度データ以上の周辺温度によって黄色光を放出する第１の有機発光層は、青色光を放出する第２の有機発光層よりさらに多く劣化された場合には、赤色光及び緑色光を放出する第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を調節して、第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの輝度を増加させることで、白色光が青色に片寄る色温度を有することを防止することができる。

また、白色光を放出する有機発光素子において臨界温度データ未満の周辺温度によって青色光を放出する第２の有機発光層は、第１の有機発光層よりさらに多く劣化された場合には、青色光を放出する第３サブ画素の個別補償ゲイン値を調節して、第３サブ画素の輝度を増加させることで、白色光が黄色に片寄る色温度を有することを防止することができる。

したがって、周辺温度による第１及び第２の有機発光層の劣化差を補償することができ、白色光の色温度変化を防止することができる。

これについて、図５ないし図９を参照してさらに詳説する。

図５は、周辺温度による輝度変化率の差を示した図面である。図６は、周辺温度による色温度変化率の差を示した図面である。図７は、色座標において、周辺温度による色温度変化の方向を示した図面である。図８は、赤色または緑色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度及び劣化予測データと第１の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。そして、図９は、青色に対応するサブ画素及び白色に対応するサブ画素において、製造時の輝度、劣化時の輝度、劣化予測データに従い補償された輝度及び劣化予測データと第２の温度劣化データに従い補償された輝度を概略的に示す図面である。

図５に示したように、時間が経過するほど有機発光素子は劣化されて、有機発光素子の輝度は、初期に比べて次第に減少される。また、周辺温度が６０℃以上である場合の輝度変化率は、周辺温度が約３３℃である場合の輝度変化率より大きい傾きに下がることを確認することができる。参考に、図５において、横軸は累積駆動時間であり、縦軸は初期輝度と対比して劣化された輝度の割合を示す。

そして、図６に示したように、周辺温度が６０℃以上である場合の色温度変化率は、累積駆動時間が経過するほど次第に上がる反面、周辺温度が約３３℃である場合の色温度変化率は、累積駆動時間が経過するほど次第に下がることを確認することができる。ここで、色温度変化率の上昇は、白色の色温度が青色に近づくことを意味し、色温度変化率の下降は、白色の色温度が赤色または緑色に近づくことを意味する。

すなわち、図７に示したように、周辺温度が６０℃以上である場合、白色の色温度は青色に近づくＡ方向に変動する。一方、周辺温度が約３３℃である常温の場合、白色の色温度は、赤色と緑色の間の黄色に近づくＢ方向に変動する。

これによって、本発明の一実施形態によれば、周辺温度によって白色の色温度が変動するだけ各単位画素の赤色、緑色及び青色に対応する第１、第２及び第３サブ画素の輝度を変更することで、白色の色温度を維持することができる。

例示として、図８ｂに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間によって、青色の輝度（Ｂ）及び白色の輝度（Ｗ）は、同じデータ信号対比初期値（図８ａ）に比べて減少する。

これに、図８ｃに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間による有機発光素子の劣化を補償するための各サブ画素の劣化予測データを通じて、青色の輝度（Ｂ）及び白色の輝度（Ｗ）は、初期値（図８ａ）と類似になれる。

そして、本発明の一実施形態によれば、有機発光表示装置の温度により白色を放出するサブ画素において、青色に対応する第２の有機発光層は、黄色に対応する第１の有機発光層よりさらに多く劣化される相異点を補償するための第２温度劣化データを通じて、青色の輝度（Ｂ）を初期値より高く増加させる。これにより、第２の有機発光層は、第１の有機発光層よりさらに多く劣化されるとしても、白色の色温度は黄色に片寄らないように維持することができる。

さらに、図９ｂに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間によって、赤色の輝度（Ｒ）及び白色の輝度（Ｗ）は、同じデータ信号対比初期値（図９ａ）に比べて減少する。

これに、図９ｃに示したように、有機発光表示装置の累積駆動時間による有機発光素子の劣化を補償するための各サブ画素の劣化予測データを通じて、赤色の輝度（Ｒ）及び白色の輝度（Ｗ）は初期値（図９ａ）と類似になれる。

そして、本発明の一実施形態によれば、有機発光表示装置の温度により白色を放出するサブ画素において、黄色に対応する第１の有機発光層は、青色に対応する第２の有機発光層よりさらに多く劣化される相異点を補償するための第１温度劣化データを通じて、赤色の輝度（Ｒ）を初期値より高く増加させる。これにより、第１の有機発光層は、第２の有機発光層よりさらに多く劣化されるとしても、白色の色温度が青色に片寄らないように維持することができる。

一方、本発明の一実施形態によれば、グローバル補償ゲイン値に基づいて、各サブ画素の変調データ（Ｍｄａｔａ）を生成する。

例示として、グローバル補償ゲイン値算出部２５０は、全体サブ画素各々の累積データ（Ａｄａｔａ）のうち最高値を検出して、最高累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値を算出することができる。そして、グローバル補償ゲイン値によって、各サブ画素の入力補正データ（Ｉｄａｔａ'）は全体として減少される。

図１０は、個別補償ゲイン値によって補償された輝度、及び個別補償ゲイン値とグローバル補償ゲイン値によって補償された輝度を示す図面である。

図１０に示したように、最高累積データに基づいて、グローバル補償ゲイン値を算出する場合、個別補償ゲイン値とグローバル補償ゲイン値によって補償された輝度（Ｂ）は、個別補償ゲイン値によって補償された輝度（Ａ）に比べて全体として減少される。

このようにすれば、有機発光素子の劣化速度を遅延させるという特長がある。すなわち、最高累積データのサブ画素は、比較的に大きい個別補償ゲイン値によってさらに大きい輝度を表示するように駆動されると、他のサブ画素に比べてさらに早く劣化されることで、結果として不良になる問題点がある。一方、本発明の一実施形態によれば、全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値によって全体サブ画素の輝度を調節することで、全体サブ画素の劣化速度を比較的に均一に合わせることができ、それにより装置の寿命を増加することができる。

以上で説明した本発明は、上述した実施形態及び添付図面に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を脱しない範囲内で様々な置換、変形及び変更が可能であることは、本発明が属する技術分野で従来の知識を有する者においては自明である。

Claims (11)

1. 表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む表示パネル；
   前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成して、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成し、前記劣化予測データ、前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素に対応する個別補償ゲイン値を算出して、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値に基づいて、前記各サブ画素の入力データを補正する劣化補償部；
   前記各サブ画素にスキャン信号を供給するゲート駆動部；
   前記各サブ画素に前記劣化補償部の出力値に対応するデータ信号を供給するデータ駆動部；及び
   前記ゲート駆動部と前記データ駆動部それぞれの駆動を制御するタイミングコントローラを含む有機発光表示装置。
2. 前記劣化補償部は、
   前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する劣化予測データ生成部；
   前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データに基づいて、第１及び第２の温度劣化データを生成する温度劣化データ生成部；
   前記劣化予測データ、前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する個別補償ゲイン値算出部；及び
   前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する個別補償部を含む、請求項１に記載の有機発光表示装置。
3. 前記温度劣化データ生成部は、
   所定の測定周期において、前記装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第１のストレスデータを累積して、
   前記所定の測定周期において、前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第２のストレスデータを累積して、
   前記累積した第１のストレスデータに基づいて、前記第１の温度劣化データを生成して、
   前記累積した第２のストレスデータに基づいて、前記第２の温度劣化データを生成して、
   前記第１の温度劣化データは、前記有機発光素子に含まれた第１の有機発光層の劣化状態に対応して、
   前記第２の温度劣化データは、前記有機発光素子に含まれた第２の有機発光層の劣化状態に対応して、
   前記第１の有機発光層は赤色と緑色との混色に対応して、
   前記第２の有機発光層は青色に対応する、請求項２に記載の有機発光表示装置。
4. 前記各単位画素は赤色、緑色、青色及び白色に対応する第１、第２、第３及び第４サブ画素を含み、
   前記個別補償ゲイン値算出部は、
   前記各サブ画素の劣化予測データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出して、
   前記第１の温度劣化データにさらに基づいて、前記第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値を算出して、
   前記第２の温度劣化データにさらに基づいて、前記第３サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する、請求項３に記載の有機発光表示装置。
5. 前記劣化補償部は、
   全体サブ画素の累積データに対応する最大累積データ、平均累積データ及び最小累積データのうちいずれかに基づいて、前記全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出するグローバル補償ゲイン値算出部；
   前記グローバル補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力補正データを変調して、前記各サブ画素の入力変調データを生成するグローバル補償部をさらに含む、請求項２に記載の有機発光表示装置。
6. 前記各サブ画素の入力変調データをカウンティングして、前記各サブ画素の累積データを生成するデータ累積部；
   前記各サブ画素の累積データを保有する第１メモリー；及び
   前記累積した第１及び第２のストレスデータを保有する第２メモリーをさらに含む、請求項５に記載の有機発光表示装置。
7. 表示領域にマトリックス配列されて、異なる色相に対応する三つ以上のサブ画素各々からなる複数の単位画素、及び前記各サブ画素に対応する有機発光素子を含む有機発光表示装置を駆動する方法において、
   前記各サブ画素の累積データに基づいて、各サブ画素の劣化予測データを生成する段階；
   所定の測定周期において、前記有機発光表示装置の温度に対応する装置温度データが所定の臨界温度データ以上であると、第１のストレスデータを累積する段階；
   前記所定の測定周期において、前記装置温度データが前記臨界温度データ未満であると、第２のストレスデータを累積する段階；
   前記累積した第１のストレスデータに基づいて第１の温度劣化データを生成する段階；
   前記累積した第２のストレスデータに基づいて第２の温度劣化データを生成する段階；
   前記各サブ画素の劣化予測データと前記第１及び第２の温度劣化データに基づいて、前記各サブ画素の個別補償ゲイン値を算出する段階；及び
   前記各サブ画素の個別補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力データを補正して、前記各サブ画素の入力補正データを生成する段階を含む、有機発光表示装置の駆動方法。
8. 前記第１のストレスデータは、前記臨界温度データ以上の環境における第１の有機発光層の累積使用量に対応して、
   前記第２のストレスデータは、前記臨界温度データ未満の環境における第２の有機発光層の累積使用量に対応して、
   前記第１の有機発光層は赤色と緑色との混色に対応して、
   前記第２の有機発光層は青色に対応する、請求項７に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
9. 前記各単位画素は赤色、緑色、青色及び白色に対応する第１、第２、第３及び第４サブ画素を含み、
   前記第１及び第２サブ画素のうち少なくとも一つの個別補償ゲイン値は、前記各サブ画素の劣化予測データと前記第１の温度劣化データに基づいて算出されて、
   前記第３サブ画素の個別補償ゲイン値は、前記各サブ画素の劣化予測データと前記第２の温度劣化データに基づいて算出される、請求項８に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
10. 全体サブ画素の累積データに対応する最大累積データ、平均累積データ及び最小累積データのうちいずれかに基づいて、前記全体サブ画素に対応するグローバル補償ゲイン値を算出する段階；及び
    前記グローバル補償ゲイン値によって前記各サブ画素の入力補正データを変調して、前記各サブ画素の入力変調データを生成する段階をさらに含む、請求項７に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
11. 前記各サブ画素の入力変調データをカウンティングして、前記各サブ画素の累積データを生成する段階をさらに含む、請求項７に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

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