JP2018085362A - Wiring board and method for manufacturing the same - Google Patents

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徹 古田
健二 今林
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a wiring board by which the variation in the circuit width of a wiring pattern in a thickness direction can be reduced as compared to that in the past; and a method for manufacturing the wiring board.SOLUTION: A method for manufacturing a wiring board 10 according to the present invention comprises the steps of: preparing a metal layer 54 laminated on a support plate 50; performing a preceding stage of etching which includes the steps of partially covering an F-face 54F of the metal layer 54 with a first etching resist layer 55 having a first pattern 55A, and removing the metal layer 54 to a position halfway across its thickness in a thickness direction; and performing a later stage of etching which includes the steps of laminating an insulator layer 15 on the metal layer 54 from the side of the F-face 54F thereof, removing the support substrate 50, partially covering an S-face 54S of the metal layer 54, which is a face on the side where the support plate 50 is removed, with a second etching resist 56 having a first pattern 56A, and removing wholly the metal layer from the S-face 54S in the thickness direction, whereby a wiring pattern 21 is thus formed from the metal layer 54.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、金属層をエッチングしてなる配線パターンを有する配線板の製造方法及び配線板に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a wiring board having a wiring pattern formed by etching a metal layer and a wiring board.

この種の配線板の製造方法として、絶縁基板上の金属層を所定パターンのエッチングレジストで部分的に覆ってエッチングし、金属層から所定の配線パターンを形成する方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。   As a method for manufacturing this type of wiring board, a method is known in which a metal layer on an insulating substrate is partially covered with an etching resist having a predetermined pattern and etched to form a predetermined wiring pattern from the metal layer (for example, Patent Document 1).

特開2008−098406(段落[0019]、図1)JP2008-098406 (paragraph [0019], FIG. 1)

ところで、上述の配線板の製造方法では、配線パターンを構成する各電路の側面が、エッチングレジストに近いほど位置ほどエッチング液に長く晒される。その結果、配線パターンの厚さ方向において配線パターンの電路幅に大小差が生じるという問題が考えられる。また、配線パターンを肉厚化するほど配線パターンの電路幅の大小差が大きくなり、問題も大きくなると考えられる。   By the way, in the manufacturing method of the above-mentioned wiring board, the side of each electric circuit constituting the wiring pattern is exposed to the etching solution longer as the position is closer to the etching resist. As a result, there may be a problem that a difference occurs in the electric circuit width of the wiring pattern in the thickness direction of the wiring pattern. Further, it is considered that the thicker the wiring pattern, the larger the difference in the electric circuit width of the wiring pattern, and the greater the problem.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、配線パターンの厚さ方向における電路幅の大小差を従来より抑えることが可能な配線板及びその製造方法の提供を目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a wiring board and a method for manufacturing the wiring board that can suppress a difference in electric circuit width in the thickness direction of the wiring pattern.

本発明に係る配線板の製造方法は、金属層をエッチングしてなる配線パターンを有する配線板の製造方法において、支持板上に積層されている前記金属層を用意することと、前記金属層のうち前記支持板と反対側の第1面を、第1パターンを有する第1エッチングレジストで部分的に覆うことと、前記金属層のうち前記第1エッチングレジストで覆われていない部分を、前記第1面から厚さ方向の途中位置までエッチングする前段エッチング処理と、前記金属層から前記第1エッチングレジストを除去し、前記金属層のうち前記第1面から前記途中位置迄を絶縁樹脂層に埋没させることと、前記金属層から前記支持板を除去し、前記金属層のうち前記支持板を除去した側の面である第2面を、前記第1エッチングレジストと同じ前記第1パターンを有する第2エッチングレジストで部分的に覆うことと、前記金属層のうち前記第2エッチングレジストで覆われていない部分を、前記第2面側から前記途中位置までエッチングして、前記金属層から前記第1パターンの前記配線パターンを形成する後段エッチング処理と、前記金属層から前記第2エッチングレジストを除去することと、を行う。   A method for manufacturing a wiring board according to the present invention is the method for manufacturing a wiring board having a wiring pattern formed by etching a metal layer, and preparing the metal layer laminated on a support plate; Of these, the first surface opposite to the support plate is partially covered with a first etching resist having a first pattern, and the portion of the metal layer not covered with the first etching resist is A pre-etching process for etching from one surface to a middle position in the thickness direction, and removing the first etching resist from the metal layer, and burying the metal layer from the first surface to the middle position in an insulating resin layer And removing the support plate from the metal layer, and forming a second surface, which is a surface of the metal layer on which the support plate is removed, on the first pattern same as the first etching resist. Part of the metal layer is covered with a second etching resist, and a part of the metal layer that is not covered with the second etching resist is etched from the second surface side to the intermediate position, and the metal layer And a post-etching process for forming the wiring pattern of the first pattern and removing the second etching resist from the metal layer.

本発明に係る配線板は、配線パターンの少なくとも一部が絶縁樹脂層に埋没している配線板であって、前記配線パターンは、その厚さ方向の中間部に位置する中間金属層と、前記中間金属層の表裏の両側に積層されかつ前記中間金属層とエッチング特性が異なりかつ前記中間金属層より厚い1対の主金属層とからなる。   The wiring board according to the present invention is a wiring board in which at least a part of a wiring pattern is buried in an insulating resin layer, and the wiring pattern includes an intermediate metal layer located in an intermediate portion in the thickness direction, The intermediate metal layer includes a pair of main metal layers that are laminated on both sides of the front and back surfaces, have different etching characteristics from the intermediate metal layer, and are thicker than the intermediate metal layer.

本発明の第1実施形態に係る配線板の側断面図Side sectional view of the wiring board according to the first embodiment of the present invention. 配線板の使用状態を示す側断面図Side cross-sectional view showing the state of use of the wiring board 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board 本発明の第2実施形態に係る配線板の側断面図Side sectional view of a wiring board according to a second embodiment of the present invention. 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board 本発明の第3実施形態に係る配線板の側断面図Side sectional view of a wiring board according to a third embodiment of the present invention. 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board 配線板の製造工程を示す側断面図Side sectional view showing the manufacturing process of the wiring board

[第1実施形態]
以下、本発明の第1実施形態を図1〜図6に基づいて説明する。図1に示すように、本実施形態の配線板10は、絶縁基板20の内部に配線パターン21を備えてなる。配線パターン21は、例えば平行に延びる複数の電路11を有する。図1は、それら電路11と直交する配線板10の断面を示している。
[First Embodiment]
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 1, the wiring board 10 of the present embodiment includes a wiring pattern 21 inside an insulating substrate 20. The wiring pattern 21 has a plurality of electric paths 11 extending in parallel, for example. FIG. 1 shows a cross section of the wiring board 10 orthogonal to the electric circuit 11.

絶縁基板20は、略同一の厚さの1対の絶縁樹脂層15,16を接合してなる。1対の絶縁樹脂層15,16は、補強繊維の織布(例えば、ガラスクロス)に樹脂を含浸させてなるプリプレグである。なお、絶縁基板20の厚さは、例えば、50〜500[μm]程度になっている。   The insulating substrate 20 is formed by bonding a pair of insulating resin layers 15 and 16 having substantially the same thickness. The pair of insulating resin layers 15 and 16 are prepregs obtained by impregnating a woven fabric of reinforcing fibers (for example, glass cloth) with a resin. The insulating substrate 20 has a thickness of, for example, about 50 to 500 [μm].

配線パターン21は、1対の絶縁樹脂層15,16の間に挟まれている。また、配線パターン21は、三層構造になっていて、一方の絶縁樹脂層15(以下、適宜、「表側の絶縁樹脂層15」という)に埋没している主金属層13(以下、適宜、「表側の主金属層13」という)と、他方の絶縁樹脂層16に埋没している主金属層14(以下、適宜、「裏側の主金属層14」という)と、それら両主金属層13,14に挟まれる中間金属層12とからなる。   The wiring pattern 21 is sandwiched between a pair of insulating resin layers 15 and 16. The wiring pattern 21 has a three-layer structure, and the main metal layer 13 (hereinafter referred to as appropriate) embedded in one insulating resin layer 15 (hereinafter referred to as “front-side insulating resin layer 15” as appropriate). (Referred to as “front-side main metal layer 13”), a main metal layer 14 embedded in the other insulating resin layer 16 (hereinafter referred to as “back-side main metal layer 14” as appropriate), and both the main metal layers 13 , 14 and the intermediate metal layer 12.

両主金属層13,14の厚さは、例えば、共に25〜200[μm]であり、中間金属層12の厚さは、例えば、0.1〜1.0[μm]になっている。このように、中間金属層12は、両主金属層13,14に比べて極めて薄い。また、中間金属層12は、裏側の絶縁樹脂層16に埋設されていて、中間金属層12と表側の主金属層13との境界面12Kが、両絶縁樹脂層15,16の境界面20Kと略面一に配置されている。なお、両主金属層13,14は必ずしも同じ厚さでなくてもよい。   Both the main metal layers 13 and 14 have a thickness of, for example, 25 to 200 [μm], and the intermediate metal layer 12 has a thickness of, for example, 0.1 to 1.0 [μm]. Thus, the intermediate metal layer 12 is extremely thin compared to the two main metal layers 13 and 14. The intermediate metal layer 12 is embedded in the insulating resin layer 16 on the back side, and the boundary surface 12K between the intermediate metal layer 12 and the main metal layer 13 on the front side is separated from the boundary surface 20K between the both insulating resin layers 15 and 16. It is arranged substantially flush. The main metal layers 13 and 14 do not necessarily have the same thickness.

両主金属層13,14は、例えば、同じ金属で構成され、中間金属層12は、主金属層13,14とはエッチング特性が異なる金属で構成されている。具体的には、中間金属層12は、主金属層13,14より耐酸性が高い金属で構成され、例えば主金属層13,14は、銅で構成されているのに対し、中間金属層12は、銅より耐酸性が高い例えばニッケルで構成されている。   Both the main metal layers 13 and 14 are made of, for example, the same metal, and the intermediate metal layer 12 is made of a metal having etching characteristics different from those of the main metal layers 13 and 14. Specifically, the intermediate metal layer 12 is made of a metal having higher acid resistance than the main metal layers 13 and 14, for example, the main metal layers 13 and 14 are made of copper, whereas the intermediate metal layer 12 is made of copper. Is made of, for example, nickel, which has higher acid resistance than copper.

主金属層13,14は、厚さに比べて幅が広くなっている。また、主金属層13,14の両側面は凹状に湾曲していて、主金属層13,14の断面は、中間金属層12側で幅が急激に拡がる略台形状になっている。   The main metal layers 13 and 14 are wider than the thickness. Further, both side surfaces of the main metal layers 13 and 14 are curved in a concave shape, and the cross section of the main metal layers 13 and 14 has a substantially trapezoidal shape whose width suddenly expands on the intermediate metal layer 12 side.

図2には、配線板10の一使用例が示されている。同図の配線板10の表裏の両面に絶縁層層17,17を有する構造になっていて、各絶縁層15,16,17上には、導体回路層25,25が形成されている。そして、導体回路層25,25の間、及び導体回路25と配線パターン21との間を接続するビア26が形成されている。また、配線板10を貫通するスルーホール27が形成されていて、スルーホール27と導体回路層25が接続されてシグナル用の回路として用いられる。また、最外の導体回路25,25上にはソルダーレジスト層28,28が形成され、ソルダーレジスト層28には、複数のパッド用孔が形成され、導体回路層25の一部がパッド用孔内に位置してパッド26になっている。そして、各パッド26上に形成される半田バンプ19を介してICなどの電子部品90が接続される。   FIG. 2 shows an example of use of the wiring board 10. The wiring board 10 has a structure having insulating layers 17 and 17 on both front and back surfaces, and conductor circuit layers 25 and 25 are formed on the insulating layers 15, 16 and 17. And the via | veer 26 which connects between the conductor circuit layers 25 and 25 and between the conductor circuit 25 and the wiring pattern 21 is formed. Further, a through hole 27 penetrating the wiring board 10 is formed, and the through hole 27 and the conductor circuit layer 25 are connected to be used as a signal circuit. Solder resist layers 28 and 28 are formed on the outermost conductor circuits 25 and 25. A plurality of pad holes are formed in the solder resist layer 28, and a part of the conductor circuit layer 25 is a pad hole. A pad 26 is located inside. Then, an electronic component 90 such as an IC is connected via a solder bump 19 formed on each pad 26.

次に、本実施形態の配線板10の製造方法について説明する。
(1)図3(A)に示すように、支持板50の表側の面であるF面50Fと裏側の面であるS面50Sとに、銅製の第1主金属層51,51が積層されている積層板59が用意される。支持板50は、絶縁層50Aの表裏の両面に銅箔50Bが積層されてなり、支持板50の銅箔50Bと第1主金属層51とは、図示しない外縁部のみが接続され、それ以外の部分は用意に分離可能になっている。なお、第1主金属層51は、厚みが25〜200[μm]の銅箔又は電解銅メッキである。
Next, the manufacturing method of the wiring board 10 of this embodiment is demonstrated.
(1) As shown in FIG. 3 (A), first main metal layers 51, 51 made of copper are laminated on an F surface 50F that is a front surface of the support plate 50 and an S surface 50S that is a rear surface. A laminated plate 59 is prepared. The support plate 50 is formed by laminating copper foils 50B on both front and back surfaces of the insulating layer 50A, and the copper foil 50B of the support plate 50 and the first main metal layer 51 are connected only to the outer edge portion (not shown). This part is easily separable. The first main metal layer 51 is a copper foil or electrolytic copper plating having a thickness of 25 to 200 [μm].

ここで、支持板50のF面50F側の第1主金属層51上とS面50S側の第1主金属層51上とには同じ処理が施されるため、以下、F面50F側の第1主金属層51上を例にして説明する。   Here, since the same processing is performed on the first main metal layer 51 on the F surface 50F side of the support plate 50 and on the first main metal layer 51 on the S surface 50S side, hereinafter, on the F surface 50F side. An explanation will be given by taking the first main metal layer 51 as an example.

(2)図3(B)に示すように、積層板59の第1主金属層51上に中間金属層52が形成される。中間金属層52はめっき、または、スパッタリングによって形成される。なお、中間金属層52は、好ましくは、ニッケルめっきで形成されている。なお、中間金属層52の厚みは0.1〜1.0[μm]程度である。   (2) As shown in FIG. 3B, the intermediate metal layer 52 is formed on the first main metal layer 51 of the laminated plate 59. The intermediate metal layer 52 is formed by plating or sputtering. The intermediate metal layer 52 is preferably formed by nickel plating. The thickness of the intermediate metal layer 52 is about 0.1 to 1.0 [μm].

(3)図3(C)に示すように、中間金属層52上に第2主金属層53が形成される。第2主金属層53は、中間金属層52と同じエッチング特性の金属で形成されると共に、中間金属層52と略同一の厚さに形成される。以上により、第1主金属層51、中間金属層52、第2主金属層53からなる金属層54が形成されて支持板50に支持されている。   (3) As shown in FIG. 3C, the second main metal layer 53 is formed on the intermediate metal layer 52. The second main metal layer 53 is formed of a metal having the same etching characteristics as that of the intermediate metal layer 52 and is formed to have substantially the same thickness as the intermediate metal layer 52. As described above, the metal layer 54 including the first main metal layer 51, the intermediate metal layer 52, and the second main metal layer 53 is formed and supported by the support plate 50.

(4)図4(A)に示すように、金属層54のうち支持板50と反対側のF面54F(本発明の「第1面」に相当する。)が、表側の主金属層13を形成するための第1パターン55Aを有する第1エッチングレジスト55で部分的に覆われる。   (4) As shown in FIG. 4A, an F surface 54F (corresponding to the “first surface” of the present invention) on the opposite side of the support plate 50 in the metal layer 54 is the main metal layer 13 on the front side. Is partially covered with a first etching resist 55 having a first pattern 55A for forming the.

(5)金属層54に対する第1エッチング処理が行われる。この第1エッチング処理では、第2主金属層53は溶解するが、中間金属層52は溶解困難又は不可能なエッチング液が使用される。これにより、図4(B)に示すように、金属層54のうち第2主金属層53のみがエッチングされて、第1パターン55Aの周囲が、F面54Fから厚さ方向の途中位置まで除去され、第2主金属層53から表側の主金属層13が形成される。   (5) A first etching process is performed on the metal layer 54. In the first etching process, the second main metal layer 53 dissolves, but the intermediate metal layer 52 uses an etchant that is difficult or impossible to dissolve. As a result, as shown in FIG. 4B, only the second main metal layer 53 of the metal layer 54 is etched, and the periphery of the first pattern 55A is removed from the F surface 54F to an intermediate position in the thickness direction. Thus, the main metal layer 13 on the front side is formed from the second main metal layer 53.

(6)図4(C)に示すように、第1エッチングレジスト55が除去される。   (6) As shown in FIG. 4C, the first etching resist 55 is removed.

(7)図5(A)に示すように、金属層54上に表側の絶縁樹脂層15が積層されて、加熱プレスされる。これにより、表側の主金属層13が表側の絶縁樹脂層15に埋没される。   (7) As shown in FIG. 5A, the insulating resin layer 15 on the front side is laminated on the metal layer 54 and heated and pressed. Thereby, the main metal layer 13 on the front side is buried in the insulating resin layer 15 on the front side.

(8)図5(B)に示すように、支持板50と第1主金属層51とを接続する外縁部が切断されて支持板50(銅箔50Bを含む)が除去される。これ以降、表側の絶縁樹脂層15は、キャリア及び後述する第2エッチング処理におけるエッチングレジストとして機能する。   (8) As shown in FIG. 5B, the outer edge portion connecting the support plate 50 and the first main metal layer 51 is cut, and the support plate 50 (including the copper foil 50B) is removed. Thereafter, the front insulating resin layer 15 functions as a carrier and an etching resist in a second etching process to be described later.

(9)図5(C)に示すように、金属層54のうち支持板50を除去した側の面であるS面54S(本発明の「第2面」に相当する。)が、裏側の主金属層14を形成するための第1パターン56Aを有する第2エッチングレジスト56で部分的に覆われる。   (9) As shown in FIG. 5C, the S surface 54S (corresponding to the “second surface” of the present invention) which is the surface of the metal layer 54 from which the support plate 50 has been removed is the back side. It is partially covered with a second etching resist 56 having a first pattern 56A for forming the main metal layer 14.

(10)金属層54に対する第2エッチング処理が行われる。この第2エッチング処理では、第1主金属層51は溶解するが、中間金属層52は溶解困難又は不可能なエッチング液が使用される。これにより、図6(A)に示すように金属層54のうち第1主金属層51のみがエッチングされ、第1パターン55Aの周囲が、F面54Fから厚さ方向の途中位置まで除去されて、第1主金属層51から裏側の主金属層14が形成される。   (10) A second etching process is performed on the metal layer 54. In the second etching process, the first main metal layer 51 dissolves, but the intermediate metal layer 52 uses an etchant that is difficult or impossible to dissolve. As a result, as shown in FIG. 6A, only the first main metal layer 51 of the metal layer 54 is etched, and the periphery of the first pattern 55A is removed from the F surface 54F to a middle position in the thickness direction. The back side main metal layer 14 is formed from the first main metal layer 51.

(11)金属層54に対する第3エッチング処理が行われる。この第3エッチング処理では、中間金属層52は溶解するが、第1主金属層51及び第2主金属層53は溶解困難又は不可能なエッチング液が使用される。これにより、図6(B)に示すように金属層54のうち中間金属層52のみがエッチングされ、中間金属層52のうち第1主金属層51及び第2主金属層53から露出している部分が除去されて、複数の電路11が互いに分離した状態に形成される。そして、第2エッチングレジスト56が除去されて配線パターン21が完成する。   (11) A third etching process is performed on the metal layer 54. In the third etching process, the intermediate metal layer 52 is dissolved, but the first main metal layer 51 and the second main metal layer 53 use an etchant that is difficult or impossible to dissolve. 6B, only the intermediate metal layer 52 of the metal layer 54 is etched and exposed from the first main metal layer 51 and the second main metal layer 53 of the intermediate metal layer 52. A part is removed, and the plurality of electric paths 11 are formed in a state separated from each other. Then, the second etching resist 56 is removed, and the wiring pattern 21 is completed.

(12)図6(C)に示すように、配線パターン21の第2主金属層53側に裏側の絶縁樹脂層16が積層されて加熱プレスされる。以上により図1に示される配線板10が完成する。   (12) As shown in FIG. 6C, the insulating resin layer 16 on the back side is laminated on the second main metal layer 53 side of the wiring pattern 21 and heated and pressed. Thus, the wiring board 10 shown in FIG. 1 is completed.

本実施形態の配線板10の製造方法に関する説明は以上である。なお、本実施形態では、上記した第1エッチング処理が本発明に係る「前段エッチング処理」に相当し、第2及び第3のエッチング処理が本発明に係る「後段エッチング処理」に相当する。また、第3エッチング処理は、上記した(5)と(6)の工程の間に行ってもよく、その場合は、第1と第3のエッチング処理が本発明に係る「前段エッチング処理」に相当し、第2エッチング処理が、本発明に係る「後段エッチング処理」に相当することになる。   The description regarding the manufacturing method of the wiring board 10 of this embodiment is above. In the present embodiment, the first etching process described above corresponds to the “pre-stage etching process” according to the present invention, and the second and third etching processes correspond to the “post-stage etching process” according to the present invention. In addition, the third etching process may be performed between the above-described steps (5) and (6). In that case, the first and third etching processes are the “pre-stage etching process” according to the present invention. Correspondingly, the second etching process corresponds to the “rear etching process” according to the present invention.

次に、本実施形態の配線板10の製造方法の作用効果について説明する。上記したように本実施形態の配線板10の製造方法では、配線パターン21を形成するための金属層54に対するエッチング処理が、その金属層54の表側からのエッチング処理と、裏側からのエッチング処理とに分けて行われる。これにより、金属層54を表裏の一方側のみからエッチング処理する従来の製造方法に比べて、配線パターン21の厚さ方向における電路11の幅の大小差(図1のボトム幅W2とトップ幅W1との差分)を抑えることができる。また、配線パターン21の厚肉化した場合の電路幅の大小差の増加も抑えられるため、大電流を流せるようにすることが可能になる。即ち、配線板10の大電流化が可能になる。さらには、各電路11の最大幅部の張り出し量が抑えられるので、電路11,11同士を互いに接近させて配置することができ、これにより配線パターン21のファイン化も可能になる。しかも、本実施形態の配線板10では、配線パターン21の厚さ方向の中間部に、それ以外の部分とはエッチング特性が異なる中間金属層12を備えているので、配線パターン21を形成する際に、金属層54の表側からのエッチング処理と裏側からのエッチング処理との境界位置が安定し、配線パターン21の断面の形状品質も安定する。   Next, the effect of the manufacturing method of the wiring board 10 of this embodiment is demonstrated. As described above, in the method of manufacturing the wiring board 10 of the present embodiment, the etching process for the metal layer 54 for forming the wiring pattern 21 includes the etching process from the front side of the metal layer 54 and the etching process from the back side. It is divided into two. Thereby, compared with the conventional manufacturing method which etches the metal layer 54 only from one side of the front and back, the width difference of the electric circuit 11 in the thickness direction of the wiring pattern 21 (the bottom width W2 and the top width W1 in FIG. 1). Difference). Further, since an increase in the magnitude difference of the electric circuit width when the wiring pattern 21 is thickened can be suppressed, it is possible to allow a large current to flow. That is, the current of the wiring board 10 can be increased. Furthermore, since the amount of overhang of the maximum width portion of each electric circuit 11 can be suppressed, the electric circuits 11 and 11 can be arranged close to each other, and thus the wiring pattern 21 can be refined. Moreover, in the wiring board 10 of this embodiment, the intermediate metal layer 12 having different etching characteristics from the other portions is provided in the intermediate portion of the wiring pattern 21 in the thickness direction. In addition, the boundary position between the etching process from the front side and the etching process from the back side of the metal layer 54 is stabilized, and the shape quality of the cross section of the wiring pattern 21 is also stabilized.

[第2実施形態]
図7に示すように、本実施形態の配線板10Vの配線パターン21Vは、第1実施形態で説明した電路11(以下、「第1の電路11」という)に加え、第1の電路11よりも厚みの薄い第2及び第3の電路11B,11Cを備えている点が第1実施形態と異なる。第2の電路11Bは、表側の主金属層13のみで構成されているのに対し、第3の電路11Cは、裏側の主金属層14及び中間金属層12のみで構成されている。また、裏側の主金属層14は、表側の主金属層13よりも厚みが薄くなっている。以下、本実施形態の配線板10Vの製造方法について、上記第1実施形態との相違点を主に説明する。
[Second Embodiment]
As shown in FIG. 7, the wiring pattern 21 </ b> V of the wiring board 10 </ b> V of the present embodiment is obtained from the first electric circuit 11 in addition to the electric circuit 11 described in the first embodiment (hereinafter referred to as “first electric circuit 11”). The second embodiment differs from the first embodiment in that the second and third electric circuits 11B and 11C having a small thickness are provided. The second electric circuit 11B is composed of only the main metal layer 13 on the front side, whereas the third electric circuit 11C is composed of only the main metal layer 14 and the intermediate metal layer 12 on the back side. The back side main metal layer 14 is thinner than the front side main metal layer 13. Hereinafter, the method of manufacturing the wiring board 10V of the present embodiment will be described mainly with respect to differences from the first embodiment.

(1)上記第1実施形態の製造方法における(3)の工程に次いで、図8(A)に示すように、金属層54のF面54F上に、第1の電路11の表側の主金属層13を形成するための第1パターン55Aと、第2の電路11Bの表側の主金属層13を形成するための第2パターン55Bとを有する第1エッチングレジスト55Vが重ねられる。   (1) After the step (3) in the manufacturing method of the first embodiment, as shown in FIG. 8A, the main metal on the front side of the first electric circuit 11 is formed on the F surface 54F of the metal layer 54. A first etching resist 55V having a first pattern 55A for forming the layer 13 and a second pattern 55B for forming the main metal layer 13 on the front side of the second electric circuit 11B is overlaid.

(2)上記第1実施形態の製造方法における(5)〜(8)の工程と同様の工程が行われて、図8(B)に示すように、金属層54のF面54Fに、第1及び第2の電路11,11Bの表側の主金属層13が形成される。   (2) Steps similar to the steps (5) to (8) in the manufacturing method of the first embodiment are performed, and as shown in FIG. A main metal layer 13 on the front side of the first and second electric paths 11 and 11B is formed.

(3)図8(B)に示すように、金属層54のS面54S上に、第1の電路11の裏側の主金属層14を形成するための第1パターン56Aと、第3の電路11Bの裏側の主金属層14を形成するための第2パターン56Cとを有する第2エッチングレジスト56Vが重ねられる。   (3) As shown in FIG. 8B, a first pattern 56A for forming the main metal layer 14 on the back side of the first electric circuit 11 on the S surface 54S of the metal layer 54, and a third electric circuit A second etching resist 56V having a second pattern 56C for forming the main metal layer 14 on the back side of 11B is overlaid.

(4)上記第1実施形態の製造方法における(10)〜(12)の工程と同様の工程が行われて、図7に示すように、金属層54のS面54Sに、第1及び第3の電路11,11Cの裏側の主金属層14が形成されると共に、裏側の絶縁樹脂層16が積層されて配線板10Vが完成する。   (4) Steps similar to the steps (10) to (12) in the manufacturing method of the first embodiment are performed, and the first and first surfaces are formed on the S surface 54S of the metal layer 54 as shown in FIG. The main metal layer 14 on the back side of the three electric circuits 11 and 11C is formed, and the insulating resin layer 16 on the back side is laminated to complete the wiring board 10V.

本実施形態の配線板10Vの構造及び製造方法に関する説明は以上である。本実施形態の配線板10Vの製造方法によれば、1つの配線パターン21Vに、断面積が異なる第1〜第3の電路11,11B,11Cを容易に形成することができる。そして、断面積の大小に応じて第1〜第3の電路11,11B,11Cを制御用と電力用とに使い分けたり、大電流系統と小電力系統とに使い分けたりすることができる。   This completes the description of the structure and manufacturing method of the wiring board 10V of the present embodiment. According to the method for manufacturing the wiring board 10V of the present embodiment, the first to third electric circuits 11, 11B, and 11C having different cross-sectional areas can be easily formed in one wiring pattern 21V. And according to the size of the cross-sectional area, the first to third electric paths 11, 11B, 11C can be selectively used for control and power, or can be used separately for a large current system and a small power system.

さらに、裏側の主金属層14を表側の主金属層13よりも薄くすることで、第3の電路11Cを、第1の電路11、第2の電路11Bに比べファインピッチの電路を形成することができる。   Further, by making the main metal layer 14 on the back side thinner than the main metal layer 13 on the front side, the third electric circuit 11C is formed with a fine pitch electric circuit as compared with the first electric circuit 11 and the second electric circuit 11B. Can do.

[第3実施形態]
第3実施形態の配線板10Zは、図9に示すように、絶縁基板20Z内に2つの配線パターン21X,21Yが積層されている。それら配線パターン21X,21Yは、図9の断面形状においては、第1実施形態の配線パターン21と同じ構造をなし、例えば平行に延びる複数ずつの電路11をそれぞれ有する。
[Third Embodiment]
As shown in FIG. 9, the wiring board 10 </ b> Z of the third embodiment has two wiring patterns 21 </ b> X and 21 </ b> Y stacked in an insulating substrate 20 </ b> Z. The wiring patterns 21X and 21Y have the same structure as the wiring pattern 21 of the first embodiment in the cross-sectional shape of FIG.

詳細には、本実施形態の配線板10Zの絶縁基板20Zは、中間絶縁樹脂層31の表裏の両側に外側絶縁樹脂層32,33を積層してなり、一方の配線パターン21Xは、中間絶縁樹脂層31と一方の外側絶縁樹脂層32との間に挟まれ、他方の配線パターン21Yは、中間絶縁樹脂層31と他方の外側絶縁樹脂層33との間に挟まれている。また、中間絶縁樹脂層31は、第1実施形態における「表側の絶縁樹脂層15」に相当すると共に、外側絶縁樹脂層32,33は、第1実施形態における「裏側の絶縁樹脂層16」に相当する。そして、一方の配線パターン21Xの中間金属層12が、一方の外側絶縁樹脂層32に埋没し、他方の配線パターン21Yの中間金属層12が、他方の外側絶縁樹脂層33に埋没している。以下、本実施形態の配線板10Zの製造方法について、上記第1実施形態との相違点を主に説明する。   In detail, the insulating substrate 20Z of the wiring board 10Z of the present embodiment is formed by laminating outer insulating resin layers 32 and 33 on both sides of the front and back of the intermediate insulating resin layer 31, and one wiring pattern 21X is formed of an intermediate insulating resin. The other wiring pattern 21 </ b> Y is sandwiched between the intermediate insulating resin layer 31 and the other outer insulating resin layer 33. The intermediate insulating resin layer 31 corresponds to the “front insulating resin layer 15” in the first embodiment, and the outer insulating resin layers 32 and 33 correspond to the “back insulating resin layer 16” in the first embodiment. Equivalent to. The intermediate metal layer 12 of one wiring pattern 21X is buried in one outer insulating resin layer 32, and the intermediate metal layer 12 of the other wiring pattern 21Y is buried in the other outer insulating resin layer 33. Hereinafter, with respect to the method for manufacturing the wiring board 10Z of the present embodiment, differences from the first embodiment will be mainly described.

(1)前記第1実施形態で説明した積層板59(図3(A)参照)の片面側と同一構造の第1及び第2の積層板61,62が準備され、第1実施形態の製造方法における(1)〜(6)の工程と同様の工程により、図10(A)に示すように、第1と第2の積層板61,62における第2主金属層53のみがエッチングされて、両配線パターン21X,21Yの表側の主金属層13がそれぞれ形成される。   (1) First and second laminated plates 61 and 62 having the same structure as that of one side of the laminated plate 59 (see FIG. 3A) described in the first embodiment are prepared, and the first embodiment is manufactured. As shown in FIG. 10A, only the second main metal layer 53 in the first and second laminated plates 61 and 62 is etched by the same steps as the steps (1) to (6) in the method. The main metal layer 13 on the front side of both the wiring patterns 21X and 21Y is formed.

(2)図10(A)に示すように、第1と第2の積層板60,61の間にプリプレグが配置され、そのプリプレグに第1と第2の積層板60,61の表側の主金属層13がそれぞれ押し付けられて積層され、加熱プレスされる(図10(B)参照)。   (2) As shown in FIG. 10 (A), a prepreg is disposed between the first and second laminated plates 60, 61, and the main side of the front side of the first and second laminated plates 60, 61 is arranged in the prepreg. The metal layers 13 are pressed and stacked, and heated and pressed (see FIG. 10B).

(3)図11(A)に示すように、第1の第1の積層板61から支持板50が除去される。   (3) As shown in FIG. 11A, the support plate 50 is removed from the first first laminated plate 61.

(4)図11(B)に示すように、第1実施形態の製造方法における(9)の工程と同様に第1の第1の積層板61の金属層54が第2エッチングレジスト56で部分的に覆われる。   (4) As shown in FIG. 11B, the metal layer 54 of the first first laminated plate 61 is partially covered with the second etching resist 56 as in the step (9) in the manufacturing method of the first embodiment. Covered.

(5)上記第1実施形態の製造方法における(10)〜(12)の工程と同様の工程が行われ、第1の積層板61の金属層54及び中間金属層12がエッチングされて、図11(C)に示すように一方の配線パターン21Xが完成しかつ外側絶縁樹脂層32に覆われる。   (5) Steps similar to the steps (10) to (12) in the manufacturing method of the first embodiment are performed, and the metal layer 54 and the intermediate metal layer 12 of the first laminated plate 61 are etched. 11C, one wiring pattern 21X is completed and covered with the outer insulating resin layer 32.

(6)図11(C)に示すように、第2の積層板62の支持板50が除去される。   (6) As shown in FIG. 11C, the support plate 50 of the second laminated plate 62 is removed.

(7)次いで、上記第1実施形態の製造方法における(9)〜(12)の工程と同様の工程が行われ、第2の積層板62の金属層54及び中間金属層12がエッチングされて、他方の配線パターン21Yが完成しかつ外側絶縁樹脂層33に覆われる。これにより、図9に示される本実施形態の配線板10Zが完成する。   (7) Next, steps similar to the steps (9) to (12) in the manufacturing method of the first embodiment are performed, and the metal layer 54 and the intermediate metal layer 12 of the second laminated plate 62 are etched. The other wiring pattern 21Y is completed and covered with the outer insulating resin layer 33. Thereby, the wiring board 10Z of this embodiment shown in FIG. 9 is completed.

本実施形態の配線板10Zの構造及び製造方法に関する説明は以上である。本実施形態の製造方法によれば、複数の配線パターン21X,21Yを備える配線板10Zを容易に製造することが可能になる。   This completes the description of the structure and manufacturing method of the wiring board 10Z of the present embodiment. According to the manufacturing method of the present embodiment, it is possible to easily manufacture the wiring board 10Z including the plurality of wiring patterns 21X and 21Y.

[他の実施形態]
本発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、例えば、以下に説明するような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the embodiments described below are also included in the technical scope of the present invention, and various modifications are possible within the scope of the invention other than the following. It can be changed and implemented.

(1)前記各実施形態の配線板10,10V,10Zには、それぞれ中間金属層52が備えられているが、中間金属層52を備えない構成としてもよい。即ち、金属層54を、同一金属の単層構造としておき、その金属層54を表側からの前段エッチング処理と裏側からの後段エッチング処理とに分けて行ってもよい。この場合、時間管理により、金属層54の厚さ方向の表側の約半分と裏側の約半分とをエッチングすればよい。   (1) Although the intermediate metal layer 52 is provided in each of the wiring boards 10, 10 </ b> V, and 10 </ b> Z of each of the embodiments, a configuration in which the intermediate metal layer 52 is not provided may be employed. That is, the metal layer 54 may have a single-layer structure of the same metal, and the metal layer 54 may be divided into a front-stage etching process from the front side and a rear-stage etching process from the back side. In this case, it is only necessary to etch about half of the front side and about half of the back side of the metal layer 54 by time management.

(2)また、金属層54を、中間金属層52を設けずに、金属層54の厚さの略半分と残り半分とをエッチング特性が異なる第1と第2の主金属層で構成しておき、前段エッチング処理では、第1の主金属層を溶解するが、第2の主金属層を溶解困難又は不可能なエッチング液を使用し、後段エッチング処理では、第2の主金属層を溶解するが、第1の主金属層を溶解困難又は不可能なエッチング液を使用して、金属層54から配線パターン21を形成してもよい。   (2) Further, the metal layer 54 is constituted by the first and second main metal layers having different etching characteristics, with the half of the thickness of the metal layer 54 and the remaining half of the metal layer 54 not provided with the intermediate metal layer 52. In the first-stage etching process, the first main metal layer is dissolved, but the second main metal layer is dissolved in an etching solution that is difficult or impossible to dissolve, and in the second-stage etching process, the second main metal layer is dissolved. However, the wiring pattern 21 may be formed from the metal layer 54 by using an etchant that is difficult or impossible to dissolve the first main metal layer.

10、10V,10Z 配線板
11,11B,11C 電路
12,52 中間金属層
13,14 主金属層
15,16 絶縁樹脂層
21,21V,21X,21Y 配線パターン
31 中間絶縁樹脂層
32,33 外側絶縁樹脂層
51 第1主金属層
52 中間金属層
53 第2主金属層
54 金属層
55,55V 第1エッチングレジスト
55A,56A 第1パターン
55B,56C 第2パターン
56,56V 第2エッチングレジスト
10, 10V, 10Z Wiring board 11, 11B, 11C Electric circuit 12, 52 Intermediate metal layer 13, 14 Main metal layer 15, 16 Insulating resin layer 21, 21V, 21X, 21Y Wiring pattern 31 Intermediate insulating resin layer 32, 33 Outside insulation Resin layer 51 First main metal layer 52 Intermediate metal layer 53 Second main metal layer 54 Metal layer 55, 55V First etching resist 55A, 56A First pattern 55B, 56C Second pattern 56, 56V Second etching resist

Claims (13)

金属層をエッチングしてなる配線パターンを有する配線板の製造方法において、
支持板上に積層されている前記金属層を用意することと、
前記金属層のうち前記支持板と反対側の第1面を、第1パターンを有する第1エッチングレジストで部分的に覆うことと、
前記金属層のうち前記第1エッチングレジストで覆われていない部分を、前記第1面から厚さ方向の途中位置までエッチングする前段エッチング処理と、
前記金属層から前記第1エッチングレジストを除去し、前記金属層のうち前記第1面から前記途中位置迄を絶縁樹脂層に埋没させることと、
前記金属層から前記支持板を除去し、前記金属層のうち前記支持板を除去した側の面である第2面を、前記第1エッチングレジストと同じ前記第1パターンを有する第2エッチングレジストで部分的に覆うことと、
前記金属層のうち前記第2エッチングレジストで覆われていない部分を、前記第2面側から前記途中位置までエッチングして、前記金属層から前記第1パターンの前記配線パターンを形成する後段エッチング処理と、
前記金属層から前記第2エッチングレジストを除去することと、を行う。
In a method for manufacturing a wiring board having a wiring pattern formed by etching a metal layer,
Providing the metal layer laminated on a support plate;
Partially covering a first surface of the metal layer opposite to the support plate with a first etching resist having a first pattern;
A pre-etching process for etching a portion of the metal layer that is not covered with the first etching resist from the first surface to an intermediate position in the thickness direction;
Removing the first etching resist from the metal layer and burying the metal layer from the first surface to the middle position in an insulating resin layer;
The support plate is removed from the metal layer, and the second surface, which is the surface of the metal layer from which the support plate has been removed, is a second etching resist having the same first pattern as the first etching resist. Partially covering,
A post-etching process in which a portion of the metal layer that is not covered with the second etching resist is etched from the second surface side to the middle position to form the wiring pattern of the first pattern from the metal layer. When,
Removing the second etching resist from the metal layer.
請求項1に記載の配線板の製造方法において、
前記金属層として、中間金属層の表裏の両側に前記中間金属層とエッチング特性が異なる1対の主金属層を積層してなるものを使用し、
前記前段エッチング処理又は前記後段エッチング処理は、前記主金属層をエッチングしてからエッチング液を変更して前記中間金属層をエッチングする中間層エッチング処理を含む。
In the manufacturing method of the wiring board of Claim 1,
As the metal layer, a layer formed by laminating a pair of main metal layers having different etching characteristics from the intermediate metal layer on both sides of the front and back of the intermediate metal layer,
The pre-stage etching process or the post-stage etching process includes an intermediate layer etching process that etches the main metal layer and then changes the etchant to etch the intermediate metal layer.
請求項2に記載の配線板の製造方法において、
前記第1エッチングレジスト又は前記第2エッチングレジストの一方のエッチングレジストに、前記金属層のうち他方のエッチングレジストでは覆わない部分を覆う第2パターンを設けておき、前記第1パターンの前記配線パターンより薄い前記第2パターンの前記配線パターンを形成する。
In the manufacturing method of the wiring board of Claim 2,
A second pattern that covers a portion of the metal layer that is not covered by the other etching resist is provided in one of the first etching resist or the second etching resist, and the wiring pattern of the first pattern The wiring pattern of the thin second pattern is formed.
請求項2に記載の配線板の製造方法において、
前記中間金属層の表側に積層されている前記主金属層と、前記中間金属層の裏側に積層されている前記主金属層との厚みが異なる。
In the manufacturing method of the wiring board of Claim 2,
The main metal layer laminated on the front side of the intermediate metal layer and the main metal layer laminated on the back side of the intermediate metal layer are different in thickness.
請求項1乃至4の何れか1の請求項に記載の配線板の製造方法において、
前記第1エッチングレジストの除去後の1対の前記金属層の前記第1面の間に前記絶縁樹脂層を挟みかつ、それら1対の金属層の前記第2面をそれぞれ前記第2エッチングレジストで覆って前記後段エッチング処理を行う。
In the manufacturing method of the wiring board of any one of Claims 1 thru | or 4,
The insulating resin layer is sandwiched between the first surfaces of the pair of metal layers after the removal of the first etching resist, and the second surfaces of the pair of metal layers are respectively made of the second etching resist. Then, the latter etching process is performed.
請求項1乃至5の何れか1の請求項に記載の配線板の製造方法において、
前記金属層を前記第1面から厚さ方向の途中位置までをエッチングするときの前記途中位置が、前記金属層の厚さ方向の略中央位置にする。
In the manufacturing method of the wiring board as described in any one of Claims 1 thru | or 5,
The intermediate position when the metal layer is etched from the first surface to an intermediate position in the thickness direction is set to a substantially central position in the thickness direction of the metal layer.
請求項1乃至6の何れか1の請求項に記載の配線板の製造方法において、
前記配線パターンを、前記金属層の厚さ方向の前記途中位置で最も幅広となりかつ前記第1面及び前記第2面に向かうに従って徐々に幅狭になるように形成する。
In the manufacturing method of the wiring board as described in any one of Claims 1 thru | or 6,
The wiring pattern is formed so as to be widest at the middle position in the thickness direction of the metal layer and gradually become narrower toward the first surface and the second surface.
請求項1乃至7の何れか1の請求項に記載の配線板の製造方法であって、
前記金属層のうち前記第1面から前記途中位置迄を前記絶縁樹脂層に埋没させてから前記支持板を除去する。
A method of manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 7,
The support plate is removed after the metal layer is buried in the insulating resin layer from the first surface to the middle position.
請求項1乃至8の何れか1の請求項に記載の配線板の製造方法であって、
前記支持板は、厚みが50μm以上である。
A method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 8,
The support plate has a thickness of 50 μm or more.
請求項1乃至9の何れか1の請求項に記載の配線板の製造方法であって、
前記支持板の両面に前記金属層が積層されている。
A method for manufacturing a wiring board according to any one of claims 1 to 9,
The metal layer is laminated on both sides of the support plate.
配線パターンの少なくとも一部が絶縁樹脂層に埋没している配線板であって、
前記配線パターンは、その厚さ方向の中間部に位置する中間金属層と、前記中間金属層の表裏の両側に積層されかつ前記中間金属層とエッチング特性が異なりかつ前記中間金属層より厚い1対の主金属層とからなる。
A wiring board in which at least a part of the wiring pattern is buried in the insulating resin layer,
The wiring pattern includes a pair of intermediate metal layers positioned in the middle part in the thickness direction, laminated on both sides of the front and back surfaces of the intermediate metal layer, and different in etching characteristics from the intermediate metal layer and thicker than the intermediate metal layer. The main metal layer.
請求項10に記載の配線板において、
前記1対の主金属層は、前記中間金属層から離れるに従って幅狭になっている。
The wiring board according to claim 10, wherein
The pair of main metal layers become narrower as the distance from the intermediate metal layer increases.
請求項11又は12に記載の配線板において、
前記中間金属層の表側に積層されている前記主金属層と、前記中間金属層の裏側に積層されている前記主金属層との厚みが異なる。
The wiring board according to claim 11 or 12,
The main metal layer laminated on the front side of the intermediate metal layer and the main metal layer laminated on the back side of the intermediate metal layer are different in thickness.
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