JP2018084811A - 有機発光表示装置及びその駆動方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 本発明の一実施形態は表示パネル、ゲート駆動部、データ駆動部、タイミングコントローラ及び劣化補償部を含む有機発光表示装置を提供する。
【解決手段】 劣化補償部は、複数の画素各々に対応する入力データのカウンティングを通じて生成される各画素のストレスデータに基づいて、表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出して、各劣化領域に対応する水平ラインらの中で、任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータ及び各画素のストレスデータに基づいて、各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する。
【選択図】 図３

Description

本発明は、有機発光表示装置及びその駆動方法に関し、特に、画素間の劣化状態差を補償する有機発光表示装置及びその駆動方法に関する。

平板表示装置（Ｆｌａｔ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｄｅｖｉｃｅ）はＴＶ、携帯電話、ノートパソコン及びタブレット等のような様々な電子機器に適用される。このため表示装置の薄型化・軽量化及び省消費電力化等を開発する研究を続けている。

平板表示装置の代表的な例としては、液晶ディスプレイ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＬＣＤ）、プラズマディスプレイ（Ｐｌａｓｍａ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｐａｎｅｌ ｄｅｖｉｃｅ：ＰＤＰ）、電界放出ディスプレイ（Ｆｉｅｌｄ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＦＥＤ）、ＥＬディスプレイ（Ｅｌｅｃｔｒｏ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＥＬＤ）、電気湿潤表示装置（Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｗｅｔｔｉｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＥＷＤ）及び有機発光表示装置（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ ｄｅｖｉｃｅ：ＯＬＥＤ）等があげられる。

その中で、有機発光表示装置は、各画素に対応する有機発光素子を利用して映像を表示する。

図１は、一般的な有機発光表示装置の画素に対応する等価回路図である。

図１に示したように、有機発光表示装置の各画素は、第１のスイッチング薄膜トランジスタ（ＳＴ１）、第２のスイッチング薄膜トランジスタ（ＳＴ２）、ドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）、ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）及び有機発光素子（ＯＬＥＤ）を含む。

第１のスイッチング薄膜トランジスタ（ＳＴ１）は，ゲートライン（ＧＬ）のスキャン信号（ｓｃａｎ）に基づいてターンオンする。このとき、第１のスイッチング薄膜トランジスタ（ＳＴ１）は、データライン（ＤＬ）のデータ信号（Ｖｄａｔａ）をドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）に供給する。

ドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）は、第１のスイッチング薄膜トランジスタ（ＳＴ１）を通じて供給されたデータ信号（Ｖｄａｔａ）に基づいてターンオンする。このとき、ドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）を通じて第１及び第２駆動電源（ＶＤＤ，ＶＳＳ）の間の駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）は、有機発光素子（ＯＬＥＤ）に供給される。かかるドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）は、ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）に充填された電圧に基づいてターンオン状態を維持する。

有機発光素子（ＯＬＥＤ）は、駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）に基づいて光を放出する。このとき、駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）の大きさは、ドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）のスイッチングで制御することができる。

一方、有機発光素子（ＯＬＥＤ）及びドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）は、使用量によって劣化される。そして、劣化された有機発光素子（ＯＬＥＤ）又はドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）により、画素の輝度に対する均一度及び信頼度が低下する問題点、及び画質が低下する問題点がある。

特に、表示領域のうち、ロゴ及び広告等を表示する特定領域は、周りの他の領域に比べて使用量が多い。これに、特定領域の劣化度合いは、その周りの他の領域の劣化度合いと異なることで、残像等の不良が発生し得るという問題点がある。

これを防止するため、全体画素の有機発光素子（ＯＬＥＤ）に供給される駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）を順次にセンシングして、センシング結果に基づいて画素間の特性差を補償することができる。この場合、装置の駆動開始時点または駆動終了時点に全体画素をセンシングするための期間を加えなければならないという問題点、及び駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）のセンシングが行われる画素が視認されるという問題点がある。

このため、このような問題点を改善するためデータカウンティング方式が提案されている。

データカウンティング方式によれば、駆動電流（Ｉｏｌｅｄ）のセンシングを行う代わり、各画素に対応する入力データのカウンティングを通じて累積するストレスデータに基づいて劣化モデリングを行う。そして、劣化モデリングの実施結果に従い各画素の特性変化を補償する。ところが、有機発光素子（ＯＬＥＤ）又はドライビング薄膜トランジスタ（ＤＴ）の実際の劣化状態は、光または温度のような外的要因に敏感である反面、データカウンティング方式は、外的要因を反映し難いという問題点がある。

図２は、データカウンティング方式を利用した劣化補償方式の問題点を説明するための図面である。

図２に示したように、データカウンティング方式は、外的要因を反映し難いため、データカウンティング方式に従い予測される画素の劣化状態と画素の実際の劣化状態との間の誤差は増加され得る。特に、データカウンティング方式に従って予測される画素の劣化状態の誤差は、次第に累積される。これによって、画素間の特性差に対する補償が過度にもしくは足りなく行われる不良、すなわち過補償または未補償の駆動不良が発生し得るという問題点がある。

本発明は、データカウンティング方式による画素の劣化状態の誤差が累積することを防止することができ、画素間の特性差に対する補償の正確度を向上させる有機発光表示装置及びその駆動方法を提供するためのものである。

本発明の目的らは、以上で言及した目的に制限されないし、言及していない本発明の他の目的及び特長らは、下記の説明により理解されるし、本発明の実施形態によりさらに明らかに理解されるだろう。また、本発明の目的及び特長らは、特許請求の範囲に示した手段及びその組み合わせによって実現できることが分かりやすいだろう。

本発明の一例示は表示パネル、ゲート駆動部、データ駆動部、タイミングコントローラ及び劣化補償部を含む有機発光表示装置を提供する。ここで、劣化補償部は、複数の画素各々に対応する入力データのカウンティングを通じて生成される各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出して、前記各劣化領域に対応する水平ラインの中で、任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータ及び前記各画素のストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する。

ここで、前記劣化補償部は、前記各画素に対応する入力データをカウンティングして、各画素の累積データを生成するデータカウンティング部、前記各画素の累積データに従い各画素の劣化状態を予測して、各画素のストレスデータを生成する劣化予測部、前記各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出する劣化領域検出部、前記各劣化領域で任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信するセンシング制御部、及び前記センシングデータ及び前記各画素のストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する第１の補償データ生成部を含む。

前記第１の補償データ生成部は、前記センシングデータと前記センシングデータに対応する画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界以上であると、前記センシングデータ及び所定のセンシングデータの加重値に基づいて、前記オリジナルストレスデータを校正する。そして、前記第１の補償データ生成部は、前記オリジナルストレスデータと前記校正済みストレスデータに基づいて校正比率を算出して、前記校正比率に基づいて、前記劣化領域に含まれた複数の画素のストレスデータを校正して、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の前記校正済みストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する。

このような劣化補償部により、劣化領域に含まれた複数の画素において、データカウンティング方式に従う画素の劣化状態は、センシング方式に従う画素の実際の劣化状態に合わせて校正されるため、補償データの信頼度及び正確度を向上することができ、それにより未補償及び過補償を防止することができる。これと共に、一部の画素に対してのみ実際の劣化状態をセンシングすることで、センシングモードが視認されることを防止することができる。

本発明の他の一例示によれば、前記複数の画素各々に対応する入力データをカウンティングして各画素の累積データを生成するステップ、前記各画素の累積データに従い各画素の劣化状態を予測して、各画素のストレスデータを生成するステップ、前記各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出するステップ、前記各劣化領域で任意に選ばれた２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信するステップ、及び前記センシングデータ及び前記各画素のストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップを含む有機発光表示装置の駆動方法を提供する。

前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップは、前記センシングデータと前記センシングデータに対応する画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界差以上であると、前記センシングデータ及び所定のセンシングデータの加重値に基づいて、前記オリジナルストレスデータを校正するステップ、前記オリジナルストレスデータと前記校正済みストレスデータに基づいて校正比率を算出するステップ、前記校正比率に基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素のストレスデータを校正するステップ、及び前記各劣化領域に含まれた複数の画素の前記校正済みストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップを含む。

発明の一実施形態によれば、複数の画素各々に対応する入力データのカウンティングを通じて生成される各画素のストレスデータに基づいて、表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出する。そして、各劣化領域に対応する水平ラインらの中で、任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータ及び各画素のストレスデータに基づいて、各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する。

具体的には、センシングデータとそれに対応する画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界以上であると、センシングデータ及び所定のセンシングデータの加重値に基づいてオリジナルストレスデータを校正する。次いで、校正済みストレスデータに基づいて補償データを生成する。

このように、データカウンティング方式に従うストレスデータに基づいて検出される劣化領域に含まれた複数の画素において、画素の実際の劣化状態を表すセンシングデータに従いストレスデータを校正した後、校正済みストレスデータに基づいて補償データを生成する。

したがって、データカウンティング方式に従って予測される画素の劣化状態は、画素の実際の劣化状態に合わせて校正することができる。したがって、補正データの正確度及び信頼度を向上することができる。これにより、未補償及び過補償を防止できるという特長がある。

また、全体画素ではない劣化領域に含まれる複数の画素のうち一部に対してのみセンシングデータを生成することで、センシングデータを生成するためのセンシングモードが視認されることを防止できるという特長がある。

一般的な有機発光表示装置の画素に対応する等価回路図である。 データカウンティング方式を利用した劣化補償方式の問題点を説明するための図面である。 本発明の一実施形態による有機発光表示装置を概略的に示す図面である。 図３の各画素に対応する等価回路図である。 図３の劣化補償部を示す図面である。 本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法を示した手順図である。 図６の少なくとも一つの劣化領域を検出するステップを示した手順図である。 複数の水平ラインそれぞれの最大ストレスデータに対する一例示を示した図面である。 図８の最大ストレスデータに対するヒストグラムを示した図面である。 図６の補償データを生成するステップを示した手順図である。 図１０のストレスデータを校正するステップにおいて、センシングデータの加重値に対する一例示を示した図面である。

以下、本発明の一実施形態による有機発光表示装置及びその駆動方法について添付図面を参考にして詳説する。

先ず、図３ないし図５を参照して、本発明の一実施形態による有機発光表示について説明する。

図３は、本発明の一実施形態による有機発光表示装置を概略的に示す図面である。図４は図３の各画素に対応する等価回路図であり、図５は図３の劣化補償部を示す図面である。

図３に示したように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置は表示パネル１００、データ駆動部２００、ゲート駆動部３００、タイミングコントローラ４００及び劣化補償部５００を含む。

表示パネル１００は、複数の画素（Ｐ）からなる表示領域を含む。

複数の画素（Ｐ）は、表示領域にマトリックス配列される。各画素（Ｐ）は、複数の画素（Ｐ）各々の外郭に配置されるゲートライン（ＧＬ１〜ＧＬｍ）、データライン（ＤＬ１〜ＤＬｎ）、駆動電源ライン（ＰＬ１〜ＰＬｍ）、センシング信号ライン（ＳＬ１〜ＳＬｍ）及び基準電圧ライン（ＲＬ１〜ＲＬｎ）に連結されて、有機発光素子及び有機発光素子を駆動するための画素回路からなる。

ゲートライン（ＧＬ１〜ＧＬｍ）とデータライン（ＤＬ１〜ＤＬｎ）は、互に交差する方向に配置されることで、複数の画素（Ｐ）に対応する複数の画素領域を定義する。また、ゲートライン（ＧＬ１〜ＧＬｍ）、駆動電源ライン（ＰＬ１〜ＰＬｍ）及びセンシング信号ライン（ＳＬ１〜ＳＬｍ）は、第１方向（図３の左右方向）に配置される。そして、データライン（ＤＬ１〜ＤＬｎ）及び基準電圧ライン（ＲＬ１〜ＲＬｎ）は、第１方向に交差する第２方向（図３の上下方向）に配置される。

ゲート駆動部３００は、ゲートライン（ＧＬ１〜ＧＬｍ）を通じて複数の画素（Ｐ）にスキャン信号を供給する。そして、ゲート駆動部３００は、センシング信号ライン（ＳＬ１〜ＳＬｍ）を通じて複数の画素（Ｐ）にセンシング信号を供給する。

すなわち、表示パネル１００が映像を表示するためのドライビングモードで駆動する場合、ゲート駆動部３００は、各映像フレームを表示するための各垂直期間の間にゲートライン（ＧＬ１〜ＧＬｍ）に順次にスキャン信号を供給することができる。また、ドライビングモードにおいて、ゲート駆動部３００は、駆動電源ライン（ＰＬ１〜ＰＬｍ）を通じて複数の画素（Ｐ）に第１駆動電源（ＶＤＤ）を供給することができる。

そして、表示パネル１００が画素の劣化状態をセンシングするためのセンシングモードで駆動するセンシング期間の間、ゲート駆動部３００は、全体センシング信号ライン（ＳＬ１〜ＳＬｍ）又は一部のセンシング信号ラインに順次にスキャン信号を供給することができる。

データ駆動部２００は、データライン（ＤＬ１〜ＤＬｎ）を通じて複数の画素（Ｐ）にデータ信号を供給する。そして、データ駆動部２００は、基準電圧ライン（ＲＬ１〜ＲＬｎ）を通じて画素（Ｐ）の劣化状態をセンシングする。

すなわち、ドライビングモードにおいて、データ駆動部２００は、各垂直期間のうち、各ゲートライン（ＧＬ）にスキャン信号が供給される各水平期間の間にデータライン（ＤＬ）にデータ信号を供給することができる。

そして、画素の劣化状態をセンシングするためのセンシングモードで駆動するセンシング期間のうち各センシング信号ライン（ＳＬ）にセンシング信号が供給される度に、データ駆動部２００は、基準電圧ライン（ＲＬ１〜ＲＬｎ）の電圧レベルを感知する。

タイミングコントローラ４００は、ゲート駆動部３００及びデータ駆動部２００をドライビングモード及びセンシングモードのうちいずれかで駆動することができる。

タイミングコントローラ４００は、タイミング同期信号（ＴＳＳ）に基づいて、ゲート駆動部３００及びデータ駆動部２００をドライビングモードで駆動することができる。このとき、入力データ（Ｉｄａｔａ）による映像は表示パネル１００に表示される。

すなわち、ドライビングモードで駆動する際、タイミングコントローラ４００は、入力データ（Ｉｄａｔａ）及びタイミング同期信号（ＴＳＳ）に基づいて、ゲート駆動部３００及びデータ駆動部２００の駆動を制御する。これにより、表示パネル１００の複数の画素（Ｐ）においてそれぞれの入力データ（Ｉｄａｔａ）による輝度が表示されるため、映像が表示される。

タイミングコントローラ４００は、ゲート駆動部３００及びデータ駆動部２００をセンシングモードで駆動することもできる。一例として、表示パネル１００の駆動開始時点、駆動終了時点及び駆動中に、既設定済みのブランク期間のうち少なくとも一つにおいて、タイミングコントローラ４００は、ゲート駆動部３００及びデータ駆動部２００をセンシングモードで駆動することができる。

劣化補償部５００は、各画素（Ｐ）の劣化状態を補償するための補償データをデータ駆動部２００に供給する。

劣化補償部５００は、各画素（Ｐ）に対応する入力データ（Ｉｄａｔａ）のカウンティングを通じて生成される各画素（Ｐ）のストレスデータに基づいて、表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出する。そして、劣化補償部５００は、各劣化領域に対応する水平ラインらの中で２つ以上の水平ラインを任意に選ぶ。次いで、劣化補償部５００は、選ばれた水平ラインらに含まれた複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータ及びストレスデータに基づいて、各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データ（Ｃｄａｔａ）を生成する。

そして、データ駆動部２００から複数の画素（Ｐ）に供給されるデータ信号（Ｖｄａｔａ）は、劣化補償部５００による補償データ（Ｃｄａｔａ）に基づいて補償される。

図４に示したように、各画素（Ｐ）は、有機発光素子（ＯＬＥＤ）と有機発光素子（ＯＬＥＤ）を駆動する画素回路（ＰＣ）を含む。

画素回路（ＰＣ）は、第１のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ１）、第２のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ２）、ドライビングＴＦＴ（ＤＴ）及びストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）を含む。

第１のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ１）は、ゲートライン（ＧＬ）、データライン（ＤＬ）及び第１ノード（ｎ１）の間に連結される。第１ノード（ｎ１）は、第１のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ１）とドライビングＴＦＴ（ＤＴ）の間のノードである。かかる第１のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ１）は、ゲートライン（ＧＬ）のスキャン信号（ｓｃａｎ）に基づいてターンオンすると、データライン（ＤＬ）のデータ信号（Ｖｄａｔａ）を第１ノード（ｎ１）に伝達する。

ドライビングＴＦＴ（ＤＴ）は、第１ノード（ｎ１）、駆動電源ライン（ＰＬ）及び第２ノード（ｎ２）に連結される。第２ノード（ｎ２）は、ドライビングＴＦＴ（ＤＴ）と有機発光素子（ＯＬＥＤ）の間のノードである。

ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、ドライビングＴＦＴ（ＤＴ）のゲート電極とドレイン電極の間に連結される。すなわち、ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、第１ノード（ｎ１）と第２ノード（ｎ２）の間に連結される。かかるストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、第１及び第２ノード（ｎ１，ｎ２）の間の差電圧で充填される。

有機発光素子（ＯＬＥＤ）は、第２ノード（ｎ２）と第２駆動電源（ＶＳＳ）の間に連結される。

これに、ドライビングＴＦＴ（ＤＴ）は、第１ノード（ｎ１）に供給されるデータライン（ＤＬ）のデータ信号（Ｖｄａｔａ）とストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）に充填された電圧に基づいてターンオンされる。そして、ターンオンされたドライビングＴＦＴ（ＤＴ）を通じて、第１及び第２駆動電源（ＶＤＤ，ＶＳＳ）の間に電流経路が形成されて、有機発光素子（ＯＬＥＤ）に駆動電流が供給される。このとき、有機発光素子（ＯＬＥＤ）は駆動電流に基づいて光を放出する。

第２のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ２）は、センシング信号ライン（ＳＬ）、基準電圧ライン（ＲＬ）及び第２ノード（ｎ２）に連結される。かかる第２のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ２）は、センシング信号ライン（ＳＬ）のセンシング信号（ｓｅｎｓｅ）に基づいてターンオンすると、第２ノード（ｎ２）の電圧レベルを基準電圧ライン（ＲＬ）に伝達する。すなわち、ターンオンされた第２のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ２）を通じて有機発光素子（ＯＬＥＤ）の駆動電流は、基準電圧ライン（ＲＬ）に伝達される。これにより、有機発光素子（ＯＬＥＤ）の駆動電流はセンシングされる。

上述したように、データ駆動部２００は、タイミングコントローラ（図３の４００）の制御によって、ドライビングモード及びセンシングモードのうちいずれかで駆動される。

データ駆動部２００は、データ信号生成部２１０、センシングデータ生成部２３０及びスイッチング部２４０を含む。

データ信号生成部２１０は、入力データ（Ｉｄａｔａ）に対応する電圧レベルのデータ信号を生成する。例示として、データ信号生成部２１０は、サンプリング信号を生成するシフトレジスタ、サンプリング信号に従い入力データ（Ｉｄａｔａ）をラッチするラッチ部、複数の基準ガンマ電圧を利用して複数の階調電圧を生成する階調電圧生成部、複数の階調電圧のうちラッチされた入力データ（Ｉｄａｔａ）に対応する階調電圧をデータ信号（Ｖｄａｔａ）として選択して出力するデジタル−アナログ変換部及びデータ信号（Ｖｄａｔａ）を出力する出力部を含む。

スイッチング部２４０は、第１及び第２スイッチ２４０ａ，２４０ｂを含む。

第１スイッチ２４０ａは、ドライビングモードにおいてデータ信号（Ｖｄａｔａ）をデータライン（ＤＬ）に伝達して、センシングモードにおいて第１基準電圧（Ｖｐｒｅｄ）をデータライン（ＤＬ）に伝達する。

第２スイッチ２４０ｂは、ドライビングモードにおいて第２基準電圧（Ｖｐｒｅ＿ｒ）を基準電圧ライン（ＲＬ）に伝達して、センシングモードのうち初期化期間の間にセンシングプレチャージング電圧（Ｖｐｒｅ＿ｓ）を基準電圧ライン（ＲＬ）に伝達する。

その後、センシングモードのうちセンシング充填期間の間、各画素（Ｐ）の第２のスイッチングＴＦＴ（ＳＴ２）はターンオンして、第２ノード（ｎ２）の電圧レベルは基準電圧ライン（ＲＬ）に伝達される。そして、センシングモードのうちセンシング期間の間、基準電圧ライン（ＲＬ）の電圧レベルは、センシングデータ生成部２３０によりセンシングされる。

図５に示したように、本発明の一実施形態による劣化補償部５００は、データカウンティング部５１０、劣化予測部５２０、劣化領域検出部５３０、センシング制御部５４０、第１及び第２の補償データ生成部５５０，５６０を含む。

データカウンティング部５１０は、各画素に対応する入力データ（Ｉｄａｔａ）をカウンティングして、各画素の累積データ（Ａｄａｔａ）を生成する。

劣化予測部５２０は、各画素の累積データ（Ａｄａｔａ）に基づいて、各画素の劣化状態の予測値に対応する各画素のストレスデータ（ＭＳｄａｔａ）を生成する。

劣化領域検出部５３０は、各画素のストレスデータ（ＭＳｄａｔａ）に基づいて、表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出する。ここで、劣化領域は、周りの他の領域に比べて臨界差以上にさらに多い劣化が進行した領域を表す。

例示として、劣化領域検出部５３０は、各画素のストレスデータ（ＭＳｄａｔａ）に基づいて、複数の水平ラインそれぞれの最大ストレスデータを検出する。すなわち、複数の水平ラインそれぞれに含まれた複数の画素のストレスデータのうち最大ストレスデータを検出する。ここで、各水平ラインは、ゲートライン（図３のＧＬ）に対応する第１方向（図３の左右方向）に並列された複数の画素からなる。

劣化領域検出部５３０は、各水平ラインの最大ストレスデータに基づいて劣化臨界データを算出する。例示として、劣化臨界データは、複数の水平ラインの最大ストレスデータに対する平均値に指定される。但し、これは単なる例示であって、劣化臨界データは、設計者が任意に既設定済みの値に指定されてもよい。

劣化領域検出部５３０は、複数の水平ラインの中で、劣化臨界データ以上の最大ストレスデータを有する劣化水平ラインを検出する。そして、劣化領域検出部５３０は、表示領域のうち劣化水平ラインを含む少なくとも一つの劣化領域を選択する。

例示として、劣化領域検出部５３０は、表示領域を複数のブロック領域に分割して、複数のブロック領域の中で、前記劣化水平ラインを臨界個数以上含むブロック領域を劣化領域として選択することができる。または、劣化領域検出部５３０は、臨界間隔以内で２つ以上の劣化水平ラインが配置される領域を劣化領域として選択することもできる。

センシング制御部５４０は、各劣化領域に含まれた水平ラインらの中で２つ以上の水平ラインを任意に選び、各劣化領域で選ばれた２つ以上の水平ラインに含まれた複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信する。すなわち、センシング制御部５４０は、データ駆動部（図４の２００）のセンシングデータ生成部（図４の２３０）を制御して、各劣化領域で選ばれた２つ以上の水平ラインに含まれた複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを生成する。

第１の補償データ生成部５５０は、センシング制御部５４０で受信したセンシングデータ及び各劣化領域に含まれた複数の画素のストレスデータに基づいて、各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する。

すなわち、第１の補償データ生成部５５０は、センシングデータとセンシングデータに対応するいずれか画素のストレスデータとの間の差が臨界以上であると、センシングデータ及び所定のセンシングデータの加重値に基づいて、いずれか画素のストレスデータを校正する。このとき、校正済みストレスデータは、センシングデータとオリジナルストレスデータとの間の加重平均である。そして、センシングデータの加重値は、装置の累積駆動時間に基づいて算出することができる。

第１の補償データ生成部５５０は、校正済みストレスデータに基づいて、前記いずれか画素に対する補償データ（Ｃｄａｔａ）を生成する。

また、第１の補償データ生成部５５０は、いずれか画素のオリジナルストレスデータと校正済みストレスデータに基づいて校正比率を算出する。第１の補償データ生成部５５０は、算出済み校正比率に基づいて、劣化領域に含まれた残りの複数の画素のストレスデータを校正する。

次いで、第１の補償データ生成部５５０は、校正済みストレスデータに基づいて、劣化領域に含まれた複数の画素の補償データ（Ｃｄａｔａ）を生成する。

第２の補償データ生成部５６０は、各画素のストレスデータに基づいて、表示領域のうち劣化領域を除く残り領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する。すなわち、第２の補償データ生成部５６０は、劣化領域ではない領域に配置された複数の画素に対して、校正されていないオリジナルストレスデータに基づいて補償データ（Ｃｄａｔａ）を生成する。

次に、図６ないし図１１を参照して、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法について説明する。

図６は、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法を示した手順図である。図７は、図６の少なくとも一つの劣化領域を検出するステップを示した手順図である。図８は、複数の水平ラインそれぞれの最大ストレスデータに対する一例示を示した図面であり、図９は、図８の最大ストレスデータに対するヒストグラムを示した図面である。図１０は、図６の補償データを生成するステップを示した手順図である。図１１は、図１０のストレスデータを校正するステップにおいて、センシングデータの加重値に対する一例示を示した図面である。

図６に示したように、本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法は、劣化補償過程を含む。

本発明の一実施形態による有機発光表示装置の駆動方法は、各画素に対応する入力データをカウンティングして、各画素の累積データを生成するステップ（Ｓ１０）、各画素の累積データに基づいて、各画素の劣化状態の予測値に対応する各画素のストレスデータを生成するステップ（Ｓ２０）、各画素のストレスデータに基づいて、表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出するステップ（Ｓ３０）、各劣化領域に含まれた水平ラインらの中で、任意に選ばれる２つ以上の水平ラインに含まれた複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信するステップ（Ｓ４０）、及びセンシングデータ及び各画素のストレスデータに基づいて、各画素の補償データを生成するステップを含む。

図７に示したように、少なくとも一つの劣化領域を検出するステップ（Ｓ２０）は、各画素のストレスデータに基づいて、複数の水平ラインそれぞれの最大ストレスデータを検出するステップ（Ｓ２１）、各水平ラインの最大ストレスデータに基づいて劣化臨界データを算出するステップ（Ｓ２２）、及び複数の水平ラインの中で、劣化臨界データ以上の最大ストレスデータを有する劣化水平ラインを検出して、表示領域のうち劣化水平ラインを含む少なくとも一つの劣化領域を選択するステップ（Ｓ２３）を含む。

具体的には、劣化補償部５００のデータカウンティング部５１０は、各画素に対応する入力データ（Ｉｄａｔａ）をカウンティングして、各画素の累積データ（Ａｄａｔａ）を生成する（Ｓ１０）。

そして、劣化予測部５２０は、各画素の累積データ（Ａｄａｔａ）に基づいて、各画素の劣化状態の予測値に対応する各画素のストレスデータ（ＭＳｄａｔａ）を生成する（Ｓ２０）。

図８に示したように、劣化補償部５００の劣化領域検出部（図５の５３０）は、各水平ラインに含まれた複数の画素のストレスデータ（ＭＳｄａｔａ）のうち最大値を検出して、複数の水平ライン（図８の横軸）に対応する複数の最大ストレスデータ（Ｍａｘ＿ＭＳｄａｔａ；図８の縦軸）を検出する（Ｓ３１）。

次いで、図９に示したように、劣化領域検出部５３０は、複数の最大ストレスデータの散布形態に基づいて劣化臨界データを算出する（Ｓ３２）。

例示として、劣化臨界データは、複数の最大ストレスデータに対する平均値として指定され得る。

または、劣化臨界データは、図９に示したような複数の最大ストレスデータに対する最頻値に基づいて算出することもできる。この場合、劣化領域検出部５３０は、複数の最大ストレスデータに対する散布形態（図９）から２つ以上の最頻値を検出する。すなわち、複数の最大ストレスデータのうち、一番多く発生した手順に２つ以上の最大ストレスデータを検出する。そして、劣化領域検出部５３０は、最頻値に検出された２つ以上の最大ストレスデータのうち最大値を検出して、最大値に検出された最大ストレスデータに対応する所定の正規分布を選定し、選定された正規分布に含まれた最大ストレスデータらのうち最小値を最小変数に検出して、検出した最小変数を劣化臨界データとして指定することもできる。

但し、これは単なる例示であって、劣化臨界データは、複数の最大ストレスデータのうち、画素の劣化状態が視認性を有する位の臨界値であればいずれも指定することができ、設計者の選択によって任意に指定することもできる。

次いで、劣化領域検出部５３０は、複数の水平ラインの中で、劣化臨界データ以上の最大ストレスデータを有する劣化水平ライン（図９の長方形の点線）を検出する。そして、劣化領域検出部５３０は、表示領域のうち劣化水平ラインを含む少なくとも一つの劣化領域を選択する（Ｓ３３）。

ここで、劣化領域検出部５３０は、表示領域を分割した複数のブロック領域のうち、臨界個数以上の劣化水平ラインらを含むブロック領域を劣化領域として選択することができる。または、劣化領域検出部５３０は、臨界間隔以内で２つ以上の劣化水平ラインらが配置される領域を劣化領域として選択することができる。

次に、センシング制御部５４０は、各劣化領域に含まれた水平ラインらの中で２つ以上の水平ラインを任意に選ぶ。そして、センシング制御部５４０は、データ駆動部（図４の２００）のセンシングデータ生成部（図４の２３０）から各劣化領域で選ばれた２つ以上の水平ラインに含まれた複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信する（Ｓ４０）。

このとき、センシングデータ生成部２３０は、センシング制御部５４０の制御に従い、全体画素のセンシングデータを生成することではなく、各劣化領域のうち任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素のセンシングデータのみを生成する。これによって、センシングデータを生成するためのセンシングモードで駆動される期間は短く、センシングモードで駆動される水平ラインらは少ないため、センシングモードが視認されることを防止することができる。

例示として、各劣化領域のうち、センシングデータを生成するために選択される水平ラインの個数は、センシングモードが視認されない位の臨界時間と一つの水平ラインがセンシングされる時間に基づいて設定することができる。

次に、第１及び第２の補償データ生成部５５０，５６０は、各画素に対する補償データを生成する（Ｓ５０）。

図１０に示したように、劣化領域に含まれた画素の場合（Ｓ５１）、第１の補償データ生成部５５０により補償データを生成する（Ｓ５２〜Ｓ５６）。一方、劣化領域を除く残り領域に含まれた画素の場合（Ｓ５１）、第２の補償データ生成部５６０により補償データを生成する（Ｓ５７）。

第１の補償データ生成部５５０は、センシング制御部５４０から各劣化領域に含まれた水平ラインらの中で、任意に選ばれる２つ以上の水平ラインに含まれた複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信する（Ｓ５２）。第１の補償データ生成部５５０は、劣化予測部５２０から各画素のストレスデータを受信する（Ｓ５３）。

次いで、第１の補償データ生成部５５０は、センシングデータとそれに対応する画素のストレスデータとの間の差が臨界差以上であると（Ｓ５４）、センシングデータと所定のセンシングデータの加重値に基づいてストレスデータを校正する。そして、第１の補償データ生成部５５０は、校正済みストレスデータとオリジナルストレスデータに基づいて校正比率を算出して、校正比率に基づいて劣化領域の残り複数の画素のストレスデータを校正する（Ｓ５５）。

次いで、第１の補償データ生成部５５０は、校正済みストレスデータに基づいて補償データを生成する（Ｓ５６）。

このように、第１の補償データ生成部５５０は、センシングデータの加重値に基づくセンシングデータとオリジナルストレスデータとの間の加重平均でオリジナルストレスデータを校正する。ここで、センシングデータの加重値は、装置の累積駆動時間に基づいて算出することができる。

すなわち、図１１に示したように、装置の累積駆動時間（図１１の横軸）は、臨界時間（ＴＨ＿ＤＴ）以下であると、センシングデータの加重値（Ｓｄａｔａの加重値；図１１の縦軸）は０に設定される。そして、装置の累積駆動時間が臨界時間（ＴＨ＿ＤＴ）を超えると、センシングデータの加重値は、臨界時間（ＴＨ＿ＤＴ）に比例して次第に増加する値に設定される。

ここで、臨界時間（ＴＨ＿ＤＴ）は、装置製造時の画素間の特性差がデータカウンティング方式に従う画素間の劣化状態の予想値の誤差より小さくなる時点に対応することができる。例示として、臨界時間（ＴＨ＿ＤＴ）は、２０００〜３０００範囲の時間に設定することができる。

図２を参照すれば、装置を製造した直後は、センシング方式に従う画素の劣化状態とデータカウンティング方式による画素の劣化状態が、同等または誤差範囲内で類似である。一方、臨界時間の後、少なくとも一部の画素において、データカウンティング方式に従う画素の劣化状態は、センシング方式に従う画素の劣化状態と異なることを確認することができる。

これによって、本発明の一実施形態によれば、データカウンティング方式に従う画素の劣化状態は、センシング方式に従う画素の劣化状態と異なる程度が視認される位である時点を臨界時間（図１１のＴＨ＿ＤＴ）として設定する。そして、臨界時間の後から、臨界時間に対応するセンシングデータの加重値に基づいて、データカウンティング方式に従うストレスデータをセンシング方式に従うセンシングデータに校正する。これにより、データカウンティング方式に従う画素の劣化状態を表すストレスデータは、画素の実際の劣化状態を表すセンシングデータと類似に校正することができる。したがって、校正済みストレスデータに基づいて補償データを生成することができ、補償データの正確度及び信頼度が向上するため、未補償または過補償が発生する可能性は低くなる。

一方、図１０に示したように、第１の補償データ生成部５５０は、センシングデータとそれに対応する画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界未満であると、劣化予測部５２０による画素のオリジナルストレスデータに基づいて補償データを生成する（Ｓ５７）。

そして、第２の補償データ生成部５５０は、劣化領域ではない残り領域に含まれた複数の画素に対して、劣化予測部５２０による各画素のストレスデータに基づいて補償データを生成する（Ｓ５７）。

以上のように、本発明の一実施形態によれば、データカウンティング方式に従う各画素のストレスデータに基づいて劣化領域を指定する。そして、劣化領域に含まれた複数の画素において、ストレスデータとセンシングデータとの間の差が臨界差以上であると、校正済みストレスデータに基づいて補償データを生成する。

一方、劣化領域ではない残り領域に含まれた複数の画素である場合、または劣化領域に含まれるとしてもストレスデータとセンシングデータとの間の差が臨界差未満である場合、ストレスデータを校正せずそのまま維持した状態で、ストレスデータに基づいて補償データを生成する。

これにより、データカウンティング方式に従う画素の劣化状態は、センシング方式に従う画素の実際の劣化状態と類似に校正される。したがって、補償データの信頼度及び正確度が向上し、それにより未補償または過補償が発生する可能性は低くなる。

また、本発明の一実施形態によれば、他の領域に比べて多くの劣化が発生した劣化領域に対してのみストレスデータをセンシングデータに校正して、センシングデータは、劣化領域で任意に選ばれるいずれか２つ以上の水平ラインに対してのみ生成するため、センシングモードで駆動される画素が視認されることを防止することができる。また、装置の駆動開始時点または駆動終了時点等に、全体画素に対するセンシングデータを生成するための期間を加える必要がないので、装置の便宜性を向上することができる。

以上で説明した本発明は、上述した実施形態及び添付図面に限定されるものではなく、本発明の技術的思想を脱しない範囲内で様々な置換、変形及び変更が可能であることは、本発明が属する技術分野で従来の知識を有する者においては自明である。

Claims (14)

1. 複数の画素からなる表示領域を含む表示パネルと、
   前記複数の画素にスキャン信号及びセンシング信号を供給するゲート駆動部と、
   前記複数の画素にデータ信号を供給して、前記複数の画素の劣化状態をセンシングするデータ駆動部と、
   前記ゲート駆動部及び前記データ駆動部をドライビングモードまたはセンシングモードのうちいずれかで駆動するタイミングコントローラと、
   前記各画素に対応する入力データのカウンティングを通じて生成される各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出して、前記各劣化領域に対応する水平ラインの中で、任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータ及び前記各画素のストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する劣化補償部と、
   を含む有機発光表示装置。
2. 前記劣化補償部は、
   前記各画素に対応する入力データをカウンティングして、各画素の累積データを生成するデータカウンティング部と、
   前記各画素の累積データに従い各画素の劣化状態を予測して、各画素のストレスデータを生成する劣化予測部と、
   前記各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち少なくとも一つの前記劣化領域を検出する劣化領域検出部と、
   前記各劣化領域で任意に選ばれたいずれか２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対する前記センシングデータを受信するセンシング制御部と、
   前記センシングデータ及び前記各画素のストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する第１の補償データ生成部と、
   を含む、請求項１に記載の有機発光表示装置。
3. 前記劣化領域検出部は、
   前記各画素のストレスデータに基づいて、第１方向に並列された画素各々からなる複数の水平ラインそれぞれの最大ストレスデータを検出して、前記複数の水平ラインの最大ストレスデータに基づいて、劣化臨界データを算出して、前記複数の水平ラインの中で、前記劣化臨界データ以上の最大ストレスデータを有する劣化水平ラインを検出して、前記表示領域のうち前記劣化水平ラインを含む少なくとも一つの劣化領域を選択する、請求項２に記載の有機発光表示装置。
4. 前記第１の補償データ生成部は、
   前記センシングデータと前記センシングデータに対応する画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界以上であると、前記センシングデータ及び所定のセンシングデータの加重値に基づいて、前記オリジナルストレスデータを校正する、請求項２に記載の有機発光表示装置。
5. 前記第１の補償データ生成部は、
   前記オリジナルストレスデータと前記校正済みストレスデータに基づいて校正比率を算出し、
   前記校正比率に基づいて、前記劣化領域に含まれた複数の画素のストレスデータを校正し、
   前記各劣化領域に含まれた複数の画素の前記校正済みストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する、請求項４に記載の有機発光表示装置。
6. 前記センシングデータの加重値は、累積駆動時間に基づいて算出される、請求項４に記載の有機発光表示装置。
7. 前記劣化補償部は、前記各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち劣化領域を除く残り領域に含まれた複数の画素の補償データを生成する第２の補償データ生成部をさらに含む、請求項２に記載の有機発光表示装置。
8. 前記データ駆動部は、前記劣化補償部による補償データに従い補償されたデータ信号を前記複数の画素に供給する、請求項１に記載の有機発光表示装置。
9. 表示領域に配置された複数の画素を含む有機発光表示装置を駆動する方法において、
   前記複数の画素各々に対応する入力データをカウンティングして、各画素の累積データを生成するステップと、
   前記各画素の累積データに従い各画素の劣化状態を予測して、各画素のストレスデータを生成するステップと、
   前記各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち少なくとも一つの劣化領域を検出するステップと、
   前記各劣化領域で任意に選ばれた２つ以上の水平ラインに含まれる複数の画素の劣化状態に対するセンシングデータを受信するステップと、
   前記センシングデータ及び前記各画素のストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップと、
   を含む有機発光表示装置の駆動方法。
10. 前記少なくとも一つの劣化領域を検出するステップは、
    前記各画素のストレスデータに基づいて、第１方向に並列された複数の画素各々からなる複数の水平ラインそれぞれの最大ストレスデータを検出するステップと、
    前記複数の水平ラインの最大ストレスデータに基づいて、劣化臨界データを算出するステップと、
    前記複数の水平ラインの中で、前記劣化臨界データ以上の最大ストレスデータを有する劣化水平ラインを検出して、前記表示領域のうち、前記劣化水平ラインを含む少なくとも一つの劣化領域を選択するステップと、
    を含む請求項９に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
11. 前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップは、
    前記センシングデータと前記センシングデータに対応する画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界差以上であると、前記センシングデータ及び所定のセンシングデータの加重値に基づいて、前記オリジナルストレスデータを校正するステップと、
    前記オリジナルストレスデータと前記校正済みストレスデータに基づいて校正比率を算出するステップと、
    前記校正比率に基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素のストレスデータを校正するステップと、
    前記各劣化領域に含まれた複数の画素の前記校正済みストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップと、
    を含む請求項９に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
12. 前記センシングデータの加重値は、累積駆動時間が所定の臨界時間以上であると、前記累積駆動時間に比例して算出される、請求項１１に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
13. 前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップは、前記センシングデータと前記センシングデータに対応する前記画素のオリジナルストレスデータとの間の差が臨界差未満であると、前記各画素のオリジナルストレスデータに基づいて、前記各劣化領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップを含む、請求項１１に記載の有機発光表示装置の駆動方法。
14. 前記各画素のストレスデータに基づいて、前記表示領域のうち、劣化領域を除く残り領域に含まれた複数の画素の補償データを生成するステップをさらに含む、請求項９に記載の有機発光表示装置の駆動方法。

Images