JP2018066583A - Automatic analyzer - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic analyzer that is able to reduce load on taking out a sample rack holding a sample container required by an operator.SOLUTION: According to an embodiment, an automatic analyzer comprises a stay area, a determining section, a drive section, and an ejection management section. The stay area is an area where a sample rack is allowed to stay. On the basis of an error that has arisen, the determining section determines whether a sample rack holding a sample container containing a sample that has caused the error should be stayed in the stay area or not. The drive section moves the sample rack determined to be stayed, to the stay area. In a case where an instruction to eject the sample rack stayed in the stay area is input, the ejection management section controls the drive section such that the sample rack as a target of the ejection instruction is ejected to an ejection destination set in advance for the sample rack.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。   Embodiments described herein relate generally to an automatic analyzer.

自動分析装置は、試料容器に収容される試料に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。自動分析装置では、試料容器は、試料容器を複数本保持可能なサンプルラックに保持される。サンプルラックは、自動分析装置に設けられる投入レーンから投入され、自動分析装置内を搬送される。試料容器に収容される試料は、反応管へ分注され、反応管で検査項目と対応する試薬と混合される。試料と試薬との混合液は、成分を光学的に測定される。保持する全ての試料容器に収容される試料についての成分測定が終了すると、サンプルラックは所定の回収レーンへ排出される。   The automatic analyzer is a device for measuring components related to test items such as biochemical test items and immunological test items included in a sample contained in a sample container. In the automatic analyzer, the sample container is held in a sample rack that can hold a plurality of sample containers. The sample rack is loaded from a loading lane provided in the automatic analyzer and transported through the automatic analyzer. The sample accommodated in the sample container is dispensed into the reaction tube, and mixed with the reagent corresponding to the inspection item in the reaction tube. In the mixed solution of the sample and the reagent, the components are optically measured. When the component measurement for the samples contained in all the held sample containers is completed, the sample rack is discharged to a predetermined recovery lane.

ところで、自動分析装置は、測定時に発生する種々のエラーを検知可能である。自動分析装置では、測定時に所定のエラーが発生した場合、例えばエラーを発生させた試料を含むサンプルラックを、予め設定した排出先へ自動的に排出する。操作者は、所定の排出先に排出されているサンプルラックに保持される、エラーを発生させた試料を収容する試料容器を確認する。   By the way, the automatic analyzer can detect various errors that occur during measurement. In the automatic analyzer, when a predetermined error occurs during measurement, for example, a sample rack including a sample in which the error has occurred is automatically discharged to a preset discharge destination. The operator confirms the sample container that holds the sample causing the error, which is held in the sample rack discharged to a predetermined discharge destination.

しかしながら、操作者が所定の排出先の前に常に待機しているとは限らない。そのため、操作者が気付いたときには、所定の排出先に複数のサンプルラックが排出されている場合もあり得る。このような場合、操作者は、複数のサンプルラックから、所望の試料容器を保持するサンプルラックを探し出さなくてはならない。   However, the operator is not always on standby before a predetermined discharge destination. Therefore, when the operator notices, a plurality of sample racks may be discharged to a predetermined discharge destination. In such a case, the operator must find a sample rack that holds a desired sample container from a plurality of sample racks.

特開2011−064537号公報JP 2011-064537 A

目的は、操作者が所望の試料容器を保持するサンプルラックを取得する際の負担を軽減することが可能な自動分析装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an automatic analyzer capable of reducing a burden when an operator obtains a sample rack holding a desired sample container.

実施形態によれば、自動分析装置は、滞留エリア、判定部、駆動部、及び排出管理部を具備する。滞留エリアは、サンプルラックを滞留させるためのものである。判定部は、発生したエラーに基づいて、前記エラーを発させた試料を収容する試料容器を保持するサンプルラックを、前記滞留エリアに滞留させるか否かを判定する。駆動部は、前記滞留させると判定されたサンプルラックを前記滞留エリアへ移動させる。排出管理部は、前記滞留エリアに滞留されたサンプルラックに対する排出指示が入力されると、前記排出指示の対象となるサンプルラックを、当該サンプルラックに対し予め設定される排出先へ排出するように前記駆動部を制御する。   According to the embodiment, the automatic analyzer includes a stay area, a determination unit, a drive unit, and a discharge management unit. The retention area is for retaining the sample rack. The determination unit determines, based on the error that has occurred, whether or not the sample rack that holds the sample container that stores the sample in which the error has occurred is retained in the retention area. The drive unit moves the sample rack determined to be retained to the retention area. When a discharge instruction is input to the sample rack retained in the retention area, the discharge management unit discharges the sample rack that is the target of the discharge instruction to a discharge destination set in advance for the sample rack. The drive unit is controlled.

図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of the automatic analyzer according to the first embodiment. 図2は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing the configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 図3は、図1に示される分析機構の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a configuration of the analysis mechanism shown in FIG. 図4は、図2に示されるサンプル分注ユニット、及び圧力検出器の構成を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the sample dispensing unit and the pressure detector shown in FIG. 図5は、実施形態に係る制御回路によるサンプルラックの滞留判定の流れを表すフローチャートである。FIG. 5 is a flowchart showing a flow of determination of staying in a sample rack by the control circuit according to the embodiment. 図6は、実施形態に係るエラー対応テーブルの一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of an error correspondence table according to the embodiment. 図7は、実施形態に係る排出管理テーブルの一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a discharge management table according to the embodiment. 図8は、実施形態に係る制御回路による排出管理に係る動作の例を表すフローチャートである。FIG. 8 is a flowchart illustrating an example of an operation related to discharge management by the control circuit according to the embodiment. 図9は、実施形態に係る表示回路が表示するラック取り出しアイコンの表示例を示す図である。FIG. 9 is a diagram illustrating a display example of the rack removal icon displayed by the display circuit according to the embodiment. 図10は、実施形態に係る表示回路が表示するサンプルラックの識別情報及び排出先に関する情報の表示例を表す図である。FIG. 10 is a diagram illustrating a display example of sample rack identification information and discharge destination information displayed by the display circuit according to the embodiment. 図11は、実施形態に係る表示回路が表示する、バッファレーンへ移動されたサンプルラックを所定の排出先へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面の表示例を表す図である。FIG. 11 is a diagram illustrating a display example of a confirmation screen that accepts confirmation of an instruction to discharge the sample rack moved to the buffer lane to a predetermined discharge destination, which is displayed by the display circuit according to the embodiment. 図12は、実施形態に係る表示回路が表示する、排出できない旨を表すポップアップの表示例を表す図である。FIG. 12 is a diagram illustrating a display example of a pop-up displayed by the display circuit according to the embodiment indicating that it cannot be discharged. 図13は、変形例に係る制御回路によるサンプルラックの滞留判定に係る動作の例を表すフローチャートである。FIG. 13 is a flowchart illustrating an example of an operation relating to the stay determination of the sample rack by the control circuit according to the modification. 図14は、他の実施形態に係る表示回路が表示するサンプルラックの識別情報及び排出先に関する情報の表示例を表す図である。FIG. 14 is a diagram illustrating a display example of sample rack identification information and discharge destination information displayed by a display circuit according to another embodiment.

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings.

(第1の実施形態)
図1は、第1の実施形態に係る自動分析装置1の機能構成を示すブロック図である。図1に示される自動分析装置1は、分析機構2、解析回路3、駆動機構4、入力インタフェース回路5、表示回路6、記憶回路7、及び制御回路8を具備する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing a functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the first embodiment. An automatic analyzer 1 shown in FIG. 1 includes an analysis mechanism 2, an analysis circuit 3, a drive mechanism 4, an input interface circuit 5, a display circuit 6, a storage circuit 7, and a control circuit 8.

分析機構2は、標準試料又は被検試料等の試料と、この試料に設定された各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構2は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ、及び被検データを生成する。   The analysis mechanism 2 mixes a sample such as a standard sample or a test sample and a reagent used for each inspection item set for the sample. The analysis mechanism 2 measures a mixed solution of a sample and a reagent, and generates standard data represented by, for example, absorbance and test data.

解析回路3は、分析機構2により生成された標準データ、被検データに基づいて検量データ及び分析データ等を解析するプロセッサである。解析回路3は、記憶回路7から動作プログラムを読み出し、動作プログラムに従って検量データ及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路3は、標準データと、標準試料に予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路3は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づいて、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路3は生成した検量データ及び分析データ等を制御回路8へ出力する。   The analysis circuit 3 is a processor that analyzes calibration data, analysis data, and the like based on the standard data and test data generated by the analysis mechanism 2. The analysis circuit 3 reads the operation program from the storage circuit 7 and generates calibration data, analysis data, and the like according to the operation program. For example, the analysis circuit 3 generates calibration data indicating the relationship between the standard data and a standard value preset in the standard sample. The analysis circuit 3 generates analysis data represented as a concentration value and an enzyme activity value based on the test data and the calibration data of the test item corresponding to the test data. The analysis circuit 3 outputs the generated calibration data and analysis data to the control circuit 8.

駆動機構4は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構4は、制御回路8の制御に従い、分析機構2を駆動させる。   The drive mechanism 4 is realized by a gear, a stepping motor, a belt conveyor, a lead screw, and the like. The drive mechanism 4 drives the analysis mechanism 2 under the control of the control circuit 8.

入力インタフェース回路5は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース回路5は、例えば、操作者から検査を行う検査対象の試料を識別する試料ID、この試料IDに対する検査項目、及び各検査項目の分析パラメータを受け付ける。入力インタフェース回路5は、制御回路8に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路8へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路5はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置1とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路8へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路5の例に含まれる。   The input interface circuit 5 is realized by, for example, a mouse, a keyboard, and a touch pad on which an instruction is input by touching the operation surface. The input interface circuit 5 receives, for example, a sample ID for identifying a sample to be inspected from the operator, an inspection item for the sample ID, and an analysis parameter of each inspection item. The input interface circuit 5 is connected to the control circuit 8, converts an operation instruction input from the operator into an electrical signal, and outputs the electrical signal to the control circuit 8. In the present specification, the input interface circuit 5 is not limited to one having physical operation parts such as a mouse and a keyboard. For example, an electrical signal processing circuit that receives an electrical signal corresponding to an operation instruction input from an external input device provided separately from the automatic analyzer 1 and outputs the electrical signal to the control circuit 8 is also an input interface. An example of circuit 5 is included.

表示回路6は、例えばCRT(Cathdode-Ray Tube)ディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ELディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等を有する。また、表示回路6は、制御回路8に接続され、制御回路8から供給される信号を外部へ表示する。表示回路6は、例えば制御回路8から供給される検量データ及び分析データを表示する。   The display circuit 6 includes, for example, a CRT (Cathode-Ray Tube) display, a liquid crystal display, an organic EL display, a plasma display, and the like. The display circuit 6 is connected to the control circuit 8 and displays a signal supplied from the control circuit 8 to the outside. The display circuit 6 displays calibration data and analysis data supplied from the control circuit 8, for example.

記憶回路7は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路7は、解析回路3で実行される動作プログラム、及び制御回路8で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路7は、解析回路3により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路7は、解析回路3により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。記憶回路7は、自動分析装置1において発生したエラーの種別に基づいて、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102の排出を制御するための情報、例えば各種テーブルを記憶する。   The storage circuit 7 includes a processor-readable recording medium such as a magnetic or optical recording medium or a semiconductor memory. The storage circuit 7 stores an operation program executed by the analysis circuit 3 and an operation program executed by the control circuit 8. The storage circuit 7 stores the calibration data generated by the analysis circuit 3 for each inspection item. The storage circuit 7 stores the analysis data generated by the analysis circuit 3 for each test sample. The storage circuit 7 is information for controlling the discharge of the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the predetermined error has occurred based on the type of error that has occurred in the automatic analyzer 1, for example, various Remember the table.

制御回路8は、自動分析装置1の中枢として機能するプロセッサである。制御回路8は、記憶回路7に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。   The control circuit 8 is a processor that functions as the center of the automatic analyzer 1. The control circuit 8 executes an operation program stored in the storage circuit 7, thereby realizing a function corresponding to the operation program.

図2及び図3は、図1に示される分析機構2の構成の一例を示す模式図である。図2及び図3に示される分析機構2は、反応ディスク201、及び試薬庫202を備える。   2 and 3 are schematic views showing an example of the configuration of the analysis mechanism 2 shown in FIG. The analysis mechanism 2 shown in FIGS. 2 and 3 includes a reaction disk 201 and a reagent store 202.

反応ディスク201内には、恒温水で満たされた恒温槽2012が設けられている。恒温槽2012は円周形状を有している。反応ディスク201は、恒温槽2012により、複数の反応管2011を保持する。反応ディスク201は、駆動機構4によって既定の時間間隔で回動と停止とが交互に繰り返される。反応管2011は、例えば、ガラスにより形成される。   A constant temperature bath 2012 filled with constant temperature water is provided in the reaction disk 201. The constant temperature bath 2012 has a circumferential shape. The reaction disk 201 holds a plurality of reaction tubes 2011 by a constant temperature bath 2012. The reaction disk 201 is alternately rotated and stopped at predetermined time intervals by the drive mechanism 4. The reaction tube 2011 is made of, for example, glass.

試薬庫202は、試薬が収容されている試薬容器を複数保持する試薬庫の一例であり、この実施形態では、反応ディスク201の内側に配置される。試薬庫202は、試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図2及び図3に示される試薬庫202内の外円2021は、試薬庫202内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫202内の内円2022は、試薬庫202内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫202に保持されている試薬容器は、反応管2011に分注される試薬を収容している。開口部が外円2021に沿って配置される試薬容器101は、各検査項目に対応する第1試薬を収容している。第1試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。開口部が内円2022に沿って配置される試薬容器101は、各検査項目に対応する第2試薬を収容している。第2試薬は、第1試薬同様に検査項目毎に使われるものが決められている。試薬容器ラックは、駆動機構4によって試薬庫202の中心を回転中心として回動される。   The reagent storage 202 is an example of a reagent storage that holds a plurality of reagent containers that store reagents. In this embodiment, the reagent storage 202 is disposed inside the reaction disk 201. The reagent store 202 holds a plurality of reagent containers circumferentially by a reagent container rack. The outer circle 2021 in the reagent container 202 shown in FIGS. 2 and 3 is the position of the opening of the reagent container arranged on the outer circumference among the reagent containers arranged circumferentially in the reagent container 202. Represents. The inner circle 2022 in the reagent storage 202 represents the position of the opening of the reagent container arranged on the inner circumference among the reagent containers arranged in a circle in the reagent storage 202. The reagent container held in the reagent storage 202 contains the reagent dispensed into the reaction tube 2011. The reagent container 101 whose opening is arranged along the outer circle 2021 contains the first reagent corresponding to each test item. The first reagent to be used is determined for each inspection item. The reagent container 101 in which the opening is arranged along the inner circle 2022 contains the second reagent corresponding to each test item. Similar to the first reagent, the second reagent is determined for each inspection item. The reagent container rack is rotated around the center of the reagent storage 202 by the drive mechanism 4.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、ラック投入ユニット230、ラック移動ユニット240、ラック回収ユニット250、及びSTATラック投入ユニット260を備える。
ラック投入ユニット230は、投入レーン231を備える。投入レーン231には、サンプルラック102が投入される。サンプルラック102は、試料を収容する試料容器100を複数保持している。サンプルラック102の両端の側面には、ラック移動ユニット240に設けられる搬送アーム241によりピックアップ可能な形状、例えば1対の溝が形成される。また、サンプルラック102には、サンプルラック102の有無を識別するためのRFID(Radio Frequency IDentification)チップ(無線タグ)が取り付けられている。
2 and 3 includes a rack loading unit 230, a rack moving unit 240, a rack collection unit 250, and a STAT rack loading unit 260.
The rack input unit 230 includes an input lane 231. The sample rack 102 is loaded into the loading lane 231. The sample rack 102 holds a plurality of sample containers 100 that store samples. Forms that can be picked up by a transfer arm 241 provided in the rack moving unit 240, for example, a pair of grooves, are formed on the side surfaces of both ends of the sample rack 102. In addition, an RFID (Radio Frequency IDentification) chip (wireless tag) for identifying the presence or absence of the sample rack 102 is attached to the sample rack 102.

試料容器100には、標準試料又は被検試料等の試料が収容される。試料容器100には、試料容器100に収容される試料の識別情報等が記載される光学式マークが印刷されたラベルが貼付されている。光学式マークは、試料容器100に関する情報、及び試料の識別情報等を符号化したマーク、例えば、バーコード、1次元コード、及び2次元コード等である。   Sample container 100 accommodates a sample such as a standard sample or a test sample. The sample container 100 is affixed with a label printed with an optical mark on which identification information or the like of the sample stored in the sample container 100 is written. The optical mark is a mark obtained by encoding information related to the sample container 100, sample identification information, and the like, for example, a bar code, a one-dimensional code, a two-dimensional code, and the like.

サンプルラック102は、投入レーン231へ投入される。投入レーン231へ投入されるサンプルラック102は、駆動機構4により駆動され、ラック移動ユニット240へ移動可能な投入位置へ移動される。このとき、投入レーン231におけるサンプルラック102の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。   The sample rack 102 is loaded into the loading lane 231. The sample rack 102 loaded into the loading lane 231 is driven by the drive mechanism 4 and moved to a loading position where it can move to the rack moving unit 240. At this time, the movement of the sample rack 102 in the loading lane 231 is realized by, for example, a belt conveyor and a lead screw.

ラック移動ユニット240は、搬送アーム241、搬送レール242、サンプリングレーン243、バッファレーン244、及びリーダ245を備える。   The rack moving unit 240 includes a transfer arm 241, a transfer rail 242, a sampling lane 243, a buffer lane 244, and a reader 245.

搬送アーム241は、例えば、1対の爪を上下動自在に有する。搬送アーム241は、サンプルラック102に形成される1対の溝に爪を差し込んだ状態で、フォークリフトがそのフォークで荷物を抱えて運ぶように、サンプルラック102を搬送する。   The transfer arm 241 has, for example, a pair of claws that can move up and down. The transport arm 241 transports the sample rack 102 so that the forklift carries the load with the fork lift while the claws are inserted into the pair of grooves formed in the sample rack 102.

搬送アーム241は、駆動機構4によって駆動され、サンプルラック102を搬送する。例えば、搬送アーム241は、投入レーン231における投入位置に載置されているサンプルラック102を抱えた後、搬送レール242上を移動する。これにより、搬送アーム241は、抱えたサンプルラック102をサンプリングレーン243へ搬送する。搬送レール242は、サンプリングレーン243と、バッファレーン244との間に設けられ、搬送アーム241が移動する際のガイドの役割を担う。また、搬送アーム241は、サンプリングレーン243における、ラック回収ユニット250へ移動可能な搬出位置に位置するサンプルラック102を抱えた後、搬送レール242上を移動する。これにより、搬送アーム241は、抱えたサンプルラック102をバッファレーン244又はラック回収ユニット250へ搬送する。また、搬送アーム241は、バッファレーン244上に載置されたサンプルラック102を、ラック回収ユニット250へ搬送する。また、搬送アーム241は、バッファレーン244上に載置されたサンプルラック102を、STATラック投入ユニット260へ搬送する。   The transport arm 241 is driven by the drive mechanism 4 and transports the sample rack 102. For example, the transfer arm 241 moves on the transfer rail 242 after holding the sample rack 102 placed at the input position in the input lane 231. As a result, the transport arm 241 transports the held sample rack 102 to the sampling lane 243. The transport rail 242 is provided between the sampling lane 243 and the buffer lane 244 and serves as a guide when the transport arm 241 moves. In addition, the transport arm 241 moves on the transport rail 242 after holding the sample rack 102 located at the unloading position in the sampling lane 243 that can be moved to the rack recovery unit 250. Thereby, the transport arm 241 transports the held sample rack 102 to the buffer lane 244 or the rack collection unit 250. Further, the transport arm 241 transports the sample rack 102 placed on the buffer lane 244 to the rack collection unit 250. The transport arm 241 transports the sample rack 102 placed on the buffer lane 244 to the STAT rack input unit 260.

サンプリングレーン243は、分注対象となる試料容器100が保持される複数のサンプルラックを、サンプル分注プローブ205が試料を吸引する位置であるサンプル吸引位置2432の下へ搬送するためのレーンである。サンプリングレーン243は、駆動機構4により、投入レーン231における投入位置から搬入されたサンプルラック102を移動させる。例えば、サンプリングレーン243は、サンプルラック102に保持される試料容器100各々の開口を、サンプル吸引位置2432の下へ移動させる。また、サンプリングレーン243は、サンプルラック102に保持される全ての試料容器100に収容される試料の分注が正常に終了すると、サンプルラック102を、サンプル吸引位置2432の下から、ラック回収ユニット250へ移動可能な搬出位置へ移動させる。サンプリングレーン243におけるサンプルラック102の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。   The sampling lane 243 is a lane for transporting a plurality of sample racks in which the sample containers 100 to be dispensed are held under a sample suction position 2432 where the sample dispensing probe 205 sucks the sample. . The sampling lane 243 moves the sample rack 102 loaded from the loading position in the loading lane 231 by the driving mechanism 4. For example, the sampling lane 243 moves the opening of each sample container 100 held in the sample rack 102 below the sample suction position 2432. In addition, the sampling lane 243 moves the sample rack 102 from below the sample suction position 2432 to the rack collection unit 250 when dispensing of the samples stored in all the sample containers 100 held in the sample rack 102 is normally completed. Move to an unloadable position. The movement of the sample rack 102 in the sampling lane 243 is realized by, for example, a belt conveyor and a lead screw.

バッファレーン244は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を一時的に滞留させるための滞留エリアである。   The buffer lane 244 is a retention area for temporarily retaining the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores a sample in which a predetermined error has occurred.

リーダ245は、例えばサンプル吸引位置2432の近傍に設けられる。リーダ245は、制御回路8からのID読取開始の指示を契機として、読取りを開始する。リーダ245は、分注対象となる試料容器100が光学式マークを読取り可能な位置に到達すると、当該試料容器100に付された光学式マークから試料の識別情報を読み取る。リーダ245は、読取った試料の識別情報を制御回路8に供給する。リーダ245は、例えば所定の時間内に読取りができなかった場合、試料IDの読み取りに失敗したと判定する。リーダ245は、失敗した旨を制御回路8に通知する。なお、リーダ245は、RFID等を利用した他のセンサで代替してもよい。   The reader 245 is provided in the vicinity of the sample suction position 2432, for example. The reader 245 starts reading when triggered by an instruction to start reading ID from the control circuit 8. When the sample container 100 to be dispensed reaches a position where the optical mark can be read, the reader 245 reads the identification information of the sample from the optical mark attached to the sample container 100. The reader 245 supplies the read sample identification information to the control circuit 8. The reader 245 determines that reading of the sample ID has failed, for example, when reading cannot be performed within a predetermined time. The reader 245 notifies the control circuit 8 that it has failed. Note that the reader 245 may be replaced with another sensor using RFID or the like.

ラック回収ユニット250は、第1回収レーン251、第2回収レーン252、サンプルラック検知センサ253、及びサンプルラック検知センサ254を有する。第1回収レーン251及び第2回収レーン252は、測定が正常に終了した試料容器100が保持されるサンプルラック102の回収先の役割を有する。また、第1回収レーン251及び第2回収レーン252は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102の排出先の役割も有する。第1回収レーン251及び第2回収レーン252は、駆動機構4により駆動され、ラック移動ユニット240から搬送アーム241により搬送されたサンプルラック102を、取り出し位置へ移動させる。   The rack collection unit 250 includes a first collection lane 251, a second collection lane 252, a sample rack detection sensor 253, and a sample rack detection sensor 254. The first collection lane 251 and the second collection lane 252 serve as collection destinations for the sample rack 102 that holds the sample container 100 for which measurement has been completed normally. In addition, the first recovery lane 251 and the second recovery lane 252 also serve as a discharge destination of the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores a sample in which a predetermined error has occurred. The first collection lane 251 and the second collection lane 252 are driven by the drive mechanism 4 to move the sample rack 102 conveyed by the conveyance arm 241 from the rack moving unit 240 to the take-out position.

サンプルラック検知センサ253は、第1回収レーン251の近傍に設けられる。サンプルラック検知センサ253は、例えばRFIDリーダである。RFIDリーダは、例えば電波又は電磁界を利用して、RFIDチップとの間で、非接触でデータの送受信を行う装置である。サンプルラック検知センサ253は、放射部と受信部を有する。サンプルラック検知センサ253は、第1回収レーン251に載置される複数のサンプルラック102に対し、特定の波長の電波を放射部から放射する。サンプルラック検知センサ253は、制御回路8から供給されるサンプルラック102の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、電波の放射を開始する。サンプルラック検知センサ253は、第1回収レーン251上に載置される複数のサンプルラック102それぞれに取り付けられたRFIDチップから応答信号を受信部により検出する。サンプルラック検知センサ253は、検出された応答信号を制御回路8へ出力する。   The sample rack detection sensor 253 is provided in the vicinity of the first collection lane 251. The sample rack detection sensor 253 is, for example, an RFID reader. An RFID reader is a device that transmits and receives data without contact with an RFID chip using, for example, radio waves or electromagnetic fields. The sample rack detection sensor 253 includes a radiation unit and a reception unit. The sample rack detection sensor 253 radiates radio waves of a specific wavelength from the radiation unit to the plurality of sample racks 102 placed on the first collection lane 251. The sample rack detection sensor 253 starts radio wave emission when receiving an instruction to start detection of the presence or absence of the sample rack 102 supplied from the control circuit 8. The sample rack detection sensor 253 detects a response signal from the RFID chip attached to each of the plurality of sample racks 102 placed on the first collection lane 251 by the receiving unit. The sample rack detection sensor 253 outputs the detected response signal to the control circuit 8.

サンプルラック検知センサ254は、第2回収レーン252の近傍に設けられる。サンプルラック検知センサ254は、例えばRFIDリーダである。サンプルラック検知センサ254は、放射部と受信部を有する。サンプルラック検知センサ254は、第2回収レーン252に載置される複数のサンプルラック102に対し、特定の波長の電波を放射部により放射する。サンプルラック検知センサ254は、制御回路8から供給されるサンプルラック102の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、電波の放射を開始する。サンプルラック検知センサ254は、第2回収レーン252上に載置される複数のサンプルラック102それぞれに取り付けられたRFIDチップから応答信号を受信部により検出する。サンプルラック検知センサ254は、検出された応答信号を制御回路8へ出力する。   The sample rack detection sensor 254 is provided in the vicinity of the second collection lane 252. The sample rack detection sensor 254 is an RFID reader, for example. The sample rack detection sensor 254 includes a radiation unit and a reception unit. The sample rack detection sensor 254 radiates a radio wave having a specific wavelength to the plurality of sample racks 102 placed on the second collection lane 252 by the radiating unit. The sample rack detection sensor 254 starts radio wave emission when receiving an instruction to start detection of the presence or absence of the sample rack 102 supplied from the control circuit 8. The sample rack detection sensor 254 detects a response signal from the RFID chip attached to each of the plurality of sample racks 102 placed on the second collection lane 252 by the receiving unit. The sample rack detection sensor 254 outputs the detected response signal to the control circuit 8.

STATラック投入ユニット260は、STATラック投入レーン261及びサンプルラック検知センサ262を有する。   The STAT rack loading unit 260 includes a STAT rack loading lane 261 and a sample rack detection sensor 262.

STATラック投入レーン261は、緊急で測定する必要のある試料を収容する試料容器100が保持されるサンプルラック102を投入するためのレーンである。また、STATラック投入レーン261は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102の排出先の役割も有する。   The STAT rack loading lane 261 is a lane for loading the sample rack 102 in which the sample container 100 that stores the sample that needs to be measured urgently is held. The STAT rack input lane 261 also serves as a discharge destination of the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores a sample in which a predetermined error has occurred.

サンプルラック検知センサ262は、例えば、図2に示されるようにSTATラック投入レーン261と、バッファレーン244との間に設けられる。サンプルラック検知センサ262は、例えば光センサである。サンプルラック検知センサ262は、STATラック投入レーン261上に載置されるサンプルラック102に対し投光可能な位置に設けられる。サンプルラック検知センサ262は、制御回路8から供給されるサンプルラック102の有無の検知開始の指示を受け付けることを契機として、投光を開始する。サンプルラック検知センサ262は、検出された電気信号を制御回路8へ出力する。   The sample rack detection sensor 262 is provided, for example, between the STAT rack input lane 261 and the buffer lane 244 as shown in FIG. The sample rack detection sensor 262 is, for example, an optical sensor. The sample rack detection sensor 262 is provided at a position where light can be projected to the sample rack 102 placed on the STAT rack input lane 261. The sample rack detection sensor 262 starts projecting light upon receiving an instruction to start detection of the presence or absence of the sample rack 102 supplied from the control circuit 8. The sample rack detection sensor 262 outputs the detected electrical signal to the control circuit 8.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、サンプル分注アーム204、サンプル分注プローブ205、サンプル分注ユニット206、圧力検出器2061、第1試薬分注アーム216、第1試薬分注プローブ217、第1試薬分注ユニット218、圧力検出器2181、第2試薬分注アーム219、第2試薬分注プローブ220、第2試薬分注ユニット221、圧力検出器2211、第1撹拌ユニット222、及び第2撹拌ユニット223を備える。   2 and 3 includes a sample dispensing arm 204, a sample dispensing probe 205, a sample dispensing unit 206, a pressure detector 2061, a first reagent dispensing arm 216, and a first reagent dispensing. Injection probe 217, first reagent dispensing unit 218, pressure detector 2181, second reagent dispensing arm 219, second reagent dispensing probe 220, second reagent dispensing unit 221, pressure detector 2211, first stirring unit 222 and a second stirring unit 223.

サンプル分注アーム204は、反応ディスク201とサンプリングレーン243との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。サンプル分注アーム204は、一端にサンプル分注プローブ205を保持する。サンプル分注アーム204は、駆動機構4によって回動される。サンプル分注アーム204が回動に伴って、サンプル分注プローブ205は、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプル分注プローブ205が試料容器100から試料を吸引する位置である、サンプル吸引位置2432が設定されている。サンプル吸引位置2432は、サンプリングレーン243上に位置するように予め設定されている。また、当該回動軌道上のサンプル吸引位置とは異なった位置には、サンプル分注プローブ205が吸引した試料を反応管2011へ吐出するサンプル吐出位置2013が設定されている。サンプル分注プローブ205の回動軌跡は、サンプリングレーン243上に載置されるサンプルラック102に保持されている試料容器100の移動軌跡、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、サンプル吸引位置2432、サンプル吐出位置2013である。   The sample dispensing arm 204 is provided between the reaction disk 201 and the sampling lane 243 so as to be vertically movable and rotatable in the horizontal direction. The sample dispensing arm 204 holds a sample dispensing probe 205 at one end. The sample dispensing arm 204 is rotated by the drive mechanism 4. As the sample dispensing arm 204 rotates, the sample dispensing probe 205 rotates along an arcuate rotation trajectory. A sample suction position 2432 that is a position where the sample dispensing probe 205 sucks the sample from the sample container 100 is set on the rotation trajectory. The sample suction position 2432 is set in advance so as to be positioned on the sampling lane 243. Further, a sample discharge position 2013 for discharging the sample sucked by the sample dispensing probe 205 to the reaction tube 2011 is set at a position different from the sample suction position on the rotation trajectory. The rotation trajectory of the sample dispensing probe 205 includes a movement trajectory of the sample container 100 held on the sample rack 102 placed on the sampling lane 243 and a movement trajectory of the reaction tube 2011 held on the reaction disk 201, respectively. Intersects. Intersections with the respective movement trajectories are a sample suction position 2432 and a sample discharge position 2013.

サンプル分注プローブ205は、駆動機構4によって駆動され、サンプル吸引位置2432、及びサンプル吐出位置2013において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ205は、制御回路8の制御に従い、サンプル吸引位置2432に位置する試料容器100から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ205は、制御回路8の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置2013に位置する反応管2011へ吐出する。   The sample dispensing probe 205 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the sample suction position 2432 and the sample discharge position 2013. Further, the sample dispensing probe 205 sucks the sample from the sample container 100 located at the sample suction position 2432 according to the control of the control circuit 8. Further, the sample dispensing probe 205 discharges the sucked sample to the reaction tube 2011 located at the sample discharge position 2013 under the control of the control circuit 8.

サンプル分注ユニット206は、所定の検査項目についての検査を実施する際、サンプル分注プローブ205により、サンプル吸引位置2432で、試料容器100に収容される試料を吸引する。また、サンプル分注ユニット206は、制御回路8の制御に従い、サンプル分注プローブ205により吸引した試料を、サンプル吐出位置2013に位置する反応管2011へ吐出する。また、サンプル分注ユニット206は、サンプルプローブ洗浄位置2069にてサンプル分注プローブ205へ洗浄液を供給し、サンプル分注プローブ205を洗浄する。   The sample dispensing unit 206 sucks the sample accommodated in the sample container 100 at the sample suction position 2432 by the sample dispensing probe 205 when performing an inspection on a predetermined inspection item. The sample dispensing unit 206 discharges the sample sucked by the sample dispensing probe 205 to the reaction tube 2011 located at the sample discharge position 2013 according to the control of the control circuit 8. In addition, the sample dispensing unit 206 supplies a cleaning liquid to the sample dispensing probe 205 at the sample probe washing position 2069 to wash the sample dispensing probe 205.

圧力検出器2061は、サンプル分注プローブ205内の圧力を測定する。圧力検出器2061は、測定結果を制御回路8へ出力する。   The pressure detector 2061 measures the pressure in the sample dispensing probe 205. The pressure detector 2061 outputs the measurement result to the control circuit 8.

図4は、サンプル分注ユニット206及び圧力検出器2061の構成例を示す模式図である。図4に示されるサンプル分注ユニット206は、一端がサンプル分注プローブ205に接続されるチューブ2063、チューブ2063の他端部に接続されるシリンジ2064、及びシリンジ2064の下端部に設けられる開口に勘合するプランジャ2065を備える。また、サンプル分注ユニット206は、サンプル分注プローブ205、チューブ2063、及びシリンジ2064の各内部に充填される圧力伝達媒体を貯留するタンク2066を備える。   FIG. 4 is a schematic diagram illustrating a configuration example of the sample dispensing unit 206 and the pressure detector 2061. The sample dispensing unit 206 shown in FIG. 4 has a tube 2063 connected at one end to the sample dispensing probe 205, a syringe 2064 connected to the other end of the tube 2063, and an opening provided at the lower end of the syringe 2064. A plunger 2065 for fitting is provided. The sample dispensing unit 206 includes a tank 2066 that stores a pressure transmission medium filled in each of the sample dispensing probe 205, the tube 2063, and the syringe 2064.

また、サンプル分注ユニット206は、タンク2066に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を洗浄液としてシリンジ2064、及びチューブ2063を経由してサンプル分注プローブ205内に供給する洗浄ポンプ2067を備える。また、サンプル分注ユニット206は、シリンジ2064と洗浄ポンプ2067との間を連通する流路を開閉する開閉弁2068を備える。開閉弁2068は、例えば電磁弁である。   Further, the sample dispensing unit 206 sucks the pressure transmission medium stored in the tank 2066 and supplies the sucked pressure transmission medium as a cleaning liquid into the sample dispensing probe 205 via the syringe 2064 and the tube 2063. A pump 2067 is provided. The sample dispensing unit 206 also includes an open / close valve 2068 that opens and closes a flow path that communicates between the syringe 2064 and the washing pump 2067. The on-off valve 2068 is, for example, an electromagnetic valve.

試料を分注する際、シリンジ2064と洗浄ポンプ2067との間の流路は、制御回路8により制御される開閉弁2068により閉鎖される。制御回路8の制御により開閉弁2068が正常に閉鎖されると、電気的に正しく開かれたことを確認するための、フィードバック信号が開閉弁2068から制御回路8へ出力される。駆動機構4がプランジャ2065を矢印L1方向へ吸引駆動することにより、サンプル分注プローブ205は、サンプル吸引位置2432で試料容器100内の試料を吸引する。また、駆動機構4がプランジャ2065を矢印L2方向へ吐出駆動することにより、サンプル分注プローブ205は、サンプル吐出位置2013に位置する反応管2011内へ試料を吐出する。   When dispensing the sample, the flow path between the syringe 2064 and the washing pump 2067 is closed by an on-off valve 2068 controlled by the control circuit 8. When the on-off valve 2068 is normally closed by the control of the control circuit 8, a feedback signal is output from the on-off valve 2068 to the control circuit 8 for confirming that the on-off valve 2068 has been correctly opened. When the drive mechanism 4 sucks and drives the plunger 2065 in the arrow L1 direction, the sample dispensing probe 205 sucks the sample in the sample container 100 at the sample suction position 2432. Further, when the drive mechanism 4 drives the plunger 2065 to discharge in the direction of the arrow L2, the sample dispensing probe 205 discharges the sample into the reaction tube 2011 located at the sample discharge position 2013.

同一試料の分注が終了したとき、又は試料の分注が異常であると判定されたとき、シリンジ2064と洗浄ポンプ2067との間の流路は、制御回路8により制御される開閉弁2068により開放される。制御回路8の制御により開閉弁2068が正常に開放されると、電気的なフィードバック信号が開閉弁2068から制御回路8へ出力される。洗浄ポンプ2067は、駆動機構4により駆動され、サンプル分注プローブ205内へ洗浄液を供給する。   When dispensing of the same sample is completed, or when it is determined that the dispensing of the sample is abnormal, the flow path between the syringe 2064 and the washing pump 2067 is controlled by an on-off valve 2068 controlled by the control circuit 8. Opened. When the on-off valve 2068 is normally opened by the control of the control circuit 8, an electrical feedback signal is output from the on-off valve 2068 to the control circuit 8. The cleaning pump 2067 is driven by the drive mechanism 4 and supplies the cleaning liquid into the sample dispensing probe 205.

図4に示される圧力検出器2061は、一端がサンプル分注ユニット206のチューブ2063に接続される。圧力検出器2061は、圧力センサ20611、アンプ20612、及びA/D変換器20613を備える。圧力センサ20611は、サンプル分注プローブ205内の圧力を大気の圧力を基準として測定する。圧力センサ20611は、測定した圧力に基づく信号をアンプ20612へ出力する。アンプ20612は、圧力センサ20611から出力される信号を増幅し、A/D変換器20613へ出力する。A/D変換器20613は、アンプ20612で増幅された信号をデジタル信号に変換する。圧力検出器2061は、デジタル信号を制御回路8へ出力する。   One end of the pressure detector 2061 shown in FIG. 4 is connected to the tube 2063 of the sample dispensing unit 206. The pressure detector 2061 includes a pressure sensor 20611, an amplifier 20612, and an A / D converter 20613. The pressure sensor 20611 measures the pressure in the sample dispensing probe 205 with reference to the atmospheric pressure. The pressure sensor 20611 outputs a signal based on the measured pressure to the amplifier 20612. The amplifier 20612 amplifies the signal output from the pressure sensor 20611 and outputs the amplified signal to the A / D converter 20613. The A / D converter 20613 converts the signal amplified by the amplifier 20612 into a digital signal. The pressure detector 2061 outputs a digital signal to the control circuit 8.

圧力検出器2061は、サンプル分注プローブ205により試料の吸引が行われているとき、即ちサンプル分注ユニット206により吸引動作が行われているときのサンプル分注プローブ205内の大気圧よりも低い吸引圧を検出する。また、圧力検出器2061は、サンプル分注プローブ205により試料の吐出が行われているとき、即ちサンプル分注ユニット206により吐出動作が行われているときのサンプル分注プローブ205内の大気圧よりも高い吐出圧を検出する。また、圧力検出器2061は、サンプル分注ユニット206の洗浄ポンプ2067により洗浄液の供給動作が行われているときのサンプル分注プローブ205内の大気圧よりも高い洗浄圧を検出する。   The pressure detector 2061 is lower than the atmospheric pressure in the sample dispensing probe 205 when the sample is being aspirated by the sample dispensing probe 205, that is, when the sample dispensing unit 206 is aspirating. Detect the suction pressure. Further, the pressure detector 2061 detects the atmospheric pressure in the sample dispensing probe 205 when the sample dispensing probe 205 is discharging the sample, that is, when the sample dispensing unit 206 is performing the discharging operation. Even high discharge pressure is detected. The pressure detector 2061 detects a cleaning pressure higher than the atmospheric pressure in the sample dispensing probe 205 when the cleaning liquid is supplied by the cleaning pump 2067 of the sample dispensing unit 206.

第1試薬分注アーム216は、反応ディスク201とサンプリングレーン243との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。第1試薬分注アーム216は、一端に第1試薬分注プローブ217を保持する。第1試薬分注アーム216は、駆動機構4によって回動される。第1試薬分注アーム216が回動されることにより、第1試薬分注プローブ217は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第1試薬分注プローブ217が、試薬庫202の外円2021上に配置される試薬容器から各検査項目に対応する第1試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第1試薬を反応管2011へ吐出する第1試薬吐出位置2015とが設定されている。第1試薬分注プローブ217の回動軌跡は、試薬庫202の外円2021上に配置される試薬容器(の試薬吸引口)の移動軌跡、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、試薬吸引位置、第1試薬吐出位置2015である。   The first reagent dispensing arm 216 is provided between the reaction disk 201 and the sampling lane 243 so as to be vertically movable and rotatable in the horizontal direction. The first reagent dispensing arm 216 holds the first reagent dispensing probe 217 at one end. The first reagent dispensing arm 216 is rotated by the drive mechanism 4. When the first reagent dispensing arm 216 is rotated, the first reagent dispensing probe 217 is rotated along an arcuate rotation trajectory. On this rotation trajectory, the first reagent dispensing probe 217 sucks the first reagent corresponding to each inspection item from the reagent container disposed on the outer circle 2021 of the reagent storage 202, and the suction. The first reagent discharge position 2015 for discharging the first reagent discharged to the reaction tube 2011 is set. The rotation trajectory of the first reagent dispensing probe 217 is the movement trajectory of the reagent container (reagent suction port) disposed on the outer circle 2021 of the reagent storage 202, and the movement of the reaction tube 2011 held on the reaction disk 201. Crosses with each trajectory. The intersections with the respective movement trajectories are the reagent suction position and the first reagent discharge position 2015.

第1試薬分注プローブ217は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第1試薬吐出位置2015において上下方向に移動する。また、第1試薬分注プローブ217は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器101から第1試薬を吸引する。また、第1試薬分注プローブ217は、制御回路8の制御に従い、吸引した第1試薬を、第1試薬吐出位置2015に位置する反応管2011へ吐出する。   The first reagent dispensing probe 217 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position on the rotation path and the first reagent discharge position 2015. Further, the first reagent dispensing probe 217 aspirates the first reagent from the reagent container 101 located at the reagent aspirating position on the rotation path in accordance with the control of the control circuit 8. The first reagent dispensing probe 217 discharges the aspirated first reagent to the reaction tube 2011 located at the first reagent discharge position 2015 according to the control of the control circuit 8.

第1試薬分注ユニット218及び圧力検出器2181の構成及び機能については、サンプル分注ユニット206と同様である。   The configurations and functions of the first reagent dispensing unit 218 and the pressure detector 2181 are the same as those of the sample dispensing unit 206.

第2試薬分注アーム219は、試薬庫202とラック投入ユニット230との間に、鉛直方向には上下動自在に水平方向には回動自在に設けられている。第2試薬分注アーム219は、一端に第2試薬分注プローブ220を保持する。第2試薬分注アーム219は、駆動機構4によって回動される。第2試薬分注アーム219が回動されることにより、第2試薬分注プローブ220は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第2試薬分注プローブ220が、試薬庫202の内円2022上に配置される試薬容器101から各検査項目に対応する第2試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した第2試薬を反応管2011へ吐出する第2試薬吐出位置2017とが設定されている。第2試薬分注プローブ220の回動軌跡は、試薬庫202の内円2022上に配置される試薬容器(の試薬吸引口)の移動軌跡、反応ディスク201に保持されている反応管2011の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、試薬吸引位置、第2試薬吐出位置2017である。   The second reagent dispensing arm 219 is provided between the reagent storage 202 and the rack loading unit 230 so as to be vertically movable and rotatable in the horizontal direction. The second reagent dispensing arm 219 holds the second reagent dispensing probe 220 at one end. The second reagent dispensing arm 219 is rotated by the drive mechanism 4. When the second reagent dispensing arm 219 is rotated, the second reagent dispensing probe 220 is rotated along an arcuate rotation trajectory. On this rotation trajectory, a reagent aspirating position where the second reagent dispensing probe 220 aspirates the second reagent corresponding to each inspection item from the reagent container 101 arranged on the inner circle 2022 of the reagent storage 202, A second reagent discharge position 2017 for discharging the sucked second reagent to the reaction tube 2011 is set. The rotation trajectory of the second reagent dispensing probe 220 is the movement trajectory of the reagent container (reagent suction port) disposed on the inner circle 2022 of the reagent storage 202, and the movement of the reaction tube 2011 held on the reaction disk 201. Crosses with each trajectory. Intersections with the respective movement trajectories are the reagent suction position and the second reagent discharge position 2017.

第2試薬分注プローブ220は、駆動機構4によって駆動され、回動軌道上の試薬吸引位置、及び第2試薬吐出位置2017において上下方向に移動する。また、第2試薬分注プローブ220は、制御回路8の制御に従い、回動軌道上の試薬吸引位置に位置する試薬容器101から第2試薬を吸引する。また、第2試薬分注プローブ220は、制御回路8の制御に従い、吸引した第2試薬を、第2試薬吐出位置2017に位置する反応管2011へ吐出する。   The second reagent dispensing probe 220 is driven by the drive mechanism 4 and moves in the vertical direction at the reagent suction position on the rotation path and the second reagent discharge position 2017. Further, the second reagent dispensing probe 220 aspirates the second reagent from the reagent container 101 located at the reagent aspirating position on the rotation path in accordance with the control of the control circuit 8. The second reagent dispensing probe 220 discharges the aspirated second reagent to the reaction tube 2011 located at the second reagent discharge position 2017 in accordance with the control of the control circuit 8.

第2試薬分注ユニット221及び圧力検出器2211の構成及び機能については、サンプル分注ユニット206と同様である。   The configurations and functions of the second reagent dispensing unit 221 and the pressure detector 2211 are the same as those of the sample dispensing unit 206.

第1撹拌ユニット222、及び第2撹拌ユニット223は、撹拌アーム、及び撹拌子をそれぞれ有する。撹拌アームは、先端近傍に、回動可能、かつ、上下動可能に撹拌子を支持する。第1撹拌ユニット222は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201における撹拌位置に位置する反応管2011へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管2011内で試料及び第1試薬を混合した混合液、すなわち第1薬分注後の反応管2011内の混合液を撹拌する。第2撹拌ユニット223は、制御回路8の制御に従い、反応ディスク201における撹拌位置に位置する反応管2011へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管2011内で試料、第1試薬、及び第2試薬を混合した混合液、すなわち第2試薬分注後の反応管2011内の混合液を撹拌する。   The first stirring unit 222 and the second stirring unit 223 have a stirring arm and a stirring bar, respectively. The stirring arm supports the stirring bar in the vicinity of the tip so as to be rotatable and movable up and down. The first stirring unit 222 moves the stirrer to the reaction tube 2011 located at the stirring position in the reaction disk 201 in accordance with the control of the control circuit 8 and mixes the sample and the first reagent in the reaction tube 2011 by the stirrer. The liquid, that is, the mixed liquid in the reaction tube 2011 after the first medicine is dispensed is stirred. The second stirring unit 223 moves the stirrer to the reaction tube 2011 located at the stirring position in the reaction disk 201 according to the control of the control circuit 8, and the sample, the first reagent, and the second reagent in the reaction tube 2011 by the stirrer. The mixed liquid in which the reagent is mixed, that is, the mixed liquid in the reaction tube 2011 after dispensing the second reagent is stirred.

また、図2及び図3に示される分析機構2は、測光ユニット224、洗浄ユニット225、及び電解質測定ユニット226を備える。
測光ユニット224は、反応管2011内に吐出された試料及び試薬の混合液等に光を照射し、当該混合液等を通過した光を光学的に測定する。測光ユニット224は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット224は、制御回路8の制御に従い、光源から反応管2011へ光を照射する。光検出器は、反応管2011内の標準試料と試薬との混合液、又は被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出する。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット224は、生成した標準データ及び被検データを、解析回路3へ出力する。
2 and 3 includes a photometric unit 224, a cleaning unit 225, and an electrolyte measurement unit 226.
The photometry unit 224 irradiates light to the mixed solution of the sample and reagent discharged into the reaction tube 2011, and optically measures the light that has passed through the mixed solution. The photometric unit 224 has a light source and a photodetector. The photometric unit 224 emits light from the light source to the reaction tube 2011 under the control of the control circuit 8. The photodetector detects light that has passed through the mixed solution of the standard sample and the reagent in the reaction tube 2011 or the mixed solution of the sample to be tested and the reagent. The photodetector generates standard data or test data represented by, for example, absorbance based on the detected light intensity. The photometry unit 224 outputs the generated standard data and test data to the analysis circuit 3.

洗浄ユニット225は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット225は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管2011内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット225は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管2011へ洗浄液を吐出し、反応管2011を洗浄する。洗浄ユニット225は、乾燥ノズルにより、反応管2011へ乾燥空気を供給することで、洗浄液により洗浄された反応管2011を乾燥させる。   The cleaning unit 225 includes a waste liquid nozzle, a cleaning nozzle, and a drying nozzle. The cleaning unit 225 sucks the mixed liquid in the reaction tube 2011 located at the reaction tube cleaning position as waste liquid by the waste liquid nozzle. The cleaning unit 225 cleans the reaction tube 2011 by discharging a cleaning solution to the reaction tube 2011 located at the reaction tube cleaning position by the cleaning nozzle. The cleaning unit 225 dries the reaction tube 2011 cleaned with the cleaning liquid by supplying dry air to the reaction tube 2011 with a drying nozzle.

電解質測定ユニット226は、反応管2011内の混合液中に存在する特定電解質の測定を行う。電解質測定ユニット226は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。   The electrolyte measurement unit 226 measures a specific electrolyte present in the mixed liquid in the reaction tube 2011. The electrolyte measurement unit 226 measures, for example, the concentration of ions generated from a specific electrolyte.

本実施形態に係る制御回路8は、記憶回路7から読み出した動作プログラムを実行することで、図1に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路8は、システム制御機能81、エラー監視機能82、滞留判定機能83、表示制御機能84、及び排出管理機能85を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能81、エラー監視機能82、滞留判定機能83、表示制御機能84、及び排出管理機能85が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能81、エラー監視機能82、滞留判定機能83、表示制御機能84、及び排出管理機能85を実現しても構わない。   The control circuit 8 according to the present embodiment implements various functions shown in FIG. 1 by executing the operation program read from the storage circuit 7. That is, the control circuit 8 includes a system control function 81, an error monitoring function 82, a stay determination function 83, a display control function 84, and a discharge management function 85. In this embodiment, a case where the system control function 81, the error monitoring function 82, the stay determination function 83, the display control function 84, and the discharge management function 85 are realized by a single processor will be described. However, the present invention is not limited to this. Not. For example, a control circuit is configured by combining a plurality of independent processors, and each processor executes an operation program, whereby a system control function 81, an error monitoring function 82, a stay determination function 83, a display control function 84, and a discharge management function 85 may be realized.

システム制御機能81は、入力インタフェース回路5から入力される入力情報に基づき、自動分析装置1における各部を統括して制御する機能である。   The system control function 81 is a function that controls each part in the automatic analyzer 1 based on input information input from the input interface circuit 5.

エラー監視機能82は、自動分析装置1が備える各分析ユニットの状態を監視し、所定のエラーが発生したと判定した場合、発生したエラーに関する情報を、記憶回路7に記憶されるエラー履歴情報テーブルに登録する機能である。   The error monitoring function 82 monitors the state of each analysis unit included in the automatic analyzer 1, and when it is determined that a predetermined error has occurred, an error history information table that stores information relating to the generated error in the storage circuit 7 It is a function to register in

エラー履歴情報テーブルは、発生したエラーに関する情報を登録するためのテーブルであり、例えば自動分析装置1のスタートアップ時からシャットダウン時までに発生したエラーの履歴が登録される。   The error history information table is a table for registering information relating to an error that has occurred. For example, a history of errors that have occurred from startup to shutdown of the automatic analyzer 1 is registered.

エラー履歴情報テーブルには、例えば、発生時刻、エラー名称、及び動作条件等を示す情報が含まれる。発生時刻は、エラーが発生した時刻である。エラー名称は、エラーの種別の例であり、自動分析装置1で認識されるエラーを一意に識別するための名称である。動作条件は、自動分析装置1において所定のエラーが発生した時に、自動分析装置1に設定されていた各種パラメータ及びエラー発生部位の状態に関する情報等である。各種パラメータは、自動分析装置1における測定の際に実行される分注等の動作を実現するための制御パラメータである。エラー発生部位の状態に関する情報は、エラーが発生した時の、エラー発生部位おける定量的に検知可能な各種状態、例えばサンプル分注プローブ205内の圧力等を表す情報である。   The error history information table includes, for example, information indicating an occurrence time, an error name, an operation condition, and the like. The occurrence time is the time when the error occurred. The error name is an example of an error type, and is a name for uniquely identifying an error recognized by the automatic analyzer 1. The operating conditions are information regarding various parameters set in the automatic analyzer 1 and the state of the error occurrence part when a predetermined error occurs in the automatic analyzer 1. The various parameters are control parameters for realizing an operation such as dispensing that is executed at the time of measurement in the automatic analyzer 1. The information regarding the state of the error occurrence site is information representing various states that can be detected quantitatively at the error occurrence site, such as the pressure in the sample dispensing probe 205, when the error occurs.

なお、エラー履歴情報テーブルには、自動分析装置1における所定のエラーが発生する毎に、制御回路8の制御の下、発生したエラーに関する情報が登録される。   In the error history information table, information on the error that has occurred is registered under the control of the control circuit 8 every time a predetermined error occurs in the automatic analyzer 1.

エラー監視機能82が実行されると、制御回路8は、圧力検出器2061により検出されるサンプル分注プローブ205内の大気圧に対する圧力の情報とに基づき、サンプル分注プローブ205の詰まりに関するエラーが発生しているか否かを判定する。具体的には、制御回路8は、吸引動作の際の検出値が、予め設定される吸引圧よりも低い場合、サンプル分注プローブ205の詰まりに関するエラーが発生していると判定する。   When the error monitoring function 82 is executed, the control circuit 8 detects an error related to the clogging of the sample dispensing probe 205 based on the pressure information with respect to the atmospheric pressure in the sample dispensing probe 205 detected by the pressure detector 2061. Determine whether it has occurred. Specifically, the control circuit 8 determines that an error relating to clogging of the sample dispensing probe 205 has occurred when the detection value during the suction operation is lower than a preset suction pressure.

また、制御回路8は、吐出動作の際の検出値が、予め設定される吐出圧よりも高い場合、サンプル分注プローブ205の詰まりに関するエラーが発生していると判定する。また、制御回路8は、圧力検出器2061により検出されるサンプル分注プローブ205内の大気圧に対する圧力の情報とに基づき、サンプル分注プローブ205の空吸いに関するエラーが発生しているか否かを判定する。具体的には、制御回路8は、吸引動作の際の検出値が、予め設定される吸引圧よりも高い場合、サンプル分注プローブ205の空吸いに関するエラーが発生していると判定する。また、制御回路8は、リーダ245からの読取り失敗の旨の通知の有無によって、試料IDの読取りに関するエラーが発生したか否かを判定する。具体的には、制御回路8は、リーダ245から読取り失敗の旨が通知された場合、試料IDの読取りに関するエラーが発生したと判定する。制御回路8は、所定のエラーが発生していると判定した場合、当該エラーに関する情報を記憶回路7に記憶されるエラー履歴情報テーブルに登録する。   In addition, the control circuit 8 determines that an error relating to the clogging of the sample dispensing probe 205 has occurred when the detected value during the discharge operation is higher than a preset discharge pressure. Further, the control circuit 8 determines whether or not an error relating to the empty suction of the sample dispensing probe 205 has occurred based on the pressure information with respect to the atmospheric pressure in the sample dispensing probe 205 detected by the pressure detector 2061. judge. Specifically, the control circuit 8 determines that an error relating to empty suction of the sample dispensing probe 205 has occurred when the detection value during the suction operation is higher than a preset suction pressure. Further, the control circuit 8 determines whether or not an error relating to the reading of the sample ID has occurred depending on whether or not there is a notification of reading failure from the reader 245. Specifically, the control circuit 8 determines that an error relating to reading of the sample ID has occurred when the reading failure is notified from the reader 245. When determining that a predetermined error has occurred, the control circuit 8 registers information relating to the error in an error history information table stored in the storage circuit 7.

滞留判定機能83は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させるか否か判定する機能である。具体的には、滞留判定機能83が実行されると、制御回路8は、例えば記憶回路7に記憶されるエラー履歴情報テーブル及びエラー対応テーブルを参照する。   The stay determination function 83 is a function for determining whether or not to retain the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which a predetermined error has occurred. Specifically, when the stay determination function 83 is executed, the control circuit 8 refers to, for example, an error history information table and an error correspondence table stored in the storage circuit 7.

エラー対応テーブルは、発生したエラーの種別毎に当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102をバッファレーン244に滞留させるか否かを示す情報を登録するテーブルである。   The error correspondence table is a table for registering information indicating whether or not the sample rack 102 holding the sample container 100 that stores the sample in which the error has occurred is retained in the buffer lane 244 for each type of error that has occurred. .

エラー対応テーブルには、例えばエラー名称、エラー区分、及び滞留要否等を示す情報が含まれる。エラー名称は、エラー履歴情報テーブルのエラー名称と同様の名称である。エラー区分は、エラーの種別の例であり、エラーの性質及び属性等により複数のエラー名称を1つの集合として識別するための名称である。滞留要否は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102をバッファレーン244に滞留させる必要があるか否かを示すフラグである。   The error correspondence table includes, for example, information indicating an error name, an error classification, necessity of staying, and the like. The error name is the same name as the error name in the error history information table. The error classification is an example of an error type, and is a name for identifying a plurality of error names as one set according to the nature and attribute of the error. The necessity of staying is a flag indicating whether or not the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the predetermined error has occurred needs to be kept in the buffer lane 244.

エラー対応テーブルに含まれるエラー名称、エラー区分、及び滞留要否等に関する情報は、予め登録されている。なお、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102をバッファレーン244に滞留させるか否かを示す情報を登録する処理は、入力インタフェース回路5を介して行われてもよい。また、滞留させる対象と判断されるエラーの具体例としては、例えば、サンプル分注プローブ205の詰まりに関するエラー、サンプル分注プローブ205の空吸いに関するエラー、及び試料IDの読取りに関するエラー等の試料に起因するエラーが挙げられる。これら試料に起因するエラーは、例えば装置起因で発生する重大なエラーとは異なり、エラー発生時に自動分析装置の測定動作を停止する必要がないエラーである。試料に起因するエラーが発生した場合、操作者は、試料に起因するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を自動分析装置1から取り出し、バーコードラベルの貼り直し又は詰まりの原因物質の除去等の然るべき処置を行った上で、自動分析装置1に投入し直す。   Information on the error name, error classification, necessity of staying, and the like included in the error correspondence table is registered in advance. The process of registering information indicating whether or not the sample rack 102 holding the sample container 100 that holds the sample in which the predetermined error has occurred is retained in the buffer lane 244 is performed via the input interface circuit 5. May be. Specific examples of errors that are determined to be retained include, for example, samples such as an error related to clogging of the sample dispensing probe 205, an error related to empty sampling of the sample dispensing probe 205, and an error related to reading of the sample ID. The resulting error can be mentioned. The error caused by these samples is an error that does not require the measurement operation of the automatic analyzer to be stopped when an error occurs, unlike a serious error caused by the apparatus, for example. When an error caused by the sample occurs, the operator takes out the sample rack 102 holding the sample container 100 that stores the sample causing the error caused by the sample from the automatic analyzer 1, and re-attaches the barcode label. Or, after taking appropriate measures such as removal of a substance causing clogging, the automatic analyzer 1 is reinserted.

なお、エラー対応テーブルは、エラー名称及び当該エラー名称に対応する滞留要否の列のみで構成されてもよいし、エラー区分及び当該エラー区分に対応する滞留要否の列のみで構成されてもよい。   The error correspondence table may be configured only with an error name and a stay necessity column corresponding to the error name, or may be configured with only an error category and a stay necessity column corresponding to the error category. Good.

制御回路8は、判定対象となるサンプルラック102に保持されるすべての試料容器100に係る測定が終了すると、エラー履歴情報テーブルに登録された各種情報及びエラー対応テーブルに登録された各種情報を読み込む。制御回路8は、エラー履歴情報に含まれるエラー名称と、エラー対応テーブルに含まれるエラー名称とを突合し、突合されるエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させるか否か判定する。制御回路8は、突合されるエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させると判定した場合、駆動機構4を制御し、滞留させると判定されたサンプルラック102を、サンプリングレーン243からバッファレーン244へ移動させる。また、制御回路8は、移動させたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を排出管理テーブルに登録する。   The control circuit 8 reads various information registered in the error history information table and various information registered in the error correspondence table when the measurement related to all the sample containers 100 held in the sample rack 102 to be determined is completed. . The control circuit 8 matches the error name included in the error history information and the error name included in the error correspondence table, and holds the sample container 100 that stores the sample in which the error corresponding to the error name to be matched is generated. It is determined whether or not the sample rack 102 is retained. When it is determined that the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the error corresponding to the error name to be matched is retained, the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 and determines that the sample rack 102 is retained. The sample rack 102 thus moved is moved from the sampling lane 243 to the buffer lane 244. Further, the control circuit 8 registers the identification information of the moved sample rack 102 and the information regarding the discharge destination of the sample rack 102 in the discharge management table.

排出管理テーブルは、バッファレーン244に移動されたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を記憶するテーブルである。   The discharge management table is a table that stores identification information of the sample rack 102 moved to the buffer lane 244 and information regarding the discharge destination of the sample rack 102.

排出管理テーブルには、例えば、ラックID、試料ID、エラー名称、排出先、及び排出可否等を示す情報が含まれる。ラックIDは、サンプルラック102を一意に識別するためのIDである。試料IDは、試料容器100(試料)を一意に識別するためのIDである。エラー名称は、エラー履歴情報テーブルのエラー名称と同様の名称である。排出先は、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の排出先を示す情報である。排出可否は、排出先にサンプルラック102を排出可能であるか否かを示す情報である。以下、サンプルラック102の識別情報は、ラックID、試料ID、及びエラー名称を含み、サンプルラック102の排出先に関する情報は、排出先及び排出可否を含むものとして説明する。   The discharge management table includes, for example, information indicating a rack ID, a sample ID, an error name, a discharge destination, and discharge availability. The rack ID is an ID for uniquely identifying the sample rack 102. The sample ID is an ID for uniquely identifying the sample container 100 (sample). The error name is the same name as the error name in the error history information table. The discharge destination is information indicating the discharge destination of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244. The discharge availability is information indicating whether the sample rack 102 can be discharged to the discharge destination. In the following description, it is assumed that the identification information of the sample rack 102 includes a rack ID, a sample ID, and an error name, and the information regarding the discharge destination of the sample rack 102 includes a discharge destination and discharge availability.

排出管理テーブルには、自動分析装置1における所定のエラーが発生する毎に、制御回路8の制御の下、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102に対応するラックID、試料ID、エラー名称、排出先、及び排出可否等を示す情報が登録される。このとき、排出先及び排出可否には、所定の初期値が登録される。   Each time a predetermined error occurs in the automatic analyzer 1, the discharge management table corresponds to the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the error has occurred under the control of the control circuit 8. Information indicating a rack ID, a sample ID, an error name, a discharge destination, whether discharge is possible, and the like are registered. At this time, predetermined initial values are registered in the discharge destination and discharge availability.

なお、制御回路8は、エラー履歴情報に含まれるエラー名称に対応するエラー区分を所定のテーブルから読出し、読出したエラー区分と、エラー対応テーブルに含まれるエラー区分とを突合し、突合されるエラー区分に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させるか否かを判定するようにしてもよい。   The control circuit 8 reads out the error classification corresponding to the error name included in the error history information from the predetermined table, matches the read error classification with the error classification included in the error correspondence table, and matches the error classification. It may be determined whether or not the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the error corresponding to is retained is retained.

表示制御機能84は、表示回路6を制御し、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を表示する機能である。表示制御機能84が実行されると、制御回路8は、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を所定の表示形式に変換して表示回路6に表示させる。   The display control function 84 is a function for controlling the display circuit 6 and displaying the identification information of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244 and information regarding the discharge destination of the sample rack 102. When the display control function 84 is executed, the control circuit 8 converts the identification information of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244 and the information related to the discharge destination of the sample rack 102 into a predetermined display format and displays the display circuit 6. To display.

排出管理機能85は、サンプルラック102の排出に関する所定の入力指示に従い、サンプルラック102の排出に関する動作を制御する機能である。制御回路8は、サンプルラック102の排出に関する所定の指示が入力されると、排出管理機能85を実行する。所定の指示は、操作者が所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を取り出して試料等の状態を確認するタイミングで入力される。制御回路8は、サンプルラック102の排出に関する所定の入力がされた場合、サンプルラック検知センサ253、254、及び262を制御し、第1回収レーン251、第2回収レーン252、及びSTATラック投入レーン261へサンプルラック102を排出可能であるか否か判定する。制御回路8は、各排出先の判定結果を用いて、排出管理テーブルに登録されたレコードの各排出先に対応する排出可否の値を更新(変更)する。制御回路8は、入力インタフェース回路5を介して、操作者からバッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報の表示指示があった場合、表示回路6を制御し、排出管理テーブルに登録されるサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を表示する。制御回路8は、入力インタフェース回路5を介して、操作者から所定のサンプルラック102に対する排出先の変更指示があった場合、排出管理テーブルにおいて、変更指示があったサンプルラック102に対応する排出先の値を更新(変更)する。制御回路8は、入力インタフェース回路5を介して、操作者から所定のサンプルラック102に対する排出指示があった場合、指定された排出先へ排出指示されたサンプルラック102を移動させる。   The discharge management function 85 is a function for controlling operations related to the discharge of the sample rack 102 in accordance with a predetermined input instruction related to discharge of the sample rack 102. The control circuit 8 executes the discharge management function 85 when a predetermined instruction regarding the discharge of the sample rack 102 is input. The predetermined instruction is input at a timing when the operator takes out the sample rack 102 holding the sample container 100 that stores the sample in which the predetermined error has occurred and checks the state of the sample or the like. The control circuit 8 controls the sample rack detection sensors 253, 254, and 262 when a predetermined input relating to the discharge of the sample rack 102 is made, and controls the first recovery lane 251, the second recovery lane 252, and the STAT rack input lane. It is determined whether the sample rack 102 can be discharged to H.261. The control circuit 8 updates (changes) the discharge enable / disable value corresponding to each discharge destination in the record registered in the discharge management table using the determination result of each discharge destination. When there is an instruction to display the identification information of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244 and the information regarding the discharge destination of the sample rack 102 via the input interface circuit 5, the control circuit 8 displays the display circuit 6. And the identification information of the sample rack 102 registered in the discharge management table and the information regarding the discharge destination of the sample rack 102 are displayed. When there is an instruction to change the discharge destination for the predetermined sample rack 102 from the operator via the input interface circuit 5, the control circuit 8 in the discharge management table, the discharge destination corresponding to the sample rack 102 for which the change instruction has been issued. Update (change) the value of. The control circuit 8 moves the sample rack 102 instructed to be discharged to a specified discharge destination when an operator issues a discharge instruction to the predetermined sample rack 102 via the input interface circuit 5.

以上のように構成された自動分析装置1によるサンプルラック102の滞留判定の流れを、図5に示される制御回路8の処理手順に従い説明する。図5は、本実施形態に係る制御回路8によるサンプルラック102の滞留判定の流れの例を表すフローチャートである。以下、制御回路8は、滞留判定をサンプルラック102単位で実行するものとして説明する。すなわち、制御回路8は、滞留判定を行う前に、判定対象となるサンプルラック102に保持される全ての試料容器100に対する測定を実行し、エラーが発生した時点では当該発生エラーに基づいた滞留判定を行わない。なお、記憶回路7に記憶されるエラー履歴情報テーブルには、自動分析装置1が備える各分析ユニットにおいて所定のエラーが発生する度に、発生したエラーに関する情報が登録される。   The flow of stay determination of the sample rack 102 by the automatic analyzer 1 configured as described above will be described according to the processing procedure of the control circuit 8 shown in FIG. FIG. 5 is a flowchart showing an example of a flow of stay determination of the sample rack 102 by the control circuit 8 according to the present embodiment. In the following description, it is assumed that the control circuit 8 executes the stay determination for each sample rack 102. That is, the control circuit 8 performs measurement on all the sample containers 100 held in the sample rack 102 to be determined before performing the stay determination, and when the error occurs, the stay determination based on the occurrence error. Do not do. In the error history information table stored in the storage circuit 7, information on the error that has occurred is registered every time a predetermined error occurs in each analysis unit provided in the automatic analyzer 1.

また、記憶回路7には、エラー対応テーブルが予め記憶されている。図6は、本実施形態に係るエラー対応テーブルの一例を示す図である。図6に示されるように、エラー対応テーブルには、例えば、エラー名称として、サンプル分注プローブ205の詰まりに関するエラーを示す「詰まりエラー」、サンプル分注プローブ205の空吸いに関するエラーを示す「空吸いエラー」、及び試料IDの読取りに関するエラーを示す「試料ID読取りエラー」等が設定される。また、図6に示されるように、エラー対応テーブルには、例えば「詰まりエラー」、「空吸いエラー」、及び「試料ID読取りエラー」を一つのグループとしてエラー区分「0001」が設定される。また、図6に示されるように、エラー対応テーブルには、例えば「詰まりエラー」、「空吸いエラー」、及び「試料ID読取りエラー」のそれぞれについて、滞留する対象であることを意味する値「1」が設定される。なお、設定される値が「0」の場合は、滞留する対象でない、すなわち、操作者が、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を取り出して試料等の状況を確認する必要のないエラーであることを意味するものとする。   The memory circuit 7 stores an error correspondence table in advance. FIG. 6 is a diagram showing an example of the error correspondence table according to the present embodiment. As shown in FIG. 6, the error correspondence table includes, for example, “clogging error” indicating an error relating to clogging of the sample dispensing probe 205 and “empty” indicating an error relating to empty suction of the sample dispensing probe 205 as error names. “Sucking error”, “Sample ID reading error” indicating an error related to reading of the sample ID, and the like are set. Further, as shown in FIG. 6, in the error correspondence table, for example, “clogging error”, “empty sucking error”, and “sample ID reading error” are set as one group, and an error classification “0001” is set. Further, as shown in FIG. 6, the error correspondence table includes, for example, values “meaning clogging error”, “empty sucking error”, and “sample ID reading error”, which are objects to stay. 1 "is set. When the set value is “0”, it is not a target for staying, that is, the operator takes out the sample rack 102 holding the sample container 100 that stores the sample in which the predetermined error has occurred, removes the sample, etc. It means that the error does not need to be checked.

また、エラー対応テーブルに含まれるエラー名称、当該エラー名称に対応するエラー区分、及び当該エラー名称に対応する滞留要否等に関する情報は、入力インタフェース回路5を介して予め登録される。   Further, the error name included in the error correspondence table, the error classification corresponding to the error name, and the necessity of stay corresponding to the error name are registered in advance via the input interface circuit 5.

まず、制御回路8は、判定対象となるサンプルラック102に保持されるすべての試料容器100に係る測定が終了すると、図5に示されるように、滞留判定機能83を実行する。滞留判定機能83の実行により制御回路8は、エラー履歴情報テーブルに登録された発生時刻、エラー名称、及び動作条件等の情報及びエラー対応テーブルに登録されたエラー名称、エラー区分、及び滞留要否等の情報を読み込む(ステップSA1)。   First, when the measurement related to all the sample containers 100 held in the sample rack 102 to be determined is completed, the control circuit 8 executes the stay determination function 83 as shown in FIG. By executing the stay determination function 83, the control circuit 8 causes the occurrence time, error name, operation condition, etc. registered in the error history information table, error name registered in the error correspondence table, error classification, and stay necessity. Are read (step SA1).

制御回路8は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称とエラー対応テーブルに記憶されたエラー名称を突合し、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させるか否かを判定する(ステップSA2)。例えば、制御回路8は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称が「詰まりエラー」であった場合、図6に示されるエラー対応テーブルにおいて突合されたエラー名称「詰まりエラー」に対応する滞留要否の値が「1」であるため、滞留判定の対象となるサンプルラック102を滞留させると判定する。また、制御回路8は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称が「空吸いエラー」であった場合、図6に示されるエラー対応テーブルにおいて突合されたエラー名称「空吸いエラー」に対応する滞留要否の値が「1」であるため、滞留判定の対象となるサンプルラック102を滞留させると判定する。また、制御回路8は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称が「試料ID読み取りエラー」であった場合、図6に示されるエラー対応テーブルにおいて突合されたエラー名称「試料ID読み取りエラー」に対応する滞留要否の値が「1」であるため、滞留判定の対象となるサンプルラック102を滞留させると判定する。なお、制御回路8は、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称と突合された、エラー履歴情報テーブルに記憶されたエラー名称に対応する滞留要否の値が「0」であった場合、滞留判定の対象となるサンプルラック102を滞留しないと判定する。   The control circuit 8 matches the error name stored in the error history information table with the error name stored in the error correspondence table, and retains the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the error has occurred. Whether or not (step SA2). For example, when the error name stored in the error history information table is “clogging error”, the control circuit 8 stores the retention requirement corresponding to the error name “clogging error” matched in the error correspondence table shown in FIG. Since the value of “No” is “1”, it is determined that the sample rack 102 that is the target of the retention determination is retained. Further, when the error name stored in the error history information table is “empty sucking error”, the control circuit 8 corresponds to the error name “empty sucking error” matched in the error correspondence table shown in FIG. Since the retention necessity value is “1”, it is determined that the sample rack 102 to be retained is retained. Further, when the error name stored in the error history information table is “sample ID reading error”, the control circuit 8 changes the error name “sample ID reading error” matched in the error correspondence table shown in FIG. Since the corresponding stay necessity value is “1”, it is determined that the sample rack 102 to be stayed is to stay. In addition, the control circuit 8 retains when the stay necessity value corresponding to the error name stored in the error history information table matched with the error name stored in the error history information table is “0”. It is determined that the sample rack 102 to be determined does not stay.

制御回路8は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させると判定した場合(ステップSA2のYes)、駆動機構4を制御し、滞留させると判定したサンプルラック102を、サンプリングレーン243からバッファレーン244へ移動させる。制御回路8は、滞留させると判定したサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を記憶回路7の排出管理テーブルへ登録する(ステップSA3)。   When it is determined that the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample that has generated the error corresponding to the error name that has been matched is retained (Yes in step SA2), the control circuit 8 controls the drive mechanism 4. The sample rack 102 determined to stay is moved from the sampling lane 243 to the buffer lane 244. The control circuit 8 registers the identification information of the sample rack 102 determined to be retained and information on the discharge destination of the sample rack 102 in the discharge management table of the storage circuit 7 (step SA3).

図7は、本実施形態に係る排出管理テーブルの一例を示す図である。図7に示されるように、排出管理テーブルには、例えばラックID、試料ID、エラー名称、排出先、及び排出可否の各項目に対し、「0001」、「00000001」、「詰まりエラー」、初期値としてSTATラック投入レーン261を示す「STAT」、及び初期値として排出先に排出不可能であることを示す「1」が登録される。また、図7に示されるように、排出管理テーブルには、例えばラックID、試料ID、エラー名称、排出先、及び排出可否の各項目に対し、「0002」、「00000002」、「空吸いエラー」、初期値として第1回収レーン251を示す「回収ストッカ1」、及び初期値として排出先に排出不可能であることを示す「1」が登録される。また、図7に示されるように、排出管理テーブルには、例えばラックID、試料ID、エラー名称、排出先、及び排出可否の各項目に対し、「0003」、「00000003」、「試料ID読み取りエラー」、初期値として第2回収レーン252を示す「回収ストッカ2」、及び初期値として排出先に排出不可能であることを示す「1」が登録される。   FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a discharge management table according to the present embodiment. As shown in FIG. 7, the discharge management table includes, for example, “0001”, “00000001”, “clogging error”, initial value for each item of rack ID, sample ID, error name, discharge destination, and discharge availability. “STAT” indicating the STAT rack input lane 261 is registered as a value, and “1” indicating that discharge cannot be performed is registered as an initial value in the discharge destination. Further, as shown in FIG. 7, the discharge management table includes, for example, “0002”, “00000002”, “empty suction error” for each item of rack ID, sample ID, error name, discharge destination, and discharge availability. ”,“ Collection stocker 1 ”indicating the first recovery lane 251 as an initial value, and“ 1 ”indicating that discharge cannot be performed at the discharge destination as an initial value. Further, as shown in FIG. 7, the discharge management table includes, for example, “0003”, “00000003”, “read sample ID” for each item of rack ID, sample ID, error name, discharge destination, and discharge availability. “Error”, “Recovery Stocker 2” indicating the second recovery lane 252 as an initial value, and “1” indicating that discharge cannot be performed as an initial value are registered.

滞留判定機能83の実行により制御回路8は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留しないと判定した場合(ステップSA2のNo)、駆動機構4を制御し、滞留しないと判定したサンプルラック102をサンプリングレーン243上のラック回収ユニット250へ移動可能な搬出位置から第1回収レーン251又は第2回収レーン252へ移動させる(ステップSA4)。   When the control circuit 8 determines by the execution of the stay determination function 83 that the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the error corresponding to the matched error name is not retained (No in step SA2). Then, the drive mechanism 4 is controlled, and the sample rack 102 determined not to stay is moved from the unloading position where it can be moved to the rack recovery unit 250 on the sampling lane 243 to the first recovery lane 251 or the second recovery lane 252 (step SA4). ).

次に、自動分析装置1による排出管理に係る動作を、図8に示される制御回路8の処理手順に従い説明する。図8は、本実施形態に係る制御回路8による排出管理に係る動作の例を表すフローチャートである。図9は、表示回路6が表示するラック取り出しアイコンの表示例を示す図である。   Next, the operation related to the discharge management by the automatic analyzer 1 will be described according to the processing procedure of the control circuit 8 shown in FIG. FIG. 8 is a flowchart showing an example of an operation related to discharge management by the control circuit 8 according to the present embodiment. FIG. 9 is a diagram illustrating a display example of the rack removal icon displayed by the display circuit 6.

図8に示されるように、まず、制御回路8は、測定動作中に、排出管理機能85を実行する。排出管理機能85の実行により制御回路8は、図9に示されるラック取り出しアイコンI1が、例えば入力インタフェース回路5が備えるマウス等を介して押下されるまで待機する(ステップSB1)。ラック取り出しアイコンI1は、図9に示される、例えば表示回路6が表示する初期画面の一部として表示されるメニュー選択領域A1に含まれ、排出管理テーブルに記憶されるサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報の表示を指示可能なアイコンである。   As shown in FIG. 8, first, the control circuit 8 executes the discharge management function 85 during the measurement operation. By executing the discharge management function 85, the control circuit 8 waits until the rack removal icon I1 shown in FIG. 9 is pressed through, for example, a mouse provided in the input interface circuit 5 (step SB1). The rack removal icon I1 is included in the menu selection area A1 displayed as a part of the initial screen displayed by the display circuit 6 shown in FIG. 9, for example, and the identification information of the sample rack 102 stored in the discharge management table and This is an icon that can instruct display of information related to the discharge destination of the sample rack 102.

排出管理機能85の実行により制御回路8は、入力インタフェース回路5が備えるマウス等の操作を介してラック取り出しアイコンI1が占める範囲の任意の位置が指定されると(ステップSB1のYes)、自動分析装置1における各排出先の排出可否を判定する(ステップSB2)。具体的には、制御回路8は、サンプルラック検知センサ253、254、及び262に対し、サンプルラック102の有無の検知の開始を指示する。制御回路8は、サンプルラック検知センサ253及び254から出力される応答信号の数に基づいて、第1回収レーン251又は第2回収レーン252に対しサンプルラック102を排出可能であるか否かを判定する。また、制御回路8は、サンプルラック検知センサ262から出力される電気信号に含まれる反射光の強度に基づいて、STATラック投入レーン261に対しサンプルラック102を排出可能であるか否かを判定する。制御回路8は、各判定結果に基づいて、排出管理テーブルの排出可否を更新する。例えば、制御回路8は、排出先である第1回収レーン251から出力される応答信号の数が所定の数より多い場合、排出が不可能であると判定し、排出管理テーブル上で、排出先が第1回収レーン251であるレコードに対応する排出可否の値を、排出先に排出不可能であることを示す「1」に更新する。また、制御回路8は、排出先である第2回収レーン252から出力される応答信号の数が所定の数以下の場合、排出が可能であると判定し、排出管理テーブル上で、排出先が第2回収レーン252であるレコードに対応する排出可否の値を、排出先に排出可能であることを示す「0」に更新する。また、制御回路8は、サンプルラック検知センサ262から出力される電気信号に含まれる反射光の強度が所定の値以下である場合、排出可能であると判定し、排出管理テーブル上で、排出先がSTATラック投入レーン261であるレコードに対応する排出可否の値を、排出先に排出可能であることを示す「0」に更新する。   When the discharge management function 85 is executed, the control circuit 8 performs automatic analysis when an arbitrary position within the range occupied by the rack removal icon I1 is specified through the operation of the mouse or the like included in the input interface circuit 5 (Yes in step SB1). It is determined whether or not each discharge destination in the apparatus 1 can be discharged (step SB2). Specifically, the control circuit 8 instructs the sample rack detection sensors 253, 254, and 262 to start detection of the presence or absence of the sample rack 102. The control circuit 8 determines whether the sample rack 102 can be discharged to the first collection lane 251 or the second collection lane 252 based on the number of response signals output from the sample rack detection sensors 253 and 254. To do. Further, the control circuit 8 determines whether the sample rack 102 can be discharged from the STAT rack input lane 261 based on the intensity of the reflected light included in the electrical signal output from the sample rack detection sensor 262. . The control circuit 8 updates the discharge availability in the discharge management table based on each determination result. For example, when the number of response signals output from the first collection lane 251 that is the discharge destination is larger than a predetermined number, the control circuit 8 determines that the discharge is impossible, and the discharge destination is displayed on the discharge management table. Is updated to “1” indicating that discharge is not possible at the discharge destination corresponding to the record that is the first collection lane 251. The control circuit 8 determines that the discharge is possible when the number of response signals output from the second collection lane 252 as the discharge destination is equal to or less than a predetermined number, and the discharge destination is displayed on the discharge management table. The value of discharge availability corresponding to the record that is the second collection lane 252 is updated to “0” indicating that discharge is possible at the discharge destination. The control circuit 8 determines that the discharge is possible when the intensity of the reflected light included in the electrical signal output from the sample rack detection sensor 262 is equal to or less than a predetermined value, and the discharge destination is displayed on the discharge management table. Is updated to “0” indicating that it is possible to discharge to the discharge destination.

制御回路8は、排出管理テーブルを更新した後、表示制御機能84を実行する。表示制御機能84の実行により制御回路8は、表示回路6を制御し、排出可否の判定結果が反映された、排出管理テーブルに記憶されるサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を表示する(ステップSB3)。図10は、本実施形態に係る表示回路6が表示するサンプルラック102に係る情報の表示例を表す図である。図10に示される表示回路6に表示される画面は、排出指示受付領域A2、及びラックID毎に排出先を選択可能な排出先選択アイコンI2を備える。排出指示受付領域A2は、図10に示される表示回路6が表示する画面の一部を構成し、排出管理テーブルに記憶されるサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報が表示される領域である。制御回路8は、入力インタフェース回路5が備えるマウス等の操作を介し、排出指示受付領域A2が占める範囲の任意の位置が指定されることにより、図10に示される表示回路6が表示する画面上に所定の確認画面が重畳表示される。排出先選択アイコンI2は、図10に示される排出指示受付領域A2に含まれ、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の排出先の選択を指示可能なアイコンである。制御回路8は、入力インタフェース回路5が備えるマウス等の操作を介し、例えばラックID「0001」のサンプルラック102に対応する排出先選択アイコンI2が占める範囲の任意の位置が指定されることにより、エラー名称又はエラー区分毎に予め設定される選択可能な複数のサンプルラック102の排出先、例えば「STAT」、「回収ストッカ1」、及び「回収ストッカ2」が表示される。   The control circuit 8 executes the display control function 84 after updating the discharge management table. By executing the display control function 84, the control circuit 8 controls the display circuit 6, and the identification information of the sample rack 102 stored in the discharge management table and the discharge destination of the sample rack 102 reflecting the determination result of discharge availability The information regarding is displayed (step SB3). FIG. 10 is a diagram illustrating a display example of information related to the sample rack 102 displayed by the display circuit 6 according to the present embodiment. The screen displayed on the display circuit 6 shown in FIG. 10 includes a discharge instruction receiving area A2 and a discharge destination selection icon I2 that allows a discharge destination to be selected for each rack ID. The discharge instruction reception area A2 constitutes a part of the screen displayed by the display circuit 6 shown in FIG. 10, and the identification information of the sample rack 102 and the information regarding the discharge destination of the sample rack 102 stored in the discharge management table are stored. This is the area to be displayed. The control circuit 8 is displayed on the screen displayed by the display circuit 6 shown in FIG. 10 by designating an arbitrary position in the range occupied by the discharge instruction receiving area A2 through the operation of the mouse or the like provided in the input interface circuit 5. A predetermined confirmation screen is superimposed on the screen. The discharge destination selection icon I2 is an icon that can be instructed to select the discharge destination of the sample rack 102 that is included in the discharge instruction reception area A2 shown in FIG. The control circuit 8 designates an arbitrary position in the range occupied by the discharge destination selection icon I2 corresponding to the sample rack 102 of the rack ID “0001”, for example, through the operation of the mouse or the like provided in the input interface circuit 5. A plurality of selectable discharge destinations of the sample racks 102 set in advance for each error name or error category, for example, “STAT”, “collection stocker 1”, and “collection stocker 2” are displayed.

なお、排出指示受付領域A2には、最も左の列に「ラックID」の値が表示される。「ラックID」の右の列には、「試料ID」の値が表示され、さらに右の列に「エラー名称」の値が表示される。これにより、操作者は、排出単位であるサンプルラック毎に、排出先の選択及び排出指示を行うことが容易となる。   In the discharge instruction receiving area A2, the value of “rack ID” is displayed in the leftmost column. The value of “Sample ID” is displayed in the right column of “Rack ID”, and the value of “Error Name” is displayed in the right column. This makes it easy for the operator to select a discharge destination and issue a discharge instruction for each sample rack that is a discharge unit.

制御回路8は、排出管理機能85を実行する。排出管理機能85の実行により制御回路8は、入力インタフェース回路5を介し、バッファレーン244に滞留されるサンプルラック102について、操作者から排出先の選択及び排出指示を受け付ける。例えば、制御回路8は、表示回路6を制御し、図10に示されるような画面を表示し、入力インタフェース回路5を介して、操作者から排出先の選択及び排出指示を受け付ける(ステップSB4)。このとき、操作者は、入力インタフェース回路5を介し、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102のうち、例えば再検査のために然るべき処置が必要なサンプルラック102について、図10に示される、例えばラックID「0001」に対応する排出先選択アイコンI2が占める任意の位置を指定することにより、ラックID「0001」のサンプルラック102の排出先を選択することができる。また、操作者は、図10に示される、例えば排出指示受付領域A2のうちラックID「0001」に対応する領域の任意の位置を入力インタフェース回路5が備えるマウス等を用いて指定することにより、ラックID「0001」のサンプルラック102について排出指示を行うことが可能となる。   The control circuit 8 executes the discharge management function 85. By executing the discharge management function 85, the control circuit 8 accepts a discharge destination selection and discharge instruction from the operator via the input interface circuit 5 for the sample rack 102 retained in the buffer lane 244. For example, the control circuit 8 controls the display circuit 6 to display a screen as shown in FIG. 10, and receives a discharge destination selection and discharge instruction from the operator via the input interface circuit 5 (step SB4). . At this time, for example, the sample rack 102 in the buffer lane 244 that is retained in the buffer lane 244 is shown in FIG. By specifying an arbitrary position occupied by the discharge destination selection icon I2 corresponding to the rack ID “0001”, the discharge destination of the sample rack 102 with the rack ID “0001” can be selected. Further, for example, the operator designates an arbitrary position in an area corresponding to the rack ID “0001” in the discharge instruction receiving area A2 shown in FIG. A discharge instruction can be issued for the sample rack 102 with the rack ID “0001”.

排出管理機能85の実行により制御回路8は、図10に示される画面において領域F2のうち、例えばラックID「0001」のサンプルラック102に対応する、図11に示される排出先選択アイコンI2が占める範囲を除く部分的な表示領域A21の範囲の任意の位置が指定されると(ステップSB4のYes)、排出管理テーブルを参照し、選択されたラックID「0001」サンプルラック102の排出先が排出可能であるか否か判定する(ステップSB5)。   By executing the discharge management function 85, the control circuit 8 occupies the discharge destination selection icon I2 shown in FIG. 11 corresponding to, for example, the sample rack 102 of the rack ID “0001” in the area F2 on the screen shown in FIG. When an arbitrary position in the range of the partial display area A21 excluding the range is designated (Yes in step SB4), the discharge destination of the selected rack ID “0001” sample rack 102 is discharged with reference to the discharge management table. It is determined whether or not it is possible (step SB5).

排出管理機能85の実行により制御回路8は、選択されたラックID「0001」のサンプルラック102の排出先「STAT」に排出可能であると判定し(ステップSB5のYes)、表示制御機能84を実行する。表示制御機能84の実行により制御回路8は、図11に示されるように、選択されたラックID「0001」のサンプルラック102を「STAT」へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面を表示する(ステップSB6)。確認画面には、排出処理を確定するための「はい」と表示されるアイコン及び排出処理をキャンセルするための「いいえ」と表示されるアイコンが含まれる。   By executing the discharge management function 85, the control circuit 8 determines that the discharge can be discharged to the discharge destination “STAT” of the sample rack 102 with the selected rack ID “0001” (Yes in step SB5), and the display control function 84 is displayed. Run. By executing the display control function 84, the control circuit 8 displays a confirmation screen for accepting confirmation of the instruction to discharge the sample rack 102 with the selected rack ID “0001” to “STAT”, as shown in FIG. (Step SB6). The confirmation screen includes an icon displayed as “Yes” for confirming the discharge process and an icon displayed as “No” for canceling the discharge process.

排出管理機能85の実行により制御回路8は、排出処理を確定するための確認画面を表示した後、入力インタフェース回路5を介して、操作者から排出処理を確定する指示があるまで待機する(ステップSB8)。   By executing the discharge management function 85, the control circuit 8 displays a confirmation screen for confirming the discharge process, and then waits until an instruction to confirm the discharge process is received from the operator via the input interface circuit 5 (Step S1). SB8).

排出管理機能85の実行により制御回路8は、入力インタフェース回路5を介して、操作者から排出処理を確定する指示を受け付けると(ステップSB8のYes)、駆動機構4を制御し、当該指示の対象となるサンプルラック102を指定された排出先へ排出する(ステップSB9)。例えば、制御回路8は、図11に示される「はい」と表示されるアイコンが占める範囲の任意の位置が指定されると、駆動機構4を制御し、ラックID「0001」のサンプルラック102を排出先「STAT」、すなわちSTATラック投入レーン261へ排出する。このとき、制御回路8は、排出管理テーブルにおいて、ラックID「0001」に関する情報を表示回路6の表示対象から除外するように、例えば排出管理テーブルに予め設定される非表示フラグ項目の値の更新を行う。   When the discharge management function 85 is executed, the control circuit 8 receives the instruction for confirming the discharge process from the operator via the input interface circuit 5 (Yes in step SB8), and controls the drive mechanism 4 to control the target of the instruction. The sample rack 102 to be discharged is discharged to a specified discharge destination (step SB9). For example, when an arbitrary position in the range occupied by the icon displayed as “Yes” shown in FIG. 11 is designated, the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to control the sample rack 102 with the rack ID “0001”. It is discharged to a discharge destination “STAT”, that is, a STAT rack input lane 261. At this time, the control circuit 8 updates the value of the non-display flag item set in advance in the discharge management table, for example, so as to exclude the information related to the rack ID “0001” from the display target of the display circuit 6 in the discharge management table. I do.

また、排出管理機能85の実行により制御回路8は、ステップSB4において、図10に示される画面において、排出指示受付領域A2のうち、例えばラックID「0002」のサンプルラック102に対応する、図11に示される排出先選択アイコンI2が占める範囲を除く部分的な表示領域A22の範囲の任意の位置が指定されると(ステップSB4のYes)、排出管理テーブルを参照し、選択されたラックID「0002」のサンプルラック102の排出先が排出可能であるか否か判定する(ステップSB5)。   Further, by executing the discharge management function 85, in step SB4, the control circuit 8 corresponds to, for example, the sample rack 102 of the rack ID “0002” in the discharge instruction reception area A2 in the screen shown in FIG. When an arbitrary position in the range of the partial display area A22 excluding the range occupied by the discharge destination selection icon I2 shown in (2) is designated (Yes in step SB4), the selected rack ID “ It is determined whether or not the discharge destination of the sample rack 102 of “0002” can be discharged (step SB5).

排出管理機能85の実行により制御回路8は、選択されたラックID「0002」のサンプルラック102の排出先「回収ストッカ1」に排出不可能であると判定し(ステップSB5のNo)、表示制御機能84を実行する。表示制御機能84の実行により制御回路8は、図12に示されるように、ラックID「0002」のサンプルラック102が排出先「回収ストッカ1」、すなわち第1回収レーン251へ排出できない旨を表すポップアップを表示する(ステップSB7)。   By executing the discharge management function 85, the control circuit 8 determines that it cannot be discharged to the discharge destination “collection stocker 1” of the sample rack 102 with the selected rack ID “0002” (No in step SB5), and performs display control. Function 84 is executed. By executing the display control function 84, the control circuit 8 indicates that the sample rack 102 with the rack ID “0002” cannot be discharged to the discharge destination “collection stocker 1”, that is, the first collection lane 251 as shown in FIG. A popup is displayed (step SB7).

以上のように、第1の実施形態では、自動分析装置1に設けられる制御回路8は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を所定の滞留エリアであるバッファレーン244に滞留させるか否かを判定する。制御回路8は、駆動機構4を制御し、バッファレーン244に滞留させると判定されたサンプルラック102をバッファレーン244へ移動させる。これにより、サンプルラック102を予め設定された最終的な排出先へ排出させずに、バッファレーン244に滞留することができる。また、操作者は、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102に対して排出先及び排出時点等を後から指定し、指定したサンプルラック102を指定した排出先へ排出することができる。   As described above, in the first embodiment, the control circuit 8 provided in the automatic analyzer 1 holds the sample rack 102 holding the sample container 100 containing the sample in which the predetermined error has occurred in the predetermined staying area. Whether to stay in a certain buffer lane 244 is determined. The control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the sample rack 102 determined to stay in the buffer lane 244 to the buffer lane 244. As a result, the sample rack 102 can stay in the buffer lane 244 without being discharged to a preset final discharge destination. In addition, the operator can specify the discharge destination and the discharge time point for the sample rack 102 staying in the buffer lane 244 later, and discharge the specified sample rack 102 to the specified discharge destination.

したがって、操作者が所望の試料容器を保持するサンプルラックを取得する際の負担を軽減することが可能となる。   Therefore, it is possible to reduce the burden when the operator acquires a sample rack that holds a desired sample container.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、表示回路6を制御し、バッファレーン244に滞留されたサンプルラックの識別情報及び当該サンプルラック102に対し予め設定される排出先を表示する。制御回路8は、表示回路6により表示される識別情報により識別されるサンプルラック102に対する排出指示が入力されると、駆動機構4を制御し、排出指示の対象となったサンプルラック102を予め設定される排出先へ排出する。これにより、操作者は、所定の滞留エリアに滞留されたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102に対し予め設定される排出先を確認した上で、サンプルラック102を排出先へ移動させることが可能となる。   In the first embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 6 to display the identification information of the sample rack retained in the buffer lane 244 and the discharge destination set in advance for the sample rack 102. When a discharge instruction for the sample rack 102 identified by the identification information displayed by the display circuit 6 is input, the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to preset the sample rack 102 that is the target of the discharge instruction. To the destination. Accordingly, the operator confirms the identification information of the sample rack 102 staying in the predetermined staying area and the discharge destination set in advance for the sample rack 102, and then moves the sample rack 102 to the discharge destination. Is possible.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、識別情報により識別されるサンプルラック102を所定の排出先へ排出する旨の指示が入力されると、表示回路6を制御し、バッファレーン244へ移動されたサンプルラック102を所定の排出先へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面を表示する。これにより、人為的ミスにより排出を意図していないサンプルラック102を所定の排出先へ排出する旨の指示が入力された場合に、当該サンプルラック102がそのまま排出されてしまうことを防止することが可能となる。   Further, in the first embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 6 when the instruction to discharge the sample rack 102 identified by the identification information to a predetermined discharge destination is input, and the buffer lane 244 is controlled. A confirmation screen for accepting confirmation of an instruction to discharge the sample rack 102 moved to the predetermined discharge destination is displayed. This prevents the sample rack 102 from being discharged as it is when an instruction to discharge the sample rack 102 that is not intended to be discharged due to human error is input to a predetermined discharge destination. It becomes possible.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102に対し予め設定される排出先を記憶回路7に記憶される排出管理テーブルに登録する。制御回路8は、排出指示受付領域A2に表示される排出先に対する変更指示が入力されると、表示回路6を制御し、変更指示の対象となるサンプルラック102に対し予め定められた複数の排出先の候補を表示する。制御回路8は、表示された複数の排出先の候補のうちの1つの排出先を選択する旨の指示が入力されると、記憶回路7に記憶される排出管理テーブルに登録された変更指示の対象となるサンプルラック102の排出先を選択された排出先に変更する。これにより、操作者は、各排出先の混雑状況を目視で確認しながら、排出する前に排出先の変更を行うことが可能となる。   Further, in the first embodiment, the control circuit 8 controls the discharge management in which the identification information of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244 and the discharge destination set in advance for the sample rack 102 are stored in the storage circuit 7. Register in the table. When the change instruction for the discharge destination displayed in the discharge instruction receiving area A2 is input, the control circuit 8 controls the display circuit 6 and sets a plurality of discharges predetermined for the sample rack 102 to be changed. Display previous candidates. When an instruction to select one of the displayed plurality of discharge destination candidates is input, the control circuit 8 receives the change instruction registered in the discharge management table stored in the storage circuit 7. The discharge destination of the target sample rack 102 is changed to the selected discharge destination. Thus, the operator can change the discharge destination before discharging while visually checking the congestion status of each discharge destination.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラック102に予め設定された排出先を表示する旨の指示が入力されると、表示回路6を制御し、当該識別情報及び排出先を表示する。これにより、操作者は、どのサンプルラック102が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているかを認識することが可能となる。   Further, in the first embodiment, the control circuit 8 displays the identification information of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244 and the discharge destination set in advance on the sample rack 102 identified by the identification information. When the instruction is input, the display circuit 6 is controlled to display the identification information and the discharge destination. Thus, the operator can recognize which sample rack 102 is retained in the retention area due to what kind of error.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、バッファレーン244に滞留されたサンプルラック102の識別情報及び排出先を表示する旨の指示が入力されると、当該排出先の排出可否を判定する。制御回路8は、排出可否の判定後、排出管理テーブルにおいて、各排出先に対応する排出可否を判定で取得された結果により更新する。制御回路8は、排出可否の更新後、表示回路6を制御し、サンプルラック102の識別情報、排出先、及び排出可否の判定結果を表示する。これにより、操作者は、どのサンプルラック102が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているか、かつ、サンプルラック102に対して予め設定された排出先の排出可否を認識することが可能となる。   In the first embodiment, when an instruction to display the identification information and the discharge destination of the sample rack 102 retained in the buffer lane 244 is input, the control circuit 8 determines whether or not the discharge destination can be discharged. To do. After determining whether discharge is possible or not, the control circuit 8 updates the discharge management table according to the result obtained by the determination in the discharge management table. After updating the discharge availability, the control circuit 8 controls the display circuit 6 to display the identification information of the sample rack 102, the discharge destination, and the determination result of the discharge availability. Accordingly, the operator can recognize which sample rack 102 is retained in the retention area due to what error, and whether or not the discharge destination set in advance for the sample rack 102 can be discharged. It becomes possible.

また、第1の実施形態では、突合されるエラーの種別は、エラー名称を用いてもよいし、エラー区分を用いてもよい。これにより、操作者のニーズに合わせたエラー対応テーブルの設定を行うことが可能となる。   In the first embodiment, an error name may be used as an error type to be matched, or an error classification may be used. This makes it possible to set an error handling table that meets the needs of the operator.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、表示回路6を制御し、バッファレーン244へ移動されたサンプルラック102の識別情報及び前記識別情報により識別されるサンプルラック102に対し予め設定される排出先を表示し、表示される識別情報により識別されるサンプルラック102に対する排出指示を受け付ける、排出指示受付領域A2を表示する。これにより、操作者は、どのサンプルラック102が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているか認識した上で、所望のサンプルラック102を排出する旨の指示を出すことが可能となる。   In the first embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 6 and is preset for the identification information of the sample rack 102 moved to the buffer lane 244 and the sample rack 102 identified by the identification information. A discharge instruction receiving area A2 is displayed for receiving a discharge instruction for the sample rack 102 identified by the displayed identification information. Thus, the operator can give an instruction to discharge the desired sample rack 102 after recognizing which sample rack 102 is retained in the retention area due to what error. .

また、第1の実施形態では、制御回路8は、表示回路6を制御し、排出指示受付領域A2内に表示される排出先に対する変更指示を受け付ける排出先選択アイコンI2を表示する。これにより、操作者は、所望の排出先へ変更する指示を出すことが可能となる。   In the first embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 6 to display a discharge destination selection icon I2 for receiving a change instruction for the discharge destination displayed in the discharge instruction receiving area A2. As a result, the operator can issue an instruction to change to a desired discharge destination.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、表示回路6を制御し、排出指示受付領域A2を表示する旨の指示を受け付ける表示受付アイコンI1を表示する。これにより、操作者は、サンプルラック102の排出の指示を出す前に、どのサンプルラック102が、どのようなエラーが原因で滞留エリアに滞留されているかを認識することが可能となる。   In the first embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 6 to display a display reception icon I1 that receives an instruction to display the discharge instruction reception area A2. Thus, the operator can recognize which sample rack 102 is staying in the staying area due to what kind of error before giving an instruction to discharge the sample rack 102.

また、第1の実施形態では、制御回路8は、表示回路6を制御し、バッファレーン244へ移動されたサンプルラック102を所定の排出先へ排出する旨の指示の確定を受け付ける確認画面を表示する。これにより、人為的ミスにより排出を意図していないサンプルラック102を所定の排出先へ排出する旨の指示が入力された場合に、操作者は、指示をやり直すことが可能となる。   In the first embodiment, the control circuit 8 controls the display circuit 6 to display a confirmation screen for accepting confirmation of an instruction to discharge the sample rack 102 moved to the buffer lane 244 to a predetermined discharge destination. To do. As a result, when an instruction to discharge the sample rack 102 that is not intended to be discharged due to human error is input to a predetermined discharge destination, the operator can redo the instruction.

[変形例]
上記実施形態では、制御回路8は、滞留判定をサンプルラック102単位で実行し、滞留判定を行う前に、判定対象となるサンプルラック102に保持される全ての試料容器100に対する測定を行う、すなわちエラーが発生した時点で滞留判定を行わないものとした。変形例では、制御回路8は、所定のエラーが発生した時点で、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させるか否かの判定を行う。図13は、変形例に係る制御回路8によるサンプルラック102の滞留判定に係る動作の例を表すフローチャートである。以下、変形例に係る自動分析装置1によるサンプルラック102の滞留判定に係る動作を、図13に示される制御回路8の処理手順に従い説明する。
[Modification]
In the above embodiment, the control circuit 8 executes the stay determination for each sample rack 102, and performs the measurement for all the sample containers 100 held in the sample rack 102 to be determined before performing the stay determination. It is assumed that the stay determination is not performed when an error occurs. In the modified example, when a predetermined error occurs, the control circuit 8 determines whether or not to retain the sample rack 102 that holds the sample container 100 that stores the sample in which the error has occurred. FIG. 13 is a flowchart illustrating an example of an operation related to the stay determination of the sample rack 102 by the control circuit 8 according to the modification. Hereinafter, the operation related to the determination of stay of the sample rack 102 by the automatic analyzer 1 according to the modification will be described according to the processing procedure of the control circuit 8 shown in FIG.

図13に示されるように、制御回路8は、自動分析装置1で認識されるエラーが検知されるまで待機する(ステップSC1)。制御回路8は、エラーの発生を、例えば自動分析装置1から標準で出力されるイベントログ等を捕捉することで検知する。   As shown in FIG. 13, the control circuit 8 waits until an error recognized by the automatic analyzer 1 is detected (step SC1). The control circuit 8 detects the occurrence of an error, for example, by capturing an event log or the like output as a standard from the automatic analyzer 1.

制御回路8は、エラーの発生を検知した場合(ステップSC1のYes)、滞留判定機能83を実行する。滞留判定機能83の実行により制御回路8は、エラー対応テーブルを参照し、発生したエラーと、エラー対応テーブルに登録されたエラー名称とを突合し、当該エラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させるか否かを判定する(ステップSC2)。   When the occurrence of an error is detected (Yes in step SC1), the control circuit 8 executes the stay determination function 83. By executing the stay determination function 83, the control circuit 8 refers to the error correspondence table, matches the generated error with the error name registered in the error correspondence table, and stores the sample container 100 that contains the sample in which the error has occurred. It is determined whether or not the sample rack 102 that holds the sample is retained (step SC2).

滞留判定機能83の実行により制御回路8は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を滞留させると判定した場合(ステップSC2のYes)、駆動機構4を制御し、滞留させると判定したサンプルラック102をバッファレーン244へ移動させる。制御回路8は、滞留させると判定したサンプルラック102をバッファレーン244へ移動させる。制御回路8は、滞留させると判定したサンプルラック102の識別情報及び当該サンプルラック102の排出先に関する情報を記憶回路7の排出管理テーブルへ登録する(ステップSC3)。   When the control circuit 8 determines by the execution of the stay determination function 83 that the sample rack 102 holding the sample container 100 that stores the sample in which the error corresponding to the matched error name is to be stored (Yes in step SC2). Then, the drive mechanism 4 is controlled, and the sample rack 102 determined to be retained is moved to the buffer lane 244. The control circuit 8 moves the sample rack 102 determined to be retained to the buffer lane 244. The control circuit 8 registers the identification information of the sample rack 102 determined to be retained and information on the discharge destination of the sample rack 102 in the discharge management table of the storage circuit 7 (step SC3).

滞留判定機能83の実行により制御回路8は、突合したエラー名称に対応するエラーを発生させたサンプルラック102を滞留しないと判定した場合(ステップSC2のNo)、駆動機構4を制御し、滞留しないと判定したサンプルラック102をサンプリングレーン243上のラック回収ユニット250へ移動可能な搬出位置から第1回収レーン251又は第2回収レーン252へ移動させる(ステップSC4)。   When the control circuit 8 determines by the execution of the stay determination function 83 that the sample rack 102 that has generated an error corresponding to the matched error name does not stay (No in step SC2), the control circuit 8 controls the drive mechanism 4 and does not stay. The sample rack 102 determined to be moved from the unloading position where it can be moved to the rack collection unit 250 on the sampling lane 243 to the first collection lane 251 or the second collection lane 252 (step SC4).

以上のように、変形例では、自動分析装置1に設けられる制御回路8は、エラーが発生した時点で、当該のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102を所定の滞留エリアであるバッファレーン244に滞留させるか否かを判定する。制御回路8は、駆動機構4を制御し、バッファレーン244に滞留させると判定されたサンプルラック102をバッファレーン244へ移動させる。よって、操作者は、所定のエラー発生後に、当該エラー発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102がバッファレーン244に移動されたことにより早く気付くことができる。これにより、操作者は、所定のエラーを発生させた試料を収容する試料容器100を保持するサンプルラック102をより早く所定の排出先へ排出させることが可能となる。   As described above, in the modification, the control circuit 8 provided in the automatic analyzer 1 sets the sample rack 102 that holds the sample container 100 that holds the sample in which the error is generated at the time when the error occurs. It is determined whether or not to stay in the buffer lane 244 which is the staying area. The control circuit 8 controls the drive mechanism 4 to move the sample rack 102 determined to stay in the buffer lane 244 to the buffer lane 244. Therefore, the operator can quickly notice that the sample rack 102 holding the sample container 100 that stores the sample in which the error has occurred is moved to the buffer lane 244 after a predetermined error has occurred. As a result, the operator can quickly discharge the sample rack 102 holding the sample container 100 containing the sample in which the predetermined error has occurred to a predetermined discharge destination.

[他の実施形態]
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。サンプルラック102を滞留させる対象となるエラーは、上記実施形態で説明したものに限られない。例えば、制御回路8は、再検査を要するエラーである、ゴム栓に関するエラー、液面検知エラー、及び、位置ずれエラー等が発生した試料容器100が保持されるサンプルラック102を滞留させる対象としてもよい。ゴム栓に関するエラーは、ゴム栓が付けられた状態の試料容器100に対してサンプル分注プローブ205が下降された場合に発生するエラーである。液面検知エラーは、試料容器100に試料が入っていないことによりサンプル分注プローブ205による液面検知ができないエラーである。位置ずれエラーは、障害物等により吸引の際にサンプル分注プローブ205の試料に対する吸引位置がずれるエラーである。
[Other Embodiments]
The present invention is not limited to the above embodiment. The error that is the target for retaining the sample rack 102 is not limited to that described in the above embodiment. For example, the control circuit 8 may be a target for retaining the sample rack 102 in which the sample container 100 in which an error relating to a rubber stopper, an error relating to a liquid level detection error, a misalignment error, or the like that requires re-inspection has occurred is held. Good. The error relating to the rubber stopper is an error that occurs when the sample dispensing probe 205 is lowered with respect to the sample container 100 with the rubber stopper attached. The liquid level detection error is an error in which the liquid level cannot be detected by the sample dispensing probe 205 because no sample is contained in the sample container 100. The misalignment error is an error in which the suction position of the sample dispensing probe 205 with respect to the specimen is shifted during suction due to an obstacle or the like.

また、表示回路6が表示する画面レイアウトは、図10に示されるような表示方法に限定されない。図14は、他の実施形態に係る表示回路6が表示するサンプルラック102の識別情報及び排出先に関する情報の表示例を表す図である。図14に示されるように、最も左の列に「エラー名称」を表示し、その右の列に、「試料ID」を表示し、さらに右の列に「ラックID」を表示するようにしてもよい。これにより、操作者は、エラーの内容をキーとして見ながら、排出先を選択可能となる。   Further, the screen layout displayed by the display circuit 6 is not limited to the display method as shown in FIG. FIG. 14 is a diagram illustrating a display example of the identification information of the sample rack 102 and the information regarding the discharge destination displayed by the display circuit 6 according to another embodiment. As shown in FIG. 14, “error name” is displayed in the leftmost column, “sample ID” is displayed in the right column, and “rack ID” is displayed in the right column. Also good. As a result, the operator can select the discharge destination while viewing the error content as a key.

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、CPU(central processing unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC))、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。   The term “processor” used in the above description is, for example, a central processing unit (CPU), a graphics processing unit (GPU), or an application specific integrated circuit (ASIC)), a programmable logic device (for example, It means a circuit such as a simple programmable logic device (SPLD), a complex programmable logic device (CPLD), and a field programmable gate array (FPGA). The processor implements a function by reading and executing a program stored in the storage circuit. Note that each processor of the present embodiment is not limited to being configured as a single circuit for each processor, but may be configured as a single processor by combining a plurality of independent circuits to realize the function. Good. Furthermore, a plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize the function.

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. These embodiments and their modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.

1…自動分析装置、2…分析機構、3…解析回路、4…駆動機構、5…入力インタフェース回路、6…表示回路、7…記憶回路、8…制御回路、81…システム制御機能、82…エラー監視機能、83…滞留判定機能、84…表示制御機能、85…排出管理機能、100…試料容器、101…試薬容器、102…サンプルラック、201…反応ディスク、202…試薬庫、204…サンプル分注アーム、205…サンプル分注プローブ、205…サンプル分注プローブ、206…サンプル分注ユニット、206…サンプル分注ユニット、216…第1試薬分注アーム、217…第1試薬分注プローブ、218…第1試薬分注ユニット、219…第2試薬分注アーム、220…第2試薬分注プローブ、221…第2試薬分注ユニット、222…第1撹拌ユニット、223…第2撹拌ユニット、224…測光ユニット、225…洗浄ユニット、226…電解質測定ユニット、230…ラック投入ユニット、231…投入レーン、240…ラック移動ユニット、241…搬送アーム、242…搬送レール、243…サンプリングレーン、244…バッファレーン、245…リーダ、250…ラック回収ユニット、251…第1回収レーン、252…第2回収レーン、253…サンプルラック検知センサ、254…サンプルラック検知センサ、260…STATラック投入ユニット、261…STATラック投入レーン、262…サンプルラック検知センサ、2011…反応管、2012…恒温槽、2013…サンプル吐出位置、2013…サンプル吐出位置、2015…第1試薬吐出位置、2017…第2試薬吐出位置、2021…外円、2022…内円、2061…圧力検出器、2063…チューブ、2064…シリンジ、2065…プランジャ、2066…タンク、2067…洗浄ポンプ、2068…開閉弁、2069…サンプルプローブ洗浄位置、2181…圧力検出器、2211…圧力検出器、2431…ラック搬入位置、2432…サンプル吸引位置、20611…圧力センサ、20612…アンプ、20613…変換器。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Automatic analyzer, 2 ... Analysis mechanism, 3 ... Analysis circuit, 4 ... Drive mechanism, 5 ... Input interface circuit, 6 ... Display circuit, 7 ... Memory circuit, 8 ... Control circuit, 81 ... System control function, 82 ... Error monitoring function, 83 ... Residence determination function, 84 ... Display control function, 85 ... Discharge management function, 100 ... Sample container, 101 ... Reagent container, 102 ... Sample rack, 201 ... Reaction disk, 202 ... Reagent storage, 204 ... Sample Dispensing arm, 205 ... sample dispensing probe, 205 ... sample dispensing probe, 206 ... sample dispensing unit, 206 ... sample dispensing unit, 216 ... first reagent dispensing arm, 217 ... first reagent dispensing probe, 218 ... first reagent dispensing unit, 219 ... second reagent dispensing arm, 220 ... second reagent dispensing probe, 221 ... second reagent dispensing unit, 222 ... DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 stirring unit, 223 ... 2nd stirring unit, 224 ... photometry unit, 225 ... washing | cleaning unit, 226 ... electrolyte measurement unit, 230 ... rack loading unit, 231 ... loading lane, 240 ... rack moving unit, 241 ... transport arm, 242 ... Conveying rail, 243 ... Sampling lane, 244 ... Buffer lane, 245 ... Reader, 250 ... Rack collection unit, 251 ... First collection lane, 252 ... Second collection lane, 253 ... Sample rack detection sensor, 254 ... Sample rack detection Sensor: 260 ... STAT rack input unit, 261 ... STAT rack input lane, 262 ... Sample rack detection sensor, 2011 ... Reaction tube, 2012 ... Thermostatic bath, 2013 ... Sample discharge position, 2013 ... Sample discharge position, 2015 ... First reagent Discharge position 2017 ... Second reagent discharge position, 2021 ... Outer circle, 2022 ... Inner circle, 2061 ... Pressure detector, 2063 ... Tube, 2064 ... Syringe, 2065 ... Plunger, 2066 ... Tank, 2067 ... Washing pump, 2068 ... On-off valve, 2069: Sample probe cleaning position, 2181 ... Pressure detector, 2211 ... Pressure detector, 2431 ... Rack loading position, 2432 ... Sample suction position, 20611 ... Pressure sensor, 20612 ... Amplifier, 20613 ... Converter.

Claims (12)

サンプルラックを滞留させるための滞留エリアと、
発生したエラーに基づいて、前記エラーを発させた試料を収容する試料容器を保持するサンプルラックを、前記滞留エリアに滞留させるか否かを判定する判定部と、
前記滞留させると判定されたサンプルラックを前記滞留エリアへ移動させる駆動部と、
前記滞留エリアに滞留されたサンプルラックに対する排出指示が入力されると、前記排出指示の対象となるサンプルラックを、当該サンプルラックに対し予め設定される排出先へ排出するように前記駆動部を制御する排出管理部と
を具備する自動分析装置。
A retention area for retaining the sample rack;
Based on the error that has occurred, a determination unit that determines whether or not the sample rack that holds the sample container that holds the sample that has caused the error is retained in the retention area;
A drive unit for moving the sample rack determined to be retained to the retention area;
When a discharge instruction is input to the sample rack retained in the retention area, the drive unit is controlled so that the sample rack that is the target of the discharge instruction is discharged to a discharge destination set in advance for the sample rack. An automatic analyzer comprising an emission management unit.
前記滞留エリアへ移動されたサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を表示する表示部をさらに具備する請求項1に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 1, further comprising a display unit that displays identification information of the sample rack moved to the staying area and a discharge destination set in advance for the sample rack identified by the identification information. 前記排出指示が入力されると、前記排出指示の確定を受け付ける確認画面を前記表示部に表示させる表示制御部をさらに具備する請求項2に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 2, further comprising a display control unit that causes the display unit to display a confirmation screen for accepting confirmation of the discharge instruction when the discharge instruction is input. 前記滞留エリアへ移動されたサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先が記憶される記憶部と、
前記表示される排出先に対する変更指示が入力されると、前記変更指示の対象となるサンプルラックに対し予め設定された複数の排出先の候補を前記表示部に表示させる表示制御部をさらに具備し、
前記排出管理部は、前記複数の排出先の候補のうち1つの排出先を選択する旨の指示が入力されると、前記記憶部に記憶され、前記識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を、前記選択された排出先に変更する請求項2に記載の自動分析装置。
A storage unit for storing the identification information of the sample rack moved to the staying area and a discharge destination set in advance for the sample rack identified by the identification information;
When a change instruction for the displayed discharge destination is input, a display control unit is further provided for causing the display unit to display a plurality of preset discharge destination candidates for the sample rack that is the target of the change instruction. ,
When an instruction to select one discharge destination among the plurality of discharge destination candidates is input, the discharge management unit stores in advance the sample rack that is stored in the storage unit and identified by the identification information. The automatic analyzer according to claim 2, wherein the set discharge destination is changed to the selected discharge destination.
前記表示制御部は、前記排出指示が入力されると、前記排出指示の確定を受け付ける確認画面を前記表示部に表示させる請求項4に記載の自動分析装置。   The automatic analysis apparatus according to claim 4, wherein when the discharge instruction is input, the display control unit displays a confirmation screen for accepting confirmation of the discharge instruction on the display unit. 前記表示制御部は、前記表示される識別情報及び排出先に対する表示指示が入力されると、前記表示指示の対象となるサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を前記表示部に表示させる請求項3乃至5のうちいずれかに記載の自動分析装置。   When the identification information to be displayed and the display instruction for the discharge destination are input, the display control unit is set in advance for the identification information of the sample rack to be displayed and the sample rack identified by the identification information. The automatic analyzer according to claim 3, wherein a discharge destination to be discharged is displayed on the display unit. 前記表示部は、前記表示される排出先の排出可否を示す情報を表示し、
前記排出管理部は、前記表示される識別情報及び排出先に対する表示指示が入力されると、前記表示指示の対象となるサンプルラックの排出先毎の排出可否を判定し、当該排出先毎に前記排出可否を示す情報を当該判定の結果に変更し、
前記表示制御部は、前記排出可否を示す情報が変更された後、前記表示指示の対象となるサンプルラックの識別情報、当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先、及び当該排出先の排出可否を示す情報を表示する請求項3乃至5のうちいずれかに記載の自動分析装置。
The display unit displays information indicating whether or not the displayed discharge destination is discharged,
When the identification information to be displayed and the display instruction for the discharge destination are input, the discharge management unit determines whether discharge is possible for each discharge destination of the sample rack that is the target of the display instruction, and for each discharge destination, Change the information indicating whether or not to discharge to the result of the judgment,
The display control unit, after the information indicating whether or not the discharge is possible, is changed, the identification information of the sample rack that is the target of the display instruction, the discharge destination that is set in advance for the sample rack identified by the identification information, and The automatic analyzer according to any one of claims 3 to 5, wherein information indicating whether or not the discharge destination is discharged is displayed.
前記エラーには所定の種別が付され、前記種別は個々の前記エラーを表すエラー名称又は複数の前記エラーを1つの集合としたエラー区分である請求項1乃至7のうちいずれかに記載の自動分析装置。   The automatic error according to any one of claims 1 to 7, wherein a predetermined type is attached to the error, and the type is an error name representing each of the errors or an error classification including a plurality of the errors as one set. Analysis equipment. 前記滞留エリアへ移動されたサンプルラックの識別情報及び当該識別情報により識別されるサンプルラックに対し予め設定される排出先を表示し、前記表示される識別情報により識別されるサンプルラックに対する排出指示を受け付ける排出指示受付領域を表示する表示部をさらに備える請求項1に記載の自動分析装置。   The identification information of the sample rack moved to the staying area and the discharge destination set in advance for the sample rack identified by the identification information are displayed, and the ejection instruction for the sample rack identified by the displayed identification information is given. The automatic analyzer according to claim 1, further comprising a display unit that displays a discharge instruction reception area to be received. 前記表示部は、前記表示される排出先に対する変更指示を受け付ける排出先選択領域をさらに表示する請求項9に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 9, wherein the display unit further displays a discharge destination selection region that receives a change instruction for the displayed discharge destination. 前記表示部は、前記排出指示受付領域を表示する旨の指示を受け付ける表示受付アイコンをさらに表示する請求項9に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 9, wherein the display unit further displays a display reception icon for receiving an instruction to display the discharge instruction reception area. 前記表示部は、前記排出指示の確定を受け付ける確認画面をさらに表示する請求項9に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 9, wherein the display unit further displays a confirmation screen for accepting confirmation of the discharge instruction.
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