JP2018059733A - Three-dimentional shape measurement system - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a three-dimensional topography measurement apparatus with high accuracy and measurable for a large sized object.SOLUTION: A three-dimensional shape measurement system comprises a first two-dimensional shape measurement mechanism which measures a two-dimensional shape of a surface of a measurement object in a first direction by scanning a first autocollimator 2 relatively in the first direction at plural positions of the measurement object 4, and a second two-dimensional shape measurement mechanism which measures a two-dimensional shape of a surface of the measurement object 4 in a second direction by scanning the first autocollimator 2 relatively at a specified position of the measurement object 4 in the second direction crossing to the first direction. By coupling the two-dimensional shape in the first direction which the first two-dimensional shape measurement mechanism measured and the two-dimensional shape in the second direction which the second two-dimensional shape measurement mechanism measured at intersections of both, a three-dimensional shape of the measurement object 4 is derived.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、三次元形状計測システムに関する。   The present invention relates to a three-dimensional shape measurement system.

近年、最先端の理化学研究分野や半導体業界をはじめ、光通信、計測、医療、天体望遠鏡など、極めて高精度な表面形状を持つ光学部品のニーズは高まる一方である。
表面形状の高精度な測定法としては、フィゾー干渉計測法が最も一般的である。フィゾー干渉計による形状測定法は、3Dトポグラフィを一度に得ることができ、分解能もナノメータのレベルが実現可能である。しかし、基本的に基準原器(参照平面や参照球面など)との差分測定であるため、測定の絶対精度は基準原器の精度によって制限され、ナノメータレベルの絶対精度を実現することは容易ではない。
In recent years, there has been a growing need for optical components with extremely high-precision surface shapes, such as cutting-edge physics and chemistry research fields and semiconductor industry, as well as optical communication, measurement, medical care, and astronomical telescopes.
The Fizeau interferometry is the most common method for measuring the surface shape with high accuracy. The shape measurement method using the Fizeau interferometer can obtain a 3D topography at a time, and the resolution can be achieved at the nanometer level. However, because it is basically a differential measurement with a standard prototype (reference plane, reference sphere, etc.), the absolute accuracy of the measurement is limited by the accuracy of the standard prototype, and it is not easy to achieve nanometer-level absolute accuracy. Absent.

さらに、差分測定のレンジは数μm程度の範囲に限られるため、高ダイナミックレンジの測定(例えば自由曲面)には適さない。また、フィゾー干渉計は装置の構成上、大型化が非常に困難である。
一方、近年、高精度な形状測定法として、物体表面の局部傾斜角度測定を用いた手法が注目されている。この手法は、物体表面の局所的な角度の変化を逐次測定していき、得られた角度変化データを積分することにより形状を得るというシンプルな原理に基づく測定法であり、参照面を必要としない、大口径の形状も測定可能といった特徴を有する。
世界的には、ドイツ物理工学研究所(PTB)などが先行して開発を進めており、ナノレベルの測定精度が既に達成されている。
Furthermore, since the range of difference measurement is limited to a range of about several μm, it is not suitable for measurement of a high dynamic range (for example, a free-form surface). Also, the Fizeau interferometer is very difficult to increase in size due to the configuration of the apparatus.
On the other hand, in recent years, as a highly accurate shape measurement method, a method using local inclination angle measurement of an object surface has attracted attention. This method is based on the simple principle of measuring the local angle change of the object surface sequentially and obtaining the shape by integrating the obtained angle change data, and requires a reference surface. In addition, it has a feature that a large aperture shape can be measured.
Globally, the German Institute for Physical Engineering (PTB) has been developing ahead, and nano-level measurement accuracy has already been achieved.

発明者らは、超高精度形状測定装置(SDP:Scanning Deflectometric Profiler)を開発し、2015年より、約1mまでの真直度形状測定に関する校正サービスを開始している。
SDPでは、図1に示すように、オートコリメータ(AC1)の測定光を、エアスライド式可変ステージに保持したペンタミラーの反射を介し、図示していない測定対象(SUT)の直前にエアスライドで保持したアパーチャーを通過して、測定対象の表面に照射する。
次に、ペンタミラーを移動ステージにより走査(スキャニング)し、測定対象表面の局部傾斜角度分布を得る。このとき、ペンタミラーを用いることで、移動ステージのピッチング誤差をキャンセルすることができる。得られた局部傾斜角度分布を積分することにより、測定対象表面の二次元形状(ライン形状)が得られる。
The inventors have developed an ultra-high-precision shape measuring device (SDP: Scanning Deflectometric Profiler), and since 2015, have started calibration services related to straightness shape measurement up to about 1 m.
In SDP, as shown in FIG. 1, the measurement light of the autocollimator (AC1) is reflected by a pentamirror held on an air slide type variable stage by an air slide just before a measurement target (SUT) not shown. Irradiate the surface of the object to be measured through the held aperture.
Next, the pentamirror is scanned (scanned) by a moving stage to obtain a local tilt angle distribution on the surface to be measured. At this time, the pitching error of the moving stage can be canceled by using the pentamirror. By integrating the obtained local inclination angle distribution, a two-dimensional shape (line shape) of the surface to be measured is obtained.

また、特許文献1には、オートコリメータより、測定対象面に光ビームを投射し、測定対象面で反射された光ビームを受光して測定対象面の局部傾斜角度を特定するとともに、光ビームの並進に伴って特定部が順次特定する局部傾斜角度を蓄積して、測定対象面の連続的形状を算出する形状計測装置が記載されている。   Further, in Patent Document 1, a light beam is projected onto a measurement target surface from an autocollimator, the light beam reflected on the measurement target surface is received and a local inclination angle of the measurement target surface is specified. A shape measuring device is described that accumulates local inclination angles that are sequentially specified by the specifying unit with translation, and calculates a continuous shape of the measurement target surface.

特開2011−179891公報JP 2011-179891 A

しかしながら、物体表面の局部傾斜角度測定を利用した場合、測定対象が二次元形状(ライン形状)に限られるという問題がある。
また、特許文献1に記載された形状計測装置では、複数のライン形状を測定することにより、二次元的な形状計測ができると記載されているが、異なるライン形状を得るために用いる移動機構の運動誤差により、各ライン形状間の相対位置関係を特定できず、各ライン形状間を正確に結合し、三次元形状を得る事が困難である。
However, when the local inclination angle measurement of the object surface is used, there is a problem that the measurement target is limited to a two-dimensional shape (line shape).
Moreover, although it is described in the shape measuring apparatus described in Patent Document 1 that two-dimensional shape measurement can be performed by measuring a plurality of line shapes, a moving mechanism used to obtain different line shapes is described. The relative positional relationship between the line shapes cannot be specified due to the motion error, and it is difficult to obtain a three-dimensional shape by accurately connecting the line shapes.

そこで本発明では、SDPを利用して、測定試料に対し、放射方向あるいは直径方向など、第1の方向で表面の局部傾斜角度を計測するとともに、これらに交差する方向、あるいは円周方向など、第2の方向で表面の局部傾斜角度を計測し、両計測結果をベクトル情報として接続することにより、高精度な3Dトポグラフィ測定を実現することを目的とする。   Therefore, in the present invention, the SDP is used to measure the local inclination angle of the surface in the first direction, such as the radial direction or the diameter direction, and the direction intersecting these or the circumferential direction, etc. The object is to realize highly accurate 3D topography measurement by measuring the local inclination angle of the surface in the second direction and connecting both measurement results as vector information.

上記の課題を解決するため、本発明の三次元形状計測システムでは、既開発のSDPをベースとして利用し、測定対象物の複数位置でオートコリメータと測定対象物の少なくとも一方を他方に対し走査させ、測定対象物の表面における第1の方向の二次元形状を計測する第1の二次元形状計測機構と、測定対象物の特定位置でオートコリメータと測定対象物の少なくとも一方を他方に対し、第1の方向と交差する第2の方向に走査させ、測定対象物の表面における第2の方向の二次元形状を計測する第2の二次元形状計測機構とを設ける。そして、第1の二次元形状計測機構が計測した第1の方向の二次元形状と、第2の二次元形状計測機構が計測した第2の方向の二次元形状とを、両者の交差点で連結することにより、測定対象物の三次元形状を得るようした。   In order to solve the above problems, the three-dimensional shape measurement system of the present invention uses an already developed SDP as a base, and scans at least one of the autocollimator and the measurement object relative to the other at a plurality of positions of the measurement object. A first two-dimensional shape measuring mechanism for measuring a two-dimensional shape in a first direction on the surface of the measurement object, and at least one of the autocollimator and the measurement object at the specific position of the measurement object with respect to the other. A second two-dimensional shape measuring mechanism that scans in a second direction intersecting with the first direction and measures a two-dimensional shape in the second direction on the surface of the measurement object is provided. Then, the two-dimensional shape in the first direction measured by the first two-dimensional shape measurement mechanism is connected to the two-dimensional shape in the second direction measured by the second two-dimensional shape measurement mechanism at the intersection of both. By doing so, the three-dimensional shape of the measurement object was obtained.

本発明によれば、第1の二次元形状計測機構により得られた第1の二次元形状と、第2の二次元形状計測機構により得られた第2の二次元形状とを、両者の交差点で連結することにより、両者のベクトル成分が特定され、測定対象物の三次元形状を正確に計測することが可能となる。
ただし、より高精度に三次元形状を計測するためには、測定試料を第2の方向に走査する際に発生する角度ずれを補正する必要があるため、回転誤差補正システムを導入するとともに、対象表面の円周形状測定により、接続する際の誤差伝搬を抑制する接続アルゴリズムを採用することで、最終的には、測定範囲φ800mmで、平面から数m程度の曲率をもつ表面形状(自由曲面)を測定精度±5nm(世界最高精度)で3Dトポグラフィ測定が可能となる。
According to the present invention, the first two-dimensional shape obtained by the first two-dimensional shape measurement mechanism and the second two-dimensional shape obtained by the second two-dimensional shape measurement mechanism are intersected with each other. By connecting the two, the vector components of both are specified, and the three-dimensional shape of the measurement target can be accurately measured.
However, in order to measure the three-dimensional shape with higher accuracy, it is necessary to correct the angular deviation that occurs when the measurement sample is scanned in the second direction. By adopting a connection algorithm that suppresses error propagation at the time of connection by measuring the circumferential shape of the surface, the surface shape (free-form surface) with a curvature of about several meters from the plane with a measurement range of φ800 mm in the end 3D topography measurement is possible with a measurement accuracy of ± 5 nm (the world's highest accuracy).

図1は、既開発の超高精度形状測定装置の概略図である。FIG. 1 is a schematic view of an already developed ultra-high accuracy shape measuring apparatus. 図2は、本発明による三次元形状測定システムの概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram of a three-dimensional shape measurement system according to the present invention. 図3は、三次元形状を計測する際の交差部を示す図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an intersection when a three-dimensional shape is measured. 図4は、回転ミラーの回転角度を計測することにより、角度測定範囲のレンジを拡大させた例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example in which the range of the angle measurement range is expanded by measuring the rotation angle of the rotating mirror.

以下、実施例を図面を用いて説明する。   Hereinafter, examples will be described with reference to the drawings.

本発明に基づく三次元形状測定システムの概略図を図2に示す。
この三次元形状測定システムにおいて、測定対象(SUT)を支持するサンプルベースプレート1から上方の部分は、前述のSDPと同様の構造を採用している。
すなわち、第1オートコリメータ(AC1)2により、測定光をエアスライドで保持したペンタミラー3の反射を介し、図示していない測定対象4の直前にエアスライドで保持したアパーチャーを通過して、測定対象4の表面に照射する。
次に、図示しない移動ステージにより、ペンタミラー3を測定対象4の直径方向(第1の方向)に走査し、測定対象表面の局部傾斜角度分布(1番目の直径方向傾斜角度分布)を得る。
このとき、ペンタミラー3を用いることで、エアスライド式移動ステージのピッチング誤差をキャンセルすることができる。そして、得られた局部傾斜角度分布を積分することにより、測定対象4の表面において、第1の方向の二次元形状(ライン形状)が得られる。
なお、ペンタミラーの移動量は、図示していないリニアスケールまたはレーザ測長機等を用いて計測できるようになっている。
A schematic diagram of a three-dimensional shape measurement system according to the present invention is shown in FIG.
In this three-dimensional shape measurement system, the upper part of the sample base plate 1 that supports the measurement target (SUT) adopts the same structure as that of the aforementioned SDP.
That is, the measurement is performed by the first autocollimator (AC1) 2 through the aperture held by the air slide just before the measuring object 4 (not shown) through the reflection of the pentamirror 3 holding the measurement light by the air slide. Irradiate the surface of the object 4.
Next, the pentamirror 3 is scanned in the diameter direction (first direction) of the measurement object 4 by a moving stage (not shown) to obtain a local inclination angle distribution (first diameter direction inclination angle distribution) of the measurement object surface.
At this time, by using the pentamirror 3, it is possible to cancel the pitching error of the air slide type moving stage. Then, by integrating the obtained local inclination angle distribution, a two-dimensional shape (line shape) in the first direction is obtained on the surface of the measuring object 4.
The amount of movement of the pentamirror can be measured using a linear scale or a laser length measuring machine (not shown).

本実施例では、このSDPのサンプルベースプレート1は、周方向に等間隔に配置された傾斜角度調整装置5を介して回転テーブル6に載置されており、第1オートコリメータ(AC1)2の測定光と測定対象4の表面の法線ベクトルが一致するよう調整できるようになっている。
この回転テーブル6は、中空の円筒体7に固定されており、ベルト、歯車等の伝導機構を介して、回転テーブル6あるいは円筒体7に連結された電動モータにより、一体的に回転駆動および位置決めされるようになっている。なお、回転テーブル6の回転角度は、図示していない内蔵するロータリエンコーダにより、回転角度が計測されるようになっている。
In this embodiment, the sample base plate 1 of this SDP is placed on the rotary table 6 via an inclination angle adjusting device 5 arranged at equal intervals in the circumferential direction, and is measured by the first autocollimator (AC1) 2. The light and the normal vector of the surface of the measuring object 4 can be adjusted to match.
The rotary table 6 is fixed to a hollow cylindrical body 7 and is integrally rotated and positioned by an electric motor connected to the rotary table 6 or the cylindrical body 7 through a transmission mechanism such as a belt and a gear. It has come to be. The rotation angle of the rotary table 6 is measured by a built-in rotary encoder (not shown).

円筒体7の底面は、中央に開口部を有する支持プレート8上に回転可能に支持されており、支持プレート8の下面は、周方向に等間隔に配置された、ピエゾ素子などからなる傾斜角度調整用アクチュエータ9を介して、基台10に固定されている。
回転テーブル6の裏面には、第1ミラー11が装着されており、第2オートコリメータ(AC2)12から照射される光ビームが、第2ミラー13により垂直方向に反射され、支持プレート8の開口部、円筒体7の中空部を介して、第1ミラー11に反射することで、回転テーブル6の傾斜角度を計測できるようなっている。
The bottom surface of the cylindrical body 7 is rotatably supported on a support plate 8 having an opening in the center, and the lower surface of the support plate 8 is an inclination angle composed of piezo elements and the like arranged at equal intervals in the circumferential direction. It is fixed to the base 10 via the adjusting actuator 9.
A first mirror 11 is mounted on the back surface of the rotary table 6, and the light beam emitted from the second autocollimator (AC 2) 12 is reflected in the vertical direction by the second mirror 13, and the opening of the support plate 8 is opened. The tilt angle of the turntable 6 can be measured by reflecting the first mirror 11 through the hollow portion of the cylindrical body 7.

回転テーブル6を回転することにより、回転テーブル6および測定対象4の表面にアンギュラー振れが発生するが、後述するように、第1オートコリメータ2により周方向の傾斜角測定を行う際、測定対象4の表面における局部傾斜角度とアンギュラー振れの合算角度を読み取ることになる。このため、周方向の形状を正確に算出するためには、アンギュラー振れを除去する必要がある。
そこで、この実施例では、回転テーブル6の裏面に第1ミラー11を設置し、第2のオートコリメータ12により回転時に発生する回転テーブル6のアンギュラー振れを読み取り、アンギュラー振れを低減するように、傾斜角度調整用アクチュエータ9をリアルタイムに制御するようにしている。
By rotating the turntable 6, angular shake occurs on the surfaces of the turntable 6 and the measurement object 4. As will be described later, when the circumferential angle is measured by the first autocollimator 2, the measurement object 4 is measured. The combined angle of the local inclination angle and the angular deflection on the surface of the surface is read. For this reason, in order to accurately calculate the shape in the circumferential direction, it is necessary to remove the angular shake.
Therefore, in this embodiment, the first mirror 11 is installed on the back surface of the rotary table 6, the angular shake of the rotary table 6 generated during the rotation is read by the second autocollimator 12, and the inclination is reduced to reduce the angular shake. The angle adjusting actuator 9 is controlled in real time.

傾斜角度調整用アクチュエータ9として、位置決め精度の高いピエゾアクチュエータを用いる場合、粗動用電動アクチュエータと微動用ピエゾアクチュエータを上下2段に連結し、定常的な変動を粗動用電動アクチュエータにより、瞬時の変動を微動用ピエゾアクチュエータに分担させて、ストローク調整幅、位置決め精度、応答性を高めるようにしてもよい。   When a piezo actuator with high positioning accuracy is used as the tilt angle adjusting actuator 9, the coarse movement electric actuator and the fine movement piezo actuator are connected in two stages, and the steady fluctuation is changed by the coarse movement electric actuator. The stroke adjustment width, positioning accuracy, and responsiveness may be increased by sharing the fine movement piezo actuator.

また、第2ミラー13で垂直方向に反射される測定光を、回転テーブル6の中心に合わせているので、回転ステージ6が回転しても、第2ミラー13の測定位置が変化せず、第2ミラー13の形状精度等に影響されずに、アンギュラー振れを正確に補正することが可能となる。   Further, since the measurement light reflected in the vertical direction by the second mirror 13 is aligned with the center of the rotary table 6, even if the rotary stage 6 rotates, the measurement position of the second mirror 13 does not change, and the second mirror 13 does not change. The angular shake can be corrected accurately without being affected by the shape accuracy of the two mirrors 13.

なお、回転テーブ6のアンギュラー振れを計測できるものであれば、第2オートコリメータ12、第1ミラー11、第2ミラー13に代えて、直交2軸方向に配置した2台の水準器を用いてもよい。回転テーブル6の回転角度は、内蔵するロータリエンコーダにより高精度に計測されるので、任意の回転角度における回転ステージのアンギュラー振れをこの2台の水準器で検出することが可能となる。
さらに、第1オートコリメータ2による計測結果と、第2オートコリメータ12による計測結果を同期させ、第2オートコリメータ12による計測結果に基づいて、第1オートコリメータ2による計測結果を補正するようにしてもよい。この場合、必ずしも、傾斜角度調整用アクチュエータ9を設ける必要はない。
If the angular deflection of the rotating table 6 can be measured, instead of the second autocollimator 12, the first mirror 11, and the second mirror 13, two level levels arranged in the orthogonal two-axis directions are used. Also good. Since the rotation angle of the rotary table 6 is measured with high accuracy by a built-in rotary encoder, angular swing of the rotary stage at an arbitrary rotation angle can be detected by these two levels.
Further, the measurement result by the first autocollimator 2 and the measurement result by the second autocollimator 12 are synchronized, and the measurement result by the first autocollimator 2 is corrected based on the measurement result by the second autocollimator 12. Also good. In this case, the tilt angle adjusting actuator 9 is not necessarily provided.

以下、本実施例を用いて、実際に、測定対象4の表面の三次元形状を計測する際の手順について説明する。
ここでは、ペンタミラー3を走査させるためのエアスライド式移動ステージの運動軸をX軸、重力方向(垂直方向)をZ軸、XZと直交する軸をY軸とする。
(1)第1オートコリメータ2の光軸調整
第1オートコリメータ2の測定光ベクトルがX軸と一致するように、第1オートコリメータ2のY軸まわり、およびZ軸まわりの角度を調整する。
Hereinafter, the procedure for actually measuring the three-dimensional shape of the surface of the measuring object 4 will be described using the present embodiment.
Here, it is assumed that the motion axis of the air slide type moving stage for scanning the pentamirror 3 is the X axis, the gravity direction (vertical direction) is the Z axis, and the axis orthogonal to XZ is the Y axis.
(1) Optical axis adjustment of the first autocollimator 2 The angles around the Y axis and the Z axis of the first autocollimator 2 are adjusted so that the measurement light vector of the first autocollimator 2 coincides with the X axis.

(2)第1オートコリメータ2の光軸周りのロール角度調整
次に、サンプルベースプレート1に調整用の平面基板を設置する。このとき、調整用の平面基板の法線方向が、重力方向(Z軸)と一致するように、調整用平面基板を調整する。そして、第1オートコリメータ2を用いて調整用平面基板の傾きを測定する。このとき、第1オートコリメータ2の直交する測定2軸をH軸とV軸とする。ペンタミラー3をZ軸まわりに回転したとき、第1オートコリメータ2のV軸の値が変化しないように、第1オートコリメータ2の光軸周りの回転を調整する。
(Ralf D Geckeler, Optimal use of pentaprisms in highly accurate deflectometric scanning, measurement science and technology, 18 (2007), 115-125参照)
(2) Adjustment of roll angle around optical axis of first autocollimator 2 Next, a flat substrate for adjustment is installed on the sample base plate 1. At this time, the adjustment flat substrate is adjusted so that the normal direction of the adjustment flat substrate coincides with the gravity direction (Z-axis). Then, the inclination of the adjustment planar substrate is measured using the first autocollimator 2. At this time, two orthogonal measurement axes of the first autocollimator 2 are taken as an H axis and a V axis. The rotation around the optical axis of the first autocollimator 2 is adjusted so that the value of the V axis of the first autocollimator 2 does not change when the pentamirror 3 is rotated around the Z axis.
(See Ralf D Geckeler, Optimal use of pentaprisms in highly accurate deflectometric scanning, measurement science and technology, 18 (2007), 115-125)

(3)ペンタミラー3のアライメント調整
ペンタミラー3のX軸周り、Z軸周りの傾きを調整する。(上記論文参照)
(3) Alignment adjustment of the pentamirror 3 The inclination of the pentamirror 3 around the X axis and the Z axis is adjusted. (See above paper)

(4)回転テーブル6の設置・調整
回転テーブル6の回転中心座標をOr(Xo,Yo)とすると、回転中心のX軸成分Xを、第1ペンタミラー3を走査して、エアスライド式移動ステージの運動軸方向の位置が回転テーブル6の回転中心座標のX座標と一致する地点をX軸座標の原点とする。
そして、このペンタミラーの位置(Xo)において、第1オートコリメータ2の光軸が回転テーブル6の回転中心を通るように、回転テーブル6のY軸方向を調整する。
この時のY座標をX軸座標の原点とする。X座標、Y座標の調整は、回転テーブル6、第1ペンタミラー2ばかりでなく、アパーチャーを調整することによって行ってもよい。
(4) the rotational center coordinates of the installation and adjustment turntable 6 of the rotary table 6 Or (Xo, Yo) and when the X-axis component X 0 of the center of rotation, by scanning the first pentagonal mirror 3, the air slide type The point at which the position of the moving stage in the motion axis direction coincides with the X coordinate of the rotation center coordinate of the rotary table 6 is defined as the origin of the X axis coordinate.
Then, the Y-axis direction of the rotary table 6 is adjusted so that the optical axis of the first autocollimator 2 passes through the rotation center of the rotary table 6 at the position (Xo) of the pentamirror.
The Y coordinate at this time is set as the origin of the X axis coordinate. The X coordinate and Y coordinate may be adjusted by adjusting not only the rotary table 6 and the first pentamirror 2 but also the aperture.

(5)第1ミラー11の調整
第1ミラー11は、図示していないX軸およびY軸まわりに回転可能なチルトステージを用いて、回転テーブル6の中心部裏面に装着している。第1ミラー11は、反射面と装着面が平行となる平行平面基板とし、第1オートコリメータ2側の法線ベクトルをN1、第2オートコリメータ12側のミラー面の法線ベクトルをN2とする。N1と回転テーブル6の回転軸が一致するように第1ミラー11を調整する。
(5) Adjustment of the first mirror 11 The first mirror 11 is mounted on the rear surface of the center portion of the rotary table 6 using a tilt stage that is rotatable around the X axis and the Y axis (not shown). The first mirror 11 is a parallel plane substrate in which the reflection surface and the mounting surface are parallel, the normal vector on the first autocollimator 2 side is N1, and the normal vector on the mirror surface on the second autocollimator 12 side is N2. . The first mirror 11 is adjusted so that N1 and the rotation axis of the turntable 6 coincide.

(6)第2オートコリメータ12の調整
第2ミラー13で反射した照射光の光軸と第1ミラー11の法線ベクトルN2が一致するように、第2オートコリメータ12の光軸を調整する。これにより、平行平面基板 (N1とN2の平行度)の精度で、第1オートコリメータ2と第2オートコリメータ12の光軸平行度が一致するようになる。
ここで、第2オートコリメータ12の直交する測定2軸をH2、V2とする。
この時、傾斜角度調整用アクチュエータ9を用いて、第1ミラー11をY軸周りまたはX軸周りに回転させ、このときに発生する、第1オートコリメータ2のV成分とH成分の変化量と、第2オートコリメータ12のV成分とH成分の変化量がそれぞれ一致するように、第2オートコリメータ12の測定光軸周りに回転させ、調整を行う。
(6) Adjustment of the second autocollimator 12 The optical axis of the second autocollimator 12 is adjusted so that the optical axis of the irradiation light reflected by the second mirror 13 matches the normal vector N2 of the first mirror 11. Thereby, the optical axis parallelisms of the first autocollimator 2 and the second autocollimator 12 coincide with each other with the accuracy of the parallel plane substrate (parallelism between N1 and N2).
Here, two orthogonal measurement axes of the second autocollimator 12 are set to H2 and V2.
At this time, the tilt angle adjusting actuator 9 is used to rotate the first mirror 11 around the Y axis or the X axis, and the amount of change in the V component and H component of the first autocollimator 2 generated at this time The second autocollimator 12 is rotated and adjusted around the measurement optical axis so that the change amounts of the V component and H component of the second autocollimator 12 coincide with each other.

(7)測定試料の設置
以上の操作により、計測装置の初期調整が終了したら、サンプルベースプレート1上に測定対象4を設置する。
基本的には、次のように、予め設定した測定対象4表面の評価範囲の中心が回転テーブル6の回転中心と一致するように設置する。なお、評価範囲は、円形でも矩形でも自由に設定することができる。
(7−1)測定対象4が円形試料の場合
回転テーブル6上に設置した測定対象4の外周をダイヤルゲージや電気マイクロメータ等を用いて測定し、偏心がなくなるよう、測定対象4の載置位置を調整する。
(7−2)測定対象4が矩形試料の場合
第1オートコリメータ2を事前に一方向に走査し、測定可能な左端と右端の座標を読み取り、その中心座標が回転テーブル6の回転中心と一致するように調整する。次に、回転テーブル6を90°回転させ、この作業を再度繰り返す。なお、第1オートコリメータ2に代えて、ダイヤルゲージや電気マイクロメータを用いてもよい。
なお、測定対象4表面の評価範囲が中心からずれている場合には、これに合わせて、測定対象4表面の評価範囲を回転テーブル6の中心からずらせばよい。
(7) Placement of measurement sample When the initial adjustment of the measurement device is completed by the above operation, the measurement object 4 is placed on the sample base plate 1.
Basically, it is installed so that the center of the preset evaluation range of the surface of the measurement object 4 coincides with the rotation center of the turntable 6 as follows. Note that the evaluation range can be freely set to be circular or rectangular.
(7-1) When the measurement object 4 is a circular sample The outer periphery of the measurement object 4 placed on the rotary table 6 is measured using a dial gauge, an electric micrometer, or the like, and the measurement object 4 is placed so that there is no eccentricity. Adjust the position.
(7-2) When the measurement target 4 is a rectangular sample The first autocollimator 2 is scanned in one direction in advance, the measurable left and right end coordinates are read, and the center coordinates coincide with the rotation center of the turntable 6. Adjust to Next, the rotary table 6 is rotated by 90 °, and this operation is repeated again. In place of the first autocollimator 2, a dial gauge or an electric micrometer may be used.
If the evaluation range of the surface of the measurement object 4 is deviated from the center, the evaluation range of the surface of the measurement object 4 may be shifted from the center of the turntable 6 accordingly.

以上のように、事前調整、事前準備が終了したら、第1オートコリメータ2による測定対象4表面の走査を開始する。
以下、一例として測定対象4が円形試料の場合について説明する。
まず、エアスライド式移動ステージによりペンタミラー3を移動させ、第1オートコリメータ2を円形試料の中心を通る直径方向にスキャンさせ、図3に示すように、測定対象4の外縁14の内側にある評価範囲15の一端15aから他端15bまでのライン形状を計測する。
これが、第1の方向(直径方向)の二次元形状を計測する第1の二次元形状計測機構に相当する。
本実施例では、22.5°毎に8本のライン形状を計測しており、一つの直径方向スキャンが終了したら、回転テーブル6を22.5°回転させ、回転角度毎に8回のライン形状計測を繰り返し、それぞれ記憶装置に記録する。
As described above, when the preliminary adjustment and the preliminary preparation are completed, scanning of the surface of the measuring object 4 by the first autocollimator 2 is started.
Hereinafter, the case where the measuring object 4 is a circular sample will be described as an example.
First, the pentamirror 3 is moved by an air slide type moving stage, and the first autocollimator 2 is scanned in the diameter direction passing through the center of the circular sample, and is located inside the outer edge 14 of the measuring object 4 as shown in FIG. The line shape from one end 15a to the other end 15b of the evaluation range 15 is measured.
This corresponds to a first two-dimensional shape measurement mechanism that measures a two-dimensional shape in the first direction (diameter direction).
In this embodiment, eight line shapes are measured every 22.5 °, and when one diametrical scan is completed, the rotary table 6 is rotated 22.5 °, and eight lines are obtained for each rotation angle. The shape measurement is repeated and recorded in the storage device.

ただし、これにより得られるライン形状は、第1オートコリメータ2から得られる結果の最小二乗直線からの偏差量(真直度形状)であり、回転ステージの運動誤差に伴い、各ライン測定間の相対角度関係は不明である。
そこで、各ライン形状を接続するため、次に、円周方向の形状計測を行う。
すなわち、ペンタミラー3を回転中心から、評価範囲15の他端15bに対応する半径位置に移動させた後、回転テーブル6を回転させ、ペンタミラー3の直径方向の走査軸と直交する円周方向に測定対象表面の局部傾斜角度を計測する。これが、測定対象物の特定位置で、第1の方向(直径方向)と交差する第2の方向(円周方向)に相対的にスキャンさせ、測定対象物の表面における第2の方向の二次元形状を計測する第2の二次元形状計測機構に対応する。
なお、本実施例では、評価範囲の最外径の円周方向の形状を計測しているが、円周測定の半径は、ライン形状と交差する範囲で、任意に選択してよい。
However, the line shape obtained by this is the deviation amount (straightness shape) from the least square line of the result obtained from the first autocollimator 2, and the relative angle between each line measurement due to the movement error of the rotary stage. The relationship is unknown.
Then, in order to connect each line shape, the shape measurement of the circumference direction is performed next.
That is, after moving the pentamirror 3 from the rotation center to a radial position corresponding to the other end 15 b of the evaluation range 15, the rotary table 6 is rotated, and the circumferential direction perpendicular to the diametrical scanning axis of the pentamirror 3 Next, the local inclination angle of the surface to be measured is measured. This is a specific position of the object to be measured, and is relatively scanned in a second direction (circumferential direction) intersecting the first direction (diameter direction), and the two-dimensional in the second direction on the surface of the object to be measured. This corresponds to a second two-dimensional shape measurement mechanism that measures the shape.
In the present embodiment, the shape of the outermost diameter of the evaluation range in the circumferential direction is measured, but the radius of the circumference measurement may be arbitrarily selected within a range that intersects the line shape.

回転テーブル6の回転角度は、ロータリエンコーダを内蔵することにより、高精度に計測可能であり、得られた局部傾斜角度分布を積分することにより、円周方向の表面形状が得られる。   The rotation angle of the turntable 6 can be measured with high accuracy by incorporating a rotary encoder, and the surface shape in the circumferential direction can be obtained by integrating the obtained local inclination angle distribution.

ここで、円周方向の計測において、回転テーブル6のアンギュラー振れは、円周形状の計測誤差となる。
そこで、第2のオートコリメータ12、回転テーブル6の裏面に設置した第1ミラー11により、回転ステージのアンギュラー振れがあっても、第1ミラー11が傾かないように傾斜角度調整用アクチュエータ9によりフィードバック制御を行うことにより、円周形状の計測誤差をキャンセルすることができる。
Here, in the measurement in the circumferential direction, the angular shake of the turntable 6 becomes a measurement error of the circumferential shape.
Therefore, the second autocollimator 12 and the first mirror 11 installed on the back surface of the rotary table 6 are fed back by the tilt angle adjusting actuator 9 so that the first mirror 11 does not tilt even if the rotary stage is angularly shaken. By performing the control, it is possible to cancel the circumferential measurement error.

以上のようにして得られた放射状(直径方向)に計測したライン形状と、測定対象4の中央点および円周形状の交差点データ(図3の黒点部)より、各ライン測定データを接続することで、高精度な3Dトポグラフィを演算することが可能となる。   Each line measurement data is connected from the line shape measured in the radial direction (diameter direction) obtained as described above and the intersection point data (black dot portion in FIG. 3) of the center point and the circumference shape of the measurement object 4. Thus, it is possible to calculate highly accurate 3D topography.

なお、上記システムによる測定可能な対象表面は、オートコリメータによる角度測定範囲に制限される。対象表面が平面の場合、市販の高精度なオートコリメータを使用することで十分であるが、数m〜数百m程度の曲率をもつ球面や自由曲面ミラー等を測定するには測定範囲が十分でない。
そこで、図4に示すように、前述と同様、ライン形状測定において、AC1の測定角度が変化しないように、傾斜角度調整用アクチュエータ9によりフィードバック制御を行いつつ、ハーフミラー16から切り出されたペンタミラー3からの反射光を、回転ミラー17の反射をレンズ18を介してポジションセンサ19に入射させる。
The target surface that can be measured by the system is limited to the angle measurement range by the autocollimator. If the target surface is flat, it is sufficient to use a commercially available high-precision autocollimator, but the measurement range is sufficient for measuring spherical surfaces or free-form surface mirrors with a curvature of several meters to several hundred meters. Not.
Therefore, as shown in FIG. 4, in the line shape measurement, the pentamirror cut out from the half mirror 16 while performing feedback control by the tilt angle adjusting actuator 9 so that the measurement angle of AC1 does not change in the line shape measurement as described above. The reflected light from 3 is incident on the position sensor 19 through the lens 18 as reflected by the rotating mirror 17.

ポジションセンサ19は、レンズ18の焦点面に置かれており、ペンタミラー3の走査に伴い局部傾斜角度が変化すると、ポジションセンサ19上のビームスポット位置が変化するが、局部傾斜角度が変化してもスポット位置が変化しないように、回転ミラー17の角度を変化することによりフィードバッグ制御する。
回転ミラー17の回転角度は、回転テーブル6に内蔵された高精度ロータリエンコーダによって計測し、これにより、測定範囲±10度、分解能0.001角度秒、精度±0.01角度秒程度の広い計測範囲(高ダイナミックレンジ)を有する角度測定を実現することができ、球面や自由曲面ミラーなど、数m〜数百m程度の曲率をもつ測定対象であっても、三次元表面形状を高精度に計測することが可能となる。
The position sensor 19 is placed on the focal plane of the lens 18, and when the local tilt angle changes as the pentamirror 3 scans, the beam spot position on the position sensor 19 changes, but the local tilt angle changes. Also, feedback control is performed by changing the angle of the rotating mirror 17 so that the spot position does not change.
The rotation angle of the rotary mirror 17 is measured by a high-precision rotary encoder built in the rotary table 6, and thus, a wide measurement with a measurement range of ± 10 degrees, a resolution of 0.001 angular seconds, and an accuracy of ± 0.01 angular seconds. Angle measurement with a range (high dynamic range) can be realized, and even three-dimensional surface shapes can be measured with high accuracy, even for measurement objects with a curvature of several meters to several hundred meters, such as spherical surfaces and free-form surface mirrors. It becomes possible to measure.

以上の実施例では、測定対象物に対し、第1の方向としてオートコリメータを直径方向にスキャンさせ、第2の方向として円周方向にスキャンさせたが、要は、第1の方向と第2の方向を交差させることにより、測定対象表面の三次元形状を特定するものであればよいので、測定対象物や測定範囲の形態に応じて、様々な方向を選択することができる。
また、第1の方向、第2の方向にスキャンを行う際、回転テーブル6と第1オートコリメータ2の相対的な移動を可能にするものであれば、両者のいずれを移動させてもよい。
In the above embodiment, the autocollimator is scanned in the diameter direction as the first direction and the circumferential direction is scanned as the second direction with respect to the measurement object. As long as the three-dimensional shape of the surface to be measured can be specified by intersecting these directions, various directions can be selected according to the form of the measurement object and the measurement range.
Further, when scanning is performed in the first direction and the second direction, any of the two may be moved as long as the rotation table 6 and the first autocollimator 2 can be relatively moved.

現在、測定試料をXY直交走査することによる3Dトポグラフィ測定システムの開発も進められているが、XY直交走査システムの場合、直交する各軸にバーミラーを設置し、ステージの運動誤差を補正するシステムが必要となる。この場合、運動誤差にバーミラーの形状誤差が含まれるため、運動誤差と形状誤差を分離する手法を適用する必要がある。複雑な誤差分離手法は、3Dトポグラフィ構築の大きな不確かさ要因となる。また、試料をXYに走査すると、ライン形状測定と直交する試料送り方向は、測定範囲の2倍以上の装置スペースが必要となり、大型化への妨げとなる。   Currently, development of a 3D topography measurement system by XY orthogonal scanning of the measurement sample is also in progress. However, in the case of the XY orthogonal scanning system, there is a system that corrects stage motion errors by installing a bar mirror on each orthogonal axis. Necessary. In this case, since the motion error includes the shape error of the bar mirror, it is necessary to apply a method for separating the motion error and the shape error. Complex error separation techniques are a major uncertainty factor in 3D topography construction. Further, when the sample is scanned XY, the sample feeding direction orthogonal to the line shape measurement requires an apparatus space more than twice the measurement range, which hinders the enlargement.

これに対し、本発明によれば、参照面を必要とせず、大口径の形状測定も可能であり、次のような効果を達成することができる。
(1)省スペース化
放射状のライン測定に基づくため、必要最小限のスペースで、大型の測定対象物にも対応可能である。
(2)アンギュラー振れ補正用ミラーの形状誤差の影響を受けない
第2のオートコリメータ12の測定光は、回転テーブルのアンギュラー振れを補正する第1ミラー11の照射位置が変化しないため、第1ミラー11の形状誤差の影響を受けずにアンギュラー振れを補正することができる。また、アンギュラー振れを機械的に補正するフィードバック制御システムを導入することにより、補正に用いられる第2のオートコリメータ12は、中心付近の計測しか用いられないので、オートコリメータの2次元的な均一性、非線形性も問題とならない。
(3)円周測定に基づく高精度なライン形状接続が可能
第2の方向のスキャンによる円周形状の測定は、直線形状と同様に分解能サブnm、精度±1nmオーダであり、試料外周部(半径数百mmオーダー)の円周形状を高精度(ナノメートルオーダー)に測定できることから、各ライン形状間の相対角度関係を高精度に決定することができる。
On the other hand, according to the present invention, it is possible to measure a large-diameter shape without requiring a reference surface, and the following effects can be achieved.
(1) Space saving Since it is based on radial line measurement, it can handle large-sized objects with the minimum necessary space.
(2) The measurement light of the second autocollimator 12 that is not affected by the shape error of the angular shake correction mirror does not change the irradiation position of the first mirror 11 that corrects the angular shake of the rotary table. The angular shake can be corrected without being affected by the shape error 11. In addition, by introducing a feedback control system that mechanically corrects angular shake, the second autocollimator 12 used for correction can only measure near the center, so the two-dimensional uniformity of the autocollimator. Non-linearity is not a problem.
(3) High-precision line shape connection based on circumference measurement is possible The measurement of the circumference shape by scanning in the second direction has a resolution sub-nm and accuracy on the order of ± 1 nm as in the case of the linear shape. Since the circumferential shape with a radius of several hundred mm can be measured with high accuracy (on the order of nanometers), the relative angular relationship between the line shapes can be determined with high accuracy.

以上説明したように、本発明によれば、必要最小限のスペースで大型基板等の測定対象物に対応でき、しかも、高精度の3Dトポグラフィ構築が可能となるので、計測機器分野、光学機器分野、半導体製造分野等、種々の分野で広く採用されることが期待できる。   As described above, according to the present invention, a measurement object such as a large-sized substrate can be accommodated in a necessary minimum space, and a highly accurate 3D topography can be constructed. It can be expected to be widely adopted in various fields such as the semiconductor manufacturing field.

1:サンプルベースプレート 2:第1オートコリメータ
3:ペンタミラー 4:測定対象
5:傾斜角調整装置 6:回転テーブル
7:円筒体 8:支持プレート
9:傾斜角度調整用アクチュエータ 10:基台
11:第1ミラー 12:第2オートコリメータ
13:第2ミラー 14:測定対象4の外縁
15:評価範囲 16:ハーフミラー−
17:回転ミラー 18:レンズ
19:ポジションセンサ
1: Sample base plate 2: First autocollimator 3: Penta mirror 4: Measurement object 5: Inclination angle adjustment device 6: Rotary table 7: Cylindrical body 8: Support plate 9: Inclination angle adjustment actuator 10: Base 11: First 1 mirror 12: second autocollimator 13: second mirror 14: outer edge 15 of the measurement object 4: evaluation range 16: half mirror
17: Rotating mirror 18: Lens 19: Position sensor

Claims (7)

測定対象物の特定の複数位置で、オートコリメータと前記測定対象物の少なくとも一方を他方に対し第1の方向に走査させ、前記測定対象物の表面における前記第1の方向の二次元形状を複数位置で計測する第1の二次元形状計測機構と、
前記オートコリメータを前記測定対象物の特定位置で、前記オートコリメータと前記測定対象物の少なくとも一方を他方に対し、前記第1の方向と交差する第2の方向に走査させ、前記測定対象物の表面における前記第2の方向の二次元形状を計測する第2の二次元形状計測機構とを備え、
前記第1の二次元形状計測機構が計測した前記第1の方向の二次元形状と、前記第2の二次元形状計測機構が計測した前記第2の方向の二次元形状とを、両者の交差点で連結することにより、前記測定対象物の三次元形状を得ることを特徴とする三次元形状計測システム。
At a plurality of specific positions of the measurement object, at least one of the autocollimator and the measurement object is scanned in the first direction with respect to the other, and a plurality of two-dimensional shapes in the first direction on the surface of the measurement object are obtained. A first two-dimensional shape measuring mechanism for measuring at a position;
The autocollimator is scanned at a specific position of the measurement object, and at least one of the autocollimator and the measurement object is scanned in a second direction crossing the first direction with respect to the other, A second two-dimensional shape measuring mechanism for measuring a two-dimensional shape in the second direction on the surface,
An intersection of the two-dimensional shape in the first direction measured by the first two-dimensional shape measurement mechanism and the two-dimensional shape in the second direction measured by the second two-dimensional shape measurement mechanism A three-dimensional shape measurement system characterized in that a three-dimensional shape of the measurement object is obtained by connecting with the two.
前記第2の二次元形状計測機構は、前記測定対象物を載置する支持台を回転テーブルとし、前記第2の方向にスキャンする際、前記オートコリメータを固定し、前記回転テーブルを回転させるものであることを特徴とする請求項1に記載された三次元形状計測システム。   The second two-dimensional shape measuring mechanism uses a support table on which the measurement object is placed as a rotary table, and fixes the autocollimator and rotates the rotary table when scanning in the second direction. The three-dimensional shape measurement system according to claim 1, wherein: 前記回転テーブルの水平面に対する傾斜角度を計測する傾斜角度計測装置を備えたことを特徴とする請求項2に記載された三次元形状計測システム。   The three-dimensional shape measurement system according to claim 2, further comprising an inclination angle measurement device that measures an inclination angle of the rotary table with respect to a horizontal plane. 前記傾斜角度計測装置は、前記回転テーブルの測定対象物載置面に対向する裏面中央部に取り付けられたミラーにより、前記回転テーブルの傾斜角度を計測する第2のオートコリメータからなることを特徴とする請求項3に記載された三次元形状計測システム。   The tilt angle measuring device includes a second autocollimator that measures the tilt angle of the rotary table using a mirror attached to the center of the back surface facing the measurement object mounting surface of the rotary table. The three-dimensional shape measurement system according to claim 3. 前記傾斜角度計測装置は、前記回転テーブルの測定対象物載置面に対向する裏面に、直交2軸方向に配置された2台の水準器からなることを特徴とする請求項3に記載された3次元形状計測システム。   The said inclination angle measuring device consists of two level levels arrange | positioned in the orthogonal biaxial direction on the back surface which opposes the measurement object mounting surface of the said rotary table. 3D shape measurement system. 前記回転テーブルは傾斜角度調整用アクチュエータを介して基台に固定されており、前記傾斜角度計測装置の計測値に基づいて、前記回転テーブルが水平を維持するよう、前記傾斜角度調整用アクチュエータをフィードバック制御する制御装置を備えたことを特徴とする請求項4または5に記載された三次元形状計測システム。   The rotary table is fixed to a base via an inclination angle adjustment actuator, and the inclination angle adjustment actuator is fed back based on the measurement value of the inclination angle measurement device so that the rotation table is kept horizontal. The three-dimensional shape measurement system according to claim 4, further comprising a control device for controlling. 前記傾斜角度計測装置の計測値に基づいてアンギュラー振れを計測し、前記第2の二次元形状計測機構が計測した前記第2の方向の二次元形状を補正することを特徴とする請求項4または5に記載された三次元形状計測システム。   The angular shake is measured based on the measured value of the tilt angle measuring device, and the two-dimensional shape in the second direction measured by the second two-dimensional shape measuring mechanism is corrected. 5 is a three-dimensional shape measurement system.
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